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JP4278046B2 - ヒータ機構付き静電チャック - Google Patents

ヒータ機構付き静電チャック Download PDF

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JP4278046B2 JP2003379997A JP2003379997A JP4278046B2 JP 4278046 B2 JP4278046 B2 JP 4278046B2 JP 2003379997 A JP2003379997 A JP 2003379997A JP 2003379997 A JP2003379997 A JP 2003379997A JP 4278046 B2 JP4278046 B2 JP 4278046B2
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Description

本発明は、半導体、ガラス、サファイア、セラミックなどのウエハ処理工程において好適に用いられるヒータ機構付き静電チャックに関する。
半導体、ガラス、サファイア、セラミックなどのウエハ処理工程においてウエハを固定するためにヒータ機構付き静電チャックが広く用いられている。近年では基板としてのシリコンウエハやガラスの大口径化が進み、回路の高集積化および微細化に伴ってパターニング時の位置精度がますます重要視されてきており、ヒータ機構付き静電チャックにおいても高性能化が求められている。
従来のヒータ機構付き静電チャックは、下記特許文献1に示されるように、絶縁基材の表面に静電チャック層、裏面にヒータ層を設け、これらをPBNなどの絶縁被覆層で被覆して、プレート形状を有するものとして形成されている。
特開平7−307377号公報
このようなヒータ機構付静電チャック1を用いたウエハ支持装置の概略構成が図3に示されており、ヒータ機構付き静電チャック1の表面(チャック面)にシリコンウエハ等の対象物2を載置して静電チャックに電圧を印加することにより発生するクーロン力によってウエハ2をチャックする。
また、静電チャック1の裏面側に設けられるヒータ層に対して別の回路を介して通電することにより静電チャック層を加熱し、適正なウエハ処理ができる最適温度にウエハ2を昇温させる必要があるが、静電チャック1には微小な反りがあるため、これを防止するために、静電チャック1を金属製(銅、アルミなど)の反り矯正用固定板3にボルト4,4などを用いて機械的に固定している。
ところで、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition=有機金属気相成長法)やイオン注入などによるウエハ処理工程では800℃を超えるような高温域での処理が必要となるため、ウエハ2を静電チャック1に固定した状態で、ウエハ2をこの温度域まで昇温させなければならない。
しかしながら、上記特許文献1に示されるようなプレート形状の静電チャック1を金属製反り矯正用固定板3に機械的に固定したウエハ支持装置によると、静電チャック1のヒータ面と固定板3とが密着しているため、ヒータ層に与えられた熱量の相当部分が固定板3に移動してしまい、ウエハ2に対する熱伝達を効率的に行うことができない。このため、ウエハを800℃もの高温まで昇温させることが実際上不可能であり、このような高温域での処理を要するウエハ処理を行うことができなかった。
また、仮に静電チャック1を800℃またはそれ以上の温度域に昇温させることができたとしても、このような高温域になるとボルト4,4と静電チャック1との熱膨張差によりクランプ力が低下し、静電チャック1の反りを矯正することができなくなる。
さらに、上記特許文献1に示されるようなプレート形状の静電チャック1が800℃またはそれ以上のような高温域になると、チャック電極に給電するための端子部もほぼ同じような高温となり、電極を構成する金属と静電チャックとの熱膨張差により接触不良の原因となる。
また、上記特許文献1に示されるようなプレート形状の静電チャック1を金属製反り矯正用固定板3に機械的に固定したウエハ支持装置によると、図1から明らかなように、静電チャック1のチャック面(表面)の有効面積がボルト4,4によって減少し、なおかつ、静電チャック外周部から静電チャック周囲への熱移動により、ウエハ2の面内温度分布が不均一になる傾向がある。
さらに、ウエハ処理工程において発生するパーティクルがウエハ2に付着することを防止または極小化するとともに原料ガスを効率的に使用するための手法として、フェイスダウン方式(ウエハを下向きに取り付ける)が近年注目されているが、上記特許文献1に示されるようなプレート形状の静電チャック1を金属製反り矯正用固定板3に機械的に固定したウエア支持装置では、800℃またはそれ以上の温度域においてフェイスダウン方式を採用することができない。
したがって、本発明が解決しようとする課題は、静電チャックの形状を従来のプレート形状から変更することによって機械的クランプの必要性をなくし、しかも、ウエハを800℃またはそれ以上の高温域まで昇温させることができ、このような高温域での処理を要するMOCVDやイオン注入などによるウエハ処理を行うことを可能にするための新規な構成のヒータ機構付き静電チャックを提供することにある。
本発明が解決しようとする別の課題は、ウエハ吸着面積を有効に利用することができ、また、チャック本体の側面部上端にヒータ層を設けることによりチャック本体から周囲に移動する熱を補い、ウエハの面内温度分布をより均一にすることができる新規な構成のヒータ機構付き静電チャックを提供することにある。
本発明が解決しようとするさらに別の課題は、フェイスダウン方式にも適合可能な新規な構成のヒータ機構付き静電チャックを提供することにある。
これらの課題を解決するための手段として、請求項1にかかる本発明は、絶縁基材を用いて平板部と該平板部の周囲から下方に延長する側面部とを有するカップ形状のチャック本体を一体的に形成し、このチャック本体の平板部の表面側にチャック電極を設けるとともにその表面側および側面部外面側上端部にヒータ層を設け、チャック電極および各ヒータ層に個別に電力を供給するための端子をチャック本体の側面部の下端近辺に設け、且つ、チャック本体の側面部の内側に熱反射板を設けて平板部表面側のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止するとともにチャック本体の外側にリング状の熱反射板を設けて側面部外面側上端部のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止したことを特徴とするヒータ機構付き静電チャックである。
また、請求項2にかかる本発明は、絶縁基材を用いて平板部と該平板部の周囲から下方に延長する側面部と該側面部の下端から外方に延長する足部とを有するハット形状のチャック本体を一体的に形成し、このチャック本体の平板部の表面側にチャック電極を設けるとともにその表面側および側面部外面側上端部にヒータ層を設け、チャック電極および各ヒータ層に個別に電力を供給するための端子をチャック本体の足部に設け、且つ、チャック本体の側面部の内側に熱反射板を設けて平板部表面側のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止するとともにチャック本体の外側にリング状の熱反射板を設けて側面部外面側上端部のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止したことを特徴とするヒータ機構付き静電チャックである。


絶縁基材の好適な一例は、グラファイトの周囲をPBN(熱分解窒化ホウ素)で被覆してなる構造を有する。
本発明によるヒータ機構付き静電チャックによれば、略カップ形状または略ハット形状に形成されたチャック本体の平板部の表面側にチャック電極を設けるとともにその裏面側および側面部上端にヒータ層を設けたので、ヒータ層を800℃またはそれ以上の高温に加熱でき、反りが生じない。このため、従来技術において必要とされていた反り矯正用の固定板が不要となり、装置の小型化およびコストダウンを図ることができる。
また、この静電チャックは、略カップ形状または略ハット形状を有するチャック本体の側面部下端または足部にて所定ステージ上に載置固定して使用されるが、ヒータ層はステージに密接しておらず、しかも略カップ形状または略ハット形状のチャック本体の内部空間を利用して熱反射板が設けられているので、ヒータ層の高温をステージに逃がすことなく効率的にウエハに熱伝達させることができる。したがって、従来は実際上困難であった800℃またはそれ以上の高温にウエハを加熱することが可能となり、しかも、急速且つ均一に加熱することができる。
また、チャック電極に電力を供給するための端子がヒータ層から離れた下方位置に設けられるため、ヒータ層を高温に加熱しても電力供給端子はそれ程昇温することがなく、端子部の劣化を低減することができ、金属製電極の熱膨張による接触不良を起こすことがない。
また、ステージ上への固定は略カップ形状または略ハット形状のチャック本体の側面下端部または足部にて行うことができるので、チャック面の有効面積を犠牲にすることなく、ウエハの面内温度分布を均一にすることができる。
また、本発明のヒータ機構付き静電チャックは、ウエハ処理工程において発生するパーティクルがウエハに付着することを防止または極小化するとともに原料ガスを効率的に使用するためのフェイスダウン方式にも適合する。
図1には本発明の一実施形態によるヒータ機構付き静電チャック10の概略構成が示されている。この実施形態による静電チャック10は、略カップ形状に成形したグラファイト11の周囲をPBN絶縁層12で被覆してチャック本体13とし、このチャック本体13の平板部13aの表面側にチャック電極14を設けるとともにその裏面側および側面部13bの外面上端部に各々ヒータ層15,19を設け、チャック電極14およびヒータ層15,19の表面を被覆するオーバーコート層17を形成し、チャック電極14およびヒータ層15,19に電力を供給するためのPG端子16をチャック本体13の側面部13bの下端近辺に露出させ、さらに、チャック本体13の側面部13bの内側および外側にそれぞれ任意数の熱反射板18a,18bを設けて構成されている。なお、図においてはチャック電極14およびヒータ層15,19に電力を供給するためのPG端子を一括して符号16で示しているが、チャック電極14に電力を供給するPG端子とヒータ層15に電力を供給するPG端子とヒータ層19に電力を供給するPG端子はそれぞれ個別に設けられる。チャック本体13をPBN基材単体で形成してもよい。
グラファイト11の周囲がPBN絶縁層12で被覆された絶縁基材を形成するには、たとえば、市販の黒鉛ブロックを機械加工にて厚さ3〜20mm程度の略カップ形状のグラファイト11とした後、CVDを用いて、その全表面に100〜200μm程度のPBN絶縁層12を被覆形成することが好ましい。PBN基材単体でチャック本体13を形成する場合は、厚さ0.5〜2mm程度のPBNを用いることが好ましい。
この絶縁基材を得た後、このチャック本体13の平板部13aの表面にCVD法により50μm程度のPG(熱分解グラファイト)層を形成し、チャック電極14となる所定パターンの部分を残して他の部分を除去することによって、平板部13aの表面に所定パターンのチャック電極14を形成する。平板部13aの裏面および側面部13bの外面上端部にも同様にしてヒータ層15,19を形成する。
電力供給用のPG端子16はカップ形状のチャック本体13の側面部13bの下端近辺に設けられ、たとえば図示のように側面部13bの下端外側に設けられる。このようにすることでヒータ層15,19との距離が側面部13bによって隔てられ、ヒータ層15,19を800℃またはそれ以上の高温に加熱した場合であってもPG端子16への熱伝導が最小限に抑制され、PG端子16をそれほど昇温させずに済むので、PG端子16の劣化および金属製電極の熱膨張による接触不良を起こすことがない。PG端子16はPG層にて形成されており、チャック電極14およびヒータ層15,19の形成と同時に形成することができ、後述するオーバーコート層17を被覆形成した後、PG端子16を覆う部分のオーバーコート層を除去することによりPG端子16を露出させる。
熱反射板18aは、PBN、高融点金属(モリブデンなど)またはステンレススチールなどの材料を用いて円板状薄板として形成され、ヒータ層15が高温に加熱されたときにその熱が下方に逃げることを防止し、実質的にすべての熱を静電チャック10上に載置されるウエハ21に伝達するために用いられる。チャック本体13はカップ形状に成形されているので、側面部13bによって閉塞された内部空間を利用して任意枚数の熱反射板18を設置することが容易である。また、熱反射板18bは、PBN、高融点金属(モリブデンなど)またはステンレススチールなどの材料を用いて静電チャック10の外径寸法よりも若干大きな開口径を有するリング状薄板として形成され、ヒータ層19が高温に加熱されたときにその熱が下方に逃げることを防止し、実質的にすべての熱を静電チャック10上に載置されるウエハ21に伝達するために用いられる。これら熱反射板18a,18bの設置方法としては、たとえば高融点金属製ボルト、セラミックス製ボルトなどでステージ(図示せず)に固定する方法を採用することができる。
チャック電極14およびヒータ層15,19を被覆するように設けられるオーバーコート層17は絶縁層12と同様のPBNで形成されるが、10〜1013Ω・cm程度の電気抵抗率を有するものとすると、チャック電極14とウエハ21との間に微弱電流が流れ、ジョンソンラーベック効果によりチャック吸引力を大幅に増加させることができる。CVDによるPBNは常温での電気抵抗率は1015Ω・cm程度と高く、クーロン力のみでの弱いチャック吸引力であるが、800℃またはそれ以上の高温では10〜1012Ω・cm程度の電気抵抗率となりジョンソンラーベック効果によりチャック吸引力を大幅に増加させることができる。
図2には本発明の他の実施形態によるヒータ機構付き静電チャック10‘の概略構成が示されている。この実施形態による静電チャック10’は、図1に示す実施形態の静電チャック10とほぼ同様の構成を有しているが、図1のチャック本体13が平板部13aと側面部13bとからなる略カップ形状を有するものとされているのに対し、この実施形態のチャック本体13‘は、さらに側面部13bの下端から外方に延長する足部13cとを有して略ハット形状に成形されている点で相違している。また、足部13cの下面にPG端子16を設けることによりPG端子部における放電防止対策が容易となっている点、およびPG端子の代わりにポスト端子20(仮想線で示す)を取り付けることが可能であってこれにより端子部の劣化や放電防止対策がさらに容易となる点が相違している。これらの相違点以外は図1に示す実施形態の静電チャックと同様であり、その作用も同様である。
なお、図2の実施形態による静電チャック10‘は、チャック本体13‘に足部13cが設けられているので、この足部13cにボルトなど(図示せず)を打ち込むことによって所定のステージ(図示せず)に固定することが容易である。
本発明の一実施形態によるヒータ機構付き静電チャックの概略構成図である。 本発明の他の実施形態によるヒータ機構付き静電チャックの概略構成図である。 従来技術によるヒータ機構付静電チャックを用いたウエハ支持装置の概略構成図である。
符号の説明
10,10‘ ヒータ機構付き静電チャック
11 グラファイト
12 PBN絶縁層
13 略カップ形状のチャック本体
13‘ 略ハット形状のチャック本体
13a 平板部
13b 側面部
13c 足部
14 チャック電極
15 ヒータ層
16 電力供給PG端子
17 オーバーコート層
18 熱反射板
19 ヒータ層
20 ポスト端子
21 ウエハ

Claims (2)

  1. 絶縁基材を用いて平板部と該平板部の周囲から下方に延長する側面部とを有するカップ形状のチャック本体を一体的に形成し、このチャック本体の平板部の表面側にチャック電極を設けるとともにその表面側および側面部外面側上端部にヒータ層を設け、チャック電極および各ヒータ層に個別に電力を供給するための端子をチャック本体の側面部の下端近辺に設け、且つ、チャック本体の側面部の内側に熱反射板を設けて平板部表面側のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止するとともにチャック本体の外側にリング状の熱反射板を設けて側面部外面側上端部のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止したことを特徴とするヒータ機構付き静電チャック。
  2. 絶縁基材を用いて平板部と該平板部の周囲から下方に延長する側面部と該側面部の下端から外方に延長する足部とを有するハット形状のチャック本体を一体的に形成し、このチャック本体の平板部の表面側にチャック電極を設けるとともにその表面側および側面部外面側上端部にヒータ層を設け、チャック電極および各ヒータ層に個別に電力を供給するための端子をチャック本体の足部に設け、且つ、チャック本体の側面部の内側に熱反射板を設けて平板部表面側のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止するとともにチャック本体の外側にリング状の熱反射板を設けて側面部外面側上端部のヒータ層の熱が下方に逃げることを防止したことを特徴とするヒータ機構付き静電チャック。
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DE112004001044.6T DE112004001044B4 (de) 2003-11-10 2004-11-09 Elektrostatische Aufspannvorrichtung mit Heizvorrichtung
CNB2004800141080A CN100444349C (zh) 2003-11-10 2004-11-09 包括加热器装置的静电卡盘
KR1020057022861A KR20060097562A (ko) 2003-11-10 2004-11-09 정전 척
PCT/US2004/037416 WO2005048341A1 (en) 2003-11-10 2004-11-09 Electrostatic chuck including a heater mechanism
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US10/985,718 US7397648B2 (en) 2003-11-10 2004-11-10 Electrostatic chuck including a heater mechanism

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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3945527B2 (ja) * 2004-11-30 2007-07-18 住友電気工業株式会社 ウェハプローバ用ウェハ保持体およびそれを搭載したウェハプローバ
JP2007042958A (ja) * 2005-08-05 2007-02-15 Sumitomo Electric Ind Ltd ウェハプローバ用ウェハ保持体およびそれを搭載したウェハプローバ
JP4524268B2 (ja) * 2006-04-28 2010-08-11 信越化学工業株式会社 静電チャック機能付きセラミックヒーター及びその製造方法
TWI359473B (en) * 2006-07-19 2012-03-01 Ngk Insulators Ltd Electrostatic chuck heater
JP2008060245A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Momentive Performance Materials Japan Kk 基板加熱装置
US7772098B2 (en) 2007-03-29 2010-08-10 Panasonic Corporation Method for manufacturing semiconductor device
US7992877B2 (en) * 2007-09-06 2011-08-09 Kla-Tencor Corporation Non contact substrate chuck
KR101867646B1 (ko) 2011-06-30 2018-06-14 모멘티브 파포만스 마테리아루즈 쟈판 고도가이샤 추적성이 표시된 제품 및 제품의 추적성을 표시하는 방법
JP5679226B2 (ja) * 2011-06-30 2015-03-04 モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 トレーサビリティが表示されたpbnオーバーコート製品およびpbn製品に対するトレーサビリティ表示方法
CN110085546B (zh) * 2013-08-05 2023-05-16 应用材料公司 用于薄基板搬运的静电载体
JP6441927B2 (ja) * 2013-08-06 2018-12-19 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 局部的に加熱されるマルチゾーン式の基板支持体
WO2015153756A1 (en) * 2014-04-01 2015-10-08 Entegris, Inc. Heated electrostatic chuck
US10008404B2 (en) 2014-10-17 2018-06-26 Applied Materials, Inc. Electrostatic chuck assembly for high temperature processes
US10008399B2 (en) 2015-05-19 2018-06-26 Applied Materials, Inc. Electrostatic puck assembly with metal bonded backing plate for high temperature processes
CN107113921B (zh) * 2015-08-20 2020-09-11 日本碍子株式会社 静电卡盘加热器
US10249526B2 (en) * 2016-03-04 2019-04-02 Applied Materials, Inc. Substrate support assembly for high temperature processes
US10957572B2 (en) 2018-05-02 2021-03-23 Applied Materials, Inc. Multi-zone gasket for substrate support assembly
CN110911332B (zh) * 2018-09-14 2022-11-25 北京北方华创微电子装备有限公司 静电卡盘
CN113853513B (zh) * 2019-05-21 2024-12-24 东华隆株式会社 温度调节单元
KR20220059742A (ko) 2020-11-03 2022-05-10 삼성전자주식회사 온도 조절 부재를 포함하는 반도체 공정 설비
CN114496886A (zh) * 2020-11-13 2022-05-13 新光电气工业株式会社 基板固定装置、静电吸盘和静电吸盘的制造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313048A (en) * 1992-07-07 1994-05-17 Morris Berg High temperature research furnace with V-Shaped Guide Member
JPH07297268A (ja) * 1993-12-27 1995-11-10 Shin Etsu Chem Co Ltd 静電チャック付セラミックスヒーター
JPH07307377A (ja) * 1993-12-27 1995-11-21 Shin Etsu Chem Co Ltd 静電チャック付セラミックスヒーター
JP2720381B2 (ja) 1995-10-03 1998-03-04 アドバンス・セラミックス・インターナショナル コーポレーション 任意の電気抵抗率を有する熱分解窒化ホウ素成形体の製造方法
US5796074A (en) * 1995-11-28 1998-08-18 Applied Materials, Inc. Wafer heater assembly
JP4641569B2 (ja) * 1998-07-24 2011-03-02 日本碍子株式会社 窒化アルミニウム質焼結体、耐蝕性部材、金属埋設および半導体保持装置
JP4505169B2 (ja) * 1999-09-29 2010-07-21 東京エレクトロン株式会社 多重領域抵抗ヒータ
EP1588404A2 (en) 2003-01-17 2005-10-26 General Electric Company Wafer handling apparatus

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