JP4767641B2 - 基板処理装置および基板搬送方法 - Google Patents
基板処理装置および基板搬送方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4767641B2 JP4767641B2 JP2005280612A JP2005280612A JP4767641B2 JP 4767641 B2 JP4767641 B2 JP 4767641B2 JP 2005280612 A JP2005280612 A JP 2005280612A JP 2005280612 A JP2005280612 A JP 2005280612A JP 4767641 B2 JP4767641 B2 JP 4767641B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- hand
- transport mechanism
- cassette
- robot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67766—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67167—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers surrounding a central transfer chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67745—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/137—Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Manipulator (AREA)
Description
基板処理モジュール201は、平面的に配列された4つの処理部203と、この4つの処理部203に取り囲まれるように中央に配置された主搬送ロボット204とを備えている。主搬送ロボット204は、前記処理部203に対して、未処理の基板Wを搬入し、処理済の基板Wを処理部203から搬出するための基板搬入/搬出動作を行う。
インデクサロボット207は、カセット載置台206に置かれたいずれかのカセット205に対向する位置に移動機構208によって移動させられ、そのカセット205から未処理の1枚の基板Wを搬出する。インデクサロボット207は、カセット205から未処理の基板Wを搬出した後、移動機構208によって基板受け渡し位置P1に移動させられ、この未処理の基板Wを主搬送ロボット204に渡す。主搬送ロボット204は、インデクサロボット207から受け取った未処理の基板Wを、複数の処理部203のうちのいずれかに搬入する。一方、主搬送ロボット204は、処理済の基板Wを処理部203から取り出して、この処理済の基板Wを基板受け渡し位置P1に位置しているインデクサロボット207へと渡す。インデクサロボット207は、カセット載置台206に置かれたいずれかのカセット205に対向する位置に移動機構208によって移動させられ、主搬送ロボット204から受け取った処理済の基板Wをそのカセット205に収容する。
このように、インデクサロボット207の搬送負荷は大きく、そのため、インデクサロボット207の搬送動作が装置全体のスループットの低下を招いていた。
この構成によれば、第1搬送機構は複数のカセットのそれぞれに対向する位置において、第2搬送機構との間での基板の受け渡しを行うことができる。すなわち、第1搬送機構は、複数のカセットのそれぞれにアクセス可能な位置で、第2搬送機構との間で基板の受け渡しを行うことができる。したがって、第1搬送機構が、距離的に第2搬送機構に最も近づいた基板受け渡し位置に移動する必要がないので、第1搬送機構の搬送負荷を軽減できる。
また、第1搬送機構は複数のカセットのそれぞれに対向する位置において、第2基板保持ハンドの旋回中心が固定された第2搬送機構との間での基板の受け渡しを行うことができる。すなわち、第1搬送機構は、複数のカセットのそれぞれにアクセス可能な位置で、第2基板保持ハンドの旋回中心が固定された第2搬送機構との間で基板の受け渡しを行うことができる。
このように、第1搬送機構の移動を抑制することができるので、それに応じて第1搬送機構の搬送負荷を軽減できる。これにより、基板処理装置の生産効率を向上できる。
この構成により、第2搬送機構を、第1搬送機構と基板処理部との間に配置することができる。これにより、第1搬送機構と第2搬送機構との間の距離を短縮することができる。したがって、第1搬送機構と第2搬送機構との間の基板の受け渡しに際して、第2搬送機構の第2基板保持ハンドが進退する距離(ストローク)を小さくすることができる。よって、装置構成を簡単にすることができ、かつ、コストを低下させることができる。
この構成により、複数の基板処理部を上下方向に積層することにより、基板処理部の設置面積を減少させることができる。また、複数の基板処理部を上下方向に積層することにより、第2搬送機構の周囲の空間に余裕が生まれるから、第1搬送機構を第2搬送機構の近傍に配置して、第1搬送機構と第2搬送機構との間の距離を短縮することができる。
図1は、この発明の一実施形態が適用された基板処理装置のレイアウトを示す図解的な平面図であり、図2は、図1における基板処理装置の矢視II方向から見た図解的な正面図である。この基板処理装置100は、半導体ウエハ等の基板Wに対して、洗浄処理やエッチング処理等の各種の処理を施すための装置である。この基板処理装置100は、基板処理モジュール1と、この基板処理モジュール1に結合されたインデクサモジュール2とを備えている。
図3は、インデクサロボットを基板処理装置の正面方向からみた状態を図解的に示す側面図である。インデクサロボットIRは、前記第1上アーム9と、前記第1下アーム10と、これらの第1上アーム9および第1下アーム10を保持する第1基台部11と、第1基台部11を鉛直軸線まわりに回転させるための第1旋回機構12と、第1基台部11を鉛直方向に昇降させるための第1昇降駆動機構13と、第1上アーム9を屈伸させて第1上ハンド7を水平方向に進退させるための第1上進退駆動機構21aと、第1下アーム10を屈伸させて第1下ハンド8を水平方向に進退させるための第1下進退駆動機構21bとを備えている。
第1上進退駆動機構21aは、第1基台部11に内蔵され、第1上アーム9に接続されている。第1上アーム9は、第1上進退駆動機構21aによって屈伸させられ、これにより、第1上ハンド7が水平方向に進退させられる。第1下進退駆動機構21bは、第1基台部11に内蔵され、第1下アーム10に接続されている。第1下アーム10は、第1下進退駆動機構21bによって屈伸させられ、これにより、第1下ハンド8が水平方向に進退させられる。第1上アーム9および第1下アーム10は、第1上進退駆動機構21aおよび第1下進退駆動機構21bによって互いに独立して屈伸させられ、これにより第1上ハンド7および第1下ハンド8は互いに独立して進退させられる。
第1旋回機構12は、第1上アーム9および第1下アーム10が保持された第1基台部11を鉛直軸線まわりに回転させる。また、第1昇降駆動機構13は第1基台部11を鉛直方向に昇降させる。これにより、インデクサロボットIRは、第1上アーム9および第1下アーム10にそれぞれ取り付けられた第1上ハンド7および第1下ハンド8を主搬送ロボットCRに対向させる姿勢をとることができ、その姿勢で主搬送ロボットCRとの間で基板Wの受け渡しを行える。また、第1旋回機構12、第1昇降駆動機構13および移動機構6により、インデクサロボットIRは第1上ハンド7および第1下ハンド8をカセット載置台5に載置されたカセット4に対向させる姿勢をとることができ、その姿勢でカセット4に対する基板Wの搬入/搬出を行える。
これにより、回転軸19aの一端に固定された第2基台部18、第2上ハンド14および第2下ハンド15は回転軸19aを中心として鉛直軸19cまわりに回転させられる。また、少なくとも基板処理動作中は、主搬送ロボットCR全体が装置内で移動することはなく、ハンド14,15の回転中心である鉛直軸19cは、所定の固定位置に保持されている。
第2旋回機構19は、第2上ハンド14および第2下ハンド15が保持された第2基台部18を鉛直軸19cまわりに回転させる。また、第2昇降駆動機構20は第2基台部18を鉛直方向に昇降させる。これにより、主搬送ロボットCRは、第2上ハンド14および第2下ハンド15をいずれかの処理部3に対向させる姿勢をとることができ、その姿勢で当該処理部3に対する基板Wの搬入/搬出を行える。また、主搬送ロボットCRは、第2上ハンド14および第2下ハンド15をインデクサロボットIRに対向させる姿勢をとることができ、その姿勢で、インデクサロボットIRとの間で基板Wの受け渡しを行える。
図1に示すように、インデクサロボットIRの第1上ハンド7および第1下ハンド8ならびに主搬送ロボットCRの第2上ハンド14および第2下ハンド15は、たとえば、いずれもフォーク状に形成されており、基板Wを保持できるようになっている。インデクサロボットIRの第1上ハンド7および第1下ハンド8はほぼ同形状であり、また、主搬送ロボットCRの第2上ハンド14および第2下ハンド15はほぼ同形状である。インデクサロボットIRの第1上ハンド7および第1下ハンド8ならびに主搬送ロボットCRの第2上ハンド14および第2下ハンド15は、インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間で基板Wを受け渡す際の干渉を防ぐため、平面視において重なり合わないように互いに噛み合う形状を有していて、第1、第2上ハンド7,14間または第1、第2下ハンド8,15間で、基板Wを直接受け渡すことができる。すなわち、インデクサロボットIRの第1上ハンド7および第1下ハンド8は、主搬送ロボットCRの第2上ハンド14および第2下ハンド15から基板Wを直接受け取ることができる。同様に、インデクサロボットIRの第1上ハンド7および第1下ハンド8は、主搬送ロボットCRの第2上ハンド14および第2下ハンド15に、基板Wを直接渡すことができる。
図6は、基板の受け渡しシーケンスの一例を説明するための図解図である。インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しは、インデクサロボットIRが複数のカセット4のそれぞれに対向する位置において行われる。すなわち、インデクサロボットIRは、複数のカセット4のそれぞれにアクセス可能な位置で、主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しを行う。
次に、制御装置21は、第1旋回機構12および第1昇降駆動機構13を制御して、図6(c)に示すように、インデクサロボットIRが基板Wの搬出を行ったカセット4と対向する位置で、インデクサロボットIRを第1上ハンド7および第1下ハンド8が主搬送ロボットCRと対向する姿勢にする。この状態で、インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しが行われる。基板Wの受け渡しが行われた後は、制御装置21は、インデクサロボットIRを再び所定のカセット4に対向する位置に移動させ、上述のカセット4に対する基板Wの搬入/搬出動作およびインデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しを繰り返させる。
次に、制御装置21は、第2旋回機構19および第2昇降駆動機構20を制御して、図6(c)に示すように、主搬送ロボットCRを第2上ハンド14および第2下ハンド15がインデクサロボットIRに対向する姿勢にする。この状態で、インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しが行われる。基板Wの受け渡しが行われた後は、制御装置21は、主搬送ロボットCRを再び第2上ハンド14および第2下ハンド15がいずれかの処理部3に対向する姿勢にさせ、上述の処理部3に対する基板Wの搬入/搬出動作およびインデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しを繰り返させる。
制御装置21は、第2上進退駆動機構22aを制御して、図6(d)に示すように、処理済の基板Wを保持した第2上ハンド14をインデクサロボットIRの方へ進出させる。一方、制御装置21は、第1上進退駆動機構21aを制御して、第1上ハンド7を主搬送ロボットCRの方へ進出させる。制御装置21は、第1上ハンド7および第2上ハンド14を互いの水平方向の中間位置まで進出させる。これにより、第2上ハンド14は、第1上ハンド7のやや上方に位置し、第1上ハンド7と第2上ハンド14とは、平面視において互いに干渉しないように噛み合うような位置関係となる。
このように、インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとが互いに接近して配置されているので、インデクサロボットIRを基板Wの受け渡しを行うために定められた一定の基板受け渡し位置に移動させずに、インデクサロボットIRが基板Wの搬出を行ったカセット4に対向する位置で、インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しを行うことができる。また、インデクサロボットIRと主搬送ロボットCRとの間での基板Wの受け渡しは、インデクサロボットIRが未処理の基板Wを搬出したカセット4と対向する位置だけでなく、このカセット4と異なるカセット4と対向する位置で行われてもよい。
これにより、基板Wの受け渡しに際して、インデクサロボットIRを基板Wの受け渡しを行うために定められた一定の基板受け渡し位置に移動させる時間を省くことができる。すなわち、インデクサロボットIRの搬送負荷を低減することができ、これにより、基板処理装置全体の生産効率を向上させることができる。
また、前記の実施形態では、複数の処理部を有する基板処理装置について説明したが、処理部が1つの基板処理装置に対しても本発明は適用できる。
さらに、前記の実施形態では、インデクサロボットの基板保持ハンドおよび主搬送ロボットの基板保持ハンドを互いに進退させることにより、基板の受け渡しを行う例について説明したが、インデクサロボットおよび主搬送ロボットのいずれか一方の基板保持ハンドを退避させたままにし、他方の基板保持ハンドを進退させることにより、基板の受け渡しを行ってもよい。
4 カセット
5 カセット載置台
6 移動機構
7 第1上ハンド(第1基板保持ハンド)
8 第1下ハンド(第1基板保持ハンド)
14 第2上ハンド(第2基板保持ハンド)
15 第2下ハンド(第2基板保持ハンド)
12 第1旋回機構(第1ハンド旋回機構)
19c 鉛直軸
21 制御装置(制御手段)
100 基板処理装置
W 基板
IR インデクサロボット(第1搬送機構)
CR 主搬送ロボット(第2搬送機構)
X1 カセット配列方向(配列方向)
Claims (5)
- 基板を収容するための複数のカセットが所定の配列方向に沿って載置されるカセット載置台と、
このカセット載置台に載置されたカセットに対して進退可能な第1基板保持ハンドを有し、この第1基板保持ハンドによって前記カセットに対して基板を受け渡しするための第1搬送機構と、
基板に所定の処理を施すための基板処理部と、
前記第1搬送機構および前記基板処理部に対して進退可能であり、かつ、所定の位置に固定されている鉛直軸を中心に旋回可能な第2基板保持ハンドを有し、この第2基板保持ハンドによって前記第1搬送機構および前記基板処理部に対して基板を受け渡しするための第2搬送機構と、
前記所定の配列方向に沿って前記第1搬送機構を移動させるための移動機構と、
前記第1搬送機構が複数のカセットのそれぞれに対向する位置において、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間での基板の受け渡しを行わせる制御手段とを含むことを特徴とする基板処理装置。 - 前記第1搬送機構は、前記カセット載置台に載置されたカセットに対向する姿勢と前記第2搬送機構に対向する姿勢とに前記第1基板保持ハンドを旋回させる第1ハンド旋回機構をさらに有し、
前記制御手段は、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間での基板の受け渡しに際して、前記第1ハンド旋回機構を制御することにより、前記第1基板保持ハンドを前記第2搬送機構に対向する姿勢に制御するものであることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。 - 前記基板処理部は、前記第2搬送機構に対して前記第1搬送機構とは反対側に配置されていることを特徴とする請求項1または2記載の基板処理装置。
- 前記基板処理部を複数含み、それらは上下方向に積層されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の基板処理装置。
- 基板を収容するための複数のカセットのうちの所定のカセットに対して、第1搬送機構に設けられた第1基板保持ハンドを進退させることによって、この所定のカセットに対して基板を受け渡しする第1基板搬送工程と、
基板に所定の処理を施すための基板処理部に対して、第2搬送機構に設けられた第2基板保持ハンドを進退させることによって、前記基板処理部に対して基板を受け渡しする第2基板搬送工程と、
前記第2搬送機構の第2基板保持ハンドを、所定の位置に固定されている鉛直軸を中心に旋回させることにより、前記複数のカセットのうちの所定のカセットに対向する位置に位置している前記第1搬送機構に対して前記第2基板保持ハンドを対向させた状態で、前記第1基板保持ハンドと前記第2基板保持ハンドとの間で基板を受け渡しする第3基板搬送工程とを含むことを特徴とする基板搬送方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005280612A JP4767641B2 (ja) | 2005-09-27 | 2005-09-27 | 基板処理装置および基板搬送方法 |
US11/469,700 US8157496B2 (en) | 2005-09-27 | 2006-09-01 | Substrate processing apparatus and substrate transfer method |
TW095133234A TWI334189B (en) | 2005-09-27 | 2006-09-08 | Substrate processing apparatus and substrate transfer method |
CNB2006101274748A CN100428439C (zh) | 2005-09-27 | 2006-09-15 | 基板处理装置以及基板搬送方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005280612A JP4767641B2 (ja) | 2005-09-27 | 2005-09-27 | 基板処理装置および基板搬送方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007095831A JP2007095831A (ja) | 2007-04-12 |
JP4767641B2 true JP4767641B2 (ja) | 2011-09-07 |
Family
ID=37911205
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005280612A Expired - Fee Related JP4767641B2 (ja) | 2005-09-27 | 2005-09-27 | 基板処理装置および基板搬送方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8157496B2 (ja) |
JP (1) | JP4767641B2 (ja) |
CN (1) | CN100428439C (ja) |
TW (1) | TWI334189B (ja) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1996552B (zh) * | 2001-08-31 | 2012-09-05 | 克罗辛自动化公司 | 晶片机 |
JP2008100292A (ja) * | 2006-10-17 | 2008-05-01 | Toshiba Mach Co Ltd | ロボットシステム |
WO2009014647A1 (en) * | 2007-07-20 | 2009-01-29 | Applied Materials, Inc. | Dual-mode robot systems and methods for electronic device manufacturing |
JP2009049232A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
KR101015227B1 (ko) * | 2008-08-06 | 2011-02-18 | 세메스 주식회사 | 기판 처리장치 및 이의 기판 이송 방법 |
JP5000627B2 (ja) * | 2008-11-27 | 2012-08-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム |
CN101989005B (zh) * | 2009-07-30 | 2013-08-14 | 北京京东方光电科技有限公司 | 结构基板、传送装置和对盒装置 |
JP5490639B2 (ja) * | 2010-07-14 | 2014-05-14 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板搬送方法 |
JP5616205B2 (ja) * | 2010-11-29 | 2014-10-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム、基板処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 |
CN102320472B (zh) * | 2011-06-03 | 2013-07-10 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 基板传送系统及传送方法 |
JP6005912B2 (ja) | 2011-07-05 | 2016-10-12 | 株式会社Screenホールディングス | 制御装置、基板処理方法、基板処理システム、基板処理システムの運用方法、ロードポート制御装置及びそれを備えた基板処理システム |
JP2013165241A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Yaskawa Electric Corp | 搬送装置 |
JP5948102B2 (ja) * | 2012-03-26 | 2016-07-06 | 株式会社Screenホールディングス | 転写装置および転写方法 |
JP5959914B2 (ja) * | 2012-04-18 | 2016-08-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム、基板搬送方法および記憶媒体 |
JP6030393B2 (ja) * | 2012-09-26 | 2016-11-24 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP6706935B2 (ja) | 2016-03-09 | 2020-06-10 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP6705668B2 (ja) * | 2016-03-11 | 2020-06-03 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法 |
US10470841B2 (en) * | 2017-03-28 | 2019-11-12 | Steris Inc. | Robot-based rack processing system |
WO2020009214A1 (ja) * | 2018-07-06 | 2020-01-09 | 川崎重工業株式会社 | 基板搬送ロボット及びその制御方法 |
JP7184620B2 (ja) * | 2018-12-11 | 2022-12-06 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
JP7277137B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2023-05-18 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置、および搬送モジュール |
JP7191472B2 (ja) * | 2019-01-25 | 2022-12-19 | 株式会社ディスコ | 加工装置の使用方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6168677B1 (en) * | 1999-09-02 | 2001-01-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Minimum signature isocyanate cured propellants containing bismuth compounds as ballistic modifiers |
JP4056195B2 (ja) * | 2000-03-30 | 2008-03-05 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路装置の製造方法 |
US6451118B1 (en) * | 2000-11-14 | 2002-09-17 | Anon, Inc. | Cluster tool architecture for sulfur trioxide processing |
US6790286B2 (en) | 2001-01-18 | 2004-09-14 | Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. | Substrate processing apparatus |
JP2002217266A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-08-02 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
US20040026036A1 (en) * | 2001-02-23 | 2004-02-12 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP4435443B2 (ja) * | 2001-04-17 | 2010-03-17 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板搬送装置および基板搬送方法 |
US6945258B2 (en) * | 2001-04-19 | 2005-09-20 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus and method |
KR20050044434A (ko) * | 2001-11-13 | 2005-05-12 | 에프 에스 아이 인터내셔날,인코포레이티드 | 초소형전자 기판을 처리하는 감소의 풋프린트 공구 |
EP1454340B1 (en) * | 2001-11-29 | 2006-09-13 | Diamond Semiconductor Group, LLC. | Wafer handling apparatus and method |
JP3916473B2 (ja) * | 2002-01-31 | 2007-05-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
US20060130767A1 (en) * | 2004-12-22 | 2006-06-22 | Applied Materials, Inc. | Purged vacuum chuck with proximity pins |
-
2005
- 2005-09-27 JP JP2005280612A patent/JP4767641B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-09-01 US US11/469,700 patent/US8157496B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-08 TW TW095133234A patent/TWI334189B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-09-15 CN CNB2006101274748A patent/CN100428439C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100428439C (zh) | 2008-10-22 |
TWI334189B (en) | 2010-12-01 |
TW200715454A (en) | 2007-04-16 |
US8157496B2 (en) | 2012-04-17 |
JP2007095831A (ja) | 2007-04-12 |
US20070081881A1 (en) | 2007-04-12 |
CN1941314A (zh) | 2007-04-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4767641B2 (ja) | 基板処理装置および基板搬送方法 | |
US8504194B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate transport method | |
JP4980978B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP5102717B2 (ja) | 基板搬送装置およびこれを備えた基板処理装置 | |
JP6559976B2 (ja) | 基板搬送ロボットおよび基板処理システム | |
JP2009252888A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2011071293A (ja) | プロセスモジュール、基板処理装置、および基板搬送方法 | |
JP4969138B2 (ja) | 基板処理装置 | |
TWI521633B (zh) | 工件搬送系統 | |
JP2004090186A (ja) | クリーン搬送ロボット | |
JP5524304B2 (ja) | 基板処理装置における基板搬送方法 | |
KR100428781B1 (ko) | 웨이퍼 이송 장치 및 그 이송 방법 | |
JP5283770B2 (ja) | 基板搬送装置およびこれを備えた基板処理装置 | |
JP4597810B2 (ja) | 基板処理装置および基板搬送方法 | |
JP2006073835A (ja) | 基板搬送装置およびそれを用いた基板処理装置 | |
JP2020107804A (ja) | 基板処理装置 | |
KR101383248B1 (ko) | 고속 기판 처리 시스템 | |
KR100775696B1 (ko) | 기판처리장치 및 기판반송방법 | |
JP2013165177A (ja) | ストッカー装置 | |
US20240413001A1 (en) | Substrate processing apparatus | |
KR102706681B1 (ko) | 기판 증착 시스템 | |
KR100784954B1 (ko) | 기판 이송 장치 | |
JP2006073834A (ja) | 基板搬送装置およびそれを用いた基板処理装置 | |
JP2003100695A (ja) | 基板洗浄装置 | |
JP4004260B2 (ja) | 基板処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101028 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101222 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110609 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110615 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4767641 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140624 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |