JP4542978B2 - Power supply voltage control device - Google Patents
Power supply voltage control device Download PDFInfo
- Publication number
- JP4542978B2 JP4542978B2 JP2005312811A JP2005312811A JP4542978B2 JP 4542978 B2 JP4542978 B2 JP 4542978B2 JP 2005312811 A JP2005312811 A JP 2005312811A JP 2005312811 A JP2005312811 A JP 2005312811A JP 4542978 B2 JP4542978 B2 JP 4542978B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- supply voltage
- frequency
- preset value
- system clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 78
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000003796 beauty Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of DC power input into DC power output
- H02M3/02—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC
- H02M3/04—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters
- H02M3/10—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
- H02M3/145—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal
- H02M3/155—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only
- H02M3/156—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only with automatic control of output voltage or current, e.g. switching regulators
- H02M3/157—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only with automatic control of output voltage or current, e.g. switching regulators with digital control
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of DC power input into DC power output
- H02M3/02—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC
- H02M3/04—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters
- H02M3/10—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
- H02M3/145—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal
- H02M3/155—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
- Power Sources (AREA)
Description
本発明は、LSI(Large Scale Integration)などの半導体集積回路装置の電源電圧制御装置に関する。 The present invention relates to a power supply voltage control device for a semiconductor integrated circuit device such as an LSI (Large Scale Integration).
近年、半導体集積回路の低消費電力化の有力な方法として、クロック周波数に応じて電源電圧を変更する方法が知られている。しかし、電源電圧設定の精度が粗い場合や、電源電圧設定回路が温度依存性を持っている場合は、電源電圧を下げ過ぎることにより、タイミング不具合に起因する回路誤動作が発生することがある。また、温度変動によるMOSトランジスタの駆動能力低下に起因して、タイミング不具合が発生し、回路誤動作に至る場合もあり得る。 In recent years, a method of changing a power supply voltage according to a clock frequency is known as an effective method for reducing power consumption of a semiconductor integrated circuit. However, when the power supply voltage setting accuracy is rough, or when the power supply voltage setting circuit has temperature dependence, a circuit malfunction due to a timing failure may occur by reducing the power supply voltage too much. In addition, a timing failure may occur due to a decrease in driving capability of the MOS transistor due to temperature fluctuations, leading to circuit malfunction.
この問題に対し、従来、所定のクロック周波数において、必要最小限の動作電源電圧を発生できる電圧発生回路技術が開示されている。例えば、特許文献1には、図10に示すように、第1の電源電圧によって動作する論理回路と、第2の電源電圧に応じた周波数のクロック信号を発生する電圧制御発振部と、前記クロック信号と基準クロック信号との位相比較を行う位相比較部と、入力信号を積分回路によって平滑化するローパスフィルタ部と、前記位相比較の結果により前記ローパスフィルタ部の充放電を行うチャージポンプ部と、前記ローパスフィルタ部の出力に応じたレベルの前記第1の電源電圧を発生する内部電源電圧発生部と、を備え、前記論理回路と前記クロック発生部とを動作させる前記第1及び第2の電源電圧を共通にしてこれを前記電源電圧発生部から供給する半導体装置が開示されている。
In order to solve this problem, a voltage generation circuit technique that can generate a minimum necessary operating power supply voltage at a predetermined clock frequency has been disclosed. For example, in
また、特許文献2には、特許文献1の電圧制御発振部の代わりに、図11に示すように、クロック信号を電圧制御遅延回路によってゲート遅延させたクロック信号と元のクロック信号の位相比較を行い、積分器とバッファにより電圧信号を生成し、動作電源電圧として電圧制御遅延回路に帰還し、さらにバッファ及びPchMOSトランジスタにより、内部電源電圧を発生する電圧発生回路が記載されている。
Further, in
さらに、特許文献3には、図12に示すように、特許文献2における種々の遅延値を有する電圧制御遅延回路に対して汎用性を持たせる目的で、クロック信号から遅延検出回路に入力する基準信号及び電圧制御遅延回路に入力する入力信号を発生させる際に、両信号の位相差を制御信号に応じて変更できるようにした入力信号生成回路を搭載した電源電圧制御装置が記載されている。
しかしながら、このような従来の電源電圧制御装置にあっては、以下に示すような課題が存在している。 However, such a conventional power supply voltage control apparatus has the following problems.
特許文献1記載の装置では、位相比較器に入力される基準クロック信号の周期は、例えばシステムクロック信号の1周期分などのように設定される。さらに電圧制御発振回路は固定段数のインバータ回路等で構成されているため、電圧制御発振回路から出力されるクロック信号の周期は、基準クロック信号の周波数に関わらず、基準クロック信号の周期と等しくなる。
In the apparatus described in
また同様に、特許文献2記載の装置では、位相比較器に入力される基準クロック信号の周期は、特許文献1と同様、例えばシステムクロック信号の1周期分などのように設定される。さらに電圧制御遅延回路は固定段数のインバータ回路等で構成されているため、電圧制御遅延回路により発生する遅延値は、基準クロック信号の周波数に関わらず、基準クロック信号の1周期と等しくなる。
Similarly, in the apparatus described in
しかし、電源電圧制御回路は、電源電圧が印加され、電圧制御発振回路のクロック出力信号と基準クロック信号との位相又は周波数のズレが検出されてから、実際に制御が働き補正された電源電圧が印加されるまでにある程度の時間がかかるため、電源電圧の変動が発生する。そして、電源電圧の変動値は電源電圧の大小によらずほぼ一定であるため、電源電圧の小さい時の電源電圧の変動値に対する内部回路における正常動作可能な最大システムクロック周波数及び電圧制御発振回路のクロック周波数の変動値は、電源電圧の大きい時の電源電圧の変動値に対する前記それぞれのクロック周波数の変動値より大きくなる。 However, the power supply voltage control circuit applies the power supply voltage, detects the phase or frequency shift between the clock output signal of the voltage controlled oscillation circuit and the reference clock signal, and then the control power is actually corrected and corrected. Since it takes a certain amount of time to be applied, the power supply voltage fluctuates. Since the fluctuation value of the power supply voltage is almost constant regardless of the magnitude of the power supply voltage, the maximum system clock frequency and the voltage controlled oscillation circuit that can operate normally in the internal circuit with respect to the fluctuation value of the power supply voltage when the power supply voltage is small. The variation value of the clock frequency is larger than the variation value of the respective clock frequency with respect to the variation value of the power supply voltage when the power supply voltage is large.
その理由は、前記それぞれのクロック周波数はMOSトランジスタの駆動能力すなわちドレイン電流でほぼ決まり、以下の式で表されるようにゲート電圧から閾値電圧を引いた値の二乗に比例するためである。 The reason is that each clock frequency is substantially determined by the driving capability of the MOS transistor, that is, the drain current, and is proportional to the square of the value obtained by subtracting the threshold voltage from the gate voltage as represented by the following equation.
したがって、第1の課題は、システムクロック周波数に応じた最小電源電圧に対して、電圧制御発振回路から出力されるクロック信号の周期又は電圧制御遅延回路により発生する遅延値と、基準クロック信号の周期と、の設定マージンを変える必要があるが、特許文献1及び特許文献2では、設定マージンが固定されているため対応できないことである。
Therefore, the first problem is that the minimum power supply voltage corresponding to the system clock frequency is the period of the clock signal output from the voltage controlled oscillation circuit or the delay value generated by the voltage controlled delay circuit and the period of the reference clock signal. However, in
また、特許文献3記載の装置では、入力したクロック信号から基準信号及び入力信号を発生させる際に、両信号の位相差を制御信号に応じて変更できる入力信号生成回路が組み込まれているが、半導体回路の機種に対応した種々の遅延値を有するモニタ回路に共通に用いるようにするものであり、上記に説明したシステムクロック周波数に応じてクロック周期設定マージンを変更するためには機能しない。さらに、前記入力信号生成回路はPLL(Phase-locked loop)とセレクタにより構成されるため、回路規模が大幅に増大するという問題も発生する。 Further, in the apparatus described in Patent Document 3, when generating a reference signal and an input signal from an input clock signal, an input signal generation circuit capable of changing the phase difference between both signals according to a control signal is incorporated. This circuit is used in common for monitor circuits having various delay values corresponding to the types of semiconductor circuits, and does not function to change the clock cycle setting margin according to the system clock frequency described above. Further, since the input signal generation circuit is composed of a PLL (Phase-locked loop) and a selector, there arises a problem that the circuit scale greatly increases.
