JP4255250B2 - エレクトロルミネッセント素子 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 109
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 93
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 93
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 66
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 61
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 61
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 56
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 27
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 26
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 21
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 16
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 14
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims description 14
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 11
- 229910052809 inorganic oxide Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 5
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 claims description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical group [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 451
- 239000010408 film Substances 0.000 description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 description 37
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 21
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 20
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 18
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 16
- -1 polyphenylene vinylene Polymers 0.000 description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 12
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 11
- STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C=12C=CC3=C(C=4C=CC=CC=4)C=C(C)N=C3C2=NC(C)=CC=1C1=CC=CC=C1 STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 8
- 239000002585 base Substances 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 7
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 6
- 229910052774 Proactinium Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 4
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 4
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 4
- 229910020923 Sn-O Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 4
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 4
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 4
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 3
- 229910020286 SiOxNy Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910007541 Zn O Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 229910001618 alkaline earth metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 3
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 3
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 3
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 3
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 3
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 3
- CJVYYDCBKKKIPD-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n,2-n,2-n-tetramethylbenzene-1,2-diamine Chemical compound CN(C)C1=CC=CC=C1N(C)C CJVYYDCBKKKIPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VQGHOUODWALEFC-UHFFFAOYSA-N 2-phenylpyridine Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=N1 VQGHOUODWALEFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 description 2
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910007604 Zn—Sn—O Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011365 complex material Substances 0.000 description 2
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 2
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- WCPAKWJPBJAGKN-UHFFFAOYSA-N oxadiazole Chemical class C1=CON=N1 WCPAKWJPBJAGKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- NLDYACGHTUPAQU-UHFFFAOYSA-N tetracyanoethylene Chemical group N#CC(C#N)=C(C#N)C#N NLDYACGHTUPAQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 1,2-bis[(e)-2-phenylethenyl]benzene Chemical class C=1C=CC=CC=1/C=C/C1=CC=CC=C1\C=C\C1=CC=CC=C1 NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 0.000 description 1
- SHXCHSNZIGEBFL-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzothiazole;zinc Chemical compound [Zn].C1=CC=C2SC=NC2=C1 SHXCHSNZIGEBFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RETDKIXQRINZEF-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzoxazole;zinc Chemical compound [Zn].C1=CC=C2OC=NC2=C1 RETDKIXQRINZEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 1,4,4-triphenylbuta-1,3-dienylbenzene Chemical class C=1C=CC=CC=1C(C=1C=CC=CC=1)=CC=C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001637 1-naphthyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C(*)=C([H])C([H])=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 1
- UIWLITBBFICQKW-UHFFFAOYSA-N 1h-benzo[h]quinolin-2-one Chemical compound C1=CC=C2C3=NC(O)=CC=C3C=CC2=C1 UIWLITBBFICQKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YMMGRPLNZPTZBS-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydrothieno[2,3-b][1,4]dioxine Chemical compound O1CCOC2=C1C=CS2 YMMGRPLNZPTZBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DWYHDSLIWMUSOO-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1h-benzimidazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NC2=CC=CC=C2N1 DWYHDSLIWMUSOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910016036 BaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- UXYHZIYEDDINQH-UHFFFAOYSA-N C1=CNC2=C3C=NN=C3C=CC2=C1 Chemical class C1=CNC2=C3C=NN=C3C=CC2=C1 UXYHZIYEDDINQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical group C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical group C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021431 alpha silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 description 1
- HFXKQSZZZPGLKQ-UHFFFAOYSA-N cyclopentamine Chemical class CNC(C)CC1CCCC1 HFXKQSZZZPGLKQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 229920006351 engineering plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- JVZRCNQLWOELDU-UHFFFAOYSA-N gamma-Phenylpyridine Natural products C1=CC=CC=C1C1=CC=NC=C1 JVZRCNQLWOELDU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- ADUFDSSCDCLUFT-UHFFFAOYSA-N n-[4-(4-aminophenyl)phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1C1=CC=C(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 ADUFDSSCDCLUFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000004866 oxadiazoles Chemical class 0.000 description 1
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGBWPZSGHAXYGK-UHFFFAOYSA-N perinone Chemical class C12=NC3=CC=CC=C3N2C(=O)C2=CC=C3C4=C2C1=CC=C4C(=O)N1C2=CC=CC=C2N=C13 DGBWPZSGHAXYGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920000548 poly(silane) polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 150000004032 porphyrins Chemical class 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 150000003219 pyrazolines Chemical class 0.000 description 1
- 125000002943 quinolinyl group Chemical group N1=C(C=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 150000003967 siloles Chemical class 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- VLLMWSRANPNYQX-UHFFFAOYSA-N thiadiazole Chemical compound C1=CSN=N1.C1=CSN=N1 VLLMWSRANPNYQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 150000001651 triphenylamine derivatives Chemical class 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
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- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光効率が良好なエレクトロルミネッセント(以下、エレクトロルミネッセントをELと略す場合がある。)素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電界発光を利用したEL素子は、自己発光のため視認性が高く、かつ完全固体素子であるため、耐衝撃性に優れるなどの特徴を有することから、各種表示装置における発光素子としての利用が注目されている。
【0003】
このようなEL素子には、発光材料として無機化合物を用いる無機EL素子と、有機化合物を用いる有機EL素子とがある。このうち、有機EL素子は、駆動電圧を大幅に低くした小型化が容易であるため、次世代の表示素子としてその実用化研究が積極的になされている。有機EL素子の構成は、陽極/発光層/陰極の積層を基本とし、ガラス板等を用いた基材上に、透明陽極を形成する構成が通常採用されている。この場合、発光は基材側に取り出される。
【0004】
このようなEL素子としては、近年、陰極を透明にして陰極側から発光を取り出す試みがなされている。このように陰極側から発光を取り出す場合には、陰極と共に陽極も透明とすることにより、全体として透明なEL素子を製造することが可能となる。このような透明なEL素子は、背景色として任意な色が採用でき、発光時以外もカラフルなディスプレイとすることができる。また、背景色として黒を採用した場合には、発光時のコントラストを向上させることができるといった利点を有する。さらに、カラーフィルターや色変換層を用いた場合には、EL素子上にこれらを置くことができることから、EL素子の製造段階において、カラーフィルターや色変換層を考慮しなくてもよいため、例えば、陽極を形成する際には、基材温度を高くすることができ、陽極の抵抗値を下げることができるといった利点も有する。
【0005】
このような利点を有するEL素子の例としては、特開平10−162959号公報に、陰極を膜厚が非常に薄い電子注入金属層と非晶質透明導電層で形成することにより、透明陰極側から発光を取り出す技術が開示されている。さらに、陽極には仕事関数4.8eV以上の導電性を示す金属又は透明導電膜、あるいはその組合せを用いることが開示されており、好適な金属として、Au、Pt、Ni、Pdが挙げられている。しかしながら、これらの金属は、陽極金属上に成膜される有機EL層との密着性が良好ではないため、ダークスポット(非発光点)や不均一な発光を発生するおそれがある。そこで、このような問題点を解決する手段として、陽極金属に用いられる金属を、クロム、モリブテン、タングステン、タンタル等の仕事関数4.8eV未満の金属を用いた方法が特開2001−43980号公報に開示されている。このように4.8eVの金属を用いることにより、ダークスポットの発生を抑えることが可能となったが、その一方で、同じ印可電圧における電流密度の低下、発光効率の低下といった新たな不都合を発生させることとなった。
【0006】
さらに、このような問題点を解決する手段として、陽極金属上に修飾電極と称される透明導電膜を積層する方法が提案されているが、この方法においても、透明導電膜による光の損失が大きく光の取り出し効率が劣るといった問題点を有している。
【0007】
そこで、透明陰極側から発光を取り出すEL素子においては、これらすべての問題点を解決する手段の開発が望まれている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、金属電極層の金属の種類に関わらず、ダークスポット等の不都合が生じることなく、光の取り出し効率を向上させることが可能なEL素子を提供することを主目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、請求項1に記載するように、金属電極層と、上記金属電極層上に形成された発光層を含む有機EL層と、上記有機EL層上に形成された透明電極層とを少なくとも有するEL素子において、上記金属電極層上に、電荷注入層としての機能を有し、光の損失を抑制する光導波防止層が設けられていることを特徴とするEL素子を提供する。
【0010】
本発明においては、上述したように電荷注入層としての機能を有し、かつ、光の導波を抑制する機能も保持する光導波防止層が金属電極層上に設けられているので、金属電極層に用いる金属の種類に関わらず、ダークスポット等を生じさせることが少なく、さらに、光の導波を抑制することから光の損失を抑えることができるため、良好な光の取り出し効率を有するEL素子とすることができるのである。
【0011】
上記請求項1に記載された発明においては、請求項2に記載するように、上記光導波防止層は、その表面粗さが、10nm〜30nmの範囲内であることが好ましい。このように光導波防止層の表面を、上記範囲内で粗く形成することにより、有機EL層内で発生する光が、光導波防止層内を導波する際に、光導波防止層の表面付近の粗さにより乱反射され、光の導波を抑制することができるのである。これにより光の導波による損失を抑えることができるため、光の取り出し効率を向上させることができるのである。
【0012】
上記請求項2に記載された発明においては、請求項3に記載するように、上記光導波防止層の平均膜厚は0.1nm〜30nmの範囲内であることが好ましい。上記範囲内の平均膜厚を有する光導波防止層であれば、電荷注入層としての機能を十分に発揮することができるからである。
【0015】
上記請求項1から請求項3までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項4に記載するように、上記光導波防止層に用いられる材料は、導電性を有する有機材料を用いることができる。また、請求項5に記載するように、上記光導波防止層が、インジウムを含む無機酸化物で形成されているものであってもよい。さらに、この場合請求項6に記載するように、ITOであることが好ましい。ITOは光の透過率が高く、かつ、低抵抗であるため、EL素子の駆動電圧を低電圧化することができ、さらに、発光効率を向上させることができるからである。
【0016】
上記請求項1から請求項6までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項7に記載するように、上記金属電極層の光の反射率は、可視領域380〜780nmの範囲内で、30%以上であることが好ましい。金属電極層の光の反射率を上記範囲とすることにより、発光層内で発生した光が金属電極層で反射され、透明電極層側から効率良く光を取り出すことができるからである。
【0017】
上記請求項1から請求項7までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項8に記載するように、上記金属電極層の膜厚は、40nm〜500nmの範囲内であることが好ましい。上記範囲よりも薄い膜厚とすると、光が金属電極層を透過するおそれがあり、一方、上記範囲よりも厚い膜厚とすると、EL素子としての平滑性が損なわれ、また透明電極層等に断線といった不都合が生じる可能性があるからである。
【0018】
上記請求項1から請求項8までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項9に記載するように、上記透明電極層の光の透過率は、可視領域380〜780nmの範囲内で、50%以上であることが好ましい。上記範囲内の光の透過率を有する透明電極層であれば、発光層内で発生した光を透明電極層側から効率良く取り出すことができるからである。
【0019】
上記請求項1から請求項9までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項10に記載するように、上記金属電極層は陽極であることが好ましい。金属電極層を陽極とし、透明電極層を陰極とする構成が、仕事関数等の関係上好ましい態様であるからである。
【0020】
上記請求項10に記載された発明においては、請求項11に記載するように、上記金属電極層の仕事関数値WFaと光導波防止層の仕事関数値WFbの関係において、仕事関数値がWFa<WFbとなることが好ましい。光導波防止層の仕事関数値を金属電極層のそれよりも高くすることにより、発光層内への正孔の注入が安定化し、発光効率を向上させることができるからである。
【0021】
上記請求項10または請求項11に記載された発明においては、請求項12に記載するように、上記透明電極層の仕事関数値が5.0eV以下であることが好ましい。上記範囲内の仕事関数値を有する透明電極層を陰極として用いることにより、発光層内への電子の注入が安定化し、発光効率を向上させることができるからである。
【0022】
上記請求項1から請求項12までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項13に記載するように、上記金属電極層および光導波防止層からなる金属電極層部のシート抵抗が1Ω/□以下であることが好ましい。金属電極層部のシート抵抗を上記範囲内にすることにより、抵抗を低下させることができるため、駆動電圧を低電圧化することができ、発光効率を向上させることができるからである。
【0023】
上記請求項1から請求項13までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項14に記載するように、上記透明電極層上に屈折率1.7以下であり、可視領域380nm〜780nmにおける光透過率が70%以上である低屈折率層を積層することが好ましい。透明電極層上に設けられた低屈折率層が、上述した範囲の屈折率および光の透過率を有することにより、有機EL層や透明電極層等の屈折率の違いを要因とするEL素子内への光の閉じこもりを防止することができ、光の取り出し効率を向上させることができるからである。
【0024】
上記請求項1から請求項14までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項15に記載するように、上記透明電極層上に酸化珪素および窒化珪素の組合せからなり、水蒸気および酸素の影響から上記有機EL層を保護するバリア層を積層することが好ましい。有機EL層等は、水蒸気および酸素に曝されることにより劣化が促進されるおそれがあるが、このような特性を有するバリア層を設けることにより、有機EL層をそれらの影響から保護することができ、素子の長寿命化が可能であるからである。
【0025】
上記請求項1から請求項15までのいずれかの請求項に記載された発明においては、請求項16に記載するように、上記金属電極層は、基材上に形成されていることが好ましい。基材上に金属電極層等を形成することにより、EL素子の強度を向上させることができるからである。
【0026】
本発明においてはまた、請求項17に記載するように、陽極である金属電極層を形成する工程と、上記金属電極層上に、インジウムを含む無機酸化物を用い、その表面粗さが10nm〜30nmの範囲内となるように光導波防止層を形成する工程と、上記光導波防止層を紫外線オゾン下または酸素プラズマ下に曝し、光導波防止層の仕事関数値を0.2eV以上変化させるプラズマ処理を施す工程と、上記プラズマ処理後の光導波防止層上に有機EL層を形成する工程と、上記有機EL層上に陰極である透明電極層を形成する工程とを少なくとも有することを特徴とするEL素子の製造方法を提供する。
【0027】
本発明においては、上述するように、光導波防止層の表面を上記範囲内で粗く形成することにより、光導波防止層内を光が導波することによる光の損失を抑制することができると共に、光導波防止層にプラズマ処理を施すことにより、陽極である金属電極層の仕事関数値と好適な差を形成することができるため、発光層への正孔の注入が安定化し、発光効率を向上させることができるといった利点を有する。
【0028】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のEL素子およびその製造方法について説明する。まず、EL素子について説明する。
【0029】
I.EL素子
本発明のEL素子は、金属電極層と、上記金属電極層上に形成された有機EL層と、上記有機EL層上に形成された透明電極層とを少なくとも有するEL素子において、上記金属電極層上に、電荷注入層としての機能を有し、光の損失を抑制する光導波防止層が設けられていることを特徴とするものである。
【0030】
通常EL素子においては、発光効率を向上させるために、有機EL層内への電荷の注入を安定化させる電荷注入層としての機能を有する層を設けることが多い。本発明においてもこのような機能を有する層として光導波防止層を金属電極層上に設けている。しかしながら、このような機能を有する層は、入射光がその内部を導波することにより光の損失を招くことがあり、このため光の取り出し効率を低下させる要因となること場合がある。そこで、本発明においては、電荷注入層としての機能に加えて、このような光の導波を抑制する機能を保持する光導波防止層とすることにより、発光効率に加えて光の取り出し効率をも改善することを可能とする。
【0031】
このような利点を有する本発明のEL素子について、その構成について詳細に説明する。
【0032】
1.光導波防止層
本発明における光導波防止層とは、有機EL層への電荷の注入を安定化させる電荷注入層としての役割を担うと共に、光導波防止層内へ入射した光が光導波防止層内を導波することにより生じる光の損失を抑制する機能をも有するものである。
【0033】
このような機能を有する光導波防止層を金属電極層上に設けることにより、金属電極層からの電荷の注入が滞りなく行われるため、発光効率が向上し、さらに、光の損失が抑制されることから、有機EL層内で発生する光の透明電極層側からの取り出し効率も向上させることができるのである。このような作用を及ぼす本発明の光導波防止層について、形状および材料について詳細に説明する。
【0034】
(1)光導波防止層の形状について
まず、光導波防止層の形状について説明する。本発明における光導波防止層とは、上述するように、電荷注入層としての機能を有し、かつ、光の損失を抑制する機能も保持する層である。従って、本発明における光導波防止層の形状としては、電荷注入層としての機能を損なうことがなく、かつ、光の損失を抑制することが可能な形状であれば特に限定はされない。具体的には、光導波防止層の表面を粗く形成する方法や光導波防止層を島状に形成する方法を挙げることができる。以下、この両方法について説明する。
【0035】
▲1▼ 表面を粗く形成する場合
まず、光導波防止層の表面を粗くすることにより、光導波防止層に光の損失を抑制する機能を保持させる場合について説明する。このように光導波防止層の表面を粗くすることにより、光導波防止層における光の損失を抑制させることができるのは、粗く形成された光導波防止層の表面付近で、光導波防止層に入射した光が乱反射するため、入射光の導波を抑制することができるからである。従って、これにより光の損失が少なくなり、透明電極側からの光の取り出し効率を向上させることができるのである。
【0036】
このような作用を及ぼす光導波防止層の表面粗さとしては、入射光をその表面付近で乱反射させることが可能な表面粗さであれば特に限定はされない。具体的には、10nm〜30nmの範囲内、好ましくは、15nm〜30nmの範囲内、その中でも特に、20nm〜30nmの範囲内であることが好ましい。上記範囲よりも表面粗さが小さいと、入射光の乱反射が十分に生じず、光の導波を抑制する効果が十分に得られない可能性があるから好ましくなく、一方、上記範囲よりも表面粗さが大きいと、光導波防止層上に成膜される有機EL層の平滑性を損なう可能性があるため好ましくない。
【0037】
また、ここでいう表面粗さとは、セイコーインスツルメンツ株式会社製、Nanopics1000を用い、膜表面の平均面粗さを計測したものである。
【0038】
さらに、本発明における光導波防止層の平均膜厚としては、0.1nm〜30nmの範囲内、その中でも、0.1nm〜10nmの範囲内であることが好ましい。上記範囲よりも平均膜厚を薄くすると、光導波防止層が担う電荷注入層としての役割が十分に発揮されず、一方、上記範囲よりも平均膜厚を厚くすると、発光層内で発生した光が光散乱することなく光導波防止層内で導波するため、光の取り出し効率が低下するからである。
【0039】
なお、本発明における表面を粗く形成するとは、膜状の層の表面を一定の範囲内の凹凸を有するように形成された状態を意味するのみならず、均一に膜が形成されていない状態、すなわち、金属電極層上に島状に光導波防止層が形成され、その結果として、上述したような表面粗さを有する場合も含むものとする。
【0040】
▲2▼ 島状に形成する場合
次に、光導波防止層を島状に形成する場合について説明する。島状に形成された光導波防止層においては、その形状から入射した光がその内部を導波し、EL素子の側面から出射することがなく、よって光の導波による光の損失を抑制することができるのである。
【0041】
このような作用を及ぼす島状に形成された光導波防止層としては、金属電極層上の有機EL層が成膜される領域に対して、1%〜99%の範囲内、好ましくは10%〜90%の範囲内、その中でも特に、30%〜80%の範囲内の領域を被覆するように設けられていることが好ましい。
【0042】
上記範囲よりも広範囲に光導波防止層を形成すると、膜状に近い形状となるため、島状に形成することにより得られる光の導波を抑制する効果が得られないからである。一方、上記範囲よりも狭い領域とすると、電荷注入層としての機能が十分に発揮されず、発光効率が低下してしまうからである。
【0043】
(2)光導波防止層の材料について
次に、光導波防止層を形成する材料について説明する。本発明における光導波防止層を形成する材料としては、金属電極層からの電荷を有機EL層へ良好に注入することができる材料であれば特に限定されない。例えば、導電性を有する有機材料や導電性を有する無機材料を挙げることができる。以下、これらの材料について説明する。
【0044】
▲1▼ 導電性を有する有機材料
本発明における光導波防止層を形成する導電性を有する有機材料としては、金属電極層が陽極である場合には、正孔注入層に用いられる材料を挙げることができ、逆に金属電極層を陰極として用いる場合には、電子注入層に用いられる材料を挙げることができる。例えば、正孔注入層に用いられる材料としては、金属電極層からの有機EL層への正孔の注入を安定化させることが可能な材料であれば特に限定されない。具体的には、ドープされたポリアニリン、ポリフェニレンビニレン、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリパラフェニレン、ポリアセチレン等の導電性高分子、またはテトラチオフルバレン、テトラメチルフェニレンジアミン等の電子供与性化合物と、テトラシアノキノジメタン、テトラシアノエチレン等の電子受容性化合物からなる電荷移動錯体を形成する有機材料等を挙げることができる。さらに、電子注入層としての機能を有する光導波防止層とする場合には、金属電極層からの電子の注入を安定化させる材料であれば特に限定はされない。具体的には、ドープされたポリアニリン、ポリフェニレンビニレン、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリパラフェニレン、ポリアセチレン等の導電性高分子、またはテトラチオフルバレン、テトラメチルフェニレンジアミン等の電子供与性化合物と、テトラシアノキノジメタン、テトラシアノエチレン等の電子受容性化合物からなる電荷移動錯体を形成する有機材料等を挙げることができる。またアルカリ金属あるいはアルカリ土類金属との金属ドープ層が挙げられる。好適な電子輸送材料および金属ドープ材料としてはBCP(バソキュプロイン)または、Bphen(バソフェナントロン)と、Li、Cs、Ba、Srなどの金属ドープが挙げられる。
【0045】
▲2▼ 導電性を有する無機酸化物
次いで、光導波防止層の形成する材料として導電性を有する無機材料について説明する。本発明における導電性を有する無機酸化物としては、有機EL層への電荷の注入を安定化させる材料であれば特に限定はされない。このような導電性を有する無機材料としては、具体的には、In−Zn−O、In−Sn−O(ITO)、ZnO−Al、Zn−Sn−O、In−O、Sn−O、Zn−O、Cd−O、Cd−In−O、Cd−Sn−O、Mg−In−O、Ca−Ga−O系またはTiO2、TiN、ZrN、HfN、LaB6等を挙げることができる。その中でも、インジウムを含む無機酸化物であることが好ましい。特に、その中でも、ITOを用いることが好ましい。ITOは、導電性および光の透過率が高く、抵抗率が低いことから、光の取り出し効率を向上させると共に、EL素子の駆動電圧を低電圧化することができるからである。
【0046】
▲3▼ その他
本発明においては、上述した材料の他にも、α−Si、α−SiC、α−C等の非晶質半導体や、μ−C−Si、μ−C−C−Si等の微結晶等によっても光導波防止層を形成することができる。
【0047】
2.有機EL層
次に、本発明に用いられる有機EL層について説明する。通常、有機EL層としては、発光層、バッファー層、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層等を挙げることができる。このような本発明における有機EL層としては、発光層を含むことが必須である。また、発光層と上記各層を組み合わせて、複数層からなる有機EL層とすることも可能である。
【0048】
また、本発明における有機EL層を形成する方法としては、そのパターニングの必要性から、高精細なパターニングを可能とする方法であれば特に限定はされない。例えば、蒸着法、印刷法、インクジェット法等によるパターン状に有機EL層を形成する方法や、有機EL層を形成する材料を塗工液として塗布する方法、例えば、スピンコーティング法、キャスティング法、ディッピング法、バーコート法、ブレードコート法、ロールコート法、グラビアコート法、フレキソ印刷法、スプレーコート法等の塗布方法を挙げることができる。この中でも、本発明においては、蒸着法を用いて有機EL層を形成することが好ましい。
【0049】
以下、このような有機EL層において、必須の構成である発光層について説明する。
【0050】
(発光層)
EL素子において、発光層は必須の層であり、かつフルカラーおよびマルチカラーのディスプレイを製造する際には、パターニングを必要とする層である。このような発光層を形成する材料としては、通常、色素系、金属錯体系、または高分子系の発光材料を挙げることができる。以下、このような発光層を形成する材料として、発光材料について説明する。
【0051】
(1)色素系材料
色素系材料としては、シクロペンダミン誘導体、テトラフェニルブタジエン誘導体、トリフェニルアミン誘導体、オキサジアゾ−ル誘導体、ピラゾロキノリン誘導体、ジスチリルベンゼン誘導体、ジスチリルアリーレン誘導体、シロール誘導体、チオフェン環化合物、ピリジン環化合物、ペリノン誘導体、ペリレン誘導体、オリゴチオフェン誘導体、トリフマニルアミン誘導体、オキサジアゾールダイマー、ピラゾリンダイマー等を挙げることができる。
【0052】
(2)金属錯体系材料
金属錯体系材料としては、アルミキノリノール錯体、ベンゾキノリノールベリリウム錯体、ベンゾオキサゾール亜鉛錯体、ベンゾチアゾール亜鉛錯体、アゾメチル亜鉛錯体、ポルフィリン亜鉛錯体、ユーロピウム錯体、イリジウム金属錯体、プラチナ金属錯体等、中心金属に、Al、Zn、Be等または、Tb、Eu、Dy等の希土類金属を有し、配位子にオキサジアゾール、チアジアゾール、フェニルピリジン、フェニルベンゾイミダゾール、キノリン構造等を有する金属錯体等を挙げることができる。
【0053】
(3)高分子系材料
高分子系の材料としては、ポリパラフェニレンビニレン誘導体、ポリチオフェン誘導体、ポリパラフェニレン誘導体、ポリシラン誘導体、ポリアセチレン誘導体等、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカルバゾール誘導体、上記色素体、金属錯体系発光材料を高分子化したもの等を挙げることができる。
【0054】
3.金属電極層
本発明における金属電極層を形成する材料としては、導電性であれば特に限定はされない。具体的には、Au、Ta、W、Pt、Ni、Pd、CrやAl合金、Ni合金、Cr合金等を挙げることができる。
【0055】
さらに、金属電極層の光の反射率としては、可視領域380〜780nmの範囲内で、30%以上、その中でも、50%以上であることが好ましい。本発明のEL素子は、透明電極層側から光を取り出すため、有機EL層内で発生した光が、上記範囲内で反射されることにより、光の損失を抑制することができるからである。
【0056】
なお、本発明における反射率とは、紫外可視分光光度計(株式会社島津製作所製、UV−2200A)を用い室温、大気中により測定された値を示すものである。
【0057】
また、このような金属電極層の膜厚としては、40nm〜500nmの範囲内、その中でも、100nm〜300nmの範囲内であることが好ましい。上記範囲よりも膜厚を薄くすると、抵抗値が高くなる場合があることから好ましくない。一方、上記範囲よりも膜厚を厚くすると、金属電極層がパターン状に形成されている場合に、EL素子全体としての平滑性を得ることが困難であり、さらに、金属電極層の端部における基材との段差により、金属電極層上に形成される透明電極層等の段差切れや断線といった不都合が生じる可能性があることから好ましくない。
【0058】
また、この金属電極層と、この金属電極層上に形成される上記光導波防止層からなる部材を金属電極層部とすると、この金属電極層部のシート抵抗が1Ω/□以下、その中でも、0.6Ω/□以下、であることが好ましい。このように金属電極層部のシート抵抗を低くすることにより、駆動電圧が低下し、発光効率を向上させることが可能であるからである。
【0059】
なお、ここでいうシート抵抗とは、試験片表面の二つの電極間に印加した直流電圧を、表面を通って流れる電流で除した数値であり、本発明においては、四探針法により測定された値とする。
【0060】
4.透明電極層
本発明のEL素子は、発光層内で発生した光を透明電極層側から取り出すため、透明電極層を形成する材料としては、透明性のある導電材料であれば特に限定はされない。しかしながら、インジウムを含む無機酸化物であることが好ましい。これらは、透明性が高く、低抵抗であるため、光の透過率が高く、駆動電圧を低くすることができるからである。具体的には、In−Zn−O(IZO)、In−Sn−O(ITO)、ZnO−Al、Zn−Sn−O等を挙げることができる。その中でも特に、本発明においては、ITOが好ましい。
【0061】
また、透明電極層の光の透過率としては、可視領域380nm〜780nmの範囲内で、50%以上、その中でも、80%以上、であることが好ましい。上記範囲内の光の透過率を有する透明電極層であれば、当該透明電極層側から良好に光を取り出すことができるからである。
【0062】
なお、本発明における透過率は、紫外可視分光光度計(株式会社島津製作所製、UV−2200A)を用い室温、大気中により測定された値を示すものである。
【0063】
さらに、透明電極層の膜厚としては、10nm〜500nmの範囲内、その中でも、50nm〜300nmの範囲内であることが好ましい。上記範囲よりも膜厚を薄くすると、導電性が不充分となり電極としての機能が発揮されない可能性があるため好ましくない。一方、上記範囲よりも膜厚を厚くすると、光透過率が低下するおそれがあるからであり、さらにEL素子を多少変形させる場合などに、可撓性が劣り、透明電極層内にクラックが生じやすくなる場合もあるから好ましくない。
【0064】
5.電荷注入輸送層
次いで、電荷注入輸送層について説明する。
【0065】
本発明においては、上記有機EL層と各々の電極層との間に電荷注入輸送層を設けることも可能である。ここでいう電荷注入輸送層とは、上記有機EL層に電極からの電荷を安定に輸送する機能を有するものであり、このような電荷注入輸送層を有機EL層および電極の間に設けることにより、有機EL層中の発光層への電荷の注入が安定化し、発光効率を高めることができるのである。
【0066】
このような電荷注入輸送層としては、陽極から注入された正孔を発光層内へ輸送する正孔注入輸送層、さらに、同様に陰極から注入された電子を発光層内へ輸送する電子注入輸送層とがある。以下、両電荷注入輸送層について説明する。
【0067】
▲1▼ 正孔注入輸送層
本発明における正孔注入輸送層としては、陽極から注入された正孔を発光層内へ輸送することが可能である層であれば特に限定されない。例えば、陽極から注入された正孔を安定に発光層内へ注入する機能を有する正孔注入層、および、陽極から注入された正孔を発光層内へ輸送する機能を有する正孔輸送層のいずれか一方からなる場合、またはそれらの組合せからなる場合や、これら両機能を有する層からなる場合であってもよい。
【0068】
さらに、正孔注入輸送層の膜厚としては、その機能が十分に発揮される膜厚であれば特に限定されないが、10nm〜300nmの範囲内、その中でも30nm〜100nmの範囲内であることが好ましい。
【0069】
このような正孔注入輸送層としては、陽極から注入された正孔を安定に発光層へ輸送する材料であれば特に限定はされない。具体的には、N−(1−ナフチル)−N−フェニルべジジン(α−NPD)、4,4,4−トリス(3−メチルフェニルフェニルアミノ)トリフェニルアミン(MTDATA)、さらに高分子量の材料としては、ポリビニルカルバゾール(PVCz)、ポリ3,4エチレンジオキシチオフェン(PEDOT)、ポリフェニレンビニレン誘導体等が挙げられる。
【0070】
▲2▼ 電子注入輸送層
次いで、電子注入輸送層について説明する。本発明における電子注入輸送層としては、陰極からの注入された電子を安定に発光層内へ注入する機能を有する電子注入層、および、電子を発光層内へ輸送する機能を有する電子輸送層のいずれか一方からなる場合、またはそれらの組合せからなる場合や、これら両機能を有する単層からなる場合であってもよい。
【0071】
まず、電子注入層について説明する。電子注入層を形成する材料としては、発光層への電子の注入を安定化させることが可能な材料であれば特に限定されない。この様な材料としては、アルカリ金属化若しくはアルカリ土類金属の酸化物またはフッ化物を挙げることができる。その中でもアルカリ土類金属のフッ化物であることが好ましい。アルカリ土類金属のフッ化物は、融点が高く耐熱性を向上させることが可能であるからである。具体的には、MgF2、CaF2、SrF2、BaF2等が挙げられる。このような材料からなる電子注入層の膜厚としては、0.2nm〜10nmの範囲内であることが好ましい。
【0072】
さらに、陰極としてインジウム酸化物のような透明酸化物導電材料を用いた場合には、これらの仕事関数が4.6eV以上であることから、4.0eV以下の仕事関数を有する材料を用いて電子注入層を形成することが好ましい。低駆動電圧下では仕事関数が4.6eV以上のインジウム酸化物から形成された陰極から発光層へ直接電子を注入することは困難であるが、これらの層の間に4.0eV以下の仕事関数を有する電子注入層を設けることにより、電子の注入が容易となるからである。具体的には、Ba、Ca、Li、Cs、Mg等が挙げられる。このような材料により電子注入層を形成した場合には、その膜厚は、0.2nm〜50nm、その中でも、0.2nm〜20nmの範囲内とすることが好ましい。この場合は、陰極として透明酸化物導電材料を用いているため、この陰極側から光を取り出す際には、電子注入層にも透明性が要求されるからである。
【0073】
次いで、電子輸送層を形成する材料としては、陰極からまたは上記電子注入層から注入された電子を発光層内へ輸送することが可能な材料であれば特に限定されない。具体的には、電子輸送性の有機材料として、BCP(バソキュプロン)あるいはBpehn(バソフェナントロリン)を挙げることができる。
【0074】
また、電子注入層としての機能および電子輸送層としての機能の両機能を有する層とする場合には、電子輸送性の有機材料に、ドープ材料としてアルカリ金属あるいはアルカリ土類金属を混合することにより、発光層へ電子を安定に注入し、輸送することができる。このような金属ドープ材料としては、Li、Cs、Ba、Sr等が挙げられる。この場合の電子輸送性有機材料と、金属ドープ材料とのモル比率は1:1〜1:3の範囲内、その中でも1:1〜1:2の範囲内であることが好ましい。さらに、この場合の膜厚としては、5nm〜1000nmの範囲内、その中でも、10nm〜100nmであることが好ましい。金属ドープ材料を加えることにより電子移動度が大きくなり、かつ、透過率が金属単体に比べ高いためである。
【0075】
5.その他
その他、上記各層以外に本発明のEL素子を構成することが可能な層について説明する。
【0076】
(1)低屈折率層
本発明においては、低屈折率層を透明電極層上に形成することができる。通常、各々の層は異なる屈折率を有するため、このような屈折率の差により素子内に光が閉じこもることがある。そこで、本発明においては、陰極と後述するバリア層との間に当該低屈折率層を成膜することにより、バリア層による光の損失を低減させ、より一層光の取り出し効率を向上させることができるのである。
【0077】
このような低屈折率層としては、光の取り出し方向である透明電極層上に設けていることから透明性が高く、さらにその屈折率としては、1.7以下、その中でも、1.5以下であることが好ましい。屈折率を上記範囲とすることにより、透明電極層とバリア層との屈折率の差を要因とする光の損失が抑えられ、透明電極層側からの光の取り出し効率が向上するからである。
【0078】
なお、ここでいう屈折率は、分光エリプソメータ(Jovin Yvon社製)を用い、Siウェハ上に膜を形成し、可視波長の屈折により得られた値を示すものである。
【0079】
また、低屈折率層の光の透過率としては、光の取り出し効率を向上させる目的から、可視領域380nm〜780nmの範囲内で、70%以上、その中でも、80%以上であることが好ましい。なお、ここでいう透過率は、上述した測定により得られるものである。
【0080】
さらに、低屈折率層の膜厚としては、上記光の透過率を保持することが可能な膜厚であれば特に限定はされないが、10nm〜10000nmの範囲内であることが好ましい。
【0081】
このような低屈折率層を形成する材料としては、多孔質SiO2、MgF2、SiO2、MgO等が挙げられる。
【0082】
(2)バリア層
次に、本発明に用いられるバリア層について説明する。本発明におけるバリア層とは、発光層を含む有機EL層を水蒸気および酸素等の影響から保護する役割を担う層である。発光層等は、水蒸気および酸素等に曝されると、その劣化が促進され、結果としてEL素子の素子寿命が短くなる不都合が発生する。そこで、水蒸気および酸素等の素子内への透過を阻止するバリア層を設けることにより、素子寿命の長寿命化を図っている。
【0083】
このようなバリア層の水蒸気透過率としては、0.001g/m2/day以下、その中でも、0.0001g/m2/day以下であることが好ましい。
【0084】
さらに、酸素透過率としては、0.001g/m2/day以下、その中でも、0.0001g/m2/day以下であることが好ましい。上記範囲内の酸素および水蒸気透過率であれば、素子内への両者の透過を好適に妨げることができるからである。
【0085】
なお、本発明における酸素透過率は、酸素ガス透過率測定装置(MOCON社製、OX−TRAN 2/20)を用い、23℃、90%Rhの条件で測定したものである。また、水蒸気透過率は、水蒸気透過率測定装置(MOCON社製、PERMATRAN−W 3/31)を用い、37.8℃、100%Rhの条件で測定したものである。
【0086】
また、本発明においては、バリア層を光の取り出し方向に設けるため、可視領域380nm〜780nmの範囲内での光の透過率が60%以上、その中でも、80%以上であることが好ましい。上記範囲よりも透過率を低くすると、バリア層による光の吸収が大きくなり、透明電極層からの光の取り出し効率が低下する要因となるからである。なお、ここでいう光の透過率の測定法は、上述したものと同様である。
【0087】
さらに、その膜厚としては、バリア層として水蒸気および酸素の透過を十分に阻止することが可能な膜厚であれば特に限定はされないが、光の透過率との関係から0.1μm〜100μmの範囲内であることが好ましい。
【0088】
このようなバリア層を形成する材料としては、水蒸気および酸素の透過を好適に阻止することができ、透明性に優れている材料であれば特に限定はされない。例えば、珪素酸化物または珪素窒化物等が挙げられ、これらの組合せからなっていてもよい。
【0089】
また、本発明においては、上記低屈折率およびバリア層が、これら両層の機能を有する保護層からなっていてもよい。このような保護層としては、屈折率が、上記低屈折率層の屈折率の範囲内であり、かつ、水蒸気透過率および酸素透過率が、上記バリア層におけるこれらの範囲内であれば特に限定されない。また、透明電極層上に設けられることから透明性が高いことが好ましい。
【0090】
(3)基材
さらに、本発明においては、EL素子を基材上に形成してもよい。基材上にEL素子を形成する場合は、EL素子の強度を向上させることができるからである。このような基材として用いることが可能な材料としては、自己支持性を有する材料であれば特に限定されない。また、金属電極層の下に基材を設けることから、特に透明性を有していなくてもよい。例えば、石英やガラス、シリコンウェハ、高分子基材としては、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリイミド(PI)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)等を挙げることができる。この中でも、石英、ガラス、シリコンウェハ、またはスーパーエンジニアリングプラスチックであるポリイミド(PI)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)が好ましい。これらは200℃以上の耐熱性を有しており、製造段階での基材温度を高くすることができるからである。
【0091】
6.本発明のEL素子の具体的態様
次いで、本発明のEL素子の具体的に態様について説明する。
【0092】
図1は、本発明のEL素子の具体的態様の一例を図示したものである。図1に示すEL素子においては、基材1と、この基材1上に陽極2が形成されている。なお、本態様においては、この陽極2が上述した金属電極層となっている。さらに、この金属電極層である陽極2上に表面が粗く形成された光導波防止層3が設けられており、さらに、光導波防止層3を有する陽極2上に、発光層へ正孔を輸送する機能を有する正孔輸送層4が形成されている。本態様では、陽極2が上述の金属電極層からなることから、光導波防止層3は正孔注入層としての機能を有しており、光導波防止層3から注入された正孔を、当該正孔輸送層4により発光層5内へ速やかに輸送するのである。さらに、正孔輸送層4上には発光層5が積層されている。発光層5は通常パターン状に形成されており、フルカラーのEL素子とする場合には、複数色の発光層が各々パターニングされている。さらに、発光層5上には、陰極からの電子を注入し輸送する電子注入輸送層6が形成され、電子注入輸送層6上には陰極7が形成されている。本態様では、陽極2が上述の金属電極層となっていることから、陰極7は上述した透明電極層であり、この透明電極層である陰極7側から光が取り出される。また、本態様においては、陰極7側からの光の取り出し効率を更に向上させるため、陰極7上に低屈折率層8が形成されており、さらに、発光層5等を酸素および水蒸気の影響から保護するバリア層9が前記低屈折率層8上に形成されている。
【0093】
以下、このような態様における本発明のEL素子について各構成を説明する。なお、本態様は、上述の金属電極層を陽極とし、透明電極層を陰極とした態様であり、光導波防止層、発光層等の有機EL層については、上述した説明と同様であるため、ここでの説明は省略する。
【0094】
(電極)
本態様においては、上述した金属電極層を陽極とし、透明電極層を陰極とした点に特徴を有する。
【0095】
このように上記金属電極層を陽極として用いた本態様においては、上述した光導波防止層の仕事関数をWFbとし、陽極の仕事関数をWFaとした場合、両者の関係が
WFa<WFb
となることが好ましい。
【0096】
ここで、光導波防止層の仕事関数としては、有機EL層への正孔注入の安定性の関係から、4.8eV以上、その中でも、5.0eV以上であることが好ましい。このような範囲の仕事関数を有する光導波防止層を、その仕事関数と上記式の範囲内にある仕事関数を有する陽極上に形成することにより、陽極からの正孔の注入がより一層安定化し、発光効率を向上させることができるからである。
【0097】
また、金属電極層を陽極としたことにより、透明電極層は陰極となるが、この場合、陰極の仕事関数としては、5.0eV以下、その中でも、4.8eV以下であることが好ましい。さらに、透明電極層からなる陰極のシート抵抗は、20Ω/□以下であることが好ましい。
【0098】
なお、ここでいう仕事関数は、理研計器株式会社製、表面分析装置AC−1を用い、大気中で測定した数値である。
【0099】
II.EL素子の製造方法
次に、本発明のEL素子の製造方法について説明する。本発明のEL素子の製造方法は、陽極である金属電極層を形成する工程と、前記金属電極層上に、インジウムを含む無機酸化物を用い、その表面粗さが10nm〜30nmの範囲内となるように光導波防止層を形成する工程と、前記光導波防止層を紫外線オゾン下または酸素プラズマ下に曝し、光導波防止層の仕事関数値を0.2eV以上変化させるプラズマ処理を施す工程と、前記プラズマ処理後の光導波防止層上に有機EL層を形成する工程と、前記有機EL層上に陰極である透明電極層を形成する工程とを少なくとも有することを特徴とするものである。
【0100】
図2は、このような特徴を有する本発明のEL素子の製造方法の一例を図示したものである。以下、図2を用いて、本発明のEL素子の製造方法について具体的に説明する。
【0101】
まず、図2(a)に示すように、金属電極層からなる陽極2を準備し、当該陽極2上に上述した材料からなる光導波防止層3を成膜する。この際、光導波防止層3は、その表面粗さが10nm〜30nmの範囲内になるように形成する。このような形状に光導波防止層を形成することにより、光導波防止層内を光が導波することが抑制され、これにより光の損失を少なくすることができるため、光の取り出し効率を向上させることができるのである。
【0102】
なお、光導波防止層の表面粗さが10nm〜30nmの範囲内である形状として形成する方法としては、コロナ処理、エッチング、サンドプラストのいずれか、または、それらの組合せを用いて形成することができる。
【0103】
なお、ここでいう「表面粗さ」とは、上述したように、膜状の層の表面を一定の範囲内の凹凸を有するように形成された状態を意味するのみならず、均一に膜が形成されていない状態も含むものである。すなわち、光導波防止層を膜状に形成する他に、島状に形成することにより、上述した表面粗さを有するようにしてもよい。
【0104】
さらに、図2(b)に示すように、表面を粗く形成された光導波防止層3を紫外線オゾン下または酸素プラズマ下に曝すことにより、光導波防止層3の仕事関数を0.2以上変化させるプラズマ処理を行う。このようなプラズマ処理においては、金属電極層からなる陽極2の仕事関数値をWFaとし、光導波防止層3の仕事関数値をWFbとした場合、両者の関係が
WFa<WFb
となるように、プラズマ処理を行うことが好ましい。このようなプラズマ処理を施すことにより、陽極2と光導波防止層3との仕事関数が好適な差を有するように光導波防止層3の仕事関数値を制御することができ、有機EL層内へ安定に正孔を注入することができるようになるからである。
【0105】
次いで、プラズマ処理が施され好適な仕事関数の値に設定された光導波防止層3を有する陽極2上に、有機EL層を成膜する。有機EL層としては、少なくとも発光層5を有するものであるが、ここでは、図2(c)に示すように、陽極2からの正孔を輸送する役割を担う正孔輸送層4を光導波防止層3上に成膜し、当該正孔輸送層4上に、図2(d)に示すように、EL素子において必須の層である発光層5を設ける場合を図示している。また、有機EL層としてその他にも、図2(e)に示すように、発光層5への電子の注入を安定化させ輸送する電子注入輸送層6を発光層5上に積層することができる。このような有機EL層上に、図2(f)に示すように透明電極層からなる陰極7を設ける。
【0106】
この後、上述するように、有機EL層を水蒸気および酸素の影響から保護するバリア層や、さらに、陰極とバリア層との屈折率の差による素子内への光の閉じこもりを解消する低屈折率層を設けてもよい。
【0107】
このようにして製造することにより、図の上面から発光を得ることができるEL素子を得ることができる。
【0108】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【0109】
【実施例】
以下に実施例を示し、本発明をさらに説明する。
【0110】
[実施例1]
基材として、縦横25mm×25mmで、厚みが1.1mmの透明ガラスを洗浄後、マグネトロンスパッタリング法にて膜厚100nmのAlもしくはCrからなる陽極を成膜した。スパッタガスとしてArを用い、圧力0.15Pa、DC出力200Wとした。その上に光導波防止層として10nmのITOをマグネトロンスパッタリング法にて形成した。スパッタガスとして、ArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=50:1)、圧力0.1Pa、DC出力150Wとした。陽極としてAl、光導波防止層としてITOを形成した膜について、四探針法により表面抵抗値を調べたところ0.5Ω/□であった。
【0111】
成膜時は金属マスクを使用し発光エリア2mm×2mmが4ヶ所できるように陽極をフォトリソグラフィー法によりパターン状に形成した。その後、基材を酸素プラズマ下に曝した。Al/ITOの陽極の場合、酸素プラズマ処理を行った後、大気中で仕事関数を測定した結果4.9eVから5.7eVとイオン化ポテンシャルが低下した。ITOが形成されていない場合、仕事関数の値は変わらなかった。SEMにてAl上のITO表面を観察したところ25nm以下では均一な膜でなく島状に形成されていることを確認した。
【0112】
次いで、形成した光導波防止層上に正孔注入輸送層として、下記化学式(1)に示すビス(N−ナフチル)−N−フェニルベンジジン(α−NPD)を真空加熱蒸着法により、厚み80nmの正孔注入輸送層を形成した。このα−NPDの化学式について以下に示す。
【0113】
【化1】
【0114】
その後、発光層として、下記化学式(2)に示すアルミニウムキノリノール金属錯体(Alq3)を厚み80nm蒸着し、最後に電子注入層兼スパッタリング保護層として、下記化学式(3)に示すバソキュプロイン(BCP)とLiの共蒸着層を20nm成膜した。モル比率がBCP:Liが1:2になるように成膜速度を調節した。
【0115】
【化2】
【0116】
【化3】
【0117】
成膜条件は、真空度5×10−5Pa、各層の有機材料は成膜速度2〜5Å/secで成膜した。成膜条件としてスパッタガスはArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=50:1)、圧力0.1Pa、RF出力100W、DC出力150Wとした。成膜速度2〜5Å/secでガス圧5.5×10−2Paの条件下で150nmの透明電極層を形成し発光エリア2mm×2mmの有機EL素子を作製した。
【0118】
その後、透明電極層上に低屈折率層としてMgF2を真空蒸着法にて50nm形成し、最後にバリア層としてSiO2、SiNの組合せからなる膜を5μm成膜した。成膜条件はマグネトロンスパッタリングにてターゲットSiOxNyを使用し、スパッタガスはArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=30:1)、圧力0.2Pa、RF出力150W、DC出力200Wとした。バリア層の形成はプラズマCVD法でも形成可能である。透明電極層のシート抵抗は10Ω/□であった。得られた有機EL素子の発光エリアは2mm×2mmであり、陽極の成膜からバリア層までの工程はすべて真空下で行った。
【0119】
Alを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は10V印加時の電流密度は110mAで、3000cd/m2であった。
【0120】
[比較例1]
光導波防止層を形成しない有機EL素子を実施例1と同様の工程で作製した。Alを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は10V印加時の電流密度は20mAで、200cd/m2であった。
【0121】
[比較例2]
光導波防止層としてITOを使用し、表面粗さを5nmとし、膜厚を100nmとした有機EL素子を実施例1と同様の工程で作製した。陽極としてAl、光導波防止層としてITOを形成した膜について四探針法により表面抵抗値を調べたところ0.6Ω/□であった。Alを陽極とした有機EL素子は10V印加時の電流密度は100mAで、2600cd/m2であった。
【0122】
[実施例2]
基材として、縦横25mm×25mmで、厚みが1.1mmの透明ガラスを洗浄後、マグネトロンスパッタリング法にて膜厚100nmのAlもしくはCrからなる陽極を成膜した。スパッタガスとしてArを用い、圧力0.15Pa、DC出力200Wとした。その上に光導波防止層として10nmのITOをマグネトロンスパッタリング法にて形成した。スパッタガスとして、ArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=50:1)、圧力0.1Pa、DC出力150Wとした。成膜時は金属マスクを使用し発光エリア2mm×2mmが4ヶ所できるように陽極のパターニングを行った。その後、基材を酸素プラズマ下に曝した。Al/ITOの陽極の場合、酸素プラズマ処理を行った後、大気中で仕事関数を測定した結果4.9eVから5.7eVとイオン化ポテンシャルが低下した。ITOが形成されていない場合、仕事関数の値は変わらなかった。
【0123】
次いで、形成した光導波防止層上に正孔注入輸送層として、下記化学式(4)に示すポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)をスピンコートにより厚み80nm形成し加熱乾燥させた。以下に、(PEDOT(PSS))の化学式を示す。
【0124】
【化4】
【0125】
その後、酸素濃度が1ppmまでの低酸素条件下および湿度が1ppmまでの低湿度条件下であるグローブBOX中にて発光層として、下記化学式(5)に示すポリ(ジオクチルフルオレン−co−アントラセン)(PF)を厚み80nmに成膜し、最後に電子注入層兼スパッタリング保護層としてバソキュプロイン(BCP)とLiの共蒸着層を20nm成膜した。モル比率がBCP:Liが1:2になるように成膜速度を調節した。以下に、PFの化学式について示す。
【0126】
【化5】
【0127】
成膜条件は、真空度5×10−5Pa、BCPの成膜速度2Å/secで成膜した。電子注入層を成膜後、透明電極層としてITO、IZOをスパッタリングにより150nm形成した。電子注入層へのスパッタダメージを軽減するため、対向ターゲット式マグネトロンスパッタ装置で成膜した。成膜条件としてスパッタガスはArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=50:1)、圧力0.1Pa、RF出力100W、DC出力150Wとした。成膜速度2〜5Å/secでガス圧5.5×10−2Paの条件下で150nmの透明電極層を形成し発光エリア2mm×2mmの有機EL素子を作製した。
【0128】
その後、透明電極層上に低屈折率層としてMgF2を真空蒸着法にて50nm形成し、最後にバリア層としてSiO2、SiNの組合せからなる膜を5μm成膜した。成膜条件はマグネトロンスパッタリングにてターゲットSiOxNyを使用し、スパッタガスはArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=30:1)、圧力0.2Pa、RF出力150W、DC出力200Wとした。
【0129】
Alを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は8V印加時の電流密度は200mAで、9000cd/m2であった。Crを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は8V印加時の電流密度は220mAで、6000cd/m2であった。
【0130】
[比較例3]
光導波防止層を形成しない有機EL素子を実施例2と同様の工程で作製した。Alを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は10V印加時の電流密度は20mAで、200cd/m2であった。Crを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は8V印加時の電流密度は60mAで、700cd/m2であった。
【0131】
[実施例3]
基材として、縦横25mm×25mmで、厚みが1.1mmの透明ガラスを洗浄後、マグネトロンスパッタリング法にて膜厚100nmのAlもしくはCrからなる陽極を成膜した。スパッタガスとしてArを用い、圧力0.15Pa、DC出力200Wとした。その上に光導波防止層として10nmのITOをマグネトロンスパッタリング法にて形成した。スパッタガスとして、ArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=50:1)、圧力0.1Pa、DC出力150Wとした。
【0132】
次いで、形成した光導波防止層上に正孔注入輸送層としてポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)をスピンコートにより厚み80nm形成し加熱乾燥させた。その後、酸素濃度が1ppmまでの低酸素条件下および湿度が1ppmまでの低湿度条件下であるグローブBOX中にて発光層としてポリ(ジオクチルフルオレン−co−アントラセン)(PF)を厚み80nmに成膜し、最後に電子注入層としてLiFを0.5nm成膜した。更にその上にCaを10nm蒸着した。を20nm成膜した。成膜条件は、真空度5×10−5Pa、LiFの成膜速度0.1Å/sec、Caの成膜速度1.0Å/secで成膜した。電子注入層を成膜後、透明電極層としてITO、IZOをスパッタリングにより150nm形成した。発光層へのスパッタダメージを軽減するため、対向ターゲット式マグネトロンスパッタ装置で成膜した。成膜条件としてスパッタガスはArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=50:1)、圧力0.1Pa、RF出力100W、DC出力150Wとした。成膜速度2〜5Å/secでガス圧5.5×10−2Paの条件下で150nmの透明電極層を形成し発光エリア2mm×2mmの有機EL素子を作製した。
【0133】
その後、透明電極層上に低屈折率層としてMgF2を真空蒸着法にて50nm形成し、最後にバリア層としてSiO2、SiNの組合せからなる膜を5μm成膜した。成膜条件はマグネトロンスパッタリングにてターゲットSiOxNyを使用し、スパッタガスはArとO2の混合ガス(体積比Ar:O2=30:1)、圧力0.2Pa、RF出力150W、DC出力200Wとした。
【0134】
Alを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は8V印加時の電流密度は300mAで、12000cd/m2であった。Crを陽極としITOを透明電極層とした有機EL素子は8V印加時の電流密度は330mAで、8000cd/m2であった。
【0135】
【発明の効果】
本発明によれば、上述したように電荷注入層としての機能を有し、かつ、光の導波を抑制する機能も保持する光導波防止層が金属電極層上に設けられているので、金属電極層に用いる金属の種類に関わらず、ダークスポット等を生じさせることが少なく、さらに、光の導波を抑制することから光の損失を抑えることができるため、良好な光の取り出し効率を有するEL素子とすることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のEL素子の一例を示す概略断面図である。
【図2】本発明のEL素子の製造方法の一例を示す工程図である。
【符号の説明】
1 … 基材
2 … 陽極
3 … 光導波防止層
4 … 正孔輸送層
5 … 発光層
6 … 電子注入輸送層
7 … 陰極
8 … 低屈折率層
9 … バリア層
Claims (17)
- 金属電極層と、前記金属電極層上に形成され、表面に凹凸を有する光導波防止層と、前記光導波防止層上に形成され、発光層を含む有機エレクトロルミネッセント層と、前記有機エレクトロルミネッセント層上に形成された透明電極層とを少なくとも有するエレクトロルミネッセント素子であって、
前記光導波防止層が、電荷注入層としての機能を有し、かつ当該光導波防止層内に入射した光が当該光導波防止層内を導波することにより生じる光の損失を抑制する機能を有し、
前記発光層内で発生した光が前記金属電極層で反射され、前記透明電極層側から光を取り出すことを特徴とするエレクトロルミネッセント素子。 - 前記光導波防止層は、セイコーインスツルメンツ株式会社製のNanopics1000を用いて計測される膜表面の平均面粗さが、10nm〜30nmの範囲内であることを特徴とする請求項1に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記光導波防止層の平均膜厚は0.1nm〜30nmの範囲内であることを特徴とする請求項2に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記光導波防止層に用いられる材料は、導電性を有する有機材料であることを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記光導波防止層は、インジウムを含む無機酸化物で形成されていることを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記インジウムを含む無機酸化物は、インジウムスズ酸化物であることを特徴とする請求項5に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記金属電極層の光の反射率は、可視領域380〜780nmの範囲内で、30%以上であることを特徴とする請求項1から請求項6までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記金属電極層の膜厚は、40nm〜500nmの範囲内であることを特徴とする請求項1から請求項7までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記透明電極層の光の透過率は、可視領域380〜780nmの範囲内で、50%以上であることを特徴とする請求項1から請求項8までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記金属電極層は陽極であることを特徴とする請求項1から請求項9までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記金属電極層の仕事関数値WFaと光導波防止層の仕事関数値WFbの関係において、仕事関数値がWFa<WFbとなることを特徴とする請求項10に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記透明電極層の仕事関数値が5.0eV以下であることを特徴とする請求項10または請求項11に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記金属電極層および光導波防止層からなる金属電極層部のシート抵抗が1Ω/□以下であることを特徴とする請求項1から請求項12までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記透明電極層上に屈折率1.7以下であり、可視領域380nm〜780nmにおける光透過率が70%以上である低屈折率層を積層することを特徴とする請求項1から請求項13までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記透明電極層上に酸化珪素および窒化珪素の組合せからなり、水蒸気および酸素の影響から前記有機エレクトロルミネッセント層を保護するバリア層を積層することを特徴とする請求項1から請求項14までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 前記金属電極層は、基材上に形成されていることを特徴とする請求項1から請求項15までのいずれかの請求項に記載のエレクトロルミネッセント素子。
- 陽極である金属電極層を形成する工程と、
前記金属電極層上に、インジウムを含む無機酸化物を用い、セイコーインスツルメンツ株式会社製のNanopics1000を用いて計測される膜表面の平均面粗さが10nm〜30nmの範囲内となるように光導波防止層を形成する工程と、
前記光導波防止層を紫外線オゾン下または酸素プラズマ下に曝し、光導波防止層の仕事関数値を0.2eV以上変化させるプラズマ処理を施す工程と、
前記プラズマ処理後の光導波防止層上に有機エレクトロルミネッセント層を形成する工程と、
前記有機エレクトロルミネッセント層上に陰極である透明電極層を形成する工程と、
を少なくとも有し、前記発光層内で発生した光が前記金属電極層で反射され、前記透明電極層側から光を取り出すエレクトロルミネッセント素子を製造することを特徴とするエレクトロルミネッセント素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002171020A JP4255250B2 (ja) | 2002-06-12 | 2002-06-12 | エレクトロルミネッセント素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002171020A JP4255250B2 (ja) | 2002-06-12 | 2002-06-12 | エレクトロルミネッセント素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004022176A JP2004022176A (ja) | 2004-01-22 |
JP4255250B2 true JP4255250B2 (ja) | 2009-04-15 |
Family
ID=31170985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002171020A Expired - Fee Related JP4255250B2 (ja) | 2002-06-12 | 2002-06-12 | エレクトロルミネッセント素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4255250B2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6965197B2 (en) * | 2002-10-01 | 2005-11-15 | Eastman Kodak Company | Organic light-emitting device having enhanced light extraction efficiency |
JP4968703B2 (ja) * | 2004-03-03 | 2012-07-04 | ローム株式会社 | 有機発光素子 |
JP4511440B2 (ja) * | 2004-10-05 | 2010-07-28 | 三星モバイルディスプレイ株式會社 | 有機発光素子及び有機発光素子の製造方法 |
JP4635570B2 (ja) * | 2004-11-08 | 2011-02-23 | 凸版印刷株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法および製造装置 |
JP4887473B2 (ja) * | 2005-06-30 | 2012-02-29 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 有機el素子及びそれを用いた有機elディスプレイ並びに有機elディスプレイの製造方法 |
JP2007095338A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Toppan Printing Co Ltd | 有機電界発光素子及びその製造方法 |
JP5048369B2 (ja) * | 2007-03-26 | 2012-10-17 | 株式会社アルバック | 有機el素子、有機el素子製造方法 |
JP4925903B2 (ja) * | 2007-04-13 | 2012-05-09 | 株式会社アルバック | 有機el素子、有機el素子製造方法 |
KR101167867B1 (ko) | 2007-03-26 | 2012-07-23 | 가부시키가이샤 알박 | 유기 el 소자, 유기 el 소자 제조 방법 |
WO2009044675A1 (ja) * | 2007-10-02 | 2009-04-09 | Ulvac, Inc. | 有機el素子、有機el素子製造方法 |
DE102008047964A1 (de) * | 2008-09-18 | 2010-03-25 | Tesa Se | Verfahren zur Kapselung einer elektronischen Anordnung |
KR100976457B1 (ko) | 2008-10-22 | 2010-08-17 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법 |
WO2010079640A1 (ja) | 2009-01-07 | 2010-07-15 | シャープ株式会社 | 有機エレクトロルミネセンス表示装置及びその製造方法 |
JP5675966B2 (ja) * | 2011-04-27 | 2015-02-25 | Jx日鉱日石エネルギー株式会社 | 有機el素子用の光取出し透明基板及びそれを用いた有機el素子 |
WO2013145667A1 (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-03 | ソニー株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
AU2013275607B2 (en) * | 2012-06-11 | 2015-08-27 | Jx Nippon Oil & Energy Corporation | Organic EL element and method for manufacturing same |
WO2014069564A1 (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-08 | 昭和電工株式会社 | 有機el素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置 |
-
2002
- 2002-06-12 JP JP2002171020A patent/JP4255250B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004022176A (ja) | 2004-01-22 |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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