JP4533044B2 - センサ - Google Patents
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Description
Adv.Mater.2002、14、No.22、p.1629(2002)
標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体と、
該周期構造体に電磁波を照射する手段と、
該周期構造体から出射される電磁波を測定し、その結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段とを有することを特徴とする。
標的物質を含む流体を流すための流路と、
前記流路の少なくとも一部に配置され、標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体と、
該周期構造体に電磁波を照射する手段と、
該周期構造体から出射される電磁波を測定し、その結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段とを有することを特徴とする。
標的物質を含む流体を流すための流路と、
前記流路の少なくとも一部に配置され、標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす複数の周期構造体と、
該周期構造体に電磁波を照射する手段と、
該周期構造体から出射される電磁波を測定し、その結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段とを有することを特徴とする。
標的物質を含む流体が通過する複数の孔と電磁波を透過する材質からなる固体部分とを含み、径方向に屈折率の分布をなす光ファイバと、
該光ファイバに電磁波を導入する手段と、
該光ファイバから径方向に出射される電磁波を測定し、該径方向の屈折率の変化を検出する手段とを有することを特徴とする。
本発明による標的物質検知センサはフォトニック結晶を用いている。一般にフォトニック結晶は、光(一般には電磁波)に対して周期的な屈折率分布をなす屈折率周期構造体であり、屈折率の異なる物質を周期的に配置するか、あるいは単独の物質で周期構造を形成して、その間隙に空気または真空があるような構造体としてもつくることができる。周期構造は1次元、2次元、3次元いずれもありえる。その周期は扱う電磁波の波長程度であり、例えば電磁波として波長800ナノメートルの光を扱った場合、この光に対して周期構造の周期は200ナノメートルや400ナノメートルなどが考えられる。
本発明で用いるフォトニック結晶は、光透過性の材質でできた固体部分の構造材と物質がない空部分(以下空構造ともいう)とから構成されている。固体部分としてシリコンなどの誘電体、空構造としてはシリコンに空けられた細孔などが挙げられる。周期構造は空構造と固体部分が1次元、2次元または3次元に周期的に並んだ構造として形成される。フォトニック結晶中には標的物質と結合する結合物質をあらかじめ配しておく。
本発明は、フォトニック結晶の次元によらず適用できる。
検出対象物質の付着によるフォトニックバンド構造の変化の検出方法としては、次の(1)ないし(3)の方法がある。
図11において3401はフォトニック結晶、3402はこのフォトニック結晶に光を照射するレーザなどの光照射手段である。フォトニック結晶は、図3に示す柱状の構造材が規則配列したものを用いる。なお、フォトニック結晶の2次元面を図中の白い丸のマトリクスで模式的に表している。図15、18、20及び21においても同様である。柱の間隙に被検査液を流し、標的物質を付着させる。透過光3403が信号光検出器3404に入り検出される。透過光を検出する代わりに反射光を検出してもよい。
フォトニック結晶に結晶欠陥を導入することにより、バンドギャップ内に欠陥準位が生じ、その準位の波長の光が透過するようになる。この透過光の変化を測定することにより標的物質を検出する。
標的物質の検出すなわち結合物質への付着にともなうフォトニックバンド構造の変化を、フォトニック結晶構造中を透過する光の経路の変化あるいは光の進行方向の変化で検出することもできる。
次に流路中のフォトニック結晶の配置について説明する。
A-1.周期構造が流路に平行である場合
図24は、本発明における周期構造体すなわちフォトニック結晶を、被検査液などの流体を流す流路の一部に設けてセンサとした、センサチップの模式図である。