第2の課題は、システムクロック周波数を高い周波数から低い周波数に変更する時は、まずシステムクロック周波数が変化し、その周波数に応じて電源電圧が小さく調整されるが、周波数変化が大きいと電源電圧の変化も大きくなり、電源電圧が正常に動作する最小電源電圧に収束するのに非常に時間が掛かる。さらに、システムクロック周波数を低い周波数から高い周波数に変更する場合は、電源電圧を大きくする前に、システムクロック周波数を高くすると、内部回路の誤動作を招くという問題が発生する。 The second problem is that when the system clock frequency is changed from a high frequency to a low frequency, the system clock frequency is changed first, and the power supply voltage is adjusted to be small according to the frequency. The change in the power supply voltage increases, and it takes a very long time for the power supply voltage to converge to the minimum power supply voltage at which it operates normally. Further, when the system clock frequency is changed from a low frequency to a high frequency, if the system clock frequency is increased before the power supply voltage is increased, there is a problem that an internal circuit malfunctions.
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、システムクロック周波数に応じて自由にクロック周期設定マージンを設定でき、システムクロック周波数の変化に対し、内部回路を誤動作させずに短時間で電源電圧を正常に動作する最小電源電圧に収束させる電源電圧制御装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of this point, and can freely set a clock cycle setting margin according to the system clock frequency, and can supply power in a short time without causing malfunction of an internal circuit in response to a change in the system clock frequency. It is an object of the present invention to provide a power supply voltage control device that converges a voltage to a minimum power supply voltage that operates normally.
本発明の電源電圧制御装置は、クロック信号を生成する電圧制御発振手段と、システムクロック信号を分周する第1分周手段と、前記発振手段出力を分周する第2分周手段と、前記第1分周手段の出力信号と前記第2分周手段の出力信号とを位相比較又は周波数比較する比較手段と、前記比較手段の出力に基づいて前記電圧制御発振手段及び1又は複数の内部回路に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生手段と、前記システムクロック信号と前記電圧制御発振手段により生成されたクロック信号のクロック周期設定マージンをシステムクロック周波数に応じて変更できるように、前記第1及び第2分周手段の分周比を設定する制御手段とを備える構成を採る。 The power supply voltage control apparatus according to the present invention includes a voltage controlled oscillation unit that generates a clock signal, a first frequency dividing unit that divides a system clock signal, a second frequency dividing unit that divides the output of the oscillation unit, Comparing means for phase comparison or frequency comparison of the output signal of the first frequency dividing means and the output signal of the second frequency dividing means, and the voltage controlled oscillation means and one or more internal circuits based on the output of the comparing means A power supply voltage generating means for generating a power supply voltage to be supplied to the first clock signal, and a clock cycle setting margin of the clock signal generated by the system clock signal and the voltage controlled oscillating means can be changed according to a system clock frequency. And a control means for setting a frequency dividing ratio of the second frequency dividing means.
本発明の電源電圧制御装置は、1又は複数のシステムクロック周波数に対応して、前記第1分周手段と前記第2分周手段の分周比を設定する第1プリセット値を格納する第1プリセット値格納手段を備え、前記制御手段は、前記システムクロック周波数に対応して、前記第1プリセット値格納手段に格納されている第1プリセット値を読み出し、該第1プリセット値を基に前記第1分周手段と前記第2分周手段にそれぞれ分周比信号を出力し、前記第1分周手段と前記第2分周手段は、前記制御手段から出力された前記分周比信号に従って分周を行う構成を採る。 The power supply voltage control apparatus according to the present invention stores a first preset value for setting a frequency division ratio between the first frequency divider and the second frequency divider in correspondence with one or a plurality of system clock frequencies. Preset value storage means, and the control means reads out a first preset value stored in the first preset value storage means corresponding to the system clock frequency, and based on the first preset value, the first preset value is read out. A frequency division ratio signal is output to each of the first frequency dividing means and the second frequency dividing means, and the first frequency dividing means and the second frequency dividing means are divided according to the frequency division ratio signal output from the control means. The structure which performs a lap is taken.
本発明の電源電圧制御装置は、1又は複数のシステムクロック周波数に対応する最小動作電源電圧より所定だけ高く設定された第2プリセット値を格納する第2プリセット値格納手段を備え、前記制御手段は、前記システムクロック周波数の切り替え時、前記プリセット値格納手段に格納されている第2プリセット値を読み出し、該第2プリセット値を電源電圧プリセット値として出力し、前記電源電圧発生手段は、前記制御手段の出力に基づいて内部回路及び電圧制御発振手段に供給する電源電圧を発生する構成を採る。 The power supply voltage control apparatus according to the present invention comprises second preset value storage means for storing a second preset value that is set higher than a minimum operating power supply voltage corresponding to one or a plurality of system clock frequencies, the control means comprising: When the system clock frequency is switched, the second preset value stored in the preset value storage means is read, and the second preset value is output as a power supply voltage preset value. The power supply voltage generating means is the control means The power supply voltage supplied to the internal circuit and the voltage controlled oscillation means is generated based on the output of the power supply.
本発明の電源電圧制御装置は、クロック信号を生成する電圧制御発振手段と、基準クロック信号と前記電圧制御発振手段のクロック出力信号とを位相比較する位相比較又は周波数比較する比較手段と、前記比較手段の出力に基づいて前記電圧制御発振手段及び1又は複数の内部回路に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生手段と、1又は複数のシステムクロック周波数に対応する最小動作電源電圧より所定だけ高く設定された第2プリセット値を格納する第2プリセット値格納手段と、前記システムクロック周波数の切り替え時、前記第2プリセット値格納手段に格納されている第2プリセット値を読み出し、該第2プリセット値を電源電圧プリセット値として出力する制御手段と、前記制御手段の出力に基づいて前記電圧制御発振手段及び1又は複数の内部回路に供給する電源電圧を発生するDA変換器とを備える構成を採る。 The power supply voltage control apparatus according to the present invention includes a voltage control oscillation unit that generates a clock signal, a phase comparison that compares a phase of a reference clock signal and a clock output signal of the voltage control oscillation unit, or a frequency comparison, and the comparison A power supply voltage generating means for generating a power supply voltage to be supplied to the voltage controlled oscillating means and one or more internal circuits based on the output of the means, and a predetermined operating voltage higher than a minimum operating power supply voltage corresponding to one or more system clock frequencies A second preset value storage means for storing the set second preset value; and a second preset value stored in the second preset value storage means when the system clock frequency is switched; As a power supply voltage preset value, and the voltage controlled oscillation means based on the output of the control means Generating a power supply voltage supplied beauty to one or more of the internal circuit employs a configuration and a DA converter.
本発明の電源電圧制御装置は、内部回路に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生手段と、複数のシステムクロック周波数に対応する所定の動作電源電圧を電源電圧設定値として記憶させたプリセット値格納手段と、システムクロック周波数が高い周波数から低い周波数に切り替わった後に、プリセット値格納手段に記憶されている前記低い周波数に対応する電源電圧設定値を読み出し、該電源電圧設定値を動作電源電圧値として出力し、システムクロック周波数が低い周波数から高い周波数に切り替わる前に、プリセット値格納手段に記憶されている前記高い周波数に対応する電源電圧設定値を読み出し、該電源電圧設定値を動作電源電圧値として出力する制御を行う制御手段とを備える構成を採る。 A power supply voltage control apparatus according to the present invention includes a power supply voltage generating means for generating a power supply voltage to be supplied to an internal circuit, and a preset value storage in which predetermined operation power supply voltages corresponding to a plurality of system clock frequencies are stored as power supply voltage setting values. And a power supply voltage setting value corresponding to the low frequency stored in the preset value storage means is read after the system clock frequency is switched from a high frequency to a low frequency, and the power supply voltage setting value is used as an operating power supply voltage value. Before the system clock frequency is switched from a low frequency to a high frequency, the power supply voltage setting value corresponding to the high frequency stored in the preset value storage means is read, and the power supply voltage setting value is used as the operation power supply voltage value. And a control means for performing output control.
本発明によれば、システムクロック周波数に対応した動作モード信号に応じて、クロック出力信号fOSCとシステムクロック信号fSCKのクロック周期設定マージンを自由に設定することができる。 According to the present invention, the clock cycle setting margin of the clock output signal f OSC and the system clock signal f SCK can be freely set according to the operation mode signal corresponding to the system clock frequency.
また、上記システムクロック周波数変更と電源電圧変更の手順最適化により、内部回路の誤動作防止及び動作可能な最小電源電圧への収束時間短縮を実現でき、低消費電力化と安定動作の両方を同時に実現することができる。 In addition, by optimizing the procedure for changing the system clock frequency and power supply voltage, it is possible to prevent malfunction of internal circuits and shorten the convergence time to the minimum power supply voltage that can be operated, realizing both low power consumption and stable operation at the same time. can do.
