JP4420190B2 - X線装置 - Google Patents
X線装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4420190B2 JP4420190B2 JP2003369138A JP2003369138A JP4420190B2 JP 4420190 B2 JP4420190 B2 JP 4420190B2 JP 2003369138 A JP2003369138 A JP 2003369138A JP 2003369138 A JP2003369138 A JP 2003369138A JP 4420190 B2 JP4420190 B2 JP 4420190B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- electron beam
- rays
- conversion target
- collimator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 52
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 32
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 27
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
この種の検査装置は、一般に、X線発生部から発生させたX線を検査対象物(対象者を含む)に向けて照射し、対象物を透過したX線をラインセンサを用いて検知し、透過強度の違いを画像化して検査対象物の内部を調べるように構成されている。
X線発生部(図1参照)は、基本的には電子銃1から線状の電子線ビームeが照射されたX線変換ターゲット2が、その照射位置からX線xを発生させるように構成される。X線ターゲット2が発生するX線xは、上記電子線ビームeが照射された一点から所定の拡がり角度で円錐形状をなして直進する。このX線xの拡がり角度は、最大でも45度程度である。それ故、上述のように大型の検査対象物3に適合したビーム幅のX線を得るためには、X線発生部(X線変換ターゲット2)と検査対象物3との間の距離L1を十分に長くする必要があった。例えば、検査対象物の高さが10mの場合、一個のX線発生部により検査を行うためには、検査対象物3とX線発生部(X線変換ターゲット2)とを12m(距離L1)以上離隔させることが必要になる。しかし、実際の検査場所においてこのような広いスペースを確保することは容易ではなく、従って、検査対象物3とX線発生部(X線変換ターゲット2)との距離L1を短縮することが必要となる。
図3は、本発明に係るX線装置の要部であるX線発生部10を示す概略構成図である。X線発生部以外の装置は公知のものであるので記載を省略する。X線発生部10は、電子線ビームe0を発生する電子銃11と、電子銃11の前方に該電子銃11の電子線照射軸の両側に対峙して配設される一対の電磁石12a、12bと、電子線ビームe0の照射部位からX線を発生させるX線変換ターゲット13と、X線変換ターゲット13が発生したX線から、所定の方向に平行なX線以外のX線を遮断し、平行なシート状X線を形成するコリメータ20とを備える。なお、これらの装置は、コリメータ20を除き、すべて、図示しない、X線を外部に引き出すための窓部を備えた真空容器の中に封入されている。
電磁石12aと12bには、図示しない制御回路により交互に電圧が印加されることにより、電磁石12a、12b間に磁界を発生させ、電子線ビームe0を、電磁石12aと12bとの対峙方向に沿って、所定の幅で、振り子のように、偏向走査する役割を担う。
X線変換ターゲット13は、上記電子線ビームe0の偏向走査方向に所定の長さを有するX線発生面13aを備えた棒状又は板状のものからなり、特にこのX線発生面13aを、偏向した電子線ビームe0により形成される扇形ビーム平面Eと長手方向を平行に、かつ、他方向は扇形ビーム平面Eに対し所定の角度αで傾斜させて設けられている。そして、扇形ビーム面Eとが直線Fをなして交叉するように位置決めされている。また、X線発生面13aの長手方向の長さは、少なくとも発生させるX線のビーム幅と同じかそれより長く設定されている。なお、図中、扇形ビーム平面Eは、直線Fと交差した状態で記載されているので、扇形ではなく三角形として図示されている。
さらに、2枚の桁板22の配列ピッチpの設定方法を図5を参照して説明する。図5は、コリメータ20の複数の小区画23のうち一個のみを説明用に抜き出したものである。配列ピッチpは、小区画23を通過するX線が小区画23の軸に対してなし得る最大角度γを所定の値以下にするように設定する。この最大角度γを小さくするほど、直線Kに平行なX線以外のX線が少なくなり、より明瞭なX線画像を得ることができる。従って、明瞭さを考慮して最大角度γを設定し、それに基づいて配列ピッチpを設定する。なお、最大角度γと、配列ピッチp、隙間h、コリメータ20の奥行き長さL4との間には以下の関係式が成立している。
遮蔽板21a、21b、桁板22の厚さは、X線発生部10において発生するX線のエネルギ、X線強度、遮蔽板や桁板の遮蔽能力等を勘案し、不要なX線成分を遮断できるように定める。なお、遮蔽板21a、21b及び桁板22の材質としては、鉛又はタングステンが好適に使用できるが、遮蔽板21a、21bの隙間や桁板22の配列ピッチを小さくする場合には変形の少ないタングステンがより好適に使用できる。
X線発生部10は、電子銃11から発生する直線状の電子線ビームe0を電磁石12a、12bにより偏向走査させ、平面状の電子線ビーム(扇形ビーム平面E)を形成させる。該平面状の電子線ビームを、X線変換ターゲット13に照射させ、電子線照射部位である直線F全体からX線を発生させる。すなわち、本発明によれば、従来技術のようにX線が一点から拡がるのではなく、X線発生面13aにおいて幅広いX線発生源が直線状に形成されるために、発生位置においてすでに幅広い帯状を形成するX線を発生させることができる。なお、X線自体を偏向走査させて幅広いX線とすることは困難である。しかし、X線を発生させる電子線は、電磁石等の手段により容易に偏向走査させ、X線発生源を直線状にすることによりビーム幅の広いX線を発生させることができるので、X線を偏向走査するのと同様の効果を得ることができる。
最も電磁石12aに近付く電子線ビーム位置をe1、最も電磁石12bに近付く電子線ビーム位置をe2とし、電子線ビームe1とe2のなす角度を偏向角度βとする。偏向角度βは、電子線ビームの電子の加速電圧及び電磁石12a、12bに印加される電圧により発生する磁界の強度を調整することにより定めることができる。
コリメータ20に入射したX線X1は、前述のコリメータ20の整流作用(すなわち、前述の直線Kに平行なX線以外のX線を遮断する)により、殆ど拡がることのないシート状X線X2として放出される。
直線Fの長さ=L2×2×Tan(β/2)……(2)式
但し、L2は、電子線の偏向の起点Sから直線Fまでの距離である。
そのため、ビーム幅を任意に調整できるという前述の効果とは別に以下の2つの効果をも有することになる。
第2の効果は、平行X線によるX線画像には歪みが生じないということである。すなわち、図7(a)に示すように、通常のX線X3のようにそれが拡がる性質を有する場合には、X線発生源に近い対象物B1の像S1が拡大され、遠い対象物B2の像S2は殆ど拡大されない。このため、X線画像としては、大きさの異なる対象物B1、B2の像が殆ど同じ大きさに示されることがありうる。いいかえれば、拡がる性質を有する通常のX線では像の歪みが生じる。一方、X線発生部10により発生する平行X線(シート状X線)X4の場合には、図7(b)に示すように、大小の対象物B3,B4の像S3、S4は拡大されることはなく、実際の大きさに一致するので、像に歪みを生じることはない。
本発明は、広いスペースを必要とせずに任意のビーム幅のX線を得ることができ、しかも明瞭なX線画像を得ることができるので、コンテナ貨物検査等大型検査対象物用のX線装置として好適である。また、平行X線の効果として非常に明瞭なX線画像を得ることができるので、空港等におけるセキュリティチェック用検査装置等小型のX線装置としても、好適に使用できる。
11 電子銃
12a、12b 電磁石(偏向手段)
13 X線変換ターゲット
13a X線発生面
20 コリメータ
21a、21b 遮蔽板(遮蔽板)
22 桁板(遮蔽板)
E 扇形ビーム平面(ビーム面)
Claims (2)
- 電子線ビームを発生する電子銃と、
前記電子線ビームを一方向に偏向走査する偏向手段と、
偏向走査された前記電子線ビームがなすビーム面に対して傾斜し、かつ前記電子線ビームの偏向幅に亘って設けられた所定長さの棒状または板状のX線発生面を備え、該X線発生面の前記電子線ビームの照射部位からX線を発生させるX線変換ターゲットと、
このX線変換ターゲットに対峙させて設けられて、該X線変換ターゲットが発生した前記X線の照射方向を平行に揃えるコリメータとを具備し、
前記偏向手段は、所定幅に亘って分布の均一なX線を前記コリメータを介して出力するように、前記電子線ビームの偏向速度を該電子線ビーム面の両端部では遅くすると共に該ビーム面の中央部で速くすることを特徴とするX線装置。 - 前記コリメータは、所定の隙間を隔てて平行に設けられて前記X線変換ターゲットが帯状に発生するX線をシート状に成形する長尺のX線遮蔽板と、前記X線を照射すべき方向に沿って平行に前記X線遮蔽板間に設けられたX線遮蔽体からなる複数枚の桁板とからなることを特徴とする、請求項1に記載のX線装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003369138A JP4420190B2 (ja) | 2003-10-29 | 2003-10-29 | X線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003369138A JP4420190B2 (ja) | 2003-10-29 | 2003-10-29 | X線装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005135693A JP2005135693A (ja) | 2005-05-26 |
JP4420190B2 true JP4420190B2 (ja) | 2010-02-24 |
Family
ID=34646598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003369138A Expired - Lifetime JP4420190B2 (ja) | 2003-10-29 | 2003-10-29 | X線装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4420190B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2378280A4 (en) * | 2008-12-22 | 2013-06-05 | Omron Tateisi Electronics Co | X-RAY INSPECTION METHOD AND X-RAY INSPECTION APPARATUS |
-
2003
- 2003-10-29 JP JP2003369138A patent/JP4420190B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005135693A (ja) | 2005-05-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9991085B2 (en) | Apparatuses and methods for generating distributed x-rays in a scanning manner | |
US6421420B1 (en) | Method and apparatus for generating sequential beams of penetrating radiation | |
US6356620B1 (en) | Method for raster scanning an X-ray tube focal spot | |
US7645994B2 (en) | Device for outputting high and/or low energy X-rays | |
US6628745B1 (en) | Imaging with digital tomography and a rapidly moving x-ray source | |
US9031201B2 (en) | X-ray source, X-ray imaging apparatus, and X-ray computed tomography imaging system | |
US7428297B2 (en) | Methods and apparatus for e-beam scanning | |
EP0244504B1 (en) | X-ray source | |
KR102410722B1 (ko) | X선 발생기 | |
JP5568413B2 (ja) | X線を発生させるためのシステム及び方法 | |
JP2004221089A (ja) | 電子ビーム装置及び検出装置 | |
US7724876B2 (en) | Multi-color X-ray generator | |
JP5339325B2 (ja) | X線発生装置及びx線発生方法 | |
JP2005106799A (ja) | X線絞りおよびx線照射装置並びにx線撮影装置 | |
GB2044985A (en) | X-ray tube | |
JP4420190B2 (ja) | X線装置 | |
US4021674A (en) | Charged-particle beam optical apparatus for irradiating a specimen in a two-dimensional pattern | |
JP5454837B2 (ja) | 硬x線ビーム走査装置および方法 | |
CN107847201B (zh) | 利用调制的x射线辐射的成像 | |
KR20140138688A (ko) | 주사 x-선 빔을 생성하기 위한 전자기 주사 장치 | |
JP2009016119A (ja) | X線発生装置の波長変更装置および方法 | |
KR101707219B1 (ko) | 간섭 회피 양극 로드를 가진 엑스레이 튜브 및 이를 가진 검사 장치 | |
JP7428865B2 (ja) | 非破壊検査システム、中性子照射源及び中性子照射方法 | |
CN115356359B (zh) | 激光加速驱动的高能微焦点x射线大视野ct成像装置 | |
Fukuda et al. | DEVELOPMENT AND UPGRADE PLAN OF AN X-RAY SOURCE BASED ON LASER COMPTON SCATTERING IN LASER UNDULATOR COM-PACT X-RAY SOURCE (LUCX) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060925 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090902 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090924 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091111 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4420190 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091124 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131211 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |