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JP4362599B2 - 金属部材およびそれを用いた電気接点 - Google Patents

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Description

本発明は、スイッチやコネクタなどの電気接点に用いられる金属部材およびそれを用いた電気接点に関し、特に、摺動型電気接点用金属部材およびそれを用いた電気接点に関する。
電気・電子機器に用いられる低電流(信号系)スイッチやコネクタなどの電気接点(可動部材と固定部材において機械的接触および電気的導通が行われる部分)のうち、100g以下の低い接触加重で繰り返し使用される電気接点は、高い接続信頼性が要求されるため、このような電気接点として導電性金属部材の表面を貴金属で被覆した電気接点が使用されている。
現在、このような貴金属で被覆した最も一般的な電気接点として、金属部材上に厚さ1〜3μmのニッケル下地めっきを施し、その上に仕上げめっきとして厚さ0.1〜0.5μmのAuCo合金のような高い耐摩耗性の金合金を形成して接触抵抗を低減させ、さらにその上に耐食性や潤滑性を向上させるために封孔処理を施した電気接点が知られており、高い接点寿命を確保している(例えば、特許文献1参照)。
一般に、接点を接触形式により分類すると、突き当て接点と摺動接点に大別されるが、摺動接点の中でもカード用コネクタ、エンコーダスイッチ、マルチファンクションスイッチ、モータ整流子などに使用する摺動接点では、数万回から数十万回以上の高い接点寿命が要求される場合がある。
このような高寿命接点に用いられる金属部材では、耐摩耗性を向上させるために、金合金の膜厚を更に厚くしたり、金合金の一部を価格の安いPd合金などで代替使用している。Pd合金を使用した代表的な仕様では、金属部材上にニッケル下地めっきを施して、その上に金合金膜の代替としてPdNiめっきを形成し、仕上げめっきとしてAuCo合金やAuNi合金のような高い耐摩耗性の金合金を形成して接触抵抗を低減させることにより、長寿命の電気接点を得ている(例えば、特許文献2参照)。
さらに過酷な数十〜数百万回の寿命が要求される場合には、金属部材上に数μm以上の厚さの貴金属の箔を圧延接合したクラッド材料が用いられる場合もある。
また、中間めっきとしてNiとPを主成分とするNiP系合金めっき層を形成することが実用化され、例えば、中間めっきとして厚さ1〜3μmのNiP系合金めっきを使用した場合に強力な腐食遮断効果があり、このようなめっきが装飾や防錆の目的で広く使用されている(例えば、非特許文献1参照)。
NiP合金は、P含有率が10重量%以上になると均一な非晶質構造になり、P含有率が10重量%未満の場合と比べて耐食性が大幅に向上する。また、NiP合金は、P含有率と関係なく380〜400℃で短時間加熱することにより最高硬度を示して耐摩耗性も向上するため、硬質Crめっきに代わる耐摩耗用合金めっきとして用いられている(例えば、特許文献3〜5参照)。
例えば、特許文献4には、装飾用貴金属めっきの耐食性を向上させるために、基材上に電気ニッケルめっきを施す工程と、その上層部にリン供給源として亜リン酸または亜リン酸塩を用いるニッケル-リン合金めっき液中で、初期電流密度として8〜20A/dmの高電流密度で処理し、続けて7A/dm以下の電流密度で処理する工程と、その上層部に貴金属めっき層を形成する工程を有する貴金属めっきの製造方法が開示されている。
また、電気接点としての用途において、特に無電解めっきやバレルめっきでは、貴金属の表層めっきの下に中間層としてNiP系合金めっきが用いられている(例えば、特許文献6〜12参照)。
例えば、特許文献8には、NiまたはNi合金めっきによってリードフレーム基材上に形成される第1のめっき層と、NiP、NiBまたはNiCo合金より構成され、第1のめっき層上に0.02〜0.3μmの厚さで形成される第2のめっき層と、純度99.9%のAuより構成され、第2のめっき層上に0.2μm以下の厚さで形成される第3のめっき層を有するリードフレームが開示されており、熱履歴を受けた後でも半導体素子のペレット付け性、半田濡れ性およびAu線のワイヤーボンデイング性に優れたリードフレームが得られることが開示されている。
また、特許文献9には、電子部品の接点部として用いられるAuまたはAu合金めっき材料の耐熱性および耐食性を向上させるため、Pを0.05〜20重量%含有し、残部がNiおよび不可避不純物からなる合金めっき中間層を有し、AuまたはAu合金の表層めっきからなる電子部品用AuまたはAu合金めっき材料が開示されている。
特開平7−258891号公報(段落番号0004−0005、0038) 特公平2−44106号公報(第1−2頁) 特開平6−316773号公報(段落番号0005−0011) 特開平7−11478号公報(段落番号0008−0014) 特開平7−41985号公報(段落番号0005−0011) 特開平1−132072号公報(第2頁) 特開平11−317253号公報(段落番号0004−0012) 特開平9−252070号公報(段落番号0009−0014) 特開2000−313991号公報(段落番号0004−0015) 特開2001−3192号公報(段落番号0005−0006) 特開2001−89895号公報(段落番号0005−0006) 特開2001−342593号公報(段落番号0010−0014) 表面技術便覧(211〜212頁、日刊工業新聞社)
しかし、NiP系合金めっき皮膜は、緻密な膜構造に起因する優れた耐食性を有し、500Hv以上の高硬度に起因する優れた耐摩耗性を有する反面、低靭性の脆い膜質であり、NiP系合金めっきの膜厚が1μm以下と薄い場合には、曲げ応力などの加重を受けると、容易にクラックを生じて耐食性や耐摩耗性を劣化させるだけでなく、最悪の場合には剥離してしまうという問題がある。また、中間層としてのNiP系合金めっき層が厚い場合には、成形や打ち抜きにおける金型の摩耗が著しく、最悪の場合には加工そのものが不可能となるという実用上の致命的欠点があるために、その応用としては機械的な二次加工の必要がない部品に止まっていた。
また、特許文献4および特許文献8などに開示されている膜構造では、第3のめっき層がAu合金であり且つ第4の層として封孔処理層が設けられていないため、電気接点の高寿命化は達成するためには十分でない。
また、特許文献9には、挿抜性も向上させたい場合に各種の無機または有機系の封孔処理液により封孔処理を施すのがよいことが記載されており、ニッケルを含む中間層と母材との間にCuめっきなどの別のめっきが存在しても問題ないと記載されている。しかし、特許文献9に記載されためっき材料は、電気接点の耐熱性および耐食性を向上させることができるが、高度な耐摩耗性を達成するためには十分でない。
特に、カード用コネクタなどの高寿命接点においては、更なる高寿命化が要求されるとともに貴金属の使用量の削減も含めたコストの低減が課題になっている。
したがって、本発明は、このような従来の問題点に鑑み、AuやPdなどの貴金属の使用量を削減し且つ電気接点の高寿命化が可能な耐摩耗性に優れた金属部材およびそれを用いた電気接点を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、金属基材の表面にNiおよび不可避不純物からなる第1のめっき層が形成され、この第1のめっき層上にNiとPと不可避不純物からなる第2のめっき層が形成され、この第2のめっき層上に金合金および不可避不純物からなる第3のめっき層が形成され、この第3層めっき層上に封孔処理により第4の層が形成された金属部材において、第1のめっき層の厚さ(T1)を0.5μm≦T1≦2.5μmにし、第2のめっき層の厚さ(T2)を0.05μm≦T2≦0.5μmにし、第1のめっき層と第2のめっき層の厚さの和(T1+T2)を0.60≦T1+T2≦2.5μmにし、第3のめっき層の厚さ(T3)を0.05μm以上にすることにより、従来と同等またはそれ以上の耐摩耗性を実現でき且つ高価な貴金属の使用量を少なくして比較的低コストで製造することができる金属部材を提供することができることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明による金属部材は、金属基材の表面にNiおよび不可避不純物からなる第1のめっき層が形成され、この第1のめっき層上にNiとPと不可避不純物からなる第2のめっき層が形成され、この第2のめっき層上に金合金および不可避不純物からなる第3のめっき層が形成され、この第3層めっき層上に封孔処理により第4の層が形成され、第1のめっき層の厚さ(T1)が0.5μm≦T1≦2.5μmであり、第2のめっき層の厚さ(T2)が0.05μm≦T2≦0.5μmであり、第1のめっき層と第2のめっき層の厚さの和(T1+T2)が0.60≦T1+T2≦2.5μmであり、第3のめっき層の厚さ(T3)が0.05μm以上であることを特徴とする。
この金属部材において、第1のめっき層が、スルファミン酸浴または硫黄分を含む第一光沢剤を添加したワット浴により形成されたNiめっき層であるのが好ましい。
また、本発明による電気接点は、上記の金属部材からなる第1の端子と、この第1の端子に接触する第2の端子とからなることを特徴とする。
本発明によれば、AuやPdなどの貴金属の使用量を削減し且つ電気接点の高寿命化が可能な耐摩耗性に優れた金属部材およびそれを用いた電気接点を提供することができる。
図1に示すように、本発明による金属部材の実施の形態では、金属基材10の表面にNiおよび不可避不純物からなる第1のめっき層12が形成され、この第1のめっき層12上にNiとPと不可避不純物からなる第2のめっき層14が形成され、この第2のめっき層14上に金合金および不可避不純物からなる第3のめっき層16が形成され、この第3層めっき層16上に封孔処理により第4の層18が形成され、第1のめっき層12の厚さ(T1)が0.5μm≦T1≦2.5μmであり、第2のめっき層14の厚さ(T2)が0.05μm≦T2≦0.5μmであり、第1のめっき層12と第2のめっき層14の厚さの和(T1+T2)が0.60≦T1+T2≦2.5μmであり、第3のめっき層16の厚さ(T3)が0.05μm以上である。
基材の金属として、導電性やバネ性に優れた銅や、黄銅、燐青銅、ベリリウム銅、洋白などの銅系合金や、ステンレスなどを使用するのが好ましく、これら基材の形状は、板条、打ち抜き条などのいずれの形状でもよい。
この基材の表面に、電気めっきによって、Niおよび不可避不純物からなる第1のめっき層と、NiとPと不可避不純物からなる第2のめっき層と、Au合金および不可避不純物からなる第3のめっき層を形成し、さらに、第3のめっき層上に一般に封孔処理剤と呼ばれる無機または有機系の処理液により封孔処理を施して第4の層を形成する。
Niおよび不可避不純物からなる第1のめっき層は、公知のNiめっき浴を用いて電気めっきにより形成することができる。金属基材と中間めっき層の間に下地めっきを施すために、一般にウッド浴が用いられるが、スルファミン酸ニッケル浴または硫黄分を含む第一光沢剤を添加したワット浴を用いるのが好ましい。なお、本明細書中において、「不可避不純物」とは、めっき浴、原料および基材の金属からの溶出成分に起因する成分をいう。
第1のめっき層であるNiを主成分とするめっき層は、NiP系合金めっきを単独の中間層として用いた場合の欠点を克服するため、および摺動型電気接点の寿命を長くするために、必須のめっき層である。すなわち、第一に、母材金属部材の表面粗さを平滑化することにより、摺動摩耗時における接点部の微少突起同士の加重応力を分散および緩和させて耐摩耗性を向上させ、第二に、母材金属より硬度が高く且つNiP系合金より高い靭性の層を設けることにより、摺動摩耗時におけるNiP系合金膜の脆性破壊を回避するとともに、機械加工性を向上させるために必須のめっき層である。
このような目的のために好ましいめっき膜は、Niを主成分とするめっき膜であり、スルファミン酸浴または硫黄分を含む第一光沢剤を添加したワット浴により形成されたNiめっき層であるのがさらに好ましい。これらの浴によりNiめっきを施すと、皮膜中に硫黄分を含有させることにより電着応力が緩和されるため、厚くめっきした場合でも母材金属との所望の密着性を確保し易く、機械加工する場合の加工性も向上させることができる。また、皮膜の硬度が300〜500Hvと高硬度であっても、5%程度の伸びを維持することができる。一方、Cuめっきは、皮膜の硬度が150Hv程度に過ぎず、第1のめっき層として使用するのは好ましくない。
スルファミン酸ニッケル浴の代表的な浴組成は、300〜600g/Lのスルファミン酸ニッケルと、0〜30g/Lの塩化ニッケルと、30〜40g/Lのホウ酸と、適量の添加剤とからなる。添加剤としては、ピット防止剤や応力緩和剤を使用するのが好ましい。代表的なめっき操作条件は、pH3.5〜4.5、浴温40〜60℃、電流密度2〜40A/dmである。
また、ワット浴の代表的な浴組成は、240〜300g/Lの硫酸ニッケルと、45〜50g/Lの塩化ニッケルと、30〜40g/Lのホウ酸と、適量の添加剤とからなる。添加剤としては、第一光沢剤、第二光沢剤またはピット防止剤を使用するのが好ましい。特に、応力緩和剤として、硫黄分を含む第一光沢剤を添加するのが好ましい。代表的なめっき操作条件は、pH4.0〜4.5、浴温45〜60℃、電流密度2〜8A/dmである。
第1のめっき層の膜厚は0.5〜3.0μmであるのが好ましい。0.5μm未満では耐摩耗性を向上させる効果が不足し、一方、3μmを超えると電気めっき速度が律速になって生産性が低下し、また、硬度が高すぎてプレス加工性が低下する。
NiとPと不可避不純物からなる第2のめっき層は、公知のNiP合金めっき浴、例えば、Brenner浴や低リン浴を用いて電気めっきにより形成することができる。
Brenner浴の代表的な浴組成は、150g/Lの硫酸ニッケルと、45g/Lの塩化ニッケルと、50g/Lの正リン酸と、40g/Lの亜リン酸とからなる。代表的なめっき操作条件は、pH0.5〜1.0、浴温75〜95℃、電流密度5〜40A/dmである。
低リン浴の代表的な浴組成は、150〜200g/Lの硫酸ニッケルと、5〜50g/Lの正リン酸と、20g/Lの塩化ナトリウムと、20g/Lのホウ酸と、20〜30g/Lの次亜リン酸ナトリウムとからなる。代表的なめっき操作条件、pH2.0〜2.5、浴温が70〜80℃、電流密度5〜15A/dmである。
いずれの浴においても、電着量に比例して亜リン酸または次亜リン酸ナトリウムが消費され、電流効率とNiP合金膜中のリン含有率を変動させるため、浴組成の管理に留意する必要がある。NiP合金膜中のリン含有率が1重量%以上であれば、耐摩耗性を向上させる効果があり、一方、NiP合金膜中のリン含有率が15重量%を超えると、電流効率の低下が著しく、生産性の観点から実用的でない。したがって、NiP合金膜中のリン含有率は1〜15重量%であるのが好ましい。
第2のめっき層の膜厚は0.05〜0.3μmであるのが好ましく、第1のめっき層と第2のめっき層の膜厚の和が0.6〜3.1μmであるのが好ましい。これらの下限値未満では耐摩耗性を向上させる効果が不足し、一方、上限値を超えると電気めっき速度が律速になって生産性が低下し、また、硬度が高すぎてプレス加工性が低下する。
第3のめっき層であるAu合金層としては、公知のAu合金めっき膜を用いればよい。金は化学的に安定であり、摺動摩耗におけるメカノケミカルな酸化環境下においても高い導電性を維持できるとともに、延展性に優れていることから凝着防止作用も示すため、耐摩耗性を向上させる効果もあるが、純金めっきは硬度が低すぎるため、凝着摩耗を生じ易く、耐摩耗性に劣る。そのため、第3のめっき層として硬度の高いAu合金めっきを使用するのが好ましく、AuCo、AuNi、AuCu合金などを使用することができる。また、有機キレート剤を添加した酸性浴から得られるAu合金めっきは、皮膜中に形成されるポリマーが潤滑剤として作用して耐摩耗性を向上させることができるので、このようなAu合金めっきを使用するのが好ましい。
第3のめっき層は、高価な金合金を用いるので、コストの削減のために電気接点として用いられる部位のみに部分めっきするのが好ましい。また、二次プレス加工において加工性が問題になる場合には、第1のめっき層と第2のめっき層についても必要な部位だけに部分めっきするか、あるいは差厚めっきを施すことも可能である。換言すれば、金属部材の全ての部位にめっきが施される必要はなく、少なくとも電気接点として用いられる部位にめっきが施されていればよい。
金合金および不可避不純物からなる第3のめっき層は、Co、NiまたはFeを添加した酸性シアン浴からなる金合金浴により形成されるが、AuCo合金めっき浴により形成されるのが好ましい。AuCo合金めっきは、0.1〜0.3重量%のCoと、C、N、K、H、Oを含むポリマーを共析し、このポリマーの存在が潤滑剤として作用することにより、優れた潤滑作用を示すことが知られている。代表的な浴組成は、5〜30g/Lのシアン金カリウムと、80〜150g/Lのクエン酸および/またはクエン酸カリウムと、金属Coとして0.2〜0.5g/LのCo塩と、適量のキレート剤および添加剤とからなる。
第3のめっき層の膜厚は0.05μm以上であるのが好ましい。0.05μm未満では安定した電気特性を得ることができず、耐摩耗性も劣化する。
第4の層は、無機または有機系の封孔処理剤により形成される非金属皮膜であり、第3のめっき層のAu合金めっき皮膜のピンホールを封孔して耐食性を向上させる。また、この弟4の層は、封孔処理剤中に含まれる有機物が潤滑剤としても作用し、摺動時の摩擦抵抗を軽減して電気接点の寿命を向上させる。
この第4の層は、一般に封孔処理剤と呼ばれる無機または有機系の処理液により封孔処理を施すことにより形成される。種々の封孔処理剤(ルブリケーター)が市販されており、その組成として、例えば、脂肪族アミン、芳香族アミン、ジアミン、ポリアミン、アミノアルコール、モノカルボン酸アミド、オキシム、ピリジン、キノリン、アゾ化合物、ヒドロキシカルボン酸、チオ尿酸、チオセミカルバジド、単糖類、イミダゾール、ベンゾイミダゾール、トリアゾール、ベンゾトリアゾール、トリアジン、オキサゾール、オキサジン、チアゾール、ベンゾチアゾール、ナフタレン、あるいはIn、Zn、Cd、Cr、Pd、Rh、Sn、Be、Al、Th、Zrの化合物などが使用されている。封孔処理剤は、摺動電気接点としての使用実績や、実際の摺動試験における実証により選定する必要がある。
工業的には、上記の処理を連続的に行うことができる装置として、巻返し式(reel−to−reel)またはフープ式の連続電気めっき装置を用いるのが好ましい。
なお、図2に示すように、上述した本発明による金属部材の実施の形態を用いて第1の端子100を形成し、この第1の端子100に第2の端子200が接触するようにして、電気接点を構成することができる。この場合、上述した本発明による金属部材の実施の形態において施されためっきが、第1の端子100の全体に施される必要はなく、少なくとも第1の端子100の接点部分にめっきが施されていればよい。
以下、本発明による金属部材の実施例について詳細に説明する。
[実施例1]
金属基材として60mm×60mm×0.3mmの銅板(C1201P)を用意し、この銅板を前処理した後、Niめっき、Cuめっき、Ni−PめっきおよびAuCoめっきを順次施し、その後、封孔処理を施すことにより、金属部材を作製した。以下、これらの処理について説明する。
(前処理)
上記の銅板をアルカリ脱脂液中に浸漬し、電圧5Vを加えて2分間保持して電解脱脂処理を行った後、脱脂液から取り出して純水で水洗いした。その後、5重量%の硫酸水溶液中に30秒間浸漬して酸洗浄処理を行った後、硫酸水溶液から取り出して、再び純水で水洗いした。
(Niめっき)
次に、スルファミン酸ニッケル(Ni含有率100g/L)、塩化ニッケル(Ni含有率15g/L)、ホウ酸(80g/L)および光沢剤((株)ムラタ製のSN1000(10mL/L))からなるめっき浴中に、上記の前処理を行った銅板とNi板とを浸漬し、銅板をカソード、Ni板をアノードとして使用し、浴温を50℃、pHを4.0に保持して、電流密度を5.0A/dmに設定し、膜厚が1.0μmになるように電解時間を調整してNi膜を成膜した。
(Ni−Pめっき)
次に、硫酸ニッケル(200g/L)、
次亜リン酸ナトリウム(20g/L)、 ホウ酸(20g/L)、 塩化ナトリウム(20g/L)およびリン酸(5mL)からなるめっき浴中に、上記のNiめっきを施した銅板とアノードとしてNi板とを浸漬し、浴温を70℃、pHを2.3に保持し、電流密度を6.0A/dmに設定し、膜厚が0.10μmになるように電解時間を調整してNiP合金膜を成膜した。
(AuCoめっき)
次に、シアン金カリウム(Au含有率6g/L)と規定量の添加剤(日本高純度化学(株)製のオーロブライトHS−5、BA、BB)からなるAuCo合金浴をめっき浴として使用し、このめっき浴中に、上記のNi−Pめっきを施した銅板と、アノードとしてPt被覆Ti電極とを浸漬し、浴温を50℃、pHを4.0に保持し、電流密度を0.72A/dmに設定し、膜厚が0.10μmになるように電解時間を調整してAuCo合金膜を成膜した。
(封孔処理)
次に、封孔処理剤(有限会社ケミカル電子製のKD−Au100W)を純水で200mL/Lに希釈し、この希釈液の液温を60℃に保持し、この希釈液中に、上記のAuCoめっきを施した銅板を10秒間浸漬することにより、封孔処理を施した。
上記の処理により金属部材を作製し、これを試験片として、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。以下、これらの評価方法について説明する。
(耐摩耗性の評価)
先端が直径5mmの球状のSUS製圧子を試験片に垂直に置き、圧子の軸線方向に50gの加重を付与した状態で、圧子を試験片の表面の同一軌道上で直線往復運動させて摺動試験を行った。その際、圧子の摺動距離を一定(12.5mm)にし、往復速度を60Hzにした。この摺動試験後の試験片について、超深度顕微鏡により摩耗痕を観察し、摺動方向に対して垂直方向の摩耗痕の幅(以下、「摩耗痕幅」という)を計測した。この摩耗痕幅が狭いほど耐摩耗性に優れている。その結果、本実施例では、1万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.11mm、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.13mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.14mmであった。
(曲げ加工性の評価)
試験片をR=3.0で90度折り曲加工した後、折り曲げた部分について、超深度顕微鏡によりクラックの発生状況を観察し、規定視野内のクラックの幅を測定し、その平均値を平均クラック幅とした。このクラック幅が狭いほど折り曲げ加工性に優れていると判断できる。その結果、本実施例では、平均クラック幅は10.8μmであった。
(見かけ膜硬度の評価)
プレス加工性の代用特性評価方法として、ビッカース法により見かけ膜硬度を測定した。この測定では、圧子が素材まで十分に到達するような荷重を加えることにより、具体的には100gfの荷重を15秒間加えることにより、金属部材全体としての硬度、すなわち、見かけ膜硬度を求めた。この見かけ膜硬度が低いほどプレス加工性に優れていると判断できる。その結果、本実施例では、見かけ膜硬度は102Hvであった。
[実施例2]
Ni膜の厚さを0.5μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.10mm、平均クラック幅は9.8μm、見かけ膜硬度は98Hvであった。
[実施例3]
Ni膜の厚さを0.5μm、NiP膜の厚さを0.20μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.12mm、平均クラック幅は9.1μm、見かけ膜硬度は99Hvであった。
[実施例4]
NiP膜の厚さを0.05μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.13mm、平均クラック幅は9.1μm、見かけ膜硬度は108Hvであった。
[実施例5]
NiP膜の厚さを0.50μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.12mm、平均クラック幅は9.8μm、見かけ膜硬度は106Hvであった。
[実施例6]
AuCo合金膜の厚さを0.05μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.13mmであった。
[実施例7]
AuCo合金膜の厚さを0.30μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.11mmであった。
[実施例8]
Ni膜の厚さを2.0μm、NiP膜の厚さを0.05μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.12mmであった。
[実施例9]
Ni膜の厚さを2.0μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.14mm、平均クラック幅は11.3μm、見かけ膜硬度は108Hvであった。
[実施例10]
Ni膜の厚さを2.0μm、NiP膜の厚さを0.50μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.10mm、平均クラック幅は15.4μm、見かけ膜硬度は116Hvであった。
[実施例11]
第一光沢剤を用いたワット浴によってNiめっきを施した以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。この第一光沢剤を用いたワット浴によるNiめっきでは、硫酸ニッケル(300g/L)、塩化ニッケル(45g/L)、ホウ酸(40g/L)および光沢剤((株)ワールドメタル製のリーベライトSB−71(1.5mL/L)およびSB−72(1.5mL/L))からなるめっき浴中に、実施例1と同様の前処理を行った銅板とNi板とを浸漬し、銅板をカソード、Ni板をアノードとして使用し、浴温を50℃、pHを4.2に保持し、電流密度を5.0A/dmに設定し、膜厚が1.0μmになるように電解時間を調整してNi膜を成膜した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.14mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.18mm、見かけ膜硬度は103Hvであった。
[比較例1]
Ni−Pめっきを施さなかった以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、1万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.15mm、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.88mm、平均クラック幅は7.8μm、見かけ膜硬度は112Hvであった。
[比較例2]
Ni膜の厚さを3.0μmにし、Ni−Pめっきを施さなかった以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、1万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.10mm、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.78mm、平均クラック幅は48.1μm、見かけ膜硬度は133Hvであった。
[比較例3]
Ni−Pめっきの代わりに厚さ0.50μmのPdNi合金めっきを施した以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.15mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.14mm、平均クラック幅は7.3μm、見かけ膜硬度は103Hvであった。
[比較例4]
Ni膜の厚さを3.0μmにし、Ni−Pめっきの代わりに厚さ0.50μmのPdNi合金めっきを施した以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、1万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.11mm、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.15mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.16mm、平均クラック幅は37.1μm、見かけ膜硬度は136Hvであった。
[比較例5]
Niめっきを施さなかった以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.60mm、平均クラック幅は3.9μm、見かけ膜硬度は91Hvであった。
[比較例6]
Niめっきを施さず、NiP層の厚さを0.50μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、1万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.16mm、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.57mm、平均クラック幅は9.4μm、見かけ膜硬度は98Hvであった。
[比較例7]
Niめっきを施さず、NiP層の厚さを1.00μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.19mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.85mm、平均クラック幅は17.3μm、見かけ膜硬度は115Hvであった。
[比較例8]
Niめっきを施さず、NiP層の厚さを2.00μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.15mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.31mm、平均クラック幅は29.1μm、見かけ膜硬度は132Hvであった。
[比較例9]
Niめっきの代わりにCuめっきを施した以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。このCuめっきでは、硫酸銅(250
g/L)、硫酸(40 g/L)および光沢剤(チオ尿素(0.01g/L)およびデキストリン(0.01g/L))からなるめっき浴中に、実施例1と同様の前処理を行った銅板とアノードとして含リン銅板とを浸漬し、浴温を40℃に保持し、電流密度を5.0A/dmに設定し、膜厚が1.0μmになるよう電解時間を調整してCu膜を成膜した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.48mm、見かけ膜硬度は96Hvであった。
[比較例10]
第一光沢剤を用いないウッド浴によってNiめっきを施した以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.61mm、見かけ膜硬度は100Hvであった。
[比較例11]
第一光沢剤を用いないワット浴によってNiめっきを施した以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。この第一光沢剤を用いないワット浴によるNiめっきでは、硫酸ニッケル(300g/L)、塩化ニッケル(45g/L)およびホウ酸(40g/L)からなるめっき浴中に、実施例1と同様の前処理を行った銅板とNi板とを浸漬し、銅板をカソード、Ni板をアノードとして使用し、浴温を50℃、pHを4.2に保持し、電流密度を5.0A/dmに設定し、膜厚が1.0μmになるように電解時間を調整してNi膜を成膜した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.79mm、見かけ膜硬度は99Hvであった。
[比較例12]
Ni膜の厚さを0.5μm、NiP膜の厚さを0.05μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.32mm、見かけ膜硬度は100Hvであった。
[比較例13]
Ni膜の厚さを3.0μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、1万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.10mm、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.10mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.14mm、平均クラック幅は45.1μm、見かけ膜硬度は133Hvであった。
[比較例14]
Ni膜の厚さを3.0μmにし、NiP膜の厚さを0.30μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.11mm、平均クラック幅は44.4μm、見かけ膜硬度は133Hvであった。
[比較例15]
Ni膜の厚さを0.1μmにし、NiP膜の厚さを0.50μmにした以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.27mmであった。
[比較例16]
封孔処理を施さなかった以外は実施例1と同様の方法により金属部材を作製し、耐磨耗性、曲げ加工性および見かけ膜硬度を評価した。その結果、4万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.16mm、20万回の往復運動後の摩擦痕幅は0.21mmであった。
これらの実施例および比較例の結果を表1〜表4に示す。
Figure 0004362599
Figure 0004362599
Figure 0004362599
Figure 0004362599
比較例1および2は、最も汎用的なコネクタ端子用めっき仕様の例であり、基材金属上に、Niめっき/AuCo合金めっき/封孔処理の膜を形成した例である。これらの比較例では、4万回の往復運動後の摩耗痕により基材金属の銅が露出し、耐摩耗性に劣っていた。また、比較例2のようにニッケルめっきを厚くしても、耐摩耗性はほとんど改善されず、見かけ硬度の上昇や、曲げ加工におけるクラック幅の増大という加工性の低下の弊害のみが増長された。
比較例3および4は、耐摩耗性が要求される用途において実用化されている代表的なめっき仕様の例であり、基材金属上に、Niめっき/PdNi合金めっき/AuCo合金めっき/封孔処理の膜を形成した例である。これらの比較例では、20万回の往復運動後でも摩耗の進行が認められず、耐摩耗性に優れていることが確認された。
比較例5〜8は、耐食性および耐熱性の改良を目的としためっき仕様の例であり、基材金属上に、NiP合金めっき/AuCoめっき/封孔処理の膜を形成した例である。NiP合金めっきは、PdNi合金めっきと同等の高硬度を示すため、高い耐摩耗性が予想されたが、同一の膜厚でNi合金めっき(比較例6)とPdNi合金めっき(比較例3)を比較すると、Ni合金めっきでは、PdNi合金めっきよりも耐磨耗性がかなり劣っており、また、曲げ加工におけるクラック幅が著しく増大していた。これは、NiP合金めっき膜が低い靭性の脆い膜質であることに起因すると考えられる。
比較例9〜11と実施例1および11の結果から、弟1のめっき層をNiめっき層とし、スルファミン酸浴や第一光沢剤を添加したワット浴によりNiめっきを施した場合に、耐摩耗性が著しく向上するのがわかる。このように耐摩耗性が向上する原理は明確でないが、めっき浴組成の共通点は、めっき浴組成中に硫黄化合物が含まれることであり、Niめっき膜中に共析した硫黄分が存在することにより膜全体の靭性が向上すると考えられる。
実施例1〜11および比較例12〜15の結果から、実施例1〜11では、耐摩耗性および曲げ加工性に優れていることがわかる。比較例13および14のように第1のめっき層が3μmと厚過ぎる場合は、耐摩耗性を向上させる効果が飽和するとともに、曲げ加工性が悪化する弊害があり、一方、比較例15のように第1のめっき層が0.1μmと薄過ぎる場合は、耐摩耗性が悪化する。したがって、第1のめっき層の厚さ(T1)は、0.5μm≦T1≦2.5μmであるのが好ましい。
図3は、第1のめっき層と第2のめっき層の膜厚の和(T1+T2)と、曲げ加工において発生したクラックの幅の関係を示している。(T1+T2)が2.5μm以下の場合はクラックの発生が抑制されているが、(T1+T2)が2.5μmを超えると急激にクラックが発生していることがわかる。したがって、第1のめっき層と第2のめっき層の膜厚の和(T1+T2)は、0.6μm≦T1+T2≦2.5μmであるのが好ましい。
比較例16は、第4の層として封孔処理を施さなかった例であるが、実施例1と比べて耐摩耗性が悪化しているのがわかる。
本発明による金属部材の実施の形態を概略的に示す断面図である。 本発明による金属部材の実施の形態からなる端子を用いた電気接点を示す概略図である。 第1のめっき層と第2のめっき層の合計膜厚(T1+T2)と、曲げ加工により発生したクラックの幅との関係を示すグラフである。
符号の説明
100 第1の端子
200 第2の端子

Claims (2)

  1. 金属基材の表面にNiおよび不可避不純物からなる第1のめっき層が形成され、この第1のめっき層上にNiとPと不可避不純物からなる第2のめっき層が形成され、この第2のめっき層上に金合金および不可避不純物からなる第3のめっき層が形成され、この第3層めっき層上に封孔処理により第4の層が形成され、第1のめっき層がスルファミン酸浴または硫黄分を含む第一光沢剤を添加したワット浴により形成されたNiめっき層であり、第1のめっき層の厚さ(T1)が0.5μm≦T1≦2.5μmであり、第2のめっき層の厚さ(T2)が0.05μm≦T2≦0.5μmであり、第1のめっき層と第2のめっき層の厚さの和(T1+T2)が0.60≦T1+T2≦2.5μmであり、第3のめっき層の厚さ(T3)が0.05μm以上であることを特徴とする、金属部材。
  2. 請求項に記載の金属部材からなる第1の端子と、この第1の端子に接触する第2の端子とからなることを特徴とする、電気接点。
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