JP4960161B2 - 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 - Google Patents
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Description
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する欠点情報作成部を備える。
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成することを特徴とする。
本発明において扱うシート状製品の例として、偏光板原反をあげて説明する。偏光板原反は、長い帯状に形成され、フィルム状の偏光板原反から個々の大きさの偏光板を打ち抜き(又は切断)により得ることがきる。偏光板原反は、予め製造しておいたポリビニルアルコール系フィルム(偏光子)の表裏両面に例えばトリアセチルセルロースフィルム(透明の偏光子保護層)を貼り合わせることで得ることができる。この多層構造とされた偏光板原反の表面あるいは内部に存在する欠点(キズ、異物、クニック、汚れなど)を検出する必要がある。これは、後述する検出手段によって検出される。
(実施形態1)
以下で図面を用いて、本発明の検査データ処理装置の構成について説明する。図1は、検査データ処理装置の機能ブロック図である。図1の機能説明では、本発明の作用効果を奏する手段等について主に説明し、従来公知の手段についてはその説明を省略又は簡単に説明する。以下において、説明上、偏光板(TAC/PVA/TAC)の製造工程について説明するがこれに制限されない。また、製造工程中に表面に付着するが、最終の巻取り段階までにその表面付着異物が除去される欠点を、検査装置で検出することを、誤検出(又は過検出)と称することがある。
本発明の検査データ処理装置は、ソフトウエアとハードウエア(CPU、メモリ等)とを協働作用することによって実現でき、専用回路、ファームウエア等で、またはそれらの組み合わせで実現することもできる。
光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして処理するステップを実行させるためのプログラムである。
本発明は、偏光板を含むシート状製品について説明したが、本発明は、これに制限されず、偏光板と位相差板の積層体、位相差板、偏光子(PVA)のみについても適用できる。輝点検出と反射光像による欠点検出を組み合わせた検査システムの検査データ処理に適用できる。
2 データ取得部
3 第1画像処理部
4 第2画像処理部
5 第3画像処理部
6 欠点情報作成部
Claims (6)
- 光学表示装置の部材である偏光板を含む光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を搬送しながら欠点を検査することで得られる検査データを処理する検査データ処理装置であって、
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する欠点情報作成部を備える検査データ処理装置。 - 前記欠点情報作成部は、同一位置であって、さらに欠点と輝点のサイズ及び/又はその形状が同一又は略同一である場合に当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する請求項1に記載の検査データ処理装置。
- 前記欠点情報作成部は、前記検査対象の偏光軸に対し0°より大きく10°以下になるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像を画像解析して得られる検査対象内部のクニックの位置と前記輝点の位置とが同一位置にある場合に、いずれか1種の欠点として欠点情報を作成する請求項1または2に記載の検査データ処理装置。
- 光学表示装置の部材である偏光板を含む光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を搬送しながら欠点を検査することで得られる検査データを処理する検査データ処理方法であって、
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成することを特徴とする検査データ処理方法。 - 同一位置であって、さらに欠点と輝点のサイズ及び/又はその形状が同一又は略同一である場合に当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する請求項4に記載の検査データ処理方法。
- 前記検査対象の偏光軸に対し0°より大きく10°以下になるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像を画像解析して得られる検査対象内部のクニックの位置と前記輝点の位置とが同一位置にある場合に、いずれか1種の欠点として欠点情報を作成する請求項4または5に記載の検査データ処理方法。
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