JP3878023B2 - 三次元計測装置 - Google Patents
三次元計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3878023B2 JP3878023B2 JP2002026096A JP2002026096A JP3878023B2 JP 3878023 B2 JP3878023 B2 JP 3878023B2 JP 2002026096 A JP2002026096 A JP 2002026096A JP 2002026096 A JP2002026096 A JP 2002026096A JP 3878023 B2 JP3878023 B2 JP 3878023B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measurement object
- measurement
- component
- imaging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/245—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3485—Applying solder paste, slurry or powder
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定対象物の三次元形状等を位相シフト法を用いて計測する三次元計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、プリント基板上に電子部品を実装する場合、まずプリント基板上に配設された所定の電極パターン上にクリームハンダが印刷される。次に、該クリームハンダの粘性に基づいてプリント基板上に電子部品が仮止めされる。その後、前記プリント基板がリフロー炉へ導かれ、所定のリフロー工程を経ることでハンダ付けが行われる。昨今では、リフロー炉に導かれる前段階においてクリームハンダの印刷状態を検査する必要があり、かかる検査に際して三次元計測装置が用いられることがある。
【0003】
近年、光を用いたいわゆる非接触式の三次元計測装置が種々提案されており、中でも位相シフト法を用いた三次元計測装置に関する技術が提案されている(特開平11−211443号公報、特許第2711042号等)。
【0004】
上記技術における三次元計測装置においては、CCDカメラが用いられる。すなわち、光源と正弦波パターンのフィルタとの組み合わせからなる照射手段により、縞状の光強度分布を有する光パターンを測定物体(この場合プリント基板)に照射する。そして、基板上の点を真上に配置したCCDカメラを用いて観測する。この場合、画面上の点Pの光の強度Iは下式で与えられる。
【0005】
I=e+f・cosφ [但し、e:直流光ノイズ(オフセット成分)、f:正弦波のコントラスト(反射率)、φ:物体の凹凸により与えられる位相]
このとき、光パターンを移動させて、位相を4段階(φ+0、φ+π/2、φ+π、φ+3π/2)に変化させ、これらに対応する強度分布I0、I1、I2、I3をもつ画像を取り込み、下記式に基づいて位置情報θを求める。
【0006】
θ=arctan{(I3−I1)/(I0−I2)}
この位置情報θを用いて、プリント基板(クリームハンダ)上の点Pの3次元座標(X,Y,Z)が求められ、もってクリームハンダの三次元形状、特に高さが計測される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記技術における三次元計測装置においては、位相を4段階に変化させ、各段階に対応する強度分布をもつ4通りの画像を取得する必要がある。つまり、位相を変化させる度に撮像を行わなければならず、結果として1つのポイントに関し撮像を4回行う必要がある。このため、撮像に時間を要することとなり、ひいては、計測開始から終了までの時間が長いものとなってしまうおそれがある。
【0008】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、計測対象物の三次元形状を位相シフト法を用いて計測するに際し、計測に要する時間の短縮を図ることの可能な三次元計測装置を提供することを主たる目的の一つとしている。
【0009】
【課題を解決するための手段及びその効果】
上記目的を達成し得る特徴的手段について以下に説明する。また、各手段につき、特徴的な作用及び効果を必要に応じて記載する。
【0010】
手段1.計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、略均一に照射可能な均一光照明と、少なくとも前記計測対象物に対し、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも2つの光成分パターンを同時に照射可能な照射手段と、前記均一光の照射された計測対象物及びその周囲の非計測対象物からの反射光を撮像可能、かつ、少なくとも前記光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光を各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、前記撮像手段にて撮像された均一光による画像データに基づき、前記計測対象物の存在する領域を抽出する領域抽出手段と、前記撮像手段にて光成分毎に撮像された少なくとも2通りの画像データに基づき、少なくとも前記領域抽出手段にて存在領域の抽出された計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。
【0011】
手段1によれば、計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、均一光照明によって、略均一光が照射される。そして、前記略均一光の照射された計測対象物及びその周囲の非計測対象物からの反射光が、撮像手段によって撮像されることで、画像データが得られる。該画像データに基づき、領域抽出手段によって、計測対象物の存在する領域が抽出される。この場合、計測対象物と非計測対象物との反射の程度の相違により、計測対象物の領域を確実に特定することができる。また、少なくとも計測対象物に対し、照射手段によって、少なくとも2つの光成分パターンが同時に照射される。ここで、各光成分パターンは、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係が異なっている。そして、光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光が、撮像手段によって各光成分毎に分離されて撮像される。さらに、前記異なる相対位相関係下において撮像手段にて撮像された少なくとも2通りの画像データに基づき、演算手段では、少なくとも前記計測対象物の所定の高さが演算される。従って、相対位相関係を異ならせる毎に撮像を行う必要があった従来技術とは異なり、各光成分毎に、異なる相対位相関係下毎に、まとめて撮像を行うことができる。このため、1つのポイントに関し照射及び撮像に要する時間が著しく短縮が図られることとなり、もって、計測に要する時間の飛躍的な短縮を図ることができる。併せて、演算に際しては、既に計測対象物の領域が抽出、特定されている。従って、非計測対象物を考慮した補正演算等を行う必要がない。その結果、演算の簡素化や、補正のための設備の大型化、複雑化の防止等を図ることができる。
【0012】
手段2.前記均一光照明は、白色光を照射可能な白色光照明であることを特徴とする手段1に記載の三次元計測装置。
【0013】
手段2によれば、白色光照明を用いることにより、計測対象物と非計測対象物とに異なる着色がされていれば、反射光の相違が、輝度だけでなく、色差についても表れやすい。従って、領域抽出手段によって計測対象物の存在する領域を抽出する際に、計測対象物と非計測対象物との反射光の輝度の相違によっても、色差の相違によっても、計測対象物の領域を確実に特定することができる。
【0014】
手段3.計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、白色光を照射可能な白色光照明と、少なくとも前記計測対象物に対し、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも3つの光成分パターンを同時に照射可能な照射手段と、前記白色光の照射された計測対象物及びその周囲の非計測対象物からの反射光を撮像可能、かつ、少なくとも前記光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光を各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、前記撮像手段にて撮像された白色光による画像データに基づき、前記計測対象物の存在する領域を抽出する領域抽出手段と、前記撮像手段にて光成分毎に撮像された少なくとも3通りの画像データに基づき、位相シフト法により少なくとも前記領域抽出手段にて存在領域の抽出された計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。
【0015】
手段3によれば、計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、白色光照明によって、白色光が照射される。そして、前記白色光の照射された計測対象物及びその周囲の非計測対象物からの反射光が、撮像手段によって撮像されることで、画像データが得られる。該画像データに基づき、領域抽出手段によって、計測対象物の存在する領域が抽出される。この場合、計測対象物と非計測対象物との反射の程度の相違により、計測対象物の領域を確実に特定することができる。また、少なくとも計測対象物に対し、照射手段によって、複数の光成分パターンが同時に照射される。ここで、各光成分パターンは、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係が異なっている。そして、光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光が、撮像手段によって各光成分毎に分離されて撮像される。さらに、前記異なる相対位相関係下において撮像手段にて撮像された複数通りの画像データに基づき、演算手段では、位相シフト法により少なくとも前記計測対象物の所定の高さが演算される。従って、相対位相関係を異ならせる毎に撮像を行う必要があった従来技術とは異なり、各光成分毎に、異なる相対位相関係下毎に、まとめて撮像を行うことができる。このため、1つのポイントに関し照射及び撮像に要する時間が著しく短縮が図られることとなり、もって、計測に要する時間の飛躍的な短縮を図ることができる。併せて、演算に際しては、既に計測対象物の領域が抽出、特定されている。従って、非計測対象物を考慮した補正演算等を行う必要がない。その結果、演算の簡素化や、補正のための設備の大型化、複雑化の防止等を図ることができる。
【0016】
手段4.前記領域抽出手段は、前記計測対象物と前記非計測対象物との輝度の差に基づいて、前記計測対象物の存在する領域を抽出することを特徴とする手段1乃至3のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0017】
手段4によれば、計測対象物の存在する領域が、領域抽出手段によって、画像データから計測対象物と非計測対象物との輝度の差に基づいて抽出される。このため、計測対象物や非計測対象物の表面の色に関わらず、輝度を比較するだけの比較的容易な処理によって、領域を抽出することができる。
【0018】
手段5.前記白色光照明による前記計測対象物及び前記非計測対象物への照射方向は、前記撮像手段による前記計測対象物及び前記非計測対象物の撮像方向と角度が異なることを特徴とする手段4に記載の三次元計測装置。
【0019】
手段5によれば、計測対象物及び非計測対象物に対する照射方向と撮像方向とで角度が異なる。従って、照射された白色光の反射角度が、照射されたものの表面状態等によって異なることとなる。このため、撮像手段で撮像される反射光の輝度が、計測対象物と非計測対象物とで異なることを利用して、より確実に計測対象物の存在する領域を抽出することができる。
【0020】
手段6.前記領域抽出手段は、前記計測対象物と非計測対象物との色差に基づいて、前記計測対象物の存在する領域を抽出することを特徴とする手段1乃至3のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0021】
手段6によれば、計測対象物の存在する領域が、領域抽出手段によって、画像データから計測対象物と非計測対象物との色差に基づいて抽出される。このため、計測対象物や非計測対象物の表面の色を比較するだけの比較的容易な処理によって、領域を抽出することができる。
【0022】
手段7.前記照射手段は、少なくとも3つの光成分パターンを同時に照射可能であり、前記演算手段は、3通りの画像データに基づいて演算するものであって、前記互いに異なる相対位相関係をそれぞれα,0,βとしたとき、前記演算手段は、前記3通りの画像データから得られる計測部の輝度をそれぞれ同一振幅及び同一オフセット成分に換算したV0,V1,V2、及び、下記式(1)により位置情報θを求め、該位置情報θに基づき前記所定の高さを演算するものであることを特徴とする手段1乃至6のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0023】
【数2】
【0024】
手段7のように、さほど複雑でない数式に基づいて位置情報θを求めることができ、該位置情報θに基づき前記所定の高さを演算することができる。そのため、3通りの画像データに基づいて計測対象物の所定の高さを求めるに際し、演算が複雑になってしまうことによる遅延が生じない。
【0025】
手段8.前記互いに異なる波長成分を有する3つの光成分パターンは、それぞれ、赤色、緑色、青色の光成分パターンであることを特徴とする手段7に記載の三次元計測装置。
【0026】
手段8によれば、波長域がオーバーラップしにくく、撮像手段において各光成分毎に比較的容易に分離できる。しかも、比較的容易に照射手段を構成することができる。
【0027】
手段9.前記照射手段は、光源からの光を、所定の波長成分について縞状に遮光するとともに残りの波長成分について透光を許容するフィルタ格子縞板を用いて、互いに相対位相関係の異なる各光成分パターンを同時に透光可能なフィルタ格子縞板機構を備えていることを特徴とする手段1乃至8のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0028】
手段9によれば、フィルタ格子縞板によって、所定の波長成分が縞状に遮光され、残りの波長成分が透光を許容される。このため、例えば複数のフィルタ格子縞板を組み合わせた場合には、各光成分のみが縞状に透光を許容される。また、縞状に透光された光成分は正弦波に近いパターンを形成し、該光成分パターンは、互いに相対位相関係が異なっている。従って、演算手段による計測対象物の所定の高さの演算がより正確に行われる。
【0029】
手段10.前記照射手段は、フィルタ格子縞板を備えており、
前記フィルタ格子縞板は、1枚の板によって構成され、光源からの光をそれぞれ所定の波長成分のみについて透光する領域が縞状に配列され、互いに相対位相関係の異なる各光成分パターンを同時に透光可能であることを特徴とする手段1乃至9のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0030】
手段10によれば、フィルタ格子縞板によって、所定の波長成分が縞状に透光される。このため、縞状に透光された所定の波長成分は、互いに相対位相関係が異なる正弦波に近い光成分パターンを形成する。従って、演算手段による計測対象物の所定の高さの演算がより正確に行われる。また、フィルタ格子縞板が1枚の板で構成されているため、照明手段を比較的容易に設計でき、コンパクト化、及び、コストの低減を図ることができる。
【0031】
手段11.前記照射手段は、3つの光成分パターンを同時に照射可能であり、前記フィルタ格子縞板は、互いに波長成分の異なる第1、第2、第3の波長成分について、第1の波長成分のみを透光する第1の領域と、第1及び第2の波長成分のみを透光する第2の領域と、第2及び第3の波長成分のみを透光する第3の領域と、第3の波長成分のみを透光する第4の領域とを順に縞状に配列した構成であることを特徴とする手段10に記載の三次元計測装置。
【0032】
手段11によれば、フィルタ格子縞板によって、各波長成分が、透光可能な縞状の領域が交互に繰り返される。このため、4種類の領域を構成するだけで、各波長成分毎に、互いに相対位相関係が異なる正弦波に近い光成分パターンを確実に形成できる。尚、互いに相対位相関係が異なる正弦波に近い光成分パターンを形成できれば、4種類以上の領域を構成するようにしてもよい。
【0033】
手段12.前記第1の領域は赤、前記第2の領域は黄、前記第3の領域はシアン、前記第4の領域は青に色分けされていることを特徴とする手段11に記載の三次元計測装置。
【0034】
手段12によれば、フィルタ格子縞板が、赤、黄、シアン、青の順に縞状に配列されている。このため、互いに異なる波長成分を有する3つの光成分パターンとして赤色、緑色、青色を透光できる。従って、波長域がオーバーラップしにくく、撮像手段において各光成分毎に比較的容易に分離できる。しかも、比較的容易に照射手段を構成することができる。
【0035】
手段13.計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、略均一な均一波長成分を有する光と、少なくとも縞状の光強度分布を有するとともに、互いに相対位相関係の異なる複数の所定波長成分を有する光成分パターンとを同時に照射可能な照射手段と、前記照射手段から照射された計測対象物からの反射光を、前記均一波長成分、及び、前記複数の所定波長成分の各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、前記撮像手段にて撮像された均一波長成分に対応する画像データに基づき、前記計測対象物の存在する領域を抽出する領域抽出手段と、前記撮像手段にて分離撮像された複数の所定波長成分に対応する画像データに基づき、少なくとも前記領域抽出手段にて存在領域の抽出された計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。
【0036】
手段13によれば、計測対象物に対し、照射手段によって、略均一な均一波長成分を有する光と、少なくとも縞状の光強度分布を有するとともに、互いに相対位相関係の異なる複数の所定波長成分を有する光成分パターンとが、同時に照射される。このため、1つの照射手段のみで、各光成分を照射可能でき、別途の照明を設けることによる装置の大型化を防止できる。また、撮像手段によって、均一波長成分、及び、複数の所定波長成分が各光成分毎に分離して撮像され、1回の撮像のみで各画像データが同時に得られる。そして、均一波長成分の画像データに基づき、領域抽出手段によって、計測対象物の存在する領域が抽出される。この場合、計測対象物と非計測対象物との反射の程度の相違により、計測対象物の領域を確実に特定することができる。前記撮像手段にて分離撮像された複数の所定波長成分に対応する画像データに基づき、演算手段では、少なくとも前記計測対象物の所定の高さが演算される。従って、相対位相関係を異ならせる毎に撮像を行う必要があった従来技術とは異なり、各光成分毎に、異なる相対位相関係下毎に、まとめて撮像を行うことができる。このため、1つのポイントに関し1回の照射及び撮像で、必要な画像データを得ることができる。従って、1つのポイントに要する時間が著しく短縮が図られることとなり、もって、計測に要する時間の飛躍的な短縮を図ることができる。併せて、演算に際しては、既に計測対象物の領域が抽出、特定されている。従って、非計測対象物を考慮した補正演算等を行う必要がない。その結果、演算の簡素化や、補正のための設備の大型化、複雑化の防止等を図ることができる。
【0037】
手段14.前記均一波長成分の波長領域と前記複数の所定波長成分の波長領域とが異なることを特徴とする手段13に記載の三次元計測装置。
【0038】
手段14によれば、前記均一波長成分の波長領域と前記複数の所定波長成分の波長領域とが異なるため、均一波長成分、及び、複数の所定波長成分が各光成分毎に確実に分離して撮像できる。
【0039】
手段15.前記光成分パターンは、略正弦波状の光強度分布を有することを特徴とする手段1乃至14のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0040】
手段15によれば、光成分パターンは、略正弦波状の光強度分布を有するため、より一層の計測精度の向上を図ることができる。
【0041】
手段16.前記計測対象物の高さの基準となる基準面の高さを測定する基準高さ測定手段を設けたことを特徴とする手段1乃至15のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0042】
手段16によれば、基準高さ測定手段によって、計測対象物の高さの基準となる基準面の高さが測定される。このため、3次元計測装置に対する計測対象物の高さ位置関係だけでなく、計測対象物自体の高さ(厚み)を測定することができる。
【0043】
手段17.前記計測対象物がプリント基板上に印刷されたクリームハンダであり、該クリームハンダの領域、高さから印刷状態の良否を判定する判定手段を設けたことを特徴とする手段1乃至16のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0044】
手段17によれば、プリント基板上に印刷されたクリームハンダの領域と高さが計測され、その計測値に基づいて良否判定が行われる。このため、クリームハンダの計測に際して上記各作用効果が奏され、しかも精度よく良否判定を行うことができる。
【0045】
手段18.前記計測対象物がプリント基板上に設けられたハンダバンプであり、該ハンダバンプの領域、高さからハンダバンプの形状の良否を判定する判定手段を設けたことを特徴とする手段1乃至16のいずれかに記載の三次元計測装置。
【0046】
手段18によれば、プリント基板上に設けられたハンダバンプの領域と高さが計測され、その計測値に基づいて良否判定が行われる。このため、ハンダバンプの計測に際して上記各作用効果が奏され、しかも精度よく良否判定を行うことができる。
【0047】
手段19.三次元計測装置に用いられるフィルタ格子縞板であって、1枚の板状体からなり、光源からの光を、所定の波長成分について縞状に遮光するとともに残りの波長成分について透光を許容し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも2つの光成分パターンを同時に透光可能なフィルタ格子縞板。
【0048】
手段19によれば、フィルタ格子縞板によって、所定の波長成分が縞状に透光される。このため、縞状に透光された所定の波長成分は、互いに相対位相関係が異なる正弦波に近い光成分パターンを形成する。また、1枚の板で少なくとも2つの光成分パターンを同時に透光できるため、三次元計測装置を比較的容易に設計でき、コンパクト化、及び、コストの低減を図ることができる。尚、前記三次元計測装置は、「手段1乃至18のいずれかに記載の三次元計測装置」としてもよい。
【0049】
手段20.前記フィルタ格子縞板は、3つの光成分パターンを同時に透光するものであって、互いに波長成分の異なる第1、第2、第3の波長成分について、第1及び第2の波長成分のみを透光する第1の領域と、第2及び第3の波長成分のみを透光する第2の領域とを順に縞状に配列した構成であることを特徴とする手段19に記載のフィルタ格子縞板。
【0050】
手段20のように、第1、第2の領域を順に配列することにより、第1、第3の波長成分が位相の異なる略正弦波状の光成分パターンとして透光できる。また、第2の波長成分は、格子縞全領域に渡って均一となり、縞状の光成分パターンに加えて、均一な光照射を同時に行うことが可能である。
【0051】
手段21.前記第1の領域は黄、前記第2の領域はシアンに色分けされていることを特徴とする手段20に記載のフィルタ格子縞板。
【0052】
手段21によれば、フィルタ格子縞板が、黄、シアンの順に縞状に配列されている。このため、互いに異なる波長成分を有する2つの光成分パターンとして赤色、青色を透光できる。従って、波長域がオーバーラップしにくい光成分パターンを透光できる。
【0053】
手段22.三次元計測装置に用いられるフィルタ格子縞板であって、1枚の板状体からなり、光源からの光を、所定の波長成分について縞状に遮光するとともに残りの波長成分について透光を許容し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも3つの光成分パターンを同時に透光可能なフィルタ格子縞板。
【0054】
手段22によれば、フィルタ格子縞板によって、所定の波長成分が縞状に透光される。このため、縞状に透光された所定の波長成分は、互いに相対位相関係が異なる正弦波に近い光成分パターンを形成する。また、1枚の板で少なくとも3つの光成分パターンを同時に透光できるため、三次元計測装置を比較的容易に設計でき、コンパクト化、及び、コストの低減を図ることができる。尚、前記三次元計測装置は、「手段1乃至18のいずれかに記載の三次元計測装置」としてもよい。
【0055】
手段23.前記フィルタ格子縞板は、3つの光成分パターンを同時に透光するものであって、互いに波長成分の異なる第1、第2、第3の波長成分について、第1の波長成分のみを透光する第1の領域と、第1及び第2の波長成分のみを透光する第2の領域と、第2及び第3の波長成分のみを透光する第3の領域と、第3の波長成分のみを透光する第4の領域とを順に縞状に配列した構成であることを特徴とする手段22に記載のフィルタ格子縞板。
【0056】
手段23のように、第1から第4の領域を順に配列することにより、第1、第2、第3の波長成分が位相の異なる略正弦波状の光成分パターンとして透光できる。
【0057】
手段24.前記第1の領域は赤、前記第2の領域は黄、前記第3の領域はシアン、前記第4の領域は青に色分けされていることを特徴とする手段23に記載のフィルタ格子縞板。
【0058】
手段24によれば、フィルタ格子縞板が、赤、黄、シアン、青の順に縞状に配列されている。このため、互いに異なる波長成分を有する3つの光成分パターンとして赤色、緑色、青色を透光できる。従って、波長域がオーバーラップしにくい光成分パターンを透光できる。
【0059】
手段25.前記手段17乃至24のいずれかに記載のフィルタ格子縞板を備えることを特徴とする三次元計測装置。
【0060】
手段25のように、フィルタ格子縞板を備えることよって、三次元計測装置が比較的容易に設計できる。
【0061】
手段26.前記手段17乃至24のいずれかに記載のフィルタ格子縞板を備えることを特徴とする照明手段。
【0062】
手段26のように、フィルタ格子縞板を備えることによって、互いに異なる波長成分を有する複数の光成分パターンを照射できる照明手段が比較的容易に設計できる。
【0063】
【発明の実施の形態】
以下、一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。図1は、本実施の形態における三次元計測装置を具備する印刷状態検査装置1を模式的に示す概略構成図である。同図に示すように、印刷状態検査装置1は、計測対象物としてのクリームハンダHの印刷されてなるプリント基板Kを載置するためのテーブル2と、プリント基板Kの表面に対し斜め上方から所定の光成分パターンを照射するための照射手段を構成する照明装置3と、プリント基板K上の前記照射された部分を撮像するための撮像手段を構成するCCDカメラ4と、プリント基板Kの表面に対し白色光を照射するための白色光照明Lと、基準高さを測定するための図示しないレーザーポインタとを備えている。なお、本実施の形態におけるクリームハンダHは、プリント基板K上に設けられた銅箔からなる電極パターン上に印刷形成されている。
【0064】
テーブル2には、モータ5,6が設けられており、該モータ5,6によって、テーブル2上に載置されたプリント基板Kが任意の方向(X軸方向及びY軸方向)へスライドさせられるようになっている。
【0065】
白色光照明Lは、プリント基板Kの上方、かつ、CCDカメラ4の下方に設けられている。尚、白色光照明Lは比較的大径のリング状をなしているため、CCDカメラ4によるプリント基板Kの撮像を妨げることはない。また、白色光照明Lは、該白色光照明Lの中央方向、斜め下方へと白色光を照射する。すなわち、プリント基板K周囲の斜め上方から、白色光が照射されるようになっている。
【0066】
本実施の形態における照明装置3からは、赤、緑、青のぞれぞれ位相の異なる光成分パターンが照射されるようになっている。より詳しくは、図2に示すように、照明装置3は、光源11と、光源11からの光を集める集光レンズ12と、照射レンズ13と、両レンズ12,13間に配設された赤、緑、青色のフィルタ格子縞板14,15,16とを備えている。赤色フィルタ格子縞板14は、部位に応じて赤色の度合いが正弦波状(縞状)に変化しており、赤色の成分についてのみ縞状に遮光(透光)させ他の波長域の全透光を許容するようになっている。また、緑色フィルタ格子縞板15は、部位に応じて緑色の度合いが正弦波状(縞状)に変化しており、緑色の成分についてのみ縞状に遮光(透光)させ他の波長域の全透光を許容するようになっている。但し、その正弦波は、赤色フィルタ格子縞板14に比べて位相が所定ピッチ(本実施の形態では「π/2」)ずれている(図3参照)。さらに、青色フィルタ格子縞板16は、部位に応じて青色の度合いが正弦波状(縞状)に変化しており、青色の成分についてのみ縞状に遮光(透光)させ他の波長域の全透光を許容するようになっている。但し、その正弦波は、前記緑色フィルタ格子縞板15に比べて位相が所定ピッチ(本実施の形態では「π/2」)ずれている(図3参照)。つまり、これら赤、緑、青色のフィルタ格子縞板14,15,16は、互いに位相が所定ピッチずらされた状態で張り合わされている(勿論、相互に離間していても差し支えない)。
【0067】
そして、光源11から放たれた光は、集光レンズ12、前記各色フィルタ格子縞板14,15,16、及び照射レンズ12を経て図4に示すような光成分パターンとしてプリント基板K上に照射されるようになっている。
【0068】
また、前記CCDカメラ4は、第1〜第3のダイクロイックミラー21,22,23及びそれらに対応する第1〜第3の撮像部24,25,26を備えている。すなわち、第1のダイクロイックミラー21は、所定の波長域内(赤色光に対応)の光を反射(それ以外の波長の光を透過)し、第1の撮像部24はその反射光を撮像する。また、第2のダイクロイックミラー22は、所定の波長域内(緑色光に対応)の光を反射(それ以外の波長の光を透過)し、第2の撮像部25はその反射光を撮像する。さらに、第3のダイクロイックミラー(通常のミラーを用いてもよい)23は、所定の波長域内(青色光に対応)の光を反射(それ以外の波長の光を透過)し、第3の撮像部26はその反射光を撮像する。また、CCDカメラ4は、一般的なカラー撮像も可能となっている。
【0069】
本実施の形態においては、図1,2に示すように、前記CCDカメラ4、照明装置3、モータ5,6、及び、白色光照明Lを駆動制御するとともに、CCDカメラ4により撮像された撮像データに基づき種々の演算を実行するための制御装置7が設けられている。すなわち、プリント基板Kがテーブル2上に載置されると、制御装置7は、まずモータ5,6を駆動制御して所定の位置に移動させ、プリント基板Kを初期位置に移動させる。この初期位置は、例えばCCDカメラ4の視野の大きさを1単位としてプリント基板Kの表面を予め分割しておいた中の1つの位置である。
【0070】
また、制御装置7は、白色光照明Lを駆動制御して白色光の照射を開始する。すると、白色光のCCDカメラの方向への反射光は、平面であるプリント基板Kでは少なく暗くなる。一方、表面に凹凸のあるクリームハンダHでは乱反射によって、前記反射光がプリント基板Kよりも多く明るくなる。かかる照射が行われている間に、制御装置7はCCDカメラ4を駆動制御して検査エリア部分を一斉に撮像し、カラーの画像データを得る(第1の撮像)。
【0071】
次に、照明装置3を駆動制御して光成分パターンの照射を開始する。このとき、光成分パターンには、位相が所定ピッチで相違する複数の波長域のものが含まれているため、従来のように位相を所定ピッチずつシフトさせるといった処理を必要としない。さらに、このようにして各光成分パターンの位相がずらされた一斉照射が行われている間に、制御装置7はCCDカメラ4を駆動制御して、これら各波長域毎に(撮像部24〜26)ごとに検査エリア部分を一斉に撮像し、それぞれ3画面分の画像データを得る(第2の撮像)。
【0072】
さらに、レーザーポインタを駆動制御して、クリームハンダHの高さを求めるために、検査エリア内の基準高さとして後述する方法で選択された部分の高さを測定する。
【0073】
さて、制御装置7は画像メモリを備えており、画像データを順次記憶する。この記憶した画像データに基づいて、制御装置7は各種画像処理を行う。かかる画像処理が行われている間に、制御装置7は、モータ5,6を駆動制御してテーブル2を次の検査エリアへと移動せしめる。制御装置7は、ここでの画像データについても画像メモリへ格納する。一方、画像メモリでの画像処理が一旦終了した場合、すでに画像メモリには次の画像データが記憶されているので、速やかに制御装置7は次の画像処理を行うことができる。つまり、検査は、一方で次なる検査エリア(m+1番目)への移動及び画像入力を行い、他方ではm番目の画像処理及び比較判定を行う。以降、全ての検査エリアでの検査が完了するまで、交互に同様の上記並行処理が繰り返し行われる。このように、本実施の形態の印刷状態検査装置1においては、制御装置7の制御により検査エリアを移動しながら、順次画像処理を行うことにより、プリント基板K上のクリームハンダHの印刷状態を高速かつ確実に検査することができるようになっている。
【0074】
次に、制御装置7の行う画像処理及び演算処理、並びに、比較判定処理について説明する。まず、第1の撮像において得られた画像データを用いて、クリームハンダHの印刷されたハンダ領域が抽出される。すなわち、制御装置7は、画像データのうち輝度に関するデータを所定の閾値によって二値化する。第1の撮像による画像データは、上述のように、ハンダ領域は明るく、それ以外の領域は暗くなっている。このため、明るい領域をハンダ領域として認識させることで、ハンダ領域及びクリームハンダHの印刷されていない非計測対象分物としてのプリント基板K面である非ハンダ領域が抽出されるようになっている。
【0075】
ここで抽出された非ハンダ領域内で、基準高さを測定する部分が制御装置7によって選択される。非ハンダ領域は、プリント基板K面であり、平面をなしているため、レーザーポインタによって容易に測定することができる。
【0076】
次に、制御装置7は、第2の撮像において得られた3画面の画像データを用いて、ハンダ領域内の高さを算出する。クリームハンダHに投影された光パターンに関して、高さの相違に基づく位相のずれが生じる。そこで、制御装置7では、光パターンの位相が所定ピッチずつずれた各波長域での画像データに基づき、位相シフト法(縞走査法)の原理に基づいて反射面の高さを算出するのである。
【0077】
すなわち、各画面上の点Pの輝度は、それぞれ正弦波を示す式で表すことができる。本実施の形態の如く赤色、緑色、青色の相対位相関係をそれぞれα,0,β(但し、α≠0,β≠0,α≠β)とし、各式の振幅とオフセット成分を揃えた場合の各画面上の点Pの輝度V0,V1,V2は、それぞれ下式で与えられる。
【0078】
V0=Asin(θ+α)+B ・・・(2a)
V1=Asinθ+B ・・・(2b)
V2=Asin(θ+β)+B ・・・(2c)
但し、θ:高さを導出するための位置情報、A:振幅、B:オフセット成分。
【0079】
これらの式(2a)〜(2c)より、下記式(2d)が導き出される。
【0080】
【数3】
【0081】
ここで、本実施の形態では、位相のずれがπ/2ずつであるため、α=π/2,β=−π/2とおける。すると、上記式(2d)より下記式が(2e)が導き出される。
【0082】
tanθ=(2V1−V0−V2)/(V0−V2) ・・・(2e)
かかる式(2e)より、下記式(2g)が導き出される。
【0083】
θ=arctan{(2V1−V0−V2)/(V0−V2)}・・・(2g)
このように演算された位置情報θを用いて、下記式に基づいてハンダ領域内の点Pの高さZを求める。
【0084】
ここで、照明装置3の鉛直線と、照明装置3から点Pに向けて照射したときの照射光線とのなす角をεとすると、当該角εは、下式(3)により表される。
【0085】
ε=f(θ+2nπ) ・・(3)
そして、高さZは、下記式(4)に従って導き出される。
【0086】
Z=Lp−Lpc/tanε+Xp/tanε ・・(4)
(但し、Lp:照明装置3の基準面からの高さ、Lpc:CCDカメラ4と照明装置3とのX軸方向の距離、Xp:点PのX座標。)
このようにして得られた点Pの高さデータは、撮像画面の画素P単位に演算され、制御装置7のメモリに格納される。また、当該各部のデータに基づいて、ハンダ領域内での各部の高さを積分することにより、印刷されたクリームハンダHの量が算出される。そして、このようにして求めたクリームハンダHの位置、面積、高さ又は量等のデータが予め記憶されている基準データと比較判定され、この比較結果が許容範囲内にあるか否かによって、その検査エリアにおけるクリームハンダHの印刷状態の良否が判定されるのである。
【0087】
以上詳述したように、本実施の形態によれば、異なる相対位相関係下においてCCDカメラ4による第1の撮像に基づく画像データ、及び、第2の撮像に基づく3通りの画像データに基づき、クリームハンダHの高さを演算することとした。従って、相対位相関係を異ならせる毎に撮像を行う必要があった従来技術とは異なり、各光成分毎に、異なる相対位相関係下毎に、まとめて撮像を行うことができる。このため、1つのポイントに関し2回の照射及び2回の撮像を行えばよく、照射及び撮像に要する時間が著しく短縮が図られることとなり、その結果、計測に要する時間の飛躍的な短縮を図ることができる。また、所定の波長成分の光成分パターンを照射した場合、計測対象物の色合い等によって反射率が大きく相違する場合があるが、かかる場合でも第2の撮像が行われることによって反射率による影響が相殺されることとなる。その結果、計測の精度の向上を図ることができる。
【0088】
また、3通りずつの画像データに基づいてクリームハンダHの高さを求めることができることから、4回の撮像データに基づいて演算されていた従来技術に比べて、総合的なデータ数が少なくて済み、ひいては演算時間の著しい短縮を図ることができる。その結果、計測に要する時間の飛躍的な短縮を図ることができる。
【0089】
特に、本実施の形態ではさほど複雑でない数式に基づいて位置情報θを求めることができ、該位置情報θに基づき高さを演算することができる。そのため、演算が複雑になってしまうことによる遅延が生じずに、上記作用効果が確実に奏される。
【0090】
さらに、上記例において、照明装置3は、フィルタ格子縞板14〜16を用いて、互いに相対位相関係の異なる各光成分パターンを合成して照射可能なフィルタ格子縞板機構を備えている。このため、液晶を使用しなくてもよい分、構成の簡素化を図ることができる。
【0091】
加えて、白色光照明LをクリームハンダHの印刷されたプリント基板Kに斜め上方から照射した際の反射光の輝度が、ハンダ領域と非ハンダ領域とで異なる。このため、クリームハンダHやプリント基板Kの表面の色に関わらず、画像データの輝度を比較するだけの容易な処理により、ハンダ領域及び非ハンダ領域を抽出することができる。このため、演算に際しては、非ハンダ領域を考慮した補正演算等を行う必要がない。その結果、演算の簡素化や、補正のための設備の大型化、複雑化の防止等を図ることができる。
【0092】
また、第2の撮像による画像データからの高さ算出は、ハンダ領域のみについて行われる。ハンダ領域内は、単一色であり、かつ、製品ごとの色差もほとんどない。このため、赤色、青色、黄色の3つの反射光において、適切な輝度が得られず、バランスが崩れて高さが算出できないといった事態を防ぐことができる。
【0093】
尚、上述した実施の形態の記載内容に限定されることなく、例えば次のように実施してもよい。
【0094】
(a)上記実施の形態では、照明装置7は、赤、緑、青色のフィルタ格子縞板14,15,16とを備えているが、図4に示すように、ガラスなどの一枚の透明な板に、赤R、黄Y、シアンC、青B、赤R、黄Y、シアンC、青B・・・・の順に一定幅の縞を印刷(又は塗装)することにより、格子縞板30を構成してもよい。各縞の色の度合いは、正弦波状に変化させず、均一になっている。
【0095】
詳しくは、各縞には、特定の波長だけを透光させ、その他の波長を遮光する顔料を使用している。すなわち、図5に示すように、赤Rは、赤色成分の波長だけを透光させる。黄Yは、黄色成分、つまり、赤色及び緑色成分の波長だけを透光させる。シアンCは、シアン成分、つまり、緑色及び青色成分の波長だけを透光させる。青Bは、青色成分の波長だけを透光させる。このとき、赤色、緑色、青色成分における各透光させる波長域は、CCDカメラ4の赤色、緑色、青色のそれぞれ感度の高い波長域とほぼ一致することが好ましい。
【0096】
各縞の色の配列が、赤R、黄Y、シアンC、青Bの順であるため、赤色、緑色、青色成分の波長ごとに格子縞板30を透光する部分と遮光する部分が所定間隔で繰り返される。このため、格子縞板30の透過光が照射エリアに投影されると、照射エリアの各波長ごとの輝度は、図6に示すように、ほぼ正弦波状になる。また、赤色、緑色、青色の相対位相関係は、それぞれ−π/2,0,π/2となる。従って、格子縞板30を適用することで、高さを算出するための光パターンの照射を行うことができる。
【0097】
尚、格子縞板30に使用する色の数は、上記4色以上を使用してもよく、例えば、8色でも10色でも16色でもよい。
【0098】
また、1枚の格子縞板に、赤、緑、青色の印刷(又は塗装)を施すとともに、当該印刷(又は塗装)に際し、各色の位相が互いに所定ピッチずらされるように構成してもよい。上記の場合には、各色の度合いが必ずしも正弦波状とならなくとも矩形波状となっていても差し支えない。
【0099】
さらに、赤、緑、青の順に一定幅の縞を印刷することにより、格子縞板を構成してもよい。この場合には、照射エリアの各波長毎の輝度は略正弦波となり、赤、緑、青の相対位相関係は、それぞれ−2π/3,0,2π/3となる。
【0100】
(b)上記実施の形態では、白色光照明Lを斜め上方から照射した際の反射光の輝度によって、ハンダ領域及び非ハンダ領域を抽出しているが、白色光を上方から照射した際の反射光をカラー撮像することで、クリームハンダHとプリント基板Kとの色差によって、ハンダ領域と非ハンダ領域とを区別するようにしてもよい。
【0101】
(c)基準面の高さ測定は、レーザーポインタによる測定に限定されるわけではなく、別途の測定装置等を使用してもよい。また、基準面の高さ測定は、第1の撮像手段によって抽出された非測定物領域に対応する第2の撮像手段によって得られた3つの光成分パターンの画像領域に対して、位相シフト法によって基準面高さを測定してもよい。この場合に、各色毎の反射率の違いが問題になるときは、何らかの補正手段を加えて算出すればよい。例えば、照明装置3と同軸上にハーフミラーを設置し、別途の白色光を照射して得られる新たな3画面の画像データを追加して高さ算出を行ってもよい。また、基準面の高さ測定は、第1の撮像手段によって抽出された非測定物領域に対応する第2の撮像手段によって得られた少なくとも1つの光成分パターンの画像を用い、三角測量の原理に基づいて、光成分パターンの位置変化を高さデータに変換して基準面測定を行ってもよい。
【0102】
(d)上記実施の形態における各光成分パターンは、必ずしも厳密に赤、青、緑に区別する必要はない。要するに、波長域が異なっていればよいという趣旨であって、黄色(RG)、シアン(青緑)色等の中間色を有する光成分パターンであってもよい。
【0103】
(e)また、光成分パターンを3つの成分でなく、4つの成分とし、第2の撮像で4画面の画像データを得るようにしてもよく、該4画面の画像データを用いて、高さを算出してもよい。
【0104】
(f)上記実施の形態ではプリント基板Kに印刷形成されたクリームハンダHの高さ等を計測する場合に具体化したが、他にもICパッケージ(例えばリード)に印刷形成されたクリームハンダの高さ等を計測する場合にも具体化できる。さらに、他の計測対象物の高さ等を計測する場合に具体化してもよい。他の計測対象物としては、基板上に印刷された印刷物、積層体等が挙げられる。
【0105】
(g)また、上記実施の形態をハンダバンプの検査装置として、抽出したハンダ領域の輪郭と高さとから、ハンダバンプの形状、体積を算出し、検査をする場合にも具体化できる。この場合、ハンダバンプの形状が球状であっても、良好に検査を行うことができる。
【0106】
(h)上記実施の形態のフィルタ格子縞板14,15,16や(a)の格子縞板を製造する際には、印刷又は塗装を施してもよいし、ダイクロイックフィルタに代表される無機フィルタを縞状に貼り付けてもよいし、感光フィルムに複数波長の光パターンを照射してもよい。
【0107】
(i)上記実施の形態では、領域抽出用の光として、白色光照明Lから白色光を照射するようになっている。これに対して、特に白色光に限定されるわけではなく、例えば、赤、青、緑、シアン、黄等のいずれか1つでもよい。
【0108】
(j)上記実施の形態では、印刷状態検査装置1は白色光照明L及び照明装置3を備えているが、白色光照明Lを省略するとともに、照明装置3に代えて、赤、緑、青のそれぞれ位相の異なる光成分パターン及び紫外線を照射可能な照明装置を設けてもよい。すなわち、該照明装置は、光源と、集光レンズと、照射レンズと、フィルタ格子縞板を備えている。光源は、赤、緑、青色の波長(白色光)に加えて、紫外線も同時に発光可能となっている。また、フィルタ格子縞板は、赤、緑、青色のそれぞれの波長について縞状に遮光(透光)させるとともに、紫外線の全透光を許容するようになっている。また、この場合、CCDカメラ4に代えて、赤、緑、青色の波長域、及び、紫外線について同時に撮像し、各波長域毎に分離した画像データを得られるCCDカメラが採用される。
【0109】
このような構成とすることで、1回の撮像を行うだけで、4つの画像データを得ることができる。そして、これら4つの画像データのうち、紫外線の画像データは、計測対象物の領域抽出に利用でき、赤、緑、青色のそれぞれの波長域の3画像データは、高さ算出に利用できる。
【0110】
その結果、白色光照明Lを設ける必要が無いため、小型で低コストな印刷状態検査装置を提供できる。また、撮像も1回でよいため、処理の高速化を図ることができる。
【0111】
尚、必ずしも紫外線に限定されるわけではなく、白色光以外の波長領域であればよく、例えば、赤外線でもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施の形態における三次元計測装置を具備する印刷状態検査装置を模式的に示す概略斜視図である。
【図2】一実施の形態におけるより詳細な三次元計測装置の構成を模式的に示す概略構成図である。
【図3】相対位相関係の異なる赤、緑、青の各フィルタの光強度分布の一例を示すグラフである。
【図4】別の実施の形態における格子縞を模式的に示す平面図である。
【図5】(a)は別の形態における格子縞板の各色における透過率と波長の関係を示すグラフであり、(b)は別の形態におけるカメラの感度と波長の関係を示すグラフである。
【図6】格子縞板の透過光が投影された照射エリアにおけるの各波長ごとの輝度を示すグラフである。
【符号の説明】
1…印刷状態検査装置、3…照明手段としての照明装置、4…撮像手段としてのCCDカメラ、7…演算手段を構成する制御装置、11…光源、14…赤色フィルタ格子縞板、15…緑色フィルタ格子縞板、16…青色フィルタ格子縞板、L…白色光照明、H…計測対象物としてのクリームハンダ、K…プリント基板。
Claims (18)
- 計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、略均一に照射可能な均一光照明と、
少なくとも前記計測対象物に対し、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも2つの光成分パターンを同時に照射可能な照射手段と、
前記均一光の照射された計測対象物及びその周囲の非計測対象物からの反射光を撮像可能、かつ、
少なくとも前記光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光を各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、
前記撮像手段にて撮像された均一光による画像データに基づき、前記計測対象物の存在する領域を抽出する領域抽出手段と、
前記撮像手段にて光成分毎に撮像された少なくとも2通りの画像データに基づき、少なくとも前記領域抽出手段にて存在領域の抽出された計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。 - 前記均一光照明は、白色光を照射可能な白色光照明であることを特徴とする請求項1に記載の三次元計測装置。
- 計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、白色光を照射可能な白色光照明と、
少なくとも前記計測対象物に対し、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも3つの光成分パターンを同時に照射可能な照射手段と、
前記白色光の照射された計測対象物及びその周囲の非計測対象物からの反射光を撮像可能、かつ、
少なくとも前記光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光を各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、
前記撮像手段にて撮像された白色光による画像データに基づき、前記計測対象物の存在する領域を抽出する領域抽出手段と、
前記撮像手段にて光成分毎に撮像された少なくとも3通りの画像データに基づき、位相シフト法により少なくとも前記領域抽出手段にて存在領域の抽出された計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。 - 前記領域抽出手段は、前記計測対象物と前記非計測対象物との輝度の差に基づいて、前記計測対象物の存在する領域を抽出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の三次元計測装置。
- 前記白色光照明による前記計測対象物及び前記非計測対象物への照射方向は、前記撮像手段による前記計測対象物及び前記非計測対象物の撮像方向と角度が異なることを特徴とする請求項4に記載の三次元計測装置。
- 前記領域抽出手段は、前記計測対象物と非計測対象物との色差に基づいて、前記計測対象物の存在する領域を抽出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の三次元計測装置。
- 前記互いに異なる波長成分を有する3つの光成分パターンは、それぞれ、赤色、緑色、青色の光成分パターンであることを特徴とする請求項7に記載の三次元計測装置。
- 前記照射手段は、光源からの光を、所定の波長成分について縞状に遮光するとともに残りの波長成分について透光を許容するフィルタ格子縞板を用いて、互いに相対位相関係の異なる各光成分パターンを同時に照射可能なフィルタ格子縞板機構を備えていることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の三次元計測装置。
- 前記照射手段は、フィルタ格子縞板を備えており、
前記フィルタ格子縞板は、1枚の板によって構成され、光源からの光をそれぞれ所定の波長成分のみについて透光する領域が縞状に配列され、互いに相対位相関係の異なる各光成分パターンを同時に透光可能であることを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載の三次元計測装置。 - 前記照射手段は、3つの光成分パターンを同時に照射可能であり、
前記フィルタ格子縞板は、互いに波長成分の異なる第1、第2、第3の波長成分について、第1の波長成分のみを透光する第1の領域と、第1及び第2の波長成分のみを透光する第2の領域と、第2及び第3の波長成分のみを透光する第3の領域と、第3の波長成分のみを透光する第4の領域とを順に縞状に配列した構成であることを特徴とする請求項10に記載の三次元計測装置。 - 前記第1の領域は赤、前記第2の領域は黄、前記第3の領域はシアン、前記第4の領域は青に色分けされていることを特徴とする請求項11に記載の三次元計測装置。
- 計測対象物及びその周囲の非計測対象物に対し、略均一に照射され均一波長成分を有する光と、少なくとも縞状の光強度分布を有するとともに、互いに相対位相関係の異なる複数の所定波長成分を有する光成分パターンとを同時に照射可能な照射手段と、
前記照射手段から照射された計測対象物からの反射光を、前記均一波長成分、及び、前記複数の所定波長成分の各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、
前記撮像手段にて撮像された均一波長成分に対応する画像データに基づき、前記計測対象物の存在する領域を抽出する領域抽出手段と、
前記撮像手段にて分離撮像された複数の所定波長成分に対応する画像データに基づき、少なくとも前記領域抽出手段にて存在領域の抽出された計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。 - 前記均一波長成分の波長領域と前記複数の所定波長成分の波長領域とが異なることを特徴とする請求項13に記載の三次元計測装置。
- 前記光成分パターンは、略正弦波状の光強度分布を有することを特徴とする請求項1乃至14のいずれかに記載の三次元計測装置。
- 前記計測対象物の高さの基準となる基準面の高さを測定する基準高さ測定手段を設けたことを特徴とする請求項1乃至15のいずれかに記載の三次元計測装置。
- 前記計測対象物がプリント基板上に印刷されたクリームハンダであり、該クリームハンダの領域、高さから印刷状態の良否を判定する判定手段を設けたことを特徴とする請求項1乃至16のいずれかに記載の三次元計測装置。
- 前記計測対象物がプリント基板上に設けられたハンダバンプであり、該ハンダバンプの領域、高さからハンダバンプの形状の良否を判定する判定手段を設けたことを特徴とする請求項1乃至16のいずれかに記載の三次元計測装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002026096A JP3878023B2 (ja) | 2002-02-01 | 2002-02-01 | 三次元計測装置 |
US10/503,150 US7019848B2 (en) | 2002-02-01 | 2003-01-20 | Three-dimensional measuring instrument, filter striped plate, and illuminating means |
KR1020047007269A KR100716131B1 (ko) | 2002-02-01 | 2003-01-20 | 3차원 계측장치, 필터 격자 줄무늬판 및 조명 수단 |
PCT/JP2003/000446 WO2003064973A1 (fr) | 2002-02-01 | 2003-01-20 | Instrument de mesure tridimensionnelle, plaque de filtre a raies et dispositif d'eclairage |
CNB038011522A CN100397035C (zh) | 2002-02-01 | 2003-01-20 | 三维测定装置、滤色光栅条纹片及照明机构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002026096A JP3878023B2 (ja) | 2002-02-01 | 2002-02-01 | 三次元計測装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006139668A Division JP4808072B2 (ja) | 2006-05-19 | 2006-05-19 | フィルタ格子縞板、三次元計測装置及び照明手段 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003279334A JP2003279334A (ja) | 2003-10-02 |
JP3878023B2 true JP3878023B2 (ja) | 2007-02-07 |
Family
ID=27654578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002026096A Expired - Fee Related JP3878023B2 (ja) | 2002-02-01 | 2002-02-01 | 三次元計測装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7019848B2 (ja) |
JP (1) | JP3878023B2 (ja) |
KR (1) | KR100716131B1 (ja) |
CN (1) | CN100397035C (ja) |
WO (1) | WO2003064973A1 (ja) |
Families Citing this family (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3878033B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2007-02-07 | シーケーディ株式会社 | 三次元計測装置 |
US7929752B2 (en) * | 2003-10-31 | 2011-04-19 | Nano Picture Co., Ltd. | Method for generating structured-light pattern |
JP4746841B2 (ja) * | 2004-01-23 | 2011-08-10 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置の製造方法 |
JP4688625B2 (ja) * | 2005-10-18 | 2011-05-25 | 株式会社山武 | 3次元計測装置、3次元計測方法、及び3次元計測プログラム |
US7285767B2 (en) * | 2005-10-24 | 2007-10-23 | General Electric Company | Methods and apparatus for inspecting an object |
WO2007075029A1 (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Gwangju Institute Of Science And Technology | 3-d shape measuring method for auto-grinding equipment of lcd color filter and 3-d shape measuring apparatus for the same |
KR100833717B1 (ko) * | 2005-12-26 | 2008-05-29 | (주) 인텍플러스 | 비전 검사 시스템 |
JP4745084B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2011-08-10 | 富士通株式会社 | 撮像装置 |
JP4816194B2 (ja) * | 2006-03-29 | 2011-11-16 | パナソニック株式会社 | 電子部品実装システムおよび電子部品搭載装置ならびに電子部品実装方法 |
KR100852256B1 (ko) * | 2006-10-16 | 2008-08-14 | 미승씨엔에스검사주식회사 | 구조물의 변위 측정장치 |
US20080117438A1 (en) * | 2006-11-16 | 2008-05-22 | Solvision Inc. | System and method for object inspection using relief determination |
WO2009038242A1 (en) * | 2007-09-18 | 2009-03-26 | Intekplus Co., Ltd. | Optical test method |
WO2009107981A2 (ko) | 2008-02-26 | 2009-09-03 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
KR101190122B1 (ko) * | 2008-10-13 | 2012-10-11 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중파장을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
JP4744610B2 (ja) * | 2009-01-20 | 2011-08-10 | シーケーディ株式会社 | 三次元計測装置 |
TWI414748B (zh) * | 2009-01-23 | 2013-11-11 | Univ Nat Taipei Technology | 同步色相相移轉換方法以及其三維形貌量測系統 |
DE102010028894B4 (de) * | 2009-05-13 | 2018-05-24 | Koh Young Technology Inc. | Verfahren zur Messung eines Messobjekts |
TWI432699B (zh) | 2009-07-03 | 2014-04-01 | Koh Young Tech Inc | 用於檢查測量物件之方法 |
DE102010030883B4 (de) | 2009-07-03 | 2018-11-08 | Koh Young Technology Inc. | Vorrichtung zur Prüfung einer Platte und Verfahren dazu |
WO2011049190A1 (ja) * | 2009-10-24 | 2011-04-28 | 株式会社Djtech | 外観検査装置及び印刷半田検査装置 |
JP4892602B2 (ja) * | 2009-10-30 | 2012-03-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置の製造方法 |
KR101207198B1 (ko) | 2010-01-18 | 2012-12-03 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판 검사장치 |
JP5290233B2 (ja) * | 2010-04-13 | 2013-09-18 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置及び基板検査装置 |
US8855403B2 (en) * | 2010-04-16 | 2014-10-07 | Koh Young Technology Inc. | Method of discriminating between an object region and a ground region and method of measuring three dimensional shape by using the same |
JP5488179B2 (ja) * | 2010-04-30 | 2014-05-14 | ソニー株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
WO2011145319A1 (ja) * | 2010-05-19 | 2011-11-24 | 株式会社ニコン | 形状測定装置及び形状測定方法 |
US8334985B2 (en) * | 2010-10-08 | 2012-12-18 | Omron Corporation | Shape measuring apparatus and shape measuring method |
JP5945386B2 (ja) * | 2011-02-11 | 2016-07-05 | 名古屋電機工業株式会社 | 印刷半田検査装置 |
KR101245148B1 (ko) * | 2011-03-10 | 2013-03-19 | 주식회사 미르기술 | 영상 선명도가 개선된 비전검사장치 |
JP5430612B2 (ja) | 2011-05-31 | 2014-03-05 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
KR101475726B1 (ko) * | 2011-06-28 | 2014-12-23 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원 형상 측정 방법 및 장치 |
KR20130035061A (ko) * | 2011-09-29 | 2013-04-08 | 삼성전기주식회사 | 솔더볼 검사장치 |
JP5847568B2 (ja) * | 2011-12-15 | 2016-01-27 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
FR3001564B1 (fr) * | 2013-01-31 | 2016-05-27 | Vit | Systeme de determination d'une image tridimensionnelle d'un circuit electronique |
DE102013211802A1 (de) * | 2013-06-21 | 2014-12-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Dynamikerhöhung bei der farbkodierten Triangulation |
CN104197860B (zh) * | 2014-07-04 | 2017-02-15 | 丽水学院 | 大尺寸工件的三维表面形貌测量方法 |
US10716220B2 (en) | 2014-08-04 | 2020-07-14 | Ok International, Inc. | Variable temperature controlled soldering iron |
US10688578B2 (en) | 2014-08-04 | 2020-06-23 | OK International, Inc | Variable temperature controlled soldering iron |
US9516762B2 (en) * | 2014-08-04 | 2016-12-06 | Ok International Inc. | Soldering iron with automatic soldering connection validation |
CN105890544B (zh) * | 2014-12-10 | 2019-02-05 | 青岛理工大学 | 水下静止及高速移动目标三维成像方法及成像系统 |
CN104634277B (zh) * | 2015-02-12 | 2018-05-15 | 上海图漾信息科技有限公司 | 拍摄设备和方法、三维测量系统、深度计算方法和设备 |
CN104634276B (zh) * | 2015-02-12 | 2018-08-07 | 上海图漾信息科技有限公司 | 三维测量系统、拍摄设备和方法、深度计算方法和设备 |
JP2016161351A (ja) * | 2015-02-27 | 2016-09-05 | キヤノン株式会社 | 計測装置 |
JP6478713B2 (ja) * | 2015-03-04 | 2019-03-06 | キヤノン株式会社 | 計測装置および計測方法 |
JP6110897B2 (ja) * | 2015-06-23 | 2017-04-05 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
JP6259806B2 (ja) * | 2015-12-24 | 2018-01-10 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
JP6279013B2 (ja) * | 2016-05-26 | 2018-02-14 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
CN109153099B (zh) * | 2016-06-01 | 2020-11-17 | 株式会社富士 | 图像处理装置、工件移载装置及图像处理方法 |
JP6225222B1 (ja) * | 2016-06-14 | 2017-11-01 | Ckd株式会社 | 半田印刷検査装置 |
CN106767526A (zh) * | 2016-12-07 | 2017-05-31 | 西安知象光电科技有限公司 | 一种基于激光mems振镜投影的彩色多线激光三维测量方法 |
KR101876391B1 (ko) * | 2017-02-14 | 2018-07-09 | 주식회사 미르기술 | 단색광 모아레의 다채널 이미지를 이용한 3차원 검사 장치 |
KR102427622B1 (ko) * | 2017-06-01 | 2022-08-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 터치표시장치 및 터치패널 |
CN107941147B (zh) * | 2017-11-17 | 2020-04-07 | 北京振兴计量测试研究所 | 大型系统三维坐标非接触在线测量方法 |
KR102174219B1 (ko) * | 2018-10-02 | 2020-11-04 | 아진산업(주) | 기울기에 따른 영상 밝기 변화를 이용한 솔더 검사 방법 |
KR102264682B1 (ko) * | 2018-10-15 | 2021-06-15 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사를 위한 장치, 방법 및 명령을 기록한 기록 매체 |
CN109443199B (zh) * | 2018-10-18 | 2019-10-22 | 天目爱视(北京)科技有限公司 | 基于智能光源的3d信息测量系统 |
JP7178426B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2022-11-25 | ヤマハ発動機株式会社 | 三次元計測装置、及び、ワーク作業装置 |
JP7257162B2 (ja) * | 2019-02-08 | 2023-04-13 | 株式会社キーエンス | 検査装置 |
JP7231433B2 (ja) * | 2019-02-15 | 2023-03-01 | 株式会社キーエンス | 画像処理装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3170315D1 (en) * | 1981-10-09 | 1985-06-05 | Ibm Deutschland | Interpolating light section process |
JPS60250783A (ja) | 1984-05-25 | 1985-12-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 撮像用照明装置 |
US4641972A (en) | 1984-09-14 | 1987-02-10 | New York Institute Of Technology | Method and apparatus for surface profilometry |
JPH0498106A (ja) | 1990-08-16 | 1992-03-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 3次元形状計測方法 |
JP2711042B2 (ja) | 1992-03-30 | 1998-02-10 | シャープ株式会社 | クリーム半田の印刷状態検査装置 |
US5461417A (en) * | 1993-02-16 | 1995-10-24 | Northeast Robotics, Inc. | Continuous diffuse illumination method and apparatus |
JP3525964B2 (ja) * | 1995-07-05 | 2004-05-10 | 株式会社エフ・エフ・シー | 物体の三次元形状計測方法 |
US6201892B1 (en) * | 1997-02-26 | 2001-03-13 | Acuity Imaging, Llc | System and method for arithmetic operations for electronic package inspection |
AU2787097A (en) * | 1997-05-27 | 1998-12-30 | Amos Talmi | Methods and apparatus for position determination |
JPH1123234A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Just:Kk | Bgaの半田ボールの高さ測定方法およびその装置 |
JP3914638B2 (ja) * | 1997-09-09 | 2007-05-16 | シーケーディ株式会社 | 形状計測装置 |
US6421451B2 (en) * | 1997-09-16 | 2002-07-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Step difference detection apparatus and processing apparatus using the same |
US6040910A (en) * | 1998-05-20 | 2000-03-21 | The Penn State Research Foundation | Optical phase-shift triangulation technique (PST) for non-contact surface profiling |
JP3632449B2 (ja) | 1998-07-10 | 2005-03-23 | 松下電器産業株式会社 | クリーム半田の塗布状態検査装置および塗布状態検査方法 |
JP2000283736A (ja) | 1999-03-29 | 2000-10-13 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
-
2002
- 2002-02-01 JP JP2002026096A patent/JP3878023B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-01-20 US US10/503,150 patent/US7019848B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-01-20 WO PCT/JP2003/000446 patent/WO2003064973A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2003-01-20 CN CNB038011522A patent/CN100397035C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-01-20 KR KR1020047007269A patent/KR100716131B1/ko not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7019848B2 (en) | 2006-03-28 |
CN1564929A (zh) | 2005-01-12 |
US20050073590A1 (en) | 2005-04-07 |
JP2003279334A (ja) | 2003-10-02 |
CN100397035C (zh) | 2008-06-25 |
KR100716131B1 (ko) | 2007-05-10 |
KR20040077851A (ko) | 2004-09-07 |
WO2003064973A1 (fr) | 2003-08-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3878023B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
JP3878033B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
JP4808072B2 (ja) | フィルタ格子縞板、三次元計測装置及び照明手段 | |
US10788318B2 (en) | Three-dimensional shape measurement apparatus | |
CN103134446B (zh) | 三维形状测量装置及测量方法 | |
TWI416066B (zh) | 用以利用多波長量測三維形狀之裝置與方法 | |
JP3878165B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
JP3723057B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
KR101659302B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 | |
KR20130137660A (ko) | 삼차원 계측 장치 | |
JP4011561B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
JP5890953B2 (ja) | 検査装置 | |
KR101215083B1 (ko) | 기판 검사장치의 높이정보 생성 방법 | |
KR101684244B1 (ko) | 기판 검사방법 | |
JP3723139B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
JP3609325B2 (ja) | 三次元計測装置 | |
JP3906990B2 (ja) | 外観検査装置及び三次元計測装置 | |
JP2002081924A (ja) | 三次元計測装置 | |
WO2012073981A1 (ja) | 外観検査装置及び印刷半田検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060404 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060519 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20061031 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061101 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3878023 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101110 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101110 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111110 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111110 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121110 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121110 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131110 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |