JP4672839B2 - 発光体、構造体及びその製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 25
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 256
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 128
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 37
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 32
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 19
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 14
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PTFCDOFLOPIGGS-UHFFFAOYSA-N Zinc dication Chemical compound [Zn+2] PTFCDOFLOPIGGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 52
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 17
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 16
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 description 9
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 8
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 7
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 6
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 5
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 5
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000000445 field-emission scanning electron microscopy Methods 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 206010021143 Hypoxia Diseases 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- ONDPHDOFVYQSGI-UHFFFAOYSA-N zinc nitrate Chemical compound [Zn+2].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O ONDPHDOFVYQSGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UEZVMMHDMIWARA-UHFFFAOYSA-N Metaphosphoric acid Chemical compound OP(=O)=O UEZVMMHDMIWARA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000000844 anti-bacterial effect Effects 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 229910000085 borane Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- RJTANRZEWTUVMA-UHFFFAOYSA-N boron;n-methylmethanamine Chemical compound [B].CNC RJTANRZEWTUVMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000005090 crystal field Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008204 material by function Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- IFYDWYVPVAMGRO-UHFFFAOYSA-N n-[3-(dimethylamino)propyl]tetradecanamide Chemical compound CCCCCCCCCCCCCC(=O)NCCCN(C)C IFYDWYVPVAMGRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001699 photocatalysis Effects 0.000 description 1
- 239000011941 photocatalyst Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N trihydridoboron Substances B UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は発光体、構造体及びその製造方法に関し、詳しくはナノメーターからサブミクロンサイズの周期構造を有する構造体、特に酸化亜鉛からなる柱状物質が周期配列した発光体、発光素子、レーザー、さらには上記構造を具備する光学素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、酸化亜鉛はワイドギャップ半導体、圧電特性などの特徴から、レーザーやLEDをはじめとする発光素子、蛍光体、導波路、透明電極、圧電素子、光電変換素子、感光材、有害物質の分解、抗菌、などの分野においてを研究が盛んに行われている。たとえば、特開平10−256673号公報において、酸化亜鉛の薄膜から紫外域のレーザー発振が可能であることが示された。
