[go: up one dir, main page]

JP4432589B2 - Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP4432589B2
JP4432589B2 JP2004114283A JP2004114283A JP4432589B2 JP 4432589 B2 JP4432589 B2 JP 4432589B2 JP 2004114283 A JP2004114283 A JP 2004114283A JP 2004114283 A JP2004114283 A JP 2004114283A JP 4432589 B2 JP4432589 B2 JP 4432589B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
electro
layer
optical device
sealing material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004114283A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005300750A (en
Inventor
忠 渡邉
秀樹 上原
聡志 田口
浩明 ▲降▼旗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2004114283A priority Critical patent/JP4432589B2/en
Publication of JP2005300750A publication Critical patent/JP2005300750A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4432589B2 publication Critical patent/JP4432589B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

本発明は、液晶表示装置、有機EL装置、プラズマディスプレイ装置等といった電気光学装置に関する。また、本発明は、その電気光学装置を製造するための製造方法に関する。また、本発明は、その電気光学装置を用いて構成される電子機器に関する。   The present invention relates to an electro-optical device such as a liquid crystal display device, an organic EL device, and a plasma display device. The present invention also relates to a manufacturing method for manufacturing the electro-optical device. The present invention also relates to an electronic apparatus configured using the electro-optical device.

現在、携帯電話機、携帯情報端末機等といった各種の電子機器において、液晶表示装置、EL装置等といった電気光学装置が広く用いられている。例えば、電子機器に関する各種の情報を視覚的に表示するための表示部として電気光学装置が用いられている。この電気光学装置において、電気光学物質として液晶を用いた装置、すなわち液晶表示装置が知られている。また、電気光学物質としてEL(Electro Luminescence)を用いたEL装置も知られている。   Currently, electro-optical devices such as liquid crystal display devices and EL devices are widely used in various electronic devices such as mobile phones and portable information terminals. For example, an electro-optical device is used as a display unit for visually displaying various types of information related to electronic devices. In this electro-optical device, a device using liquid crystal as an electro-optical material, that is, a liquid crystal display device is known. An EL device using EL (Electro Luminescence) as an electro-optical material is also known.

液晶表示装置は、一般に、それぞれが電極を備えた一対の基板の間に液晶層を介在させた構造を有する。この液晶層は、前記一対の基板の間にシール材によって囲まれた空間を形成し、この空間の内側に液晶を封止することにより構成される。液晶表示装置は、液晶層に光を供給すると共に、該液晶層に印加される電圧を表示ドットごとに制御することにより、液晶層内の液晶分子の配向を表示ドットごとに制御する。液晶層へ供給された光は液晶分子の配向状態に従って変調され、この変調された偏光が偏光板を通過するか、あるいは通過しないかに応じて、外部に文字、数字、図形等といった像が表示される。   A liquid crystal display device generally has a structure in which a liquid crystal layer is interposed between a pair of substrates each having an electrode. The liquid crystal layer is formed by forming a space surrounded by a sealing material between the pair of substrates and sealing the liquid crystal inside the space. The liquid crystal display device supplies light to the liquid crystal layer and controls the orientation of liquid crystal molecules in the liquid crystal layer for each display dot by controlling the voltage applied to the liquid crystal layer for each display dot. The light supplied to the liquid crystal layer is modulated according to the alignment state of the liquid crystal molecules, and images such as letters, numbers, figures, etc. are displayed depending on whether the modulated polarized light passes through the polarizing plate or not. Is done.

この液晶表示装置においては、各電極に信号を伝送するために、一対の基板の一方または両方に複数の配線が形成される。これらの配線の多くは、液晶を封止しているシール材の内側と、その外側とに渡って配設される。この配線用の材料としては、例えば、Cr(クロム)、Mo(モリブデン)、Al(アルミニウム)またはTi(チタン)等が用いられる。これらは低抵抗の材料であり、配線用材料として好適に用いられる。しかし、これらの低抵抗材料は水分やよごれによって腐蝕し易く、腐蝕した場合には液晶表示部の表示に障害が起こるおそれがある。   In this liquid crystal display device, a plurality of wirings are formed on one or both of a pair of substrates in order to transmit a signal to each electrode. Many of these wirings are disposed over the inside and outside of the sealing material that seals the liquid crystal. As the wiring material, for example, Cr (chromium), Mo (molybdenum), Al (aluminum), Ti (titanium), or the like is used. These are low-resistance materials and are preferably used as wiring materials. However, these low-resistance materials are easily corroded by moisture and dirt, and there is a possibility that the display of the liquid crystal display unit may be damaged when corroded.

この問題を解決するため、従来、シール材の外側に配設された配線、すなわち外側配線を構成する材料に耐蝕性材料、例えば、Ta(タンタル)やITO(Indium Tin Oxide)を用い、さらに、その上に酸化膜を積層することにより外側配線を腐蝕し難くした構造の液晶表示装置が知られている。また、この液晶表示装置において、シール材の内側に配設された内側配線は、外側配線と同じ材料の上に、さらに低抵抗材料を積層した構造を有している(例えば、特許文献1参照)。この従来の配線構造によれば、腐蝕し易い環境にある外側配線を耐蝕性材料で形成し、シール材の内側にあって腐蝕する心配のない内側配線を低抵抗材料によって形成したので、耐蝕性および低抵抗性の両方に優れた配線構造が得られることが期待されていた。   In order to solve this problem, conventionally, wiring disposed outside the sealing material, that is, a corrosion-resistant material, for example, Ta (tantalum) or ITO (Indium Tin Oxide) is used as a material constituting the outer wiring, There is known a liquid crystal display device having a structure in which an outer layer wiring is hardly corroded by stacking an oxide film thereon. In this liquid crystal display device, the inner wiring disposed inside the sealing material has a structure in which a low-resistance material is further laminated on the same material as the outer wiring (see, for example, Patent Document 1). ). According to this conventional wiring structure, the outer wiring that is easily corroded is formed of a corrosion-resistant material, and the inner wiring that is inside the sealing material and has no fear of being corroded is formed of a low-resistance material. It was expected that a wiring structure excellent in both resistance and low resistance could be obtained.

特開2001−75118号公報(第4頁、図1)JP 2001-75118 A (page 4, FIG. 1)

しかしながら、特許文献1に開示された従来の耐蝕性材料を用いた配線構造においては、耐蝕性材料の上に積極的に設けた酸化膜、または液晶表示装置基板の製造工程において必然的に生じた酸化膜により、内側配線における耐蝕性材料と低抵抗材料の間の接続抵抗が大きくなるおそれがある。その結果、液晶表示装置の表示部に表示むらが生じたり、液晶表示装置の消費電力が増えたりするおそれがある。   However, the conventional wiring structure using the corrosion-resistant material disclosed in Patent Document 1 inevitably occurs in the manufacturing process of the oxide film or the liquid crystal display substrate positively provided on the corrosion-resistant material. The oxide film may increase the connection resistance between the corrosion-resistant material and the low-resistance material in the inner wiring. As a result, display unevenness may occur in the display unit of the liquid crystal display device, or power consumption of the liquid crystal display device may increase.

本発明は、上記の問題点に鑑みて成されたものであって、耐蝕性と低抵抗性とを兼ね備えた配線構造を有する電気光学装置、電気光学装置の製造方法および電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and provides an electro-optical device having a wiring structure having both corrosion resistance and low resistance, a method for manufacturing the electro-optical device, and an electronic apparatus. With the goal.

本発明に係る電気光学装置は、シール材の内側に設けられた電気光学物質と、前記シール材の内側に設けられた内側配線と、前記シール材の外側に設けられた外側配線とを有する電気光学装置であり、前記内側配線は、耐蝕性材料の上に絶縁材料を形成しその上に低抵抗材料を形成して成る積層構造を有し、前記外側配線は耐蝕性材料を有し、前記内側配線の側面の一部または全部には、前記絶縁材料が無いことにより、前記耐蝕性材料と前記低抵抗材料とが直接に接触する部分があることを特徴とする。   An electro-optical device according to the present invention includes an electro-optical material provided inside a sealing material, an inner wiring provided inside the sealing material, and an outer wiring provided outside the sealing material. In the optical device, the inner wiring has a laminated structure in which an insulating material is formed on a corrosion-resistant material and a low-resistance material is formed thereon, and the outer wiring has a corrosion-resistant material, A part or all of the side surface of the inner wiring has a portion where the corrosion-resistant material and the low-resistance material are in direct contact with each other due to the absence of the insulating material.

上記の電気光学装置によれば、外側配線に耐蝕性材料を用いたことにより、水分やよごれの付着による配線の腐蝕を防ぐことができる。また、内側配線において、耐蝕性材料と低抵抗材料とが直接に接触する部分を設けたことにより、配線抵抗を確実に低くすることができる。これにより、電気光学装置において、表示むらの無い安定した表示を行うことができる。   According to the above electro-optical device, the use of the corrosion-resistant material for the outer wiring can prevent the wiring from being corroded due to adhesion of moisture and dirt. Further, by providing a portion in the inner wiring where the corrosion resistant material and the low resistance material are in direct contact, the wiring resistance can be reliably reduced. Accordingly, stable display without display unevenness can be performed in the electro-optical device.

本発明の電気光学装置において、前記耐蝕性材料と前記低抵抗材料とが直接に接触する部分はテーパ面であることが望ましい。これにより、耐蝕性材料と低抵抗材料との接触面積を大きくすることができる。その結果、配線抵抗をより低くすることができる。   In the electro-optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that a portion where the corrosion-resistant material and the low-resistance material are in direct contact is a tapered surface. As a result, the contact area between the corrosion-resistant material and the low-resistance material can be increased. As a result, the wiring resistance can be further reduced.

本発明の電気光学装置において、前記耐蝕性材料はTa(タンタル)またはTa(タンタル)合金であることが望ましい。これらの材料は、低抵抗材料に比べて耐蝕性に優れており、より腐蝕し難い配線を構成することができる。   In the electro-optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that the corrosion-resistant material is Ta (tantalum) or Ta (tantalum) alloy. These materials are superior in corrosion resistance compared to low-resistance materials, and can form wirings that are less susceptible to corrosion.

本発明の電気光学装置において、前記低抵抗材料はCr(クロム)、Mo(モリブデン)、Al(アルミニウム)、Ti(チタン)またはそれらの1つを主成分とする合金、のうちから選択される1つであることが望ましい。これらの材料は導電性に優れており、配線抵抗を低くすることができる。   In the electro-optical device according to the aspect of the invention, the low-resistance material is selected from Cr (chromium), Mo (molybdenum), Al (aluminum), Ti (titanium), or an alloy mainly containing one of them. It is desirable to have one. These materials are excellent in conductivity and can reduce wiring resistance.

本発明の電気光学装置において、前記内側配線と前記外側配線は前記シール材を横切って延びる連続した配線を形成することが望ましい。連続した配線を形成することにより、外側配線と内側配線との接続部における接触不良等の障害を回避することができる。   In the electro-optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that the inner wiring and the outer wiring form a continuous wiring extending across the sealing material. By forming the continuous wiring, it is possible to avoid a failure such as a contact failure in the connection portion between the outer wiring and the inner wiring.

本発明の電気光学装置は、前記電気光学物質に電圧を印加するための電極をさらに有し、前記内側配線は該電極につながることが望ましい。こうすることにより、電極へ走査信号やデータ信号を供給する際に、この内側配線を走査線やデータ線として用いることができる。本発明によれば、内側配線を低抵抗にすることができるので、データ信号等を電極へ正常に供給できる。   The electro-optical device of the present invention preferably further includes an electrode for applying a voltage to the electro-optical material, and the inner wiring is connected to the electrode. By doing so, the inner wiring can be used as a scanning line or a data line when supplying a scanning signal or a data signal to the electrodes. According to the present invention, the inner wiring can have a low resistance, so that a data signal or the like can be normally supplied to the electrodes.

本発明の電気光学装置においては、前記内側配線において、前記耐蝕性材料および前記絶縁材料から成る層にコンタクトホールを設け、前記低抵抗材料は該コンタクトホールの内側に入って前記耐蝕性材料と直接に接触することが望ましい。このように、配線の側面以外の部分にも耐蝕性材料と低抵抗材料とが直接に接触する部分を設けたことにより、配線抵抗をより一層低くすることができる。これにより、電気光学装置において、表示むらのない安定した表示を行うことができる。   In the electro-optical device according to the aspect of the invention, in the inner wiring, a contact hole is provided in a layer made of the corrosion-resistant material and the insulating material, and the low-resistance material enters the contact hole and directly contacts the corrosion-resistant material. It is desirable to contact Thus, by providing a portion where the corrosion resistant material and the low resistance material are in direct contact with each other on the portion other than the side surface of the wiring, the wiring resistance can be further reduced. Accordingly, it is possible to perform stable display without display unevenness in the electro-optical device.

コンタクトホールを設けるようにした上記の電気光学装置において、前記内側配線は前記シール材内部の導通粒子に接触する導通パッド部を有し、前記コンタクトホールは該導通パッド部に設けられることが望ましい。この導通パッド部は、内側配線の他の部分に比べて配線幅が広くなっている。そのため、この導通パッド部には、複数のコンタクトホールまたは大きなコンタクトホールを設けることができる。その結果、耐蝕性材料と低抵抗材料との接触面積が大きくとれ、配線抵抗を低くすることができる。また、導通パッド部は、基板とシール材とによって両側から挟まれる部分であるので、耐蝕性材料と低抵抗材料とが確実に接触することができる。   In the electro-optical device in which the contact hole is provided, it is preferable that the inner wiring has a conductive pad portion that contacts conductive particles inside the sealing material, and the contact hole is provided in the conductive pad portion. This conductive pad portion has a wider wiring width than other portions of the inner wiring. Therefore, a plurality of contact holes or large contact holes can be provided in the conductive pad portion. As a result, the contact area between the corrosion resistant material and the low resistance material can be increased, and the wiring resistance can be reduced. Further, since the conductive pad portion is a portion sandwiched from both sides by the substrate and the sealing material, the corrosion-resistant material and the low-resistance material can surely come into contact with each other.

次に、本発明に係る他の電気光学装置は、シール材によって貼り合わされた一対の基板と、前記シール材料と前記一対の基板とによって囲まれる領域に封入された液晶と、前記一対の基板のそれぞれの表面上であって前記シール材の内側に設けられた電極と、該電極から延びると共に前記シール材の外側へ延びる配線とを有する電気光学装置であり、前記配線のうち前記シール材の内側に位置する内側配線は耐蝕性材料の上に絶縁材料を形成し、その上に低抵抗材料を形成して成る積層構造を有し、前記配線のうち前記シール材の外側に位置する外側配線は耐蝕性材料を有し、前記内側配線の側面の一部または全部には、前記絶縁材料が無いことにより、前記耐蝕性材料と前記低抵抗材料とが直接に接触する部分があることを特徴とする。   Next, another electro-optical device according to the present invention includes a pair of substrates bonded together with a sealing material, a liquid crystal sealed in a region surrounded by the sealing material and the pair of substrates, and the pair of substrates. An electro-optical device having an electrode provided on each surface and inside the sealing material, and a wiring extending from the electrode and extending to the outside of the sealing material, and the inside of the sealing material among the wirings The inner wiring located in the layer has a laminated structure in which an insulating material is formed on a corrosion-resistant material and a low resistance material is formed thereon, and the outer wiring located outside the sealing material among the wiring is It has a corrosion-resistant material, and a part or all of the side surface of the inner wiring has a portion where the corrosion-resistant material and the low-resistance material are in direct contact due to the absence of the insulating material. To do.

この電気光学装置は、電気光学物質として液晶を用いる表示装置、すなわち液晶表示装置である。この電気光学装置によれば、外側配線に耐蝕性材料を用いたことにより、水分やよごれの付着による配線の腐蝕を防ぐことができる。また、内側配線において、耐蝕性材料と低抵抗材料とが直接に接触する部分を設けたことにより、配線の抵抗を確実に低くすることができる。これにより、電気光学装置において、表示むらのない安定した表示を行うことができる。   This electro-optical device is a display device using liquid crystal as an electro-optical material, that is, a liquid crystal display device. According to this electro-optical device, corrosion resistance due to adhesion of moisture or dirt can be prevented by using a corrosion-resistant material for the outer wiring. Further, by providing a portion in the inner wiring where the corrosion resistant material and the low resistance material are in direct contact, the resistance of the wiring can be reliably reduced. Accordingly, it is possible to perform stable display without display unevenness in the electro-optical device.

次に、本発明に係る電気光学装置の製造方法は、基板上にシール材を形成する工程と、前記シール材の内側に電気光学物質を設ける工程と、前記シール材の内側および外側の両側に配線を形成する工程とを有する電気光学装置の製造方法であり、前記配線を形成する工程は、前記シール材の内側において、耐蝕性材料から成る第1層を形成する工程と、該第1層の上に絶縁材料から成る第2層を形成する工程と、前記第1層と前記第2層とが積層して成る配線の側面の一部または全部をエッチングによって除去するエッチング工程と、前記第2層の上に低抵抗材料によって第3層を形成する工程とを有することを特徴とする。前記第2層は、絶縁材料により積極的に形成する場合と、液晶表示装置用基板の製造工程において必然的に生じた酸化膜により形成する場合がある。   Next, the method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention includes a step of forming a sealing material on a substrate, a step of providing an electro-optical material inside the sealing material, and both sides inside and outside the sealing material. A method of manufacturing the electro-optical device, the step of forming the wiring comprising: forming a first layer made of a corrosion-resistant material inside the sealing material; and A step of forming a second layer made of an insulating material on the substrate, an etching step of removing a part or all of side surfaces of the wiring formed by stacking the first layer and the second layer by etching, Forming a third layer with a low resistance material on the two layers. The second layer may be formed positively with an insulating material, or may be formed with an oxide film inevitably generated in the manufacturing process of the substrate for a liquid crystal display device.

上記の電気光学装置の製造方法によれば、外側配線を耐蝕性材料を用いて形成することにより、水分やよごれの付着による配線の腐蝕を防ぐことができる。また、内側配線において、耐蝕性材料によって第1層を形成し、絶縁材料によって第2層を形成した後、第2層または第1層および第2層の両方をエッチングによって除去することにより、耐蝕性材料である第1層の表面を露出させる。さらに、第2層の上に低抵抗材料からなる第3層を形成する。これにより、エッチングで露出した耐蝕性材料と低抵抗材料とが、絶縁材料を介さずに直接に接触することができる。従って、配線の抵抗を確実に低くすることができる。その結果、電気光学装置において、表示むらのない安定した表示を行うことができる。   According to the above method for manufacturing an electro-optical device, the outer wiring is formed using a corrosion-resistant material, thereby preventing the wiring from being corroded due to adhesion of moisture or dirt. Further, in the inner wiring, the first layer is formed with a corrosion-resistant material, the second layer is formed with an insulating material, and then the second layer or both the first layer and the second layer are removed by etching. The surface of the 1st layer which is a property material is exposed. Further, a third layer made of a low resistance material is formed on the second layer. Thereby, the corrosion-resistant material exposed by etching and the low-resistance material can be in direct contact with each other without the insulating material. Therefore, the resistance of the wiring can be reliably reduced. As a result, it is possible to perform stable display without display unevenness in the electro-optical device.

本発明の電気光学装置の製造方法において、前記エッチング工程では、前記第1層と第2層の側面がテーパ面に形成されることが望ましい。これにより、第1層の耐蝕性材料と第3層の低抵抗材料との接触面積を大きくすることができる。その結果、配線抵抗をより低くすることができる。   In the method of manufacturing an electro-optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that in the etching process, side surfaces of the first layer and the second layer are formed into tapered surfaces. Thereby, the contact area of the corrosion-resistant material of the first layer and the low-resistance material of the third layer can be increased. As a result, the wiring resistance can be further reduced.

本発明の電気光学装置の製造方法において、前記第3層を形成する工程では、前記シール材の内側および外側において第3層を形成し、その後、前記シール材の外側において前記第3層を除去することが望ましい。この電気光学装置の製造方法によれば、仮に複数の外側配線の上に異物が載った場合であっても、基板上に設けられた複数の配線の間で短絡を起こすことがなく安全である。   In the method of manufacturing the electro-optical device according to the aspect of the invention, in the step of forming the third layer, the third layer is formed inside and outside the sealing material, and then the third layer is removed outside the sealing material. It is desirable to do. According to this method of manufacturing an electro-optical device, even if a foreign object is placed on a plurality of outer wirings, it is safe without causing a short circuit between the plurality of wirings provided on the substrate. .

次に、本発明に係る電子機器は、以上に記載した構成の電気光学装置を有することを特徴とする。本発明に係る電気光学装置は、耐蝕性および低抵抗性を兼ね備えた配線構造を有するので、表示むらがなく安定した表示を行うことができる。従って、本発明に係る電気光学装置を用いた電子機器においても表示むらがなく安定した表示を行うことができる。   Next, an electronic apparatus according to the present invention includes the electro-optical device having the above-described configuration. Since the electro-optical device according to the present invention has a wiring structure having both corrosion resistance and low resistance, it is possible to perform stable display without display unevenness. Therefore, even in an electronic apparatus using the electro-optical device according to the present invention, a stable display can be performed without display unevenness.

(電気光学装置の実施形態)
以下、本発明を電気光学装置の一例である液晶表示装置に適用した場合を例に挙げて説明する。なお、これ以降に説明する実施形態は本発明の一例であって、本発明を限定するものではない。また、これからの説明では必要に応じて図面を参照するが、この図面では、複数の構成要素から成る構造のうち重要な構成要素をわかり易く示すため、各要素を実際とは異なった相対的な寸法で示している。
(Embodiment of electro-optical device)
Hereinafter, a case where the present invention is applied to a liquid crystal display device which is an example of an electro-optical device will be described as an example. In addition, embodiment described below is an example of this invention, Comprising: This invention is not limited. In the following description, the drawings will be referred to as necessary. In this drawing, in order to show the important components of the structure composed of a plurality of components in an easy-to-understand manner, the relative dimensions differ from actual ones. Is shown.

図1は、本発明に係る電気光学装置の実施形態である液晶表示装置を示している。また、図2は、図1における1つの表示ドット近傍を拡大して示している。ここに挙げられた液晶表示装置は、2端子型のスイッチング素子であるTFD(Thin Film Diode)素子を用いたアクティブマトリクス方式であって、半透過反射型の液晶表示装置である。   FIG. 1 shows a liquid crystal display device which is an embodiment of an electro-optical device according to the present invention. FIG. 2 shows an enlarged view of the vicinity of one display dot in FIG. The liquid crystal display device described here is an active matrix type using a TFD (Thin Film Diode) element which is a two-terminal switching element, and is a transflective liquid crystal display device.

図1において、液晶表示装置1は、液晶パネル2と、この液晶パネル2に実装された駆動用IC3と、照明装置4とを有する。照明装置4は、観察側(すなわち、図の上側)から見て液晶パネル2の背面側に配設されてバックライトとして機能する。照明装置4は、液晶パネル2の観察側に配設してフロントライトとして機能させても良い。   In FIG. 1, the liquid crystal display device 1 includes a liquid crystal panel 2, a driving IC 3 mounted on the liquid crystal panel 2, and an illumination device 4. The illumination device 4 is disposed on the back side of the liquid crystal panel 2 when viewed from the observation side (that is, the upper side in the figure) and functions as a backlight. The illumination device 4 may be disposed on the observation side of the liquid crystal panel 2 and function as a front light.

照明装置4は、LED(Light Emitting Diode)等といった点状光源や、冷陰極管等といった線状光源等によって構成された光源6と、透光性の樹脂によって形成された導光体7とを有する。観察側から見て導光体7の背面側には、必要に応じて、反射層8が設けられる。また、導光体7の観察側には、必要に応じて、拡散層9が設けられる。導光体7の光導入口7aは図1の紙面垂直方向に延びており、光源6から発生した光はこの光導入口7aを通して導光体7の内部へ導入される。   The illuminating device 4 includes a light source 6 constituted by a point light source such as an LED (Light Emitting Diode), a linear light source such as a cold cathode tube, and the like, and a light guide body 7 formed of a translucent resin. Have. A reflective layer 8 is provided on the back side of the light guide 7 as viewed from the observation side, if necessary. A diffusion layer 9 is provided on the observation side of the light guide 7 as necessary. The light entrance 7a of the light guide 7 extends in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1, and light generated from the light source 6 is introduced into the light guide 7 through the light entrance 7a.

液晶パネル2は、素子基板12と、それに対向するカラーフィルタ基板11と、それらの基板を貼り合わせている矢印A方向から見て正方形または長方形の枠状のシール材13とを有する。カラーフィルタ基板11と、素子基板12と、シール材13によって囲まれる間隙、いわゆるセルギャップG内に電気光学物質としての液晶14が封入されて液晶層を構成している。   The liquid crystal panel 2 includes an element substrate 12, a color filter substrate 11 facing the element substrate 12, and a square or rectangular frame-shaped sealing material 13 as viewed from the direction of arrow A to which the substrates are bonded. Liquid crystal 14 as an electro-optical material is sealed in a gap surrounded by the color filter substrate 11, the element substrate 12, and the sealing material 13, a so-called cell gap G, to form a liquid crystal layer.

カラーフィルタ基板11は、矢印A方向から見て長方形又は正方形の第1基材16aを有し、その第1基材16aの内側表面には、凹凸すなわち凹部と非凹部との組み合わせを有する樹脂層17が形成され、その上に反射層18が形成され、その上に複数の着色要素19およびそれらを取り囲む遮光部材21が形成され、その上にオーバーコート層22が形成され、その上に紙面垂直方向へ直線的に延びる複数の電極23aが形成され、さらに、その上に配向膜24aが形成される。   The color filter substrate 11 has a rectangular or square first base material 16a when viewed from the direction of arrow A, and a resin layer having a combination of unevenness, that is, a concave portion and a non-recessed portion, on the inner surface of the first base material 16a. 17 is formed, a reflective layer 18 is formed thereon, a plurality of coloring elements 19 and a light shielding member 21 surrounding them are formed, an overcoat layer 22 is formed thereon, and a paper surface perpendicular to the paper surface is formed thereon. A plurality of electrodes 23a linearly extending in the direction are formed, and an alignment film 24a is further formed thereon.

配向膜24aには配向処理、例えばラビング処理が施され、これにより、カラーフィルタ基板11の近傍の液晶分子の配向が決められる。また、第1基材16aの外側表面には、位相差板26a及び偏光板27aが貼着等によって装着される。第1基材16aは、例えば、透光性のガラス、透光性のプラスチック等によって形成される。   The alignment film 24a is subjected to an alignment process such as a rubbing process, whereby the alignment of liquid crystal molecules in the vicinity of the color filter substrate 11 is determined. Moreover, the phase difference plate 26a and the polarizing plate 27a are attached to the outer surface of the first base material 16a by sticking or the like. The first base material 16a is made of, for example, translucent glass, translucent plastic, or the like.

図2において、樹脂層17は、第1層17a及び第2層17bから成る2層構造によって形成されており、第2層17bの表面には、細かい凹凸、すなわち細かい凹部及び非凹部が形成されている。反射層18は、例えば、Al、Al合金等によって形成される。この反射層18の表面は、その下地層である樹脂層17に着けられた凹凸に対応して凹凸形状となっている。この凹凸形状により、反射層18で反射する光は拡散する。   In FIG. 2, the resin layer 17 is formed by a two-layer structure including a first layer 17a and a second layer 17b, and fine irregularities, that is, fine recesses and non-recesses are formed on the surface of the second layer 17b. ing. The reflective layer 18 is made of, for example, Al, an Al alloy, or the like. The surface of the reflective layer 18 has a concavo-convex shape corresponding to the undulations attached to the resin layer 17 that is the underlying layer. Due to this uneven shape, the light reflected by the reflective layer 18 diffuses.

着色要素19は、例えば、1つ1つが長方形のドット状に形成され、1つの着色要素19は、R(赤)、G(緑)、B(青)の3原色のいずれか1つを呈する。これら各色の着色要素19は、矢印A方向から見てストライプ配列、デルタ配列、モザイク配列、その他適宜の配列となるように並べられている。なお、着色要素19は、C(シアン)、M(マゼンタ)、Y(イエロー)の3原色によって形成することもできる。   For example, each of the coloring elements 19 is formed in a rectangular dot shape, and one coloring element 19 exhibits any one of the three primary colors of R (red), G (green), and B (blue). . The coloring elements 19 of these colors are arranged so as to form a stripe arrangement, a delta arrangement, a mosaic arrangement, and other appropriate arrangements when viewed from the direction of the arrow A. The coloring element 19 can also be formed by three primary colors of C (cyan), M (magenta), and Y (yellow).

遮光部材21は、例えばCr等といった遮光性の材料によって、複数の着色要素19の間を埋める状態に形成される。この遮光部材21は、ブラックマトリクスとして機能して着色要素19を透過した光によって表示される像のコントラストを向上させる。なお、遮光部材21は、Cr等といった特定の材料によって形成されることに限られず、例えば、着色要素19を構成するR,G,Bの各着色要素を重ねること、すなわち積層することによっても形成することができる。   The light shielding member 21 is formed so as to fill a space between the plurality of coloring elements 19 with a light shielding material such as Cr. The light shielding member 21 functions as a black matrix and improves the contrast of an image displayed by light transmitted through the coloring elements 19. The light shielding member 21 is not limited to being formed of a specific material such as Cr, and may be formed by, for example, stacking, that is, stacking, R, G, and B coloring elements constituting the coloring element 19. can do.

オーバーコート層22は、例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等といった感光性の樹脂によって形成される。図2の紙面垂直方向に線状に延びる複数の電極23aは、例えばITO等といった金属酸化物によって形成される。また、その上に形成された配向膜24aは、例えばポリイミド等によって形成される。   The overcoat layer 22 is formed of a photosensitive resin such as an acrylic resin or a polyimide resin. The plurality of electrodes 23a extending linearly in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 2 are formed of a metal oxide such as ITO. Further, the alignment film 24a formed thereon is formed of polyimide or the like, for example.

図1において、カラーフィルタ基板11に対向する素子基板12は第2基材16bを有する。この第2基材16bは、張出し部29が形成される1辺が第1基材16aの外側へ張り出している。この第2基材16bの内側表面には、図2に示すように、ライン配線33が形成され、スイッチング素子として機能する非線形抵抗素子である複数のTFD素子31がそのライン配線33に接続して形成される。そしてさらに、それらのTFD素子31に接続するように複数のドット電極23bが形成される。ライン配線33は、カラーフィルタ基板11上の線状電極23aに対して直角方向、すなわち図2の左右方向に延びている。   In FIG. 1, the element substrate 12 facing the color filter substrate 11 has a second base material 16b. In the second base material 16b, one side where the projecting portion 29 is formed projects to the outside of the first base material 16a. As shown in FIG. 2, line wiring 33 is formed on the inner surface of the second base material 16 b, and a plurality of TFD elements 31, which are nonlinear resistance elements functioning as switching elements, are connected to the line wiring 33. It is formed. Further, a plurality of dot electrodes 23 b are formed so as to be connected to those TFD elements 31. The line wiring 33 extends in a direction perpendicular to the linear electrode 23a on the color filter substrate 11, that is, in the left-right direction in FIG.

