JP3937907B2 - 冷陰極電界電子放出表示装置 - Google Patents
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- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 112
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 73
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 72
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 70
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 58
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 296
- 239000010408 film Substances 0.000 description 109
- 238000000034 method Methods 0.000 description 89
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 53
- 239000000463 material Substances 0.000 description 53
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 47
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 30
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 28
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 28
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 28
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 28
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 24
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 24
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 21
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 21
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 20
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 17
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 17
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 16
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 15
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 15
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 15
- -1 tungsten (W) Chemical class 0.000 description 15
- 230000008859 change Effects 0.000 description 14
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 13
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 12
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 12
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 12
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 10
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 10
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 10
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 9
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 9
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 9
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 8
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 8
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 7
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 7
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical class C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 150000003606 tin compounds Chemical class 0.000 description 7
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 150000001463 antimony compounds Chemical class 0.000 description 6
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 5
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002134 carbon nanofiber Substances 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 150000002472 indium compounds Chemical class 0.000 description 5
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 5
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 5
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 5
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 4
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 4
- 150000003752 zinc compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 4
- KKCBUQHMOMHUOY-UHFFFAOYSA-N Na2O Inorganic materials [O-2].[Na+].[Na+] KKCBUQHMOMHUOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000423 chromium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K indium(iii) chloride Chemical compound Cl[In](Cl)Cl PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 3
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 3
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 3
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910020968 MoSi2 Inorganic materials 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004541 SiN Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004217 TaSi2 Inorganic materials 0.000 description 2
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910008479 TiSi2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910008814 WSi2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001241 arc-discharge method Methods 0.000 description 2
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 2
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 2
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- GRPQBOKWXNIQMF-UHFFFAOYSA-N indium(3+) oxygen(2-) tin(4+) Chemical compound [Sn+4].[O-2].[In+3] GRPQBOKWXNIQMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001510 metal chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N selanylidenegallium;selenium Chemical compound [Se].[Se]=[Ga].[Se]=[Ga] VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N stibanylidynetin;hydrate Chemical compound O.[Sn].[Sb] SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N Beryllium oxide Chemical compound O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910025794 LaB6 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001257 Nb alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003271 Ni-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- DBMJMQXJHONAFJ-UHFFFAOYSA-M Sodium laurylsulphate Chemical compound [Na+].CCCCCCCCCCCCOS([O-])(=O)=O DBMJMQXJHONAFJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001362 Ta alloys Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XXLJGBGJDROPKW-UHFFFAOYSA-N antimony;oxotin Chemical compound [Sb].[Sn]=O XXLJGBGJDROPKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- CXOWYMLTGOFURZ-UHFFFAOYSA-N azanylidynechromium Chemical compound [Cr]#N CXOWYMLTGOFURZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L barium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ba+2] OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001632 barium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000005380 borophosphosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000788 chromium alloy Substances 0.000 description 1
- UOUJSJZBMCDAEU-UHFFFAOYSA-N chromium(3+);oxygen(2-) Chemical class [O-2].[O-2].[O-2].[Cr+3].[Cr+3] UOUJSJZBMCDAEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 229910052839 forsterite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GPYPVKIFOKLUGD-UHFFFAOYSA-N gold indium Chemical compound [In].[Au] GPYPVKIFOKLUGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004050 hot filament vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000001182 laser chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- LQBJWKCYZGMFEV-UHFFFAOYSA-N lead tin Chemical compound [Sn].[Pb] LQBJWKCYZGMFEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N magnesium orthosilicate Chemical compound [Mg+2].[Mg+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000005360 phosphosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 235000019353 potassium silicate Nutrition 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 229910001925 ruthenium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000012224 working solution Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、冷陰極電界電子放出表示装置に関し、更に詳しくは、収束電極を備え、異常放電の発生によっても収束電極の電位上昇を抑制することができる冷陰極電界電子放出表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
テレビジョン受像機や情報端末機器に用いられる表示装置の分野では、従来主流の陰極線管(CRT)から、薄型化、軽量化、大画面化、高精細化の要求に応え得る平面型(フラットパネル型)の表示装置への移行が検討されている。このような平面型の表示装置として、液晶表示装置(LCD)、エレクトロルミネッセンス表示装置(ELD)、プラズマ表示装置(PDP)、冷陰極電界電子放出表示装置(FED:フィールドエミッションディスプレイ)を例示することができる。このなかでも、液晶表示装置は情報端末機器用の表示装置として広く普及しているが、据置き型のテレビジョン受像機に適用するには、高輝度化や大型化に未だ課題を残している。これに対して、冷陰極電界電子放出表示装置は、熱的励起によらず、量子トンネル効果に基づき固体から真空中に電子を放出することが可能な冷陰極電界電子放出素子(以下、電界放出素子と呼ぶ場合がある)を利用しており、高輝度及び低消費電力の点から注目を集めている。
【0003】
図28及び図29に、電界放出素子を備えた冷陰極電界電子放出表示装置(以下、表示装置と呼ぶ場合がある)の一例を示す。尚、図28は表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図であり、図29はカソードパネルCPとアノードパネルAPを分解したときのカソードパネルCPの模式的な部分的斜視図である。
【0004】
図28に示した電界放出素子は、円錐形の電子放出部を有する、所謂スピント(Spindt)型電界放出素子と呼ばれるタイプの電界放出素子である。この電界放出素子は、支持体10上に形成されたカソード電極11と、支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層112と、絶縁層112上に形成されたゲート電極13と、ゲート電極13に設けられた開口部117及び絶縁層112に設けられた開口部118と、開口部118の底部に位置するカソード電極11上に形成された円錐形の電子放出部19から構成されている。一般に、カソード電極11とゲート電極13とは、これらの両電極の射影像が互いに直交する方向に各々ストライプ状に形成されており、これらの両電極の射影像が重複する領域(1画素分の領域に相当する。この領域を、以下、重複領域あるいは電子放出領域EAと呼ぶ)に、通常、複数の電界放出素子が設けられている。更に、かかる電子放出領域EAが、カソードパネルCPの有効領域(実際の表示部分として機能する領域)内に、通常、2次元マトリックス状に配列されている。
【0005】
一方、アノードパネルAPは、基板30と、基板30上に形成され、所定のパターンを有する蛍光体層31(31R,31B,31G)と、その上に形成されたアノード電極34から構成されている。尚、蛍光体層31と蛍光体層31との間の基板30上にはブラックマトリックス32が形成されており、ブラックマトリックス32上には隔壁33が形成されている。
【0006】
1画素は、カソードパネル側のカソード電極11とゲート電極13との重複領域である電子放出領域EAに設けられた電界放出素子の一群と、電子放出領域EAに対面したアノードパネル側の蛍光体層31とによって構成されている。有効領域には、かかる画素が、例えば数十万〜数百万個ものオーダーにて配列されている。
【0007】
アノードパネルAPとカソードパネルCPとを、電子放出領域EAと蛍光体層31とが対向するように配置し、周縁部において枠体35を介して接合することによって、表示用パネルを作製することができる。有効領域を包囲し、画素を選択するための周辺回路が形成された無効領域には、真空排気用の貫通孔(図示せず)が設けられており、この貫通孔には真空排気後に封じ切られたチップ管(図示せず)が接続されている。即ち、アノードパネルAPとカソードパネルCPと枠体35とによって囲まれた空間は真空となっている。
【0008】
カソード電極11には相対的に負電圧がカソード電極制御回路40から印加され、ゲート電極13には相対的に正電圧がゲート電極制御回路42から印加され、アノード電極34にはゲート電極13よりも更に高い正電圧がアノード電極制御回路43から印加される。尚、アノード電極制御回路43とアノード電極34との間には、通常、過電流や放電を防止するための抵抗体R0(図示した例では抵抗値1MΩ)が配設されている。
【0009】
かかる表示装置において表示を行う場合、例えば、カソード電極11にカソード電極制御回路40から走査信号を入力し、ゲート電極13にゲート電極制御回路42からビデオ信号を入力する。カソード電極11とゲート電極13との間に電圧を印加した際に生ずる電界により、量子トンネル効果に基づき電子放出部19から電子が放出され、この電子がアノード電極34に引き付けられ、蛍光体層31に衝突する。その結果、蛍光体層31が励起されて発光し、所望の画像を得ることができる。つまり、この表示装置の動作は、基本的に、ゲート電極13に印加される電圧、及びカソード電極11を通じて電子放出部19に印加される電圧によって制御される。
【0010】
このような構造の電界放出素子にあっては、電子が、電子放出部19の法線から或る程度の角度を持って電子放出部19から放出される。その結果、電子放出部19から放出された電子が、対向する蛍光体層31に衝突せずに、かかる蛍光体層31に隣接した蛍光体層31に衝突する場合がある。このような現象が発生すると、輝度の低下や、隣接画素間の光学的クロストークが発生する。
【0011】
このような現象の発生を防止するために、図30に模式的な一部端面図を示すように、収束電極215が設けられた電界放出素子が提案されている。この電界放出素子にあっては、ゲート電極13及び第1絶縁層212上に、更に第2絶縁層214が設けられ、第2絶縁層214上に収束電極215が設けられている。ここで、収束電極215は、有効領域を覆う1枚のシート状である。尚、参照番号216は、収束電極215及び第2絶縁層214に設けられた第1開口部を示し、参照番号217はゲート電極13に設けられた第2開口部を示し、参照番号218は、第1絶縁層212に設けられた第3開口部を示す。収束電極215には、収束電極制御回路41から相対的に負電圧(例えば、0ボルト)が印加される。そして、このように収束電極215を設けることによって、第1開口部216から放出されアノード電極34へ向かう放出電子の軌道を収束させることができる。収束電極215と収束電極制御回路41との間には、抵抗素子Rが配設されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このような表示装置においては、アノードパネルAPとカソードパネルCPとの間の距離は高々1mm程度しかなく、カソードパネルの電界放出素子(より具体的には、収束電極215)と、アノードパネルAPのアノード電極34との間で異常放電(火花放電)が発生し易い。
【0013】
真空空間中における放電の発生機構においては、先ず、強電界下における電界放出素子からの電子やイオンの放出がトリガーとなって小規模な放電が発生する。そして、アノード電極制御回路43からアノード電極34へエネルギーが供給されてアノード電極34の温度が局所的に上昇したり、アノード電極34の内部の吸蔵ガスの放出、あるいはアノード電極34を構成する材料そのものの蒸発が生ずることによって、小規模な放電が異常放電へ成長すると考えられている。アノード電極制御回路43以外にも、アノード電極34と電界放出素子との間に形成される静電容量に蓄積されたエネルギーが、異常放電への成長を促すエネルギー供給源となる可能性がある。
【0014】
このような異常放電が発生すると、表示品質が著しく損なわれるだけでなく、アノード電極34や電界放出素子に損傷が発生する。即ち、このような異常放電が発生すると、収束電極215の電位がアノード電極34の電位に近づき、収束電極215に接続された収束電極制御回路41の電位も上昇し、収束電極制御回路41に損傷が発生する虞がある。また、収束電極215の電位がアノード電極34の電位に近づく結果、ゲート電極13の電位も上昇し、その結果、ゲート電極13と電子放出部19との間の電位差が大きくなる。それ故、電子放出部19から過剰な電子が放出され、電子放出部19に損傷が発生したり、ゲート電極13に接続されたゲート電極制御回路42に損傷が発生する虞がある。更には、カソード電極11の電位も上昇する結果、カソード電極11に接続されたカソード電極制御回路40に損傷が発生する虞がある。
【0015】
収束電極215とアノード電極34との間で異常放電が発生したときの等価回路を図31に示す。アノード電極34に印加される電圧(VA)を5キロボルト、収束電極215に印加される電圧を0ボルトとする。アノード電極34と収束電極215との間の異常放電によって電流iが流れるが、このときのアノード電極34と収束電極215との仮想抵抗値(r)を10Ωと仮定した。また、収束電極215と収束電極制御回路41との間に配設された抵抗素子Rの抵抗値を1kΩとした。更には、アノード電極34と収束電極215とに基づく静電容量CAFを60pFと仮定した。このとき、図31の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を図32に示す。図32から明らかなように、点「A」における電位(即ち、収束電極215の電位)は、最大約2.5キロボルトとなる。
【0016】
異常放電(火花放電)を抑制するには、放電のトリガーとなる電子やイオンの放出を抑制することが有効であるが、そのためには極めて厳密なパーティクル管理が必要となる。このような管理をカソードパネルCPの製造プロセス、あるいは、カソードパネルCPを組み込んだ表示用パネルの製造プロセスにおいて実行することには、多大な技術的困難が伴う。
【0017】
従って、本発明の目的は、たとえ異常放電が発生した場合であっても、収束電極の電位の異常上昇を抑制し得る冷陰極電界電子放出表示装置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するための本発明の第1の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置は、
(A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、
(C)抵抗素子、及び、
(D)コンデンサ、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、
及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
収束電極は、更に、コンデンサを介して収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されていることを特徴とする。
【0019】
本発明の第1の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、実際の表示部分として機能する有効領域を包囲し、画素を選択するための周辺回路が形成された無効領域にコンデンサ(コンデンサ部品)や抵抗素子を配置してもよいし、後述する枠体の外側の表示用パネルの部分にコンデンサや抵抗素子を配置してもよいし、表示用パネルの外部にコンデンサや抵抗素子を配置してもよいし、収束電極制御回路内にコンデンサや抵抗素子を配置してもよい。
【0020】
上記の目的を達成するための本発明の第2の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置は、
(A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、
及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されていることを特徴とする。
【0021】
本発明の第1の態様若しくは第2の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には複数の第1開口部が形成されており、1つの第2開口部が1つの第1開口部に連通している態様とすることができる。言い換えれば、複数の収束電極がカソード電極とゲート電極の重複領域の上方の絶縁膜上に形成されており、複数の第1開口部がカソード電極とゲート電極の重複領域の上方の絶縁膜及び収束電極の部分に形成されており、各第1開口部に連通した第2開口部が形成されている態様とすることができる。尚、このような態様を、便宜上、本発明の第1Aの態様若しくは第2Aの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置と呼ぶ。
【0022】
あるいは又、本発明の第1の態様若しくは第2の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通している態様とすることもできる。尚、このような態様を、便宜上、本発明の第1Bの態様若しくは第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置と呼ぶ。1つの第1開口部は、カソード電極とゲート電極の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように形成されていることが好ましい。言い換えれば、1つの収束電極が、カソード電極とゲート電極の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように絶縁膜上に形成されており、1つの第1開口部が、カソード電極とゲート電極の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群の上方の絶縁膜及び収束電極の部分に形成されており、この1つの第1開口部に連通した複数の第2開口部が形成されている態様とすることができる。
【0023】
尚、電子放出領域を構成する冷陰極電界電子放出素子の構造に依存するが、ゲート電極及び絶縁層に設けられた1つの第2開口部及び第3開口部内に1つの電子放出部が存在してもよいし、ゲート電極及び絶縁層に設けられた1つの第2開口部及び第3開口部内に複数の電子放出部が存在してもよいし、ゲート電極に複数の第2開口部を設け、かかる第2開口部と連通する1つの第3開口部を絶縁層に設け、絶縁層に設けられた1つの第3開口部内に1又は複数の電子放出部が存在してもよい。
【0024】
本発明の第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置においては、
収束電極は、▲1▼絶縁膜上に形成された収束電極本体部、並びに、▲2▼誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層の積層構造体から構成され、
収束電極本体部に金属層が固着されている構成とすることができる。
【0025】
あるいは又、収束電極は、▲1▼絶縁膜上に形成された金属層、並びに、▲2▼誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された収束電極本体部の積層構造体から構成され、
金属層に収束電極本体部が固着されている構成とすることができる。
【0026】
あるいは又、本発明の第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置においては、
収束電極は、▲1▼絶縁膜上に形成された対向電極、並びに、▲2▼誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層の積層構造体から構成され、
対向電極に金属層が固着されている構成とすることができる。
【0027】
あるいは又、収束電極は、▲1▼絶縁膜上に形成された金属層、並びに、▲2▼誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された対向電極の積層構造体から構成され、
金属層に対向電極が固着されている構成とすることができる。
【0028】
あるいは又、本発明の第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置においては、
収束電極は、誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された収束電極本体部の積層構造体から成り、
収束電極本体部は絶縁膜に固着されている構成とすることができる。
【0029】
あるいは又、本発明の第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置においては、
収束電極は、誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された対向電極の積層構造体から成り、
対向電極は絶縁膜に固着されている構成とすることができる。
【0030】
あるいは又、本発明の第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置においては、収束電極は、絶縁膜上に形成された対向電極、対向電極の頂面及び側面を被覆する誘電体材料層、及び、誘電体材料層の上に形成された収束電極本体部から成る構成とすることができる。
【0031】
本発明の第2の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、実際の表示部分として機能する有効領域を包囲し、画素を選択するための周辺回路が形成された無効領域に抵抗素子を配置してもよいし、後述する枠体の外側の表示用パネルの部分に抵抗素子を配置してもよいし、表示用パネルの外部に抵抗素子を配置してもよいし、収束電極制御回路内に抵抗素子を配置してもよい。
【0032】
本発明の第1Aの態様及び第1Bの態様を含む本発明の第1の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、収束電極制御回路の第1電圧出力部から出力される電圧をV1、収束電極制御回路の第2電圧出力部から出力される電圧をV2としたとき、V2<0、且つ、|V1|−|V2|<0であることが好ましく、より具体的には、|V1|−|V2|の値は、−1×10ボルト乃至−1×103ボルト、望ましくは−5×10ボルト乃至−5×102ボルトであることが好ましい。あるいは又、コンデンサの容量をCC、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量をCAFとしたとき、CC>20CAFを満足することが好ましい。あるいは又、コンデンサの容量CCは、2nF乃至1μFであることが好ましい。
【0033】
本発明の第2Aの態様、及び、上述の各種構成を含む第2Bの態様を含む本発明の第2の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、収束電極制御回路の第1電圧出力部から出力される電圧をV1、収束電極制御回路の第2電圧出力部から出力される電圧をV2としたとき、V2<0、且つ、|V1|−|V2|<0である構成とすることが好ましく、より具体的には、|V1|−|V2|の値は、−1×10ボルト乃至−1×103ボルト、望ましくは−5×10ボルト乃至−5×102ボルトであることが好ましい。あるいは又、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによって形成されたコンデンサの容量をCC、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量をCAFとしたとき、CC>20CAFを満足することが好ましい。あるいは又、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによって形成されたコンデンサの容量CCは、2nF乃至1μFであることが好ましい。
【0034】
本発明の第1Aの態様、第1Bの態様、第2Aの態様、第2Bの態様を含む本発明の第1の態様若しくは第2の態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置(以下、これらを総称して、単に、本発明と呼ぶ場合がある)において、収束電極は、全体として、有効領域全体を覆う1枚のシート状である。収束電極制御回路は、所定の直流電圧(0ボルトを含む)を第1電圧出力部及び第2電圧出力部から出力し得る周知の回路構成とすればよい。コンデンサ及び抵抗素子も周知のコンデンサ及び抵抗素子から構成すればよい。
【0035】
本発明においては、冷陰極電界電子放出素子(以下、電界放出素子と略称する)として、電子放出部が第3開口部の底部に位置するカソード電極上に設けられており、第3開口部の底部に露出した電子放出部から電子が放出される構造とすることができる。このような第1の構造を有する電界放出素子として、スピント型(円錐形の電子放出部が、第3開口部の底部に位置するカソード電極上に設けられた電界放出素子)、扁平型(略平面状の電子放出部が、第3開口部の底部に位置するカソード電極上に設けられた電界放出素子)を挙げることができる。
【0036】
具体的には、第1の構造を有する電界放出素子は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、
及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
電子放出部が第3開口部の底部に位置するカソード電極上に設けられている。
【0037】
あるいは又、本発明においては、電界放出素子として、第3開口部の底部に露出したカソード電極の部分が電子放出部に相当し、かかる第3開口部の底部に露出したカソード電極の部分から電子を放出する構造とすることができる。このような第2の構造を有する電界放出素子として、平坦なカソード電極の表面から電子を放出する平面型電界放出素子を挙げることができる。
【0038】
具体的には、第2の構造を有する電界放出素子は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、
及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
第3開口部の底部に位置するカソード電極が電子放出部に相当する。
【0039】
スピント型電界放出素子にあっては、電子放出部を構成する材料として、タングステン、タングステン合金、モリブデン、モリブデン合金、チタン、チタン合金、ニオブ、ニオブ合金、タンタル、タンタル合金、クロム、クロム合金、及び、不純物を含有するシリコン(ポリシリコンやアモルファスシリコン)から成る群から選択された少なくとも1種類の材料を挙げることができる。スピント型電界放出素子の電子放出部は、例えば、真空蒸着法やスパッタリング法、CVD法によって形成することができる。
【0040】
扁平型電界放出素子にあっては、電子放出部を構成する材料として、カソード電極を構成する材料よりも仕事関数Φの小さい材料から構成することが好ましく、どのような材料を選択するかは、カソード電極を構成する材料の仕事関数、ゲート電極とカソード電極との間の電位差、要求される放出電子電流密度の大きさ等に基づいて決定すればよい。電界放出素子におけるカソード電極を構成する代表的な材料として、タングステン(Φ=4.55eV)、ニオブ(Φ=4.02〜4.87eV)、モリブデン(Φ=4.53〜4.95eV)、アルミニウム(Φ=4.28eV)、銅(Φ=4.6eV)、タンタル(Φ=4.3eV)、クロム(Φ=4.5eV)、シリコン(Φ=4.9eV)を例示することができる。電子放出部は、これらの材料よりも小さな仕事関数Φを有していることが好ましく、その値は概ね3eV以下であることが好ましい。かかる材料として、炭素(Φ<1eV)、セシウム(Φ=2.14eV)、LaB6(Φ=2.66〜2.76eV)、BaO(Φ=1.6〜2.7eV)、SrO(Φ=1.25〜1.6eV)、Y2O3(Φ=2.0eV)、CaO(Φ=1.6〜1.86eV)、BaS(Φ=2.05eV)、TiN(Φ=2.92eV)、ZrN(Φ=2.92eV)を例示することができる。仕事関数Φが2eV以下である材料から電子放出部を構成することが、一層好ましい。尚、電子放出部を構成する材料は、必ずしも導電性を備えている必要はない。
【0041】
あるいは又、扁平型電界放出素子において、電子放出部を構成する材料として、かかる材料の2次電子利得δがカソード電極を構成する導電性材料の2次電子利得δよりも大きくなるような材料から適宜選択してもよい。即ち、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、金(Au)、コバルト(Co)、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、ニオブ(Nb)、ニッケル(Ni)、白金(Pt)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、ジルコニウム(Zr)等の金属;シリコン(Si)、ゲルマニウム(Ge)等の半導体;炭素やダイヤモンド等の無機単体;及び酸化アルミニウム(Al2O3)、酸化バリウム(BaO)、酸化ベリリウム(BeO)、酸化カルシウム(CaO)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化錫(SnO2)、フッ化バリウム(BaF2)、フッ化カルシウム(CaF2)等の化合物の中から、適宜選択することができる。尚、電子放出部を構成する材料は、必ずしも導電性を備えている必要はない。
【0042】
扁平型電界放出素子にあっては、特に好ましい電子放出部の構成材料として、炭素、より具体的にはダイヤモンドやグラファイト、カーボン・ナノチューブ構造体を挙げることができる。電子放出部をこれらから構成する場合、5×107V/m以下の電界強度にて、冷陰極電界電子放出表示装置に必要な放出電子電流密度を得ることができる。また、ダイヤモンドは電気抵抗体であるため、各電子放出部から得られる放出電子電流を均一化することができ、その結果、冷陰極電界電子放出表示装置に組み込まれた場合の輝度ばらつきの抑制が可能となる。更に、これらの材料は、冷陰極電界電子放出表示装置内の残留ガスのイオンによるスパッタ作用に対して極めて高い耐性を有するので、電界放出素子の長寿命化を図ることができる。
【0043】
カーボン・ナノチューブ構造体として、具体的には、カーボン・ナノチューブ及び/又はカーボン・ナノファイバーを挙げることができる。より具体的には、カーボン・ナノチューブから電子放出部を構成してもよいし、カーボン・ナノファイバーから電子放出部を構成してもよいし、カーボン・ナノチューブとカーボン・ナノファイバーの混合物から電子放出部を構成してもよい。カーボン・ナノチューブやカーボン・ナノファイバーは、巨視的には、粉末状であってもよいし、薄膜状であってもよいし、場合によっては、カーボン・ナノチューブ構造体は円錐状の形状を有していてもよい。カーボン・ナノチューブやカーボン・ナノファイバーは、周知のアーク放電法やレーザアブレーション法といったPVD法、プラズマCVD法やレーザCVD法、熱CVD法、気相合成法、気相成長法といった各種のCVD法によって製造、形成することができる。
【0044】
扁平型電界放出素子を、バインダ材料にカーボン・ナノチューブ構造体を分散させたものを、例えばカソード電極の所望の領域に例えば塗布した後、バインダ材料の焼成あるいは硬化を行う方法(より具体的には、エポキシ系樹脂やアクリル系樹脂等の有機系バインダ材料や、水ガラスや銀ペースト等の無機系バインダ材料にカーボン・ナノチューブ構造体を分散したものを、例えばカソード電極の所望の領域に例えば塗布した後、溶媒の除去、バインダ材料の焼成・硬化を行う方法)によって製造することができる。尚、このような方法を、カーボン・ナノチューブ構造体の第1の形成方法と呼ぶ。塗布方法として、スクリーン印刷法を例示することができる。
【0045】
あるいは又、扁平型電界放出素子を、カーボン・ナノチューブ構造体が分散された金属化合物溶液を、例えばカソード電極上に塗布した後、金属化合物を焼成する方法によって製造することもでき、これによって、金属化合物に由来した金属原子を含むマトリックスにてカーボン・ナノチューブ構造体がカソード電極表面に固定される。尚、このような方法を、カーボン・ナノチューブ構造体の第2の形成方法と呼ぶ。マトリックスは、導電性を有する金属酸化物から成ることが好ましく、より具体的には、酸化錫、酸化インジウム、酸化インジウム−錫、酸化亜鉛、酸化アンチモン、又は、酸化アンチモン−錫から構成することが好ましい。焼成後、各カーボン・ナノチューブ構造体の一部分がマトリックスに埋め込まれている状態を得ることもできるし、各カーボン・ナノチューブ構造体の全体がマトリックスに埋め込まれている状態を得ることもできる。マトリックスの体積抵抗率は、1×10-9Ω・m乃至5×10-6Ω・mであることが望ましい。
【0046】
金属化合物溶液を構成する金属化合物として、例えば、有機金属化合物、有機酸金属化合物、又は、金属塩(例えば、塩化物、硝酸塩、酢酸塩)を挙げることができる。有機酸金属化合物溶液として、有機錫化合物、有機インジウム化合物、有機亜鉛化合物、有機アンチモン化合物を酸(例えば、塩酸、硝酸、あるいは硫酸)に溶解し、これを有機溶剤(例えば、トルエン、酢酸ブチル、イソプロピルアルコール)で希釈したものを挙げることができる。また、有機金属化合物溶液として、有機錫化合物、有機インジウム化合物、有機亜鉛化合物、有機アンチモン化合物を有機溶剤(例えば、トルエン、酢酸ブチル、イソプロピルアルコール)に溶解したものを例示することができる。溶液を100重量部としたとき、カーボン・ナノチューブ構造体が0.001〜20重量部、金属化合物が0.1〜10重量部、含まれた組成とすることが好ましい。溶液には、分散剤や界面活性剤が含まれていてもよい。また、マトリックスの厚さを増加させるといった観点から、金属化合物溶液に、例えばカーボンブラック等の添加物を添加してもよい。また、場合によっては、有機溶剤の代わりに水を溶媒として用いることもできる。
【0047】
カーボン・ナノチューブ構造体が分散された金属化合物溶液を、例えばカソード電極上に塗布する方法として、スプレー法、スピンコーティング法、ディッピング法、ダイクォーター法、スクリーン印刷法を例示することができるが、中でもスプレー法を採用することが塗布の容易性といった観点から好ましい。
【0048】
カーボン・ナノチューブ構造体が分散された金属化合物溶液を、例えばカソード電極上に塗布した後、金属化合物溶液を乾燥させて金属化合物層を形成し、次いで、カソード電極上の金属化合物層の不要部分を除去した後、金属化合物を焼成してもよいし、金属化合物を焼成した後、カソード電極上の不要部分を除去してもよいし、カソード電極の所望の領域上にのみ金属化合物溶液を塗布してもよい。
【0049】
金属化合物の焼成温度は、例えば、金属塩が酸化されて導電性を有する金属酸化物となるような温度、あるいは又、有機金属化合物や有機酸金属化合物が分解して、有機金属化合物や有機酸金属化合物に由来した金属原子を含むマトリックス(例えば、導電性を有する金属酸化物)が形成できる温度であればよく、例えば、300゜C以上とすることが好ましい。焼成温度の上限は、電界放出素子あるいはカソードパネルの構成要素に熱的な損傷等が発生しない温度とすればよい。
【0050】
カーボン・ナノチューブ構造体の第1の形成方法あるいは第2の形成方法にあっては、電子放出部の形成後、電子放出部の表面の一種の活性化処理(洗浄処理)を行うことが、電子放出部からの電子の放出効率の一層の向上といった観点から好ましい。このような処理として、水素ガス、アンモニアガス、ヘリウムガス、アルゴンガス、ネオンガス、メタンガス、エチレンガス、アセチレンガス、窒素ガス等のガス雰囲気中でのプラズマ処理を挙げることができる。
【0051】
カーボン・ナノチューブ構造体の第1の形成方法あるいは第2の形成方法にあっては、電子放出部は、第3開口部の底部に位置するカソード電極の部分の表面に形成されていればよく、第3開口部の底部に位置するカソード電極の部分から第3開口部の底部以外のカソード電極の部分の表面に延在するように形成されていてもよい。また、電子放出部は、第3開口部の底部に位置するカソード電極の部分の表面の全面に形成されていても、部分的に形成されていてもよい。
【0052】
扁平型電界放出素子にあっては、カソード電極の表面に、凹凸部を形成してもよい。これによって、電子放出機能を有する材料(具体的には、例えばカーボン・ナノチューブ構造体)のマトリックスから突出した先端部が、アノード電極の方を向く確率が高くなり、電子放出効率の一層の向上を図ることができる。凹凸部は、カソード電極を、例えばドライエッチングすることにより、あるいは又、陽極酸化を行ったり、支持体上に球体を散布しておき、球体の上にカソード電極を形成した後、例えば球体を燃焼させることによって除去する方法にて形成することができる。
【0053】
第1の構造を有する電界放出素子において、カソード電極と電子放出部との間に抵抗体層を設けてもよい。あるいは又、カソード電極の表面が電子放出部に相当している場合(即ち、第2の構造を有する電界放出素子においては)、カソード電極を導電材料層、抵抗体層、電子放出部に相当する電子放出層の3層構成としてもよい。抵抗体層を設けることによって、電界放出素子の動作安定化、電子放出特性の均一化を図ることができる。抵抗体層を構成する材料として、シリコンカーバイド(SiC)やSiCNといったカーボン系材料、SiN、アモルファスシリコン等の半導体材料、酸化ルテニウム(RuO2)、酸化タンタル、窒化タンタル等の高融点金属酸化物を例示することができる。抵抗体層の形成方法として、スパッタリング法や、CVD法やスクリーン印刷法を例示することができる。抵抗値は、概ね1×105〜1×107Ω、好ましくは数MΩとすればよい。
【0054】
各種の電界放出素子におけるカソード電極を構成する材料として、タングステン(W)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)等の金属;これらの金属元素を含む合金あるいは化合物(例えばTiN等の窒化物や、WSi2、MoSi2、TiSi2、TaSi2等のシリサイド);シリコン(Si)等の半導体;ダイヤモンド等の炭素薄膜;ITO(インジウム・錫酸化物)を例示することができる。カソード電極の厚さは、おおよそ0.05〜0.5μm、好ましくは0.1〜0.3μmの範囲とすることが望ましいが、かかる範囲に限定するものではない。
【0055】
各種の電界放出素子におけるゲート電極を構成する導電性材料として、タングステン(W)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ジルコニウム(Zr)、鉄(Fe)、白金(Pt)及び亜鉛(Zn)から成る群から選択された少なくとも1種類の金属;これらの金属元素を含む合金あるいは化合物(例えばTiN等の窒化物や、WSi2、MoSi2、TiSi2、TaSi2等のシリサイド);あるいはシリコン(Si)等の半導体;ITO(インジウム錫酸化物)、酸化インジウム、酸化亜鉛等の導電性金属酸化物を例示することができる。
【0056】
カソード電極やゲート電極の形成方法として、例えば、電子ビーム蒸着法や熱フィラメント蒸着法といった蒸着法、スパッタリング法、CVD法やイオンプレーティング法とエッチング法との組合せ、スクリーン印刷法、メッキ法、リフトオフ法等を挙げることができる。スクリーン印刷法やメッキ法によれば、直接、例えばストライプ状のカソード電極を形成することが可能である。
【0057】
本発明の第1Aの態様若しくは第2Aの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置における収束電極の形成方法として、例えば、電子ビーム蒸着法や熱フィラメント蒸着法といった蒸着法、スパッタリング法、CVD法やイオンプレーティング法、スクリーン印刷法、メッキ法、リフトオフ法等を挙げることができる。尚、第1開口部の形成、及び、不要部分の除去を除き、通常、パターニングする必要はない。また、本発明の第1Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置における収束電極も同様の方法で形成することができるし、あるいは又、シート状の収束電極を予め作製しておき、ゲート電極及び絶縁層上にかかるシート状の収束電極を積層する方法で形成することもできる。更には、本発明の第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置における収束電極も同様の方法で形成することができるし、あるいは又、シート状の積層構造体を予め作製しておき、絶縁膜や金属層上にかかるシート状の積層構造体を積層する方法で形成することもできる。
【0058】
第1開口部、第2開口部あるいは第3開口部の平面形状(支持体表面と平行な仮想平面で開口部を切断したときの形状)は、円形、楕円形、矩形、多角形、丸みを帯びた矩形、丸みを帯びた多角形等、任意の形状とすることができる。これらの開口部の形成は、例えば、等方性エッチング、異方性エッチングと等方性エッチングの組合せによって行うことができる。尚、本発明の第1Bの態様若しくは第2Bの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置においては、第1開口部の形成を、機械的方法(例えばパンチング)や化学的方法(例えばエッチング)によって行うこともできる。
【0059】
収束電極を構成する導電性材料、収束電極本体部を構成する導電性材料、金属層を構成する材料として、上述したカソード電極やゲート電極を構成する導電性材料の他、金属あるいは合金から成るシートや箔を挙げることができる。
【0060】
誘電体材料層を構成する材料として、SiO2、SiN、SiON、Ta2O5、SiC、ガラス、アルミナ等を例示することができる。
【0061】
絶縁層及び絶縁膜の構成材料として、SiO2、BPSG、PSG、BSG、AsSG、PbSG、SiN、SiON、SOG(スピンオングラス)、低融点ガラス、ガラスペーストといったSiO2系材料、SiN、ポリイミド等の絶縁性樹脂を、単独あるいは適宜組み合わせて使用することができる。絶縁層と絶縁膜とは、同じ材料から構成されていてもよいし、異なる材料から構成されていてもよい。絶縁層及び絶縁膜の形成には、CVD法、塗布法、スパッタリング法、スクリーン印刷法等の公知のプロセスが利用できる。
【0062】
本発明におけるカソードパネルを構成する支持体として、ガラス基板、表面に絶縁膜が形成されたガラス基板、石英基板、表面に絶縁膜が形成された石英基板、表面に絶縁膜が形成された半導体基板を挙げることができるが、製造コスト低減の観点からは、ガラス基板、あるいは、表面に絶縁膜が形成されたガラス基板を用いることが好ましい。ガラス基板として、高歪点ガラス、ソーダガラス(Na2O・CaO・SiO2)、硼珪酸ガラス(Na2O・B2O3・SiO2)、フォルステライト(2MgO・SiO2)、鉛ガラス(Na2O・PbO・SiO2)を例示することができる。アノードパネルを構成する基板も、支持体と同様の構成することができる。
【0063】
本発明において、アノードパネルは、基板と蛍光体層とアノード電極とから成る。電子が照射される面は、アノードパネルの構造に依るが、蛍光体層から構成され、あるいは又、アノード電極から構成される。
【0064】
アノード電極と蛍光体層の構成例として、(1)基板上に、アノード電極を形成し、アノード電極の上に蛍光体層を形成する構成、(2)基板上に、蛍光体層を形成し、蛍光体層上にアノード電極を形成する構成、を挙げることができる。尚、(1)の構成において、蛍光体層の上に、所謂メタルバック膜を形成してもよい。また、(2)の構成において、アノード電極の上にメタルバック膜を形成してもよい。
【0065】
アノード電極の構成材料は、冷陰極電界電子放出表示装置の構成によって選択すればよい。即ち、冷陰極電界電子放出表示装置が透過型(基板が表示部分に相当する)であって、且つ、基板上にアノード電極と蛍光体層がこの順に積層されている場合には、アノード電極が形成される基板は元より、アノード電極自身も透明である必要があり、ITO(インジウム錫酸化物)等の透明導電材料を用いる。一方、冷陰極電界電子放出表示装置が反射型(支持体が表示部分に相当する)である場合、及び、透過型であっても基板上に蛍光体層とアノード電極とがこの順に積層されている(アノード電極はメタルバック膜を兼ねている)場合には、ITOの他、カソード電極やゲート電極や収束電極に関連して上述した材料を適宜選択して用いることができるが、より好ましくは、アルミニウム(Al)あるいはクロム(Cr)を用いることが望ましい。アルミニウム(Al)あるいはクロム(Cr)からアノード電極を構成する場合、アノード電極の厚さとして、具体的には、3×10-8m(30nm)乃至1.5×10-7m(150nm)、好ましくは5×10-8m(50nm)乃至1×10-7m(100nm)を例示することができる。アノード電極は、蒸着法やスパッタリング法にて形成することができる。
【0066】
蛍光体層を構成する蛍光体として、高速電子励起用蛍光体や低速電子励起用蛍光体を用いることができる。冷陰極電界電子放出表示装置が単色表示装置である場合、蛍光体層は特にパターニングされていなくともよい。また、冷陰極電界電子放出表示装置がカラー表示装置である場合、ストライプ状又はドット状にパターニングされた赤(R)、緑(G)、青(B)の三原色に対応する蛍光体層を交互に配置することが好ましい。尚、パターニングされた蛍光体層間の隙間は、表示画面のコントラスト向上を目的としたブラックマトリックスで埋め込まれていてもよい。
【0067】
アノードパネルには、更に、蛍光体層から反跳した電子、あるいは、蛍光体層から放出された二次電子が他の蛍光体層に入射し、所謂光学的クロストーク(色濁り)が発生することを防止するための、あるいは又、蛍光体層から反跳した電子、あるいは、蛍光体層から放出された二次電子が隔壁を越えて他の蛍光体層に向かって侵入したとき、これらの電子が他の蛍光体層と衝突することを防止するための、隔壁が、複数、設けられていることが好ましい。
【0068】
隔壁の平面形状としては、格子形状(井桁形状)、即ち、1画素に相当する、例えば平面形状が略矩形(ドット状)の蛍光体層の四方を取り囲む形状を挙げることができ、あるいは、略矩形あるいはストライプ状の蛍光体層の対向する二辺と平行に延びる帯状形状あるいはストライプ形状を挙げることができる。隔壁を格子形状とする場合、1つの蛍光体層の領域の四方を連続的に取り囲む形状としてもよいし、不連続に取り囲む形状としてもよい。隔壁を帯状形状あるいはストライプ形状とする場合、連続した形状としてもよいし、不連続な形状としてもよい。隔壁を形成した後、隔壁を研磨し、隔壁の頂面の平坦化を図ってもよい。
【0069】
蛍光体層からの光を吸収するブラックマトリックスが蛍光体層と蛍光体層との間であって隔壁と基板との間に形成されていることが、表示画像のコントラスト向上といった観点から好ましい。ブラックマトリックスを構成する材料として、蛍光体層からの光を99%以上吸収する材料を選択することが好ましい。このような材料として、カーボン、金属薄膜(例えば、クロム、ニッケル、アルミニウム、モリブデン等、あるいは、これらの合金)、金属酸化物(例えば、酸化クロム)、金属窒化物(例えば、窒化クロム)、耐熱性有機樹脂、ガラスペースト、黒色顔料や銀等の導電性粒子を含有するガラスペースト等の材料を挙げることができ、具体的には、感光性ポリイミド樹脂、酸化クロムや、酸化クロム/クロム積層膜を例示することができる。尚、酸化クロム/クロム積層膜においては、クロム膜が基板と接する。
【0070】
カソードパネルとアノードパネルとを周縁部において接合する場合、接合は接着層を用いて行ってもよいし、あるいはガラスやセラミックス等の絶縁剛性材料から成る枠体と接着層とを併用して行ってもよい。枠体と接着層とを併用する場合には、枠体の高さを適宜選択することにより、接着層のみを使用する場合に比べ、カソードパネルとアノードパネルとの間の対向距離をより長く設定することが可能である。尚、接着層の構成材料としては、フリットガラスが一般的であるが、融点が120〜400゜C程度の所謂低融点金属材料を用いてもよい。かかる低融点金属材料としては、In(インジウム:融点157゜C);インジウム−金系の低融点合金;Sn80Ag20(融点220〜370゜C)、Sn95Cu5(融点227〜370゜C)等の錫(Sn)系高温はんだ;Pb97.5Ag2.5(融点304゜C)、Pb94.5Ag5.5(融点304〜365゜C)、Pb97.5Ag1.5Sn1.0(融点309゜C)等の鉛(Pb)系高温はんだ;Zn95Al5(融点380゜C)等の亜鉛(Zn)系高温はんだ;Sn5Pb95(融点300〜314゜C)、Sn2Pb98(融点316〜322゜C)等の錫−鉛系標準はんだ;Au88Ga12(融点381゜C)等のろう材(以上の添字は全て原子%を表す)を例示することができる。