フォトニック結晶を透過した光はもう一方の流路壁502の側面から出射される、この光(信号光)606をレンズ610でコリメートして偏光制御手段である偏光板607を通ることで、TM偏光成分だけを取り出して、最終的にレンズ611により集光して電磁波検出器であるフォトダイオード608で検出する。
図27は、フォトニック結晶からの反射光の強度変化を測定する方法を用いた例である。フォトダイオード608他の光検出系が光源系と同じく基板の上方に配置されている。また、レーザ光をフォトニック結晶の所定位置に照射し、所定位置からの反射光を検出するためのアライメント手段801、802、センサチップの温度を制御するための、温度コントローラ804、及び温度コントローラ804に接続された温度制御手段803を配置している。他は、A-2と同じ構成である。
光を流路内に導き、流路に沿って進行させ、流路途中にあるフォトニック結晶に入射させることもできる。後の例で詳しく説明するが、図33に示すように、流路をフォトニック結晶の上流と下流の両側で90°折り曲げ、折り曲げ部分から外部光を流路内に導き、フォトニック結晶を透過させ、もう一方の折り曲げ部分から外部に取りだす。
被検査液中に複数の標的物質が含まれているとき、各々に標的物質と固有に反応する結合物質を付着させた複数のフォトニック結晶を流路中に配置し、それぞれを測定することによって、複数の標的物質を同時に検出することができる。
C-1.複数光源で測定する場合
図28、29に、A-1で説明した図25、26のフォトニック結晶を、流路中に複数個直列配置したセンサの例を示す。ここでいう直列とは、流路に沿って上流から下流に並んで配置された状態をいう。配置は流路方向に厳密に一直線上である必要はなく、構造および測定光学系の配置に応じて適宜選択されてよい。
図30は、一つの電磁波発生手段で、複数の標的物質を検出するための本発明におけるセンサの1例を示す図である。
本発明のセンサは、複数のフォトニック結晶を流路に対して並列に配置して構成することもできる。ここでいう並列とは、フォトニック結晶が流路の方向に並んで配置されていることを意味する。流れの方向に厳密に直交している必要はなく、測定光が流路に交差して照射され、すべてのフォトニック結晶中を順に伝播するような配置であればよいことは、以下の説明から理解されるであろう。
複数のフォトニック結晶が流路に並列配置されたセンサチップを複数個用いて、さらに多くの種類の標的物質を検出するための構成例を図32に示す。
上述した、直列配置及び並列配置の実施形態の説明から、1つの流路に、3個ずつ並列配置されたフォトニック結晶が1つの流路内に直列に置かれていてもよいことは、言うまでもない。
通常の光ファイバのクラッドに相当する部分に空孔を設け、実効的な屈折率を小さくした光ファイバが米国特許6334019で提案され、ホーリー(holey)ファイバとして知られている。高屈折率材料からなるコア部と、コア部と比較して低屈折率材料から成るクラッド部との界面における電磁波の全反射を用いた従来の光ファイバなどに対し、コア部とクラッド部の材質が同じであってもよく、新しい光ファイバとして注目されている。固体部分としてはガラスやプラスチック材料が用いられる。ホーリーファイバにおいては孔はその長さ方向に連続して存在し、断面は固体部分のコアと、その周りの中空領域からなる。中空領域は空孔が規則的に配列している場合と、ランダムな場合とがある。空孔の規則配列が周期的で、フォトニック結晶と同じくバンドギャップを持つ場合は、フォトニック結晶ファイバと呼ばれる。
本明細書における流体を流すための流路について以下に説明する。流路は基体の表面もしくは内部に形成された溝あるいは孔によって構成される。
本発明における光あるいは電磁波照射手段は、センシングに用いる光の発生源としてレーザを含む。レーザからの光をレンズなどによりコリメートすることによりセンシングのための照射光とすることができる。本明細書中では、電磁波照射手段とはセンシングに適した電磁波を発生、出射するための構成要素をすべて備えたものをいう。
本発明において検査対象となる流体は、気体もしくは液体であるが、流動性があれば固体成分を含んでいてもよい。
(1)環境汚染物質センサ
(2)化学工業、食品工業、薬品工業等の産業での工程・品質管理用、コンビナトリアル合成・コンビナトリアルスクリーニング用センサ
(3)疾病、健康状態診断用センサ
がある。
