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JP3814124B2 - Connector terminal tester - Google Patents

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JP3814124B2
JP3814124B2 JP2000162256A JP2000162256A JP3814124B2 JP 3814124 B2 JP3814124 B2 JP 3814124B2 JP 2000162256 A JP2000162256 A JP 2000162256A JP 2000162256 A JP2000162256 A JP 2000162256A JP 3814124 B2 JP3814124 B2 JP 3814124B2
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    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はコネクタ端子検査器に係り、特に、複数の電線を束ねて形成したワイヤハーネスの端部に取り付けられたコネクタにおいて、前記複数の電線の一端に固着され収容された電線端子の導通性や挿着姿勢を検査するのに使用するコネクタ端子検査器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の検査器として、例えば特開平6−123753号公報に記載された図5に示すような構成のものが知られている。
同図において、横断面U字状の溝形の台枠1には、その中間位置に検査部2が溝内にその方向に移動自在に設けられるとともに、その一端部に検査すべきコネクタCを所定位置に保持するコネクタ保持部3が固定的に設けられている。コネクタ保持部3におけるコネクタCの保持は、相手コネクタの装着されるコネクタCのコネクタ装着面側が検査部2側に向くように行われる。検査部2はコネクタ保持部3に保持されたコネクタCと対向する前面側に突設された検査プローブ22を有する。
【0003】
なお、詳細な説明は省略するが、コネクタ保持部3は、コネクタCがコネクタ保持部3内に上方から装着収納されたとき、コネクタCをがた付き無く正確に位置決めできるような形状、構造に形成されている。なお、コネクタ保持部3に装着収納されたコネクタC内には、電線端が電気機械的に接続された図示しない複数の電線端子が収容されており、コネクタ保持部3は各電線端子から延びる電線を束ねた電線束であるワイヤハーネスW/Hを外部に引き出せる形状、構造にもなっている。
【0004】
一方、台枠1の他端部には、検査部2を台枠1の溝内で移動させるための操作レバー41が設けられており、操作レバー41はその作用点に取付けたリンク42を介して検査部2の後面と連結されており、操作レバー41及びリンク42によって操作部4を構成し、操作レバー41の前倒、起立によって、検査部1に押し力、引き力を与え、検査部2を台枠1上で往復移動させることができるようになっている。
【0005】
また、検査部2には、図6に示すように、その前面側にコネクタCのコネクタ装着面側が僅かに嵌入する凹部22があり、凹部22の底壁部に検査部2の移動方向に伸びる貫通孔が穿設されて検査プローブ22が挿入されており、貫通孔に挿入された検査プローブ22の頭部は凹部23内に突出されている。なお、検査プローブ22はコネクタ保持部3に装着されたコネクタCに収容されている複数の電線端子C1の位置に対応させて多数個配列してある。
【0006】
そして検査プローブ22は、図示を省略するが、コネクタ方向に付勢され、かつ中間部で一定間隔を介して前方プローブと後方プローブとに2分されており、検査時に前方プローブがコネクタC内の電線端子と接触して後退すると、2分されている前方プローブと後方プローブとが接触する。
【0007】
したがって、コネクタCの電線端子C1を、コネクタCが一端に接続されているワイヤハーネスW/Hの他端に接続されているコネクタCを介して検査回路部5に接続し、かつ後方プローブを直接に検査回路部に接続しておくことによって、上述したように前方プローブと後方プローブとが接触することで形成される閉回路が検査回路部に接続されるようになり、この閉回路を通じて流れる電流を検査回路部において検知することにより導通検査が行われる。そして、閉回路が形成されるべき電線端子について電流検知が行われないときには、電線端子C1が装着されていないこと、その装着姿勢が不適当のために電線端子C1と前方プローブとの接触が行われていないこと、又は当該電線端子に対応する電線に断線があることが予測されるようになる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、コネクタのなかには、収容した電線端子に接続されている電線としてオプション機器或いはオプション機能を働かせることが必要なときのみ使用されるオプション用電線が接続されるオプション用電線端子を有するものがある。このようなオプション用電線端子を有するものにおいては、これに接続された電線がワイヤハーネスW/Hの他端のコネクタまで至らず途中で切り放たれ、必要なときに引き出せるように、束ねられた他の電線の外周に巻き付けられた状態になっている。
【0009】
このようにオプション用電線がオープン回路となっているため、上述したように、前方プローブと後方プローブとが接触することでワイヤハーネスW/Hの電線を介して閉回路が形成されたかどうかによっては、オプション用電線端子がコネクタCに正しく装着収容されていることを検査することができなかった。
【0010】
そこで、コネクタが装着される側と反対側の電線の引き出されている電線端子挿入口側から検査用電線の一端を差し込み、オプション用電線の接続されている電線端子に接触させ、検査用電線の他端を検査回路部に接続し、他の電線端子と同様に導通検査を行うことで、オプション用電線端子がコネクタに正しい姿勢にて挿着されているかどうかを検査することを可能にしている。
【0011】
しかしながら、このような検査の場合、端子挿入口への検査用電線の挿入、及び電線端子に対する検査用電線の接触状態の保持のために、非常に面倒な作業を伴う他、防水コネクタのように端子挿入口が塞がれたものには適用できないという問題があった。
【0012】
よって本発明は、上述した従来の問題点に鑑み、引き出された後切り放たれオープン回路となっているオプション用電線の接続された電線端子を有するコネクタにおいて、オプション用電線の接続された電線端子が正しく装着されて収容されているかどうかを簡単に検査できるコネクタ端子検査器を提供することを課題としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するためなされた請求項1記載の発明は、複数の電線の各々の一端に固着され収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、該コネクタ保持部に保持された前記コネクタの電線端子に電気接続されるように検査プローブが支持手段に支持されてなる検査部とを備え、前記コネクタ保持部及び前記検査部の何れか一方が他方に対して相対的に移動するように設けられ、前記検査プローブは前方プローブと後方プローブとを有し、かつ常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくとも前記コネクタの方向に付勢され、検査時前記前方プローブが前記コネクタ内の電線端子に突き当たり前記付勢に抗して後退したとき前記後方プローブと接触するように構成され、前記接触によって前記電線端子、前記前方プローブ及び前記後方プローブが電気的に導通し、前記複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと前記後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するためのコネクタ端子検査器において、前記検査部は、前記前方プローブと前記後方プローブとが接触したとき、前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段を有し、前記複数の電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている前記電線端子に対応する前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する前記後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記オプション用電線の一端に固着された電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査することを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【0014】
請求項1記載のコネクタ端子検査器においては、複数の電線の各々の一端に固着され収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、コネクタ保持部に保持されたコネクタの電線端子に電気接続されるように検査プローブが支持手段に支持されている検査部との何れか一方が他方に対して相対的に移動するように設けられている。検査プローブを形成している前方プローブと後方プローブとは、常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくともコネクタの方向に付勢され、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退したとき後方プローブと接触するように構成され、接触によって電線端子、前方プローブ及び後方プローブが電気的に導通し、複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するようになされている。そして、検査部の出力手段は、前方プローブと後方プローブとが接触したとき、前方プローブを介して後方プローブと電気接続され、複数の電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている前記電線端子に対応する前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、オプション用電線の一端に固着された電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するようになっている。
【0015】
したがって、コネクタ内に電線端子が正常に存在するときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退して後方プローブと接触し、電線端子、前方プローブ及び後方プローブが電気的に導通し、コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続がないときには、複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるようになるのに対し、このような閉回路が形成されないときには、コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良があると判断される。
また、複数の電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている電線端子がコネクタ内に正常に存在するときには、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されるようになり、当該電線端子に対応する前方プローブを介して後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるようになるのに対し、コネクタ内に電線端子が正常に存在しないときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退することがなく、後方プローブとも接触せず、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されることがないので、出力手段と後方プローブとの電気接続を確認することで、オプション用電線の一端に固着されている電線端子がコネクタ内に正常に存在するかどうかの検査も行うことできる。
【0016】
請求項2記載の発明は、請求項1記載のコネクタ端子検査器において、前記支持手段は前記前方プローブを支持する前方ブロックと前記後方プローブを支持する後方ブロックとを有し、前記出力手段は、前記前方ブロックの一部を形成し外側縁部が前記支持手段の側方に突出されたプリント基板によって形成され、前記プリント基板は、前記前方プローブと常時電気接続され前記外側縁まで引き出されている配線パターンを有することを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【0017】
請求項2記載のコネクタ端子検査器においては、支持手段を前方プローブを支持する前方ブロックと後方プローブを支持する後方ブロックとにより形成し、前方ブロックの一部を形成しているプリント基板の外側縁部を支持手段の側方に突出させて出力手段とし、プリント基板には、前方プローブと常時電気接続され外側縁まで引き出されている配線パターンを形成しているので、請求項1記載の発明の作用に加え、何ら別部材を設けなくても簡単に出力手段を構成できる。
【0018】
請求項3記載の発明は、請求項2記載のコネクタ端子検査器において、前記前方プローブは、中間部に鍔を形成した前方導電ピンと、該前方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、前記前方ブロックは、前記前方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と前記プリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収容孔を有し、前記前方導電ピンは、前記コイルスプリングによる付勢によってその先端部が前記コネクタの方向に突出するように前記前方プローブ収容孔内に保持され、前記プリント基板は、前記付勢に抗する前記前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通させ前記後方プローブとの接触を許容する貫通孔を有することを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【0019】
請求項3記載のコネクタ端子検査器においては、前方プローブを、中間部に鍔を形成した前方導電ピンをコネクタの方向にコイルスプリングで付勢して構成し、前方ブロックには、前方導電ピンを移動自在に収容するとともにコイルスプリングを鍔とプリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収容孔を形成し、前方導電ピンをコイルスプリングによる付勢によってその先端部がコネクタの方向に突出するように前方プローブ収容孔内に保持し、プリント基板には、付勢に抗する前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通させ後方プローブとの接触を許容する貫通孔を形成しているので、請求項2記載の作用に加え、出力手段を支持ブロックの一部を形成するプリント基板と前方導電ピンを付勢するコイルスプリングにて形成することができる。
【0020】
請求項4記載の発明は、請求項3記載のコネクタ端子検査器において、前記後方プローブは、中間部に鍔を形成した後方導電ピンと、該後方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、前記後方ブロックは、前記後方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔との間に縮設し前記後方導電ピンをコイルスプリングによってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を有し、前記後方導電ピンは、その後端部が前記コネクタと反対方向に突出されるように前記後方プローブ収容孔内に保持されていることを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【0021】
請求項4記載のコネクタ端子検査器においては、後方プローブを中間部に鍔を形成した後方導電ピンをコネクタの方向にコイルスプリングで付勢して構成し、後方ブロックには、後方導電ピンを移動自在に収容するとともに、コイルスプリングを鍔との間に縮設し後方導電ピンを前記コイルスプリングによってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を形成し、後方導電ピンをその後端部がコネクタと反対方向に突出されるように後方プローブ収容孔内に保持しているので、請求項3記載の発明の作用に加え、前方導電ピンの後退によってその後端が後方導電ピンの先端に突き当たったとき後方導電ピンが付勢に抗して後退でき、寸法のバラツキを許容するとともに、前方導電ピンが電線端子に対して最終的に及ぼす力を決定できる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明によるコネクタ端子検査器の一実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。
図1は本発明によるコネクタ端子検査器の要部である検査部の一実施の形態を示す断面図、図2は図1の検査部の分解斜視図であり、これらの図において、図5について上述した従来のものと同一あるいは対応する部分には同一の符号を付してある。
【0023】
図1及び図2においては、電線が接続された電線端子を有する検査すべきコネクタC(図1)を保持するコネクタ保持部については図示を省略し、検査部2についてのみ示している。これらの図において、検査部2は、図示しないコネクタ保持部に保持されたコネクタCの電線端子C1の位置に対応させて配され電線端子C1と接触して検査を行う検査プローブ22と、この検査プローブ22を支持する支持ブロック23とを有する。
【0024】
検査プローブ22は2分された前方プローブ22aと後方プローブ22bとを有し、図1に示すように、検査部2とコネクタ保持部に保持したコネクタCとが離されている常時は、前方プローブ22aと後方プローブ22bとが間隙gを介して離間されて保持されている。前方プローブ22aは、中間部に鍔22a11を形成した前方導電ピン22a1と、この前方導電ピン22a1をコネクタCの方向に付勢するコイルスプリング22a14とを有する。また、後方プローブ22bは、中間部に鍔22b11を形成した後方導電ピン22b1と、この後方導電ピン22b1をコネクタCの方向に付勢するコイルスプリング22b14とを有する。
【0025】
支持ブロック23は、図示のように、前方プローブ22aを支持する前方ブロック23aと後方プローブ22bを支持する後方ブロック23bとを有する。前方ブロック23aはピンブロック23a1とこのピンブロック23a1の前方(コネクタ側)に固着された前ピンストッパ板23a2とピンブロック23a1の後方(コネクタと反対側)に固着されたプリント基板23a3とを有する。プリント基板23a3はその上側縁部が支持ブロック23の上方に突出する大きさに形成されている。また、後方ブロック23bはピンブロック23b1とこのピンブロック23b1の後方(コネクタと反対側)に固着された後ピンストッパ板23b2とを有する。
【0026】
前方ブロック23aにおいて、ピンブロック23a1には前方導電ピン22a1の鍔22a11が移動可能となる内径の貫通孔23a11が形成され、前ピンストッパ板23a2には前方導電ピン22a1の先端部22a12が移動可能であるが鍔22b11を通さない内径の貫通孔23a21が形成され、プリント基板23a3には前方導電ピン22a1の後端部22a13が移動可能であるが鍔22a11を通さない内径の貫通孔23a31が形成されている。ピンブロック23a1の貫通孔23a11と前ピンストッパ板23a2の貫通孔23a21とプリント基板23a3の貫通孔23a31とは、前方導電ピン22a1が移動自在に収容されるとともに、コイルスプリング22a14が鍔22a11とプリント基板23a3との間に縮設されて収容される前方プローブ収容孔23a4を形成している。
【0027】
前方プローブ収容孔23a4に収容された前方導電ピン22a1は、コイルスプリング22a14による付勢によってその先端部22a12が前ストッパ板23a2の貫通孔23a21を通じてコネクタCの方向に突出された状態に保持されている。プリント基板23a3は、前方導電ピン22a1の後端部が移動可能となった貫通孔23a21から上側縁部まで延びる配線パターン23a32を有する。前方導電ピン22a1の鍔22a11とプリント基板23a3との間に縮設されたコイルスプリング22a14はプリント基板23a3の配線パターン23a32と常時接触しているので、前方導電ピン22a1はこのコイルスプリング22a14を介してプリント基板23a3の配線パターン23a32と常時電気接続されるようになる。プリント基板23a3の上側縁部には、ここまで延びた配線パターン23a32と電気接続されるように半田付けされた出力ピン23a33が設けられている。
【0028】
後方ブロック23bにおいて、ピンブロック23b1には後方導電ピン22b1の鍔22b11が移動可能となる大径部23b111と後方導電ピン22b1の先端部22b12が移動可能であるが鍔22b11を通さない小径部23b112とからなる貫通孔23b11が形成され、後ピンストッパ板23b2には後方導電ピン22b1の後端部22b13が移動可能であるが鍔22b11を通さない内径の貫通孔23b21が形成されている。ピンブロック23b1の貫通孔23b11と後ピンストッパ板23b2の貫通孔23b21とは、後方導電ピン22b1が移動自在に収容されるとともに、コイルスプリング22b14が鍔22b11とプリント基板22b12との間に縮設されて収容される後方プローブ収容孔23b3を形成している。
【0029】
後方プローブ収容孔23b3に収容された後方導電ピン22b1は、縮設されたコイルスプリング22b14による付勢によってその先端部22b12がピンブロック23b1の貫通孔23b11に挿入され、鍔22b11が大径部23b111と小径部23b112との間の段部に当接された状態に保持されている。この状態で、後方導電ピン22b1の後端部22b13は後ピンストッパ板23b2の貫通孔23b21を通じてコネクタCと反対方向に突出されている。
【0030】
コイルスプリング22a14により付勢された前方導電ピン22a1はその先端部22a12が前ストッパ板23a2の貫通孔23a21を通じてコネクタCの方向に突出されて保持され、コイルスプリング22b14により付勢された後方導電ピン22b1はその鍔22b11が大径部23b111と小径部23b112との間の段部に当接されて保持されている状態において、前方導電ピン22a1の後端と後方導電ピン22b1の先端との間には上述した間隙gが形成されるように各部の寸法が定められている。
【0031】
なお、間隙の大きさとしては、例えば1〜2mm程度が適当である。また、前方導電ピン22a1の後端が半球形状に、後方導電ピン22b1の先端が平坦形状にそれぞれされて、接触時の電気的導通の安定化が図られている。さらに、前方導電ピン22a1の先端が平坦形状にされてコネクタCの電線端子との当接接触面の確保が図られている。後方導電ピン22b1の後端が半球形状とされ、接触時の電気的導通の安定化が図られている。
【0032】
なお、図1では図示を省略しているが、支持ブロック23の前方ブロック23aを構成するピンブロック23a1、前ピンストッパ板23a2及びプリント基板23a3と、後方ブロック23bを構成するピンブロック23b1及び後ピンストッパ板23b2とは、図2に示す組立枠24に横方向に順に重ねられて検査部2として組み立てられている。また、図1には破線によって示されているが、前方ブロック23aのコネクタ側には、コネクタCのコネクタ装着面側が嵌入する凹部25aを有する案内部材25が装着されており、検査時にこの凹部25aにコネクタCのコネクタ装着面を嵌入させて検査部2に対してコネクタを案内し、両者の結合が安定的に行われるようにしている。
【0033】
また、図1には点線で示すように、上述した検査部2に対して相対的に移動可能であるコネクタ保持部3が案内部材25と対向して設けられており、図示しない手段によって、前方プローブの付勢方向に沿って移動するように案内され、非検査時には検査部2から離され、検査時に検査部2に接近される。
【0034】
さらに、図1及び図2には、図示を簡単にして見易くするために、支持ブロック23に支持された検査プローブ22は1つしか示されていないが、実際には、コネクタの有する端子数に相当する数の検査プローブ22が電線端子に対応して支持されるとともに、検査プローブ22を収容するための前方プローブ収容孔23a4及び後方プローブ収容孔23b3も電線端子に対応して前方ブロック23a及び後方ブロック23bにそれぞれ形成されている。
【0035】
また、8つの電線端子を有するコネクタCを検査する検査部2に使用するプリント基板23a3としては、図3に示すように、前方導電ピン22a1の後端部が移動可能となった8つの貫通孔23a31と、この貫通孔23a31の各々から側縁部まで延びる8つの配線パターン23a32とが予め形成されたものが使用される。このプリント基板23a3の場合、貫通孔23a21と配線パターン23a32がコネクタCの電線端子に対応する数だけ設けられているので、切り放たれた電線の接続されている電線端子に対応する配線パターン23a32に出力ピン(図1の23a33)を設けることで、一種類のプリント基板23a3によりどの電線端子の電線が切り放たれていても対応することができるようになっている。なお、8つの配線パターン23a32は引き回しを考慮し基板両面を使用して形成されている。
【0036】
上述した構成の端子検査器において、図1に示すように、コネクタ保持部3の上方からコネクタ(図示せず)を装着した後、図示しない操作手段を操作してコネクタ保持部3に力を付与して検査部2の方向に作動すると、図4に示すように、コネクタ保持部3に保持されたコネクタのコネクタ装着面側が検査部2の案内部材25の凹部25aに嵌入させる。そして、コネクタCに正常な挿着姿勢の電線端子C1があると、検査プローブ22の前方導電ピン22a1は、電線端子C1と干渉するため、コイルスプリング22a14の付勢に抗して後退し、その後端が後方導電ピン22b1の先端と接触する。この前方導電ピン22a1と後方導電ピン22b1との接触により、電線端子C1、前方導電ピン22a1及び後方導電ピン22b1の電気的導通が図られるとともに、出力ピン23a33、プリント基板23a3の配線パターン23a32、コイルスプリング22a14、前方導電ピン22a1及び後方導電ピン22b1の電気的導通も図られる。
【0037】
よって、電線端子C1に接続された電線と後方導電ピン22b1に接続した電線とを接続すると、電線端子C1を経由する回路が形成されて電気的導通が図られ、その確認によって導通検査ができる。このとき、コネクタの電線端子C1に接続されている電線に断線或いは電線の未接続があると電気的導通が得られず、また電線端子C1の欠品または姿勢不良があると、検査プローブ22の前方導電ピン22a1は、電線端子C1と正常に干渉しないため、コイルスプリング22a14の付勢に抗して後退せず、その後端が後方導電ピン22b1の先端と接触することもないので、導通が不能となって不良品が確認される。したがって、上述したコネクタ端子検査器は、コネクタの電線端子の数に対応する数の検査プローブ22をコネクタの電線端子の位置に対応させて支持ブロック23に支持したものを使用することによって、電線端子に接続されている電線の導通検査も行うことができる。
【0038】
これに対し、電線端子C1に接続された電線が切り放たれオープン回路となっているオプション用電線である場合には、電線端子C1を経由する回路が形成されて電気的導通が図られることがない。したがって、この種の電線端子C1について、その欠品または姿勢不良を検査するときには、出力ピン23a33に接続した電線と後方導電ピン22b1に接続した電線とを接続し、このとき出力ピン23a33、プリント基板23a3の配線パターン23a32、コイルスプリング22a14を経由する回路が形成されて電気的導通が図られるかどうかの確認によって、オプション用電線の接続された電線端子C1の欠品または姿勢不良を検査できる。
【0039】
なお、上述した実施の形態では、前方プローブ22aと後方プローブ22bとが接触したとき、前方プローブを介して後方プローブと電気接続される手段として、前方プローブを構成する前方導電ピンを付勢するコイルスプリングとこれが常時接触しているプリント基板の配線パターンとを使用しているが、これに制限されることなく他の構成も取りうる。例えば、前方プローブに常時接触するブラッシを引き出すようにしてもよい。しかし、前方導電ピンを付勢するコイルスプリングとこれが常時接触しているプリント基板の配線パターンとを使用する構成は、電線端子の配列が同じものについては、プリント基板の配線パターンを選択することで対応することを可能とするので、より多くのコネクタの検査に利用できる共用性が高い他、構成の単純化と高集積度を図る上で有効な構成となっている。
【0040】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1記載の発明によれば、コネクタ内に電線端子が正常に存在するときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退して後方プローブと接触し、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されるようになり、これに対し、コネクタ内に電線端子が正常に存在しないときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退することがなく、後方プローブとも接触せず、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されることがないので、複数の電線のうち両端に電線端子が固着されコネクタに収容されているものについては、電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かを確認することで、断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査することができ、また、他端に電線端子が固着されていないオプション用電線については、このオプション用電線に固着されコネクタに収容されている電線端子に対応する前方プローブを介して後方プローブと電気接続される出力手段とこの出力手段に対応する後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されているか否かを確認することで、コネクタ内に電線端子が正常に存在するかどうかの検査を行うことできる。特に、両端に電線端子を固着した複数の電線について検査を行うためのものと同一の前方プローブ及び後方プローブを使用して、両端に電線端子を固着した複数の電線と一端のみに電線端子を固着したオプション用電線との両方について、電線端子が正しく装着されて収容されているかどうかを簡単に検査できるコネクタ端子検査器が得られる。
【0041】
請求項2記載の発明によれば、前方ブロックの一部をプリント基板で形成して何ら別部材を設けなくても簡単に出力手段を構成できるので、請求項1記載の発明の効果に加え、コンパクトで安価なコネクタ端子検査器が得られる。
【0042】
請求項3記載の発明によれば、出力手段を支持ブロックの一部を形成するプリント基板と前方導電ピンを付勢するコイルスプリングにて形成することができるので、請求項2記載の発明の効果に加え、よりコンパクトで安価なコネクタ端子検査器が得られる。
【0043】
請求項4記載の発明によれば、前方導電ピンの後退によってその後端が後方導電ピンの先端に突き当たったとき後方導電ピンが付勢に抗して後退でき、寸法のバラツキを許容するとともに、前方導電ピンが電線端子に対して最終的に及ぼす力を決定できるので、請求項3記載の発明の効果に加え、検査対象のコネクタの電線端子に無用の大きな余分の力を加え、電線端子を損なう心配のないコネクタ端子検査器が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるコネクタ端子検査器の要部を示す側断面図である。
【図2】本発明によるコネクタ端子検査器の要部を分解して示す分解斜視図である。
【図3】図1及び図2中のプリント基板の詳細な具体例を示す平面図である。
【図4】図1の側面図に対応する図であり、検査時の状態を示す側断面図である。
【図5】従来のコネクタ端子検査器の一例を示す斜視図である。
【図6】図5のコネクタ端子検査器の一部分を破断した側面図である。
【符号の説明】
C コネクタ
C1 電線端子
2 検査部
22 検査プローブ
22a 前方プローブ
22a1 前方導電ピン
22a11 鍔
22a14 コイルスプリング
22b 後方プローブ
22b1 後方導電ピン
22b11 鍔
22b13 コイルスプリング
23 支持手段
23a 前方ブロック
23a3 出力手段
23a31 貫通孔
23a32 配線パターン
23a4 前方プローブ収容孔
23b 後方ブロック
23b3 後方プローブ収容孔
3 コネクタ保持部
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a connector terminal inspection device, and in particular, in a connector attached to an end of a wire harness formed by bundling a plurality of electric wires, the continuity of the electric wire terminals fixedly accommodated at one end of the plurality of electric wires and The present invention relates to a connector terminal inspection device used for inspecting an insertion posture.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as this type of inspector, for example, one having a structure as shown in FIG. 5 described in Japanese Patent Laid-Open No. 6-123753 is known.
In the figure, a grooved frame 1 having a U-shaped cross section is provided with an inspection portion 2 at an intermediate position so as to be movable in the direction of the groove, and a connector C to be inspected at one end thereof. A connector holding portion 3 that is held at a predetermined position is fixedly provided. The connector C is held in the connector holding unit 3 so that the connector mounting surface side of the connector C to which the mating connector is mounted faces the inspection unit 2 side. The inspection unit 2 includes an inspection probe 22 that protrudes from the front side facing the connector C held by the connector holding unit 3.
[0003]
Although a detailed description is omitted, the connector holding portion 3 has a shape and structure that allows the connector C to be accurately positioned without rattling when the connector C is mounted and stored in the connector holding portion 3 from above. Is formed. The connector C mounted and housed in the connector holding portion 3 contains a plurality of unillustrated wire terminals whose ends are electromechanically connected, and the connector holding portion 3 is an electric wire extending from each wire terminal. The wire harness W / H, which is a bundle of wires bundled together, has a shape and structure that can be pulled out.
[0004]
On the other hand, an operation lever 41 for moving the inspection unit 2 in the groove of the frame 1 is provided at the other end of the frame 1, and the operation lever 41 is connected via a link 42 attached to the action point. Are connected to the rear surface of the inspection unit 2, and the operation lever 4 and the link 42 constitute the operation unit 4. By pushing the operation lever 41 forward and upright, a pressing force and a pulling force are applied to the inspection unit 1, 2 can be reciprocated on the frame 1.
[0005]
In addition, as shown in FIG. 6, the inspection unit 2 has a concave portion 22 in which the connector mounting surface side of the connector C is slightly fitted on the front surface side, and extends in the moving direction of the inspection unit 2 on the bottom wall portion of the concave portion 22. A through hole is formed and the inspection probe 22 is inserted, and the head of the inspection probe 22 inserted into the through hole protrudes into the recess 23. Note that a large number of inspection probes 22 are arranged corresponding to the positions of the plurality of wire terminals C1 accommodated in the connector C mounted on the connector holding portion 3.
[0006]
Although not shown, the inspection probe 22 is urged in the connector direction, and is divided into a front probe and a rear probe at a predetermined interval in the middle, and the front probe is in the connector C at the time of inspection. When it comes back in contact with the electric wire terminal, the front probe and the rear probe divided into two parts come into contact.
[0007]
Therefore, the electric wire terminal C1 of the connector C is connected to the inspection circuit unit 5 via the connector C connected to the other end of the wire harness W / H to which the connector C is connected to one end, and the rear probe is directly connected. As described above, the closed circuit formed by the contact of the front probe and the rear probe is connected to the inspection circuit unit, and the current flowing through the closed circuit is connected to the inspection circuit unit. Is detected by the inspection circuit unit, and a continuity test is performed. And when electric current detection is not performed about the electric wire terminal which should form a closed circuit, since the electric wire terminal C1 is not mounted | worn and the mounting attitude | position is improper, contact with the electric wire terminal C1 and a front probe is performed. It is predicted that there is no breakage in the electric wire corresponding to the electric wire terminal.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, some connectors have an optional electric wire terminal to which an optional electric wire used only when it is necessary to operate an optional device or an optional function as an electric wire connected to the accommodated electric wire terminal. In what has such an electric wire terminal for an option, the electric wire connected to this was cut off on the way without reaching the connector of the other end of wire harness W / H, and was bundled so that it could be pulled out when needed It is the state wound around the outer periphery of the other electric wire.
[0009]
Since the optional electric wire is an open circuit in this way, as described above, depending on whether the front probe and the rear probe are in contact with each other, a closed circuit is formed via the electric wire of the wire harness W / H. It was not possible to inspect that the optional electric wire terminal was correctly mounted and accommodated in the connector C.
[0010]
Therefore, insert one end of the inspection wire from the wire terminal insertion port side where the wire on the opposite side to the side where the connector is attached, and contact the wire terminal to which the optional wire is connected. By connecting the other end to the inspection circuit section and conducting continuity inspection in the same way as other wire terminals, it is possible to inspect whether the optional wire terminals are inserted in the connector in the correct posture. .
[0011]
However, in the case of such an inspection, in addition to a very troublesome work for inserting the inspection wire into the terminal insertion port and maintaining the contact state of the inspection wire with the wire terminal, as in the case of a waterproof connector There is a problem that it cannot be applied to the case where the terminal insertion port is blocked.
[0012]
Therefore, in view of the above-described conventional problems, the present invention is a connector having an electric wire terminal to which an optional electric wire is connected after being pulled out to be an open circuit, and an electric wire terminal to which an optional electric wire is connected. It is an object of the present invention to provide a connector terminal inspection device that can easily inspect whether or not the device is correctly mounted and accommodated.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
  In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 isEach of multiple wiresA connector holding portion for holding a connector to be inspected having an electric wire terminal fixedly held at one end of the connector, and an inspection probe as a support means so as to be electrically connected to the electric wire terminal of the connector held by the connector holding portion. And an inspection unit that is supported, and is provided such that one of the connector holding unit and the inspection unit moves relative to the other, and the inspection probe includes a front probe and a rear probe. The front probe is biased at least in the direction of the connector so as to be always separated from the rear probe via a gap, and the front probe hits the electric wire terminal in the connector and retracts against the bias at the time of inspection. Contact with the rear probeThe electric wire terminal, the front probe, and the rear probe are electrically connected by the contact, and the connector and the rear probe in which the electric wire terminals fixed to the other ends of the electric wires are accommodated Depending on whether or not a closed circuit is formed through the connected wires, the wire terminals connected to the wire terminals accommodated in the connector are inspected for disconnection or non-connection, and missing or poor posture of the wire terminals.In the connector terminal inspection device, the inspection section has output means that is electrically connected to the rear probe via the front probe when the front probe and the rear probe come into contact with each other.And an output means electrically connected to the rear probe via the front probe corresponding to the electric wire terminal fixed to one end of an optional electric wire whose electric wire terminal is not fixed to the other end of the plurality of electric wires. And the absence of a wire terminal fixed to one end of the option wire or a poor posture depending on whether or not a closed circuit is formed through the wire connected to the rear probe corresponding to the output means.It exists in the connector terminal test | inspection device characterized by this.
[0014]
  In the connector terminal inspection device according to claim 1,Each of multiple wiresA connector holding part for holding a connector to be inspected having a wire terminal fixedly attached to one end of the connector, and an inspection probe supported by the support means so as to be electrically connected to the wire terminal of the connector held by the connector holding part. Any one of the inspection sections is provided so as to move relative to the other. The front probe and rear probe forming the inspection probe are always biased toward the connector so that they are separated from the rear probe through a gap at all times, and the front probe during inspection is a wire terminal in the connector. Contact with the rear probe when retreating against the biasA wire terminal, a front probe, and a rear probe are electrically connected by contact, a connector that accommodates a wire terminal fixed to the other end of the plurality of wires, and a wire connected to the rear probe; Inspect whether the wire connected to the wire terminal accommodated in the connector is disconnected or disconnected, and the wire terminal is missing or poorly positioned, depending on whether a closed circuit is formed throughIt is made like that. And the output means of the inspection unit is electrically connected to the rear probe via the front probe when the front probe and the rear probe come into contact with each other.Output means electrically connected to the rear probe via the front probe corresponding to the electric wire terminal fixed to one end of an optional electric wire whose electric wire terminal is not fixed to the other end of the plurality of electric wires and the output Check for missing or poor posture of the wire terminal fixed to one end of the optional wire depending on whether a closed circuit is formed through the wire connected to the rear probe corresponding to the means.It has become so.
[0015]
  Therefore, when the wire terminal is normally present in the connector, the front probe hits the wire terminal in the connector at the time of inspection and retreats against the bias to contact the rear probe,When the electric wire terminal, the front probe and the rear probe are electrically connected and there is no disconnection or no connection of the electric wire connected to the electric wire terminal accommodated in the connector, the electric wire terminal fixed to the other end of the plural electric wires A closed circuit is formed through the accommodated connector and the wire connected to the rear probe, whereas when such a closed circuit is not formed, it is connected to the wire terminal accommodated in the connector. It is determined that the wire is disconnected or not connected, the wire terminal is missing, or the posture is defective.
In addition, when a wire terminal that is fixed to one end of an optional wire that does not have a wire terminal fixed to the other end of the plurality of wires is normally present in the connector, the output means of the inspection unit is connected via the front probe. A closed circuit is electrically connected to the rear probe through the output means electrically connected to the rear probe via the front probe corresponding to the wire terminal and the electric wire connected to the rear probe corresponding to the output means. Whereas it comes to be formedWhen the wire terminal is not normally present in the connector, the front probe does not come in contact with the wire terminal in the connector and does not move backward against the bias, and does not come into contact with the rear probe. Since it is not electrically connected to the rear probe via the front probe, the output meansAnd afterBy checking the electrical connection with the probe,The wire terminal fixed to one end of the optional wire is in the connector.Check if it exists normallyCheckI can.
[0016]
According to a second aspect of the present invention, in the connector terminal inspection device according to the first aspect, the support means includes a front block that supports the front probe and a rear block that supports the rear probe, and the output means includes: The printed circuit board is formed by a printed circuit board that forms a part of the front block and has an outer edge protruding to the side of the support means, and the printed circuit board is always electrically connected to the front probe and pulled out to the outer edge. It exists in the connector terminal tester characterized by having a wiring pattern.
[0017]
3. The connector terminal inspection device according to claim 2, wherein the supporting means is formed of a front block that supports the front probe and a rear block that supports the rear probe, and an outer edge of the printed circuit board forming a part of the front block. Since the printed circuit board is formed with a wiring pattern that is always electrically connected to the front probe and drawn out to the outer edge, the wiring pattern is formed to project to the side of the support means. In addition to the operation, the output means can be configured easily without providing any separate member.
[0018]
According to a third aspect of the present invention, in the connector terminal tester according to the second aspect, the front probe includes a front conductive pin having a flange formed in an intermediate portion thereof, and a coil spring that biases the front conductive pin toward the connector. The front block includes a front probe receiving hole that movably accommodates the front conductive pin and accommodates the coil spring in a contracted manner between the flange and the wiring pattern of the printed circuit board. And the front conductive pin is held in the front probe receiving hole so that its tip protrudes in the direction of the connector by urging by the coil spring, and the printed circuit board resists the urging. A connector terminal test comprising a through hole that penetrates the rear end of the front conductive pin and allows contact with the rear probe when the front conductive pin is retracted. It resides in the vessel.
[0019]
In the connector terminal tester according to claim 3, the front probe is configured by urging the front conductive pin formed with a flange in the middle portion with a coil spring in the direction of the connector, and the front block includes the front conductive pin. A front probe housing hole is formed to house the coil spring in a movable manner and to retract and house the coil spring between the collar and the wiring pattern of the printed circuit board. The printed circuit board is formed with a through hole that allows its rear end to pass through and allow contact with the rear probe when the front conductive pin resists urging. Therefore, in addition to the operation of claim 2, the output means is a coil spring that biases the printed circuit board forming a part of the support block and the front conductive pin. It is possible to form Te.
[0020]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the connector terminal tester according to the third aspect, wherein the rear probe includes a rear conductive pin having a flange formed in an intermediate portion, and a coil spring that biases the rear conductive pin toward the connector. The rear block movably accommodates the rear conductive pin, and the coil spring is contracted between the flange and the rear conductive pin is biased toward the connector by the coil spring. A connector terminal, wherein the rear conductive pin is held in the rear probe receiving hole so that a rear end portion of the rear conductive pin protrudes in a direction opposite to the connector. It exists in the inspection device.
[0021]
5. The connector terminal inspection device according to claim 4, wherein the rear probe is formed by energizing the rear conductive pin formed with a flange in the middle with a coil spring in the direction of the connector, and the rear conductive pin is moved to the rear block. The coil spring is retracted between the flange and the rear conductive pin is urged toward the connector by the coil spring to form a rear probe receiving hole. Is held in the rear probe housing hole so as to protrude in the direction opposite to the connector. In addition to the action of the invention of claim 3, the rear end of the front conductive pin abuts on the front end of the rear conductive pin in addition to the action of the invention according to claim 3. The rear conductive pin can move back against the bias, allowing for dimensional variations and determining the final force that the front conductive pin exerts on the wire terminal. Kill.
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of a connector terminal inspection device according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of an inspection unit which is a main part of a connector terminal inspection device according to the present invention, and FIG. 2 is an exploded perspective view of the inspection unit of FIG. Parts that are the same as or correspond to those of the conventional one described above are given the same reference numerals.
[0023]
In FIG.1 and FIG.2, illustration is abbreviate | omitted about the connector holding part which hold | maintains the connector C (FIG. 1) which has the electric wire terminal to which the electric wire was connected, and is shown only about the test | inspection part 2. FIG. In these drawings, an inspection unit 2 is arranged in correspondence with the position of the electric wire terminal C1 of the connector C held by a connector holding unit (not shown), and an inspection probe 22 that makes an inspection by making contact with the electric wire terminal C1. And a support block 23 that supports the probe 22.
[0024]
The inspection probe 22 has a front probe 22a and a rear probe 22b which are divided into two parts. As shown in FIG. 1, the inspection probe 2 and the connector C held by the connector holding part are always separated from each other. 22a and the rear probe 22b are held apart via a gap g. The front probe 22a includes a front conductive pin 22a1 having a flange 22a11 formed at an intermediate portion, and a coil spring 22a14 that biases the front conductive pin 22a1 toward the connector C. Further, the rear probe 22b includes a rear conductive pin 22b1 having a flange 22b11 formed in an intermediate portion, and a coil spring 22b14 that biases the rear conductive pin 22b1 toward the connector C.
[0025]
As illustrated, the support block 23 includes a front block 23a that supports the front probe 22a and a rear block 23b that supports the rear probe 22b. The front block 23a includes a pin block 23a1, a front pin stopper plate 23a2 fixed to the front (connector side) of the pin block 23a1, and a printed board 23a3 fixed to the rear (opposite side of the connector) of the pin block 23a1. The printed board 23a3 is formed in such a size that its upper edge protrudes above the support block 23. The rear block 23b includes a pin block 23b1 and a rear pin stopper plate 23b2 fixed to the rear of the pin block 23b1 (on the side opposite to the connector).
[0026]
In the front block 23a, the pin block 23a1 is formed with a through hole 23a11 having an inner diameter through which the flange 22a11 of the front conductive pin 22a1 is movable, and the front end portion 22a12 of the front conductive pin 22a1 is movable on the front pin stopper plate 23a2. A through hole 23a21 having an inner diameter that does not pass the flange 22b11 is formed, and a through hole 23a31 having an inner diameter that allows the rear end portion 22a13 of the front conductive pin 22a1 to move but does not pass the flange 22a11 is formed on the printed board 23a3. Yes. The through hole 23a11 of the pin block 23a1, the through hole 23a21 of the front pin stopper plate 23a2, and the through hole 23a31 of the printed circuit board 23a3 accommodate the front conductive pin 22a1 movably, and the coil spring 22a14 is connected to the flange 22a11 and the printed circuit board. A front probe housing hole 23a4 is formed between the housing 23a3 and the housing 23a3.
[0027]
The front conductive pin 22a1 accommodated in the front probe accommodation hole 23a4 is held in a state where its tip 22a12 protrudes in the direction of the connector C through the through hole 23a21 of the front stopper plate 23a2 by urging by the coil spring 22a14. . The printed board 23a3 has a wiring pattern 23a32 extending from the through hole 23a21 in which the rear end portion of the front conductive pin 22a1 is movable to the upper edge portion. Since the coil spring 22a14 contracted between the flange 22a11 of the front conductive pin 22a1 and the printed circuit board 23a3 is always in contact with the wiring pattern 23a32 of the printed circuit board 23a3, the front conductive pin 22a1 passes through the coil spring 22a14. The wiring pattern 23a32 of the printed board 23a3 is always electrically connected. An output pin 23a33 soldered so as to be electrically connected to the wiring pattern 23a32 extending so far is provided on the upper edge portion of the printed board 23a3.
[0028]
In the rear block 23b, the pin block 23b1 has a large-diameter portion 23b111 in which the flange 22b11 of the rear conductive pin 22b1 can move, and a small-diameter portion 23b112 in which the tip portion 22b12 of the rear conductive pin 22b1 can move but does not pass the flange 22b11. The rear pin stopper plate 23b2 is formed with a through hole 23b21 having an inner diameter through which the rear end portion 22b13 of the rear conductive pin 22b1 can move but does not pass through the flange 22b11. In the through hole 23b11 of the pin block 23b1 and the through hole 23b21 of the rear pin stopper plate 23b2, the rear conductive pin 22b1 is movably accommodated, and the coil spring 22b14 is contracted between the flange 22b11 and the printed board 22b12. The rear probe receiving hole 23b3 is formed.
[0029]
The rear conductive pin 22b1 accommodated in the rear probe accommodation hole 23b3 is inserted into the through hole 23b11 of the pin block 23b1 by the urging force of the contracted coil spring 22b14, and the flange 22b11 is connected to the large diameter portion 23b111. It is held in contact with the stepped portion between the small diameter portion 23b112. In this state, the rear end portion 22b13 of the rear conductive pin 22b1 protrudes in the opposite direction to the connector C through the through hole 23b21 of the rear pin stopper plate 23b2.
[0030]
The front conductive pin 22a1 biased by the coil spring 22a14 has its tip 22a12 projected and held in the direction of the connector C through the through hole 23a21 of the front stopper plate 23a2, and the rear conductive pin 22b1 biased by the coil spring 22b14. In the state where the flange 22b11 is held in contact with the step portion between the large diameter portion 23b111 and the small diameter portion 23b112, there is a gap between the rear end of the front conductive pin 22a1 and the front end of the rear conductive pin 22b1. The dimensions of each part are determined so that the gap g described above is formed.
[0031]
As the size of the gap, for example, about 1 to 2 mm is appropriate. In addition, the rear end of the front conductive pin 22a1 has a hemispherical shape, and the front end of the rear conductive pin 22b1 has a flat shape, thereby stabilizing the electrical conduction during contact. Furthermore, the front conductive pin 22a1 has a flat tip so as to secure a contact surface with the wire terminal of the connector C. The rear end of the rear conductive pin 22b1 has a hemispherical shape, and electrical conduction at the time of contact is stabilized.
[0032]
Although not shown in FIG. 1, the pin block 23a1, the front pin stopper plate 23a2 and the printed circuit board 23a3 constituting the front block 23a of the support block 23, and the pin block 23b1 and the rear pin constituting the rear block 23b. The stopper plate 23b2 is assembled as the inspection unit 2 by being superimposed in the horizontal direction on the assembly frame 24 shown in FIG. 1, a guide member 25 having a recess 25a into which the connector mounting surface side of the connector C is fitted is mounted on the connector side of the front block 23a, and this recess 25a is inspected at the time of inspection. The connector mounting surface of the connector C is inserted into the connector C, and the connector is guided to the inspection unit 2 so that the two are stably coupled.
[0033]
Further, as shown by a dotted line in FIG. 1, a connector holding portion 3 that is relatively movable with respect to the above-described inspection portion 2 is provided to face the guide member 25, and a front portion is provided by means not shown. The probe is guided so as to move along the urging direction of the probe, and is separated from the inspection unit 2 during non-inspection, and approaches the inspection unit 2 during inspection.
[0034]
Further, in FIG. 1 and FIG. 2, only one inspection probe 22 supported by the support block 23 is shown for the sake of simplicity of illustration, but in actuality, the number of terminals of the connector is shown. A corresponding number of inspection probes 22 are supported corresponding to the electric wire terminals, and the front probe accommodation holes 23a4 and the rear probe accommodation holes 23b3 for accommodating the inspection probes 22 also correspond to the electric wire terminals in the front block 23a and the rear. Each of the blocks 23b is formed.
[0035]
Moreover, as printed circuit board 23a3 used for the test | inspection part 2 which test | inspects the connector C which has eight electric wire terminals, as shown in FIG. 3, eight through-holes which the rear-end part of the front conductive pin 22a1 became movable 23a31 and eight wiring patterns 23a32 extending from each of the through holes 23a31 to the side edge are formed in advance. In the case of this printed circuit board 23a3, since the through holes 23a21 and the wiring patterns 23a32 are provided in a number corresponding to the wire terminals of the connector C, the wiring patterns 23a32 corresponding to the wire terminals to which the disconnected wires are connected are provided. By providing the output pin (23a33 in FIG. 1), it is possible to cope with any wire terminal being cut off by one type of printed board 23a3. The eight wiring patterns 23a32 are formed using both sides of the substrate in consideration of routing.
[0036]
In the terminal inspection device having the above-described configuration, as shown in FIG. 1, after a connector (not shown) is mounted from above the connector holding portion 3, an operating means (not shown) is operated to apply force to the connector holding portion 3. When operated in the direction of the inspection unit 2, the connector mounting surface side of the connector held by the connector holding unit 3 is fitted into the recess 25 a of the guide member 25 of the inspection unit 2 as shown in FIG. 4. When the connector C has the electric wire terminal C1 in the normal insertion posture, the front conductive pin 22a1 of the inspection probe 22 interferes with the electric wire terminal C1, and therefore retracts against the bias of the coil spring 22a14. The end contacts the tip of the rear conductive pin 22b1. The contact between the front conductive pin 22a1 and the rear conductive pin 22b1 provides electrical continuity between the electric wire terminal C1, the front conductive pin 22a1, and the rear conductive pin 22b1, and the output pin 23a33, the wiring pattern 23a32 of the printed board 23a3, and the coil. Electrical conduction between the spring 22a14, the front conductive pin 22a1, and the rear conductive pin 22b1 is also achieved.
[0037]
Therefore, when the electric wire connected to the electric wire terminal C1 and the electric wire connected to the rear conductive pin 22b1 are connected, a circuit passing through the electric wire terminal C1 is formed, and electrical conduction is achieved. At this time, if the electric wire connected to the electric wire terminal C1 of the connector is disconnected or the electric wire is not connected, electrical continuity cannot be obtained. If the electric wire terminal C1 is missing or has a poor posture, the inspection probe 22 Since the front conductive pin 22a1 does not normally interfere with the wire terminal C1, the front conductive pin 22a1 does not retract against the bias of the coil spring 22a14, and its rear end does not come into contact with the front end of the rear conductive pin 22b1, so conduction is impossible. The defective product is confirmed. Therefore, the above-described connector terminal tester uses the number of the inspection probes 22 corresponding to the number of the wire terminals of the connector corresponding to the positions of the wire terminals of the connector and supported by the support block 23 to thereby It is also possible to conduct a continuity test on the wires connected to the.
[0038]
On the other hand, when the electric wire connected to the electric wire terminal C1 is an optional electric wire that is cut open and becomes an open circuit, a circuit passing through the electric wire terminal C1 may be formed to achieve electrical continuity. Absent. Therefore, when inspecting the shortage or the posture failure of this type of wire terminal C1, the wire connected to the output pin 23a33 and the wire connected to the rear conductive pin 22b1 are connected. At this time, the output pin 23a33, the printed board By checking whether or not a circuit passing through the wiring pattern 23a32 of 23a3 and the coil spring 22a14 is formed and electrical conduction is achieved, it is possible to inspect the shortage or the posture failure of the wire terminal C1 to which the optional wire is connected.
[0039]
In the above-described embodiment, when the front probe 22a and the rear probe 22b are in contact with each other, the coil that biases the front conductive pin constituting the front probe as means for being electrically connected to the rear probe via the front probe. Although the spring and the wiring pattern of the printed circuit board that is always in contact with the spring are used, the present invention is not limited to this, and other configurations are possible. For example, you may make it pull out the brush which always contacts a front probe. However, the configuration that uses the coil spring that urges the front conductive pin and the wiring pattern of the printed circuit board that is always in contact with the wiring pattern of the printed circuit board can be selected for the same wire terminal arrangement. Since it is possible to cope with this, it has a high commonality that can be used for inspection of more connectors, and is effective in simplifying the configuration and achieving high integration.
[0040]
【The invention's effect】
  As described above, according to the first aspect of the present invention, when the wire terminal is normally present in the connector, the front probe at the time of inspection hits the wire terminal in the connector and moves backward against the bias. In contact with the probe, the output means of the inspection unit is electrically connected to the rear probe via the front probe. On the other hand, when the wire terminal does not exist normally in the connector, the front probe during inspection is in the connector. No contact with the rear probe against the urging force, no contact with the rear probe, and the output means of the inspection unit is not electrically connected to the rear probe via the front probe,For a plurality of wires whose wire terminals are fixed to both ends and accommodated in the connector, the closed circuit is provided through the connector that accommodates the wire terminal secured to the other end of the wire and the wire connected to the rear probe. Can be inspected for disconnection or disconnection and missing or poor posture of the wire terminal, and for the optional wire with the wire terminal not fixed to the other end, Closed circuit through the output means electrically connected to the rear probe via the front probe corresponding to the electric wire terminal fixed to this optional electric wire and accommodated in the connector, and the electric wire connected to the rear probe corresponding to this output means By checking whether or not is formed, it is possible to inspect whether or not the electric wire terminal is normally present in the connector. In particular, using the same front probe and rear probe for inspecting a plurality of wires with wire terminals fixed at both ends, a plurality of wires with wire terminals fixed at both ends and wire terminals only at one end For both the optional cable andIt is possible to obtain a connector terminal inspection device that can easily inspect whether or not the electric wire terminals are correctly mounted and accommodated.
[0041]
According to the invention described in claim 2, since the output means can be easily configured without forming a part of the front block with a printed circuit board and providing any other member, in addition to the effect of the invention described in claim 1, A compact and inexpensive connector terminal tester can be obtained.
[0042]
According to the invention described in claim 3, since the output means can be formed by the printed circuit board that forms a part of the support block and the coil spring that biases the front conductive pin, the effect of the invention described in claim 2 is achieved. In addition, a more compact and inexpensive connector terminal inspection device can be obtained.
[0043]
According to the fourth aspect of the present invention, when the rear end of the front conductive pin comes into contact with the front end of the rear conductive pin due to the backward movement of the front conductive pin, the rear conductive pin can be moved back against the bias, and the variation in dimensions is allowed. Since the force finally exerted on the electric wire terminal by the conductive pin can be determined, in addition to the effect of the invention of claim 3, a large unnecessary extra force is applied to the electric wire terminal of the connector to be inspected to damage the electric wire terminal. A connector terminal tester without worry.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a side sectional view showing a main part of a connector terminal inspection device according to the present invention.
FIG. 2 is an exploded perspective view showing an essential part of a connector terminal inspection device according to the present invention in an exploded manner.
3 is a plan view showing a detailed specific example of the printed circuit board in FIGS. 1 and 2. FIG.
4 is a side view corresponding to the side view of FIG. 1, showing a state at the time of inspection.
FIG. 5 is a perspective view showing an example of a conventional connector terminal inspection device.
6 is a side view in which a part of the connector terminal inspection device in FIG. 5 is cut away. FIG.
[Explanation of symbols]
C connector
C1 Electric wire terminal
2 Inspection Department
22 Inspection probe
22a Front probe
22a1 Front conductive pin
22a11 鍔
22a14 coil spring
22b Rear probe
22b1 Rear conductive pin
22b11 鍔
22b13 coil spring
23 Support means
23a Front block
23a3 output means
23a31 Through hole
23a32 Wiring pattern
23a4 Front probe receiving hole
23b Rear block
23b3 Rear probe accommodation hole
3 Connector holding part

Claims (4)

複数の電線の各々の一端に固着され収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、該コネクタ保持部に保持された前記コネクタの電線端子に電気接続されるように検査プローブが支持手段に支持されてなる検査部とを備え、
前記コネクタ保持部及び前記検査部の何れか一方が他方に対して相対的に移動するように設けられ、
前記検査プローブは前方プローブと後方プローブとを有し、かつ常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくとも前記コネクタの方向に付勢され、検査時前記前方プローブが前記コネクタ内の電線端子に突き当たり前記付勢に抗して後退したとき前記後方プローブと接触するように構成され、
前記接触によって前記電線端子、前記前方プローブ及び前記後方プローブが電気的に導通し、前記複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと前記後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するためのコネクタ端子検査器において、
前記検査部は、前記前方プローブと前記後方プローブとが接触したとき、前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段を有し、
前記電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている前記電線端子に対応する前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する前記後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記オプション用電線の一端に固着された電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査する
ことを特徴とするコネクタ端子検査器。
A connector holding part for holding a connector to be inspected having a wire terminal fixedly held at one end of each of the plurality of electric wires, and an inspection so as to be electrically connected to the wire terminal of the connector held by the connector holding part An inspection part in which the probe is supported by the support means,
Either one of the connector holding part and the inspection part is provided to move relative to the other,
The inspection probe has a front probe and a rear probe, and the front probe is biased at least in the direction of the connector so as to be always separated from the rear probe through a gap, and the front probe is in the connector at the time of inspection. Configured to come into contact with the rear probe when retreating against the biasing against the wire terminal of
The wire terminal, the front probe, and the rear probe are electrically connected by the contact, and a connector that accommodates a wire terminal fixed to the other end of the plurality of wires and a wire connected to the rear probe, In the connector terminal tester for inspecting the disconnection or non-connection of the electric wire connected to the electric wire terminal accommodated in the connector and the lack of the electric wire terminal or the poor posture depending on whether a closed circuit is formed through ,
The measurement part, when said front probe and the rear probe is in contact, have a output means which is the rear probe and electrically connected through the forward probe,
Output means electrically connected to the rear probe via the front probe corresponding to the electric wire terminal fixed to one end of an optional electric wire whose electric wire terminal is not fixed to the other end of the electric wire, and the output means A connector for inspecting a missing or poor posture of a wire terminal fixed to one end of the optional wire depending on whether a closed circuit is formed through a wire connected to the rear probe corresponding to Terminal tester.
前記支持手段は前記前方プローブを支持する前方ブロックと前記後方プローブを支持する後方ブロックとを有し、
前記出力手段は、前記前方ブロックの一部を形成し外側縁部が前記支持手段の側方に突出されたプリント基板によって形成され、
前記プリント基板は、前記前方プローブと常時電気接続され前記外側縁部まで引き出されている配線パターンを有する
ことを特徴とする請求項1記載のコネクタ端子検査器。
The support means includes a front block that supports the front probe and a rear block that supports the rear probe,
The output means is formed by a printed circuit board that forms part of the front block and whose outer edge protrudes to the side of the support means,
The connector terminal inspection device according to claim 1, wherein the printed circuit board has a wiring pattern that is always electrically connected to the front probe and drawn to the outer edge.
前記前方プローブは、中間部に鍔を形成した前方導電ピンと、該前方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、
前記前方ブロックは、前記前方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と前記プリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収容孔23a4を有し、
前記前方導電ピンは、前記コイルスプリングによる付勢によってその先端部が前記コネクタの方向に突出するように前記前方プローブ収容孔内に保持され、
前記プリント基板は、前記付勢に抗する前記前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通させ前記後方プローブとの接触を許容する貫通孔を有する
ことを特徴とする請求項2記載のコネクタ端子検査器。
The front probe includes a front conductive pin having a flange formed in an intermediate portion thereof, and a coil spring that biases the front conductive pin toward the connector,
The front block has a front probe receiving hole 23a4 that movably accommodates the front conductive pin and accommodates the coil spring in a contracted manner between the flange and the wiring pattern of the printed circuit board,
The front conductive pin is held in the front probe housing hole so that the tip of the front conductive pin protrudes in the direction of the connector by urging by the coil spring,
3. The connector terminal inspection according to claim 2, wherein the printed circuit board has a through hole that penetrates a rear end portion thereof and allows contact with the rear probe when the front conductive pin that resists the bias is retracted. vessel.
前記後方プローブは、中間部に鍔を形成した後方導電ピンと、該後方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、
前記後方ブロックは、前記後方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔との間に縮設し前方導電ピンをコイルスプリングによってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を有し、
前記後方導電ピンは、その後端部が前記コネクタと反対方向に突出されるように前記後方プローブ収容孔内に保持されている
ことを特徴とする請求項3記載のコネクタ端子検査器。
The rear probe includes a rear conductive pin having a flange formed in an intermediate portion thereof, and a coil spring that biases the rear conductive pin toward the connector,
The rear block accommodates the rear conductive pin movably, and a rear probe housing that retracts the coil spring between the hook and urges the front conductive pin toward the connector by the coil spring. Have holes,
The connector terminal inspector according to claim 3, wherein the rear conductive pin is held in the rear probe receiving hole so that a rear end portion of the rear conductive pin protrudes in a direction opposite to the connector.
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