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JP4946267B2 - 検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体 - Google Patents

検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体 Download PDF

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Description

この発明は、検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体に関し、特に、検査条件のひとつである検査領域の設定を柔軟におこなうことのできる、検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体に関する。
従来の、表面実装装置における検査装置において基板検査領域の設定方法が、たとえば、特許第2629881号公報(特許文献1)や、特開2004−151057号公報(特許文献2)等に開示されている。
特許文献1によれば、基板検査装置において、部品実装位置の画像を生成し、この画像に対して所定の手順で検査領域が設定される。特許文献2によれば、予め部品の検査データを作成しておき、サンプルとなる部品の画像と一緒にライブラリに保存しておく。そして、新たな基板用の検査プログラムの作成時に、CADデータを利用して部品の画像を取得し、検査データライブラリに保存されているデータの中から最も近いデータを画像マッチングにより検出し、そのときの検査条件を適用して検査を行っているため、検査条件を容易に決定することができた。
特許第2629881号公報(請求項1) 特開2004−151057号公報(要約)
従来の電子部品実装装置における基板の検査条件設定方法は上記のように行われていた。特許文献1によれば、処理は自動で行われるが、決まった形式で検査領域が指定されるため、条件に応じて検査領域等を調整しなおす必要があった。また、特許文献2においては、過去に同じ部品を同じ条件で撮影したデータ等があれば、そのデータが利用できるが、そのような場合は滅多になく、通常は検査条件を最初から検討する必要があり、適切な検査条件の設定に時間がかかるという問題があった。
この発明は、上記のような問題点に着目してなされたもので、容易に適切な検査条件を設定できる検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体を提供することを目的とする。
この発明の他の目的は、検査用閾値を容易に設定できる検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体を提供することである。
この発明に係る、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置は、検査条件を表わす検査パラメータを検索するための検索条件を入力させる入力手段と、検索条件と、それに対応する検査パラメータが格納されたデータベースと、入力手段によって検索条件が入力されたときは、データベースを参照して、検索条件に対応する検査パラメータを検索する検索手段と、検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含む。
入力された検索条件に基づいて、検査に必要なパラメータを検索できるデータベースを作成したため、検索条件を入力すれば、適切な検査パラメータを検索できる。
その結果、誰もが容易に適切な検査条件を設定できる検査条件設定装置を提供できる。この検査条件設定装置で設定された検査条件を使用することにより、適切な検査条件での検査が可能になる。
好ましくは、検索条件は、画像を用いた検索を含む。
なお、検査パラメータは、画像を検査する検査ウインドウのサイズを含んでもよいし、画像を検査する検査ウインドウの位置を含んでもよい。
また、検査パラメータは、所定の演算内容が規定された関数または計算式を含んでもよい。
さらに、検査パラメータは、検査閾値を含んでもよい。
この発明の他の局面によれば、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置は、検査対象となる部品の画像を読取る画像読取手段と、画像読取手段によって読取られた画像に対する検査パラメータが格納されたデータベースと、画像読取手段によって画像が読取られたときは、データベースを参照して、画像に対する検査パラメータを検索する検索手段と、検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含む。
この発明のさらに他の局面においては、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法は、検査条件を表す検査パラメータを検索するための検索条件を入力させるステップと、検査条件が入力されたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、検索条件に対応する検査パラメータを検索するステップと、検索された検査パラメータを出力するステップとを含む。
好ましくは、検索条件は、画像を用いた検索を含む。
この発明のさらに他の局面においては、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法は、検査対象となる部品の画像を読取るステップと、画像が読取られたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、画像に対する検査パラメータを検索するステップと、検索された検査パラメータを自動的に出力するステップとを含む。
この発明のさらに他の局面においては、検査条件設定用プログラムは、上記に記載の検査条件設定方法をコンピュータに実行させる。
検査条件設定用プログラムはコンピュータ読取可能記録媒体に格納されてもよい。
以下、この発明の一実施の形態を図面を参照して説明する。図1はこの発明に係る検査条件設定装置が適用される、電子部品実装装置周りの構成を示す図である。図1を参照して、電子部品実装装置10は、電子部品が実装される基板の流れる上流側から下流側に向かって配列された印刷工程と、マウント工程と、リフロー工程とを含む。各工程間は、コンベヤ、ロボット、その他の搬送装置によって連結されている。各工程には、その工程の処理を行なうための装置が設けられている。
印刷工程には、基板にランドを印刷するための印刷機11と、印刷後の検査を行なう印刷後検査機12とが設けられる。マウント工程には、基板に部品をマウントするためのマウンタ13と、マウント後の検査を行なうマウント後検査機14とが設けられる。リフロー工程には、部品の端子をランドにハンダ付けをするためのリフロー炉15とハンダ付け後の検査を行なうリフロー後検査機16とが設けられる。印刷後検査機12、マウント後検査機14、リフロー後検査機16をまとめて、検査機、あるいは検査装置とも呼ぶ。
印刷後検査機12、マウント後検査機14およびリフロー後検査機16は、それぞれ、ネットワーク17を介して検査条件設定装置20に接続されている。
印刷後検査機12からは、印刷後検査結果を示すデータが、マウント後検査機14からは、マウント後検査結果を示すデータが、リフロー後検査機16からは、リフロー後検査結果を示すデータが、それぞれ検査条件設定装置20に入力される。これらの検査結果を示すデータは、画像データを含む。
次に、検査条件設定装置20の構成について説明する。図2は、検査条件設定装置20の具体的な構成を示すブロック図(A)と、その機能を表す機能ブロック図(B)である。機能ブロック図においては、検査領域の設定等の検査条件の設定に関連する部分以外については図示を省略している。
図2(A)を参照して、検査条件設定装置20は、基本的にはパーソナルコンピュータ(以下「パソコン」という)と同様であり、検査条件設定装置20全体を制御するCPU21と、CPU21に対してインターフェイス22を介して接続された、表示装置23、ハードディスク24、キーボード25、マウス26、ネットワーク接続装置27等を含む。
図2(B)を参照して、検査条件設定装置20は、表示装置23、キーボード25、マウス26等を含むユーザインターフェイス部29と、ユーザインターフェイス部29を介して入力された検索条件に基づいて対応する検査パラメータを検索する検索条件設定部30とを含む。検索条件設定部30は、計算部31と、データベース33と、データベース33を検索するためのデータベース検索部32とを含む。CPU21が計算部31とデータベース検索部32として機能し、データベース33はハードディスク24に格納されている。
この実施の形態においては、予め、後に説明するような構成を有するデータベース33が作成され、それが、ハードディスク24に格納されているものとする。具体的なデータベース33の構成については後述する。
次に、検査条件設定装置20における検査条件設定時の動作について説明する。図3は検査条件設定装置20の動作を示すフローチャートであり、CPU21が行う動作を示す図である。図3を参照して、ユーザに検査条件設定装置20において検索条件を入力させる(ステップS1、以下、ステップを省略する)。この入力は、ユーザインターフェイス部29を用いて行う。次に入力された検索条件に基づいて、データベース33が検索され(S32)、検査パラメータが取得される(S33)。検索結果の中に関数や計算式が含まれている場合には、その演算が行われて(S34)、演算結果がユーザインターフェイス部29に出力される(S35)。複数のパラメータがある場合は、それらについて順次処理し、全ての検査パラメータの処理が終われば(S36でYES)、処理を終了する。
したがって、ユーザインターフェイス部29を構成する表示装置23、マウス26等は入力手段、および出力手段として機能し、CPU21は検索手段として機能する。
