JP4138599B2 - Robot arm calibration method and calibration apparatus - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ロボットアームを基準点に位置合わせすることにより、ロボットアームの校正(位置合わせ)を行うロボットアームの校正方法及び校正装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、オシロスコープの複数のプローブを電子部品が実装された基板の各部に当て、各部の信号波形を同時に比較観察する場合に、複数のロボットアームを用い、その先端部を上記の各プローブで構成すれば、複数のプローブを自動的に基板上の所定の接触位置に移動できる。
【0003】
この場合、各プローブの移動先である基板上の接触点の相対位置関係は、基板設計データ(CADデータ等)からわかるので、このデータに基づき、各プローブを所定の接触位置に移動させることになる。しかし、各プローブを所定の接触位置に正確に移動させるためには、各プローブの座標上の原点を正確に一致させねばならない。そこで、各ロボットアームの校正が必要になる。
【0004】
この校正は、各ロボットアームを基準点に実際に移動させ、そのときの各ロボットアームの座標が同じになるように補正することで行う。よって、このような場合の校正の精度は、如何に正確に各ロボットアームを基準点に移動できるかにかかっている。
【0005】
従来、ロボットアーム(プローブ)を基準点に持って行く際に、基準点にパターンを形成しておき、このパターンとロボットアーム先端との接触により、ロボットアーム先端の基準点への到達を検知していた(例えば、特許文献1参照)。
【0006】
【特許文献1】
特開2002−039738公報(図1)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ロボットアームとパターンとの接触を伴う特許文献1に記載の構成では、ロボットアーム先端やパターンに、摩耗・変形・破損が生じるため、ロボットアーム先端を基準点に正確に移動できず、校正精度が低いという問題がある。
【0008】
本発明はこの問題を解決しようとするもので、ロボットアーム先端を基準点に正確に移動して校正を行うことができるロボットアームの校正方法及び校正装置を実現することを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る発明(ロボットアームの校正方法)は、X軸方向からロボットアーム2に向けて、Z軸方向に対してビーム厚Tを有する平行光線を出射し、ロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量とロボットアーム2がビーム厚を全て遮る位置にある場合に安定した出力となるように設定された閾値との関係に応じた信号を基に、ロボットアーム2のY軸方向のエッジを求め、このエッジからロボットアーム2先端のY座標を算出し、この値が所定の値になるようにロボットアーム2先端をY軸方向に移動し、Y軸方向からロボットアーム2に向けて平行光線を出射し、ロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量と閾値との関係に応じた信号を基に、ロボットアーム2のX軸方向のエッジを求め、このエッジからロボットアーム2先端のX座標を算出し、この値が所定の値になるようにロボットアーム2先端をX軸方向に移動し、上記移動後のロボットアーム2の先端位置をX軸及びY軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のX軸及びY軸方向の校正を行うと共に、Z軸方向の校正の際には、X軸方向からロボットアーム2に向けて出射した平行光線中にロボットアーム2先端をZ軸方向から挿入した状態において、ロボットアーム2を照射後の平行光線を検出し、その受光量が閾値を越えると、この閾値を越えた時点でのロボットアーム2のZ軸方向の先端位置をZ軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のZ軸方向の校正を行うことを特徴とするものである。
【0010】
この発明では、ロボットアーム先端が基準点に来たか否かを平行光線の照射により検出するので、検出時のロボットアーム先端は非接触状態にある。このため、ロボットアーム先端は変形しておらず、ロボットアーム先端を基準点に正確に移動して校正を行うことができる。
【0011】
請求項2に係る発明(ロボットアームの校正装置)は、X軸方向からロボットアーム2に向けて、Z軸方向に対してビーム厚Tを有する平行光線を出射する第1ビーム発生部3と、Y軸方向からロボットアーム2に向けて平行光線を出射する第2ビーム発生部4と、
第1ビーム発生部3から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量とロボットアーム2がビーム厚を全て遮る位置にある場合に安定した出力となるように設定された閾値との関係に応じた信号を出力する第1受光部5と、第2ビーム発生部4から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量と閾値との関係に応じた信号を出力する第2受光部6と、第1受光部5の出力信号からロボットアーム2のY軸方向のエッジを検出し、ロボットアーム2先端のY座標を求めるY座標計算手段7と、第2受光部6の出力信号からロボットアーム2のX軸方向のエッジを検出し、ロボットアーム2先端のX座標を求めるX座標計算手段8とを有し、Y座標計算手段7及びX座標計算手段8の出力信号が所定の値になるようにロボットアーム2先端の移動を行い、この移動後の位置をX軸及びY軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のX軸及びY軸方向の校正を行うと共に、Z軸方向の校正の際には、第1ビーム発生部3よりX軸方向からロボットアーム2に向けて出射した平行光線中にロボットアーム2先端をZ軸方向から挿入した状態において、第1受光部5の出力信号が、ロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量が閾値を越えたことを示すと、この閾値を越えた時点でのロボットアーム2のZ軸方向の先端位置をZ軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のZ軸方向の校正を行うことを特徴とするものである。
【0012】
この発明においても、ロボットアーム先端が基準点に来たか否かを平行光線の照射により検出するので、検出時のロボットアーム先端は非接触状態にあるため、ロボットアーム先端は変形しておらず、ロボットアーム先端を基準点に正確に移動して校正を行うことができる。
【0015】
【実施の形態】
(第1の実施の形態例)
本発明の第1の実施の形態例を図1〜図4を用いて説明する。これらの図において、平板1上には、X軸方向からロボットアーム2に向けて平行光線を出射する第1ビーム発生部3と、Y軸方向からロボットアーム2に向けて平行光線を出射する第2ビーム発生部4とが配置されている。
【0016】
更に、この平板1上には、第1ビーム発生部3から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線を検出する第1受光部5と、第2ビーム発生部4から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線を検出する第2受光部6とが配置されている。
【0017】
本形態例における第1ビーム発生部3は、図3中に示すように、半導体レーザ等のレーザ 光源11から出たレーザ ビームを、Z軸と平行な軸を中心に時計方向に定速回転するポリゴンミラー(回転多面鏡)12に入射させて回転させ、この回転ビーム(反射光)をコリメータレンズ(fθレンズ)13でX軸方向の平行ビームに変換し、これをY軸方向に一定速度で移動させるものである。
【0018】
第1ビーム発生部3からX軸方向に出射したレーザビームのY軸方向の移動は、ポリゴンミラー12の反射面が切り替わる毎に繰り返される。受光素子14はこのY軸方向の移動の始点を決めるもので、レーザビームが走査開始端を通過することを検知すると、その旨を示す同期信号を出力する。
【0019】
第2ビーム発生部4も、レーザビームの移動方向が第1ビーム発生部3と異なるだけで、基本的には、同じ構造を有している。この構成により、第1ビーム発生部3の出力ビームと第2ビーム発生部4の出力ビームとは、X−Y平面と平行なそれぞれの平面上で移動する。本形態例では、第1ビーム発生部3と第2ビーム発生部4の直交する出力ビームが重ならない程度に、両ビームの移動平面がZ方向にずれるように構成している(両ビームが重なるように配置してもよい)。
【0020】
本形態例における第1受光部5は、図3中に示すように、第1ビーム発生部3から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線を集束させる受光レンズ21と、受光レンズ21の焦点位置にて受光量を検出する受光素子22と、受光素子22の出力を一定の閾値で二値化する二値化回路23とから構成されている。
【0021】
第1ビーム発生部3(コリメータレンズ13)から出射された平行ビームがロボットアーム2により遮られない場合には、第1受光部5の出力信号はハイレベル(又はローレベル)を維持するが、ロボットアーム2により遮られる場合には、ローレベル(又はハイレベル)になる。従って、第1受光部5の出力信号の変化から、レーザビームがロボットアーム2のY軸方向のエッジを通過する時刻を知ることができる。
【0022】
校正制御部10内のY座標計算手段7は、第1受光部5の出力信号からロボットアーム2のY軸方向のエッジを検出し、ロボットアーム2先端のY座標Ycを求めるものである。具体的には、受光素子14の同期信号を受けた時刻をt0、第1受光部5の出力信号がハイレベルになった時刻をt1、第1受光部5の出力信号が再びローレベルになった時刻をt2としたとき、t1−t0を測定し、この値にレーザビームのY軸方向の移動速度を掛けることにより、ロボットアーム2のY軸方向の上側エッジ(受光素子14側のエッジ)のY座標Ya(図2参照)を求めることができ、t2−t0を測定し、この値にレーザビームのY軸方向の移動速度を掛けることにより、ロボットアーム2のY軸方向の下側エッジ(受光素子14側のエッジ)のY座標Yb(図2参照)を求めることができる。ここで、ロボットアーム2の先端形状が図2に示すように円錐形であれば、ロボットアーム2先端のY座標Ycは、Yc=(Ya+Yb)/2となる。
【0023】
第2受光部6も、第1受光部5と同様な構成を有し、第2ビーム発生部4から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線を検出している。そして、第2ビーム発生部4から出射された平行ビームがロボットアーム2により遮られない場合には、第2受光部6の出力信号はハイレベル(又はローレベル)を維持するが、ロボットアーム2により遮られる場合には、ローレベル(又はハイレベル)になる。従って、第2受光部6の出力信号の変化から、レーザビームがロボットアーム2のX軸方向の左側及び右側エッジを通過する時刻を知ることができる。
【0024】
校正制御部10内のX座標計算手段8は、第2受光部6の出力信号からロボットアーム2のX軸方向の2つのエッジを検出し、ロボットアーム2先端のX座標Xcを求めるもので、Y座標計算手段7と同様の構成を有している。そして、ロボットアーム2のX軸方向の右側エッジのX座標Xa(図2参照)と左側エッジのX座標Xb(図2参照)を求めることにより、ロボットアーム2先端のX座標Xc=(Xa+Xb)/2を計算している。
【0025】
校正制御部10は、上記Y座標計算手段7及びX座標計算手段8を有し、これら計算手段7,8の出力信号を受け、ロボットアーム2先端のX座標XcとY座標Ycが所定の値になるように、ロボットアーム2先端を移動させるものである。この校正制御部10は、アクチュエータ制御部30を介して、X軸方向駆動部31及びY軸方向駆動部32を制御し、Y座標計算手段7とX座標計算手段8にて求められるロボットアーム2先端のX座標Xc,Y座標Ycが、それぞれ、所定の値Xp,Ypになるまで、ロボットアーム2先端を移動させる。
【0026】
この移動後の座標位置(Xp,Yp)は基準点P(図2参照)の座標であり、ロボットアーム2が、その停止位置の座標を(Xp,Yp)であると正しく認識できるように、ロボットアーム2の位置制御系を校正する。尚、ロボットアーム2はZ軸方向駆動部33にZ軸方向に駆動可能に搭載され、Z軸方向駆動部33はY軸方向駆動部32にY軸方向に移動可能に搭載され、Y軸方向駆動部32はX軸方向駆動部31にX軸方向に移動可能に搭載されており、これにより、ロボットアーム2の3次元方向の駆動が確保されている。
【0027】
上記形態例において、Z軸方向の位置合わせは、校正制御部10が、アクチュエータ制御部30を介して、Z軸方向駆動部33を駆動制御し、図4に示すように、第1ビーム発生部3から出射された平行光線H中に、Z軸方向からロボットアーム2を挿入していくことにより行う。図4(a)の状態では、ロボットアーム2の挿入がなされていないので、当然ながら第1受光部5の出力信号には変化がない。一方、図4(b)の状態になると、ロボットアーム2一部が平行光線H中に挿入されるため、受光素子22の出力信号に変化が出る。しかし、遮られる光線が少ないため、第1受光部5の出力信号(測定値)の揺れやバラツキが大きい。
【0028】
図4(a)の状態から図4(b)の状態を経て、更に挿入すると、第1受光部5の出力信号が安定する。この安定した時のロボットアーム2の位置(図4(c)の状態)に到達した時点で、ロボットアーム2を停止させる。そして、この位置をZ軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のZ軸方向の校正を行う。
【0029】
ここで、第1受光部5の出力信号は、上記の通り、第1ビーム発生部3(コリメータレンズ13)から出射された平行光線がロボットアーム2により遮られた場合にローレベルになるが、受光素子22の出力信号がどれだけ低下したときにローレベルとなるかは、二値化回路23の閾値により決まる。そして、第1受光部5の出力信号が安定した時(図4(c)の状態)のロボットアーム2の先端位置も、この閾値により変化する。
【0030】
本形態例では、第1ビーム発生部3から出射された平行光線H中へのロボットアーム2先端の挿入完了時(平行光線Hの図4(c)における上下方向の全幅Tにわたって、ロボットアーム2の先端が差し込まれた時)に、第1受光部5の出力信号が安定するように、上記閾値が選ばれている。このZ軸方向の位置合わせは、X,Y軸方向の位置合わせの前でも後でもよい。
【0031】
上記形態例では、複数のロボットアーム2先端を一つの基準点に移動して、校正を行う。そして、ロボットアーム2先端が基準点に来たか否かの検出は、平行光線の照射により行うので、検出時のロボットアーム2先端は非接触状態にある。このため、ロボットアーム2先端は変形しておらず、ロボットアーム2先端を基準点に正確に移動して校正を行うことができる。
【0032】
又、本形態例において、第1及び第2ビーム発生部3,4から同時にレーザビームを出射するようにし、且つ、この時に両平行光線中にロボットアーム2先端が挿入されているように構成すれば、X軸方向及びY軸方向の双方に関する位置合わせを同時に行うことができる。又、上記形態例のように、第1ビーム発生部3と第2ビーム発生部4の直交する出力ビームが重ならない程度に、両ビームの移動平面をZ方向にずらせた場合、第1ビーム発生部3ではなく第2ビーム発生部4から出射された各平行光線中にロボットアーム2先端を挿入し、上記Z軸方向の位置合わせを行うようにしてもよい。
(第2の実施の形態例)
第2の実施の形態例は、ロボットアーム2が傾斜して設けられたもので、その特徴は、Y座標計算手段7とX座標計算手段8でのロボットアーム2先端のY座標,X座標の算出方法にあり、その他の構成は、第1の実施の形態例と同様である。そこで、相違点であるロボットアーム2先端の座標Xsの算出方法についてのみ説明する。
【0033】
まず、X座標計算手段8でのロボットアーム2先端のX座標の算出方法を図5を用いて説明する。図5中の円錐形のロボットアーム2の先端形状、Y軸方向から見たときのロボットアーム2先端の傾斜角θ、平行光線Hの幅Tは既知である。ロボットアーム2のX軸方向の右上側エッジCのX座標XC、左上側エッジBのX座標XB、先端AのX座標XAとしたとき、右上側エッジCと先端Aとの中点nのX座標Xnと、左上側エッジBと先端Aとの中点mのX座標Xmとは、次式のようになる。
【0034】
Xn=(XA+XC)/2
Xm=(XA+XB)/2
第2受光部6の出力信号からロボットアーム2のX軸方向のエッジを検出するが、ここで検出されたX軸方向の右側エッジのX座標は中点nのX座標Xnに等しいと推定され、X軸方向の右側エッジのX座標は中点mのX座標Xmに等しいと推定される。
【0035】
又、アームセンターSのX座標Xsは、中点nと中点mとの中点であることから、次式のようになる。
【0036】
Xs=(Xn+Xm)/2
そこで、このアームセンターSとロボットアーム2の先端Aとの距離をLとし、ロボットアーム2先端AのX座標XAとアームセンターSとのX座標Xsの差をΔとすれば、次の関係が成り立つ。
【0037】
Δ=L・sinθ
よって、ロボットアーム2の先端AのX座標XAは、次式のようになる。
【0038】
XA=Xs+Δ
=(Xn+Xm)/2+L・sinθ
ここで、Xn,Xmは第2受光部6の出力信号から求まり、L・sinθはロボットアーム2の先端形状(XA,XB,XC),T,θから求まる。X座標計算手段8は、上式からロボットアーム2の先端AのX座標XAを計算する。一方、ロボットアーム2の先端AのY座標YAについては、Y座標計算手段7が、全く同様にして、第1受光部5の出力信号等を用いて計算する。
【0039】
本形態例における校正制御部10は、アクチュエータ制御部30を介して、X軸方向駆動部31及びY軸方向駆動部32を制御し、Y座標計算手段7とX座標計算手段8にて求められるロボットアーム2先端のX座標XA,Y座標YAが、それぞれ、所定の値Xp,Ypになるまで、ロボットアーム2先端を移動させることになる。
(上記以外の実施の形態例)
本発明は上記の各実施の形態例に限定されるものではない。例えば、上記形態例では、図3に示したようなポリゴンミラー12等を用いた高速走査光学系を用いたが、一本のレーザビームを出射する第1及び第2ビーム発生部3,4を用い、図6に示すように、第1ビーム発生部3と第1受光部5とが同期してY軸方向に走行するようにガイドシャフト41,43でもって案内され、第2ビーム発生部4と第2受光部6とが同期してX軸方向に走行できるようにガイドシャフト42,44でもって案内されるように構成してもよい。
【0040】
又、上記各形態例は、レーザビームを走査してロボットアーム2のエッジを検出したが、ロボットアーム2を覆う程度の広がりを持った平行光線を同時に照射し、ロボットアーム2を通過後の平行光線を撮像素子で受け、その画像からロボットアーム2のエッジを検出し、ロボットアーム2先端のX,Y座標を求めるようにしてもよい。
【0041】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1に係る校正方法の発明では、ロボットアーム先端が基準点に来たか否かを平行光線の照射により検出するので、検出時のロボットアーム先端は非接触状態にある。このため、ロボットアーム先端は変形しておらず、ロボットアーム先端を基準点に正確に移動して校正を行うことができる。
【0042】
請求項2に係る校正装置の発明においても、ロボットアーム先端が基準点に来たか否かを平行光線の照射により検出するので、検出時のロボットアーム先端は非接触状態にあるため、ロボットアーム先端は変形しておらず、ロボットアーム先端を基準点に正確に移動して校正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態例を示す図である。
【図2】X,Y座標計算の説明図である。
【図3】ビーム発生部及び受光部の構成図である。
【図4】Z軸方向の位置合わせの説明図である。
【図5】傾斜しているロボットアームでの座標計算の説明図である。
【図6】本発明の他の実施の形態例を示す図である。
【符号の説明】
1 平板
2 ロボットアーム
3 第1ビーム発生部
4 第2ビーム発生部
5 第1受光部
6 第2受光部
7 Y座標計算手段
8 X座標計算手段
10 校正制御部
11 光源
12 ポリゴンミラー
13 コリメータレンズ
14 受光素子
21 受光レンズ
22 受光素子
23 二値化回路
30 アクチュエータ制御部
31 X軸方向駆動部
32 Y軸方向駆動部
33 Z軸方向駆動部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a robot arm calibration method and calibration apparatus that perform calibration (position alignment) of a robot arm by aligning the robot arm with a reference point.
[0002]
[Prior art]
For example, when a plurality of probes of an oscilloscope are applied to each part of a board on which electronic components are mounted and the signal waveforms of each part are simultaneously compared and observed, a plurality of robot arms are used, and the tip of each probe is composed of the above probes. Thus, the plurality of probes can be automatically moved to a predetermined contact position on the substrate.
[0003]
In this case, since the relative positional relationship between the contact points on the substrate to which each probe is moved is known from the substrate design data (CAD data or the like), each probe is moved to a predetermined contact position based on this data. Become. However, in order to accurately move each probe to a predetermined contact position, the origins on the coordinates of each probe must be exactly matched. Therefore, it is necessary to calibrate each robot arm.
[0004]
This calibration is performed by actually moving each robot arm to the reference point and performing correction so that the coordinates of each robot arm at that time are the same. Therefore, the accuracy of calibration in such a case depends on how accurately each robot arm can be moved to the reference point.
[0005]
Conventionally, when the robot arm (probe) is brought to the reference point, a pattern is formed at the reference point, and the contact of this pattern with the tip of the robot arm detects the arrival of the robot arm tip at the reference point. (For example, refer to Patent Document 1).
[0006]
[Patent Document 1]
JP 2002-039738 A (FIG. 1)
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
In the configuration described in
[0008]
The present invention is intended to solve this problem, and an object of the present invention is to realize a robot arm calibration method and calibration apparatus that can perform calibration by accurately moving the tip of the robot arm to a reference point. .
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The invention according to claim 1 (method for calibrating a robot arm) is toward the X-axis direction on the
[0010]
In the present invention, whether or not the tip of the robot arm has reached the reference point is detected by irradiating parallel rays, so that the tip of the robot arm at the time of detection is in a non-contact state. For this reason, the tip of the robot arm is not deformed, and calibration can be performed by accurately moving the tip of the robot arm to the reference point.
[0011]
The invention (the robot arm calibration apparatus) according to
The first beam is emitted from the generator 3 the relationship between the stable output to become as set threshold when the received light quantity and the
[0012]
Also in this invention, since the detection of whether or not the robot arm tip has reached the reference point by irradiation of parallel rays, the robot arm tip at the time of detection is in a non-contact state, the robot arm tip is not deformed, Calibration can be performed by accurately moving the tip of the robot arm to the reference point.
[0015]
Embodiment
(First embodiment)
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In these drawings, on the
[0016]
Further, on the
[0017]
As shown in FIG. 3, the first beam generation unit 3 in this embodiment rotates a laser beam emitted from a
[0018]
The movement in the Y-axis direction of the laser beam emitted from the first beam generating unit 3 in the X-axis direction is repeated each time the reflecting surface of the
[0019]
The second
[0020]
As shown in FIG. 3, the first light-receiving
[0021]
When the parallel beam emitted from the first beam generating unit 3 (collimator lens 13) is not blocked by the
[0022]
The Y coordinate calculation means 7 in the
[0023]
The second light receiving unit 6 also has a configuration similar to that of the first
[0024]
The X coordinate calculation means 8 in the
[0025]
The
[0026]
The coordinate position (Xp, Yp) after this movement is the coordinate of the reference point P (see FIG. 2), so that the
[0027]
In the above-described embodiment, the alignment in the Z-axis direction is performed by the
[0028]
When further inserted from the state of FIG. 4A through the state of FIG. 4B, the output signal of the first
[0029]
Here, as described above, the output signal of the first
[0030]
In this embodiment, when the end of the
[0031]
In the above embodiment, calibration is performed by moving the tips of the plurality of
[0032]
In this embodiment, the first and
(Second Embodiment)
In the second embodiment, the
[0033]
First, a method for calculating the X coordinate of the tip of the
[0034]
Xn = (XA + XC) / 2
Xm = (XA + XB) / 2
The X-axis direction edge of the
[0035]
Further, since the X coordinate Xs of the arm center S is the midpoint between the midpoint n and the midpoint m, the following equation is obtained.
[0036]
Xs = (Xn + Xm) / 2
Therefore, if the distance between the arm center S and the tip A of the
[0037]
Δ = L · sinθ
Therefore, the X coordinate XA of the tip A of the
[0038]
XA = Xs + Δ
= (Xn + Xm) / 2 + L · sinθ
Here, Xn and Xm are obtained from the output signal of the second light receiving unit 6, and L · sin θ is obtained from the tip shape (XA, XB, XC), T, and θ of the
[0039]
The
(Example embodiments other than the above)
The present invention is not limited to the embodiments described above. For example, in the above embodiment, a high-speed scanning optical system using the
[0040]
In each of the above-described embodiments, the edge of the
[0041]
【The invention's effect】
As described above, in the invention of the calibration method according to the first aspect, whether or not the tip of the robot arm has reached the reference point is detected by irradiating with parallel rays, so the tip of the robot arm at the time of detection is in a non-contact state. . For this reason, the tip of the robot arm is not deformed, and calibration can be performed by accurately moving the tip of the robot arm to the reference point.
[0042]
Also in the invention of the calibration device according to the second aspect, since whether or not the tip of the robot arm has reached the reference point is detected by irradiation of parallel rays, the tip of the robot arm is in a non-contact state at the time of detection. Is not deformed and can be calibrated by accurately moving the tip of the robot arm to the reference point.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a first exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram of X and Y coordinate calculation.
FIG. 3 is a configuration diagram of a beam generating unit and a light receiving unit.
FIG. 4 is an explanatory diagram of alignment in the Z-axis direction.
FIG. 5 is an explanatory diagram of coordinate calculation in an inclined robot arm.
FIG. 6 is a diagram showing another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (2)
Y軸方向からロボットアーム2に向けて平行光線を出射し、ロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量と閾値との関係に応じた信号を基に、ロボットアーム2のX軸方向のエッジを求め、このエッジからロボットアーム2先端のX座標を算出し、この値が所定の値になるようにロボットアーム2先端をX軸方向に移動し、
上記移動後のロボットアーム2の先端位置をX軸及びY軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のX軸及びY軸方向の校正を行うと共に、
Z軸方向の校正の際には、X軸方向からロボットアーム2に向けて出射した平行光線中にロボットアーム2先端をZ軸方向から挿入した状態において、ロボットアーム2を照射後の平行光線を検出し、その受光量が閾値を越えると、この閾値を越えた時点でのロボットアーム2のZ軸方向の先端位置をZ軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のZ軸方向の校正を行うロボットアームの校正方法。Towards the X-axis direction on the robot arm 2, emits a collimated light beam having a beam thickness T to the Z-axis direction, the light receiving amount and the robot arm 2 of the parallel rays after irradiation robot arm 2 intercepts all the beam thickness Based on the signal according to the relationship with the threshold value set so that the output is stable when in position, the edge in the Y-axis direction of the robot arm 2 is obtained, and the Y coordinate of the tip of the robot arm 2 is obtained from this edge. Calculate, move the tip of the robot arm 2 in the Y-axis direction so that this value becomes a predetermined value,
The parallel beam is emitted from the Y-axis direction toward the robot arm 2 and the edge of the robot arm 2 in the X-axis direction is based on a signal corresponding to the relationship between the received amount of the parallel beam after irradiation of the robot arm 2 and the threshold value. And the X coordinate of the tip of the robot arm 2 is calculated from this edge, the tip of the robot arm 2 is moved in the X-axis direction so that this value becomes a predetermined value,
Using the tip position of the robot arm 2 after the movement as a reference point in the X-axis and Y-axis directions, the tip position of the robot arm 2 is calibrated in the X-axis and Y-axis directions ,
When calibrating in the Z-axis direction, the parallel rays after irradiating the robot arm 2 are irradiated in the state where the tip of the robot arm 2 is inserted from the Z-axis direction into the parallel rays emitted from the X-axis direction toward the robot arm 2. When the detected amount of light exceeds a threshold value, the tip position in the Z-axis direction of the robot arm 2 at the time when the threshold value is exceeded is used as a reference point in the Z-axis direction. Calibration method for the robot arm that performs calibration.
Y軸方向からロボットアーム2に向けて平行光線を出射する第2ビーム発生部4と、
第1ビーム発生部3から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量とロボットアーム2がビーム厚を全て遮る位置にある場合に安定した出力となるように設定された閾値との関係に応じた信号を出力する第1受光部5と、
第2ビーム発生部4から出射されロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量と閾値との関係に応じた信号を出力する第2受光部6と、
第1受光部5の出力信号からロボットアーム2のY軸方向のエッジを検出し、ロボットアーム2先端のY座標を求めるY座標計算手段7と、
第2受光部6の出力信号からロボットアーム2のX軸方向のエッジを検出し、ロボットアーム2先端のX座標を求めるX座標計算手段8とを有し、
Y座標計算手段7及びX座標計算手段8の出力信号が所定の値になるようにロボットアーム2先端の移動を行い、この移動後の位置をX軸及びY軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のX軸及びY軸方向の校正を行うと共に、
Z軸方向の校正の際には、第1ビーム発生部3よりX軸方向からロボットアーム2に向けて出射した平行光線中にロボットアーム2先端をZ軸方向から挿入した状態において、第1受光部5の出力信号が、ロボットアーム2を照射後の平行光線の受光量が閾値を越えたことを示すと、この閾値を越えた時点でのロボットアーム2のZ軸方向の先端位置をZ軸方向の基準点として、ロボットアーム2の先端位置のZ軸方向の校正を行うロボットアームの校正装置。A first beam generator 3 that emits parallel light beams having a beam thickness T with respect to the Z- axis direction from the X-axis direction toward the robot arm 2 ;
A second beam generating unit 4 that emits parallel rays from the Y-axis direction toward the robot arm 2 ;
The first beam is emitted from the generator 3 the relationship between the stable output to become as set threshold when the received light quantity and the robot arm 2 of the parallel rays after irradiation robot arm 2 is in the position blocking all the beam thickness A first light receiving unit 5 that outputs a signal corresponding to
A second light receiving unit 6 that outputs a signal according to the relationship between the amount of received parallel light beams emitted from the second beam generating unit 4 and irradiated on the robot arm 2 and a threshold ;
Y coordinate calculation means 7 for detecting the Y-axis direction edge of the robot arm 2 from the output signal of the first light receiving unit 5 and obtaining the Y coordinate of the tip of the robot arm 2 ;
X coordinate calculation means 8 for detecting the X-axis direction edge of the robot arm 2 from the output signal of the second light receiving unit 6 and obtaining the X coordinate of the tip of the robot arm 2 ;
The tip of the robot arm 2 is moved so that the output signals of the Y coordinate calculation means 7 and the X coordinate calculation means 8 become predetermined values, and the position after this movement is used as a reference point in the X-axis and Y-axis directions. While calibrating the tip position of 2 in the X-axis and Y-axis directions ,
When calibrating in the Z-axis direction, the first light receiving portion 3 is inserted in the parallel beam emitted from the first beam generating unit 3 toward the robot arm 2 from the X-axis direction and inserted in the Z-axis direction. When the output signal of the unit 5 indicates that the amount of parallel light received after irradiating the robot arm 2 exceeds the threshold value, the tip position in the Z-axis direction of the robot arm 2 when the threshold value is exceeded is indicated as the Z-axis. A robot arm calibration device that calibrates the tip position of the robot arm 2 in the Z-axis direction as a direction reference point .
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