各ドット電極23bの間に複数のフォトスペーサ15が形成され、それらの上に配向膜24bが形成される。これらのフォトスペーサ15は、例えば、感光性樹脂をフォトリソグラフィ処理によってパターニングすることによって形成される。フォトスペーサ15は、立った状態の円柱形状に形成されており、セルギャップが均一な寸法を維持するように機能する。フォトスペーサ15はギャップ材と呼ばれることがある。配向膜24bには配向処理、例えばラビング処理が施され、これにより、素子基板12の近傍の液晶分子の配向が決められる。第2基材16bの外側表面には、位相差板26b及び偏光板27bが貼着等によって装着される。   A plurality of photo spacers 15 are formed between the dot electrodes 23b, and an alignment film 24b is formed thereon. These photo spacers 15 are formed, for example, by patterning a photosensitive resin by a photolithography process. The photo spacer 15 is formed in a standing cylindrical shape and functions so that the cell gap maintains a uniform dimension. The photo spacer 15 may be called a gap material. The alignment film 24b is subjected to an alignment process such as a rubbing process, whereby the alignment of liquid crystal molecules in the vicinity of the element substrate 12 is determined. A phase difference plate 26b and a polarizing plate 27b are attached to the outer surface of the second base material 16b by sticking or the like.

第2基材16bは、例えば、透光性のガラス、透光性のプラスチック等によって形成される。また、ドット電極23bはITO等といった金属酸化物によって形成される。また、配向膜24bは、例えばポリイミド等によって形成される。   The second base material 16b is made of, for example, translucent glass, translucent plastic, or the like. The dot electrode 23b is formed of a metal oxide such as ITO. The alignment film 24b is formed of, for example, polyimide.

個々のTFD素子31は、カラーフィルタ基板11側の遮光部材21に対応する位置に設けられ、さらに、図3に示すように、第1TFD要素32aと第2TFD要素32bとを直列に接続することによって形成されている。   Each TFD element 31 is provided at a position corresponding to the light shielding member 21 on the color filter substrate 11 side. Further, as shown in FIG. 3, the first TFD element 32a and the second TFD element 32b are connected in series. Is formed.

図3において、TFD素子31は、例えば、次のようにして形成される。すなわち、まず、TaWによってライン配線33の第1層42及びTFD素子31の第1金属36を形成する。次に、陽極酸化処理によってライン配線33の第2層43及びTFD素子31の絶縁膜37を形成する。次に、例えばCrによってライン配線33の第3層41及びTFD素子31の第2金属38を形成する。   In FIG. 3, the TFD element 31 is formed as follows, for example. That is, first, the first layer 42 of the line wiring 33 and the first metal 36 of the TFD element 31 are formed by TaW. Next, the second layer 43 of the line wiring 33 and the insulating film 37 of the TFD element 31 are formed by anodizing treatment. Next, the third layer 41 of the line wiring 33 and the second metal 38 of the TFD element 31 are formed by using, for example, Cr.

第1TFD要素32aの第2金属38はライン配線33の第3層41から延びている。また、第2TFD要素32bの第2金属38の先端に重なるように、ドット電極23bが形成される。ライン配線33からドット電極23bへ向けて電気信号が流れることを考えれば、その電流方向に従って、第1TFD要素32aでは第2電極38→絶縁膜37→第1金属36の順に電気信号が流れ、一方、第2TFD要素32bでは第1金属36→絶縁膜37→第2金属38の順に電気信号が流れる。   The second metal 38 of the first TFD element 32 a extends from the third layer 41 of the line wiring 33. Further, the dot electrode 23b is formed so as to overlap the tip of the second metal 38 of the second TFD element 32b. Considering that an electric signal flows from the line wiring 33 toward the dot electrode 23b, the electric signal flows in the order of the second electrode 38 → the insulating film 37 → the first metal 36 in the first TFD element 32a according to the current direction. In the second TFD element 32b, electrical signals flow in the order of the first metal 36 → the insulating film 37 → the second metal 38.

つまり、第1TFD要素32aと第2TFD要素32bとの間では電気的に逆向きの一対のTFD要素が互いに直列に接続されている。このような構造は、一般に、バック・ツー・バック(Back-to-Back)構造と呼ばれており、この構造のTFD素子は、TFD素子を1個のTFD要素だけによって構成する場合に比べて、安定した特性を得られることが知られている。なお、第1金属36等の第2基材16bからの剥れを防止したり、第2基材16bから第1金属36等へ不純物が拡散しないようにする等のために、TFD素子31と基材16bとの間及びライン配線33と基材16bとの間に下地層(図示せず)を設けることもできる。   That is, a pair of electrically opposite TFD elements are connected in series between the first TFD element 32a and the second TFD element 32b. Such a structure is generally called a back-to-back structure, and the TFD element of this structure is compared with a case where the TFD element is configured by only one TFD element. It is known that stable characteristics can be obtained. In order to prevent the first metal 36 and the like from peeling off from the second base material 16b, and to prevent impurities from diffusing from the second base material 16b to the first metal 36 and the like, the TFD element 31 and An underlayer (not shown) can also be provided between the base material 16b and between the line wiring 33 and the base material 16b.

図4は、図1の液晶表示装置1を矢印A方向から見た場合であって、第2基材16bの図示を省略した状態の液晶表示装置1の平面構造を示している。また、図5は、図1の素子基板12を矢印A方向から見た場合であって、第2基材16bの図示を省略した状態の素子基板12の平面構造を示している。また、図6は、図1のカラーフィルタ基板11を矢印A方向から見た場合のそのカラーフィルタ基板11の平面構造を示している。なお、図4、図5および図6は、主に電極及び配線を示しており、それ以外の要素は図示を省略している。   FIG. 4 shows the planar structure of the liquid crystal display device 1 when the liquid crystal display device 1 of FIG. 1 is viewed from the direction of the arrow A and the second base material 16b is not shown. FIG. 5 shows the planar structure of the element substrate 12 in a state where the element substrate 12 of FIG. 1 is viewed from the direction of arrow A and the second base material 16b is not shown. FIG. 6 shows a planar structure of the color filter substrate 11 when the color filter substrate 11 of FIG. 1 is viewed from the direction of the arrow A. 4, 5, and 6 mainly show electrodes and wiring, and other elements are not shown.

図5に示すように、素子基板12に設けられる複数の直線状のライン配線33は全体としてストライプ状に設けられている。また、複数のTFD素子31は個々のライン配線33に適宜の間隔をおいて接続され、それらのTFD素子31にドット電極23bが接続されている。図5では、ライン配線33を少ない本数で模式的に描いてあるが、実際には多数本、例えば240本程度が形成される。また、TFD素子31及びドット電極23bはシール材13の四隅部分に対応するものだけを部分的に示してあるが、実際には、シール材13によって囲まれる領域内の全域に設けられる。また、TFD素子31及びドット電極23bは、模式的に大きく描かれているため、数が少ないように描かれているが、実際には図5の縦方向、すなわち上下方向の1列に、それぞれ、例えば320個程度形成されている。つまり、ドット電極23bは、例えば、縦×横=320×240個の数だけ設けられている。   As shown in FIG. 5, the plurality of linear line wirings 33 provided on the element substrate 12 are provided in a stripe shape as a whole. The plurality of TFD elements 31 are connected to the individual line wirings 33 at appropriate intervals, and the dot electrodes 23 b are connected to the TFD elements 31. In FIG. 5, the line wiring 33 is schematically drawn with a small number, but in practice, a large number, for example, about 240 are formed. In addition, although the TFD element 31 and the dot electrode 23 b are only partially shown corresponding to the four corners of the sealing material 13, they are actually provided in the entire region surrounded by the sealing material 13. Further, since the TFD element 31 and the dot electrode 23b are schematically drawn large, they are drawn so as to have a small number, but actually, in the vertical direction of FIG. For example, about 320 are formed. That is, the dot electrode 23b is provided by the number of vertical x horizontal = 320 x 240, for example.

図1において、素子基板12に対向するカラーフィルタ基板11に設けられる複数の線状電極23aは、図6に示すように、全体としてストライプ状に形成されている。これらの線状電極23aは、図4に示すように、カラーフィルタ基板11と素子基板12とをシール材13によって貼り合わせたとき、ライン配線33と直角の方向に延び、さらに、横列を成す複数のドット電極23bに平面的に重なり合う。このように、線状電極23aとドット電極23bとが重なり合う領域が、表示の最小単位である表示ドット領域を構成する。この表示ドット領域は図1および図2において符号Dで示す領域である。複数の表示ドット領域Dが縦方向及び横方向に複数個、マトリクス状に並べられた領域が表示領域Vである。この表示領域Vに文字、数字、図形等といった像が表示される。   In FIG. 1, the plurality of linear electrodes 23a provided on the color filter substrate 11 facing the element substrate 12 are formed in a stripe shape as a whole as shown in FIG. As shown in FIG. 4, these linear electrodes 23 a extend in a direction perpendicular to the line wiring 33 when the color filter substrate 11 and the element substrate 12 are bonded to each other with the sealing material 13, and are further formed in a plurality of rows. The dot electrode 23b overlaps in a planar manner. Thus, the area where the linear electrode 23a and the dot electrode 23b overlap constitutes a display dot area which is the minimum unit of display. This display dot region is a region indicated by a symbol D in FIGS. A display region V is a region where a plurality of display dot regions D are arranged in a matrix in the vertical and horizontal directions. Images such as letters, numbers, figures, etc. are displayed in the display area V.

図5において、素子基板12を構成する第2基材16bの張出し部29上に実装される駆動用IC3は、走査信号を出力する駆動用IC3aと、データ信号を出力する駆動用IC3bとによって構成されている。第2基材16bの第1辺16cすなわち入力側の辺には外部接続用端子44が形成され、これらの端子44は駆動用IC3a及び3bの入力用端子、例えば入力用バンプにつながる。   In FIG. 5, the driving IC 3 mounted on the overhanging portion 29 of the second base material 16b constituting the element substrate 12 includes a driving IC 3a that outputs a scanning signal and a driving IC 3b that outputs a data signal. Has been. External connection terminals 44 are formed on the first side 16c of the second base material 16b, that is, the input side, and these terminals 44 are connected to input terminals of the driving ICs 3a and 3b, for example, input bumps.

外部接続端子44には、図示しない配線基板、例えば可撓性配線基板が、ハンダ付け、ACF(Anisotropic Conductive Film:異方性導電膜)、ヒートシール等といった導電接続手法によって接続される。この配線基板を介して、電子機器、例えば携帯電話機、携帯情報端末機から液晶表示装置1へ信号、電力等が供給される。   A wiring board (not shown) such as a flexible wiring board is connected to the external connection terminal 44 by a conductive connection method such as soldering, ACF (Anisotropic Conductive Film), heat sealing, or the like. Signals, power, and the like are supplied to the liquid crystal display device 1 from an electronic device such as a mobile phone or a portable information terminal via the wiring board.

また、この第1辺16cに隣接する2つの辺16d及び16eの近傍に、それらの辺に沿って複数の配線49が形成されている。これらの配線49は、駆動用IC3aの出力用端子、例えば出力用バンプからシール材13を横切り、さらに、第1辺16cに対向する第2辺16fへ向かって延びている連続した配線である。各配線49は、2つの辺16d及び16eのそれぞれに平行な本線部分49aと、それに対してシール材13の外側へ向けてほぼ90°で折れ曲がる部分49bとによって構成されている。また、素子基板12上に形成されたライン配線33は、シール材13を横切って駆動用IC3bの出力端子、例えば出力バンプに接続される。   A plurality of wirings 49 are formed in the vicinity of the two sides 16d and 16e adjacent to the first side 16c along the sides. These wirings 49 are continuous wirings that cross the sealing material 13 from the output terminals of the driving IC 3a, for example, the output bumps, and further extend toward the second side 16f facing the first side 16c. Each wiring 49 is constituted by a main line portion 49a parallel to each of the two sides 16d and 16e, and a portion 49b that bends toward the outside of the sealing material 13 at approximately 90 °. Further, the line wiring 33 formed on the element substrate 12 is connected to an output terminal of the driving IC 3 b, for example, an output bump, across the sealing material 13.

図2において、反射層18には個々の表示ドット領域Dに対応して開口46が設けられる。これらの開口46は、矢印Aの方向から平面的に見て長方形状に形成されている。本実施形態のように、R,G,Bの3色から成る着色要素19を用いてカラー表示を行う場合は、R,G,Bの3色に対応する3つの着色要素19に対応する3つの表示ドット領域Dによって1つの画素が形成される。他方、白黒又は任意の1色でモノカラー表示を行う場合は、1つの表示ドット領域Dによって1つの画素が形成される。   In FIG. 2, an opening 46 is provided in the reflective layer 18 corresponding to each display dot region D. These openings 46 are formed in a rectangular shape when viewed in plan from the direction of arrow A. When color display is performed using the coloring elements 19 composed of the three colors R, G, and B as in the present embodiment, the three corresponding to the three coloring elements 19 corresponding to the three colors R, G, and B are used. One display dot region D forms one pixel. On the other hand, when monochrome display is performed in black and white or any one color, one pixel is formed by one display dot region D.

図2において、個々の表示ドット領域Dの中で反射層18が設けられた部分Rが反射部であり、開口46が形成された部分Tが透過部である。観察側から入射した外部光、すなわち素子基板12側から入射した外部光L0は、反射部Rで反射する。一方、図1の照明装置4の導光体7から出射した光L1は、透過部Tを透過する。   In FIG. 2, a portion R where the reflective layer 18 is provided in each display dot region D is a reflective portion, and a portion T where the opening 46 is formed is a transmissive portion. External light incident from the observation side, that is, external light L0 incident from the element substrate 12 side is reflected by the reflection portion R. On the other hand, the light L1 emitted from the light guide 7 of the illumination device 4 in FIG.

以下、本実施形態の液晶表示装置1について、その動作を説明する。図2において、太陽光、室内光等といった外部光が強い場合は、外部光L0が反射部Rで反射して液晶層14へ供給される。これにより、反射型表示が行われる。一方、図1の照明装置4が点灯した場合は、導光体7から出射する平面状の光が、図2の透過部Tを通して液晶層14へ供給される。これにより、透過型表示が行われる。このような反射型表示及び透過型表示を希望に応じて選択して実行することにより、半透過反射型の表示が行われる。   Hereinafter, the operation of the liquid crystal display device 1 of the present embodiment will be described. In FIG. 2, when external light such as sunlight or room light is strong, external light L <b> 0 is reflected by the reflection portion R and supplied to the liquid crystal layer 14. Thereby, reflective display is performed. On the other hand, when the illuminating device 4 in FIG. 1 is turned on, the planar light emitted from the light guide 7 is supplied to the liquid crystal layer 14 through the transmission portion T in FIG. Thereby, transmissive display is performed. By selecting and executing such a reflective display and a transmissive display as desired, a transflective display is performed.

液晶層14を挟持する線状電極23a及びドット電極23bの一方、本実施形態では線状電極23aに走査信号が印加される。一方、線状電極23a及びドット電極23bの他方、本実施形態ではドット電極23bにデータ信号が印加される。走査信号とデータ信号が印加された表示ドット領域Dに付属するTFD素子31はON状態となり、当該表示ドット領域Dにおける液晶分子の配向状態が該表示ドット領域Dを通過する光を変調するように維持される。そして、この変調された光が図1の偏光板27bを通過するか、しないかによって、素子基板12の外側に、文字、数字、図形等といった希望の像が表示される。外部光L0を用いて表示が行われる場合が反射型表示であり、透過光L1を用いて表示が行われる場合が透過型表示である。   In this embodiment, a scanning signal is applied to the linear electrode 23a, which is one of the linear electrode 23a and the dot electrode 23b that sandwich the liquid crystal layer 14. On the other hand, in the present embodiment, a data signal is applied to the other of the linear electrode 23a and the dot electrode 23b. The TFD element 31 attached to the display dot region D to which the scanning signal and the data signal are applied is turned on, and the alignment state of the liquid crystal molecules in the display dot region D modulates the light passing through the display dot region D. Maintained. Then, depending on whether or not the modulated light passes through the polarizing plate 27b of FIG. 1, a desired image such as letters, numbers, and figures is displayed on the outside of the element substrate 12. The case where the display is performed using the external light L0 is the reflection type display, and the case where the display is performed using the transmitted light L1 is the transmission type display.

本実施形態に係る液晶表示装置においては、図5において、配線49は、シール材13の内側に位置する部分、すなわち内側配線49cとシール材13の外側に位置する部分、すなわち外側配線49dとを有する。また、ライン配線33も、シール材13の内側に位置する部分である内側配線33cと、シール材13の外側に位置する部分である外側配線33dとを有する。なお、シール材13と重なる部分の配線は内側配線である。   In the liquid crystal display device according to the present embodiment, in FIG. 5, the wiring 49 includes a portion located inside the sealing material 13, that is, an inner wiring 49 c and a portion located outside the sealing material 13, that is, the outer wiring 49 d. Have. The line wiring 33 also includes an inner wiring 33 c that is a portion located inside the sealing material 13 and an outer wiring 33 d that is a portion located outside the sealing material 13. In addition, the wiring of the part which overlaps with the sealing material 13 is an inner wiring.

外側配線33d、49dと内側配線33c、49cとは継ぎ目のない連続した1本の配線を形成している。仮に、外側配線と内側配線とが別々の配線であって、それらが導通材によって導電接続されるような構成を考えると、その導電接続部分において接続不良が発生する可能性がある。これに対し、外側配線と内側配線とが1本の配線となっていれば、そのような接続不良の心配がない。   The outer wirings 33d and 49d and the inner wirings 33c and 49c form one continuous continuous wiring. If a configuration in which the outer wiring and the inner wiring are separate wirings and are conductively connected by a conductive material, connection failure may occur in the conductive connection portion. On the other hand, if the outer wiring and the inner wiring are one wiring, there is no fear of such a connection failure.

図7は、図5において矢印Bで示す領域を拡大して示している。図7に示すように、内側配線49cの折れ曲がり部49bの先端には導通用パッド48が形成されている。本線部分49aにおいては線幅及び配線間隔は比較的狭い。他方、折れ曲がり部49bおよび導通用パッド部48においては、本線部分49aに比べて線幅は広くなっている。   FIG. 7 is an enlarged view of the area indicated by the arrow B in FIG. As shown in FIG. 7, a conduction pad 48 is formed at the tip of the bent portion 49b of the inner wiring 49c. In the main line portion 49a, the line width and the wiring interval are relatively narrow. On the other hand, the line width of the bent portion 49b and the conductive pad portion 48 is wider than that of the main line portion 49a.

図4において、シール材13の内部には、球形又は円筒形の導通材54が不規則な分散状態で含まれている。図5に示す素子基板12と図6に示すカラーフィルタ基板11とを図4に示すように貼り合わせたとき、素子基板12側の導通パッド48(図7参照)と、カラーフィルタ基板11側の線状電極23aの端部とが導通材54によって導通される。これにより、カラーフィルタ基板11側の電極23aが素子基板12側の配線49を通して駆動用IC3aに電気的に接続される。   In FIG. 4, a spherical or cylindrical conducting material 54 is contained in an irregularly dispersed state inside the sealing material 13. When the element substrate 12 shown in FIG. 5 and the color filter substrate 11 shown in FIG. 6 are bonded together as shown in FIG. 4, the conductive pads 48 on the element substrate 12 side (see FIG. 7) and the color filter substrate 11 side The end portion of the linear electrode 23 a is electrically connected by the conductive material 54. Thereby, the electrode 23a on the color filter substrate 11 side is electrically connected to the driving IC 3a through the wiring 49 on the element substrate 12 side.

なお、線状電極23aと配線49との導通は、図4の左辺側と右辺側との間で交互に実現されている。しかしながら、これに代えて、表示領域Vの上半分に関しては左辺側又は右辺側の一方で導通を行い、表示領域Vの下半分に関しては左辺側又は右辺側の他方で導通を行うという駆動方法を採用することもできる。   The conduction between the linear electrode 23a and the wiring 49 is realized alternately between the left side and the right side in FIG. However, instead of this, a driving method in which the upper half of the display region V is conducted on one of the left side and the right side, and the lower half of the display region V is conducted on the other side of the left side and the right side. It can also be adopted.

図8は、図5において矢印Cで示す領域を拡大して示している。つまり、図8は、図7に示した配線構造の他端側の構造を示している。図8に示すように、シール材13の外側に配設される複数の外側配線49dのそれぞれの端部にはIC接続用端子47が形成されている。これらのIC接続用端子47には、図1の素子基板12の張出し部29上において、駆動用IC3が、例えば、ACF53によって実装される。   FIG. 8 is an enlarged view of the area indicated by the arrow C in FIG. That is, FIG. 8 shows a structure on the other end side of the wiring structure shown in FIG. As shown in FIG. 8, an IC connection terminal 47 is formed at each end portion of the plurality of outer wirings 49 d disposed outside the sealing material 13. The driving IC 3 is mounted on these IC connection terminals 47 by, for example, the ACF 53 on the overhanging portion 29 of the element substrate 12 of FIG.

ACF53は、熱硬化性樹脂又は紫外線硬化性樹脂の内部に導電粒子を分散することによって形成されている。駆動用IC3の本体部分は熱硬化性樹脂等によって基板の張出し部29上に固着される。また、駆動用IC3の出力バンプとIC接続用端子47とが、さらには、駆動用IC3の入力バンプと外部接続用端子44とが、ACF53に含まれる導電粒子によって導電接続される。   The ACF 53 is formed by dispersing conductive particles inside a thermosetting resin or an ultraviolet curable resin. The main body portion of the driving IC 3 is fixed on the protruding portion 29 of the substrate by a thermosetting resin or the like. Further, the output bump of the driving IC 3 and the IC connection terminal 47 are conductively connected to each other by the conductive particles contained in the ACF 53, and the input bump of the driving IC 3 and the external connection terminal 44 are connected.

図9(a)は、図8のE−E線に沿った配線49の断面、すなわち、図5の外側配線49dの断面を示している。この外側配線49dは、第2基材16bの上に耐蝕性材料としてのTaWによって第1層42を形成し、その上に絶縁材料としてのTaOx(酸化タンタル)によって第2層43を形成した積層構造を有している。   FIG. 9A shows a cross section of the wiring 49 along the line EE of FIG. 8, that is, a cross section of the outer wiring 49d of FIG. The outer wiring 49d is a laminate in which the first layer 42 is formed of TaW as a corrosion-resistant material on the second base material 16b, and the second layer 43 is formed of TaOx (tantalum oxide) as an insulating material thereon. It has a structure.

外側配線49dは、シール材13の外側に位置しているので、内側配線49cに比べて水分やよごれが付着し易い。つまり、外側配線49dは内側配線49cに比べて腐蝕し易い環境下にある。ところで、配線抵抗を下げることを念頭に置くと、配線の材料としては、低抵抗材料、例えばCrが好適に用いられる。しかし、Crは水分や汚れによって腐蝕を生じ易い。配線に腐蝕が生じた場合、配線の抵抗値が変化したり配線が断線したりすることにより、液晶表示装置の表示部に表示むらが生じるおそれがある。   Since the outer wiring 49d is located outside the sealing material 13, moisture and dirt are more likely to adhere to the inner wiring 49c. That is, the outer wiring 49d is in an environment that is more easily corroded than the inner wiring 49c. By the way, considering that the wiring resistance is lowered, a low resistance material such as Cr is preferably used as the wiring material. However, Cr is easily corroded by moisture and dirt. When the wiring is corroded, the display resistance of the liquid crystal display device may be uneven due to a change in the resistance value of the wiring or disconnection of the wiring.

本実施形態においては、外側配線49dを耐蝕性材料であるTaWおよび同じく耐蝕性材料であるTaOxの積層構造にした。これにより、外側配線49dはCr等といった低抵抗材料を用いた場合に比べて腐蝕し難くなる。その結果、液晶表示装置の表示部に表示むらが生じることを抑えることができる。   In this embodiment, the outer wiring 49d has a laminated structure of TaW which is a corrosion resistant material and TaOx which is also a corrosion resistant material. As a result, the outer wiring 49d is less likely to be corroded than when a low resistance material such as Cr is used. As a result, it is possible to suppress the occurrence of display unevenness in the display unit of the liquid crystal display device.

次に、図8において、内側配線49cは、その側面に、第2層43がある部分と第2層43が無い部分とを有する。F−F線で示す部分は第2層43がある部分であり、H−H線で示す部分は第2層43が無い部分である。第2層43が無い部分は図7にI−I線で示す折れ曲り部分49bにも形成されている。   Next, in FIG. 8, the inner wiring 49 c has a portion with the second layer 43 and a portion without the second layer 43 on the side surface. The portion indicated by the FF line is a portion where the second layer 43 is present, and the portion indicated by the HH line is a portion where the second layer 43 is not present. A portion where the second layer 43 is not formed is also formed in a bent portion 49b shown by a line II in FIG.

図9(b)は、図8のF−F線に沿って内側配線49cの第2層43がある部分の断面を示している。この部分の内側配線49cは、外側配線と同じ積層構造、すなわち、第1層42および第2層43の上に、さらに低抵抗材料としてのCrによって第3層41を形成した積層構造である。内側配線49cは、シール材13の内側にあるので水分や汚れの影響を受けない。そのため、内側配線49cは、低抵抗材料であるCrを用いて配線を形成しても腐蝕し難い。そして、このようにCrを用いれば、内側配線49cの、ひいては、配線49全体の抵抗を低くすることができる。   FIG. 9B shows a cross section of a portion where the second layer 43 of the inner wiring 49c is present along the line FF in FIG. The inner wiring 49c of this portion has the same laminated structure as the outer wiring, that is, a laminated structure in which the third layer 41 is further formed on the first layer 42 and the second layer 43 by Cr as a low resistance material. Since the inner wiring 49c is inside the sealing material 13, it is not affected by moisture or dirt. Therefore, the inner wiring 49c is hardly corroded even if the wiring is formed using Cr which is a low resistance material. If Cr is used in this way, the resistance of the inner wiring 49c, and thus the entire wiring 49, can be lowered.

上記内側配線49cおよび外側配線49dは、素子基板12上に図3のTFD素子31を形成する際に同時に形成することができる。すなわち、図3において、TFD素子31の第1金属36を形成するのと同時に第1層42を形成し、TFD素子31の絶縁膜37を形成するのと同時に第2層43を形成する。さらに、TFD素子31の第2金属38を形成するのと同時に第3層41を形成することができる。   The inner wiring 49c and the outer wiring 49d can be formed simultaneously with the formation of the TFD element 31 of FIG. That is, in FIG. 3, the first layer 42 is formed simultaneously with the formation of the first metal 36 of the TFD element 31, and the second layer 43 is formed simultaneously with the formation of the insulating film 37 of the TFD element 31. Further, the third layer 41 can be formed simultaneously with the formation of the second metal 38 of the TFD element 31.

図10(a)は図8のH−H線および図7のI−I線に沿った断面を示している。内側配線49cのこれらの部分においては、配線の側面にある第2層43をエッチングによって除去する。このときのエッチングは、第2層43を除去して第1層42の表面を露出させるようなエッチングであっても良いし、あるいは、第2層43と共に第1層42の表面部分を掘り下げるようなエッチングであっても良い。第1層42の表面部分も掘り下げるようなエッチングを行った場合には、図10(a)に破線Qで示すように、第1層42にその他の部分の側面よりも緩やかなテーパ面が第1層42の側面に形成される。なお、本実施形態では、第1層42の側面それ自体がテーパ面になっているので、エッチングによって第2層43だけを除去したとき、その後に露出する第1層42の側面はテーパ面となる。他方、第1層42の側面はテーパ面ではなくて直立面、すなわち、ほぼ90°の角度で立った面とすることもできる。この場合にエッチングによって第2層43だけを除去したときには、露出する第1層42に側面はテーパ面ではなくて直立面となる。   FIG. 10A shows a cross section taken along line HH in FIG. 8 and line II in FIG. In these portions of the inner wiring 49c, the second layer 43 on the side surface of the wiring is removed by etching. The etching at this time may be etching that removes the second layer 43 and exposes the surface of the first layer 42, or digs into the surface portion of the first layer 42 together with the second layer 43. Etching may be used. When etching is performed so that the surface portion of the first layer 42 is also dug down, as shown by the broken line Q in FIG. It is formed on the side surface of one layer 42. In the present embodiment, the side surface of the first layer 42 itself is a tapered surface. Therefore, when only the second layer 43 is removed by etching, the side surface of the first layer 42 exposed thereafter is a tapered surface. Become. On the other hand, the side surface of the first layer 42 is not a tapered surface but can be an upright surface, that is, a surface standing at an angle of approximately 90 °. In this case, when only the second layer 43 is removed by etching, the side surface of the exposed first layer 42 is not a tapered surface but an upright surface.

エッチングによって露出した第1層42の側面部分は、第3層41に対する接触面51を構成する。この接触面51において第1層42と第3層41とが直接に接触する。その結果、配線抵抗を確実に低くすることができ、液晶表示装置の表示部に表示むらが生じるのを防止できる。また、接触面51をテーパ面とすることにより、接触面積を大きくとることができ、この場合には配線抵抗を低くできる確実性をより一層高めることができる。   The side surface portion of the first layer 42 exposed by etching constitutes a contact surface 51 with respect to the third layer 41. The first layer 42 and the third layer 41 are in direct contact with each other at the contact surface 51. As a result, the wiring resistance can be reliably reduced, and display unevenness can be prevented from occurring in the display portion of the liquid crystal display device. In addition, by making the contact surface 51 a tapered surface, the contact area can be increased, and in this case, the reliability with which the wiring resistance can be lowered can be further increased.

図10(b)は図8のL−L線および図7のK−K線に沿ってIC接続用端子47および導通用パッド48の断面構造を示している。これらのIC接続用端子47および導通用パッド48においては、第3層41を形成する前にエッチングによって導電用の穴、すなわち、コンタクトホール52を形成する。図10(b)において、コンタクトホール52の内周面においては第1層42が外部へ露出しており、この露出面が第3層41に対する接触面51を構成する。本実施形態では、接触面51はテーパ面となっているが、これを直立面とすることもできる。このようにして形成された接触面51において、第3層41と第1層42とが直接に接触する。その結果、配線抵抗を低くすることができ、液晶表示部に表示むらが生じ難くなる。また、接触面51をテーパ面とすることにより、接触面積を大きくとることができ、配線抵抗をより低くすることができる。   FIG. 10B shows a cross-sectional structure of the IC connection terminal 47 and the conduction pad 48 along the line LL in FIG. 8 and the line KK in FIG. In these IC connection terminal 47 and conduction pad 48, a conductive hole, that is, a contact hole 52 is formed by etching before the third layer 41 is formed. In FIG. 10B, the first layer 42 is exposed to the outside on the inner peripheral surface of the contact hole 52, and this exposed surface constitutes a contact surface 51 for the third layer 41. In the present embodiment, the contact surface 51 is a tapered surface, but this can also be an upright surface. In the contact surface 51 formed in this way, the third layer 41 and the first layer 42 are in direct contact. As a result, the wiring resistance can be lowered, and display unevenness hardly occurs in the liquid crystal display unit. Moreover, by making the contact surface 51 into a taper surface, a contact area can be taken large and wiring resistance can be made lower.

図5に示す配線49の本線部分49aおよび折曲り部分49bは、その配線の幅は非常に狭い。そのために、配線の内部領域にコンタクトホールを形成することが非常に難しい。しかし、図8のIC接続用端子47および図7の導通パッド48は、他の配線部分に比べて配線幅が広くなっている。従って、複数のコンタクトホール52または大きなコンタクトホール52を無理なく設けることができる。これにより、第3層41と第1層42との接触部51の面積を大きくとることができ、その結果、配線抵抗をより低くすることができる。   The main line portion 49a and the bent portion 49b of the wiring 49 shown in FIG. 5 have a very narrow width. Therefore, it is very difficult to form a contact hole in the internal region of the wiring. However, the IC connection terminal 47 of FIG. 8 and the conductive pad 48 of FIG. 7 have a wider wiring width than other wiring portions. Therefore, a plurality of contact holes 52 or large contact holes 52 can be provided without difficulty. Thereby, the area of the contact part 51 of the 3rd layer 41 and the 1st layer 42 can be taken large, As a result, wiring resistance can be made lower.

図1に示すように、IC接続用端子47は第2基材16bと駆動用IC3によって両側から挟まれている。また、図7から理解されるように、導通用パッド48は第2基材16bとシール材13によって両側から挟まれている。これらのため、IC接続用端子47および導通用パッド48にコンタクトホール52を設けるようにすれば、両側から挟まれたときの挟持力の作用により、第1層42と第3層41とを確実に接触させることができる。   As shown in FIG. 1, the IC connection terminal 47 is sandwiched between the second base material 16b and the driving IC 3 from both sides. Further, as understood from FIG. 7, the conduction pad 48 is sandwiched between the second base material 16 b and the sealing material 13 from both sides. Therefore, if the contact hole 52 is provided in the IC connection terminal 47 and the conduction pad 48, the first layer 42 and the third layer 41 are securely connected by the action of the clamping force when sandwiched from both sides. Can be contacted.

図8のIC接続用端子47および図7の導通パッド48は、図10(b)に示すように、第3層41の上にITO膜45をさらに有する。ITO膜45を設けることにより、駆動用IC3の接続に用いるACF53に含まれる導通材との間において、良好な電気的接続を得ることができる。また同様に、図4において素子基板12とカラーフィルタ基板11との間で電気的な導通をとるための導通材54との間においても、良好な電気的接続を得ることができる。   The IC connection terminal 47 in FIG. 8 and the conduction pad 48 in FIG. 7 further have an ITO film 45 on the third layer 41 as shown in FIG. By providing the ITO film 45, good electrical connection can be obtained between the conductive material contained in the ACF 53 used for connection of the driving IC 3. Similarly, a good electrical connection can be obtained between the element substrate 12 and the color filter substrate 11 in FIG.

図10(a)において配線側面に施されるエッチングおよび図10(b)に示すコンタクトホール52を形成するためのエッチングは、素子基板12上に図3のTFD素子31を形成する際に同時に行うことができる。図3のTFD素子31を形成する際には、例えば、第1金属36を、当初、ライン配線33の第1層42につながる形状に形成しておいて、第1層42を通して第1金属36へ電流を流して陽極酸化処理を行って第1層42上および第1金属36上に陽極酸化膜、すなわち絶縁膜37を形成する。そしてその後、ライン配線33の第1層42および第2層43の積層部分と、TFD素子31の第1金属36および絶縁膜37の積層部分とをエッチングによって分離する。そして、分離した絶縁膜37の上に第2金属38を積層する。図10(b)のコンタクトホール52のためのエッチングや、図10(a)の配線側面に施すエッチングは、上記のTFD素子31の形成の際の、第1金属36および絶縁膜37を分離するためのエッチングと同時に行うことができる。   The etching performed on the wiring side surface in FIG. 10A and the etching for forming the contact hole 52 shown in FIG. 10B are simultaneously performed when the TFD element 31 in FIG. 3 is formed on the element substrate 12. be able to. When the TFD element 31 of FIG. 3 is formed, for example, the first metal 36 is initially formed in a shape connected to the first layer 42 of the line wiring 33, and the first metal 36 is passed through the first layer 42. Then, an anodic oxidation treatment is performed by flowing a current to the first layer 42 and the first metal 36 to form an anodic oxide film, that is, an insulating film 37. Thereafter, the stacked portion of the first layer 42 and the second layer 43 of the line wiring 33 and the stacked portion of the first metal 36 and the insulating film 37 of the TFD element 31 are separated by etching. Then, the second metal 38 is stacked on the separated insulating film 37. Etching for the contact hole 52 in FIG. 10B and etching performed on the wiring side surface in FIG. 10A separates the first metal 36 and the insulating film 37 when the TFD element 31 is formed. Can be performed simultaneously with etching.

以上、図5、図7、図8、図9、図10を用いて説明した配線49についての構造は、図5のライン配線33に対しても適用できる。すなわち、ライン配線33の外側配線33dは、図9(a)に示すように、耐蝕性材料である第1層42の上に、同じく耐蝕性材料である第2層43を積層して構成できる。外側配線33dを耐蝕性材料で形成すれば、配線が腐蝕することを防止できる。   As described above, the structure of the wiring 49 described with reference to FIGS. 5, 7, 8, 9, and 10 can be applied to the line wiring 33 of FIG. 5. That is, as shown in FIG. 9A, the outer wiring 33d of the line wiring 33 can be configured by stacking the second layer 43, which is also a corrosion-resistant material, on the first layer 42, which is a corrosion-resistant material. . If the outer wiring 33d is formed of a corrosion-resistant material, the wiring can be prevented from being corroded.

また、図5のライン配線33の内側配線33cについては、図9(b)および図10(a)に示すように、第1層42および第2層43の上に、低抵抗材料である第3層41を積層する。これにより、配線抵抗を低くすることができる。   Further, as shown in FIG. 9B and FIG. 10A, the inner wiring 33c of the line wiring 33 in FIG. 5 is formed of a low resistance material on the first layer 42 and the second layer 43. Three layers 41 are stacked. Thereby, wiring resistance can be made low.

また、ライン配線33の内側配線33cについては、図9(b)に示すように第1層42の表面全部に第2層43が有る部分と、図10(a)に示すように、第1層42の側面に第2層43が無くて、第1層42と第3層41とが直接に接触する部分との、2つの部分が設けられる。第2層43が無くて第1層42と第3層41とが直接に接触する部分を設けたことにより、第1層42と第3層41との電気的な接続を確実に確保することができる。   Further, the inner wiring 33c of the line wiring 33 includes a portion where the second layer 43 is present on the entire surface of the first layer 42 as shown in FIG. 9B and a first wiring as shown in FIG. The second layer 43 is not provided on the side surface of the layer 42, and two portions are provided, that is, a portion where the first layer 42 and the third layer 41 are in direct contact. By providing a portion in which the first layer 42 and the third layer 41 are in direct contact without the second layer 43, the electrical connection between the first layer 42 and the third layer 41 is reliably ensured. Can do.

さらに、ライン配線33に関しても、図8に示すように、その先端にIC接続用端子47を設けることができ、さらに、そのIC接続用端子47の内部にコンタクトホール52を設けることができる。そして、図10(b)に示すように、そのコンタクトホール52を通して第1層42と第3層41との間の導通を達成することができる。こうすれば、第1層42と第3層41との電気的な接続を、より一層、確実に確保することができる。   Further, as shown in FIG. 8, the line connection 33 can be provided with an IC connection terminal 47 at its tip, and further, a contact hole 52 can be provided inside the IC connection terminal 47. Then, as shown in FIG. 10B, electrical conduction between the first layer 42 and the third layer 41 can be achieved through the contact hole 52. In this way, the electrical connection between the first layer 42 and the third layer 41 can be more reliably ensured.

以上に説明したように、本実施形態では、図5に示したように、素子基板12を構成する第2基材16bには配線33および49が設けられている。これらの配線33、49において、シール材13の外側に位置する配線は、水分や汚れの影響を受けて腐蝕するおそれがある。配線に腐蝕が生じると、配線の抵抗値が変化したり配線が断線を起こしたりするので、液晶表示装置の表示部に表示むらが生じるおそれがある。これに対して本実施形態では、シール材13の外側に位置する外側配線33d、49dを耐蝕性材料で形成したので、これらの外側配線33d、49dは腐蝕し難くなる。その結果、液晶表示部に表示むらが生じるのを防止できる。   As described above, in the present embodiment, as shown in FIG. 5, the wirings 33 and 49 are provided on the second base material 16 b constituting the element substrate 12. In these wirings 33 and 49, the wiring located outside the sealing material 13 may be corroded under the influence of moisture and dirt. When the wiring is corroded, the resistance value of the wiring is changed or the wiring is disconnected, which may cause display unevenness in the display portion of the liquid crystal display device. On the other hand, in the present embodiment, since the outer wirings 33d and 49d located outside the sealing material 13 are formed of a corrosion-resistant material, the outer wirings 33d and 49d are hardly corroded. As a result, display unevenness can be prevented from occurring in the liquid crystal display unit.

また、配線33および49は導通する電極の位置によって長さが変わる。配線33および49が長くなると、それらが短い場合に比べて配線抵抗が大きくなる。この配線抵抗の差によって表示むらが生じるおそれがある。これに対して本実施形態では、図10(a)に示したように、内側配線33c、49cにおいて第1層42の側面がテーパ状に露出するように第2層43をエッチングした。これにより、低抵抗材料である第3層41と耐蝕性材料である第1層42とが直接に接触するようにした。その結果、配線33および49の配線抵抗を確実に低くすることができ、むらのない表示を行うことができる。また、図10(b)に示したように、IC接続用端子47および導通用パッド48にコンタクトホール52を設けた。その結果、耐蝕性材料である第1層42と低抵抗材料である第3層41との接触面積を大きくとることができ、配線抵抗をより低くすることができる。   Further, the lengths of the wirings 33 and 49 vary depending on the position of the conductive electrode. When the wirings 33 and 49 become longer, the wiring resistance becomes larger than when the wirings 33 and 49 are shorter. Display unevenness may occur due to the difference in wiring resistance. On the other hand, in this embodiment, as shown in FIG. 10A, the second layer 43 is etched so that the side surfaces of the first layer 42 are exposed in a tapered shape in the inner wirings 33c and 49c. As a result, the third layer 41, which is a low-resistance material, and the first layer 42, which is a corrosion-resistant material, are in direct contact. As a result, the wiring resistance of the wirings 33 and 49 can be reliably reduced, and display without unevenness can be performed. Further, as shown in FIG. 10B, contact holes 52 are provided in the IC connection terminals 47 and the conduction pads 48. As a result, the contact area between the first layer 42, which is a corrosion-resistant material, and the third layer 41, which is a low-resistance material, can be increased, and the wiring resistance can be further reduced.

(変形例)
上記の実施形態では、図10(a)に示す配線側面のエッチング部は、図5に示す配線の折れ曲り部49bと、本線部分49aのシール材13付近との2箇所にそれぞれ設けた。しかしながら、この側面エッチング部は、上記以外の数箇所に設けることができる。また、側面エッチング部を配線の全部にわたって設けることもできる。
(Modification)
In the above embodiment, the wiring side etched portions shown in FIG. 10A are provided at two locations, the bent portion 49b of the wiring shown in FIG. 5 and the vicinity of the sealing material 13 of the main line portion 49a. However, this side-surface etched portion can be provided in several places other than the above. Further, the side-surface etched portion can be provided over the entire wiring.

また、上記の実施形態では、配線33および49の第1層42にTaWを用いた。これに代え、第1層42は、耐蝕性がある他の材料、例えば、Taまたは他のTa合金等を用いることもできる。   In the above embodiment, TaW is used for the first layer 42 of the wirings 33 and 49. Alternatively, the first layer 42 may be made of another material having corrosion resistance, such as Ta or another Ta alloy.

また、上記の実施形態では、内側配線33c、49cの第3層41にCrを用いた。これに代え、第3層41は、低抵抗の他の材料、例えば、Mo、AlまたはTi等を用いることもできる。   In the above embodiment, Cr is used for the third layer 41 of the inner wirings 33c and 49c. Alternatively, the third layer 41 may be made of another low resistance material such as Mo, Al, or Ti.

また、上記の実施形態では、素子基板12上に形成される配線33および49に対して本発明を適用した。しかしながら、カラーフィルタ基板側に配線が形成される場合には、その配線に対して本発明を適用することもできる。   In the above embodiment, the present invention is applied to the wirings 33 and 49 formed on the element substrate 12. However, when the wiring is formed on the color filter substrate side, the present invention can be applied to the wiring.

また、上記実施形態では、TFD素子を用いた液晶表示装置に本発明を適用したが、本発明は、TFD素子以外の2端子型スイッチング素子を用いたアクティブマトリクス方式の液晶表示装置にも適用できる。また、本発明は、TFT(Thin Film Transistor)等といった3端子型スイッチング素子を用いたアクティブマトリクス方式の液晶表示装置にも適用できる。また、本発明は、スイッチング素子を用いない単純マトリクス方式の液晶表示装置にも適用できる。   In the above embodiment, the present invention is applied to a liquid crystal display device using a TFD element. However, the present invention can also be applied to an active matrix liquid crystal display device using a two-terminal switching element other than the TFD element. . The present invention can also be applied to an active matrix liquid crystal display device using a three-terminal switching element such as a TFT (Thin Film Transistor). The present invention can also be applied to a simple matrix liquid crystal display device that does not use a switching element.

また、本発明は、液晶表示装置以外の電気光学装置、例えば、有機EL装置、無機EL装置、プラズマディスプレイ装置(PDP:Plasma Display)、電気泳動ディスプレイ(EPD:Electrophoretic Display)、フィールドエミッションディスプレイ装置(FED:Field Emission Display:電界放出表示装置)にも適用できる。   The present invention also provides an electro-optical device other than a liquid crystal display device, for example, an organic EL device, an inorganic EL device, a plasma display device (PDP), an electrophoretic display (EPD), a field emission display device ( It can also be applied to FED (Field Emission Display).

(電気光学装置の製造方法の実施形態)
以下、本発明に係る電気光学装置の製造方法の実施形態を図1に示した液晶表示装置1を製造する場合を例に挙げて説明する。図11は、液晶表示装置の製造方法の一例を工程図として示している。図11において、工程P1から工程P5が図1の素子基板12を形成するための工程である。また、工程P11から工程P18が図1のカラーフィルタ基板11を形成するための工程である。また、工程P21から工程P28がそれらの基板を組み合わせて液晶表示装置を完成させるための工程である。
(Embodiment of manufacturing method of electro-optical device)
Hereinafter, an embodiment of a method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention will be described by taking as an example the case of manufacturing the liquid crystal display device 1 shown in FIG. FIG. 11 shows an example of a manufacturing method of the liquid crystal display device as a process diagram. In FIG. 11, steps P1 to P5 are steps for forming the element substrate 12 of FIG. Steps P11 to P18 are steps for forming the color filter substrate 11 of FIG. Steps P21 to P28 are steps for combining the substrates to complete the liquid crystal display device.

なお、本実施形態の製造方法では、図1に示す素子基板12およびカラーフィルタ基板11を1つずつ形成するのではなく、素子基板12に関しては、複数の素子基板12を形成できる大きさの面積を有する素子側マザー基材を用いて複数の素子基板12を同時に形成する。また、カラーフィルタ基板11に関しては、複数のカラーフィルタ基板11を形成できる大きさの面積を有するカラーフィルタ側マザー基材を用いて複数のカラーフィルタ基板11を同時に形成する。素子側マザー基材およびカラーフィルタ側マザー基材は、例えば、透光性ガラス、透光性プラスチック等によって形成される。   In the manufacturing method of the present embodiment, the element substrate 12 and the color filter substrate 11 shown in FIG. 1 are not formed one by one, but the element substrate 12 has an area large enough to form a plurality of element substrates 12. A plurality of element substrates 12 are formed at the same time using an element-side mother base material having Regarding the color filter substrate 11, the plurality of color filter substrates 11 are simultaneously formed using a color filter-side mother base material having an area large enough to form the plurality of color filter substrates 11. The element side mother base and the color filter side mother base are formed of, for example, translucent glass, translucent plastic, or the like.

まず、図11の工程P1において、素子側マザー基材の表面に図3のTFD素子31、図5の配線33および配線49、ならびに電極23bを同時に形成する。次に、工程P2において、図2のフォトスペーサ15をフォトリソグラフィ処理によって形成する。このフォトスペーサ15は図2の表示用ドット領域D以外の領域に形成することが望ましい。さらに工程P3において、配向膜24bを塗布や印刷等によって形成し、工程P4において、その配向膜26bに配向処理、例えばラビング処理を施す。次に、工程P5において、例えばエポキシ系の樹脂を材料として印刷等によって図1のシール材13を形成する。以上により、素子側マザー基材の上に複数の素子基板12が形成されて素子側マザー基板が形成される。   First, in step P1 of FIG. 11, the TFD element 31 of FIG. 3, the wiring 33 and wiring 49 of FIG. 5, and the electrode 23b are simultaneously formed on the surface of the element-side mother base material. Next, in the process P2, the photo spacer 15 of FIG. 2 is formed by photolithography. The photo spacer 15 is desirably formed in a region other than the display dot region D of FIG. Further, in step P3, the alignment film 24b is formed by coating, printing, or the like, and in step P4, the alignment film 26b is subjected to an alignment process, for example, a rubbing process. Next, in step P5, for example, the sealing material 13 of FIG. 1 is formed by printing or the like using an epoxy resin as a material. As described above, the plurality of element substrates 12 are formed on the element-side mother substrate to form the element-side mother substrate.

次に図11の工程P11において、カラーフィルタ側マザー基材の表面上に図2の樹脂層17の第1層17aを、例えば感光性レジスト材料を材料としてフォトリソグラフィ処理によって形成する。この処理の際に、ランダムに分散した多数の凹凸によって形成される凹凸パターンが第1層17aの表面に形成される。   Next, in step P11 of FIG. 11, the first layer 17a of the resin layer 17 of FIG. 2 is formed on the surface of the color filter-side mother substrate by, for example, a photolithography process using a photosensitive resist material as a material. During this treatment, an uneven pattern formed by a large number of randomly distributed unevenness is formed on the surface of the first layer 17a.

その後、図2において、第1層17aの上に同じ材料の第2層17bを薄く塗布して、樹脂層17を形成する。第2層17bを積層するのは、凹部または凸部の表面を滑らかにするためである。次に、図11の工程P12において、図2の反射膜18を、例えばAlやAl合金等を材料としてフォトリソグラフィ処理およびエッチング処理によって形成する。このとき、表示用ドット領域Dごとに開口46を形成することにより、光反射部Rと透光部Tを形成する。樹脂層17の表面には凹凸パターンが形成されているので、その上に積層された反射膜18に光が当たって反射する場合には、その反射光は散乱光となる。   Thereafter, in FIG. 2, the second layer 17 b of the same material is thinly applied on the first layer 17 a to form the resin layer 17. The reason why the second layer 17b is laminated is to smooth the surface of the concave portion or the convex portion. Next, in step P12 of FIG. 11, the reflective film 18 of FIG. 2 is formed by photolithography and etching using, for example, Al or an Al alloy as a material. At this time, the light reflecting portion R and the light transmitting portion T are formed by forming the opening 46 for each display dot region D. Since the concave / convex pattern is formed on the surface of the resin layer 17, when the light hits the reflective film 18 laminated thereon and is reflected, the reflected light becomes scattered light.

次に、工程P13において、図2の遮光部材21を、例えばCrを材料としてフォトリソグラフィ処理およびエッチング処理によって所定のパターン(例えば、複数の表示用ドット領域Dの周りを埋めるような格子状パターン)に形成する。次に、工程P14において、図2の着色要素19を形成する。着色要素19については、R,G,Bの各色ごとに順々に形成する。例えば、各色の顔料や染料を感光性樹脂に分散させて成る着色材料をフォトリソグラフィ処理によって所定の配列に形成する。次に、工程P15において、図2のオーバーコート層22を、例えばアクリル樹脂、ポリイミド樹脂等といった感光性樹脂を材料としてフォトリソグラフィ処理によって形成する。   Next, in step P13, the light shielding member 21 in FIG. 2 is formed into a predetermined pattern (for example, a lattice pattern that fills around the plurality of display dot regions D) by photolithography and etching using, for example, Cr as a material. To form. Next, in the process P14, the coloring element 19 of FIG. 2 is formed. The coloring elements 19 are formed in order for each of R, G, and B colors. For example, a coloring material formed by dispersing pigments and dyes of respective colors in a photosensitive resin is formed in a predetermined arrangement by photolithography. Next, in process P15, the overcoat layer 22 of FIG. 2 is formed by photolithography using a photosensitive resin such as an acrylic resin or a polyimide resin as a material.

次に、図11の工程P16において、図2の線状電極23aをITOを材料としてフォトリソグラフィ処理およびエッチング処理によって形成し、さらに工程P17において図2の配向膜24aを形成し、さらに工程P18において、配向処理としてのラビング処理を行う。以上により、カラーフィルタ側マザー基材の上に複数のカラーフィルタ基板11が形成されてカラーフィルタ側マザー基板が形成される。   Next, in step P16 in FIG. 11, the linear electrode 23a in FIG. 2 is formed by photolithography and etching using ITO as a material, and in step P17, the alignment film 24a in FIG. 2 is formed, and in step P18. A rubbing process is performed as an alignment process. As described above, the plurality of color filter substrates 11 are formed on the color filter side mother base material to form the color filter side mother substrate.

その後、図11の工程P21において、素子側マザー基板とカラーフィルタ側マザー基板とを貼り合わせる。これにより、素子側マザー基板とカラーフィルタ側マザー基板とが個々の液晶表示装置の領域において図1のシール材13を挟んで貼り合わされた構造の大面積のパネル構造体が形成される。   Thereafter, in step P21 of FIG. 11, the element side mother substrate and the color filter side mother substrate are bonded together. As a result, a large-area panel structure having a structure in which the element-side mother substrate and the color filter-side mother substrate are bonded to each other with the sealant 13 in FIG.

次に、以上のようにして形成された大面積のパネル構造体に含まれるシール材13を、工程P22において硬化させて両マザー基板を接着する。次に、工程P23において、パネル構造体を1次切断、すなわち1次ブレイクして、図1の液晶パネル2の複数が1列に並んだ状態で含まれる中面積のパネル構造体、いわゆる短冊状のパネル構造体を複数形成する。シール材13には予め適所に開口が形成されており、上記の1次ブレイクによって短冊状のパネル構造体が形成されると、そのシール材13の開口が外部に露出する。   Next, the sealing material 13 included in the large-area panel structure formed as described above is cured in step P22 to bond both mother substrates. Next, in step P23, the panel structure is subjected to primary cutting, that is, primary break, and a medium-area panel structure including a plurality of liquid crystal panels 2 in FIG. A plurality of panel structures are formed. An opening is formed in advance in the sealing material 13 in advance, and when the strip-shaped panel structure is formed by the primary break, the opening of the sealing material 13 is exposed to the outside.

次に、図11の工程P24において、上記のシール材13の開口を通して各液晶パネル部分の内部へ液晶を注入し、その注入の完了後、その開口を樹脂によって封止する。次に工程P25において、2回目の切断、すなわち2次ブレイクを行い、短冊状のパネル構造体から図1に示す個々の液晶パネル2を切り出す。   Next, in step P24 of FIG. 11, liquid crystal is injected into each liquid crystal panel portion through the opening of the sealing material 13, and after the injection is completed, the opening is sealed with resin. Next, in step P25, a second cutting, that is, a secondary break is performed, and the individual liquid crystal panels 2 shown in FIG. 1 are cut out from the strip-shaped panel structure.

次に、図11の工程P26において、図1の駆動用IC3を実装する。次に、工程P27において、図1の液晶パネル2に偏光板27aおよび27bを貼着によって装着する。さらに工程P28において、図1の照明装置4を取り付ける。これにより、液晶表示装置1が完成する。   Next, in step P26 of FIG. 11, the driving IC 3 of FIG. 1 is mounted. Next, in process P27, the polarizing plates 27a and 27b are attached to the liquid crystal panel 2 of FIG. 1 by sticking. Furthermore, in process P28, the illuminating device 4 of FIG. 1 is attached. Thereby, the liquid crystal display device 1 is completed.

図12は、図11におけるTFD素子、電極および配線の形成工程P1の一実施形態を示している。この工程は、図3に示すTFD素子31と、図5に示す配線33および配線49、ならびに電極23bを製造するための工程である。つまり、本実施形態においては、TFD素子31と配線33および配線49は同じ形成工程にて行うこととする。   FIG. 12 shows an embodiment of the process P1 of forming the TFD element, electrode and wiring in FIG. This step is a step for manufacturing the TFD element 31 shown in FIG. 3, the wiring 33 and the wiring 49, and the electrode 23b shown in FIG. That is, in the present embodiment, the TFD element 31, the wiring 33, and the wiring 49 are performed in the same formation process.

このTFD素子、配線および電極の形成工程P1は、大きく分けて、下地層形成工程Q1、第1金属等の形成工程Q2、絶縁膜等の形成工程Q3、いわゆる素子部分離工程Q4、第2金属等の形成工程Q5、そして電極等の形成工程Q6、の各工程を有している。   The TFD element, wiring and electrode forming process P1 is roughly divided into a base layer forming process Q1, a first metal forming process Q2, an insulating film forming process Q3, a so-called element part separating process Q4, and a second metal. And the like, and the formation step Q6 of the electrode and the like.

下地層形成工程Q1は、図3のTFD素子31と基材16bとの間に下地層を形成するための工程であるが、図3では下地層の図示は省略されている。また、第1金属等の形成工程Q2では、図3のTFD素子31の第1金属36を形成すると共に、ライン配線33および配線49の第1層42(すなわち、耐蝕性材料の層)を形成する。また、絶縁膜等の形成工程Q3では、TFD素子31の絶縁膜37を形成すると共に、ライン配線33および配線49の第2層43(すなわち、絶縁材料の層)を形成する。   The underlayer forming step Q1 is a step for forming an underlayer between the TFD element 31 and the base material 16b in FIG. 3, but the underlayer is not shown in FIG. Further, in the first metal forming step Q2, the first metal 36 of the TFD element 31 of FIG. 3 is formed, and the first layer 42 of the line wiring 33 and the wiring 49 (that is, a layer of corrosion resistant material) is formed. To do. In the formation process Q3 of the insulating film or the like, the insulating film 37 of the TFD element 31 is formed, and the second layer 43 (that is, the layer of insulating material) of the line wiring 33 and the wiring 49 is formed.

また、素子部分離工程Q4では、TFD素子31の第1金属36および絶縁膜37の積層構造をTFD素子31の1個分の大きさの島状に分離する。そして同時に、ライン配線33の内側配線33cの側面の一部または全部および配線49の内側配線49cの側面の一部または全部をエッチングによって適宜の深さで除去する。さらに、同時に、ライン配線33および配線49の内部領域にコンタクトホール52を形成する。   Further, in the element part separation step Q4, the laminated structure of the first metal 36 and the insulating film 37 of the TFD element 31 is separated into an island shape having the size of one TFD element 31. At the same time, part or all of the side surface of the inner wiring 33c of the line wiring 33 and part or all of the side surface of the inner wiring 49c of the wiring 49 are removed to an appropriate depth by etching. At the same time, contact holes 52 are formed in the internal regions of the line wiring 33 and the wiring 49.

また、第2金属等の形成工程Q5では、TFD素子31の第2金属38を形成すると共に、ライン配線33および配線49の第3層41(すなわち、低抵抗材料の層)を形成する。そして、電極等の形成工程Q6では、ドット電極23bを形成すると共に、ライン配線33の端子部のITO膜、配線49の端子部のITO膜、および配線49の導通パッド部のITO膜を形成する。   In the second metal forming step Q5, the second metal 38 of the TFD element 31 is formed, and the third layer 41 (that is, a layer of low resistance material) of the line wiring 33 and the wiring 49 is formed. In the electrode forming step Q6, the dot electrode 23b is formed, and the ITO film of the terminal portion of the line wiring 33, the ITO film of the terminal portion of the wiring 49, and the ITO film of the conductive pad portion of the wiring 49 are formed. .

以下、TFD素子、配線および電極の形成工程をより具体的に説明する。まず、工程P31において、Ta(五酸化タンタル)をスパッタ処理によって成膜して下地層を形成する。次に、工程P32において、TaWをスパッタ処理によって一様な厚さで成膜する。次に、工程P33において、フォトエッチング処理、すなわち、フォトリソグラフィ処理及びエッチング処理を行う。これにより、非パッド状の第1金属36を形成する。このとき、図5の配線33および49の第1層42(図9参照)を同時に形成する。なお、レジスト剥離はHSO溶液を用いて行う。 Hereinafter, the process of forming the TFD element, the wiring, and the electrode will be described more specifically. First, in step P31, Ta 2 O 5 (tantalum pentoxide) is formed by sputtering to form an underlayer. Next, in Step P32, TaW is deposited with a uniform thickness by sputtering. Next, in process P33, a photoetching process, that is, a photolithography process and an etching process are performed. Thereby, the non-pad-like first metal 36 is formed. At this time, the first layer 42 (see FIG. 9) of the wirings 33 and 49 of FIG. 5 is formed at the same time. Note that the resist stripping is performed using an H 2 SO 4 solution.

非パッド状の第1金属36とは、島状でない連続した状態の第1金属36ということである。図3に示す第1金属36は個々のドット電極23bに対して1つずつ島状に独立している。このように島状に独立する状態を本明細書ではパッド状という。図12の第1金属等の形成工程Q2では、パッド状の第1金属36をいきなり形成するのではなく、複数の島状の第1金属36が互いに連続する状態の第1金属36や、ライン配線33の第1層42に繋がる状態の第1金属36が形成される。このとき、互いに連続して線状に延びる第1金属36や、第1層42に繋がる第1金属36が非パッド状の第1金属36ということである。   The non-pad-shaped first metal 36 is a continuous first metal 36 that is not island-shaped. The first metal 36 shown in FIG. 3 is independent in an island shape, one for each dot electrode 23b. In this specification, such an island-independent state is referred to as a pad shape. In the first metal forming step Q2 of FIG. 12, the pad-shaped first metal 36 is not formed suddenly, but the first metal 36 in a state where a plurality of island-shaped first metals 36 are continuous with each other, or the line A first metal 36 that is connected to the first layer 42 of the wiring 33 is formed. At this time, the first metal 36 extending linearly continuously and the first metal 36 connected to the first layer 42 are the non-pad-shaped first metal 36.

次に、工程P34において、陽極酸化処理を行って、図3の絶縁膜37を形成する。このとき同時に、配線33および49の第2層43(図9参照)を形成する。次に、工程P35において、ドライエッチング処理により不要な部分の絶縁膜37及び第1金属36をエッチングによって除去し、さらにHSO溶液でレジスト膜を剥離して、パッド状の第1金属36及び絶縁膜37を形成する。このとき同時に、図8および図7に示す内側配線49cの側面をドライエッチング処理により除去する。また同時に、図8の導通用パッド48および図7のIC接続用端子47に、コンタクトホール52を形成する。なお、内側配線33c、49cの側面およびコンタクトホール52の内周面は、図10(a)、(b)に示すようなテーパ形状とする。これにより、第3層41との接触面51を大きくすることができ、配線抵抗を確実に低くすることができる。 Next, in step P34, an anodizing process is performed to form the insulating film 37 in FIG. At the same time, the second layer 43 (see FIG. 9) of the wirings 33 and 49 is formed. Next, in step P35, unnecessary portions of the insulating film 37 and the first metal 36 are removed by etching by dry etching, and the resist film is peeled off with an H 2 SO 4 solution, whereby the pad-shaped first metal 36 is removed. Then, an insulating film 37 is formed. At the same time, the side surface of the inner wiring 49c shown in FIGS. 8 and 7 is removed by dry etching. At the same time, contact holes 52 are formed in the conduction pads 48 in FIG. 8 and the IC connection terminals 47 in FIG. The side surfaces of the inner wirings 33c and 49c and the inner peripheral surface of the contact hole 52 are tapered as shown in FIGS. 10 (a) and 10 (b). Thereby, the contact surface 51 with the 3rd layer 41 can be enlarged, and wiring resistance can be made low reliably.

次に、図12の工程P36において、Crをスパッタ処理によって一様な厚さで成膜する。次に、工程P37において、Cr膜をフォトエッチング処理によってパターニングして、図3に示す第2金属38を形成する。また、このとき同時に、配線33および49の第3層41をフォトエッチング処理によって形成する。なお、工程P36において、第3層41は配線33、49の全体に成膜される。すなわち、シール材13の外側に位置する外側配線33d、49dにも成膜される。しかし、工程P37のフォトエッチング処理において、第3層41をパターニングする際に、シール材13の外側の第3層41は除去する。これにより、外側配線33d、49dは第1層42と第2層43から成る2層構造の耐蝕性の配線となる。その結果、仮に外側配線33d、49dの上に異物が載った場合であっても、基板上に設けられた複数の配線の間で短絡を起こすことがなく安全である。   Next, in step P36 of FIG. 12, a Cr film is formed with a uniform thickness by sputtering. Next, in step P37, the Cr film is patterned by photoetching to form the second metal 38 shown in FIG. At the same time, the third layer 41 of the wirings 33 and 49 is formed by photoetching. In step P36, the third layer 41 is formed over the entire wirings 33 and 49. That is, a film is also formed on the outer wirings 33 d and 49 d located outside the sealing material 13. However, when the third layer 41 is patterned in the photoetching process of Step P37, the third layer 41 outside the sealing material 13 is removed. As a result, the outer wirings 33 d and 49 d become a corrosion-resistant wiring having a two-layer structure including the first layer 42 and the second layer 43. As a result, even if a foreign object is placed on the outer wirings 33d and 49d, it is safe without causing a short circuit between the plurality of wirings provided on the substrate.

次に、工程P38において、ドット電極23bの材料であるITOをスパッタ処理によって一様な厚さで成膜する。次に、工程P39において、ITOに対してフォトエッチング処理を行うことにより、電極23bを所定のドット形状に形成する。このとき、導通用パッド48およびIC接続用端子47の上にもITO膜を同時に成形する。   Next, in process P38, ITO, which is the material of the dot electrode 23b, is formed with a uniform thickness by sputtering. Next, in step P39, the electrode 23b is formed in a predetermined dot shape by performing a photoetching process on the ITO. At this time, an ITO film is also simultaneously formed on the conduction pad 48 and the IC connection terminal 47.

以上のように、本実施形態に係る液晶表示装置の製造方法においては、配線33および49の第2層43をエッチングによって除去して第1層42を露出させた上で、その上に第3層41を形成した。これにより、エッチング部において第1層42と第3層41とを直接に接触させることができるようになった。その結果、配線抵抗を低くすることができ、表示領域Vに表示される表示にむらが生じることを防止できるようになった。また、エッチング部をテーパ形状としたことで、第1層42と第3層41の接触面51を大きくすることができ、これにより、配線抵抗をより低くすることができる。   As described above, in the method for manufacturing the liquid crystal display device according to the present embodiment, the second layer 43 of the wirings 33 and 49 is removed by etching to expose the first layer 42, and then the third layer is formed thereon. Layer 41 was formed. As a result, the first layer 42 and the third layer 41 can be brought into direct contact with each other in the etched portion. As a result, it is possible to reduce the wiring resistance and prevent the display displayed in the display area V from being uneven. Further, since the etched portion has a tapered shape, the contact surface 51 between the first layer 42 and the third layer 41 can be increased, and thereby the wiring resistance can be further reduced.

また、本実施形態においては、図12における工程P32から工程P39に至る一連の処理において、TFD素子31を形成するのと同時に、ライン配線33および配線39を形成した。これにより、耐蝕性と低抵抗性を兼ね備えた配線を新たに工程を増やすことなく製造できる。   In the present embodiment, in the series of processes from step P32 to step P39 in FIG. 12, the line wiring 33 and the wiring 39 are formed simultaneously with the formation of the TFD element 31. As a result, it is possible to manufacture a wiring having both corrosion resistance and low resistance without increasing the number of processes.

(変形例)
上記の実施形態では、図10(a)に示す配線側面のエッチング部は、図5に示す配線の折れ曲り部49bと、本線部分49aのシール材13付近との2箇所にそれぞれ設けた。しかしながら、この側面エッチング部は、上記以外の数箇所に設けることができる。また、側面エッチング部を配線の全部にわたって設けることもできる。
(Modification)
In the above embodiment, the wiring side etched portions shown in FIG. 10A are provided at two locations, the bent portion 49b of the wiring shown in FIG. 5 and the vicinity of the sealing material 13 of the main line portion 49a. However, this side-surface etched portion can be provided in several places other than the above. Further, the side-surface etched portion can be provided over the entire wiring.

また、上記の実施形態では、配線33および49の第1層42にTaWを用いた。これに代え、第1層42は、耐蝕性がある他の材料、例えば、Taまたは他のTa合金等を用いることもできる。   In the above embodiment, TaW is used for the first layer 42 of the wirings 33 and 49. Alternatively, the first layer 42 may be made of another material having corrosion resistance, such as Ta or another Ta alloy.

また、上記の実施形態では、内側配線33c、49cの第3層41にCrを用いた。これに代え、第3層41は、低抵抗の他の材料、例えば、Mo、Al、またはTi等を用いることもできる。   In the above embodiment, Cr is used for the third layer 41 of the inner wirings 33c and 49c. Alternatively, the third layer 41 may be made of another low resistance material such as Mo, Al, or Ti.

(電子機器の実施形態)
次に、本発明に係る電子機器の実施形態を図面を用いて説明する。図13は、電子機器の一実施形態のブロック図を示している。ここに示す電子機器は、液晶表示装置1と、これを制御する制御回路80とを有する。液晶表示装置1は、液晶パネル81と、半導体IC等で構成される駆動回路82とを有する。また、制御回路80は、表示情報出力源83と、表示情報処理回路84と、電源回路86と、タイミングジェネレータ87とを有する。
(Embodiment of electronic device)
Next, an embodiment of an electronic device according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 13 shows a block diagram of an embodiment of an electronic device. The electronic apparatus shown here includes the liquid crystal display device 1 and a control circuit 80 that controls the liquid crystal display device 1. The liquid crystal display device 1 includes a liquid crystal panel 81 and a drive circuit 82 composed of a semiconductor IC or the like. The control circuit 80 includes a display information output source 83, a display information processing circuit 84, a power supply circuit 86, and a timing generator 87.

表示情報出力源83は、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等から成るメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスク等から成るストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを有する。この表示情報出力源83は、タイミングジェネレータ87によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号等の形で表示情報を表示情報処理回路84に供給する。   The display information output source 83 includes a memory such as a ROM (Read Only Memory) or a RAM (Random Access Memory), a storage unit such as a magnetic recording disk or an optical recording disk, and a tuning circuit that tunes and outputs a digital image signal. Have The display information output source 83 supplies display information to the display information processing circuit 84 in the form of an image signal of a predetermined format based on various clock signals generated by the timing generator 87.

表示情報処理回路84は、シリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路等といった周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号CLKと共に駆動回路82へ供給する。駆動回路82は、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路86は、上記の各構成要素にそれぞれ所定の電圧を供給する。   The display information processing circuit 84 includes various known circuits such as a serial-parallel conversion circuit, an amplification / inversion circuit, a rotation circuit, a gamma correction circuit, and a clamp circuit, and executes processing of input display information to obtain image information thereof. Are supplied to the drive circuit 82 together with the clock signal CLK. The drive circuit 82 includes a scanning line drive circuit, a data line drive circuit, and an inspection circuit. The power supply circuit 86 supplies a predetermined voltage to each of the above components.

図14は、本発明を電子機器の一例である携帯電話機に適用した場合の一実施形態を示している。ここに示す携帯電話機70は、本体部71と、これに開閉可能に設けられた表示体部72とを有する。液晶表示装置等といった電気光学装置によって構成された表示装置73は、表示体部72の内部に配置され、電話通信に関する各種表示は、表示体部72にて表示画面74によって視認できる。本体部71には操作ボタン76が配列されている。   FIG. 14 shows an embodiment when the present invention is applied to a mobile phone which is an example of an electronic apparatus. A cellular phone 70 shown here has a main body 71 and a display body 72 provided on the main body 71 so as to be opened and closed. A display device 73 configured by an electro-optical device such as a liquid crystal display device is disposed inside the display body portion 72, and various displays related to telephone communication can be visually recognized on the display body portion 72 on the display screen 74. Operation buttons 76 are arranged on the main body 71.

表示体部72の一端部からアンテナ77が伸縮自在に取付けられている。表示体部72の上部に設けられた受話部78の内部には、図示しないスピーカが配置される。また、本体部71の下端部に設けられた送話部79の内部には図示しないマイクが内蔵されている。表示装置73の動作を制御するための制御部は、携帯電話機の全体の制御を司る制御部の一部として、又はその制御部とは別に、本体部71又は表示体部72の内部に格納される。   An antenna 77 is attached from one end portion of the display body portion 72 so as to be extendable. A speaker (not shown) is disposed inside the receiver 78 provided at the upper part of the display body 72. In addition, a microphone (not shown) is built in the transmitter 79 provided at the lower end of the main body 71. A control unit for controlling the operation of the display device 73 is stored in the main body 71 or the display body 72 as a part of the control unit that controls the entire mobile phone or separately from the control unit. The

図15は、電子機器の他の一例である携帯情報機器に本発明を適用した場合の実施形態を示している。ここに示す携帯情報機器90は、タッチパネルを備えた情報機器であり、電気光学装置としての液晶表示装置91を搭載している。この情報機器90は、液晶表示装置91の表示面によって構成される表示領域Vと、その表示領域Vの下方に位置する第1入力領域W1とを有する。第1入力領域W1には入力用シート92が配置されている。   FIG. 15 shows an embodiment in which the present invention is applied to a portable information device which is another example of an electronic device. A portable information device 90 shown here is an information device provided with a touch panel, and is equipped with a liquid crystal display device 91 as an electro-optical device. The information device 90 has a display area V constituted by the display surface of the liquid crystal display device 91 and a first input area W1 positioned below the display area V. An input sheet 92 is disposed in the first input area W1.

液晶表示装置91は、長方形状又は正方形状の液晶パネルと、同じく長方形状又は正方形状のタッチパネルとが平面的に重なり合う構造を有する。タッチパネルは入力用パネルとして機能する。タッチパネルは、液晶パネルよりも大きく、この液晶パネルの一端部から突き出した形状となっている。   The liquid crystal display device 91 has a structure in which a rectangular or square liquid crystal panel and a rectangular or square touch panel overlap in a planar manner. The touch panel functions as an input panel. The touch panel is larger than the liquid crystal panel, and has a shape protruding from one end of the liquid crystal panel.

表示領域V及び第1入力領域W1にはタッチパネルが配置されており、表示領域Vに対応する領域も、第1入力領域W1と同様に入力操作可能な第2入力領域W2として機能する。タッチパネルは、液晶パネル側に位置する第2面とこれと対向する第1面とを有しており、第1面の第1入力領域W1に相当する位置に入力用シート92が貼られている。   A touch panel is disposed in the display area V and the first input area W1, and the area corresponding to the display area V also functions as a second input area W2 in which an input operation can be performed in the same manner as the first input area W1. The touch panel has a second surface located on the liquid crystal panel side and a first surface facing the second surface, and an input sheet 92 is pasted at a position corresponding to the first input area W1 on the first surface. .

入力用シート92にはアイコン93及び手書き文字認識領域W3を識別するための枠が印刷されている。第1入力領域W1においては、入力用シート92を介してタッチパネルの第1面に指やペン等といった入力器具で荷重をかけることにより、アイコン93の選択や文字認識領域W3での文字入力等といったデータ入力を行うことができる。   The input sheet 92 is printed with a frame for identifying the icon 93 and the handwritten character recognition area W3. In the first input area W1, by applying a load to the first surface of the touch panel with an input device such as a finger or a pen through the input sheet 92, selection of the icon 93, character input in the character recognition area W3, etc. Data input can be performed.

一方、第2入力領域W2においては、液晶パネルの像を観察することができるほか、液晶パネルに例えば入力モード画面を表示させ、タッチパネルの第1面に指やペンで荷重をかけることにより、その入力モード画面内の適宜の位置を指定することができ、これにより、データ入力等を行うことができる。   On the other hand, in the second input area W2, an image of the liquid crystal panel can be observed. For example, an input mode screen is displayed on the liquid crystal panel, and a load is applied to the first surface of the touch panel with a finger or a pen. An appropriate position in the input mode screen can be designated, thereby enabling data input or the like.

(変形例)
本発明に係る電子機器としては、以上に説明した携帯電話機や携帯情報機器の他にも、パーソナルコンピュータ、液晶テレビ、デジタルスチルカメラ、腕時計、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、その他各種の機器が考えられる。
(Modification)
The electronic device according to the present invention includes a personal computer, a liquid crystal television, a digital still camera, a wristwatch, a viewfinder type or a monitor direct view type video tape recorder, car navigation, as well as the above-described cellular phone and portable information device. A device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a word processor, a workstation, a video phone, a POS terminal, and other various devices can be considered.

図1の液晶表示装置1において、図5の内側配線33c、49cの第3層41(図9(b)参照)として、
(1)Crを用いたもの、および
(2)ITOを用いたもの
の2種類を製造した。そして、これらの液晶表示装置について、第1層42と第3層41との電気的接続に関する特性を調べた。なお、第1層42にはTaを用いた。
In the liquid crystal display device 1 of FIG. 1, as the third layer 41 (see FIG. 9B) of the inner wirings 33c and 49c of FIG.
(1) using Cr, and
(2) Two types of those using ITO were manufactured. And about these liquid crystal display devices, the characteristic regarding the electrical connection of the 1st layer 42 and the 3rd layer 41 was investigated. Note that Ta was used for the first layer 42.

その結果、図16および図17の結果を得た。図16は第3層41としてCrを用いた上記(1)の条件の場合の結果であり、(a)は配線への印加電圧と電流との関係を表し、(b)は配線への印加電圧と配線全体の抵抗値との関係を表している。なお、図16(b)のグラフは図16(a)の測定値に基づいて作成されたものである。また、図17は第3層41としてITOを用いた上記(2)の条件の場合の結果であり、(a)は配線への印加電圧と電流との関係を表し、(b)は配線への印加電圧と配線全体の抵抗値との関係を表している。なお、図17(b)のグラフは図17(a)の測定値に基づいて作成されたものである。   As a result, the results of FIGS. 16 and 17 were obtained. FIG. 16 shows the result of the above condition (1) using Cr as the third layer 41, where (a) shows the relationship between the voltage applied to the wiring and the current, and (b) shows the application to the wiring. The relationship between the voltage and the resistance value of the entire wiring is shown. In addition, the graph of FIG.16 (b) was created based on the measured value of Fig.16 (a). FIG. 17 shows the result of the above condition (2) using ITO as the third layer 41. FIG. 17A shows the relationship between the voltage applied to the wiring and the current, and FIG. Represents the relationship between the applied voltage and the resistance value of the entire wiring. In addition, the graph of FIG.17 (b) was created based on the measured value of Fig.17 (a).

以上の実験結果から次のことがわかった。
(1)CrとTaの間では、電圧値に関係なく電流値および抵抗値は一定であり、安定した電気的接続が得られる。
(2)ITOとTaの間では、電流値および電圧値共に不安定な特性を示した。例えば、図17(b)に示すように、1回目の実験では電圧を上げていくと抵抗値は減少していき、途中から一定の値を示した。2回目および3回目では電圧値に関係なく略一定の抵抗値を示した。
(3)ITO膜はスパッタリングにより成膜するため、表面に酸化膜ができる。そのために電気的接続が不安定になる。
(4)上記の(1)から(3)の結果から判断して、本実施形態における液晶表示装置に用いる低抵抗材料には、ITOよりもCrを用いた方が望ましいと思われる。
The following results were found from the above experimental results.
(1) Between Cr and Ta, the current value and the resistance value are constant regardless of the voltage value, and a stable electrical connection can be obtained.
(2) Between ITO and Ta, both current value and voltage value showed unstable characteristics. For example, as shown in FIG. 17B, in the first experiment, as the voltage was increased, the resistance value decreased and showed a constant value from the middle. In the second and third times, a substantially constant resistance value was shown regardless of the voltage value.
(3) Since the ITO film is formed by sputtering, an oxide film is formed on the surface. As a result, the electrical connection becomes unstable.
(4) Judging from the results of (1) to (3) above, it is preferable that Cr is used for the low resistance material used in the liquid crystal display device in this embodiment rather than ITO.

本発明に係る電気光学装置は、携帯電話機、携帯情報端末機、その他の電子機器で各種の表示を行う際に、表示むらの無い表示を行うことができる表示用の機器として好適に用いられる。また、本発明に係る電気光学装置の製造方法は、耐蝕性と低抵抗性を兼ね備えた配線構造を有する電気光学装置を製作する際に好適に用いられる。また、本発明に係る電子機器は携帯電話機、携帯情報端末機等といった民生機器や、計測器その他の工業用機器等として用いられる。   The electro-optical device according to the present invention is suitably used as a display device capable of performing display without display unevenness when performing various displays on a mobile phone, a portable information terminal, and other electronic devices. In addition, the method for manufacturing an electro-optical device according to the present invention is preferably used when manufacturing an electro-optical device having a wiring structure having both corrosion resistance and low resistance. The electronic device according to the present invention is used as a consumer device such as a mobile phone or a portable information terminal, a measuring instrument or other industrial device.

本発明に係る電気光学装置の一実施形態である液晶表示装置を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a liquid crystal display device which is an embodiment of an electro-optical device according to the invention. 図1の要部を拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows the principal part of FIG. 図1の装置で用いられるスイッチング素子の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the switching element used with the apparatus of FIG. 図1の矢印Aに従った液晶表示装置の平面図である。It is a top view of the liquid crystal display device according to the arrow A of FIG. 図1の矢印Aに従って素子基板を示す平面図である。It is a top view which shows an element substrate according to the arrow A of FIG. 図1の矢印Aに従ってカラーフィルタ基板を示す平面図である。It is a top view which shows a color filter board | substrate according to the arrow A of FIG. 図5の矢印Bで示す部分を拡大して示す平面図である。It is a top view which expands and shows the part shown by the arrow B of FIG. 図5の矢印Cで示す部分を拡大して示す平面図である。It is a top view which expands and shows the part shown by the arrow C of FIG. (a)は図8のE−E線に従った断面図であり、(b)は図8のF−F線に従った断面図である。(A) is sectional drawing according to the EE line | wire of FIG. 8, (b) is sectional drawing according to the FF line | wire of FIG. (a)は図8のH−H線および図7のI−I線に従った断面図であり、(b)は図8のL−L線および図7のK−K線に従った断面図である。(A) is a cross-sectional view according to the HH line of FIG. 8 and the II line of FIG. 7, and (b) is a cross-section according to the LL line of FIG. 8 and the KK line of FIG. FIG. 本発明に係る電気光学装置の製造方法の一実施形態を示す工程図である。FIG. 6 is a process diagram illustrating an embodiment of a method for manufacturing an electro-optical device according to the invention. 図11の主要工程の内容の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the content of the main processes of FIG. 本発明に係る電子機器の一実施形態を示すブロック図である。It is a block diagram which shows one Embodiment of the electronic device which concerns on this invention. 本発明に係る電子機器の他の実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows other embodiment of the electronic device which concerns on this invention. 本発明に係る電子機器のさらに他の実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows other embodiment of the electronic device which concerns on this invention. 本発明に係る電気光学装置に用いる配線に関する実験結果を示すグラフであり、(a)は印加電圧と電流との特性を示し、(b)は印加電圧と配線抵抗との特性を示している。6 is a graph showing experimental results regarding wiring used in the electro-optical device according to the present invention, where (a) shows the characteristics of the applied voltage and current, and (b) shows the characteristics of the applied voltage and wiring resistance. 本発明に係る電気光学装置に用いる配線に関する他の実験結果を示すグラフであり、(a)は印加電圧と電流との特性を示し、(b)は印加電圧と配線抵抗との特性を示している。6 is a graph showing another experimental result regarding wiring used in the electro-optical device according to the present invention, where (a) shows characteristics of applied voltage and current, and (b) shows characteristics of applied voltage and wiring resistance. Yes.

符号の説明Explanation of symbols

1.液晶表示装置(電気光学装置)、 2.液晶パネル、 3a,3b.駆動用IC、 4.照明装置、 6.光源、 7.導光体、 11.カラーフィルタ基板、
12.素子基板、 13.シール材、14.液晶、 15.フォトスペーサ、
16a、16b.基材 17a、17b.樹脂層、 18.反射層 19.着色要素、
21.遮光部材 22.オーバーコート層、 23a.線状電極、
23b.ドット電極、 24a,24b.配向膜、 26a,26b.位相差板、
27a,27b.偏光板、 29.張り出し部 31.TFD素子、
33.ライン配線、 33c.ライン配線の内側配線、
33d.ライン配線の外側配線、 36.第1金属、 37.絶縁膜、
38.第2金属、 49、配線、 49c.内側配線、 49d.外側配線、
41.第3層、 42.第1層、 43.第2層、 44.外部接続用端子、
45.ITO膜、 47.IC接続用端子、 48.導通用パッド、
49a、本線部分、 49b.折れ曲り部、 51.接触面、52.コンタクトホール、
53.異方性導電膜、 54.導通材、 70.携帯電話機(電子機器)、
73.液晶表示装置、 90.携帯情報機器(電子機器)、 91.液晶表示装置、
D.表示ドット領域、L0.外部光、 L1.透過光、 R.反射部、 T.透過部、
V.表示領域

1. 1. liquid crystal display device (electro-optical device), Liquid crystal panels, 3a, 3b. Driving IC, 4. 5. lighting device; 6. light source; 10. light guide; Color filter substrate,
12 Element substrate, 13. Sealing material, 14. Liquid crystal, 15. Photo spacer,
16a, 16b. Base material 17a, 17b. Resin layer, 18. Reflective layer 19. Coloring elements,
21. Light shielding member 22. Overcoat layer, 23a. Linear electrodes,
23b. Dot electrodes, 24a, 24b. Alignment films, 26a, 26b. Retardation plate,
27a, 27b. Polarizing plate, 29. Overhang part 31. TFD element,
33. Line wiring, 33c. Inside wiring of line wiring,
33d. 36. outside wiring of line wiring; First metal, 37. Insulation film,
38. Second metal, 49, wiring, 49c. Inner wiring, 49d. Outer wiring,
41. Third layer, 42. First layer, 43. Second layer, 44. External connection terminal,
45. ITO film 47. IC connection terminal, 48. Pad for conduction,
49a, main line part, 49b. 51. a bent part; Contact surface, 52. Contact hole,
53. Anisotropic conductive film, 54. Conductive material, 70. Mobile phones (electronic devices),
73. Liquid crystal display device, 90. Portable information device (electronic device), 91. Liquid crystal display,
D. Display dot area, L0. External light, L1. Transmitted light; Reflector, T. Transmission part,
V. Indicated Area

Claims (13)

シール材の内側に設けられた電気光学物質と、前記シール材の内側に設けられた内側配線と、前記シール材の外側に設けられた外側配線とを有する電気光学装置において、
前記内側配線は、耐蝕性材料の上に絶縁材料を形成しその上に低抵抗材料を形成して成る積層構造を有し、
前記外側配線は耐蝕性材料を有し、
前記内側配線の側面の一部または全部には、前記絶縁材料が無いことにより、前記耐蝕性材料と前記低抵抗材料とが直接に接触する部分がある
ことを特徴とする電気光学装置。
In an electro-optical device having an electro-optical material provided inside a sealing material, an inner wiring provided inside the sealing material, and an outer wiring provided outside the sealing material,
The inner wiring has a laminated structure formed by forming an insulating material on a corrosion-resistant material and forming a low-resistance material thereon.
The outer wiring has a corrosion resistant material,
The electro-optical device according to claim 1, wherein a part or all of the side surfaces of the inner wiring have a portion in which the corrosion-resistant material and the low-resistance material are in direct contact due to the absence of the insulating material.
請求項1記載の電気光学装置において、前記耐蝕性材料と前記低抵抗材料とが直接に接触する部分はテーパ面であることを特徴とする電気光学装置。   2. The electro-optical device according to claim 1, wherein a portion where the corrosion-resistant material and the low-resistance material are in direct contact is a tapered surface. 請求項1又は請求項2記載の電気光学装置において、前記耐蝕性材料はTa(タンタル)またはTa(タンタル)合金であることを特徴とする電気光学装置。   3. The electro-optical device according to claim 1, wherein the corrosion-resistant material is Ta (tantalum) or Ta (tantalum) alloy. 請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の電気光学装置において、前記低抵抗材料はCr(クロム)、Mo(モリブデン)、Al(アルミニウム)、Ti(チタン)またはそれらの1つを主成分とする合金、のうちから選択される1つであることを特徴とする電気光学装置。   4. The electro-optical device according to claim 1, wherein the low-resistance material is Cr (chromium), Mo (molybdenum), Al (aluminum), Ti (titanium), or one of them. An electro-optical device, wherein the electro-optical device is one selected from alloys having a main component. 請求項1から請求項4のいずれか1つに記載の電気光学装置において、前記内側配線と前記外側配線は前記シール材を横切って延びる連続した配線を形成することを特徴とする電気光学装置。   5. The electro-optical device according to claim 1, wherein the inner wiring and the outer wiring form a continuous wiring extending across the sealing material. 6. 請求項1から請求項5のいずれか1つに記載の電気光学装置において、前記電気光学物質に電圧を印加するための電極をさらに有し、前記内側配線は該電極につながることを特徴とする電気光学装置。   6. The electro-optical device according to claim 1, further comprising an electrode for applying a voltage to the electro-optical material, wherein the inner wiring is connected to the electrode. Electro-optic device. 請求項1から請求項6のいずれか1つに記載の電気光学装置において、前記内側配線を形成する前記耐蝕性材料および前記絶縁材料から成る層はコンタクトホールを有し、前記低抵抗材料は該コンタクトホールの内側に入って前記耐蝕性材料と直接に接触することを特徴とする電気光学装置。   7. The electro-optical device according to claim 1, wherein the layer made of the corrosion resistant material and the insulating material forming the inner wiring has a contact hole, and the low resistance material is An electro-optical device that enters an inside of a contact hole and makes direct contact with the corrosion-resistant material. 請求項7記載の電気光学装置において、前記内側配線は前記シール材内部の導通粒子に接触する導通パッド部を有し、前記コンタクトホールは該導通パッド部に設けられることを特徴とする電気光学装置。   8. The electro-optical device according to claim 7, wherein the inner wiring has a conductive pad portion that contacts conductive particles inside the sealing material, and the contact hole is provided in the conductive pad portion. . シール材によって貼り合わされた一対の基板と、
前記シール材と前記一対の基板とによって囲まれる領域に封入された液晶と、
前記一対の基板のそれぞれの表面上であって前記シール材の内側に設けられた電極と、
該電極から延びると共に前記シール材の外側へ延びる配線とを有する電気光学装置において、
前記配線のうち前記シール材の内側に位置する内側配線は、耐蝕性材料の上に絶縁材料を形成しその上に低抵抗材料を形成して成る積層構造を有し、
前記配線のうち前記シール材の外側に位置する外側配線は耐蝕性材料を有し、
前記内側配線の側面の一部または全部には、前記絶縁材料が無いことにより、前記耐蝕性材料と前記低抵抗材料とが直接に接触する部分がある
ことを特徴とする電気光学装置。
A pair of substrates bonded together by a sealing material;
Liquid crystal sealed in a region surrounded by the sealing material and the pair of substrates;
Electrodes provided on the respective surfaces of the pair of substrates and inside the sealing material;
In an electro-optical device having a wiring extending from the electrode and extending to the outside of the sealing material,
The inner wiring located inside the sealing material among the wiring has a laminated structure in which an insulating material is formed on a corrosion-resistant material and a low-resistance material is formed thereon.
Outer wiring located outside the sealing material among the wiring has a corrosion-resistant material,
The electro-optical device according to claim 1, wherein a part or all of the side surfaces of the inner wiring have a portion in which the corrosion-resistant material and the low-resistance material are in direct contact due to the absence of the insulating material.
基板上にシール材を形成する工程と、
前記シール材の内側に電気光学物質を設ける工程と、
前記シール材の内側および外側の両側に配線を形成する工程とを有する電気光学装置の製造方法において、
前記配線を形成する工程は、
前記シール材の内側において、耐蝕性材料から成る第1層を形成する工程と、
該第1層の上に絶縁材料から成る第2層を形成する工程と、
前記第1層と前記第2層とが積層して成る配線の側面の一部または全部をエッチングによって除去するエッチング工程と、
前記第2層の上に低抵抗材料によって第3層を形成する工程とを有する
ことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Forming a sealing material on the substrate;
Providing an electro-optic material inside the sealing material;
In the method of manufacturing an electro-optical device, including a step of forming wiring on both the inside and the outside of the sealing material,
The step of forming the wiring includes
Forming a first layer of a corrosion-resistant material inside the sealing material;
Forming a second layer of an insulating material on the first layer;
An etching step of removing a part or all of the side surface of the wiring formed by laminating the first layer and the second layer by etching;
And a step of forming a third layer on the second layer with a low-resistance material.
請求項10記載の電気光学装置の製造方法において、前記エッチング工程では、前記第1層の側面がテーパ面に形成されることを特徴とする電気光学装置の製造方法。   11. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 10, wherein a side surface of the first layer is formed into a tapered surface in the etching step. 請求項10または請求項11記載の電気光学装置の製造方法において、前記第3層を形成する工程では、前記シール材の内側および外側において第3層を形成し、その後、前記シール材の外側において前記第3層を除去することを特徴とする電気光学装置の製造方法。   12. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 10, wherein in the step of forming the third layer, a third layer is formed inside and outside the sealing material, and thereafter, outside the sealing material. A method of manufacturing an electro-optical device, wherein the third layer is removed. 請求項1から請求項9のいずれか1つに記載の電気光学装置を有することを特徴とする電子機器。

An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1.

JP2004114283A 2004-04-08 2004-04-08 Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus Expired - Fee Related JP4432589B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004114283A JP4432589B2 (en) 2004-04-08 2004-04-08 Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004114283A JP4432589B2 (en) 2004-04-08 2004-04-08 Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005300750A JP2005300750A (en) 2005-10-27
JP4432589B2 true JP4432589B2 (en) 2010-03-17

Family

ID=35332379

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004114283A Expired - Fee Related JP4432589B2 (en) 2004-04-08 2004-04-08 Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4432589B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI369556B (en) 2007-03-27 2012-08-01 Sony Corp Electro-optic device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005300750A (en) 2005-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3912325B2 (en) Electro-optical device, electronic apparatus, and method of manufacturing electro-optical device
JP4142058B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP3744511B2 (en) Electro-optical device, electronic apparatus, and method of manufacturing electro-optical device
KR100590984B1 (en) Liquid crystal display device and electronic apparatus
JP2003262856A (en) Color filter substrate, electro-optical device and electronic apparatus, and method of manufacturing color filter substrate and method of manufacturing electro-optical device
JP2009031362A (en) Wiring board, its manufacturing method, and display device
KR100530393B1 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP2004317726A (en) Electro-optical device and electronic apparatus using the same
JP2007250616A (en) Flexible circuit board, manufacturing method thereof, electro-optical apparatus, and electronic device
JP2003084292A (en) Liquid crystal devices and electronic equipment
JP4432589B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2005309303A (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP4305051B2 (en) Electro-optical device, electronic apparatus, and method of manufacturing electro-optical device
JP2004333642A (en) Electric wiring structure, method of manufacturing electric wiring structure, substrate for optical device having electric wiring structure, electro-optical device, and method of manufacturing electro-optical device
JP2005301128A (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2004226712A (en) Mother substrate for electro-optical device, substrate for electro-optical device, electro-optical device and manufacturing method thereof, and electronic apparatus
JP2006267782A (en) Electrooptical apparatus and electronic equipment
JP4284977B2 (en) Liquid crystal device, method for manufacturing liquid crystal device, and electronic apparatus
JP2005215355A (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP3649222B2 (en) Liquid crystal device and electronic device
JP2006184671A (en) Liquid crystal device, method for manufacturing the same, and electronic device
JP2005309149A (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2007114337A (en) Electrooptical apparatus and electronic apparatus
JP2005266683A (en) Mounting structure, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2009076526A (en) Mounting structure, inspection method for mounting structure, and electro-optical device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060425

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090527

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091201

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091214

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140108

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees