JP4973229B2 - Electrolytic capacitor and manufacturing method thereof - Google Patents
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Description
本発明は一般に電解コンデンサに係り、特に静電容量を増加させた電解コンデンサおよびその製造方法に関する。 The present invention generally relates to an electrolytic capacitor, and more particularly to an electrolytic capacitor having an increased capacitance and a method for manufacturing the same.
電解コンデンサは、金属、例えばアルミニウムよりなる陽極上に陽極酸化により形成された酸化膜を誘電体とし、これに陰極を構成する電解液を接触させ、さらにかかる電解液にアルミニウムなどよりなる見かけの陰極を引き出し電極としてコンタクトさせた構成の大容量キャパシタであり、様々な電子装置に広く使われている。 An electrolytic capacitor uses an oxide film formed by anodic oxidation on an anode made of metal, for example, aluminum, as a dielectric, contacts an electrolytic solution constituting the cathode, and an apparent cathode made of aluminum or the like in contact with the electrolytic solution. Is a large-capacitance capacitor having a configuration in which is contacted as an extraction electrode, and is widely used in various electronic devices.
前記電解液は、一般的には電解紙に含浸した形で使われるが、最近では電解紙の代りに電解質高分子膜が使われる場合が多い。
電解コンデンサの静電容量を増加させるため、従来、陽極の表面に対して塩化物水溶液中で電気化学エッチングを施し、凹凸を形成して陽極の表面積を増加させることがなされている。その場合、キャパシタ誘電体膜を構成する酸化膜は、前記凹凸を形成された陽極表面に、前記凹凸に整合した形状で略一定の膜厚で形成される。 In order to increase the capacitance of the electrolytic capacitor, conventionally, the surface of the anode is electrochemically etched in an aqueous chloride solution to form irregularities to increase the surface area of the anode. In that case, the oxide film constituting the capacitor dielectric film is formed on the surface of the anode on which the irregularities are formed, in a shape consistent with the irregularities and with a substantially constant film thickness.
一方、陽極を構成する金属がアルミニウムの場合、形成される酸化膜の比誘電率は7〜10程度に過ぎないため、陽極表面に凹凸を形成して表面積を増大させても、得られる静電容量には限りがある。 On the other hand, when the metal constituting the anode is aluminum, the oxide film to be formed has a relative dielectric constant of only about 7 to 10, so that even if the surface area is increased by forming irregularities on the anode surface, the obtained electrostatic capacitance can be obtained. Capacity is limited.
一の側面によれば本発明は、陽極を構成する金属基体と、前記陽極上に形成された誘電体膜と、電解質媒体よりなり前記誘電体膜に接する陰極と、よりなる電解コンデンサであって、前記誘電体膜は、前記金属基体を構成する金属元素の酸化物膜よりなり、さらに前記誘電体膜は、前記金属基体を構成する金属元素以外の金属元素を含む酸化物、窒化物あるいは炭化物よりなる粒子を含み、前記酸化物膜が前記金属基体上に形成され、前記金属基体を構成する金属元素以外の金属元素を含む酸化物、窒化物あるいは炭化物よりなる粒子が前記酸化物膜上に形成されており、前記金属基体表面には凹凸が形成されており、前記誘電体膜は前記凹凸に整合した形状を有し、前記粒子は、前項凹凸の底部近傍領域よりも頂部近傍領域に多く存在することを特徴とする電解コンデンサ、を提供する。 According to one aspect, the present invention is an electrolytic capacitor comprising a metal substrate constituting an anode, a dielectric film formed on the anode, a cathode made of an electrolyte medium and in contact with the dielectric film. The dielectric film is made of an oxide film of a metal element constituting the metal substrate, and the dielectric film is an oxide, nitride or carbide containing a metal element other than the metal element constituting the metal substrate. The oxide film is formed on the metal substrate, and the particles made of an oxide, nitride, or carbide containing a metal element other than the metal element constituting the metal substrate are formed on the oxide film. The surface of the metal substrate is uneven, the dielectric film has a shape that matches the unevenness, and more particles are present in the vicinity of the top than in the vicinity of the bottom of the unevenness in the previous item. exist To provide an electrolytic capacitor, characterized by and.
他の側面によれば本発明は、陽極を構成する金属基体表面に凹凸を形成する工程と、次いで、前記凹凸を形成した金属基体表面に、エアロゾルデポジション法により、前記金属基体を構成する金属元素以外の金属元素を含む酸化物、窒化物あるいは炭化物よりなる粒子を堆積させる工程と、次いで、前記凹凸を形成した金属基体表面を、前記粒子の堆積工程の後陽極酸化させ、前記金属基体を構成する金属元素の酸化物よりなり前記粒子を担持する複合誘電体膜を形成する工程と、を含み、前記粒子を堆積させる工程は、前記粒子が前記凹凸の底部近傍領域よりも頂部近傍領域に多く存在するように実行され、前記複合誘電体膜を形成する工程は、前記複合誘電体膜の厚さが平坦面表面換算で100nmとなるように実行されることを特徴とする電解コンデンサの製造方法を提供する。 According to another aspect, the present invention provides a step of forming irregularities on the surface of a metal substrate that constitutes an anode, and then a metal constituting the metal substrate by an aerosol deposition method on the surface of the metal substrate on which the irregularities are formed. Depositing particles comprising an oxide, nitride or carbide containing a metal element other than the element, and then anodizing the surface of the metal substrate on which the irregularities have been formed after the particle deposition step, Forming a composite dielectric film made of an oxide of a constituent metal element and supporting the particles, and depositing the particles in a region near the top rather than a region near the bottom of the irregularities. be performed as many present, the step of forming the composite dielectric film, and wherein the thickness of said composite dielectric layer is performed such that 100nm with flat surface surface in terms To provide a method of manufacturing that the electrolytic capacitor.
本発明によれば、電解コンデンサの陽極を構成する金属基体上に高誘電体粒子をエアロゾルデポジション法で形成した後、かかる金属基体を陽極酸化することにより、電解コンデンサのキャパシタ絶縁膜を構成する誘電体膜を、高誘電体粒子との複合膜とすることができ、電解コンデンサの静電容量を増大させることができる。 According to the present invention, the high dielectric particles are formed on the metal substrate constituting the anode of the electrolytic capacitor by the aerosol deposition method, and then the metal substrate is anodized to constitute the capacitor insulating film of the electrolytic capacitor. The dielectric film can be a composite film with high dielectric particles, and the capacitance of the electrolytic capacitor can be increased.
図1は、本発明の一実施形態による電解コンデンサ10の概略的構成を示す。
FIG. 1 shows a schematic configuration of an
図1を参照するに、電解コンデンサ10は典型的にはAl箔やTa箔、Ti箔よりなり陽極を構成する金属箔11Aと、例えばAl箔などよりなり見かけの陰極を構成する金属箔11Bとを、陰極を構成する電解紙や電解質高分子膜などよりなるセパレータ11Cを隔てて積層し、これを巻回した構成を有しており、前記金属箔11Aに接続して引き出し電極12Aが、また前記金属箔11Bに接続して引き出し電極12Bが設けられている。
Referring to FIG. 1, an
前記金属箔11Aとしては、Alの他、陽極酸化が可能なTaやTiを使うことも可能である。
As the
以下の説明では、前記陽極11AはAl箔よりなるものとするが、Ta箔、Ti箔などより構成されたものであってもよい。
In the following description, the
図2は、このような電解コンデンサ10の一部を拡大して示す。
FIG. 2 shows an enlarged part of such an
図2を参照するに、前記セパレータ11Cを挟持する金属箔11Aおよび11Bの表面には、エッチングにより凹凸パターンが形成されており、これにより前記金属ハック11A,11Bの実質的な表面積が、かかる凹凸構造を形成しなかった場合の数十倍に増大されている。
Referring to FIG. 2, an uneven pattern is formed by etching on the surfaces of the
さらに前記金属箔11Aの表面には、陽極酸化処理により、厚さが0.1μm以下の酸化アルミニウム膜11aが一様に、すなわち前記表面の凹凸構造に整合した形状で形成されており、前記酸化アルミニウム膜11aに、前記セパレータ11Cに含浸された電解液が、陰極として接触している。かかる電解液としては、例えば硼酸アンモニウム、リン酸、アジピン酸、シュウ酸、硫酸、セバシン酸、あるいはこれらのアンモニウム塩が使われるが、これらに限定されるものではない。前記酸化アルミニウム膜11aの膜厚は、陽極酸化処理時の化成電圧に略比例し、1Vの化成電圧あたり0.0013〜0.0015μmの膜厚の膜が形成される。
Furthermore, an
さて、本実施形態では、前記酸化アルミニウム膜11aが、陽極酸化アルミニウムとBaTiO3やSrTiO3,さらには(Ba,Sr)TiO3などの典型的にはペロブスカイト型構造を有する高誘電体よりなる、粒径が5〜500nm程度の扁平なセラミック粒子11bとの複合体として形成される。
In the present embodiment, the
図3は、このように様々な比誘電率を有する高誘電体セラミック粒子が様々な割合で複合された陽極酸化アルミニウムよりなる誘電体膜11aの比誘電率を示す。ただし図3中、横軸は陽極酸化アルミニウムを基とする前記誘電体膜11a中における高誘電体粒子の体積分率を、またグラフ中のパラメータは、配合される高誘電体粒子の比誘電率を示す。
FIG. 3 shows the relative dielectric constant of the
図3を参照するに、前記陽極酸化膜11a中に高誘電体粒子を複合することにより、電解コンデンサの静電容量を大きく増大させることができるのがわかる。
Referring to FIG. 3, it can be seen that the capacitance of the electrolytic capacitor can be greatly increased by combining high dielectric particles in the
次に図2の電解コンデンサ10の製造工程を、図4(A)〜(C)を参照しながら説明する。 2 will be described with reference to FIGS. 4A to 4C.
最初に図4(A)の工程において陽極を構成するアルミ箔11Aが不活性ガス中、300℃の温度で熱処理され、さらにこのように熱処理したアルミ箔に対し、硝酸とAlCl3の水溶液中、0.2A/m2の電流密度で交流電流を8分間通電し、8分間の粗面化処理を行う。その結果、図4(A)に示すように前記アルミ箔11A上には深さが例えば10〜100μmの凹凸が、例えば0.5〜2μm程度のピッチで形成される。
First, in the process of FIG. 4A, the
次いで図4(B)の工程において図5に示すエアロゾルデポジション装置60を使い、図4(A)の凹凸を形成されたアルミ箔11Aの表面に高誘電体セラミック粒子、例えばBaTiO3粒子11bを高速で吹きつけ、衝撃活性化により塑性変形した扁平なBaTiO3粒子を、前記アルミ箔11Aの凹凸面に対して略平行に堆積させる。
Next, in the process of FIG. 4 (B), using the
なお以下では前記高誘電体セラミック粒子11bをBaTiO3であるとして説明を行うが、前記高誘電体セラミック粒子11bはBaTiO3に限定されるものではなく、SrTiO3やBaSrTiO3,さらにはPZTやPLZTなどの典型的にはペロブスカイト構造を有する高誘電体材料であってもよい。
Although a description of the high dielectric
図5は、図4(B)の工程で使われるエアロゾルデポジション装置60の概略的構成を示す。
FIG. 5 shows a schematic configuration of an
図5を参照するに、前記エアロゾルデポジション装置60はメカニカルブースタポンプ62および真空ポンプ62Aにより真空排気される処理容器61を備えており、前記処理容器61中には、ステージ61A上に被処理基板Wが、X−Yステージ駆動機構61aおよびZステージ駆動機構61bによりX−Y−Z―θ方向に駆動自在に保持される。
Referring to FIG. 5, the
前記処理容器61中には、前記ステージ61A上の被処理基板Wに対向してノズル61Bが設けられており、前記ノズル61Bは高誘電体セラミック材料のエアロゾルを乾燥キャリアガスとともに供給され、これを前記被処理基板Wの表面に、ジェット61cとして吹き付ける。すなわちジェット61cは溶媒などの液体は含まない。
A nozzle 61B is provided in the processing container 61 so as to face the substrate W to be processed on the
このようにして吹き付けられたエアロゾルを構成する高誘電体セラミック粒子は、10〜100,000nm程度の粒径を有しており、前記被処理基板Wの表面で衝撃固化し、塑性変形の結果生じる扁平な高誘電体粒子を被処理基板W上に堆積させる。 The high dielectric ceramic particles constituting the aerosol sprayed in this manner have a particle size of about 10 to 100,000 nm, and are solidified by impact on the surface of the substrate W to be processed, resulting in plastic deformation. Flat high dielectric particles are deposited on the substrate W to be processed.
前記ノズル61Bに前記エアロゾルを供給するため、図4のエアロゾルデポジション装置60は平均粒径が10〜100,000nm程度、好ましくは約0.5μm以下の高誘電体粉末原料を保持した原料容器63が設けられており、前記原料容器63には不活性ガスや高純度酸素などのキャリアガスが、高圧ガス源64から、質量流量コントローラ64Aを介して供給される。また前記原料容器63は、エアロゾルの発生を促進するため振動台63A上に保持されており、エアロゾル発生に先立ってバルブ63Bを開くことにより、原料中の水分がポンプ62および62Aにより除去される。
In order to supply the aerosol to the nozzle 61B, the
一例では前記処理容器中に平均粒径が0.5μmのBaTiO3粉末が保持され、前記バルブ63Bを開いた状態で前記原料容器63を約150℃の温度に加熱し、前記振動台63Aから超音波を印加しながら前記真空ポンプ62,62Aを駆動し、約30分間にわたり、前記原料粉末から水分が除去される。
In one example, BaTiO 3 powder having an average particle size of 0.5 μm is held in the processing container, and the
さらに前記バルブ63Bを閉鎖し、処理容器61の内部を10Pa以下の圧力まで減圧し、前記原料容器63に高純度酸素ガスを前記高圧ガス源64から質量流量コントローラ得64Aを経て供給することにより、前記原料容器63中においてBaTiO3のエアロゾルを形成し、これを前記ノズル61Bから被処理基板Wへと噴射する。本実施形態では、この噴射を20秒間行い、その間、処理容器61の圧力を200Paに保持する。このようなエアロゾルデポジション法により、前記アルミ箔11A上には前記BaTiO3粒子11bよりなる高誘電体膜が、平坦面表面換算で約100nmの厚さに形成される。
Further, the valve 63B is closed, the inside of the processing vessel 61 is depressurized to a pressure of 10 Pa or less, and high-purity oxygen gas is supplied to the
再び図4(B)を参照するに、前記アルミ箔11A上には先にも説明したように図4(A)の工程において化成処理により凹凸が形成されており、このため図5のエアロゾルデポジション装置60においてBaTiO3などの高誘電体粒子11bの堆積を行った場合、高誘電体粒子11bは前記アルミ箔11Aの凸部に多く堆積され、凹部にまで入り込むものは少ない。すなわち図4(B)の構造では、前記アルミ箔11Aの凹部では主に金属Alが露出されている。また前記凸部においても前記高誘電体粒子11bの間には、化成処理に使われる電解液が侵入する空隙が存在する。
Referring to FIG. 4B again, as described above, the
そこで図4(C)の工程において前記アルミ箔11Aを陽極酸化し、前記図4(B)の構造上に前記陽極酸化アルミニウム膜11aを成長させる。
Therefore, in the step of FIG. 4C, the
より具体的には前記図4(B)の構造を硼酸アンモニウム、リン酸、アジピン酸、シュウ酸、硫酸、セバシン酸、あるいはこれらのアンモニウム塩よりなる電解液中に浸漬し、5Vで陽極酸化が実行される。ただし、先にも述べたように陽極酸化処理の際の印加電圧は、前記陽極酸化アルミニウム膜11aの所望の膜厚に合わせて設定される。
More specifically, the structure shown in FIG. 4B is immersed in an electrolytic solution made of ammonium borate, phosphoric acid, adipic acid, oxalic acid, sulfuric acid, sebacic acid, or an ammonium salt thereof, and anodized at 5V. Executed. However, as described above, the applied voltage at the time of anodizing is set in accordance with the desired film thickness of the anodized
その結果、前記アルミ箔11A中にはその表面から前記陽極酸化アルミニウム膜11aが前記アルミ箔11Aの内方に成長し、図4(C)に示すような陽極酸化アルミニウム膜11aがBaTiO3粒子を担持する構成の複合誘電体膜が形成される。その際、前記BaTiO3粒子などの高誘電体粒子はその下地となるアルミ箔11Aに対し、衝撃活性化により、また物理的に食い込むことによっても密着しており、前記アルミ箔11A表面が陽極酸化処理されても前記アルミ箔11Aに対して強い密着を維持する。
As a result, the anodized
このようにエアロゾルデポジション法により形成された高誘電体セラミック粒子11bは結晶質であるため大きな比誘電率を有しており、前記図1の電解コンデンサ10において、前記図4(C)のアルミ箔11Aを陽極として使うことにより、静電容量の大きな電解コンデンサを得ることができる。
Since the high dielectric
以下の表1は、このようにして得られた本発明の電解コンデンサのリーク電流および静電容量を、前記高誘電体粒子としてBaTiO3を使った場合、TiO2を使った場合、およびBaSrTiO3を使った場合のそれぞれについて、前記陽極11Aを構成するアルミ箔上にかかる高誘電体粒子を形成しない従来構成の電解コンデンサの場合、および前記陽極11A上に誘電体膜としてBaTiO3膜をスパッタ法およびゾルゲル法で形成した場合と比較して示している。ただしスパッタ法およびゾルゲル法で形成されたBaTiO3膜はアモルファス相になっている。
Table 1 below shows the leakage current and capacitance of the electrolytic capacitor of the present invention obtained in this way when BaTiO 3 is used as the high dielectric particles, TiO 2 is used, and BaSrTiO 3 is used. In the case of using a conventional electrolytic capacitor in which high dielectric particles are not formed on the aluminum foil constituting the
表1を参照するに、リーク電流の測定は、電解コンデンサの両端に生じる電圧が20Vに到達した後30分後に行っているが、従来例の場合1.9μA/5cm2であったリーク電流が、本発明の電解コンデンサでは0.9〜1.0μA/5cm2に減少しているのがわかる。また前記BaTiO3膜をスパッタ法あるいはゾルゲル法で形成した場合には、リーク電流は同じ条件で2.6〜3μA/5cm2と、悪化しているのがわかる。 Referring to Table 1, the leakage current was measured 30 minutes after the voltage generated at both ends of the electrolytic capacitor reached 20 V. In the case of the conventional example, the leakage current was 1.9 μA / 5 cm 2. It can be seen that the electrolytic capacitor of the present invention is reduced to 0.9 to 1.0 μA / 5 cm 2 . Further, it can be seen that when the BaTiO 3 film is formed by sputtering or sol-gel method, the leakage current deteriorates to 2.6 to 3 μA / 5 cm 2 under the same conditions.
静電容量について見ると、本願発明では前記高誘電体粒子11bとしてBaTiO3を使った場合でもTiO2を使った場合でも、またBaSrTiO3を使った場合でも、90〜120μF/0.1cm2程度の値が得られており、従来構成の電解コンデンサの静電容量80μF/0.1cm2に対して実質的に大きな比誘電率が実現されているのがわかる。一方、前記BaTiO3膜をスパッタ法あるいはCVD法で形成した場合は、静電容量は40〜60μF/0.1cm2となり、従来構成の場合よりも劣化しているのがわかる。
In terms of the capacitance, in the present invention, the high
このように本発明によれば、電解コンデンサの陽極を構成する金属基体上に高誘電体粒子をエアロゾルデポジション法で形成した後、かかる金属基体を陽極酸化することにより、電解コンデンサのキャパシタ絶縁膜を構成する誘電体膜を、高誘電体粒子との複合膜とすることができ、電解コンデンサの静電容量を増大させることができる。 As described above, according to the present invention, the high dielectric particles are formed on the metal substrate constituting the anode of the electrolytic capacitor by the aerosol deposition method, and then the metal substrate is anodized to obtain the capacitor insulating film of the electrolytic capacitor. Can be a composite film with high dielectric particles, and the capacitance of the electrolytic capacitor can be increased.
先にも説明した通り、本願発明において陽極11Aはアルミ箔に限定されるものではなく、Ta箔やTi箔など、陽極酸化が可能な金属であれば他の材料を使うことが可能である。
As described above, in the present invention, the
また高誘電体粒子11bはBaTiO3やSrTiO3,BaSrTiO3に限定されるものではなく、PZTやPLZTなど、ペロブスカイト構造を有する他の高誘電体材料を使うことも可能である。
The high
さらに前記高誘電体粒子11bを体積するエアロゾルデポジションの条件は、先に説明した条件に限定されるものではなく、凹凸を形成された陽極上に密着して扁平な高誘電体粒子を衝撃活性化およびこれに伴う組成変形により形成できるものであれば、他の条件であってもよい。
Further, the aerosol deposition conditions for volumetric high
以上、本発明を好ましい実施形態について説明したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した要旨内において様々な変形・変更が可能である。 As mentioned above, although this invention was described about preferable embodiment, this invention is not limited to this specific embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the summary described in the claim.
10 電解コンデンサ
11A 陽極
11a 陽極酸化膜
11b 高誘電体セラミック粒子
11B 陰極
11C セパレータ
12A,12B 引き出し電極
61 処理容器
61A ステージ
61B ノズル
61a X−Yステージ駆動機構
61b Zステージ駆動機構
61c ジェット
62 メカニカルブースタポンプ
63 原料容器
63A 振動台
63B バルブ
64 高圧ガス源
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記陽極上に形成された誘電体膜と、
電解質媒体よりなり前記誘電体膜に接する陰極と、
よりなる電解コンデンサであって、
前記誘電体膜は、前記金属基体を構成する金属元素の酸化物膜よりなり、
さらに前記誘電体膜は、前記金属基体を構成する金属元素以外の金属元素を含む酸化物、窒化物あるいは炭化物よりなる粒子を含み、
前記酸化物膜が前記金属基体上に形成され、
前記金属基体を構成する金属元素以外の金属元素を含む酸化物、窒化物あるいは炭化物よりなる粒子が前記酸化物膜上に形成されており、
前記金属基体表面には凹凸が形成されており、前記誘電体膜は前記凹凸に整合した形状を有し、前記粒子は、前項凹凸の底部近傍領域よりも頂部近傍領域に多く存在することを特徴とする電解コンデンサ。 A metal substrate constituting the anode;
A dielectric film formed on the anode;
A cathode made of an electrolyte medium and in contact with the dielectric film;
An electrolytic capacitor comprising:
The dielectric film is made of an oxide film of a metal element constituting the metal substrate,
Furthermore, the dielectric film includes particles made of an oxide, nitride, or carbide containing a metal element other than the metal element constituting the metal substrate,
The oxide film is formed on the metal substrate;
Particles made of an oxide, nitride or carbide containing a metal element other than the metal element constituting the metal substrate are formed on the oxide film ,
Concavities and convexities are formed on the surface of the metal substrate, the dielectric film has a shape matched to the concavities and convexities, and the particles are present more in the vicinity of the top than in the vicinity of the bottom of the unevenness in the previous item. Electrolytic capacitor.
次いで、前記凹凸を形成した金属基体表面に、エアロゾルデポジション法により、前記金属基体を構成する金属元素以外の金属元素を含む酸化物、窒化物あるいは炭化物よりなる粒子を堆積させる工程と、
次いで、前記凹凸を形成した金属基体表面を、前記粒子の堆積工程の後陽極酸化させ、前記金属基体を構成する金属元素の酸化物よりなり前記粒子を担持する複合誘電体膜を形成する工程と、
を含み、
前記粒子を堆積させる工程は、前記粒子が前記凹凸の底部近傍領域よりも頂部近傍領域に多く存在するように実行され、
前記複合誘電体膜を形成する工程は、前記複合誘電体膜の厚さが平坦面表面換算で100nmとなるように実行されることを特徴とする電解コンデンサの製造方法。 Forming irregularities on the surface of the metal substrate constituting the anode;
Next, depositing particles made of an oxide, nitride, or carbide containing a metal element other than the metal element constituting the metal substrate by an aerosol deposition method on the surface of the metal substrate on which the irregularities are formed;
Next, the surface of the metal substrate on which the irregularities are formed is anodized after the step of depositing the particles to form a composite dielectric film made of an oxide of a metal element constituting the metal substrate and supporting the particles; ,
Including
The step of depositing the particles is performed such that the particles are present in a region near the top rather than a region near the bottom of the unevenness,
The method of manufacturing an electrolytic capacitor is characterized in that the step of forming the composite dielectric film is executed such that the thickness of the composite dielectric film is 100 nm in terms of a flat surface .
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