JP3983220B2 - アナログスイッチ - Google Patents
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Description
VREF−VTH<VIN<VREF+VTH
このアナログスイッチのPMOS11,14は、それぞれP型基板Psubに独立して設けられたNウエルNW1,NW2内に形成されている。また、P型基板PsubにはPMOS11,14とは別にNウエルNW3が設けられ、このNウエルNW3内に独立して設けられた2つのPウエルPW1,PW2の内部に、NMOS12,13がそれぞれ形成されている。NウエルNW1,NW3のバルクは電源電位VDDに接続され、PウエルPW1のバルクとP型基板Psubは接地電位GNDに接続されるようになっている。
アナログスイッチの端子E,EBに、それぞれ“H”,“L”のクロック信号CLK,CLKBが与えられると、PMOS11,14とNMOS12,13のすべてがオンとなり、端子A,B間が接続される。これにより、チョッパ型コンパレータの比較回路であるインバータの入出力間が、このアナログスイッチで短絡されるので、このアナログスイッチの入力電圧及び出力電圧は、インバータの閾値電圧VTH(一般的には、電源電位VDDの1/2)となる。
アナログスイッチの端子E,EBに、それぞれ“H”,“L”のクロック信号CLK,CLKBが与えられると、PMOS11とNMOS12はオンとなる。また、NMOS15は、ゲートが電源電位VDDに接続されているのでオンである。従って、端子A,B間が接続される。
アナログスイッチの端子E,EBに、それぞれ“H”,“L”のクロック信号CLK,CLKBが与えられると、PMOS11とNMOS12はオンとなる。また、PMOS16は、ゲートが接地電位GNDに接続されているのでオンである。従って、端子A,B間が接続される。
アナログスイッチの端子E,EBに、それぞれ“H”,“L”のクロック信号CLK,CLKBが与えられると、PMOS11とNMOS12はオンとなる。また、NMOS15は、ゲートが電源電位VDDに接続されているのでオンであり、PMOS16は、ゲートが接地電位GNDに接続されているのでオンである。従って、端子A,B間が接続される。
12,13,15 NMOS
Claims (5)
- ドレインが入力端子に接続されゲートが第1の電源電位に接続された第1の第1導電型トランジスタと、
ドレインが前記第1の第1導電型トランジスタのソースに接続され、ソースが出力端子に接続され、バルクが第1の電源電位に接続されてゲートにオン・オフ制御用の制御信号が与えられる第2導電型トランジスタと、
ドレインとソースがそれぞれ前記入力端子と前記出力端子に接続され、バルクが第2の電源電位に接続されてゲートに前記制御信号を反転した信号が与えられる第2の第1導電型トランジスタとを、
備えたことを特徴とするアナログスイッチ。 - 前記第1導電型トランジスタはPチャネルMOSトランジスタであり、前記第2導電型トランジスタはNチャネルMOSトランジスタであり、前記第1の電源電位は接地電位であり、前記第2の電源電位は正の電源電位であることを特徴とする請求項1記載のアナログスイッチ。
- 前記第1導電型トランジスタはNチャネルMOSトランジスタであり、前記第2導電型トランジスタはPチャネルMOSトランジスタであり、前記第1の電源電位は正の電源電位であり、前記第2の電源電位は接地電位であることを特徴とする請求項1記載のアナログスイッチ。
- ドレインが入力端子に接続されゲートが接地電位に接続された第1のPチャネルMOSトランジスタと、
ドレインが前記入力端子に接続されゲートが電源電位に接続された第1のNチャネルMOSトランジスタと、
ドレインが前記第1のPチャネルMOSトランジスタのソースに接続され、ソースが出力端子に接続され、バルクが接地電位に接続されてゲートにオン・オフ制御用の制御信号が与えられる第2のNチャネルMOSトランジスタと、
ドレインが前記第1のNチャネルMOSトランジスタのソースに接続され、ソースが前記出力端子に接続され、バルクが電源電位に接続されてゲートに前記制御信号を反転した信号が与えられる第2のPチャネルMOSトランジスタとを、
備えたことを特徴とするアナログスイッチ。 - 前記アナログスイッチは、チョッパ型コンパレータを構成するキャパシタと出力部との間に接続されたインバータと並列に接続されるスイッチとして用いられることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のアナログスイッチ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003427181A JP3983220B2 (ja) | 2003-12-24 | 2003-12-24 | アナログスイッチ |
US10/983,245 US7271452B2 (en) | 2003-12-24 | 2004-11-08 | Analog switch |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003427181A JP3983220B2 (ja) | 2003-12-24 | 2003-12-24 | アナログスイッチ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005191657A JP2005191657A (ja) | 2005-07-14 |
JP3983220B2 true JP3983220B2 (ja) | 2007-09-26 |
Family
ID=34697466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003427181A Expired - Fee Related JP3983220B2 (ja) | 2003-12-24 | 2003-12-24 | アナログスイッチ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7271452B2 (ja) |
JP (1) | JP3983220B2 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI288478B (en) * | 2004-08-26 | 2007-10-11 | Realtek Semiconductor Corp | High voltage tolerance output stage |
JP5070918B2 (ja) * | 2007-05-01 | 2012-11-14 | 富士通セミコンダクター株式会社 | アナログ信号選択回路 |
US8773929B1 (en) * | 2008-03-11 | 2014-07-08 | Xilinx, Inc. | Single-event-upset resistant memory cell with triple well |
JP5259246B2 (ja) | 2008-05-09 | 2013-08-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US7940111B2 (en) * | 2008-10-30 | 2011-05-10 | Qualcomm Incorporated | High-performance analog switch |
US8265569B2 (en) * | 2009-09-14 | 2012-09-11 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and method for transmit/receive switching |
US8014184B1 (en) | 2009-09-14 | 2011-09-06 | Xilinx, Inc. | Radiation hardened memory cell |
WO2011088853A1 (en) * | 2009-12-30 | 2011-07-28 | Stmicroelectronics S.R.L. | Transmission channel, in particular for ultrasound applications |
US8648629B2 (en) | 2009-12-30 | 2014-02-11 | Stmicroelectronics S.R.L. | Transmission channel for ultrasound applications |
US8786371B2 (en) * | 2011-11-18 | 2014-07-22 | Skyworks Solutions, Inc. | Apparatus and methods for voltage converters |
US9669427B2 (en) * | 2012-01-24 | 2017-06-06 | Texas Instruments Incorporated | Methods and systems for ultrasound control with bi-directional transistor |
JP6190204B2 (ja) * | 2012-09-25 | 2017-08-30 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
US9178507B2 (en) | 2012-11-28 | 2015-11-03 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and methods for ultrasound transmit switching |
US9479162B2 (en) | 2012-11-28 | 2016-10-25 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and methods for ultrasound probes |
JP2015095492A (ja) * | 2013-11-08 | 2015-05-18 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
CN106656132B (zh) * | 2016-12-31 | 2023-08-04 | 唯捷创芯(天津)电子技术股份有限公司 | 一种极低漏电模拟开关、芯片及通信终端 |
US10522542B1 (en) | 2018-06-28 | 2019-12-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Double rule integrated circuit layouts for a dual transmission gate |
US10924116B1 (en) * | 2019-10-09 | 2021-02-16 | Semiconductor Components Industries, Llc | Analog switch multiplexer systems and related methods |
CN111510120B (zh) * | 2020-06-12 | 2024-09-03 | 江苏帝奥微电子股份有限公司 | 一种具有电压处理功能的无功耗模拟开关 |
JP2024141657A (ja) * | 2023-03-29 | 2024-10-10 | 株式会社デンソー | スイッチ回路 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05218840A (ja) | 1992-02-03 | 1993-08-27 | Hitachi Ltd | 信号伝達回路 |
GB2327544B (en) * | 1997-07-16 | 2001-02-07 | Ericsson Telefon Ab L M | Electronic analogue switch |
JP2000077992A (ja) | 1998-09-01 | 2000-03-14 | Kawasaki Steel Corp | アナログスイッチ |
JP3476446B2 (ja) | 2001-11-20 | 2003-12-10 | 沖電気工業株式会社 | チョッパ型コンパレータ |
JP2003258118A (ja) * | 2002-03-06 | 2003-09-12 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
US6800908B2 (en) * | 2002-09-25 | 2004-10-05 | Intel Corporation | Apparatus and circuit having reduced leakage current and method therefor |
-
2003
- 2003-12-24 JP JP2003427181A patent/JP3983220B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-11-08 US US10/983,245 patent/US7271452B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7271452B2 (en) | 2007-09-18 |
JP2005191657A (ja) | 2005-07-14 |
US20050139931A1 (en) | 2005-06-30 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110713 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713 Year of fee payment: 5 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713 Year of fee payment: 5 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130713 Year of fee payment: 6 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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