JP4907279B2 - Optical tomographic imaging system - Google Patents
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Description
本発明は、OCT(Optical Coherence Tomography)計測による光断層画像を取得する光断層画像化装置に関するものである。 The present invention relates to an optical tomographic imaging apparatus that acquires an optical tomographic image by OCT (Optical Coherence Tomography) measurement.
従来、体腔内の断層画像を取得する装置として超音波を用いた超音波断層画像取得装置等が知られているが、その他に低コヒーレンス光による光干渉を用いた光断層画像取得装置を用いることが提案されている(たとえば特許文献1参照)。特許文献1においては、TD−OCT(Time Domain OCT)計測により断層画像を取得するものであって、内視鏡の鉗子口から鉗子チャンネルを介して体腔内にプローブを挿入することにより測定光が体腔内に導波されるようになっている。 Conventionally, an ultrasonic tomographic image acquisition device using ultrasonic waves is known as a device for acquiring a tomographic image in a body cavity, but in addition, an optical tomographic image acquisition device using optical interference by low coherence light is used. Has been proposed (see, for example, Patent Document 1). In Patent Document 1, a tomographic image is acquired by TD-OCT (Time Domain OCT) measurement, and measurement light is generated by inserting a probe into a body cavity from a forceps port of an endoscope through a forceps channel. It is guided in the body cavity.
具体的には、光源から射出された低コヒーレンス光が測定光と参照光とに分割された後、測定光は測定対象に照射され、測定対象からの反射光が合波手段に導波される。一方、参照光は光路長の変更が施された後に合波手段に導波される。そして、合波手段により反射光と参照光とが合波され、合波されたことによる干渉光がヘテロダイン検波等により測定される。ここで、TD−OCT計測は測定光と参照光との光路長が略一致したときに干渉光が検出されることを利用した計測方法であり、参照光の光路長を変更することにより、測定対象に対する測定位置(測定深さ)が変更されるようになっている。 Specifically, after the low-coherence light emitted from the light source is divided into the measurement light and the reference light, the measurement light is irradiated onto the measurement object, and the reflected light from the measurement object is guided to the multiplexing means. . On the other hand, the reference light is guided to the multiplexing means after the optical path length is changed. Then, the reflected light and the reference light are combined by the combining means, and the interference light resulting from the combination is measured by heterodyne detection or the like. Here, TD-OCT measurement is a measurement method that utilizes the fact that interference light is detected when the optical path lengths of the measurement light and the reference light substantially coincide with each other, and the measurement is performed by changing the optical path length of the reference light. The measurement position (measurement depth) with respect to the object is changed.
体腔内にプローブを挿入してOCT計測を行う場合、プローブを使用後に消毒・洗浄等する必要があるため、プローブは光断層画像化装置の本体に対し着脱可能に設けられている。つまり、光断層画像化装置に用いられるプローブは複数用意されており、測定毎にプローブを付け替えることができるようになっている。このとき各プローブには光ファイバの長さに製造誤差等による個体差があり、測定光側の光路長がプローブを替える度に変化してしまうという問題がある。そこで、特許文献1においては、プローブ内の光ファイバを被覆するチューブ(シース)の内壁面からの反射光を利用し参照光の光路長の調整して測定光と参照光との光路長を略一致させるようになっている。 When performing OCT measurement by inserting a probe into a body cavity, it is necessary to disinfect and clean the probe after use, so that the probe is detachable from the main body of the optical tomographic imaging apparatus. That is, a plurality of probes used in the optical tomographic imaging apparatus are prepared, and the probes can be replaced for each measurement. At this time, each probe has an individual difference due to a manufacturing error or the like in the length of the optical fiber, and there is a problem that the optical path length on the measurement light side changes every time the probe is changed. Therefore, in Patent Document 1, the optical path length of the measurement light and the reference light is reduced by adjusting the optical path length of the reference light using the reflected light from the inner wall surface of the tube (sheath) covering the optical fiber in the probe. It is supposed to match.
ところで、上述したような参照光の光路長の変更を行うことなく高速に断層画像を取得する方法として、光源から射出される光の周波数を時間的に変化させながら干渉光の検出を行うSS−OCT(Swept source OCT)装置が提案されている。SS−OCT装置は、マイケルソン型干渉計を用いて光路長の変更を行わずに光源から射出される光の周波数を掃引し反射光と参照光との干渉させ、インターフェログラム干渉強度信号を得る。そして、光周波数領域のインターフェログラム信号をフーリエ変換し断層画像を生成するようになっている。
このように、SS−OCT計測においては周波数解析を行うことにより各深さ方向における反射情報を得ることができるため、測定光と参照光との光路長を略一致させる必要はない。しかし、実際には光路長差が大きくなってしまうと干渉信号の空間周波数が拡大してしまうため、干渉光を検出するCCD等のフォトダイオードのサンプリング時間の制限等により、検出された干渉信号のS/Nが劣化してしまうという問題がある。よって、SS−OCT計測においても、測定光と参照光との光路長が略一致するように光路長の調整を行い、測定可能な領域内に測定対象が含まれるように測定開始位置を設定する必要がある。 As described above, in SS-OCT measurement, reflection information in each depth direction can be obtained by performing frequency analysis, and therefore it is not necessary to substantially match the optical path lengths of the measurement light and the reference light. However, in practice, if the optical path length difference increases, the spatial frequency of the interference signal increases, so that the interference signal detected by the detection time of a photodiode such as a CCD that detects the interference light is limited. There is a problem that S / N deteriorates. Therefore, also in SS-OCT measurement, the optical path length is adjusted so that the optical path lengths of the measurement light and the reference light substantially match, and the measurement start position is set so that the measurement target is included in the measurable region. There is a need.