【0071】
カソードパネルとアノードパネルと枠体の三者を接合する場合、三者を同時に接合してもよいし、あるいは、第1段階でカソードパネル又はアノードパネルのいずれか一方と枠体とを接合し、第2段階でカソードパネル又はアノードパネルの他方と枠体とを接合してもよい。三者同時接合や第2段階における接合を高真空雰囲気中で行えば、カソードパネルとアノードパネルと枠体と接着層とにより囲まれた空間は、接合と同時に真空となる。あるいは、三者の接合終了後、カソードパネルとアノードパネルと枠体と接着層とによって囲まれた空間を排気し、真空とすることもできる。接合後に排気を行う場合、接合時の雰囲気の圧力は常圧/減圧のいずれであってもよく、また、雰囲気を構成する気体は、大気であっても、あるいは窒素ガスや周期律表0族に属するガス(例えばArガス)を含む不活性ガスであってもよい。
【0072】
接合後に排気を行う場合、排気は、カソードパネル及び/又はアノードパネルに予め接続されたチップ管を通じて行うことができる。チップ管は、典型的にはガラス管を用いて構成され、カソードパネル及び/又はアノードパネルの無効領域(実際の表示部分としては機能しない領域)に設けられた貫通部の周囲に、フリットガラス又は上述の低融点金属材料を用いて接合され、空間が所定の真空度に達した後、熱融着によって封じ切られる。尚、封じ切りを行う前に、冷陰極電界電子放出表示装置全体を一旦加熱してから降温させると、空間に残留ガスを放出させることができ、この残留ガスを排気により空間外へ除去することができるので好適である。
【0073】
本発明にあっては、ストライプ状のゲート電極の射影像とストライプ状のカソード電極の射影像とが直交する方向に延びていることが、冷陰極電界電子放出表示装置の構造の簡素化の観点から好ましい。尚、ストライプ状のカソード電極とストライプ状のゲート電極の射影像が重複する重複領域(電子放出領域であり、1画素分の領域あるいは1サブピクセル分の領域に相当する)に複数の電界放出素子が設けられており、かかる電子放出領域が、カソードパネルの有効領域内に、通常、2次元マトリクス状に配列されている。カソード電極及び収束電極あるいは収束電極本体部に相対的に負の電圧を印加し、ゲート電極に相対的に正の電圧を印加し、アノード電極にゲート電極より更に高い正の電圧を印加する。電子は、列選択されたカソード電極と行選択されたゲート電極(あるいは、行選択されたカソード電極と列選択されたゲート電極)との重複領域である電子放出領域に位置する電子放出部から選択的に真空空間中へ電子が放出され、この電子がアノード電極に引き付けられてアノードパネルを構成する蛍光体層に衝突し、蛍光体層を励起、発光させる。
【0074】
本発明においては、収束電極と収束電極制御回路との間にコンデンサが備えられ、あるいは又、収束電極それ自体がコンデンサとしても機能する。従って、アノード電極と収束電極との間に放電が発生しても、放電に起因した電流がこれらのコンデンサを流れるが故に、収束電極の電位が異常に上昇することを確実に抑制することができる。
【0075】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、発明の実施の形態(以下、実施の形態と略称する)に基づき本発明を説明する。
【0076】
(実施の形態1)
実施の形態1は、本発明の第1Aの態様に係る冷陰極電界電子放出表示装置(以下、表示装置と略称する)に関する。図1に、電界放出素子を備えた表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図を示し、電界放出素子の模式的な一部端面図を図13の(B)に示し、電子放出領域を上から眺めた模式図を図14に示す。尚、カソード電極とゲート電極の重複領域には多数の電界放出素子が設けられているが、図13の(B)には1つの電界放出素子を図示した。また、カソードパネルCPとアノードパネルAPを分解したときのカソードパネルCPの模式的な部分的斜視図(但し、絶縁膜及び収束電極の図示を省略)は、図29に示したと同様である。
【0077】
この表示装置は、
(A)電子放出領域EAを、複数、備えたカソードパネルCPと、蛍光体層31及びアノード電極34が設けられたアノードパネルAPとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路41、
(C)抵抗素子R、及び、
(D)コンデンサC、
を少なくとも備えている。
【0078】
そして、電子放出領域EAは、
(a)支持体10上に形成され、第1の方向(図面の水平方向)に延びるカソード電極11と、
(b)支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12と、
(c)絶縁層12上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向(図面の垂直方向)に延びるゲート電極13と、
(d)絶縁層12及びゲート電極13上に形成された絶縁膜14と、
(e)絶縁膜14上に設けられた収束電極15と、
(f)カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極15の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14に形成された第1開口部16と、
(g)カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置するゲート電極13の部分に形成され、第1開口部16と連通した複数の第2開口部17と、
(h)絶縁層12に形成され、第2開口部17と連通した第3開口部18と、
(i)第3開口部18の底部に露出した電子放出部19、
から成る。
【0079】
実施の形態1においては、冷陰極電界電子放出素子(以下、電界放出素子と略称する)として、電子放出部19が第3開口部18の底部に位置するカソード電極11上に設けられており、第3開口部18の底部に露出した電子放出部19から電子が放出される構造とすることができる。このような第1の構造を有する電界放出素子として、スピント型電界放出素子を挙げることができる。
【0080】
即ち、実施の形態1における電界放出素子は、第1の構造を有し、スピント型の電界放出素子であり、
(a)支持体10上に形成され、第1の方向(図面の水平方向)に延びるカソード電極11と、
(b)支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12と、
(c)絶縁層12上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向(図面の垂直方向)に延びるゲート電極13と、
(d)絶縁層12及びゲート電極13上に形成された絶縁膜14と、
(e)絶縁膜14上に設けられた収束電極15と、
(f)カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極15の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14に形成された第1開口部16と、
(g)カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置するゲート電極13の部分に形成され、第1開口部16と連通した第2開口部17と、
(h)絶縁層12に形成され、第2開口部17と連通した第3開口部18と、
(i)第3開口部18の底部に露出した電子放出部19、
から成り、
円錐形の電子放出部19が、第3開口部18の底部に位置するカソード電極11上に設けられている。
【0081】
収束電極15は、全体として、有効領域全体を覆う1枚のシート状である。また、カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極15の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14には複数の第1開口部16が形成されており、1つの第2開口部17が1つの第1開口部16に連通している。
【0082】
収束電極15は、抵抗素子Rを介して収束電極制御回路41の第1電圧出力部41Aに接続されており、収束電極15は、更に、コンデンサCを介して収束電極制御回路41の第2電圧出力部41Bに接続されている。コンデンサC及び抵抗素子Rは、例えば、収束電極制御回路41が設けられたプリント基板に取り付けられており、コンデンサCと収束電極制御回路41、及び、コンデンサCと収束電極15とは配線によって接続されており、抵抗素子Rと収束電極制御回路41、及び、抵抗素子Rと収束電極15とは配線によって接続されている。収束電極制御回路41の第1電圧出力部41Aからは電圧V1(例えば、0ボルト)が出力され、収束電極制御回路41の第2電圧出力部41Bからは電圧V2(例えば、−100ボルト)が出力される。
【0083】
実施の形態1の表示用パネルは、カソードパネルCPと、アノードパネルAPから構成されており、複数の画素を有する。カソードパネルCPは、上述の電界放出素子が設けられた上述の電子放出領域EAが有効領域に2次元マトリックス状に多数形成されている。一方、アノードパネルAPは、基板30と、基板30上に形成され、所定のパターンに従って形成された蛍光体層31(赤色発光蛍光体層31R、緑色発光蛍光体層31G、青色発光蛍光体層31B)と、有効領域の全面を覆う1枚のシート状の例えばアルミニウム薄膜から成るアノード電極34から構成されている。蛍光体層31と蛍光体層31との間の基板30上には、ブラックマトリックス32が形成されており、ブラックマトリックス32の上には隔壁33が形成されている。尚、ブラックマトリックス32や隔壁33を省略することもできる。また、単色表示装置を想定した場合、蛍光体層31は必ずしも所定のパターンに従って設けられる必要はない。更には、ITO等の透明導電膜から成るアノード電極を基板30と蛍光体層31との間に設けてもよく、あるいは、基板30上に設けられた透明導電膜から成るアノード電極34と、アノード電極34上に形成された蛍光体層31及びブラックマトリックス32と、蛍光体層31及びブラックマトリックス32の上に形成されたアルミニウムから成り、アノード電極34と電気的に接続された光反射導電膜から構成することもできる。
【0084】
そして、表示装置は、アノード電極34及び蛍光体層31(31R,31G,31B)が形成された基板30と、電子放出領域EAが設けられた支持体10とが、蛍光体層31と電子放出領域EAとが対向するように配置され、基板30と支持体10とが周縁部において接合された構造を有する。具体的には、カソードパネルCPとアノードパネルAPとは、それらの周縁部において、枠体35を介して接合されている。更には、カソードパネルCPの無効領域には、真空排気用の貫通孔(図示せず)が設けられており、この貫通孔には、真空排気後に封じ切られるチップ管(図示せず)が接続されている。枠体35は、セラミックス又はガラスから成り、高さは、例えば1.0mmである。場合によっては、枠体35の代わりに接着層のみを用いることもできる。
【0085】
ここで、1画素は、電子放出領域EAと、電子放出領域EAに対面するようにアノードパネルAPの有効領域に配列された蛍光体層31とによって構成されている。有効領域には、かかる画素が、例えば数十万〜数百万個ものオーダーにて配列されている。
【0086】
カソード電極11には相対的に負電圧がカソード電極制御回路40から印加され、収束電極15には相対的に負の電圧V1(例えば、0ボルト)が収束電極制御回路41の第1電圧出力部41Aから印加され、ゲート電極13には相対的に正電圧がゲート電極制御回路42から印加され、アノード電極34にはゲート電極13よりも更に高い正電圧がアノード電極制御回路43から印加される。尚、アノード電極制御回路43とアノード電極34との間には、通常、過電流や放電を防止するための抵抗体R0(図示した例では抵抗値1MΩ)が配設されている。
【0087】
また、コンデンサCの一端(収束電極側)には電圧V1(例えば、0ボルト)が印加され、コンデンサCの他端(収束電極制御回路41の第2電圧出力部側)にはV2(例えば、−100ボルト)が第2電圧出力部41Bから印加される。
【0088】
かかる表示装置において表示を行う場合、例えば、カソード電極11にカソード電極制御回路40から走査信号を入力し、ゲート電極13にゲート電極制御回路42からビデオ信号を入力する。これとは逆に、カソード電極11にカソード電極制御回路40からビデオ信号を入力し、ゲート電極13にゲート電極制御回路42から走査信号を入力してもよい。カソード電極11とゲート電極13との間に電圧を印加した際に生ずる電界により、量子トンネル効果に基づき電子放出部19から電子が放出され、この電子がアノード電極34に引き付けられ、蛍光体層31に衝突する。その結果、蛍光体層31が励起されて発光し、所望の画像を得ることができる。
【0089】
収束電極15とアノード電極34との間で異常放電が発生したときの等価回路を図2に示す。アノード電極34に印加される電圧(VA)を5キロボルト、収束電極15に印加される電圧(V1)を0ボルトとし、電圧V2を−100ボルトとした。アノード電極34と収束電極15との間の異常放電によって電流iが流れるが、このときのアノード電極34と収束電極15との仮想抵抗値(r)を10Ωと仮定した。また、収束電極15と収束電極制御回路41の第1電圧出力部41Aとの間に配設された抵抗素子Rの抵抗値を1kΩとした。更には、アノード電極34と収束電極15とに基づく静電容量CAFを60pFと仮定した。
【0090】
そして、コンデンサCの容量を1nF、10nF、50nFとしたときの、図2の点「A」における電位(即ち、収束電極15の電位)の変化のシミュレーション結果を図3、図4及び図5に示す。
【0091】
また、アノード電極34と収束電極15とに基づく静電容量CAFを60pFと仮定し、コンデンサCの値を20CAF(=1.2nF)、100CAF(=6nF)、1000CAF(=60nF)としたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を図6、図7及び図8に示す。
【0092】
更には、アノード電極34と収束電極15とに基づく静電容量CAFを600pFと仮定し、コンデンサCの値を20CAF(=12nF)、100CAF(=60nF)、1000CAF(=600nF)としたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を図9、図10及び図11に示す。
【0093】
図3〜図5から明らかなように、点「A」における電位は、コンデンサCの容量を10nF以上とすれば、約30ボルト以下である。また、コンデンサCの容量をC C 、アノード電極34と収束電極15とに基づく静電容量をC AF としたとき、CC>20CAFを満足すると、収束電極15の電位上昇を十分に抑制できることが判る。
【0094】
このように、コンデンサCを配設することによって、アノード電極34と収束電極15との間に放電が生じた場合であっても、収束電極15の電位の上昇を確実に抑制することができる。尚、アノード電極34に印加される電圧(VA)を代えてシミュレーションを行ったが、同様の結果が得られた。
【0095】
以下、実施の形態1における収束電極15を備えたスピント型電界放出素子の製造方法及び表示用パネルの製造方法を、カソードパネルを構成する支持体10等の模式的な一部端面図である図12の(A)、(B)及び図13の(A)、(B)、並びに、表示用パネルの模式的な一部端面図である図1を参照して説明する。尚、電界放出素子の製造方法を説明する図面においては、1つの電子放出部のみを図示した。
【0096】
尚、このスピント型電界放出素子は、基本的には、円錐形の電子放出部19を金属材料の垂直蒸着により形成する方法によって得ることができる。即ち、収束電極15に設けられた第1開口部16に対して蒸着粒子は垂直に入射するが、第1開口部16の開口端付近に形成されるオーバーハング状の堆積物による遮蔽効果を利用して、第3開口部18の底部に到達する蒸着粒子の量を漸減させ、円錐形の堆積物である電子放出部19を自己整合的に形成する。ここでは、不要なオーバーハング状の堆積物の除去を容易とするために、収束電極15上に剥離層50を予め形成しておく方法について説明する。
【0097】
[工程−100]
先ず、例えばガラス基板から成る支持体10の上に、例えばポリシリコンから成るカソード電極用導電材料層をプラズマCVD法にて成膜した後、リソグラフィ技術及びドライエッチング技術に基づきカソード電極用導電材料層をパターニングして、ストライプ状のカソード電極11を形成する。その後、全面にSiO2から成る絶縁層12をCVD法にて形成する。
【0098】
[工程−110]
次に、絶縁層12上に、ゲート電極用導電材料層(例えば、TiN層)をスパッタ法にて成膜し、次いで、ゲート電極用導電材料層をリソグラフィ技術及びドライエッチング技術にてパターニングすることによって、ストライプ状のゲート電極13を得ることができる。ストライプ状のカソード電極11は、図面の紙面左右方向に延び、ストライプ状のゲート電極13は、図面の紙面垂直方向に延びている。
【0099】
尚、ゲート電極13を、真空蒸着法等のPVD法、CVD法、電気メッキ法や無電解メッキ法といったメッキ法、スクリーン印刷法、レーザアブレーション法、ゾル−ゲル法、リフトオフ法等の公知の薄膜形成技術と、必要に応じてエッチング技術との組合せによって形成してもよい。スクリーン印刷法やメッキ法によれば、直接、例えばストライプ状のゲート電極を形成することが可能である。
【0100】
[工程−120]
その後、全面に(具体的には、絶縁層12及びゲート電極13上に)、SiO2から成る絶縁膜14をCVD法にて形成する。
【0101】
[工程−130]
次いで、絶縁膜14上にアルミニウム(Al)から成る収束電極15を真空蒸着法にて形成し、レジスト層を用いたリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、収束電極15及び絶縁膜14に第1開口部16を形成する。そして、更に、ゲート電極13に、第1開口部16に連通した第2開口部17を形成し、絶縁層12に、第2開口部17に連通した第3開口部18を形成し、第3開口部18の底部にカソード電極11を露出させた後、レジスト層を除去する。この状態を、模式的に図12の(A)に示す。
【0102】
[工程−140]
次に、支持体10を回転させながら収束電極15上にニッケル(Ni)を斜め蒸着することにより、剥離層50を形成する(図12の(B)参照)。このとき、支持体10の法線に対する蒸着粒子の入射角を十分に大きく選択することにより(例えば、入射角65度〜85度)、第3開口部18の底部にニッケルを殆ど堆積させることなく、収束電極15の上に剥離層50を形成することができる。剥離層50は、第1開口部16の開口端から庇状に張り出しており、これによって第1開口部16が実質的に縮径される。
【0103】
[工程−150]
次に、全面に例えば導電材料としてモリブデン(Mo)を垂直蒸着する(入射角3度〜10度)。このとき、図13の(A)に示すように、剥離層50上でオーバーハング形状を有する導電材料層51が成長するに伴い、第1開口部16の実質的な直径が次第に縮小されるので、第3開口部18の底部において堆積に寄与する蒸着粒子は、次第に第1開口部16の中央付近を通過するものに限られるようになる。その結果、第3開口部18の底部には円錐形の堆積物が形成され、この円錐形の堆積物が電子放出部19となる。
【0104】
[工程−160]
その後、リフトオフ法にて剥離層50を収束電極15の表面から剥離し、収束電極15の上方の導電材料層51を選択的に除去する。こうして、複数のスピント型電界放出素子が形成されたカソードパネルCPを得ることができる。次いで、絶縁膜14に設けられた第1開口部16の側壁面、及び、絶縁層12に設けられた第3開口部18の側壁面を等方的なエッチングによって後退させることが、ゲート電極13の開口端部を露出させるといった観点から、好ましい。尚、等方的なエッチングは、ケミカルドライエッチングのようにラジカルを主エッチング種として利用するドライエッチング、あるいはエッチング液を利用するウェットエッチングにより行うことができる。エッチング液としては、例えば49%フッ酸水溶液と純水の1:100(容積比)混合液を用いることができる。こうして、図13の(B)に示す電界放出素子を得ることができる。尚、図14には、収束電極15、及び、収束電極15に設けられた第1開口部16が示されており、収束電極15の下方に位置するゲート電極13を点線で表し、カソード電極11を一点鎖線で示す。
【0105】
[工程−170]
一方、アノードパネルAPを準備する。そして、表示装置の組み立てを行う。具体的には、蛍光体層31と電子放出領域EAとが対向するようにアノードパネルAPとカソードパネルCPとを配置し、アノードパネルAPとカソードパネルCP(より具体的には、基板30と支持体10)とを、枠体35を介して、周縁部において接合する。接合に際しては、枠体35とアノードパネルAPとの接合部位、及び枠体35とカソードパネルCPとの接合部位にフリットガラスを塗布し、アノードパネルAPとカソードパネルCPと枠体35とを貼り合わせ、予備焼成にてフリットガラスを乾燥した後、約450゜Cで10〜30分の本焼成を行う。その後、アノードパネルAPとカソードパネルCPと枠体35とフリットガラスとによって囲まれた空間を、貫通孔(図示せず)及びチップ管(図示せず)を通じて排気し、空間の圧力が10-4Pa程度に達した時点でチップ管を加熱溶融により封じ切る。このようにして、アノードパネルAPとカソードパネルCPと枠体35とに囲まれた空間を真空にすることができる。こうして、表示用パネルを得ることができる。その後、必要な外部回路との配線を行い、所謂3電極型の表示装置を完成させる。
【0106】
尚、[工程−130]において、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように収束電極15及び絶縁膜14に1つの第1開口部16Aを形成し、この1つの第1開口部16Aに連通する複数の第2開口部17Aをゲート電極13に形成し、更に、各第2開口部17Aに連通する第3開口部18Aを絶縁層12に形成してもよい。この場合、[工程−140]においては、第1開口部16Aの底部に露出したゲート電極13の上にも剥離層50を形成する。こうして、収束電極15が、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように絶縁膜14上に形成されており、カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極15の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14には1つの第1開口部16Aが形成され、複数の第2開口部17Aが1つの第1開口部16Aに連通した構造、即ち、本発明の第1Bの態様に係る表示装置を得ることができる。このような構造の模式的な一部端面図を図15に示し、電子放出領域を上から眺めた模式図を図16に示す。尚、図15においては、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に3つの電界放出素子を示したが、これは例示である。また、図16には、収束電極15、及び、収束電極15に設けられた第1開口部16Aが示されており、収束電極15の下方に位置するゲート電極13を点線で表し、カソード電極11を一点鎖線で示し、ゲート電極13に設けられた第2開口部17Aを円形の実線で示す。
【0107】
(実施の形態2)
実施の形態2は、実施の形態1の変形である。実施の形態1においては、電界放出素子をスピント型とした。一方、実施の形態2においては、電界放出素子を扁平型(略平面状の電子放出部が、第3開口部の底部に位置するカソード電極上に設けられた電界放出素子)とする。
【0108】
実施の形態2における扁平型の電界放出素子を構成する電子放出部19Aは、図18の(B)に模式的な一部端面図を示すように、マトリックス52、及び、先端部が突出した状態でマトリックス52中に埋め込まれたカーボン・ナノチューブ構造体(具体的には、カーボン・ナノチューブ53)から成り、マトリックス52は、導電性を有する金属酸化物(具体的には、酸化インジウム−錫、ITO)から成る。
【0109】
以下、電界放出素子の製造方法を、図17の(A)、(B)及び図18の(A)、(B)を参照して説明する。
【0110】
[工程−200]
先ず、例えばガラス基板から成る支持体10上に、例えばスパッタリング法及びエッチング技術により形成された厚さ約0.2μmのクロム(Cr)層から成るストライプ状のカソード電極11を形成する。
【0111】
[工程−210]
次に、カーボン・ナノチューブ構造体が分散された有機酸金属化合物から成る金属化合物溶液をカソード電極11上に、例えばスプレー法にて塗布する。具体的には、以下の表1に例示する金属化合物溶液を用いる。尚、金属化合物溶液中にあっては、有機錫化合物及び有機インジウム化合物は酸(例えば、塩酸、硝酸、あるいは硫酸)に溶解された状態にある。カーボン・ナノチューブはアーク放電法にて製造され、平均直径30nm、平均長さ1μmである。塗布に際しては、支持体10を70〜150゜Cに加熱しておく。塗布雰囲気を大気雰囲気とする。塗布後、5〜30分間、支持体10を加熱し、酢酸ブチルを十分に蒸発させる。このように、塗布時、支持体10を加熱することによって、カソード電極11の表面に対してカーボン・ナノチューブが水平に近づく方向にセルフレベリングする前に塗布溶液の乾燥が始まる結果、カーボン・ナノチューブが水平にはならない状態でカソード電極11の表面にカーボン・ナノチューブを配置することができる。即ち、カーボン・ナノチューブの先端部がアノード電極34の方向を向くような状態、言い換えれば、カーボン・ナノチューブを、支持体10の法線方向に近づく方向に配向させることができる。尚、予め、表1に示す組成の金属化合物溶液を調製しておいてもよいし、カーボン・ナノチューブを添加していない金属化合物溶液を調製しておき、塗布前に、カーボン・ナノチューブと金属化合物溶液とを混合してもよい。また、カーボン・ナノチューブの分散性向上のため、金属化合物溶液の調製時、超音波を照射してもよい。
【0112】
[表1]
有機錫化合物及び有機インジウム化合物:0.1〜10重量部
分散剤(ドデシル硫酸ナトリウム) :0.1〜5 重量部
カーボン・ナノチューブ :0.1〜20重量部
酢酸ブチル :残余
【0113】
尚、有機酸金属化合物溶液として、有機錫化合物を酸に溶解したものを用いれば、マトリックスとして酸化錫が得られ、有機インジウム化合物を酸に溶解したものを用いれば、マトリックスとして酸化インジウムが得られ、有機亜鉛化合物を酸に溶解したものを用いれば、マトリックスとして酸化亜鉛が得られ、有機アンチモン化合物を酸に溶解したものを用いれば、マトリックスとして酸化アンチモンが得られ、有機アンチモン化合物及び有機錫化合物を酸に溶解したもの用いれば、マトリックスとして酸化アンチモン−錫が得られる。また、有機金属化合物溶液として、有機錫化合物を用いれば、マトリックスとして酸化錫が得られ、有機インジウム化合物を用いれば、マトリックスとして酸化インジウムが得られ、有機亜鉛化合物を用いれば、マトリックスとして酸化亜鉛が得られ、有機アンチモン化合物を用いれば、マトリックスとして酸化アンチモンが得られ、有機アンチモン化合物及び有機錫化合物を用いれば、マトリックスとして酸化アンチモン−錫が得られる。あるいは又、金属の塩化物の溶液(例えば、塩化錫、塩化インジウム)を用いてもよい。
【0114】
場合によっては、金属化合物溶液を乾燥した後の金属化合物層の表面に著しい凹凸が形成されている場合がある。このような場合には、金属化合物層の上に、支持体10を加熱することなく、再び、金属化合物溶液を塗布することが望ましい。
【0115】
[工程−220]
その後、有機酸金属化合物から成る金属化合物を焼成することによって、有機酸金属化合物に由来した金属原子(具体的には、In及びSn)を含むマトリックス(具体的には、金属酸化物であり、より一層具体的にはITO)52にてカーボン・ナノチューブ53がカソード電極11の表面に固定された電子放出部19Aを得る。焼成を、大気雰囲気中で、350゜C、20分の条件にて行う。こうして、得られたマトリックス52の体積抵抗率は、5×10-7Ω・mであった。有機酸金属化合物を出発物質として用いることにより、焼成温度350゜Cといった低温においても、ITOから成るマトリックス52を形成することができる。尚、有機酸金属化合物溶液の代わりに、有機金属化合物溶液を用いてもよいし、金属の塩化物の溶液(例えば、塩化錫、塩化インジウム)を用いた場合、焼成によって塩化錫、塩化インジウムが酸化されつつ、ITOから成るマトリックス52が形成される。
【0116】
[工程−230]
次いで、全面にレジスト層を形成し、カソード電極11の所望の領域の上方に、例えば直径10μmの円形のレジスト層を残す。そして、10〜60゜Cの塩酸を用いて、1〜30分間、マトリックス52をエッチングして、電子放出部の不要部分を除去する。更に、所望の領域以外にカーボン・ナノチューブが未だ存在する場合には、以下の表2に例示する条件の酸素プラズマエッチング処理によってカーボン・ナノチューブをエッチングする。尚、バイアスパワーは0Wでもよいが、即ち、直流としてもよいが、バイアスパワーを加えることが望ましい。また、支持体10を、例えば80゜C程度に加熱してもよい。
【0117】
[表2]
使用装置 :RIE装置
導入ガス :酸素を含むガス
プラズマ励起パワー:500W
バイアスパワー :0〜150W
処理時間 :10秒以上
【0118】
あるいは又、表3に例示する条件のウェットエッチング処理によってカーボン・ナノチューブをエッチングしてもよい。
【0119】
[表3]
使用溶液:KMnO4
温度 :20〜120゜C
処理時間:10秒〜20分
【0120】
その後、レジスト層を除去することによって、図17の(A)に示す構造を得ることができる。直径10μmの円形の電子放出部を残すことに限定されない。例えば、電子放出部19Aをカソード電極11上に残してもよい。
【0121】
尚、[工程−210]、[工程−230]、[工程−220]の順に実行してもよい。
【0122】
[工程−240]
次に、電子放出部19A、支持体10及びカソード電極11上に絶縁層12を形成する。具体的には、例えばTEOS(テトラエトキシシラン)を原料ガスとして使用するCVD法により、全面に、厚さ約1μmの絶縁層12を形成する。
【0123】
[工程−250]
その後、絶縁層12上にストライプ状のゲート電極13を形成し、更に、絶縁層12及びゲート電極13上に絶縁膜14を形成し、絶縁膜14上に収束電極15を形成する。そして、収束電極15上にマスク材料層54を設けた後、収束電極15及び絶縁膜14に第1開口部16を形成し、ゲート電極13に、第1開口部16に連通した第2開口部17を形成し、更に、絶縁層12に、第2開口部17に連通する第3開口部18を形成する(図17の(B)参照)。尚、マトリックス52を金属酸化物、例えばITOから構成する場合、絶縁層12をエッチングするとき、マトリックス52がエッチングされることはない。即ち、絶縁層12とマトリックス52とのエッチング選択比はほぼ無限大である。従って、絶縁層12のエッチングによってカーボン・ナノチューブ53に損傷が発生することはない。
【0124】
[工程−260]
次いで、以下の表4に例示する条件にて、マトリックス52の一部を除去し、マトリックス52から先端部が突出した状態のカーボン・ナノチューブ53を得ることが好ましい。こうして、図18の(A)に示す構造の電子放出部19Aを得ることができる。
【0125】
[表4]
エッチング溶液:塩酸
エッチング時間:10秒〜30秒
エッチング温度:10〜60゜C
【0126】
マトリックス52のエッチングによって一部あるいは全てのカーボン・ナノチューブ53の表面状態が変化し(例えば、その表面に酸素原子や酸素分子、フッ素原子が吸着し)、電界放出に関して不活性となっている場合がある。それ故、その後、電子放出部19Aに対して水素ガス雰囲気中でのプラズマ処理を行うことが好ましく、これによって、電子放出部19Aが活性化し、電子放出部19Aからの電子の放出効率の一層の向上させることができる。プラズマ処理の条件を、以下の表5に例示する。
【0127】
[表5]
使用ガス :H2=100sccm
電源パワー :1000W
支持体印加電力:50V
反応圧力 :0.1Pa
支持体温度 :300゜C
【0128】
その後、カーボン・ナノチューブ53からガスを放出させるために、加熱処理や各種のプラズマ処理を施してもよいし、カーボン・ナノチューブ53の表面に意図的に吸着物を吸着させるために吸着させたい物質を含むガスにカーボン・ナノチューブ53を晒してもよい。また、カーボン・ナノチューブ53を精製するために、酸素プラズマ処理やフッ素プラズマ処理を行ってもよい。
【0129】
[工程−270]
その後、絶縁膜14に設けられた第1開口部16の側壁面、及び、絶縁層12に設けられた第3開口部18の側壁面を等方的なエッチングによって後退させることが、ゲート電極13の開口端部を露出させるといった観点から、好ましい。次いで、マスク材料層54を除去する。こうして、図18の(B)に示す電界放出素子を完成することができる。
【0130】
[工程−280]
その後、実施の形態1の[工程−170]と同様にして、表示用パネル、表示装置を完成させる。
【0131】
尚、[工程−250]の後、[工程−270]、[工程−260]の順に実行してもよい。
【0132】
また、[工程−200]、[工程−240]、[工程−250]、[工程−210]、[工程−220]、[工程−260]の順に実行してもよい。この場合、[工程−250]の後、収束電極15上、及び、第1開口部16、第2開口部17、第3開口部18の側壁上を覆い、第3開口部18の底部中央にカソード電極11が露出した状態のマスク材料層を形成する。そして、[工程−210]の後、マスク材料層を除去する。これによって、金属化合物によるカソード電極11とゲート電極13の短絡等を防止することができ、しかも、第3開口部18の底部中央に電子放出部19Aを形成することができる。
【0133】
また、[工程−250]において、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように収束電極15及び絶縁膜14に1つの第1開口部を形成し、この1つの第1開口部に連通する複数の第2開口部をゲート電極13に形成し、更に、各第2開口部に連通する第3開口部を絶縁層12に形成してもよい。こうして、収束電極15が、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように絶縁膜14上に形成されており、カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極15の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14には1つの第1開口部が形成され、複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通した構造、即ち、本発明の第1Bの態様に係る表示装置を得ることができる。
【0134】
(実施の形態3)
実施の形態3は、本発明の第2Aの態様に係る表示装置に関する。図19に、電界放出素子を備えた表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図を示し、電界放出素子の模式的な一部端面図を21の(B)に示す。尚、カソード電極とゲート電極の重複領域には多数の電界放出素子が設けられているが、図21の(B)には1つの電界放出素子を図示した。また、カソードパネルCPとアノードパネルAPを分解したときのカソードパネルCPの模式的な部分的斜視図(但し、絶縁膜及び収束電極の図示を省略)は、図29に示したと同様である。
【0135】
この表示装置は、
(A)電子放出領域EAを、複数、備えたカソードパネルCPと、蛍光体層31及びアノード電極34が設けられたアノードパネルAPとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路41、及び、
(C)抵抗素子R、
を少なくとも備えている。
【0136】
そして、電子放出領域EAは、
(a)支持体10上に形成され、第1の方向(図面の水平方向)に延びるカソード電極11と、
(b)支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12と、
(c)絶縁層12上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向(図面の垂直方向)に延びるゲート電極13と、
(d)絶縁層12及びゲート電極13上に形成された絶縁膜14と、
(e)絶縁膜14上に設けられた収束電極20と、
(f)カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極20の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14に形成された第1開口部16と、
(g)カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置するゲート電極13の部分に形成され、第1開口部16と連通した複数の第2開口部17と、
(h)絶縁層12に形成され、第2開口部17と連通した第3開口部18と、
(i)第3開口部18の底部に露出した電子放出部19、
から成る。
【0137】
実施の形態3における電界放出素子は、実施の形態1と同様に、第1の構造を有し、スピント型の電界放出素子である。
【0138】
収束電極20は、全体として、有効領域全体を覆う1枚のシート状である。また、カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極20の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14には複数の第1開口部16が形成されており、1つの第2開口部17が1つの第1開口部16に連通している。
【0139】
収束電極20は、アルミニウム(Al)から成る収束電極本体部21と、SiO2から成る誘電体材料層22と、アルミニウム(Al)から成る対向電極23とが積層された構造を有する。そして、収束電極本体部21と誘電体材料層22と対向電極23とによってコンデンサが形成されている。収束電極本体部21は、抵抗素子R(抵抗値:1kΩ)を介して収束電極制御回路41の第1電圧出力部41Aに接続されており、対向電極23は、収束電極制御回路41の第2電圧出力部41Bに接続されている。第1電圧出力部41Aの出力電圧V1は、例えば0ボルトであり、第2電圧出力部41Bの出力電圧V2は、例えば−100ボルトである。即ち、対向電極23には電圧V2(例えば−100ボルト)が印加され、収束電極本体部21には電圧V1(例えば0ボルト)が印加される。
【0140】
収束電極20の構造を除き、実施の形態3のカソードパネルCPの構造、構成は、実施の形態1のカソードパネルCPの構造、構成と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。また、実施の形態3のアノードパネルAPも、実施の形態1のアノードパネルAPと同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。更には、表示装置の動作も、実施の形態1の表示装置の動作と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
【0141】
カソード電極11には相対的に負電圧がカソード電極制御回路40から印加され、収束電極20を構成する収束電極本体部21には相対的に負の電圧V1(例えば、0ボルト)が収束電極制御回路41の第1電圧出力部41Aから印加され、ゲート電極13には相対的に正電圧がゲート電極制御回路42から印加され、アノード電極34にはゲート電極13よりも更に高い正電圧がアノード電極制御回路43から印加される。尚、アノード電極制御回路43とアノード電極34との間には、通常、過電流や放電を防止するための抵抗体R0(図示した例では抵抗値1MΩ)が配設されている。
【0142】
収束電極20とアノード電極34との間で異常放電が発生したときの等価回路は、実質的に図2と同様である。
【0143】
以下、実施の形態3における収束電極20を備えたスピント型電界放出素子の製造方法を、カソードパネルを構成する支持体10等の模式的な一部端面図である図20の(A)、(B)及び図21の(A)、(B)を参照して説明する。
【0144】
[工程−300]
先ず、実施の形態1の[工程−100]及び[工程−110]と同様にして、カソード電極11、絶縁層12、ゲート電極13を形成する。
【0145】
[工程−310]
その後、全面に(具体的には、絶縁層12及びゲート電極13上に)、SiO2から成る絶縁膜14をCVD法にて形成する。
【0146】
[工程−320]
次いで、絶縁膜14上に対向電極23、誘電体材料層22、収束電極本体部21を順次、例えば、スパッタリング法にて形成する。その後、レジスト層を用いたリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23及び絶縁膜14に第1開口部16を形成する。そして、更に、ゲート電極13に、第1開口部16に連通した第2開口部17を形成し、絶縁層12に、第2開口部17に連通した第3開口部18を形成し、第3開口部18の底部にカソード電極11を露出させた後、レジスト層を除去する。この状態を、模式的に図20の(A)に示す。
【0147】
[工程−330]
次に、支持体10を回転させながら収束電極本体部21上にニッケル(Ni)を斜め蒸着することにより、剥離層50を形成する(図20の(B)参照)。このとき、支持体10の法線に対する蒸着粒子の入射角を十分に大きく選択することにより(例えば、入射角65度〜85度)、第3開口部18の底部にニッケルを殆ど堆積させることなく、収束電極本体部21の上に剥離層50を形成することができる。剥離層50は、第1開口部16の開口端から庇状に張り出しており、これによって第1開口部16が実質的に縮径される。
【0148】
[工程−340]
次に、全面に例えば導電材料としてモリブデン(Mo)を垂直蒸着する(入射角3度〜10度)。このとき、図21の(A)に示すように、剥離層50上でオーバーハング形状を有する導電材料層51が成長するに伴い、第1開口部16の実質的な直径が次第に縮小されるので、第3開口部18の底部において堆積に寄与する蒸着粒子は、次第に第1開口部16の中央付近を通過するものに限られるようになる。その結果、第3開口部18の底部には円錐形の堆積物が形成され、この円錐形の堆積物が電子放出部19となる。
【0149】
[工程−350]
その後、リフトオフ法にて剥離層50を収束電極本体部21の表面から剥離し、収束電極本体部21の上方の導電材料層51を選択的に除去する。こうして、複数のスピント型電界放出素子が形成されたカソードパネルを得ることができる。次いで、絶縁膜14に設けられた第1開口部16の側壁面、及び、絶縁層12に設けられた第3開口部18の側壁面を等方的なエッチングによって後退させることが、ゲート電極13の開口端部を露出させるといった観点から、好ましい。こうして、図21の(B)に示す電界放出素子を得ることができる。
【0150】
[工程−360]
その後、実施の形態1の[工程−170]と同様にして、表示用パネル、表示装置を完成させる。
【0151】
収束電極をこのような構造にすることで、収束電極それ自体がコンデンサとしても機能するので、実施の形態1において説明した構成よりも、一層効果的に収束電極の電位上昇の抑制を図ることができる。
【0152】
尚、実施の形態2の[工程−250]と同様の工程において、収束電極15を形成する代わりに、絶縁膜14上に対向電極23、誘電体材料層22、収束電極本体部21を順次、形成すれば、扁平型電界放出素子を備えた本発明の第2Aの態様に係る表示装置を最終的に製造することもできる。
【0153】
また、[工程−320]において、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように収束電極20及び絶縁膜14に1つの第1開口部を形成し、この1つの第1開口部に連通する複数の第2開口部をゲート電極13に形成し、更に、各第2開口部に連通する第3開口部を絶縁層12に形成してもよい。この場合、[工程−330]においては、第1開口部の底部に露出したゲート電極13の上にも剥離層50を形成する。こうして、収束電極20が、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように絶縁膜14上に形成されており、カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極20の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14には1つの第1開口部が形成され、複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通した構造、即ち、本発明の第2Bの態様に係る表示装置を得ることができる。
【0154】
更には、[工程−250]と同様の工程において、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように収束電極20及び絶縁膜14に1つの第1開口部を形成し、この1つの第1開口部に連通する複数の第2開口部をゲート電極13に形成し、更に、各第2開口部に連通する第3開口部を絶縁層12に形成してもよい。こうして、収束電極20が、カソード電極11とゲート電極13の重複領域に設けられた冷陰極電界電子放出素子の一群を取り囲むように絶縁膜14上に形成されており、カソード電極11とゲート電極13の重複する領域に位置する収束電極20の部分、及び、その下に位置する絶縁膜14には1つの第1開口部が形成され、複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通した構造、即ち、扁平型電界放出素子を備えた本発明の第2Bの態様に係る表示装置を得ることができる。
【0155】
尚、実施の形態3において、絶縁膜14の上に収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23を順次、形成してもよい。
【0156】
(実施の形態4)
実施の形態4は、本発明の第2Bの態様に係る表示装置に関する。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極は、絶縁膜14上に形成された収束電極本体部21、並びに、誘電体材料層22、誘電体材料層22の上面に形成された対向電極23、及び、誘電体材料層22の下面に形成された金属層24の積層構造体20Aから構成されている。積層構造体20Aの模式的な平面図を図22に示す。収束電極本体部21はアルミニウム(Al)から成り、誘電体材料層22はSiO2から成り、対向電極23はアルミニウム(Al)から成り、金属層24はアルミニウム(Al)から成る。そして、収束電極本体部21に金属層24が固着されている。具体的には、収束電極本体部21と金属層24とは溶着されている。収束電極本体部21に金属層24を固着させる前の、積層構造体20Aの一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図を、図23の(A)に模式的に示す。
【0157】
このような積層構造体20Aは、金属層24上にCVD法に基づき誘電体材料層22を形成し、更に、その上に真空蒸着法に基づき対向電極23を形成した後、ドライエッチング法に基づき第1開口部16を積層構造体20Aに設けることで作製することができる。
【0158】
(実施の形態5)
実施の形態5は、実施の形態4の変形である。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極は、絶縁膜14上に形成された金属層24、並びに、誘電体材料層22、誘電体材料層22の上面に形成された対向電極23、及び、誘電体材料層22の下面に形成された収束電極本体部21の積層構造体20Bから構成されている。積層構造体20Bの模式的な平面図は図22に示したと同様である。収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23、金属層24を構成する材料は、実施の形態4と同様とすることができる。そして、金属層24に収束電極本体部21が固着されている。具体的には、収束電極本体部21と金属層24とは溶着されている。金属層24に収束電極本体部21を固着させる前の、積層構造体20Bの一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図を、図23の(B)に模式的に示す。このような積層構造体20Bは、実質的に、実施の形態4の積層構造体20Aと同様の方法で作製することができる。尚、最終的に得られる収束電極の構成は、実質的に、実施の形態4にて説明した収束電極の構造と同じである。
【0159】
(実施の形態6)
実施の形態6も、実施の形態4の変形である。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極は、絶縁膜14上に形成された対向電極23、並びに、誘電体材料層22、誘電体材料層22の上面に形成された収束電極本体部21、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層24の積層構造体20Cから構成されている。積層構造体20Cの模式的な平面図は図22に示したと同様である。収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23、金属層24を構成する材料は、実施の形態4と同様とすることができる。そして、対向電極23に金属層24が固着されている。具体的には、対向電極23と金属層24とは溶着されている。対向電極23に金属層24を固着させる前の、積層構造体20Cの一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図を、図24の(A)に模式的に示す。このような積層構造体20Cは、実質的に、実施の形態4の積層構造体20Aと同様の方法で作製することができる。
【0160】
(実施の形態7)
実施の形態7も、実施の形態4の変形である。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極は、絶縁膜14上に形成された金属層24、並びに、誘電体材料層22、誘電体材料層22の上面に形成された収束電極本体部21、及び、誘電体材料層の下面に形成された対向電極23の積層構造体20Dから構成されている。積層構造体20Dの模式的な平面図は図22に示したと同様である。収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23、金属層24を構成する材料は、実施の形態4と同様とすることができる。そして、金属層24に対向電極23が固着されている。具体的には、対向電極23と金属層24とは溶着されている。金属層24に対向電極23を固着させる前の、積層構造体20Dの一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図を、図24の(B)に模式的に示す。このような積層構造体20Dは、実質的に、実施の形態4の積層構造体20Aと同様の方法で作製することができる。尚、最終的に得られる収束電極の構成は、実質的に、実施の形態6にて説明した収束電極の構造と同じである。
【0161】
(実施の形態8)
実施の形態8も、実施の形態4の変形である。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極は、誘電体材料層22、誘電体材料層22の上面に形成された対向電極23、及び、誘電体材料層22の下面に形成された収束電極本体部21の積層構造体20Eから成り、収束電極本体部21は絶縁膜14に固着されている。具体的には、クロムから成る密着層によって、収束電極本体部21は絶縁膜14に固定されている。積層構造体20Eの模式的な平面図は図22に示したと同様である。収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23を構成する材料は、実施の形態4と同様とすることができる。絶縁膜14に収束電極本体部21を固着させる前の、積層構造体20Eの一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図を、図25の(A)に模式的に示す。このような積層構造体20Eは、実質的に、実施の形態4の積層構造体20Aと同様の方法で作製することができる。
【0162】
(実施の形態9)
実施の形態9も、実施の形態4の変形である。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極は、誘電体材料層22、誘電体材料層22の上面に形成された収束電極本体部21、及び、誘電体材料層22の下面に形成された対向電極23の積層構造体20Fから成り、対向電極23は絶縁膜14に固着されている。具体的には、クロムから成る密着層によって、対向電極23は絶縁膜14に固定されている。積層構造体20Fの模式的な平面図は図22に示したと同様である。収束電極本体部21、誘電体材料層22、対向電極23を構成する材料は、実施の形態4と同様とすることができる。絶縁膜14に対向電極23を固着させる前の、積層構造体20Fの一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図を、図25の(B)に模式的に示す。このような積層構造体20Fは、実質的に、実施の形態4の積層構造体20Aと同様の方法で作製することができる。
【0163】
(実施の形態10)
実施の形態10は、実施の形態3の変形である。この表示装置を構成する表示用パネルにあっては、収束電極20’は、図26の一部端面図に示すように、絶縁膜14上に形成された対向電極23、対向電極23の頂面及び側面を被覆する誘電体材料層22、及び、誘電体材料層22の上に形成された収束電極本体部21から成る。このような収束電極20’は、例えば、実施の形態3の[工程−320]において、絶縁膜14上に対向電極23を構成する導電材料層をスパッタリング法で形成した後、かかる導電材料層をパターニングして対向電極23を形成し、次いで、全面に誘電体材料層22をスパッタリング法で形成した後、誘電体材料層22をパターニングし、更に、全面に収束電極本体部21を構成する導電材料層をスパッタリング法にて形成した後、かかる導電材料層をパターニングして収束電極本体部21を形成することで、得ることができる。このような構造にすることで、対向電極23の電位が電子の軌道に影響を及ぼさず、電子の軌道が乱されることがない。
【0164】
以上、本発明を、発明の実施の形態に基づき説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。発明の実施の形態にて説明したアノードパネルやカソードパネル、表示装置や電界放出素子、収束電極の構成、構造は例示であり、適宜変更することができるし、アノードパネルやカソードパネル、表示装置や電界放出素子、収束電極の製造方法も例示であり、適宜変更することができる。更には、アノードパネルやカソードパネル、収束電極の製造、形成において使用した各種材料も例示であり、適宜変更することができる。表示装置においては、専らカラー表示を例にとり説明したが、単色表示とすることもできる。
【0165】
実施の形態1あるいは実施の形態2にて説明した本発明の第1Bの態様に係る表示装置において、収束電極15の代わりに、以下に説明する収束電極とすることもできる。即ち、例えば、厚さ数十μmの42%Ni−Feアロイから成る金属板の両面に、例えばSiO2から成る絶縁膜を形成した後、各画素に対応した領域にパンチングやエッチングすることによって第1開口部を形成する。そして、カソードパネル、金属板、アノードパネルを積み重ね、両パネルの外周部に枠体を配置し、加熱処理を施すことによって、金属板の一方の面に形成された絶縁膜と絶縁層12とを接着させ、金属板の他方の面に形成された絶縁膜とアノードパネルとを接着し、これらの部材を一体化させ、その後、真空封入することで、表示装置を完成させることもできる。
【0166】
扁平型電界放出素子の変形例の模式的な一部断面図を、図27の(A)に示す。この扁平型電界放出素子は、例えばガラスから成る支持体10上に形成されたストライプ状のカソード電極11、支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12、絶縁層12上に形成されたストライプ状のゲート電極13、絶縁層12及びゲート電極13上に形成された絶縁膜14、絶縁膜14上に形成された収束電極15、収束電極15及び絶縁膜14に設けられた第1開口部16、ゲート電極13に設けられ、第1開口部16と連通した第2開口部17、絶縁層12に設けられ、第2開口部17に連通した第3開口部18、並びに、第3開口部18の底部に位置するカソード電極11の部分の上に設けられた扁平の電子放出部(電子放出層19B)から成る。ここで、電子放出層19Bは、図面の紙面垂直方向に延びたストライプ状のカソード電極11上に形成されている。また、ゲート電極13は、図面の紙面左右方向に延びている。カソード電極11、ゲート電極13及び収束電極15はクロムから成り、絶縁層12、絶縁膜14はSiO2から成る。電子放出層19Bは、具体的には、グラファイト粉末から成る薄層から構成されている。図27の(A)に示した扁平型電界放出素子においては、カソード電極11の表面の全域に亙って、電子放出層19Bが形成されているが、このような構造に限定するものではなく、要は、少なくとも第3開口部18の底部に電子放出層19Bが設けられていればよい。
【0167】
平面型電界放出素子の模式的な一部断面図を、図27の(B)に示す。この平面型電界放出素子は、例えばガラスから成る支持体10上に形成されたストライプ状のカソード電極11、支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12、絶縁層12上に形成されたストライプ状のゲート電極13、絶縁層12及びゲート電極13上に形成された絶縁膜14、絶縁膜14上に形成された収束電極15、収束電極15及び絶縁膜14に設けられた第1開口部16、ゲート電極13に設けられ、第1開口部16と連通した第2開口部17、絶縁層12に設けられ、第2開口部17に連通した第3開口部18から成る。第3開口部18の底部にはカソード電極11が露出している。カソード電極11は、図面の紙面垂直方向に延び、ゲート電極13は、図面の紙面左右方向に延びている。カソード電極11、ゲート電極13、及び、収束電極15はクロム(Cr)から成り、絶縁層12、絶縁膜14はSiO2から成る。ここで、第3開口部18の底部に露出したカソード電極11の部分が電子放出部19Cに相当する。
【0168】
図27の(A)及び(B)に図示した電界放出素子においては、収束電極の構造を実施の形態1にて説明した収束電極の構造と同じとしたが、収束電極の構造を、本発明の第1Bの態様に係る表示装置における収束電極の構造、本発明の第2Aの態様あるいは第2Bの態様に係る表示装置における収束電極(実施の形態3〜実施の形態10)の構造とすることもできる。
【0169】
アノード電極は、有効領域を1枚のシート状の導電材料で被覆した形式のアノード電極としてもよいし、1又は複数の電子放出部、あるいは、1又は複数の画素に対応するアノード電極ユニットが集合した形式のアノード電極としてもよい。アノード電極が前者の構成の場合、かかるアノード電極をアノード電極制御回路に接続すればよいし、アノード電極が後者の構成の場合、例えば、各アノード電極ユニットをアノード電極制御回路に接続すればよい。
【0170】
また、電界放出素子においては、専ら1つの開口部に1つの電子放出部が対応する形態を説明したが、電界放出素子の構造に依っては、1つの開口部に複数の電子放出部が対応した形態、あるいは、複数の開口部に1つの電子放出部が対応する形態とすることもできる。あるいは又、ゲート電極に複数の第2開口部を設け、絶縁層にかかる複数の第2開口部に連通した複数の第3開口部を設け、1又は複数の電子放出部を設ける形態とすることもできる。
【0171】
ゲート電極を、有効領域を1枚のシート状の導電材料(第2開口部を有する)で被覆した形式のゲート電極とすることもできる。この場合には、かかるゲート電極に正の電圧(例えば160ボルト)を印加する。そして、各画素を構成する電子放出部とカソード電極制御回路との間に、例えば、TFTから成るスイッチング素子を設け、かかるスイッチング素子の作動によって、各画素を構成する電子放出部への印加状態を制御し、画素の発光状態を制御する。
【0172】
あるいは又、カソード電極を、有効領域を1枚のシート状の導電材料で被覆した形式のカソード電極とすることもできる。この場合には、かかるカソード電極に電圧(例えば0ボルト)を印加する。そして、各画素を構成する電子放出部とゲート電極制御回路との間に、例えば、TFTから成るスイッチング素子を設け、かかるスイッチング素子の作動によって、各画素を構成する電子放出部への印加状態を制御し、画素の発光状態を制御する。
【0173】
アノード電極や収束電極に突起が存在すると、かかる突起から放電が発生し易くなる。従って、このような突起を、表示用パネルの組立後、除去することが望ましい。突起の除去のためには、収束電極を接地し、アノード電極に高電圧を印加することで、アノード電極に存在する突起を電界蒸発させる方法を採用することが望ましい。また、アノード電極を接地し、収束電極に高電圧を印加することで、収束電極に存在する突起を電界蒸発させる方法を採用することが望ましい。ここで、電界蒸発とは、突起に強い正電圧をかけると、突起の表面の原子が正イオンとなって蒸発する現象を指し、表面の原子が強い電場によってイオン化され、真空空間中に飛び出すために起こる。このような処理をノッキング処理と呼ぶ。ノッキング処理にあっては、収束電極に異常電流が流れ、収束電極の電位が上昇する場合があるが、本発明を採用することによって、ノッキング処理時における収束電極の電位の過度の上昇を抑制することができる。
【0174】
【発明の効果】
本発明においては、収束電極と収束電極制御回路との間にコンデンサが備えられ、あるいは又、収束電極それ自体がコンデンサとしても機能する。従って、アノード電極と収束電極との間に放電が発生しても、放電に起因した電流がこれらのコンデンサを流れるが故に、収束電極の電位が異常に上昇することを確実に抑制することができる。その結果、アノード電極や電界放出素子に損傷が発生することを防止することができるし、カソード電極制御回路、収束電極制御回路、ゲート電極制御回路に損傷が発生することも防止することができ、冷陰極電界電子放出表示装置の長寿命化を達成することができる。また、表示品質が損なわれることがなくなり、表示品質の安定化を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図である。
【図2】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、収束電極とアノード電極との間で異常放電が発生したときの等価回路である。
【図3】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、コンデンサCの容量を1nFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図4】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、コンデンサCの容量を10nFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図5】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、コンデンサCの容量を50nFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図6】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量CAFを60pFと仮定し、コンデンサの値を20CAFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図7】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量CAFを60pFと仮定し、コンデンサの値を100CAFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図8】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量CAFを60pFと仮定し、コンデンサの値を1000CAFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図9】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量CAFを600pFと仮定し、コンデンサの値を20CAFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図10】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量CAFを600pFと仮定し、コンデンサの値を100CAFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図11】発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置において、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量CAFを600pFと仮定し、コンデンサの値を1000CAFとしたときの、図2の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【図12】図12の(A)及び(B)は、発明の実施の形態1におけるスピント型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。
【図13】図13の(A)及び(B)は、図12の(B)に引き続き、発明の実施の形態1におけるスピント型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。
【図14】図14は、発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置を構成する電子放出領域を上から眺めた模式図である。
【図15】図15は、発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置を構成する電子放出領域の変形例を示す図である。
【図16】図16は、図15に示した発明の実施の形態1の冷陰極電界電子放出表示装置を構成する電子放出領域の変形例を上から眺めた模式図である。
【図17】図17の(A)及び(B)は、発明の実施の形態2における扁平型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。
【図18】図18の(A)及び(B)は、図17の(B)に引き続き、発明の実施の形態2における扁平型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。
【図19】図19は、発明の実施の形態3の冷陰極電界電子放出表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図である。
【図20】図20の(A)及び(B)は、発明の実施の形態3におけるスピント型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。
【図21】図21の(A)及び(B)は、図20の(B)に引き続き、発明の実施の形態3におけるスピント型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。
【図22】図22は、発明の実施の形態4における積層構造体の模式的な平面図である。
【図23】図23の(A)及び(B)は、それぞれ、発明の実施の形態4において、収束電極本体部に金属層を固着させる前の積層構造体の一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図、並びに、発明の実施の形態5において、金属層に収束電極本体部を固着させる前の積層構造体の一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図である。
【図24】図24の(A)及び(B)は、それぞれ、発明の実施の形態6において、対向電極に金属層を固着させる前の積層構造体の一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図、並びに、発明の実施の形態7において、金属層に対向電極を固着させる前の積層構造体の一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図である。
【図25】図25の(A)及び(B)は、それぞれ、発明の実施の形態8において、絶縁膜に収束電極本体部を固着させる前の積層構造体の一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図、並びに、発明の実施の形態9において、絶縁膜に対向電極を固着させる前の積層構造体の一部断面及び電界放出素子の一部端面を示す図である。
【図26】発明の実施の形態10における冷陰極電界電子放出素子の模式的な一部端面図である。
【図27】図27の(A)及び(B)は、それぞれ、発明の実施の形態2とは異なる扁平型冷陰極電界電子放出素子の模式的な一部断面図、及び、平面型冷陰極電界電子放出素子の模式的な一部断面図である。
【図28】図28は、従来の冷陰極電界電子放出素子を備えた冷陰極電界電子放出表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図である。
【図29】図29は、従来の冷陰極電界電子放出素子を備えた冷陰極電界電子放出表示装置の表示用パネルにおけるカソードパネルとアノードパネルを分解したときのカソードパネルの模式的な部分的斜視図である。
【図30】図30は、従来の収束電極を有する冷陰極電界電子放出素子を備えた冷陰極電界電子放出表示装置を構成する表示用パネルの模式的な一部端面図である。
【図31】図31は、従来の収束電極を備えた冷陰極電界電子放出素子を備えた表示用パネルにおいて、収束電極とアノード電極との間で異常放電が発生したときの等価回路である。
【図32】図31の点「A」における電位の変化のシミュレーション結果を示すグラフである。
【符号の説明】
CP・・・カソードパネル、AP・・・アノードパネル、EA・・・電子放出領域、C・・・コンデンサ、R・・・抵抗素子、10・・・支持体、11・・・カソード電極、12・・・絶縁層、13・・・ゲート電極、14・・・絶縁膜、15,20,20’・・・収束電極、16・・・第1開口部、17・・・第2開口部、18・・・第3開口部、19,19A,19B,19C・・・電子放出部、20A,20B,20C,20D,20E,20F・・・積層構造体、21・・・収束電極本体部、22・・・誘電体材料層、23・・・対向電極、24・・・金属層、30・・・基板、31,31R,31G,31B・・・蛍光体層、32・・・ブラックマトリックス、33・・・隔壁、34・・・アノード電極、35・・・枠体、40・・・カソード電極制御回路、41・・・収束電極制御回路、41A・・・第1電圧出力部、41B・・・第2電圧出力部、42・・・ゲート電極制御回路、43・・・アノード電極制御回路、50・・・剥離層、51・・・導電材料層、52・・・マトリックス、53・・・カーボン・ナノチューブ、54・・・マスク材料層
Claims (34)
- (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で枠体を介して接合されて成り、表示部分として機能する有効領域、及び、該有効領域を包囲する無効領域を備えた表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、
(C)抵抗素子、及び、
(D)コンデンサ、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
収束電極は、更に、コンデンサを介して収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
コンデンサは、前記無効領域に配置され、又は、前記枠体の外側の表示用パネルの部分に配置され、又は、収束電極制御回路内に配置されており、
コンデンサの容量をC C 、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量をC AF としたとき、C C >20C AF を満足することを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で枠体を介して接合されて成り、表示部分として機能する有効領域、及び、該有効領域を包囲する無効領域を備えた表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、
(C)抵抗素子、及び、
(D)コンデンサ、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
収束電極は、更に、コンデンサを介して収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
コンデンサは、前記無効領域に配置され、又は、前記枠体の外側の表示用パネルの部分に配置され、又は、収束電極制御回路内に配置されており、
コンデンサの容量C C は、2nF乃至1μFであることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には複数の第1開口部が形成されており、
1つの第2開口部が1つの第1開口部に連通していることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通していることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極制御回路の第1電圧出力部から出力される電圧をV1、収束電極制御回路の第2電圧出力部から出力される電圧をV2としたとき、V2<0、且つ、|V1|−|V2|<0であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- |V1|−|V2|の値は、−1×10ボルト乃至−1×103ボルトであることを特徴とする請求項5に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、
(C)抵抗素子、及び、
(D)コンデンサ、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
収束電極は、更に、コンデンサを介して収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
コンデンサの容量をCC、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量をCAFとしたとき、CC>20CAFを満足することを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、
(C)抵抗素子、及び、
(D)コンデンサ、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
収束電極は、更に、コンデンサを介して収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
コンデンサの容量CCは、2nF乃至1μFであることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には複数の第1開口部が形成されており、
1つの第2開口部が1つの第1開口部に連通していることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通していることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極制御回路の第1電圧出力部から出力される電圧をV1、収束電極制御回路の第2電圧出力部から出力される電圧をV2としたとき、V2<0、且つ、|V1|−|V2|<0であることを特徴とする請求項7乃至請求項10のいずれか1項に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- |V1|−|V2|の値は、−1×10ボルト乃至−1×103ボルトであることを特徴とする請求項11に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通しており、
収束電極は、
絶縁膜上に形成された収束電極本体部、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層の積層構造体、
から構成され、
収束電極本体部に金属層が固着されていることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通しており、
収束電極は、
絶縁膜上に形成された金属層、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された収束電極本体部の積層構造体、
から構成され、
金属層に収束電極本体部が固着されていることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通しており、
収束電極は、
絶縁膜上に形成された対向電極、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層の積層構造体、
から構成され、
対向電極に金属層が固着されていることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通しており、
収束電極は、
絶縁膜上に形成された金属層、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された対向電極の積層構造体、
から構成され、
金属層に対向電極が固着されていることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通しており、
収束電極は、絶縁膜上に形成された対向電極、対向電極の頂面及び側面を被覆する誘電体材料層、及び、誘電体材料層の上に形成された収束電極本体部から成ることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極制御回路の第1電圧出力部から出力される電圧をV1、収束電極制御回路の第2電圧出力部から出力される電圧をV2としたとき、V2<0、且つ、|V1|−|V2|<0であることを特徴とする請求項13乃至請求項17のいずれか1項に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- |V1|−|V2|の値は、−1×10ボルト乃至−1×103ボルトであることを特徴とする請求項18に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- 収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによって形成されたコンデンサの容量をCC、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量をCAFとしたとき、CC>20CAFを満足することを特徴とする請求項13乃至請求項17のいずれか1項に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- 収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによって形成されたコンデンサの容量CCは、2nF乃至1μFであることを特徴とする請求項13乃至請求項17のいずれか1項に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによって形成されたコンデンサの容量をCC、アノード電極と収束電極とに基づく静電容量をCAFとしたとき、CC>20CAFを満足することを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - (A)電子放出領域を、複数、備えたカソードパネルと、蛍光体層及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが、それらの周縁部で接合されて成る表示用パネル、
(B)収束電極制御回路、及び、
(C)抵抗素子、
を少なくとも備えた冷陰極電界電子放出表示装置であって、
電子放出領域は、
(a)支持体上に形成され、第1の方向に延びるカソード電極と、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層と、
(c)絶縁層上に形成され、第1の方向とは異なる第2の方向に延びるゲート電極と、
(d)絶縁層及びゲート電極上に形成された絶縁膜と、
(e)絶縁膜上に設けられた収束電極と、
(f)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜に形成された第1開口部と、
(g)カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置するゲート電極の部分に形成され、第1開口部と連通した複数の第2開口部と、
(h)絶縁層に形成され、第2開口部と連通した第3開口部と、
(i)第3開口部の底部に露出した電子放出部、
から成り、
収束電極は、収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とが積層された構造を有し、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによってコンデンサが形成され、
収束電極本体部は、抵抗素子を介して収束電極制御回路の第1電圧出力部に接続されており、
対向電極は、収束電極制御回路の第2電圧出力部に接続されており、
収束電極本体部と誘電体材料層と対向電極とによって形成されたコンデンサの容量CCは、2nF乃至1μFであることを特徴とする冷陰極電界電子放出表示装置。 - カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には複数の第1開口部が形成されており、
1つの第2開口部が1つの第1開口部に連通していることを特徴とする請求項22又は請求項23に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - カソード電極とゲート電極の重複する領域に位置する収束電極の部分、及び、その下に位置する絶縁膜には1つの第1開口部が形成されており、
複数の第2開口部が1つの第1開口部に連通していることを特徴とする請求項22又は請求項23に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、
絶縁膜上に形成された収束電極本体部、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層の積層構造体、
から構成され、
収束電極本体部に金属層が固着されていることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、
絶縁膜上に形成された金属層、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された収束電極本体部の積層構造体、
から構成され、
金属層に収束電極本体部が固着されていることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、
絶縁膜上に形成された対向電極、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された金属層の積層構造体、
から構成され、
対向電極に金属層が固着されていることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、
絶縁膜上に形成された金属層、並びに、
誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された対向電極の積層構造体、
から構成され、
金属層に対向電極が固着されていることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された対向電極、及び、誘電体材料層の下面に形成された収束電極本体部の積層構造体から成り、
収束電極本体部は絶縁膜に固着されていることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、誘電体材料層、誘電体材料層の上面に形成された収束電極本体部、及び、誘電体材料層の下面に形成された対向電極の積層構造体から成り、
対向電極は絶縁膜に固着されていることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。 - 収束電極は、絶縁膜上に形成された対向電極、対向電極の頂面及び側面を被覆する誘電体材料層、及び、誘電体材料層の上に形成された収束電極本体部から成ることを特徴とする請求項25に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- 収束電極制御回路の第1電圧出力部から出力される電圧をV1、収束電極制御回路の第2電圧出力部から出力される電圧をV2としたとき、V2<0、且つ、|V1|−|V2|<0であることを特徴とする請求項22乃至請求項25のいずれか1項に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
- |V1|−|V2|の値は、−1×10ボルト乃至−1×103ボルトであることを特徴とする請求項33に記載の冷陰極電界電子放出表示装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002129606A JP3937907B2 (ja) | 2002-05-01 | 2002-05-01 | 冷陰極電界電子放出表示装置 |
PCT/JP2003/003800 WO2003094193A1 (fr) | 2002-05-01 | 2003-03-27 | Dispositif d'affichage par emission electronique a champ electrique a cathode froide |
US10/503,991 US7064493B2 (en) | 2002-05-01 | 2003-03-27 | Cold cathode electric field electron emission display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002129606A JP3937907B2 (ja) | 2002-05-01 | 2002-05-01 | 冷陰極電界電子放出表示装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003323854A JP2003323854A (ja) | 2003-11-14 |
JP2003323854A5 JP2003323854A5 (ja) | 2005-04-07 |
JP3937907B2 true JP3937907B2 (ja) | 2007-06-27 |
Family
ID=29397307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002129606A Expired - Fee Related JP3937907B2 (ja) | 2002-05-01 | 2002-05-01 | 冷陰極電界電子放出表示装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7064493B2 (ja) |
JP (1) | JP3937907B2 (ja) |
WO (1) | WO2003094193A1 (ja) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004273376A (ja) * | 2003-03-12 | 2004-09-30 | Sony Corp | 冷陰極電界電子放出表示装置 |
KR20050014430A (ko) * | 2003-07-31 | 2005-02-07 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판 표시소자의 전자 방출원 형성용 조성물 및 이로부터제조되는 전자 방출원 |
KR100548256B1 (ko) * | 2003-11-05 | 2006-02-02 | 엘지전자 주식회사 | 탄소 나노튜브 전계방출소자 및 구동 방법 |
KR101002648B1 (ko) * | 2003-11-26 | 2010-12-20 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판 디스플레이 장치 및 그 제조방법 |
KR101009977B1 (ko) * | 2004-01-29 | 2011-01-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계 방출 표시 소자 |
JP2005235655A (ja) * | 2004-02-20 | 2005-09-02 | Hitachi Displays Ltd | 画像表示装置 |
US6972512B2 (en) * | 2004-03-05 | 2005-12-06 | Teco Nanotech Co., Ltd | Field emission display with reflection layer |
KR20050104641A (ko) * | 2004-04-29 | 2005-11-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 표시장치 |
KR20050112818A (ko) * | 2004-05-28 | 2005-12-01 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자와 이의 제조 방법 |
KR101049822B1 (ko) * | 2004-08-30 | 2011-07-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자 |
KR20060089841A (ko) * | 2005-02-04 | 2006-08-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계방출소자 및 그 제조방법 |
KR20060104652A (ko) * | 2005-03-31 | 2006-10-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자 |
KR20060104657A (ko) * | 2005-03-31 | 2006-10-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자 |
TWI259500B (en) * | 2005-04-20 | 2006-08-01 | Ind Tech Res Inst | Quadrupole field emission display |
JP4449835B2 (ja) * | 2005-06-27 | 2010-04-14 | ソニー株式会社 | 平面型表示装置用のアノードパネルの製造方法 |
KR101107134B1 (ko) * | 2005-08-26 | 2012-01-31 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 소자, 전자 방출 디바이스 및 그 제조 방법 |
EP1777690B1 (en) * | 2005-10-18 | 2012-08-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
KR20070046670A (ko) * | 2005-10-31 | 2007-05-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 디바이스 및 이를 구비한 전자 방출 표시디바이스 |
KR20070046650A (ko) * | 2005-10-31 | 2007-05-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 디바이스 |
KR20070051049A (ko) * | 2005-11-14 | 2007-05-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 표시 디바이스 |
CN101097823B (zh) * | 2006-06-30 | 2011-01-05 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 微型场发射电子器件 |
US20110057164A1 (en) | 2007-06-18 | 2011-03-10 | California Institute Of Technology | Carbon nanotube field emission device with overhanging gate |
US20100285715A1 (en) * | 2009-05-08 | 2010-11-11 | Yuan-Yao Li | Method of manufacturing carbon nanotube (cnt) field emission source |
JP2012222323A (ja) * | 2011-04-14 | 2012-11-12 | Canon Inc | 貫通孔基板及びその製造方法 |
US8866068B2 (en) | 2012-12-27 | 2014-10-21 | Schlumberger Technology Corporation | Ion source with cathode having an array of nano-sized projections |
US9362078B2 (en) | 2012-12-27 | 2016-06-07 | Schlumberger Technology Corporation | Ion source using field emitter array cathode and electromagnetic confinement |
US20140183349A1 (en) * | 2012-12-27 | 2014-07-03 | Schlumberger Technology Corporation | Ion source using spindt cathode and electromagnetic confinement |
CN104064439A (zh) * | 2013-03-22 | 2014-09-24 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 一种场发射平面光源及其制备方法 |
CN104064432A (zh) * | 2013-03-22 | 2014-09-24 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 一种场发射平面光源及其制备方法 |
CN104064437A (zh) * | 2013-03-22 | 2014-09-24 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 一种场发射平面光源及其制备方法 |
CN104064431A (zh) * | 2013-03-22 | 2014-09-24 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 一种场发射平面光源及其制备方法 |
CN104064440A (zh) * | 2013-03-22 | 2014-09-24 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 一种场发射平面光源及其制备方法 |
JP6181963B2 (ja) * | 2013-04-22 | 2017-08-16 | シャープ株式会社 | 電子放出素子 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3064077B2 (ja) * | 1991-12-25 | 2000-07-12 | 京セラ株式会社 | 複合インプラント部材 |
JPH0612974A (ja) * | 1992-06-29 | 1994-01-21 | Shimadzu Corp | 電子放出素子 |
JP3168795B2 (ja) | 1993-11-05 | 2001-05-21 | 双葉電子工業株式会社 | 表示装置 |
JP2832919B2 (ja) | 1993-12-22 | 1998-12-09 | 双葉電子工業株式会社 | 電界放出素子を用いた表示装置 |
JP2001229805A (ja) * | 2000-02-15 | 2001-08-24 | Futaba Corp | 電界放出カソードならびに電界放出型表示装置 |
JP4670137B2 (ja) | 2000-03-10 | 2011-04-13 | ソニー株式会社 | 平面型表示装置 |
US6873118B2 (en) * | 2002-04-16 | 2005-03-29 | Sony Corporation | Field emission cathode structure using perforated gate |
US6791278B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-09-14 | Sony Corporation | Field emission display using line cathode structure |
-
2002
- 2002-05-01 JP JP2002129606A patent/JP3937907B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-03-27 US US10/503,991 patent/US7064493B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-27 WO PCT/JP2003/003800 patent/WO2003094193A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003323854A (ja) | 2003-11-14 |
US20050082964A1 (en) | 2005-04-21 |
WO2003094193A1 (fr) | 2003-11-13 |
US7064493B2 (en) | 2006-06-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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