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JP3788329B2 - コンデンサアレイ - Google Patents

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JP3788329B2
JP3788329B2 JP2001365217A JP2001365217A JP3788329B2 JP 3788329 B2 JP3788329 B2 JP 3788329B2 JP 2001365217 A JP2001365217 A JP 2001365217A JP 2001365217 A JP2001365217 A JP 2001365217A JP 3788329 B2 JP3788329 B2 JP 3788329B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数のコンデンサを単一の素体に形成してなるコンデンサアレイに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、通信装置等の電子回路を用いた装置の小型化および集積化に伴い、これに搭載する電子部品についても小型化、集積化が行われている。この一例として、コンデンサ等のアレイ化が行われており、その需要は増大している。
【0003】
従来のコンデンサアレイの構成について、図7〜図10を参照して説明する。
図7はコンデンサアレイの外観斜視図であり、図8はコンデンサアレイの分解斜視図である。
また、図9はコンデンサアレイの平面断面図であり、図10は他の一例のコンデンサアレイの平面断面図である。
図7〜図10において、200は積層型のコンデンサアレイであり、201〜204はそれぞれ単体のコンデンサである。また、21は素体、22は誘電体シート、23は内部電極、24は内部電極引き出し部、25は外部電極である。
【0004】
図8に示すように、素体21は内部電極23を形成している誘電体シート22と内部電極を形成していない誘電体シート22とをそれぞれ所定枚数積層してなる。内部電極を形成している誘電体シート22には、その表面に四つの内部電極23を配列して形成するとともに、それぞれの内部電極23に導通し、外部に接続ができるよう誘電体シート22の端部にまで延長された四つの内部電極引き出し部24を形成している。
【0005】
素体21は以下の方法で積層される。すなわち、内部電極を形成しない誘電体シート22を所定枚数積層し、その上に、内部電極引き出し部24が上下の誘電体シート22同士で重ならないよう、内部電極23を形成した誘電体シート22を交互に順次、所定枚数だけ積層する。さらにその上に内部電極を形成していない誘電体シート22を所定枚数積層する。この積層した誘電体シート22を焼結することにより、素体21を形成する。この素体21の表面に内部電極引き出し部24と導通する外部電極25を形成する。
【0006】
このような構造とすることにより、図7に示すように、コンデンサアレイ200は、それぞれに内部電極(図示せず)と外部電極25とを備える個々のコンデンサ201〜204により構成される。
【0007】
ここで、図9に示すように、四つの内部電極23は誘電体シート22の長辺方向の中点を通る直線に対称で形成されている。内部電極引き出し部24はその延長方向の中心線が内部電極23の中心線と一致するように形成されている。このため、内部電極23の形成ピッチP0 と内部電極引き出し部24の形成ピッチP1 とは同じとなる。また、内部電極引き出し部24の位置に対応させて、素体21外面部に外部電極25を形成するので、内部電極23の形成ピッチと外部電極25の形成ピッチとは同じとなる。
【0008】
一方、図10に示すように、内部電極引き出し部24の素体外面に接する部分のピッチP2 を内部電極23の形成ピッチP0 よりも広くした構造のものがある。この構造は、特開平11−154621に開示されているコンデンサアレイの構造であり、端子間の短絡防止の効果を得ることができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このような従来のコンデンサアレイについては、解決すべき課題が存在した。
【0010】
図11の(a)は、従来のコンデンサアレイを半田付けした状態の外観斜視図であり、(b)は単体の積層コンデンサを半田付けした状態の外観斜視図である。
図11において、200はコンデンサアレイ、210は単体の積層コンデンサ、31、32はそれぞれの半田フィレットである。
図11の(b)に示すように、単体のコンデンサ210は、両外部電極端面(図における右手前面と左奥面)から側面にかけてそれぞれ半田フィレット32を形成して、基板に装着されている。すなわち、四側面で基板に装着されており、一カ所の半田量も多い。一方、図11の(a)に示すように、コンデンサアレイ200は、アレイを構成する各コンデンサの外部電極により基板に半田付けされており、半田付け位置がコンデンサアレイ200本体の側面のみである。また、コンデンサアレイの外形が前記の単体の積層コンデンサと略同じであるため、各外部電極が小さく、半田付け面積が小さくなり、半田量が少なくなる。また、外部電極が離間しているため、半田が集中せず、強度が弱くなる。
【0011】
図10に示したコンデンサアレイにおいては、外部電極のピッチが大きく、外部電極間のギャップも大きいため、支点間距離が広がり、基板がたわんだ時に、コンデンサアレイが受ける応力が大きくなる。このため、基板のたわみの原因となる落下衝撃に弱くなる。
【0012】
このため、例えば、コンデンサアレイが搭載された携帯電話等の移動体通信器に落下などにより外力が加わると、コンデンサアレイにクラックが発生する場合がある。その要因は、外力が加わることにより、コンデンサアレイを装着している基板がたわみ、その応力により、コンデンサアレイにクラックが発生することにあると考えられている。
【0013】
この発明の目的は、コンデンサアレイを搭載する通信装置が受ける外力によっても剥離しない、十分な半田付け強度を得られる小型のコンデンサアレイを構成することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
この発明は、略直方体形状の素体の側面に設けられた外部電極の形成ピッチを、外部電極に導通する内部電極の形成ピッチよりも狭くして、コンデンサアレイを構成する。
【0015】
また、この発明は、隣り合う外部電極間のギャップを50μm以上としてコンデンサアレイを構成する。
【0016】
また、この発明は、外部電極を素体の側面の中央に対し、内部電極の並設方向に対称に設けることによりコンデンサアレイを構成する。
【0017】
【発明の実施の形態】
第1の実施形態に係るコンデンサアレイの構成について、図1〜図6を参照して説明する。
図1はコンデンサアレイの外観斜視図である。
図2はコンデンサアレイの分解斜視図であり、図3はその平面断面図である。
図4、図5は他の形状の内部電極引き出し部を備えるコンデンサアレイの平面断面図である。
図6は落下試験装置の外観斜視図である。
【0018】
図1〜図5において、100はコンデンサアレイ、101〜104はコンデンサ、11は素体、12は誘電体シート、13は内部電極、14は内部電極引き出し部、15は外部電極である。
また、P0 は内部電極13の形成ピッチ、P3 ,P4 ,P5 は内部電極引き出し部14に導通する外部電極15の形成ピッチ、PG は外部電極15の隣り合う電極間のギャップである。
図6において、51はコンデンサアレイを実装したサンプル基板、52は落下治具、53は方向支持棒、54はコンクリートの土台である。
【0019】
図1に示した素体11は、図2に示すように、内部電極13を形成している誘電体シート12と内部電極を形成していない誘電体シート12とをそれぞれ所定枚数積層してなる。内部電極13を形成している誘電体シート12は、その表面に四つの内部電極13を配列して形成し、それぞれの内部電極13に導通し、外部に接続ができるよう誘電体シート12の端部にまで延長された四つの内部電極引き出し部14を形成している。
【0020】
素体11は以下の方法で積層される。すなわち、内部電極を形成しない誘電体シート12を所定枚数積層し、その上に、重なり合う上下の誘電体シート12同士において内部電極引き出し部14が重ならないよう、内部電極13を形成した誘電体シート12を交互に順次、所定枚数だけ積層する。さらにその上に内部電極を形成していない誘電体シート12を所定枚数積層する。この積層した誘電体シート12を焼結することにより、素体11を形成する。この素体11の表面に内部電極引き出し部14と導通する外部電極15を形成する。
【0021】
このような構造とすることにより、図1に示すように、コンデンサアレイ100は、それぞれに内部電極(図示せず)と外部電極15とを備える個々のコンデンサ101〜104により構成される。
【0022】
また、図3に示すように、四つの内部電極13およびこれらに導通する内部電極引き出し部14を、誘電体シート12の長辺方向の中心S−Sを対称軸として所定の幅で形成している。ここで、内部電極引き出し部14の形成ピッチP3 が内部電極13の形成ピッチP0 よりも短くなるように、内部電極引き出し部14を形成する。すなわち、内部電極引き出し部14の中心軸を内部電極13の中心軸からずらし、配列方向の中心に寄せるように内部電極引き出し部14を形成する。
【0023】
なお、他の内部電極引き出し部14の構造として、図4に示す構造であってもよい。図4に示すように、内部電極引き出し部14を、内部電極13の端部から誘電体シート12の端部にかけて、内部電極13の中心線から斜めに、所定の幅に形成する。ここで、内部電極引き出し部14の形成ピッチP4 を内部電極13の形成ピッチP0 よりも短くなるように形成する。
【0024】
また、図5に示すように、内部電極引き出し部14を配列方向の中心に寄せるのではなく、配列方向の端部に寄せて形成する構造も考えられる。この場合でも、内部電極引き出し部14の形成ピッチP5 を内部電極13の形成ピッチP0 よりも短く形成する。
【0025】
これらのコンデンサアレイおよび従来のコンデンサアレイについて、その耐衝撃性および半田付け性を実験した結果を以下に示す。
【0026】
前述の実施形態に示した図3、図4、図5、従来技術に示した図9、図10の構造のコンデンサアレイについて実験を行った。
【0027】
ここで、これらコンデンサアレイに共通の構造および製造方法は次のとおりである。
BaTiO3 系で3μm厚の誘電体シートを用い、内部電極および内部電極引き出し部を形成した誘電体シートを180枚積層し、その上下に電極を形成していない誘電体シートを各65枚積層して、これをプレスしてブロックを作成する。このブロックを所定の形状にカットして、四つのコンデンサを有するコンデンサアレイの素体の生チップを形成する。この生チップを1300℃で焼成することにより素体を形成する。次に、素体の側面に内部電極引き出し部に接続するように、銅等からなる導電ペーストを塗布し、N2 雰囲気中、850℃で焼付け、その後NiおよびSnのメッキを行い、外部電極を形成する。このようにして、外形寸法は3.2mm×1.6mm×1.15mmで、1μFのコンデンサを四つ形成したコンデンサアレイを形成する。
【0028】
ここで、内部電極引き出し部および外部電極の幅は400μmであり、内部電極の形成ピッチP0 は800μmである。
【0029】
このようなコンデンサアレイについて、内部電極引き出し部および外部電極の形成ピッチP1 〜P5 および、隣り合う内部電極引き出し部および外部電極間のギャップPG をパラメータとして、耐落下衝撃性および半田付け性の実験を行った。
【0030】
耐落下衝撃性の実験は、図6に示す装置により行った。
コンデンサアレイを実装した基板51をナット等を間に挟むことにより、一定の距離をおいて、150mm四方で約400gの樹脂製落下治具52に固定する。落下治具52は方向支持棒53によりコンクリートの土台54から鉛直方向に1.5mmの位置に固定されており、固定を解除するとコンクリートの土台54の表面に落下する。この落下動作を繰り返し行い、コンデンサアレイに発生するクラックを観測して結果を得た。
【0031】
また、半田付け性の実験は、各構造のコンデンサアレイを全て同じ条件で半田実装工程に流動し、短絡不良の発生について観測したものである。
【0032】
実験結果を表1に示す。
【0033】
【表1】
Figure 0003788329
【0034】
表1に示すように、本実施形態に示したコンデンサアレイについては、耐落下衝撃性の実験によりすくなくとも30回以上クラックの発生はなかった。一方で、従来のコンデンサアレイでは10回未満の落下衝撃でクラックが発生している。この結果から、本実施形態に示したように、内部電極引き出し部および外部電極の形成ピッチが狭いことにより、耐落下衝撃性が改善したと考えることができる。また、図3のコンデンサアレイよりも、図4、図5のコンデンサアレイが耐落下衝撃性が良いので、外部電極形成ピッチが狭くなるほど、耐落下衝撃性が向上すると考えることができる。これらのことより、外部電極の形成ピッチ、すなわち、コンデンサアレイが実装される基板との半田付けのピッチが狭いほど耐落下衝撃性がよい。この理由としては、コンデンサアレイが実装された基板が落下により衝撃を受ける際に、基板のたわみにより発生するコンデンサアレイの半田付け部に加わる応力が小さくなるからと考えられる。
【0035】
ここで、外部電極間のギャップが小さすぎると、半田付けによる短絡不良を発生することなる(表における▲4▼の場合)。よって、実験より、外部電極間のギャップは50μm以上であることが望ましい。
【0036】
また、図5に示したコンデンサアレイ(表における▲5▼の場合)については、耐落下衝撃性、半田付け性には特に問題を生じないが、外部電極が一方の端に寄っているため、コンデンサアレイに方向性ができる。これにより、コンデンサアレイを基板に実装する際に、方向に注意しなければならない。さらに、コンデンサアレイを自動実装する場合には、その前段階である部品のテーピング時に、方向を一致させてパッケージングしなければならず、製品製造工程の負荷が増加してしまう。よって、方向性をなくすために、コンデンサアレイの側面中央に対して対称に外部電極を形成したほうが望ましい。
【0037】
【発明の効果】
この発明によれば、略直方体形状の素体の側面に設けられた外部電極の形成ピッチを、外部電極に導通する内部電極の形成ピッチよりも狭くすることにより、耐落下衝撃性に優れたコンデンサアレイを構成することができる。
【0038】
また、この発明によれば、隣り合う外部電極間のギャップを50μm以上とすることにより、耐落下衝撃性に優れ、且つ半田付け性を改善したコンデンサアレイを構成することができる。
【0039】
また、この発明によれば、外部電極を素体の側面の中央に対し、内部電極の並設方向に対称に設けることにより、方向性が無くなり、実装不良を抑制し、パッケージングが容易なコンデンサアレイを構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態に係るコンデンサアレイの外観斜視図
【図2】本実施形態に係るコンデンサアレイの分解斜視図
【図3】本実施形態に係るコンデンサアレイの平面断面図
【図4】他の構造のコンデンサアレイの平面断面図
【図5】また他の構造のコンデンサアレイの平面断面図
【図6】耐落下衝撃性試験装置の外観斜視図
【図7】従来のコンデンサアレイの外観斜視図
【図8】従来のコンデンサアレイの分解斜視図
【図9】従来のコンデンサアレイの平面断面図
【図10】他の構造の従来のコンデンサアレイの平面断面図
【図11】従来のコンデンサアレイおよび単体の積層コンデンサを半田付けした状態の外観斜視図
【符号の説明】
100,200−コンデンサアレイ
101〜104,201〜204−コンデンサ
210−積層コンデンサ
11,21−素体
12,22−誘電体シート
13,23−内部電極
14,24−内部電極引き出し部
15,25−外部電極
31,32−半田フィレット
51−コンデンサアレイ実装サンプル基板
52−落下治具
53−方向支持棒
54−コンクリートの土台
0 −内部電極の形成ピッチ
1 〜P5 −内部電極引き出し部および外部電極の形成ピッチ
G −隣り合う外部電極間のギャップ

Claims (3)

  1. それぞれの表面に、並設した複数の内部電極と、該複数の内部電極にそれぞれ導通し、前記誘電体シートにおける前記内部電極の並設方向の側縁部に延びる内部電極引き出し部とを備えた複数の誘電体シートを積層してなる略直方体形状の素体を備え、該素体の両側面に、前記内部電極引き出し部を積層方向に交互に接続してなる外部電極を設けてなるコンデンサアレイにおいて、
    前記略直方体形状の素体の両側面に設けられた外部電極の形成ピッチを、該外部電極に導通する前記内部電極の形成ピッチよりも狭くしてなるコンデンサアレイ。
  2. 隣り合う前記外部電極間のギャップが50μm以上である請求項1に記載のコンデンサアレイ。
  3. 前記外部電極が前記素体の側面の中央に対し、前記内部電極の並設方向に対称に設けられている請求項1または請求項2に記載のコンデンサアレイ。
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