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JP4882340B2 - Electro-optical device and electronic apparatus including the same - Google Patents

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JP4882340B2 JP2005315860A JP2005315860A JP4882340B2 JP 4882340 B2 JP4882340 B2 JP 4882340B2 JP 2005315860 A JP2005315860 A JP 2005315860A JP 2005315860 A JP2005315860 A JP 2005315860A JP 4882340 B2 JP4882340 B2 JP 4882340B2
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Description

本発明は、例えば液晶装置等の電気光学装置、及び該電気光学装置を備えた、例えば液晶プロジェクタ等の電子機器の技術分野に関する。 The present invention relates to a technical field of an electro-optical device such as a liquid crystal device, and an electronic apparatus such as a liquid crystal projector including the electro-optical device.

この種の電気光学装置は、一般に、シリアル−パラレル変換(或いは、「シリアル−パラレル展開」又は「相展開」とも称される)された画像信号に基づいて駆動される。例えば、液晶装置において、基板上の画像表示領域に配線された複数のデータ線は所定の本数毎にブロック化されており、シリアル−パラレル変換された画像信号は、ブロック単位で、該ブロックに含まれるデータ線にサンプリングスイッチを介して供給される。これにより、所定の本数のデータ線が同時に、且つ複数のデータ線は所定の本数毎に順次駆動される。この場合、複数の画像信号線は、複数の外部回路接続端子からサンプリングスイッチを含むサンプリング回路に至るまで、基板上で並走すると共にデータ線駆動回路を回避するように配線されるのが一般的である。例えば特許文献1に本願出願人により開示されているように、複数の画像信号線は、データ線駆動回路を構成するいずれかの膜と同一膜から夫々構成されると共に基板上で平面的に見てデータ線駆動回路と互いに重ならないように配線される。 This type of electro-optical device is generally driven based on an image signal that has undergone serial-parallel conversion (also referred to as “serial-parallel expansion” or “phase expansion”). For example, in a liquid crystal device, a plurality of data lines wired to an image display area on a substrate are divided into blocks every predetermined number, and serial-parallel converted image signals are included in the block in block units. The data line is supplied via a sampling switch. Thus, a predetermined number of data lines are simultaneously driven and a plurality of data lines are sequentially driven every predetermined number. In this case, the plurality of image signal lines are generally wired so as to run in parallel on the substrate and avoid the data line driving circuit from the plurality of external circuit connection terminals to the sampling circuit including the sampling switch. It is. For example, as disclosed in Patent Document 1 by the applicant of the present application, the plurality of image signal lines are each composed of the same film as any of the films constituting the data line driving circuit and are viewed in plan on the substrate. The data line driving circuit is wired so as not to overlap with each other.

特開平11−95257号公報JP-A-11-95257

しかしながら、上述の如く、基板上で並走すると共にデータ線駆動回路を回避するように複数の画像信号線を配線した場合には、複数の画像信号線間の配線長に比較的大きな差が生じてしまう。このため、複数の画像信号線間における配線抵抗或いは電気容量のばらつきが大きくなってしまい、画像表示において各画像信号線に対応した縦帯状のむら、言い換えれば、パラレルな画像信号により同時に駆動されるブロック単位のむらが発生してしまうという技術的問題点がある。 However, as described above, when a plurality of image signal lines are wired so as to run in parallel on the substrate and avoid the data line driving circuit, a relatively large difference occurs in the wiring length between the plurality of image signal lines. End up. For this reason, variation in wiring resistance or electric capacity between a plurality of image signal lines becomes large, and vertical band unevenness corresponding to each image signal line in image display, in other words, a block driven simultaneously by parallel image signals. There is a technical problem that unevenness of units occurs.

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、複数の画像信号線間の配線抵抗や電気容量に起因する縦帯状の表示むらを低減する電気光学装置及び該電気光学装置を具備してなる電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of, for example, the above-described problems, and includes an electro-optical device that reduces vertical band-shaped display unevenness caused by wiring resistance or electric capacitance between a plurality of image signal lines, and the electro-optical device. It is an object to provide an electronic device.

本発明の電気光学装置は、上記課題を解決するために、基板と、画素領域に配線された複数のデータ線と、端子と、前記端子に接続され、画像信号が供給される画像信号線と、サンプリング信号を生成するデータ線駆動回路と、前記複数のデータ線と前記画像信号線との間に接続され、前記サンプリング信号に応じて制御されるサンプリング回路と、を備えており、前記画像信号線は、前記データ線駆動回路と前記サンプリング回路との間に配置される第1部分と、前記端子と前記第1部分との間を接続し、前記データ線駆動回路と重なる第部分を有する。
Electro-optical device of the present invention, in order to solve the above problems, a substrate, a multiple data lines wired in picture element region, and the terminal is connected to the terminals, an image signal to which image signals are supplied a line, a data line drive circuit for generating a sampling signal, is connected between the image signal lines and the plurality of data lines, provided with a sampling circuit controlled in response to the sampling signal The image signal line connects the first portion disposed between the data line driving circuit and the sampling circuit, the terminal and the first portion, and overlaps the data line driving circuit. Has two parts.

本発明の電気光学装置によれば、その駆動時には、画像信号が、例えば外部回路接続端子を介して画像信号線に供給され、更に、例えば、データ線に対応して配列された複数のサンプリングスイッチを含むサンプリング回路へと供給される。尚、画像信号は、シリアル−パラレル変換されたN(但し、Nは2以上の自然数)系列の画像信号であって、画像信号線は、これらN系列の画像信号が夫々供給されるN本の画像信号線であってもよい。例えば、N系列の画像信号は、駆動周波数の上昇を抑えつつ高精細な画像表示を実現すべく、外部回路によって、シリアルな画像信号が、3相、6相、12相、24相、・・・など、複数系列のパラレルな画像信号(即ち、パラレルな複数個の画像信号)に変換されることによって生成されてもよい。   According to the electro-optical device of the present invention, at the time of driving, the image signal is supplied to the image signal line through, for example, the external circuit connection terminal, and further, for example, a plurality of sampling switches arranged corresponding to the data line Is supplied to a sampling circuit including The image signal is a serial-parallel converted N (where N is a natural number greater than or equal to 2) series image signal, and the image signal line is supplied with N number of N series image signals. It may be an image signal line. For example, for an N-sequence image signal, a serial image signal is converted into 3-phase, 6-phase, 12-phase, 24-phase,... By an external circuit in order to realize high-definition image display while suppressing an increase in drive frequency. , Etc., may be generated by being converted into a plurality of parallel image signals (that is, a plurality of parallel image signals).

このような画像信号の供給と並行して、データ線駆動回路によって、例えばデータ線に対応するサンプリングスイッチに、サンプリング信号が順次供給される。すると、サンプリング回路によって、複数のデータ線には、サンプリング信号に応じてデータ線毎に画像信号が順次供給される。よって、複数のデータ線は、順次駆動されることとなる。尚、サンプリングスイッチは、例えば、片チャネル型のTFTにより夫々構成され、ソースが画像信号線に電気的に接続され、ドレインがデータ線に接続され、ゲートにサンプリング信号が供給されることでオン状態とされる。   In parallel with the supply of the image signal, the sampling signal is sequentially supplied to the sampling switch corresponding to the data line, for example, by the data line driving circuit. Then, the image signal is sequentially supplied to the plurality of data lines for each data line by the sampling circuit in accordance with the sampling signal. Therefore, the plurality of data lines are sequentially driven. Note that the sampling switch is composed of, for example, a single-channel TFT, and the source is electrically connected to the image signal line, the drain is connected to the data line, and the sampling signal is supplied to the gate to turn it on. It is said.

このようにデータ線が駆動されると、各画素部では、例えば、走査線駆動回路から走査線を介して供給される走査信号に応じて、スイッチング動作を行う画素スイッチング素子を介して、データ線より画像信号が表示素子に供給される。これにより、例えば表示素子である液晶素子は供給された画像信号に基づいて画素領域或いは画素アレイ領域(又は「画像表示領域」とも呼ぶ)において画像表示を行う。   When the data line is driven in this manner, in each pixel unit, for example, the data line is connected via a pixel switching element that performs a switching operation in accordance with a scanning signal supplied from the scanning line driving circuit via the scanning line. Thus, an image signal is supplied to the display element. Thus, for example, a liquid crystal element as a display element performs image display in a pixel area or a pixel array area (or also referred to as “image display area”) based on the supplied image signal.

ここで特に、データ線駆動回路は、典型的には、画素領域の周辺に位置する周辺領域において基板上の一辺に沿って配置される。一方、画像信号線は、典型的には、外部回路との電気的な接続のために周辺領域における基板の縁(例えば、前記一辺)に近い領域に配列された外部回路接続端子から複数のデータ線に夫々対応する複数のサンプリングスイッチまで配線される。即ち、外部回路接続端子は、典型的には、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路に対して、画素領域とは反対側に位置する。このため、仮に何らの対策も施さねば、画像信号線は、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路を回避するように、即ち、データ線駆動回路の周囲を迂回するように配線しなければならず、画像信号線の配線長が比較的長くならざるを得ない。従って、画像信号線の配線抵抗或いは電気容量が大きくなってしまう。或いは、画像信号線が例えばN(但し、Nは、2以上の自然数)系列の画像信号を供給するためのN本の画像信号線である場合には、外回りと内回りとの差異によりN本の画像信号線間の配線長の差異が比較的大きくならざるを得ない。従って、N本の画像信号線間の配線抵抗或いは電気容量の差異に起因して、画像表示において縦帯状のむら、言い換えれば、パラレルな画像信号により同時に駆動されるブロック単位のむらが発生してしまう。   Here, in particular, the data line driving circuit is typically arranged along one side on the substrate in a peripheral region located around the pixel region. On the other hand, the image signal line typically has a plurality of data from an external circuit connection terminal arranged in a region close to the edge of the substrate (for example, the one side) in the peripheral region for electrical connection with an external circuit. A plurality of sampling switches corresponding to the lines are wired. In other words, the external circuit connection terminal is typically located on the opposite side of the pixel area with respect to the data line driving circuit as viewed in plan on the substrate. Therefore, if no countermeasures are taken, the image signal lines are wired so as to avoid the data line driving circuit in a plan view on the substrate, that is, to bypass the periphery of the data line driving circuit. The wiring length of the image signal lines must be relatively long. Accordingly, the wiring resistance or electric capacity of the image signal line is increased. Alternatively, when the image signal lines are N image signal lines for supplying, for example, N (where N is a natural number greater than or equal to 2) series image signals, the difference between the outer circuit and the inner circuit causes N lines The difference in the wiring length between the image signal lines must be relatively large. Therefore, due to the difference in wiring resistance or capacitance between the N image signal lines, uneven vertical stripes in image display, in other words, uneven block units driven simultaneously by parallel image signals are generated.

