JP4560796B2 - 超音波探傷装置 - Google Patents
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Description
BY’(x)=AY’(x)×(BY(x)−CY(x))/AY(x)・・・(1)
BZ’(x)=AZ’(x)×(BZ(x)−CZ(x))/AZ(x)・・・(2)
ここで、上記式(1)及び(2)において、xは被探傷材の軸方向の位置を、AY’(x)及びAZ’(x)はそれぞれ今回探傷を実施する被探傷材(今回被探傷材)の先端部及び後端部についての軸芯測定手段設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、AY(x)及びAZ(x)はそれぞれ前回探傷を実施した被探傷材(前回被探傷材)の先端部及び後端部についての軸芯測定手段設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、BY(x)及びBZ(x)はそれぞれ前回被探傷材の先端部及び後端部についての超音波探触子設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、CY(x)及びCZ(x)はそれぞれ前回被探傷材の先端部及び後端部について補正した円筒状回転体のY軸方向及びZ軸方向の位置補正量を、BY’(x)及びBZ’(x)はそれぞれ今回被探傷材の先端部及び後端部について予測される超音波探触子設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を意味する。
CY’=Ave(BYc(x)−CY)・・・(3)
CZ’=Ave(BZc(x)−CZ)・・・(4)
ここで、上記式(3)及び(4)において、xは被探傷材の軸方向の位置を、BYc(x)及びBZc(x)はそれぞれ前回探傷を実施した被探傷材(前回被探傷材)の中央部についての超音波探触子設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、CY及びCZはそれぞれ前回被探傷材の中央部について補正した円筒状回転体のY軸方向及びZ軸方向の位置補正量を、Ave( )は、括弧内の平均値を意味する。
BY’(x)=AY’(x)×(BY(x)−CY(x))/AY(x)・・・(1)
BZ’(x)=AZ’(x)×(BZ(x)−CZ(x))/AZ(x)・・・(2)
BY”(x)=AY’(x)×BY(x)/AY(x)・・・(1−a)
BZ”(x)=AZ’(x)×BZ(x)/AZ(x)・・・(2−a)
CY’=Ave(BYc(x)−CY)・・・(3)
CZ’=Ave(BZc(x)−CZ)・・・(4)
2・・・超音波探傷器
3・・・円筒状回転体
4・・・上流側ロール
5・・・下流側ロール
6・・・軸芯測定手段
7・・・制御手段
100・・・超音波探傷装置
S・・・鋼管(被探傷材)
A・・・管周方向の入射角
Claims (2)
- 軸方向に沿って搬送される管状又は棒状の被探傷材に対して超音波を送受信する超音波探触子と、
前記超音波探触子からの出力信号を受信して、被探傷材に存在する欠陥を検出すると共に、前記超音波探触子から被探傷材までの距離を測定する超音波探傷器と、
前記超音波探触子が取り付けられ、被探傷材を挿通すると共に被探傷材の周方向に沿って回転する円筒状回転体と、
被探傷材の搬送方向に沿って前記円筒状回転体の上流側及び下流側にそれぞれ配置され、被探傷材を案内支持する上流側ロール及び下流側ロールと、
前記上流側ロールと前記円筒状回転体との間に配置され、被探傷材の軸芯位置を測定する軸芯測定手段と、
前記円筒状回転体の軸方向にそれぞれ直交し且つ互いに直交するY軸方向及びZ軸方向の位置を制御する制御手段とを備え、
前記制御手段は、
前記軸芯測定手段で測定した被探傷材のY軸方向の軸芯位置と前記円筒状回転体の予め設定した初期のY軸方向の軸芯位置との差を、前記軸芯測定手段設置位置に於ける被探傷材のY軸方向の芯ずれ量として算出すると共に、前記軸芯測定手段で測定した被探傷材のZ軸方向の軸芯位置と前記円筒状回転体の予め設定した初期のZ軸方向の軸芯位置との差を、前記軸芯測定手段設置位置に於ける被探傷材のZ軸方向の芯ずれ量として算出し、
前記超音波探傷器で測定したY軸方向に沿った前記超音波探触子から被探傷材までの距離に基づいて、被探傷材のY軸方向の軸芯位置を演算し、該演算した被探傷材のY軸方向の軸芯位置と前記円筒状回転体の予め設定した初期のY軸方向の軸芯位置との差を、前記超音波探触子設置位置に於ける被探傷材のY軸方向の芯ずれ量として算出すると共に、前記超音波探傷器で測定したZ軸方向に沿った前記超音波探触子から被探傷材までの距離に基づいて、被探傷材のZ軸方向の軸芯位置を演算し、該演算した被探傷材のZ軸方向の軸芯位置と前記円筒状回転体の予め設定した初期のZ軸方向の軸芯位置との差を、前記超音波探触子設置位置に於ける被探傷材のZ軸方向の芯ずれ量として算出するように構成されており、
前記制御手段は、今回探傷を実施する被探傷材の先端部及び後端部が前記超音波探触子設置位置に到達する際に、前記円筒状回転体のY軸方向の位置を下記の式(1)に示すBY’(x)だけ補正すると共に、前記円筒状回転体のZ軸方向の位置を下記の式(2)に示すBZ’(x)だけ補正することを特徴とする超音波探傷装置。
BY’(x)=AY’(x)×(BY(x)−CY(x))/AY(x)・・・(1)
BZ’(x)=AZ’(x)×(BZ(x)−CZ(x))/AZ(x)・・・(2)
ここで、上記式(1)及び(2)において、xは被探傷材の軸方向の位置を、AY’(x)及びAZ’(x)はそれぞれ今回探傷を実施する被探傷材(今回被探傷材)の先端部及び後端部についての軸芯測定手段設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、AY(x)及びAZ(x)はそれぞれ前回探傷を実施した被探傷材(前回被探傷材)の先端部及び後端部についての軸芯測定手段設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、BY(x)及びBZ(x)はそれぞれ前回被探傷材の先端部及び後端部についての超音波探触子設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、CY(x)及びCZ(x)はそれぞれ前回被探傷材の先端部及び後端部について補正した円筒状回転体のY軸方向及びZ軸方向の位置補正量を、BY’(x)及びBZ’(x)はそれぞれ今回被探傷材の先端部及び後端部について予測される超音波探触子設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を意味する。 - 前記制御手段は、今回探傷を実施する被探傷材の先端部及び後端部を除く中央部が前記超音波探触子設置位置に到達する際に、前記円筒状回転体のY軸方向の位置を下記の式(3)に示すCY’だけ補正すると共に、前記円筒状回転体のZ軸方向の位置を下記の式(4)に示すCZ’だけ補正することを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。
CY’=Ave(BYc(x)−CY)・・・(3)
CZ’=Ave(BZc(x)−CZ)・・・(4)
ここで、上記式(3)及び(4)において、xは被探傷材の軸方向の位置を、BYc(x)及びBZc(x)はそれぞれ前回探傷を実施した被探傷材(前回被探傷材)の中央部についての超音波探触子設置位置に於けるY軸方向及びZ軸方向の芯ずれ量を、CY及びCZはそれぞれ前回被探傷材の中央部について補正した円筒状回転体のY軸方向及びZ軸方向の位置補正量を、Ave( )は、括弧内の平均値を意味する。
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