JP4477626B2 - 信号ループ試験のための方法および装置 - Google Patents
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Description
Hecho(f)=Vout(f)/Vin(f) (1)
により生成される。ただし、周波数はfで表される。
DAFE708のエコー伝達関数のシミュレーション
摘要
目的
アプリケーション
目次
1 はじめに
2 記号解析のシミュレーション・モデル
2.1 加入者回線ケーブル
2.2 ライン・トランス
2.3 帯域外フィルタ
2.4 ライン・ドライバ/受信器
3 エコー伝達関数とループ・インピーダンス
4 エコー・インパルス応答
5 付録A-シミュレーション・モデルの検証
6 参考文献
DAFE708ユニットは、Broadcom BladeRunnerチップセット(DSPおよびCODEC)および10個のアナログ・ライン・インターフェイスを含む。ライン・インターフェイスは、Infineonライン・ドライバ/受信器PBM39714を中心に設計されている。シングル・エンド・ループ試験(SELT)アルゴリズムを試験し、製造試験機能を調査するために、アナログ・フロント・エンドのシミュレーション・モデルを用意すると有用であろう。これを使用すると、ライン・インターフェイスだけでなくPCB上の内部コンポーネントに接続されている外部付加またはループを変更した場合の影響を調べることは容易である。
2.1 加入者回線ケーブル
加入者回線ループの入力インピーダンスは、ETSIループの一次定数に関して付録A参考文献[1]の中の式を使用して計算される。一次定数が見つかったら、二次定数が以下の式で与えられる。
Lm=2.1mH、L1=2μH、C1=33nF、N=2.0
ADSL帯域よりも上のノイズおよび歪みの高調波を抑制するために、ライン・ドライバとライン・トランスとの間に帯域外フィルタを導入する必要がある。OOBフィルタは、Figure 5に示されている以下の構成を持つ。
i2=v1/2LF1sまたはv1=2LF1s・i2
が得られる。
v2=0とし、電流i1を印加すると、
i2=i1またはi1=i2
が得られる。
LF1=LF2=680μH、LF3=270μH、CF3=4.7nF
これらの値を持つ4つの連鎖パラメータの大きさは、Figure 6に提示されている。
R1=2.2kΩ、C1=2.2nF、ain=−4.0、ZA=1、Rμ=1kΩ、Cμ=15nF、μ0=10+6
a1=2.84、a2=0.5、R=3kΩ
Rs1=15Ω、Rs2=2.7Ω、Cs2=680nF、R6=1.27kΩ、R8=1.5kΩ
RR1=R6//R8=687.7Ω、RR2=12kΩ、CR=2*680pF=1.36nF、CRP=1.5nF
負荷インピーダンスZL1が既知の場合、エコー伝達関数は以下の式から計算できる。
エコー伝達関数は、前のセクション2.4で導出されており、以下のとおりである。
測定されたエコー伝達関数は、対応するエコー・インパルス応答を導くために使用することができる。通常、エコー伝達関数は、有限数の離散周波数でのみ測定される。Hechoがナイキスト周波数よりも上で帯域幅制限されていると仮定すると、これは、時間離散値系のエコー伝達関数の期間であると考えることができる。Hechoは、2N周波数点でサンプリングされ、Hecho(kF)が得られるが、ただし、Fは、サンプル間の距離である。Hecho(kF)が複素共役対称でf=0を中心に展開された場合、その上で実行されるIFFTは、対応する時間離散エコー・インパルス応答hecho(kT)を発生する。
DAFE708についてシミュレーション・モデル測定を検証するために、ユニットを実行した。CODECとライン・ドライバ/受信器との間の直列キャパシタは、CODEC側で断絶している。送信信号einは、50/100Ω平衡トランスを通じてキャパシタに印加される。受信側の直列キャパシタは、2個の12kΩの抵抗器を介してグラウンドに終端され、CODECの入力インピーダンスをシミュレートする。出力電圧voutは、高インピーダンス差動プローブ増幅器により測定される。異なるループをシミュレートするために、ケーブル・シミュレータがライン・インターフェイスに接続される。
EDA R1.1 IP DSLAM BFB40102/A1 P1B, 008037AC4EE9
DAFE 708-ROA 119 708付き
ネットワーク・アナライザ4395A Agilent FAA21372
Sパラメータ・アクセサリ・キット Agilent FAA21741
差動プローブ増幅器 Hewlett-Packard FAA
ケーブル・シミュレータ DLS400E Spirent FAA
[1] ETSI TS101388
伝送および多重化(TM)、金属アクセス・ケーブル上のアクセス伝送システム、非対称デジタル加入者回線(ADSL)− 欧州の仕様書、2002−05
[2] ANA2812B
PBM39714によるADSLのアナログ・フロント・エンド
[3] 4/0363−FCP105581
ループ試験および資格認定ワークショップ2002−03−21で導かれた数式
[4] ANA3255A
エコー・インパルス応答を使用したSELT
Claims (10)
- 信号伝送用の線路 (2) のシングル・エンド試験における方法であって、
第1のトランシーバ (31) を選択するステップ (601) と、
それぞれ所定の値のインピーダンス (9) を前記第1のトランシーバ (31) の線路接続部 (5) に接続するステップ (603) と、
較正プロセスにおいて、前記インピーダンス (9) および試験信号 (vtin、vtout) を利用して前記第1のトランシーバに対する較正値を生成するステップと
を有し、
前記線路接続部(5)に接続するステップ(603)は、前記インピーダンス (9) のうちの少なくとも3つを接続することを特徴とし、さらに、
前記較正値を生成するステップは、
前記少なくとも3つのインピーダンス (9) を使用し、各インピーダンスを接続したときに、試験信号 (vt in ) を前記線路(2)に送信し(604)、反射された試験信号 (vt out ) を受信し(605)、前記送信した試験信号 (vt in ) に対する前記反射された試験信号 (vt out ) の比を計算することにより、前記第1のトランシーバ (31) の周波数依存エコー伝達関数 (Hecho(f) ) を生成するステップ (606) と、
前記エコー伝達関数 (Hecho(f) ) および対応するインピーダンス値 (9) を利用してトランシーバ・モデル値 (Zh0 (f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を生成するステップ (608) と、
を有し、
前記トランシーバ・モデル値は、前記線路接続部(5)を開線路接続としたときの前記第1のトランシーバ (31) のエコー伝達関数 (H ∞ (f) ) と、前記線路 (2) から見たトランシーバ・インピーダンス値 (Zhyb(f) ) と、前記トランシーバ・インピーダンス値 (Zhyb(f) ) と前記線路接続部(5)を短絡回路接続としたときの前記第1のトランシーバ (31) のエコー伝達関数 (H 0 (f) ) との積 (Zh0(f) ) とを含み、
前記トランシーバ・モデル値 (Zh0 (f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を生成するステップ (608) は、
前記線路(2)の周波数依存入力インピーダンスをZ in (f)とするとき、
で表される関係に従って、前記トランシーバ・モデル値 (Zh0 (f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を生成する
ことを特徴とする方法。 - 前記較正プロセスを実行するために前記トランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) をメモリ (33) に格納するステップ (609) を有することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記第1のトランシーバ (31) と同じタイプのハードウェアを備える第2のトランシーバ (1) を選択するステップ (610) と、
前記トランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を前記第2のトランシーバ (1)のメモリ(12) に格納するステップ (611) と
を有することを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記線路 (2) を含むループおよびリモート・デバイス (3) を前記第2のトランシーバ (1) に接続するステップ (701) と、
前記接続された前記第2のトランシーバ (1) を介して、ループ試験信号 (vin) を前記線路 (2) に送信するステップ (702) と、
前記第2のトランシーバ (1) を介して、反射されたループ試験信号 (vout) を受信するステップ (703) と、
前記送信したループ試験信号 (vin) に対する前記反射されたループ試験信号 (vout) の比を計算することにより、前記ループ (1、2、3) のエコー伝達関数 (Hecho(f) ) を生成するステップ (704) と、
前記格納されているトランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) および前記生成されたエコー伝達関数 (Hecho(f) ) を利用して、前記線路 (2) および前記リモート・デバイス (3) のインピーダンス値 (Zin (f) ) を、
で表される関係に従って生成するステップ (705) と
を有することを特徴とする請求項3に記載の方法。 - 前記ループ (2、3) の前記試験は、周波数ブロードバンド試験であることを特徴とする請求項1から4までのいずれか1項に記載の方法。
- 信号伝送用の線路 (2) のシングル・エンド試験のための装置であって、
第1のトランシーバ (31) と、
前記第1のトランシーバ (31) の線路接続部 (5) に接続されるそれぞれの所定の値のインピーダンス (9) と、
較正プロセスにおいて、前記インピーダンス (9) および試験信号 (vtin、vtout) を利用して前記第1のトランシーバに対する較正値を生成する測定デバイス (32) とを備え、
前記測定デバイス (32) は、
前記インピーダンス (9) のうちの少なく3つを使用し、各インピーダンスを接続したときに、試験信号 (vt in ) を前記線路(2)に送信し(604)、反射された試験信号 (vt out ) を受信し(605)、前記送信した試験信号 (vt in ) に対する前記反射された試験信号 (vt out ) の比を計算することにより、前記第1のトランシーバの周波数依存エコー伝達関数 (Hecho(f) ) を生成する手段と、
前記エコー伝達関数 (Hecho(f) ) および対応するインピーダンス値 (9) を利用してトランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を生成する手段と、
を含み、
前記トランシーバ・モデル値は、前記線路接続部 (5) を開線路接続としたときの前記第1のトランシーバ (31) のエコー伝達関数 (H ∞ (f) ) と、前記線路 (2) から見たトランシーバ・インピーダンス値 (Zhyb(f) ) と、前記トランシーバ・インピーダンス値 (Zhyb(f) ) と前記線路接続部 (5) を短絡回路接続としたときの前記第1のトランシーバ (31) のエコー伝達関数 (H 0 (f) ) との積 (Zh0(f) ) とを含み、
前記トランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を生成する手段は、
前記線路(2)の周波数依存入力インピーダンスをZ in (f)とするとき、
で表される関係に従って、前記トランシーバ・モデル値 (Zh0 (f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を生成する
ことを特徴とする装置。 - 前記測定デバイス (32) は、前記トランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を格納するためのメモリ (33) を備えることを特徴とする請求項6に記載の装置。
- 前記第1のトランシーバ (31) と同じタイプのハードウェアを備える第2のトランシーバ (1) を備え、前記第2のトランシーバ (1) は、前記トランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) を格納するためのメモリ (12) を備えることを特徴とする請求項6に記載の装置。
- 前記第2のトランシーバの線路接続部 (5) に接続された、前記線路 (2) およびリモート・デバイス (3) を含むループと、
計算デバイス (11) と、
前記第2のトランシーバを介して前記線路 (2) にループ試験信号 (vin) を送信し、前記第2のトランシーバを介して対応する反射信号 (vout) を測定するためのデバイス (41) と
を備え、
前記計算デバイス (11) は、
前記ループ試験信号 (vin) に対する前記反射信号 (vout) の比を計算することにより、前記ループのエコー伝達関数 (Hecho(f) ) を生成する手段と、
前記格納されているトランシーバ・モデル値 (Zh0(f) 、Zhyb(f) 、H∞(f) ) および前記生成されたエコー伝達関数 (Hecho(f) ) を利用して、前記線路 (2) および前記リモート・デバイス (3)のインピーダンス値 (Zin(f) ) を、
で表される関係に従って生成する手段と、
含むことを特徴とする請求項8に記載の装置。 - 前記ループ試験信号 (vin) を送信するための前記デバイスは、周波数ブロードバンド信号を送信するように構成されることを特徴とする請求項6から9までのいずれか1項に記載の装置。
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