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JP4900164B2 - Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and projection display device - Google Patents

Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and projection display device Download PDF

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JP4900164B2 JP2007250781A JP2007250781A JP4900164B2 JP 4900164 B2 JP4900164 B2 JP 4900164B2 JP 2007250781 A JP2007250781 A JP 2007250781A JP 2007250781 A JP2007250781 A JP 2007250781A JP 4900164 B2 JP4900164 B2 JP 4900164B2
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Description

本発明は、液晶装置などの電気光学装置、電気光学装置の製造方法、および当該電気光学装置を備えた投射型表示装置に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device such as a liquid crystal device, a method for manufacturing the electro-optical device, and a projection display device including the electro-optical device.

各種の電気光学装置のうち、液晶装置では、素子基板と対向基板との間に液晶層が保持され、対向基板側から入射した光を液晶層によって変調し、素子基板側から出射する。素子基板は、透光性基板上に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、画素領域より外周側で配線や駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路領域とを有している。かかる電気光学装置は、例えば、投射型表示装置においてライトバルブとして用いられ、変調した光を投射光学系によりスクリーンなどの被投射面に拡大投射して画像を表示する。   Among various electro-optical devices, in a liquid crystal device, a liquid crystal layer is held between an element substrate and a counter substrate, and light incident from the counter substrate side is modulated by the liquid crystal layer and emitted from the element substrate side. The element substrate includes a pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on a light-transmitting substrate, and a peripheral circuit region in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed on the outer peripheral side of the pixel region. have. Such an electro-optical device is used as, for example, a light valve in a projection display device, and displays an image by enlarging and projecting modulated light onto a projection surface such as a screen by a projection optical system.

このような投射型表示装置では、変調された光が、素子基板の出射側の面や電気光学装置に対して出射側に配置された光学系などで反射すると、反射光が戻り光として電気光学装置の素子基板側から入射することがあり、このような戻り光が画素トランジスタに入射すると、光リーク電流の原因となる。そこで、素子基板において、画素トランジスタの下層側に遮光層を形成して光リーク電流の発生などを防止することが提案されている(例えば、特許文献1〜3参照)。
特開2004−342923号公報 特開2000−131716号公報 特開2000−298290号公報
In such a projection display device, when the modulated light is reflected by a surface on the output side of the element substrate or an optical system disposed on the output side with respect to the electro-optical device, the reflected light is electro-optically used as return light. The light may enter from the element substrate side of the device, and when such return light enters the pixel transistor, it causes a light leakage current. Therefore, it has been proposed to form a light shielding layer on the lower side of the pixel transistor in the element substrate to prevent the occurrence of light leakage current (see, for example, Patent Documents 1 to 3).
JP 2004-342923 A JP 2000-131716 A JP 2000-298290 A

しかしながら、戻り光の影響は画素トランジスタの光リーク電流だけではない。すなわち、電気光学装置の素子基板では、周辺回路領域に金属配線や金属電極が高密度に配置されているため、戻り光が周辺回路領域に入射すると、周辺回路領域で正反射した戻り光が素子基板から出射され、スクリーン上では、図9に示すように、投射画像310の外縁に沿って、周辺回路の写り込み320が発生してしまうという問題点があり、かかる問題点については、従来、十分な対策が施されていない。   However, the influence of the return light is not only the light leakage current of the pixel transistor. That is, in the element substrate of the electro-optical device, the metal wiring and the metal electrodes are arranged with high density in the peripheral circuit area. Therefore, when the return light is incident on the peripheral circuit area, the return light that is regularly reflected in the peripheral circuit area is On the screen, as shown in FIG. 9, there is a problem that the reflection 320 of the peripheral circuit occurs along the outer edge of the projection image 310. Sufficient measures have not been taken.

以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、素子基板に対して戻り光が入射した場合に、戻り光が周辺回路領域で正反射して再び、素子基板側から出射されることを防止することができる電気光学装置、電気光学装置の製造方法、および当該電気光学装置を備えた投射型表示装置を提供することにある。   In view of the above problems, the object of the present invention is to prevent the return light from being regularly reflected in the peripheral circuit region and being emitted from the element substrate side again when the return light is incident on the element substrate. An electro-optical device, a method for manufacturing the electro-optical device, and a projection display device including the electro-optical device.

上記課題を解決するために、本発明では、透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路を有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、前記透光性基板前記周辺回路重なる領域に、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる粗面化領域が形成されており、前記粗面化領域は、前記透光性基板に対して堆積した多数のドット状堆積物により構成されていることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention, the first surface side of the translucent substrate, a pixel region in which pixels having a pixel electrode and a pixel transistor is formed with a plurality of, outside of the pixel region, wiring and driver circuit transistor includes an element substrate having the peripheral circuits formed in plurality, in the electro-optical device for emitting light modulated from the second surface side opposite to the first surface in said light transmissive substrate, wherein in a region which overlaps with the peripheral circuit of the light-transmitting substrate, wherein the roughened region to scatter light incident from the second surface side of the translucent substrate are formed, the roughened region, wherein It is characterized by comprising a large number of dot-like deposits deposited on the light-transmitting substrate .

本発明に係る電気光学装置の製造方法は、透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置の製造方法において、前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域を粗面化して、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる粗面化領域を形成する粗面化領域形成工程を有し、前記粗面化領域形成工程において、前記透光性基板に化学気相成膜法により多数のドット状堆積物を形成する化学気相成膜工程を行なうことを特徴とする。

An electro-optical device manufacturing method according to the present invention includes a pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on a first surface side of a translucent substrate, and a wiring and an outer side of the pixel region. Manufacturing an electro-optical device including an element substrate having a peripheral circuit on which a plurality of drive circuit transistors are formed, and emitting modulated light from a second surface side opposite to the first surface of the translucent substrate. In the method, a roughened region for roughening a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate to form a roughened region for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate. have a forming process, in the roughening region forming step, and performing a chemical vapor deposition process for forming a plurality of dot-like deposits by chemical vapor deposition on the light-transmitting substrate .

本発明では、素子基板に用いた透光性基板において周辺回路領域に対して重なる領域に粗面化領域が形成されているため、変調された光が、素子基板の出射側の面や電気光学装置に対して出射側に配置された光学系などで反射して戻り光として素子基板側から入射した場合でも、戻り光は粗面化領域によって散乱する。このため、戻り光が周辺回路領域で正反射して素子基板から出射されることがないので、スクリーンなどの被投射面に表示された画像の外縁に沿って周辺回路領域が写り込むことを防止することができる。また、素子基板に用いた透光性基板において周辺回路領域に対して重なる領域にベタの遮光膜を形成すると、かかる遮光膜の存在がスクリーンなどの被投射面に表示された画像の外縁に沿って写り込むことになるが、本発明では、粗面化領域で戻り光を散乱させるので、かかる問題が発生することもない。   In the present invention, since the roughened region is formed in the region that overlaps the peripheral circuit region in the light-transmitting substrate used as the element substrate, the modulated light is emitted from the surface on the output side of the element substrate or the electro-optics. Even when the light is reflected by an optical system or the like disposed on the emission side with respect to the apparatus and is incident as return light from the element substrate side, the return light is scattered by the roughened region. For this reason, since the return light is not regularly reflected from the peripheral circuit area and emitted from the element substrate, the peripheral circuit area is prevented from being reflected along the outer edge of the image displayed on the projection surface such as a screen. can do. In addition, when a solid light-shielding film is formed in a region that overlaps the peripheral circuit region in the light-transmitting substrate used as the element substrate, the presence of the light-shielding film follows the outer edge of the image displayed on the projection surface such as a screen. However, in the present invention, since the return light is scattered in the roughened region, such a problem does not occur.

本発明において、前記粗面化領域は、前記透光性基板に対して堆積した多数のドット状堆積物により構成されていることが好ましい。かかる構成の電気光学装置を製造するには、前記粗面化領域形成工程において、前記透光性基板に対する化学気相成膜法により多数のドット状堆積物を形成する化学気相成膜工程を行なうことが好ましい。このように構成すると、任意の光散乱性をもった粗面を容易に形成することができる。また、入射した戻り光の一部が散乱しながら反射し、残りの一部が散乱しながら透過するので、周辺回路領域での正反射を確実に防止することができる。   In the present invention, the roughened region is preferably composed of a large number of dot-like deposits deposited on the translucent substrate. In order to manufacture an electro-optical device having such a configuration, a chemical vapor deposition step of forming a large number of dot-like deposits by a chemical vapor deposition method on the light-transmitting substrate in the roughened region forming step is performed. It is preferable to do so. If comprised in this way, the rough surface with arbitrary light-scattering properties can be formed easily. In addition, since a part of the incident return light is reflected while being scattered and the remaining part is transmitted while being scattered, regular reflection in the peripheral circuit region can be reliably prevented.

本発明において、前記ドット状堆積物は、粒子状シリコン堆積物あるいは粒子状金属堆積物からなることが好ましい。   In the present invention, the dot deposit is preferably composed of a particulate silicon deposit or a particulate metal deposit.

本発明において、前記粗面化領域は、前記透光性基板に形成された凹部の底部に形成され、当該凹部は、充填材料により埋められ、当該充填材料によって、前記透光性基板において前記凹部の形成領域は平坦化されていることが好ましい。このように構成すると、粗面化領域を多数のドット状堆積物により構成した場合でも、ドット状堆積物を保護でき、ドット状堆積物の剥離などを防止することができる。また、素子基板において凹部が形成されている領域上に周辺回路を形成する場合でも、凹部に起因する段差のない領域に周辺回路を形成でき、段差によって周辺回路の信頼性などが低下することを確実に防止することができる。   In the present invention, the roughened region is formed at the bottom of a recess formed in the light-transmitting substrate, the recess is filled with a filling material, and the recess in the light-transmitting substrate is filled with the filling material. The formation region of is preferably planarized. If comprised in this way, even when a roughening area | region is comprised with many dot-like deposits, a dot-like deposit can be protected and peeling of a dot-like deposit can be prevented. Even when a peripheral circuit is formed on a region where a recess is formed on the element substrate, the peripheral circuit can be formed in a region without a step due to the recess, and the reliability of the peripheral circuit is reduced by the step. It can be surely prevented.

かかる構成の電気光学装置を製造するには、例えば、前記粗面化領域形成工程では、前記透光性基板において前記粗面化領域とすべき領域に凹部を形成する凹部形成工程と、前記透光性基板において前記凹部を含む領域に対する前記化学気相成膜工程と、少なくとも前記凹部を埋めるように充填材料層を前記透光性基板上に形成する凹部充填工程と、前記凹部外に形成された前記ドット状堆積物が除去されるまで前記透光性基板を研磨する研磨工程と、を行なう。このように構成すると、凹部の底部にドット状堆積物を選択的に残すことができるとともに、透光性基板において前記凹部の形成領域を平坦化することができる。   In order to manufacture the electro-optical device having such a configuration, for example, in the roughened region forming step, a concave portion forming step of forming a concave portion in the region to be the roughened region in the translucent substrate, and the transparent surface The chemical vapor deposition step for the region including the concave portion in the optical substrate, the concave filling step for forming a filling material layer on the translucent substrate so as to fill at least the concave portion, and formed outside the concave portion. And a polishing step of polishing the translucent substrate until the dot-like deposits are removed. If comprised in this way, while a dot-like deposit can be selectively left in the bottom part of a recessed part, the formation area of the said recessed part can be planarized in a translucent board | substrate.

本発明に係る電気光学装置は、例えば液晶装置であり、液晶装置は、前記素子基板に対して対向配置された対向基板を備え、当該対向基板と前記素子基板との間に液晶層が保持されている。   The electro-optical device according to the present invention is, for example, a liquid crystal device, and the liquid crystal device includes a counter substrate disposed to face the element substrate, and a liquid crystal layer is held between the counter substrate and the element substrate. ing.

本発明を適用した電気光学装置は、例えば、投射型表示装置に用いられ、かかる投射型表示装置は、前記電気光学装置により光変調した光を投射する投射光学系を備えている。   The electro-optical device to which the present invention is applied is used in, for example, a projection display device, and the projection display device includes a projection optical system that projects light modulated by the electro-optical device.

図面を参照して、本発明を適用した電気光学装置(液晶装置)を用いた投射型表示装置、および当該電気光学装置を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。   A projection display device using an electro-optical device (liquid crystal device) to which the invention is applied and the electro-optical device will be described with reference to the drawings. In the drawings to be referred to in the following description, the scales are different for each layer and each member so that each layer and each member have a size that can be recognized on the drawing.

(投射型表示装置の構成)
図1を参照して、本発明を適用した電気光学装置をライトバルブとして用いた投射型表示装置を説明する。図1は、本発明を適用した投射型表示装置の概略構成図である。
(Configuration of projection display device)
With reference to FIG. 1, a projection display device using an electro-optical device to which the present invention is applied as a light valve will be described. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a projection display device to which the present invention is applied.

図1に示す投射型表示装置110は、観察者側に設けられたスクリーン111(被投射面)に光を照射し、このスクリーン111で反射した光を観察する。投射型表示装置110は、光源112、ダイクロイックミラー113、114、およびリレー系120などを備えた光源部140と、液晶ライトバルブ115〜117と、クロスダイクロイックプリズム119(合成光学系)と、投射光学系118とを備えている。   The projection display device 110 shown in FIG. 1 irradiates light on a screen 111 (projected surface) provided on the viewer side, and observes the light reflected by the screen 111. The projection display apparatus 110 includes a light source unit 140 including a light source 112, dichroic mirrors 113 and 114, a relay system 120, liquid crystal light valves 115 to 117, a cross dichroic prism 119 (combining optical system), and projection optics. System 118.

光源112は、赤色光、緑色光および青色光を含む光を供給する超高圧水銀ランプで構成されている。ダイクロイックミラー113は、光源112からの赤色光を透過させると共に緑色光および青色光を反射する構成となっている。また、ダイクロイックミラー114は、ダイクロイックミラー113で反射された緑色光および青色光のうち青色光を透過させると共に緑色光を反射する構成となっている。このように、ダイクロイックミラー113、114は、光源112から出射した光を赤色光と緑色光と青色光とに分離する色分離光学系を構成する。   The light source 112 is composed of an ultrahigh pressure mercury lamp that supplies light including red light, green light, and blue light. The dichroic mirror 113 is configured to transmit red light from the light source 112 and reflect green light and blue light. The dichroic mirror 114 is configured to transmit blue light and reflect green light among green light and blue light reflected by the dichroic mirror 113. Thus, the dichroic mirrors 113 and 114 constitute a color separation optical system that separates the light emitted from the light source 112 into red light, green light, and blue light.

ダイクロイックミラー113と光源112との間には、インテグレータ121および偏光変換素子122が光源112から順に配置されている。インテグレータ121は、光源112から照射された光の照度分布を均一化する構成となっている。また、偏光変換素子122は、光源112からの光を例えばs偏光のような特定の振動方向を有する偏光にする構成となっている。   Between the dichroic mirror 113 and the light source 112, an integrator 121 and a polarization conversion element 122 are sequentially arranged from the light source 112. The integrator 121 is configured to make the illuminance distribution of the light emitted from the light source 112 uniform. Further, the polarization conversion element 122 is configured to change the light from the light source 112 into polarized light having a specific vibration direction such as s-polarized light.

液晶ライトバルブ115は、ダイクロイックミラー113を透過して反射ミラー123で反射した赤色光を画像信号に応じて変調する透過型の電気光学装置(液晶装置)である。液晶ライトバルブ115は、λ/2位相差板115a、第1偏光板115b、液晶パネル115cおよび第2偏光板115dを備えている。ここで、液晶ライトバルブ115に入射する赤色光は、ダイクロイックミラー113を透過しても光の偏光は変化しないことから、s偏光のままである。λ/2位相差板115aは、液晶ライトバルブ115に入射したs偏光をp偏光に変換する光学素子である。また、第1偏光板115bは、s偏光を遮断してp偏光を透過させる偏光板である。液晶パネル115cは、p偏光を画像信号に応じた変調によってs偏光(中間調であれば円偏光又は楕円偏光)に変換する構成となっている。さらに、第2偏光板115dは、p偏光を遮断してs偏光を透過させる偏光板である。従って、液晶ライトバルブ115は、画像信号に応じて赤色光を変調し、変調した赤色光をクロスダイクロイックプリズム119に向けて出射する構成となっている。なお、λ/2位相差板115aおよび第1偏光板115bは、偏光を変換させない透光性のガラス板115eに接した状態で配置されており、λ/2位相差板115aおよび第1偏光板115bが発熱によって歪むのを回避することができる。   The liquid crystal light valve 115 is a transmissive electro-optical device (liquid crystal device) that modulates red light transmitted through the dichroic mirror 113 and reflected by the reflecting mirror 123 in accordance with an image signal. The liquid crystal light valve 115 includes a λ / 2 phase difference plate 115a, a first polarizing plate 115b, a liquid crystal panel 115c, and a second polarizing plate 115d. Here, the red light incident on the liquid crystal light valve 115 remains s-polarized light because the polarization of the light does not change even if it passes through the dichroic mirror 113. The λ / 2 phase difference plate 115a is an optical element that converts s-polarized light incident on the liquid crystal light valve 115 into p-polarized light. The first polarizing plate 115b is a polarizing plate that blocks s-polarized light and transmits p-polarized light. The liquid crystal panel 115c is configured to convert p-polarized light into s-polarized light (circularly polarized light or elliptically polarized light in the case of halftone) by modulation according to an image signal. Furthermore, the second polarizing plate 115d is a polarizing plate that blocks p-polarized light and transmits s-polarized light. Accordingly, the liquid crystal light valve 115 is configured to modulate the red light according to the image signal and emit the modulated red light toward the cross dichroic prism 119. The λ / 2 phase difference plate 115a and the first polarizing plate 115b are disposed in contact with a light-transmitting glass plate 115e that does not convert polarized light, and the λ / 2 phase difference plate 115a and the first polarizing plate 115b. It is possible to avoid distortion of 115b due to heat generation.

液晶ライトバルブ116は、ダイクロイックミラー113で反射した後にダイクロイックミラー114で反射した緑色光を画像信号に応じて変調する透過型の電気光学装置(液晶装置)である。液晶ライトバルブ116は、液晶ライトバルブ115と同様に、第1偏光板116b、液晶パネル116cおよび第2偏光板116dを備えている。液晶ライトバルブ116に入射する緑色光は、ダイクロイックミラー113、114で反射されて入射するs偏光である。第1偏光板116bは、p偏光を遮断してs偏光を透過させる偏光板である。また、液晶パネル116cは、s偏光を画像信号に応じた変調によってp偏光(中間調であれば円偏光又は楕円偏光)に変換する構成となっている。第2偏光板116dは、s偏光を遮断してp偏光を透過させる偏光板である。従って、液晶ライトバルブ116は、画像信号に応じて緑色光を変調し、変調した緑色光をクロスダイクロイックプリズム119に向けて出射する構成となっている。   The liquid crystal light valve 116 is a transmissive electro-optical device (liquid crystal device) that modulates green light reflected by the dichroic mirror 114 after being reflected by the dichroic mirror 113 in accordance with an image signal. Similar to the liquid crystal light valve 115, the liquid crystal light valve 116 includes a first polarizing plate 116b, a liquid crystal panel 116c, and a second polarizing plate 116d. Green light incident on the liquid crystal light valve 116 is s-polarized light that is reflected by the dichroic mirrors 113 and 114 and then incident. The first polarizing plate 116b is a polarizing plate that blocks p-polarized light and transmits s-polarized light. The liquid crystal panel 116c is configured to convert s-polarized light into p-polarized light (circularly polarized light or elliptically polarized light in the case of halftone) by modulation according to the image signal. The second polarizing plate 116d is a polarizing plate that blocks s-polarized light and transmits p-polarized light. Accordingly, the liquid crystal light valve 116 is configured to modulate green light in accordance with an image signal and emit the modulated green light toward the cross dichroic prism 119.

液晶ライトバルブ117は、ダイクロイックミラー113で反射し、ダイクロイックミラー114を透過した後でリレー系120を経た青色光を画像信号に応じて変調する透過型の電気光学装置(液晶装置)である。液晶ライトバルブ117は、液晶ライトバルブ115、116と同様に、λ/2位相差板117a、第1偏光板117b、液晶パネル117cおよび第2偏光板117dを備えている。ここで、液晶ライトバルブ117に入射する青色光は、ダイクロイックミラー113で反射してダイクロイックミラー114を透過した後にリレー系120の後述する2つの反射ミラー125a、125bで反射することから、s偏光となっている。λ/2位相差板117aは、液晶ライトバルブ117に入射したs偏光をp偏光に変換する光学素子である。第1偏光板117bは、s偏光を遮断してp偏光を透過させる偏光板である。液晶パネル117cは、p偏光を画像信号に応じた変調によってs偏光(中間調であれば円偏光又は楕円偏光)に変換する構成となっている。第2偏光板117dは、p偏光を遮断してs偏光を透過させる偏光板である。従って、液晶ライトバルブ117は、画像信号に応じて青色光を変調し、変調した青色光をクロスダイクロイックプリズム119に向けて出射する構成となっている。なお、λ/2位相差板117aおよび第1偏光板117bは、ガラス板117eに接した状態で配置されている。   The liquid crystal light valve 117 is a transmissive electro-optical device (liquid crystal device) that modulates blue light reflected by the dichroic mirror 113 and transmitted through the dichroic mirror 114 and then passed through the relay system 120 in accordance with an image signal. Similarly to the liquid crystal light valves 115 and 116, the liquid crystal light valve 117 includes a λ / 2 phase difference plate 117a, a first polarizing plate 117b, a liquid crystal panel 117c, and a second polarizing plate 117d. Here, since the blue light incident on the liquid crystal light valve 117 is reflected by the two reflecting mirrors 125a and 125b described later of the relay system 120 after being reflected by the dichroic mirror 113 and transmitted through the dichroic mirror 114, the s-polarized light is reflected. It has become. The λ / 2 phase difference plate 117a is an optical element that converts s-polarized light incident on the liquid crystal light valve 117 into p-polarized light. The first polarizing plate 117b is a polarizing plate that blocks s-polarized light and transmits p-polarized light. The liquid crystal panel 117c is configured to convert p-polarized light into s-polarized light (circularly polarized light or elliptically polarized light in the case of halftone) by modulation according to an image signal. The second polarizing plate 117d is a polarizing plate that blocks p-polarized light and transmits s-polarized light. Accordingly, the liquid crystal light valve 117 is configured to modulate the blue light according to the image signal and emit the modulated blue light toward the cross dichroic prism 119. The λ / 2 phase difference plate 117a and the first polarizing plate 117b are arranged in contact with the glass plate 117e.

リレー系120は、リレーレンズ124a、124bと反射ミラー125a、125bとを備えている。リレーレンズ124a、124bは、青色光の光路が長いことによる光損失を防止するために設けられている。ここで、リレーレンズ124aは、ダイクロイックミラー114と反射ミラー125aとの間に配置されている。また、リレーレンズ124bは、反射ミラー125a、125bの間に配置されている。反射ミラー125aは、ダイクロイックミラー114を透過してリレーレンズ124aから出射した青色光をリレーレンズ124bに向けて反射するように配置されている。また、反射ミラー125bは、リレーレンズ124bから出射した青色光を液晶ライトバルブ117に向けて反射するように配置されている。   The relay system 120 includes relay lenses 124a and 124b and reflection mirrors 125a and 125b. The relay lenses 124a and 124b are provided to prevent light loss due to a long blue light path. Here, the relay lens 124a is disposed between the dichroic mirror 114 and the reflection mirror 125a. The relay lens 124b is disposed between the reflection mirrors 125a and 125b. The reflection mirror 125a is disposed so as to reflect the blue light transmitted through the dichroic mirror 114 and emitted from the relay lens 124a toward the relay lens 124b. The reflection mirror 125b is arranged to reflect the blue light emitted from the relay lens 124b toward the liquid crystal light valve 117.

クロスダイクロイックプリズム119は、2つのダイクロイック膜119a、119bをX字型に直交配置した色合成光学系である。ダイクロイック膜119aは青色光を反射して緑色光を透過する膜であり、ダイクロイック膜119bは赤色光を反射して緑色光を透過する膜である。従って、クロスダイクロイックプリズム119は、液晶ライトバルブ115〜117のそれぞれで変調された赤色光と緑色光と青色光とを合成し、投射光学系118に向けて出射するように構成されている。   The cross dichroic prism 119 is a color combining optical system in which two dichroic films 119a and 119b are arranged orthogonally in an X shape. The dichroic film 119a is a film that reflects blue light and transmits green light, and the dichroic film 119b is a film that reflects red light and transmits green light. Therefore, the cross dichroic prism 119 is configured to combine the red light, the green light, and the blue light modulated by the liquid crystal light valves 115 to 117 and emit the resultant light toward the projection optical system 118.

なお、液晶ライトバルブ115、117からクロスダイクロイックプリズム119に入射する光はs偏光であり、液晶ライトバルブ116からクロスダイクロイックプリズム119に入射する光はp偏光である。このようにクロスダイクロイックプリズム119に入射する光を異なる種類の偏光としていることで、クロスダイクロイックプリズム119において各液晶ライトバルブ115〜117から入射する光を有効に合成できる。ここで、一般に、ダイクロイック膜119a、119bはs偏光の反射特性に優れている。このため、ダイクロイック膜119a、119bで反射される赤色光および青色光をs偏光とし、ダイクロイック膜119a、119bを透過する緑色光をp偏光としている。投射光学系118は、投影レンズ(図示略)を有しており、クロスダイクロイックプリズム119で合成された光をスクリーン111に投射するように構成されている。   Note that light incident on the cross dichroic prism 119 from the liquid crystal light valves 115 and 117 is s-polarized light, and light incident on the cross dichroic prism 119 from the liquid crystal light valve 116 is p-polarized light. Thus, by making the light incident on the cross dichroic prism 119 different types of polarized light, the light incident from the liquid crystal light valves 115 to 117 in the cross dichroic prism 119 can be effectively combined. Here, in general, the dichroic films 119a and 119b are excellent in the reflection characteristics of s-polarized light. For this reason, red light and blue light reflected by the dichroic films 119a and 119b are s-polarized light, and green light transmitted through the dichroic films 119a and 119b is p-polarized light. The projection optical system 118 has a projection lens (not shown) and is configured to project the light combined by the cross dichroic prism 119 onto the screen 111.

以下、図1に示した投射型表示装置において液晶ライトバルブ115〜117(電気光学装置/液晶装置)に用いた液晶パネルの構成を詳述する。なお、図1に示す液晶ライトバルブ115〜117および液晶パネル115c〜117cは、変調する光の波長領域が異なるだけであり、基本的構成が共通するので、液晶ライトバルブ115〜117を電気光学装置100とし、液晶パネル115c〜117cを液晶パネル100pとして説明する。   Hereinafter, the configuration of the liquid crystal panel used for the liquid crystal light valves 115 to 117 (electro-optical device / liquid crystal device) in the projection type display device shown in FIG. 1 will be described in detail. Note that the liquid crystal light valves 115 to 117 and the liquid crystal panels 115c to 117c shown in FIG. 1 differ only in the wavelength range of light to be modulated and have the same basic configuration, so that the liquid crystal light valves 115 to 117 are electro-optical devices. The liquid crystal panels 115c to 117c will be described as a liquid crystal panel 100p.

(液晶パネルの全体構成)
図2は、図1に示した投射型表示装置において液晶ライトバルブ(電気光学装置/液晶装置)に用いた液晶パネルの電気的構成を示すブロック図である。図3(a)、(b)、(c)は各々、本発明を適用した電気光学装置100の液晶パネル100pを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、そのH−H′断面図、およびI−I′断面図である。
(Overall configuration of LCD panel)
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of a liquid crystal panel used for a liquid crystal light valve (electro-optical device / liquid crystal device) in the projection type display device shown in FIG. FIGS. 3A, 3B, and 3C are plan views of the liquid crystal panel 100p of the electro-optical device 100 to which the present invention is applied as viewed from the counter substrate side along with the respective components, and the HH ′ cross section thereof. It is a figure and II 'sectional drawing.

図2に示すように、電気光学装置100は、透過型の液晶パネル100pを有しており、液晶パネル100pは、その中央領域に複数の画素100aがマトリクス状に配列された画素領域10bを備えている。かかる液晶パネル100pにおいて、後述する素子基板10には、画素領域10bの内側で複数本のデータ線6aおよび複数本の走査線3aが縦横に延びており、それらの交点に対応する位置に画素100aが構成されている。複数の画素100aの各々には、画素トランジスタとしての電界効果型トランジスタ30、および画素電極9aが形成されている。電界効果型トランジスタ30のソースにはデータ線6aが電気的に接続され、電界効果型トランジスタ30のゲートには走査線3aが電気的に接続され、電界効果型トランジスタ30のドレインには画素電極9aが電気的に接続されている。   As shown in FIG. 2, the electro-optical device 100 includes a transmissive liquid crystal panel 100p, and the liquid crystal panel 100p includes a pixel region 10b in which a plurality of pixels 100a are arranged in a matrix in the center region. ing. In the liquid crystal panel 100p, on the element substrate 10 described later, a plurality of data lines 6a and a plurality of scanning lines 3a extend vertically and horizontally inside the pixel region 10b, and the pixel 100a is located at a position corresponding to the intersection. Is configured. In each of the plurality of pixels 100a, a field effect transistor 30 as a pixel transistor and a pixel electrode 9a are formed. The data line 6 a is electrically connected to the source of the field effect transistor 30, the scanning line 3 a is electrically connected to the gate of the field effect transistor 30, and the pixel electrode 9 a is connected to the drain of the field effect transistor 30. Are electrically connected.

素子基板10において、画素領域10bの外側領域は、走査線駆動回路104およびデータ線駆動回路101などが形成された周辺回路領域10dになっている。データ線駆動回路101は各データ線6aの一端に電気的に接続しており、画像処理回路202から供給される画像信号を各データ線6aに順次供給する。走査線駆動回路104は、各走査線3aに電気的に接続しており、走査信号を各走査線3aに順次供給する。   In the element substrate 10, the outer region of the pixel region 10b is a peripheral circuit region 10d in which the scanning line driving circuit 104, the data line driving circuit 101, and the like are formed. The data line driving circuit 101 is electrically connected to one end of each data line 6a, and sequentially supplies the image signal supplied from the image processing circuit 202 to each data line 6a. The scanning line driving circuit 104 is electrically connected to each scanning line 3a, and sequentially supplies a scanning signal to each scanning line 3a.

各画素100aにおいて、画素電極9aは、後述する対向基板に形成された共通電極と液晶層を介して対向し、液晶容量50aを構成している。また、各画素100aには、液晶容量50aで保持される画像信号がリークするのを防ぐために、液晶容量50aと並列に保持容量60が付加されている。本形態では、保持容量60を構成するために、走査線3aと並列するように容量線3bが形成されており、かかる容量線3bは共通電位線COMに接続され、所定の電位に保持されている。なお、保持容量60は前段の走査線3aとの間に形成される場合もある。   In each pixel 100a, the pixel electrode 9a faces a common electrode formed on a counter substrate, which will be described later, via a liquid crystal layer, and constitutes a liquid crystal capacitor 50a. Each pixel 100a is provided with a holding capacitor 60 in parallel with the liquid crystal capacitor 50a in order to prevent the image signal held in the liquid crystal capacitor 50a from leaking. In this embodiment, in order to configure the storage capacitor 60, the capacitor line 3b is formed in parallel with the scanning line 3a. The capacitor line 3b is connected to the common potential line COM and is held at a predetermined potential. Yes. The storage capacitor 60 may be formed between the preceding scanning line 3a.

図3(a)、(b)、(c)に示すように、電気光学装置100の液晶パネル100pでは、所定の隙間を介して素子基板10と対向基板20とが所定の隙間を介してシール材107によって貼り合わされており、シール材107は対向基板20の縁に沿うように配置されている。シール材107は、光硬化樹脂や熱硬化性樹脂などからなる接着剤であり、両基板間の距離を所定値とするためのグラスファイバー、あるいはガラスビーズ等のギャップ材が配合されている。   As shown in FIGS. 3A, 3B, and 3C, in the liquid crystal panel 100p of the electro-optical device 100, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are sealed via a predetermined gap through a predetermined gap. The sealing material 107 is bonded along the edge of the counter substrate 20. The sealing material 107 is an adhesive made of a photo-curing resin, a thermosetting resin, or the like, and is mixed with a gap material such as glass fiber or glass beads for setting the distance between both substrates to a predetermined value.

素子基板10において、シール材107と重なる領域およびその外側領域では、素子基板10の一辺に沿ってデータ線駆動回路101および複数の端子102が形成されており、この一辺に隣接する辺に沿って走査線駆動回路104が形成されている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、素子基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための上下導通材109が形成されている。また、2つの走査線駆動回路104は配線105で電気的に接続されている。   In the element substrate 10, a data line driving circuit 101 and a plurality of terminals 102 are formed along one side of the element substrate 10 in a region overlapping with the sealant 107 and its outer region, and along the side adjacent to the one side. A scanning line driving circuit 104 is formed. Further, at least one corner of the counter substrate 20 is formed with a vertical conductive material 109 for electrical conduction between the element substrate 10 and the counter substrate 20. The two scanning line driving circuits 104 are electrically connected by a wiring 105.

詳しくは後述するが、素子基板10には、ITO(Indium Tin Oxide)膜からなる画素電極9aがマトリクス状に形成されている。これに対して、対向基板20には、シール材107の内側領域に遮光性材料からなる額縁108が形成され、その内側が画像表示領域10aとされている。また、対向基板20では、素子基板10の画素電極9aの縦横の境界領域と対向する領域にブラックマトリクス、あるいはブラックストライプなどと称せられる遮光膜23が形成され、その上層側には、ITO膜からなる共通電極21が形成されている。   As will be described in detail later, pixel electrodes 9 a made of an ITO (Indium Tin Oxide) film are formed in a matrix on the element substrate 10. On the other hand, a frame 108 made of a light-shielding material is formed in the inner area of the sealing material 107 on the counter substrate 20, and the inner side is an image display area 10 a. In the counter substrate 20, a light shielding film 23 called a black matrix or black stripe is formed in a region facing the vertical and horizontal boundary regions of the pixel electrode 9 a of the element substrate 10, and an ITO film is formed on the upper layer side thereof. A common electrode 21 is formed.

画素領域10bには、額縁108と重なる領域にダミーの画素が構成される場合があり、この場合、画素領域10bのうち、ダミー画素を除いた領域が画像表示領域10aとして利用されることになる。いずれの場合も、画素領域10bの外側(画像表示領域10aの外側)は、走査線駆動回路104、データ線駆動回路101、複数の端子102、配線105が形成された周辺回路領域10dとして利用される。   In the pixel area 10b, a dummy pixel may be formed in an area overlapping with the frame 108. In this case, the area excluding the dummy pixel in the pixel area 10b is used as the image display area 10a. . In any case, the outside of the pixel area 10b (outside of the image display area 10a) is used as the peripheral circuit area 10d in which the scanning line driving circuit 104, the data line driving circuit 101, the plurality of terminals 102, and the wiring 105 are formed. The

(液晶パネルおよび素子基板の詳細構成)
図4(a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置100に用いた素子基板10において相隣接する画素の平面図、およびそのA−A′線に相当する位置で電気光学装置100を切断したときの断面図である。
(Detailed configuration of liquid crystal panel and element substrate)
4A and 4B are plan views of adjacent pixels in the element substrate 10 used in the electro-optical device 100 to which the present invention is applied, and electro-optics at positions corresponding to the AA ′ line. It is sectional drawing when the apparatus 100 is cut | disconnected.

図4(a)、(b)に示すように、電気光学装置100の液晶パネル100pでは、所定の隙間を介して素子基板10と対向基板20とが所定の隙間を介してシール材(図示せず)によって貼り合わされている。素子基板10には、石英基板やガラス基板などからなる透光性基板10sの表面にシリコン酸化膜などからなる下地保護膜12が形成されているとともに、その表面側において、画素電極9aと重なる位置にnチャネル型の電界効果型トランジスタ30が形成されている。電界効果型トランジスタ30は、ポリシリコン層あるいは単結晶シリコン層からなる島状の半導体層1aに対して、チャネル領域1g、低濃度ソース領域1b、高濃度ソース領域1d、低濃度ドレイン領域1c、および高濃度ドレイン領域1eが形成されたLDD構造を備えている。また、半導体層1aの表面側にはゲート絶縁層2が形成されており、ゲート絶縁層2の表面にゲート電極3c(走査線3a)が形成されている。   As shown in FIGS. 4A and 4B, in the liquid crystal panel 100p of the electro-optical device 100, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are sealed via a predetermined gap through a predetermined gap (not shown). Z)). In the element substrate 10, a base protective film 12 made of a silicon oxide film or the like is formed on the surface of a translucent substrate 10s made of a quartz substrate, a glass substrate, or the like, and on the surface side, a position overlapping the pixel electrode 9a. In addition, an n-channel field effect transistor 30 is formed. The field effect transistor 30 includes a channel region 1g, a low concentration source region 1b, a high concentration source region 1d, a low concentration drain region 1c, and an island-shaped semiconductor layer 1a made of a polysilicon layer or a single crystal silicon layer. It has an LDD structure in which a high concentration drain region 1e is formed. A gate insulating layer 2 is formed on the surface side of the semiconductor layer 1a, and a gate electrode 3c (scanning line 3a) is formed on the surface of the gate insulating layer 2.

電界効果型トランジスタ30の上層側には、層間絶縁層7、8が形成されている。層間絶縁層7の表面にはデータ線6aおよびドレイン電極6bが形成され、データ線6aは、層間絶縁層7に形成されたコンタクトホール7aを介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続している。また、ドレイン電極6bは、層間絶縁層7に形成されたコンタクトホール7bを介して高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続している。層間絶縁層8の表面にはITO膜からなる画素電極9aが形成されている。画素電極9aは、層間絶縁層8に形成されたコンタクトホール8aを介してドレイン電極6bに電気的に接続している。画素電極9aの表面側にはポリイミド膜からなる配向膜16が形成されている。また、高濃度ドレイン領域1eからの延設部分1f(下電極)に対しては、ゲート絶縁層2と同時形成された絶縁層(誘電体膜)を介して、走査線3aと同層の容量線3bが上電極として対向することにより、保持容量60が構成されている。   Interlayer insulating layers 7 and 8 are formed on the upper layer side of the field effect transistor 30. A data line 6a and a drain electrode 6b are formed on the surface of the interlayer insulating layer 7, and the data line 6a is electrically connected to the high concentration source region 1d through a contact hole 7a formed in the interlayer insulating layer 7. Yes. The drain electrode 6b is electrically connected to the high concentration drain region 1e through a contact hole 7b formed in the interlayer insulating layer 7. A pixel electrode 9 a made of an ITO film is formed on the surface of the interlayer insulating layer 8. The pixel electrode 9 a is electrically connected to the drain electrode 6 b through a contact hole 8 a formed in the interlayer insulating layer 8. An alignment film 16 made of a polyimide film is formed on the surface side of the pixel electrode 9a. Further, for the extended portion 1f (lower electrode) from the high concentration drain region 1e, the capacitance of the same layer as that of the scanning line 3a is provided via an insulating layer (dielectric film) formed simultaneously with the gate insulating layer 2. The storage capacitor 60 is configured by the line 3b facing as an upper electrode.

対向基板20は、石英基板やガラス基板からなる透光性基板20sに対して遮光層23、共通電極21、および配向膜26などが形成されている。   The counter substrate 20 has a light shielding layer 23, a common electrode 21, an alignment film 26, and the like formed on a light transmitting substrate 20s made of a quartz substrate or a glass substrate.

このように構成した素子基板10と対向基板20とは、画素電極9aと共通電極21とが対面するように配置され、かつ、これらの基板間には、シール材(図示せず)により囲まれた空間内に電気光学物質としての液晶層50が封入されている。液晶層50は、画素電極9aからの電界が印加されていない状態で配向膜16、26により所定の配向状態をとる。液晶層50は、例えば一種または数種のネマティック液晶を混合したものなどからなる。   The element substrate 10 and the counter substrate 20 configured as described above are disposed so that the pixel electrode 9a and the common electrode 21 face each other, and the substrates are surrounded by a sealing material (not shown). A liquid crystal layer 50 as an electro-optical material is sealed in the space. The liquid crystal layer 50 takes a predetermined alignment state by the alignment films 16 and 26 in a state where an electric field from the pixel electrode 9a is not applied. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, one or a mixture of several types of nematic liquid crystals.

(駆動回路の構成)
図5(a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板に形成した相補型電界効果型トランジスタの平面図、およびそのB−B′線に相当する位置で素子基板を切断したときの断面図である。
(Configuration of drive circuit)
5A and 5B are a plan view of a complementary field effect transistor formed on an element substrate used in an electro-optical device to which the present invention is applied, and a position corresponding to the line BB ′. It is sectional drawing when an element substrate is cut | disconnected.

図3(a)、(b)、(c)において、本形態の電気光学装置100では、素子基板10の表面側のうち、画素領域10bの外側(画像表示領域10aの外側)は、走査線駆動回路104、データ線駆動回路101、複数の端子102、配線105が形成された周辺回路領域10dとして利用される。このようなデータ線駆動回路101および走査線駆動回路104は、例えば、図5(a)、(b)に示すように、Pチャネル型の電界効果型トランジスタ80とNチャネル型の電界効果型トランジスタ90とを備えた相補回路などを有している。   3A, 3 </ b> B, and 3 </ b> C, in the electro-optical device 100 according to the present embodiment, the outer side of the pixel region 10 b (outside of the image display region 10 a) on the surface side of the element substrate 10 is a scanning line. It is used as a peripheral circuit region 10d in which a drive circuit 104, a data line drive circuit 101, a plurality of terminals 102, and a wiring 105 are formed. Such a data line driving circuit 101 and scanning line driving circuit 104 include, for example, a P-channel field effect transistor 80 and an N-channel field effect transistor as shown in FIGS. 90 and the like.

図5(a)、(b)において、電界効果型トランジスタ80、90は、画素スイッチング用の電界効果型トランジスタ30の製造工程の一部を利用して形成されたものであり、電界効果型トランジスタ80、90を構成する半導体層1p、1nは、電界効果型トランジスタ30を構成する半導体層1aと同じくポリシリコン層や単結晶シリコン層である。   5A and 5B, the field effect transistors 80 and 90 are formed by utilizing a part of the manufacturing process of the field switching transistor 30 for pixel switching. The semiconductor layers 1p and 1n constituting the transistors 80 and 90 are polysilicon layers or single crystal silicon layers, like the semiconductor layer 1a constituting the field effect transistor 30.

Nチャネル型の電界効果型トランジスタ90は、チャネル領域1oの両側にN型のソース領域(高濃度ソース領域1sおよび低濃度ソース領域1q)、およびドレイン領域(高濃度ドレイン領域1rおよび低濃度ドレイン領域1t)を備えており、Pチャネル型の電界効果型トランジスタ80は、チャネル領域1iの両側にP型のソース領域(高濃度ソース領域1lおよび低濃度ソース領域1j)、およびドレイン領域(高濃度ドレイン領域1mおよび低濃度ドレイン領域1k)を備えている。半導体層1p、1nの表面側にはゲート絶縁層2が形成されている。   The N-channel field effect transistor 90 includes an N-type source region (high-concentration source region 1s and low-concentration source region 1q) and a drain region (high-concentration drain region 1r and low-concentration drain region) on both sides of the channel region 1o. 1t), the P-channel field effect transistor 80 includes a P-type source region (high concentration source region 11 and low concentration source region 1j) and a drain region (high concentration drain) on both sides of the channel region 1i. A region 1m and a low concentration drain region 1k). A gate insulating layer 2 is formed on the surface side of the semiconductor layers 1p and 1n.

電界効果型トランジスタ80、90では、高電位線6eと低電位線6gが層間絶縁層7およびゲート絶縁層2を貫通するコンタクトホール7e、7gを介して、半導体層1p、1nの高濃度ソース領域1l、1sに電気的に接続されている。また、出力配線6fは、層間絶縁層7およびゲート絶縁層2を貫通するコンタクトホール7f、7kを介して半導体層1p、1nの高濃度ドレイン領域1m、1rに電気的にそれぞれ接続されている。また、入力配線6hは、層間絶縁層7を貫通するコンタクトホール7hを介して共通のゲート電極3eに接続されている。   In the field effect transistors 80 and 90, the high potential line 6e and the low potential line 6g are high concentration source regions of the semiconductor layers 1p and 1n through contact holes 7e and 7g penetrating the interlayer insulating layer 7 and the gate insulating layer 2. 1l and 1s are electrically connected. The output wiring 6f is electrically connected to the high-concentration drain regions 1m and 1r of the semiconductor layers 1p and 1n via contact holes 7f and 7k that penetrate the interlayer insulating layer 7 and the gate insulating layer 2, respectively. The input wiring 6h is connected to a common gate electrode 3e through a contact hole 7h that penetrates the interlayer insulating layer 7.

このような構成の周辺回路領域10dでは、アルミニウム配線などといった多数の金属配線が形成されているため、強い反射性を備えている。   In the peripheral circuit region 10d having such a configuration, since many metal wirings such as aluminum wirings are formed, the peripheral circuit region 10d has strong reflectivity.

(戻り光対策)
図6(a)、(b)、(c)は、本発明を適当した電気光学装置100の素子基板10に形成した光散乱用凹凸の平面的な構成を模式的に示す平面図、その断面図、およびその変形例の断面図である。
(Return light measures)
6A, 6B, and 6C are plan views schematically showing a planar configuration of light scattering irregularities formed on the element substrate 10 of the electro-optical device 100 to which the present invention is applied, and a cross section thereof. It is sectional drawing of a figure and its modification.

図2〜図5を参照して説明した電気光学装置100および液晶パネル100pを、図1を参照して説明した投射型表示装置110の液晶ライトバルブ115〜117および液晶パネル115c〜117cとして用いると、光源部140から出射された光は、対向基板20の側から入射した後、液晶層50によって光変調されて、矢印L1で示すように、素子基板10において、透光性基板10sの第1面10x側から入射し、第2面10yから出射される。その際、素子基板20から出射された変調光の一部は、例えばクロスダイクロイックプリズム119の入射面などで反射して、矢印L3で示すように、液晶パネル100pに入射する。その際、周辺回路領域10dに向かった光が周辺回路領域10dで正反射すると、投射画像に周辺回路が写り込む原因となる。   When the electro-optical device 100 and the liquid crystal panel 100p described with reference to FIGS. 2 to 5 are used as the liquid crystal light valves 115 to 117 and the liquid crystal panels 115c to 117c of the projection display device 110 described with reference to FIG. The light emitted from the light source unit 140 is incident from the side of the counter substrate 20 and is then optically modulated by the liquid crystal layer 50. As indicated by an arrow L1, in the element substrate 10, the first of the translucent substrate 10s. The light enters from the surface 10x side and exits from the second surface 10y. At this time, a part of the modulated light emitted from the element substrate 20 is reflected by, for example, the incident surface of the cross dichroic prism 119 and enters the liquid crystal panel 100p as indicated by an arrow L3. At this time, if the light directed to the peripheral circuit region 10d is regularly reflected by the peripheral circuit region 10d, the peripheral circuit is reflected in the projected image.

そこで、本形態では、図3(b)、(c)、図5(b)、および図6(a)、(b)に示すように、透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域には、透光性基板10sの第2面10y側から入射した光を散乱させる粗面化領域10tが形成されている。かかる粗面化領域10tを形成するにあたって、本形態では、透光性基板10sの第2面10yには、周辺回路領域10dに対して重なる領域に凹部10vが形成されており、凹部10vの底面は粗面化されている。   Therefore, in this embodiment, as shown in FIGS. 3B, 3C, 5B, 6A, and 6B, the peripheral circuit region 10d in the translucent substrate 10s is formed. In the overlapping region, a roughened region 10t that scatters light incident from the second surface 10y side of the translucent substrate 10s is formed. In forming the roughened region 10t, in this embodiment, the second surface 10y of the translucent substrate 10s is formed with a recess 10v in a region overlapping the peripheral circuit region 10d, and the bottom surface of the recess 10v. Is roughened.

より具体的には、凹部10vの底面および内側面には、粒子状シリコン堆積物あるいは粒子状金属堆積物からなる多数のドット状堆積物11が形成されており、かかるドット状堆積物11の形成により、凹部10vの底面は粗面化されている。ここで、ドット状堆積物11は、粒径が例えばサブナノオーダーからミクロンオーダーからなる。   More specifically, a large number of dot-like deposits 11 made of a particulate silicon deposit or a particulate metal deposit are formed on the bottom surface and the inner side surface of the recess 10v. Thus, the bottom surface of the recess 10v is roughened. Here, the dot-like deposit 11 has a particle size of, for example, sub-nano order to micron order.

また、凹部10vは、シリコン酸化膜などからなる充填材料層13によって埋められており、透光性基板10sの第2面10yは、凹部10vの形成領域を含む全体が平坦面になっている。   The concave portion 10v is filled with a filling material layer 13 made of a silicon oxide film or the like, and the second surface 10y of the translucent substrate 10s is a flat surface as a whole including the formation region of the concave portion 10v.

(素子基板10の製造方法)
図7を参照して、素子基板10に粗面化領域10tを形成する工程(粗面化領域形成工程)を中心に、本形態の電気光学装置100の製造を説明する。図7は、本発明を適用した電気光学装置100の製造工程のうち、素子基板10に粗面化領域10tを形成する工程を示す工程断面図である。
(Method for manufacturing element substrate 10)
With reference to FIG. 7, the manufacture of the electro-optical device 100 of this embodiment will be described focusing on the step of forming the roughened region 10t on the element substrate 10 (roughened region forming step). FIG. 7 is a process cross-sectional view illustrating a process of forming the roughened region 10 t on the element substrate 10 in the manufacturing process of the electro-optical device 100 to which the present invention is applied.

本形態の電気光学装置100に用いた素子基板10を製造するには、まず、図7(a)に示すように、石英基板やガラス基板からなる透光性基板10sを準備した後、マスク形成工程において、フォトリソグラフィ技術を用い、第2面10yにレジストマスク61を形成する。ここで、レジストマスク61は、図6(b)に示す凹部10vに対応する箇所に開孔部610を備えている。   In order to manufacture the element substrate 10 used in the electro-optical device 100 of this embodiment, first, as shown in FIG. 7A, a light-transmitting substrate 10s made of a quartz substrate or a glass substrate is prepared, and then mask formation is performed. In the process, a resist mask 61 is formed on the second surface 10y by using a photolithography technique. Here, the resist mask 61 includes an opening 610 at a location corresponding to the recess 10v shown in FIG.

次に、図7(b)に示す凹部形成工程では、レジストマスク61の開孔部610を介して、透光性基板10sの第2面10yにドライエッチングを行ない、凹部10vを形成する。   Next, in the recess forming step shown in FIG. 7B, dry etching is performed on the second surface 10y of the translucent substrate 10s through the opening 610 of the resist mask 61 to form the recess 10v.

次に、レジストマスク61を除去した後、図7(c)に示す化学気相成膜工程においては、化学気相成膜法を用いて、透光性基板10sの第2面10yの全面に対して、シリコンあるいは金属からなる多数のドット状堆積物11を形成する。すなわち、化学気相成膜法で成膜する際、堆積物が粒子状となる条件、堆積物が平坦な膜となる条件のうち、堆積物が粒子状となる条件で成膜を行ない、かかる堆積物が全面に形成される前に成膜を停止する。例えば、シリコン堆積物によりドット状堆積物11を形成する場合、原料ガスとしてシランガスを用い、温度が比較的高い条件(例えば、400〜500℃)、圧力が1〜30Torrの条件で化学気相成膜を行なう。なお、ドット状堆積物11については、タングステンなどの金属堆積物を用いてもよい。   Next, after removing the resist mask 61, in the chemical vapor deposition process shown in FIG. 7C, the entire surface of the second surface 10y of the translucent substrate 10s is formed by using a chemical vapor deposition method. On the other hand, a large number of dot deposits 11 made of silicon or metal are formed. That is, when a film is formed by the chemical vapor deposition method, the film formation is performed under the condition that the deposit is in a particle shape among the conditions in which the deposit is in a particle shape and the condition in which the deposit is a flat film. The film formation is stopped before the deposit is formed on the entire surface. For example, when the dot-like deposit 11 is formed by a silicon deposit, a silane gas is used as a source gas, a chemical vapor deposition is performed under conditions where the temperature is relatively high (for example, 400 to 500 ° C.) and the pressure is 1 to 30 Torr. Do the membrane. For the dot-like deposit 11, a metal deposit such as tungsten may be used.

次に、図7(d)に示す凹部充填工程では、少なくとも凹部10vを埋める厚さにシリコン酸化膜などからなる充填材料層13を形成する。その結果、充填材料層13は、透光性基板10sの第2面10yの略全面に形成される。   Next, in the recess filling step shown in FIG. 7D, a filling material layer 13 made of a silicon oxide film or the like is formed to a thickness that fills at least the recess 10v. As a result, the filling material layer 13 is formed on substantially the entire second surface 10y of the translucent substrate 10s.

次に、図7(e)に示す研磨工程では、凹部10vの外側に形成されたドット状堆積物11が除去されるまで透光性基板10sの第2面10yを研磨する。その結果、ドット状堆積物11は凹部10v内のみに残るとともに、充填材料層13も凹部10vのみに残り、透光性基板10sの第2面10yは、凹部10vの形成領域を含む全体が平坦面になる。かかる研磨を行なうにあたっては、例えば、化学機械研磨を行なう。この化学機械研磨では、研磨液に含まれる化学成分の作用と、研磨剤と透光性基板20sとの相対移動によって、高速で平滑な研磨面を得ることができる。より具体的には、研磨装置において、不織布、発泡ポリウレタン、多孔質フッ素樹脂などからなる研磨布(パッド)を貼り付けた定盤と、透光性基板20fs保持するホルダとを相対回転させながら、研磨を行なう。その際、例えば、平均粒径が0.01〜20μmの酸化セリウム粒子、分散剤としてのアクリル酸エステル誘導体、および水を含む研磨剤を研磨布と透光性基板20sとの間に供給する。   Next, in the polishing step shown in FIG. 7E, the second surface 10y of the translucent substrate 10s is polished until the dot-like deposit 11 formed outside the recess 10v is removed. As a result, the dot-like deposit 11 remains only in the recess 10v, the filling material layer 13 also remains only in the recess 10v, and the entire second surface 10y of the translucent substrate 10s including the formation region of the recess 10v is flat. It becomes a surface. In performing such polishing, for example, chemical mechanical polishing is performed. In this chemical mechanical polishing, a smooth polished surface can be obtained at a high speed by the action of chemical components contained in the polishing liquid and the relative movement between the abrasive and the light transmitting substrate 20s. More specifically, in the polishing apparatus, while relatively rotating the surface plate on which a polishing cloth (pad) made of nonwoven fabric, foamed polyurethane, porous fluororesin or the like is attached, and the holder holding the light-transmitting substrate 20fs, Polish. At that time, for example, an abrasive containing cerium oxide particles having an average particle diameter of 0.01 to 20 μm, an acrylate derivative as a dispersant, and water is supplied between the polishing cloth and the translucent substrate 20s.

しかる後には、図4(b)および図5(b)に示すように、透光性基板10sの第1面10xにシリコン酸化膜などからなる下地保護膜12を形成した後、単結晶シリコン基板と透光性基板10sとの貼り合わせ技術による単結晶シリコン層の形成工程、あるいはアモルファスシリコン膜を形成した後のレーザアニールや急速加熱法などの結晶化処理によるポリシリコン層の形成工程を行なった後、かかるシリコン層を利用して電界効果型トランジスタ30、80、90などを形成する。以降の工程については周知の方法を適用できるので、それらの説明を省略する。   Thereafter, as shown in FIGS. 4B and 5B, a base protective film 12 made of a silicon oxide film or the like is formed on the first surface 10x of the translucent substrate 10s, and then a single crystal silicon substrate. A step of forming a single crystal silicon layer by a bonding technique between the substrate and the translucent substrate 10s or a step of forming a polysilicon layer by crystallization treatment such as laser annealing or rapid heating after forming an amorphous silicon film was performed. Thereafter, field effect transistors 30, 80, 90, and the like are formed using the silicon layer. Since well-known methods can be applied to the subsequent steps, descriptions thereof are omitted.

(本形態の主な効果)
以上説明したように、本形態の電気光学装置100では、変調された光が、素子基板10の出射側の面や、図1に示すクロスダイクロイックプリズム119の入射面で反射して、矢印L3で示す戻り光として素子基板10側から入射した場合でも、素子基板10に用いた透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域に粗面化領域10t(ドット状堆積物11)が形成されている。このため、戻り光は、矢印L5で示すように、粗面化領域10tで反射した際、散乱する。従って、戻り光が周辺回路領域10dで正反射することがないので、投射画像の外縁部分に周辺回路領域10dが写り込むのを防止することができる。また、素子基板10に用いた透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域にベタの遮光膜を形成すると、かかる遮光膜の存在がスクリーンなどの被投射面に表示された画像の外縁に沿って写り込むことになるが、本形態では、粗面化領域10tで戻り光を散乱させるので、かかる問題が発生することもない。
(Main effects of this form)
As described above, in the electro-optical device 100 according to the present embodiment, the modulated light is reflected by the exit side surface of the element substrate 10 or the entrance surface of the cross dichroic prism 119 shown in FIG. Even when the return light shown is incident from the element substrate 10 side, a roughened region 10t (dot-like deposit 11) is formed in a region overlapping the peripheral circuit region 10d in the translucent substrate 10s used for the element substrate 10. Has been. For this reason, as shown by the arrow L5, the return light is scattered when reflected by the roughened region 10t. Accordingly, since the return light is not regularly reflected by the peripheral circuit region 10d, it is possible to prevent the peripheral circuit region 10d from appearing in the outer edge portion of the projection image. In addition, when a solid light-shielding film is formed in a region overlapping the peripheral circuit region 10d in the light-transmitting substrate 10s used for the element substrate 10, the presence of the light-shielding film is displayed on a projection surface such as a screen. Although the image is reflected along the outer edge, in this embodiment, since the return light is scattered in the roughened region 10t, such a problem does not occur.

また、粗面化領域10tは、多数のドット状堆積物11が形成された構成になっているため、矢印L3で示す光の一部が透光性基板10sを透過する。このため、戻り光が素子基板10で反射される量が少ない。ここで、矢印L4で示すように、戻り光の一部は、透光性基板10sを透過するが、かかる光は散乱しているとともに、戻り光が周辺回路領域10dで反射しても、かかる反射光は再び、粗面化領域10tで散乱する。それ故、投射画像の外縁部分に周辺回路領域10dが写り込むことはない。   In addition, since the roughened region 10t has a configuration in which a large number of dot-like deposits 11 are formed, a part of the light indicated by the arrow L3 passes through the translucent substrate 10s. For this reason, the amount of return light reflected by the element substrate 10 is small. Here, as indicated by the arrow L4, a part of the return light is transmitted through the translucent substrate 10s, but the light is scattered, and even if the return light is reflected by the peripheral circuit region 10d. The reflected light is scattered again in the roughened region 10t. Therefore, the peripheral circuit region 10d does not appear in the outer edge portion of the projection image.

さらに、凹部10vは充填材料層13により内部が埋められているため、粗面化領域10tを多数のドット状堆積物11により構成した場合でも、ドット状堆積物11を保護でき、ドット状堆積物11の剥離などを防止することができる。   Furthermore, since the concave portion 10v is filled with the filling material layer 13, even when the roughened region 10t is composed of a large number of dot-like deposits 11, the dot-like deposits 11 can be protected and the dot-like deposits can be protected. 11 can be prevented.

[別の実施の形態]
上記実施の形態では、透光性基板10sの第2面10yに凹部10vを形成し、その底部にドット状堆積物11を形成したが、図6(c)に示すように、透光性基板10sの第1面10xに凹部10vを形成するとともに、凹部10vの底部にドット状堆積物11を形成してもよい。この場合も、凹部10vについては充填材料層13により内部が埋められている。このため、粗面化領域10tを多数のドット状堆積物11により構成した場合でも、ドット状堆積物11を保護でき、ドット状堆積物11の剥離などを防止することができる。また、凹部10vが形成されている領域上に周辺回路を形成する場合でも、無駄な段差のない領域に周辺回路を形成でき、段差によって周辺回路の信頼性などが低下することを確実に防止することができる。
[Another embodiment]
In the above embodiment, the recess 10v is formed on the second surface 10y of the translucent substrate 10s, and the dot-like deposit 11 is formed on the bottom thereof. However, as shown in FIG. While forming the recessed part 10v in the 1st surface 10x of 10s, you may form the dot-like deposit 11 in the bottom part of the recessed part 10v. Also in this case, the interior of the recess 10v is filled with the filling material layer 13. For this reason, even when the roughened region 10t is constituted by a large number of dot-like deposits 11, the dot-like deposits 11 can be protected, and peeling of the dot-like deposits 11 can be prevented. Even when the peripheral circuit is formed on the region where the recess 10v is formed, the peripheral circuit can be formed in a region where there is no useless step, and the reliability of the peripheral circuit is reliably prevented from being lowered by the step. be able to.

また、下地保護膜12と透光性基板10sとの層間には、電界効果型トランジスタ30と重なる領域に、戻り光が電界効果型トランジスタ30に入射することを防止する遮光層を形成してもよい。また、透光性基板10sにおいて、電界効果型トランジスタ30と重なる領域に粗面化領域10t(凹部10vおよびドット状堆積物11)を形成して、戻り光が電界効果型トランジスタ30に直接、入射することを防止してもよい。   Further, a light shielding layer for preventing return light from entering the field effect transistor 30 may be formed in a region overlapping the field effect transistor 30 between the base protective film 12 and the translucent substrate 10 s. Good. Further, in the translucent substrate 10 s, a roughened region 10 t (concave portion 10 v and dot-like deposit 11) is formed in a region overlapping with the field effect transistor 30, and the return light is directly incident on the field effect transistor 30. May be prevented.

なお、素子基板10には、下地保護膜12と透光性基板10sとの層間や、透光性基板10sの第2面10yに反射防止層を形成してもよく、かかる反射防止層は、例えば、シリコン酸化膜とチタン酸化膜とを積層することにより形成することができる。   Note that an antireflection layer may be formed on the element substrate 10 between the base protective film 12 and the translucent substrate 10s or on the second surface 10y of the translucent substrate 10s. For example, it can be formed by laminating a silicon oxide film and a titanium oxide film.

また、粗面化領域10tについては、透光性基板10sの基板面に直接、微細な凹凸を形成することにより構成してもよい。   Further, the roughened region 10t may be configured by forming fine irregularities directly on the substrate surface of the translucent substrate 10s.

[他の実施の形態]
図1には、ライトバルブを3枚用いた投射型表示装置を例示したが、電気光学装置100がカラーフィルタを内蔵している場合、図8に示す投射型表示装置において、本発明を適用した1枚の電気光学装置100をライトバルブとして用いて、カラー画像をスクリーン211に投射表示するように構成してもよい。すなわち、図8に示す投射型表示装置210は、白色光源212、インテグレータ221および偏光変換素子222を備えた光源部240と、電気光学装置100と、投射光学系218とを備えている。また、電気光学装置100では、カラーフィルタ内蔵の液晶パネル100pの両側に第1偏光板216aおよび第2偏光板216bが配置されている。
[Other embodiments]
FIG. 1 illustrates a projection display device using three light valves. However, when the electro-optical device 100 includes a color filter, the present invention is applied to the projection display device shown in FIG. One electro-optical device 100 may be used as a light valve, and a color image may be projected and displayed on the screen 211. That is, the projection display apparatus 210 shown in FIG. 8 includes a light source unit 240 including a white light source 212, an integrator 221, and a polarization conversion element 222, the electro-optical device 100, and a projection optical system 218. In the electro-optical device 100, the first polarizing plate 216a and the second polarizing plate 216b are disposed on both sides of the liquid crystal panel 100p with a built-in color filter.

さらに、上記形態では、電気光学装置として液晶装置を例に説明したが、自発光素子から出射された変調光によって投射型表示装置を構成する場合にも、戻り光対策として本発明を適用してもよい。   Furthermore, although the liquid crystal device has been described as an example of the electro-optical device in the above embodiment, the present invention is applied as a countermeasure against the return light even when the projection display device is configured by the modulated light emitted from the self-light emitting element. Also good.

本発明を適用した投射型表示装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the projection type display apparatus to which this invention is applied. 図1に示した投射型表示装置において液晶ライトバルブに用いた液晶パネルの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical constitution of the liquid crystal panel used for the liquid crystal light valve in the projection type display apparatus shown in FIG. (a)、(b)、(c)は各々、本発明を適用した電気光学装置の液晶パネルを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、そのH−H′断面図、およびI−I′断面図である。(A), (b), and (c) are plan views of the liquid crystal panel of the electro-optical device to which the present invention is applied as viewed from the side of the counter substrate together with the respective components, its HH ′ sectional view, and I It is -I 'sectional drawing. (a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板において相隣接する画素の平面図、およびそのA−A′線に相当する位置で電気光学装置を切断したときの断面図である。FIGS. 4A and 4B are plan views of adjacent pixels on the element substrate used in the electro-optical device to which the present invention is applied, and the electro-optical device cut at a position corresponding to the line AA ′. FIG. (a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板に形成した相補型電界効果型トランジスタの平面図、およびそのB−B′線に相当する位置で素子基板を切断したときの断面図である。(A), (b) is a plan view of a complementary field effect transistor formed on an element substrate used in an electro-optical device to which the present invention is applied, and an element substrate at a position corresponding to the BB ′ line. It is sectional drawing when cutting. (a)、(b)、(c)は、本発明を適用した電気光学装置の素子基板に形成した粗面化領域の平面的な構成を模式的に示す平面図、その断面図、およびその変形例の断面図である。(A), (b), (c) is a plan view schematically showing a planar configuration of a roughened region formed on an element substrate of an electro-optical device to which the present invention is applied, its sectional view, and its It is sectional drawing of a modification. 本発明を適用した電気光学装置の製造工程のうち、素子基板に粗面化領域を形成する工程を示す工程断面図である。It is process sectional drawing which shows the process of forming a roughening area | region in an element substrate among the manufacturing processes of the electro-optical apparatus to which this invention is applied. 本発明を適用した別の投射型表示装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of another projection type display apparatus to which this invention is applied. 従来の電気光学装置および投射型表示装置の問題点を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the problem of the conventional electro-optical apparatus and a projection type display apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

10・・素子基板、10a・・画像表示領域、10b・・画素領域、10d・・周辺回路領域、10t・・粗面化領域、10v・・凹部、10x・・透光性基板の第1面、10y・・透光性基板の第2面、11・・ドット状堆積物、20・・対向基板、100・・電気光学装置(液晶装置/液晶ライトバルブ)、100p・・液晶パネル、110、210・・投射型表示装置 10. Element substrate, 10a, Image display area, 10b, Pixel area, 10d, Peripheral circuit area, 10t, Roughened area, 10v, Recess, 10x, First surface of translucent substrate 10 y... Second surface of translucent substrate, 11... Dot-like deposit, 20.. Counter substrate, 100 .. electro-optical device (liquid crystal device / liquid crystal light valve), 100 p. 210 .. Projection type display device

Claims (7)

透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、
前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域に、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる粗面化領域が形成されており、
前記粗面化領域は、前記透光性基板に対して堆積した多数のドット状堆積物により構成されていることを特徴とする電気光学装置。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In an electro-optical device that emits light modulated from a second surface side opposite to the first surface in the translucent substrate,
A roughened region for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate is formed in a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate,
The electro-optical device, wherein the roughened region is constituted by a large number of dot-like deposits deposited on the translucent substrate.
前記ドット状堆積物は、粒子状シリコン堆積物あるいは粒子状金属堆積物からなることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。   The electro-optical device according to claim 1, wherein the dot-like deposit is made of a particulate silicon deposit or a particulate metal deposit. 透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、
前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域に、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる粗面化領域が形成されており、
前記粗面化領域は、前記透光性基板に形成された凹部の底部に形成され、
当該凹部は、充填材料層により埋められ、
当該充填材料層によって、前記透光性基板において前記凹部の形成領域は平坦化されていることを特徴とする電気光学装置。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In an electro-optical device that emits light modulated from a second surface side opposite to the first surface in the translucent substrate,
A roughened region for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate is formed in a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate,
The roughened region is formed at the bottom of a recess formed in the translucent substrate,
The recess is filled with a filler material layer,
The electro-optical device is characterized in that a formation region of the recess is flattened in the translucent substrate by the filling material layer.
前記素子基板に対して対向配置された対向基板を備え、
当該対向基板と前記素子基板との間に液晶層が保持されていることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の電気光学装置。
A counter substrate disposed opposite to the element substrate;
4. The electro-optical device according to claim 1, wherein a liquid crystal layer is held between the counter substrate and the element substrate.
透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置の製造方法において、
前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域を粗面化して、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる粗面化領域を形成する粗面化領域形成工程を有し、
前記粗面化領域形成工程において、前記透光性基板に化学気相成膜法により多数のドット状堆積物を形成する化学気相成膜工程を行なうことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In the method of manufacturing an electro-optical device that emits light modulated from the second surface side opposite to the first surface in the translucent substrate,
A roughening region forming step of roughening a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate to form a roughened region that scatters light incident from the second surface side of the translucent substrate; Yes, and
In the roughening region forming step, a chemical vapor deposition step of forming a large number of dot-like deposits on the translucent substrate by a chemical vapor deposition method is performed. .
前記粗面化領域形成工程では、前記透光性基板前記粗面化領域とすべき領域に凹部を形成する凹部形成工程と、前記透光性基板前記凹部を含む領域に対する前記化学気相成膜工程と、少なくとも前記凹部を埋めるように充填材料層を前記透光性基板上に形成する凹部充填工程と、前記凹部外に形成された前記ドット状堆積物が除去されるまで前記透光性基板を研磨する研磨工程と、を行なうことを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置の製造方法。 Wherein in the roughening region forming step, a recess forming step of forming a recess in the region said to be a roughened region of the transmissive substrate, the chemical vapor to the area containing the recess of the translucent substrate A film forming step, a recess filling step of forming a filling material layer on the translucent substrate so as to fill at least the recess, and the light transmission until the dot-like deposit formed outside the recess is removed. A method for manufacturing an electro-optical device according to claim 5, wherein a polishing step for polishing the conductive substrate is performed. 請求項1乃至4の何れか一項に記載の電気光学装置を用いた投射型表示装置であって、
前記電気光学装置により光変調した光を投射する投射光学系を備えていることを特徴とする投射型表示装置。
A projection display device using the electro-optical device according to any one of claims 1 to 4,
A projection display device comprising a projection optical system that projects light modulated by the electro-optical device.
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