JP4034938B2

JP4034938B2 - Malfunction radio wave detector

Info

Publication number: JP4034938B2
Application number: JP2001009014A
Authority: JP
Inventors: 淳富士本; 誠之野中
Original assignee: Aruze Corp
Current assignee: Universal Entertainment Corp
Priority date: 2001-01-17
Filing date: 2001-01-17
Publication date: 2008-01-16
Anticipated expiration: 2021-01-17
Also published as: JP2002214265A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子機器類を誤動作させる誤作動電波を検出する誤作動電波検出装置に関する。さらに詳細には、パチンコ機やスロットマシン等に代表される遊技機、遊技媒体現金交換機、遊技媒体交換用の非接触ＩＣカード等、ホール等の遊技施設内に設けられる各種の電子機器類を誤動作させる誤作動電波を検出する誤作動電波検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
パチンコ機、ピンボールゲーム機、スマートボールゲーム機等の弾球ゲーム機や、スロットマシンなどの遊技機、あるいは遊戯媒体現金交換機、遊戯媒体交換用の非接触ＩＣカード、さらには、ホール等の遊戯施設内に設置されている電子機器は、ＩＣチップを使用した電子回路装置によって、遊戯動作や現金交換動作が制御されている。通常、これらの電子回路装置は総括的な演算処理を行う中央制御装置（ＣＰＵ）、データの読み書きが可能な記憶素子（ＲＡＭ）、データの読み取りが可能な記憶素子（ＲＡＭ）等の電子部品を備える。ＣＰＵは、これらＲＯＭの格納されたプログラムやデータを用いて、例えば弾球遊技機では入賞球の管理や役物の制御を行い、スロットマシンにおいてはリール等の動作の制御を行う。
【０００３】
上記電子回路に使用されるＩＣチップは、外部から発射される電波の影響を受け易いため、これらの電子回路の近傍で意図的に電波を発射して電子回路を破壊したり、あるいは誤動作を生じさせるさせることによって、遊技機の動作を不正操作し、大量の遊技媒体を不正に獲得する事態が生じている。
【０００４】
従来、このような不正操作を防止するために、電子回路全体を防磁部材でシールドする不正行為防止対策が試みられている。このようなシールドによる防止対策では、ハンディ無線機器等の小出力無線機から発射される電波には有効であるが、大出力無線機から発射される電波に対しては十分な効果を得難い場合があり、不正行為に対する対策は十分とはいえない。
【０００５】
また、これら大出力無線機器から発射される電波による不正操作を防止するため、モール等の遊技施設内に電波を感知する感知機等の設備を設ける試みも行なわれている。しかし、このような方法では、遊技施設内で用いられる店内放送用の無線機やアマチュア無線機、あるいは種々の電子機器から発射される電波に対して反応するため、誤動作電波との識別が困難である場合があるため実用的ではないという問題がある。
【０００６】
このような問題を解決するものとして、遊技施設内に検出機を設置し、ＩＣチップを破壊するおそれが高い所要周波数の電波を検出し、該電波の電界強度が所定値以上であるときのみ警報を発生させ、不正操作が行なわれていることを報知する不正賞球防止装置が開発されている（特開平３―２１２８４号公報）。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記検出器では、検出できる電波は、不正操作に用いられることが既に知られている電波であって、その特定の周波数で、かつ、所定の電界強度以上の電波である。そのため、新たに開発された電子部品を有する新規の遊技機を誤動作を生じさせる新手の誤動作電波に対しては誤動作電波の検出が困難であり、不正行為を見逃すおそれがある。
【０００８】
そこで、本発明は、上記の課題を解決して、電子機器類を誤動作させる電波に対して、広帯域で種々の周波数に対応することができる誤動作電波検出装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の誤作動電波検出装置は、既知の波形パターンとの波形比較、及び未知の波形パターンについて誤動作を生じさせるものであるか否かの波形判定によって、誤動作電波を検出するものであり、特定の周波数に限定されることなく電子機器類を誤動作させる電波を検出することができる。
【００１０】
本発明の誤動作検出装置は、電子機器類の動作を誤動作させる電波を検出する誤動作電波検出装置であって、入力波形パターンを登録波形パターンと比較する比較手段と、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う波形判定手段とを備える構成とし、比較手段によって誤動作波形パターンの抽出したり、波形判定手段によって誤動作電波の判定を行うことによって誤動作電波を検出する。
【００１１】
図１は本発明による誤動作検出処理を説明するための概略図である。遊技施設内に設置した検出手段によって電波を検出し（ａ）、検出した電波中から誤動作電波を検出する対象信号となる入力波形パターンを抽出する（ｂ）。入力波形パターンを抽出は、検出電波中に含まれる繰り返し信号を検出することで行うことができる。通常、電子機器類を誤動作させることを目的として放射される誤動作電波は、所定のパターンを繰り返す波形で形成され、また、当該波形パターンを繰り返すことによって誤動作の発生確立がある程度高まる。そのため、電波中から繰り返し信号を検出することで、誤動作電波の可能性のある信号を検出することができる。
【００１２】
抽出した入力波形パターン中には、誤動作を生じさせる誤動作電波と、通常のノイズ等の誤動作を生じさせない非誤動作電波が含まれている。そこで、誤動作電波検出処理によって、誤動作電波とを非誤動作電波とを識別する（ｃ）。誤動作電波検出処理は、既知の波形パターンと比較する比較処理（ｃ―１）と、誤動作電波と判定する波形判定処理（ｃ−２）とを備える。比較処理（ｃ―１）及び波形判定処理（ｃ−２）は各処理結果を通知する（ｄ−１，ｄ−２）他、波形判定処理（ｃ−２）で判定した誤動作波形パターンを記録する（ｅ）し、以後の誤動作電波検出に利用する。
【００１３】
比較手段は、誤動作電波の波形パターンや非誤動作電波の波形パターンを登録波形パターンとして予め登録しておき、この登録波形パターンを入力波形パターンと比較することで、入力した波形パターンを持つ電波が電子機器を誤動作させる誤動作電波であるのか、あるいは電子機器の誤動作に影響がない非誤動作電波であるのかを判定する。
また、判定手段は予め登録した登録波形パターンを用いることなく、当該入力波形パターンを持つ電波が電子機器を誤動作させる誤動作電波であるのか、あるいは電子機器の誤動作に影響がない非誤動作電波であるのかを判定する手段である。
【００１４】
比較手段と判定手段は、それぞれ単独で誤動作電波の判定を行うことも、あるいは組み合わせによって誤動作電波の判定を行うことができる。比較手段と判定手段の組み合わせによって誤動作電波の判定を行う場合には、比較手段によって登録波形パターンに含まれない波形パターンを抽出し、判定手段によって抽出した波形パターンの中に含まれる誤動作波形パターンを取り出す。
【００１５】
本発明が備える比較手段の第１の態様は、登録波形パターンとして誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンを備えた構成とし、比較手段によって誤動作波形パターンと一致あるいは類似する入力波形パターンを検出することによって誤動作波形パターンを抽出する。
【００１６】
また、本発明が備える比較手段の第２の態様は、登録波形パターンとして誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンを備え、前記誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンのいずれにも一致しない入力波形パターンを検出する。この、誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンのいずれの登録波形パターンにも一致しない入力波形パターン中には、未知の誤動作波形パターン及び未知の非誤動作波形パターンが含まれている。そこで、本発明の誤動作検出装置は、この比較手段で検出した未知の誤動作波形パターン及び又は未知の非誤動作波形パターンを含む入力波形パターンから、波形判定手段によって誤動作電波を判定する。
【００１７】
本発明が備える判定手段は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求める。入力波形パターン及び電子機器の動作は時間に依存した信号であり、入力波形パターンが電子機器の誤動作の要因となる場合には、入力波形パターンの時間変化と動作の時間変化との間には、各電子機器に応じた所定の関係が存在し、この所定関係は入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性をあらわしている。そこで、本発明の判定手段は、この入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化に基づいて、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求める。
この関連性は、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性あるいは論理性から求めることができる。
【００１８】
本発明が備える判定手段の第１の態様は、関連性を相関性から求めるものであり、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求め、当該相関性から入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求め。入力波形パターンが電子機器類の誤動作の要因である場合には、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化には所定の時間関係があると推定される。したがって、この時間関係を求めることによって、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求めることができる。
【００１９】
この相関性は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化において、両者の同期性から求めることができる。本発明の波形判定手段は、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の時間間隔から入力波形パターンと電子機器類の動作との同期性を求め、当該同期性から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求める。
【００２０】
本発明が備える判定手段の第２の態様は、関連性を論理性から求めるものであり、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性を求め、当該論理性から入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求める。
入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性としては、例えば電子機器類の各動作間における各動作の関連性や動作順を用いることができる。
【００２１】
電子機器類の各動作の関連性は関連する動作の組み合わせで定めることができ、例えばある動作Ａが発生するとき動作Ｂが必ず発生する場合には、動作Ａと動作Ｂとの間には関連性があり、これら動作Ａあるいは動作Ｂに一方のみ発生したときには誤動作であると判定し、この動作（動作Ａあるいは動作Ｂ）に対応する入力波形パターンを誤動作電波と判定する。また、動作Ａと動作Ｂとの動作順を組み合わせるた論理性について判定することもできる。
【００２２】
なお、動作の組み合わせ、及び動作順は電子機器類及び当該電子機器類を構成する電子回路の構成に応じて定めることができる。
論理性から求める波形判定手段の一構成は、電子機器類の各動作間において、各動作の関連性及び又は動作順を論理テーブルとして備え、入力波形パターンに対応する動作を前記論理テーブルを用いて判定し、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性を求める。
また、本発明の誤動作電波検出装置は、波形判定手段の判定結果に基づいて入力波形パターンを登録波形パターンに記録することができ、これによって、比較手段で用いる登録波形パターンを蓄積することができる。
また、複数の誤作動電波検出装置をネットワークで接続し、前記登録波形パターンをネットワークを通して接続される他の誤作動電波検出装置に配信すること構成とすることができる。この構成によって、ネットワークで接続された全誤動作電波検出装置の検出性能を向上させることができる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図を参照しながら詳細に説明する。図２は本発明の誤作動電波検出装置の概略を説明する図である。図２において、本発明の誤作動電波検出装置１は、遊技施設内に存在する種々の電波を検出する電波検出手段６、検出した電波から繰り返し信号を検出して、誤動作電波を含む入力波形パターンを抽出する入力波形パターン抽出手段７、及び抽出した入力波形パターンから誤動作電波を検出する誤動作電波検出手段２を備える。なお、誤動作電波検出手段２は、検出した誤動作電波を通知する通知手段８を備えることができる。通知手段８は、誤動作電波の検出の表示、検出した誤動作電波の波形パターンの記憶等の処理操作を含むことができる。
【００２４】
誤動作電波検出手段２は、比較手段３、波形判定手段４、及びデータベース５で構成することができる。比較手段３は、データベース５から登録波形パターンを読み出し、入力波形パターンと比較する。登録波形パターンは、誤動作を生じさせない非誤動作波形パターンと、誤動作を生じさせる誤動作波形パターンを含む。比較手段３は、入力波形パターンと非誤動作波形パターンとを比較し、両パターンが一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類を誤動作を生じさせないものであることを判定する。一方、比較手段３は、入力波形パターンと誤動作波形パターンとを比較し、両パターンが一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類を誤動作させるものであることを判定する。
【００２５】
また、比較手段３は、非誤動作波形パターン及び動作波形パターンのいずれにも一致あるいは類似しない場合には、入力波形パターンは登録波形パターンに含まれない非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンであると判定する。そこで、波形判定手段４は、この比較手段３において、登録波形パターンに含まれない非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンであると判定された入力波形パターンが、非誤動作波形パターンであるのか、あるいは誤動作波形パターンであるのかを判定する。波形判定手段４は、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う。判定結果は、通知手段８に通知する他、非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンをデータベース５に格納する。データベース５に格納された非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンは、比較手段３において登録波形パターンとして使用することができる。
【００２６】
以下、本発明の誤動作検出装置の動作について、図３から図２０を用いて説明する。
図３は本発明の誤動作検出装置の動作概略を説明するためのフローチャートである。誤動作検出装置は、はじめに比較処理によって、入力波形パターンを登録された波形パターンと比較して既知の誤動作波形パターン、非誤動作波形パターンを抽出した後（ステップＳ１）、登録されていない入力波形パターンを判定して電子機器類に誤動作を生じさせる誤動作波形パターンであるか、あるいは電子機器類に誤動作を生じさせない非誤動作波形パターンであるかを判定し（ステップＳ２）、非誤動作波形パターンについては非誤動作波形データベースに記録し（ステップＳ３）、誤動作波形パターンについては誤動作波形データベースに記録し（ステップＳ４）、通知を行う（ステップＳ５）。したがって、本発明の誤動作検出装置は、ステップＳ１の比較処理とステップＳ２の波形判定処理の二つの誤動作検出処理によって、入力波形パターンから誤動作波形あるいは非誤動作波形を抽出し、判定する。
【００２７】
ステップＳ１の比較処理においては、はじめに入力波形パターンを既知の非誤動作波形パターンと比較し、非誤動作波形パターンと一致あるいは類似する波形であるかを判定する。入力波形パターンが非誤動作波形パターンと一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類に誤動作を生じさせない波形であると判断することができる。一方、入力波形パターンが非誤動作波形パターンと一致あるいは類似しない場合には、当該入力波形パターンは電子機器類に誤動作を生じさせるおそれがある波形であると判断することができる（ステップＳ１ａ）。
【００２８】
次に、ステップＳ１ａにおいて、非誤動作波形パターンと一致あるいは類似しない入力波形パターンについて既知の誤動作波形パターンと比較し、誤動作波形パターンと一致あるいは類似する波形であるかを判定する。入力波形パターンが誤動作波形パターンと一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類に誤動作を生じさせる波形であると判断することができる。この場合には、通知を行う（ステップＳ５）。一方、入力波形パターンが誤動作波形パターンと一致あるいは類似しない場合には、当該入力波形パターンには登録されていない未知の誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンが含まれている。ステップＳ２の波形判定処理は、ステップＳ１後の入力波形パターンから未登録の誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンを抽出する処理であり、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う。
【００２９】
図４は、ステップＳ１の比較処理で用いる誤動作波形パターンあるいは非誤動作波形パターンのデータベースの一例を示している。図４（ａ）は、誤動作波形パターンのデータベース例を示している。このデータベース例では、各波形パターン毎にパターン番号で識別するパターンデータを記録し、また、該パターンデータが検出されたログ情報も記録している。ログ情報としては、例えば検出日時、検出した遊技施設の店舗、機器番号、検出した際の状況等が記録される。また、図４（ｂ）は、非誤動作波形パターンのデータベース例を示している。このデータベース例では、各波形パターン毎にパターン番号で識別するパターンデータを記録し、また、該パターンデータが検出されたログ情報も記録している。ログ情報としては、例えば検出日時、検出した遊技施設の店舗、検出した際の状況等が記録される。
【００３０】
次に、前記ステップＳ２で示される波形判定処理について、図５から図２０を用いて説明する。ステップＳ２の波形判定処理は、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う処理であり、入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理、あるいは入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理によって行うことができる。
【００３１】
以下、図５から図１２を用いて入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理を説明し、図１３から図２０を用いて入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理を説明する。
はじめに、入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理について説明する。なお、図５は誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンの応答時間のばらつきを説明する概略図であり、図６は入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートであり、図７は入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのフローチャートであり、図８，９は図７のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図であり、図１０，１１は図７のフローチャートの一工程を説明するためのフローチャートある。また、図１２は入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのフローチャートである。
【００３２】
通常、誤動作電波の発射と該誤動作電波による電子機器類の誤動作との間において、誤動作電波の発射時から電子機器類の誤動作時までの応答時間は、電子機器類に使用される電子回路等の構成特性に応じて定まり、同一の対象部位ではほぼ同様の応答時間となると考えられる。図５に示す応答時間のばらつきを示す概略図において、横軸に応答時間ｔをとり縦軸に事象の発生回数をとると、誤動作電波が発射された場合の応答時間のばらつきは、例えば平均応答時間ｔｍをピークとする所定の分布曲線を示し（図５（ａ）に示す）、ノイズ等の非誤動作電波が発射された場合の応答時間のばらつきは、一様の分布曲線を示す（図５（ｂ）に示す）と想定される。
