JP4627650B2 - Radiation measuring instrument - Google Patents
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Description
本発明は放射線測定器に関し、特に、静電気ノイズによる影響を除去又は軽減するための技術に関する。 The present invention relates to a radiation measuring instrument, and more particularly to a technique for removing or reducing the influence of electrostatic noise.
サーベイメータなどの放射線測定器では、一般に、一連の測定値に対する移動平均処理(平滑化処理)が適用される。すなわち、現在から過去に遡った移動平均期間内の複数の測定値が用いられ、それらに対して波形を滑らかにするあるいはバックグランドノイズを抑圧する移動平均処理が適用される。このような処理により、リアルタイム表示される表示値(指示値)にノイズが直接的に現れて、表示値が大きく変動することが防止されている。下記の特許文献1及び特許文献2には、移動平均期間を状況に応じて動的に設定することが記載されている。
In a radiation measuring instrument such as a survey meter, generally, a moving average process (smoothing process) for a series of measurement values is applied. That is, a plurality of measurement values within a moving average period that goes back from the present to the past are used, and a moving average process that smoothes the waveform or suppresses background noise is applied to them. By such processing, it is possible to prevent the noise from appearing directly in the display value (indication value) displayed in real time and the display value from fluctuating greatly.
電離箱を利用した放射線測定器は一般に静電気による影響を受けやすい。例えば、静電気が電離箱に流れると、電離箱に印加している直流電圧がふらつき、その影響が電離箱の出力信号に現れる。そこで、リアルタイム表示している表示値に静電気の影響ができる限り表れないようすることが望まれ、また、上記の移動平均処理の対象に静電気による波形が取り込まれないようにすることが望まれる。 Radiation measuring instruments using ionization chambers are generally susceptible to static electricity. For example, when static electricity flows through the ionization chamber, the DC voltage applied to the ionization chamber fluctuates, and the effect appears in the output signal of the ionization chamber. Therefore, it is desirable to prevent the influence of static electricity from appearing as much as possible on the display value displayed in real time, and it is desirable to prevent a waveform due to static electricity from being taken into the object of the moving average process.
下記の特許文献3には、放射線測定において、パルス幅を基準としてノイズ除去を行うことが記載されている。下記の特許文献4には、放射線測定において、ソフトウエア処理を用いて波形の面積を利用してノイズを除去することが記載されている。しかし、特許文献1〜4のいずれにも効果的な静電気対策については記載されていない。
Patent Document 3 below describes that noise removal is performed with reference to the pulse width in radiation measurement. Patent Document 4 below describes that, in radiation measurement, noise is removed using the area of a waveform using software processing. However, none of
本発明の目的は、放射線の測定において、静電気による影響を除外又は軽減することにある。 An object of the present invention is to eliminate or reduce the influence of static electricity in the measurement of radiation.
本発明の他の目的は、リアルタイム表示されている表示値に静電気の影響ができる限り表れないようにすることにある。 Another object of the present invention is to prevent the influence of static electricity from appearing as much as possible on the display value displayed in real time.
本発明の他の目的は、静電気に相当する測定値が移動平均処理対象から除外されるようにして、静電気発生後においてその静電気の影響が残存することを防止又は軽減することにある。 Another object of the present invention is to prevent or reduce the influence of static electricity from remaining after the occurrence of static electricity so that the measurement value corresponding to static electricity is excluded from the moving average processing target.
本発明は、放射線の測定により各時刻の測定値を出力する測定値出力手段と、移動平均期間内の複数の測定値に対して移動平均処理を行うことにより、各時刻の移動平均値を求める移動平均処理手段と、前記各時刻の移動平均値を監視し、静電気に起因する固有波形における第1波形部分を検出する第1波形部分検出手段と、前記各時刻の移動平均値を順次監視し、静電気に起因する固有波形における第1波形部分に続く第2波形部分を検出する第2波形部分検出手段と、前記第1波形部分に続いて前記第2波形部分が検出された場合に、前記固有波形に相当する期間内において得られた複数の測定値をその後の移動平均処理の対象から除外する除外処理を実行する除外処理手段と、を含むことを特徴とする。 The present invention obtains a moving average value at each time by performing a moving average process on a plurality of measured values within a moving average period and a measured value output means for outputting a measured value at each time by measuring radiation. A moving average processing means, a moving average value at each time, a first waveform portion detecting means for detecting a first waveform portion in a characteristic waveform caused by static electricity, and a moving average value at each time are sequentially monitored. A second waveform portion detecting means for detecting a second waveform portion following the first waveform portion in the intrinsic waveform caused by static electricity, and when the second waveform portion is detected following the first waveform portion, And an exclusion processing means for performing an exclusion process for excluding a plurality of measurement values obtained within a period corresponding to the natural waveform from the target of the subsequent moving average process.
