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JP4472818B2 - High pressure generator and X-ray imaging apparatus - Google Patents

High pressure generator and X-ray imaging apparatus Download PDF

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JP4472818B2
JP4472818B2 JP2000000650A JP2000000650A JP4472818B2 JP 4472818 B2 JP4472818 B2 JP 4472818B2 JP 2000000650 A JP2000000650 A JP 2000000650A JP 2000000650 A JP2000000650 A JP 2000000650A JP 4472818 B2 JP4472818 B2 JP 4472818B2
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voltage
return
tube
high voltage
ray
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明彦 西出
寿 川地
直城 有山
尚未 中村
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Geヘルスケア・ジャパン株式会社
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高圧発生装置およびX線撮像装置に関し、さらに詳しくは、X線管内で微小放電が起って管電圧が低下してから定常電圧に復帰する際にオーバーシュートが発生することを防止できる高圧発生装置およびその高圧発生装置を用いたX線撮像装置、並びに、微小放電が起った場合の画質の悪化を抑制できるX線撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図10は、特開平11−283789号公報に開示された高圧発生装置の模式的ブロック図である。
この高圧発生装置500は、X線管XTに供給する高圧Vo(例えば1kV)を発生する高圧発生器11と、前記X線管XTに加わる管電圧を測定して測定電圧Vmを出力する管電圧測定部12と、前記測定電圧Vmに基づいて前記高圧発生器11へ電圧制御信号Rを送る高圧制御部501とを具備している。
【0003】
図11は、微小放電が起った時の上記高圧発生装置500の動作を示すグラフである。
微小放電が起ると、測定電圧Vmが定常電圧Vhから急降下するので、それを高圧制御部501で検知する。この検知に要する時間toは、例えば数10μs程度である。
すると、前記高圧制御部501は、前記高圧発生器11を一時停止させ、所定時間t1’(例えば100μs)後に通常動作に復帰開始させる。
測定電圧Vmは、高圧制御部501や高圧発生器11やX線管XTの特性で決まる立上り時間t2後に定常電圧Vhに復帰する。
ここで、復帰中の管電流を監視し、管電流が基準より大きければ、前記高圧制御部501は、前記高圧発生器11を再び一時停止させ、所定時間(例えば1ms)後に通常動作に再び復帰開始させる。この再復帰の動作が所定回数繰り返されたら、前記高圧制御部501を停止させる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の高圧発生装置500では、図11に示すように滑らかに定常電圧Vhに復帰する場合もあるが、図12に示すようにオーバーシュートが生じる場合もあった。
しかし、オーバーシュートが発生すると、X線管XTや高圧発生器11に過大な電圧が加わるので、損傷や短寿命化の要因となる問題点がある。
そこで、本発明の第1の目的は、微小放電が起って管電圧が低下してから定常電圧に復帰する際にオーバーシュートが発生することを防止できる高圧発生装置およびその高圧発生装置を用いたX線撮像装置を提供することにある。
【0005】
また、従来のX線撮像装置では、微小放電が起って管電圧が低下してから定常電圧に復帰するまでの期間のデータが欠落するため、画像の画質が悪化する問題点がある。
そこで、本発明の第2の目的は、微小放電が起った場合の画質の悪化を抑制できるX線撮像装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
第1の観点では、本発明は、X線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記X線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から300μs以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置を提供する。
上記第1の観点による高圧発生装置では、管電圧の急降下を検知すると、300μs以上の復帰遅延時間だけ高圧発生手段を一時停止させるか又は高圧発生手段の発生電圧を一時低下させた後で通常動作へ復帰開始させる。従来は、この復帰遅延時間が100μs程度であり、微小放電が起ってからX線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が少なかったため、オーバーシュートが発生する場合があったが、この復帰遅延時間を300μs以上としたため、微小放電が起ってからX線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が十分あり、オーバーシュートの発生を防止できる。そして、これにより、X線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。
さらに、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合は、高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させ、無理な復帰を行わないので、X線管や高圧発生手段を保護できる。
【0007】
第2の観点では、本発明は、X線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記X線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から300μs以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を再び一時停止させるか又は発生電圧を再び一時低下させ復帰再遅延時間後に通常動作へ再復帰開始させることを1回以上行う再復帰試行手段と、その再復帰試行手段による再復帰開始の回数が保護回数に達すると前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置を提供する。
上記第2の観点による高圧発生装置では、管電圧の急降下を検知すると、300μs以上の復帰遅延時間だけ高圧発生手段を一時停止させるか又は高圧発生手段の発生電圧を一時低下させた後で通常動作へ復帰開始させる。従来は、この復帰遅延時間が100μs程度であり、微小放電が起ってからX線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が少なかったため、オーバーシュートが発生する場合があったが、この復帰遅延時間を300μs以上としたため、微小放電が起ってからX線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が十分あり、オーバーシュートの発生を防止できる。そして、これにより、X線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。
また、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合は、高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させ、無理な復帰を行わないので、X線管や高圧発生手段を保護できる。
さらに、復帰が失敗しても、再復帰を試行するので、放電時間が比較的長い微小放電が発生した場合でも、定常電圧に復帰することが出来る。
【0008】
第3の観点では、本発明は、上記構成の高圧発生装置において、前記保護手段の作動時に異常を報知する異常報知手段を具備したことを特徴とする高圧発生装置を提供する。
上記第3の観点による高圧発生装置では、保護手段の作動時に異常を報知するので、操作者が異常に対して迅速に対処することが可能となる。
【0009】
第4の観点では、本発明は、上記構成の高圧発生装置を具備したことを特徴とするX線撮像装置を提供する。
上記第4の観点によるX線撮像装置は、上記高圧発生装置を具備したものなので、X線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。また、微小放電による管電圧の低下から好適に復帰できるので、データの欠落を抑制できる。
【0010】
第5の観点では、本発明は、正電圧および負電圧のそれぞれについて上記構成の高圧発生装置を具備したことを特徴とするX線撮像装置を提供する。
上記第5の観点によるX線撮像装置は、正電圧の高圧発生装置および負電圧の高圧発生装置のそれぞれについて、X線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。また、微小放電による管電圧の低下から好適に復帰できるので、データの欠落を抑制できる。
【0011】
第6の観点では、本発明は、X線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記X線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段と、データ取得中に前記X線管に加わる管電圧が急降下してから元の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データをその前後に取得したデータを用いて補間する補間手段とを具備したことを特徴とするX線撮像装置を提供する。
上記第6の観点によるX線撮像装置では、管電圧の急降下を検知すると、復帰遅延時間だけ高圧発生手段を一時停止させるか又は高圧発生手段の発生電圧を一時低下させた後で通常動作へ復帰開始させるが、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合は、高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させ、無理な復帰を行わないので、X線管や高圧発生手段を保護できる。また、管電圧が急降下してから元の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データを補間するので、画質の悪化を最小限に抑制することが出来る。
【0012】
上記第4の観点から第6の観点のX線撮像装置としては、X線CT装置やX線ラインセンサTVなどが挙げられる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図に示す実施形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【0014】
−第1の実施形態−
図1は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT(Computed Tomograhy)装置1000のブロック図である。
このX線CT装置1000は、操作コンソール20と、撮影テーブル30と、走査ガントリ40とを具備している。
前記操作コンソール20は、操作者の指示入力や情報入力などを受け付ける入力装置22と、ヘリカルスキャンによる撮影処理や補間処理などを実行する制御を行う中央処理装置23と、制御信号などを前記撮影テーブル30や前記走査ガントリ40とやり取りする制御インタフェース24と、前記走査ガントリ40で取得したデータを収集するデータ収集バッファ25と、前記データから再構成して得たX線画像を表示するCRT26と、プログラムやデータを記憶する記憶装置27とを具備している。
前記撮影テーブル30は、被検体を乗せて体軸方向に移動させる。
前記走査ガントリ40は、X線管XTと、本発明にかかる高圧発生装置100と、検出器アレイ47と、データ収集部48と、被検体の体軸の回りにX線管XTなどを回転させる回転コントローラ49とを具備している。
【0015】
図2は、上記高圧発生装置100のブロック図である。
この高圧発生装置100は、X線管XTに供給する高圧Vo(例えば1kV)を発生する高圧発生器11と、前記X線管XTに加わる管電圧を測定して測定電圧Vmを出力する管電圧測定部12と、前記測定電圧Vmの急降下を検知するマイコン(マイクロコンピュータ)13と、前記高圧発生器11へ前記測定電圧Vmに応じた電圧制御信号Rを送るか又は前記高圧Voの電圧レベルを低下させるための電圧低下信号Rlowを送る高圧制御部101とを具備して構成されている。
前記高圧制御部101は、前記測定電圧Vmと基準電圧Vrefの差に基づく電圧制御信号Rを出力するレギュレータ回路14と、前記電圧制御信号Rまたは前記電圧低下信号Rlowを選択出力するスイッチ15とを具備している。前記スイッチ15の選択状態は、前記マイコン13からの切換信号Sにより切り換えられる。なお、前記電圧低下信号Rlowを選択する代わりに、前記高圧発生器11を停止させてもよい。
【0016】
図3は、上記高圧発生装置100による高圧制御処理を示すフロー図である。
この高圧制御処理は、前記マイコン13が微小放電(例えば前記測定電圧Vmが1μsの期間に基準電圧Vrefの10%以下までに低下する現象)を検知することにより起動される。なお、初期状態では、スイッチ15は、電圧制御信号Rを選択出力する状態である。
【0017】
ステップST1では、繰り返し数nを“1”に初期化する。
ステップST2では、300μs〜1ms位の復帰遅延時間t1だけスイッチ15を電圧低下信号Rlowの選択出力状態に切り換える。
ステップST3では、スイッチ15を電圧制御信号Rの選択出力状態に戻す。
【0018】
ステップST4では、復帰監視時間t3が経過するまで待ち、経過したらステップST5へ進む。前記復帰監視時間t3は、X線管XTが正常の場合に、測定電圧Vmが基準電圧Vrefの90%以上まで上昇するのに要する時間よりも長い時間とする。
ステップST5では、管電圧測定部12で管電圧を測定する。
ステップST6では、測定電圧Vmが基準電圧Vrefの90%以上か否か判定する。測定電圧Vmが基準電圧Vrefの90%以上であれば、高圧制御処理を終了する(この場合、X線管XTに安定な高圧が供給される)。また、測定電圧Vmが基準電圧Vrefの90%以上でなければステップST7へ進む。
【0019】
ステップST7では、繰り返し数nが“3”以上か否か判定する。繰り返し数nが“3”より小さいならステップST8へ進み、繰り返し数nが“3”以上であればステップST9へ進む。
【0020】
ステップST8では、繰り返し数nを“1”だけインクリメントする。その後、上記ステップST2に戻る。
【0021】
ステップST9では、微小放電以外の異常(異常短絡など)が発生したと判定して、スイッチ15を電圧低下信号Rlowの選択出力状態に切り換える。これにより、X線管XTや高圧発生器11の損傷を防止できる。
ステップST10では、異常の発生を報知する。例えば、アラーム音を鳴らしたり,警告ランプを点灯したり,CRT26に警告メッセージを表示したりする。その後、高圧制御処理を終了する。
【0022】
図4〜図6は、図3の高圧制御処理を行ったときの測定電圧Vmの変化を示すグラフである。
図4は、放電時間の短い微小放電(例えばアノード−カソード間での微小放電)が起って、繰り返し数n=1の段階で、測定電圧Vmが定常電圧Vhに上昇する場合を示す。すなわち、図3の1回目のステップST6の時点で、測定電圧Vmが基準電圧Vrefの90%(異常判定用閾値Vt)以上と判定されるので、スイッチ15を電圧制御信号Rの選択出力状態に戻してから所定時間t2(例えば1ms〜5ms)後に安定な定常電圧Vhとなる。
このように復帰遅延時間t1が300μs以上あるため、微小放電が起ってからX線管XTが安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が十分あり、オーバーシュートの発生が防止できている。そして、これにより、X線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。
【0023】
図5は、放電時間の長い微小放電(例えばアノード−グラウンド間やカソード−グラウンド間での微小放電)が起って、繰り返し数n=2の段階で、測定電圧Vmが定常電圧Vhに上昇する場合を示す。すなわち、図3の1回目のステップST6の時点で測定電圧Vmが異常判定用閾値Vt以上でないと判定され、2回目のステップST6の時点で測定電圧Vmが異常判定用閾値Vt以上と判定された後、測定電圧Vmが安定な定常電圧Vhとなる。
このように最初の復帰が失敗しても再復帰するので、放電時間が比較的長い微小放電が発生した場合でも、定常電圧に復帰することが出来る。
【0024】
図6は、微小放電でない異常短絡等が起って、繰り返し数n=3の段階で、異常終了する場合を示す。すなわち、図3の1回目,2回目,3回目のステップST6の時点で測定電圧Vmが異常判定用閾値Vt以上でないと判定され、ステップST9でスイッチ15を電圧低下信号Rlowの選択出力状態に切り換えた状態で終わる。その後、X線管XTに低い電圧が供給される状態が継続し、異常が報知される。
このように高圧発生機11の発生電圧を低下させ(又は高圧発生機11を停止させ)、無理な復帰を行わないので、X線管XTや高圧発生器11を保護できる。
また、異常を報知するので、操作者が異常に対して迅速に対処することが可能となる。
【0025】
図7は、上記X線CT装置1000によるCT画像表示処理を示すフロー図である。
ステップSU1では、被検体の周りにX線管XTを回転させながら、一つのCT画像を再構成しうるビュー数のデータを取得する(CTスキャン)か、又は、X線管XTを回転させないで、被検体の体軸方向に移動させながら、必要な範囲をカバーする一つのスカウト(scout)画像を生成しうる数のデータを取得する(スカウトスキャン)。
ステップSU2では、データの取得が途切れた期間(管電圧が急降下してからX線管XTに安定した高圧が供給されるまでの期間)があるか否か判定する。データの取得が途切れた期間があればステップSU3へ進み、データの取得が途切れた期間がなければステップSU4へ進む。
【0026】
ステップSU3では、図8に示すように、データの取得が途切れた期間の前後に取得した検出器チャネル番号iごとのデータD(i)-,D(i)+を用いて、欠落ローデータD(i)’を補間する。
【0027】
ステップSU4では、取得したデータまたは前記補間処理したデータよりCT画像またはスカウト画像を生成する。
ステップSU5では、生成したCT画像またはスカウト画像をCRT26に表示する。
【0028】
以上のX線CT装置1000によれば、微小放電が起ったために取得できなかった欠落データを補間して画像を生成するので、画質の劣化を抑制することが出来る。
【0029】
なお、上記第1の実施形態では、n=1の時の復帰遅延時間t1を、n=2,3の時の復帰遅延時間としても適用したが、nの値によって異なる復帰遅延時間としてもよい。
【0030】
−第2の実施形態−
図9は、本発明の第2の実施形態にかかるX線CT装置2000の要部ブロック図である。
このX線Ct装置2000は、X線管XT’のアノードに正の高圧+Vo(例えば+500V)を供給する正高圧発生装置200−1と、前記X線管XT’のカソードに負の高圧−Vo(例えば−500V)を供給する負高圧発生装置200−2とを具備している。
【0031】
前記正高圧発生装置200−1は、前記正の高圧+Voを発生する正高圧発生器11−1と、前記X線管XT’に加わる正の管電圧を測定して測定電圧+Vmを出力する管電圧測定部12−1と、前記測定電圧+Vmの急降下を検知するマイコン13−1と、前記正高圧発生器11−1へ前記測定電圧+Vmに応じた電圧制御信号+Rを送るか又は前記高圧+Voの電圧レベルを低下させるための電圧低下信号Rlowを送る正高圧制御部201−1とを具備して構成されている。前記正高圧制御部201−1は、前記測定電圧+Vmと基準電圧+Vrefの差に基づく電圧制御信号+Rを出力するレギュレータ回路14−1と、前記電圧制御信号+Rまたは前記電圧低下信号Rlowを選択出力するスイッチ15−1とを具備している。前記スイッチ15−1の選択状態は、前記マイコン13−1からの切換信号S1により切り換えられる。
前記マイコン13−1の動作は、前記第1の実施形態と同様である。
【0032】
前記負高圧発生装置200−2は、前記負の高圧−Voを発生する負高圧発生器11−2と、前記X線管XT’に加わる負の管電圧を測定して測定電圧−Vmを出力する管電圧測定部12−2と、前記測定電圧−Vmの急上昇を検知するマイコン13−2と、前記負高圧発生器11−2へ前記測定電圧−Vmに応じた電圧制御信号−Rを送るか又は前記高圧−Voの電圧レベルを上昇させるための電圧上昇信号Rhighを送る負高圧制御部201−2とを具備して構成されている。
前記負高圧制御部201−2は、前記測定電圧−Vmと基準電圧−Vrefの差に基づく電圧制御信号−Rを出力するレギュレータ回路14−2と、前記電圧制御信号−Rまたは前記電圧上昇信号Rhighを選択出力するスイッチ15−2とを具備している。前記スイッチ15−2の選択状態は、前記マイコン13−2からの切換信号S2により切り換えられる。
前記マイコン13−2の動作は、前記第1の実施形態と同様である。
【0033】
以上のX線CT装置2000によれば、正高圧発生装置200−1でも、負高圧発生装置200−2でも、オーバーシュートの発生を防止できる。
【0034】
【発明の効果】
本発明の高圧発生装置およびX線撮像装置によれば、微小放電が起ると、300μs以上の復帰遅延時間だけ高圧の発生を停止するか又は電圧レベルを低下させた後で通常の高圧に戻すので、その間にX線管が安定になり、オーバーシュートの発生を防止できる。したがって、X線管や高圧発生手段の損傷を回避でき、長寿命化できる。
【0035】
また、本発明のX線撮像装置によれば、微小放電が起ってから通常の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データを補間して画像を生成するので、微小放電が起った場合でも、高画質の画像を得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置のブロック図である。
【図2】図1のX線CT装置における高圧発生装置のブロック図である。
【図3】図2の高圧発生装置による高圧制御処理を示すフロー図である。
【図4】図3の高圧制御処理を行ったときの測定電圧の変化を示すグラフである。
【図5】図3の高圧制御処理を行ったときの測定電圧の変化を示す別のグラフである。
【図6】図3の高圧制御処理を行ったときの測定電圧の変化を示す更に別のグラフである。
【図7】図1のX線CT装置による画像生成表示処理を示すフロー図である。
【図8】図7の画像生成表示処理における補間処理の一例を示す説明図である。
【図9】本発明の第2の実施形態にかかるX線CT装置の要部ブロック図である。
【図10】従来の高圧発生装置の一例のブロック図である。
【図11】微小放電が起った時の図10の高圧発生装置の動作を示すグラフである。
【図12】オーバーシュートが起った時の測定電圧の変化を示すグラフである。
【符号の説明】
11,11−1,11−2 高圧発生器
12,12−1,12−2 管電圧測定部
13,13−1,13−2 マイコン
14,14−1,14−2 レギュレータ回路
15,15−1,15−2 スイッチ
100,200 高圧発生装置
101 高圧制御部
200−1 正高圧発生装置
200−2 負高圧発生装置
201−1 正高圧制御部
201−2 負高圧制御部
1000,2000 X線CT装置
XT,XT’ X線管
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a high-voltage generator and an X-ray imaging apparatus, and more specifically, prevents an overshoot from occurring when a micro discharge occurs in an X-ray tube and the tube voltage drops to return to a steady voltage. The present invention relates to a high-voltage generator that can be used, an X-ray imaging apparatus that uses the high-voltage generator, and an X-ray imaging apparatus that can suppress deterioration in image quality when a minute discharge occurs.
[0002]
[Prior art]
FIG. 10 is a schematic block diagram of a high-pressure generator disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-283789.
The high voltage generator 500 includes a high voltage generator 11 that generates a high voltage Vo (for example, 1 kV) to be supplied to the X-ray tube XT, and a tube voltage that measures a tube voltage applied to the X-ray tube XT and outputs a measurement voltage Vm. A measurement unit 12 and a high voltage control unit 501 that sends a voltage control signal R to the high voltage generator 11 based on the measurement voltage Vm are provided.
[0003]
FIG. 11 is a graph showing the operation of the high-voltage generator 500 when a micro discharge occurs.
When a minute discharge occurs, the measurement voltage Vm drops rapidly from the steady voltage Vh, and is detected by the high voltage controller 501. The time to required for this detection is, for example, about several tens of μs.
Then, the high voltage controller 501 temporarily stops the high voltage generator 11 and starts to return to normal operation after a predetermined time t1 ′ (for example, 100 μs).
The measurement voltage Vm returns to the steady voltage Vh after the rising time t2 determined by the characteristics of the high voltage control unit 501, the high voltage generator 11, and the X-ray tube XT.
Here, the returning tube current is monitored, and if the tube current is larger than the reference, the high voltage control unit 501 temporarily stops the high voltage generator 11 again and returns to normal operation again after a predetermined time (for example, 1 ms). Let it begin. When this re-return operation is repeated a predetermined number of times, the high-pressure control unit 501 is stopped.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional high-voltage generator 500, the steady voltage Vh may be smoothly restored as shown in FIG. 11, but an overshoot may occur as shown in FIG.
However, when an overshoot occurs, an excessive voltage is applied to the X-ray tube XT and the high voltage generator 11, which causes a problem that causes damage and shortens the service life.
Accordingly, a first object of the present invention is to use a high voltage generator capable of preventing the occurrence of overshoot when a micro discharge occurs and the tube voltage decreases to return to a steady voltage, and the high voltage generator. It is to provide an X-ray imaging apparatus.
[0005]
In addition, the conventional X-ray imaging apparatus has a problem in that the image quality deteriorates because data in a period from when the micro discharge occurs and the tube voltage decreases to when it returns to the steady voltage is lost.
Accordingly, a second object of the present invention is to provide an X-ray imaging apparatus capable of suppressing deterioration in image quality when a minute discharge occurs.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In a first aspect, the present invention detects high voltage generating means for generating a high voltage supplied to an X-ray tube, tube voltage measuring means for measuring a tube voltage applied to the X-ray tube, and a sudden drop in the tube voltage. Return delay means for temporarily stopping the high-voltage generating means or lowering the generated voltage and starting a return to normal operation after a return delay time of 300 μs or more from the detection, and determining whether the tube voltage after the return start after the return monitoring time is abnormal And a protective means for continuing the state in which the high voltage generating means is stopped or the generated voltage is lowered when it is lower than the threshold value for use.
In the high voltage generator according to the first aspect, when a sudden drop in the tube voltage is detected, the high voltage generator is temporarily stopped for a return delay time of 300 μs or longer, or the normal operation is performed after the voltage generated by the high voltage generator is temporarily reduced. Return to start. Conventionally, this return delay time is about 100 μs, and since there was little time for the X-ray tube to return to a stable state after a minute discharge occurred, overshoot may occur. Since the return delay time is set to 300 μs or more, there is sufficient time for the X-ray tube to return to a stable state after a minute discharge occurs, and the occurrence of overshoot can be prevented. Thus, it is possible to avoid the disadvantage that an excessive voltage is applied to the X-ray tube and the high voltage generating means.
Furthermore, if the tube voltage after the return monitoring time from the start of recovery is lower than the abnormality determination threshold, the high voltage generating means is stopped or the generated voltage is lowered, and the forced recovery is not performed. The generating means can be protected.
[0007]
In a second aspect, the present invention detects high voltage generating means for generating a high voltage supplied to the X-ray tube, tube voltage measuring means for measuring the tube voltage applied to the X-ray tube, and a sudden drop in the tube voltage. Return delay means for temporarily stopping the high-voltage generating means or lowering the generated voltage and starting a return to normal operation after a return delay time of 300 μs or more from the detection, and determining whether the tube voltage after the return start after the return monitoring time is abnormal A re-retry trial means for temporarily stopping the high-voltage generating means when it is lower than the threshold value, or temporarily reducing the generated voltage again and starting re-return to normal operation after the return re-delay time, and A protective means for stopping the high-voltage generating means when the number of re-restarting start times by the re-recovery trial means reaches the number of protection times or continuing the state in which the generated voltage is lowered. Providing high pressure apparatus according to symptoms.
In the high voltage generator according to the second aspect, when a sudden drop in the tube voltage is detected, the high voltage generator is temporarily stopped for a return delay time of 300 μs or longer, or the normal operation is performed after the voltage generated by the high voltage generator is temporarily reduced. Return to start. Conventionally, this return delay time is about 100 μs, and since there was little time for the X-ray tube to return to a stable state after a minute discharge occurred, overshoot may occur. Since the return delay time is set to 300 μs or more, there is sufficient time for the X-ray tube to return to a stable state after a minute discharge occurs, and the occurrence of overshoot can be prevented. Thus, it is possible to avoid the disadvantage that an excessive voltage is applied to the X-ray tube and the high voltage generating means.
In addition, when the tube voltage after the return monitoring time from the start of recovery is lower than the abnormality determination threshold, the high voltage generating means is stopped or the generated voltage is lowered and the forced recovery is not performed. The generating means can be protected.
Furthermore, even if the recovery fails, the recovery is attempted again, so that even if a micro discharge having a relatively long discharge time occurs, it is possible to return to a steady voltage.
[0008]
In a third aspect, the present invention provides a high-pressure generator having the above-described configuration, wherein the high-pressure generator includes an abnormality notification means for notifying abnormality when the protection means is activated.
In the high pressure generator according to the third aspect, the abnormality is notified when the protection means is operated, so that the operator can quickly cope with the abnormality.
[0009]
In a fourth aspect, the present invention provides an X-ray imaging apparatus comprising the high-pressure generator configured as described above.
Since the X-ray imaging apparatus according to the fourth aspect includes the high-voltage generator, it is possible to avoid the disadvantage that an excessive voltage is applied to the X-ray tube and the high-voltage generator. In addition, since it is possible to suitably recover from a decrease in tube voltage due to minute discharge, data loss can be suppressed.
[0010]
In a fifth aspect, the present invention provides an X-ray imaging apparatus comprising the high voltage generator configured as described above for each of a positive voltage and a negative voltage.
The X-ray imaging apparatus according to the fifth aspect can avoid the disadvantage that an excessive voltage is applied to the X-ray tube and the high voltage generating means for each of the positive voltage high voltage generator and the negative voltage high voltage generator. In addition, since it is possible to suitably recover from a decrease in tube voltage due to minute discharge, data loss can be suppressed.
[0011]
In a sixth aspect, the present invention detects high voltage generating means for generating a high voltage supplied to an X-ray tube, tube voltage measuring means for measuring a tube voltage applied to the X-ray tube, and a sudden drop in the tube voltage. The high-voltage generating means is temporarily stopped or the generated voltage is temporarily reduced, and the return delay means for starting the return to the normal operation after the return delay time from the detection. The high voltage generating means is stopped or the generated voltage is lowered when the voltage is lower, and the tube voltage applied to the X-ray tube suddenly drops during data acquisition and then returns to the original high voltage. There is provided an X-ray imaging apparatus characterized by comprising interpolation means for interpolating missing data that could not be acquired before and after using data acquired before and after that.
In the X-ray imaging apparatus according to the sixth aspect, when a sudden drop in tube voltage is detected, the high voltage generating means is temporarily stopped for the return delay time or the generated voltage of the high voltage generating means is temporarily reduced and then returned to normal operation. However, if the tube voltage after the return monitoring time after the start of recovery is lower than the abnormality determination threshold, the high voltage generating means is stopped or the generated voltage is lowered, and the forced recovery is not performed. And high pressure generating means can be protected. In addition, since the missing data that cannot be acquired during the period from when the tube voltage suddenly drops to when the voltage returns to the original high voltage is interpolated, it is possible to minimize deterioration in image quality.
[0012]
Examples of the X-ray imaging apparatus according to the fourth to sixth aspects include an X-ray CT apparatus and an X-ray line sensor TV.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to embodiments shown in the drawings. Note that the present invention is not limited thereby.
[0014]
-First embodiment-
FIG. 1 is a block diagram of an X-ray CT (Computed Tomograhy) apparatus 1000 according to the first embodiment of the present invention.
The X-ray CT apparatus 1000 includes an operation console 20, an imaging table 30, and a scanning gantry 40.
The operation console 20 includes an input device 22 that accepts an operator's instruction input and information input, a central processing unit 23 that performs control to perform imaging processing and interpolation processing by helical scan, and a control signal and the like. 30, a control interface 24 that communicates with the scanning gantry 40, a data collection buffer 25 that collects data acquired by the scanning gantry 40, a CRT 26 that displays an X-ray image reconstructed from the data, and a program And a storage device 27 for storing data.
The imaging table 30 carries the subject and moves it in the body axis direction.
The scanning gantry 40 rotates the X-ray tube XT, the high-pressure generator 100 according to the present invention, the detector array 47, the data collection unit 48, and the X-ray tube XT around the body axis of the subject. And a rotation controller 49.
[0015]
FIG. 2 is a block diagram of the high pressure generator 100.
The high voltage generator 100 includes a high voltage generator 11 that generates a high voltage Vo (for example, 1 kV) to be supplied to the X-ray tube XT, and a tube voltage that measures a tube voltage applied to the X-ray tube XT and outputs a measurement voltage Vm. A voltage control signal R corresponding to the measurement voltage Vm is sent to the measurement unit 12, a microcomputer 13 that detects a sudden drop in the measurement voltage Vm, and the voltage level of the high voltage Vo is set to the high voltage generator 11. And a high voltage control unit 101 for sending a voltage drop signal Rlow for reduction.
The high voltage control unit 101 includes a regulator circuit 14 that outputs a voltage control signal R based on a difference between the measurement voltage Vm and a reference voltage Vref, and a switch 15 that selectively outputs the voltage control signal R or the voltage drop signal Rlow. It has. The selection state of the switch 15 is switched by a switching signal S from the microcomputer 13. Note that, instead of selecting the voltage drop signal Rlow, the high voltage generator 11 may be stopped.
[0016]
FIG. 3 is a flowchart showing a high pressure control process by the high pressure generator 100.
The high-voltage control process is started when the microcomputer 13 detects a minute discharge (for example, a phenomenon in which the measured voltage Vm decreases to 10% or less of the reference voltage Vref during a period of 1 μs). In the initial state, the switch 15 is in a state of selectively outputting the voltage control signal R.
[0017]
In step ST1, the repetition number n is initialized to “1”.
In step ST2, the switch 15 is switched to the selected output state of the voltage drop signal Rlow for a return delay time t1 of about 300 μs to 1 ms.
In step ST3, the switch 15 is returned to the selection output state of the voltage control signal R.
[0018]
In step ST4, the process waits until the return monitoring time t3 elapses, and then proceeds to step ST5. The return monitoring time t3 is longer than the time required for the measurement voltage Vm to rise to 90% or more of the reference voltage Vref when the X-ray tube XT is normal.
In step ST5, the tube voltage measuring unit 12 measures the tube voltage.
In step ST6, it is determined whether or not the measured voltage Vm is 90% or more of the reference voltage Vref. If the measured voltage Vm is 90% or more of the reference voltage Vref, the high voltage control process is terminated (in this case, a stable high voltage is supplied to the X-ray tube XT). If the measured voltage Vm is not 90% or more of the reference voltage Vref, the process proceeds to step ST7.
[0019]
In step ST7, it is determined whether the number of repetitions n is “3” or more. If the repetition number n is smaller than “3”, the process proceeds to step ST8, and if the repetition number n is “3” or more, the process proceeds to step ST9.
[0020]
In step ST8, the repetition number n is incremented by “1”. Thereafter, the process returns to step ST2.
[0021]
In step ST9, it is determined that an abnormality (such as an abnormal short circuit) other than a minute discharge has occurred, and the switch 15 is switched to the selected output state of the voltage drop signal Rlow. Thereby, damage to X-ray tube XT and the high voltage | pressure generator 11 can be prevented.
In step ST10, the occurrence of abnormality is notified. For example, an alarm sound is emitted, a warning lamp is turned on, or a warning message is displayed on the CRT 26. Thereafter, the high pressure control process is terminated.
[0022]
4 to 6 are graphs showing changes in the measured voltage Vm when the high voltage control process of FIG. 3 is performed.
FIG. 4 shows a case where the measurement voltage Vm rises to the steady voltage Vh at the stage where the number of repetitions n = 1 when a micro discharge with a short discharge time (for example, a micro discharge between the anode and the cathode) occurs. That is, at the time of the first step ST6 in FIG. 3, the measured voltage Vm is determined to be 90% or more of the reference voltage Vref (abnormality determination threshold value Vt), so that the switch 15 is set to the selected output state of the voltage control signal R. A stable steady voltage Vh is obtained after a predetermined time t2 (for example, 1 ms to 5 ms) after returning.
Thus, since the return delay time t1 is 300 μs or more, there is a sufficient time margin from the occurrence of the minute discharge until the X-ray tube XT returns to a stable state, and the occurrence of overshoot can be prevented. Thus, it is possible to avoid the disadvantage that an excessive voltage is applied to the X-ray tube and the high voltage generating means.
[0023]
FIG. 5 shows that the measurement voltage Vm rises to the steady voltage Vh when the number of repetitions n = 2 due to the occurrence of a minute discharge with a long discharge time (for example, a minute discharge between the anode and the ground or between the cathode and the ground). Show the case. That is, it is determined that the measured voltage Vm is not greater than or equal to the abnormality determination threshold Vt at the time of the first step ST6 in FIG. 3, and the measured voltage Vm is determined to be greater than or equal to the abnormality determination threshold Vt at the second time of step ST6. Thereafter, the measurement voltage Vm becomes a stable steady voltage Vh.
As described above, even if the initial restoration fails, the restoration is resumed. Therefore, even when a micro discharge having a relatively long discharge time occurs, it is possible to restore the steady voltage.
[0024]
FIG. 6 shows a case where an abnormal short circuit or the like that is not a minute discharge occurs and the abnormal termination occurs at the stage where the number of repetitions n = 3. That is, it is determined that the measured voltage Vm is not equal to or higher than the abnormality determination threshold Vt at the time of the first, second, and third step ST6 in FIG. 3, and the switch 15 is switched to the selected output state of the voltage drop signal Rlow in step ST9. It ends in the state. Thereafter, the state where a low voltage is supplied to the X-ray tube XT continues, and an abnormality is notified.
In this way, the voltage generated by the high voltage generator 11 is reduced (or the high voltage generator 11 is stopped), and the forced recovery is not performed, so that the X-ray tube XT and the high voltage generator 11 can be protected.
In addition, since the abnormality is notified, the operator can quickly cope with the abnormality.
[0025]
FIG. 7 is a flowchart showing CT image display processing by the X-ray CT apparatus 1000.
In step SU1, data of the number of views capable of reconstructing one CT image is acquired while rotating the X-ray tube XT around the subject (CT scan), or the X-ray tube XT is not rotated. The number of data that can generate one scout image that covers a necessary range while moving in the body axis direction of the subject is acquired (scout scan).
In step SU2, it is determined whether or not there is a period during which data acquisition is interrupted (a period from when the tube voltage suddenly drops until a stable high voltage is supplied to the X-ray tube XT). If there is a period in which data acquisition is interrupted, the process proceeds to step SU3, and if there is no period in which data acquisition is interrupted, the process proceeds to step SU4.
[0026]
In step SU3, as shown in FIG. 8, using the data D (i) and D (i) + for each detector channel number i acquired before and after the period when the data acquisition is interrupted, the missing raw data D (I) 'is interpolated.
[0027]
In step SU4, a CT image or a scout image is generated from the acquired data or the interpolated data.
In step SU5, the generated CT image or scout image is displayed on the CRT 26.
[0028]
According to the X-ray CT apparatus 1000 described above, since an image is generated by interpolating missing data that could not be acquired due to the occurrence of minute discharge, image quality deterioration can be suppressed.
[0029]
In the first embodiment, the return delay time t1 when n = 1 is applied as the return delay time when n = 2, 3. However, the return delay time may vary depending on the value of n. .
[0030]
-Second Embodiment-
FIG. 9 is a principal block diagram of an X-ray CT apparatus 2000 according to the second embodiment of the present invention.
The X-ray Ct device 2000 includes a positive high pressure generator 200-1 that supplies a positive high voltage + Vo (for example, + 500V) to the anode of the X-ray tube XT ', and a negative high pressure -Vo to the cathode of the X-ray tube XT'. A negative high pressure generator 200-2 for supplying (for example, -500V).
[0031]
The positive high voltage generator 200-1 includes a positive high voltage generator 11-1 that generates the positive high voltage + Vo, and a tube that measures a positive tube voltage applied to the X-ray tube XT 'and outputs a measured voltage + Vm. A voltage control unit 12-1, a microcomputer 13-1 that detects a sudden drop in the measured voltage + Vm, and a voltage control signal + R corresponding to the measured voltage + Vm are sent to the positive and high voltage generator 11-1, or the high voltage + Vo And a positive and high voltage control section 201-1 for sending a voltage drop signal Rlow for lowering the voltage level of the power supply. The positive and high voltage controller 201-1 selects and outputs the voltage control signal + R or the voltage drop signal Rlow, and a regulator circuit 14-1 that outputs a voltage control signal + R based on the difference between the measured voltage + Vm and a reference voltage + Vref. And a switch 15-1. The selection state of the switch 15-1 is switched by a switching signal S1 from the microcomputer 13-1.
The operation of the microcomputer 13-1 is the same as that in the first embodiment.
[0032]
The negative high voltage generator 200-2 measures the negative tube voltage applied to the negative high voltage generator 11-2 for generating the negative high voltage -Vo and the X-ray tube XT 'and outputs the measured voltage -Vm. A voltage control signal -R corresponding to the measured voltage -Vm to the tube voltage measuring unit 12-2, the microcomputer 13-2 that detects a sudden rise in the measured voltage -Vm, and the negative high voltage generator 11-2 Or a negative high voltage control unit 201-2 for sending a voltage increase signal Rhigh for increasing the voltage level of the high voltage -Vo.
The negative high voltage control unit 201-2 includes a regulator circuit 14-2 that outputs a voltage control signal -R based on a difference between the measurement voltage -Vm and a reference voltage -Vref, and the voltage control signal -R or the voltage increase signal. And a switch 15-2 for selectively outputting Rhigh. The selection state of the switch 15-2 is switched by a switching signal S2 from the microcomputer 13-2.
The operation of the microcomputer 13-2 is the same as that of the first embodiment.
[0033]
According to the X-ray CT apparatus 2000 described above, the occurrence of overshoot can be prevented in both the positive and high pressure generators 200-1 and 200-2.
[0034]
【The invention's effect】
According to the high voltage generator and the X-ray imaging apparatus of the present invention, when a micro discharge occurs, the generation of the high voltage is stopped for the return delay time of 300 μs or more, or the voltage level is lowered and then returned to the normal high voltage. Therefore, the X-ray tube becomes stable during that time, and overshooting can be prevented. Therefore, damage to the X-ray tube and the high pressure generating means can be avoided and the life can be extended.
[0035]
In addition, according to the X-ray imaging apparatus of the present invention, an image is generated by interpolating missing data that could not be acquired between the occurrence of a minute discharge and the return to the normal high voltage. Even in such a case, a high-quality image can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of an X-ray CT apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of a high pressure generator in the X-ray CT apparatus of FIG.
FIG. 3 is a flowchart showing high-pressure control processing by the high-pressure generator in FIG. 2;
4 is a graph showing changes in measured voltage when the high voltage control process of FIG. 3 is performed. FIG.
FIG. 5 is another graph showing a change in measured voltage when the high voltage control process of FIG. 3 is performed.
6 is another graph showing a change in measured voltage when the high voltage control process of FIG. 3 is performed. FIG.
7 is a flowchart showing image generation / display processing by the X-ray CT apparatus of FIG. 1; FIG.
FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating an example of interpolation processing in the image generation / display processing of FIG. 7;
FIG. 9 is a principal block diagram of an X-ray CT apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a block diagram of an example of a conventional high pressure generator.
11 is a graph showing the operation of the high-voltage generator of FIG. 10 when a minute discharge occurs.
FIG. 12 is a graph showing a change in measured voltage when an overshoot occurs.
[Explanation of symbols]
11, 11-1, 11-2 High voltage generator 12, 12-1, 12-2 Tube voltage measuring unit 13, 13-1, 13-2 Microcomputer 14, 14-1, 14-2 Regulator circuit 15, 15- DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,15-2 Switch 100,200 High voltage generator 101 High voltage controller 200-1 Positive high voltage generator 200-2 Negative high voltage generator 201-1 Positive high voltage controller 201-2 Negative high voltage controller 1000,2000 X-ray CT Equipment XT, XT 'X-ray tube

Claims (6)

X線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記X線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から300μs以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置。A high voltage generating means for generating a high voltage to be supplied to the X-ray tube, a tube voltage measuring means for measuring a tube voltage applied to the X-ray tube, and the high voltage generating means is temporarily stopped when a sudden drop in the tube voltage is detected, or A return delay means for temporarily reducing the generated voltage and starting a return to normal operation after a return delay time of 300 μs or more from the detection, and generating a high voltage when the tube voltage after the return start time after the return start is lower than an abnormality determination threshold. A high-voltage generator characterized by comprising protection means for continuing the state in which the means is stopped or the generated voltage is lowered. X線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記X線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から300μs以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を再び一時停止させるか又は発生電圧を再び一時低下させ復帰再遅延時間後に通常動作へ再復帰開始させることを1回以上行う再復帰試行手段と、その再復帰試行手段による再復帰開始の回数が保護回数に達すると前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置。A high voltage generating means for generating a high voltage to be supplied to the X-ray tube, a tube voltage measuring means for measuring a tube voltage applied to the X-ray tube, and the high voltage generating means is temporarily stopped when a sudden drop in the tube voltage is detected, or A return delay means for temporarily reducing the generated voltage and starting a return to normal operation after a return delay time of 300 μs or more from the detection, and generating a high voltage when the tube voltage after the return start time after the return start is lower than an abnormality determination threshold. Re-restart trial means for temporarily stopping the means again or reducing the generated voltage again and starting re-return to normal operation after the return re-delay time, and the number of re-restart starts by the re-retry trial means The high-voltage generator is provided with a protection unit that stops the high-voltage generation unit when the number of protections reaches the number of protections or continues the state in which the generated voltage is lowered. 請求項1または請求項2に記載の高圧発生装置において、前記保護手段の作動時に異常を報知する異常報知手段を具備したことを特徴とする高圧発生装置。3. The high pressure generator according to claim 1, further comprising an abnormality notifying unit for notifying an abnormality when the protection unit is activated. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の高圧発生装置を具備したことを特徴とするX線撮像装置。An X-ray imaging apparatus comprising the high-pressure generator according to any one of claims 1 to 3. 正電圧および負電圧のそれぞれについて請求項1から請求項3のいずれかに記載の高圧発生装置を具備したことを特徴とするX線撮像装置。An X-ray imaging apparatus comprising the high-voltage generator according to claim 1 for each of a positive voltage and a negative voltage. X線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記X線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段と、データ取得中に前記X線管に加わる管電圧が急降下してから元の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データをその前後に取得したデータを用いて補間する補間手段とを具備したことを特徴とするX線撮像装置。A high voltage generating means for generating a high voltage to be supplied to the X-ray tube, a tube voltage measuring means for measuring a tube voltage applied to the X-ray tube, and the high voltage generating means is temporarily stopped when a sudden drop in the tube voltage is detected, or A return delay means for temporarily lowering the generated voltage and starting return to normal operation after the return delay time from the detection, and stopping the high voltage generating means when the tube voltage after the return monitoring time after the return start is lower than the abnormality determination threshold Protection means that keeps the state in which the generated voltage is reduced, or missing data that could not be acquired between the time when the tube voltage applied to the X-ray tube suddenly drops during data acquisition and the return to the original high voltage Interpolating means for interpolating using the data acquired before and after the X-ray imaging apparatus.
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