したがって、この応答時間のばらつきを判定することによって、入力波形パターンと動作状態との相関性を判定することができる。図６のフローチャートに示す入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理は、この応答時間のばらつきを用いた判定処理例である。
【００３３】
図６のフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出した後（ステップＳ１１）、入力波形パターンに対応する電子機器類の動作を検出する（ステップＳ１２）。入力した入力波形パターンの発生から電子機器類が動作するまでの間の応答時間ｔを各入力波形パターン及び動作毎に求め（ステップＳ１３）、これらの応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める（ステップＳ１４）。応答時間ｔの分布状態（ばらつき）から、入力波形パターンと動作状態の相関性を求める（ステップＳ１５）。
【００３４】
この相関性において、例えば図５（ａ）に示すように、応答時間ｔの分布状態（ばらつき）に所定の関係が認められる場合には、入力波形パターンと電子機器類の動作との間に相関性があると判定することができる。これに対して、図５（ｂ）に示すように、応答時間ｔの分布状態（ばらつき）に所定の関係が認められない場合には、入力波形パターンと電子機器類の動作との間に相関性はないと判定することができる（ステップＳ１６）。
【００３５】
図７は相関性に基づく判定処理のフローチャート例であり、所定個数（Ｎ個）の応答時間ｔから応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める例である。この例では、ｎ＝０を初期値とし（ステップＳ２１）、順にｎの個数を増やして（ステップＳ２６）、該ｎの値が標本数Ｎ個となるまで検出処理を繰り返す（ステップＳ２５）。
応答時間ｔを求める検出処理は、入力波形パターンを検出し、この入力波形パターンに対応する動作を検出するサーチ範囲を求め（ステップＳ２２）、このサーチ範囲内において電子機器類の動作を検出し（ステップＳ２３）、入力波形パターンが発生してから電子機器類が動作するまでの応答時間ｔを計算するものである（ステップＳ２４）。上記工程によってＮ個の応答時間ｔが得られる。
【００３６】
求めたＮ個の応答時間ｔについて、入力波形パターンと検出動作との相関性を判定し（ステップＳ２７）、相関性が認められない場合（ステップＳ２８）には入力した電波は非誤動作電波であると判定し（ステップＳ２９）、相関性が認められる場合（ステップＳ２８）には入力した電波は誤動作電波であると判定する（ステップＳ３０）。
なお、入力波形パターンと検出動作との相関性の判定は、応答時間ｔの分布状態（ばらつき）に有意性があるか否かを周知の統計処理を用いて判定することで行うことができる。例えば、応答時間ｔの標準偏差を求め、該標準偏差に所定の係数を乗じて得られる応答時間の範囲と比較することで行うことができる。
【００３７】
次に、ステップＳ２２に示す電子機器類の動作を検出するサーチ範囲について、図８及び図１０を用いて説明する。
誤動作電波によって電子機器類が誤動作する場合には、通常、誤動作電波は入射されてから、電子機器類の各動作部位に応じた所定時間後に誤動作が発生する。そこで、入力波形パターンに発生してから所定時間Ｔ１と、入力波形パターンが終了してから所定時間Ｔ２との間の時間範囲をサーチ範囲とし（図８（ａ））、このサーチ範囲内に存在する動作信号（例えば電子機器類が遊技機である場合の払い出し信号）を検出する（図８（ｂ））。図８（ｂ）において、サーチ範囲外に存在する動作信号は電子機器類が正常に動作している場合に発生する正常な信号であり、サーチ範囲内に存在する動作信号は誤動作電波による誤動作信号であると判断することができる。
【００３８】
入力波形パターンが発生してから誤動作信号が発生するまでの応答時間ｔは、入力波形パターンの発生時刻ｔ０と誤動作信号の発生時刻ｔａとの時間差（ｔａ―ｔ０）で求めることができる。入力波形パターンが時間幅を有する信号である場合には、どの信号で誤動作が生じたかが不明であるため、入力波形パターンの発生時刻ｔ０は入力波形パターンの平均の時刻で代表する。
【００３９】
サーチ範囲は、入力波形パターンの継続時間に応じて変化することになる。そこで、図１０のフローチャートにしたがってサーチ範囲を定める。図１０のサーチ範囲を定めるフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出すると（ステップＳ２２ａ）、当該入力波形パターンを記録すると共に（ステップＳ２２ｂ）、入力波形パターンの最初の信号からＴ１後をサーチ範囲の開始時点として動作信号のサーチを開始する（ステップＳ２２ｃ）。
【００４０】
入力波形パターンの各信号から所定時間Ｔ０内に次の信号があるか否かを判定し、前の信号から所定時間Ｔ０を過ぎても次の信号が検出されない場合には、入力波形パターンが終了したものとして、この時点から所定時間Ｔ２後をサーチ範囲の終了時点とする。動作信号の検出は、この入力波形パターンの最初の信号からＴ１後を開始時点とし、入力波形パターンの最後の信号からＴ２後を終了時点とするサーチ範囲内で行う。したがって、サーチ範囲は、入力波形パターンの継続時間に応じて変化することになる（ステップＳ２２ｅ）。
【００４１】
次に、ステップＳ２３に示すサーチ範囲内での動作信号の検出について、図９及び図１１を用いて説明する。
図９（ａ），（ｂ）は、入力波形パターンと、動作信号の関係を示しており、前記処理で定められるサーチ範囲内に存在する動作信号を検出する。この動作信号には、誤動作信号と正常な動作信号が混在しているため、誤動作信号を検出する必要がある。
【００４２】
入力波形パターンと誤動作信号との間の各応答時間ｔｓ１，ｔｓ２，ｔｓ３，ｔｓ４，…についてこれらの平均応答時間ｔｍを求めると、この平均応答時間ｔｍは誤動作信号の平均時間と正常信号の平均時間とを平均したものであり、正常信号はほぼ均等にばらついていると想定されるため、平均応答時間ｔｍは誤動作信号の平均時間に正常信号によるバイアス分が加わったものと考えることができる。そこで、この平均応答時間ｔｍの近傍にある動作信号を検出することで、誤動作信号を正常信号と識別することができる。
【００４３】
図９（ｃ）は、動作信号（図９（ｂ））の内でサーチ範囲に存在する検出信号を示しており、この検出信号の中から平均応答時間ｔｍの近傍にある動作信号を検出することで、誤動作信号や非誤動作信号かを判定することができる。図９（ｄ）は誤動作信号と判定した判定信号であり、図９（ｅ）は非誤動作信号と判定した判定信号である。
【００４４】
図１１のサーチ範囲内において動作を検出するフローチャートにおいて、前記ステップＳ２２ｃのサーチ開始の工程に応じてサーチを開始し（ステップＳ２３ａ）、動作信号の検出を行う（ステップＳ２３ｂ）。動作信号が検出された場合には（ステップＳ２３ｂ）、動作信号の発生時刻ｔａを記録し（ステップＳ２３ｃ）、平均応答時間ｔｍと動作信号の発生時刻ｔａとの時間差ｔｓを求める（ステップＳ２３ｄ）。また、動作信号の検出は前記ステップＳ２２ｅのサーチ終了まで行う（ステップＳ２３ｂ，２３ｅ）。
上記各処理を、図７に示すフローチャートにおけるステップＳ２２及びステップＳ２３の工程で行うことで、ステップＳ２４の応答時間ｔを求めることができる。
【００４５】
図７に示した相関性に基づく判定処理のフローチャート例では、所定個数（Ｎ個）の応答時間ｔから応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める例であるのに対して、図１２に示す相関性に基づく判定処理のフローチャート例は、所定時間Ｔ内に発生する動作の応答時間ｔから応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める例である。
この例では、時間ｔｔ＝０を初期値とし（ステップＳ３１）、時間ｔｔが所定時間Ｔとなるまで検出処理を繰り返す（ステップＳ３５）。
【００４６】
応答時間ｔを求める検出処理は、入力波形パターンを検出し、この入力波形パターンに対応する動作を検出するサーチ範囲を求め（ステップＳ３２）、このサーチ範囲内において電子機器類の動作を検出し（ステップＳ３３）、入力波形パターンが発生してから電子機器類が動作するまでの応答時間ｔを計算するものである（ステップＳ３４）。上記工程によって所定時間Ｔ内の発生する入力波形パターン行う動作信号の応答時間ｔが得られる。なお、ステップＳ３２，ステップＳ３３の工程は、前記ステップＳ２２，ステップＳ２３の工程と同様である。また、所定時間Ｔは、判定処理に十分なサンプル数が得られるに十分な時間間隔に設定する。
【００４７】
求めた複数の応答時間ｔについて、入力波形パターンと検出動作との相関性を判定し（ステップＳ３６）、相関性が認められない場合（ステップＳ３７）には入力した電波は非誤動作電波であると判定し（ステップＳ３８）、相関性が認められる場合（ステップＳ３７）には入力した電波は誤動作電波であると判定する（ステップＳ２９）。
前記したように、ステップＳ２の波形判定処理は、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う処理であり、前記の図５から図１２を用いて説明した、入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理による他、入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理によって行うことができる。
【００４８】
次に、図１３から図２０を用いて入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理を説明する。なお、図１３，１４は入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートであり、図１５，１６は入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのシーケンス図及びフローチャートであり、図１７は図１６のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。また、図１８，１９は入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのシーケンス図及びフローチャートであり、図２０は図１９のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【００４９】
通常、電子機器類の各動作には、所定の手順からなるシーケンスを備えている場合がある。このような場合には、所定手順中の関連する動作間には、動作及び非動作の組み合わせや動作順にある定められた関係が存在する。このような関連性を備える場合には、動作間の関係において所定の論理性を見ることによって、各動作が正常に行なわれたものであるか否かを判定することが可能となる。
したがって、この動作間の論理性を判定することで、入力波形パターンと動作状態との論理性を判定することができる。図１３のフローチャートに示す入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理例である。
【００５０】
図１３のフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出した後（ステップＳ４１）、入力波形パターン検出後に発生する動作信号を検出する。当該動作信号を検出した場合には、この動作信号と関連性を備える動作を読み出し、読み出した動作をチェック項目とする。このため、予め関連性を備える動作を関連付けてデータベースに格納しておく（ステップＳ４２）。
【００５１】
前記チェック項目に関するチェック信号を電子機器類の各部位から取り込む。なお、このチェック信号は電子機器類の各部位に設けたセンサによって検出したり、あるいは、各部位における制御信号や動作信号を用いることができる（ステップＳ４３）。取り込んだチェック信号について動作信号との論理性を調べ、入力波形パターンの波形判定を行う。チェック信号と動作信号との間で設定された論理性が満足される場合には、当該動作信号と関連して検出された入力波形パターンは非誤動作信号であると判定し、一方、チェック信号と動作信号との間で設定された論理性が満足されない場合には、当該動作信号と関連して検出された入力波形パターンは誤動作信号であると判定する（ステップＳ４４）。
【００５２】
より詳細には、図１４に示すフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出してサーチ範囲を求め、このサーチ範囲内で発生する動作信号を検出する。なお、サーチ範囲は前記した例と同様とすることができる（ステップＳ５１）。サーチを開始した後（ステップＳ５２）、電子機器類内の各部位における動作信号を検出し、動作信号が検出された場合には（ステップＳ５３）、当該動作信号に対応するチェック項目をデータベースから読み出す。データベースには、各動作信号毎に、関連性がある各部位、及びその関連性をチェック項目として記録しておく（ステップＳ５４）。
【００５３】
読み出したチェック項目について、各部分のチェック信号を取り込み（ステップＳ５５）、同じくチェック項目として記憶しておいた論理性を設定した論理テーブルを用いて、動作信号とチェック信号との論理性を判定する（ステップＳ５６）。論理性が満たされない場合には（ステップＳ５７）、当該動作は誤動作であると判定し（ステップＳ５８）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ５９）。一方、論理性が満たさた場合には（ステップＳ５７）、サーチが終了するまでステップＳ５５からステップＳ５７を繰り返した後（ステップＳ６０）、当該動作は非誤動作であると判定し（ステップＳ６１）、この動作に対応する入力波形パターンを非誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ６２）。
【００５４】
図１５は、シーケンス例を示す概略図である。シーケンスは、二つの動作が従属接続された関係にあり、それぞれスイッチＳＷｎとスイッチＳＷｎ+１によって動作状態を検出することができる。このシーケンスでは、スイッチＳＷｎからのＳＷｎ信号とスイッチＳＷｎ＋１からのＳＷｎ＋１信号には関連性があり、ＳＷｎ信号が検出された後、所定の時間間隔を経てＳＷｎ＋１信号が検出されることを論理性を満足する条件となる。したがって、図１５（ａ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、所定の時間内にＳＷｎ＋１信号が検出される場合には、ＳＷｎ信号は正常な信号であると判定され、一方、図１５（ｂ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、所定の時間内にＳＷｎ＋１信号が検出されない場合には、ＳＷｎ信号は誤動作信号であると判定され、このとき、スイッチＳＷｎの近傍で電波が検出された場合には、この電波の入力波形パターンが誤動作を生じさせる誤動作電波として判定される。
【００５５】
図１６，１７は、図１５のシーケンスにおける論理性を判定するためのフローチャート及び信号状態図である。
電子機器類に設置されたスイッチから検出された信号や、部位における動作信号をＳＷ信号として検出し、このＳＷ信号を用いてサーチ範囲を求める（図１７（ｂ））。サーチ範囲は前記した例と同様とすることができる。このサーチ範囲内で発生する動作信号を検出する（ステップＳ７１）。サーチを開始した後（ステップＳ７２）、電子機器類内の各部位におけるＳＷｎ信号を検出し、当該ＳＷｎ信号に対応するチェック項目（ＳＷｎ＋１信号）をデータベースから読み出す（ステップＳ７３）。
【００５６】
読み出したチェック項目に基づいて、ＳＷｎ＋１信号を取り込む（図１７（ｃ））（ステップＳ７４）。この論理テーブルを用いて、ＳＷｎ信号とＳＷｎ＋１信号との論理性を判定する。このとき、チェック項目の論理テーブルにＳＷｎ＋１信号の存在のみが設定されているとすると、ＳＷｎ＋１信号の有無のみで論理性を判定することができる（ステップＳ７５）。
【００５７】
ＳＷｎ＋１信号が検出されない場合には、論理性が満たされないとして（ステップＳ７５）、当該動作は誤動作であると判定し（図１７（ｄ））（ステップＳ７６）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ７７）。一方、ＳＷｎ＋１信号が検出されている場合には、論理性が満たされたとして（ステップＳ７５）、サーチが終了するまでステップＳ７４，７５を繰り返した後（ステップＳ７８）、当該動作は非誤動作であると判定し（図１７（ｅ））（ステップＳ７９）、この動作に対応する入力波形パターンを非誤動作波形パターンとして記録する（図１７（ａ））（ステップＳ８０）。
【００５８】
図１８は、他のシーケンス例を示す概略図である。シーケンスは、一つの動作に対して並列接続された二つの動作が従属接続された関係にあり、それぞれスイッチＳＷｎ，スイッチＳＷｎ+１，及びスイッチＳＷｎ+２によって動作状態を検出することができる。このシーケンスでは、スイッチＳＷｎからのＳＷｎ信号とスイッチＳＷｎ＋１からのＳＷｎ＋１信号とスイッチＳＷｎ＋２からのＳＷｎ＋２信号には関連性があり、ＳＷｎ信号が検出された後にＳＷｎ＋１信号及びＳＷｎ＋２信号が発生し、ＳＷｎ＋１信号とＳＷｎ＋２信号との間には時間差ｔｎ+Δｔ（Δｔが誤差分）が存在することが論理性を満足する条件となる。
【００５９】
したがって、図１８（ａ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、ＳＷｎ＋１信号及びＳＷｎ＋２信号が検出され、さらにｔｎ＋Δｔ以内の時間差内でＳＷｎ＋１信号とＳＷｎ＋２信号が検出される場合には、ＳＷｎ信号は正常な信号であると判定され、一方、図１８（ｂ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、例えばＳＷｎ＋１信号が検出されるが、ｔｎ＋Δｔ以内の時間差内でＳＷｎ＋２信号が検出される場合には、ＳＷｎ信号は誤動作信号であると判定され、このとき、スイッチＳＷｎあるいはスイッチＳＷｎ＋１の近傍で電波が検出された場合には、この電波の入力波形パターンが誤動作を生じさせる誤動作電波として判定される。
【００６０】
図１９，２０は、図１８のシーケンスにおける論理性を判定するためのフローチャート及び信号状態図である。
電子機器類に設置されたスイッチから検出された信号や、部位における動作信号をＳＷ信号として検出し、このＳＷ信号を用いてサーチ範囲を求める（図２０（ｂ））。サーチ範囲は前記した例と同様とすることができる。このサーチ範囲内で発生する動作信号を検出する（ステップＳ８１）。サーチを開始した後（ステップＳ８２）、電子機器類内のＳＷｎ信号を検出し、当該ＳＷｎ信号に対応するチェック項目（ＳＷｎ＋１信号、ＳＷｎ＋２信号、及び許容時間差ｔ+Δｔ）をデータベースから読み出す（ステップＳ８３）。
【００６１】
読み出したチェック項目に基づいて、ＳＷｎ＋１信号，ＳＷｎ＋２信号を取り込む（図１７（ｃ），（ｄ））（ステップＳ８４）。ＳＷｎ＋１信号とＳＷｎ＋２信号の時間差ｔｄを求め（ステップＳ８５）、この時間差ｔｄを許容時間差ｔ+Δｔと比較し、論理性を判定する（ステップＳ８６）。
時間差ｔｄが許容時間差ｔ+Δｔよりも大きい場合には（ステップＳ８６）、当該動作は誤動作であると判定し（図２０（ｅ））（ステップＳ８７）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ８８）。一方、時間差ｔｄが許容時間差ｔ+Δｔよりも小さい場合には（ステップＳ８６）、サーチが終了するまでステップＳ８４，８５，８６を繰り返した後（ステップＳ８９）、当該動作は非誤動作であると判定し（図２０（ｆ））（ステップＳ９０）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ９１）。
なお、上記した論理性は一例であり、電子機器類が備えるシーケンスや各部位の関係に応じて定めることができる。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の誤作動電波検出装置によれば、電子機器類を誤動作させる電波に対して、広帯域で種々の周波数に対応することができる誤動作電波を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による誤動作検出処理を説明するための概略図である。
【図２】本発明の誤作動電波検出装置の概略を説明する図である。
【図３】本発明の誤動作検出装置の動作概略を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明の誤動作波形パターンあるいは非誤動作波形パターンのデータベースの一例である。
【図５】誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンの応答時間のばらつきを説明する概略図である。
【図６】本発明の入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートである。
【図７】本発明の入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのフローチャートである。
【図８】図７に示すフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【図９】図７に示すフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【図１０】図７に示すフローチャートの一工程を説明するためのフローチャートある。
【図１１】図７に示すフローチャートの一工程を説明するためのフローチャートある。
【図１２】入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートである。
【図１４】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートである。
【図１５】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのシーケンス図である。
【図１６】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのフローチャートである。
【図１７】図１６のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【図１８】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのシーケンス図である。
【図１９】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのフローチャートである。
【図２０】図１９のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【符号の説明】
１誤動作電波検出装置
２誤動作電波検出手段
３比較手段
４波形判定手段
５データベース
６電波検出手段
７波形パターン抽出手段
８通知手段[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a malfunction radio wave detection device that detects malfunction radio waves that cause electronic devices to malfunction. More specifically, malfunctions occur in various electronic devices installed in gaming facilities such as halls, such as pachinko machines, slot machines, and other gaming machines, gaming media cash exchange machines, non-contact IC cards for gaming media exchange, etc. The present invention relates to a malfunctioning radio wave detection device that detects malfunctioning radio waves.
[0002]
[Prior art]
Ball game machines such as pachinko machines, pinball game machines, smart ball game machines, game machines such as slot machines, game media cash exchange machines, contactless IC cards for game media exchange, and games such as halls An electronic device installed in a facility is controlled for play operation and cash exchange operation by an electronic circuit device using an IC chip. Usually, these electronic circuit devices include electronic components such as a central control unit (CPU) that performs general arithmetic processing, a storage element (RAM) that can read and write data, and a storage element (RAM) that can read data. Prepare. The CPU uses the programs and data stored in these ROMs, for example, for managing a winning ball in a ball game machine and controlling an accessory, and for controlling operation of a reel or the like in a slot machine.
[0003]
Since the IC chip used in the electronic circuit is easily affected by the radio wave emitted from the outside, the electronic circuit is intentionally emitted in the vicinity of the electronic circuit to destroy the electronic circuit or cause a malfunction. As a result, the operation of the gaming machine is illegally operated, and a large amount of game media is illegally acquired.
[0004]
Conventionally, in order to prevent such an unauthorized operation, attempts have been made to prevent unauthorized acts by shielding the entire electronic circuit with a magnetic shield member. Such prevention measures by shielding are effective for radio waves emitted from small output radios such as handy radio devices, but it may be difficult to obtain sufficient effects for radio waves emitted from high output radios. Yes, the countermeasures against fraud are not sufficient.
[0005]
In addition, in order to prevent unauthorized operation by radio waves emitted from these high-power wireless devices, attempts have been made to provide equipment such as detectors for detecting radio waves in a gaming facility such as a mall. However, in such a method, since it reacts to radio waves emitted from store broadcasting radios and amateur radios used in amusement facilities, or various electronic devices, it is difficult to distinguish them from malfunctioning radio waves. There is a problem that it is not practical because there are cases.
[0006]
In order to solve such problems, a detector is installed in the game facility to detect a radio wave having a required frequency that is likely to destroy the IC chip, and an alarm is issued only when the electric field strength of the radio wave is equal to or higher than a predetermined value. Has been developed, and an illegal prize-ball prevention device for notifying that an illegal operation is being performed has been developed (Japanese Patent Laid-Open No. 3-21284).
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described detector, the radio wave that can be detected is a radio wave that is already known to be used for unauthorized operation, and is a radio wave having a specific frequency and a predetermined electric field strength or more. For this reason, it is difficult to detect a malfunctioning radio wave for a new malfunctioning radio wave that causes a malfunction in a new gaming machine having a newly developed electronic component, and there is a possibility that an illegal act is missed.
[0008]
Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problems and to provide a malfunction radio wave detection device that can cope with various frequencies in a wide band with respect to radio waves that cause malfunction of electronic devices.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The malfunction radio wave detection device of the present invention detects a malfunction radio wave by comparing a waveform with a known waveform pattern and determining whether or not an unknown waveform pattern causes a malfunction. It is possible to detect radio waves that cause electronic devices to malfunction without being limited to the above frequency.
[0010]
A malfunction detection apparatus according to the present invention is a malfunction radio wave detection apparatus that detects radio waves that cause malfunctions in the operation of electronic devices, and includes a comparison unit that compares an input waveform pattern with a registered waveform pattern, an occurrence state of an input waveform pattern, and an electronic A waveform determination means for determining a malfunctioning radio wave based on the relevance to the operating state of the equipment, and extracting a malfunctioning waveform pattern by the comparison means, or determining a malfunctioning radio wave by the waveform determination means Detects malfunction radio waves.
[0011]
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining malfunction detection processing according to the present invention. Radio waves are detected by detection means installed in the game facility (a), and an input waveform pattern serving as a target signal for detecting malfunctioning radio waves is extracted from the detected radio waves (b). The input waveform pattern can be extracted by detecting a repetitive signal included in the detected radio wave. Normally, malfunction radio waves radiated for the purpose of malfunctioning electronic devices are formed in a waveform that repeats a predetermined pattern, and the occurrence of malfunction is increased to some extent by repeating the waveform pattern. Therefore, a signal with a possibility of a malfunctioning radio wave can be detected by repeatedly detecting a signal from the radio wave.
[0012]
The extracted input waveform pattern includes a malfunctioning radio wave that causes a malfunction and a non-malfunction radio wave that does not cause a malfunction such as normal noise. Therefore, the malfunction radio wave is distinguished from the non-malfunction radio wave by the malfunction radio wave detection process (c). The malfunction radio wave detection process includes a comparison process (c-1) for comparing with a known waveform pattern and a waveform determination process (c-2) for determining a malfunction radio wave. In comparison processing (c-1) and waveform determination processing (c-2), each processing result is notified (d-1, d-2), and the malfunction waveform pattern determined in waveform determination processing (c-2) is recorded. (E) and used for subsequent detection of malfunction radio waves.
[0013]
The comparison means registers the waveform pattern of the malfunctioning radio wave and the waveform pattern of the non-malfunction radio wave in advance as a registered waveform pattern, and compares the registered waveform pattern with the input waveform pattern. It is determined whether it is a malfunctioning radio wave that causes the device to malfunction, or a non-malfunctioning radio wave that does not affect malfunction of the electronic device.
In addition, the judgment means does not use a registered waveform pattern registered in advance, whether the radio wave having the input waveform pattern is a malfunctioning radio wave that causes the electronic device to malfunction or is a non-malfunctioning radio wave that does not affect the malfunction of the electronic device. It is a means to determine.
[0014]
The comparison unit and the determination unit can each independently determine a malfunction radio wave, or can determine a malfunction radio wave by combination. When a malfunction radio wave is determined by a combination of a comparison unit and a determination unit, a waveform pattern not included in the registered waveform pattern is extracted by the comparison unit, and a malfunction waveform pattern included in the waveform pattern extracted by the determination unit is extracted. Take out.
[0015]
According to a first aspect of the comparison means provided in the present invention, a malfunction waveform pattern and a non-malfunction waveform pattern are provided as registered waveform patterns, and an input waveform pattern that matches or is similar to the malfunction waveform pattern is detected by the comparison means. Extract the malfunction waveform pattern.
[0016]
According to a second aspect of the comparison means provided in the present invention, an erroneous waveform pattern and a non-malfunction waveform pattern are provided as registered waveform patterns, and an input waveform pattern that does not match either the malfunction waveform pattern or the non-malfunction waveform pattern is detected. To do. The input waveform pattern that does not match any of the registered waveform patterns of the malfunction waveform pattern and the non-malfunction waveform pattern includes an unknown malfunction waveform pattern and an unknown non-malfunction waveform pattern. Therefore, the malfunction detection device of the present invention determines the malfunction radio wave by the waveform determination means from the input waveform pattern including the unknown malfunction waveform pattern detected by the comparison means and / or the unknown non-malfunction waveform pattern.
[0017]
The determination means provided in the present invention obtains the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment from the time change of the input waveform pattern and the time change of the operation of the electronic equipment. The input waveform pattern and the operation of the electronic device are time-dependent signals, and when the input waveform pattern causes a malfunction of the electronic device, the time between the time change of the input waveform pattern and the time change of the operation There is a predetermined relationship corresponding to each electronic device, and this predetermined relationship represents the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic device. Therefore, the determination means of the present invention obtains the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment based on the time change of the input waveform pattern and the time change of the operation of the electronic equipment.
This relationship can be obtained from the correlation or logic between the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment.
[0018]
According to a first aspect of the determination means provided in the present invention, the relevance is obtained from the correlation, and the input waveform pattern and the operation of the electronic device are determined from the time change of the input waveform pattern and the operation of the electronic device. The relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment is determined from the correlation. When the input waveform pattern is a cause of malfunction of the electronic equipment, it is estimated that there is a predetermined time relationship between the time change of the input waveform pattern and the time change of the operation of the electronic equipment. Therefore, by obtaining this time relationship, the correlation between the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment can be obtained.
[0019]
This correlation can be obtained from the synchronism between the time change of the input waveform pattern and the time change of the operation of the electronic equipment. The waveform determination means of the present invention obtains the synchronism between the input waveform pattern and the operation of the electronic device from the time interval between the input waveform pattern and the operation of the electronic device, and the input waveform pattern and the electronic device from the synchronization Find the correlation between the behavior of the class.
[0020]
According to a second aspect of the determination means provided in the present invention, the relevance is obtained from logicality, and the input waveform pattern and the operation of the electronic device are determined from the time change of the input waveform pattern and the operation of the electronic device. The relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment is determined from the logic.
As the logic between the input waveform pattern and the operation of the electronic device, for example, the relevance of each operation and the operation order between the operations of the electronic device can be used.
[0021]
The relevance of each operation of the electronic device can be determined by a combination of related operations. For example, when an operation B always occurs when a certain operation A occurs, there is an association between the operation A and the operation B. Therefore, when only one of these operations A or B occurs, it is determined as a malfunction, and the input waveform pattern corresponding to this operation (operation A or operation B) is determined as a malfunction radio wave. In addition, it is possible to determine the logic that combines the operation order of the operation A and the operation B.
[0022]
Note that the combination of operations and the order of operations can be determined according to the configuration of the electronic devices and the electronic circuits constituting the electronic devices.
One configuration of the waveform determination means obtained from the logic is provided with the relationship and / or operation order of each operation as a logic table between the operations of the electronic equipment, and the operation corresponding to the input waveform pattern is performed using the logic table. Judgment is made to determine the logic between the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment.
In addition, the malfunction radio wave detection device of the present invention can record the input waveform pattern in the registered waveform pattern based on the determination result of the waveform determining means, and can thereby accumulate the registered waveform pattern used in the comparing means. .
Moreover, it can be set as the structure which connects a some malfunction electromagnetic wave detection apparatus with a network, and distributes the said registration waveform pattern to the other malfunction electromagnetic wave detection apparatus connected through a network. With this configuration, it is possible to improve the detection performance of all malfunctioning radio wave detection devices connected via a network.
[0023]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 2 is a diagram for explaining the outline of the malfunction radio wave detection device of the present invention. In FIG. 2, a malfunction radio wave detection device 1 according to the present invention includes a radio wave detection means 6 for detecting various radio waves present in a game facility, an input waveform pattern including a malfunction radio wave by detecting a repeated signal from the detected radio waves. Input waveform pattern extracting means 7 and a malfunctioning radio wave detection means 2 for detecting a malfunctioning radio wave from the extracted input waveform pattern. The malfunction radio wave detection means 2 can include notification means 8 for notifying the detected malfunction radio wave. The notification means 8 can include processing operations such as display of detection of malfunctioning radio waves and storage of waveform patterns of detected malfunctioning radio waves.
[0024]
The malfunction radio wave detection means 2 can be composed of a comparison means 3, a waveform determination means 4, and a database 5. The comparison unit 3 reads the registered waveform pattern from the database 5 and compares it with the input waveform pattern. The registered waveform pattern includes a non-malfunction waveform pattern that does not cause a malfunction and a malfunction waveform pattern that causes a malfunction. The comparing means 3 compares the input waveform pattern with the non-malfunction waveform pattern, and if both patterns match or are similar, it determines that the input waveform pattern does not cause the electronic device to malfunction. On the other hand, the comparison unit 3 compares the input waveform pattern with the malfunction waveform pattern, and if both patterns match or are similar, it determines that the input waveform pattern causes malfunction of the electronic equipment.
[0025]
Further, the comparison means 3 determines that the input waveform pattern is a non-malfunction waveform pattern or a malfunction waveform pattern that is not included in the registered waveform pattern when it does not match or resembles any of the non-malfunction waveform pattern and the operation waveform pattern. To do. Therefore, the waveform determination unit 4 determines whether the input waveform pattern determined to be a non-malfunction waveform pattern or a malfunction waveform pattern not included in the registered waveform pattern in the comparison unit 3 is a non-malfunction waveform pattern or malfunction. It is determined whether it is a waveform pattern. The waveform determination unit 4 determines a malfunctioning radio wave based on the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment. The determination result is notified to the notification means 8 and a non-malfunction waveform pattern or a malfunction waveform pattern is stored in the database 5. The non-malfunction waveform pattern or malfunction waveform pattern stored in the database 5 can be used as a registered waveform pattern in the comparison means 3.
[0026]
Hereinafter, the operation of the malfunction detection device of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 3 is a flowchart for explaining an outline of the operation of the malfunction detection device of the present invention. The malfunction detection device first compares the input waveform pattern with the registered waveform pattern by the comparison process to extract a known malfunction waveform pattern and a non-malfunction waveform pattern (step S1), and then selects an unregistered input waveform pattern. It is determined whether it is a malfunction waveform pattern that causes malfunction in electronic devices or a non-malfunction waveform pattern that does not cause malfunction in electronic devices (step S2). The waveform is recorded in the waveform database (step S3), and the malfunction waveform pattern is recorded in the malfunction waveform database (step S4) and notified (step S5). Therefore, the malfunction detection device of the present invention extracts and determines a malfunction waveform or a non-malfunction waveform from the input waveform pattern by two malfunction detection processes of the comparison process in step S1 and the waveform determination process in step S2.
[0027]
In the comparison processing in step S1, first, the input waveform pattern is compared with a known non-malfunction waveform pattern to determine whether the waveform matches or is similar to the non-malfunction waveform pattern. When the input waveform pattern matches or is similar to the non-malfunction waveform pattern, it can be determined that the input waveform pattern is a waveform that does not cause malfunction in the electronic devices. On the other hand, when the input waveform pattern does not match or resembles the non-malfunction waveform pattern, it can be determined that the input waveform pattern is a waveform that may cause malfunction in electronic devices (step S1a).
[0028]
Next, in step S1a, an input waveform pattern that does not match or similar to the non-malfunction waveform pattern is compared with a known malfunction waveform pattern to determine whether the waveform matches or is similar to the malfunction waveform pattern. When the input waveform pattern matches or resembles the malfunction waveform pattern, it can be determined that the input waveform pattern is a waveform that causes malfunction in electronic equipment. In this case, notification is performed (step S5). On the other hand, if the input waveform pattern does not match or resembles the malfunction waveform pattern, the input waveform pattern includes an unknown malfunction waveform pattern or malfunction waveform pattern that is not registered. The waveform determination process in step S2 is a process of extracting an unregistered malfunction waveform pattern or malfunction waveform pattern from the input waveform pattern after step S1, and the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment. The malfunction radio wave is determined based on the above.
[0029]
FIG. 4 shows an example of a database of malfunction waveform patterns or non-malfunction waveform patterns used in the comparison process in step S1. FIG. 4A shows an example of a database of malfunction waveform patterns. In this database example, pattern data identified by a pattern number is recorded for each waveform pattern, and log information in which the pattern data is detected is also recorded. As the log information, for example, the detection date and time, the store of the detected gaming facility, the device number, the situation at the time of detection, etc. are recorded. FIG. 4B shows a database example of non-malfunction waveform patterns. In this database example, pattern data identified by a pattern number is recorded for each waveform pattern, and log information in which the pattern data is detected is also recorded. As the log information, for example, the detection date and time, the store of the detected gaming facility, the situation at the time of detection, and the like are recorded.
[0030]
Next, the waveform determination process shown in step S2 will be described with reference to FIGS. The waveform determination process of step S2 is a process of determining a malfunctioning radio wave based on the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment, and the determination based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state It can be performed by a process or a determination process based on the logic of the input waveform pattern and the operation state.
[0031]
Hereinafter, the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state will be described with reference to FIGS. 5 to 12, and the determination process based on the logicality between the input waveform pattern and the operation state will be described with reference to FIGS. To do.
First, the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state will be described. FIG. 5 is a schematic diagram for explaining the variation in response time between the malfunction waveform pattern and the non-malfunction waveform pattern, and FIG. 6 is a flowchart for explaining the outline of the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state. FIG. 7 is a flowchart for explaining an example of the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state, and FIGS. 8 and 9 are signals for explaining the signal state according to the flowchart of FIG. FIG. 10 and FIG. 11 are flowcharts for explaining one step of the flowchart of FIG. FIG. 12 is a flowchart for explaining another process example of the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state.
[0032]
Usually, the response time from the time of emission of malfunction radio waves to the time of malfunction of electronic equipment between the emission of malfunction radio waves and the malfunction of electronic equipment due to the malfunction radio waves is such as the electronic circuits used in electronic equipment etc. It is determined according to the configuration characteristics, and it is considered that the response time is almost the same in the same target region. In the schematic diagram showing the response time variation shown in FIG. 5, when the response time t is taken on the horizontal axis and the number of occurrences of the event is taken on the vertical axis, the response time variation when the malfunctioning radio wave is emitted is, for example, the average response A predetermined distribution curve having a peak at time tm is shown (shown in FIG. 5A), and variation in response time when a non-malfunction radio wave such as noise is emitted shows a uniform distribution curve (FIG. 5). (Shown in (b)).
Therefore, the correlation between the input waveform pattern and the operating state can be determined by determining the variation in response time. The determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state shown in the flowchart of FIG. 6 is an example of a determination process using this variation in response time.
[0033]
In the flowchart of FIG. 6, after detecting the input waveform pattern (step S11), the operation of the electronic equipment corresponding to the input waveform pattern is detected (step S12). The response time t from the generation of the input waveform pattern to the operation of the electronic equipment is obtained for each input waveform pattern and operation (step S13), and the distribution state (variation) of these response times t is obtained (step S13). Step S14). The correlation between the input waveform pattern and the operating state is obtained from the distribution state (variation) of the response time t (step S15).
[0034]
In this correlation, for example, as shown in FIG. 5A, when a predetermined relationship is recognized in the distribution state (variation) of the response time t, there is a correlation between the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment. It can be determined that there is sex. In contrast, as shown in FIG. 5B, when a predetermined relationship is not recognized in the distribution state (variation) of the response time t, there is a correlation between the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment. It can be determined that there is no sex (step S16).
[0035]
FIG. 7 is an example of a flowchart of determination processing based on correlation, and is an example of obtaining a distribution state (variation) of response times t from a predetermined number (N) of response times t. In this example, n = 0 is set as an initial value (step S21), the number of n is sequentially increased (step S26), and the detection process is repeated until the value of n reaches the number of samples N (step S25).
In the detection process for obtaining the response time t, an input waveform pattern is detected, a search range for detecting an operation corresponding to the input waveform pattern is obtained (step S22), and an operation of the electronic device is detected within the search range ( In step S23), a response time t from when the input waveform pattern is generated until the electronic devices are operated is calculated (step S24). N response times t are obtained by the above process.
[0036]
The correlation between the input waveform pattern and the detection operation is determined for the obtained N response times t (step S27). If no correlation is found (step S28), the input radio wave is a non-malfunction radio wave. If the correlation is recognized (step S28), it is determined that the input radio wave is a malfunctioning radio wave (step S30).
The correlation between the input waveform pattern and the detection operation can be determined by determining whether or not the distribution state (variation) of the response time t is significant using a well-known statistical process. For example, a standard deviation of the response time t can be obtained and compared with a response time range obtained by multiplying the standard deviation by a predetermined coefficient.
[0037]
Next, the search range for detecting the operation of the electronic devices shown in step S22 will be described with reference to FIGS.
When an electronic device malfunctions due to a malfunctioning radio wave, the malfunction usually occurs after a predetermined time corresponding to each operating part of the electronic device after the malfunctioning radio wave is incident. Therefore, the time range between the predetermined time T1 after the occurrence of the input waveform pattern and the predetermined time T2 after the input waveform pattern ends is set as a search range (FIG. 8 (a)), and exists within this search range. An operation signal (for example, a payout signal when the electronic device is a gaming machine) is detected (FIG. 8B). In FIG. 8B, the operation signal that exists outside the search range is a normal signal that is generated when the electronic devices are operating normally, and the operation signal that exists within the search range is a malfunction signal due to malfunction radio waves. Can be determined.
[0038]
The response time t from the occurrence of the input waveform pattern to the occurrence of the malfunction signal can be obtained by the time difference (ta−t0) between the generation time t0 of the input waveform pattern and the occurrence time ta of the malfunction signal. When the input waveform pattern is a signal having a time width, it is unclear which signal caused the malfunction, so the input waveform pattern generation time t0 is represented by the average time of the input waveform pattern.
[0039]
The search range changes according to the duration of the input waveform pattern. Therefore, the search range is determined according to the flowchart of FIG. In the flowchart for determining the search range in FIG. 10, when an input waveform pattern is detected (step S22a), the input waveform pattern is recorded (step S22b), and the start point of the search range is T1 after the first signal of the input waveform pattern. As a result, the search for the operation signal is started (step S22c).
[0040]
It is determined from each signal of the input waveform pattern whether there is a next signal within a predetermined time T0, and if the next signal is not detected after the predetermined time T0 from the previous signal, the input waveform pattern ends. Assuming that the search range ends after a predetermined time T2 from this point. The detection of the operation signal is performed within a search range having a start time after T1 from the first signal of the input waveform pattern and an end time after T2 from the last signal of the input waveform pattern. Therefore, the search range changes according to the duration of the input waveform pattern (step S22e).
[0041]
Next, the detection of the operation signal within the search range shown in step S23 will be described with reference to FIGS.
FIGS. 9A and 9B show the relationship between the input waveform pattern and the operation signal, and the operation signal existing within the search range determined by the above process is detected. Since this operation signal includes a malfunction signal and a normal operation signal, it is necessary to detect the malfunction signal.
[0042]
When the average response time tm is obtained for each response time ts1, ts2, ts3, ts4,... Between the input waveform pattern and the malfunction signal, the average response time tm is the average time of the malfunction signal and the average time of the normal signal. Since the normal signal is assumed to vary substantially evenly, the average response time tm can be considered to be the bias time due to the normal signal added to the average time of the malfunction signal. Therefore, by detecting an operation signal in the vicinity of the average response time tm, the malfunction signal can be identified as a normal signal.
[0043]
FIG. 9C shows a detection signal existing in the search range in the operation signal (FIG. 9B), and an operation signal in the vicinity of the average response time tm is detected from this detection signal. Thus, it can be determined whether the signal is a malfunction signal or a non-malfunction signal. FIG. 9D shows a determination signal determined as a malfunction signal, and FIG. 9E shows a determination signal determined as a non-malfunction signal.
[0044]
In the flowchart for detecting an operation within the search range of FIG. 11, the search is started in accordance with the search start process in step S22c (step S23a), and an operation signal is detected (step S23b). When an operation signal is detected (step S23b), the operation signal generation time ta is recorded (step S23c), and a time difference ts between the average response time tm and the operation signal generation time ta is obtained (step S23d). The operation signal is detected until the end of the search in step S22e (steps S23b and 23e).
The response time t in step S24 can be obtained by performing each of the above processes in steps S22 and S23 in the flowchart shown in FIG.
[0045]
In the example of the flowchart of the determination process based on the correlation shown in FIG. 7, the distribution state (variation) of the response time t is obtained from a predetermined number (N) of response times t, whereas FIG. The flowchart example of the determination process based on the correlation is an example in which the distribution state (variation) of the response time t is obtained from the response time t of the operation occurring within the predetermined time T.
In this example, the time tt = 0 is set as an initial value (step S31), and the detection process is repeated until the time tt reaches the predetermined time T (step S35).
[0046]
In the detection process for obtaining the response time t, an input waveform pattern is detected, a search range for detecting an operation corresponding to the input waveform pattern is obtained (step S32), and an operation of the electronic device is detected within the search range ( In step S33, a response time t from when the input waveform pattern is generated until the electronic devices are operated is calculated (step S34). The response time t of the operation signal for performing the input waveform pattern generated within the predetermined time T is obtained by the above process. The steps S32 and S33 are the same as the steps S22 and S23. Further, the predetermined time T is set to a time interval sufficient to obtain a sufficient number of samples for the determination process.
[0047]
For the obtained response times t, the correlation between the input waveform pattern and the detection operation is determined (step S36). If no correlation is found (step S37), the input radio wave is a non-malfunction radio wave. If the correlation is recognized (step S37), it is determined that the input radio wave is a malfunctioning radio wave (step S29).
As described above, the waveform determination process of step S2 is a process of determining a malfunctioning radio wave based on the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment. In addition to the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state described above, the determination process can be performed based on the determination process based on the logic of the input waveform pattern and the operation state.
[0048]
Next, a determination process based on the logic of the input waveform pattern and the operation state will be described with reference to FIGS. 13 and 14 are flowcharts for explaining the outline of the determination process based on the logicality of the input waveform pattern and the operation state, and FIGS. 15 and 16 are the determination processes based on the logicality of the input waveform pattern and the operation state. FIG. 17 is a sequence diagram and flowchart for explaining an example of processing, and FIG. 17 is a signal state diagram for explaining signal states according to the flowchart of FIG. 18 and 19 are a sequence diagram and a flowchart for explaining another example of the determination process based on the logicality of the input waveform pattern and the operation state, and FIG. 20 explains a signal state according to the flowchart of FIG. It is a signal state diagram for.
[0049]
Usually, each operation of the electronic equipment may be provided with a sequence consisting of a predetermined procedure. In such a case, there is a predetermined relationship between a related operation in a predetermined procedure and a combination of operation and non-operation or an operation order. When such a relationship is provided, it is possible to determine whether or not each operation has been performed normally by looking at a predetermined logic in the relationship between the operations.
Therefore, by determining the logic between these operations, the logic between the input waveform pattern and the operation state can be determined. It is an example of a determination process based on the input waveform pattern and the logic of the operation state shown in the flowchart of FIG.
[0050]
In the flowchart of FIG. 13, after detecting the input waveform pattern (step S41), an operation signal generated after the input waveform pattern is detected is detected. When the operation signal is detected, an operation having a relationship with the operation signal is read, and the read operation is set as a check item. For this reason, operations having relevance are associated and stored in the database in advance (step S42).
[0051]
A check signal related to the check item is fetched from each part of the electronic equipment. The check signal can be detected by a sensor provided in each part of the electronic device, or a control signal or an operation signal in each part can be used (step S43). The logic of the acquired check signal and the operation signal is checked, and the waveform of the input waveform pattern is determined. When the logic set between the check signal and the operation signal is satisfied, it is determined that the input waveform pattern detected in association with the operation signal is a non-malfunction signal, while the check signal and If the logic set with the operation signal is not satisfied, it is determined that the input waveform pattern detected in association with the operation signal is a malfunction signal (step S44).
[0052]
More specifically, in the flowchart shown in FIG. 14, an input waveform pattern is detected to obtain a search range, and an operation signal generated within the search range is detected. The search range can be the same as in the above example (step S51). After the search is started (step S52), an operation signal at each part in the electronic device is detected. When an operation signal is detected (step S53), a check item corresponding to the operation signal is read from the database. . In the database, for each operation signal, each related part and its relation are recorded as check items (step S54).
[0053]
For the read check item, the check signal of each part is fetched (step S55), and the logic of the operation signal and the check signal is determined using the logic table in which the logic stored as the check item is set. (Step S56). If the logic is not satisfied (step S57), it is determined that the operation is a malfunction (step S58), and an input waveform pattern corresponding to this operation is recorded as a malfunction waveform pattern (step S59). On the other hand, when the logic is satisfied (step S57), after repeating the steps S55 to S57 until the search is completed (step S60), it is determined that the operation is a non-malfunction (step S61). The input waveform pattern corresponding to the operation is recorded as a non-malfunction waveform pattern (step S62).
[0054]
FIG. 15 is a schematic diagram illustrating a sequence example. The sequence has a relationship in which two operations are cascade-connected, and the operation state can be detected by the switch SWn and the switch SWn + 1, respectively. In this sequence, there is a relationship between the SWn signal from the switch SWn and the SWn + 1 signal from the switch SWn + 1, and the logic satisfies that the SWn + 1 signal is detected after a predetermined time interval after the SWn signal is detected. It becomes condition to do. Therefore, as shown in FIG. 15A, when the SWn + 1 signal is detected within a predetermined time after the SWn signal is detected, it is determined that the SWn signal is a normal signal. As shown in FIG. 15B, if the SWn + 1 signal is not detected within a predetermined time after the SWn signal is detected, it is determined that the SWn signal is a malfunction signal, and at this time, in the vicinity of the switch SWn. When a radio wave is detected, the input waveform pattern of this radio wave is determined as a malfunctioning radio wave that causes a malfunction.
[0055]
16 and 17 are a flowchart and a signal state diagram for determining logic in the sequence of FIG.
A signal detected from a switch installed in the electronic device or an operation signal in a part is detected as a SW signal, and a search range is obtained using the SW signal (FIG. 17B). The search range can be the same as in the above example. An operation signal generated within the search range is detected (step S71). After the search is started (step S72), the SWn signal in each part in the electronic device is detected, and the check item (SWn + 1 signal) corresponding to the SWn signal is read from the database (step S73).
[0056]
Based on the read check item, the SWn + 1 signal is fetched (FIG. 17C) (step S74). Using this logic table, the logic of the SWn signal and the SWn + 1 signal is determined. At this time, if only the presence of the SWn + 1 signal is set in the logic table of the check item, the logicality can be determined only by the presence / absence of the SWn + 1 signal (step S75).
[0057]
If the SWn + 1 signal is not detected, it is determined that the logic is not satisfied (step S75), the operation is determined to be a malfunction (FIG. 17D) (step S76), and an input waveform pattern corresponding to this operation is determined. A malfunction waveform pattern is recorded (step S77). On the other hand, if the SWn + 1 signal is detected, assuming that the logic is satisfied (step S75), after repeating steps S74 and 75 until the search is completed (step S78), the operation is a non-malfunction. (FIG. 17E) (step S79), and the input waveform pattern corresponding to this operation is recorded as a non-malfunction waveform pattern (FIG. 17A) (step S80).
[0058]
FIG. 18 is a schematic diagram illustrating another sequence example. The sequence has a relationship in which two operations connected in parallel to one operation are cascade-connected, and the operation state can be detected by the switch SWn, the switch SWn + 1, and the switch SWn + 2, respectively. In this sequence, the SWn signal from the switch SWn, the SWn + 1 signal from the switch SWn + 1, and the SWn + 2 signal from the switch SWn + 2 are related, and after the SWn signal is detected, the SWn + 1 signal and the SWn + 2 signal are generated, A condition that satisfies the logic is that a time difference tn + Δt (Δt is an error) exists between the SWn + 2 signal and the SWn + 2 signal.
[0059]
Therefore, as shown in FIG. 18A, after the SWn signal is detected, the SWn + 1 signal and the SWn + 2 signal are detected, and when the SWn + 1 signal and the SWn + 2 signal are detected within a time difference within tn + Δt, SWn The signal is determined to be a normal signal. On the other hand, as shown in FIG. 18B, after the SWn signal is detected, for example, the SWn + 1 signal is detected, but the SWn + 2 signal is detected within a time difference within tn + Δt. In this case, it is determined that the SWn signal is a malfunction signal. At this time, if a radio wave is detected in the vicinity of the switch SWn or the switch SWn + 1, the input waveform pattern of the radio wave causes a malfunction. Is determined.
[0060]
19 and 20 are a flowchart and a signal state diagram for determining logic in the sequence of FIG.
A signal detected from a switch installed in an electronic device or an operation signal at a part is detected as a SW signal, and a search range is obtained using the SW signal (FIG. 20B). The search range can be the same as in the above example. An operation signal generated within the search range is detected (step S81). After the search is started (step S82), the SWn signal in the electronic device is detected, and the check items (SWn + 1 signal, SWn + 2 signal, and allowable time difference t + Δt) corresponding to the SWn signal are read from the database (step S83). ).
[0061]
Based on the read check items, the SWn + 1 signal and SWn + 2 signal are captured (FIGS. 17C and 17D) (step S84). The time difference td between the SWn + 1 signal and the SWn + 2 signal is obtained (step S85), and the time difference td is compared with the allowable time difference t + Δt to determine the logic (step S86).
If the time difference td is larger than the allowable time difference t + Δt (step S86), it is determined that the operation is a malfunction (FIG. 20E) (step S87), and the input waveform pattern corresponding to this operation is malfunctioned. Recording as a waveform pattern (step S88). On the other hand, when the time difference td is smaller than the permissible time difference t + Δt (step S86), after repeating steps S84, 85, 86 until the search is completed (step S89), it is determined that the operation is a non-malfunction. (FIG. 20F) (step S90), an input waveform pattern corresponding to this operation is recorded as a malfunction waveform pattern (step S91).
Note that the above-described logic is an example, and can be determined according to the sequence provided in the electronic devices and the relationship between the parts.
[0062]
【The invention's effect】
As described above, according to the malfunctioning radio wave detection device of the present invention, it is possible to detect malfunctioning radio waves that can correspond to various frequencies in a wide band with respect to radio waves that cause electronic devices to malfunction.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining malfunction detection processing according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating an outline of a malfunction radio wave detection device of the present invention.
FIG. 3 is a flowchart for explaining an outline of the operation of the malfunction detection device of the present invention.
FIG. 4 is an example of a database of malfunction waveform patterns or non-malfunction waveform patterns of the present invention.
FIG. 5 is a schematic diagram for explaining variation in response time of a malfunction waveform pattern and a non-malfunction waveform pattern.
FIG. 6 is a flowchart for explaining an outline of a determination process based on a correlation between an input waveform pattern and an operation state according to the present invention.
FIG. 7 is a flowchart for explaining an example of determination processing based on the correlation between an input waveform pattern and an operation state according to the present invention.
8 is a signal state diagram for explaining signal states according to the flowchart shown in FIG. 7. FIG.
9 is a signal state diagram for explaining signal states according to the flowchart shown in FIG. 7; FIG.
10 is a flowchart for explaining a step of the flowchart shown in FIG. 7. FIG.
11 is a flowchart for explaining a step of the flowchart shown in FIG. 7;
FIG. 12 is a flowchart for explaining another example of the determination process based on the correlation between the input waveform pattern and the operation state.
FIG. 13 is a flowchart for explaining an outline of a determination process based on the input waveform pattern and the logic of the operation state according to the present invention.
FIG. 14 is a flowchart for explaining an outline of a determination process based on the input waveform pattern and the logic of the operation state according to the present invention.
FIG. 15 is a sequence diagram for explaining a processing example of determination processing based on the input waveform pattern and the logic of the operation state according to the present invention.
FIG. 16 is a flowchart for explaining an example of a determination process based on the input waveform pattern and the logic of the operation state according to the present invention.
FIG. 17 is a signal state diagram for explaining signal states according to the flowchart of FIG. 16;
FIG. 18 is a sequence diagram for explaining another process example of the determination process based on the input waveform pattern and the logic of the operation state according to the present invention.
FIG. 19 is a flowchart for explaining another process example of the determination process based on the input waveform pattern and the logic of the operation state according to the present invention.
20 is a signal state diagram for explaining signal states according to the flowchart of FIG.
[Explanation of symbols]
1. Malfunction detection device
2 Malfunction radio wave detection means
3 comparison means
4 Waveform judgment means
5 Database
6 Radio wave detection means
7 Waveform pattern extraction means
8 Notification means

Claims

A malfunction radio wave detection device that detects radio waves that cause malfunctions of electronic devices,
Comparison means for comparing the input waveform pattern with the registered waveform pattern;
Waveform determination means for determining a malfunctioning radio wave based on the relationship between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment,
A malfunction radio wave detection apparatus, wherein malfunction radio waves are detected by extracting a malfunction waveform pattern by the comparing means and / or determining malfunction radio waves by the waveform determination means.

2. The malfunction according to claim 1, wherein the waveform determination unit determines a malfunctioning radio wave based on a relationship between a generation state of the input waveform pattern extracted by the comparison unit and an operation state of the electronic equipment. Detection device.

The comparison means comprises a malfunction waveform pattern and a non-malfunction waveform pattern as registered waveform patterns, and extracts a malfunction waveform pattern by detecting an input waveform pattern that matches or is similar to the malfunction waveform pattern. Item 3. A malfunction detection device according to item 1 or 2.

The comparison unit includes a malfunction waveform pattern and a non-malfunction waveform pattern as registered waveform patterns, and detects an input waveform pattern that does not match the registered waveform pattern;
The malfunction detection device according to claim 1, wherein the waveform determination unit determines a malfunction radio wave for the detected input waveform pattern.

The waveform determination means obtains the relevance between the generation state of the input waveform pattern and the operation state of the electronic equipment from the time change of the input waveform pattern and the time change of the operation of the electronic equipment. 3. The malfunction detection device according to 1 or 2.

The waveform determination means obtains the correlation between the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment from the time change of the input waveform pattern and the operation of the electronic equipment, and the generation state of the input waveform pattern from the correlation 6. The malfunction detection device according to claim 5, wherein a relationship between the operation status of the electronic device and the electronic device is obtained.

The waveform determination means obtains the synchronism between the input waveform pattern and the operation of the electronic device from the time interval between the input waveform pattern and the operation of the electronic device, and determines the input waveform pattern and the electronic device from the synchronization. The malfunction detection device according to claim 6, wherein a correlation with an operation is obtained.

The waveform determination means obtains the logicality between the input waveform pattern and the operation of the electronic device from the time change of the input waveform pattern and the operation of the electronic device, and the generation state of the input waveform pattern from the logicality 6. The malfunction detection device according to claim 5, wherein a relationship between the operation status of the electronic device and the electronic device is obtained.

The waveform determination means includes, as a logical table, the relevance of each operation and / or the operation order between the operations of the electronic devices.
9. The malfunction detection device according to claim 8, wherein an operation corresponding to the input waveform pattern is determined using the logic table, and logicality between the input waveform pattern and the operation of the electronic device is obtained.

10. The malfunction detection device according to claim 5, wherein an input waveform pattern is recorded in a registered waveform pattern based on a determination result of the waveform determination unit.

11. The malfunctioning radio wave detection device according to claim 10, wherein a plurality of malfunctioning radio wave detection devices are connected via a network, and the registered waveform pattern is distributed to other malfunctioning radio wave detection devices connected via the network.