上記構成において、測定値出力手段は望ましくは電離箱部として構成されるが、他の測定機器であってもよい。移動平均期間は固定期間あるいは可変期間であり、例えば、測定値のばらつきや分散などを基礎として移動平均期間が適応的に設定されるのが望ましい。静電気に起因するノイズ(静電気ノイズ)の波形は固有の形態を有し、上記構成では、その固有波形の第1波形部分と第2波形部分を個別的に検出することによって、適切な除外処理等を達成できる。各波形部分の検出を各時刻の測定値(移動平均処理前の値)を基礎として行うことも可能であるが、測定値がバックグランドレベルにおいてかなり激しく変動し、そのような状況下では静電気ノイズを明確に認識できないおそれがあるために、移動平均処理後の移動平均値を基礎として各波形部分の検出が行われる。 In the above configuration, the measurement value output means is preferably configured as an ionization chamber, but may be another measurement device. The moving average period is a fixed period or a variable period. For example, it is desirable that the moving average period is adaptively set on the basis of variations or dispersion of measured values. The waveform of noise caused by static electricity (electrostatic noise) has a specific form, and in the above configuration, by appropriately detecting the first waveform portion and the second waveform portion of the specific waveform, appropriate exclusion processing, etc. Can be achieved. Although it is possible to detect each waveform part based on the measured value at each time (value before moving average processing), the measured value fluctuates considerably in the background level, and in such a situation, electrostatic noise Therefore, each waveform portion is detected based on the moving average value after the moving average process.
上記構成によれば、第1波形部分に続いて第2波形部分が検出された場合には真の信号ではなく静電気ノイズであると判断され、その静電気ノイズに相当する期間内に存在する複数の測定値がその後の移動平均処理の対象から除外される。よって、その除外処理により、静電気ノイズの影響により移動平均処理を適正に行えない問題を解消できる。換言すれば、静電気ノイズの発生後におけるその影響の残存を強制的に排除できる。除外処理は単に複数の測定値を除外するものであってもよいが、その除外後にダミー値を挿入するものであってもよい。上記構成においては、第1波形部分の検出に加えて第2波形部分の検出を併用しているので正確な除外処理を行える。 According to the above configuration, when the second waveform portion is detected subsequent to the first waveform portion, it is determined that the noise is not a true signal but electrostatic noise, and a plurality of pieces existing within a period corresponding to the electrostatic noise are detected. The measured value is excluded from the subsequent moving average process. Therefore, the exclusion process can solve the problem that the moving average process cannot be performed properly due to the influence of electrostatic noise. In other words, it is possible to forcibly eliminate the remaining effects after the occurrence of electrostatic noise. The exclusion process may simply exclude a plurality of measurement values, or may insert a dummy value after the exclusion. In the above configuration, since the detection of the second waveform portion is used in addition to the detection of the first waveform portion, accurate exclusion processing can be performed.
望ましくは、通常期間において前記各時刻の移動平均値を表示する通常表示処理を実行し、前記第1波形部分が検出されてから前記第2波形部分の存否が確定するまでの期間において各時刻の移動平均値に代えて暫定移動平均値を表示する暫定表示処理を実行する表示処理手段を含む。 Preferably, a normal display process for displaying a moving average value at each time in a normal period is executed, and at each time in a period from when the first waveform portion is detected until the presence or absence of the second waveform portion is determined. Display processing means for executing a temporary display process for displaying the temporary moving average value instead of the moving average value is included.
上記構成によれば、第1波形部分が検出されて静電気ノイズの発生の可能性が出てきた段階で、静電気ノイズの第2波形部分の全体が検出されるまで、あるいは静電気ノイズでなかったと判断されるまで、暫定的に暫定移動平均値を表示させておくことができる。ここで第1波形部分は基本的にそのまま表示される。真の信号は第1波形部分に近い形態を有することもあり、第1波形部分を表示させないようにすると、真の信号も表示されなくなるおそれがあるが、上記構成によれば、真の信号の表示を確保できる。その上で、第2波形部分の表示を回避して表示内容を部分的に適正化して、ユーザーの誤認を軽減できる。第2波形部分が一定期間内に検出できないような場合にはその期間の経過によって通常表示処理に復帰する。 According to the above configuration, at the stage where the first waveform portion is detected and the possibility of occurrence of electrostatic noise has come out, it is determined that the entire second waveform portion of electrostatic noise has been detected or that it has not been electrostatic noise. Until this is done, the provisional moving average value can be displayed temporarily. Here, the first waveform portion is basically displayed as it is. The true signal may have a form close to the first waveform portion. If the first waveform portion is not displayed, the true signal may not be displayed. However, according to the above configuration, the true signal is not displayed. The display can be secured. In addition, it is possible to avoid the display of the second waveform portion and partially optimize the display content, thereby reducing user misidentification. When the second waveform portion cannot be detected within a certain period, the normal display process is resumed as the period elapses.
望ましくは、前記第1波形部分は前記静電気に起因する固有波形における立ち上がり部分であり、前記第2波形部分は前記静電気に起因する固有波形における立ち下がり部分である。立ち上がり部分及び立ち下がり部分は一般にそれぞれ複数の特徴点を認識することによって検出することができる。立ち上がり部分についての最後の特徴点と立ち下がり部分の最初の特徴点とが一致するものであってもよい。なお、波形勾配あるいは変動傾向などの特徴量を利用することもできる。 Preferably, the first waveform portion is a rising portion in the natural waveform due to the static electricity, and the second waveform portion is a falling portion in the natural waveform due to the static electricity. The rising portion and the falling portion can generally be detected by recognizing a plurality of feature points. The last feature point of the rising portion may coincide with the first feature point of the falling portion. It should be noted that feature quantities such as waveform gradients or fluctuation trends can be used.
望ましくは、前記暫定移動平均値は、前記静電気に起因する固有波形より前の過去の移動平均値に基づくものである。その場合、固有波形直前の移動平均値を用いることもできるし、固有波形前の複数の移動平均値の平均値を用いることもできる。 Preferably, the provisional moving average value is based on a past moving average value before the characteristic waveform caused by the static electricity. In that case, a moving average value immediately before the eigen waveform can be used, or an average value of a plurality of moving average values before the eigen waveform can be used.
望ましくは、前記表示処理手段は、前記第1波形部分より後の所定期間内において前記第2波形部分が検出されなかった場合には前記暫定表示処理を終了させて前記通常表示処理へ復帰させる。この構成によれば、何らかの事情によって第2波形部分の検出を行えなかった場合に、リアルタイム表示を行えない期間が増大することを防止できる。 Desirably, the display processing means ends the provisional display processing and returns to the normal display processing when the second waveform portion is not detected within a predetermined period after the first waveform portion. According to this configuration, it is possible to prevent an increase in the period during which real-time display cannot be performed when the second waveform portion cannot be detected for some reason.
望ましくは、前記第1波形部分検出手段は、時間的に隣接する移動平均値を比較することにより、前記第1波形部分の初期点を認識し、その初期点の直前にある基準点を認識する手段と、前記基準点の移動平均値と各時刻の移動平均値とを比較することにより、前記第1波形部分の下降点を認識する手段と、を含み、前記初期点と前記下降点が認識された場合に前記第1波形部分の検出とみなされる。 Preferably, the first waveform portion detection unit recognizes an initial point of the first waveform portion by comparing moving average values adjacent in time, and recognizes a reference point immediately before the initial point. And a means for recognizing a descent point of the first waveform portion by comparing a moving average value of the reference point and a moving average value at each time, and the initial point and the descent point are recognized. If it is, it is regarded as detection of the first waveform portion.
上記構成では、初期点と下降点との認識によって、迅速かつ容易に第1波形部分を検出することができる。もちろん、より多くの点を認識するようにして、第1波形部分の検出精度を高めるようにしてもよい。 In the above configuration, the first waveform portion can be detected quickly and easily by recognizing the initial point and the descending point. Of course, the detection accuracy of the first waveform portion may be increased by recognizing more points.
望ましくは、前記第2波形部分検出手段は、前記基準点の移動平均値と各時刻の移動平均値とを比較することにより、前記第2波形部分の終了点を認識する手段を含み、前記下降点の後の一定期間内に前記終了点が認識された場合に前記第2波形部分の検出とみなされる。 Preferably, the second waveform portion detection means includes means for recognizing an end point of the second waveform portion by comparing the moving average value of the reference point and the moving average value at each time, When the end point is recognized within a certain period of time after the point, it is regarded as the detection of the second waveform portion.
上記構成では、下降点の後の終了点の認識によって(あるいは下降点と終了点の認識によって)、迅速かつ容易に第2波形部分を検出することができる。もちろん、より多くの点を認識するようにして、第2波形部分の検出精度を高めるようにしてもよい。 In the above configuration, the second waveform portion can be detected quickly and easily by recognizing the end point after the descending point (or by recognizing the descending point and the end point). Of course, the detection accuracy of the second waveform portion may be increased by recognizing more points.
望ましくは、前記除外処理では前記初期点から前記終了点までの複数の測定値が前記移動平均処理から除外される。望ましくは、前記下降点から前記終了点までの期間において各時刻の移動平均値に代えて前記基準点の移動平均値が表示される。 Preferably, in the exclusion process, a plurality of measured values from the initial point to the end point are excluded from the moving average process. Preferably, the moving average value of the reference point is displayed instead of the moving average value at each time in the period from the descending point to the end point.
以上説明したように、本発明によれば、放射線の測定において、静電気による影響を除外又は軽減できる。本発明によれば、リアルタイム表示されている表示値に静電気の影響ができる限り表れないようにすることができる。あるいは、本発明によれば、静電気に相当する測定値が移動平均処理対象から除外されるようにして、静電気発生後においてその静電気の影響が残存することを防止又は軽減することができる。 As described above, according to the present invention, the influence of static electricity can be excluded or reduced in the measurement of radiation. According to the present invention, it is possible to prevent the influence of static electricity from appearing as much as possible on the display value displayed in real time. Alternatively, according to the present invention, a measurement value corresponding to static electricity can be excluded from the moving average processing target, so that the influence of static electricity can be prevented or reduced after the static electricity is generated.
以下、本発明の好適な実施形態を図面に基づいて説明する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the drawings.
図1には、本発明に係る放射線測定器の好適な実施形態が示されており、図1はその全体構成を示す概念図である。この放射線測定器は、屋内あるいは屋外において放射線を検出するサーベイメータである。測定対象となる放射線は、例えばγ線であるが、もちろんβ線などの他の放射線が測定対象となってもよい。 FIG. 1 shows a preferred embodiment of a radiation measuring instrument according to the present invention, and FIG. 1 is a conceptual diagram showing the overall configuration thereof. This radiation measuring instrument is a survey meter that detects radiation indoors or outdoors. The radiation to be measured is, for example, γ-ray, but of course other radiation such as β-ray may be the measurement target.
放射線測定器は、電離箱部10と信号演算部12とを有する。電離箱部10は放射線検出器として機能し、信号演算部12はエレクトロメータ回路29及び信号処理回路を有している。本実施形態では検出された信号はデジタル信号に変換され、その信号に対してソフトウエア処理によって測定結果が求められている。なお、電離箱方式以外の方式を利用して放射線の検出を行うようにしてもよい。また、本実施形態においてはコンデンサによる電荷蓄積型のエレクトロメータ回路29が用いられているが、例えば抵抗による電流−電圧変換方式に従う回路構成を採用することもできる。
The radiation measuring instrument has an
電離箱部10は、容器14を有する。容器14は例えばABS樹脂などによって構成され、その内面には電極層16が形成されている。この電極層16は容器電極を構成するものである。電離箱部10の内部には集電極18が配置されている。図中符号24は絶縁性を向上するためのガードリングを表している。電源22によって電極層16と集電極18との間に電圧が印加される。その電圧は例えば30Vであるが、もちろんそれ以上の高電圧を印加するようにしてもよい。電極層16と集電極18との間に電圧が印加された状態において、放射線26が電離箱部10の内部に進入すると、それによって電離箱部10内のガスが電離し、これによって集電極18において電荷が補集される。その電荷は電離箱部10から信号演算部12におけるエレクトロメータ回路29へ出力される。
The
静電気が発生すると、それにより、例えば、電極層16と集電極18との間における電圧が変動し、静電気ノイズが発生する。そのような静電気ノイズは真の信号の演算等において悪影響を生じさせるものであり、それをできる限り除外する必要がある。そのための処理が信号演算部12に備わっている。これについては後に詳述する。
When static electricity is generated, for example, the voltage between the
エレクトロメータ回路29はコンデンサC及びプリアンプ30を有する。エレクトロメータ回路29はコンデンサCに蓄積された電荷量に相当する電圧信号をADC32へ出力する。
The
図2には、コンデンサCに蓄積される蓄積電荷量の時間的な変化が示されている。(A)は線源からの放射線を電離箱部10へ照射した場合の特性を示しており、(B)には静電気による場合を示している。いずれの特性においても右肩上がりとなっており、これはバックグランドによってコンデンサCに徐々に電荷が蓄積されることを表している。(A)に示すように、符号110で示すタイミングで線源からの放射線が照射されると、それに伴って段差が生じ、蓄積電荷量はその照射に対応した分だけ徐々に上昇する。一方、(B)に示すように、符号112で示すタイミングで静電気が発生すると、蓄積電荷量はそれぞれのタイミングで一瞬上昇するもののその直後に減少する特異な挙動を示すことになる。本実施形態においては、(B)に示した特性及び(B)に示した特性の違いを利用して静電気ノイズを適正に判定し、その静電気ノイズによる影響をできる限り排除することを特徴とするものである。その詳細については後に説明する。
FIG. 2 shows a temporal change in the amount of charge accumulated in the capacitor C. (A) has shown the characteristic at the time of irradiating the radiation from the radiation source to the
図1に戻って、エレクトロメータ回路29からの出力を受けるADC32は、入力される信号をデジタル信号に変換し、そのデジタル信号であるデータ(測定値)をプロセッサ34へ与えている。ADC32のサンプリングレートは所望のものに設定することができ、例えばサンプリング間隔は0.1〜1.0sであり、望ましくは0.5sである。もちろん、細かくサンプリングを行った上で、表示値を表示する場合にはもっと遅い表示レートを採用するようにしてもよい。
Returning to FIG. 1, the
プロセッサ34はマイコンなどによって構成され、時系列順で入力される測定値に対して移動平均処理を適用し、その移動平均処理の結果である移動平均値を表示値としてLCD(液晶表示器)36に出力する。LCD36には上記のように演算された表示値が表示されることになり、その表示値は空間線量率などの単位で表される。本実施形態では、静電気ノイズが生じた場合には、その第1波形部分に続く第2波形部分について過去の最も確からしい表示値を現在の表示値に代えて表示する処理を行っている。これについては後に図3などを用いて詳述するが、プロセッサ34は移動平均後の波形を解析して、必要に応じて表示値の差し替えを行っており、また必要に応じて生データとしての測定値の削除を行っている。これは移動平均処理が一定期間に亘る複数の測定値を対象にして行われることを前提として、静電気ノイズの発生後の移動平均処理において静電気ノイズの影響が残存しないようにするためである。
The
ちなみに、本実施形態におけるサーベイメータは可搬型であるが、もちろん固定設置型の放射線測定器に本発明を適用することもできる。 Incidentally, the survey meter in the present embodiment is portable, but of course, the present invention can also be applied to a fixed installation type radiation measuring instrument.
図3には、プロセッサ34が有する機能がブロック図として示されている。図3に示される各機能はプロセッサ34におけるソフトウエア動作によって実現されるものである。測定値メモリ40は例えばリングバッファのような構造を有しており、現在の測定値から過去における一定期間内の測定値までの一連の測定値列を記憶している。移動平均処理部42は現在から過去に遡った一定時期までを移動平均処理期間とし、その移動平均処理期間内における複数の測定値に対して移動平均処理(平滑化処理)を実行し、これによって現在の移動平均値を求めている。すなわち、各時刻ごとに移動平均値が求められる。この場合において、移動平均期間は本実施形態において現在から過去に遡ってみた場合に一定の分散値内に各測定値(あるいはそれに基づく別の演算値)が入るところまでとして設定されており、すなわち移動平均期間は可変である。これについては上記特許文献1に記載された方法などを利用できる。定常的な状態にある場合には比較的長い移動平均期間が設定されることになり、激しく変動しているような状況下では比較的短い移動平均期間が設定される。特に、定常的な状態において突発的に静電気ノイズが発生すると、上記のように比較的長い移動平均期間が設定されることからその静電気ノイズの影響がその発生後もかなり長い時間にわたって残存することになるため、本実施形態においては後に説明する除外処理部52によってそのような問題を防止するようにしている。移動平均期間は固定設定されてもよい。また移動平均期間を可変設定する場合においても、本実施形態のように測定値のばらつき度合いを参照するのではなく、他の基準に基づいて移動平均期間を適応的に設定するようにしてもよい。
In FIG. 3, the functions of the
移動平均値メモリ46には移動平均値が一時的に格納される。これは後に説明する暫定表示処理あるいは代替表示処理において過去の適正な移動平均値をもって現在の表示値とするためである。したがって移動平均値メモリ46には現在の移動平均値から過去に遡って必要な個数分の移動平均値が格納されることになる。
The moving
表示処理部44は、通常表示処理においては移動平均処理部42から出力される現在の移動平均値を表示値としてそのまま出力する。その一方において静電ノイズ波形における後半部分に相当する第2波形部分に相当する期間においてはそれをそのまま表示させないために、現在の移動平均値に代えて移動平均値メモリ46から読み出される特定の移動平均値(暫定移動平均値あるいは代表移動平均値)を出力するようにしている。
In the normal display process, the
波形解析部48は、移動平均処理部42から出力される時系列順の移動平均値を参照し、静電気ノイズに相当する固有波形を認識している。具体的にはその演算処理を簡便に行うため、本実施形態では後に説明するようにA点、B点、C点の3つの検出が行われており、またA点の一つ前の点としてA−1点も特定されている。波形解析部48はタイマー50を有しており、例えばA点を検出した後に一定期間を経てもB点が検出されない場合には波形解析処理のルーチンをリセットしている。これはC点の検出についても同様であり、B点の検出の後に一定の期間を経過してもC点の検出が行えなかった場合には波形解析処理のルーチンを初期に戻している。波形解析部48によって静電ノイズ波形における前半部分としての第1波形部分が検出されると、具体的には後に説明するA点、B点が検出されると、その後の第2波形部分については暫定表示処理を適用するために制御信号54,57がそれぞれ表示処理部44及び移動平均値メモリ46へ出力される。制御信号54は表示処理のモードを切り換える信号であり、制御信号57は移動平均値メモリ46から後に説明するA−1点の移動平均値を読み出すための信号である。また、波形解析部48は、第1波形部分に続いて後半部分である第2波形部分が検出された場合、具体的にはB点に続いてC点が検出された場合には、制御信号56を除外処理部52へ出力している。
The
除外処理部52は、制御信号56によって特定される期間内の一連の測定値を測定値メモリ40から削除する処理を実行する。具体的にはA点〜C点までの複数の測定値が測定値メモリ40上における測定値列から削除されている。削除後に当該削除期間に対して複数のダミーデータを挿入することも可能であり、その場合においては過去一定期間内における測定値の平均値などをダミーデータとして利用することなどが考えられる。いずれにしても、このような静電気ノイズに相当する期間内における複数の測定値の除外によりその除外後において移動平均処理の対象を適正化することができ、換言すれば、静電気ノイズの発生後においてその影響が移動平均処理に残存してしまうことを効果的に防止することができる。
The
図4には、図3に示した構成の作用が概念図として示されている。もちろん、図3に示す構成及び図4に示す作用は一例であって、それら以外のものであってもよい。 FIG. 4 is a conceptual diagram showing the operation of the configuration shown in FIG. Of course, the configuration shown in FIG. 3 and the operation shown in FIG. 4 are merely examples, and other configurations may be used.
図4において、(A)には図3に示した測定値メモリ40に格納される測定値列が示されている。また(B)には移動平均処理部42から出力される移動平均値列が示されている。また(C)には図1に示したLCD36に表示される表示値列が示されている。時間軸tで示されるように、各列における右端が現在の値を表している。なお、処理時間の遅れは図4では無視されている。移動平均値は上述したように現在から過去の所定期間内における複数の測定値を処理することによって得られ、その処理が各時刻ごとに実行される。ここで移動平均値列において後に説明するA点,B点,C点が符号として表されており、またA点の1つ前のA−1点及びC点の1つ次のC+1点が示されている。図4に示す例は静電気ノイズが発生した直後を表しており、C+1点の移動平均値がそのまま表示値として表示されている。
4A shows a measured value sequence stored in the measured
上述した波形解析部によって移動平均値列が参照され、ここでA点に引き続いてB点が検出されると、符号102で示されるように、表示される表示値は過去において取得されたA−1点の移動平均値とされる。すなわちA点は静電気ノイズの初期点であり、それ以前の地点における移動平均値が適正な値であるとしてB点以降において表示され続ける。ちなみにその期間内においても移動平均処理自体は継続的に実行されており、各時点における移動平均値を参照することによってC点が検出される。C点が検出されるとすなわち静電気ノイズの終了点が検出されると、符号104で示されるようにa点からc点までの期間に相当する複数の測定値が測定値列上から削除される。ここでaはA点に対応する測定値を表しており、bはB点に対応する測定値を表しており、cはC点に対応する測定値を表しているが、aからcまでの複数の測定値が一括して削除されることになる。その上で、C+1点の移動平均値を求める場合には、図に示されるように測定値除外後の時間軸が部分的に圧縮された状態において移動平均期間100が設定され、すなわち静電気ノイズに相当する部分を除外して適正な測定値群を選択して移動平均処理を行うことができる。そしてそのような適正な移動平均処理によって得られた移動平均値が符号102で示される期間の次に表示されることになる。そしてこのことが繰り返される。
When the moving average value sequence is referred to by the waveform analysis unit described above, and the point B is detected subsequently to the point A, as shown by
なお、図4に示す例では測定値列においてaからcまでの期間104を除外対象としたが、それを基準として幅広くあるいは縮小して除外対象を特定するようにしてもよい。またB点の検出直後の移動平均値から代替表示を行うようにしたが、時間的に間に合えばB点の移動平均値を表示する時点から代替表示を適用することもできる。また時間的な関係から、C+1点においてはそのままA−1点の移動平均値を表示させ、次のC+2点から通常の表示を適用するようにしてもよい。すなわち、図4に示される原理は様々なバリエーション展開が可能であり、いずれにおいてもユーザーに提供する表示において真の信号の表示を優先しつつもできる限り静電気ノイズが現れないようにするのが望ましく、また、移動平均処理においてできる限り静電気ノイズの影響が生じないようにするのが望ましい。
In the example shown in FIG. 4, the
以上の原理を図5及び図6を用いてより詳細に説明する。図5には移動平均値列が波形として示されており、図6には表示値列が波形として示されている。 The above principle will be described in more detail with reference to FIGS. FIG. 5 shows the moving average value sequence as a waveform, and FIG. 6 shows the display value sequence as a waveform.
図5において、静電気ノイズの波形200は大別して前半部分としての第1波形部分と後半部分としての第2波形部分とに区分することができ、第1波形部分は真の信号に近い形態を有するが、第2波形部分は静電気ノイズに固有な形態を有しているとみなすことができる。
In FIG. 5, the
本実施形態では、時間軸上において隣接する2つの値(移動平均値)の差分が逐次的に演算され、その差分が一定の値(x)を超えた場合にその超えた地点をもってA点が特定される。このA点は初期点に相当するものである。またA点が特定されると、その直前の地点としてA−1点が特定される。そのA−1点は基準点に相当する。次に、B点が特定される。具体的には、基準点であるA−1点の値と現在の値とを逐次的に比較し、その差分が所定値−xをマイナス方向に超えた場合にその地点をもってB点が特定されている。もちろんx及び−xは互いに同じ絶対値でなくてもよい。B点が特定された後、基準点であるA−1点の値と現在の値との差分が逐次的に演算され、その差分がyを超えた値をもってC点が特定される。このC点は終了点に相当する。yはゼロ又はマイナス値であってもよい。 In the present embodiment, the difference between two values (moving average values) adjacent to each other on the time axis is sequentially calculated, and when the difference exceeds a certain value (x), the point A is indicated by the excess point. Identified. This point A corresponds to the initial point. When point A is specified, point A-1 is specified as the immediately preceding point. The point A-1 corresponds to a reference point. Next, point B is identified. Specifically, the value of the reference point A-1 and the current value are sequentially compared, and when the difference exceeds a predetermined value −x in the minus direction, the point B is specified with that point. ing. Of course, x and -x may not have the same absolute value. After the point B is specified, the difference between the value of the reference point A-1 and the current value is sequentially calculated, and the point C is specified with a value where the difference exceeds y. This point C corresponds to the end point. y may be zero or a negative value.
本実施形態では、上記の暫定表示処理により、B点からC点の間にわたってA−1点の値が表示値として表示される。すなわち波形200と波形202とを対比すれば明らかなように、表示される表示値列においてはB点以降においてフラットな形態となっており、C+1点から実際の移動平均値のリアルタイム表示が再開されることになる。したがって第2波形部分については効果的にその表示を抑制することが可能であるので、静電気ノイズの影響を緩和することができる。もちろん第1波形部分についてもそれをキャンセルするのが望ましいが、そのキャンセルを行うと真の信号までも表示から除外されてしまう可能性があるため、本実施形態では真の信号を確実に表示するという観点から、第1波形部分についてはそのままの表示を許容している。ただし、静電気ノイズの発生以降においてその影響が移動平均処理において残存することを防止するため、上述したようにA点〜C点までの測定値(生データ)が全て削除されている。
In the present embodiment, the value at the point A-1 is displayed as the display value from the point B to the point C by the provisional display process. That is, as apparent from the comparison between the
ちなみに上記のx及びyは適宜設定することが可能であり、例えば放射線の状況に応じてその値を可変設定するようにしてもよい。また上記で示した複数の点よりも多くの点を参照点として設定して、より厳密に静電気ノイズの波形を解析するようにしてもよい。ただし、上記の手法によればA点、B点、C点の3つの点の検出によって静電気ノイズであることを認識できるため迅速な処理を達成でき、またその処理負担を少なくできるという利点がある。 Incidentally, the above x and y can be set as appropriate. For example, the values may be variably set according to the state of radiation. In addition, the electrostatic noise waveform may be analyzed more strictly by setting more points than the plurality of points described above as reference points. However, according to the above-described method, it is possible to recognize the static noise by detecting the three points A, B, and C, so that there is an advantage that quick processing can be achieved and the processing load can be reduced. .
次に図7を用いて本実施形態に係る放射線測定器の動作例を説明する。 Next, an operation example of the radiation measuring apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
S101では、前回の移動平均値と現在の移動平均値との差が逐次計算される。そしてS102ではその差が+x以上であるか否かが判断され、その差が+x以上であればS103において現在の地点がA点として特定され、その1つ前の地点がA−1点として特定される。 In S101, the difference between the previous moving average value and the current moving average value is sequentially calculated. In S102, it is determined whether or not the difference is + x or more. If the difference is + x or more, the current point is specified as point A in S103, and the previous point is specified as point A-1. Is done.
S104では、A−1点の移動平均値と現在の移動平均値との差が逐次計算され、S105ではその差が−x以下(マイナス方向にx以上)であるか否かが判断される。ここで一定時間を経過しても差がマイナス方向にx以上とはならない場合には処理がS101に移行する。その一方、一定期間内において差がマイナス方向にx以上であればS107においてB点が特定される。それに連動してS113に示されるように、A−1点の移動平均値を表示値とする代替処理が開始される。これは本実施形態においてはB+1点から行われているが、もちろんB点からその処理を実行するようにしてもよい。 In S104, the difference between the moving average value at point A-1 and the current moving average value is sequentially calculated. In S105, it is determined whether or not the difference is -x or less (x or more in the minus direction). Here, if the difference does not become x or more in the minus direction even after a predetermined time has elapsed, the process proceeds to S101. On the other hand, if the difference is not less than x in the minus direction within a certain period, point B is specified in S107. In conjunction with this, as shown in S113, an alternative process using the moving average value of point A-1 as the display value is started. This is performed from the point B + 1 in the present embodiment, but of course, the process may be executed from the point B.
S108では、A−1点の移動平均値と現在の移動平均値との差が計算される。そしてS109ではその差がy以上となったか否かが判断され、一定時間を経過してもその差がy以上とはならない場合にはS110から処理がS101へ移行する。 In S108, the difference between the moving average value at point A-1 and the current moving average value is calculated. In S109, it is determined whether or not the difference is greater than or equal to y. If the difference does not become greater than or equal to y even after a predetermined time has elapsed, the process proceeds from S110 to S101.
その一方、一定期間内において、その差がy以上となった場合には、S111においてC点が特定される。C点が特定されると、S114に示されるようにA−1点の移動平均値を現在の移動平均値に代えて表示する処理が終了することになる。なお、S110において一定時間を経過したと判断された場合にもS114の工程が実行される。S112ではA点〜C点に対応する測定値(生データ)が移動平均処理の対象から削除される。 On the other hand, if the difference is greater than or equal to y within a certain period, point C is specified in S111. When the point C is specified, the process of displaying the moving average value at the point A-1 in place of the current moving average value as shown in S114 ends. The process of S114 is also executed when it is determined in S110 that a certain time has elapsed. In S112, the measurement values (raw data) corresponding to points A to C are deleted from the target of the moving average process.
上記のS101、S104、S108などの工程は現在の移動平均値が得られる都度実行されており、それはサンプリングレートにしたがったものである。ただし、サンプリングレートとは別のレートでその差を計算するようにしてもよい。 The above steps S101, S104, S108 and the like are executed every time the current moving average value is obtained, which is according to the sampling rate. However, the difference may be calculated at a rate different from the sampling rate.
本実施形態によれば静電気による影響を除外又は軽減することができ、とくにリアルタイム表示されている表示器に静電気の影響ができる限り現れないようにすることができる。また、静電気による影響が移動平均処理に残らないようにすることができ、信頼性の高い放射線測定装置を構成できるという利点がある。 According to this embodiment, the influence of static electricity can be excluded or reduced, and in particular, the influence of static electricity can be prevented from appearing as much as possible on the display device displayed in real time. Further, there is an advantage that the influence of static electricity can be prevented from remaining in the moving average process, and a highly reliable radiation measuring apparatus can be configured.
10 電離箱部、12 信号演算部、29 エレクトロメータ回路、40 測定値メモリ、42 移動平均処理部、44 表示処理部、46 移動平均値メモリ、48 波形解析部、52 除外処理部。
DESCRIPTION OF
Claims (9)
移動平均期間内の複数の測定値に対して移動平均処理を行うことにより、各時刻の移動平均値を求める移動平均処理手段と、
前記各時刻の移動平均値を監視し、静電気に起因する固有波形における第1波形部分を検出する第1波形部分検出手段と、
前記各時刻の移動平均値を順次監視し、静電気に起因する固有波形における第1波形部分に続く第2波形部分を検出する第2波形部分検出手段と、
前記第1波形部分に続いて前記第2波形部分が検出された場合に、前記固有波形に相当する期間内において得られた複数の測定値をその後の移動平均処理の対象から除外する除外処理を実行する除外処理手段と、
を含むことを特徴とする放射線測定器。 A measurement value output means for outputting a measurement value at each time by measuring radiation;
Moving average processing means for obtaining a moving average value at each time by performing a moving average process on a plurality of measured values within the moving average period;
First waveform portion detection means for monitoring a moving average value at each time and detecting a first waveform portion in a specific waveform caused by static electricity;
Second waveform portion detecting means for sequentially monitoring the moving average value at each time and detecting a second waveform portion following the first waveform portion in the intrinsic waveform caused by static electricity;
When the second waveform portion is detected subsequent to the first waveform portion, an exclusion process for excluding a plurality of measurement values obtained within a period corresponding to the natural waveform from the target of subsequent moving average processing Exclusion processing means to be executed;
A radiation measuring instrument comprising:
通常期間において前記各時刻の移動平均値を表示する通常表示処理を実行し、前記第1波形部分が検出されてから前記第2波形部分の存否が確定するまでの期間において各時刻の移動平均値に代えて暫定移動平均値を表示する暫定表示処理を実行する表示処理手段を含むことを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 1,
A normal display process for displaying the moving average value at each time in a normal period is executed, and the moving average value at each time in a period from when the first waveform portion is detected until the presence or absence of the second waveform portion is determined. A radiation measuring instrument comprising display processing means for executing provisional display processing for displaying a provisional moving average value instead.
前記第1波形部分は前記静電気に起因する固有波形における立ち上がり部分であり、
前記第2波形部分は前記静電気に起因する固有波形における立ち下がり部分であることを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 1,
The first waveform portion is a rising portion in the intrinsic waveform caused by the static electricity,
The radiation measuring instrument according to claim 1, wherein the second waveform portion is a falling portion in the intrinsic waveform caused by the static electricity.
前記暫定移動平均値は、前記静電気に起因する固有波形より前の過去の移動平均値に基づくものであることを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 2, wherein
The provisional moving average value is based on a past moving average value before a characteristic waveform caused by the static electricity.
前記表示処理手段は、前記第1波形部分より後の所定期間内において前記第2波形部分が検出されなかった場合には前記暫定表示処理を終了させて前記通常表示処理へ復帰させることを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 2, wherein
The display processing means ends the provisional display processing and returns to the normal display processing when the second waveform portion is not detected within a predetermined period after the first waveform portion. Radiation measuring instrument.
前記第1波形部分検出手段は、
時間的に隣接する移動平均値を比較することにより、前記第1波形部分の初期点を認識し、その初期点の直前にある基準点を認識する手段と、
前記基準点の移動平均値と各時刻の移動平均値とを比較することにより、前記第1波形部分の下降点を認識する手段と、
を含み、
前記初期点と前記下降点が認識された場合に前記第1波形部分の検出とみなされることを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 1,
The first waveform portion detecting means includes
Means for recognizing an initial point of the first waveform portion by comparing moving average values adjacent in time, and recognizing a reference point immediately before the initial point;
Means for recognizing the falling point of the first waveform portion by comparing the moving average value of the reference point and the moving average value at each time;
Including
The radiation measuring instrument according to claim 1, wherein when the initial point and the descending point are recognized, it is regarded as detection of the first waveform portion.
前記第2波形部分検出手段は、前記基準点の移動平均値と各時刻の移動平均値とを比較することにより、前記第2波形部分の終了点を認識する手段を含み、
前記下降点の後の一定期間内に前記終了点が認識された場合に前記第2波形部分の検出とみなされることを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 6.
The second waveform portion detecting means includes means for recognizing an end point of the second waveform portion by comparing the moving average value of the reference point and the moving average value at each time,
The radiation measuring instrument according to claim 1, wherein the second waveform portion is regarded as being detected when the end point is recognized within a certain period after the descending point.
前記除外処理では前記初期点から前記終了点までの複数の測定値が前記移動平均処理から除外されることを特徴とする放射線測定器。 The radiation measuring instrument according to claim 7 , wherein
In the exclusion process, a plurality of measured values from the initial point to the end point are excluded from the moving average process.
前記下降点が検出されてから前記終了点までの期間において各時刻の移動平均値に代えて前記基準点の移動平均値が表示されることを特徴とする放射線測定器。
The radiation measuring instrument according to claim 7, wherein
The radiation measuring instrument, wherein a moving average value of the reference point is displayed instead of a moving average value at each time in a period from the detection of the descending point to the end point.
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WO2009020863A1 (en) * | 2007-08-03 | 2009-02-12 | Pulsetor, Llc | Pileup rejection in an energy-dispersive radiation spectrometry system |
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Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56160676A (en) * | 1980-05-15 | 1981-12-10 | Toshiba Corp | Counting method of radiation |
JPH04337491A (en) * | 1991-05-15 | 1992-11-25 | Toshiba Corp | Radiation monitor device |
JPH05288859A (en) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Toshiba Corp | Integrated dose type criticality alarm device |
JPH07134180A (en) * | 1993-11-11 | 1995-05-23 | Aloka Co Ltd | Radiation measuring device |
JPH07181263A (en) * | 1993-12-24 | 1995-07-21 | Yazaki Corp | Radiation measuring device |
JPH1082860A (en) * | 1996-07-16 | 1998-03-31 | Aloka Co Ltd | Radiation counting rate computing method and radiation measuring device |
JP2001051062A (en) * | 1999-08-12 | 2001-02-23 | Aloka Co Ltd | Radiation measuring device and noise elimination method |
JP2001108750A (en) * | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Toshiba Corp | Radiation pulse transmitter |
JP2004212337A (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Toshiba Corp | Radiation measuring system |
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56160676A (en) * | 1980-05-15 | 1981-12-10 | Toshiba Corp | Counting method of radiation |
JPH04337491A (en) * | 1991-05-15 | 1992-11-25 | Toshiba Corp | Radiation monitor device |
JPH05288859A (en) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Toshiba Corp | Integrated dose type criticality alarm device |
JPH07134180A (en) * | 1993-11-11 | 1995-05-23 | Aloka Co Ltd | Radiation measuring device |
JPH07181263A (en) * | 1993-12-24 | 1995-07-21 | Yazaki Corp | Radiation measuring device |
JPH1082860A (en) * | 1996-07-16 | 1998-03-31 | Aloka Co Ltd | Radiation counting rate computing method and radiation measuring device |
JP2001051062A (en) * | 1999-08-12 | 2001-02-23 | Aloka Co Ltd | Radiation measuring device and noise elimination method |
JP2001108750A (en) * | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Toshiba Corp | Radiation pulse transmitter |
JP2004212337A (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Toshiba Corp | Radiation measuring system |
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