ここで、SS−OCT計測により断層画像の取得が可能な測定可能範囲(測定深度)は光源の単位時間当たりの波長変動幅に反比例し、断層画像を取得する際の光軸方向の分解能は波長変動幅が大きいほど高くなる。このため、所定時間内で、高分解能な断層画像を取得する場合には測定可能範囲(測定深度)は狭いものとなる。したがって、高分解能な断層画像を取得するSS−OCT装置において、測定開始位置を調整するために断層画像を取得する際、測定可能範囲(測定深度)が狭く測定光と参照光の光路長差を測定範囲内に追い込むのに手間がかかってしまうという問題がある。同様に、例えば胃壁などの層構成を観察したいような場合にも、所望の測定可能範囲(測定深度)により断層画像を取得することができないという問題もある。 Here, the measurable range (measurement depth) in which tomographic images can be acquired by SS-OCT measurement is inversely proportional to the wavelength fluctuation width per unit time of the light source, and the resolution in the optical axis direction when acquiring tomographic images is the wavelength. The higher the fluctuation range, the higher. For this reason, when a high-resolution tomographic image is acquired within a predetermined time, the measurable range (measurement depth) is narrow. Therefore, in an SS-OCT apparatus that acquires a high-resolution tomographic image, when acquiring a tomographic image in order to adjust the measurement start position, the measurable range (measurement depth) is narrow, and the optical path length difference between the measurement light and the reference light is calculated. There is a problem that it takes time and effort to drive into the measurement range. Similarly, for example, when it is desired to observe a layer configuration such as a stomach wall, there is a problem that a tomographic image cannot be acquired within a desired measurable range (measurement depth).
そこで、本発明は、波長を一定周期で掃引させながら測定対象に測定光を照射し、そのときの干渉光の周波数解析を行うことにより光断層情報を取得する光断層画像化装置において、使用目的に応じて測定可能範囲(測定深度)を切り換えることができる、利便性が向上した光断層画像化装置を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides an optical tomographic imaging apparatus that obtains optical tomographic information by irradiating a measurement target with measurement light while sweeping the wavelength at a constant period and performing frequency analysis of interference light at that time. It is an object of the present invention to provide an optical tomographic imaging apparatus capable of switching the measurable range (measurement depth) according to the above and having improved convenience.
本発明の光断層画像化装置は、波長を一定の周期で掃引させながら光を射出する光源ユニットと、
該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記光分割手段により分割された前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、
第1の波長分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の波長分解能よりも高い波長分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モードとを切り替える検出モード制御手段を備えていることを特徴とするものである。
An optical tomographic imaging apparatus of the present invention includes a light source unit that emits light while sweeping a wavelength at a constant period;
Light splitting means for splitting the light emitted from the light source unit into measurement light and reference light;
Multiplexing means for multiplexing the reflected light and the reference light from the measurement object when the measurement light divided by the light dividing means is irradiated on the measurement object;
Interference light detection means for detecting interference light between the reflected light and the reference light multiplexed by the multiplexing means;
In an optical tomographic imaging apparatus having tomographic information acquisition means for acquiring tomographic information of the measurement object by performing frequency analysis on the interference light detected by the interference light detection means,
Switching between a first detection mode for detecting the interference light with a first wavelength resolution and a second detection mode for detecting the interference light with a second wavelength resolution higher than the first wavelength resolution. It has a detection mode control means.
なお、波長は周波数の逆数であるため、「第1の波長分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の波長分解能よりも高い波長分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モード」とは、「第1の周波数分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の周波数分解能よりも高い周波数分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モード」と言い変えることもできる。また同様に光源ユニットは、周波数を一定の周期で掃引させながら光を射出する光源ユニットと言い変えることもできる。 Since the wavelength is the reciprocal of the frequency, “the first detection mode that detects the interference light with the first wavelength resolution and the second wavelength resolution that is higher than the first wavelength resolution” The “second detection mode for detecting the interference light” means “the first detection mode for detecting the interference light with the first frequency resolution and the second wavelength resolution that is higher in frequency resolution than the first frequency resolution”. In other words, the second detection mode in which the interference light is detected. Similarly, the light source unit can be rephrased as a light source unit that emits light while sweeping the frequency at a constant period.
さらに、「測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光」とは、測定対象において反射した光あるいは測定対象において散乱された光を意味するものである。 Further, “reflected light from the measurement object when the measurement light is irradiated onto the measurement object” means light reflected from the measurement object or scattered light from the measurement object.
また、検出モード制御手段は、波長を掃引させたときの光の単位時間当たりの波長変動幅が第1検出モード時よりも第2検出モード時の方が小さくなるように、光源ユニットを制御して、波長分解能を高くするものであってもよい。なお、光源ユニットは、波長(周波数)を一定の周期で掃引させながら光を射出するものであればその構成を問わず、たとえば種々の波長可変レーザ装置を用いることができる。 The detection mode control means controls the light source unit so that the wavelength fluctuation width per unit time of the light when the wavelength is swept is smaller in the second detection mode than in the first detection mode. Thus, the wavelength resolution may be increased. The light source unit can use various wavelength variable laser devices, for example, as long as the light source unit emits light while sweeping the wavelength (frequency) at a constant period.
一方、検出モード制御手段は、干渉光を検出する際のサンプリング周波数が第1検出モード時よりも第2検出モード時の方が高くなるように干渉光検出手段を制御して、波長分解能を高くするものであってもよい。 On the other hand, the detection mode control means controls the interference light detection means so that the sampling frequency when detecting the interference light is higher in the second detection mode than in the first detection mode, thereby increasing the wavelength resolution. You may do.
前記第1検出モードが、前記測定対象の断層画像を取得する画像取得モードであり、前記第2検出モードが、前記測定対象の深さ方向について断層画像信号を得る位置を調整する測定開始位置調整モードであってもよい。 The first detection mode is an image acquisition mode for acquiring a tomographic image of the measurement object, and the second detection mode is a measurement start position adjustment for adjusting a position for obtaining a tomographic image signal in the depth direction of the measurement object It may be a mode.
前記測定光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段を備えていてもよい。 You may provide the optical path length adjustment means which adjusts the optical path length of the said measurement light or the said reference light.
波長を一定の周期で掃引させながら光を射出する光源ユニットと、該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、前記光分割手段により分割された前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、測定可能範囲(測定深度)は、干渉光を検出する際の波長分解能が高ければ大きく、波長分解能が低ければ小さくなるので、第1の波長分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の波長分解能よりも高い波長分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モードとを切り換え可能に構成されることにより、使用者は使用目的に応じて測定可能範囲(測定深度)を切り換えることができ、光断層画像化装置の利便性が向上する。 A light source unit that emits light while sweeping the wavelength at a constant period; a light dividing unit that divides the light emitted from the light source unit into measurement light and reference light; and the light divided by the light dividing unit Multiplexing means for multiplexing the reflected light from the measurement object and the reference light when the measurement light is irradiated to the measurement object, and the reflected light and the reference light combined by the multiplexing means Optical tomographic image having interference light detecting means for detecting interference light with the tomographic information, and tomographic information acquiring means for acquiring tomographic information of the measurement object by performing frequency analysis on the interference light detected by the interference light detecting means In the measurement apparatus, the measurable range (measurement depth) is large when the wavelength resolution when detecting the interference light is high, and is small when the wavelength resolution is low. Detection mode And a second detection mode in which the interference light is detected with a second wavelength resolution that is higher than the first wavelength resolution, so that the user can change the mode according to the purpose of use. The measurable range (measurement depth) can be switched, and the convenience of the optical tomographic imaging apparatus is improved.
また、波長を掃引させたときの光の単位時間当たりの波長変動幅が第1検出モード時よりも第2検出モード時の方が小さくなるように、光源ユニットを制御して、第2検出モード時の波長分解能を高くするものであれば、容易に測定可能範囲(測定深度)を切り換えることができる。 Further, the light source unit is controlled so that the wavelength fluctuation width per unit time of the light when the wavelength is swept is smaller in the second detection mode than in the first detection mode, and the second detection mode is controlled. If the wavelength resolution at the time is increased, the measurable range (measurement depth) can be easily switched.
干渉光を検出する際のサンプリング周波数が第1検出モード時よりも第2検出モード時の方が高くなるように干渉光検出手段を制御して、第2検出モード時の波長分解能を高くするものであれば、断層画像を取得するための取得時間を増加させることなく、測定可能範囲(測定深度)を切り換えることができる。 The interference light detection means is controlled to increase the wavelength resolution in the second detection mode so that the sampling frequency for detecting the interference light is higher in the second detection mode than in the first detection mode. Then, the measurable range (measurement depth) can be switched without increasing the acquisition time for acquiring the tomographic image.
前記第1検出モードが、前記測定対象の断層画像を取得する画像取得モードであり、前記第2検出モードが前記測定対象の深さ方向について断層画像信号を得る位置を調整する測定開始位置調整モードであれば、測定開始位置調整モード時には波長分解能を高くして測定可能範囲(測定深度)を広げ測定対象を発見しやすくすることができるため、測定開始位置調整モード時に測定対象が断層画像として取得されやすくなり、効率的に測定開始位置の調整を行うことができる。 The first detection mode is an image acquisition mode for acquiring a tomographic image of the measurement target, and the second detection mode is a measurement start position adjustment mode for adjusting a position at which a tomographic image signal is obtained in the depth direction of the measurement target. If this is the case, the measurement target is acquired as a tomographic image in the measurement start position adjustment mode because the wavelength resolution can be increased in the measurement start position adjustment mode to increase the measurable range (measurement depth) and make it easier to find the measurement target. The measurement start position can be adjusted efficiently.
以下、図面を参照して本発明の光断層画像化装置の実施の形態を詳細に説明する。図1は本発明の光断層画像化装置の好ましい実施の形態を示す模式図である。光断層画像化装置1は、たとえば体腔内の生体組織や細胞等の測定対象の断層画像をSS−OCT計測により取得するものであって、レーザ光Lを射出する光源ユニット10と、光源ユニット10から射出されたレーザ光Lを測定光L1と参照光L2とに分割する光分割手段3と、光分割手段3により分割された参照光L2の光路長を調整する光路長調整手段20と、光分割手段3により分割された測定光L1を測定対象Sまで導波するプローブ30と、プローブ30から測定光L1が測定対象Sに照射されたときの測定対象からの反射光L3と参照光L2とを合波する合波手段4と、合波手段4により合波された反射光L3と参照光L2との干渉光L4を検出する干渉光検出手段40と、干渉光検出手段40により検出された干渉光L4を周波数解析することにより測定対象の各深さ位置における干渉光の強度を検出し測定対象Sの断層画像を取得する画像取得手段50とを有している。
Embodiments of an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view showing a preferred embodiment of the optical tomographic imaging apparatus of the present invention. The optical tomographic imaging apparatus 1 acquires, for example, a tomographic image of a measurement target such as a living tissue or cell in a body cavity by SS-OCT measurement, and includes a
光源ユニット10は、周波数を一定の周期で掃引させながら光Lを射出するものであって、たとえばモード同期半導体レーザからなっている。具体的には、光源ユニット10は、半導体光増幅器(半導体利得媒質)11と光ファイバFB10とを有しており、光ファイバFB10が半導体光増幅器11の両端に接続された構造を有している。半導体光増幅器11は駆動電流の注入により微弱な放出光を光ファイバFB10の一端側に射出するとともに、光ファイバFB10の他端側から入射された光を増幅する機能を有している。そして、半導体光増幅器11に駆動電流が供給されたとき、半導体光増幅器11および光ファイバFB10により形成される光共振器によりパルス状のレーザ光Lが光ファイバFB1へ射出されるようになっている。
The
さらに、光ファイバFB10には光分岐器12が結合されており、光ファイバFB10内を導波する光の一部が光分岐器12から光ファイバFB11側へ射出されるようになっている。光ファイバFB11から射出した光はコリメータレンズ13、回折格子素子14、光学系15を介して回転多面鏡(ポリゴンミラー)16において反射される。そして反射された光は光学系15、回折格子素子14、コリメータレンズ13を介して再び光ファイバFB11に入射される。
Further, an optical branching
ここで、この回転多面鏡16は矢印R1方向に回転するものであって、各反射面の角度が光学系15の光軸に対して変化するようになっている。これにより、回折格子素子14において分光された光のうち、特定の周波数域からなる光のみ再び光ファイバFB11に戻るようになる。この光ファイバFB11に戻る光の周波数は光学系15の光軸と反射面との角度によって決まる。そして光ファイバFB11に入射した特定の周波数域からなる光が光分岐器12から光ファイバFB10に入射され、結果として特定の周波数域からなるレーザ光Lが光ファイバFB1側に射出されるようになっている。よって、回転多面鏡16が矢印R1方向に等速で回転したとき、図2に示すように、再び光ファイバFB11に入射される光の波長は一定の周期で掃引することになる。つまり、光源ユニット10から波長が一定の周期で掃引したレーザ光Lが光ファイバFB1側に射出されることになる。
Here, the rotating
図1の光分割手段3は、たとえば2×2の光ファイバカプラからなっており、光源ユニット10から光ファイバFB1を介して導波されたレーザ光Lを測定光L1と参照光L2に分割するようになっている。光分割手段3は、2つの光ファイバFB2、FB3にそれぞれ光学的に接続されており、測定光L1は光ファイバFB2側により導波され、参照光L2は光ファイバFB3側に導波される。なお、図1においては光分割手段3は合波手段4としても機能するものである。
1 comprises, for example, a 2 × 2 optical fiber coupler, and divides the laser light L guided from the
光ファイバFB2にはプローブ30が光学的に接続されており、測定光L1は光ファイバFB2からプローブ30へ導波されるようになっている。プローブ30は、たとえば鉗子口から鉗子チャンネルを介して体腔内に挿入されるものであって、光学コネクタOCにより光ファイバFB2に対し着脱可能に取り付けられている。
The
一方、光ファイバFB3における参照光L2の射出側には光路長調整手段20が配置されている。光路長調整手段20は、測定対象Sに対する測定開始位置を調整するために、参照光L2の光路長を変えるものであって、コリメータレンズ21および反射ミラー22を有している。そして、光ファイバFB3から射出した参照光L2はコリメータレンズ21を透過した後反射ミラー22により反射され、再びコリメータレンズ21を介して光ファイバFB3に入射される。
On the other hand, the optical path length adjusting means 20 is disposed on the side of the optical fiber FB3 where the reference light L2 is emitted. The optical path
ここで、反射ミラー22は可動ステージ23上に配置されており、可動ステージ23はミラー移動手段24により矢印A方向に移動可能に設けられている。そして可動ステージ23が矢印A方向に移動することにより、参照光L2の光路長が変更するようになっている。
Here, the
合波手段4は、2×2の光ファイバカプラからなり、光路長調整手段20により周波数シフトおよび光路長の変更が施された参照光L2と測定対象Sからの反射光L3とを合波し光ファイバFB4を介して干渉光検出手段40側に射出するようになっている。 The combining means 4 is composed of a 2 × 2 optical fiber coupler, and combines the reference light L2 that has been subjected to frequency shift and optical path length change by the optical path length adjusting means 20 and the reflected light L3 from the measuring object S. The light is emitted to the interference light detection means 40 side through the optical fiber FB4.
干渉光検出手段40は、合波手段4により合波された反射光L3と参照光L2との干渉光L4を、所定のサンプリング周波数で検出するものであり、干渉光L4の光強度を測定するInGaAs系の光検出器41aおよび41bと、光検出器41aの検出値と光検出器41bの検出値のバランス検波を行なう演算部42とを備えている。なお、干渉光L4は、光分割手段3において2分され、光検出器41aおよび41bにおいて検出される。
The interference light detection means 40 detects the interference light L4 between the reflected light L3 and the reference light L2 combined by the multiplexing means 4 at a predetermined sampling frequency, and measures the light intensity of the interference light L4. InGaAs-based
画像取得手段50は、干渉光検出手段40により検出された干渉光L4をフーリエ変換することにより、測定対象Sの各深さ位置における反射光L3の強度を検出し、測定対象Sの断層画像を取得する。そして、この取得された断層画像が表示装置60に表示される。
The image acquisition means 50 detects the intensity of the reflected light L3 at each depth position of the measurement target S by Fourier transforming the interference light L4 detected by the interference light detection means 40, and obtains a tomographic image of the measurement target S. get. The acquired tomographic image is displayed on the
ここで、干渉光検出手段40および画像取得手段50における干渉光L4の検出および画像の生成について簡単に説明する。なお、詳細については「武田 光夫、「光周波数走査スペクトル干渉顕微鏡」、光技術コンタクト、2003、Vol41、No7、p426−p432」に記載されている。 Here, the detection of the interference light L4 and the generation of the image in the interference light detection means 40 and the image acquisition means 50 will be briefly described. Details are described in “Mitsuo Takeda,“ Optical Frequency Scanning Spectrum Interference Microscope ”, Optical Technology Contact, 2003, Vol41, No7, p426-p432”.
測定光L1が測定対象Sに照射されたとき、測定対象Sの各深さからの反射光L3と参照光L2とがいろいろな光路長差をもって干渉しあう際の各光路長差lに対する干渉縞の光強度をS(l)とすると、干渉光検出手段40において検出される光強度I(k)は、
I(k)=∫0 ∞S(l)[1+cos(kl)]dl ・・・(1)
で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。式(1)は波数k=ω/cを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、画像取得手段50において、干渉光検出手段40が検出したスペクトル干渉縞をフーリエ変換による周波数解析を行い、S(l)を決定することにより、測定対象Sの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、断層画像を生成するようになっている。そして生成された断層画像は、表示装置60において表示される。
When the measurement light L1 is irradiated onto the measurement object S, interference fringes with respect to each optical path length difference l when the reflected light L3 from the depth of the measurement object S and the reference light L2 interfere with each other with various optical path length differences. S (l) is the light intensity I (k) detected by the interference light detection means 40.
I (k) = ∫ 0 ∞ S (l) [1 + cos (kl)] dl (1)
It is represented by Here, k is the wave number, and l is the optical path length difference. Equation (1) can be considered to be given as an interferogram in the optical frequency domain with the wave number k = ω / c as a variable. For this reason, in the image acquisition means 50, the spectral interference fringes detected by the interference light detection means 40 are subjected to frequency analysis by Fourier transform, and S (l) is determined, whereby distance information from the measurement start position of the measurement target S is obtained. And the reflection intensity information are acquired, and a tomographic image is generated. The generated tomographic image is displayed on the
次に、図1と図2を参照して光断層画像化装置1の動作例について説明する。まず、可動ステージ23が矢印A方向に移動することにより、測定可能範囲(測定深度)内に測定対象Sが位置するように光路長の調整が行われる。その後、光源ユニット10から波長が一定の周期で掃引されたレーザ光Lが射出され、レーザ光Lは光分割手段3により測定光L1と参照光L2とに分割される。測定光L1はプローブ30により体腔内に導波され測定対象Sに照射される。そして、測定対象Sからの反射光L3が反射ミラー22において反射した参照光L2と合波され、反射光L3と参照光L2との干渉光L4が干渉光検出手段40により検出される。この検出された干渉光L4の信号が画像取得手段50において周波数解析されることにより断層画像が取得される。このように、SS−OCT計測により断層画像を取得する光断層画像化装置1においては、干渉光L4の周波数および光強度に基づいて各深さ位置における画像情報を取得するようになっており、反射ミラー22の矢印A方向の移動は測定開始位置の調整に用いられる。
Next, an operation example of the optical tomographic imaging apparatus 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. First, when the
ところで、上述したSS−OCT計測において、測定光L1と参照光L2光路長差が大きくなってしまうと空間周波数の拡大、サンプリング周期の関係等により画質が劣化してしまうおそれがある。このため、測定光と参照光との光路長が略一致するように光路長の調整を行う必要がある。ここで、測定可能範囲(測定深度)はレーザ光Lの波長変動幅ΔΛに反比例し、断層画像を取得する際の分解能は波長変動幅ΔΛが大きいほど高くなる(図2参照)。すなわち、高分解能な断層画像を取得する場合には測定可能範囲は狭いものとなる。したがって、高分解能な断層画像を取得するSS−OCT装置において、測定開始位置を調整するために断層画像を取得する際、測定可能範囲(測定深度)が狭く測定光と参照光の光路長差を測定範囲内に追い込むのに手間がかかってしまうという問題がある。 By the way, in the SS-OCT measurement described above, if the difference between the optical path lengths of the measurement light L1 and the reference light L2 becomes large, the image quality may be deteriorated due to the expansion of the spatial frequency, the relationship between the sampling periods, and the like. For this reason, it is necessary to adjust the optical path length so that the optical path lengths of the measurement light and the reference light substantially coincide. Here, the measurable range (measurement depth) is inversely proportional to the wavelength variation width ΔΛ of the laser light L, and the resolution when acquiring a tomographic image increases as the wavelength variation width ΔΛ increases (see FIG. 2). That is, when acquiring a high-resolution tomographic image, the measurable range is narrow. Therefore, in an SS-OCT apparatus that acquires a high-resolution tomographic image, when acquiring a tomographic image in order to adjust the measurement start position, the measurable range (measurement depth) is narrow, and the optical path length difference between the measurement light and the reference light is calculated. There is a problem that it takes time and effort to drive into the measurement range.
そこで、図1の光断層画像化装置1には、測定対象Sの深さ方向における測定開始位置を調整する測定開始位置調整モードと、測定対象Sの断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える制御手段70が設けられており、制御手段70は、測定開始位置調整モード時の波長分解能が画像取得モード時の波長分解能よりも高くなるように、光源ユニット10もしくは干渉光検出手段40を制御する。
Therefore, the optical tomographic imaging apparatus 1 in FIG. 1 switches between a measurement start position adjustment mode for adjusting the measurement start position in the depth direction of the measurement target S and an image acquisition mode for acquiring a tomographic image of the measurement target S. A control means 70 is provided, and the control means 70 controls the
すなわち、測定開始位置調整モード時に干渉を検出する際の波長分解能を向上させる方法として、波長を掃引させたときの光の単位時間当たりの波長変動幅が、測定開始位置調整モードの場合には画像取得モード時よりも小さくなるように、光源ユニット10を制御して波長分解能を高くする方法と、干渉光を検出する際のサンプリング周波数が画像取得モード時よりも測定開始位置調整モード時の方が高くなるように干渉光検出手段を制御して波長分解能を高くする方法とがある。以下詳細に説明する。
That is, as a method for improving the wavelength resolution when detecting interference in the measurement start position adjustment mode, the wavelength fluctuation width per unit time of the light when the wavelength is swept is an image in the measurement start position adjustment mode. The method of controlling the
測定光L1の光路長lsと参照光L2の光路長lrとの光路長差をΔl(=|lr−ls|)としたとき、図4に示すような干渉光検出手段40により検出される干渉光L4の周期Γは、
Γ=λ0 2/Δl・τ/ΔΛ ・・・(2)
で表される。なお、λ0はスペクトルの中心波長、τは波長を掃引したときの変動周期、ΔΛは波長変動幅である(図2参照)。ここで、図3(A)はサンプリング周波数500/τのときのΔl=100μmの波形、図3(B)はΔl=500μmの波形、図3(C)はΔl=1000μmの波形を示している。図3(A)〜(C)および上記式(2)において、光路長差Δlが大きくなるにつれて干渉光L4の周期Γが短くなっていく。
When the optical path length difference between the optical path length ls of the measuring light L1 and the optical path length lr of the reference light L2 is Δl (= | lr−ls |), the interference detected by the interference
Γ = λ 0 2 / Δl · τ / ΔΛ (2)
It is represented by Λ 0 is the center wavelength of the spectrum, τ is the fluctuation period when the wavelength is swept, and ΔΛ is the wavelength fluctuation width (see FIG. 2). Here, FIG. 3A shows a waveform of Δl = 100 μm at a sampling frequency of 500 / τ, FIG. 3B shows a waveform of Δl = 500 μm, and FIG. 3C shows a waveform of Δl = 1000 μm. . 3A to 3C and the above formula (2), the period Γ of the interference light L4 becomes shorter as the optical path length difference Δl becomes larger.
十分な解像度の信号を得るためには1周期につき4回以上サンプリングが必要となる。これを数式で表すと、
サンプリング間隔Δt<干渉光のΓ/4 ・・・(3)
となる。式(3)を満たしていない場合、図3(C)のように干渉光L4の周期Γが干渉光検出手段40の解像度を越えて、S/Nが劣化し画質の劣化を引き起こしてしまう。
In order to obtain a signal with sufficient resolution, it is necessary to sample four times or more per cycle. This can be expressed in mathematical formulas.
Sampling interval Δt <interfering light Γ / 4 (3)
It becomes. When the expression (3) is not satisfied, the period Γ of the interference light L4 exceeds the resolution of the interference light detection means 40 as shown in FIG. 3C, and the S / N is deteriorated to cause deterioration of the image quality.
最終的に測定可能な測定対象Sの深さΔllimは、式(2)、(3)より、
Δllim=1/4・(τ/ΔΛ)・λ0 2・(1/Δt)・・(4)
となる。式(4)は、断層画像の測定可能な測定対象Sの深さΔllim、すなわち測定可能範囲(測定深度)が、単位時間当たりの波長変動幅(ΔΛ/τ)の逆数に比例していること、また、サンプリング間隔Δtの逆数、すなわちサンプリング周波数に比例していることがわかる。
The depth Δl lim of the measuring object S that can be finally measured is calculated from the equations (2) and (3).
Δl lim = ¼ · (τ / ΔΛ) · λ 0 2 · (1 / Δt) ·· (4)
It becomes. In Expression (4), the depth Δl lim of the measurement target S that can measure the tomographic image, that is, the measurable range (measurement depth) is proportional to the reciprocal of the wavelength fluctuation width (ΔΛ / τ) per unit time. It can also be seen that it is proportional to the reciprocal of the sampling interval Δt, that is, the sampling frequency.
画像取得モード時には、画質の良い断層画像を取得する必要がある。このためには、前述したように、波長変動幅ΔΛを大きくして測定分解能を高くすることが好ましい。また、所定の時間内で断層画像を取得する必要があり、波長掃引の周期τは小さいことが好ましい。さらにサンプリング周波数を大きくすると、サンプリング一回毎のサンプリング時間が少なくなり、干渉光検出手段40により検出される干渉光の光量が少ない場合には、十分な検出光量を確保できず、断層画像のS/Nが劣化する虞がある。このため、サンプリング周波数をあまり大きくすることは好ましくない。これらの条件を考慮して、画像取得モード時の波長変動幅ΔΛ、波長掃引の周期τ、サンプリング周波数等が決められている。このため、通常、断層画像が取得できる測定可能範囲(測定深度)はあまり大きくはない。よって、たとえば測定可能範囲が数十μmであって、プローブ30から測定対象までの距離が数百μm離れている場合、断層画像を取得しても測定対象Sの位置を認識することができない。
In the image acquisition mode, it is necessary to acquire a tomographic image with good image quality. For this purpose, as described above, it is preferable to increase the measurement resolution by increasing the wavelength fluctuation range ΔΛ. Further, it is necessary to acquire a tomographic image within a predetermined time, and it is preferable that the wavelength sweeping period τ is small. If the sampling frequency is further increased, the sampling time for each sampling is reduced, and if the amount of interference light detected by the interference light detection means 40 is small, a sufficient amount of detected light cannot be secured, and the S of the tomographic image is not obtained. / N may be deteriorated. For this reason, it is not preferable to increase the sampling frequency too much. Considering these conditions, the wavelength fluctuation width ΔΛ, the wavelength sweep period τ, the sampling frequency, etc. in the image acquisition mode are determined. For this reason, usually, the measurable range (measurement depth) from which a tomographic image can be acquired is not very large. Therefore, for example, when the measurable range is several tens of μm and the distance from the
本実施の形態では、制御手段70は、例えば、測定開始位置調整モードのときの回転多面鏡16の回転速度を画像取得モードのときの回転多面鏡16の回転速度の1/2にする。すると、波長掃引の周期τは2倍になり、図5に示すように、光源ユニット10からは単位時間当たりの波長変動幅ΔΛ/τが1/2になったレーザ光Lが射出される。このように、単位時間当たりの波長変動幅ΔΛ/τを小さく(τ/ΔΛを大きく)すると、干渉光検出手段40でのサンプリング毎の波長変動幅が小さくなる。すなわち、干渉光検出手段40における見かけ上の波長分解能が高くなる。本実施例においては、式(4)に示す取得可能範囲Δllimが2倍となる。これにより、測定可能範囲(測定深度)が2倍になった断層画像を取得でき、測定対象Sが断層画像内に映し出しやすくなる。使用者はこの断層画像を観察しながら、測定開始位置の調整を迅速かつ簡便に行うことができる。
In the present embodiment, for example, the
このように、波長を掃引させたときの光の単位時間当たりの波長変動幅が、測定開始位置調整モードの場合には画像取得モード時よりも小さくなるように、光源ユニット10を制御して波長分解能を高くする場合、1枚の断層画像を取得するための取得時間は増加するが、測定開始位置調整を行う際のみであるため、通常の断層画像の取得動作には支障はない。
In this way, the
なお、例えば胃壁などの層構造を観察する場合のように、広い測定可能範囲(測定深度)が必要な場合にも、このように単位時間当たりの波長変動幅を小さくすることにより、測定可能範囲(測定深度)が大きい光断層画像を取得することができる。 In addition, even when a wide measurable range (measurement depth) is required, such as when observing a layer structure such as the stomach wall, the measurable range can be obtained by reducing the wavelength fluctuation width per unit time in this way. An optical tomographic image having a large (measurement depth) can be acquired.
あるいは、制御手段70は測定開始位置調整モードのときに、画像取得モードよりもサンプリング間隔Δtが小さくなるように、すなわちサンプリング周波数(1/Δt)が大きくなるように、干渉光検出手段40を制御してもよい。干渉光検出手段40のサンプリング周波数を高くすることにより、すなわち、干渉光検出手段40における波長分解能を高くすることにより、測定可能範囲Δllimが大きくなり(式(4)参照)、測定可能範囲(測定深度)が大きくなった断層画像を取得できる。このため、測定対象Sが断層画像内に映し出しやすくなり、使用者はこの断層画像を観察しながら、測定開始位置の調整を迅速かつ簡便に行うことができる。なお、サンプリング周波数を高くしてしまうと、干渉光検出手段40において十分な光量を得ることができず画質の劣化を引き起こす場合があるが、測定開始位置の調整作業においては、断層画像の画質は測定対象Sの存在がわかるものであればよく、高画質である必要はない。また、サンプリング周波数(1/Δt)を大きくする場合には、1枚の断層画像を取得するための取得時間が増加することはなく、迅速に測定開始位置の調整を行なうことができる。
Alternatively, the
なお、本発明の実施の形態は上記形態に限定されない。たとえば、図5において波長周期τを大きくする場合について例示しているが、波長変動幅ΔΛを小さくするようにしてもよい。このとき、光源ユニット10は径の異なる2つの回転多面鏡を有しており、画像取得モード時には大きい径の回転多面鏡を用い、測定開始位置調整モード時には小さい回転多面鏡を用いるようにしてもよい。さらにこの2つの回転速度を上述のように各モードに応じて異なるようにしてもよい。
The embodiment of the present invention is not limited to the above embodiment. For example, although the case where the wavelength period τ is increased in FIG. 5 is illustrated, the wavelength variation width ΔΛ may be decreased. At this time, the
また、図1において波長を掃引させながらレーザ光Lを射出する光源ユニット10の一例として、回転多面鏡16を用いた構成について例示しているが、公知の波長可変レーザ装置を用いることができる。このとき、制御手段70は波長可変レーザ装置の駆動部に対し位置調整モードのときには画像取得モードよりもΔΛ/τが小さくなるように制御するようになる。
Further, in FIG. 1, as an example of the
さらに、上記実施の形態において、光源ユニット10を制御する場合および干渉光検出手段40を制御する場合について例示しているが、光源ユニット10および干渉光検出手段40の双方を制御するようにしても良い。つまり、光源ユニット10における単位時間当たりの波長変動幅を小さくしながら、干渉光検出手段40でのサンプリング周波数を高くする。
Furthermore, although the case where the
1 光断層画像化装置
3 光分割手段
4 合波手段
10 光源ユニット
20 光路長調整手段
30 プローブ
40 干渉光検出手段
50 画像取得手段
70 制御手段
L 光
l 各光路長差
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
S 測定対象
Δl 光路長差
ΔΛ 波長変動幅
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical
Claims (4)
該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記光分割手段により分割された前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、
第1の波長分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の波長分解能よりも高い波長分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モードとを切り替える検出モード制御手段を備え、
前記光源ユニットが、波長を掃引させたときの単位時間当たりの波長変動幅が切り替え可能な光源であり、
前記検出モード制御手段が、波長を掃引させたときの単位時間当たりの波長変動幅が前記第1検出モード時よりも前記第2検出モード時の方が小さくなるように前記光源ユニットを制御するものであることを特徴とする光断層画像化装置。 A light source unit that emits light while sweeping the wavelength at a constant period;
Light splitting means for splitting the light emitted from the light source unit into measurement light and reference light;
Multiplexing means for multiplexing the reflected light from the measurement object and the reference light when the measurement light divided by the light dividing means is irradiated to the measurement object;
Interference light detection means for detecting interference light between the reflected light and the reference light multiplexed by the multiplexing means;
In an optical tomographic imaging apparatus having tomographic information acquisition means for acquiring tomographic information of the measurement object by performing frequency analysis on the interference light detected by the interference light detection means,
Switching between a first detection mode for detecting the interference light with a first wavelength resolution and a second detection mode for detecting the interference light with a second wavelength resolution higher than the first wavelength resolution. A detection mode control means ;
The light source unit is a light source capable of switching a wavelength fluctuation width per unit time when the wavelength is swept,
The detection mode control means controls the light source unit so that the wavelength fluctuation width per unit time when the wavelength is swept is smaller in the second detection mode than in the first detection mode. optical tomographic imaging apparatus, characterized in that it.
該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記光分割手段により分割された前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、
第1の波長分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の波長分解能よりも高い波長分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モードとを切り替える検出モード制御手段を備え、
前記干渉光検出手段が、前記干渉光を所定のサンプリング周波数でサンプリングすることにより、前記干渉光を検出するものであり、
前記検出モード制御手段が、前記干渉光を検出する際の前記サンプリング周波数が前記第1検出モード時よりも前記第2検出モード時の方が高くなるように前記干渉光検出手段を制御するものであることを特徴とする光断層画像化装置。 A light source unit that emits light while sweeping the wavelength at a constant period;
Light splitting means for splitting the light emitted from the light source unit into measurement light and reference light;
Multiplexing means for multiplexing the reflected light from the measurement object and the reference light when the measurement light divided by the light dividing means is irradiated to the measurement object;
Interference light detection means for detecting interference light between the reflected light and the reference light multiplexed by the multiplexing means;
In an optical tomographic imaging apparatus having tomographic information acquisition means for acquiring tomographic information of the measurement object by performing frequency analysis on the interference light detected by the interference light detection means,
Switching between a first detection mode for detecting the interference light with a first wavelength resolution and a second detection mode for detecting the interference light with a second wavelength resolution higher than the first wavelength resolution. A detection mode control means ;
The interference light detection means detects the interference light by sampling the interference light at a predetermined sampling frequency,
The detection mode control means controls the interference light detection means so that the sampling frequency when detecting the interference light is higher in the second detection mode than in the first detection mode. optical tomographic imaging apparatus, characterized in that there.
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