次にデータベース33の構成について説明する。図4は、データベース33の構成を示す模式図である。図4を参照して、データベース33は、検索条件となる検索項目41と、それに対応した検査パラメータ42とを含む。検索項目は、検索項目1から検索項目3のように複数あってもよい。検査パラメータ42も複数あってもよい。検査パラメータ42は、図に示すように、単なる数値だけでなく、予め演算内容が定義された関数を含んでもよいし、関数や数値を含んだ計算式として定義してもよい。
また、たとえば、検査パラメータ1に関連する検索条件と、検査パラメータ2に関連する検索条件とが相互に異なる場合には、データベース33は、異なる検索条件ごとに分かれていてもよいし、検索条件の組み合わせが複数ある場合は、テーブルを分けてもよい。
図5は、検査条件設定装置20の表示装置23に表示される画面を示す図である。ここでは、基板の画像検査を行うときに、検査ウインドウのサイズ、位置を「基板色」、「影の有無」などの条件で変更する場合の例を示している。
図5(A)は検索条件を変更(設定)する前の表示例を示し、図5(B)は変更(設定)後の表示例を示す。図5(A)を参照して、そこには、検査ウインドウ51と、この場合におけるウインドウサイズを設定する検索条件欄52が設けられている。検索条件欄52は、選択式になっており、所望の条件を選択できる。なお、この検索条件欄52は、選択式ではなく、検索条件を直接入力できるようになっていてもよい。検索条件欄52で所望の条件を選択すると、その条件に基づいて、CPU21はデータベース33を参照してその条件に合った検査ウインドウのサイズおよびその中心位置を計算する。計算結果によって、自動的に検査ウインドウサイズ51やその中心が表示装置23に出力されて、図5(B)に示すように変更される。
次にデータベース33の内容について説明する。図6はデータベース33の具体例を示す図である。図6を参照して、データベース33は、検索項目としての「部品種」、「部品サイズ」、「影」、「基板色」等と、パラメータとしての「ウインドウ名」、「縦サイズ」、「横サイズ」、「中心X座標」、「中心Y座標」、「角度」等を含む。
ここで、それぞれの検索項目およびパラメータは、以下の意味である。すなわち、部品種とは、抵抗、コンデンサ等の部品の種類を表し、部品サイズとは、部品のサイズを表す。通常は長手方向寸法と短い方向の寸法で表す。
検査装置においては、明瞭な撮影画像を取得するために、基板を照射する照明が通常1個または複数個設置されているが、撮影したい部品の近傍に背の高い他の部品が実装されていたりすると、撮影したい部品に直接照明が当たらないことがある。このような場合を「影がある」といい、これを表す検索項目が「影」である。
基板色とは、基板の色を表す。また、図6等に示すように、通常は1個の部品の検査に複数のウインドウが利用される。これらのウインドウを表す名称を「ウインドウ名」という。
縦サイズ、横サイズとは、ウインドウの縦のサイズと横のサイズをいう。中心X座標、中心Y座標とは、ウインドウの中心点のX座標とY座標とを表す。角度とは、ウインドウがX軸(またはY軸)に対して傾いている角度を表す。
なお、X軸およびY軸は基板に対して決められる。たとえば、基板の長手方向をY軸、短い方向をX軸と決めることができる。X軸とY軸の交点を原点とし、この原点に対して中心X座標、中心Y座標が決められる。
縦サイズ、横サイズは、各ウインドウに対して決められる。たとえば、ウインドウの長手方向を縦、短い方向を横と決めることができる。
また、検索項目およびパラメータは、ここに例示したものに限定されない。必要に応じて追加または削除可能である。
それぞれのデータ例として、影の有無と基板色を検索項目とした場合のパラメータや、部品種として「C(コンデンサ)」を選択した場合のパラメータが記載されている。
ここで、部品サイズを示す数値は、上記したように、部品サイズをその長手方向寸法と短い方向の寸法とを並べて表したもので、たとえば、「0402」という表示は、長手方向寸法が0.4mmで短い方の寸法が0.2mmであることを示している。
上記したように、この実施の形態においては、図6に示すようなデータベース33が予め作成されている。このデータベース33の作成にあたっては、過去の経験則を反映するのが好ましい。たとえば、検査対象となる基板の撮影画像として、「基板色」や「影の有無」を検索条件とする。これは、基板の色が「青」であり、「影」がある場合は、画像が暗くなり、検査精度が下がるという経験から、検査の範囲を小さくした方がよいためである。一方で、画像が明るい、「影なし」や「基板色が緑」の場合は、ノイズが入りにくいため、検査の範囲を大きくできるためである。
このように、この実施の形態によれば、過去の経験則に基づいてデータベースを作成し、それに基づいて検査内容を定めるパラメータを検索可能にしたため、誰が検査条件を設定しても、適切な検査条件の設定ができる。
次にデータベース33の具体的な内容について説明する。図6に示したデータベース33の上から2番目のデータを参照して、「影」が「無」で、「基板色」が「緑」とされている画像が明るい場合に検査パラメータとして、次の記載がある。すなわち、ウインドウ名としては「自動抽出[角チップ・リフロー]」となっており、画像検査のための縦サイズとして、外接:部品本体[単画面]&ランド[角チップ・リフロー]_縦サイズ+(部品本体[単画面]横サイズ/4<4000)*2と記載されている。また、横サイズとしては、外接:部品本体[単画面]&ランド[角チップ・リフロー]_横サイズ+(部品本体[単画面]_横サイズ/2<8000)*2と記載されている。
「外接」というのは関数として定義されているもので、その後ろに記載されている、「部品本体[単画面]&ランド[角チップ・リフロー] 」で定義される。
一方で、画像が暗い、「影」が「有」で、「基板色」が「緑」とされている場合には、検査パラメータとして外接:部品本体[単画面]&ランド[角チップ・リフロー]_縦サイズ+1000と記載されている。ここで、数値の単位は、0.1μである。したがって、数値1000は100μを意味する。
図7は、ここで用いられている関数の定義を説明するための図である。図7(B)は検査条件を変更(設定)する前のウインドウを表す図であり、図7(A)は画像が明るい場合の変更(設定)例であり、図7(C)は画像が暗い場合の変更(設定)例である。
部品本体[単画面]というのは、図7(B)において、一点鎖線で示す部品本体を示す符号61で示す矩形部分をいう。ランド[角チップ・リフロー]は、部品種ごとに定められた印刷ランドを示し、図7(B)において、符号62a,62bで示す、それぞれの矩形部分をいう。したがって、外接:部品本体[単画面]&ランド[角チップ・リフロー]は、符号61,62a,62bで構成される領域に外接する矩形63を意味する。
これに続く「縦サイズ」というのは、矩形63の長い方の寸法(図7(B)においてa1で示す寸法)をいい、「横サイズ」というのは、矩形63の短い方の寸法(図7(B)においてbで示す寸法)をいう。したがって、「外接:部品本体[単画面]&ランド[角チップ・リフロー] _縦サイズ」というのは、上記したa1で示す寸法であり、基準となるサイズである。
画像が明るい場合は、その後に「+(部品本体[単画面]横サイズ/4<4000)*2」と記載されている。これは、画像が明るい場合はより広い検査ウインドウを設定するためである。具体的には、部品本体[単画面]横サイズとして上記したbを代入し、b/4を求め、その寸法を上記した基準となるサイズa1の両側に加えて画像が明るい場合の検査ウインドウa2=a1+b/4を設定することを意味する。具体的な例を図7(A)に示す。
一方で、画像が暗い場合は、基準となるサイズa1に一定値(1000)を加えるだけであるので、図7(C)に示すようになる。
なお、「部品本体[単画面]横サイズ/4<4000」というのは、部品本体[単画面]横サイズ/4の値としては、最大で4000とする、という意味である。
以上のように、本実施例においては、検査の精度を確保するため、画像が暗いときには縦サイズの計算式を変えて、縦サイズが常に小さくなるような制約をしているが、照明等の条件によっては、このような制約はなくてもよい。
次に具体的な検索例について説明する。図8は、具体的な検索例を示す図である。図8(A)は表示部23に表示される検索条件に、データを入力した場合の一例を示し、図8(B)はそれに基づいて検索されたデータベース33の該当する箇所を示す図である。図8(A)および(B)を参照して、今、部品種として「C(コンデンサ)」、部品サイズとして「0402」、影「有」、基板色として「青」が入力されたとする。
この条件が入力されると、CPU21はデータベース33を参照して、図8(B)に示す箇所を検索する。その結果、該当する部品種、部品サイズから部品本体[単画面]の縦サイズ、および、横サイズとして、「3750」および「1800」を得、それを、その上に記載された「影有」、「基板色青」における縦サイズ、横サイズに記載された関数に含まれる式に代入して、検査ウインドウの縦サイズおよび横サイズが演算されて、図7(A)や、(C)のような検査ウインドウの範囲が出力される。
なお、この出力は検査ウインドウの表示に限らず、検査ウインドウの縦サイズ、横サイズ等の寸法を表示してもよい。
なお、ここで、ウインドウの中心座標としても、それぞれ、外接:ランド[角チップ・リフロー]_中心X(またはY)座標として表される。この内容も、上記と同様に、角チップ・リフローで表される矩形の中心座標を、XまたはY座標とすることを意味している。
図9は、図8に示した、縦サイズの演算に含まれる関数を用いた具体的な演算方法を示すフローチャートであり、図10はその場合の具体的な処理内容を示す図である。図9および図10を参照して、CPU21は、まず演算子の有無を判断する(S21)。図10(A)に示すようにここでは演算子「+」が存在するため、演算子で式を分割して被演算子を取り出す(S22)。具体的には図10(B)に示すように、「+」の両側の式および数値「1000」を個別に取り出す。次に、式の内部に関数があるか否かを判断する(S23)。ここでは図10(B)に示すように関数「外接」が存在するため、この外接寸法を演算する(S24)。その後、演算子による演算を行う(図10(C)、S25)。具体的には、図10(D)に示すように関数から得られた値(45600)と当初から存在する数値(1000)をと加算して、検査ウインドウの寸法を決定する。その結果、図7(B)から図7(C)に示すように、検査ウインドウのサイズを変更する。
次に、この発明の他の実施の形態について説明する。図11は、この発明の他の実施の形態を示す図である。この実施の形態においては、ウインドウのサイズではなく、検査閾値を自動的にユーザに示す。ここでは、一例としてフィレットの長さの検査用閾値を求める場合について説明する。
図11は、印刷工程における、CADのランドのデータを示す図であり、CADのランドのデータの縦サイズbと実際のフィレットcの長さとを示す図である。(A)および(B)は、それぞれ、CADのランドデータの縦サイズbの寸法が0.6mmと0.9mmの場合とを示している。
経験的に、フィレット寸法は、CADのランドデータの縦サイズの3分の1が好ましいとされている。すなわち、ここに示した例では、それぞれ、0.2mmと0.3mmとを閾値とするのが好ましい。
そこで、この実施の形態では、CADのランドデータ縦サイズの1/3を自動的に検査用の閾値として出力する。具体的には、フィレットの長さはランドのサイズによって変化するため、CADから、対応するランドデータの縦サイズを読出し、検査用の閾値をそれぞれ作成する。
このように、経験則に基づいて検査用の閾値が自動的に出力されるため、誰が検査条件の設定を行っても適切な検査条件が設定できる検査条件設定装置を提供できる。
なお、上記実施の形態においては、検索条件が画像における基板色や影の有無等である場合について説明したが、これに限らず、任意の検索条件に対して、その場合に考慮すべき点を検査パラメータとして含めてもよい。
また、上記実施の形態においては、所定の処理内容が規定された関数の例として、「外接」を例にあげて説明したが、これに限らず、任意の関数をその演算内容を規定することによって使用してもよいし、三角関数のような一般の関数を含んでもよい。
また、計算式としては、四則演算以外の特殊な計算を含めてもよく、アプリケーションに特有のパラメータを含めた関数を定義したり、それらの含むプログラムを作成してもよい。また、プラグイン方式などを採用して、必要な機能を必要に応じて組み込むようにしてもよい。
また、上記実施の形態においては、検査対象となる基板の画像をユーザが見て、その色や影の有無等の検索条件をユーザが入力する例について説明したが、これに限らず、カメラのような画像読取手段を設けて、自動的に画像を読取って判断するようにしてもよい。この画像読取手段は、検査機のものを利用してもよい。
また、上記実施の形態においては、閾値を自動設定する場合に、フィレットの寸法を例にあげて説明したが、これに限らず、任意の検索条件の検査用の閾値として、経験則に応じて設定してもよい。
また、上記実施の形態においては、検査条件や検査用閾値を表示装置等のユーザインタフェース部に出力(表示)する場合について説明したが、これに限らず、通信線等を介して、直接検査装置に設定するようにしてもよいし、CD−RやDVD−R等の記録媒体に記録して、それを検査装置で読み込んで設定するようにしてもよい。
また、上記実施の形態においては、検査条件設定装置がその専用装置である場合について説明したが、これに限らず、検査条件設定装置を汎用のパソコンとし、上記の動作を全て検査条件設定用プログラムとして、パソコンをそのプログラムで作動させるようにしてもよい。この場合、この検査条件設定用プログラムは、光ディスクやハードディスクのような記録媒体で提供してもよいし、ネットワークを介して、ネット上のサーバからダウンロードするようにしてもよい。
以上、図面を参照してこの発明の実施形態を説明したが、この発明は、図示した実施形態のものに限定されない。図示された実施形態に対して、この発明と同一の範囲内において、あるいは均等の範囲内において、種々の修正や変形を加えることが可能である。
電子部品実装装置の全体構成を示す図である。 検査条件設定装置の構成を示すブロック図である。 検査条件設定装置のCPUが行なう動作を示すフローチャートである。 データベースの基本的構成を示す図である。 検査条件設定装置におけるユーザの入力画面を示す図である。 データベースの具体例を示す図である。 各用語の定義を説明するための図である。 データベースの具体例を示す図である。 縦サイズの演算に含まれる関数を用いた具体的な演算方法を示すフローチャートである。 図9の処理における具体的な処理内容を示す図である。 この発明の他の実施の形態を示す図である。
符号の説明
10 電子部品実装装置、11 印刷機、12 印刷後検査機、13 マウンタ、14 マウント後検査機、15 リフロー炉、16 リフロー後検査機、17 ネットワーク、20 検査条件設定装置、21 CPU、22 インターフェイス、23 表示装置、24 ハードディスク、25 キーボード、26 マウス、27 ネットワーク通信装置、29 ユーザインターフェイス部、30 検索条件設定部、31 計算部、32 データベース検索部、33 データベース。

Claims (12)

  1. 基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置であって、
    検査条件を表わす検査パラメータを検索するための検索条件を入力させる入力手段と、
    前記検索条件と、それに対応する検査パラメータが格納されたデータベースと、
    前記入力手段によって前記検索条件が入力されたときは、前記データベースを参照して、前記検索条件に対応する検査パラメータを検索する検索手段と、
    前記検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含み、
    前記検索パラメータは、前記基板の基板色又は影の有無を含み、
    前記基板の基板色又は影の有無によって検査範囲を決定する、
    検査条件設定装置。
  2. 前記検索条件は、画像を用いた検索を含む、請求項1に記載の検査条件設定装置。
  3. 前記検査パラメータは、画像を検査する検査ウインドウのサイズを含む、請求項2に記載の検査条件設定装置。
  4. 前記検査パラメータは、画像を検査する検査ウインドウの位置を含む、請求項2に記載の検査条件設定装置。
  5. 前記検査パラメータは、所定の演算内容が規定された関数または計算式を含む、請求項1から4のいずれかに記載の検査条件設定装置。
  6. 前記検査パラメータは、検査閾値を含む、請求項1から5のいずれかに記載の検査条件設定装置。
  7. 基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置であって、
    検査対象となる部品の画像を読取る画像読取手段と、
    前記画像読取手段によって読取られた画像に対する検査パラメータが格納されたデータベースと、
    前記画像読取手段によって前記画像が読取られたときは、前記データベースを参照して、前記画像に対する検査パラメータを検索する検索手段と、
    前記検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含み、
    前記検査パラメータは、前記基板の基板色又は影の有無を含み、
    前記検索手段は、前記基板の基板色又は影の有無によって検査範囲を決定する、
    検査条件設定装置。
  8. 基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法であって、
    検査条件を表す検査パラメータを検索するための検索条件を入力させるステップと、
    検査条件が入力されたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、検索条件に対応する検査パラメータを検索するステップと、
    検索された検査パラメータを出力するステップとを含み、
    検査パラメータは、基板の基板色又は影の有無を含み、
    基板の基板色又は影の有無によって検査範囲を決定する、
    検査条件設定方法。
  9. 前記検索条件は、画像を用いた検索を含む、請求項8に記載の検査条件設定方法。
  10. 基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法であって、
    検査対象となる部品の画像を読取るステップと、
    画像が読取られたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、画像に対する検査パラメータを検索するステップと、
    検索された検査パラメータを自動的に出力するステップとを含み、
    検査パラメータは、基板の基板色又は影の有無を含み、
    基板の基板色又は影の有無によって検査範囲を決定する、
    検査条件設定方法。
  11. 請求項8から10のいずれかに記載の検査条件設定方法をコンピュータに実行させる検査条件設定用プログラム。
  12. 請求項11に記載の検査条件設定用プログラムを格納したコンピュータ読取可能記録媒体。
JP2006229785A 2006-08-25 2006-08-25 検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体 Expired - Fee Related JP4946267B2 (ja)

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