本発明で用いるフォトニック結晶の構造材表面には検出する対象となる標的物質と結合する結合物質が配置されている。
本発明のセンサにおける固体部分の空構造側の表面に、標的物質に対して結合親和力を有する分子(以下、結合物質と記載する。)を固定化する方法としては、固体部分の表面と結合物質との疎水性、イオン性、ファンデルワールス力等の物理的親和力による物理吸着によることもできるが、再現性や安定性を考慮すると、固体部分を、官能基を有する表面修飾剤で処理し、この官能基と、結合物質が有する官能基とを、そのまま、あるいは変換・修飾・活性化試薬の存在下に結合させて、不可逆的な共有結合を介在させることがより望ましい。
上で説明したフォトニック結晶を用いて、これに光を照射する手段としての光源と、出射光を検出する手段としての検出器を組み合わせたセンサ装置の例を以下に示す。
図39は本発明のセンサの第2の実施例で、バイオセンサユニット3200には、反応物質を含んでいるフォトニック結晶3201が含まれている。外部ユニット3202には光照射手段3203、信号光検出手段3204が含まれており、これにフォトニック結晶を含むバイオセンサ3200を装着する。
図40および図41に本発明におけるセンサの実施例を示す。図中にx,y,z座標を定義する。図40は本実施例の鳥瞰図であり、光導波路2107を含むxz平面に平行な面における断面図が図41である。SOI(Silicon on Insulator)基板2101は基板部分2102、厚さおよそ1マイクロメートルの絶縁層2103、厚さ約200ナノメートルのSOI層2104からなるものであり、電子線リソグラフィーおよびドライエッチングなどのプロセスを経てそのSOI層部分に幅約1マイクロメートルの溝2106に挟まれた幅約5マイクロメートルの二つの光導波路2107と、これら二つの光導波路2107の間の約100マイクロメートル×100マイクロメートルの領域に格子定数約400ナノメートル、孔半径約110ナノメートルの複数の孔2105が2次元面内三角格子状に周期的に配列するように作製されたものである。この周期的に配列された複数の孔からなる周期構造はフォトニック結晶として機能する。絶縁層はBOX層(Barried Oxide Layer)とも称される。また、絶縁層2103と基板部分2102のうち、SOI基板2101のフォトニック結晶が作製された領域とSOI基板2101面垂直方向において重なる領域を、基板裏面からドライエッチングを用いて除去することにより空領域2108を設け、SOI層2104に作製されたフォトニック結晶の複数の孔2105と空領域は2108は空間的につながり、SOI基板2101は面に垂直方向に貫通されていることになる。空領域2108は流路の一部として機能する。このことにより、図41中の矢印が示すように、標的物質を含有した流体をSOI層2104の孔2105および空領域2108を通して流すことが可能になる。また、孔の側壁にあらかじめ流体中の標的物質としての抗体と特異的に吸着する抗原を担持しておき、二つの光導波路2107の一方から検出に用いる光を伝播させてもう一方の光導波路を伝播してくる光を測定する。たとえば、抗体が抗原と吸着するときとしないときでの測定光のスペクトルから標的物質を検出することができる。
本発明のセンサのまた別の実施例を図44および図45に示す。図中にx,y,z座標を定義する。図44は本実施例の鳥瞰図であり、フォトニック結晶の領域を含むyz平面に平行な面における断面図が図45である。2501は、幅約1マイクロメートルの溝2503に挟まれた幅約5マイクロメートルの二つの光導波路2504と、二つの光導波路2504の間の領域に半径が約110ナノメートルの複数の孔2502が格子定数約400ナノメートルの三角格子状の周期構造を形成するように配列されたフォトニック結晶領域が作製された、厚さ約1マイクロメートルの薄膜である。溝2503および孔2502は薄膜面垂直方向に貫通している。PDMS材料よりなる平面基板を加工して流路としての空領域2506および2508を設けた流路部材2505と2507により薄膜2501を挟むように積層することにより、流路が一体化したセンサを構成することができる。ここでPDMS材料の代わりにSi、SiO2、などを用いることも可能である。このとき流路部材2505および2507の流路としての空領域2506、2508はその一部が、薄膜2501面垂直方向においてフォトニック結晶部と重なりを有するが、溝2503とは重なりを有さないように構成する。このように構成することにより図45矢印で示すように、流体は漏れることなく流路2506から複数の孔2502を通り流路2508へと流れてゆくことが可能となる。
図48、図49に示すものは、実施例4におけるSOI基板2701のドライエッチングを用いて作製した空領域2708を、異方性エッチングにより作製した空領域2901とすることにより、本発明のセンサの実施例を構成したものである。この場合、流路部材2507に設けられた流路としての空領域2508の一部がSOI基板2701の空領域2901と、SOI基板2701面垂直方向において重なりを有するように構成する。図中にx,y,z座標を定義する。図48は本実施例の鳥瞰図であり、フォトニック結晶の領域を含むyz平面に平行な面における断面図が図49である。
図52および図53に本発明におけるセンサの実施例を示す。図中にx,y,z座標を定義する。図52は本実施例の鳥瞰図であり、フォトニック結晶の領域を含むyz平面に平行な面における断面図が図53である。SOI基板3301は基板部分3302、厚さおよそ1マイクロメートルのSiO2からなる絶縁層3303、厚さ約220ナノメートルのSOI層3304からなるものであり、電子線リソグラフィーおよびドライエッチングなどのプロセスを経てそのSOI層3304に幅約1マイクロメートルの溝3307に挟まれた幅約5マイクロメートルの二つの光導波路3306と、SOI層3304および絶縁層3303にSOI基板3301面垂直方向につながった半径約110ナノメートルの複数の孔を、二つの光導波路3306の間の約100マイクロメートル×100マイクロメートルの領域に格子定数約400ナノメートルで2次元面内三角格子状に周期的に配列するように作製したものである。この周期的に配列された複数の孔3305からなる周期構造はフォトニック結晶として機能する。また、基板部分3302のうち、SOI基板3301のフォトニック結晶が作製された領域とSOI基板3301の面垂直方向において重なる領域を、基板裏面からドライエッチングを用いて除去することにより空領域3308を設け、SOI層3304と絶縁層3303に作製されたフォトニック結晶の複数の孔3305と空領域3308は空間的につながり、SOI基板3301は面に垂直方向に貫通されていることになる。空領域3308は流路の一部として機能する。このことにより、図53中の矢印が示すように、標的物質を含有した流体をSOI層3304および絶縁層3303の孔3305および空領域3308を通して流すことが可能になる。SOI基板3301をその面に垂直方向に挟むように流路部材2505と2506を積層する。流路2506の一部がフォトニック結晶の領域と基板面に垂直な方向において重なりを有し溝3306と重なりを有さないように、流路2508の一部が空領域3308と重なりを有するように、流路部材2505と2507およびSOI基板3301を積層する構成とすることにより、標的物質を含有する流体は漏れることなく、流路2506から複数の孔3305および空領域3308を通り、流路2508へと流れることが可能となる。
102:固体部分
103:空構造
201:二次元周期構造
202:固体部分
203:空構造
301:三次元周期構造(=フォトニック結晶)
302:固体部分(=微小スチレン球)
303:空構造(=隙間部分)
401:周期構造(=フォトニック結晶)
402:固体部分
403:空構造
501:センサチップ
502:流路側壁部
503:フォトニック結晶
504:流路
505:絶縁層
601:電磁波照射手段
602:レーザ
603:光学系
604:偏光板
605:レーザ光
606:信号光
607:偏光板
608:フォトダイオード
609:(集光)レンズ
610:レンズ
611:レンズ
701:センサチップ
702:下層部(絶縁層)
703:流路側壁部
704:流路
801:アライメント手段
802:アライメント手段
803:温度制御手段
804:温度コントローラ
901:センサチップ
902:絶縁層
903:障壁部
904:流路
905:フォトニック結晶
906:フォトニック結晶
907:フォトニック結晶
908:光導波路
909:光導波路
910:隙間
1001:電磁波照射手段
1002:電磁波照射手段
1003:電磁波照射手段
1004:半導体レーザ
1005:半導体レーザ
1006:半導体レーザ
1007:光学系
1008:光学系
1009:光学系
1010:偏光板
1011:偏光板
1012:偏光板
1013:レンズ
1014:レンズ
1015:レンズ
1016:レーザ光
1017:レーザ光
1018:レーザ光
1019:信号光
1020:信号光
1021:信号光
1022:レンズ
1023:レンズ
1024:レンズ
1025:偏光板
1026:偏光板
1027:偏光板
1028:アライメント手段
1029:アライメント手段
1030:アライメント手段
1031:フォトダイオード
1032:フォトダイオード
1033:フォトダイオード
1101:センサチップ
1102:障壁部
1103:流路
1104:フォトニック結晶
1105:フォトニック結晶
1106:フォトニック結晶
1107:電磁波照射手段
1108:波長可変レーザ
1109:ビームスプリッター
1110:ミラー
1111:ビームスプリッター
1112:ミラー
1113:レーザ光
1114:レーザ光
1115:レーザ光
1116:レーザ光
1117:レーザ光
1118:アライメント手段
1119:アライメント手段
1120:アライメント手段
1121:偏光板
1122:偏光板
1123:偏光板
1124:光
1125:光
1126:光
1127:信号光
1128:信号光
1129:信号光
1130:偏光板
1131:偏光板
1132:偏光板
1133:分光器
1134:分光器
1135:分光器
1136:スペクトル検出器
1137:スペクトル検出器
1138:スペクトル検出器
1139:光導波路
1140:光導波路
1141:隙間
1142:レンズ
1143:レンズ
1144:レンズ
1145:レンズ
1146:レンズ
1147:レンズ
1148:レンズ
1149:レンズ
1150:レンズ
1201:センサチップ
1202:流路側壁部
1203:流路
1204:フォトニック結晶
1205:フォトニック結晶
1206:フォトニック結晶
1207:電磁波照射手段
1208:波長可変レーザ
1209:レーザ光
1210:アライメント手段
1211:偏光板
1212:レーザ光
1213:信号光
1214:偏光板
1215:スペクトル検出器
1216:流体の流れる方向
1217:レンズ
1218:レンズ
1219:レンズ
1220:光導波路
1221:光導波路
1301:センサチップ
1302:流路側壁部
1303:流路
1304:フォトニック結晶
1305:フォトニック結晶
1306:フォトニック結晶
1307:広帯域発光ダイオード
1308:光
1309:光
1310:ハーフミラー
1311:偏光板
1312:ミラー
1313:偏光板
1314:光
1315:信号光
1316:偏光板
1317:スペクトル検出器
1318:偏光板
1319:信号光
1320:スペクトル検出器
1321:レンズ
1322:レンズ
1323:レンズ
1324:レンズ
1325:光学系
1326:電磁波照射手段
1327:レンズ
1328:レンズ
1401:絶縁層
1402:流路側壁部
1403:流路
1404:流路
1405:流路
1406:フォトニック結晶
1407:フォトニック結晶
1408:フォトニック結晶
1409:フォトニック結晶
1410:フォトニック結晶
1411:フォトニック結晶
1412:フォトニック結晶
1413:フォトニック結晶
1414:フォトニック結晶
1415:波長可変レーザ
1416:ビームシェイプパー
1417:レーザ光
1418:ビームスプリッター
1419:ビームスプリッター
1420:ミラー
1421:アライメント手段
1422:偏光板
1423:光
1424:光
1425:光
1426:信号光
1427:信号光
1428:信号光
1429:偏光板
1430:スペクトル検出器
1431:センサチップ
1432:基板
1433:電磁波照射手段
1434:センサチップ
1501:フォトニック結晶ファイバ
1502:固体部分
1503:孔
1504:コア部
1601:孔が存在する領域
1602:流体の流れる方向
1603:偏波保持シングルモード光ファイバ
1604:レンズ
1605:導入口
1606:光
1607:光
1608:信号光
1609:レンズ
1610:偏光板
1611:レンズ
1612:フォトダイオード
1613:曲がり部
1614:曲がり部
1701:フォトニック結晶ファイバ
1702:固体部分
1703:孔
1704:コア部
1801:センサチップ
1802:流路側壁部
1803:光を導入する部分
1804:障壁部
1805:流体の流れる方向
1806:偏波保持シングルモードファイバ
1807:偏光板
1808:レンズ
1809:光
1810:レンズ
1811:偏光板
1812:レンズ
1813:信号光
1814:フォトダイオード
1815:溝
2000:バイオセンサの本体パッケージ
2001:フォトニック結晶構造
2002:穴
2003:光源
2004:空洞部
2005:信号光検出部
2006:空洞部
2101:SOI基板
2102:基板部分
2103:絶縁層
2104:SOI層
2105:孔
2106:溝
2107:光導波路
2108:空領域
2301:Oリング
2302:流路
2501:薄膜
2502:孔
2503:溝
2504:光導波路
2505、2507:流路部材
2506、2508:空領域(流路)
2701:SOI基板
2702:基板部分
2703:絶縁層
2704:SOI層
2705:孔
2706:溝
2708:空領域
2901:空領域
3000:バンドギャップ
3001:バンド端
3102、3104:空領域(流路)
3101、3103:流路部材
3200:バイオセンサユニット
3201:フォトニック結晶
3202:外部ユニット
3203:光照射手段
3204:信号光検出手段
3205:凸構造
3206:凹構造
3301:SOI基板
3302:基板部分
3303:絶縁層
3304:SOI層
3305:複数の孔
3306:光導波路
3307:溝
3308:空領域
3401:フォトニック結晶
3402:光照射手段(=光源)
3403:透過光
3404:(信号光)検出器
3501:フォトニック結晶
3502:欠陥
3503:(入射)光
3504:透過光
3505:反射光
3600:フォトニック結晶
3601:構造材
3602:孔
3701:結合物質
3801:欠陥部の柱状構造体(太い)
3901:欠陥部の柱状構造体(細い)
4001:柱状構造の欠損
4100:フォトニック結晶
4101:構造材(=柱状構造体)
4102:空構造
4201:結合物質
4301:被検査液
4302:標的物質
4401:フォトニック結晶構造(欠陥あり)
4402:光源
4403:透過光
4405:反射光
4501:フォトニック結晶構造
4502:光源
4504:検出器
4602:入射面
4604:光路(標的物質の付着なし)
4605:光路(標的物質の付着あり)
4606:出射面
4701:出射面(円形)
4801:境界面の方向
4802、4807、4901、4904:入射光の波数ベクトル
4803:等エネルギー面
4804:ベクトルの入射面に平行な成分
4805、4809、4902、4905:交点
4806、4810、4903、4906:フォトニック結晶中の光のエネルギーの進行方向
4808:境界面方向に平行な成分
Claims (30)
- 流体中に存在する標的物質を検出する装置であって、
標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体と、
該周期構造体に電磁波を照射する手段と、
該周期構造体から出射される電磁波を測定し、その結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段と
を有し、
前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体における、該屈折率の周期分布の変化を検出する手段は、該周期構造体から出射される電磁波の進行方向の変化を測定する
ことを特徴とする装置。 - 前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体における、該屈折率の周期分布の変化は、
標的物質と選択的に結合する結合物質が前記固体部分の表面に配置されており、標的物質が該結合物質と結合したことによる屈折率の周期分布の変化である
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体において、
前記屈折率の周期分布により前記周期構造体を透過しない電磁波の波長帯が形成されている
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記電磁波を照射する手段が前記波長帯のバンド端近傍の波長の電磁波を照射し、
前記検出手段は、前記周期構造体から出射される、前記波長帯のバンド端近傍の波長の電磁波を測定する
ことを特徴とする請求項3に記載の装置。 - 前記周期構造体が、空部分と固体部分の規則配列に欠陥を設けて前記波長帯中に電磁波の透過する波長域を形成した周期構造体である
ことを特徴とする請求項3に記載の装置。 - 前記周期構造体の温度を制御するための温度制御手段を更に有する
ことを特徴とする請求項1記載の装置。 - 前記周期構造体に電磁波を照射する手段は、
照射する前記電磁波が偏波を有し、該偏波を制御するための偏波制御手段を更に備える
ことを特徴とする請求項1記載の装置。 - 前記周期構造体に照射される電磁波が連続する波長成分を持ち、
前記検出手段が、該周期構造体から出射される電磁波の各波長成分をスペクトル分離して測定する機能を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記電磁波を照射する手段が、コリメート手段を有し、該コリメート手段を経て、前記周期構造体に電磁波が照射される
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記電磁波を照射する手段から照射される電磁波を前記周期構造体の所定位置に所定角度で入射するためのアライメント手段をさらに有する
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記周期構造体の固体部分が柱状の構造体であり、空部分が各構造体間の間隙である
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記周期構造体の固体部分が連続体であり、空部分が該連続体を貫通する孔である
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 流体中の標的物質を検出する装置であって、
標的物質を含む流体を流すための流路と、
前記流路の少なくとも一部に配置され、標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体と、
該周期構造体に電磁波を照射する手段と、
該周期構造体から出射される電磁波を測定し、その結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段と
を有し、
前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体における、該屈折率の周期分布の変化を検出する手段は、該周期構造体から出射される電磁波の進行方向の変化を測定する
ことを特徴とする装置。 - 該周期構造体が流路に交差する方向に屈折率の周期分布を持ち、該方向に電磁波が照射される
ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 - 該周期構造体が流路に平行な方向に屈折率の周期分布を持ち、該方向に電磁波が照射される
ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 - 該周期構造体が固体部分である柱状の構造体を、間隙を空けて規則配置した2次元の周期構造体であり、周期構造の面が流路に平行に配置されている
ことを特徴とする請求項15に記載の装置。 - 該周期構造体が、固体部分である連続体と、該連続体を貫通する規則的に配列した孔とを有する2次元の周期構造体であり、孔が流路に平行に配置されている
ことを特徴とする請求項14に記載の装置。 - 流体中の複数の標的物質を検出する装置であって、
前記複数の標的物質を含む流体を流すための流路と、
前記流路の少なくとも一部に配置され、標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす複数の周期構造体と、
前記複数の周期構造体の個々の周期構造体に電磁波を照射するための電磁波照射手段と、
該個々の周期構造体から出射される電磁波を測定し、その結果から前記個々の周期構造体における屈折率の周期分布の変化を検出する手段と
を有し、
前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす個々の周期構造体における、該屈折率の周期分布の変化を検出する手段は、該個々の周期構造体から出射される電磁波の進行方向の変化を測定する
することを特徴とする装置。 - 前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす個々の周期構造体において、
前記個々の周期構造体の屈折率の周期分布により前記個々の周期構造体を透過しない電磁波の波長帯が形成されている
ことを特徴とする請求項18に記載の装置。 - 前記複数の周期構造体の個々の周期構造体は、
該個々の周期構造体の固体部分の表面には、標的物質と選択的に結合する結合物質が配置されてなり、かつ、
個々の周期構造体の固体部分の表面に配置される結合物質は各周期構造体ごとに異なり、個々の周期構造体の固体部分の表面に配置される、前記異なる結合物質は、それぞれ、異なる標的物質と選択的に結合する結合物質であり、
前記電磁波に対する屈折率の周期分布をなす個々の周期構造体における、該屈折率の周期分布の変化は、
個々の周期構造体の固体部分の表面に配置される、前記異なる標的物質と選択的に結合する結合物質に、前記異なる標的物質が結合したことによる屈折率の周期分布の変化である
ことを特徴とする請求項18に記載の装置。 - 前記複数の周期構造体が流路に沿って直列に配置され、
個々の周期構造体に対して、
該流路に交差する方向の電磁波を、該周期構造体に照射する電磁波照射手段と、
該周期構造体から出射される電磁波の進行方向の変化を測定する検出部が配されている
ことを特徴とする請求項19に記載の装置。 - 前記複数の周期構造体の個々の周期構造体は、
該個々の周期構造体の固体部分の表面には、標的物質と選択的に結合する結合物質が配置されてなり、
標的物質と結合する前記結合物質が前記固体部分の表面に配置された状態における、前記前記個々の周期構造体の屈折率の周期分布により前記個々の周期構造体を透過しない電磁波の波長帯が形成されており、
個々の周期構造体に照射する電磁波は、該波長帯のバンド端近傍の波長の電磁波である
ことを特徴とする請求項21に記載の装置。 - 前記複数の周期構造体の個々の周期構造体において形成されている、標的物質と結合する前記結合物質が前記固体部分の表面に配置された状態における、前記前記個々の周期構造体の屈折率の周期分布により前記個々の周期構造体を透過しない電磁波の波長帯のバンド端波長が同じであり、
個々の周期構造体に照射する電磁波は、該同じ波長帯のバンド端近傍の波長の電磁波である
ことを特徴とする請求項22に記載の装置。 - 前記同じ波長帯のバンド端近傍の波長の電磁波を、個々の周期構造体に照射するための電磁波照射手段は、
同一の電磁波源から出射された電磁波を、各々の周期構造体に照射する電磁波に分岐する、分岐手段を更に有する
ことを特徴とする請求項23に記載の装置。 - 前記複数の周期構造体の個々の周期構造体において形成されている、標的物質と結合する前記結合物質が前記固体部分の表面に配置された状態における、前記前記個々の周期構造体の屈折率の周期分布により前記個々の周期構造体を透過しない電磁波の波長帯は、
互いに重ならない波長帯であり、
個々の周期構造体に照射する、前記波長帯のバンド端近傍の波長の電磁波は、
該波長帯のバンド端の波長を可変範囲に含む波長可変の電磁波源から出射される
ことを特徴とする請求項22に記載の装置。 - 該周期構造体に対して照射される電磁波が、該周期構造体に入射する面である、電磁波の入射面に対する、該周期構造体から出射される電磁波が、該周期構造体に入射する面である、電磁波の出射面との配置は、
前記電磁波の入射面と電磁波の出射面が平行面である
ことを特徴とする請求項1、13、18の何れか一項に記載の装置。 - 該周期構造体に対して照射される電磁波が、該周期構造体に入射する面である、電磁波の入射面に対する、該周期構造体から出射される電磁波が、該周期構造体に入射する面である、電磁波の出射面との配置は、
前記電磁波の入射面上の電磁波の入射位置を中心として、電磁波の出射面は、円形形状である
ことを特徴とする請求項1、13、18の何れか一項に記載の装置。 - 前記周期構造体から出射される電磁波の進行方向の変化の測定には、2分割センサが利用される
ことを特徴とする請求項1、13、18の何れか一項に記載の装置。 - 該周期構造体に対して照射される電磁波は、光である
ことを特徴とする請求項1、13、18の何れか一項に記載の装置。 - 該周期構造体に対して照射される電磁波は、可視光、赤外光、紫外光のいずれかである
ことを特徴とする請求項1、13、18の何れか一項に記載の装置。
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