[go: up one dir, main page]

JP4427282B2 - X-ray detector system for computed tomography apparatus - Google Patents

X-ray detector system for computed tomography apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP4427282B2
JP4427282B2 JP2003199378A JP2003199378A JP4427282B2 JP 4427282 B2 JP4427282 B2 JP 4427282B2 JP 2003199378 A JP2003199378 A JP 2003199378A JP 2003199378 A JP2003199378 A JP 2003199378A JP 4427282 B2 JP4427282 B2 JP 4427282B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
ray
ray detector
das
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003199378A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005034313A (en
Inventor
直樹 杉原
道人 中山
達郎 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2003199378A priority Critical patent/JP4427282B2/en
Publication of JP2005034313A publication Critical patent/JP2005034313A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4427282B2 publication Critical patent/JP4427282B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線コンピュータ断層撮影装置及びX線コンピュータ断層撮影装置に搭載する検出器及びDAS(データ収集装置)に係り、とくに、その検出器及びDASのノイズや動作電圧などに関する安定した動作状態の確保に関する。
【0002】
【従来の技術】
コンピュータ断層撮影装置として、X線コンピュータ断層撮影装置(以下、X線CT装置と呼ぶ)がある。このX線CT装置は、比較的旧くから医療診断用或いは各種の研究用に用いられており、歴史的にも大きな変遷を重ねている。
【0003】
初期の頃には、シングルスライスX線CT装置が用いられていた。このシングルスライスX線CT装置の場合、被検体のある一つのスライスの画像を得るものであるため、短時間に広い範囲の画像を撮影することは難しく、医師等から単位時間に、より高精細(高解像度)且つ広範囲に画像を撮影したいという強い要望が出されていた。
【0004】
この要望に応えるために、近年、マルチスライスX線CT装置が開発され、かなり普及している。このマルチスライスX線CT装置は、シングルスライスX線CT装置で用いられている検出器の列(1列)を、その列に直交する方向に複数列(例えば4列、8列など)を並べて、全体でMチャンネル×Nセグメント(M,Nは正の整数)の検出素子を有する構造の2次元検出器を用いる。この2次元検出器の出力側には、DAS(データ収集装置)が置かれる。
【0005】
マルチスライスX線CT装置は、スライス方向に広がり幅を有するファンビームX線を曝射するX線源と、上述した2次元検出器とを有しており、円錐状のX線ビーム(有効視野直径FOV)に基づいて被検体を透過したX線を2次元検出器で検出することにより、当該被検体のマルチ・スライスの投影データを一度に収集できる。このため、マルチスライスX線CT装置は、シングルスライスX線CT装置に比べて、高精細且つ広範囲な画像を収集することができる。
【0006】
上述した2次元検出器は、シンチレータ、フォトダイオードアレイ、及びCMOSスイッチアレイを備える。シンチレータに入射したX線は、光信号に変換される。この光信号は、フォトダイオードアレイに入射して、2次元配列のセグメント毎にアナログ量の電気信号に変換される。この電気信号はセグメント毎にCMOSスイッチアレイの各素子を介して、後段のDASに送られる。CMOSスイッチアレイは、スライス方向における検出素子列の指定数に応じて、フォトダイオードアレイから出力された電気信号を束ねる(信号合成)機能を有する。
【0007】
DASは、アナログ/デジタル変換素子(DAS回路部品)をアレイ状に配列させた装置であり、上述のように2次元検出器により検出されたアナログ量の検出信号を入力して、この信号を、増幅するとともに、デジタル信号に変換する。このデジタル信号はその後、画像再構成処理に送られる。
【0008】
このような2次元検出器及びDASを主要素とする検出器システムについては、それらの主要素の大半を3次元的に実装した構造が例えば特許文献1により知られている。つまり、両面を有する基板の、一方の面にフォトダイオードアレイ及びCMOSスイッチを実装するとともに、他方の面にDAS部品を実施している。なお、シンチレータブロックは、フォトダイオードアレイ上に当該アレイと光学的に接続された状態で実装させる。
【0009】
この実装は、実際には、全チャンネルを複数のブロックに分けた複数のブロック毎に行われている。X線CT装置の場合、DASは通常、500〜数万ch程度の回路規模を有しているので、これを数十〜数百ch毎に上述した基板を用意に、この基板の両面に担当チャンネル分のフォトダイオードアレイ及びCMOSスイッチ並びにDAS部品を上述した3次元実装方式で実装して検出器ブロックを形成させる。この複数の検出器ブロックは、円弧状曲面に沿って配置し、検出器システムを構成している。
【0010】
この検出器システムにおいて、各検出器ブロックが必要とする電力は1つの電源からケーブル(電力線)を介して得ている。
【0011】
また、DASは微小電流を扱うことから、微小電流がアース回路を介して混入してくるノイズに影響されることを極力防止するため、通常、DASの電気回路のアース側を架台(CT本体)から浮かしたり、架台に接続したとしても1本アースのみにするなどして、架台との間に強固なアース接続をとらないようにしている。また、このDASの全体は1つのオシレータに同期して動作するようになっている。
【0012】
【特許文献1】
特開2001−215281号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の検出器システムにあっては以下のように様々な未解決の問題がある。
【0014】
すなわち、DASのアースに起因する未解決の問題がある。前述したように、DASの電気回路のアース側は架台から殆ど浮いているため、従来のように、1つのオシレータに同期してDAS全体を動作させた場合、DAS自体のアースレベルが変動し、この変動に因ってDASのアース回路から放射ノイズが出て、画質を低下させるという問題があった。
【0015】
また、かかるアースのとり方については、このアース状態に起因したDAS内の電圧レベルの変動が、アナログ信号による動作に影響を与えるという2次的な問題もあった。
【0017】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、複数の検出器ブロックそれぞれにおけるDAS部品のクロック同期動作に伴うアース及び電源電圧の変動を確実に抑制して動作の安定化を図ることを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】
記目的を達成するため、本発明に係るコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システムは、被検体を透過したX線を検出して当該X線に対応したアナログ量の電気信号をチャンネル毎に出力する検出器と、この検出器が出力するチャンネル毎のアナログ量の電気信号をデジタル量の電気信号に変換して出力するデータ収集装置(DAS)とを備え、少なくとも前記データ収集装置を、それぞれが所定チャンネル数ずつの回路から成る複数(偶数)の回路ブロックに分けて形成した構造を有し、とくに、前記複数の回路ブロックを2つにグループ化して、両グループ間で互いに逆位相となるクロック信号に同期して前記回路ブロックそれぞれを動作させる逆位相動作手段を備えたことを特徴とする。
【0020】
一例として、前記逆位相動作手段は、基準となるクロック信号を発生するオシレータと、このオシレータが発生したクロック信号をそのまま前記2つのグループのうちの一方に属する回路ブロックに供給するとともに前記オシレータが発生したクロック信号の極性を反転させて当該クロック信号を前記2つのグループのうちの他方に属する回路ブロックに供給する手段とを備える。
【0021】
また、上記目的を達成するには、別の態様として、前記複数の回路ブロックに必要な基準クロック信号を発生するオシレータを当該回路ブロック数と同数の複数個分だけ備え、この複数のオシレータそれぞれが出力した基準クロック信号を独立に且つ非同期で前記複数の回路ブロックのそれぞれに供給するようにしてもよい。
【0022】
また、別の例として、前記複数の回路ブロック間で一定時間毎に互いに異なる遅延量を有する基準クロック信号を当該回路ブロックの別に生成する手段を備え、この生成した基準クロック信号のそれぞれを各回路ブロックに供給するようにしてもよい。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。
【0026】
(第1の実施形態)
第1の実施形態を図1〜9に基づいて説明する。
【0027】
図1には、この実施形態に係る、放射線CT装置としての、X線CT装置の一形態であるマルチスライスCT装置の構成を示している。このマルチスライスCT装置は、マルチスライスのヘリカルスキャンを行うことができるのみならず、コンベンショナルスキャン(シングルスライススキャン及びマルチスライススキャン)を実行できるようになっている。
【0028】
このマルチスライスCT装置10は、図1に示すように、被検体(例えば患者)Pを載置させる図示しない寝台と、被検体Pを挿入して診断を行うための診断用開口部OPを有し、被検体Pの投影データの収集を行う架台Gと、架台Gの全体の動作を制御するとともに、投影データを収集して画像再構成処理や画像表示等を行うデータ処理ユニットUとを備えている。
【0029】
寝台は、図示しない寝台駆動部の駆動により、その長手方向にスライド可能な天板を有する。通常、被検体Pは、その体軸方向が長手方向に一致するように載置される。
【0030】
架台Gは、その診断用開口部OPに挿入された被検体Pを挟んで対向配置された放射線源としてのX線管11と、後で詳述する、放射線検出器としてのX線検出器12及びデータ収集装置(DAS13)を含むX線検出器システム14とを備えるほか、非接触のデータ伝送装置15、架台駆動部16、及びスリップリング17を備えている。
【0031】
X線管11及びX線検出器システム14(X線検出器12及びDAS13を含む)は、架台G内で回転可能な回転リング21に設けられており、架台駆動部16からの駆動制御により回転リング21が回転する。これにより、X線管11及びX線検出器システム14は、架台Gの診断用開口OP内に挿入された被検体Pの体軸方向に平行な回転中心軸の周りに両者が一体で回転可能になっている。回転リング21は、1回転あたり1秒以下という高速速度で回転駆動される。
【0032】
X線管11は、有効視野領域FOV内に載置された被検体Pに対してコーンビーム(四角錐)状又はファンビーム状のX線を発生する。X線管11には、X線の曝射に必要な電力(管電圧、管電流)が高電圧発生装置18からスリップリング17を介して供給される。これにより、X線管11は、回転中心軸に並行なスライス方向及びこのスライス方向に直交するチャンネル方向の2方向に広がる、いわゆるコーンビームX線又はファンビームX線を発生させることができる。通常の診断では、被検体Pが寝台の長手方向に沿って天板に載るので、スライス方向は被検体Pの体軸方向に一致する。
【0033】
なお、架台G内おいて、X線管101と被検体Pとの間には、X線管101のX線焦点から曝射されたコーン状又はファン状のX線ビームを整形し、所要の大きさのX線ビームを形成するためのコリメータ19が設けられている。
【0034】
また、データ処理ユニットUは、ホストコントローラ20を中心として、データ補正等の前処理を行う前処理装置21、記憶装置22、補助記憶装置23、データ処理装置24、再構成装置25、入力装置26、及び表示装置27がデータ/制御バス28を介して相互に接続されている。さらに、このバス28は外部の画像処理装置30に接続されている。この画像処理装置30は、補助記憶装置31、データ処理装置32、再構成装置33、入力装置34、及び表示装置35を備えている。
【0035】
前処理装置21は、非接触データ伝送装置15を介して伝送されてきた投影データに感度補正やX線強度補正等を施す。前処理装置21で感度補正やX線強度補正等を受けた360゜分、例えば1000セット(1000ビュー)の2次元投影データは記憶装置22に一旦記憶される。
【0036】
再構成装置25は、記憶装置22に記憶された投影データにファンビーム再構成方式又はコーンビーム再構成方式の再構成処理を施してスライスの断層像データを生成(再構成)する。
【0037】
次に、図2〜6を参照して、本実施形態に係るX線検出器システム14を詳述する。
【0038】
このX線検出器システム14は、被検体Pを透過したX線を検出するデバイスであり、全体としては、X線検出素子を互いに直交する2方向(スライス方向及びチャンネル方向を成す)それぞれにアレイ状に複数個配列した構造を有し、これにより2次元的にX線を検出するシステムを成している。
【0039】
具体的には、X線検出器システム14は、図2に示すように、複数(例えば38個)の検出器ブロック14〜14を備える。この検出器ブロック14〜14には、外部の電源装置38からケーブル39を介して電源がそれぞれ供給されている。
【0040】
各検出器ブロック14n(符号14nで代表させる)は、X線検出用に持たせた全検出チャンネルを複数のブロックに分けた内の、各ブロック分の検出チャンネルを有している。X線CT装置の場合、DAS13は通常、500〜数万ch程度の回路規模を有しているので、これを数十〜数百ch毎にブロック化している。この複数の検出ブロック14〜14は、チャンネル方向において、X線管11の焦点を中心とした1つの円弧に沿ってX線入射面を成すように配列されている。
【0041】
図3及び図4には、複数の検出器ブロック14〜14のうち、任意に選択した1つの検出器ブロック14nの具体的な実装構造を示す。
【0042】
各検出器ブロック14nは単一のリジッドな両面実装型のプリント基板141を有し、このプリント基板141の一方の面に、CMOSスイッチアレイ(スイッチ素子アレイ)142、フォトダイオードアレイ143、及びシンチレータブロック144をこの順に積層状態で実装してある。このうち、CMOSスイッチアレイ142及びフォトダイオードアレイ143は電気的に相互に接続されており、また、フォトダイオードアレイ143はシンチレータブロック144に光学的に結合されている。
【0043】
この全検出器ブロック14〜14のCMOCスイッチアレイ142、フォトダイオードアレイ143及びシンチレータブロック144が集まって、前述したX線検出器12を構成している。
【0044】
一方、プリント基板141の他方の面には、各検出器ブロック14nの、DAS13を成すDAS回路部品13a,…,13aが実装されている。このDAS回路部品13a,…,13aは上述のCOSスイッチアレイ142に電気的に接続されている。これにより、プリント基板141を介してX線検出器12及びDASが3次元的に実装されている。
【0045】
図5には、各検出器ブロック14nをX線入射側から見たときの模式的な展開図を示している。この検出器ブロック14nは、シンチレータブロック144及びフォトダイオードアレイ143により形成される複数の検出素子1031,1032を有する。複数の検出素子1031、1032は、チャンネル方向とスライス方向との2方向に関してマトリクス状に配列される。
【0046】
検出素子1031、1032のうち、一方の検出素子1031はスライス方向に関する幅が1.0mmで、チャンネル方向に関する幅が0.5mmの有感域を有している。もう一方の検出素子1032は、スライス方向に関する幅が0.5mmで、チャンネル方向に関する幅が0.5mmの有感域を有している。
【0047】
フォトダイオードの有感域の幅は、X線管11の回転中心軸上での換算値として定義される。つまり、「1mmの有感域幅を有するフォトダイオード」とは、「X線管の回転中心軸上で1mmに相当する有感域幅を有するフォトダイオード」を意味している。このため、X線が放射状に拡散することを考慮すると、フォトダイオードの実際の有感域の幅は、X線焦点と回転中心軸との距離に対するX線焦点とフォトダイオードの有感域との実際の距離の比率に従って、1mmより若干広くなる。
【0048】
0.5mm幅の検出素子1032は、スライス方向に例えば16個並べられる。また、1mm幅の検出素子1031は、スライス方向において、0.5mm幅の検出素子1032の群の両側それぞれに、その検出素子1032の配列個数よりも少ない複数個、例えば12個ずつ並べられる。
【0049】
本実施形態では、スライス方向に並べられた検出素子1032の個数(例えば16個)は、その両側それぞれに配置された検出素子1031の個数(例えば12個)よりも多く、そのトータル個数(例えば24個)よりも少なくなるように設計されている。つまり、本実施形態に係るX線検出器12は、全部の検出ブロック14〜14が集って、一例として、チャンネル方向(行方向)に912個、スライス方向(列方向)に40個の検出素子が並ぶ2次元配列の素子構造を提供できる。
【0050】
なお、このX線検出器12は、0.5mm幅の検出素子と1.0mm幅の検出素子とにより不均等ピッチの2次元検出器を形成しているが、均等サイズの検出素子を行・列方向に配列された2次元検出器でも良く、また検出素子サイズも0.5mm、1.0mmではなく、1.25mm幅の検出素子など本例に限定されることはない。
【0051】
このようなX検出素子1031,1032により検出された膨大なアナログ量の2次元X線投影は、CMOSスイッチアレイ142を介して、チップ化されているDAS13に一旦集められる。具体的には、このX線投影データは、CMOSスイッチ142を介して、例えばX線検出素子列(912行×40列の検出素子1031、1032)よりも少ない8列分(912行×8列)のデータ収集素子又は4列分(912行×4列)のデータ収集素子を有するDAS13に送られる。
【0052】
このX線投影データのDAS13へのデータ転送を行うために、CMOSスイッチ142はホストコントローラ20から制御信号を受けて、X線投影データをスライス方向の列毎に加算して(すなわち、データを列毎に束ねて)所要列数の2次元投影データを生成する。
【0053】
DAS13は、X線検出器12と同様に、データ収集素子としてのA/D変換素子から成るDAS回路部品13aを2次元アレイ状に配置させたチップ構造を有する。このため、DAS13の各データ収集素子は、送られてきたX線投影データに増幅処理及びA/D変換処理を施してデジタル量の投影データを生成する。上述の如く、信号の束ね処理(スライス方向の列間の信号加算処理)を享受できるため、このDAS13のデータ収集素子のスライス方向における素子列数は、通常、X線検出器12のそれよりも少なくしている。
【0054】
DAS13から出力されるデジタル量の2次元投影データは、一括して光通信を応用した非接触データ伝送装置15を介してデータ処理ユニットUに伝送される。なお、ここでは、データ伝送装置15として、光通信を応用した非接触方式の装置を例示しているが、スリップリング等の接触タイプのデータ伝送装置を用いてもよい。
【0055】
X線検出器12による検出動作は、その1回転(約1秒)の間に、例えば1000回程度繰り返される。これにより、M×Nチャンネル分の膨大な2次元投影データが1秒(1回転)あたり例えば1000回発生する。そのため、この膨大でしかも高速に発生する2次元投影データを時間遅れなく伝送するために、DAS13及び非接触データ伝送装置15の動作は超高速で実行される。
【0056】
データ処理装置Uに送られたデジタル量の投影データは、前処理装置21で各種の前処理を受けた後、補助記憶装置23に保存されるとともに、再構成装置25による画像再構成処理を受ける。これにより、X線スキャンに伴う再構成画像を得ることができる。
【0057】
図6は、前述したように構成されるX線検出器システム14の電気的な概略ブロック図を示す。電源が、検出器部ブロック毎に、フォトダイオードアレイ143及びCMOSスイッチアレイ142のチップ回路、並びに、DAS13のDAS回路部品13aに供給される。
【0058】
このX線検出器システム12は上述したようにブロック化されているため、これに応じてDAS13の内部回路もブロックされる。図7は、このDAS13のブロック化を模式的に表しており、検出器ブロック14〜14の各ブロックに応じて、ブロック化された複数のDAS回路13〜13(それぞれがDAS回路部品13a…13aから成る)が形成される。これにより、DAS13は全体で例えば1000チャンネル(チャンネル方向のデータ収集素子数)のデータ収集が可能であって、10個のブロックに分けられたとすると、DAS回路13〜13それぞれは100チャンネルのデータ収集が割り当てられる。
【0059】
本実施形態にあっては、この複数のDAS回路13〜13に対して、図8に示すように、1つのオシレータ51が発生した基準クロック信号を2通りの経路で供給するようになっている。詳しくは、このオシレータ51が発生した矩形状の基準クロック信号を、一方の経路Aはそのまま出力し、もう一方の経路Bは反転器52を介して出力する。このため、図9に示すように、一方の経路Aの基準クロック信号ともう一方の経路Bのそれとは逆位相に生成される。
【0060】
なお、このオシレータ51及び反転器52は、X線検出器システム14の図示しない筐体内に配置してもよいし、X線検出器システム14の本体とは別個に設けた電源装置38(図2参照)に設けてもよい。
【0061】
複数のDAS回路13〜13は更にグループ化されており、その配置順における奇数番目のDAS回路13、13、…は、上述した一方の経路Aから供給される基準クロック信号を共通に受け、この基準クロック信号に同期してA/D変換動作を行う。これに対し、偶数番目のDAS回路13、13、…は、上述した一方の経路Bから供給される基準クロック信号を共通に受け、この基準クロック信号に同期してA/D変換動作を行う。
【0062】
このように、本実施形態に係るX線CT装置においては、スキャン時に被検体を透過したX線をX線検出器システム14で検出し、この結果得られた投影データからX線CT像が再構成される。このX線検出の動作に際し、とくに、X線検出器システム14におけるDAS13が複数のDAS回路13〜13にブロック化され、この複数のDAS回路13〜13が互いに逆位相の基準クロック信号に基づいて動作する。したがって、アースや電源の変動に因って発生する放射ノイズを回路間で殆ど確実に相殺して、全体として、かかるノイズの発生を抑制して、高画質のX線CT像を提供することができる。
【0063】
なお、この第1の実施形態に係る、DAS13への基準クロック信号の与え方は以下のように種々の態様に変形して実施できる。
【0064】
図10及び図11に第1の変形形態を示す。この形態によれば、第10図に示すように、ブロック化したDAS13のDAS回路13〜13の数分、オシレータ51〜51を準備し、オシレータ51〜51の出力である基準クロック信号をDAS回路13〜13に各別に供給するようになっている。このため、図11に示すように、DAS回路13〜13それぞれを独立した基準クロック信号に同期し且つ回路相互においては非同期で動作させることができる。したがって、DAS回路13〜13それぞれにおけるアース及び電源電圧の変動に因る放射ノイズの影響の大部分を分散又は相殺させることができ、前述した第1の実施形態と同様に、画質へのノイズの影響を軽減できる。
【0065】
第12図に第2の変形形態を示す。この変形形態の場合、同図に示すように、1個のオシレータ51を設け、このオシレータ51が出力した基準クロック信号を順次、一定遅延時間の遅延回路53〜53n−1それぞれにより一定時間ずつ遅延させるようにしている。DAS13のDAS回路13〜13も、この遅延回路53〜53n−1の数に対応してグループ化されており、各グループのDAS回路にはオシレータ51及び遅延回路53〜53n−1それぞれが出力した基準クロック信号を与えるようになっている。これにより、オシレータ51の数を1個に止めることができるほか、一定時間ずつ遅延された基準クロック信号の使用によって、上述と同様に、アース及び電源電圧の変動に因る放射ノイズの影響の大部分を分散又は相殺させることができ、前述した第1の実施形態と同様に、画質へのノイズの影響を軽減できる。
【0066】
(第2の実施形態)
次に、図13〜図15を参照して、本発明に係る第2の実施形態を説明する。
【0067】
この実施形態に係るX線CT装置は、X線検出器システム14の各検出器ブロック14nにおける電圧調整に関する。なお、X線CT装置の全体的な構成は、前述した第1の実施形態のものと同様になっているので、同一の構成要素には同一符号を用いて説明を省略又は簡略化する。
【0068】
この実施形態に係る各検出器ブロック14nには、図13に示すように、プリント基板141のDAS側の面の一部に、電源コネクタ61と電圧レギュレータ62とが実装されている。これにより、図14に示すように、電源63の出力端からケーブル64を介して各検出器ブロック14nの電源コネクタ61に繋がり、この電源コネクタ61を介して、電圧レギュレータ62に至るように構成されている。
【0069】
電圧レギュレータ62は、その入力電圧を所定電圧値に調整する機能を有するもので、この出力端が各検出器ブロック14nのDAS回路13〜13に並列に接続されている。このとき、電源63の出力電圧Vは、図14に示すように、ケーブル64が最も長い、すなわち電圧降下が最も検出器ブロック14nであっても、電圧レギュレータ62の入力電圧がDAS回路部品13aにより必要とされる規定電圧V(例えば5(V))よりも高くなるように設定されている。
【0070】
このため、検出器ブロック14nそれぞれにおいて、電圧レギュレータ62は規定電圧Vよりも高い入力電圧(例えば6(V))を受け取り、その入力電圧を規定電圧V(例えば6(V))の値まで調整(降圧)する。
【0071】
このようにして、本実施形態に係るX線検出器システム14にあっては、各検出器ブロック14nへのケーブル64による電圧降下量がブロック間で異なるものの(例えば0.1〜0.5(V)程度)、この変動分を吸収する形で、全ての検出器ブロックにおいて電源電圧を確実に規定値Vに合わせることができる。
【0072】
したがって、全ての検出器ブロックにおいて、DAS回路部品13aは同一値の電圧で動作できる。この結果、検出器ブロック間で電源電圧の差に起因したA/D変換特性の変動などの影響を確実に防止又は抑制でき、X線検出特性をより安定化させ、装置の信頼性の向上を図ることができる。
【0073】
(第3の実施形態)
次に、図16〜図17を参照して、本発明に係る第3の実施形態を説明する。
【0074】
この実施形態に係るX線CT装置は、X線検出器システム14の各検出器ブロック14nにおける電源供給ラインの構造に関する。なお、X線CT装置の全体的な構成は、前述した第1の実施形態のものと同様になっている。
【0075】
このX線検出器システム14にあっては、図16に示すように、各検出器ブロック14nに供給する電源(+側)に板状の導体としての金属バー71を用いている。具体的には、電源装置72からX線検出器システム14まではケーブル73で繋ぎ、X線検出器システム14の内部では金属バー71により電源供給を行う。この金属バー71は、図17に示すように、その枝部71aを介してネジ止めまたはコネクタ接続により、各検出器ブロック14nの所定位置に電気的に接続されている。
【0076】
このように金属バー71を電源供給ラインとして用いることで、電源供給側の電圧降下量の、各検出器ブロック14nの設置位置に依る変動(差)を抑制できることから、検出器ブロック相互間の電源電圧の差を極めて小さい値に抑えることができる。これにより、検出動作の安定化を図り、画質向上に貢献できる。その一方で、ケーブルを太くするなどの対策が不要になるから、X線検出器システム14内の実装スペースを節約でき、同システム14のコンパクト化にも貢献できる。
【0077】
なお、第1の実施形態で説明したノイズ混入対策に関連する態様として、検出器ブロック14nのDAS13における配線構造がある。図18に示すように、チャンネル方向において隣接し合う検出器ブロック14n同士は、ブロック間コネクタ81により相互に結合される。このため、X線検出器システム14のタイプによっては、各検出器ブロック14nに、A/D変換のIC(例えば16チャンネル)であるDAMチップのほかに、各ブロックを走行するデータ収集のための配線を実装する必要があることがある。
【0078】
そのような配線構造の場合、各検出器ブロック14nのDAS回路13nにおいて、図18に示すように、アナログ信号を扱うDAMチップ82とデジタル変換後のデータ収集用の配線パターン83を分けて配置することが望ましい。図18の例では、かかる配線パターン83を、各検出器ブロック14nにおけるスライス方向の中央部に配置する一方で、そのスライス方向における配線パターン83の両端側にDAMチップ82を配置している。これにより、アナログ信号を扱うDAMチップ82にデジタル信号を扱う配線パターン83からのノイズ混入を軽減できる。この結果、画像ノイズの指標であるSD(Standard Deviation)の悪化を防止できる。また、アナログ信号を扱うDAMチップ82をスライス方向における両側に置くことにより、DAMチップ82をX線を避けて配置可能になるとともに、DAMチップ82への配線を短くするともできる。
【0079】
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。
【0080】
例えば、上述した実施形態では、X線CT装置として、現在主流のX線管と放射線検出器とが一体として被検体の周囲を回転する回転/回転(ROTATE/ROTATE)タイプを一例として説明したが、リング状に多数の検出素子がアレイされ、X線管のみが被検体の周囲を回転する固定/回転(STATIONARY/ROTATE)タイプ等様々なタイプに適用しても良い。
【0081】
さらに、上述した実施形態では、入射X線を電荷に変換するメカニズムとして、シンチレータ等の蛍光体でX線を光に変換し更にその光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形について説明したが、X線による半導体内の電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形を採用しても良い。
【0082】
さらに、上述した実施形態では、一管球型のX線CT装置について説明したが、X線管とX線検出器との複数のペアを回転リングに搭載したいわゆる多管球型のX線CT装置に適用しても良い。
【0083】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システムによれば、このX線検出器システムに、複数の検出器ブロックにおけるアース電位の変動に因る放射ノイズの防止対策や検出器ブロック間の電源電圧の違いによる動作特性の不一致対策を施すようにしたため、X線検出動作の安定性及び均一性を向上させて、画質向上に図ることができるとともに、システムの構造上の小形化なども貢献できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るX線CT装置の概略構成を示すブロック図。
【図2】実施形態のX線CT装置に採用されるX線検出器システムの概略構成を説明する図。
【図3】X線検出器システムに相殺される複数の検出器ブロックのうちの1つを、そのX線入射側から示す概略斜視図。
【図4】複数の検出器ブロックのうちの1つを、その背面側から示す概略斜視図。
【図5】実施形態のX線CT装置に採用されるX線検出器システムのうちの1つの検出器ブロックにおけるX線検出素子の配列を模式的に説明する図。
【図6】X線検出器システムにおける検出器ブロック部分の電気的な機能を示すブロック図。
【図7】DASのブロック化を説明する概念図。
【図8】第1の実施形態に係るX線CT装置のX線検出器システムに用いられる基準クロック信号の供給の仕方を説明する図。
【図9】第1の実施形態における基準クロック信号の逆位相化を説明するタイミングチャート。
【図10】第1の実施形態に対する第1の変形形態に係る基準クロック信号の供給の仕方を説明する図。
【図11】第1の変形形態に係る基準クロック信号の位相の分散化を説明するタイミングチャート。
【図12】第1の実施形態に対する第2の変形形態に係る基準クロック信号の供給の仕方を説明する図。
【図13】本発明の第2の実施形態に係るX線CT装置のX線検出器システムに搭載される各検出器ブロックを示す概略斜視図。
【図14】第2の実施形態における各検出器ブロックに対する電源供給を説明するブロック図。
【図15】第2の実施形態における電源供給を説明する検出器ブロック毎の電圧調整を説明する図。
【図16】本発明の第3の実施形態に係るX線CT装置のX線検出器システムを示す概略斜視図。
【図17】第3の実施形態における金属バーを用いた電源供給を説明する図。
【図18】各検出器ブロックの配線形態に関わる変形形態を説明する図。
【符号の説明】
12 X線検出器
13 DAS(データ収集装置)
13〜13 DAS回路
13a DAS回路部品
14 X線検出器システム
14n(14〜14) 検出器ブロック
51、51〜51 オシレータ
53、53、… 遅延回路
52 反転器
61 電源コネクタ
62 電圧レギュレータ
63 電源
71 金属バー
141 プリント基板
142 CMOSスイッチ
143 フォトダイオードアレイ
144 シンチレータブロック
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an X-ray computed tomography apparatus and a detector and a DAS (data acquisition apparatus) mounted on the X-ray computed tomography apparatus, and in particular, a stable operation state relating to noise and operating voltage of the detector and DAS. Related to ensuring
[0002]
[Prior art]
An example of a computed tomography apparatus is an X-ray computed tomography apparatus (hereinafter referred to as an X-ray CT apparatus). This X-ray CT apparatus has been used for medical diagnosis or for various researches for a relatively long time, and has undergone a major change in history.
[0003]
In the early days, single-slice X-ray CT apparatuses were used. In the case of this single slice X-ray CT apparatus, an image of one slice of a subject is obtained, so it is difficult to capture a wide range of images in a short time, and a doctor or the like can obtain higher definition in unit time. There was a strong demand to capture images in a wide range (high resolution).
[0004]
In order to meet this demand, in recent years, multi-slice X-ray CT apparatuses have been developed and are quite popular. In this multi-slice X-ray CT apparatus, a detector row (one row) used in a single-slice X-ray CT device is arranged in a plurality of rows (for example, 4 rows, 8 rows, etc.) in a direction orthogonal to the row. A two-dimensional detector having a structure having detection elements of a total of M channels × N segments (M and N are positive integers) is used. A DAS (data acquisition device) is placed on the output side of the two-dimensional detector.
[0005]
The multi-slice X-ray CT apparatus includes an X-ray source that exposes a fan beam X-ray having a width spread in the slice direction, and the above-described two-dimensional detector, and has a conical X-ray beam (effective field of view). By detecting X-rays transmitted through the subject based on the diameter FOV) with a two-dimensional detector, multi-slice projection data of the subject can be collected at a time. Therefore, the multi-slice X-ray CT apparatus can collect a high-definition and wide-range image as compared with the single-slice X-ray CT apparatus.
[0006]
The two-dimensional detector described above includes a scintillator, a photodiode array, and a CMOS switch array. X-rays incident on the scintillator are converted into optical signals. This optical signal is incident on the photodiode array and converted into an electrical signal of an analog quantity for each segment of the two-dimensional array. This electrical signal is sent to the DAS at the subsequent stage via each element of the CMOS switch array for each segment. The CMOS switch array has a function of bundling electrical signals output from the photodiode array (signal synthesis) according to the designated number of detection element arrays in the slice direction.
[0007]
The DAS is an apparatus in which analog / digital conversion elements (DAS circuit components) are arranged in an array. As described above, a detection signal of an analog amount detected by a two-dimensional detector is input, and this signal is Amplify and convert to digital signal. This digital signal is then sent to the image reconstruction process.
[0008]
As for such a two-dimensional detector and a detector system having DAS as main elements, a structure in which most of the main elements are three-dimensionally mounted is known from Patent Document 1, for example. That is, a photodiode array and a CMOS switch are mounted on one surface of a substrate having both surfaces, and a DAS component is implemented on the other surface. The scintillator block is mounted on the photodiode array in a state optically connected to the array.
[0009]
This implementation is actually performed for each of a plurality of blocks obtained by dividing all channels into a plurality of blocks. In the case of an X-ray CT apparatus, the DAS usually has a circuit scale of about 500 to several tens of thousands of channels, so prepare the above-mentioned substrates every several tens to several hundreds of channels, and take charge of both sides of this substrate The detector block is formed by mounting the photodiode array, the CMOS switch, and the DAS component for the channels by the above-described three-dimensional mounting method. The plurality of detector blocks are arranged along an arcuate curved surface to constitute a detector system.
[0010]
In this detector system, the power required for each detector block is obtained from one power source via a cable (power line).
[0011]
Also, since DAS handles minute currents, the ground side of the DAS electrical circuit is usually mounted on the gantry (CT main unit) in order to prevent the minute currents from being affected by noise mixed through the ground circuit. Even if it is floating from the stand or connected to the pedestal, only one ground is used to prevent a strong ground connection with the pedestal. The entire DAS is operated in synchronism with one oscillator.
[0012]
[Patent Document 1]
JP 2001-215281 A
[0013]
[Problems to be solved by the invention]
However, the above-described conventional detector system has various unsolved problems as follows.
[0014]
Ie There are unresolved issues due to the grounding of the DAS. As described above, since the ground side of the DAS electric circuit is almost lifted from the gantry, when the entire DAS is operated in synchronization with one oscillator as in the prior art, the ground level of the DAS itself fluctuates. Due to this fluctuation, there is a problem in that radiation noise is emitted from the ground circuit of the DAS and the image quality is deteriorated.
[0015]
Further, regarding the grounding method, there is a secondary problem that the fluctuation of the voltage level in the DAS due to the grounding state affects the operation by the analog signal.
[0017]
The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and stabilizes the operation by reliably suppressing the fluctuation of the ground and the power supply voltage accompanying the clock synchronization operation of the DAS component in each of the plurality of detector blocks. Eyes Target.
[0019]
[Means for Solving the Problems]
Up Note In order to achieve the objective, the X-ray detector system of the computed tomography apparatus according to the present invention detects X-rays transmitted through the subject and outputs an analog amount of electrical signal corresponding to the X-rays for each channel. A detector, and a data acquisition device (DAS) that converts an analog electrical signal for each channel output from the detector into a digital electrical signal and outputs the electrical signal. A clock signal having a structure formed by dividing into a plurality (even number) of circuit blocks each having a number of channels, and in particular, the plurality of circuit blocks are grouped into two, and both groups have opposite phases. And anti-phase operation means for operating each of the circuit blocks in synchronization with each other.
[0020]
As an example, the anti-phase operation means supplies an oscillator that generates a reference clock signal and the clock signal generated by the oscillator to a circuit block belonging to one of the two groups as it is and the oscillator generates Means for inverting the polarity of the clock signal and supplying the clock signal to the circuit block belonging to the other of the two groups.
[0021]
Also, the above In order to achieve the object, as another aspect, the oscillators for generating the reference clock signals necessary for the plurality of circuit blocks are provided in the same number as the number of the circuit blocks, and the reference output from each of the plurality of oscillators is provided. A clock signal may be supplied to each of the plurality of circuit blocks independently and asynchronously.
[0022]
Further, as another example, it is provided with means for generating, separately for each circuit block, a reference clock signal having a different delay amount for each predetermined time between the plurality of circuit blocks, and each of the generated reference clock signals is provided for each circuit. You may make it supply to a block.
[0025]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0026]
(First embodiment)
A first embodiment will be described with reference to FIGS.
[0027]
FIG. 1 shows the configuration of a multi-slice CT apparatus as an embodiment of an X-ray CT apparatus as a radiation CT apparatus according to this embodiment. This multi-slice CT apparatus can perform not only a multi-slice helical scan but also a conventional scan (single-slice scan and multi-slice scan).
[0028]
As shown in FIG. 1, the multi-slice CT apparatus 10 has a bed (not shown) on which a subject (for example, a patient) P is placed and a diagnostic opening OP for inserting the subject P to make a diagnosis. A gantry G that collects projection data of the subject P, and a data processing unit U that controls the overall operation of the gantry G and collects projection data and performs image reconstruction processing, image display, and the like. ing.
[0029]
The bed has a top plate that is slidable in the longitudinal direction by driving a bed driving unit (not shown). Usually, the subject P is placed so that the body axis direction coincides with the longitudinal direction.
[0030]
The gantry G includes an X-ray tube 11 as a radiation source disposed opposite to the subject P inserted into the diagnostic opening OP, and an X-ray detector 12 as a radiation detector, which will be described in detail later. And an X-ray detector system 14 including a data acquisition device (DAS 13), a non-contact data transmission device 15, a gantry drive unit 16, and a slip ring 17.
[0031]
The X-ray tube 11 and the X-ray detector system 14 (including the X-ray detector 12 and the DAS 13) are provided on a rotating ring 21 that can rotate within the gantry G, and are rotated by drive control from the gantry driving unit 16. The ring 21 rotates. As a result, the X-ray tube 11 and the X-ray detector system 14 can rotate together around a rotation center axis parallel to the body axis direction of the subject P inserted into the diagnostic opening OP of the gantry G. It has become. The rotating ring 21 is driven to rotate at a high speed of 1 second or less per rotation.
[0032]
The X-ray tube 11 generates a cone beam (quadrangular pyramid) shape or a fan beam shape X-ray with respect to the subject P placed in the effective visual field region FOV. The X-ray tube 11 is supplied with electric power (tube voltage, tube current) necessary for X-ray exposure from the high voltage generator 18 through the slip ring 17. As a result, the X-ray tube 11 can generate so-called cone beam X-rays or fan beam X-rays that spread in two directions: a slice direction parallel to the rotation center axis and a channel direction orthogonal to the slice direction. In normal diagnosis, the subject P is placed on the top plate along the longitudinal direction of the bed, so that the slice direction coincides with the body axis direction of the subject P.
[0033]
In addition, in the stand G In In this regard, between the X-ray tube 101 and the subject P, a cone-shaped or fan-shaped X-ray beam exposed from the X-ray focal point of the X-ray tube 101 is shaped to obtain an X-ray having a required size. A collimator 19 for forming a beam is provided.
[0034]
The data processing unit U is a preprocessing device 21 that performs preprocessing such as data correction with the host controller 20 as the center, a storage device 22, an auxiliary storage device 23, a data processing device 24, a reconstruction device 25, and an input device 26. , And a display device 27 are connected to each other via a data / control bus 28. Further, the bus 28 is connected to an external image processing device 30. The image processing device 30 includes an auxiliary storage device 31, a data processing device 32, a reconstruction device 33, an input device 34, and a display device 35.
[0035]
The pre-processing device 21 performs sensitivity correction, X-ray intensity correction, and the like on the projection data transmitted via the non-contact data transmission device 15. For example, 1000 sets (1000 views) of two-dimensional projection data for 360 ° subjected to sensitivity correction, X-ray intensity correction, and the like in the preprocessing device 21 are temporarily stored in the storage device 22.
[0036]
The reconstruction device 25 performs reconstruction processing of the fan beam reconstruction method or the cone beam reconstruction method on the projection data stored in the storage device 22 to generate (reconstruct) slice tomographic image data.
[0037]
Next, the X-ray detector system 14 according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS.
[0038]
This X-ray detector system 14 is a device that detects X-rays that have passed through the subject P, and as a whole, the X-ray detector elements are arrayed in two directions (slice direction and channel direction) orthogonal to each other. A system in which a plurality of X-rays are detected in a two-dimensional manner.
[0039]
Specifically, the X-ray detector system 14 includes a plurality of (for example, 38) detector blocks 14 as shown in FIG. 1 ~ 14 n Is provided. This detector block 14 1 ~ 14 n Are supplied with power from an external power supply device 38 via a cable 39.
[0040]
Each detector block 14n (represented by reference numeral 14n) has detection channels for each block out of all the detection channels provided for X-ray detection divided into a plurality of blocks. In the case of an X-ray CT apparatus, the DAS 13 normally has a circuit scale of about 500 to several tens of thousands of channels, and is therefore blocked every several tens to several hundreds of channels. The plurality of detection blocks 14 1 ~ 14 n Are arranged so as to form an X-ray incident surface along one arc centered on the focal point of the X-ray tube 11 in the channel direction.
[0041]
3 and 4 show a plurality of detector blocks 14. 1 ~ 14 n A specific mounting structure of one arbitrarily selected detector block 14n is shown.
[0042]
Each detector block 14n has a single rigid double-sided mounting type printed circuit board 141. On one surface of the printed circuit board 141, a CMOS switch array (switch element array) 142, a photodiode array 143, and a scintillator block are provided. 144 are stacked in this order. Among these, the CMOS switch array 142 and the photodiode array 143 are electrically connected to each other, and the photodiode array 143 is optically coupled to the scintillator block 144.
[0043]
This all detector block 14 1 ~ 14 n The CMOC switch array 142, the photodiode array 143, and the scintillator block 144 together constitute the X-ray detector 12 described above.
[0044]
On the other hand, DAS circuit components 13a,..., 13a constituting the DAS 13 of each detector block 14n are mounted on the other surface of the printed circuit board 141. The DAS circuit components 13a,..., 13a are electrically connected to the COS switch array 142 described above. As a result, the X-ray detector 12 and the DAS are mounted three-dimensionally via the printed board 141.
[0045]
FIG. 5 shows a schematic development view when each detector block 14n is viewed from the X-ray incident side. The detector block 14n includes a plurality of detection elements 1031 and 1032 formed by the scintillator block 144 and the photodiode array 143. The plurality of detection elements 1031 and 1032 are arranged in a matrix in two directions of the channel direction and the slice direction.
[0046]
Of the detection elements 1031 and 1032, one detection element 1031 has a sensitive area with a width of 1.0 mm in the slice direction and a width of 0.5 mm in the channel direction. The other detection element 1032 has a sensitive area with a width of 0.5 mm in the slice direction and a width of 0.5 mm in the channel direction.
[0047]
The width of the sensitive area of the photodiode is defined as a converted value on the rotation center axis of the X-ray tube 11. That is, “a photodiode having a sensitive area width of 1 mm” means “a photodiode having a sensitive area width corresponding to 1 mm on the rotation center axis of the X-ray tube”. For this reason, considering that X-rays diffuse radially, the width of the actual sensitive area of the photodiode is the distance between the X-ray focal point and the sensitive area of the photodiode with respect to the distance between the X-ray focal point and the rotation center axis. It is slightly wider than 1 mm according to the actual distance ratio.
[0048]
For example, 16 detection elements 1032 having a width of 0.5 mm are arranged in the slice direction. In addition, a plurality of, for example, 12 detection elements 1031 each having a width of 1 mm are arranged on each side of the group of detection elements 1032 having a width of 0.5 mm, which are smaller than the number of detection elements 1032 arranged.
[0049]
In the present embodiment, the number (for example, 16) of the detection elements 1032 arranged in the slice direction is larger than the number (for example, 12) of the detection elements 1031 arranged on both sides thereof, and the total number (for example, 24). Designed to be less than That is, the X-ray detector 12 according to this embodiment includes all the detection blocks 14. 1 ~ 14 n As an example, it is possible to provide a two-dimensional element structure in which 912 detection elements are arranged in the channel direction (row direction) and 40 detection elements are arranged in the slice direction (column direction).
[0050]
The X-ray detector 12 forms a two-dimensional detector having a non-uniform pitch with a detection element having a width of 0.5 mm and a detection element having a width of 1.0 mm. Two-dimensional detectors arranged in the column direction may be used, and the detection element size is not limited to 0.5 mm or 1.0 mm, but is not limited to this example such as a detection element having a width of 1.25 mm.
[0051]
The enormous analog amount of two-dimensional X-ray projections detected by the X detection elements 1031 and 1032 is temporarily collected in the DAS 13 formed as a chip via the CMOS switch array 142. Specifically, this X-ray projection data is transmitted via the CMOS switch 142, for example, for eight columns (912 rows × 8 columns) smaller than the X-ray detection device columns (912 rows × 40 columns of detection elements 1031 and 1032). ) Or 4 columns (912 rows × 4 columns) of data collection elements.
[0052]
In order to transfer the X-ray projection data to the DAS 13, the CMOS switch 142 receives a control signal from the host controller 20 and adds the X-ray projection data for each column in the slice direction (that is, the data is transferred to the column). Two-dimensional projection data of the required number of columns is generated (bundled every time).
[0053]
Similar to the X-ray detector 12, the DAS 13 has a chip structure in which DAS circuit components 13 a made up of A / D conversion elements as data collection elements are arranged in a two-dimensional array. For this reason, each data collection element of the DAS 13 performs amplification processing and A / D conversion processing on the transmitted X-ray projection data to generate projection data of a digital quantity. Since the signal bundling process (signal addition process between the columns in the slice direction) can be enjoyed as described above, the number of element columns in the slice direction of the data acquisition elements of the DAS 13 is usually larger than that of the X-ray detector 12. Less.
[0054]
The digital amount of two-dimensional projection data output from the DAS 13 is transmitted to the data processing unit U through the contactless data transmission device 15 that applies optical communication. In addition, although the non-contact-type apparatus which applied optical communication is illustrated as the data transmission apparatus 15 here, you may use contact-type data transmission apparatuses, such as a slip ring.
[0055]
The detection operation by the X-ray detector 12 is repeated, for example, about 1000 times during one rotation (about 1 second). As a result, an enormous amount of two-dimensional projection data for M × N channels is generated, for example, 1000 times per second (one rotation). Therefore, the operations of the DAS 13 and the non-contact data transmission device 15 are executed at an extremely high speed in order to transmit the enormous and high-speed generated two-dimensional projection data without time delay.
[0056]
The digital amount of projection data sent to the data processing device U is subjected to various types of preprocessing by the preprocessing device 21 and then stored in the auxiliary storage device 23 and is subjected to image reconstruction processing by the reconstruction device 25. . Thereby, a reconstructed image accompanying X-ray scanning can be obtained.
[0057]
FIG. 6 shows an electrical schematic block diagram of the X-ray detector system 14 configured as described above. Power is supplied to the chip circuit of the photodiode array 143 and the CMOS switch array 142 and the DAS circuit component 13a of the DAS 13 for each detector block.
[0058]
Since the X-ray detector system 12 is blocked as described above, the internal circuit of the DAS 13 is also blocked accordingly. FIG. 7 schematically shows the block formation of the DAS 13 and the detector block 14. 1 ~ 14 n A plurality of block DAS circuits 13 corresponding to each block of 1 ~ 13 n (Each consisting of DAS circuit components 13a... 13a) is formed. As a result, the DAS 13 can collect, for example, 1000 channels (number of data collection elements in the channel direction) as a whole, and is divided into 10 blocks. 1 ~ 13 n Each is assigned 100 channels of data collection.
[0059]
In the present embodiment, the plurality of DAS circuits 13 1 ~ 13 n On the other hand, as shown in FIG. 8, the reference clock signal generated by one oscillator 51 is supplied through two paths. Specifically, the rectangular reference clock signal generated by the oscillator 51 is output as it is on one path A and output via the inverter 52 on the other path B. For this reason, as shown in FIG. 9, the reference clock signal of one path A and that of the other path B are generated in opposite phases.
[0060]
The oscillator 51 and the inverter 52 may be disposed in a housing (not shown) of the X-ray detector system 14 or may be provided separately from the main body of the X-ray detector system 14 (FIG. 2). Reference) may be provided.
[0061]
Multiple DAS circuits 13 1 ~ 13 n Are further grouped, and the odd-numbered DAS circuits 13 in the arrangement order. 1 , 13 3 ,... Commonly receive the reference clock signal supplied from one of the paths A described above, and perform an A / D conversion operation in synchronization with the reference clock signal. On the other hand, the even-numbered DAS circuit 13 2 , 13 4 ,... Commonly receive the reference clock signal supplied from one of the paths B described above, and perform an A / D conversion operation in synchronization with the reference clock signal.
[0062]
As described above, in the X-ray CT apparatus according to the present embodiment, the X-ray detector system 14 detects X-rays transmitted through the subject at the time of scanning, and the X-ray CT image is reproduced from the projection data obtained as a result. Composed. In this X-ray detection operation, in particular, the DAS 13 in the X-ray detector system 14 includes a plurality of DAS circuits 13. 1 ~ 13 n The plurality of DAS circuits 13 are 1 ~ 13 n Operate based on reference clock signals having opposite phases. Therefore, it is possible to almost surely cancel out radiation noise caused by fluctuations in the ground and the power supply between circuits, and to suppress the generation of such noise as a whole and provide a high-quality X-ray CT image. it can.
[0063]
It should be noted that the method of applying the reference clock signal to the DAS 13 according to the first embodiment can be implemented in various forms as follows.
[0064]
10 and 11 show a first modification. According to this embodiment, as shown in FIG. 10, the DAS circuit 13 of the blocked DAS 13 is formed. 1 ~ 13 n Oscillator 51 for a few minutes 1 ~ 51 n Prepare the oscillator 51 1 ~ 51 n The reference clock signal that is the output of the DAS circuit 13 1 ~ 13 n To be supplied separately. For this reason, as shown in FIG. 1 ~ 13 n Each of them can be operated in synchronism with independent reference clock signals and asynchronously among the circuits. Therefore, the DAS circuit 13 1 ~ 13 n Most of the influence of the radiation noise caused by the fluctuation of the ground and the power supply voltage in each can be dispersed or offset, and the influence of the noise on the image quality can be reduced as in the first embodiment.
[0065]
FIG. 12 shows a second modification. In the case of this modification, as shown in the figure, one oscillator 51 is provided, and a reference clock signal output from the oscillator 51 is sequentially supplied to a delay circuit 53 having a fixed delay time. 1 ~ 53 n-1 Each is delayed by a certain time. DAS circuit 13 of DAS 13 1 ~ 13 n Also, the delay circuit 53 1 ~ 53 n-1 The DAS circuit of each group includes an oscillator 51 and a delay circuit 53. 1 ~ 53 n-1 Each outputs a reference clock signal. As a result, the number of oscillators 51 can be reduced to one, and the use of the reference clock signal delayed by a predetermined time can cause a large influence of radiation noise due to fluctuations in the ground and the power supply voltage as described above. The portions can be dispersed or offset, and the influence of noise on the image quality can be reduced as in the first embodiment described above.
[0066]
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS.
[0067]
The X-ray CT apparatus according to this embodiment relates to voltage adjustment in each detector block 14 n of the X-ray detector system 14. Since the overall configuration of the X-ray CT apparatus is the same as that of the first embodiment described above, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted or simplified.
[0068]
In each detector block 14n according to this embodiment, a power connector 61 and a voltage regulator 62 are mounted on a part of the DAS side surface of the printed circuit board 141, as shown in FIG. Accordingly, as shown in FIG. 14, the output terminal of the power source 63 is connected to the power connector 61 of each detector block 14 n via the cable 64, and reaches the voltage regulator 62 via the power connector 61. ing.
[0069]
The voltage regulator 62 has a function of adjusting its input voltage to a predetermined voltage value, and its output terminal is the DAS circuit 13 of each detector block 14n. 1 ~ 13 n Connected in parallel. At this time, the output voltage V of the power source 63 0 As shown in FIG. 14, even if the cable 64 is the longest, that is, the voltage drop is the longest in the detector block 14n, the input voltage of the voltage regulator 62 is the specified voltage V required by the DAS circuit component 13a. 1 It is set to be higher than (for example, 5 (V)).
[0070]
For this reason, in each detector block 14n, the voltage regulator 62 has a specified voltage V 1 Higher input voltage (for example, 6 (V)), and the input voltage is set to the specified voltage V 1 The voltage is adjusted (stepped down) to a value (for example, 6 (V)).
[0071]
Thus, in the X-ray detector system 14 according to the present embodiment, although the amount of voltage drop due to the cable 64 to each detector block 14n differs between the blocks (for example, 0.1 to 0.5 ( V) and so on, in order to absorb this fluctuation, the power supply voltage is reliably set to the specified value V in all detector blocks. 1 Can be adapted to
[0072]
Therefore, in all the detector blocks, the DAS circuit component 13a can operate with the same voltage. As a result, the influence of fluctuations in A / D conversion characteristics due to the difference in power supply voltage between detector blocks can be reliably prevented or suppressed, the X-ray detection characteristics can be further stabilized, and the reliability of the apparatus can be improved. Can be planned.
[0073]
(Third embodiment)
Next, a third embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS.
[0074]
The X-ray CT apparatus according to this embodiment relates to the structure of the power supply line in each detector block 14 n of the X-ray detector system 14. The overall configuration of the X-ray CT apparatus is the same as that of the first embodiment described above.
[0075]
In this X-ray detector system 14, as shown in FIG. 16, a metal bar 71 as a plate-like conductor is used for the power supply (+ side) supplied to each detector block 14n. Specifically, the power supply device 72 and the X-ray detector system 14 are connected by a cable 73, and the metal bar 71 supplies power inside the X-ray detector system 14. As shown in FIG. 17, the metal bar 71 is electrically connected to a predetermined position of each detector block 14n via a branch portion 71a by screwing or connector connection.
[0076]
By using the metal bar 71 as a power supply line in this way, fluctuations (differences) in the voltage drop amount on the power supply side depending on the installation position of each detector block 14n can be suppressed. The voltage difference can be suppressed to an extremely small value. As a result, the detection operation can be stabilized and the image quality can be improved. On the other hand, since measures such as thickening the cable are not necessary, the mounting space in the X-ray detector system 14 can be saved, and the system 14 can be made compact.
[0077]
As an aspect related to the noise mixing countermeasure described in the first embodiment, there is a wiring structure in the DAS 13 of the detector block 14n. As shown in FIG. 18, detector blocks 14 n adjacent to each other in the channel direction are coupled to each other by an inter-block connector 81. For this reason, depending on the type of the X-ray detector system 14, each detector block 14n includes a DAM chip which is an IC for A / D conversion (for example, 16 channels), and data collection for running each block. It may be necessary to implement wiring.
[0078]
In the case of such a wiring structure, in the DAS circuit 13n of each detector block 14n, as shown in FIG. 18, a DAM chip 82 that handles analog signals and a wiring pattern 83 for collecting data after digital conversion are arranged separately. It is desirable. In the example of FIG. 18, the wiring pattern 83 is arranged at the center in the slice direction in each detector block 14n, while the DAM chips 82 are arranged on both ends of the wiring pattern 83 in the slice direction. As a result, it is possible to reduce noise from the wiring pattern 83 that handles digital signals in the DAM chip 82 that handles analog signals. As a result, it is possible to prevent the deterioration of SD (Standard Deviation) that is an index of image noise. In addition, by placing the DAM chip 82 that handles analog signals on both sides in the slice direction, the DAM chip 82 can be disposed avoiding X-rays and the wiring to the DAM chip 82 can be shortened.
[0079]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention when it is practiced.
[0080]
For example, in the above-described embodiment, as the X-ray CT apparatus, the rotation / rotation (ROTATE / ROTATE) type in which the current mainstream X-ray tube and the radiation detector integrally rotate around the subject has been described as an example. Further, the present invention may be applied to various types such as a fixed / rotated (STATIONARY / ROTATE) type in which a large number of detection elements are arrayed in a ring shape and only the X-ray tube rotates around the subject.
[0081]
Furthermore, in the above-described embodiment, as a mechanism for converting incident X-rays into electric charges, indirect conversion in which X-rays are converted into light by a phosphor such as a scintillator and the light is further converted into electric charges by a photoelectric conversion element such as a photodiode. Although the shape has been described, the direct conversion type utilizing the generation of electron-hole pairs in the semiconductor by X-rays and the movement to the electrodes, that is, the photoconductive phenomenon, may be employed.
[0082]
Further, in the above-described embodiment, the single-tube type X-ray CT apparatus has been described. However, a so-called multi-tube type X-ray CT in which a plurality of pairs of an X-ray tube and an X-ray detector are mounted on a rotating ring. You may apply to an apparatus.
[0083]
【The invention's effect】
As described above, according to the X-ray detector system of the computed tomography apparatus according to the present invention, the X-ray detector system includes a countermeasure for preventing radiation noise caused by ground potential fluctuations in a plurality of detector blocks. As a result of taking measures against inconsistencies in operating characteristics due to differences in power supply voltage between detector blocks and detector blocks, it is possible to improve the image quality by improving the stability and uniformity of the X-ray detection operation and improving the system structure. Can also contribute to downsizing.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an X-ray CT apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating a schematic configuration of an X-ray detector system employed in the X-ray CT apparatus according to the embodiment.
FIG. 3 is a schematic perspective view showing one of a plurality of detector blocks offset by the X-ray detector system from the X-ray incident side thereof.
FIG. 4 is a schematic perspective view showing one of a plurality of detector blocks from the back side.
FIG. 5 is a diagram schematically illustrating the arrangement of X-ray detection elements in one detector block in an X-ray detector system employed in the X-ray CT apparatus according to the embodiment.
FIG. 6 is a block diagram showing an electrical function of a detector block portion in the X-ray detector system.
FIG. 7 is a conceptual diagram for explaining DAS blocking.
FIG. 8 is a diagram for explaining how to supply a reference clock signal used in the X-ray detector system of the X-ray CT apparatus according to the first embodiment.
FIG. 9 is a timing chart for explaining the dephasing of the reference clock signal in the first embodiment.
FIG. 10 is a diagram for explaining how to supply a reference clock signal according to a first modification of the first embodiment.
FIG. 11 is a timing chart illustrating phase dispersion of the reference clock signal according to the first modification.
FIG. 12 is a diagram for explaining how to supply a reference clock signal according to a second modification of the first embodiment.
FIG. 13 is a schematic perspective view showing each detector block mounted on the X-ray detector system of the X-ray CT apparatus according to the second embodiment of the present invention.
FIG. 14 is a block diagram illustrating power supply to each detector block in the second embodiment.
FIG. 15 is a diagram for explaining voltage adjustment for each detector block for explaining power supply in the second embodiment;
FIG. 16 is a schematic perspective view showing an X-ray detector system of an X-ray CT apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 17 is a diagram illustrating power supply using a metal bar according to the third embodiment.
FIG. 18 is a diagram for explaining a modification relating to the wiring form of each detector block;
[Explanation of symbols]
12 X-ray detector
13 DAS (data collection device)
13 1 ~ 13 N DAS circuit
13a DAS circuit parts
14 X-ray detector system
14n (14 1 ~ 14 N ) Detector block
51, 51 1 ~ 51 N Oscillator
53 1 , 53 N ... delay circuit
52 Inverter
61 Power connector
62 Voltage regulator
63 Power supply
71 metal bar
141 Printed circuit board
142 CMOS switch
143 photodiode array
144 Scintillator block

Claims (6)

被検体を透過したX線を検出して当該X線に対応したアナログ量の電気信号をチャンネル毎に出力する検出器と、この検出器が出力するチャンネル毎のアナログ量の電気信号をデジタル量の電気信号に変換して出力するデータ収集装置とを備え、少なくとも前記データ収集装置を、それぞれが所定チャンネル数ずつの回路から成る複数の回路ブロックに分けて形成したコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システムにおいて、
前記複数の回路ブロックを2つにグループ化して、両グループ間で互いに逆位相となるクロック信号に同期して前記回路ブロックそれぞれを動作させる逆位相動作手段を備えたことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システム。
A detector that detects X-rays transmitted through the subject and outputs an analog electric signal corresponding to the X-ray for each channel, and an analog electric signal for each channel output by the detector An X-ray detector for a computer tomography apparatus comprising: a data acquisition device that converts an electrical signal into an output; and at least the data acquisition device is divided into a plurality of circuit blocks each including a predetermined number of channels In the system,
Computational tomography characterized by comprising anti-phase operation means for grouping the plurality of circuit blocks into two and operating each of the circuit blocks in synchronization with clock signals having opposite phases between the groups. X-ray detector system of the device.
前記逆位相動作手段は、基準となるクロック信号を発生するオシレータと、このオシレータが発生したクロック信号をそのまま前記2つのグループのうちの一方に属する回路ブロックに供給するとともに前記オシレータが発生したクロック信号の極性を反転させて当該クロック信号を前記2つのグループのうちの他方に属する回路ブロックに供給する手段とを備えたことを特徴とする請求項1に記載のコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システム。  The anti-phase operation means supplies an oscillator that generates a reference clock signal, and supplies the clock signal generated by the oscillator to a circuit block belonging to one of the two groups as it is, and the clock signal generated by the oscillator 2. An X-ray detector for a computed tomography apparatus according to claim 1, further comprising: means for inverting the polarity of the first clock and supplying the clock signal to a circuit block belonging to the other of the two groups. system. 被検体を透過したX線を検出して当該X線に対応したアナログ量の電気信号をチャンネル毎に出力する検出器と、この検出器が出力するチャンネル毎のアナログ量の電気信号をデジタル量の電気信号に変換して出力するデータ収集装置とを備え、少なくとも前記データ収集装置を、それぞれが所定チャンネル数ずつの回路から成る複数の回路ブロックに分けて形成したコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システムにおいて、
前記複数の回路ブロックに必要な基準クロック信号を発生するオシレータを当該回路ブロック数と同数の複数個分だけ備え、この複数のオシレータそれぞれが出力した基準クロック信号を独立に且つ非同期で前記複数の回路ブロックのそれぞれに供給するようにしたことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システム。
A detector that detects X-rays transmitted through the subject and outputs an analog electric signal corresponding to the X-ray for each channel, and an analog electric signal for each channel output by the detector An X-ray detector for a computer tomography apparatus comprising: a data acquisition device that converts an electrical signal into an output; and at least the data acquisition device is divided into a plurality of circuit blocks each including a predetermined number of channels In the system,
A plurality of oscillators for generating the reference clock signals necessary for the plurality of circuit blocks are provided in the same number as the number of the circuit blocks, and the plurality of circuits independently and asynchronously output the reference clock signals output from the plurality of oscillators. An X-ray detector system for a computed tomography apparatus, wherein the X-ray detector system is supplied to each of the blocks.
被検体を透過したX線を検出して当該X線に対応したアナログ量の電気信号をチャンネル毎に出力する検出器と、この検出器が出力するチャンネル毎のアナログ量の電気信号をデジタル量の電気信号に変換して出力するデータ収集装置とを備え、少なくとも前記データ収集装置を、それぞれが所定チャンネル数ずつの回路から成る複数の回路ブロックに分けて形成したコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システムにおいて、
前記複数の回路ブロック間で一定時間毎に互いに異なる遅延量を有する基準クロック信号を当該回路ブロックの別に生成する手段を備え、この生成した基準クロック信号のそれぞれを各回路ブロックに供給するようにしたことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システム。
A detector that detects X-rays transmitted through the subject and outputs an analog electric signal corresponding to the X-ray for each channel, and an analog electric signal for each channel output by the detector An X-ray detector for a computer tomography apparatus comprising: a data acquisition device that converts an electrical signal into an output; and at least the data acquisition device is divided into a plurality of circuit blocks each including a predetermined number of channels In the system,
Means for generating a reference clock signal having a different delay amount for each predetermined time between the plurality of circuit blocks is provided for each circuit block, and each of the generated reference clock signals is supplied to each circuit block. An X-ray detector system for a computed tomography apparatus.
前記検出器は、チャンネル方向に所定複数チャンネル分の検出素子を有する検出器列を当該チャンネル方向に直交するスライス方向に所定列数の検出器列を配した2次元検出器であって、
前記X線を検出素子毎に光信号に変換するシンチレータブロックと、このシンチレータブロックに光学的に結合され且つ当該シンチレータブロックから検出素子毎に出力される光信号をアナログ量の電気信号に変換するフォトダイオードアレイと、このフォトダイオードから検出素子毎に出力される電気信号を、前記スライス方向の指定列数ごとに合成するスイッチ素子アレイとを備えたことを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載のコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システム。
The detector is a two-dimensional detector in which a detector row having detector elements for a plurality of predetermined channels in a channel direction is arranged with a predetermined number of detector rows in a slice direction orthogonal to the channel direction,
A scintillator block that converts the X-rays into optical signals for each detection element, and a photo that is optically coupled to the scintillator block and that outputs optical signals output from the scintillator block to the detection elements into analog electrical signals. a diode array, an electric signal output from the photodiode for each detection element, claim 1-4, characterized in that a switch element array for synthesizing every specified number of columns of said slice direction An X-ray detector system for a computed tomography apparatus according to one item.
前記フォトダイオードアレイ、スイッチ素子アレイ、及びデータ収集装置は回路ブロック毎に基板を介して3次元的に実装させた構造を有する請求項5に記載のコンピュータ断層撮影装置のX線検出器システム。  6. The X-ray detector system for a computed tomography apparatus according to claim 5, wherein the photodiode array, the switch element array, and the data collection device have a structure in which each circuit block is three-dimensionally mounted via a substrate.
JP2003199378A 2003-07-18 2003-07-18 X-ray detector system for computed tomography apparatus Expired - Fee Related JP4427282B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003199378A JP4427282B2 (en) 2003-07-18 2003-07-18 X-ray detector system for computed tomography apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003199378A JP4427282B2 (en) 2003-07-18 2003-07-18 X-ray detector system for computed tomography apparatus

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009192896A Division JP4996655B2 (en) 2009-08-24 2009-08-24 X-ray detector system for computed tomography apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005034313A JP2005034313A (en) 2005-02-10
JP4427282B2 true JP4427282B2 (en) 2010-03-03

Family

ID=34208848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003199378A Expired - Fee Related JP4427282B2 (en) 2003-07-18 2003-07-18 X-ray detector system for computed tomography apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4427282B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005049228B4 (en) 2005-10-14 2014-03-27 Siemens Aktiengesellschaft Detector with an array of photodiodes
JP6502936B2 (en) * 2013-07-19 2019-04-17 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. Interference reduction in combined assemblies for MRI and nuclear imaging

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102739A (en) * 1985-10-31 1987-05-13 横河メディカルシステム株式会社 X-ray tomographic apparatus
JPH0738850B2 (en) * 1988-02-19 1995-05-01 株式会社東芝 X-ray CT system
JPH07508202A (en) * 1992-06-26 1995-09-14 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト Method and apparatus for combining CT scan device detector outputs
US5499281A (en) * 1994-10-03 1996-03-12 Analogic Corporation Apparatus for shielding and grounding x-ray detectors of a CT scanner
JPH1099319A (en) * 1996-09-26 1998-04-21 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd X-ray ct system
US5991358A (en) * 1997-12-31 1999-11-23 Analogic Corporation Data acquisition system for generating accurate projection data in a CT scanner
US6266387B1 (en) * 1999-09-16 2001-07-24 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc Command sequencer for a CT imaging system
JP4481410B2 (en) * 2000-02-02 2010-06-16 株式会社東芝 X-ray CT two-dimensional detector, X-ray CT two-dimensional detector manufacturing method, and X-ray CT scanner
JP4144152B2 (en) * 2000-02-28 2008-09-03 株式会社島津製作所 Multichannel detector data acquisition system

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005034313A (en) 2005-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6760404B2 (en) Radiation detector and X-ray CT apparatus
US9389320B2 (en) Radiation detector, and radiation imaging apparatus provided with detector
US6658082B2 (en) Radiation detector, radiation detecting system and X-ray CT apparatus
US7433443B1 (en) System and method of CT imaging with second tube/detector patching
JP5044577B2 (en) Dual function detector device
US20030099323A1 (en) Computer tomography apparatus
US6005908A (en) X-ray computed tomography apparatus with radiation detector which reduces image unsharpness
JP2010259653A (en) X-ray computer tomography device
JP2009118943A (en) Radiation detector and x-ray ct apparatus
WO2017170408A1 (en) X-ray detection system, x-ray device, and device and method for processing x-ray detection data
JP2011229906A (en) X-ray ct apparatus
JP4623785B2 (en) CT equipment
JP4427282B2 (en) X-ray detector system for computed tomography apparatus
JP2012187137A (en) X-ray ct apparatus
JP4996655B2 (en) X-ray detector system for computed tomography apparatus
EP1661517B1 (en) X-ray computed tomography scanner and x-ray detecting system
US7208741B2 (en) X-ray computed tomography scanner and x-ray detecting system
CN1781453A (en) X-ray calculation tomographic scanner and x-ray detecting system
US20020085108A1 (en) Reduced complexity interconnect for two dimensional multislice detectors
US6584167B1 (en) Methods and apparatus for increasing scanning modes
EP4403961A2 (en) Flat panel x-ray detector for computed tomography
JP7486939B2 (en) X-ray detector and X-ray CT device
JP4594699B2 (en) X-ray computed tomography system
JP2004093489A (en) X-ray detector, x-ray imaging device, and x-ray ct device
US7145151B2 (en) Reduced complexity interconnect for two dimensional multislice detectors

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060704

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090623

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090824

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090929

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091015

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091117

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091214

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4427282

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121218

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131218

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313114

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313114

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees