JP4209844B2 - 圧縮接合方法 - Google Patents
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Description
図1は、前記米国特許に開示された圧縮接合方法を示す図面である。
図1を参照すれば、ガラス球レンズ11をシリコン基板12に接合するために、シリコン基板12がガラス球レンズ11に接触する面にアルミニウム膜13をコーティングし、圧縮手段14を使用してガラス球レンズ11を矢印15方向に圧力を加えると同時にアルミニウム13をヒーター16を使用して加熱する。
前記従来の圧縮接合方法は、平板状シリコン基板12に接合しようとする光学素子が、示されたガラス球レンズのように曲面を有さねばならず、半径が数ミリメートル以内の小さなサイズでなければならないという限界がある。前記従来の圧縮接合方法において、光学素子は曲面を有するため、アルミニウム膜13と一つの接点で接触する。光学素子に圧力を加えれば、圧力が接点に集中されてエネルギーが接点に集中しうるため、アルミニウム膜の格子構造を容易に分解させることで基板12と光学素子とが接合できる。
前記技術的課題を達成するために、本発明は、また、基板及び被接合部材上に所定の形態に金属接合膜をパターニングする第1ステップと、前記金属接合膜の上部に前記被接合部材を位置させて前記基板に熱を加え、前記被接合部材に圧力を加えて前記金属接合膜と前記被接合部材とを接合する第2ステップと、を含むことを特徴とする圧縮接合方法を提供する。
前記第1ステップで、前記所定の形態はストライプ状またはドット状で形成できる。
前記被接合部材は、ガラスまたは金属で形成することが好ましい。
前記基板は、シリコン、金属及びセラミックのうち、何れか一つで形成し、前記金属接合膜は、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛及びチタンのうち、何れか一つで形成することが好ましい。
前記第1ステップで、前記所定の形態は、ストライプ状またはドット状で形成できる。
前記被接合部材は、ガラスまたは金属で形成することが好ましく、前記熱は、350℃以下に印加することが好ましい。
図2は、本発明の第1実施形態に係る圧縮接合方法を実施するために、基板と金属接合膜及び平板状の被接合部材を配列した構成を示す図面である。
図面を参照すれば、基板31の上面に金属接合膜33をストライプ状にパターニングした後、その上部に平板状の被接合部材35を配列する。次いで、基板31には熱を加えて金属接合膜33の上部に圧力を加えれば、金属接合膜33が変形されつつ基板31と被接合部材35とが接合される。ここで、金属接合膜33の幅wと厚さD及び、各ストライプ間の間隔G1は、使用する基板31、金属接合膜33及び被接合部材35の物質の種類によって変わる。
図2に示された形態の金属接合膜と同様に基板51の上面にストライプ状の第1金属接合膜53aをパターニングした後、被接合部材55の上面に第2金属接合膜53bをストライプ状にパターニングして、基板51に熱を加えると同時に被接合部材55の上面に圧力を加えて、第1及び第2金属接合膜53a、53bを加熱させて基板51と被接合部材55とを接合させる。
本発明の第2及び第3実施形態に係る圧縮接合方法で、基板41、51、金属接合膜43、53a、53b、及び被接合部材45、55の説明は、本発明の第1実施形態に係る圧縮接合方法の基板31、金属接合膜33、及び被接合部材35で詳述した通りである。
図面を参照すれば、直四角形のアルミニウム薄膜4は、Z軸方向の幅が0と1との間に固定され、厚さtを有する。圧力Pが−Y軸方向に与えられる時、アルミニウム薄膜4はX軸方向に拡張される。その時、アルミニウム薄膜4の拡張はZ軸方向において限定される。
図6Aないし図6Eは、本発明の第1実施形態に係る圧縮接合方法の工程図である。ここで、金属接合膜としてはアルミニウム薄膜を、被接合部材としてはガラス板を利用する。
図7及び図8は、基板に18μmの幅と10μmのギャップとを有するストライプ状のアルミニウム接合膜を形成して、300℃の熱を加えて800μmの直径を有するガラス球レンズを基板に接合した状態を撮った写真であるが、図7は、アルミニウム接合膜がガラス球レンズに付着された状態を示し、図8は、ガラス球レンズのARコーティングが基板に接合された状態を示す。ここで、剪断強度のサイズは6grfである。
図10は、基板に18μmの幅と20μmのギャップとを有するストライプ状のアルミニウム接合膜を形成して、320℃の熱と3900gfの荷重とを加えて1000μmの直径と810μmの長さとを有する非球面レンズを基板に接合した状態を撮った写真である。ここで、剪断強度は70gfを表した。
図9ないし図11の実験結果から、アルミニウム接合膜の幅とギャップのサイズとがほぼ同じであり、温度320℃、圧力3900gfである場合に最も高い剪断応力を耐えることが分かる。
基板にアルミニウム接合膜をドット状に形成し、ガラス板を接合する場合に更に強い接合力を表す。図12は、一辺が18μmであるスクエアドット状のアルミニウム接合膜を形成し、320℃の熱と5000gfの荷重とを加えてガラス板と基板とを接合した状態を示す写真である。剪断強度は200gf以上であった。
前記した説明で多くの事項が具体的に記載されているが、それらは、発明の範囲を限定するものであるより、好ましい実施形態の例示として解釈されねばならない。本発明の範囲は、説明された実施形態によって決まるのではなく、特許請求の範囲に記載された技術的思想により決まらねばならない。
Claims (6)
- 基板上に、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、またはチタンの何れか一つの膜を所定の形態にパターニングして金属接合膜を形成する第1ステップと、
前記金属接合膜の上部に被接合部材を配置して前記基板に熱を加え、前記被接合部材に圧力を加えて前記金属接合膜によって前記基板と前記被接合部材とを接合する第2ステップと、
を含むことを特徴とする圧縮接合方法。 - 基板上に、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、またはチタンの何れか一つの膜を所定の形態にパターニングして第1金属接合膜を形成し、被接合部材上に、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、またはチタンの何れか一つの膜を所定の形態にパターニングして第2金属接合膜を形成する第1ステップと、
前記第2金属接合膜が形成された前記被接合部材の表面を前記第1金属接合膜の上部に配置して前記基板に熱を加え、前記被接合部材に圧力を加えて前記第1金属接合膜と前記第2金属接合膜とによって前記基板と前記被接合部材とを接合する第2ステップと、
を含むことを特徴とする圧縮接合方法。 - 前記基板は、シリコン、金属及びセラミックのうち、何れか一つで形成することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
- 前記所定の形態は、ストライプ状またはドット状であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
- 前記被接合部材は、ガラスまたは金属で形成することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
- 前記第2ステップでは、前記基板に熱を加えることによって前記基板の温度を350℃以下にすることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の圧縮接合方法。
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DE1251871B (ja) * | 1962-02-06 | 1900-01-01 | ||
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US3881043A (en) * | 1971-06-21 | 1975-04-29 | Ppg Industries Inc | Laminated safety windshields |
US4409278A (en) * | 1981-04-16 | 1983-10-11 | General Electric Company | Blister-free direct bonding of metals to ceramics and metals |
US4604299A (en) * | 1983-06-09 | 1986-08-05 | Kollmorgen Technologies Corporation | Metallization of ceramics |
JPH0618234B2 (ja) * | 1985-04-19 | 1994-03-09 | 日本電信電話株式会社 | 半導体基板の接合方法 |
US4684446A (en) * | 1985-09-26 | 1987-08-04 | General Electric Company | Secondary metallization by glass displacement in ceramic substrate |
US5170931A (en) * | 1987-03-11 | 1992-12-15 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate |
JP2886588B2 (ja) * | 1989-07-11 | 1999-04-26 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪アクチュエータ |
JPH0384958A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-10 | Nec Corp | マルチチップパッケージの製造方法 |
JP2657429B2 (ja) * | 1990-04-09 | 1997-09-24 | 株式会社ミクロ技術研究所 | 基板の回路実装方法及びその方法に使用する回路基板 |
US5178319A (en) * | 1991-04-02 | 1993-01-12 | At&T Bell Laboratories | Compression bonding methods |
US5125560A (en) * | 1991-11-04 | 1992-06-30 | At&T Bell Laboratories | Method of soldering including removal of flux residue |
US5234153A (en) * | 1992-08-28 | 1993-08-10 | At&T Bell Laboratories | Permanent metallic bonding method |
DE69413136T2 (de) * | 1993-06-25 | 1999-05-20 | At & T Corp., New York, N.Y. | Befestigungsverfahren für Glasfasern |
JP4077888B2 (ja) * | 1995-07-21 | 2008-04-23 | 株式会社東芝 | セラミックス回路基板 |
KR100355818B1 (ko) * | 1996-05-14 | 2002-12-26 | 사단법인 고등기술연구원 연구조합 | 유리와실리콘의정전접합방법 |
JP3141801B2 (ja) * | 1996-12-13 | 2001-03-07 | 日本電気株式会社 | Soi基板 |
DE69737375T2 (de) * | 1996-12-27 | 2007-11-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Verfahren zur Befestigung eines elektronischen Bauteils auf einer Leiterplatte und System zum Ausführen des Verfahrens |
JP3521679B2 (ja) * | 1997-05-13 | 2004-04-19 | セイコーエプソン株式会社 | 圧着装置、液晶表示装置の製造方法及び圧着方法 |
JPH11307596A (ja) * | 1998-04-23 | 1999-11-05 | Hitachi Ltd | 低温接合方法 |
US6381837B1 (en) * | 1998-09-04 | 2002-05-07 | Visteon Global Technologies, Inc. | Method for making an electronic circuit assembly |
US6258627B1 (en) * | 1999-01-19 | 2001-07-10 | International Business Machines Corporation | Underfill preform interposer for joining chip to substrate |
JP3826605B2 (ja) * | 1999-03-08 | 2006-09-27 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置の実装構造の製造方法、液晶装置、および電子機器 |
JP4334054B2 (ja) * | 1999-03-26 | 2009-09-16 | 株式会社東芝 | セラミックス回路基板 |
JP2001034187A (ja) * | 1999-07-22 | 2001-02-09 | Nec Corp | 熱圧着装置および熱圧着方法 |
KR100646275B1 (ko) * | 1999-10-04 | 2006-11-17 | 엘지전자 주식회사 | 소자의 접합 방법 |
US6582548B1 (en) * | 2000-07-28 | 2003-06-24 | Triquint Technology Holding Co. | Compression bonding method using laser assisted heating |
TW592871B (en) * | 2000-12-21 | 2004-06-21 | Hitachi Ltd | Solder foil and semiconductor device and electronic device |
KR100446624B1 (ko) * | 2002-02-27 | 2004-09-04 | 삼성전자주식회사 | 양극접합 구조체 및 그 제조방법 |
US6995339B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-02-07 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Heatable wiper rest area for a transparency |
US7387738B2 (en) * | 2003-04-28 | 2008-06-17 | Air Products And Chemicals, Inc. | Removal of surface oxides by electron attachment for wafer bumping applications |
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