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る電源電圧制御装置の構成を示す回路図である。本実施の形態は、複数のMOSトランジスタを有する内部回路に所定の電源電圧を供給する電源電圧制御装置に適用した例である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply voltage control apparatus according to
図1おいて、100は電源電圧制御装置、200は電源電圧制御装置100から電源電圧VD,VSの供給を受けて動作する内部回路である。
In FIG. 1,
電源電圧制御装置100は、クロック信号を生成する電圧制御発振回路110と、システムクロック信号fSCKを分周する分周回路121(分周回路<1>)と、電圧制御発振回路110のクロック出力信号fOSCを分周する分周回路122(分周回路<2>)と、分周回路121の出力(基準クロック信号fref)と分周回路122の出力(発振クロック信号fV)を位相比較又は周波数比較する位相比較器/周波数比較器130と、内部回路に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生回路140とを備えて構成される。
The power supply
電源電圧発生回路140は、制御回路141、1又は複数の第1プリセット値と1又は複数の第2プリセット値を記憶するメモリ142、アップダウンカウンタ143、レジスタ144からなるコントローラ145と、コントローラ145から出力するデジタル値をDA変換して電源電圧を発生するDA変換器146と、DC−DCコンバータ147とを備えて構成される。
The power supply voltage generation circuit 140 includes a
メモリ142には、1又は複数のシステムクロック周波数に対する分周回路121と分周回路122の分周比をそれぞれ第1プリセット値として記憶させ、1又は複数のシステムクロック周波数に対する電源電圧プリセット値をそれぞれ第2プリセット値として記憶させておく。
The memory 142 stores the frequency division ratios of the frequency dividing
コントローラ145の制御回路141は、外部からの動作モード信号を受け、メモリ142内の第1プリセット値を基に分周回路121に分周比信号1と制御信号、分周回路122に分周比信号2と制御信号を出力し、電圧制御発振回路110と位相比較器/周波数比較器130にそれぞれ制御信号を出力して各部を制御することにより各クロック信号の位相又は周波数を比較する。また、制御回路141は、メモリ142内の第2プリセット値を用いてアップダウンカウンタ143のカウント値及びレジスタ144を設定することで内部回路200に供給する電源電圧VD,VS及び電圧制御発振回路110に供給する電源電圧VDM,VSMを初期設定する。本実施の形態では、電源電圧発生回路140から2系列の電源電圧(VD,VS及びVDM,VSM)を供給しているが、VDとVDM又はVSとVSMの一方のみ供給し、他方を固定電源とすることも可能である。
The
内部回路200は、電源電圧制御装置100によって内部のMOSトランジスタなどの電源電圧が制御される回路であればどのような回路でもよい。
The
このように、電源電圧制御装置100は、システムクロックを分周比1で分周する分周回路121と、電圧制御発振回路110の出力を分周比2で分周する分周回路122と、分周回路121と分周回路122のそれぞれの出力信号を位相比較又は周波数比較を行う位相比較器/周波数比較器130と、アップダウンカウンタ143とレジスタ144とメモリ142と制御回路141から構成されたコントローラ145と、DA変換器146と、DC−DCコンバータ147と、内部回路200により構成されている。また、コントローラ145とDA変換器146とDC−DCコンバータ147によって電源電圧発生回路140が構成されている。
As described above, the power supply
図2は、上記電圧制御発振回路110の回路構成の一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of the circuit configuration of the voltage controlled
図2において、電圧制御発振回路110は、制御信号を一方の入力端子に入力した1個のNANDゲート回路112と偶数個のインバータ111を鎖状に繋いでリングオシレータを構成する。電源電圧発生回路140から高電位側電源電圧VDMと低電位側電源電圧VSMを印加することにより自励発振する。そして、VDMとVSMの電圧差を変えることにより電圧制御発振回路110のクロック出力信号fOSCの発振周波数が変化する。また、制御信号がL(ローレベル)の時は、電圧制御発振回路110は発振を停止する。
In FIG. 2, a voltage-controlled
図3は、上記分周回路121及び分周回路122の回路構成の一例を示す図である。分周回路121と分周回路122とは、同一構成を採るため、分周回路121を代表して示す。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the circuit configuration of the
図3において、分周回路121は、複数のフリップフロップ(FF)123、組み合わせ論理回路124、及びレジスタ125により構成される。コントローラ145内の制御回路141から動作モード信号に対応した分周比信号と制御信号を受け取り、例えば、分周比信号を制御信号の立ち上がりタイミングでレジスタ125に取り込み、そのレジスタ値が組み合わせ論理回路124に与えられ、分周回路121の分周比が決定される。
In FIG. 3, the
図4は、上記位相比較器/周波数比較器130のうち位相比較器130Aの回路構成の一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of the
図4において、位相比較器130Aは、フリップフロップ(FF)131〜134、NAND回路135,136、及びAND回路137,138の論理回路から構成される。この論理回路は、発振クロック信号fVの位相が基準クロック信号frefの位相より進んでいる時は、ダウン信号DNがH(ハイレベル)になり、発振クロック信号fVの位相が基準クロック信号frefの位相より遅れている時は、アップ信号UPがH(ハイレベル)になる。また、制御信号がL(ローレベル)の時は位相比較器130Aは回路動作を停止する。
In FIG. 4, the
図5は、上記位相比較器/周波数比較器130のうち周波数比較器130Bの回路構成の一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of the circuit configuration of the
図5において、周波数比較器130Bは、発振クロック信号fVをカウントするカウンタ151、基準クロック信号frefをカウントするカウンタ152、及びカウンタ151のカウント値とカウンタ152のカウント値を比較するカウント値比較回路153から構成される。
5, the
発振クロック信号fVと基準クロック信号frefのそれぞれが一定期間カウントアップし、それぞれのカウント値を比較する。そして、発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より高い時は、ダウン信号DNがH(ハイレベル)になり、発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より低い時は、アップ信号UPがH(ハイレベル)になる。また、制御信号がL(ローレベル)の時は周波数比較器130Bは回路動作を停止する。
Each of the oscillation clock signal f V and the reference clock signal f ref is a fixed period counting, comparing the respective count values. Then, when the frequency of the oscillation clock signal f V is higher than the frequency of the reference clock signal f ref is the down signal DN becomes H (high level), than the frequency of the oscillation clock signal f V of frequency reference clock signal f ref When it is low, the up signal UP becomes H (high level). When the control signal is L (low level), the
図6は、上記DC−DCコンバータ147の回路構成の一例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of the DC-
図6において、DC−DCコンバータ147は、2出力回路分を内蔵しており、高電位側電源電圧出力回路147Aは、2個のオペアンプ161,162と1個のPchMOSトランジスタ163により構成されている。また、低電位側電源電圧出力回路147Bは、2個のオペアンプ171,172と1個のNchMOSトランジスタ173により構成されており、NchMOSトランジスタ173のソース端子に低電位側電源電圧VSSが供給されていることを除き、高電位側電源電圧出力回路147Aと同様の回路構成となっている。
In FIG. 6, the DC-
高電位側電源電圧出力回路147Aの回路を代表して説明すると、第1のオペアンプ161の出力は電圧制御発振回路110に印加され、PchMOSトランジスタ163のドレイン出力は内部回路200に印加される。第1のオペアンプ161の+入力端子はDA変換器146の出力に接続され、第1のオペアンプ161の出力端子はオペアンプ自身の−入力端子と第2のオペアンプ162の−入力端子に接続され、第2のオペアンプ162の出力端子はPchMOSトランジスタ163のゲート端子に接続され、PchMOSトランジスタ163のソース端子に高電位側電源電圧VDDが供給され、ドレイン端子は第2のオペアンプ162の+入力端子に接続される。この回路構成により、電圧制御発振回路の電源電圧に内部回路の電源電圧の変動の影響を与えないようにすることができる。
The high-potential-side power supply
以下、上述のように構成された電源電圧制御装置100の電源電圧制御動作について説明する。本実施の形態は、前記第1及び第2の課題を解決するため、以下の手法1及び2を採る。
Hereinafter, the power supply voltage control operation of the power supply
〔手法1〕
システムクロック信号fSCK及び電圧制御発振回路110と位相比較器/周波数比較器130の間にそれぞれ分周回路121,122を挿入し、システムクロック周波数に対応した動作モード信号に応じて、第1プリセット値を基に制御回路141によりそれぞれの分周回路121,122の分周比を設定することにより、システムクロック周波数に応じた最適なクロック周期設定マージンを設定できるようにする。
[Method 1]
具体的には、システムクロック信号fSCKを分周回路121で分周することにより基準クロック信号frefを生成し、電圧制御発振回路110のクロック出力信号fOSCを分周回路122で分周することにより発振クロック信号fVを生成し、次にそれぞれのクロック信号を位相比較又は周波数比較を行う。ここで、分周回路121の分周比信号1及び分周回路122の分周比信号2は、システムクロック周波数に対応した動作モード信号に応じて第1プリセット値を基に制御回路141から出力される。位相比較又は周波数比較の結果は、電源電圧発生回路140のコントローラ145内のアップダウンカウンタ143に入力される。アップダウンカウンタ143とレジスタ144は、コントローラ145内の第2プリセット値を用いて制御回路141によって初期設定され、レジスタ144のレジスタ値がDA変換器146に入力される。DA変換器146の出力はDC−DCコンバータ147を介して、電圧制御発振回路110と内部回路200にそれぞれ電源電圧として印加される。
Specifically, the reference clock signal f ref is generated by dividing the system clock signal f SCK by the
発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より低い場合はアップダウンカウンタ143がアップカウントし、発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より高い場合はダウンカウントする。カウント値はレジスタ144に格納され、電圧制御発振回路110と内部回路200に印加される電源電圧が変更される。
Up-
クロック出力信号fOSCとシステムクロック信号fSCKのクロック周期設定マージンは、分周比1と分周比2によって決定されるため、システムクロック周波数に対応した動作モード信号に応じて、自由に設定することが可能である。これにより、前記第1の課題が解決される。
Since the clock cycle setting margin of the clock output signal f OSC and the system clock signal f SCK is determined by the
〔手法2〕
システムクロック周波数が変化する時に、コントローラ145内の第2プリセット値を用いてアップダウンカウンタ143の初期設定とレジスタ144の設定を行うこと、及びシステムクロック周波数変更と電源電圧変更の手順最適化により、内部回路の誤動作防止及び動作可能な最小電源電圧への収束時間短縮を実現できる。これにより、低消費電力化と安定動作の両方を同時に実現することができる。
[Method 2]
When the system clock frequency changes, the initial setting of the up / down
具体的には、システムクロック周波数が高い周波数から低い周波数に切り替わった後、又は低い周波数から高い周波数に切り替わる前に、それに対応した動作モード信号が制御回路に入力され、制御回路141は動作モード信号に対応する第2プリセット値を電源電圧プリセット値として読み出し、アップダウンカウンタ143を初期設定し、レジスタ144のレジスタ値を変更する。レジスタ値に対応する電源電圧が内部回路200と電圧制御発振回路110に印加され、同時に第1プリセット値を基に分周比信号1と分周比信号2の値を変更する。システムクロック周波数が低い周波数から高い周波数に切り替わる場合は、この時点でシステムクロック周波数が高い周波数に設定され、電源電圧制御動作を開始する。これにより、前記第2の課題が解決される。
Specifically, after the system clock frequency is switched from a high frequency to a low frequency, or before the system clock frequency is switched from a low frequency to a high frequency, a corresponding operation mode signal is input to the control circuit, and the
上述した2つの手法により、システムクロック周波数が切り替わる時に、分周回路121に入力されるシステムクロック信号fSCKと分周回路122に入力されるクロック出力信号fOSCのクロック周期設定マージンを、システムクロック周波数に応じて、自由に設定することができ、また内部回路200の誤動作を引き起こすことなく、短時間に電源電圧を正常動作可能な最低電源電圧に収束させることができる。
When the system clock frequency is switched by the above-described two methods, the clock cycle setting margin between the system clock signal f SCK input to the
上記、電源電圧制御装置100の電源電圧制御動作について具体的に説明する。
The power supply voltage control operation of the power supply
まず、電源電圧発生回路100の制御回路141がシステムクロック周波数に対応する動作モード信号を受け取り、メモリ142内の第2プリセット値を電源電圧プリセット値として読み出し、アップダウンカウンタ143とレジスタ144を初期設定する。第2プリセット値に基づいて、DA変換器146でDA変換された出力は、DC−DCコンバータ147を介して電圧制御発振回路110に電源電圧VDMとVSMを印加するとともに、内部回路200に電源電圧VDとVSを印加する。電源電圧VDMとVD及び電源電圧VSMとVSは、同じ電圧である。
First, the
次に、メモリ142内の第1プリセット値を基に、制御回路141によって分周回路121と分周回路122に分周比が設定される。
Next, based on the first preset value in the memory 142, the
電圧制御発振回路110のクロック出力信号fOSCを分周回路122で分周することにより発振クロック信号fVを生成し、システムクロック信号fSCKを分周回路121で分周することにより基準クロック信号frefを生成する。
Generates an oscillation clock signal f V by dividing the clock output signal f OSC of the voltage
次に、それぞれのクロック信号の位相比較又は周波数比較を行う。位相比較又は周波数比較の結果は、電源電圧発生回路140のアップダウンカウンタ143に入力される。 発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より低い場合は、位相比較器/周波数比較器130からアップ信号UPが出力され、アップダウンカウンタ143はアップカウントする。逆に、発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より高い場合は、位相比較器/周波数比較器130からダウン信号DNが出力され、アップダウンカウンタ143はダウンカウントする。カウント値は、レジスタ144に格納され、そのレジスタ値がDA変換器146に入力され、DA変換器146とDC−DCコンバータ147を介して電圧制御発振回路の電源電圧を変化させる。
Next, the phase comparison or frequency comparison of each clock signal is performed. The result of the phase comparison or frequency comparison is input to the up / down counter 143 of the power supply voltage generation circuit 140. If the frequency of the oscillation clock signal f V is lower than the frequency of the reference clock signal f ref is the up signal UP is output from the phase comparator /
すなわち、電圧制御発振回路110から出力され、分周回路122を通った発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より低い場合は、電源電圧発生回路140から出力されるVDMとVSMの電圧差が大きくなり、電圧制御発振回路110の発振周波数が高くなる。逆に、電圧制御発振回路110から出力され、分周回路122を通った発振クロック信号fVの周波数が基準クロック信号frefの周波数より高い場合は、電源電圧発生回路140から出力されるVDMとVSMの電圧差が小さくなり、電圧制御発振回路110の発振周波数が低くなる。そして最終的に、発振クロック信号fVの周波数と基準クロック信号frefの周波数が同じになるように電源電圧VDMとVSM及びVDとVSが設定される。
That is outputted from the voltage controlled
また、本実施の形態の回路構成では、クロック出力信号fOSCとシステムクロック信号fSCKのクロック周期設定マージンは分周比信号1と分周比信号2の値によって決定されるため、システムクロック周波数に対応した動作モード信号に応じて、自由に設定することが可能である。
Further, in the circuit configuration of the present embodiment, the clock cycle setting margin of the clock output signal f OSC and the system clock signal f SCK is determined by the values of the
次に、システムクロック周波数が切り替わる時のシステムクロック周波数に対する電源電圧プリセット値の設定方法について説明する。 Next, a method for setting the power supply voltage preset value for the system clock frequency when the system clock frequency is switched will be described.
図7は、システムクロック周波数と電源電圧及び電源電圧プリセット値の関係を示す図である。 FIG. 7 is a diagram illustrating the relationship between the system clock frequency, the power supply voltage, and the power supply voltage preset value.
図7により、前記第2の課題を確認すると、システムクロック周波数を高い周波数から低い周波数に変更する時(図7黒丸実線矢印のfCP1からfCP2参照)は、まずシステムクロック周波数が変化し、その周波数に応じて電源電圧が小さく調整されるが、周波数変化が大きいと電源電圧の変化も大きくなり、電源電圧が正常に動作する最小電源電圧に収束するのに非常に時間が掛かる。さらに、システムクロック周波数を低い周波数から高い周波数に変更する場合(図7黒丸実線矢印のfCP2からfCP1参照)は、電源電圧を大きくする前に、システムクロック周波数を高くすると、図7の誤動作領域に入り内部回路の誤動作を招くという問題が発生する。そこで、本実施の形態は、システムクロック周波数を下げる場合は、システムクロック周波数を下げた後、メモリ142内の第2プリセット値を電源電圧プリセット値2として読み出してレジスタ144にセットし、システムクロック周波数を上げる場合は、システムクロック周波数を上げる前に、メモリ142内の第2プリセット値を電源電圧プリセット値1として読み出してレジスタ144にセットすることで、図7白丸鎖線矢印に示すように目標となる動作電源電圧1,2より少し高めの電源電圧プリセット値に電源電圧を設定する。このように、システムクロック周波数を上げる時は、まず目標の動作電源電圧より少し高めの電源電圧に設定後、システムクロック周波数を変更することで誤動作防止を図る。また、電源電圧収束値をメモリ142内のシステムクロック周波数に対応する第2プリセット値と置き換えることにより、次回からは前回の電源電圧収束値を利用することもできる。
The Figure 7 confirms the second problem, (see f CP 2 from f CP 1 of FIG. 7 closed circles solid arrow) when changing the frequency from high to low frequency system clock frequency, first changes the system clock frequency However, the power supply voltage is adjusted to be small according to the frequency, but if the frequency change is large, the change in the power supply voltage also increases, and it takes a very long time for the power supply voltage to converge to the minimum power supply voltage that operates normally. Furthermore, when changing the system clock frequency to the frequency from low to high frequencies (see f CP 1 from f CP 2 in FIG. 7 closed circles solid arrows), before increasing the supply voltage, the higher the system clock frequency, FIG. 7 This causes a problem that the malfunction occurs in the internal circuit and causes malfunction of the internal circuit. Therefore, in this embodiment, when the system clock frequency is lowered, after the system clock frequency is lowered, the second preset value in the memory 142 is read as the power supply voltage
図1において、最初に、システムクロック周波数が高い周波数fCP1から低い周波数fCP2に切り替わる時を考えると、まず、図7に示す動作電源電圧1のままシステムクロック周波数が高い周波数fCP1から低い周波数fCP2に切り替わり、次に、低い周波数fCP2に対応した動作モード信号が制御回路141に入力され、制御回路141はメモリ142内の第2プリセット値を動作モード信号に対応する電源電圧プリセット値2として読み出し、アップダウンカウンタ143とレジスタ144に電源電圧プリセット値2を設定する。そして、電源電圧プリセット値2に対応する電源電圧が内部回路200と電圧制御発振回路110に印加される。同時に、分周回路121の分周比信号1と分周回路122の分周比信号2の値をメモリ142内の第1プリセット値を基に変更する。その後、電源電圧制御動作が開始され、電源電圧は動作電源電圧2に収束する。
In Figure 1, first, considering when the system clock frequency is switched to a low frequency f CP2 from a high frequency f CP1, first, lower frequency from left the system clock frequency is high frequency f CP1
次に、システムクロック周波数が低い周波数fCP2から高い周波数fCP1に切り替わる時を考えると、低い周波数fCP2から高い周波数fCP1に切り替わる前に、高い周波数fCP1に対応した動作モード信号が制御回路141に入力され、制御回路141はメモリ142内の第2プリセット値を動作モード信号に対応する電源電圧プリセット値1として読み出し、アップダウンカウンタ143とレジスタ144に電源電圧プリセット値1を設定する。電源電圧プリセット値1に対応する電源電圧が内部回路200と電圧制御発振回路110に印加される。同時に、分周回路121の分周比信号1と分周回路122の分周比信号2の値をメモリ142内の第1プリセット値を基に変更する。その後、システムクロック周波数が高い周波数に設定され、電源電圧制御動作が開始され、電源電圧は動作電源電圧1に収束する。
Next, when the time when the system clock frequency is switched from the low frequency f CP2 to the high frequency f CP1 is considered, the operation mode signal corresponding to the high frequency f CP1 is switched to the control circuit before the low frequency f CP2 is switched to the
電源電圧が安定し、fVとfrefが一定期間同じ周波数になれば、カウンタ値を格納したレジスタ144の値をメモリ142内の元の第2プリセット値と置き換える。そして、次回に、前記システムクロック周波数と同じ周波数で電源電圧制御動作を行う時に、前記格納したプリセット値を用いるようにすると、正常に動作可能な最小電源電圧への収束時間を短縮することができる。
When the power supply voltage is stabilized and f V and f ref have the same frequency for a certain period, the value of the
また、正常に動作可能な最小電源電圧に収束した後、収束時のカウンタ値を格納したレジスタ144の値を用いて電源電圧を印加し、電源電圧制御回路100の不要な回路を停止することにより、さらに低消費電力化することができる。例えば、実施の形態1において、制御信号をL(ローレベル)に設定することにより、電圧制御発振回路110、位相比較器/周波数比較器130の回路動作を止めることができる。
Further, after convergence to the minimum power supply voltage that can be normally operated, the power supply voltage is applied using the value of the
以上詳細に説明したように、本実施の形態によれば、電源電圧制御装置100は、システムクロックを分周比1で分周する分周回路121、電圧制御発振回路110の出力を分周比2で分周する分周回路122、分周回路121と分周回路122のそれぞれの出力信号を位相比較/周波数比較する位相比較器/周波数比較器130、及びコントローラ145内にメモリ142を備え、システムクロック周波数に対応した動作モード信号に応じて、制御回路141によりメモリ142内の第1プリセット値を基にそれぞれの分周回路121、122の分周比を設定することで、最適なクロック周期設定マージンを設定することができる。
As described above in detail, according to the present embodiment, power supply
また、システムクロック周波数が変化する時に、コントローラ145内のメモリ142内の第2プリセット値を用いてアップダウンカウンタ143の初期設定とレジスタ設定を行うこと、及びシステムクロック周波数変更と電源電圧変更の手順最適化により、内部回路の誤動作防止及び動作可能な最小電源電圧への収束時間短縮を実現できる。これにより、低消費電力化と安定動作の両方を同時に実現することができる。
Further, when the system clock frequency changes, the initial presetting and register setting of the up / down
(実施の形態2)
図8は、本発明の実施の形態2に係る電源電圧制御装置の構成を示す回路図である。本実施の形態は、内部回路ブロックが複数存在し、各内部回路ブロック毎に電源電圧制御を行う場合の一例である。
(Embodiment 2)
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply voltage control apparatus according to
図8において、内部回路ブロック1と内部回路ブロック2がそれぞれの電源電圧制御回路1及び電源電圧制御回路2により独立に制御され、各電源電圧制御回路1及び2を動作モードコントローラが動作モード信号によってそれぞれ制御する構成になっている。
In FIG. 8, the
各電源電圧制御回路の回路構成および回路動作は上記の説明と全く同じであるので省略する。 Since the circuit configuration and circuit operation of each power supply voltage control circuit are exactly the same as described above, a description thereof will be omitted.
(実施の形態3)
図9は、本発明の実施の形態3に係る電源電圧制御装置の構成を示す回路図である。本実施の形態は、内部回路ブロックが複数存在し、1個の電源電圧制御回路で複数の内部回路ブロック(本実施の形態では2個)の電源電圧を制御する回路構成の一例である。図1と同一構成要素には同一番号を付して重複部分の記載を省略する。
(Embodiment 3)
FIG. 9 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply voltage control apparatus according to Embodiment 3 of the present invention. The present embodiment is an example of a circuit configuration in which a plurality of internal circuit blocks exist and a single power supply voltage control circuit controls the power supply voltages of a plurality of internal circuit blocks (two in this embodiment). The same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description of overlapping portions is omitted.
図9において、300は電源電圧制御装置、400は電源電圧制御装置300から電源電圧VD1,VS1の供給を受けて動作する内部回路ブロック<1>,電源電圧VD2,VS2の供給を受けて動作する内部回路ブロック<2>である。
In FIG. 9,
電源電圧制御装置300は、クロック信号を生成する電圧制御発振回路110と、システムクロック信号fSCKを分周する分周回路121(分周回路<1>)と、電圧制御発振回路110のクロック出力信号fOSCを分周する分周回路122(分周回路<2>)と、分周回路121の出力(基準クロック信号fref)と分周回路122の出力(発振クロック信号fV)を位相比較又は周波数比較する位相比較器/周波数比較器130と、内部回路ブロック<1>,<2>に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生回路340とを備えて構成される。
The power supply
電源電圧発生回路340は、内部回路ブロック<1>に電源電圧VD1,VS1を供給し、同時に内部回路ブロック<2>に電源電圧VD2,VS2を供給するもので、制御回路341、1又は複数の第1プリセット値と1又は複数の第2プリセット値を記憶させるメモリ142、アップダウンカウンタ143、レジスタ342(レジスタ<1>)、レジスタ343(レジスタ<2>)からなるコントローラ345と、コントローラ345内のレジスタ342及びレジスタ343から出力するそれぞれのデジタル値をDA変換して電源電圧を発生するDA変換器346(DA変換器<1>)とDA変換器347(DA変換器<2>)と、DC−DCコンバータ348(DC−DCコンバータ<1>)とDC−DCコンバータ349(DC−DCコンバータ<2>)とを備えて構成される。
The power supply voltage generation circuit 340 supplies the power supply voltages V D1 and V S1 to the internal circuit block <1> and simultaneously supplies the power supply voltages V D2 and V S2 to the internal circuit block <2>. A controller 345 including a memory 142 for storing one or more first preset values and one or more second preset values, an up / down
メモリ142には、1又は複数のシステムクロック周波数に対する分周回路<1>と分周回路<2>の分周比をそれぞれ第1プリセット値として記憶させ、1又は複数のシステムクロック周波数に対する電源電圧プリセット値をそれぞれ第2プリセット値として記憶させておく。 The memory 142 stores the frequency dividing ratios of the frequency dividing circuit <1> and the frequency dividing circuit <2> for one or a plurality of system clock frequencies as first preset values, respectively, and the power supply voltage for one or a plurality of system clock frequencies Each preset value is stored as a second preset value.
コントローラ345内の制御回路341は、外部からの測定モード切替信号によって電源電圧測定モードに切り替わり、システムクロック周波数に対応した動作モード信号を受け、メモリ142内の第1プリセット値を基に分周回路<1>に分周比信号1と制御信号、分周回路<2>に分周比信号2と制御信号を出力し、電圧制御発振回路110と位相比較器/周波数比較器130にそれぞれ制御信号を出力して各部を制御し各クロック信号の位相又は周波数を比較する。また、制御回路341は、メモリ142内の第2プリセット値を用いアップダウンカウンタ143のカウント値及びレジスタ342を設定することで電圧制御発振回路110に供給する電源電圧VDM,VSMを印加する制御を行う。
A
電源電圧発生回路340内の制御回路341を、測定モード切替信号を介して電源電圧測定モードにして、実施の形態1と同じ電源電圧制御動作を行い、全てのシステムクロック周波数に対する電源電圧収束値を求め、メモリ142内の第2プリセット値を前記電源電圧収束値に置き換える。すなわち、電源電圧設定値(電源電圧収束値)が第2プリセット値としてメモリ142内に格納されることになる。
The
次に、電源電圧制御回路を測定モード切替信号を介して通常動作モードにして、電圧制御発振回路110、位相比較器/周波数比較器130、アップダウンカウンタ143を停止し、内部回路ブロック<1>と内部回路ブロック<2>それぞれのシステムクロック周波数に応じた電源電圧設定値をメモリ142からレジスタ342とレジスタ343に読み出す。レジスタ342の電源電圧設定値を基に、DA変換器346でDA変換し、DC−DCコンバータ348を介して内部回路ブロック<1>にVD1とVS1が供給される。また、レジスタ343の電源電圧プリセット値を基に、DA変換器347でDA変換し、DC−DCコンバータ349を介して内部回路ブロック<2>にVD2とVS2が供給される。
Next, the power supply voltage control circuit is set to the normal operation mode via the measurement mode switching signal, and the voltage
各内部回路ブロックにおいて、システムクロック周波数が高い周波数から低い周波数に切り替わった後、又は低い周波数から高い周波数に切り替わる前に、それに対応した動作モード信号が動作モードコントローラから制御回路に入力され、制御回路341は動作モード信号に対応したメモリ142内の第2のプリセット値を電源電圧設定値として読み出し、レジスタ342、又は343のレジスタ値を変更する。レジスタ値に対応する電源電圧が各内部回路ブロックに印加される。システムクロック周波数が低い周波数から高い周波数に切り替わる場合は、この時点でシステムクロック周波数が高い周波数に設定される。
In each internal circuit block, after the system clock frequency is switched from a high frequency to a low frequency or before switching from a low frequency to a high frequency, a corresponding operation mode signal is input from the operation mode controller to the control circuit, and the control
このように、本実施の形態によれば、電源電圧制御装置300の電源電圧発生回路340が、複数のレジスタ342,343とDA変換器346,347、DC−DCコンバータ348,349を持ち、電源電圧測定モード時に、全システムクロック周波数に対する電源電圧収束値を求め、メモリ142内に電源電圧設定値として格納し、通常動作モード時に内部回路ブロック<1>,<2>毎にシステムクロック周波数に応じてメモリ142内の電源電圧設定値を読み出すこと、及びシステムクロック周波数変更と電源電圧変更の手順最適化により、最適な電源電圧を電源電圧発生回路340から供給することができる。
As described above, according to the present embodiment, the power supply voltage generation circuit 340 of the power supply
以上の説明は本発明の好適な実施の形態の例証であり、本発明の範囲はこれに限定されることはない。 The above description is an illustration of a preferred embodiment of the present invention, and the scope of the present invention is not limited to this.
また、本実施の形態では電源電圧制御装置という名称を用いたが、これは説明の便宜上であり、電源電圧制御回路等であってもよいことは勿論である。 In the present embodiment, the name of the power supply voltage control device is used. However, this is for convenience of explanation, and it goes without saying that a power supply voltage control circuit or the like may be used.
また、上記電源電圧制御装置を構成する各回路部、例えば、クロック信号の生成方法、フリップ・フロップ等の種類、数及び接続方法などは前述した実施の形態に限られない。 In addition, each circuit unit constituting the power supply voltage control device, for example, the method of generating a clock signal, the type, number and connection method of flip-flops and the like are not limited to the above-described embodiment.
さらに、通常のシリコン基板上に構成されたMOSトランジスタだけでなく、SOI(Silicon On Insulator)構造のMOSトランジスタによって構成された半導体集積回路に対しても、実施することができる。 Further, the present invention can be applied not only to a MOS transistor configured on a normal silicon substrate but also to a semiconductor integrated circuit configured by a MOS transistor having an SOI (Silicon On Insulator) structure.
本発明に係る電源電圧制御装置は、システムクロック周波数に応じて、正常動作可能な最小電源電圧で動作する電源電圧制御回路において、電圧制御発振回路のクロック出力信号の発振周波数とシステムクロック信号の周波数の設定マージンをシステムクロック周波数及び電源電圧値に応じて最適に設定でき、さらに、システムクロック周波数の切り替わり時に、内部回路の誤動作を起こすことなく、しかも短時間に電源電圧を正常に動作可能な最小電源電圧に収束させることができる。したがって、低消費電力と安定動作の両方を同時に実現する手段として非常に有効である。 The power supply voltage control device according to the present invention includes a power supply voltage control circuit that operates at a minimum power supply voltage that can be normally operated according to a system clock frequency, and an oscillation frequency of a clock output signal of the voltage controlled oscillation circuit and a frequency of the system clock signal The setting margin can be optimally set according to the system clock frequency and the power supply voltage value. Furthermore, when the system clock frequency is switched, the internal circuit does not malfunction and the power supply voltage can be operated normally in a short time. The power supply voltage can be converged. Therefore, it is very effective as a means for simultaneously realizing both low power consumption and stable operation.
100,300 電源電圧制御装置
110 電圧制御発振回路
111 インバータ
112 NANDゲート回路
121 分周回路(分周回路<1>)
122 分周回路(分周回路<2>)
123,131〜134 フリップフロップ(FF)
124 組み合わせ論理回路
130 位相比較器/周波数比較器
130A 位相比較器
130B 周波数比較器
135,136 NAND回路
137,138 AND回路
140,340 電源電圧発生回路
141,341 制御回路
142 メモリ
143 アップダウンカウンタ
125,144,342,343 レジスタ
145,345 コントローラ
146,346,347 DA変換器
147,348,349 DC−DCコンバータ
147A 高電位側電源電圧出力回路
147B 低電位側電源電圧出力回路
151,152 カウンタ
153 カウント値比較回路
161,162,171,172 オペアンプ
163 PchMOSトランジスタ
173 NchMOSトランジスタ
200,400 内部回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100,300 Power supply
122 Frequency divider (frequency divider <2>)
123, 131-134 Flip-flop (FF)
124
Claims (14)
システムクロック信号を分周する第1分周手段と、
前記電圧制御発振手段出力を分周する第2分周手段と、
前記第1分周手段の出力信号と前記第2分周手段の出力信号とを位相比較又は周波数比較する比較手段と、
前記比較手段の出力に基づいて前記電圧制御発振手段及び1又は複数の内部回路に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生手段と、
前記システムクロック信号と前記電圧制御発振手段により生成されたクロック信号のクロック周期設定マージンをシステムクロック周波数に応じて変更できるように、前記第1及び第2分周手段の分周比を設定する制御手段と
を備えることを特徴とする電源電圧制御装置。 Voltage controlled oscillation means for generating a clock signal;
First dividing means for dividing the system clock signal;
Second frequency dividing means for dividing the voltage controlled oscillation means output;
Comparison means for phase comparison or frequency comparison of the output signal of the first frequency division means and the output signal of the second frequency division means;
Power supply voltage generating means for generating a power supply voltage to be supplied to the voltage controlled oscillation means and one or more internal circuits based on the output of the comparing means;
Control for setting a frequency division ratio of the first and second frequency dividing means so that a clock cycle setting margin of the system clock signal and the clock signal generated by the voltage controlled oscillation means can be changed according to a system clock frequency. And a power supply voltage control apparatus.
前記制御手段は、前記システムクロック周波数に対応して、前記第1プリセット値格納手段に格納されている第1プリセット値を読み出し、該第1プリセット値を基に前記第1分周手段と前記第2分周手段にそれぞれ分周比信号を出力し、
前記第1分周手段と前記第2分周手段は、前記制御手段から出力された前記分周比信号に従って分周を行うことを特徴とする請求項1記載の電源電圧制御装置。 First preset value storage means for storing a first preset value for setting a frequency division ratio of the first frequency dividing means and the second frequency dividing means corresponding to one or a plurality of system clock frequencies;
The control means reads out a first preset value stored in the first preset value storage means corresponding to the system clock frequency, and based on the first preset value, the first frequency dividing means and the first preset value. Output a division ratio signal to each of the two frequency dividing means,
2. The power supply voltage control apparatus according to claim 1, wherein the first frequency dividing unit and the second frequency dividing unit perform frequency division according to the frequency division ratio signal output from the control unit.
前記制御手段は、前記システムクロック周波数の切り替え時、前記第2プリセット値格納手段に格納されている第2プリセット値を読み出し、該第2プリセット値を電源電圧プリセット値として出力し、
前記電源電圧発生手段は、前記制御手段の出力に基づいて内部回路及び電圧制御発振手段に供給する電源電圧を発生することを特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載の電源電圧制御装置。 Second preset value storage means for storing a second preset value set higher than a minimum operating power supply voltage corresponding to one or a plurality of system clock frequencies by a predetermined amount;
The control means reads a second preset value stored in the second preset value storage means when the system clock frequency is switched, and outputs the second preset value as a power supply voltage preset value;
3. The power supply voltage according to claim 1, wherein the power supply voltage generating means generates a power supply voltage to be supplied to an internal circuit and a voltage controlled oscillation means based on an output of the control means. Control device.
基準クロック信号と前記電圧制御発振手段のクロック出力信号とを位相比較する位相比較又は周波数比較する比較手段と、
前記比較手段の出力に基づいて前記電圧制御発振手段及び1又は複数の内部回路に供給する電源電圧を発生する電源電圧発生手段と、
1又は複数のシステムクロック周波数に対応する最小動作電源電圧より所定だけ高く設定された第2プリセット値を格納する第2プリセット値格納手段と、
前記システムクロック周波数の切り替え時、前記第2プリセット値格納手段に格納されている第2プリセット値を読み出し、該第2プリセット値を電源電圧プリセット値として出力する制御手段と、
前記制御手段の出力に基づいて前記電圧制御発振手段及び1又は複数の内部回路に供給する電源電圧を発生するDA変換器と
を備えることを特徴とする電源電圧制御装置。 Voltage controlled oscillation means for generating a clock signal;
A phase comparison for comparing a phase of a reference clock signal and a clock output signal of the voltage controlled oscillation means, or a comparison means for frequency comparison;
Power supply voltage generating means for generating a power supply voltage to be supplied to the voltage controlled oscillation means and one or more internal circuits based on the output of the comparing means;
Second preset value storage means for storing a second preset value that is set higher than a minimum operating power supply voltage corresponding to one or more system clock frequencies by a predetermined amount;
Control means for reading the second preset value stored in the second preset value storage means when the system clock frequency is switched, and outputting the second preset value as a power supply voltage preset value;
A power supply voltage control apparatus comprising: a DA converter that generates a power supply voltage to be supplied to the voltage controlled oscillation means and one or a plurality of internal circuits based on an output of the control means.
複数のシステムクロック周波数に対応する所定の動作電源電圧を電源電圧設定値として記憶させたプリセット値格納手段と、
システムクロック周波数が高い周波数から低い周波数に切り替わった後に、プリセット値格納手段に記憶されている前記低い周波数に対応する電源電圧設定値を読み出し、該電源電圧設定値を動作電源電圧値として出力し、
システムクロック周波数が低い周波数から高い周波数に切り替わる前に、プリセット値格納手段に記憶されている前記高い周波数に対応する電源電圧設定値を読み出し、該電源電圧設定値を動作電源電圧値として出力する制御を行う制御手段と
を備えることを特徴とする電源電圧制御装置。
Power supply voltage generating means for generating a power supply voltage to be supplied to the internal circuit;
Preset value storage means for storing a predetermined operating power supply voltage corresponding to a plurality of system clock frequencies as a power supply voltage setting value;
After the system clock frequency is switched from a high frequency to a low frequency, the power supply voltage setting value corresponding to the low frequency stored in the preset value storage means is read, and the power supply voltage setting value is output as an operating power supply voltage value.
Control that reads the power supply voltage setting value corresponding to the high frequency stored in the preset value storage means and outputs the power supply voltage setting value as the operating power supply voltage value before the system clock frequency is switched from a low frequency to a high frequency And a control means for performing power supply voltage control apparatus.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005312811A JP4542978B2 (en) | 2005-10-27 | 2005-10-27 | Power supply voltage control device |
TW095139351A TW200727570A (en) | 2005-10-27 | 2006-10-25 | Power supply voltage control apparatus |
CN2006101375005A CN1956308B (en) | 2005-10-27 | 2006-10-26 | Power supply voltage control apparatus |
CN2011102745443A CN102315772A (en) | 2005-10-27 | 2006-10-26 | Power supply voltage control apparatus |
US11/553,145 US7501868B2 (en) | 2005-10-27 | 2006-10-26 | Power supply voltage control apparatus |
KR1020060104484A KR20070045952A (en) | 2005-10-27 | 2006-10-26 | Power supply voltage controller |
US12/360,475 US7808306B2 (en) | 2005-10-27 | 2009-01-27 | Power supply voltage control apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005312811A JP4542978B2 (en) | 2005-10-27 | 2005-10-27 | Power supply voltage control device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007124213A JP2007124213A (en) | 2007-05-17 |
JP4542978B2 true JP4542978B2 (en) | 2010-09-15 |
Family
ID=37995464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005312811A Expired - Fee Related JP4542978B2 (en) | 2005-10-27 | 2005-10-27 | Power supply voltage control device |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7501868B2 (en) |
JP (1) | JP4542978B2 (en) |
KR (1) | KR20070045952A (en) |
CN (2) | CN102315772A (en) |
TW (1) | TW200727570A (en) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4542978B2 (en) * | 2005-10-27 | 2010-09-15 | パナソニック株式会社 | Power supply voltage control device |
JP2007288974A (en) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Power supply apparatus and power supplying method |
JP4162251B2 (en) * | 2006-12-07 | 2008-10-08 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | Semiconductor integrated circuit device and internal power supply control system including the same |
WO2008099878A1 (en) * | 2007-02-14 | 2008-08-21 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit device |
JP2008228362A (en) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Power supply unit |
JP4641325B2 (en) * | 2007-03-16 | 2011-03-02 | 富士通株式会社 | PLL frequency synthesizer |
US9134782B2 (en) | 2007-05-07 | 2015-09-15 | Nvidia Corporation | Maintaining optimum voltage supply to match performance of an integrated circuit |
JP5194663B2 (en) * | 2007-09-13 | 2013-05-08 | 株式会社リコー | Semiconductor device |
JP5291703B2 (en) * | 2008-04-17 | 2013-09-18 | 株式会社アドバンテスト | Power stabilization circuit, electronic device, and test apparatus |
TWI375879B (en) * | 2008-08-21 | 2012-11-01 | Asustek Comp Inc | Power start-up control device and method |
US7952401B2 (en) * | 2008-10-24 | 2011-05-31 | Freescale Semiconductor, Inc. | Standby control circuit and method |
JP5267055B2 (en) * | 2008-10-31 | 2013-08-21 | 富士通株式会社 | Power supply voltage output circuit |
JP2010232848A (en) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Oki Semiconductor Co Ltd | Start-up circuit for internal power supply of semiconductor memory |
KR101053648B1 (en) * | 2009-07-01 | 2011-08-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | Delay fixed loop circuit |
JP2011066317A (en) * | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Sony Corp | Semiconductor device |
JP2011066791A (en) * | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Renesas Electronics Corp | Semiconductor integrated circuit device, and power supply voltage control method |
US8154335B2 (en) * | 2009-09-18 | 2012-04-10 | Stmicroelectronics Pvt. Ltd. | Fail safe adaptive voltage/frequency system |
US8378738B1 (en) * | 2009-10-16 | 2013-02-19 | Marvell International Ltd. | Adaptive voltage scaling using a delay line |
GB201003030D0 (en) * | 2010-02-23 | 2010-04-07 | Icera Inc | Digital frequency locked loop |
KR101086877B1 (en) * | 2010-02-25 | 2011-11-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor devices |
JP5609326B2 (en) * | 2010-07-01 | 2014-10-22 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Clock divider circuit |
US8760217B2 (en) * | 2011-02-25 | 2014-06-24 | Qualcomm Incorporated | Semiconductor device having on-chip voltage regulator |
JP5826557B2 (en) * | 2011-08-19 | 2015-12-02 | 日本電波工業株式会社 | Sensing device and sensing method |
JP5575073B2 (en) * | 2011-09-06 | 2014-08-20 | 株式会社東芝 | Oscillator and wireless communication device |
WO2013085499A1 (en) * | 2011-12-06 | 2013-06-13 | Intel Corporation | Low power voice detection |
US8810330B2 (en) * | 2012-09-14 | 2014-08-19 | Infineon Technologies Ag | DC power supply circuit, oscillator circuit and method for generating a DC power supply signal |
US8810304B2 (en) * | 2012-09-28 | 2014-08-19 | Intel Corporation | Adaptive power gating and regulation |
US9939883B2 (en) | 2012-12-27 | 2018-04-10 | Nvidia Corporation | Supply-voltage control for device power management |
CN104217747B (en) * | 2013-06-03 | 2017-02-08 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | flash memory and flash memory reference source circuit switching method |
US9602083B2 (en) | 2013-07-03 | 2017-03-21 | Nvidia Corporation | Clock generation circuit that tracks critical path across process, voltage and temperature variation |
US9766649B2 (en) * | 2013-07-22 | 2017-09-19 | Nvidia Corporation | Closed loop dynamic voltage and frequency scaling |
US10103719B2 (en) | 2013-07-22 | 2018-10-16 | Nvidia Corporation | Integrated voltage regulator with in-built process, temperature and aging compensation |
US10466763B2 (en) | 2013-12-02 | 2019-11-05 | Nvidia Corporation | Dynamic voltage-frequency scaling to limit power transients |
CN103780097B (en) * | 2014-02-25 | 2017-12-29 | 成都芯源系统有限公司 | Switching power converter, clock module, control circuit and related control method |
JP6268020B2 (en) * | 2014-03-26 | 2018-01-24 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | Clock generation method and semiconductor device |
JP2015216734A (en) * | 2014-05-08 | 2015-12-03 | キヤノン株式会社 | Image forming apparatus and power source device |
US9509318B2 (en) * | 2015-03-13 | 2016-11-29 | Qualcomm Incorporated | Apparatuses, methods, and systems for glitch-free clock switching |
DE102016125717A1 (en) * | 2016-12-27 | 2018-06-28 | Infineon Technologies Ag | Voltage comparator arrangement, electronic component, chip card, embedded security element |
KR102081488B1 (en) * | 2017-08-31 | 2020-02-25 | 전자부품연구원 | High Precision Algorithmic ADC with Adaptive A/D Conversion Time for Sensor Applications |
CN110277911B (en) * | 2018-03-15 | 2024-06-11 | 深圳市三诺数字科技有限公司 | Power supply circuit applied to sound equipment and sound equipment |
KR102591678B1 (en) * | 2019-01-15 | 2023-10-20 | 한국전자통신연구원 | Semiconductor device using temperature effect inversion |
JP7646398B2 (en) | 2021-03-12 | 2025-03-17 | キヤノン株式会社 | PLL circuit, semiconductor device, equipment |
CN112835407B (en) * | 2021-04-22 | 2021-07-20 | 浙江地芯引力科技有限公司 | Multi-voltage-domain generating circuit based on single power supply |
US12224758B2 (en) * | 2023-02-13 | 2025-02-11 | Himax Technologies Limited | Power system and method for monitoring a working environment of a monitored circuit and adjusting a working voltage of the monitored circuit |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62159029U (en) * | 1986-03-31 | 1987-10-08 | ||
JPH04360312A (en) * | 1991-06-06 | 1992-12-14 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device and signal processing unit |
JPH0661852A (en) * | 1992-08-04 | 1994-03-04 | Nec Corp | Phase locked loop |
JPH09285109A (en) * | 1996-04-09 | 1997-10-31 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
JPH09289448A (en) * | 1996-04-24 | 1997-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Receiving device |
JP2001085996A (en) * | 1999-09-09 | 2001-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | High-speed lockup circuit |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5334952A (en) * | 1993-03-29 | 1994-08-02 | Spectralink Corporation | Fast settling phase locked loop |
JP3679503B2 (en) * | 1996-06-11 | 2005-08-03 | 松下電器産業株式会社 | Frequency synthesizer |
JP3694998B2 (en) | 1996-08-05 | 2005-09-14 | ソニー株式会社 | Voltage generation circuit |
US5757238A (en) * | 1996-08-19 | 1998-05-26 | International Business Machines Corporation | Fast locking variable frequency phase-locked loop |
WO1999021281A1 (en) * | 1997-10-21 | 1999-04-29 | Lautzenhiser Lloyd L | Adaptive frequency-hopping oscillators |
JP3024614B2 (en) * | 1997-10-24 | 2000-03-21 | 日本電気株式会社 | Semiconductor integrated circuit using variation compensation technology |
JP2000216337A (en) | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Sony Corp | Power supply voltage controller |
JP4114291B2 (en) * | 1999-01-20 | 2008-07-09 | ソニー株式会社 | Semiconductor device and configuration method thereof |
WO2001046767A1 (en) * | 1999-12-22 | 2001-06-28 | Sony Corporation | Voltage supply circuit and method of controlling the same |
JP2002100967A (en) * | 2000-03-17 | 2002-04-05 | Sony Corp | Power supply voltage controller, semiconductor device and its drive method |
US7148755B2 (en) * | 2003-08-26 | 2006-12-12 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method to adjust voltage |
US7327196B2 (en) * | 2004-12-03 | 2008-02-05 | Avaak Inc. | Fast switching phase lock loop (PLL) device and method |
JP4542978B2 (en) * | 2005-10-27 | 2010-09-15 | パナソニック株式会社 | Power supply voltage control device |
-
2005
- 2005-10-27 JP JP2005312811A patent/JP4542978B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-10-25 TW TW095139351A patent/TW200727570A/en unknown
- 2006-10-26 KR KR1020060104484A patent/KR20070045952A/en not_active Application Discontinuation
- 2006-10-26 US US11/553,145 patent/US7501868B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-10-26 CN CN2011102745443A patent/CN102315772A/en not_active Withdrawn
- 2006-10-26 CN CN2006101375005A patent/CN1956308B/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-01-27 US US12/360,475 patent/US7808306B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62159029U (en) * | 1986-03-31 | 1987-10-08 | ||
JPH04360312A (en) * | 1991-06-06 | 1992-12-14 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device and signal processing unit |
JPH0661852A (en) * | 1992-08-04 | 1994-03-04 | Nec Corp | Phase locked loop |
JPH09285109A (en) * | 1996-04-09 | 1997-10-31 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
JPH09289448A (en) * | 1996-04-24 | 1997-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Receiving device |
JP2001085996A (en) * | 1999-09-09 | 2001-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | High-speed lockup circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070096781A1 (en) | 2007-05-03 |
US7808306B2 (en) | 2010-10-05 |
US7501868B2 (en) | 2009-03-10 |
TW200727570A (en) | 2007-07-16 |
KR20070045952A (en) | 2007-05-02 |
CN1956308B (en) | 2011-11-09 |
JP2007124213A (en) | 2007-05-17 |
CN1956308A (en) | 2007-05-02 |
US20090128118A1 (en) | 2009-05-21 |
CN102315772A (en) | 2012-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4542978B2 (en) | Power supply voltage control device | |
KR100473813B1 (en) | Digital duty cycle correction circuit for multi-phase clock and method thereof | |
US6333652B1 (en) | Delay circuit | |
US7567106B2 (en) | Duty cycle correction circuit, clock generation circuits, semiconductor devices using the same, and method for generating clock signal | |
US6492862B2 (en) | Charge pump type voltage conversion circuit having small ripple voltage components | |
US5577086A (en) | Clock signal generation circuit capable of operating at high speed with high frequency | |
US7667509B2 (en) | Delay time adjusting method of delaying a phase of an output signal until a phase difference between an input signal and the output signal becomes an integral number of periods other than zero | |
JP4558701B2 (en) | Voltage buffer and voltage buffer source driver | |
US20070201294A1 (en) | Control circuit for power supply device, power supply device, and control method thereof | |
US6624706B2 (en) | Automatic bias adjustment circuit for use in PLL circuit | |
JP2011259331A (en) | Pll circuit | |
US11409324B2 (en) | Clock compensation circuit | |
KR20010107531A (en) | Semiconductor integrated device, methods of detecting and correcting a voltage drop in an integrated circuit | |
US9548656B1 (en) | Low voltage ripple charge pump with shared capacitor oscillator | |
TWI392236B (en) | Clock generation circuit, chip and method for generating clock | |
KR101242302B1 (en) | Digital duty-cycle correction circuit using feedback duty-cycle correction unit and method for controlling the same | |
US7764096B2 (en) | DLL circuit and method of controlling the same | |
JP5000265B2 (en) | Clock generation circuit | |
US6456129B1 (en) | Internal clock signal generator | |
US20110291726A1 (en) | Duty correcting circuit, delay-locked loop circuit including the circuit, and method of correcting duty | |
JPH09285109A (en) | Semiconductor device | |
JP2004222261A (en) | Differential charge pump and method as well as phase locked loop using this and method | |
JP2005136798A (en) | Clock generating system, and semiconductor integrated circuit | |
JP3780143B2 (en) | DLL system | |
US11022997B2 (en) | Semiconductor device, signal processing device, and control method of signal processing device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080731 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100223 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100601 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100628 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |