JP4331550B2 - 位相補償回路 - Google Patents
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以下その理由を説明する。電圧安定化回路において、出力端子の直流電圧に近い電源電圧で従来例1及び2の位相補償回路を動作させる場合を想定する。MOSトランジスタである出力段トランジスタM1は、一般に図4や図5に示されるようにソースが電源端子VDDに接続され、ドレインが出力端子に接続される。出力段トランジスタM1は、ソース電圧を入力信号の基準電位とし、入力信号をゲート電圧として入力し、ゲート・ソース間の電圧を増幅して、出力信号を出力端子から出力する。出力端子と接地端子VSSとの間には出力端静電容量CLが有り、ゲートと出力端子の間には静電容量Ccが有るので、ゲートと接地端子との間には直列に接続されたCLとCcからなる静電容量が存在する。このため、ソースが接続された電源電圧が階段状あるいはパルス状に急峻に変化した場合、ゲート・接地端子間の静電容量の効果によって、ゲート電圧は接地端子との電位差を保持するので(電源電圧の変化に応答しないので)、ゲート・ソース間には電源電圧の変化を含む電圧が加わる。出力段トランジスタM1はゲート・ソース間の変化電圧を増幅し、出力端子は電源電圧の変化に応じた出力信号を出力する。
本発明によれば、出力電流が変化することによる伝達コンダクタンスの変化に対しても良好な位相特性を維持する位相補償回路を実現できるという有利な効果が得られる。
本発明の実施の形態1の位相補償回路について、図1を用いて説明する。図1は、本発明の実施の形態1における位相補償回路の回路図である。図1において図4と同じ構成要素については同じ符号を用いて説明を省略する。図1において、実施の形態1の位相補償回路は、静電容量CLを除き、1つの半導体装置に形成されている。半導体装置は静電容量Ccを外部に取り付けても良い。
Z=1/(Rc・Cc) ・・・(1)
Z=K・gm1/Cc ・・・(2)
P=gm1/CL ・・・(3)
Z/P=K・CL/Cc ・・・(4)
従って、出力端容量CLに対して、適切な静電容量Ccと、抵抗値制御素子の適切な抵抗値Rc(gm1に対する適切な比例定数K)とを選択すれば、実施の形態1の位相補償回路は、出力電流が変化することによって伝達コンダクタンスgm1が変化しても、良好な利得・位相特性を維持する。
図2を用いて本発明の実施の形態2の位相補償回路を説明する。図2は、本発明の実施の形態2における位相補償回路の回路図である。図2において図1と同じ構成要素については同じ符号を用いて説明を省略する。図2において、実施の形態2の位相補償回路は、静電容量CLを除き、1つの半導体装置に形成されている。半導体装置は静電容量Ccを外部に取り付けても良い。
図2において、実施の形態2の位相補償回路は、1段目の増幅器A1と、2段目の増幅器M1の入力信号の基準電位となる電圧源端子VDDとの間に、静電容量Ccと、抵抗値制御素子であるMOSトランジスタMc1と、ゲートがドレインに接続されたMOSトランジスタMc2とを直列に接続した構成をしている。MOSトランジスタMc2のソースは電圧源端子VDDに接続され、MOSトランジスタMc2のゲート及びドレインがMOSトランジスタMc1のソースに接続される。MOSトランジスタMc1のドレインは静電容量Ccの1端に、ゲートはMOSトランジスタM1のゲートに接続される。静電容量Ccの他端は、1段目の増幅器A1の出力端子及びMOSトランジスタM1のゲートに接続される。それ以外の点において、実施の形態2の位相補償回路は、実施の形態1と同一である。
図1に示した本発明の実施の形態1では、2段目の増幅器であるMOSトランジスタM1の伝達コンダクタンスをgm1とすると、MOSトランジスタMcのソース・ドレイン間の抵抗値Rcは1/gm1に比例することを説明した。
すなわち、2段目の増幅器MOSトランジスタM1の入出力間の位相特性の極が、設定された周波数より高くなった領域でのみ、1段目の入出力間の位相特性の零点を追従させるようにした位相補償回路である。
図3は、本発明の実施の形態3における位相補償回路の回路図である。図3において図2と同じ構成要素については同じ符号を用いて説明を省略する。実施の形態3の位相補償回路は、静電容量CLを除き、1つの半導体装置に形成されている。半導体装置は静電容量Ccを外部に取り付けても良い。
図3において、実施の形態2の位相補償回路は、1段目の増幅器A1と、2段目の増幅器M1の入力信号の基準電位となる電圧源端子VDDとの間に、静電容量Ccと、抵抗値制御素子であるMOSトランジスタMc2とを直列に接続した構成をしている。MOSトランジスタMc2のソースは電圧源端子VDDに接続され、MOSトランジスタMc2のゲート及びドレインが静電容量Ccの1端及びMOSトランジスタMc1のソースに接続される。MOSトランジスタMc1のドレインは接地され、ゲートはMOSトランジスタM1のゲートに接続される。静電容量Ccの他端は、1段目の増幅器A1の出力端子及びMOSトランジスタM1のゲートに接続される。それ以外の点において、実施の形態2の位相補償回路は、実施の形態1と同一である。
実施の形態3の位相補償回路においては、静電容量CcとMOSトランジスタMc2の抵抗値Rcによって1段目の増幅器の入出力間の位相特性の零点が形成され、前記2段目の増幅器の入出力間の位相特性の極が、設定された周波数より高くなった領域でのみ、前記1段目の増幅器の入出力間の位相特性の零点が追従する。
図3におけるMOSトランジスタMc2のドレイン電流をMOSトランジスタM1のドレイン電流の検出手段として利用しても良い。
VIN 入力端子
VOUT 出力端子
A1 1段目の増幅器
VDD 電圧源端子
IL 出力電流
IB バイアス電流
CL 出力端容量
Cc 位相補償用静電容量
Claims (2)
- 入力信号に基づく電圧を出力する第1の増幅器と、1又は複数の第1の電界効果トランジスタで形成される抵抗値制御素子と第1のコンデンサとの直列体からなり、前記第1の増幅器の出力端子と所定の電源電位との間に挿入された第1のフィルタと、を有する第1の回路と、
第2のコンデンサと、前記第1の増幅器の出力端子と前記所定の電源電位との間の電圧を入力し前記第2のコンデンサを含む負荷に増幅された電圧を出力する第2の電界効果トランジスタで形成された第2の増幅器と、を有し、前記第2の増幅器の伝達コンダクタンスと前記第2のコンデンサとの直列体で第2のフィルタを形成し、前記第2のコンデンサの両端の電圧を出力する第2の回路と、
を有し、
前記第2の電界効果トランジスタのソースと1つの前記第1の電界効果トランジスタのソースとは共に前記所定の電源電位に接続され、前記第2の電界効果トランジスタのゲートと1つの前記第1の電界効果トランジスタのゲートとは相互に接続され、前記抵抗値制御素子は、前記第2の電界効果トランジスタのソース及びゲートにそれぞれ接続された前記第1の電界効果トランジスタのソース及びゲートの電圧に基づいてその伝達コンダクタンスが決定される、
ことを特徴とする位相補償回路。 - 前記抵抗値制御素子は、複数の前記第1の電界効果トランジスタで形成され、前記第2の電界効果トランジスタのソース及びゲートの間に、複数の前記第1の電界効果トランジスタのソース及びゲートが直列に接続されることを特徴とする請求項1に記載の位相補償回路。
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