JP4607748B2 - 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置 - Google Patents
基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4607748B2 JP4607748B2 JP2005349189A JP2005349189A JP4607748B2 JP 4607748 B2 JP4607748 B2 JP 4607748B2 JP 2005349189 A JP2005349189 A JP 2005349189A JP 2005349189 A JP2005349189 A JP 2005349189A JP 4607748 B2 JP4607748 B2 JP 4607748B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- adhesive sheet
- support base
- pressure
- sensitive adhesive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67132—Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/6715—Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68742—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a lifting arrangement, e.g. lift pins
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する方法において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成された支持台を用い、粘着シートを、その粘着部を上にして前記支持台に載置する工程と、
次いで、基板を、前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように位置合わせされた状態で、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の表面側と裏面側との間の差圧を解除する工程と、
次いで前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする。
レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する方法において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成された支持台を用い、吸引孔の形成されている前記支持台に、吸引孔の形成されている粘着シートをその粘着部を上にして且つ当該吸引孔が前記支持台の突起から水平方向にずれた位置に配置されるように載置する工程と、
次いで、基板を、前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように位置合わせされた状態で、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記支持台の吸引孔及び前記粘着シートの吸引孔を通して前記基板を吸引することによって、前記粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の吸引を停止し、前記基板の表面側と裏面側との差圧を解除する工程と、
次いで前記粘着シートから前記基板を剥離し、前記基板の裏面に付着していたパーティクルを前記粘着シートの粘着部に転写させる工程と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする。
レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する装置において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成され、基板を支持するための支持台と、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を前記支持台に載せる前に位置合わせを行うための位置合わせ手段と、
前記位置合わせ手段にて位置合わせされた基板を前記支持台に搬送する基板搬送手段と、
この支持台に粘着部が上になるように載置され、その上に基板が表面を上にして載置される粘着シートと、
この粘着シートに載置された基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させるための手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと前記基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする。
レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する装置において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成されると共に吸引孔が形成され、基板を支持するための支持台と、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を前記支持台に載せる前に位置合わせを行うための位置合わせ手段と、
前記位置合わせ手段にて位置合わせされた基板を前記支持台に搬送する基板搬送手段と、
吸引孔が形成されると共に前記支持台に粘着部が上になるように且つ当該吸引孔が前記支持台の突起から水平方向にずれた位置に配置されるように載置され、その上に基板が載置される粘着シートと、
前記支持台及び粘着シートの各吸引孔を通して基板を吸引し、粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させるための吸引手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと前記基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする。上部が開放されて開口部をなすと共に前記支持台により前記開口部が塞がれるように設けられた筐体と、この筐体における前記支持台よりも下方側の壁面に形成され、前記吸引手段により当該筐体の内部領域を減圧することによって前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させるための吸引口と、を備えていても良い。
52 粘着シート
53 巻き取りロール
58 吸引孔
59 長孔
64 支持台
65 吸引孔
67 ウェハ保持用の突起
80 リフトピン
Claims (13)
- レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する方法において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成された支持台を用い、粘着シートを、その粘着部を上にして前記支持台に載置する工程と、
次いで、基板を、前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように位置合わせされた状態で、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の表面側と裏面側との間の差圧を解除する工程と、
次いで前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする基板のパーティクル除去方法。 - レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する方法において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成された支持台を用い、吸引孔の形成されている前記支持台に、吸引孔の形成されている粘着シートをその粘着部を上にして且つ当該吸引孔が前記支持台の突起から水平方向にずれた位置に配置されるように載置する工程と、
次いで、基板を、前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように位置合わせされた状態で、その表面を上にして前記粘着シートの上に載置する工程と、
前記支持台の吸引孔及び前記粘着シートの吸引孔を通して前記基板を吸引することによって、前記粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させる工程と、
前記基板の吸引を停止し、前記基板の表面側と裏面側との差圧を解除する工程と、
次いで前記粘着シートから前記基板を剥離し、前記基板の裏面に付着していたパーティクルを前記粘着シートの粘着部に転写させる工程と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から昇降ピンにより基板を突きあげて粘着シートから剥離する工程と、を含むことを特徴とする基板のパーティクル除去方法。 - 基板が載置される領域と前記支持台の下方側空間とを気密に区画するために、基板を囲む環状のシール体により粘着シートを前記支持台に押しつける工程を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の基板のパーティクル除去方法。
- 粘着シートから基板を剥離した後、当該粘着シートを横方向にずらし、次の基板の密着に備える工程を含むことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去方法。
- 粘着シートから基板を剥離した後、当該粘着シートにおける前記支持台の突起との接触部位が、突起と接触しなくなる位置になるように、当該粘着シートを横方向にずらし、次の基板の密着に備える工程を含むことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去方法。
- レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する装置において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成され、基板を支持するための支持台と、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を前記支持台に載せる前に位置合わせを行うための位置合わせ手段と、
前記位置合わせ手段にて位置合わせされた基板を前記支持台に搬送する基板搬送手段と、
この支持台に粘着部が上になるように載置され、その上に基板が表面を上にして載置される粘着シートと、
この粘着シートに載置された基板の表面側よりも裏面側の気圧を低くすることで前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させるための手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと前記基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする基板のパーティクル除去装置。 - レジスト膜が形成され且つ露光前の基板に付着しているパーティクルを除去する装置において、
基板の露光時に用いられる露光ステージの表面に形成された突起の配列パターンに対応するように多数の突起がその表面に形成されると共に吸引孔が形成され、基板を支持するための支持台と、
前記支持台の突起の配列パターンと基板との位置関係が、露光ステージにおける突起の配列パターンと基板との位置関係に一致するように、基板を前記支持台に載せる前に位置合わせを行うための位置合わせ手段と、
前記位置合わせ手段にて位置合わせされた基板を前記支持台に搬送する基板搬送手段と、
吸引孔が形成されると共に前記支持台に粘着部が上になるように且つ当該吸引孔が前記支持台の突起から水平方向にずれた位置に配置されるように載置され、その上に基板が載置される粘着シートと、
前記支持台及び粘着シートの各吸引孔を通して基板を吸引し、粘着シートの粘着部に前記基板の裏面を密着させるための吸引手段と、
前記支持台及び粘着シートに各々形成された孔を介して、前記支持台の下方側から粘着シートの上方側に挿通可能に設けられ、基板を粘着シートと前記基板搬送手段との間で受け渡すための昇降ピンと、を備えたことを特徴とする基板のパーティクル除去装置。 - 上部が開放されて開口部をなすと共に前記支持台により前記開口部が塞がれるように設けられた筐体と、
この筐体における前記支持台よりも下方側の壁面に形成され、前記吸引手段により当該筐体の内部領域を減圧することによって前記粘着シートの粘着部に基板の裏面を密着させるための吸引口と、を備えたことを特徴とする請求項7に記載の基板のパーティクル除去装置。 - 基板が載置される領域と支持台の下方側空間とを気密に区画するために、粘着シートを支持台に押しつける環状のシール体を備えたことを特徴とする請求項6ないし8に記載の基板のパーティクル除去装置。
- 粘着シートから基板を剥離した後、次の基板の密着に備えるために当該粘着シートを横方向にずらすように搬送する粘着シート搬送手段を備えたことを特徴とする請求項6ないし9のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去装置。
- 粘着シートから基板を剥離した後、次の基板の密着に備えるために、粘着シートにおける前記支持台の突起との接触部位が、突起と接触しなくなる位置になるように、当該粘着シートを横方向にずらすように搬送する粘着シート搬送手段を備えたことを特徴とする請求項6ないし10のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去装置。
- 基板に対してレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、露光後の基板に対して現像処理を行う塗布、現像装置において、
表面にレジスト膜が形成されている基板に対して、露光が行われる前に裏面側のパーティクルを除去するための請求項6ないし11のいずれか一つに記載の基板のパーティクル除去装置と、
このパーティクル除去装置との間で基板の受け渡しを行うための基板搬送手段と、を備えたことを特徴とする塗布、現像装置。 - 基板に対してレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、露光後の基板に対して現像処理を行うプロセスブロックと、このプロセスブロックを露光装置に接続するためのインターフェイスブロックと、を備え、前記基板のパーティクル除去装置が、インターフェイスブロックに設けられていることを特徴とする請求項12に記載の塗布、現像装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005349189A JP4607748B2 (ja) | 2005-12-02 | 2005-12-02 | 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置 |
US11/559,675 US20070125491A1 (en) | 2005-12-02 | 2006-11-14 | Method of removing particle on substrate, apparatus therefor, and coating and development apparatus |
KR1020060120289A KR101061637B1 (ko) | 2005-12-02 | 2006-12-01 | 기판의 파티클 제거 방법, 그 장치 및 도포, 현상 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005349189A JP4607748B2 (ja) | 2005-12-02 | 2005-12-02 | 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007157902A JP2007157902A (ja) | 2007-06-21 |
JP4607748B2 true JP4607748B2 (ja) | 2011-01-05 |
Family
ID=38117554
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005349189A Expired - Fee Related JP4607748B2 (ja) | 2005-12-02 | 2005-12-02 | 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070125491A1 (ja) |
JP (1) | JP4607748B2 (ja) |
KR (1) | KR101061637B1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4693805B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2011-06-01 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造装置及び製造方法 |
JP5210060B2 (ja) * | 2008-07-02 | 2013-06-12 | 東京応化工業株式会社 | 剥離装置および剥離方法 |
JP5395405B2 (ja) | 2008-10-27 | 2014-01-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板洗浄方法及び装置 |
WO2010120956A2 (en) * | 2009-04-14 | 2010-10-21 | International Test Solutions | Wafer manufacturing cleaning apparatus, process and method of use |
JP2011204860A (ja) * | 2010-03-25 | 2011-10-13 | Disco Corp | テープ剥離装置 |
JP2013074124A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
US9815091B2 (en) * | 2014-06-19 | 2017-11-14 | Applied Materials, Inc. | Roll to roll wafer backside particle and contamination removal |
US11434095B2 (en) | 2018-02-23 | 2022-09-06 | International Test Solutions, Llc | Material and hardware to automatically clean flexible electronic web rolls |
US11756811B2 (en) | 2019-07-02 | 2023-09-12 | International Test Solutions, Llc | Pick and place machine cleaning system and method |
US11318550B2 (en) | 2019-11-14 | 2022-05-03 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning wire bonding machines using functionalized surface microfeatures |
US11211242B2 (en) | 2019-11-14 | 2021-12-28 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning contact elements and support hardware using functionalized surface microfeatures |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0621219A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-28 | Sony Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH10233430A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Nitto Denko Corp | 粘着テープ貼付け装置 |
JP2002083795A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Toshiba Corp | 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置 |
JP2005109489A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW285779B (ja) * | 1994-08-08 | 1996-09-11 | Tokyo Electron Co Ltd | |
JP4266106B2 (ja) * | 2001-09-27 | 2009-05-20 | 株式会社東芝 | 粘着性テープの剥離装置、粘着性テープの剥離方法、半導体チップのピックアップ装置、半導体チップのピックアップ方法及び半導体装置の製造方法 |
US7232591B2 (en) * | 2002-04-09 | 2007-06-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of using an adhesive for temperature control during plasma processing |
US20050274457A1 (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-15 | Asm Assembly Automation Ltd. | Peeling device for chip detachment |
US20060046269A1 (en) * | 2004-09-02 | 2006-03-02 | Thompson Allen C | Methods and devices for processing chemical arrays |
JP4356936B2 (ja) * | 2005-01-21 | 2009-11-04 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布、現像装置及びその方法 |
-
2005
- 2005-12-02 JP JP2005349189A patent/JP4607748B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-11-14 US US11/559,675 patent/US20070125491A1/en not_active Abandoned
- 2006-12-01 KR KR1020060120289A patent/KR101061637B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0621219A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-28 | Sony Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH10233430A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Nitto Denko Corp | 粘着テープ貼付け装置 |
JP2002083795A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Toshiba Corp | 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置 |
JP2005109489A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070125491A1 (en) | 2007-06-07 |
KR20070058337A (ko) | 2007-06-08 |
KR101061637B1 (ko) | 2011-09-01 |
JP2007157902A (ja) | 2007-06-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101061637B1 (ko) | 기판의 파티클 제거 방법, 그 장치 및 도포, 현상 장치 | |
TWI598975B (zh) | 基板處理裝置及基板處理方法 | |
JP3513437B2 (ja) | 基板管理方法及び半導体露光装置 | |
US20080068580A1 (en) | Substrate-retaining unit | |
KR20130034583A (ko) | 기판처리장치 및 기판처리방법 | |
JP2006031025A (ja) | 平板表示装置の製造システム及び製造方法 | |
KR102073996B1 (ko) | 접합 장치, 접합 시스템, 접합 방법 및 컴퓨터 기억 매체 | |
US20130330928A1 (en) | Film forming device, substrate processing system and semiconductor device manufacturing method | |
JP5002471B2 (ja) | 基板洗浄装置、基板洗浄方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 | |
JPH10116760A (ja) | 露光装置及び基板保持装置 | |
US20180174873A1 (en) | Apparatus And Method For Processing Thin Substrates | |
TW201209883A (en) | Imprinting system, imprinting method, and computer storage medium | |
JP3571243B2 (ja) | プロキシミティ露光方法及び装置 | |
JP2009258197A (ja) | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板吸着方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
US7658560B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
JPH11233400A (ja) | 露光装置、ウエハチャックのクリーニング方法、クリーニング用砥石およびデバイス製造方法 | |
TW201209882A (en) | Imprinting system, imprinting method, and computer storage medium | |
JP2003131387A (ja) | マスクと露光対象基板との搬送に兼用できる搬送アーム及びそれを備えた露光装置 | |
JP2001100169A (ja) | 基板支持装置および基板処理装置 | |
JP5334675B2 (ja) | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスクの位置ずれ防止方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
TW202248770A (zh) | 曝光方法 | |
JP4799172B2 (ja) | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
JP5149244B2 (ja) | インプリントシステム、インプリント方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 | |
JP2013205709A (ja) | 露光装置 | |
JP2003167223A (ja) | 基板搬送用治具及びこれを用いた電気表示装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071015 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090804 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100112 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100315 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100928 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101007 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131015 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |