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JP4058149B2 - Mask alignment method for vacuum deposition system - Google Patents

Mask alignment method for vacuum deposition system Download PDF

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JP4058149B2
JP4058149B2 JP34364597A JP34364597A JP4058149B2 JP 4058149 B2 JP4058149 B2 JP 4058149B2 JP 34364597 A JP34364597 A JP 34364597A JP 34364597 A JP34364597 A JP 34364597A JP 4058149 B2 JP4058149 B2 JP 4058149B2
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JP
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mask
substrate
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猛 山崎
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Canon Anelva Corp
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、真空成膜装置において、パターン形成用のマスクを基板に対して位置合わせするマスク位置合わせ方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
真空中で基板上に形成される薄膜は、多くの場合、最終的には所定の線状あるいはドット状のパターンになるようにしている。基板上の薄膜を微細なパターンに形成する手段としてはドライエッチングがよく用いられている。このドライエッチングは、真空中においてプラズマ放電や高温加熱を伴うものである。
【0003】
ところで、カラーの表示パネルを実現する有望な技術として、有機エレクトロルミネセンス薄膜(例えばアルミキノリノール)を用いた技術が知られている。この有機エレクトロルミネセンス薄膜は、プラズマ放電や高温加熱などの環境に耐えられない(150℃が限度)ので、上述のようなドライエッチングを用いてパターンを形成することができない。そこで、薄膜形成の段階で最初から所定のパターンとなるように成膜することが求められている。
【0004】
図9(A)は基板にマスクを取り付けて有機エレクトロルミネセンス薄膜を所定パターンに成膜するようにした従来技術の正面断面図である。基板10の表面にマスク12を密着させて取り付ける。マスク12には多数の微小な開口部14が形成されている。この開口部14を通して蒸着物16(有機エレクトロルミネセンス物質)が基板10の表面に堆積する。
【0005】
有機エレクトロルミネセンス薄膜をカラー表示パネルとして使用する場合、そのピクセル(発光粒)の大きさは数μm程度である。そして、赤・緑・青の3色のピクセルは数十μmの間隔で規則正しく配列される。マスク12には、このようなピクセルに対応する位置に開口部が形成されている。
【0006】
ところで、ピクセルの大きさ(すなわち開口部14の大きさ)は上述のように微小であるから、マスク12の厚さが比較的厚いもの(0.5〜1.0mm)であると、図8(A)に示すように、開口部14内の蒸着膜16の周縁部18は、マスク12の陰になって、中央部よりも膜厚が薄くなる現象が生じる。
【0007】
このような膜厚の不均一性を解消するために、図9(B)に示すように、薄いマスク20が使われた。この場合は、マスク20による陰の問題はなくなり、開口部22での蒸着物24の厚さは均一になった。マスク20の厚さが薄ければ薄いほど、マスク20による陰の問題は生じなくなるので、マスク20はできるだけ薄い方がよい。。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
図9(B)において、マスク20を薄くしていくと、マスク20の弛みの問題が生じてくる。表示パネルの基板10のサイズは、例えば、A4サイズや、300mm角サイズである。それ以上のサイズになることもある。マスク20のサイズも基板10とほぼ同じである。このような大きなサイズのマスク20を非常に薄い板で作ると、このマスク20を基板10の表面に取り付けたときに、図9(C)に示すように、マスク20の中央付近でマスク20が下方に弛んで、マスク20と基板10の表面の間に隙間26ができる。300mm角程度の基板サイズでは基板の中央において5mm程度も隙間ができることがある。そして、この隙間26に蒸着膜24が入り込んで、蒸着パターンの周縁部に「にじみ」が生じる。このような「にじみ」がエレクトロルミネセンス画像の解像度を低下させることとなる。
【0009】
この発明は上述の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、薄いマスクを使った場合でもマスクの弛みが生じないようなマスク位置合わせ方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
この発明のマスク位置合わせ方法は、多数の貫通孔が形成されている薄板状のマスクを基板に対して位置合わせしてから、このマスクを基板表面に取り付けるようにしたものである。磁性材料でできたマスクを、電磁石を内蔵したマスク吸着体で一時的に磁気吸着した状態で、マスクと基板との位置合わせを実行し、その後、非磁性材料製の基板の背面側に配置された背面磁石の磁気吸引力でマスクを基板表面に吸着固定するようにしている。マスクと基板を位置合わせするには、マスクのアライメントマークと基板のアライメントマークを撮像装置(例えばCCDカメラ)で観察して、両者の位置ずれ量を検出し、この位置ずれ量がゼロになるようにマスク吸着体を基板に対して移動させている。マスク吸着体は、基板表面に平行な平面内で移動でき(これによりアライメントを実行する)、また、基板表面に垂直な方向に移動できる(これによりマスク吸着体と基板との距離を変更できる)。
【0011】
位置合わせ後のマスクは磁気吸引力で基板表面に密着固定されるので、薄いマスクであっても基板表面に密着することになり、マスクと基板表面の間に隙間が生じない。したがって、蒸着膜の「にじみ」がなくなる。このマスク着脱装置を、有機エレクトロルミネセンスの成膜に利用すれば、画像の解像度が向上する。
【0012】
また、マスクが磁気吸引力で基板表面に密着固定されるので、マスクセット基板をマスク着脱ゾーンから成膜ゾーンに移送するときにもマスクのずれが生じない。
【0013】
背面磁石は電磁石でも永久磁石でもよいが、好ましくは永久磁石とする。この永久磁石は磁石保持体で保持する。磁石保持体を熱伝導の良好な材料で形成すると、成膜中に、基板の熱を磁石保持体を介して逃がすことができ、基板の温度上昇を抑制できる。
【0014】
【発明の実施の形態】
図1は、この発明のマスク位置合わせ方法を実施するマスク着脱装置の一例を示す斜視図であり、図2はその正面断面図である。基板30の上方(背面側)には磁石保持体32があり、この磁石保持体32には細長い直方体の形状をした4個の永久磁石34が固定されている。4個の永久磁石34は、隣り合う永久磁石が互いに逆極性になるように配置されている(図2を参照)。この永久磁石34は本願発明における背面磁石に該当する。基板30の下方(表面側)には、薄板状のマスク36があり、このマスク36には多数の微小な開口部38が形成されていて、これらの多数の開口部38は規則正しく配列されている。開口部38の寸法は数μmであり、隣り合う開口部38の間隔は数十μmである。図1と図2では、図面を分かりやすくするために、開口部38を拡大して図示してある。
【0015】
基板30は非磁性材料(例えばガラス)で形成されている。マスク36は磁性材料(例えば鉄)で形成されている。この実施形態では、マスク36の厚さは0.05mmと薄くなっている。磁石保持体32は熱伝導の良好な金属材料、例えば銅やアルミニウム、で形成されている。
【0016】
マスク36の下方にはマスク吸着体40がある。マスク吸着体40は4個の電磁石42を内蔵している。このうちの2個の電磁石は励磁すると上面にN極が発生し、残りの2個の電磁石は励磁すると上面にS極が発生するようになっている。マスク吸着体40は、基板30に対して、上下方向すなわちZ方向(基板表面に垂直な方向)に移動可能でり、かつ、水平面内での2次元方向すなわちXY方向(基板表面に平行な平面内での2次元方向)に移動可能である。さらに、マスク吸着体40は、基板30に対して、基板表面に垂直な軸線回りにθ回転できる。すなわち、図2に示すように、マスク吸着体40はXY駆動ステージ84とZ駆動ステージ86とθ回転ステージ88の上に搭載されている。
【0017】
次に、図3を参照して、カラー表示用の有機エレクトロルミネセンス薄膜を成膜する場合におけるマスク着脱装置の動作を説明する。図3(A)において、マスク着脱ゾーンにはマスク吸着体40が配置されている。まず、基板30をマスク着脱ゾーンに搬入して、所定位置に停止させる。そして、基板30の背面側に磁石保持体32を密着させて取り付ける。これで、基板30と磁石保持体32は一体となり、成膜が完了するまで、基板30と磁石保持体32を一体として取り扱うことができる。なお、基板30と磁石保持体32をあらかじめ互いに固定しておいてから、これをマスク着脱ゾーンに移送してもよい。磁石保持体32は例えば爪状の部品やネジなどを用いて基板30に機械的に取り付ける。
【0018】
次に、赤色の発光粒を成膜するためのマスク36(1枚目のマスク)をマスク吸着体40と基板30の間に搬入する。マスク36は基板30から離れた状態にあるので、基板30の背面側の永久磁石34にマスク36が吸引されることはない。そして、このときは、マスク吸着体40の電磁石42はまだ非励磁状態にある。
【0019】
次に、マスク吸着体40の電磁石42を励磁すると、図3(B)に示すように、磁性体のマスク36はマスク吸着体40の表面に磁気吸着される。
【0020】
次に、図4(A)に示すように、マスク吸着体40を上昇させて、マスク36を基板30に近づける。近づけたときのマスク36と基板30との間隔は1〜1.5mm程度が適当である。このとき、マスク36は永久磁石34から磁気吸引力を受けるが、マスク吸着体40による磁気吸引力の方が強いので、マスク36はマスク吸着体40に吸着されたままである。マスク吸着体40の磁気吸引力の大きさは実験的に決定することができ、磁気吸引力を調整するには電磁石42に流す電流を調整すればよい。
【0021】
この状態で、マスク36と基板30の位置合わせをする。すなわち、2台のCCDカメラ44、46で、基板30の表面上の2個のアライメントマーク48、50と、マスク36上の2個のアライメントマーク52、54を観察して、両者が一致するように、マスク吸着体40をXY方向に移動させ、かつ、θ回転させる。これを詳しく説明すると、基板30のアライメントマーク48、50とマスク36のアライメントマーク52、54をCCDカメラ44、46で画像として取り込み、両者の位置ずれ量を検出して、この位置ずれ量がゼロになるように、マスク吸着体40をXYθ方向に微調整する。これらの位置合わせ作業はコンピュータにより自動的に行われる。
【0022】
基板30は透明なので、基板30の背面側に配置されたCCDカメラ44、46を用いて、基板の表面側のアライメントマーク48、50とマスク36上のアライメントマーク52、54を見通すことができる。これらのアライメントマークの形状は特に限定されないが、例えば十字型のマークとすることができる。
【0023】
このアライメント作業により、マスク36と基板30は数μmの精度で位置決めされる。
【0024】
マスク36の位置合わせが完了したら、マスク吸着体40の電磁石42を非励磁にする。すると、図4(B)に示すように、マスク36は基板30の背面側の永久磁石34に磁気吸引されて、基板30の表面上に吸着される。これにより、基板30とマスク36と磁石保持体32が一体化される(この一体化されたものをマスクセット基板56と呼ぶことにする)。磁性体製の薄いマスク36は磁気吸引力によって基板30の表面に吸着されるので、マスク36は弛むことがなく、マスク36と基板表面との間には隙間ができない。
【0025】
次に、マスク吸着体40を下げてから、マスクセット基板56をマスク着脱ゾーンから成膜ゾーンに移送する。マスクは基板表面にしっかりと磁気吸着されているので、マスクセット基板56を移送するときにも、マスク36がずれることがない。成膜ゾーンでは、有機エレクトロルミネセンスの赤色の発光粒を基板上にパターン成膜する。蒸着膜の厚さは100〜1000μmである。この発明では、マスク36が磁気吸着されているので、マスク36と基板表面の間には隙間がなく、蒸着膜の「にじみ」は生じない。
【0026】
赤色の発光粒の成膜が完了したら、マスクセット基板56をマスク着脱ゾーンに戻してから、次のようにして、赤色用のマスク36を基板30から取り外す。図5(A)において、マスク着脱ゾーンに戻ったマスクセット基板56に対してマスク吸着体40を上昇させて、マスク吸着体40の上面をマスク36の表面(下面)に近づける。そして、マスク吸着体40の電磁石42を励磁する。これにより、マスク36がマスク吸着体40に磁気吸着される。
【0027】
次に、図5(B)に示すように、マスク吸着体40を十分に下げてから、電磁石42を非励磁にし、マスク吸着体40からマスク36を取り外す。
【0028】
次に、図6(A)に示すように、緑色用のマスク58(2番目のマスク)をマスク吸着体40に載せて、電磁石42で磁気吸着する。その後、1番目のマスクと同様にして、2番目のマスク58についても図4に示すような位置合わせ作業を行い、2番目のマスク58を備えたマスクセット基板を作る。この場合、基板上には、すでに赤色用の薄膜パターンが形成されており、この赤色とは別の位置に、マスク58の開口部(緑色用)が位置することになる。緑色の発光粒の成膜が完了したら、同様にして、3番目のマスクを用いて、青色の発光粒を成膜する。このようにして、同一の基板に対して3種類のマスクを用いて赤・緑・青の3色の発光粒を順に成膜することで、有機エレクトロルミネセンス薄膜によるカラー表示パネルが出来上がる。
【0029】
次に、マスクの位置合わせ方法の別の例、すなわち、蒸着膜跡を利用したマスク位置合わせ方法を説明する。3枚のマスクには、全く同じ位置に、アライメント用の1対の開口をそれぞれ形成しておく。基板にはアライメントマークを形成しなくてもよい。まず、1番目のマスクを基板にセットする。このとき、1番目のマスクと基板との位置合わせはそれほど厳密にする必要はない。1番目のマスクを利用して、赤色の発光粒を成膜する。このとき、図7(A)に示すように、1番目のマスクのアライメント用の1対の開口を通して、1対の蒸着膜跡84が基板30上に形成される。次に、2番目のマスク86を基板30に対して位置合わせするときには、1対のCCDカメラ44を用いて、2番目のマスク86のアライメント用の1対の開口88と上述の1対の蒸着膜跡84を観察する。図7(B)はCCDカメラで蒸着膜跡84と開口88を見たところであり、図面では両者の位置がずれている。このずれをなくすように、2番目のマスクを搭載しているマスク吸着体を移動させる。これにより、基板に対して1番目のマスクと2番目のマスクの位置が同じになる。2番目のマスクを用いて緑色用の発光粒を成膜すると、図7(A)の蒸着膜跡84に重なって、2番目のマスクによる蒸着膜跡が同じ位置に形成される。次に、3番目のマスクを位置合わせする場合にも同様にして、この蒸着膜跡を利用する。
【0030】
はマスク着脱ゾーンと成膜ゾーンとを備える有機エレクトロルミネセンス薄膜用の真空成膜装置の概略の正面断面図である。マスク着脱ゾーン60はマスク着脱室62の内部にあり、ここにはマスク吸着体40が配置されている。成膜ゾーン64は成膜室66の内部にあり、ここには蒸着源69と、その上方に基板ホルダー70が配置されている。マスク着脱室62と成膜室66はそれぞれ別個の排気系76、78で排気される。基板30とマスク36は別個の収納棚80、82から取り出されて、マスク着脱ゾーンに移送される。マスク着脱ゾーン60でマスク36が位置合わせされてセットされたマスクセット基板56は、ゲートバルブ72を通過してから、成膜ゾーン64に移送される。このマスクセット基板56は、成膜ゾーン60において基板ホルダー70の下面に密着して取り付けられる。すなわち、磁石保持体32の上面が基板ホルダー70の下面に密着して取り付けられる。基板ホルダー70の内部には冷却水74が循環していて冷却されているので、成膜中は、基板30は磁石保持体32を介して基板ホルダー70により冷却される。これにより、成膜中の基板30の温度上昇を防ぐことができる。磁石保持体32は熱伝導の良好な銅またはアルミニウムで形成されているために、基板30の熱は磁石保持体32を介して基板ホルダー70に効率良く逃げていく。マスクセット基板56は例えば爪状の部品を上下動させることでこれをすくい上げて基板ホルダー70の下面に取り付けることができる。
【0031】
【発明の効果】
この発明のマスク位置合わせ方法は、位置合わせ後のマスクが磁気吸引力で基板表面に密着固定されるので、薄いマスクであっても基板表面に密着して、マスクと基板表面の間には隙間が生じない。したがって、蒸着膜の「にじみ」がなくなる。このマスク位置合わせ方法を、有機エレクトロルミネセンスの成膜に利用すれば、画像の解像度が向上する。また、マスクが磁気吸引力で基板表面に密着固定されるので、マスクセット基板をマスク着脱ゾーンから成膜ゾーンに移送するときにもマスクのずれが生じない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明のマスク位置合わせ方法を実施するマスク着脱装置の一例の斜視図である。
【図2】図1のマスク着脱装置の正面断面図である。
【図3】マスク着脱装置の動作を示す正面断面図である。
【図4】マスク着脱装置の別の動作を示す正面断面図である。
【図5】マスク着脱装置のさらに別の動作を示す正面断面図である。
【図6】マスク着脱装置のさらに別の動作を示す正面断面図である。
【図7】マスク位置合わせ方法の別の例を示す説明図である。
【図8】真空成膜装置の概略の正面断面図である。
【図9】マスクを利用した従来のパターン成膜法の正面断面図である。
【符号の説明】
30 基板
32 磁石保持体
34 永久磁石
36 マスク
38 開口部
40 マスク吸着体
42 電磁石
44、46 CCDカメラ
48、50 基板のアライメントマーク
52、54 マスクのアライメントマーク
56 マスクセット基板
60 マスク着脱ゾーン
64 成膜ゾーン
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention, a vacuum deposition apparatus odor Te relates mask alignment method for aligning a mask for pattern formation with respect to the substrate.
[0002]
[Prior art]
In many cases, the thin film formed on the substrate in a vacuum finally has a predetermined linear or dot pattern. Dry etching is often used as a means for forming a thin film on a substrate into a fine pattern. This dry etching is accompanied by plasma discharge and high temperature heating in vacuum.
[0003]
By the way, as a promising technique for realizing a color display panel, a technique using an organic electroluminescence thin film (for example, aluminum quinolinol) is known. Since this organic electroluminescent thin film cannot withstand an environment such as plasma discharge or high temperature heating (150 ° C. is the limit), a pattern cannot be formed using dry etching as described above. Therefore, it is required to form a film in a predetermined pattern from the beginning at the stage of thin film formation.
[0004]
FIG. 9A is a front sectional view of the prior art in which a mask is attached to a substrate to form an organic electroluminescent thin film in a predetermined pattern. The mask 12 is attached in close contact with the surface of the substrate 10. A large number of minute openings 14 are formed in the mask 12. A vapor deposition material 16 (organic electroluminescent material) is deposited on the surface of the substrate 10 through the opening 14.
[0005]
When an organic electroluminescence thin film is used as a color display panel, the size of the pixel (light emitting particle) is about several μm. The pixels of the three colors red, green, and blue are regularly arranged at intervals of several tens of μm. The mask 12 has an opening at a position corresponding to such a pixel.
[0006]
By the way, since the size of the pixel (that is, the size of the opening 14) is very small as described above, if the thickness of the mask 12 is relatively thick (0.5 to 1.0 mm), FIG. As shown to (A), the phenomenon that the peripheral part 18 of the vapor deposition film 16 in the opening part 14 becomes the shadow of the mask 12, and a film thickness becomes thinner than a center part.
[0007]
In order to eliminate such film thickness non-uniformity, a thin mask 20 was used as shown in FIG. In this case, the shadow problem due to the mask 20 disappeared, and the thickness of the deposit 24 at the opening 22 became uniform. As the thickness of the mask 20 is thinner, the shadow problem caused by the mask 20 does not occur. Therefore, the mask 20 should be as thin as possible. .
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
In FIG. 9B, when the mask 20 is made thinner, the problem of looseness of the mask 20 occurs. The size of the substrate 10 of the display panel is, for example, an A4 size or a 300 mm square size. It may be larger than that. The size of the mask 20 is almost the same as that of the substrate 10. When such a large-sized mask 20 is made of a very thin plate, when the mask 20 is attached to the surface of the substrate 10, the mask 20 is located near the center of the mask 20 as shown in FIG. A gap 26 is formed between the mask 20 and the surface of the substrate 10 by slacking downward. With a substrate size of about 300 mm square, there may be a gap of about 5 mm in the center of the substrate. Then, the vapor deposition film 24 enters the gap 26, and “bleeding” occurs in the peripheral portion of the vapor deposition pattern. Such “bleeding” reduces the resolution of the electroluminescent image.
[0009]
This invention has been made to solve the above problems, and its object is Ru near to provide a mask alignment method, such as loosening of the mask does not occur even when using a thin mask.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
According to the mask alignment method of the present invention, a thin plate-like mask in which a large number of through holes are formed is aligned with respect to the substrate, and then the mask is attached to the substrate surface. A mask made of a magnetic material is temporarily magnetically attracted by a mask adsorber containing an electromagnet, and then the mask and the substrate are aligned, and then placed on the back side of the nonmagnetic material substrate. The mask is attracted and fixed to the substrate surface by the magnetic attraction force of the back magnet. In order to align the mask and the substrate, the mask alignment mark and the substrate alignment mark are observed with an imaging device (for example, a CCD camera) to detect the amount of misalignment between them so that the amount of misalignment becomes zero. The mask adsorber is moved relative to the substrate. The mask suction body can move in a plane parallel to the substrate surface (this performs alignment), and can move in a direction perpendicular to the substrate surface (this can change the distance between the mask suction body and the substrate). .
[0011]
Since the mask after alignment is closely fixed to the substrate surface by a magnetic attractive force, even a thin mask is closely adhered to the substrate surface, and no gap is generated between the mask and the substrate surface. Therefore, there is no “bleeding” of the deposited film. If this mask attaching / detaching apparatus is used for organic electroluminescence film formation, the resolution of the image is improved.
[0012]
Further, since the mask is tightly fixed to the substrate surface by a magnetic attractive force, the mask is not displaced when the mask set substrate is transferred from the mask attaching / detaching zone to the film forming zone.
[0013]
The back magnet may be an electromagnet or a permanent magnet, but is preferably a permanent magnet. This permanent magnet is held by a magnet holder. When the magnet holder is formed of a material having good heat conduction, the heat of the substrate can be released through the magnet holder during film formation, and the temperature rise of the substrate can be suppressed.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a mask attaching / detaching apparatus for carrying out the mask alignment method of the present invention, and FIG. 2 is a front sectional view thereof. A magnet holder 32 is provided above the substrate 30 (on the back side), and four permanent magnets 34 in the shape of an elongated rectangular parallelepiped are fixed to the magnet holder 32. The four permanent magnets 34 are arranged so that adjacent permanent magnets have opposite polarities (see FIG. 2). The permanent magnet 34 corresponds to the back magnet in the present invention. A thin plate-like mask 36 is provided below the substrate 30 (on the front surface side), and a large number of minute openings 38 are formed in the mask 36, and the many openings 38 are regularly arranged. . The dimension of the opening 38 is several μm, and the interval between the adjacent openings 38 is several tens of μm. In FIG. 1 and FIG. 2, the opening 38 is illustrated in an enlarged manner for easy understanding of the drawings.
[0015]
The substrate 30 is made of a nonmagnetic material (for example, glass). The mask 36 is made of a magnetic material (for example, iron). In this embodiment, the thickness of the mask 36 is as thin as 0.05 mm. The magnet holder 32 is made of a metal material having good heat conduction, such as copper or aluminum.
[0016]
Below the mask 36 is a mask adsorber 40. The mask attracting body 40 contains four electromagnets 42. When two of these electromagnets are excited, an N pole is generated on the upper surface, and when the remaining two electromagnets are excited, an S pole is generated on the upper surface. The mask adsorbing body 40 is movable in the up-down direction, that is, the Z direction (direction perpendicular to the substrate surface) with respect to the substrate 30, and is two-dimensional in the horizontal plane, that is, the XY direction (a plane parallel to the substrate surface). In a two-dimensional direction). Furthermore, the mask adsorbing body 40 can rotate θ around the axis perpendicular to the substrate surface with respect to the substrate 30. That is, as shown in FIG. 2, the mask suction body 40 is mounted on the XY drive stage 84, the Z drive stage 86, and the θ rotation stage 88.
[0017]
Next, with reference to FIG. 3, the operation of the mask attaching / detaching apparatus when an organic electroluminescent thin film for color display is formed will be described. In FIG. 3A, a mask adsorbing body 40 is arranged in the mask attaching / detaching zone. First, the substrate 30 is carried into the mask attachment / detachment zone and stopped at a predetermined position. Then, the magnet holder 32 is attached in close contact with the back side of the substrate 30. Thus, the substrate 30 and the magnet holder 32 are integrated, and the substrate 30 and the magnet holder 32 can be handled as a unit until film formation is completed. Note that the substrate 30 and the magnet holder 32 may be fixed to each other in advance and then transferred to the mask attachment / detachment zone. The magnet holder 32 is mechanically attached to the substrate 30 using, for example, claw-like parts or screws.
[0018]
Next, a mask 36 (first mask) for depositing red luminescent particles is carried between the mask adsorbing body 40 and the substrate 30. Since the mask 36 is away from the substrate 30, the mask 36 is not attracted to the permanent magnet 34 on the back side of the substrate 30. At this time, the electromagnet 42 of the mask attracting body 40 is still in a non-excited state.
[0019]
Next, when the electromagnet 42 of the mask attracting body 40 is excited, the magnetic mask 36 is magnetically attracted to the surface of the mask attracting body 40 as shown in FIG.
[0020]
Next, as shown in FIG. 4A, the mask adsorbing body 40 is raised to bring the mask 36 closer to the substrate 30. An appropriate distance between the mask 36 and the substrate 30 when approaching is about 1 to 1.5 mm. At this time, the mask 36 receives a magnetic attraction force from the permanent magnet 34, but the mask 36 remains adsorbed on the mask attraction body 40 because the magnetic attraction force by the mask attraction body 40 is stronger. The magnitude of the magnetic attraction force of the mask attracting body 40 can be determined experimentally. To adjust the magnetic attraction force, the current flowing through the electromagnet 42 may be adjusted.
[0021]
In this state, the mask 36 and the substrate 30 are aligned. That is, the two alignment marks 48 and 50 on the surface of the substrate 30 and the two alignment marks 52 and 54 on the mask 36 are observed with the two CCD cameras 44 and 46 so that they coincide with each other. Next, the mask suction body 40 is moved in the XY directions and rotated by θ. This will be described in detail. The alignment marks 48, 50 on the substrate 30 and the alignment marks 52, 54 on the mask 36 are captured as images by the CCD cameras 44, 46, and the amount of positional deviation between them is detected. Then, the mask adsorbing body 40 is finely adjusted in the XYθ direction. These alignment operations are automatically performed by a computer.
[0022]
Since the substrate 30 is transparent, it is possible to see through the alignment marks 48 and 50 on the front surface side of the substrate and the alignment marks 52 and 54 on the mask 36 using the CCD cameras 44 and 46 disposed on the back side of the substrate 30. Although the shape of these alignment marks is not particularly limited, for example, a cross-shaped mark can be used.
[0023]
By this alignment operation, the mask 36 and the substrate 30 are positioned with an accuracy of several μm.
[0024]
When the alignment of the mask 36 is completed, the electromagnet 42 of the mask attracting body 40 is de-energized. Then, as shown in FIG. 4B, the mask 36 is magnetically attracted to the permanent magnet 34 on the back side of the substrate 30 and is attracted onto the surface of the substrate 30. As a result, the substrate 30, the mask 36 and the magnet holder 32 are integrated (this integrated substrate is referred to as a mask set substrate 56). Since the thin mask 36 made of a magnetic material is attracted to the surface of the substrate 30 by the magnetic attraction force, the mask 36 does not sag and no gap is formed between the mask 36 and the substrate surface.
[0025]
Next, after the mask adsorbing body 40 is lowered, the mask set substrate 56 is transferred from the mask attaching / detaching zone to the film forming zone. Since the mask is firmly magnetically attracted to the substrate surface, the mask 36 is not displaced when the mask set substrate 56 is transferred. In the film forming zone, organic electroluminescent red light emitting particles are formed into a pattern on the substrate. The thickness of the deposited film is 100 to 1000 μm. In the present invention, since the mask 36 is magnetically attracted, there is no gap between the mask 36 and the substrate surface, and “bleeding” of the deposited film does not occur.
[0026]
When film formation of red luminescent particles is completed, the mask set substrate 56 is returned to the mask attachment / detachment zone, and then the red mask 36 is removed from the substrate 30 as follows. In FIG. 5A, the mask adsorbing body 40 is raised with respect to the mask set substrate 56 returned to the mask attaching / detaching zone, and the upper surface of the mask adsorbing body 40 is brought close to the surface (lower surface) of the mask 36. Then, the electromagnet 42 of the mask attracting body 40 is excited. Thereby, the mask 36 is magnetically attracted to the mask attracting body 40.
[0027]
Next, as shown in FIG. 5B, after the mask attracting body 40 is sufficiently lowered, the electromagnet 42 is de-energized and the mask 36 is removed from the mask attracting body 40.
[0028]
Next, as shown in FIG. 6A, a green mask 58 (second mask) is placed on the mask attracting body 40 and magnetically attracted by the electromagnet 42. Thereafter, in the same manner as the first mask, the second mask 58 is aligned as shown in FIG. 4 to produce a mask set substrate including the second mask 58. In this case, a thin film pattern for red is already formed on the substrate, and the opening (for green) of the mask 58 is located at a position different from the red color. When the formation of the green light emitting particles is completed, the blue light emitting particles are formed in the same manner using the third mask. In this manner, a color display panel using an organic electroluminescence thin film is completed by sequentially forming red, green, and blue light emitting grains using the three types of masks on the same substrate.
[0029]
Next, another example of a mask alignment method, that is, a mask alignment method using a deposited film trace will be described. In the three masks, a pair of alignment openings is formed at exactly the same position. An alignment mark may not be formed on the substrate. First, the first mask is set on the substrate. At this time, the alignment between the first mask and the substrate does not need to be so strict. Using the first mask, red light emitting grains are formed. At this time, as shown in FIG. 7A, a pair of deposited film traces 84 is formed on the substrate 30 through a pair of openings for alignment of the first mask. Next, when aligning the second mask 86 with respect to the substrate 30, the pair of CCD cameras 44 is used to align the pair of openings 88 for alignment of the second mask 86 and the above-described pair of vapor depositions. A film trace 84 is observed. FIG. 7 (B) shows a state where the deposited film trace 84 and the opening 88 are seen with a CCD camera. The mask adsorber carrying the second mask is moved so as to eliminate this shift. As a result, the positions of the first mask and the second mask are the same with respect to the substrate. When the green light emitting particles are formed using the second mask, the vapor deposition film trace by the second mask is formed at the same position so as to overlap the vapor deposition film trace 84 of FIG. Next, when the third mask is aligned, the deposited film trace is used in the same manner.
[0030]
FIG. 8 is a schematic front sectional view of a vacuum film forming apparatus for an organic electroluminescent thin film having a mask attaching / detaching zone and a film forming zone. The mask attaching / detaching zone 60 is inside the mask attaching / detaching chamber 62, and the mask adsorbing body 40 is disposed here. The film formation zone 64 is inside a film formation chamber 66, where a vapor deposition source 69 and a substrate holder 70 are arranged above it. The mask attaching / detaching chamber 62 and the film forming chamber 66 are exhausted by separate exhaust systems 76 and 78, respectively. The substrate 30 and the mask 36 are taken out of the separate storage shelves 80 and 82 and transferred to the mask attaching / detaching zone. The mask set substrate 56 on which the mask 36 has been aligned and set in the mask attaching / detaching zone 60 passes through the gate valve 72 and is then transferred to the film forming zone 64. The mask set substrate 56 is attached in close contact with the lower surface of the substrate holder 70 in the film formation zone 60. That is, the upper surface of the magnet holder 32 is attached in close contact with the lower surface of the substrate holder 70. Since the cooling water 74 circulates inside the substrate holder 70 and is cooled, the substrate 30 is cooled by the substrate holder 70 via the magnet holder 32 during film formation. Thereby, the temperature rise of the substrate 30 during film formation can be prevented. Since the magnet holder 32 is made of copper or aluminum having good heat conduction, the heat of the substrate 30 efficiently escapes to the substrate holder 70 via the magnet holder 32. The mask set substrate 56 can be attached to the lower surface of the substrate holder 70 by scooping up a claw-like component, for example, by moving it up and down.
[0031]
【The invention's effect】
According to the mask alignment method of the present invention, the aligned mask is closely fixed to the substrate surface by magnetic attraction, so even a thin mask is closely adhered to the substrate surface, and there is a gap between the mask and the substrate surface. Does not occur. Therefore, there is no “bleeding” of the deposited film. If this mask alignment method is used for organic electroluminescence film formation, the resolution of the image is improved. Further, since the mask is tightly fixed to the substrate surface by a magnetic attractive force, the mask is not displaced when the mask set substrate is transferred from the mask attaching / detaching zone to the film forming zone.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view of an example of a mask attaching / detaching apparatus that implements a mask alignment method of the present invention.
FIG. 2 is a front sectional view of the mask attaching / detaching apparatus of FIG. 1;
FIG. 3 is a front sectional view showing the operation of the mask attaching / detaching apparatus.
FIG. 4 is a front cross-sectional view showing another operation of the mask attaching / detaching apparatus.
FIG. 5 is a front cross-sectional view showing still another operation of the mask attaching / detaching apparatus.
FIG. 6 is a front sectional view showing still another operation of the mask attaching / detaching apparatus.
FIG. 7 is an explanatory diagram showing another example of a mask alignment method.
FIG. 8 is a schematic front sectional view of a vacuum film forming apparatus.
FIG. 9 is a front sectional view of a conventional pattern film forming method using a mask.
[Explanation of symbols]
30 substrate 32 magnet holder 34 permanent magnet 36 mask 38 opening 40 mask attracting body 42 electromagnet 44, 46 CCD camera 48, 50 alignment mark 52, 54 mask alignment mark 56 mask set substrate 60 mask attachment / detachment zone 64 film formation zone

Claims (2)

多数の貫通孔が形成されている薄板状のマスクを、成膜すべき基板に対して位置合わせしてから、このマスクを基板の表面に取り付ける、真空成膜装置のマスク位置合わせ方法において、次の(ア)〜(オ)の段階を備えるマスク位置合わせ方法。
(ア)マスク吸着体に内蔵された電磁石を励磁して、磁性材料で形成されたマスクをマスク吸着体の表面上に一時的に磁気吸着する段階。
(イ)マスクを磁気吸着したマスク吸着体を非磁性材料で形成された基板の表面に近づける段階。
(ウ)マスク上のアライメントマークと基板上のアライメントマークとを撮像装置で観察する段階。
(エ)マスク上のアライメントマークの位置と基板上のアライメントマークの位置とが一致するように、基板に対してマスク吸着体を基板表面に平行な平面内で相対的に移動する段階。
(オ)前記電磁石を非励磁にして、非磁性材料製の基板の背面側に配置された背面磁石の磁気吸引力で、マスク吸着体上のマスクを基板表面上に吸着して保持する段階。
In a mask alignment method of a vacuum film formation apparatus, a thin plate-like mask in which a large number of through holes are formed is aligned with a substrate to be deposited, and then the mask is attached to the surface of the substrate. A mask alignment method comprising the steps of (a) to (e).
(A) A step of exciting the electromagnet built in the mask adsorption body to temporarily magnetically adsorb the mask formed of a magnetic material on the surface of the mask adsorption body.
(A) A step of bringing a mask adsorber magnetically adsorbing the mask closer to the surface of the substrate formed of a nonmagnetic material.
(C) A step of observing the alignment mark on the mask and the alignment mark on the substrate with an imaging device.
(D) A step of moving the mask adsorbent relative to the substrate within a plane parallel to the substrate surface so that the position of the alignment mark on the mask matches the position of the alignment mark on the substrate.
(E) A step in which the electromagnet is de-excited and the mask on the mask attracting body is attracted and held on the substrate surface by the magnetic attraction force of the back magnet disposed on the back side of the non-magnetic material substrate.
請求項に記載のマスク位置合わせ方法において、同一の基板上に複数のマスクを用いて複数種類の成膜を順次実施する場合に、前記基板上のアライメントマークが、その前の段階の成膜で使用したマスクのアライメント用の開口部分を通して成膜された蒸着膜跡であることを特徴とするマスク位置合わせ方法。2. The mask alignment method according to claim 1 , wherein when a plurality of types of film formation are sequentially performed using a plurality of masks on the same substrate, the alignment mark on the substrate is formed in the previous stage. A mask alignment method characterized by being a deposited film trace formed through an opening for alignment of the mask used in the above.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170031175A (en) * 2014-07-08 2017-03-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Magnetic chucking of mask with halbach array

Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW490714B (en) 1999-12-27 2002-06-11 Semiconductor Energy Lab Film formation apparatus and method for forming a film
JP5159010B2 (en) * 2000-09-08 2013-03-06 株式会社半導体エネルギー研究所 Method for manufacturing light emitting device
EP1202329A3 (en) * 2000-10-31 2006-04-12 The Boc Group, Inc. Mask Restraining method and apparatus
KR100382491B1 (en) * 2000-11-28 2003-05-09 엘지전자 주식회사 shadow mask in organic electroluminescence
US7396558B2 (en) 2001-01-31 2008-07-08 Toray Industries, Inc. Integrated mask and method and apparatus for manufacturing organic EL device using the same
KR100838065B1 (en) 2002-05-31 2008-06-16 삼성에스디아이 주식회사 Fixing device for thin film deposition machine and fixing method using the same
DE10360106A1 (en) * 2003-12-20 2005-07-21 Aixtron Ag Handling a dielectric substrate and electrically conducting mask, comprises applying the mask to the substrate and holding it in place electrostatically or magnetically
JP4553124B2 (en) * 2004-12-16 2010-09-29 株式会社日立ハイテクノロジーズ Vacuum deposition method and EL display panel
ATE437248T1 (en) * 2005-04-20 2009-08-15 Applied Materials Gmbh & Co Kg METHOD AND DEVICE FOR MASK POSITIONING
PL1715075T3 (en) * 2005-04-20 2008-10-31 Applied Mat Gmbh & Co Kg Magnetic mask holder
US7817175B2 (en) 2005-08-30 2010-10-19 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Laser induced thermal imaging apparatus and fabricating method of organic light emitting diode using the same
KR100700835B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Method for manufacturing organic electroluminescent device using laser thermal transfer method and donor film
KR100700834B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer method and manufacturing method of organic light emitting device using same
KR100745336B1 (en) 2005-11-16 2007-08-02 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device and laser thermal transfer method using the device
KR100711878B1 (en) * 2005-08-30 2007-04-25 삼성에스디아이 주식회사 Laser Thermal Transfer Device and Laser Thermal Transfer Method
KR100700841B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser Thermal Transfer Device and Laser Thermal Transfer Method Using the Same
KR100700833B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser Thermal Transfer Device and Laser Thermal Transfer Method Using the Same
KR100700822B1 (en) 2005-08-30 2007-03-27 삼성에스디아이 주식회사 Laser Thermal Transfer Method and Manufacturing Method of Organic Electroluminescent Device Using the Same
KR100636501B1 (en) 2005-08-30 2006-10-18 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device and laser thermal transfer method using the device
KR100700842B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer method using laser thermal transfer device and donor film
JP2007062354A (en) 2005-08-30 2007-03-15 Samsung Sdi Co Ltd Laser thermal transfer donor film, laser thermal transfer apparatus, laser thermal transfer method, and organic light emitting device manufacturing method
KR100745337B1 (en) 2005-11-16 2007-08-02 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device and laser thermal transfer method using the device
KR100719681B1 (en) 2005-08-30 2007-05-17 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device and manufacturing method of organic light emitting device using same
KR100700823B1 (en) 2005-08-30 2007-03-27 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device and manufacturing method of organic light emitting diode using same
JP2007128845A (en) 2005-11-04 2007-05-24 Samsung Sdi Co Ltd Laser thermal transfer apparatus and laser thermal transfer method
KR100711888B1 (en) 2005-11-04 2007-04-25 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device
JP2007128844A (en) 2005-11-04 2007-05-24 Samsung Sdi Co Ltd Laser thermal transfer apparatus, laser thermal transfer method, and organic light emitting display element using the same
KR100700830B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser Thermal Transfer Device and Laser Thermal Transfer Method
KR100711887B1 (en) 2005-11-04 2007-04-25 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer device
KR100700832B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer apparatus, laser thermal transfer method and organic light emitting display device using the same
KR100700831B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer method and manufacturing method of organic light emitting device using same
KR100700836B1 (en) 2005-11-16 2007-03-28 삼성에스디아이 주식회사 Laser thermal transfer apparatus, laser thermal transfer method and manufacturing method of organic light emitting device using the same
KR100696554B1 (en) * 2005-12-16 2007-03-19 삼성에스디아이 주식회사 Deposition equipment
JP4832160B2 (en) * 2006-05-19 2011-12-07 トッキ株式会社 Organic EL element forming mask, alignment method, and organic EL element forming apparatus
JP4971723B2 (en) * 2006-08-29 2012-07-11 キヤノン株式会社 Manufacturing method of organic light emitting display device
JP5127197B2 (en) * 2006-10-25 2013-01-23 Ntn株式会社 Liquid container attaching / detaching device and defect correcting device
JP4809288B2 (en) * 2007-05-15 2011-11-09 株式会社アルバック Alignment method, thin film formation method
JP5297046B2 (en) * 2008-01-16 2013-09-25 キヤノントッキ株式会社 Deposition equipment
JP5228586B2 (en) * 2008-04-09 2013-07-03 株式会社Sumco Vapor deposition mask, vapor deposition pattern production method using the same, semiconductor wafer evaluation sample production method, semiconductor wafer evaluation method, and semiconductor wafer production method
DE102008037387A1 (en) * 2008-09-24 2010-03-25 Aixtron Ag Method and device for depositing laterally structured layers by means of a shadow mask held magnetically on a substrate holder
JP5337632B2 (en) * 2009-02-13 2013-11-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ Film forming apparatus and organic EL device manufacturing apparatus
US9325007B2 (en) 2009-10-27 2016-04-26 Applied Materials, Inc. Shadow mask alignment and management system
JP2011195907A (en) * 2010-03-19 2011-10-06 Tokyo Electron Ltd Mask holding device and thin film forming device
JP5953566B2 (en) * 2011-10-24 2016-07-20 株式会社ブイ・テクノロジー Thin film pattern forming method and organic EL display device manufacturing method
TWI555862B (en) 2011-09-16 2016-11-01 V科技股份有限公司 Evaporation mask, method for manufacturing the same and thinfilm pattern forming method
JP5935179B2 (en) * 2011-12-13 2016-06-15 株式会社ブイ・テクノロジー Vapor deposition mask and vapor deposition mask manufacturing method
JP2016003386A (en) * 2014-06-19 2016-01-12 株式会社システム技研 Deposition holder
CN105695937B (en) * 2014-11-28 2019-06-11 上海和辉光电有限公司 Magnetic device, magnetic force adjusting device and magnetic force adjusting method
KR101599205B1 (en) * 2015-01-30 2016-03-03 주식회사 테스 Tray assembly and thin-film deposition apparatus having the same
JP6298138B2 (en) * 2015-11-25 2018-03-20 キヤノントッキ株式会社 Film forming system, magnetic body part, and film manufacturing method
JP6095088B2 (en) * 2016-05-19 2017-03-15 株式会社ブイ・テクノロジー Mask manufacturing method, thin film pattern forming method, and organic EL display device manufacturing method
JP6309048B2 (en) * 2016-07-01 2018-04-11 キヤノントッキ株式会社 Mask suction device
JP6785171B2 (en) 2017-03-08 2020-11-18 株式会社日本製鋼所 Film formation method, electronic device manufacturing method, and plasma atomic layer growth device
JP7420496B2 (en) * 2019-07-05 2024-01-23 キヤノントッキ株式会社 Mask holding mechanisms, vapor deposition equipment, and electronic device manufacturing equipment

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170031175A (en) * 2014-07-08 2017-03-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Magnetic chucking of mask with halbach array

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Publication number Publication date
JPH11158605A (en) 1999-06-15

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