しかるに本発明では特に、画像信号線は、データ線駆動回路と互いに重なる第1部分を有する。即ち、画像信号線は、例えば、データ線駆動回路を構成する導電膜に対して層間絶縁膜を介して相異なる層に位置する導電膜から形成されており、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路と部分的に互いに重なる。よって、上述した、画像信号線が、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路を回避するように配線される場合と比較して、画像信号線の配線長を短くすることができる。或いは、画像信号線が例えばN系列の画像信号を供給するためのN本の画像信号線である場合には、N本の画像信号線間の配線長の差異を殆ど或いは実践的な意味で完全に無くすことができる。即ち、基板上で平面的に見て、基板上におけるデータ線駆動回路の縁側(即ち、外部回路接続端子に近い側)から中央側(即ち、画素部に近い側)へと、画像信号線が、データ線駆動回路上や下或いはデータ線駆動回路中を通過するように構成すれば、基板上で平面的に見てデータ線駆動回路と互いに重なる第1部分を有する分だけ、画像信号線の配線長を短くすることが可能であると共に配線の自由度が高い。或いは、画像信号線が例えばN系列の画像信号を供給するためのN本の画像信号線である場合には、N本の画像信号線間の配線長の差異を殆ど或いは実践的な意味で完全に無くすことができる。従って、N本の画像信号線間の配線抵抗或いは電気容量の差異に起因して生じる縦帯状の表示むらを殆ど或いは実践的な意味で完全に無くすことが可能となる。   However, in the present invention, in particular, the image signal line has a first portion overlapping with the data line driving circuit. That is, the image signal line is formed of a conductive film located in a different layer via an interlayer insulating film with respect to the conductive film constituting the data line driving circuit, for example, when viewed in plan on the substrate, The data line driving circuit partially overlaps with each other. Therefore, the wiring length of the image signal line can be shortened as compared with the case where the above-described image signal line is wired so as to avoid the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate. Alternatively, when the image signal lines are, for example, N image signal lines for supplying N-series image signals, the difference in wiring length between the N image signal lines is almost completely or in a practical sense. Can be eliminated. That is, when viewed in plan on the substrate, the image signal lines are arranged from the edge side of the data line driving circuit on the substrate (ie, the side close to the external circuit connection terminal) to the center side (ie, the side close to the pixel portion). If the data line driving circuit is configured so as to pass over or under the data line driving circuit or in the data line driving circuit, the image signal line of the image signal line is equivalent to the first line overlapping the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate. The wiring length can be shortened and the degree of freedom of wiring is high. Alternatively, when the image signal lines are, for example, N image signal lines for supplying N-series image signals, the difference in wiring length between the N image signal lines is almost completely or in a practical sense. Can be eliminated. Therefore, it is possible to eliminate vertical band-like display unevenness caused by a difference in wiring resistance or capacitance between the N image signal lines almost or completely in a practical sense.

更に、第1部分は、基板上で平面的に見てデータ線駆動回路と互いに重なるので、上述した、画像信号線が基板上で平面的に見てデータ線駆動回路を回避するように配線される場合と比較して、画像信号線を配線するのに必要な基板上の面積を小さくすることができる。よって、基板のサイズを小さくすることにより電気光学装置を小型化する、或いは、基板上の面積を有効利用し、例えば他の配線或いは回路を配置することにより電気光学装置を高性能化することも可能となる。   Furthermore, since the first portion overlaps the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate, the image signal lines are wired so as to avoid the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate. As compared with the case where the image signal lines are provided, the area on the substrate necessary for wiring the image signal lines can be reduced. Therefore, the electro-optical device can be reduced in size by reducing the size of the substrate, or the electro-optical device can be improved in performance by effectively using the area on the substrate and arranging other wirings or circuits, for example. It becomes possible.

本発明の電気光学装置の一態様では、前記第部分は、前記データ線駆動回路を構成する第1の導電膜に対して層間絶縁膜を介して相異なる層に位置する第2の導電膜から形成される。
In one aspect of the electro-optical device of the present invention, the second portion, the second conductive located in different layers via an interlayer insulating film on the first conductive film that make up the data line driving circuit Formed from a film.

この態様によれば、画像信号線とデータ線駆動回路を構成する複数の第1の導電膜とを電気的に接続することなく、即ち互いに絶縁させつつ、画像信号線及びデータ線駆動回路を、基板上で平面的に見て、互いに部分的に重ねることができる。よって、画像信号線の配線長を短くすることが可能であると共に配線の自由度が高い。   According to this aspect, the image signal line and the data line driving circuit are connected without electrically connecting the image signal line and the plurality of first conductive films constituting the data line driving circuit, that is, while being insulated from each other. They can be partially overlapped with each other when viewed in plan on the substrate. Therefore, the wiring length of the image signal line can be shortened and the degree of freedom of wiring is high.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記画像信号線は、前記複数のデータ線を、N(但し、Nは2以上の自然数)本のデータ線を1群とするデータ線群毎に駆動するために、N系列のシリアル−パラレル変換された画像信号が前記端子を介して供給されるN本の画像信号線を含み、
前記データ線駆動回路は、前記画素領域の周辺に位置する周辺領域において前記基板の一辺に沿って配置されており、
記端子は、前記周辺領域において前記一辺に沿って且つ前記データ線駆動回路に対して前記画素領域と反対側に配列されており、前記N本の画像信号線は、前記周辺領域において前記一辺の方向に延在し且つ前記データ線駆動回路と前記サンプリング回路との間に配線された第部分を夫々有し、前記第部分は、前記端子から前記第部分まで、前記一辺と交わる方向に配線される。
In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the image signal lines, the plurality of data lines, N (where, N is the natural number of 2 or more) data line group of the book data line and 1 group to drive each of N series serial - includes an image signal line of the N the parallel converted image signal is supplied through the terminal,
The data line driving circuit is disposed along one side of the substrate in a peripheral region located around the pixel region,
Before SL pin, said the peripheral along said one side in the region and the pixel region to the data line driving circuit are arranged on the opposite side, the image signal lines of the N present, the in the peripheral region a first portion that is wired between said sampling circuit extending Mashimashi and the data line driving circuit in the direction of one side have respectively the second portion, from said terminal to said first portion, said side Wired in the intersecting direction.

この態様によれば、その駆動時には、シリアル−パラレル変換されたN系列の画像信号が、外部回路接続端子を介してN本の画像信号線に供給され、更に、例えば、複数のサンプリングスイッチを含むサンプリング回路へと供給される。このような画像信号の供給と並行して、データ線駆動回路によって、データ線群に対応するサンプリングスイッチ毎に、サンプリング信号が順次供給される。すると、サンプリング回路によって、複数のデータ線には、サンプリング信号に応じてデータ線群毎にN系列の画像信号が順次供給される。よって、同一のデータ線群に属するデータ線は同時に駆動されることとなる。言い換えれば、複数のデータ線は、所定の本数毎にブロック化されており、ブロック単位で、同時に駆動されることとなる。本態様では特に、第1部分は、基板の一辺に沿って配列された外部回路接続端子から、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路と互いに重なるように、一辺と交わる方向に配線され、一辺の方向に延在した(言い換えれば、データ線駆動回路に沿った)第2部分まで配線される。よって、N本の画像信号線が、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路を回避するように配線される場合と比較して、N本の画像信号線間の配線長の差異を殆ど或いは実践的な意味で完全に無くすことを、第1部分を形成することによって一層有効にできる。尚、第1部分及び第2部分は、同一の導電膜から一体的に形成されてもよいし、相異なる導電膜から形成されると共に例えば層間絶縁膜に開孔されたコンタクトホールを介して電気的に接続されてもよい。   According to this aspect, at the time of driving, N-series image signals subjected to serial-parallel conversion are supplied to the N image signal lines via the external circuit connection terminals, and further include, for example, a plurality of sampling switches. Supplied to the sampling circuit. In parallel with the supply of the image signal, the data line driving circuit sequentially supplies the sampling signal for each sampling switch corresponding to the data line group. Then, the N-series image signals are sequentially supplied to the plurality of data lines for each data line group according to the sampling signal by the sampling circuit. Therefore, data lines belonging to the same data line group are driven simultaneously. In other words, the plurality of data lines are divided into blocks every predetermined number, and are driven simultaneously in units of blocks. In this aspect, in particular, the first portion is wired from the external circuit connection terminals arranged along one side of the substrate in a direction intersecting with one side so as to overlap with the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate. Then, the wiring is extended to the second portion extending in the direction of one side (in other words, along the data line driving circuit). Therefore, compared with the case where N image signal lines are wired so as to avoid the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate, the difference in wiring length between the N image signal lines is reduced. It can be made more effective by forming the first part that it is completely or practically eliminated. The first portion and the second portion may be integrally formed from the same conductive film, or may be formed from different conductive films and electrically connected via, for example, a contact hole opened in the interlayer insulating film. May be connected.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記画素領域において、前記基板上で前記複数のデータ線よりも上層側に、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層されてなる蓄積容量を備え、前記第1の導電膜は、前記複数のデータ線又は前記下層電極のいずれか一方と同一膜からなり、前記第2の導電膜は、前記上側電極と同一膜からなる。
In another aspect of the electro-optical device according to the aspect of the invention, in the pixel region, a storage capacitor in which a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode are sequentially stacked on the substrate on the upper layer side of the plurality of data lines. The first conductive film is made of the same film as any one of the plurality of data lines or the lower layer electrode, and the second conductive film is made of the same film as the upper electrode.

この態様によれば、データ線駆動回路を構成する複数の配線は、データ線及び下側電極を夫々構成する第1及び第2導電膜のうち少なくとも一方の導電膜と同一膜からなり、第1部分は、上側電極を構成する第3導電膜と同一膜からなる。即ち、データ線駆動回路を構成する第1の導電膜は、第1及び第2導電膜のうち少なくとも一方と同一膜であり、第1部分を構成する第2の導電膜は、第3導電膜と同一膜である。ここで、「同一膜」とは、製造工程における同一機会に成膜される膜を意味し、同一種類の膜である。尚、「同一膜である」とは、一枚の膜として連続していることまでも要求する趣旨ではなく、基本的に、同一膜のうち相互に分断されている膜部分であれば足りる趣旨である。よって、データ線駆動回路を構成する複数の配線は、データ線及び下側電極のうち少なくとも一方の形成と同一機会に形成することができ、更に、第1部分は、上側電極の形成と同一機会に形成することができる。即ち、製造工程の複雑化を招くことなく、データ線駆動回路を構成する複数の配線を第1及び第2導電膜のうち少なくとも一方から形成できると共に第1部分を第3導電膜から形成できる。従って、基板上で平面的に見て、データ線駆動回路と重なるように第1部分を確実に形成できる。   According to this aspect, the plurality of wirings constituting the data line driving circuit are made of the same film as at least one of the first and second conductive films constituting the data line and the lower electrode, respectively. The portion is made of the same film as the third conductive film constituting the upper electrode. That is, the first conductive film constituting the data line driving circuit is the same film as at least one of the first and second conductive films, and the second conductive film constituting the first portion is the third conductive film. Is the same film. Here, the “same film” means films formed on the same occasion in the manufacturing process and are the same type of film. Note that the phrase “same film” does not mean that the film is continuous as a single film, but basically a film part of the same film that is separated from each other is sufficient. It is. Therefore, the plurality of wirings constituting the data line driving circuit can be formed at the same opportunity as the formation of at least one of the data line and the lower electrode, and the first portion has the same opportunity as the formation of the upper electrode. Can be formed. That is, without complicating the manufacturing process, the plurality of wirings constituting the data line driving circuit can be formed from at least one of the first and second conductive films, and the first portion can be formed from the third conductive film. Therefore, the first portion can be reliably formed so as to overlap with the data line driving circuit when viewed in plan on the substrate.

尚、蓄積容量によって、例えば画素部を構成する画素電極における電位保持特性が向上し、表示の高コントラスト化が可能となる。   Note that the storage capacitor improves, for example, the potential holding characteristic of the pixel electrode constituting the pixel portion, and the display can have high contrast.

