JP4185841B2 - 放射線透過試験画像の解像度を求める方法 - Google Patents
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スリット幅Wが1Tのスリット2の場合、 1T=W=S (1)式
スリット幅Wが2Tのスリット2の場合、 2T=W=S (2)式
スリット幅Wが4Tのスリット2の場合、 4T=W=S (3)式
また、スリット幅Wと、スリット長さLの関係は、
L>7*W (4)式
式(1)(2)(3)は、現状の有孔形透過度計が、試験体22の厚さの2%の板材に、その板厚と同値或いは2倍もしくは4倍の孔径の貫通孔を持ち、放射線透過試験条件に応じて指定の貫通孔の像が検査フィルム上で目視可能であることが要求されることを勘案し、この寸法上の特徴を踏襲した寸法要求である。
20から放射線を試験体22方向に照射して放射線を溶接部26を含む試験体22と階調計24とラインペア形透過度計21に透過させ、透過した放射線で検査フィルムを感光させて、その透過像を検査フィルム23に写しこむことで成される。その検査フィルム23には図3の(b)図のL3の範囲が写しこまれる。
27は樹脂等であらかじめ一体となるよう固定しても良い。これにより、フィルム撮影後の検査フィルム23に、ラインペア形透過度計21の名称,試験の管理番号が白色の文字で写しこむことが可能であり、後のフィルム管理に役立つ。
ここで、I(明)はもっとも高い強度レベルの値、I(暗)はもっとも低い値である。その値が大きいほうがコントラストが高い。一般的にこの値が0.2 以上であれば、識別可能であるとされるため、ラインペア像の分解能評価の際にも0.2 以上であることを識別可否の閾値とする。
=(B−A)/(B+A−2C) (6)式
これが0.2 すなわち20%以上であれば、デジタル化されたフィルム画像は十分に識別可能であり、放射線透過試験結果として適切な解像度が得られるとして手順46でMTF値が0.2 以上か否かを判定する。この判定は図2の手順12に相当する。MTF値が
0.2 以上の判定を受けたデジタル画像データは手順48でコンピュータ31のメモリに保存される。この保存は図2の手順13に該当する。MTF値が0.2 未満と判定された場合には、手順46で、その判定を受けたラインペア像のデータを有するデジタル画像データは手順47でコンピュータ31のメモリから消去され破棄される。
21…ラインペア形透過度計、22…試験体、23…検査フィルム、30…スキャナ、
31…コンピュータ、32…ディスプレイ。
Claims (3)
- 放射線透過試験用透過度計として、試験体の厚さの2%の板厚を持ち、試験体と同種或いは同様な放射線透過度合いを示す材料の板材に、その板厚と等しいもしくは2倍或いは4倍のスリット幅とそのスリット幅の7倍を超えるスリット長さを持つ長方形スリット貫通穴と、スリット幅と同じ幅のスリット間隔を一対としてこれを複数対持つ放射線透過試験用透過度計を使用し、
前記放射線透過試験用透過度計及び前記試験体に放射線を照射し、前記放射線透過試験用透過度計及び前記試験体を透過した放射線でフィルムを感光し、前記フィルムに写った前記放射線透過試験用透過度計の像のMTF値を求める放射線透過試験画像の解像度を求める方法。 - 請求項1において、前記フィルムに写った像をデジタル画像データに変換し、前記デジタル画像データに基づいて前記MTF値を求め、前記MTF値が予め定めた値よりも大きい場合に前記デジタル画像データを保存することを特徴とする放射線透過試験画像の解像度を求める方法。
- 放射線透過試験用透過度計として、試験体と同種或いは同様な放射線透過度合いを示す材料の板材に、その板材の板厚と等しいもしくは2倍或いは4倍のスリット幅とそのスリット幅の7倍を超えるスリット長さを持つ長方形スリット貫通穴と、前記スリット幅と同じ幅のスリット間隔を一対としてこれを複数対持つ形状の放射線透過試験用透過度計を使用し、前記放射線透過試験用透過度計及び試験体に放射線を照射して放射線透過試験用透過度計及び試験体を透過した放射線でフィルムを感光し、次に前記フィルムをスキャナでスキャニングして前記フィルムに写った像をデジタル画像データとし、前記デジタル画像データに基づいて放射線透過試験用透過度計の画像の前記スリット幅方向に並んだ明暗に係るMTF値を求め、前記MTF値が予め定めたMTF値以上であるか否かを判定して、前記予め定めたMTF値以上と判定されたものに係る前記デジタル画像データを電子的に保存する放射線透過試験画像の取得方法。
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