【0003】
一方、半導体の大きさをナノメーターからサブミクロンのサイズまで小さくすることにより、電子の閉じ込めや、表面作用において、特異な電気的、光学的、化学的性質が期待できる。このような観点から酸化亜鉛により、ナノサイズの大きさを有し、さらには結晶性の優れた構造体を、実現をできれば、発光素子、光電変換機能をはじめとする電気的、光学的、化学的性質のさらなる向上が期待できる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来、ナノサイズの大きさを有し結晶性に優れた酸化亜鉛材料を、簡便な手法で作成することは難しかった。
一般にナノサイズの材料を作成する手法として、フォトリソグラフィーをはじめ、電子線露光、X線回折露光などの微細パターン描画技術をはじめとする半導体加工技術による作成があげられる。しかし、これらの手法は、歩留まりの悪さや装置のコストが高いなどの問題があり、簡易な手法で再現性よく作成できる手法が望まれている。
【0005】
また、ナノサイズの微粒子作成手法として、コロイド溶液の塗布と焼成による手法がある。この手法は、比較的簡易であるが、作成される酸化亜鉛の結晶性や微粒子形状などに対して、制御性や再現性に課題がある。
【0006】
ナノメーターサイズの構造を有する酸化亜鉛を構造制御した例としては、上記の特開平10−256673号の公報が挙げられ、50nm程度のサイズの六角柱のナノクリスタル薄膜を用いたときにレーザー発振閾値が低いことが報告された。
【0007】
他には、柱状形状の酸化亜鉛を作製した例として、大気開放型CVDにより酸化亜鉛のウイスカーを基板上に成長させた報告があげられる(“Jpn.J.Appl.Phys.”Vol.38(1999)L586)。ただし、ウイスカーの径が数ミクロン径以上と比較的太い。
【0008】
これらの方法は、基板がサファイア基板に限られること、高温の成長条件を用いること、構造の制御が不十分であることなどの理由から、十分な応用がなされるにはいたっていない。
【0009】
上記を鑑み、本発明の目的は、導電性膜上にナノメーターからサブミクロンサイズで周期構造を有する酸化亜鉛からなる構造体を提供することであり、この構造体を発光体として発光素子をはじめとする光学素子などに応用することである。
また、本発明は、上記の発光体を容易に製造する方法を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の課題は、本発明の以下の構成および製法により解決できる。
すなわち、本発明は、基体と、酸化亜鉛を主成分とする複数の柱状部材とを有し、該柱状部材は実質的に六角柱形状であり、前記基体表面に対し実質的に垂直に配置されてなることを特徴とする発光体である。
【0011】
該基体上に周期的に実質的に垂直に配置された六角柱形状の酸化亜鉛柱を有してなることが好ましい。
該周期的に配置された酸化亜鉛柱の配列周期が、発光波長より小さいことが好ましい。
該酸化亜鉛柱は三角格子状に配列されることが好ましい。
該酸化亜鉛柱は正六角形状の断面を有し、該周期構造の配列方位が、六角柱形状の酸化亜鉛柱の柱中心から頂点方向への向きとほぼ等しいことが好ましい。
該酸化亜鉛柱は正六角形状の断面を有し、該周期構造の配列方位が、六角柱形状の酸化亜鉛柱の柱中心から側面の面中心への向きとほぼ等しいことが好ましい。
該基体は、基板と該基板上の導電性膜からなることが好ましい。
【0012】
該導電性膜は、Pt,CuまたはPdを主成分とすることが好ましい。
該導電性膜は、該基板に対して垂直に111方向に配向しているが好ましい。
該酸化亜鉛柱は、該基体に対して垂直にc軸方向に配向していることが好ましい。
該酸化亜鉛柱は陽極酸化アルミナの細孔内に配されることが好ましい。
【0013】
また、本発明は、基体と、該基体上に周期的に直立して配された六角柱形状の酸化亜鉛柱を有してなることを特徴とする構造体である。
該基体は、基板と該基板上の導電性膜からなることが好ましい。
【0014】
さらに、本発明は、基板上に導電性膜を製膜して基体とする工程と、該基体上に周期的に配列した円状もしくは楕円状の細孔のパターンを形成する工程と、該基体上の細孔に亜鉛イオンを含有する溶液中で酸化亜鉛柱を成長させる工程を有することを特徴とする上記の発光体の製造方法である。
【0015】
該細孔は楕円状であることが好ましい。
該円状もしくは楕円状の細孔のパターンを形成する工程は、基体上に設けたアルミニウムの表面に細孔形成開始点を形成する工程と、該アルミニウムを陽極酸化することで細孔を有する陽極酸化アルミナとする工程を有することが好ましい。
【0016】
本発明により、ナノサイズの大きさを有し、結晶性に優れた酸化亜鉛材料、特にナノサイズの酸化亜鉛柱を作製できる。これにより高性能の発光体とすることができる。特に、数10〜500nm程度の径の、すなわち極細の酸化亜鉛柱を導電性を有する基板上に直立して形成することができる。これにより酸化亜鉛柱と下地電極との電気接続が可能となる。これにより、サファイアを始めとする高価な単結晶基板を使う必要がない。
【0017】
さらには、このように酸化亜鉛柱をサブミクロンのサイズで周期的に配することでフォトニック結晶として光学素子への応用を可能とする。特に、特開平10−256673号公報においても酸化亜鉛柱は六角柱であるが連続膜であり、本発明においては柱状の酸化亜鉛が互いに離れて、周期的に配列している点で異なる。
【0018】
フォトニック結晶は、2種類以上の屈折率(誘電率)の異なる部位を周期的に配列することで、その光学的性質を制御したものである(J.D.Joannnopoulous et al.“Photonic Crystals”Princeton University Press)。この様な媒質は、半導体のバンド形成理論において電子波がブラッグ反射されてエネルギーEと波数kとの分散関係がバンドを形成するのに類推されるように、光においても波長程度の屈折率の周期性がフォトニックバンドを生み出す。さらに、その周期構造によっては、光が存在できない波長領域、すなわちフォトニックバンドギャップが形成される。このようなフォトニックバンドを制御するためには、その構造周期として光の波長程度から光の波長の数分の1のサイズを必要とする。
【0019】
すなわち、本発明において、酸化亜鉛により光の波長以下のサイズの周期構造(フォトニック結晶)を作製し、酸化亜鉛の発光スペクトルや分散特性に対してその周期構造を適宜設計することで、発光素子をはじめとするさまざまな光学素子として応用することが期待できる。特に、フォトニックバンドの群速度が小さいモードや、欠陥構造に伴う局在モードを利用する事で、発光素子の高効率化、レーザー素子の発振の低閾値化、などが可能である。他にも蛍光体として用いる際には蛍光寿命の制御に用いることができる。すなわち、柱状の酸化亜鉛を周期配列してフォトニック結晶として用いる事で、発光素子の高効率化、レーザー素子の発振の低閾値化、などが可能である。他にもフォトニック結晶は、導波路や偏光素子をはじめとする各種光学素子としての応用が期待できる。
【0020】
特に、酸化亜鉛は紫外光のバンド端発光や、酸素欠損や格子間Zn欠陥に伴う緑色発光をする発光材料として使用しうるが、発光波長に対応した周期構造(フォトニック結晶)を適用することで、所望の波長域において高性能の発光素子とすることができる。
【0021】
本発明の酸化亜鉛柱を具備する構造体は、発光素子のほかにも、光電変換素子、光触媒、電界放出型電子放出素子をはじめ、各種電子デバイスやマイクロデバイスなどの機能材料や、構造材料などとして、広い範囲で応用可能である。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の基体上に酸化亜鉛柱を配置した構造体(発光体)について、図1から図3を用いて説明する。
【0023】
<構成>
図1は、本発明の構造体(発光体)の一例を示す概念図である。本発明の発光体は、図1のように、基体2上に直立して発光材料である酸化亜鉛柱1が周期的に配列してなる。
本発明の酸化亜鉛柱1は、酸素と亜鉛を主成分とし、特に六角柱状の構造を有する。
【0024】
図2は、本発明の酸化亜鉛柱を上方から見た形状の例を示す概念図である。六角柱を上方からみると、図2(a)のように正六角形のものをはじめ、図2(b)、(c)のような六角形や、図2(d)のような角の丸い六角形などが挙げられる。
【0025】
図3は本発明の酸化亜鉛柱を示す斜視図である。図3(a)のように正六角柱のもの、図3(b)のように六角柱のもの、図3(c)のように六角柱の角が丸いもの、図3(d)に示すように先端が錘状の形状を有するものなどが挙げられる。
【0026】
本発明の酸化亜鉛柱は、多結晶、単結晶、アモルファスなどの任意の結晶構造を有することができるが、発光能に優れる構造が好ましく、結晶性に優れるもの、特に単結晶が好ましい。後述の酸化亜鉛の製膜条件及び下地基板を適当に選択することで、基板に対してc軸を上向きに向け、配向に優れた酸化亜鉛を成長できる。特に、c軸を上向きにした六角柱状の酸化亜鉛を成長することができる。さらに言えば、酸化亜鉛柱の質、すなわち結晶性やc軸配向などの観点から、6角形柱状となるような条件で作製することが好ましくい。このような観点から、本発明の酸化亜鉛からなる六角柱においては、六角柱の高さ方向にc軸方向とすることができること、さらには六角柱の単結晶となることが好ましい。
【0027】
また、このような6角形状の酸化亜鉛柱、基体に対して方向性を有して配する酸化亜鉛柱から構成されることが好ましく、たとえば基体に対して実質的に垂直に形成できる。
【0028】
酸化亜鉛柱の形状、サイズは作成条件に依存するが、太さは数nm〜数μmであり、長さは数10nm〜数10μm、アスペクト比は1から200程度の範囲である。
【0029】
本発明における酸化亜鉛の組成は、酸素と亜鉛を主成分とすれば特に限定されない。また、B,Al,Ga,In,N,P,Asなどをドープすることでキャリア極性、キャリア密度などを制御することができる。さらに、酸素欠損や希土類をはじめとする不純物の導入により発光準位を制御することもできる。
【0030】
基体2としては、サファイア基板、Si基板、GaN基板、ZnO基板などの任意の単結晶基板や石英ガラスをはじめとするガラス基板、さらにはこれらの基板の上に任意の薄膜を形成したものを用いることができる。このような基板3上に直接、酸化亜鉛柱1を配しても良いが、下地に導電性膜4を配することが、導電性膜を電極とし電気的な接続を可能とし、ガラス基板など安価な基板を用いることができるので好ましい。
【0031】
また、上述の酸化亜鉛柱を基体上に2次元配列して構成することでフォトニック結晶とすることができる。フォトニック結晶は、先に説明したように、2種類以上の屈折率(誘電率)の異なる部位を周期的に配列させた構造から構成される。このようなフォトニックバンドを制御するためには、その構造周期として光の波長程度から光の波長の数分の1のサイズを必要とする。
【0032】
本発明の発光体、すなわち酸化亜鉛を周期的に配したフォトニック結晶においては、その紫外域から可視域の発光を制御するためには100〜400nm程度の周期構造を必要とする。本発明においては、周期構造により生じたフォトニックバンド構造により発光波長における状態密度の減少や分散関係の異方性などで効果が現れるが、フォトニックバンドギャップが開いていることがより好ましい。2次元フォトニック結晶の周期構造としては、正方配列や三角格子配列などがあげられるが、フォトニックバンドギャップが開くという観点から、図4に示すように、6方向対称でハニカム状に規則的に配列した三角格子配列の構造が好ましい。このような三角格子配列に、六角柱の酸化亜鉛柱を適用すると、配列の方位と六角柱の面内方位を制御することで、その対称性が一致することからより好ましい。たとえば、図4(a)のように三角格子10の周期方向11を六角柱(形)の中心12と頂点13を結ぶ方向が一致する配列や、図4(b)のように六角柱(形)の中心14と側面(辺)の面中心15の方向と一致させることで、フォトニックバンド構造の異方性の増強や、結晶場と輻射場の方位が合うことに伴う電子−光相互作用を増強を可能とする。これにより、たとえば発光素子として用いる場合には、発光効率向上や、発光異方性の増強が可能である。
【0033】
<作製方法>
次に、本発明の酸化亜鉛からなる発光体(構造体)の製造方法について説明する。
本発明の酸化亜鉛柱の作製方法としては、MBE法、レーザー蒸着法、CVD法、溶液中成長法、スパッタ法、真空蒸着法などがあげられるが、簡易で低コストであり良質の酸化亜鉛柱を成長可能な溶液中成長プロセスが好ましい。
【0034】
すなわち、本発明の酸化亜鉛柱の作製方法としては、亜鉛イオンを有する溶液からの析出を用いることが好ましい。溶液中での酸化亜鉛成長を用いることで安価に大面積の上記構造体を作製することができる。たとえば図10に示すような反応装置を用い、硝酸亜鉛とDMAB(ジメチルアミンボラン)の水溶液からなる反応溶液32中に、試料31を浸すことで、酸化亜鉛膜を形成することが可能である。濃度、温度など適当な条件を選ぶこと、適当な基体を用いることで上述のような酸化亜鉛柱を成長させることができる。この際、紫外光34の照射を行うこともできる。
【0035】
また、基板表面に、触媒としてPd、Pt,Cu,Ag,Au,Rh,Irなどの貴金属元素やNi,Fe,Coなどの鉄族元素を付与することで、触媒付与部に選択的に酸化亜鉛を成長させることができる。触媒の付与方法としては、上記触媒イオンを含有する溶液に浸すことや、触媒となる元素からなる膜を製膜することなどがあげられる。ただし、酸化亜鉛柱の方向を基板に直立させるために、導電性膜として触媒となりうる材料の連続膜を製膜した基体を用いることが好ましい。たとえば、Pt、Pd、Cuなどの貴金属の連続膜を製膜することがあげられる。このように平坦な貴金属を主成分とした膜を有した基体を用いることで、酸化亜鉛柱を基板に略垂直に直立したものとすることができるので好ましい。さらに、この貴金属基板がたとえば111方位などに配向していることが、酸化亜鉛柱の形状ばらつきや密度ばらつきを少なくする点やから好ましい。
【0036】
この貴金属膜は、酸化亜鉛柱を成長後、酸化亜鉛柱に電流を供給する(電位を印加する)電極として用いることができる。これにより、図1のように、基体2と、基体に対して方向性を有して配する酸化亜鉛柱1から構成されることを特徴とする構造体とすることができる。
【0037】
本発明の、酸化亜鉛柱を周期的に配列する手法として、まず電子線露光とエッチングの技術を適用したパターニング手法を用いることが挙げられる。これには、あらかじめ基体上に所望のパターンを作製し後、酸化亜鉛柱を成長することが挙げられる。たとえば周期的な細孔をパターニングした後に上述の液中成長を行うことで、それぞれの細孔から酸化亜鉛柱を成長させることができる。
【0038】
しかしこのような手法は、パターニング形成において歩留まりの悪さや装置のコストが高いなどの問題があるため、以下のように自然に形成される規則的なナノ構造を用いる事が好ましい。たとえば、陽極酸化アルミナ皮膜などが挙げられる。陽極酸化アルミナは、陽極酸化という簡易な手法で大面積にわたるアスペクトの高い2次元周期構造すなわち、2Dフォトニック結晶を作製できるため最も好ましい。また、その周期サイズは作製条件により数10から500nmの範囲で制御できるため、可視から紫外域においてフォトニック結晶の作製に有用である。
【0039】
また、また陽極酸化アルミナを適用した製法を適用することで、簡易な製法で安価にナノメータサイズで柱状の酸化亜鉛を作製できる。
【0040】
以下に陽極酸化アルミナナノホールについて説明する。
陽極酸化アルミナナノホールはAl膜やアルミ箔、アルミ板などをある特定の酸性溶液中で陽極酸化することにより作製される(たとえばR.C.Furneaux,W.R.Rigby & A.P.Davidson“NATURE”Vol.337、P147(1989)等参照)。図8に陽極酸化アルミナナノホールの概略図を示す。この陽極酸化アルミナ層52は、Alと酸素を主成分とし、多数の円柱状のナノホール(細孔)53を有し、そのナノホール53は、基体の表面にほぼ垂直に配置し、それぞれのナノホールは互いに平行かつほぼ等間隔に配置している。すなわち、第1の誘電部位(アルミナ)の中に、柱状形状の第2の誘電部位(中空)が、ハニカム状に規則的に2次元に配列した構造(2次元フォトニック結晶としての構造)を有する。アルミナナノホールの直径2rは数nm〜数100nm、間隔2Rは数10nm〜数100nm程度であり、陽極酸化条件により制御可能である。また、アルミナナノホール層52の厚さ、ナノホールの深さは、陽極酸化時間などで制御することができる。これはたとえば10nm〜500μmの間である。アルミナナノホールの細孔径2rはエッチングにより広げることが可能である。これにはりん酸溶液などが利用可能である。
【0041】
また、2段陽極酸化法や、Al表面にハニカム状の凹凸(細孔開始点)を形成してから陽極酸化する方法により、細孔配列を規則化する事ができる。(益田:“OPTRONICS”No.8(1998)211頁参照)
細孔開始点を形成する手法としては、スタンパーを用いる手法や、FIBを照射する手法などが挙げられる。
【0042】
本発明の、六角柱形状の酸化亜鉛柱の面内方向、すなわち、a−b軸方位を制御するためには、パターニングの形を六角形状にすることや単結晶基板を用い、その方位と周期構造の方位をあわせておくことなどで実現できる。他にも、円状のパターン(細孔)を用いる場合には、パターンの形状を楕円状のパターン(細孔)としておくことで、ある程度の方位を決めることができる。陽極酸化アルミナを適用する際の、その細孔形状は、後述の細孔開始点の形状、配列パターン、陽極酸化条件などの作製条件である程度の形状制御が可能である。
【0043】
【実施例】
以下に実施例をあげて、本発明を説明する。
【0044】
実施例1および比較例1,2
本実施例はMBEによる酸化亜鉛の成長と、電子線露光を用いたパターニングにより六角柱の酸化亜鉛が三角格子配列して形成した例である。
【0045】
まず、脱脂洗浄したc面サファイア基板上に、厚さ200nmの酸化亜鉛膜をMBE法でエピタキシャル成長させた。MBE法においてはZn金属とRF(高周波)酸素ラジカル源を用い、真空中で650℃の予備加熱後、Zn分圧1×10-4Pa(1×10-6torr),O2 流量0.3ml/min(0.3ccm),RFパワー300W、基板温度550℃の条件下でZnOの成長を行った。
【0046】
引き続き、レジスト膜形成、電子ビーム露光、現像により、レジストによるマスクパターンを形成した。マスクパターンは六角形が配列した図4(a)に示すような形状であり、約200nm径の六角形が三角格子状に0.3μmの周期で配列してある。また、マスクパターンの周期構造が酸化亜鉛膜の[1−2 1]方向となるようにした。引き続き、NH4 OHとH2 O2 からなるエッチャントで酸化亜鉛をウエットエッチし、さらにレジストを有機溶剤で除去した。
【0047】
また、比較例1として、パターニングを行わないで製膜した酸化亜鉛膜を用意した。
また、比較例2として、マスクパターンが六角形でなく円形のものを用意した。
【0048】
(評価)
本実施例1の試料をFE−SEM観察により露光パタンに準じて六角柱の酸化亜鉛柱が三角格子配列で形成されていることを確認した。酸化亜鉛柱サイズは160nmで六角形の角はやや丸みを帯びているが、正六角形状であった。一方で比較例1は平坦な膜であった。また、比較例2では円柱状の酸化亜鉛が配列して形成されていた。TEM観察より、サファイア基板上にエピ成長していることが確認された。
【0049】
He−Cdレーザーを励起源(励起波長325nm)としたフォトルミネッセンスの測定により、本実施例及び比較例のサンプルにおいて、波長385nmのバンド間発光と、酸素欠損に伴う波長500〜550nm付近の緑色発光を確認した。
【0050】
本実施例1の試料は、比較例1の試料に比べて発光スペクトルは紫外域の発光が主となっており、緑色発光が抑制されていた。周期的な構造によりフォトニックバンドギャップが形成されることにより、緑色発光が抑制されたと考えることができる。
また、本実施例1の試料は、比較例2の試料に比べてフォトルミネッセンスの強度が若干大きかった。六角形の形状の周期配列による効果と考えることができる。
【0051】
実施例2および比較例3
本実施例は、電子線露光によるパターニングと、溶液プロセスで酸化亜鉛を選択成長させた例である。
図5は本実施例の発光体の作製工程を示す図である。以下、図5を用いて説明する。
【0052】
工程a)
シリコン基板からなる基板3上に下地導電性膜4としてRFスパッタによりPd膜を100nmの厚さに製膜した。下地導電性膜の製膜条件は、111配向の優れる条件が好ましく、たとえばPd膜を製膜する際には、RFパワー150W、アルゴンガス圧0.7Pa(5mtorr)の条件を用いた。ここでは、RFスパッタを用いたが製膜にはスパッタ法、CVD法、真空蒸発法などに任意の製膜方法が適用可能である。(図5(a)参照)
【0053】
工程b)
引き続き、レジスト膜、電子ビーム露光、現像により、円形開口が三角格子状に配列したレジストのレジストマスク7を形成した。開口のサイズは50〜400nmの範囲、開口の間隔(周期)は100〜500nmの範囲でさまざまな開口径及び配列周期のパターンを形成した。(図5(b)参照)
【0054】
工程c)
図10に示す装置を用い、試料を0.05MZnNO3 、0.05Mジメチルアミンボラン水溶液からなる反応溶液32中で浴温度60℃で、高圧水銀ランプで紫外線を照射する条件下で、酸化亜鉛柱1を成長させた。処理時間は30minである。これにより、酸化亜鉛膜が導電性膜上に選択成長する。(図5(c)参照)
【0055】
工程d)
最後に、レジストマスクを有機溶媒で溶解した。(図5(d)参照)
【0056】
比較例3として、導電性膜上にレジストマスクを形成せず、酸化亜鉛を成長させたものを用意した。
【0057】
(評価)
本実施例2の試料をFE−SEM観察により、円形のマスクパタンの中に開口サイズに応じて、図9(a)に一例を示すように、六角柱の酸化亜鉛柱が三角格子配列で形成されていることを確認した。六角柱の形は、図3(a)から(c)のものが混在していたが、六角形の角の形は比較的先鋭であった。たとえば、300nm開口のレジストマスクを用いた場合には、六角柱のサイズ200〜250nm程度であり、高さは500nm程度であった。X線回折より、酸化亜鉛がc軸配向が確認された。
【0058】
比較例3おいても、六角柱状の酸化亜鉛が成長していたが、図9(b)に示すようにそのサイズのばらつきが大きく、位置はランダムであった。
また、この際、111配向した下地導電膜を用いることで、c軸に優れ六角柱状のZnOを成長することができた。
【0059】
また、特に、適当なマスクの開口サイズを用いた際に、六角柱の径の形状、サイズの均一性に優れ、正六角柱に近い形状の酸化亜鉛が多く成長する傾向が見られた。本実施例においては、開口径として400nm程度が望ましく、その際のZnO六角柱の径は、300nm程度であった。
【0060】
He−Cdレーザーを励起源としたフォトルミネッセンスの測定により、 本実施例2及び比較例3の両サンプルにおいて、波長385nmのバンド間発光と波長500〜550nm付近の緑色発光を確認した。マスク開口径200nm、周期250nmの試料においては、比較例3の試料に比べて発光スペクトルは紫外域の発光が主となっており、緑色発光が抑制されていた。フォトニックバンドギャップが形成されることにより、緑色発光が抑制されたと考えることができる。
【0061】
マスク開口径200nm、周期250nmの試料を用い、YAG第3高調波で励起しフォトルミネッセンスの測定を行い、液体窒素温度において、レーザー発振閾値を評価したところ、本実施例3の方が、比較例3に比べてレーザー発振閾値が低かった。本実施例3においては、フォトニック結晶としての群速度低下の効果によりレーザー発振閾値の低下がはかられたものと考える。
【0062】
実施例3,4
本実施例は、下地導電性膜にPt(実施例3)、及びCu(実施例4)を用いた以外は、実施例2と同様である。
【0063】
実施例2においてはマスク開口径が400nm程度において、酸化亜鉛柱の形状均一性が優れたが、下地導電膜としてPtを用いた本実施例においては開口径として200nm程度を用いた際に形状均一性が望ましく、下地導電膜としてCuを用いた際には開口径として100nm程度を用いた場合に好ましかった。それぞれにおいて、ZnO六角柱の径は150nm、60nm程度であった。すなわち、下地導電性膜を適切なものを選ぶことで、さまざまなサイズにおいて形状均一性に優れた酸化亜鉛柱を成長させることができた。
【0064】
本実施例3においてマスク開口径200nm、周期250nmの試料を用い、YAG第3高調波で励起しフォトルミネッセンスの測定を行い、液体窒素温度において、レーザー発振閾値を評価したところ、本実施例3の方が、実施例2に比べて閾値が低かった。
【0065】
さらに本実施例4においてマスク開口径100nm、周期150nmの試料を用い、He−Cdレーザーを励起源としたフォトルミネッセンスの測定をおこなったところ実施例2に比べて、フォトルミネッセンスの強度が強かった。
【0066】
実施例5
本実施例は、マスクパタンを円形状のかわりに楕円形状とした以外は実施例3と同様である。楕円の長短軸比は3:4とした。
【0067】
本実施例においては、図9(c)のように、六角柱の向きが、中心軸と頂点を結ぶ方向を楕円開口の長軸方向にあわせる傾向が見られた。すなわち、酸化亜鉛柱が六角柱が向きをそろえて配列していた。X線回折より、酸化亜鉛のc軸配向、面内配向が確認された。
本実施例の試料のフォトルミネッセンス強度を評価したところ、実施例3に比べて若干高かった。
【0068】
実施例6
酸化亜鉛柱の配列形成のために、陽極酸化アルミナを用いた例である。
図6および図7は本実施例の発光体の作製工程を示す図である。以下、図6および図7を用いて説明する。
【0069】
工程a)
石英ガラスからなる基板3上に下地導電性膜4としてRFスパッタによりPd膜を100nmの厚さに製膜後、さらにDCスパッタによりアルミ膜8を1μm製膜した。下地導電性膜の製膜条件は、111配向の優れる条件が好ましく、たとえば、RFパワー150W、アルゴンガス圧0.7Pa(5mtorr)の条件を用いた。ここでは、RFスパッタ及びDCスパッタを用いたが製膜には、CVD法、真空蒸発法などに任意の製膜方法が適用可能である。(図6(a)参照)
【0070】
工程b)
次に、陽極酸化の前工程として、アルミの表面に陽極酸化の細孔開始点9となるよう凹凸を作製しておく。この表面加工により、アルミナの細孔配列を規則的なものとする事ができる。この凹凸は、陽極酸化アルミナの細孔配列に対応して、ハニカム状に形成されていることがアスペクト比の大きいナノホールを作製するうえで好ましい。この細孔開始点(凹部)の形成方法としては、集束イオンビーム(FIB)を照射する手法、AFMを始めとするSPMを用いて行う手法、特開平10−121292号公報で開示されたプレスパターニングを用いて凹みを作成する手法、レジストパターン作成後エッチングにより凹みを作る手法などを用いることが挙げられる。
【0071】
これらの中でも、集束イオンビーム照射を用いる手法は、レジスト塗布、電子ビーム露光、レジスト除去といったような手間のかかる工程は不必要であり、直接描画で所望の位置に短時間で細孔開始点を形成することが可能であることや、被加工物に圧力をかける必要がないので、機械的強度が強くない被加工物に対しても適用可能であるなどの観点から特に好ましい。
【0072】
本実施例においてはGaの集束イオンビームを照射することで用い、200nm間隔のハニカム配列にドット状の開始点を形成した。ここで集束イオンビーム加工のイオン種はGa,加速電圧は30kV、イオンビーム径は100nm、イオン電流は300pA、各ドットの照射時間は10msecとした。(図6(b)参照)
【0073】
工程c)
次に、上記アルミ膜を陽極酸化法することにより陽極酸化アルミナ5作製する。図11中、40は恒温槽であり、41は試料、42はPt板のカソード、43は電解質、44は反応容器であり、45は陽極酸化電圧を印加する電源、46は陽極酸化電流を測定する電流計、47は試料ホルダーである。図では省略してあるが、このほか電圧、電流を自動制御、測定するコンピュータなどが組み込まれている。試料41およびカソード42は、恒温水槽により温度を一定に保たれた電解質中に配置され、電源より試料、カソード間に電圧を印加することで陽極酸化が行われる。陽極酸化に用いる電解質は、たとえば、シュウ酸、りん酸、硫酸、クロム酸溶液などが挙げられる。
【0074】
アルミナナノホールの細孔間隔すなわち構造周期は、陽極酸化電圧とほぼ次式(1)の相関を有するため、開始点配列(間隔)に対応して陽極酸化電圧を設定する事が望ましい。
【0075】
【数1】
【0076】
アルミナナノホールの厚さは、アルミ膜の膜厚や陽極酸化の時間によって制御する事ができる。たとえば全膜厚をすべてアルミナナノホールに置換する事や、所望のアルミ膜を残す事もできる。
【0077】
さらにアルミナナノホール層を酸溶液(たとえばりん酸溶液)中に浸す処理(ポアワイド処理)により、適宜ナノホール径を広げることができる。酸濃度、処理時間、温度を制御することにより所望のナノホール径を有するアルミナナノホールとすることができる。
【0078】
本実施例においては、陽極酸化の電解液として0.3Mリン酸浴を用い、80Vの陽極酸化を行った。ポアワイド処理として、25℃のりん酸溶液5wt.%中に80分浸すことでナノホール径を約160nmに広げた。(図7(c)参照)
【0079】
工程d)
実施例2と同様な手法で細孔の底から酸化亜鉛柱1を成長させた。ただし、ZnNO3 の濃度を0.02Mとし、浴温度は70℃、反応時間は2時間とした。
(図7(d)参照)
(評価)
本実施例6の試料をFE−SEM観察により陽極酸化アルミナの細孔の中に細孔サイズに準じて六角柱の酸化亜鉛柱が三角格子配列で形成されていることを確認した。六角柱の形は、図3(a)から(c)のものが混在していたが、六角形の角の形は比較的先鋭であった。
【0080】
また、本実施例6の酸化亜鉛柱は高さが1μm程度有しており、アスペクト比の高い酸化亜鉛柱を配列形成することができた。
また、簡易な手法で、大面積の配列パターンを形成することができた。
【0081】
He−Cdレーザーを励起源としたフォトルミネッセンスの測定により、両サンプルにおいて、波長385nmのバンド間発光と波長500〜550nm付近の緑色発光を確認した。
【0082】
本実施例6の試料は、比較例3の試料に比べて発光スペクトルは紫外域の発光が主となっており、緑色発光が抑制されていた。フォトニックバンドギャップが形成されることにより、緑色発光が抑制されたと考えることができる。
【0083】
本実施例6の試料を、He雰囲気中で400℃、1時間の熱処理を行い、さらに100nm厚さ相当量のAgを蒸着した後、真空装置内に設置し、10-6Paまで排気後、液体窒素温度まで冷却し、対向したLaB6 からなる電子銃より電子を放出させ、加速電圧10〜50keVに加速された電子ビームを照射すると、390nm付近の紫外域においてレーザー発振させることができた。レーザー発振閾値として10〜15A/cm2 程度であった。
【0084】
一方、比較例3において同様な評価を行ったところ、発振閾値として20〜40A/cm2 程度であった。
本実施例6の発光体を用いる事で、閾値電流密度の低減が図られた。さらに、レーザー発振波長幅が狭く、レーザー発振モード数が低減されていた。本実施例においては、群速度低下の効果によりレーザー発振閾値の低下がはかられたものと考える。
【0085】
実施例7
本実施例2乃至実施例4で作製した試料を、2%H2 と98%Heの還元雰囲気中で600℃、10minの熱処理を行うことで、酸化亜鉛柱における酸素組成量を減じ、導電率を高めた後、電子放出能を評価した。
【0086】
試料を真空装置内に設置し、10-6Paまで排気後、対向したアノード板に電圧を印可することで電子放出量を評価した。アノードと試料間の距離は2mm、電圧は5kVとした。実施例4のCuを下地に用い、もっとも細い径の酸化亜鉛柱を配列形成した試料の電子放出能がもっとも優れ、電子放出量は4μA/cm2 程度であった。
すなわち、本実施例の手法により、ナノサイズの酸化亜鉛柱が配列した電子放出素子を作製できることがわかった。
【0087】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明により、以下の効果がある。
本発明の発光体および構造体によれば、
1)基体上に、結晶性に優れ、ナノサイズの径を有する酸化亜鉛柱を配置することで、高効率の発光体とすることができた、
2)さらには、このように酸化亜鉛柱をサブミクロンのサイズで周期的に配置することでフォトニック結晶として発光素子を始めとする光学素子への応用を可能とする、
効果がえられた。
【0088】
また、本発明の製造方法によれば、
3)溶液中での酸化亜鉛成長を用いることで安価に大面積の上記構造体を作製することができる、
4)また陽極酸化アルミナを適用した製法を適用することで、簡易な製法で安価に基体上に周期的に柱状の酸化亜鉛を配置した構造体を作製できた、
効果がえられた。
【0089】
本発明の酸化亜鉛柱を用いた発光体は、蛍光体、表示装置などに用いることができる。さらには、本発明の酸化亜鉛柱は、電子デバイスやマイクロデバイスなどの機能材料や構造材料などとして、広い範囲で利用可能であり、特に機能材料の例としては光電変換素子、光触媒素子、電子放出材料などが挙げられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の酸化亜鉛柱を配置した発光体(構造体)を示す概念図である。
【図2】本発明の酸化亜鉛柱を示す概念図である。
【図3】本発明の酸化亜鉛柱を示す斜視図である。
【図4】本発明の発光体における酸化亜鉛柱の配列を示す概念図である。
【図5】本発明の実施例2の発光体の作製工程を示す工程図である。
【図6】本発明の実施例6の陽極酸化アルミナを用いた発光体の作製工程を示す工程図である。
【図7】本発明の実施例6の陽極酸化アルミナを用いた発光体の作製工程を示す工程図である。
【図8】本発明における陽極酸化アルミナを示す概略図である。
【図9】本発明の実施例2,比較例3,実施例5の酸化亜鉛柱の構造の一例を示す図である。
【図10】本発明の溶液プロセスによる酸化亜鉛成長装置を示す概略図である 。
【図11】陽極酸化装置を示す概略図である。
【符号の説明】
1 酸化亜鉛柱
2 基体
3 基板
4 導電性膜
5 陽極酸化アルミナ
6 細孔
7 レジストマスク
8 アルミ膜
9 細孔開始点
10 三角格子
11,16 周期方向
12,14 六角柱(形)の中心
13 頂点
15 面中心
30 恒温槽
31 試料
32 反応溶液
33 反応容器
34 紫外光
40 恒温槽
41 試料
42 カソード
43 電解質
44 反応容器
45 電源
46 電流計
47 試料ホルダー
51 アルミ(膜)
52 陽極酸化アルミナ
53 細孔(ナノホール)
54 バリア層
Claims (12)
- 基体と、酸化亜鉛を主成分とする複数の柱状部材とを有し、該柱状部材は、実質的に六角柱形状であり、且つ、前記基体表面に対し実質的に垂直に互いに離れて配置されおり、該柱状部材は、実質的に周期的に配置されていることを特徴とする発光体。
- 該周期的に配置された酸化亜鉛柱の配列周期が、発光波長より小さいことを特徴とする請求項1に記載の発光体。
- 該酸化亜鉛柱は三角格子状に配列されることを特徴とする請求項1または2に記載の発光体。
- 該酸化亜鉛柱は実質的に正六角形状の断面を有し、該周期構造の配列方位が、六角柱形状の酸化亜鉛柱の柱中心から頂点方向への向きとほぼ等しいことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかの項に記載の発光体。
- 該周期構造の配列方位が、六角柱形状の酸化亜鉛柱の柱中心から側面の面中心への向きとほぼ等しいことを特徴とする請求項1乃至3に記載の発光体。
- 該基体は、基板と該基板上の導電性膜からなることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかの項に記載の発光体。
- 該導電性膜は、Pt,CuまたはPdを主成分とすることを特徴とする請求項6に記載の発光体。
- 該導電性膜は、該基板に対して垂直に111方向に配向していることを特徴とする請求項7に記載の発光体。
- 該酸化亜鉛柱は、該基体に対して垂直にc軸方向に配向していることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかの項に記載の発光体。
- 該酸化亜鉛柱は陽極酸化アルミナの細孔内に配されることを特徴とする請求項1乃至9のいずれかの項に記載の発光体。
- 基板上に導電性膜を製膜して基体とする工程と、該基体上に周期的に配列した楕円状の細孔のパターンを形成する工程と、該基体上の細孔に亜鉛イオンを含有する溶液中で酸化亜鉛柱を成長させる工程を有することを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載の発光体の製造方法。
- 該楕円状の細孔のパターンを形成する工程は、基体上に設けたアルミニウムの表面に細孔形成開始点を形成する工程と、該アルミニウムを陽極酸化することで細孔を有する陽極酸化アルミナとする工程を有することを特徴とする請求項11に記載の発光体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000270302A JP4672839B2 (ja) | 2000-09-06 | 2000-09-06 | 発光体、構造体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000270302A JP4672839B2 (ja) | 2000-09-06 | 2000-09-06 | 発光体、構造体及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002084037A JP2002084037A (ja) | 2002-03-22 |
JP4672839B2 true JP4672839B2 (ja) | 2011-04-20 |
Family
ID=18756762
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000270302A Expired - Fee Related JP4672839B2 (ja) | 2000-09-06 | 2000-09-06 | 発光体、構造体及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4672839B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100458162B1 (ko) * | 2002-03-02 | 2004-11-26 | 학교법인 포항공과대학교 | 양자 우물 또는 초격자 구조를 가지는 산화아연계 나노선 |
JP3848303B2 (ja) * | 2002-06-07 | 2006-11-22 | キヤノン株式会社 | 構造体、機能性構造体及び磁気記録媒体の製造方法 |
JP4025738B2 (ja) | 2004-03-05 | 2007-12-26 | 国立大学法人京都大学 | 2次元フォトニック結晶 |
JP2006041498A (ja) * | 2004-06-24 | 2006-02-09 | Showa Denko Kk | 反射性正極およびそれを用いた窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 |
JP4297358B2 (ja) | 2004-08-30 | 2009-07-15 | 国立大学法人京都大学 | 2次元フォトニック結晶及びそれを用いた光デバイス |
KR101129094B1 (ko) * | 2005-05-26 | 2012-03-23 | 엘지이노텍 주식회사 | 로드형 발광 소자 및 그의 제조방법 |
EP1727216B1 (en) * | 2005-05-24 | 2019-04-24 | LG Electronics, Inc. | Rod type light emitting diode and method for fabricating the same |
KR20070021671A (ko) | 2005-08-19 | 2007-02-23 | 서울옵토디바이스주식회사 | 나노막대들의 어레이를 채택한 발광 다이오드 및 그것을제조하는 방법 |
US7511343B2 (en) * | 2006-10-12 | 2009-03-31 | Xerox Corporation | Thin film transistor |
WO2008079076A1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-07-03 | Qunano Ab | Led with upstanding nanowire structure and method of producing such |
JP5247109B2 (ja) * | 2007-10-05 | 2013-07-24 | パナソニック株式会社 | 半導体発光装置およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光装置の製造方法 |
JP5334925B2 (ja) * | 2010-07-26 | 2013-11-06 | 株式会社東芝 | 発光素子 |
JP2017028251A (ja) * | 2015-07-23 | 2017-02-02 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 波長変換部材、光源装置、照明装置車両、および波長変換部材の製造方法 |
JP7422496B2 (ja) * | 2019-06-21 | 2024-01-26 | 古河機械金属株式会社 | 構造体、光デバイス、光デバイスの製造方法、構造体の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000031462A (ja) * | 1998-03-27 | 2000-01-28 | Canon Inc | ナノ構造体とその製造方法、電子放出素子及びカ―ボンナノチュ―ブデバイスの製造方法 |
-
2000
- 2000-09-06 JP JP2000270302A patent/JP4672839B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000031462A (ja) * | 1998-03-27 | 2000-01-28 | Canon Inc | ナノ構造体とその製造方法、電子放出素子及びカ―ボンナノチュ―ブデバイスの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002084037A (ja) | 2002-03-22 |
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