本発明の電子機器は、上述した本発明の電気光学装置を具備してなるので、高品質な画像表示を行うことが可能な、投射型表示装置、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明の電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置、電子放出装置(Field Emission Display及びConduction Electron-Emitter Display)、これら電気泳動装置、電子放出装置を用いた装置としてDLP(Digital Light Processing)等を実現することも可能である。   Since the electronic apparatus of the present invention includes the above-described electro-optical device of the present invention, a projection display device, a television, a mobile phone, an electronic notebook, a word processor, a view capable of performing high-quality image display. Various electronic devices such as a finder type or a monitor direct-view type video tape recorder, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a touch panel can be realized. In addition, as an electronic apparatus of the present invention, for example, an electrophoretic device such as electronic paper, an electron emission device (Field Emission Display and a Conduction Electron-Emitter Display), an electrophoretic device, and a device using the electron emission device, DLP (Digital Light Processing) and the like can also be realized.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。   The operation and other advantages of the present invention will become apparent from the best mode for carrying out the invention described below.

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。以下の実施形態では、本発明の電気光学装置の一例である駆動回路内蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例にとる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, a driving circuit built-in type TFT active matrix driving type liquid crystal device, which is an example of the electro-optical device of the present invention, is taken as an example.

(第1実施形態)
第1実施形態に係る液晶装置について、図1から図11を参照して説明する。
(First embodiment)
The liquid crystal device according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

先ず、図1及び図2を参照して、本実施形態に係る液晶装置の全体構成について説明する。ここに図1は、本実施形態に係る液晶装置の構成を示す平面図であり、図2は、図1のH−H´線での断面図である。   First, the overall configuration of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the liquid crystal device according to this embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line H-H 'in FIG.

図1及び図2において、本実施形態に係る液晶装置では、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されており、TFTアレイ基板10と対向基板20とは、本発明に係る「画素領域」の一例としての画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により相互に接着されている。   1 and 2, in the liquid crystal device according to the present embodiment, a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 are arranged to face each other. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20, and the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are surrounded by an image display region 10a as an example of the “pixel region” according to the present invention. They are bonded to each other by a sealing material 52 provided in a sealing region located in the area.

図1において、シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側に、サンプリング回路7が額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。また、走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿ったシール領域の内側に、額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。また、TFTアレイ基板10上には、対向基板20の4つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材107で接続するための上下導通端子106が配置されている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   In FIG. 1, a light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display region 10a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal region where the sealing material 52 is disposed. A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region in which the sealing material 52 is disposed in the peripheral region. The sampling circuit 7 is provided so as to be covered with the frame light shielding film 53 on the inner side of the seal region along the one side. Further, the scanning line driving circuit 104 is provided so as to be covered with the frame light-shielding film 53 inside the seal region along two sides adjacent to the one side. On the TFT array substrate 10, vertical conduction terminals 106 for connecting the two substrates with the vertical conduction material 107 are arranged in regions facing the four corner portions of the counter substrate 20. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

TFTアレイ基板10上には、外部回接続端子102と、データ線駆動回路101、走査線駆動回路104、上下導通端子106等とを電気的に接続するための引回配線90が形成されている。   On the TFT array substrate 10, a lead wiring 90 is formed for electrically connecting the external circuit connection terminal 102 to the data line driving circuit 101, the scanning line driving circuit 104, the vertical conduction terminal 106, and the like. .

本実施形態では特に、引回配線90には、後述する第1部分及び第2部分を有する画像信号線が含まれている。即ち、引回配線90は、図1において、データ線駆動回路101を縦に横切る画像信号線を含むが、これについては後に詳述する。   Particularly in the present embodiment, the routing wiring 90 includes an image signal line having a first portion and a second portion described later. That is, the lead wiring 90 includes an image signal line that vertically traverses the data line driving circuit 101 in FIG. 1, which will be described in detail later.

図2において、TFTアレイ基板10上には、駆動素子である画素スイッチング用のTFT(Thin Film Transistor)や走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。画像表示領域10aには、画素スイッチング用TFTや走査線、データ線等の配線の上層に画素電極9aが設けられている。他方、対向基板20におけるTFTアレイ基板10との対向面上に、遮光膜23が形成されている。そして、遮光膜23上に、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明材料からなる対向電極21が複数の画素電極9aと対向して形成される。また、液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, a laminated structure in which wiring such as a pixel switching TFT (Thin Film Transistor) as a driving element, a scanning line, and a data line is formed. In the image display area 10a, a pixel electrode 9a is provided in an upper layer of wiring such as a pixel switching TFT, a scanning line, and a data line. On the other hand, a light shielding film 23 is formed on the surface of the counter substrate 20 facing the TFT array substrate 10. A counter electrode 21 made of a transparent material such as ITO (Indium Tin Oxide) is formed on the light shielding film 23 so as to face the plurality of pixel electrodes 9a. Further, the liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between the pair of alignment films.

尚、ここでは図示しないが、TFTアレイ基板10上には、データ線駆動回路101、走査線駆動回路104の他に、製造途中や出荷時の当該液晶装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路、検査用パターン等が形成されていてもよい。   Although not shown here, in addition to the data line driving circuit 101 and the scanning line driving circuit 104, the TFT array substrate 10 is used for inspecting the quality, defects, and the like of the liquid crystal device during manufacturing or at the time of shipment. An inspection circuit, an inspection pattern, or the like may be formed.

次に、液晶装置の全体構成について、図3を参照して説明する。ここに図3は、液晶装置の全体構成を示すブロック図である。   Next, the overall configuration of the liquid crystal device will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a block diagram showing the overall configuration of the liquid crystal device.

図3に示すように、液晶装置は、液晶パネル100を備えると共に、外部回路として設けられた画像信号供給回路720、タイミング制御回路730、及び電源回路710を備える。   As shown in FIG. 3, the liquid crystal device includes a liquid crystal panel 100 and an image signal supply circuit 720, a timing control circuit 730, and a power supply circuit 710 provided as external circuits.

タイミング制御回路730は、各部で使用される各種タイミング信号を出力するように構成されている。タイミング制御回路730の一部であるタイミング信号出力手段により、最小単位のクロックであり各画素を走査するためのドットクロックが作成され、このドットクロックに基づいて、Yクロック信号CLY、反転Yクロック信号CLYinv、Xクロック信号CLX、反転Xクロック信号XCLinv、YスタートパルスDY及びXスタートパルスDXが生成される。   The timing control circuit 730 is configured to output various timing signals used in each unit. A timing signal output means that is a part of the timing control circuit 730 generates a dot clock that is a minimum unit clock and scans each pixel. Based on the dot clock, a Y clock signal CLY and an inverted Y clock signal are generated. CLYinv, X clock signal CLX, inverted X clock signal XCLinv, Y start pulse DY and X start pulse DX are generated.

画像信号供給回路720には、外部から1系統の入力画像データVIDが入力される。画像信号供給回路720は、1系統の入力画像データVIDをシリアル−パラレル変換して、N相(但し、Nは2以上の自然数)、本実施形態では6相(N=6)の画像信号VID1〜VID6を生成する。更に、画像信号供給回路720において、画像信号VID1〜VID6の各々の電圧が、所定の基準電位に対して正極性及び負極性に反転され、このように極性反転された画像信号VID1〜VID6が出力されるようにしてもよい。   One line of input image data VID is input to the image signal supply circuit 720 from the outside. The image signal supply circuit 720 performs serial-parallel conversion on one system of input image data VID, and N-phase (where N is a natural number of 2 or more), in this embodiment, 6-phase (N = 6) image signal VID1. ~ VID6 is generated. Further, in the image signal supply circuit 720, the voltages of the image signals VID1 to VID6 are inverted to a positive polarity and a negative polarity with respect to a predetermined reference potential, and the image signals VID1 to VID6 thus inverted in polarity are output. You may be made to do.

また、電源回路710は、所定の共通電位LCCの共通電源を、図2に示す対向電極21に供給する。本実施形態において、対向電極21は、図2に示す対向基板20の下側に、複数の画素電極9aと対向するように形成されている。   Further, the power supply circuit 710 supplies a common power supply having a predetermined common potential LCC to the counter electrode 21 shown in FIG. In the present embodiment, the counter electrode 21 is formed on the lower side of the counter substrate 20 shown in FIG. 2 so as to face the plurality of pixel electrodes 9a.

次に、液晶パネルにおける電気的な構成について、図4を参照して説明する。ここに図4は、液晶パネルの電気的な構成を示すブロック図である。   Next, the electrical configuration of the liquid crystal panel will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a block diagram showing the electrical configuration of the liquid crystal panel.

図4に示すように、液晶パネル100には、そのTFTアレイ基板10の周辺領域に、走査線駆動回路104、データ線駆動回路101及びサンプリング回路7を含む内部駆動回路が設けられている。   As shown in FIG. 4, the liquid crystal panel 100 is provided with an internal drive circuit including a scanning line drive circuit 104, a data line drive circuit 101, and a sampling circuit 7 in the peripheral region of the TFT array substrate 10.

走査線駆動回路104には、Yクロック信号CLY、反転Yクロック信号CLYinv、及びYスタートパルスDYが供給される。走査線駆動回路104は、YスタートパルスDYが入力されると、Yクロック信号CLY及び反転Yクロック信号CLYinvに基づくタイミングで、走査信号G1、・・・、Gmを順次生成して出力する。   The scanning line driving circuit 104 is supplied with a Y clock signal CLY, an inverted Y clock signal CLYinv, and a Y start pulse DY. When the Y start pulse DY is input, the scanning line driving circuit 104 sequentially generates and outputs the scanning signals G1,..., Gm at a timing based on the Y clock signal CLY and the inverted Y clock signal CLYinv.

データ線駆動回路101には、Xクロック信号CLX、反転Xクロック信号CLXinv、及びXスタートパルスDXが供給される。データ線駆動回路101は、XスタートパルスDXが入力されると、Xクロック信号CLX及び反転Xクロック信号XCLXinvに基づくタイミングで、サンプリング信号S1、・・・、Snを順次生成して出力する。   The data line driving circuit 101 is supplied with an X clock signal CLX, an inverted X clock signal CLXinv, and an X start pulse DX. When the X start pulse DX is input, the data line driving circuit 101 sequentially generates and outputs sampling signals S1,..., Sn at a timing based on the X clock signal CLX and the inverted X clock signal XCLXinv.

サンプリング回路7は、Pチャネル型又はNチャネル型の片チャネル型TFT、若しくは相補型のTFTから構成されたサンプリングスイッチ7sを複数備える。   The sampling circuit 7 includes a plurality of sampling switches 7 s formed of P-channel or N-channel single-channel TFTs or complementary TFTs.

液晶パネル100は更に、そのTFTアレイ基板の中央を占める画像表示領域10aに、縦横に配線されたデータ線6a及び走査線11aを備え、それらの交点に対応する各画素部700に、マトリクス状に配列された液晶素子118の画素電極9a、及び画素電極9aをスイッチング制御するためのTFT30を備える。尚、本実施形態では特に、走査線11aの総本数をm本(但し、mは2以上の自然数)とし、データ線6aの総本数をn本(但し、nは2以上の自然数)として説明する。   The liquid crystal panel 100 further includes data lines 6a and scanning lines 11a wired vertically and horizontally in the image display area 10a occupying the center of the TFT array substrate, and each pixel unit 700 corresponding to the intersection is arranged in a matrix. The pixel electrode 9a of the arranged liquid crystal element 118 and the TFT 30 for controlling the switching of the pixel electrode 9a are provided. In the present embodiment, the total number of scanning lines 11a is assumed to be m (where m is a natural number of 2 or more), and the total number of data lines 6a is assumed to be n (where n is a natural number of 2 or more). To do.

6相にシリアル−パラレル展開された画像信号VID1〜VID6は、N本、本実施形態では6本の画像信号線170を介して液晶パネル100に供給される。そして、n本のデータ線6aは、以下に説明するように、画像信号線170の本数に対応する6本のデータ線6aを1群とするデータ線群毎に、順次駆動される。   The image signals VID1 to VID6 that are serial-parallel-developed in six phases are supplied to the liquid crystal panel 100 via N image signals 170 in this embodiment. The n data lines 6a are sequentially driven for each data line group including six data lines 6a corresponding to the number of image signal lines 170 as a group, as will be described below.

データ線駆動回路101から、データ線群に対応するサンプリングスイッチ7s毎にサンプリング信号Si(i=1、2、・・・、n)が順次供給され、サンプリング信号Siに応じて各サンプリングスイッチ7sはオン状態となる。後述するように、各サンプリングスイッチ7sは、分岐配線を介して画像信号線170に接続されている。尚、この分岐配線の詳細な構成は後述する。   A sampling signal Si (i = 1, 2,..., N) is sequentially supplied from the data line driving circuit 101 to each sampling switch 7s corresponding to the data line group, and each sampling switch 7s corresponds to the sampling signal Si. Turns on. As will be described later, each sampling switch 7s is connected to the image signal line 170 via a branch wiring. The detailed configuration of this branch wiring will be described later.

よって、6本の画像信号線170から画像信号VID1〜VID6が、オン状態となったサンプリングスイッチ7sを介して、データ線群に属するデータ線6aに同時に、且つデータ線群毎に順次供給される。よって、データ線群に属するデータ線6aは互いに同時に駆動されることとなる。従って、本実施形態では、n本のデータ線6aをデータ線群毎に駆動するため、駆動周波数が抑えられる。   Therefore, the image signals VID1 to VID6 are supplied from the six image signal lines 170 simultaneously to the data lines 6a belonging to the data line group and sequentially for each data line group through the sampling switch 7s that is turned on. . Therefore, the data lines 6a belonging to the data line group are driven simultaneously. Therefore, in this embodiment, since the n data lines 6a are driven for each data line group, the driving frequency can be suppressed.

図4中、一つの画素部700の構成に着目すれば、TFT30のソース電極には、画像信号VIDk(但し、k=1、2、3、・・・、6)が供給されるデータ線6aが電気的に接続されている一方、TFT30のゲート電極には、走査信号Yj(但し、j=1、2、3、・・・、m)が供給される走査線11aが電気的に接続されるとともに、TFT30のドレイン電極には、液晶素子118の画素電極9aが接続されている。ここで、各画素部700において、液晶素子118は、画素電極9aと対向電極21との間に液晶を挟持してなる。従って、各画素部700は、走査線11aとデータ線6aとの各交点に対応して、マトリクス状に配列されることになる。   In FIG. 4, when attention is paid to the configuration of one pixel portion 700, the data line 6a to which the image signal VIDk (where k = 1, 2, 3,..., 6) is supplied to the source electrode of the TFT 30. Is electrically connected to the gate electrode of the TFT 30, and a scanning line 11a to which a scanning signal Yj (j = 1, 2, 3,..., M) is supplied is electrically connected. In addition, the pixel electrode 9 a of the liquid crystal element 118 is connected to the drain electrode of the TFT 30. Here, in each pixel portion 700, the liquid crystal element 118 has a liquid crystal sandwiched between the pixel electrode 9 a and the counter electrode 21. Accordingly, each pixel unit 700 is arranged in a matrix corresponding to each intersection of the scanning line 11a and the data line 6a.

走査線駆動回路104から出力される走査信号G1、・・・、Gmによって、各走査線11aは線順次に選択される。選択された走査線11aに対応する画素部700において、TFT30に走査信号Yjが供給されると、TFT30はオン状態となり、当該画素部700は選択状態となる。液晶素子118の画素電極9aには、TFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aより画像信号VIDkが所定のタイミングで供給される。これにより、液晶素子118には、画素電極9a及び対向電極21の各々の電位によって規定される印加電圧が印加される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶パネル100からは画像信号VID1〜VID6に応じたコントラストをもつ光が出射する。   Each scanning line 11a is selected line-sequentially by scanning signals G1,..., Gm output from the scanning line driving circuit 104. In the pixel portion 700 corresponding to the selected scanning line 11a, when the scanning signal Yj is supplied to the TFT 30, the TFT 30 is turned on and the pixel portion 700 is in the selected state. An image signal VIDk is supplied to the pixel electrode 9a of the liquid crystal element 118 at a predetermined timing from the data line 6a by closing the switch of the TFT 30 for a certain period. As a result, an applied voltage defined by the potentials of the pixel electrode 9 a and the counter electrode 21 is applied to the liquid crystal element 118. The liquid crystal modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. In the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel, and in the normally black mode, the light is incident according to the voltage applied in units of each pixel. The light transmittance is increased, and light having a contrast corresponding to the image signals VID1 to VID6 is emitted from the liquid crystal panel 100 as a whole.

ここで、保持された画像信号がリークするのを防ぐために、蓄積容量70が、液晶素子118と並列に付加されている。蓄積容量70の一方の電極は、画素電極9aと並列してTFT30のドレインに接続され、他方の電極は、定電位となるように、電位固定の容量配線400に接続されている。   Here, in order to prevent the held image signal from leaking, a storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal element 118. One electrode of the storage capacitor 70 is connected to the drain of the TFT 30 in parallel with the pixel electrode 9a, and the other electrode is connected to the capacitor wiring 400 with a fixed potential so as to have a constant potential.

次に、データ線の駆動に係る主要な構成について、図5を参照して説明する。ここに図5は、データ線の駆動に係る回路構成を示す回路図である。   Next, a main configuration relating to driving of the data line will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a circuit diagram showing a circuit configuration relating to driving of the data lines.

以下では、データ線6aの駆動に係る主要な構成について、n本のデータ線6aが、その配列方向に沿って片方向に或いは双方向のうちの一方の方向にデータ線群毎に順次駆動される際、データ線駆動回路101から第(i−1)番目、第i番目、及び第(i+1)番目に出力される3つのサンプリング信号Si−1、Si、Si+1に基づいて駆動される3つのデータ線群のうち、特に第i番目のサンプリング信号Siに基づいて駆動される第iデータ線群の構成に着目して説明する。尚、以下に説明する第iデータ線群に係る構成は、第(i−1)データ線群及び第(i+1)データ線群についても同様である。   In the following, regarding the main configuration related to driving of the data lines 6a, the n data lines 6a are sequentially driven for each data line group in one direction or one of the two directions along the arrangement direction. In this case, the three driving signals are driven based on the three sampling signals Si-1, Si, Si + 1 output from the data line driving circuit 101 to the (i-1) th, ith, and (i + 1) th. Of the data line groups, the description will be given with particular attention to the configuration of the i-th data line group driven based on the i-th sampling signal Si. The configuration relating to the i-th data line group described below is the same for the (i−1) -th data line group and the (i + 1) -th data line group.

図5において、第iデータ線群に属するデータ線6ae(即ち、データ線6ae−1〜6ae−6)の配列に対応して、分岐配線175のうち6本の分岐配線E1〜E6が配列されている。また、6本の画像信号線170−1〜170−6は、データ線6aeの配列方向に交差する方向に沿って配列されている。そして、6本の分岐配線E1〜E6の一端は、6本の画像信号線170−1〜170−6のうち対応する一本に、夫々電気的に接続されると共に、これら6本の分岐配線E1〜E6の他端は夫々サンプリングスイッチ7sを介してデータ線6aeに電気的に接続される。各サンプリングスイッチを構成するTFT7sは、ソースが分岐配線Ekに接続されると共に、ドレインがデータ線6aeに電気的に接続される。また、各TFT7sのゲートは、制御配線X1〜X6を介してデータ線駆動回路101に電気的に接続されている。尚、制御配線X1〜X6には第i番目のサンプリング信号Siがデータ線駆動回路101から供給される。   In FIG. 5, six branch lines E1 to E6 of the branch lines 175 are arranged corresponding to the arrangement of the data lines 6ae (that is, the data lines 6ae-1 to 6ae-6) belonging to the i-th data line group. ing. The six image signal lines 170-1 to 170-6 are arranged along a direction intersecting the arrangement direction of the data lines 6ae. One end of each of the six branch wirings E1 to E6 is electrically connected to a corresponding one of the six image signal lines 170-1 to 170-6, and the six branch wirings. The other ends of E1 to E6 are electrically connected to the data line 6ae via the sampling switch 7s. The TFT 7s constituting each sampling switch has a source connected to the branch wiring Ek and a drain electrically connected to the data line 6ae. The gate of each TFT 7s is electrically connected to the data line driving circuit 101 via the control wirings X1 to X6. The i-th sampling signal Si is supplied from the data line driving circuit 101 to the control wirings X1 to X6.

TFTアレイ基板10上において、6本の画像信号線170−1〜170−6は、後に詳述するが、例えば、データ線6ae、或いは蓄積容量70を構成する電極と同一膜から形成される。また、制御配線X1〜X6は、画像信号線170−1〜170−6と交差する方向であってデータ線6aeの延びる方向に配線され、例えばポリシリコン膜によって形成されている。また、各分岐配線E1〜E6は、対応する画像信号線170−kに電気的に接続される一端側よりデータ線6aeの延びる方向に、配線されている。そして、各分岐配線E1〜E6の一部はサンプリングスイッチ7sのソース電極を形成し、第iデータ線群に属するデータ線6aeの各々の一部はサンプリングスイッチ7sのドレイン電極を形成し、各制御配線X1〜X6の一部はサンプリングスイッチ7sのゲート電極を形成している。   On the TFT array substrate 10, the six image signal lines 170-1 to 170-6 are formed of the same film as the data line 6 ae or the electrodes constituting the storage capacitor 70, for example, as will be described in detail later. The control wirings X1 to X6 are wired in the direction intersecting with the image signal lines 170-1 to 170-6 and extending in the data line 6ae, and are formed of, for example, a polysilicon film. Each branch wiring E1 to E6 is wired in a direction in which the data line 6ae extends from one end side electrically connected to the corresponding image signal line 170-k. A part of each of the branch lines E1 to E6 forms a source electrode of the sampling switch 7s, and a part of each of the data lines 6ae belonging to the i-th data line group forms a drain electrode of the sampling switch 7s. A part of the wires X1 to X6 forms a gate electrode of the sampling switch 7s.

次に、本実施形態に係る液晶装置の画素部の具体的な構成について、図6から図8を参照して説明する。ここに図6及び図7は、TFTアレイ基板上の画素部に係る部分構成を表す平面図であり、夫々、後述する積層構造のうち下層部分(図6)と上層部分(図7)に相当する。図8は、図6及び図7を重ね合わせた場合のA−A´断面図である。尚、図8においては、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。   Next, a specific configuration of the pixel portion of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 6 and 7 are plan views showing a partial configuration related to the pixel portion on the TFT array substrate, which respectively correspond to a lower layer portion (FIG. 6) and an upper layer portion (FIG. 7) in a laminated structure to be described later. To do. FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line AA ′ when FIGS. 6 and 7 are overlapped. In FIG. 8, the scale of each layer / member is different for each layer / member so that each layer / member can be recognized on the drawing.

図6から図8では、図4を参照して上述した画素部700の各回路要素が、パターン化され、積層された導電膜としてTFTアレイ基板10上に構築されている。TFTアレイ基板10は、例えば、ガラス基板、石英基板、SOI基板、半導体基板等からなり、例えばガラス基板や石英基板からなる対向基板20と対向配置されている。また、各回路要素は、下から順に、走査線11aを含む第1層、TFT30等を含む第2層、データ線6a等を含む第3層、蓄積容量70等を含む第4層、画素電極9a等を含む第5層からなる。また、第1層−第2層間には下地絶縁膜12、第2層−第3層間には第1層間絶縁膜41、第3層−第4層間には第2層間絶縁膜42、第4層−第5層間には第3層間絶縁膜43がそれぞれ設けられ、前述の各要素間が短絡することを防止している。尚、このうち、第1層から第3層が下層部分として図6に示され、第4層から第5層が上層部分として図7に示されている。   6 to 8, each circuit element of the pixel unit 700 described above with reference to FIG. 4 is structured on the TFT array substrate 10 as a patterned conductive film. The TFT array substrate 10 includes, for example, a glass substrate, a quartz substrate, an SOI substrate, a semiconductor substrate, and the like, and is disposed to face the counter substrate 20 made of, for example, a glass substrate or a quartz substrate. Each circuit element includes, in order from the bottom, the first layer including the scanning line 11a, the second layer including the TFT 30 and the like, the third layer including the data line 6a and the like, the fourth layer including the storage capacitor 70 and the like, and the pixel electrode It consists of the 5th layer containing 9a etc. Further, the base insulating film 12 is provided between the first layer and the second layer, the first interlayer insulating film 41 is provided between the second layer and the third layer, the second interlayer insulating film 42 is provided between the third layer and the fourth layer, and the fourth layer. A third interlayer insulating film 43 is provided between the layer and the fifth layer, respectively, to prevent a short circuit between the aforementioned elements. Of these, the first to third layers are shown in FIG. 6 as lower layer portions, and the fourth to fifth layers are shown in FIG. 7 as upper layer portions.

(第1層の構成―走査線等―)
第1層は、走査線11aで構成されている。走査線11aは、図6のX方向に沿って延びる本線部と、データ線6aが延在する図6のY方向に延びる突出部とからなる形状にパターニングされている。このような走査線11aは、例えば導電性ポリシリコンからなり、その他にもチタン(Ti)、クロム(Cr)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、モリブデン(Mo)等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド又はこれらの積層体等により形成することができる。
(Structure of the first layer-scanning lines, etc.)
The first layer is composed of scanning lines 11a. The scanning line 11a is patterned into a shape including a main line portion extending along the X direction in FIG. 6 and a protruding portion extending in the Y direction in FIG. 6 where the data line 6a extends. Such a scanning line 11a is made of, for example, conductive polysilicon, and among other high melting point metals such as titanium (Ti), chromium (Cr), tungsten (W), tantalum (Ta), and molybdenum (Mo). It can be formed of a metal simple substance, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, or a laminate thereof including at least one of the above.

走査線11aは、TFT30の下層側に、チャネル領域1a´に対向する領域を含むように配置されており、導電膜からなる。   The scanning line 11a is arranged on the lower layer side of the TFT 30 so as to include a region facing the channel region 1a ′, and is made of a conductive film.

(第2層の構成―TFT等―)
第2層は、TFT30で構成されている。TFT30は、例えばLDD(Lightly Doped Drain)構造とされ、ゲート電極3a、半導体層1a、ゲート電極3aと半導体層1aを絶縁するゲート絶縁膜を含んだ絶縁膜2を備えている。ゲート電極3aは、例えば導電性ポリシリコンで形成される。半導体層1aは、例えばポリシリコンからなり、チャネル領域1a´、低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1c、並びに高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイン領域1eからなる。尚、TFT30は、LDD構造を有することが好ましいが、低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1cに不純物打ち込みを行わないオフセット構造であってもよいし、ゲート電極3aをマスクとして不純物を高濃度に打ち込んで高濃度ソース領域及び高濃度ドレイン領域を形成する自己整合型であってもよい。
(Second layer configuration-TFT, etc.)
The second layer is composed of the TFT 30. The TFT 30 has an LDD (Lightly Doped Drain) structure, for example, and includes a gate electrode 3a, a semiconductor layer 1a, and an insulating film 2 including a gate insulating film that insulates the gate electrode 3a from the semiconductor layer 1a. The gate electrode 3a is made of, for example, conductive polysilicon. The semiconductor layer 1a is made of, for example, polysilicon, and includes a channel region 1a ′, a low concentration source region 1b and a low concentration drain region 1c, and a high concentration source region 1d and a high concentration drain region 1e. The TFT 30 preferably has an LDD structure. However, the TFT 30 may have an offset structure in which no impurity is implanted into the low concentration source region 1b and the low concentration drain region 1c. It may be a self-aligned type in which a high concentration source region and a high concentration drain region are formed by implanting the film.

TFT30のゲート電極3aは、その一部分3bにおいて、下地絶縁膜12に形成されたコンタクトホール12cvを介して走査線11aに電気的に接続されている。下地絶縁膜12は、例えばシリコン酸化膜等からなり、第1層と第2層の層間絶縁機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されることで、基板表面の研磨による荒れや汚れ等が惹き起こすTFT30の素子特性の変化を防止する機能を有している。   The gate electrode 3a of the TFT 30 is electrically connected to the scanning line 11a through a contact hole 12cv formed in the base insulating film 12 in a part 3b thereof. The base insulating film 12 is made of, for example, a silicon oxide film, and is formed on the entire surface of the TFT array substrate 10 in addition to the interlayer insulating function between the first layer and the second layer. Has a function of preventing changes in the element characteristics of the TFT 30 caused by the above.

尚、本実施形態に係るTFT30は、トップゲート型であるが、ボトムゲート型であってもよい。   The TFT 30 according to the present embodiment is a top gate type, but may be a bottom gate type.

(第3層の構成―データ線等―)
第3層は、データ線6a及び中継層600で構成されている。
(3rd layer configuration-data lines, etc.)
The third layer is composed of a data line 6a and a relay layer 600.

データ線6aは、下から順にアルミニウム、窒化チタン、窒化シリコンの3層膜として形成されている。データ線6aは、TFT30のチャネル領域1a´を部分的に覆うように形成されている。このため、チャネル領域1a´に近接配置可能なデータ線6aによって、上層側からの入射光に対して、TFT30のチャネル領域1a´を遮光できる。また、データ線6aは、第1層間絶縁膜41を貫通するコンタクトホール81を介して、TFT30の高濃度ソース領域1dと電気的に接続されている。   The data line 6a is formed as a three-layer film of aluminum, titanium nitride, and silicon nitride in order from the bottom. The data line 6 a is formed so as to partially cover the channel region 1 a ′ of the TFT 30. For this reason, the channel region 1a ′ of the TFT 30 can be shielded against incident light from the upper layer side by the data line 6a that can be disposed close to the channel region 1a ′. The data line 6 a is electrically connected to the high concentration source region 1 d of the TFT 30 through a contact hole 81 that penetrates the first interlayer insulating film 41.

尚、データ線6aにおけるチャネル領域1aに対向する側には、データ線6aの本体を構成するAl膜等の導電膜に比べて反射率が低い導電膜を形成してもよい。このようにすれば、データ線6aにおけるチャネル領域1aに対向する側の面、即ちデータ線6aの下層側の面で前述した戻り光が反射して、これから多重反射光や迷光等が発生することを防止できる。よって、チャネル領域1aに対する光の影響を低減することができる。このようなデータ線6aは、データ線6aにおけるチャネル領域1aに対向する側の面、即ち、データ線6aの下層側の面に、データ線6aの本体を構成するAl膜等よりも反射率が低い材質のメタル、或いは、バリアメタルを形成するとよい。尚、Al膜等よりも反射率の低い材質のメタル、或いは、バリアメタルとしては、クロム(Cr)、チタン(Ti)、窒化チタン(TiN)、タングステン(W)等を用いることができる。   Note that a conductive film having a lower reflectance than a conductive film such as an Al film constituting the main body of the data line 6a may be formed on the side of the data line 6a facing the channel region 1a. By doing so, the return light described above is reflected on the surface of the data line 6a facing the channel region 1a, that is, the lower layer side of the data line 6a, and multiple reflected light, stray light, etc. are generated from this. Can be prevented. Therefore, the influence of light on the channel region 1a can be reduced. Such a data line 6a has a reflectance on the surface of the data line 6a opposite to the channel region 1a, that is, on the lower layer side of the data line 6a, than the Al film or the like constituting the main body of the data line 6a. A low material metal or a barrier metal may be formed. Note that chromium (Cr), titanium (Ti), titanium nitride (TiN), tungsten (W), or the like can be used as a metal having a lower reflectance than that of an Al film or the like, or as a barrier metal.

中継層600は、データ線6aと同一膜として形成されている。中継層600とデータ線6aとは、図6に示したように、夫々が分断されるように形成されている。また、中継層600は、第1層間絶縁膜41を貫通するコンタクトホール83を介して、TFT30の高濃度ドレイン領域1eと電気的に接続されている。   The relay layer 600 is formed as the same film as the data line 6a. As shown in FIG. 6, the relay layer 600 and the data line 6a are formed so as to be separated from each other. The relay layer 600 is electrically connected to the high-concentration drain region 1 e of the TFT 30 through a contact hole 83 that penetrates the first interlayer insulating film 41.

第1層間絶縁膜41は、例えばNSG(ノンシリケートガラス)によって形成されている。その他、第1層間絶縁膜41には、PSG(リンシリケートガラス)、BSG(ボロンシリケートガラス)、BPSG(ボロンリンシリケートガラス)等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。   The first interlayer insulating film 41 is made of, for example, NSG (non-silicate glass). In addition, for the first interlayer insulating film 41, silicate glass such as PSG (phosphorus silicate glass), BSG (boron silicate glass), BPSG (boron phosphorus silicate glass), silicon nitride, silicon oxide, or the like can be used.

(第4層の構成―蓄積容量等―)
第4層は、蓄積容量70で構成されている。蓄積容量70は、本発明に係る「上側電極」の一例としての容量電極300と本発明に係る「下側電極」の一例としての下部電極71とが誘電体膜75を介して対向配置された構成となっている。
(Fourth layer configuration-storage capacity, etc.)
The fourth layer includes a storage capacitor 70. In the storage capacitor 70, a capacitor electrode 300 as an example of the “upper electrode” according to the present invention and a lower electrode 71 as an example of the “lower electrode” according to the present invention are arranged to face each other via the dielectric film 75. It has a configuration.

容量電極300の延在部は、第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール84を介して、中継層600と電気的に接続されている。   The extending portion of the capacitor electrode 300 is electrically connected to the relay layer 600 through a contact hole 84 that penetrates the second interlayer insulating film 42.

容量電極300又は下部電極71は、例えば、Ti、Cr、W、Ta、Mo等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの、或いは好ましくはタングステンシリサイドからなる。   Capacitance electrode 300 or lower electrode 71 is, for example, a metal simple substance containing at least one of refractory metals such as Ti, Cr, W, Ta, and Mo, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, and a laminate thereof. Or preferably, it consists of tungsten silicide.

誘電体膜75は、図7に示すように、TFTアレイ基板10上で平面的に見て画素毎の開口領域の間隙に位置する非開口領域に形成されている、即ち、開口領域に殆ど形成されていない。誘電体膜75は、透過率を考慮せず、誘電率が高いシリコン窒化膜等から形成されている。尚、誘電体膜としては、シリコン窒化膜の他、例えば、酸化ハフニュウム(HfO2)、アルミナ(Al2O3)、酸化タンタル(Ta2O5)等の単層膜又は多層膜を用いてもよい。   As shown in FIG. 7, the dielectric film 75 is formed in the non-opening region located in the gap of the opening region for each pixel when viewed in plan on the TFT array substrate 10, that is, almost formed in the opening region. It has not been. The dielectric film 75 is formed of a silicon nitride film or the like having a high dielectric constant without considering the transmittance. In addition to the silicon nitride film, for example, a single layer film or a multilayer film such as hafnium oxide (HfO 2), alumina (Al 2 O 3), tantalum oxide (Ta 2 O 5) or the like may be used as the dielectric film.

第2層間絶縁膜42は、例えばNSGによって形成されている。その他、第2層間絶縁膜42には、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。第2層間絶縁膜42の表面は、化学的研磨処理(Chemical Mechanical Polishing:CMP)や研磨処理、スピンコート処理、凹への埋め込み処理等の平坦化処理がなされている。よって、下層側のこれらの要素に起因した凹凸が除去され、第2層間絶縁層42の表面は平坦化されている。尚、このような平坦化処理は、他の層間絶縁膜の表面に対して行ってもよい。   The second interlayer insulating film 42 is made of, for example, NSG. In addition, for the second interlayer insulating film 42, silicate glass such as PSG, BSG, or BPSG, silicon nitride, silicon oxide, or the like can be used. The surface of the second interlayer insulating film 42 is subjected to a planarization process such as a chemical polishing process (CMP), a polishing process, a spin coat process, or a recess embedding process. Therefore, the unevenness caused by these elements on the lower layer side is removed, and the surface of the second interlayer insulating layer 42 is flattened. Such planarization may be performed on the surface of another interlayer insulating film.

(第5層の構成―画素電極等―)
第4層の全面には第3層間絶縁膜43が形成され、更にその上に、第5層として画素電極9aが形成されている。第3層間絶縁膜43は、例えばNSGによって形成されている。その他、第3層間絶縁膜43には、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス、窒化シリコンや酸化シリコン等を用いることができる。第3層間絶縁膜43の表面は、第2層間絶縁膜42と同様にCMP等の平坦化処理がなされている。
(Fifth layer configuration-pixel electrode, etc.)
A third interlayer insulating film 43 is formed on the entire surface of the fourth layer, and a pixel electrode 9a is formed thereon as a fifth layer. The third interlayer insulating film 43 is made of, for example, NSG. In addition, the third interlayer insulating film 43 can be made of silicate glass such as PSG, BSG, or BPSG, silicon nitride, silicon oxide, or the like. The surface of the third interlayer insulating film 43 is subjected to a planarization process such as CMP similarly to the second interlayer insulating film 42.

画素電極9a(図7中、破線9a´で輪郭が示されている)は、縦横に区画配列された画素領域の各々に配置され、その境界にデータ線6a及び走査線11aが格子状に配列するように形成されている(図6及び図7参照)。また、画素電極9aは、例えばITO等の透明導電膜からなる。   The pixel electrode 9a (indicated by the broken line 9a 'in FIG. 7) is arranged in each of the pixel areas partitioned vertically and horizontally, and the data lines 6a and the scanning lines 11a are arranged in a grid at the boundaries. (See FIGS. 6 and 7). The pixel electrode 9a is made of a transparent conductive film such as ITO.

画素電極9aは、層間絶縁膜43を貫通するコンタクトホール85を介して、容量電極300の延在部と電気的に接続されている(図8参照)。よって、画素電極9aの直ぐ下の導電膜である容量電極300の電位は、画素電位となっている。従って、液晶装置の動作時に、画素電極9aとその下層の導電膜との間の寄生容量により、画素電位が悪影響を受けることはない。   The pixel electrode 9a is electrically connected to the extending portion of the capacitor electrode 300 through a contact hole 85 that penetrates the interlayer insulating film 43 (see FIG. 8). Therefore, the potential of the capacitor electrode 300, which is the conductive film immediately below the pixel electrode 9a, is the pixel potential. Therefore, the pixel potential is not adversely affected by the parasitic capacitance between the pixel electrode 9a and the underlying conductive film during the operation of the liquid crystal device.

更に上述したように、容量電極300の延在部と中継層600と、及び、中継層600とTFT30の高濃度ドレイン領域1eとは、夫々コンタクトホール84及び83を介して、電気的に接続されている。即ち、画素電極9aとTFT30の高濃度ドレイン領域1eとは、中継層600及び容量電極300の延在部を中継して中継接続されている。   Further, as described above, the extended portion of the capacitor electrode 300 and the relay layer 600 and the relay layer 600 and the high-concentration drain region 1e of the TFT 30 are electrically connected through the contact holes 84 and 83, respectively. ing. That is, the pixel electrode 9a and the high-concentration drain region 1e of the TFT 30 are relay-connected through the relay layer 600 and the extended portion of the capacitor electrode 300.

画素電極9aの上側には、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16が設けられている。   An alignment film 16 that has been subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process is provided above the pixel electrode 9a.

以上が、TFTアレイ基板10側の画素部の構成である。   The above is the configuration of the pixel portion on the TFT array substrate 10 side.

他方、対向基板20には、その対向面の全面に対向電極21が設けられており、更にその上(図8では対向電極21の下側)に配向膜22が設けられている。対向電極21は、画素電極9aと同様、例えばITO膜等の透明導電性膜からなる。尚、対向基板20と対向電極21の間には、TFT30における光リーク電流の発生等を防止するため、少なくともTFT30と正対する領域を覆うように遮光膜23が設けられている。   On the other hand, the counter substrate 20 is provided with a counter electrode 21 on the entire surface of the counter substrate 20, and an alignment film 22 is further provided thereon (under the counter electrode 21 in FIG. 8). As with the pixel electrode 9a, the counter electrode 21 is made of a transparent conductive film such as an ITO film. A light-shielding film 23 is provided between the counter substrate 20 and the counter electrode 21 so as to cover at least a region facing the TFT 30 in order to prevent generation of light leakage current in the TFT 30.

このように構成されたTFTアレイ基板10と対向基板20の間には、液晶層50が設けられている。液晶層50は、基板10及び20の周縁部をシール材により封止して形成した空間に液晶を封入して形成される。液晶層50は、画素電極9aと対向電極21との間に電界が印加されていない状態において、ラビング処理等の配向処理が施された配向膜16及び配向膜22によって、所定の配向状態をとるようになっている。   A liquid crystal layer 50 is provided between the TFT array substrate 10 thus configured and the counter substrate 20. The liquid crystal layer 50 is formed by sealing liquid crystal in a space formed by sealing the peripheral portions of the substrates 10 and 20 with a sealing material. The liquid crystal layer 50 takes a predetermined alignment state by the alignment film 16 and the alignment film 22 that have been subjected to an alignment process such as a rubbing process in a state where an electric field is not applied between the pixel electrode 9 a and the counter electrode 21. It is like that.

以上に説明した画素部の構成は、図6及び図7に示すように、各画素部に共通である。前述の画像表示領域10a(図1参照)には、かかる画素部が周期的に形成されていることになる。   The configuration of the pixel portion described above is common to each pixel portion as shown in FIGS. Such pixel portions are periodically formed in the image display region 10a (see FIG. 1).

次に、本実施形態に係る液晶装置のデータ線駆動回路の具体的な構成について、図9を参照して説明する。ここに図9は、データ線駆動回路用TFT、及び画像信号線の第1部分配線を含む断面図である。尚、図9においては、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。ここでは、データ線駆動回路を構成する駆動素子であるデータ線駆動回路用TFTの具体的構成を中心に説明する。   Next, a specific configuration of the data line driving circuit of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a cross-sectional view including the TFT for the data line driving circuit and the first partial wiring of the image signal line. In FIG. 9, the scale of each layer / member is different for each layer / member so that each layer / member can be recognized on the drawing. Here, a specific configuration of a TFT for a data line driving circuit, which is a driving element constituting the data line driving circuit, will be mainly described.

図9に示すように、データ線駆動回路101は、画素部700と同様な積層構造からなる。即ち、TFTアレイ基板10上に第1層として、走査線11aと同層に位置する遮光膜110aが形成されている。その上層側に第1層間絶縁膜41を介して、第2層として、画素スイッチング用TFT30と同層に位置するデータ線駆動回路用TFT202が形成されている。データ線駆動回路用TFT202は、画素スイッチング用TFT30と同様に、例えばLDD構造とされ、ゲート電極202ga、半導体層202a、ゲート電極202gaと半導体層202aを絶縁するゲート絶縁膜を含んだ絶縁膜2を備えている。ゲート電極202gaは、画素スイッチング用TFT30のゲート電極3aと同層に形成され、半導体層202aは、画素スイッチング用TFT30の半導体層1aと同層に形成される。半導体層202aは、チャネル領域202a´、低濃度ソース領域202b及び低濃度ドレイン領域202c、並びに高濃度ソース領域202d及び高濃度ドレイン領域202eからなる。尚、データ線駆動回路用TFT202は、LDD構造を有することが好ましいが、低濃度ソース領域202b、低濃度ドレイン領域202cに不純物打ち込みを行わないオフセット構造であってもよいし、ゲート電極202gaをマスクとして不純物を高濃度に打ち込んで高濃度ソース領域及び高濃度ドレイン領域を形成する自己整合型であってもよい。   As shown in FIG. 9, the data line driving circuit 101 has a stacked structure similar to that of the pixel portion 700. That is, the light shielding film 110a located in the same layer as the scanning line 11a is formed on the TFT array substrate 10 as the first layer. A data line driving circuit TFT 202 located in the same layer as the pixel switching TFT 30 is formed as a second layer via the first interlayer insulating film 41 on the upper layer side. Like the pixel switching TFT 30, the data line driving circuit TFT 202 has, for example, an LDD structure, and includes an insulating film 2 including a gate electrode 202ga, a semiconductor layer 202a, and a gate insulating film that insulates the gate electrode 202ga from the semiconductor layer 202a. I have. The gate electrode 202ga is formed in the same layer as the gate electrode 3a of the pixel switching TFT 30, and the semiconductor layer 202a is formed in the same layer as the semiconductor layer 1a of the pixel switching TFT 30. The semiconductor layer 202a includes a channel region 202a ′, a low concentration source region 202b and a low concentration drain region 202c, and a high concentration source region 202d and a high concentration drain region 202e. The data line driver circuit TFT 202 preferably has an LDD structure, but may have an offset structure in which no impurity is implanted into the low concentration source region 202b and the low concentration drain region 202c, or the gate electrode 202ga is masked. Alternatively, a high-concentration source region and a high-concentration drain region may be formed by implanting impurities at a high concentration.

データ線駆動回路用TFT202のゲート電極202gaは、その一部分202gbにおいて、下地絶縁膜12に形成されたコンタクトホール14cvを介して遮光膜110aに電気的に接続されている。尚、本実施形態に係るデータ線駆動回路用TFT202は、トップゲート型であるが、ボトムゲート型であってもかまわない。   The gate electrode 202ga of the data line driving circuit TFT 202 is electrically connected to the light-shielding film 110a through a contact hole 14cv formed in the base insulating film 12 at a part 202gb. The data line driving circuit TFT 202 according to this embodiment is a top gate type, but may be a bottom gate type.

データ線駆動回路用TFT202の上層側には、第1層間絶縁膜41を介して、第3層として、ソース配線204s及びドレイン配線204dが形成されている。尚、ソース配線204s及びドレイン配線204dは、本発明に係る「複数の配線」の一例である。ソース配線204sは、第1層間絶縁膜41に開孔されたコンタクトホール810を介して、データ線駆動回路用TFT202の高濃度ソース領域202dと電気的に接続されている。ドレイン配線204dは、第1層間絶縁膜41に開孔されたコンタクトホール830を介して、データ線駆動回路用TFT202の高濃度ドレイン領域202eと電気的に接続されている。   On the upper layer side of the data line driving circuit TFT 202, a source wiring 204s and a drain wiring 204d are formed as a third layer with a first interlayer insulating film 41 interposed therebetween. The source wiring 204s and the drain wiring 204d are examples of “a plurality of wirings” according to the present invention. The source wiring 204 s is electrically connected to the high concentration source region 202 d of the data line driving circuit TFT 202 via a contact hole 810 opened in the first interlayer insulating film 41. The drain wiring 204 d is electrically connected to the high-concentration drain region 202 e of the data line driving circuit TFT 202 via a contact hole 830 opened in the first interlayer insulating film 41.

次に、本実施形態に係る液晶装置の画像信号線の具体的な構成について、図9から図11を参照して説明する。ここに図10は、画像信号線及びデータ線駆動回路のTFTアレイ基板上におけるレイアウトを示す平面図である。図11は、画像信号線の第2部分配線の構成を示す斜視図である。   Next, a specific configuration of the image signal lines of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a plan view showing the layout of the image signal line and data line driving circuit on the TFT array substrate. FIG. 11 is a perspective view showing the configuration of the second partial wiring of the image signal line.

図10において、本実施形態では特に、6本の画像信号線170は夫々、第1部分配線171及び第2部分配線172を有する。以下では、主として、画像信号線170−1の第1部分配線170−1及び第2部分配線170−2について説明するが、他の画像信号線170−2〜170−6も同様の構成となっている。   In FIG. 10, particularly in the present embodiment, each of the six image signal lines 170 includes a first partial wiring 171 and a second partial wiring 172. Hereinafter, the first partial wiring 170-1 and the second partial wiring 170-2 of the image signal line 170-1 will be mainly described, but the other image signal lines 170-2 to 170-6 have the same configuration. ing.

再び図9において、第1部分配線171−1は、上述した蓄積容量70の容量電極300(図8参照)と同一膜から形成されている。即ち、第1部分配線171−1は、データ線駆動回路101のTFT202、ソース配線204s及びドレイン配線204dを構成する導電膜に対して第2層間絶縁膜42を介して上層側に位置する導電膜から形成されている。   In FIG. 9 again, the first partial wiring 171-1 is formed of the same film as the capacitor electrode 300 (see FIG. 8) of the storage capacitor 70 described above. That is, the first partial wiring 171-1 is a conductive film located on the upper layer side through the second interlayer insulating film 42 with respect to the conductive film constituting the TFT 202, the source wiring 204s, and the drain wiring 204d of the data line driving circuit 101. Formed from.

一方、図10に示すように、第2部分配線172−1は、データ線駆動回路101に対して画像表示領域10aと同じ側に、データ線駆動回路101に沿って(即ち図中、左右方向に)配線されている。   On the other hand, as shown in FIG. 10, the second partial wiring 172-1 is on the same side as the image display area 10a with respect to the data line driving circuit 101, along the data line driving circuit 101 (that is, in the horizontal direction in the figure). Is wired).

更に、図11に示すように、第2部分配線172−1は、副部分配線172−1a及び172−1bからなる2重配線構造を有している。副部分配線172−1aは、容量配線300(図8参照)と同一膜からなり、第1部分配線171−1と一体的に形成されている。副部分配線172−1bは、下部電極71(図8参照)と同一膜からなり、分岐配線175と一体的に形成されている。副部分配線172−1a及び172−1bは、誘電体膜75に開孔されたコンタクトホール61及び62を介して電気的に接続されている。よって、第2部分配線172−1は、2重配線構造を有することにより低抵抗化されている。   Further, as shown in FIG. 11, the second partial wiring 172-1 has a double wiring structure composed of the sub partial wirings 172-1a and 172-1b. The sub partial wiring 172-1a is made of the same film as the capacitor wiring 300 (see FIG. 8), and is formed integrally with the first partial wiring 171-1. The sub partial wiring 172-1b is made of the same film as the lower electrode 71 (see FIG. 8), and is formed integrally with the branch wiring 175. The sub partial wirings 172-1a and 172-1b are electrically connected through contact holes 61 and 62 opened in the dielectric film 75. Therefore, the second partial wiring 172-1 has a low resistance by having a double wiring structure.

尚、図11に示すように、第2部分配線172−1が、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、他の第2部分配線172−2〜172−6と電気的に接続された分岐配線175と交差する部分については、副部分配線172−1bは、部分的に途切れるように構成されている。副部分配線172−1a及び172−1bは、対応する分岐配線175毎に形成されたコンタクトホール61を介して電気的に接続されている。   As shown in FIG. 11, the second partial wiring 172-1 is electrically connected to the other second partial wirings 172-2 to 172-6 in plan view on the TFT array substrate 10. For the portion that intersects the branch wiring 175, the sub partial wiring 172-1b is configured to be partially interrupted. The sub partial wirings 172-1a and 172-1b are electrically connected through contact holes 61 formed for the corresponding branch wirings 175.

更に尚、図示はしないが、例えば、第2部分配線172−2が、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、第1部分配線171−1と交差する部分については、副部分配線172−2aは、部分的に途切れるように構成されている。   Further, although not shown, for example, a portion of the second partial wiring 172-2 that intersects the first partial wiring 171-1 when viewed in plan on the TFT array substrate 10 is the sub partial wiring 172-2. 2a is configured to be partially interrupted.

再び図10に示すように、本実施形態では特に、第1部分配線171−1〜171−6は、TFTアレイ基板10上で平面的に見てデータ線駆動回路101と互いに重なっている。即ち、第1部分配線171−1〜171−6は、TFTアレイ基板10の一辺に沿って配列された外部回路接続端子102−1〜102−6からデータ線駆動回路101に対して反対側に配線された第2部分配線172−1〜172−6まで、TFTアレイ基板10上で平面的に見てデータ線駆動回路101と重なるように配線されている。よって、6本の画像信号線が、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、データ線駆動回路101を回避するように(即ち、データ線駆動回路101と重ならないように、データ線駆動回路101の周りを迂回して)配線される場合と比較して、6本の画像信号線170−1〜170−6間の配線長の差異を殆ど或いは好ましくは完全に無くすことができる。即ち、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、TFTアレイ基板10上におけるデータ線駆動回路101の縁側(即ち、図中、下側)から中央側(即ち、図中、上側)へと、画像信号線170が、データ線駆動回路101上を通過するように構成されているので、TFTアレイ基板10上で平面的に見てデータ線駆動回路101と互いに重なる第1部分配線171を有する分だけ、6本の画像信号線170−1〜170−6の配線長を短くすることが可能であると共に配線の自由度が高いので、6本の画像信号線170−1〜170−6間の配線長の差異を殆ど或いは好ましくは完全に無くすことができる。従って、6本の画像信号線170−1〜170−6間の配線抵抗或いは電気容量の差異に起因して生じる縦帯状の表示むらを殆ど或いは好ましくは完全に無くすことが可能となっている。   As shown in FIG. 10 again, particularly in the present embodiment, the first partial wirings 171-1 to 171-6 overlap with the data line driving circuit 101 when viewed in plan on the TFT array substrate 10. That is, the first partial wirings 171-1 to 171-6 are arranged on the opposite side to the data line driving circuit 101 from the external circuit connection terminals 102-1 to 102-6 arranged along one side of the TFT array substrate 10. The second partial wirings 172-1 to 172-6 are wired so as to overlap the data line driving circuit 101 in plan view on the TFT array substrate 10. Therefore, the data line driving circuit is configured so that the six image signal lines avoid the data line driving circuit 101 when viewed in plan on the TFT array substrate 10 (that is, so as not to overlap the data line driving circuit 101). Compared to the case of wiring (bypassing around 101), the difference in wiring length between the six image signal lines 170-1 to 170-6 can be eliminated almost or preferably completely. That is, when viewed in plan on the TFT array substrate 10, from the edge side (that is, the lower side in the figure) of the data line driving circuit 101 on the TFT array substrate 10 to the center side (that is, the upper side in the figure), Since the image signal line 170 is configured to pass over the data line driving circuit 101, the image signal line 170 includes a first partial wiring 171 that overlaps the data line driving circuit 101 when viewed in plan on the TFT array substrate 10. As a result, the wiring length of the six image signal lines 170-1 to 170-6 can be shortened and the degree of freedom of wiring is high. Therefore, the distance between the six image signal lines 170-1 to 170-6 is high. The difference in wiring length can be eliminated almost or preferably completely. Accordingly, it is possible to eliminate almost or preferably completely the vertical band-like display unevenness caused by the difference in wiring resistance or electric capacity between the six image signal lines 170-1 to 170-6.

更に、第1部分配線171−1は、TFTアレイ基板10上で平面的に見てデータ線駆動回路101と互いに重なるので、6本の画像信号線170−1〜170−6が、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、データ線駆動回路101を回避するように配線される場合と比較して、6本の画像信号線170−1〜170−6を配線するのに必要なTFTアレイ基板10上の面積を小さくすることができる。よって、TFTアレイ基板10のサイズを小さくすることにより液晶装置全体を小型化する、或いは、TFTアレイ基板10上の面積を有効利用し、例えば他の配線或いは回路を配置することにより液晶装置を高性能化することも可能である。   Further, since the first partial wiring 171-1 overlaps the data line driving circuit 101 in plan view on the TFT array substrate 10, the six image signal lines 170-1 to 170-6 are connected to the TFT array substrate. The TFT array necessary for wiring the six image signal lines 170-1 to 170-6 as compared with the case where the data line driving circuit 101 is wired so as to avoid the data line driving circuit 101 when viewed in plan on 10. The area on the substrate 10 can be reduced. Therefore, by reducing the size of the TFT array substrate 10, the entire liquid crystal device can be downsized, or the area on the TFT array substrate 10 can be effectively used, for example, by arranging other wirings or circuits to increase the liquid crystal device. It is also possible to improve performance.

尚、図10に示すように、第2部分配線172における、TFTアレイ基板10上で平面的に見てコンタクトホール62よりも左側の部分179(即ち、分岐配線175と交差しない部分)を設けることによって、複数の画像信号線170間の配線抵抗或いは電気容量が一層調整可能とされている。尚、実践上、このような調整の必要が無い場合には、部分179においては分岐配線175との電気的な接続点が存在しないので、部分179をなくして構成してもよい。
<第2実施形態>
次に、第2実施形態に係る液晶装置について、図12を参照して説明する。ここに図12は、第2実施形態における図10と同趣旨の平面図である。尚、図12において、図1から図11に示した第1実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
As shown in FIG. 10, in the second partial wiring 172, a portion 179 (that is, a portion not intersecting with the branch wiring 175) on the left side of the contact hole 62 when viewed in plan on the TFT array substrate 10 is provided. Thus, the wiring resistance or capacitance between the plurality of image signal lines 170 can be further adjusted. In practice, when there is no need for such adjustment, there is no electrical connection point with the branch wiring 175 in the portion 179, so the portion 179 may be omitted.
Second Embodiment
Next, a liquid crystal device according to a second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a plan view having the same concept as in FIG. 10 in the second embodiment. In FIG. 12, the same components as those in the first embodiment shown in FIGS. 1 to 11 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

図12に示すように、第1部分配線171−1〜171−6は、データ線群毎、即ちデータ線群に対応する6本の分岐配線毎の間隔で配列されてもよい。   As shown in FIG. 12, the first partial wirings 171-1 to 171-6 may be arranged at intervals of each data line group, that is, every six branch wirings corresponding to the data line group.

この場合にも、第1実施形態と同様に、6本の画像信号線170−1〜170−6間の配線長の差異を殆ど或いは好ましくは完全に無くすことができる。従って、6本の画像信号線170−1〜170−6間の配線抵抗或いは電気容量の差異に起因して生じる縦帯状の表示むらを殆ど或いは好ましくは完全に無くすことが可能である。   Also in this case, as in the first embodiment, the difference in wiring length between the six image signal lines 170-1 to 170-6 can be eliminated almost or preferably completely. Therefore, it is possible to almost or preferably completely eliminate the vertical band-like display unevenness caused by the difference in wiring resistance or electric capacity between the six image signal lines 170-1 to 170-6.

更に、第1部分配線171−1は、TFTアレイ基板10上で平面的に見てデータ線駆動回路101と互いに重なるので、6本の画像信号線170−1〜170−6が、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、データ線駆動回路101を回避するように配線される場合と比較して、6本の画像信号線170−1〜170−6を配線するのに必要なTFTアレイ基板10上の面積を小さくすることができる。よって、TFTアレイ基板10のサイズを小さくすることにより液晶装置全体を小型化する、或いは、TFTアレイ基板10上の面積を有効利用し、例えば他の配線或いは回路を配置することにより液晶装置を高性能化することも可能である。
<電子機器>
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。
Further, since the first partial wiring 171-1 overlaps the data line driving circuit 101 in plan view on the TFT array substrate 10, the six image signal lines 170-1 to 170-6 are connected to the TFT array substrate. The TFT array necessary for wiring the six image signal lines 170-1 to 170-6 as compared with the case where the data line driving circuit 101 is wired so as to avoid the data line driving circuit 101 when viewed in plan on 10. The area on the substrate 10 can be reduced. Therefore, by reducing the size of the TFT array substrate 10, the entire liquid crystal device can be downsized, or the area on the TFT array substrate 10 can be effectively used, for example, by arranging other wirings or circuits to increase the liquid crystal device. It is also possible to improve performance.
<Electronic equipment>
Next, the case where the liquid crystal device which is the above-described electro-optical device is applied to various electronic devices will be described.

まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図13は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。この図13に示されるように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106および2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gに入射される。   First, a projector using this liquid crystal device as a light valve will be described. FIG. 13 is a plan view showing a configuration example of the projector. As shown in FIG. 13, a projector 1100 includes a lamp unit 1102 made of a white light source such as a halogen lamp. The projection light emitted from the lamp unit 1102 is separated into three primary colors of RGB by four mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 arranged in the light guide 1104, and serves as a light valve corresponding to each primary color. The light enters the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G.

液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、RおよびBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。したがって、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。   The configurations of the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G are the same as those of the liquid crystal device described above, and are driven by R, G, and B primary color signals supplied from the image signal processing circuit. The light modulated by these liquid crystal panels enters the dichroic prism 1112 from three directions. In this dichroic prism 1112, R and B light is refracted at 90 degrees, while G light travels straight. Accordingly, as a result of the synthesis of the images of the respective colors, a color image is projected onto the screen or the like via the projection lens 1114.

ここで、各液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。   Here, paying attention to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G, the display image by the liquid crystal panel 1110G needs to be horizontally reversed with respect to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B.

尚、液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。   Since light corresponding to the primary colors R, G, and B is incident on the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G by the dichroic mirror 1108, it is not necessary to provide a color filter.

次に、液晶装置を、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図14は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図14において、コンピュータ1200は、キーボード1202を備えた本体部1204と、液晶表示ユニット1206とから構成されている。この液晶表示ユニット1206は、先に述べた液晶装置1005の背面にバックライトを付加することにより構成されている。   Next, an example in which the liquid crystal device is applied to a mobile personal computer will be described. FIG. 14 is a perspective view showing the configuration of this personal computer. In FIG. 14, the computer 1200 includes a main body 1204 provided with a keyboard 1202 and a liquid crystal display unit 1206. The liquid crystal display unit 1206 is configured by adding a backlight to the back surface of the liquid crystal device 1005 described above.

更に、液晶装置を、携帯電話に適用した例について説明する。図15は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図15において、携帯電話1300は、複数の操作ボタン1302と共に、反射型の液晶装置1005を備えるものである。この反射型の液晶装置1005にあっては、必要に応じてその前面にフロントライトが設けられる。   Further, an example in which the liquid crystal device is applied to a mobile phone will be described. FIG. 15 is a perspective view showing the configuration of this mobile phone. In FIG. 15, a mobile phone 1300 includes a reflective liquid crystal device 1005 together with a plurality of operation buttons 1302. In the reflective liquid crystal device 1005, a front light is provided on the front surface thereof as necessary.

尚、図13から図15を参照して説明した電子機器の他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。   In addition to the electronic devices described with reference to FIGS. 13 to 15, a liquid crystal television, a viewfinder type, a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a word processor, a work Examples include a station, a videophone, a POS terminal, a device equipped with a touch panel, and the like. Needless to say, the present invention can be applied to these various electronic devices.

また本発明は、上述の実施形態で説明した液晶装置以外にも、シリコン基板上に素子を形成する反射型液晶装置(LCOS)、プラズマディスプレイ(PDP)、電界放出型ディスプレイ(FED、SED)、有機ELディスプレイ、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、電気泳動装置等にも適用可能である。   In addition to the liquid crystal device described in the above embodiment, the present invention also includes a reflective liquid crystal device (LCOS) in which elements are formed on a silicon substrate, a plasma display (PDP), a field emission display (FED, SED), The present invention can also be applied to an organic EL display, a digital micromirror device (DMD), an electrophoresis apparatus, and the like.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置、及び該電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the spirit or idea of the invention that can be read from the claims and the entire specification. In addition, an electronic apparatus including the electro-optical device is also included in the technical scope of the present invention.

第1実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the liquid crystal device which concerns on 1st Embodiment. 図1のH−H´の断面図である。It is sectional drawing of HH 'of FIG. 第1実施形態に係る液晶装置の全体構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating an overall configuration of a liquid crystal device according to a first embodiment. 液晶パネルの電気的な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of a liquid crystal panel. データ線の駆動に係る回路構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the circuit structure concerning the drive of a data line. TFTアレイ基板上の画素部に係る部分構成を表す平面図であり、積層構造のうち下層部分に相当する図である。It is a top view showing the partial structure which concerns on the pixel part on a TFT array substrate, and is a figure equivalent to a lower layer part among laminated structures. TFTアレイ基板上の画素部に係る部分構成を表す平面図であり、積層構造のうち上層部分に相当する図である。It is a top view showing the partial structure concerning the pixel part on a TFT array substrate, and is a figure corresponded to the upper layer part among laminated structures. 図6及び図7を重ね合わせた場合のA−A´断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line AA ′ when FIG. 6 and FIG. 7 are overlapped. データ線駆動回路用TFT、及び画像信号線の第1部分配線を含む断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view including a data line driving circuit TFT and a first partial wiring of an image signal line. 画像信号線及びデータ線駆動回路のTFTアレイ基板上におけるレイアウトを示す平面図である。It is a top view which shows the layout on the TFT array substrate of an image signal line and a data line drive circuit. 画像信号線の第2部分配線の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the 2nd partial wiring of an image signal line. 第2実施形態における図10と同趣旨の平面図である。It is a top view of the same meaning as FIG. 10 in 2nd Embodiment. 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるプロジェクタの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the projector which is an example of the electronic device to which the electro-optical apparatus is applied. 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a configuration of a personal computer as an example of an electronic apparatus to which an electro-optical device is applied. 電気光学装置を適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the mobile telephone which is an example of the electronic device to which the electro-optical apparatus is applied.

符号の説明Explanation of symbols

6a…データ線、7…サンプリング回路、9a…画素電極、11a…走査線、10…TFTアレイ基板、10a…画像表示領域、41、42、43…層間絶縁膜、101…データ線駆動回路、102…外部回路接続端子、104…走査線駆動回路、170…画像信号線、171…第1部分配線、172…第2部分配線、175…分岐配線、700…画素部、VID1〜VID6…画像信号   6a ... data line, 7 ... sampling circuit, 9a ... pixel electrode, 11a ... scanning line, 10 ... TFT array substrate, 10a ... image display area, 41, 42, 43 ... interlayer insulating film, 101 ... data line drive circuit, 102 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... External circuit connection terminal, 104 ... Scanning line drive circuit, 170 ... Image signal line, 171 ... 1st partial wiring, 172 ... 2nd partial wiring, 175 ... Branch wiring, 700 ... Pixel part, VID1-VID6 ... Image signal

Claims (5)

基板と、
画素領域に配線された複数のデータ線と、
端子と、
前記端子に接続され、画像信号が供給される画像信号線と、
サンプリング信号を生成するデータ線駆動回路と、
前記複数のデータ線と前記画像信号線との間に接続され、前記サンプリング信号に応じて制御されるサンプリング回路と、
を備えており、
前記画像信号線は、
前記データ線駆動回路と前記サンプリング回路との間に配置される第1部分と、
前記端子と前記第1部分との間を接続し、前記データ線駆動回路と重なる第2部分を有する
ことを特徴とする電気光学装置。
A substrate,
A plurality of data lines wired to the pixel region;
A terminal,
An image signal line connected to the terminal and supplied with an image signal;
A data line driving circuit for generating a sampling signal;
A sampling circuit connected between the plurality of data lines and the image signal line and controlled in accordance with the sampling signal;
With
The image signal line is
A first portion disposed between the data line driving circuit and the sampling circuit;
An electro-optical device comprising: a second portion that connects between the terminal and the first portion and overlaps the data line driving circuit.
前記第2部分は、前記データ線駆動回路を構成する第1の導電膜に対して層間絶縁膜を介して相異なる層に位置する第2の導電膜から形成されることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。   The second portion is formed of a second conductive film located in a different layer with respect to the first conductive film constituting the data line driving circuit via an interlayer insulating film. 2. The electro-optical device according to 1. 前記画像信号線は、前記複数のデータ線を、N(但し、Nは2以上の自然数)本のデータ線を1群とするデータ線群毎に駆動するために、N系列のシリアル−パラレル変換された画像信号が前記端子を介して供給されるN本の画像信号線を含み、
前記データ線駆動回路は、前記画素領域の周辺に位置する周辺領域において前記基板の一辺に沿って配置されており、
前記端子は、前記周辺領域において前記一辺に沿って且つ前記データ線駆動回路に対して前記画素領域と反対側に配列されており、
前記N本の画像信号線は、前記周辺領域において前記一辺の方向に延在し且つ前記データ線駆動回路と前記サンプリング回路との間に配線された第1部分を夫々有し、
前記第2部分は、前記端子から前記第1部分まで、前記一辺と交わる方向に配線される
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。
The image signal line is an N-series serial-parallel conversion for driving the plurality of data lines for each data line group in which N (where N is a natural number of 2 or more) data lines. Including N image signal lines to which the image signal is supplied through the terminal;
The data line driving circuit is disposed along one side of the substrate in a peripheral region located around the pixel region,
The terminals are arranged along the one side in the peripheral region and on the side opposite to the pixel region with respect to the data line driving circuit,
The N image signal lines each have a first portion extending in the direction of the one side in the peripheral region and wired between the data line driving circuit and the sampling circuit,
The electro-optical device according to claim 1, wherein the second portion is wired in a direction intersecting the one side from the terminal to the first portion.
前記画素領域において、前記基板上で前記複数のデータ線よりも上層側に、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層されてなる蓄積容量を備え、
前記第1の導電膜は、前記複数のデータ線又は前記下層電極のいずれか一方と同一膜からなり、
前記第2の導電膜は、前記上側電極と同一膜からなる、
ことを特徴とする請求項に記載の電気光学装置。
In the pixel region, a storage capacitor in which a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode are sequentially stacked on the substrate on the upper layer side than the plurality of data lines,
The first conductive film is made of the same film as any one of the plurality of data lines or the lower layer electrode,
The second conductive film is made of the same film as the upper electrode.
The electro-optical device according to claim 2 .
請求項1から4のいずれか一項に記載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1.
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