[go: up one dir, main page]

JP3959599B2 - アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜 - Google Patents

アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜 Download PDF

Info

Publication number
JP3959599B2
JP3959599B2 JP2001175598A JP2001175598A JP3959599B2 JP 3959599 B2 JP3959599 B2 JP 3959599B2 JP 2001175598 A JP2001175598 A JP 2001175598A JP 2001175598 A JP2001175598 A JP 2001175598A JP 3959599 B2 JP3959599 B2 JP 3959599B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
ether
bis
polyarylene ether
acetylene bond
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001175598A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002371025A (ja
Inventor
宣康 篠原
敬 岡田
通則 西川
欣司 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP2001175598A priority Critical patent/JP3959599B2/ja
Publication of JP2002371025A publication Critical patent/JP2002371025A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3959599B2 publication Critical patent/JP3959599B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
  • Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、不飽和結合を有する芳香族化合物の精製方法に関する。さらに詳しくは、不純物の金属含量が低減され、誘電率特性などの電気的特性の安定性に優れ、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜;半導体素子の表面コート膜などの保護膜;多層配線基板の層間絶縁膜;液晶表示素子用の保護膜や絶縁防止膜などの電子材料の製造に好適に用いられる不飽和結合を有する芳香族化合物の精製方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子材料分野においては、高集積化、多機能化、高性能化の進行に伴い、回路抵抗や配線間のコンデンサー容量が増大し、消費電力や遅延時間の増大を招いている。中でも、遅延時間の増大は、デバイスの信号スピードの低下やクロストークの発生の大きな要因となるため、この遅延時間を減少させてデバイスの高速化を図るべく、寄生抵抗や寄生容量の低減が求められている。この寄生容量を低減するための具体策の一つとして、配線の周辺を低誘電性の層間絶縁膜で被覆することが試みられている。
また、層間絶縁膜には、実装基板製造時の薄膜形成工程やチップ接続、ピン付け等の後工程に耐え得る優れた耐熱性やウェットプロセスに耐え得る耐薬品性が求められている。さらに、近年は、Al配線から低抵抗のCu配線が導入されつつあり、これに伴い、CMP(ケミカルメカニカルポリッシング)による平坦化が一般的となっており、このプロセスに耐え得る機械的強度が求められている。
【0003】
この高耐熱性の有機材料として、ポリイミドが広く知られているが、極性の高いイミド基を含むため、低誘電性、低吸水性、耐久性および耐加水分解性の面では、満足なものは得られていない。
【0004】
一方、極性基を含まない高耐熱性の有機材料としては、ポリフェニレンが知られている。ポリフェニレンは、耐熱性に優れるが、有機溶媒の溶解性に劣るため、可溶性基として側鎖を導入する試みが行われている。しかしながら、側鎖を導入することにより、耐熱性が低下したり、原料の製造が煩雑になるなどの問題がある。
【0005】
従来のポリフェニレンとしては、例えば米国特許第5,214,044号明細書、国際出願WO96/28491号明細書、ヨーロッパ特許公開第629217号公報などに記載されるポリマーを挙げることができる。
これらのポリマーは、基本的にポリパラフェニレンからなる剛直構造を主としてなり、一部屈曲性モノマーを共重合するなどしている。
【0006】
しかし、これらのポリマーは、特定の有機溶媒にしか溶けず、加工性の悪いものである。また、米国特許第5,214,044号明細書、ヨーロッパ特許公開第629217号公報に記載の重合体は、側鎖は極性基やアルキル基であるため、耐熱性、低誘電性を充分満たしていない、また国際公開WO96/28491号に記載の重合体は、耐熱、低誘電の構造だが、モノマー合成が原料合成に多くの工程を要し煩雑である。
【0007】
また、これらのポリマーは、パラジクロロベンゼンを基本骨格とする置換誘導体などの芳香族ジクロロ化合物を原料として製造するものが主であるが、このような芳香族ジクロロ化合物は合成が煩雑で、モノマーを安定的に確保できないという点において好ましくない。
さらに、従来のポリパラフェニレンは、溶解性もさることながら、透明性も充分ではなく、光学的用途には使用できない。
【0008】
さらに、耐溶剤性の付与、耐熱性、機械的性質の改善などのために、ポリフェニレン系ポリマーの架橋についても検討され、従来から、アセチレン結合を利用して架橋させることが知られているが、塗膜の密着性に問題があった。
また、ポリアリーレンの加工性や溶解性を高めるため、ポリマー中にエーテル基を導入することも検討されているが、得られるポリマーの耐熱性に問題があった。
【0009】
本発明者らは、このような従来の芳香族化合物の有する問題に対し、種々検討をした結果、耐熱性、低誘電性、加工性を充分に満たすアセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの製造方法を特願2001-131385号、特願2001-131386で提案している。
【0010】
しかしながら、上記で提案した方法においても、得られるアセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルは、重合触媒から派生する金属成分や製造過程における金属化合物などの混入による不純物が残存しており、誘電率特性などの電気的性質の安定性などについては、必ずしも十分に満足し得るものではない。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述の問題に鑑みなされたものであり、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAM等の半導体素子用低誘電性層間絶縁膜;半導体素子の表面コート膜等の保護膜;多層配線基板の低誘電性層間絶縁膜;液晶表示素子用の保護膜、絶縁防止膜、ガス分離膜等の原材料として好適な、有機溶剤に可溶で加工性に優れるとともに、硬化させて塗膜としたときの耐熱性、耐溶剤性、低誘電性及び機械的強度に優れた不飽和結合を有する芳香族化合物中の不純物を極力低減させ、低誘電率で電気的安定性に優れた不飽和結合を有する芳香族化合物を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは上記課題を解決するために鋭意研究を行った結果、不飽和結合を有する芳香族化合物を、蟻酸塩の共存下で処理することで不飽和結合を有する芳香族化合物中の金属不純物を効果的に低減できることを見いだした。すなわち本発明は以下の通りである。
(1)不飽和結合を有する芳香族化合物に、蟻酸塩を作用させて化合物中の金属不純物を除くことを特徴とする芳香族化合物の精製方法。
(2)不飽和結合を有する芳香族化合物がアセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルであることを特徴とする(1)に記載の精製方法。
(3)金属不純物が遷移金属化合物であることを特長とする(1)又は(2)に記載の精製方法。
(4)(1)、(2)または(3)の精製方法により得られた、遷移金属化合物の濃度が1つの金属1ppm以下であることを特徴とする不飽和結合を有する芳香族化合物。
(5)遷移金属化合物の濃度がそれぞれ1ppm以下であることを特徴とするアセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル。
(6)(4)又は(5)に記載の不飽和結合を有する芳香族化合物と溶剤とからなる組成物。
(7)(6)に記載の組成物を膜状にした後、溶媒を除去して得られる膜厚が0.1μm〜800μmの被膜。
(8)(7)に記載の被膜を架橋することにより得られる架橋重合体被膜。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を詳細に説明する。
【0014】
(芳香族化合物)
本発明で用いられる不飽和結合を有する芳香族化合物は、半導体材料として十分な耐熱性や低誘電率が得られるものについては特に限定されるものではない。こうした不飽和結合を有する芳香族化合物の代表的な例としては、例えば下記式(1)で表される、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルが好ましい例として挙げられる。
【0015】
【化1】
Figure 0003959599
[式中Zは下記一般式(2)及び下記一般式(3)
【0016】
【化2】
Figure 0003959599
【0017】
【化3】
Figure 0003959599
(式中、R1及びR2は、独立に単結合、−O−、−CO−、−CH2−、−COO−、−CONH−、−S−、−SO2−、フェニレン基、フルオレニレン基、又は式:
【0018】
【化4】
Figure 0003959599
で表される2価の基を表わし、R3、R4、R5及びR6は、独立に、炭素原子数1〜20の炭化水素基、シアノ基、ニトロ基、炭素原子数1〜20のアルコキシル基又はアリール基を表わし、aは1〜3の整数を示し、b、c、d及びeは、独立に0〜4の整数を示す。)
で表わされる2価の芳香族基からなる群から選ばれる少なくとも1種の2価の芳香族基であり、Yは、下記一般式(4)及び一般式(5)
【0019】
【化5】
Figure 0003959599
【0020】
【化6】
Figure 0003959599
(式中、R7及びR8は、独立に単結合、−O−、−CO−、−CH2−、−COO−、−CONH−、−S−、−SO2−、フェニレン基、又はフルオレニレン基を表わし、R9、R10、R11及びR12は、独立に、炭素原子数1〜20の炭化水素基、シアノ基、ニトロ基、炭素原子数1〜20のアルコキシル基又はアリール基を表わし、fは0〜3の整数を示し、g、h、i及びjは、独立に0〜4の整数を示す。)で表される2価の芳香族基からなる群から選ばれる少なくとも1種の2価の芳香族基である。]
【0021】
また、不飽和結合を有する芳香族化合物として例えば、
アリルベンゼン、ジアリルベンゼン、トリアリルベンゼン、アリルオキシベンゼン、ジアリルオキシベンゼン、トリアリルオキシベンゼン、N−アリルフタルイミド、N−アリルピロメリットイミド、2,2’−ジアリルビスフェノールAなどの芳香族系アリル化合物;
【0022】
スチレン、ジビニルベンゼン、トリビニルベンゼン、スチルベン、プロペニルベンゼン、ジプロペニルベンゼン、トリプロペニルベンゼン、フェニルビニルケトン、メチルスチリルケトン、ビスアクリルオキシベンゼン、トリスアクリルオキシベンゼン、ビスメタクリルオキシベンゼン、トリスメタクリルオキシベンゼン、N−ビニルフタルイミド、N−ビニルピロメリットイミドなどのビニル化合物;
2,2’−ジアリル−4,4’−ビフェノールを含むポリアリーレンエーテル、2,2’−ジアリル−4,4’−ビフェノールを含むポリアリーレン
【0023】
エチニルベンゼン、ビス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、トリス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、トリエチニルベンゼン、ビス(トリメチルシリルエチニルフェニル)エーテル、トリメチルシリルエチニルベンゼン
などのイン構造を有する芳香族化合物。
【0024】
下記一般式(8)で表される化合物
【化7】
Figure 0003959599
(式中、R7、R8、R9、R10、R11、f、g、h、i及びjは、前記一般式(1)に関して定義したとおりである。)
で表される化合物。
【0025】
一般式(8)で表わされる化合物としては、例えば、4,4’−ジエチニルビフェニル、3,3’−ジエチニルビフェニル、3,4’−ジエチニルビフェニル、4,4’−ジエチニルジフェニルエーテル、3,3’−ジエチニルジフェニルエーテル、3,4’−ジエチニルジフェニルエーテル、4,4’−ジエチニルベンゾフェノン、3,3’−ジエチニルベンゾフェノン、3,4’−ジエチニルベンゾフェノン、4,4’−ジエチニルジフェニルメタン、3,3’−ジエチニルジフェニルメタン、3,4’−ジエチニルジフェニルメタン、4,4’−ジエチニルベンゾイックアシッドフェニルエステル、3,3’−ジエチニルベンゾイックアシッドフェニルエステル、3,4’−ジエチニルベンゾイックアシッドフェニルエステル、4,4’−ジエチニルベンズアニリド、3,3’−ジエチニルベンズアニリド、3,4’−ジエチニルベンズアニリド、4,4’−ジエチニルジフェニルスルフィド、3,3’−ジエチニルジフェニルスルフィド、3,4’−ジエチニルジフェニルスルフィド、4,4’−ジエチニルジフェニルスルホン、3,3’−ジエチニルジフェニルスルホン、3,4’−ジエチニルジフェニルスルホン、2,4,4’−トリエチニルジフェニルエーテル、9,9−ビス(4−エチニルフェニル)フルオレン、4,4”−ジエチニル−p−ターフェニル、4,4”−ジエチニル−m−ターフェニル、4,4”−ジエチニル−o−ターフェニルなどを挙げることができる。
【0026】
一般式(9)で表される化合物
【化8】
Figure 0003959599
(式中、R12は、独立に、炭素原子数1〜20の炭化水素基、シアノ基、ニトロ基、炭素原子数1〜20のアルコキシル基又はアリール基を表わす。)
【0027】
一般式(9)で表わされる化合物としては、例えば、1,2−ジエチニルベンゼン、1,3−ジエチニルベンゼン、1,4−ジエチニルベンゼン、2,5−ジエチニルトルエン,3,4−ジエチニルトルエンなどを挙げることができる。
【0028】
本発明の精製方法においては、これらの化合物を、蟻酸と塩基性化合物とにより生成される蟻酸塩の存在下で処理させることが好ましく、溶媒中で処理を行うことがより好ましい。
【0029】
蟻酸塩の使用割合は、芳香族化合物に対し、好ましくは、0.01〜100重量部、さらに好ましくは0.1〜20重量部である。0.01モル未満であると精製が不充分となることがあり、一方、100重量部を超えると芳香族化合物が不溶化する、あるいは経済的ではなくなるといった問題を生じる。
【0030】
(塩基性化合物)
蟻酸塩を生成させためのる塩基性化合物は特に限定される物ではないが、例えば、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、ジメチルモノエタノールアミン、モノメチルジエタノールアミン、トリエタノールアミン、ジアザビシクロオクタン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、ジエチルアミン、アンモニア、n−ブチルアミン、イミダゾール等を挙げることができる。中でも、ジエチルアミン、n−ブチルアミン、ジアザビシクロウンデセンが好ましい。これらの化合物は1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0031】
塩基性化合物の使用割合は、蟻酸に対し、好ましくは、0.1〜10モル、さらに好ましくは0.5〜5モルである。0.1モル未満であると芳香族化合物の副反応が進行することがあり、一方、10モルを超えると芳香族化合物が不溶化する、あるいは経済的ではなくなるといった問題を生じる。
【0032】
また、蟻酸塩の調整法としては、あらかじめ調製した蟻酸塩を芳香族化合物に添加させてもよいし、芳香族化合物に蟻酸と塩基性化合物をそれぞれ添加させ反応系内で蟻酸塩を調製しても良い。
蟻酸と塩基性化合物の添加順序はいずれを先に添加しても良いが好ましくは塩基性化合物を添加した後に蟻酸を反応系に添加する方がよい。蟻酸を先に添加した後に塩基性化合物を添加する場合、蟻酸が系内に過剰に存在する条件で塩の生成熱が発生するため副反応が進行する場合がある。
【0033】
本発明の精製方法では、必要に応じて溶媒を用いることができる。溶媒としては特に制限はないが、例えば、クロロホルム、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン等のハロゲン系溶媒;
ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、ジエチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒;ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジグライム、アニソール、ジエチレンクリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル等のエーテル系溶媒;アセトン、メチルエチルケトン、2−ヘプタノン、シクロヘキサノン、シクルペンタノン等のケトン系溶媒;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、γ−ブチロラクトン等のエステル系溶媒;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。これらの溶媒は十分に乾燥、脱酸素して用いることが好ましい。これらの溶媒は1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0034】
溶媒中における芳香族化合物の濃度は、0.1〜80重量%が好ましく、1〜50重量%がより好ましい。
また、温度は、好ましくは、0〜150℃、さらに好ましくは5〜120℃である。また、重合時間は、好ましくは、0.5〜100時間、さらに好ましくは1〜40時間である。
【0035】
本発明において、蟻酸塩を添加することによって芳香族化合物を精製する場合、芳香族化合物溶液に蟻酸塩を作用させ、析出した金属不純物を濾過することにより除去するということが一般的であるが、精製手法はこれに限られるものではない。
例えば、芳香族化合物に蟻酸塩を作用させた後、イオン交換樹脂、あるいは活性炭といった吸着剤処理を施すことにより金属不純物を取り除いても良いし、室温で芳香族化合物溶液に蟻酸塩を加えて直ちに水抽出をおこなっても良い。
また、芳香族化合物が固体である場合、これををカラムに詰めて蟻酸塩溶液で洗浄する、芳香族化合物を酸で蟻酸塩溶液でソックスレー抽出する、などの手法が可能である。
さらに、芳香族化合物の貧溶媒となる溶媒、例えばメタノール、エタノールなどのアルコール系溶媒、ヘキサン、シクロヘキサンなどのアルカン系溶媒などを用いて再沈殿精製するのも効果的である。
【0036】
また、上記のような濾過、洗浄、再沈殿などの手法は、外部からの汚染がない場合、複数回繰り返すことでより好ましい結果を得ることはいうまでもない。さらに、上記の濾過、洗浄、再沈殿などの手法により金属不純物を取り除いた後、さらに蟻酸塩を作用させ繰り返し金属不純物を取り除くこともまた効果的である。本発明の精製方法により鉄、コバルト、ニッケル、ルテニウム、パラジウム、オスミウム、イリジウム、白金などの遷移金属を好適に芳香族化合物から除去することができる。
【0037】
蟻酸塩が金属イオンを除く機構は明らかではないが、蟻酸はカルボニル炭素に結合した水素を有し還元能をを持つことから、金属イオンの価数を変化させることによって金属不純物を除去しやすい状態に変化させるためと考えられる。また、蟻酸塩と芳香族化合物の両方が有機物であるため、親和性があり、芳香族化合物内部に取り込まれたイオンをも効率的に除去できるためであると考えられる。
【0038】
(膜形成用組成物)
本発明の膜形成用組成物は、上記の本発明の不飽和結合を有する芳香族化合物(以下、芳香族化合物(1)という)を溶媒に溶解して調製される。
この際使用することができる溶媒としては、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒、エステル系溶媒及び非プロトン系溶媒の群から選ばれた少なくとも1種が挙げられる。
【0039】
ここで、アルコール系溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、i−プロパノール、n−ブタノール、i−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、n−ペンタノール、i−ペンタノール、2−メチルブタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、3−メトキシブタノール、n−ヘキサノール、2−メチルペンタノール、sec−ヘキサノール、2−エチルブタノール、sec−ヘプタノール、ヘプタノール−3、n−オクタノール、2−エチルヘキサノール、sec−オクタノール、n−ノニルアルコール、2,6−ジメチルヘプタノール−4、n−デカノール、sec−ウンデシルアルコール、トリメチルノニルアルコール、sec−テトラデシルアルコール、sec−ヘプタデシルアルコール、フェノール、シクロヘキサノール、メチルシクロヘキサノール、3,3,5−トリメチルシクロヘキサノール、ベンジルアルコール、ジアセトンアルコールなどのモノアルコール系溶媒;
【0040】
エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、ペンタンジオール−2,4、2−メチルペンタンジオール−2,4、ヘキサンジオール−2,5、ヘプタンジオール−2,4,2−エチルヘキサンジオール−1,3、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価アルコール系溶媒;
【0041】
エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶媒;などを挙げることができる。これらのアルコール系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0042】
ケトン系溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、アセトフェノン、フェンチョンなどのほか、アセチルアセトン、2,4−ヘキサンジオン、2,4−ヘプタンジオン、3,5−ヘプタンジオン、2,4−オクタンジオン、3,5−オクタンジオン、2,4−ノナンジオン、3,5−ノナンジオン、5−メチル−2,4−ヘキサンジオン、2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオン、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ヘプタンジオンなどのβ−ジケトン類などが挙げられる。これらのケトン系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0043】
アミド系溶媒としては、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−エチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−エチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−メチルピロリドン、N−ホルミルモルホリン、N−ホルミルピペリジン、N−ホルミルピロリジン、N−アセチルモルホリン、N−アセチルピペリジン、N−アセチルピロリジンなどが挙げられる。これらアミド系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0044】
エステル系溶媒としては、例えばジエチルカーボネート、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、炭酸ジエチル、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸n−ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸エチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノエチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノプロピルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノブチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジ酢酸グリコール、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−アミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミル、マロン酸ジエチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチルなどが挙げられる。これらエステル系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0045】
非プロトン系溶媒としては、例えばアセトニトリル、ジメチルスルホキシド、N,N,N’,N’−テトラエチルスルファミド、ヘキサメチルリン酸トリアミド、N−メチルモルホロン、N−メチルピロール、N−エチルピロール、N−メチル−Δ3 −ピロリン、N−メチルピペリジン、N−エチルピペリジン、N,N−ジメチルピペラジン、N−メチルイミダゾール、N−メチル−4−ピペリドン、N−メチル−2−ピペリドン、N−メチル−2−ピロリドン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、1,3−ジメチルテトラヒドロ−2(1H)−ピリミジノンなどを挙げることができる。これら非プロトン系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0046】
本発明の膜形成用組成物には、さらに本発明の効果を損なわない程度にコロイド状シリカ、コロイド状アルミナ、重合体(1)以外の有機ポリマー、界面活性剤、シランカップリング剤、トリアゼン化合物、ラジカル発生剤、重合性の二重結合を含有する化合物、重合性の三重結合を有する化合物などの成分を添加してもよい。
【0047】
コロイド状シリカとは、例えば、高純度の無水ケイ酸を前記親水性有機溶媒に分散した分散液であり、通常、平均粒径が5〜30mn、好ましくは10〜20mn、固形分濃度が10〜40重量%程度のものである。このような、コロイド状シリカとしては、例えば、日産化学工業(株)製、メタノールシリカゾル及びイソプロパノールシリカゾル;触媒化成工業(株)製、オスカルなどが挙げられる。これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、1〜20重量部にすることが好ましい。
【0048】
コロイド状アルミナとしては、日産化学工業(株)製のアルミナゾル520、同100、同200;川研ファインケミカル(株)製のアルミナクリアーゾル、アルミナゾル10、同132などが挙げられる。これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、1〜20重量部にすることが好ましい。
上記有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構造を有する重合体、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビニル化合物系重合体、デンドリマー、ポリイミド、ポリアミック酸、ポリアミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体などを挙げることができる。
【0049】
ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキシド構造などを有する重合体が挙げられる。
【0050】
具体的には、ポリオキシメチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオキシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホルマリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなどのエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エステル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエーテルエステル型化合物などを挙げることができる。
【0051】
ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマーとしては、下記のようなブロック構造を有する化合物が挙げられる。
−(X’)p −(Y’)q −’
−(X’)p −(Y’)q −(X’)r −
〔一般式中、X’は−CH2CH2O−で表される基を、Y’は−CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、pは1〜90、qは10〜99、rは0〜90の数を示す。〕
【0052】
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。これらは、1種単独で使用しても2種以上を同時に使用してもよく、これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、1〜30重量部にすることが好ましい。
【0053】
界面活性剤としては、例えば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
【0054】
フッ素系界面活性剤としては、例えば、1,1,2,2−テトラフロロオクチル(1,1,2,2−テトラフロロプロピル)エーテル、1,1,2,2−テトラフロロオクチルヘキシルエーテル、オクタエチレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、オクタプロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、パーフロロドデシルスルホン酸ナトリウム、1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフロロドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロデカン、N−[3−(パーフルオロオクタンスルホンアミド)プロピル]−N,N’−ジメチル−N−カルボキシメチレンアンモニウムベタイン、パーフルオロアルキルスルホンアミドプロピルトリメチルアンモニウム塩、パーフルオロアルキル−N−エチルスルホニルグリシン塩、リン酸ビス(N−パーフルオロオクチルスルホニル−N−エチルアミノエチル)、モノパーフルオロアルキルエチルリン酸エステルなどの末端、主鎖及び側鎖の少なくとも何れかの部位にフルオロアルキル又はフルオロアルキレン基を有する化合物からなるフッ素系界面活性剤を挙げることができる。
【0055】
また、市販品では、メガファックF142D、同F172、同F173、同F183〔以上、大日本インキ化学工業(株)製〕、エフトップEF301、同303、同352〔新秋田化成(株)製〕、フロラードFC−430、同FC−431〔住友スリーエム(株)製〕、アサヒガードAG710、サーフロンS−382、同SC−101、同SC−102、同SC−103、同SC−104、同SC−105、同SC−106〔旭硝子(株)製〕、BM−1000、BM−1100〔裕商(株)製〕、NBX−15〔(株)ネオス〕などの名称で市販されているフッ素系界面活性剤を挙げることができる。これらの中でも、上記メガファックF172,BM−1000,BM−1100,NBX−15が特に好ましい。
【0056】
シリコーン系界面活性剤としては、例えば、SH7PA、SH21PA、SH30PA、ST94PA〔いずれも東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製〕などを用いることができる。これらの中でも、上記SH28PA、SH30PAが特に好ましい。
【0057】
界面活性剤の使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、0.00001〜1重量部である。これらは、1種単独で使用しても2種以上を同時に使用してもよい。
【0058】
シランカップリング剤としては、例えば、3−グリシジロキシプロピルトリメトキシシラン、3−アミノグリシジロキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシジロキシプロピルメチルジメトキシシラン、1−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、10−トリメトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、10−トリエトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、9−トリメトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、9−トリエトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリプロポキシシラン、ビニルトリブトキシシラン、p−トリルトリメトキシシラン、p−トリルトリエトキシシラン、m−エチニルフェニルトリメトキシシラン、p−エチニルフェニルトリメトキシシラン、m−エチニルフェニルトリエトキシシラン、p−エチニルフェニルトリエトキシシランなどが挙げられる。また、これらのアルコキシシランの加水分解物及び/又は縮合物を使用することができる。
【0059】
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよく、これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、0.1〜10重量部にすることが好ましい。
【0060】
トリアゼン化合物としては、例えば、1,2−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、1,3−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、1,4−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)エーテル、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)メタン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)スルホン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)スルフィド、2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,3,5−トリス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−メチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−フェニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−プロペニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−フルオロ−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3,5−ジフルオロ−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−トリフルオロメチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレンなどが挙げられる。
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよく、これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、1〜10重量部にすることが好ましい。
【0061】
ラジカル発生剤としては、例えば、イソブチリルパーオキサイド、α,α’−ビス(ネオデカノイルパーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、クミルパーオキシネオデカノエート、ジ−nプロピルパーオキシジカーボネート、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシネオデカノエート、ビス(4−t−ブチルシクロヘキシル)パーオキシジカーボネート、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパーオキシネオデカノエート、ジ−2−エトキシエチルパーオキシジカーボネート、ジ(2−エチルヘキシルパーオキシ)ジカーボネート、t−ヘキシルパーオキシネオデカノエート、ジメトキブチルパーオキシジカーボネート、ジ(3−メチル−3−メトキシブチルパーオキシ)ジカーボネート、t−ブチルパーオキシネオデカノエート、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキサイド、t−ヘキシルパーオキシピバレート、t−ブチルパーオキシピバレート、3,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパーオキサイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、スクシニックパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(2−エチルヘキサノイルパーオキシ)ヘキサン、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ヘキシルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、m−トルオイルアンドベンゾイルパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド、t−ブチルパーオキシイソブチレート、ジ−t−ブチルパーオキシ−2−メチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロヘキサン、2,2−ビス(4,4−ジ−t−ブチルパーオキシシクロヘキシル)プロパン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロデカン、t−ヘキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシマレイン酸、t−ブチルパーオキシ−3,3,5−トリメチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシラウレート、2,5−ジメチル−2,5−ジ(m−トルオイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキシルモノカーボネート、t−ヘキシルパーオキシベンゾエート、2,5−ジメチル−2,5−ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシアセテート、2,2−ビス(t−ブチルパーオキシ)ブタン、t−ブチルパーオキシベンゾエート、n−ブチル−4,4−ビス(t−ブチルパーオキシ)バレレート、ジ−t−ブチルパーオキシイソフタレート、α,α’−ビス(t−ブチルパーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、ジクミルパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルクミルパーオキサイド、ジ−t−ブチルパーオキサイド、p−メンタンヒドロパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキシン−3、ジイソプロピルベンゼンヒドロパーオキサイド、t−ブチルトリメチルシリルパーオキサイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルヒドロパーオキサイド、クメンヒドロパーオキサイド、t−ヘキシルヒドロパーオキサイド、t−ブチルヒドロパーオキサイドなどの有機過酸化物;
【0062】
ジベンジル、2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタン、α,α’−ジメトキシ−α,α’−ジフェニルビベンジル、α,α’−ジフェニル−α−メトキシビベンジル、α,α’−ジフェニル−α,α’−ジメトキシビベンジル、α,α’−ジメトキシ−α,α’−ジメチルビベンジル、α,α’−ジメトキシビベンジル、3,4−ジメチル−3,4−ジフェニル−n−ヘキサン、2,2,3,3−テトラフェニルコハク酸ニトリルなどのビベンジル化合物を挙げることができる。
【0063】
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよく、これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、0.5〜10重量部にすることが好ましい。
【0064】
重合性の二重結合を含有する化合物としては、例えば、アリルベンゼン、ジアリルベンゼン、トリアリルベンゼン、アリルオキシベンゼン、ジアリルオキシベンゼン、トリアリルオキシベンゼン、α,ω−ジアリルオキシアルカン類、α,・−ジアリルアルケン類、α,ω−ジアリルアルケン類、アリルアミン、ジアリルアミン、トリアリルアミン、N−アリルフタルイミド、N−アリルピロメリットイミド、N、N’−ジアリルウレア、トリアリルイソシアヌレート、2,2’−ジアリルビスフェノールAなどのアリル化合物;
【0065】
スチレン、ジビニルベンゼン、トリビニルベンゼン、スチルベン、プロペニルベンゼン、ジプロペニルベンゼン、トリプロペニルベンゼン、フェニルビニルケトン、メチルスチリルケトン、α,ω−ジビニルアルカン類、α,ω−ジビニルアルケン類、α,ω−ジビニルアルキン類、α,ω−ジビニルオキシアルカン類、α,ω−ジビニルアルケン類、α,ω−ジビニルアルキン類、α,ω−ジアクリルオキシアルカン類、α,ω−ジアクリルアルケン類、α,ω−ジアクリルアルケン類、α,ω−ジメタクリルオキシアルカン類、α,ω−ジメタクリルアルケン類、α,ω−ジメタクリルアルケン類、ビスアクリルオキシベンゼン、トリスアクリルオキシベンゼン、ビスメタクリルオキシベンゼン、トリスメタクリルオキシベンゼン、N−ビニルフタルイミド、N−ビニルピロメリットイミドなどのビニル化合物;
2,2’−ジアリル−4,4’−ビフェノールを含むポリアリーレンエーテル、2,2’−ジアリル−4,4’−ビフェノールを含むポリアリーレンなどを挙げることができる。
【0066】
これらは、1種又は2種以上を同時に使用してもよく、これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、0.5〜10重量部にすることが好ましい。
【0067】
重合性の三重結合を含有する化合物としては、例えば、前記一般式(3)や一般式(4)で表される化合物が挙げられる。また、重合性の三重結合を含有する化合物としては、そのほか、エチニルベンゼン、ビス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、トリス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、トリエチニルベンゼン、ビス(トリメチルシリルエチニルフェニル)エーテル、トリメチルシリルエチニルベンゼンなどを挙げることができる。
【0068】
これらの重合性の三重結合を含有する化合物は、1種単独で使用してもよく2種以上を同時に使用してもよく、これらの使用量は、重合体(1)100重量部に対して、通常、1〜20重量部にすることが好ましい。
【0069】
本発明の膜形成用組成物における全固形分濃度は、1〜30重量%が好ましく、2〜20重量%がより好ましい。全固形分濃度は、使用目的に応じて適宜調整されるが、組成物の全固形分濃度が1〜30重量%であると、保存安定性に優れ、塗膜の膜厚を適当な範囲とすることできる。
【0070】
本発明の膜形成用組成物を、シリコンウエハ、SiO2ウエハ、SiNウエハなどの基材(又は基板)に塗布する際には、スピンコート、浸漬法、ロールコート法、スプレー法などの塗装手段が用いられる。その後、常温で乾燥するか、あるいは80〜600℃程度の温度で、通常、5〜240分程度加熱して乾燥・硬化させて塗膜(例えば層間絶縁膜)を形成させることができる。この際の加熱方法としては、ホットプレート、オーブン、ファーネスなどを使用することができ、加熱雰囲気としては、大気下、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気、真空下、酸素濃度をコントロールした減圧下などで行うことができる。また、電子線や紫外線を照射することによっても、塗膜を形成させることができる。この際の塗膜の厚さ(固型分)を、1回塗りでは0.02〜1.5μm程度、2回塗りでは0.04〜3μm程度にすることができる。
【0071】
本発明の膜形成用組成物は短時間焼成で塗膜とすることができ、この塗膜は耐熱性、密着性及びクラック耐性に優れ、低誘電性であることから、LSI、システムLSI(Large Scale Integration)、DRAM(Dynamic Random Access Memory)、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜として、エッチングストッパーや化学機械研磨ストッパー、半導体素子の表面コート膜などの保護膜として、多層レジストを用いた半導体作製工程の中間層、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶表示素子用の保護膜や絶縁膜などの用途に有用である。
【0072】
【発明の実施の形態】
【実施例】
以下、実施例を挙げて、本発明をさらに具体的に説明する。なお、実施例及び比較例中の部及び%は、特記しない限り、それぞれ重量部及び重量%を示している。また、実施例中における各特性の評価は、次のようにして測定したものである。
【0073】
(重量平均分子量(Mw))
下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定した。
試料:テトラヒドロフランを溶媒として使用し、重合体1gを、100ccのテトラヒドロフランに溶解して調製した。
標準ポリスチレン:米国プレッシャーケミカル社製の標準ポリスチレンを使用した。
装置:米国ウオーターズ社製の高温高速ゲル浸透クロマトグラム(モデル150−C ALC/GPC)
カラム:昭和電工(株)製のSHODEX A−80M(長さ50cm)
測定温度:40℃
流速:1cc/分
【0074】
(金属含有量)
原子吸光分析法により測定した。
【0075】
1H−NMRスペクトルの測定)
1H−NMRスペクトルは、1H−NMR測定装置(BRUKER MSL400)を用いて、溶媒CDCl3、分解能400MHzの条件で測定した。
【0076】
(赤外吸収スペクトルの測定)
フーリエ型赤外分光装置(JIR−5500)を用いて、KBr法により、室温(25℃)、解像度4cm-1、ゲイン1倍、スキャン回数10回、スキャン速度TGSの条件で測定した。
【0077】
(比誘電率)
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法により膜形成用組成物を塗布し、ホットプレート上で80℃で2分間、180℃で2分間乾燥し、さらに390℃の窒素雰囲気のホットプレート上で10分間焼成し、ウエハ上に被膜を形成させた。さらに、この被膜の上にアルミニウムを蒸着し、比誘電率評価用試料を作製した。比誘電率は、横川・ヒューレットパッカード(株)製のHP16451B電極及びHP4284AプレシジョンLCRメーター用いて、10kHzにおける容量値から算出した。
【0078】
(クラック耐性)
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法により膜形成用組成物を塗布し、ホットプレート上で80℃で2分間、180℃で2分間乾燥し、さらに390℃の窒素雰囲気のホットプレート上で10分間焼成し、ウエハ上に塗膜を形成させた。この際、最終的な塗膜の膜厚は5μmとした。得られた塗膜が形成されたウエハを純水中に2時間浸漬し、塗膜の外観を35万ルクスの表面観察用ランプで観察し、クラック耐性を評価した。
【0079】
(塗膜密着性)
厚さ1000ÅのSiO膜の上に厚さ1000ÅのSiN膜が積層されている8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法により膜形成用組成物を塗布し、ホットプレート上で80℃で2分間、180℃で2分間を乾燥し、さらに390℃の窒素雰囲気のホットプレート上で10分間を焼成し、ウエハ上に塗膜を形成させた。得られた塗膜に対して100℃、湿度100%RH、2気圧の条件でPCT(Pressure Cooker Test)を24時間行った。さらにこのウエハ上にエポキシ樹脂を用いてスタッドピン10本を固定し、150℃で1時間乾燥させた。このスタッドピンをセバスチャン法により引き抜き試験行い、塗膜密着性を評価した。
【0080】
(ガラス転移温度(Tg))
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法により膜形成用組成物を塗布し、ホットプレート上で80℃で2分間、180℃で2分間乾燥し、さらに390℃の窒素雰囲気のホットプレート上で10分間焼成し、ウエハ上に塗膜を形成させた。このウエハから塗膜を剥離し、これをDSC(示差走査熱量計)法により、窒素雰囲気中、昇温速度10℃/分の条件で500℃まで測定を行った。
【0081】
合成例1
温度計、アルゴンガス導入管、攪拌装置を備えた1000ml三口フラスコにテトラヒドロフラン120ml、テトラキストリフェニルホスフィンパラジウム3.46g、ジクロロビストリフェニルホスフィンパラジウム2.1g、ヨウ化銅1.44g、ピペリジン20ml、4,4’−ビス(2−ヨードフェノキシ)ベンゾフェノン185.72gを加えた。次に、4,4’−ジエチニルジフェニルエーテル65.48gを加え25℃で20時間反応させた。この反応液を酢酸5リットルで再沈殿を2回繰り返した後、シクロヘキサノンに溶かし超純水で2回洗浄し、メタノール5リットルで再沈殿し、沈殿を濾過、乾燥して重量平均分子量35,000の重合体Aを得た。この重合体A3gをシクロヘキサノン97gに溶解させ溶液中の金属含有量を測定したところ、銅を2ppm、パラジウムを20ppm含有するものであった。
【0082】
合成例2
窒素導入管、冷却管、セプタムラバーを取り付けた1L3口フラスコに、塩化パラジウム0.54g、沃化銅0.29g、トリフェニルホスフィン3.6g、4,4’−ジブロモジフェニルエーテル50gを加え、系内を窒素置換した。ついで、セプタムラバーを通してトリエチルアミン500mLを投入し、窒素フローしながら80℃で1時間撹拌した。所定の時間撹拌後、2−メチル−3−ブチン−2−オール31gをシリンジでフラスコ中に添加し、この温度のまま6時間反応させた。反応の終了は、薄層クロマトグラフィー(展開溶媒:塩化メチレン/ヘキサン=1/1)を用い、原料の消失によりその確認を行った。反応終了後、反応液を室温まで冷却し、生成したトリエチルアミン臭化水素塩を濾過により除去、テトラヒドロフランで濾過した塩を洗浄した。ろ液および塩の洗浄に用いた溶媒はエバポレーターにより濃縮し、ヘキサン/エタノール=7/1で再結晶することにより薄茶色の固体を27g得た。さらに、窒素導入管、Dean−Stark冷却管を取り付けた1L2口フラスコに、前述の固体27g、p−キシレン270mL、メタノール40mLに溶解させた水酸化カリウム2.7gをくわえ、窒素フォローして系内を窒素置換した。ついで、この反応液を140℃で3時間撹拌した。このとき発生するアセトンはメタノールと共にDean−Starkにより除去した。反応の終了は、薄層クロマトグラフィー(展開溶媒:塩化メチレン/ヘキサン=1/1)を用い、原料の消失によりその確認を行った。反応終了後、反応液を室温まで冷却し、塩化メチレン100mL添加、食塩水で3回抽出洗浄後、有機層を硫酸マグネシウムにより乾燥した。溶媒をエバポレーターにより除去することにより薄黄色の固体を16g得た。構造の確認はIR,および1H−NMRにより行い、4,4’−ジエチニルジフェニルエーテルの粗生成物であることを確認した。粗収率90%。この粗生成物3gをシクロヘキサノン97gに溶解させ溶液中の金属含有量を測定したところ、銅を0.2ppm、パラジウムを20ppm含有するものであった。
【0083】
[実施例1]
合成例1で得られた重合体A3.2gをシクロヘキサノン97gに溶解させ、この溶液にトリエチルアミン20g、99%蟻酸10gを加え100℃、9時間加熱させた。室温まで冷却した後、析出した黒色の固形分を0.2umメンブランフィルターにより濾別し、淡褐色透明のワニスを得た。このワニスを蒸留水100ccで三回洗浄した後、500ccメタノール中に投入し重合体Aを再沈澱させた。得られた沈殿物を濾別したのち50℃で減圧乾燥させ淡黄色の重合体Aの精製物を3.0g得た。この重合体Aの精製物のGPCを測定したところ重量平均分子量は36000であり精製前とほぼ同じ重量平均分子量であることを確認した。また、IR、1HNMRの測定結果から精製前後で化学構造に変化がないことを確認した。さらに、重合体Aの精製物3gをシクロヘキサノン97gに溶解させ溶液中の金属含有量を測定したところ、銅を5.0ppb、パラジウムを17ppb含有するものであった。
【0084】
<塗膜の形成>
この重合体Aの精製物 3gをシクロヘキサノン27gに溶解し、この溶液を0.2μm孔径のテフロン製フィルターでろ過を行い、膜形成用組成物を得た。得られた組成物をスピンコート法でシリコンウエハ上に塗布し、ホットプレート上で80℃で2分間、180℃で2分間乾燥し、さらに390℃の窒素雰囲気のホットプレート上で10分間焼成し、塗膜を形成させた。
【0085】
<塗膜の評価>
得られた塗膜の比誘電率は2.92と低い値であり、塗膜構成物質にTgは認められなかった。この塗膜のクラック耐性を評価したところ、純水浸漬後もクラックは認められなかった。また、塗膜の密着性を評価したところ、スタッドピン10本共にウエハと塗膜の界面での剥離は認められなかった。
【0086】
[実施例2]
合成例2で得られた4,4’−ジエチニルジフェニルエーテルの粗生成物3.0gをシクロヘキサノン97gに溶解させ、この溶液にトリエチルアミン20g、99%蟻酸10gを加え100℃、9時間加熱させた。室温まで冷却した後、析出した黒色の固形分を0.2μmメンブランフィルターにより濾別し、淡褐色透明のワニスを得た。このワニスに塩化メチレン100mL添加、食塩水で3回抽出洗浄後、有機層を硫酸マグネシウムにより乾燥した。溶媒をエバポレーターにより除去、フラッシュカラムクロマトグラフィー(展開溶媒:塩化メチレン/ヘキサン=3/10)で処理することにより薄黄色の固体を2.8g得た。また、IR、1HNMRの測定結果から精製前後で化学構造に変化がないことを確認した。さらに、重合体Aの精製物3gをシクロヘキサノン97gに溶解させ溶液中の金属含有量を測定したところ、銅を5.0ppb、パラジウムを25ppb含有するものであった。
【0087】
本発明によれば、有機溶剤に可溶で加工性に優れるとともに、硬化させて塗膜としたときの耐熱性、耐溶剤性、低誘電性及び機械的強度に優れた不飽和結合を有する芳香族化合物中の不純物を極力低減させ、低誘電率で電気的安定性に優れた不飽和結合を有する芳香族化合物を提供することができる。

Claims (2)

  1. アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルに蟻酸塩を作用させることを特徴とするアセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法。
  2. 遷移金属化合物の含有量を金属元素1種につき1ppm以下とすることを特徴とする請求項1記載の精製方法。
JP2001175598A 2001-06-11 2001-06-11 アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜 Expired - Fee Related JP3959599B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001175598A JP3959599B2 (ja) 2001-06-11 2001-06-11 アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001175598A JP3959599B2 (ja) 2001-06-11 2001-06-11 アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002371025A JP2002371025A (ja) 2002-12-26
JP3959599B2 true JP3959599B2 (ja) 2007-08-15

Family

ID=19016702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001175598A Expired - Fee Related JP3959599B2 (ja) 2001-06-11 2001-06-11 アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3959599B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006328412A (ja) * 2002-04-22 2006-12-07 Jsr Corp ポリアリーレンエーテルの製造方法、膜形成用組成物、膜の形成方法および有機膜

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002371025A (ja) 2002-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004186610A (ja) 絶縁膜
US6528605B1 (en) Diyne-containing (co)polymer, processes for producing the same, and cured film
JP3606224B2 (ja) 重合体及びその製造方法、並びにそれを含有する膜形成用組成物
JP3797260B2 (ja) 半導体装置用カルボシラン系膜の製造方法、および半導体装置用カルボシラン系絶縁膜
JP2003003047A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および有機膜
JP3959599B2 (ja) アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテルの精製方法、アセチレン結合含有ポリアリーレンエーテル、膜形成用組成物、被膜および架橋重合体膜
JP4344903B2 (ja) 半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料
JP4469128B2 (ja) 芳香族ポリマーの製造方法
JP4867078B2 (ja) 重合体及びその製造方法、並びにそれを含有する膜形成用組成物
EP1245638B1 (en) Composition for insulating film formation
JP4496448B2 (ja) 塗膜形成方法およびそれを用いた絶縁膜
JP5007481B2 (ja) 重合体及びその製造方法、並びにそれを含有する膜形成用組成物
JP2004099888A (ja) 耐熱性樹脂組成物および絶縁耐熱性樹脂材料
JP2002003753A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP4775527B2 (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2008243907A (ja) 導電層間の空洞形成用組成物、導電層間の空洞形成用犠牲膜および導電層間の空洞形成方法
JP4596099B2 (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2002155233A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2002003752A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2008163235A (ja) ポリアリーレンの精製方法、膜形成用組成物、膜の形成方法、ならびに有機膜
JP4497254B2 (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2003100148A (ja) 膜形成方法、絶縁膜および半導体用基板
JP4497255B2 (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2009188046A (ja) 積層体およびその製造方法
JP2004002628A (ja) ポリアリーレン及び/またはポリアリーレンエーテルの製造方法、膜形成用組成物、膜の形成方法および有機膜

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061024

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061219

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20061219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070117

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070302

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070418

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070501

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3959599

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130525

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130525

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140525

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees