JP4631537B2 - Sensor circuit of capacitive physical quantity sensor - Google Patents
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Description
本発明は、容量式のセンシング部から送られる容量で示された検出信号を電圧値にC−V変換するチャージアンプ回路を備えた容量式物理量センサのセンサ回路に関するものである。 The present invention relates to a sensor circuit of a capacitive physical quantity sensor including a charge amplifier circuit that CV converts a detection signal indicated by a capacitance sent from a capacitive sensing unit into a voltage value.
従来より、ジャイロセンサ等のように左右一対の振動子が備えられた容量式物理量センサが知られている。この容量式物理量センサに用いられるセンサ回路では、例えば、各振動子それぞれの容量で示された検出信号をチャージアンプ回路で電圧変換させたのち、差動増幅回路によって電圧変換後のそれぞれの検出信号の差動出力を得て、その後、同期検波回路等やローパスフィルタおよび零点・感度温度特性調整回路を通過させることでセンサ出力を得ている(非特許文献1参照)。 Conventionally, a capacitive physical quantity sensor provided with a pair of left and right vibrators such as a gyro sensor is known. In the sensor circuit used in this capacitance type physical quantity sensor, for example, the detection signal indicated by the capacitance of each vibrator is converted by the charge amplifier circuit, and then each detection signal after voltage conversion by the differential amplifier circuit is performed. After that, the sensor output is obtained by passing through a synchronous detection circuit or the like, a low-pass filter, and a zero / sensitivity temperature characteristic adjustment circuit (see Non-Patent Document 1).
このような容量式物理量センサに備えられるチャージアンプ回路を構成するためには、高抵抗なフィードバック抵抗が必要となる。このため、チャージアンプ回路が作り込まれるIC内にフィードバック抵抗を構成するMOS抵抗を形成し、このMOS抵抗を使用して高抵抗を作り出している。 In order to configure a charge amplifier circuit provided in such a capacitive physical quantity sensor, a high resistance feedback resistor is required. For this reason, a MOS resistor constituting a feedback resistor is formed in an IC in which a charge amplifier circuit is formed, and a high resistance is created using this MOS resistor.
図5は、従来のチャージアンプ回路の回路図である。この図に示されるように、検出信号が反転入力端子に入力され、基準電圧が非反転入力端子に入力されるオペアンプJ1と、このオペアンプJ1の出力端子と反転入力端子との間に接続されたコンデンサJ2とが備えられている。そして、このコンデンサJ2に対して並列的にMOS抵抗J3が備えられた構成となっている。 FIG. 5 is a circuit diagram of a conventional charge amplifier circuit. As shown in this figure, an operational amplifier J1 in which a detection signal is input to an inverting input terminal and a reference voltage is input to a non-inverting input terminal is connected between the output terminal and the inverting input terminal of the operational amplifier J1. Capacitor J2 is provided. A MOS resistor J3 is provided in parallel with the capacitor J2.
MOS抵抗J3は、コンデンサJ2に対して並列的に接続された2つのMOSトランジスタJ4、J5と、これら各MOSトランジスタJ4、J5の間に接続されたコンデンサJ6と、MOSトランジスタJ4、J5と互いのゲートが接続されたMOSトランジスタJ7と、定電流値を変化させられる定電流源J8とを備えて構成されている。そして、コンデンサJ6とMOSトランジスタJ7のドレインには、オペアンプJ1における非反転入力端子に入力される基準電圧が印加されている。 The MOS resistor J3 includes two MOS transistors J4 and J5 connected in parallel to the capacitor J2, a capacitor J6 connected between the MOS transistors J4 and J5, and the MOS transistors J4 and J5. A MOS transistor J7 having a gate connected thereto and a constant current source J8 capable of changing a constant current value are configured. A reference voltage input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier J1 is applied to the drains of the capacitor J6 and the MOS transistor J7.
このように構成されるチャージアンプ回路は、定電流源J8の引っ張る定電流値を変化させることで、MOSトランジスタJ4、J5およびコンデンサJ6によって形成される抵抗の抵抗値を変化させることができるため、これにより所望の高抵抗が形成される。
上記のように構成される従来の容量式物理量センサのセンサ回路において、センサ回路への電源投入直後に、MOS抵抗J3における2つのMOSトランジスタJ4、J5の間の電位を一定状態にするには、MOS抵抗J3を低抵抗状態にするという手法を用いることができる。 In the sensor circuit of the conventional capacitance type physical quantity sensor configured as described above, in order to make the potential between the two MOS transistors J4 and J5 in the MOS resistor J3 constant immediately after turning on the power to the sensor circuit, A technique of bringing the MOS resistance J3 into a low resistance state can be used.
図6は、センサ回路への電源投入直後における各部の様子を示したタイミングチャートである。 FIG. 6 is a timing chart showing the state of each part immediately after the power supply to the sensor circuit is turned on.
上記のようにMOS抵抗J3を低抵抗状態とする場合、まず、電源の電圧が第1のしきい値Vref1を超えており、かつ、センサ回路中の昇圧電源の電圧が第2のしきい値Vref2を超えているかがコンパレータ等によって判定される。そして、図6に示されるように、電源の電圧が第1のしきい値Vref1を超え、かつ、昇圧電源の電圧も第2のしきい値Vref2を超えていると、図示しないカウンタによってカウントが開始され、そのカウント値が所望の値に至ったときに、MOS抵抗J3の抵抗値が低抵抗状態から高抵抗状態に切り替えられるようになっている。具体的には、定電流源J8で作成する電流Iの値を変化させることで、MOS抵抗J3の抵抗値を変えている。 When the MOS resistor J3 is set to the low resistance state as described above, first, the voltage of the power supply exceeds the first threshold value Vref1, and the voltage of the boosted power supply in the sensor circuit is the second threshold value. Whether it exceeds Vref2 is determined by a comparator or the like. Then, as shown in FIG. 6, when the voltage of the power supply exceeds the first threshold value Vref1 and the voltage of the boosted power supply also exceeds the second threshold value Vref2, the counter is not counted. When the count value reaches a desired value, the resistance value of the MOS resistor J3 is switched from the low resistance state to the high resistance state. Specifically, the resistance value of the MOS resistor J3 is changed by changing the value of the current I created by the constant current source J8.
しかしながら、低抵抗状態とは言え、MOS抵抗J3の抵抗値は数M(メガ)Ω程度あるため、一旦はチャージアンプ回路の出力が安定するまでの時間が短縮化されるとしても、MOS抵抗J3における2つのMOSトランジスタJ4、J5の間の電位が変動してしまい、その変動の影響によりチャージアンプ回路の出力が不安定状態に戻ってしまう。このため、結局、チャージアンプ回路の出力が安定な自励状態になるまでの時間が長くなるという問題が発生する。 However, even though the resistance state is low, the resistance value of the MOS resistor J3 is about several M (mega) Ω. Therefore, even if the time until the output of the charge amplifier circuit is stabilized is shortened, the MOS resistor J3 The potential between the two MOS transistors J4 and J5 fluctuates, and the output of the charge amplifier circuit returns to an unstable state due to the fluctuation. As a result, there arises a problem that the time until the output of the charge amplifier circuit becomes a stable self-excited state becomes long.
これに対して、本発明者らは、図6で示したチャージアンプ回路中のオペアンプJ1の出力端子と反転入力端子との間にスイッチを備え、MOS抵抗J3における2つのMOSトランジスタJ4、J5の間の電位を一定状態にするために、スイッチを投入することでオペアンプJ1の入出力を短絡させる手法を見出した。 On the other hand, the present inventors have a switch between the output terminal and the inverting input terminal of the operational amplifier J1 in the charge amplifier circuit shown in FIG. 6, and the two MOS transistors J4 and J5 in the MOS resistor J3. In order to make the potential between them constant, a technique was found in which the input and output of the operational amplifier J1 are short-circuited by turning on a switch.
しかしながら、このようにスイッチを投入しただけでは、MOS抵抗J3が高抵抗状態となっているため、チャージアンプ回路中に存在するRとCの時定数が大きく、MOS抵抗J3における2つのMOSトランジスタJ4、J5の間の電位が安定化するまでに時間が掛かる。 However, since the MOS resistor J3 is in a high resistance state simply by turning on the switch in this way, the time constants of R and C existing in the charge amplifier circuit are large, and the two MOS transistors J4 in the MOS resistor J3. , J5 takes time to stabilize.
このため、スイッチを投入するだけでなく、それと同時にMOS抵抗J3を低抵抗状態するという手法についても検討を行った。 For this reason, not only the switch was turned on, but also a method of simultaneously setting the MOS resistance J3 in a low resistance state was examined.
しかしながら、このような手法を採用した場合にも、スイッチを投入すると同時にMOS抵抗J3を低抵抗状態から高抵抗状態に戻すと、スイッチがOFF状態でMOS抵抗J3が高抵抗状態となっているため、結局、上述したスイッチを備えずにMOS抵抗J3を低抵抗状態から高抵抗状態に切り替える場合と同様の状態となり、チャージアンプ回路の出力が安定な自励状態になるまでの時間が長くなるという問題が発生する。 However, even when such a method is adopted, if the MOS resistor J3 is returned from the low resistance state to the high resistance state at the same time as the switch is turned on, the switch is turned off and the MOS resistor J3 is in the high resistance state. Eventually, the state becomes similar to the case where the MOS resistor J3 is switched from the low resistance state to the high resistance state without providing the above-described switch, and the time until the output of the charge amplifier circuit becomes a stable self-excited state becomes longer. A problem occurs.
本発明は上記点に鑑みて、MOS抵抗における2つのMOSトランジスタの間の電位を短時間で安定化できるセンサ回路を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a sensor circuit capable of stabilizing the potential between two MOS transistors in a MOS resistor in a short time.
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、チャージアンプ回路(31、32)に、検知信号が反転入力端子に入力されると共に所定の基準電圧が非反転入力端子に入力されるオペアンプ(41)と、オペアンプ(41)の反転入力端子と出力端子との間に接続された第1コンデンサ(42)と、第1コンデンサ(42)に対して並列接続され、低抵抗状態と高抵抗状態との抵抗値の切替えが行えるように構成されたMOS抵抗(43)と、第1コンデンサ(42)に対して並列接続され、外部から入力されるリフレッシュ信号によってオンされるように構成されたスイッチ(49)とを備える。そして、電源の電圧と第1のしきい値(Vref1)とを比較すると共に、昇圧電源の電圧と第2のしきい値(Vref2)とを比較し、さらに、MOS抵抗(43)の抵抗値の切替えを制御する制御部(60)を備え、制御部(60)にて、電源投入直後には、スイッチ(49)をONさせると共にMOS抵抗(43)を低抵抗状態とし、電源の電圧が第1のしきい値(Vref1)を超え、かつ、昇圧電源の電圧が第2のしきい値(Vref2)を超えたときに、スイッチ(49)をOFFさせ、次いで、MOS抵抗(43)を低抵抗状態から高抵抗状態に切替えるようになっていることを特徴としている。 In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, the detection signal is input to the inverting input terminal and the predetermined reference voltage is input to the non-inverting input terminal in the charge amplifier circuit (31, 32). The operational amplifier (41), the first capacitor (42) connected between the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier (41), and the first capacitor (42) connected in parallel, A MOS resistor (43) configured to be able to switch the resistance value between the high resistance state and the first capacitor (42) are connected in parallel and are turned on by a refresh signal input from the outside. Switch (49). Then, the voltage of the power supply is compared with the first threshold value (Vref1), the voltage of the boosted power supply is compared with the second threshold value (Vref2), and the resistance value of the MOS resistor (43) is further compared. The control unit (60) controls the switching of the switch, and immediately after the power is turned on by the control unit (60), the switch (49) is turned on and the MOS resistor (43) is set in the low resistance state so that the voltage of the power source When the first threshold value (Vref1) is exceeded and the voltage of the boost power supply exceeds the second threshold value (Vref2), the switch (49) is turned off, and then the MOS resistor (43) is turned on. It is characterized by switching from a low resistance state to a high resistance state.
このように、センサ回路への電源投入直後に、スイッチ(49)をONさせると共に、MOS抵抗(43)を低抵抗状態にしている。そして、電源の電圧が第1のしきい値(Vref1)を超え、かつ、昇圧電源の電圧が第2しきい値(Vref2)を超えると、スイッチ(49)をOFFするようにしている。このように、MOS抵抗(43)が低抵抗状態とされている状態でスイッチ(49)をOFFさせるようにしているため、チャージアンプ回路(31、32)の出力が安定するまでの時間が短縮化される。
Thus, immediately after the sensor circuit is powered on, the switch (49) is turned on and the MOS resistor (43) is in a low resistance state. When the power supply voltage exceeds the first threshold value (Vref1) and the boosted power supply voltage exceeds the second threshold value (Vref2), the switch (49) is turned off. As described above, since the switch (49) is turned off while the MOS resistor (43) is in the low resistance state, the time until the output of the charge amplifier circuit (31, 32) is stabilized is set. It is shortened.
そして、その後、スイッチ(49)がOFFされてから例えば所定時間後にMOS抵抗(43)の抵抗値が低抵抗状態から高抵抗状態に切替えられるようにしている。これにより、2つのMOSトランジスタの間の電位の変動を抑制でき、チャージアンプ回路(21、31、32)の出力が安定な自励状態になるまでの時間を短くすることが可能となる。 Then, after the switch (49) is turned off, the resistance value of the MOS resistor (43) is switched from the low resistance state to the high resistance state, for example, after a predetermined time. As a result, the potential fluctuation between the two MOS transistors can be suppressed, and the time until the output of the charge amplifier circuit (21, 31, 32) becomes a stable self-excited state can be shortened.
例えば、MOS抵抗(43)としては、請求項2に示されるように、第1コンデンサ(42)に対して並列接続された第1、第2MOSトランジスタ(44、45)と、第1、第2MOSトランジスタ(44、45)の間に接続された第2コンデンサ(46)と、第1、第2MOSトランジスタ(44、45)と互いのゲートが接続された第3MOSトランジスタ(47)と、第3MOSトランジスタ(47)のソース−ドレイン間に流れる電流を制御する定電流源(48)とを備えた構成のものが採用される。 For example, as the MOS resistor (43), as shown in claim 2, the first and second MOS transistors (44, 45) connected in parallel to the first capacitor (42), and the first and second MOS transistors A second capacitor (46) connected between the transistors (44, 45), a first MOS transistor (44, 45), a third MOS transistor (47) connected to each other gate, and a third MOS transistor A configuration having a constant current source (48) for controlling the current flowing between the source and drain of (47) is employed.
この場合、制御部(60)は、定電流源(48)の定電流値を制御することでMOS抵抗(43)の抵抗値の切替えを行うことになる。 In this case, the control unit (60) switches the resistance value of the MOS resistor (43) by controlling the constant current value of the constant current source (48).
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。 In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each said means shows the correspondence with the specific means as described in embodiment mentioned later.
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(第1実施形態)
本発明の一実施形態を適用した容量式物理量センサのセンサ回路のブロック構成を図1に示す。以下、この図を参照して本実施形態におけるセンサ回路について説明する。
(First embodiment)
FIG. 1 shows a block configuration of a sensor circuit of a capacitive physical quantity sensor to which an embodiment of the present invention is applied. Hereinafter, the sensor circuit according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
図1に示されるように、振動子10と、駆動回路20と、ヨー検出回路30とが備えられ、これらによりセンサ回路が構成されている。
As shown in FIG. 1, a vibrator 10, a
振動子10は、センシング手段に相当するもので、駆動用およびヨー検出用のセンサエレメント(図示せず)を備えており、駆動用のセンサエレメントが駆動振動を行っている際にヨーが発生すると、コリオリ力によって一対で構成された検出用のセンサエレメントが振動するようになっている。この振動子10は、一対の検出用のセンサエレメントそれぞれでの振動に応じた出力(第1、第2検知信号)を発生させると共に、駆動用のセンサエレメントが的確に駆動振動しているかを検出するために駆動振動に応じた出力を発生させるようになっている。 The vibrator 10 corresponds to a sensing means, and includes a sensor element (not shown) for driving and detecting yaw, and when yaw is generated when the driving sensor element is performing driving vibration. The sensor element for detection composed of a pair is vibrated by the Coriolis force. The vibrator 10 generates outputs (first and second detection signals) corresponding to vibrations in each of the pair of detection sensor elements, and detects whether the drive sensor element is accurately driven and vibrated. Therefore, an output corresponding to the drive vibration is generated.
駆動回路20は、振動子10における駆動用センサエレメントを振動させるためのものである。この駆動回路20には、センサ駆動に必要な高電圧(例えば20V)を作る昇圧回路21、チャージアンプ回路22、位相シフタ23および振幅一定制御部24が含まれている。
The
昇圧回路21は、外部から供給される所定の電源の電圧(例えば5V)を昇圧することで振動子10における駆動用のセンサエレメントを振動させるための電圧(昇圧電源)を形成するもので、駆動用のセンサエレメントを所定振幅かつ所定周波数で駆動するために、電源の電圧を昇圧し、所定の周波数の電圧を駆動信号として駆動用のセンサエレメントに対して出力する。具体的には、チャージアンプ回路22を介してフィードバックされる駆動信号と振幅一定制御部24からの信号に基づいて、昇圧回路21が発生させる駆動信号を調整するようになっている。
The step-up
チャージアンプ回路22は、振動子10から、振動子10における駆動用のセンサエレメントの駆動振動に応じた検知信号(以下、駆動振動検知信号という)を受け取り、それを電圧変換するものである。このチャージアンプ回路22での電圧変換後の駆動振動検知信号が昇圧回路21、振幅一定制御部24および位相シフタ23に入力されるようになっている。
The
位相シフタ23は、駆動信号の位相を調整するためのものである。上記したように昇圧回路21により駆動振動検知信号に基づいて駆動信号が形成されることになるため、駆動振動検知信号の位相が実際に駆動用のセンサエレメントに出力したい駆動信号の位相とずれている。この位相のズレを修復するために、駆動振動検知信号の位相を調整し、駆動信号の位相に合わせなければならない。このため、位相シフタ23によって、駆動振動検知信号の位相が補正され、その結果、それに基づいて形成される駆動信号の位相が調整されるようになっている。これにより、駆動信号の周波数がfdとされる。
The
振幅一定制御部24は、駆動振動検知信号から現在の駆動用のセンサエレメントの振幅を検知すると共に、その振幅が一定となるように補正するための信号を昇圧回路21に出力するものである。
The constant
また、ヨー検出回路30は、振動子10の検出信号に基づいてセンサ出力を得るためのものである。このヨー検出回路30には、2つのチャージアンプ回路31、32と、差動増幅回路33と、同期検波回路34、LPF35および0点・感度温特調整回路36が備えられている。
The
2つのチャージアンプ回路31、32は、一対の振動子10それぞれから、検出用センサエレメントに対してヨーが加わったときに発生する振動に応じた検知信号(以下、ヨー検知信号という)を受け取り、それを電圧変換するものである。これら各チャージアンプでの電圧変換後のヨー検知信号が差動増幅回路33に入力されるようになっている。
The two
差動増幅回路33は、各チャージアンプ回路31、32で電圧変化されたヨー検知信号の差動出力を発生させるものである。この差動増幅回路33の差動出力が同期検波回路34に入力されるようになっている。この差動増幅回路33の差動出力は、直流成分となる所定のオフセット電圧を含む交流信号となる。
The
同期検波回路34は、位相シフタ23によって調整された位相に基づいて、差動増幅回路33の差動出力から周波数fdと同期する成分を通過させ、LPF35に出力するものである。
The
LPF35は、同期検波回路34を通過後の信号のうち、所定周波数以下の成分のみを抽出するものである。
The
0点・感度温特調整回路36は、LPF35を通過した後の信号にも、出力オフセットや感度の温度特性が含まれていることから、それを調整するものであり、この0点・感度温特調整回路36で調整された後の信号がセンサ出力として用いられる。
The zero point / sensitivity temperature
次に、駆動回路20と、ヨー検出回路30とに備えられた上記チャージアンプ回路22、31、32の具体的な構成について説明する。図2は、これらチャージアンプ回路22、31、32の回路図を示したものである。なお、これらチャージアンプ回路22、31、32は、すべて同様の回路構成となっている。
Next, specific configurations of the
図2に示されるように、チャージアンプ回路22、31、32には、検出信号が反転入力端子に入力され、基準電圧が非反転入力端子に入力されるオペアンプ41と、このオペアンプの出力端子と反転入力端子との間に接続されたコンデンサ42とが備えられている。そして、このコンデンサ42に対して並列的にフィードバック抵抗を構成するMOS抵抗43が備えられた構成となっている。
As shown in FIG. 2, in the
MOS抵抗43は、コンデンサ42に対して並列的に接続された2つのMOSトランジスタ44、45と、これら各MOSトランジスタ44、45の間に接続されたコンデンサ46と、MOSトランジスタ44、45と互いのゲートが接続されたMOSトランジスタ47と、定電流値を変化させられる定電流源48とを備えて構成されている。そして、コンデンサ46とMOSトランジスタ47のドレインには、オペアンプ41における非反転入力端子に入力される基準電圧が印加されている。
The MOS resistor 43 includes two
さらに、本実施形態のチャージアンプ回路22、31、32には、コンデンサ42と並列的にスイッチ49が備えられている。このスイッチ49は、チャージアンプ回路22、31、32の外部からのON/OFF信号によって駆動されるようになっており、ON/OFF信号がONさせることを示す内容であった場合にONするようになっている。
Furthermore, the
また、本実施形態の容量式物理量センサのセンサ回路には、図3に示すように、制御部60が備えられている。この制御部60は、スイッチのON/OFF信号を発生させたり、定電流源48の定電流値を設定したりなど、センサ回路に用いられる各種制御信号を出力するものである。
In addition, the sensor circuit of the capacitive physical quantity sensor of this embodiment includes a
例えば、制御部60は、図3に示されるように、各チャージアンプ回路22、31、32中のMOS抵抗43における2つのMOSトランジスタ44,45の間の電位を安定状態にするために、電源の電圧を第1しきい値Vref1と比較するコンパレータ61と、昇圧回路20で形成される昇圧電源の電圧を第2のしきい値Vref2と比較するコンパレータ62からの出力信号を受け取るようになっている。そして、電源の電圧が第1のしきい値Vref1を超えているような状況下において、昇圧電源の電圧が第2のしきい値Vref2を超えた場合に、制御部60に備えられたカウンタにてカウントが開始され、所定期間経過後にスイッチ49をOFFさせることを示すON/OFF信号が出力されるようになっており、それまでの間はスイッチ49をONさせることを示すON/OFF信号が出力されるようになっている。
For example, as shown in FIG. 3, the
以上のような構造により、容量式物理量センサのセンサ回路が構成されている。このような構成のセンサ回路において、各チャージアンプ回路22、31、32は、以下のように動作するようになっている。
The sensor circuit of the capacitive physical quantity sensor is configured by the above structure. In the sensor circuit having such a configuration, each of the
まず、チャージアンプ回路22、31、32は、電源投入時には、定電流源48にてMOSトランジスタ47から電流Iが引っ張られ、MOSトランジスタ44、45がオンされる。そして、定電流源48の引っ張る定電流値を変化させることで、MOSトランジスタ44、45およびコンデンサ46によって形成される抵抗の抵抗値を変化させられ、MOS抵抗43で構成されるフィードバック抵抗が所望の高抵抗とされる。
First, in the
一方、制御部60から各チャージアンプ回路22、31、32にON/OFF信号が入力されると、ON/OFF信号に示される内容に応じてスイッチ49のON、OFFが切り替えられる。
On the other hand, when an ON / OFF signal is input from the
すなわち、ON/OFF信号がスイッチ49をONさせることを示していた場合には、それによってスイッチ49がONとなり、オペアンプ41にてバッファ(ボルテージホロワ)回路を構成することになる。また、ON/OFF信号がスイッチ49をOFFさせることを示した場合には、それによってスイッチ49がOFFになり、MOS抵抗43による高抵抗がオペアンプ41の出力端子と反転入力端子との間に備えられた回路が構成される。
In other words, when the ON / OFF signal indicates that the
したがって、チャージアンプ回路22、31、32は、センサ回路への電源投入直後には、ON/OFF信号によるスイッチ49のON、OFFの切替え、および、上述したMOS抵抗43の抵抗値変化に基づいて、次のような動作が行われる。図4を参照して、この動作について説明する。
Therefore, the
図4は、この動作中におけるセンサ回路の各部の様子を示したタイミングチャートである。この図に示されるように、電源投入直後には、電源の電圧が第1のしきい値Vref1を超えておらず、かつ、昇圧回路20で形成される昇圧電源の電圧も第2のしきい値Vref2を超えていない。この状態の時に、まず、定電流源48の定電流値を調整することでMOS抵抗43が低抵抗状態にされると共に、スイッチ49がONされる。これにより、オペアンプ41にてバッファ回路が構成される。
FIG. 4 is a timing chart showing the state of each part of the sensor circuit during this operation. As shown in this figure, immediately after the power is turned on, the voltage of the power supply does not exceed the first threshold value Vref1, and the voltage of the boosted power supply formed by the
次に、電源の電圧が第1のしきい値Vref1を超え、かつ、昇圧電源の電圧が第2のしきい値Vref2を超えると、その時点から制御部60におけるカウンタでのカウントが開始される。続いて、カウンタでのカウント値が所定値に至り、カウンタでのカウント開始から所定時間が経過すると、まず、制御部60からスイッチ49をOFFさせることを示すON/OFF信号が出力され、スイッチ49がOFFされる。このとき、まだMOS抵抗43が低抵抗状態とされているため、チャージアンプ回路22、31、32の出力が安定するまでの時間が短縮化される。
Next, when the voltage of the power supply exceeds the first threshold value Vref1 and the voltage of the boosted power supply exceeds the second threshold value Vref2, counting by the counter in the
そして、チャージアンプ回路22、31、32の出力が安定化したことを見計らって、例えば制御部60に備えられたカウンタによってカウントされることで、スイッチ49がOFFされてから所定時間後にMOS抵抗43の抵抗値を低抵抗状態から高抵抗状態に切替えられる。このように、チャージアンプ回路22、31、32の出力が安定化したことを見計らってMOS抵抗43の抵抗値を低抵抗状態から高抵抗状態に切替えることで、MOS抵抗43における2つのMOSトランジスタ44、45の間の電位の変動を抑制でき、チャージアンプ回路21、31、32の出力が安定な自励状態になるまでの時間を短くすることが可能となる。
Then, in anticipation that the outputs of the
以上説明したように、本実施形態では、オペアンプ41の反転入力端子と出力端子との間に接続されるコンデンサ42に対し、スイッチ49を並列接続し、このスイッチ49をONさせることで、オペアンプ41にてバッファ回路が構成される構造としている。
As described above, in this embodiment, the
そして、センサ回路への電源投入直後に、まずスイッチ49をONさせると共に、MOS抵抗43を低抵抗状態にし、電源の電圧が第1のしきい値Vref1を超え、かつ、昇圧電源の電圧が第2しきい値Vref2を超えたときに、スイッチ49をOFFし、その後、MOS抵抗43を低抵抗状態から高抵抗状態に切替えるようにしている。
Immediately after the power supply to the sensor circuit is turned on, the
これにより、チャージアンプ回路22、31、32の出力が安定するまでの時間を短縮化することが可能となる。
Thereby, it is possible to shorten the time until the outputs of the
(他の実施形態)
上記実施形態では、C−V変換を行うチャージアンプ回路22、31、32が備えられたセンサ回路として、ジャイロセンサを例に挙げて説明したが、容量値によって検出信号を発生する容量式物理量センサであれば、他のセンサに関しても本発明を適用することが可能である。
(Other embodiments)
In the above embodiment, the gyro sensor has been described as an example of the sensor circuit including the
また、上記実施形態では、1つの制御部60にて、MOS抵抗43の抵抗値の切替えや定電流源48の定電流値の制御を行うようにしているが、必ずしも1つの制御部60によって行わなければならない訳ではない。すなわち、制御部が複数あっても構わない。
In the above-described embodiment, the
10…振動子、20…駆動回路、22…チャージアンプ回路、30…ヨー検出回路、
31、32…チャージアンプ回路、41…オペアンプ、42…コンデンサ、
43…MOS抵抗、44、45…MOSトランジスタ、46…コンデンサ、
47…MOSトランジスタ、48…定電流源、49…スイッチ、50…基板、
60…制御部、61、62…コンパレータ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Vibrator, 20 ... Drive circuit, 22 ... Charge amplifier circuit, 30 ... Yaw detection circuit,
31, 32 ... Charge amplifier circuit, 41 ... Operational amplifier, 42 ... Capacitor,
43 ... MOS resistor, 44, 45 ... MOS transistor, 46 ... capacitor,
47 ... MOS transistor, 48 ... constant current source, 49 ... switch, 50 ... substrate,
60: Control unit, 61, 62: Comparator.
Claims (2)
電源の電圧に基づいて、前記センシング部(10)の駆動用電源となる昇圧電源を形成する昇圧回路(21)と、
前記検知信号を電圧変換するチャージアンプ回路(31、32)とを有し、
前記チャージアンプ回路(31、32)の出力に基づいて、センサ出力となる信号を発生させるように構成され、
前記チャージアンプ回路(31、32)に、
前記検知信号が反転入力端子に入力されると共に所定の基準電圧が非反転入力端子に入力されるオペアンプ(41)と、
前記オペアンプ(41)の反転入力端子と出力端子との間に接続された第1コンデンサ(42)と、
前記第1コンデンサ(42)に対して並列接続され、低抵抗状態と高抵抗状態との抵抗値の切替えが行えるように構成されたMOS抵抗(43)と、
前記第1コンデンサ(42)に対して並列接続され、制御部(60)からの信号によりON/OFFを切替えが行えるように構成されたスイッチ(49)とを備えてなる容量式物理量センサのセンサ回路であって、
前記電源の電圧と第1のしきい値(Vref1)とを比較すると共に、前記昇圧電源の電圧と第2のしきい値(Vref2)とを比較し、さらに、前記MOS抵抗(43)の抵抗値の切替えを制御する制御部(60)を有し、
前記制御部(60)は、
電源投入直後には、前記スイッチ(49)をONさせると共に前記MOS抵抗(43)を低抵抗状態とし、
前記電源の電圧が前記第1のしきい値(Vref1)を超え、かつ、前記昇圧電源の電圧が前記第2のしきい値(Vref2)を超えたときに、前記スイッチ(49)をOFFさせ、
次いで、前記MOS抵抗(43)を低抵抗状態から高抵抗状態に切替えるようになっていることを特徴とする容量式物理量センサのセンサ回路。 A sensing unit (10) for outputting a detection signal indicated by a capacitance value corresponding to a physical quantity;
A step-up circuit (21) that forms a step-up power source that serves as a driving power source for the sensing unit (10) based on the voltage of the power source;
A charge amplifier circuit (31, 32) for converting the detection signal into a voltage;
Based on the output of the charge amplifier circuit (31, 32), a signal serving as a sensor output is generated,
In the charge amplifier circuit (31, 32),
An operational amplifier (41) in which the detection signal is input to the inverting input terminal and a predetermined reference voltage is input to the non-inverting input terminal;
A first capacitor (42) connected between an inverting input terminal and an output terminal of the operational amplifier (41);
A MOS resistor (43) connected in parallel to the first capacitor (42) and configured to switch a resistance value between a low resistance state and a high resistance state;
A sensor of a capacitive physical quantity sensor comprising a switch (49) connected in parallel to the first capacitor (42) and configured to be able to be switched ON / OFF by a signal from the control unit (60). A circuit,
The voltage of the power supply is compared with the first threshold value (Vref1), the voltage of the boosted power supply is compared with the second threshold value (Vref2), and the resistance of the MOS resistor (43) is further compared. A control unit (60) for controlling switching of values;
The control unit (60)
Immediately after the power is turned on, the switch (49) is turned on and the MOS resistor (43) is set to a low resistance state.
When the voltage of the power supply exceeds the first threshold value (Vref1) and the voltage of the boosted power supply exceeds the second threshold value (Vref2), the switch (49) is turned off. ,
Next, a sensor circuit of a capacitive physical quantity sensor, wherein the MOS resistor (43) is switched from a low resistance state to a high resistance state.
前記第1コンデンサ(42)に対して並列接続された第1、第2MOSトランジスタ(44、45)と、
前記第1、第2MOSトランジスタ(44、45)の間に接続された第2コンデンサ(46)と、
前記第1、第2MOSトランジスタ(44、45)と互いのゲートが接続された第3MOSトランジスタ(47)と、前記第3MOSトランジスタ(47)のソース−ドレイン間に流れる電流を制御する定電流源(48)とを備えており、
前記制御部(60)は、前記スイッチ(49)のON/OFFの切替えを行う機能と、前記定電流源(48)の定電流値を制御することで前記MOS抵抗(43)の抵抗値の切替えを行う機能と、を有している特徴とする請求項1に記載の容量式物理量センサのセンサ回路。 The MOS resistor (43) is
First and second MOS transistors (44, 45) connected in parallel to the first capacitor (42);
A second capacitor (46) connected between the first and second MOS transistors (44, 45);
The first and second MOS transistors (44, 45), a third MOS transistor (47) whose gates are connected to each other, and a constant current source for controlling the current flowing between the source and drain of the third MOS transistor (47) ( 48) and
The controller (60) controls the ON / OFF of the switch (49) and the resistance value of the MOS resistor (43) by controlling the constant current value of the constant current source (48). capacitive sensor circuit of the physical quantity sensor according to claim 1, wherein it has a function of performing switching to the.
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04268804A (en) * | 1991-02-22 | 1992-09-24 | Hitachi Ltd | Analog signal level shift circuit |
JPH10267759A (en) * | 1997-03-26 | 1998-10-09 | Matsushita Electric Works Ltd | Piezoelectric type infrared ray detecting device |
JP2001249151A (en) * | 2000-03-02 | 2001-09-14 | Denso Corp | Capacity detection circuit |
JP2002174520A (en) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Kinseki Ltd | Oscillation circuit and angular velocity sensor using the same |
JP2006119029A (en) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Denso Corp | Charge amplifying circuit |
JP2006220454A (en) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Denso Corp | Sensor circuit for capacitance type physical quantity sensor |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04268804A (en) * | 1991-02-22 | 1992-09-24 | Hitachi Ltd | Analog signal level shift circuit |
JPH10267759A (en) * | 1997-03-26 | 1998-10-09 | Matsushita Electric Works Ltd | Piezoelectric type infrared ray detecting device |
JP2001249151A (en) * | 2000-03-02 | 2001-09-14 | Denso Corp | Capacity detection circuit |
JP2002174520A (en) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Kinseki Ltd | Oscillation circuit and angular velocity sensor using the same |
JP2006119029A (en) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Denso Corp | Charge amplifying circuit |
JP2006220454A (en) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Denso Corp | Sensor circuit for capacitance type physical quantity sensor |
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