[go: up one dir, main page]

JP3778090B2 - 光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置 - Google Patents

光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3778090B2
JP3778090B2 JP2002017423A JP2002017423A JP3778090B2 JP 3778090 B2 JP3778090 B2 JP 3778090B2 JP 2002017423 A JP2002017423 A JP 2002017423A JP 2002017423 A JP2002017423 A JP 2002017423A JP 3778090 B2 JP3778090 B2 JP 3778090B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fiber hole
hole
fiber
optical connector
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002017423A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003215385A (ja
Inventor
敏彦 本間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP2002017423A priority Critical patent/JP3778090B2/ja
Publication of JP2003215385A publication Critical patent/JP2003215385A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3778090B2 publication Critical patent/JP3778090B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光コネクタフェルールにおけるファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光コネクタフェルールの一つとして、1対のガイド穴と複数のファイバ穴とを有するMTコネクタフェルールがある。このようなMTコネクタフェルールにおけるファイバ穴の偏心を測定する方法としては、例えばガイド穴およびファイバ穴に光を入射させ、ガイド穴およびファイバ穴を撮像して画像処理することにより、各ファイバ穴の偏心値を測定することが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術においては、各ガイド穴および各ファイバ穴に入射させる光量を一定にして測定するため、以下の問題点が存在する。即ち、ファイバ穴長の違いや、ガイド穴およびファイバ穴の穴曲がり等といった構造の違いによって、画像処理して求めたガイド穴およびファイバ穴の穴径にばらつきが生じることがある。このとき、ガイド穴およびファイバ穴の穴径と共にガイド穴およびファイバ穴の中心位置がずれると、ファイバ穴の偏心値も変わってしまうため、ファイバ穴の偏心値を正確に測定することが困難である。
【0004】
本発明の目的は、光コネクタの偏心測定を正確に行うことができる光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、1対のガイド穴と複数のファイバ穴とを有する光コネクタフェルールにおけるファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定方法において、ガイド穴に光を入射させて、ガイド穴を撮像し、ガイド穴の画像データに基づいてガイド穴の穴径を検出し、ガイド穴の画像データから得られるガイド穴の穴径の検出値であるガイド穴径検出値が予め決められたガイド穴径設定値と一致するようにガイド穴への入射光量を制御し、ガイド穴径検出値がガイド穴径設定値に一致すると、その時のガイド穴の中心位置をガイド穴の画像データから求める第1手順と、ファイバ穴に光を入射させて、ファイバ穴を撮像し、ファイバ穴の画像データに基づいてファイバ穴の穴径を検出し、ファイバ穴の画像データから得られるファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するようにファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める第2手順と、1対のガイド穴の中心位置とファイバ穴の中心位置とからファイバ穴の偏心値を求める第3手順とを含むことを特徴とするものである。
【0006】
以上のような本発明においては、画像処理で得られるガイド穴径検出値がガイド穴径設定値に合致するようにガイド穴への入射光量を制御することにより、ガイド穴の曲がり等があっても、ガイド穴径検出値は常にガイド穴径設定値に等しくなるため、ガイド穴の画像データから求められるガイド穴の中心位置がずれて抽出されることは無い。また、画像処理で得られるファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に合致するようにファイバ穴への入射光量を制御することにより、ファイバ穴長の違いやファイバ穴の曲がり等があっても、ファイバ穴径検出値は常にファイバ穴径設定値に等しくなるため、ファイバ穴の画像データから求められるファイバ穴の中心位置がずれて抽出されることは無い。従って、各ファイバ穴の偏心値を正確に測定することができる。
【0007】
好ましくは、第2手順においては、まず初期測定かどうかを判断し、初期測定のときには、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値と一致するようにファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の入射光量の値をメモリに記憶し、初期測定でないときには、メモリに記憶された入射光量の値を用いてファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める。このようにファイバ穴への入射光量の制御を初期測定時のみ行うことにより、測定時間を短縮することができる。
【0008】
また、好ましくは、ガイド穴径設定値およびファイバ穴径設定値として、ピンゲージで実測した値を用いる。これにより、ガイド穴径設定値およびファイバ穴径設定値を簡単かつ確実に得ることができる。
【0009】
また、本発明は、少なくとも1つのファイバ穴を有する円筒状の光コネクタフェルールにおけるファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定方法において、光コネクタフェルールの一端面に光を照射して、光コネクタフェルールの一端面を撮像し、光コネクタフェルールの一端面の画像データに基づいて光コネクタフェルールの外径を検出し、光コネクタフェルールの一端面の画像データから得られる光コネクタフェルールの外径の検出値であるコネクタ外径検出値が予め決められたコネクタ外径設定値と一致するように光コネクタフェルールの一端面への照射光量を制御し、コネクタ外径検出値がコネクタ外径設定値に一致すると、その時の光コネクタフェルールの一端面の中心位置を光コネクタフェルールの一端面の画像データから求める第1手順と、ファイバ穴に光を入射させて、ファイバ穴を撮像し、ファイバ穴の画像データに基づいてファイバ穴の穴径を検出し、ファイバ穴の画像データから得られるファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するようにファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める第2手順と、光コネクタフェルールの一端面の中心位置とファイバ穴の中心位置とからファイバ穴の偏心値を求める第3手順とを含むことを特徴とするものである。
【0010】
以上のような本発明においては、画像処理で得られるコネクタ外径検出値がコネクタ外径設定値に合致するように光コネクタフェルールの一端面への照射光量を制御することにより、光コネクタフェルールの構造の違い等があっても、コネクタ外径検出値は常にコネクタ外径設定値に等しくなるため、光コネクタフェルールの一端面の中心位置がずれて抽出されることは無い。また、画像処理で得られるファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に合致するようにファイバ穴への入射光量を制御することにより、ファイバ穴長の違いやファイバ穴の曲がり等があっても、ファイバ穴径検出値は常にファイバ穴径設定値に等しくなるため、ファイバ穴の画像データから求められるファイバ穴の中心位置がずれて抽出されることは無い。従って、各ファイバ穴の偏心値を正確に測定することができる。
【0011】
好ましくは、第2手順においては、まず初期測定かどうかを判断し、初期測定のときには、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値と一致するようにファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の入射光量の値をメモリに記憶し、初期測定でないときには、メモリに記憶された入射光量の値を用いてファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める。このようにファイバ穴への入射光量の制御を初期測定時のみ行うことにより、測定時間を短縮することができる。
【0012】
また、好ましくは、ファイバ穴径設定値として、ピンゲージで実測した値を用いる。これにより、ファイバ穴径設定値を簡単かつ確実に得ることができる。
【0013】
さらに、本発明は、1対のガイド穴と複数のファイバ穴とを有する光コネクタフェルールにおけるファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定装置において、光コネクタフェルールを支持する支持手段と、ガイド穴およびファイバ穴に光を入射させるための光源と、ガイド穴およびファイバ穴を撮像する撮像手段と、ガイド穴の画像データに基づいてガイド穴の穴径を検出し、ガイド穴の画像データから得られるガイド穴の穴径の検出値であるガイド穴径検出値が予め決められたガイド穴径設定値と一致するように光源によるガイド穴への入射光量を制御し、ガイド穴径検出値がガイド穴径設定値に一致すると、その時のガイド穴の中心位置をガイド穴の画像データから求める第1光量制御演算手段と、ファイバ穴の画像データに基づいてファイバ穴の穴径を検出し、ファイバ穴の画像データから得られるファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するように光源によるファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める第2光量制御演算手段と、1対のガイド穴の中心位置とファイバ穴の中心位置とからファイバ穴の偏心値を求める偏心演算手段とを備えることを特徴とするものである。
【0014】
このように支持手段、光源、撮像手段、第1光量制御演算手段、第2光量制御演算手段および偏心演算手段を設けることにより、上述した光コネクタ測定方法を実施することができる。従って、ファイバ穴の偏心測定を正確に行うことができる。
【0015】
好ましくは、第2光量制御演算手段は、まず初期測定かどうかを判断し、初期測定のときには、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値と一致するように光源によるファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の入射光量の値をメモリに記憶し、初期測定でないときには、メモリに記憶された入射光量の値を用いてファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める。このようにファイバ穴への照射光量の制御を初期測定時のみ行うことにより、測定時間を短縮することができる。
【0016】
また、本発明は、少なくとも1つのファイバ穴を有する円筒状の光コネクタフェルールにおけるファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定装置において、光コネクタフェルールを支持する支持手段と、光コネクタフェルールの一端面に光を照射するための第1光源と、支持手段に対して第1光源の反対側に配置され、ファイバ穴に光を入射させるための第2光源と、光コネクタフェルールの一端面およびファイバ穴を撮像する撮像手段と、光コネクタフェルールの一端面の画像データに基づいて光コネクタフェルールの外径を検出し、光コネクタフェルールの一端面の画像データから得られる光コネクタフェルールの外径の検出値であるコネクタ外径検出値が予め決められたコネクタ外径設定値と一致するように第1光源による光コネクタフェルールの一端面への照射光量を制御し、コネクタ外径検出値がコネクタ外径設定値に一致すると、その時の光コネクタフェルールの一端面の中心位置を光コネクタフェルールの一端面の画像データから求める第1光量制御演算手段と、ファイバ穴の画像データに基づいてファイバ穴の穴径を検出し、ファイバ穴の画像データから得られるファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値となるように第2光源によるファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める第2光量制御演算手段と、光コネクタフェルールの一端面の中心位置とファイバ穴の中心位置とからファイバ穴の偏心値を求める偏心演算手段とを備えることを特徴とするものである。
【0017】
このように支持手段、第1光源、第2光源、撮像手段、第1光量制御演算手段、第2光量制御演算手段および偏心演算手段を設けることにより、上述した光コネクタ測定方法を実施することができる。従って、ファイバ穴の偏心測定を正確に行うことができる。
【0018】
好ましくは、第2光量制御演算手段は、まず初期測定かどうかを判断し、初期測定のときには、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値と一致するように第2光源によるファイバ穴への入射光量を制御し、ファイバ穴径検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の入射光量の値をメモリに記憶し、初期測定でないときには、メモリに記憶された入射光量の値を用いてファイバ穴の中心位置をファイバ穴の画像データから求める。このようにファイバ穴への照射光量の制御を初期測定時のみ行うことにより、測定時間を短縮することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る光コネクタ測定方法および装置の好適な実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【0020】
まず、本発明の第1の実施形態を図1〜図6により説明する。図1は、本実施形態の光コネクタ測定装置の概略を示す構成図である。同図において、光コネクタ測定装置1は、MT型光コネクタフェルール2の測定に使用されるものである。
【0021】
MT型光コネクタフェルール2は、図2に示すように、ガイドピン(図示せず)が挿入される1対のガイド穴3と、これらのガイド穴3間に設けられた複数のファイバ穴4とを有している。各ファイバ穴4には、光ファイバテープ心線(図示せず)の被覆部から露出した光ファイバが挿入される。なお、ガイド穴3の穴径(直径)は700μm程度であり、ファイバ穴4の穴径(直径)は125μm程度である。光コネクタフェルール2の上面部には、各ファイバ穴4に挿入された光ファイバの固定に用いる接着剤を注入するための窓穴5が設けられている。
【0022】
図1に戻り、光コネクタ測定装置1は、基台(図示せず)上に配置されたXYステージ6を有している。XYステージ6のX軸ステージ6Aは、X軸駆動モータ7によって駆動され、XYステージ6のY軸ステージ6Bは、Y軸駆動モータ8によって駆動される。
【0023】
XYステージ6上には、図3に示すように、光コネクタフェルール2を支持するための支持部材9が設けられている。この支持部材9は、光コネクタフェルール2の前端面(接続端面)が上側になるような姿勢で、光コネクタフェルール2の上面または下面をエアーにより支持面9A(図4参照)に吸着支持する。また、XYステージ6上には、光コネクタフェルール2を支持部材9の受け面9B(図4参照)に押し付けるための可動部材10がスライド自在に設けられている。この可動部材10は、押付駆動モータ11によって駆動される。
【0024】
支持部材9の下方には、光コネクタフェルール2の後部側からガイド穴3及びファイバ穴4に光を入射させて透過させるための光量可変な光源12が配置されている。このような光源12としては、時間の経過で光量が揺らぐことが無いメタルハライド光ランプを使用するのが好ましい。
【0025】
支持部材9の上方にはZ軸ステージ13が配置され、このZ軸ステージ13はZ軸駆動モータ14によって垂直方向に駆動される。Z軸ステージ13には、測定レンズ15を介して光コネクタフェルール2のガイド穴3及びファイバ穴4を撮像するためのCCDカメラ16が取り付けられている。
【0026】
このCCDカメラ16の撮像時に、光コネクタフェルール2のガイド穴3及びファイバ穴4を透過する光以外に、光源12からの光の回り込みがあると、その光が測定レンズ18に反射して正確な測定ができなくなる虞がある。そこで、可動部材10の側面には、図3に示すように、光源12からの光を遮断するための遮光板17が固定されている。これにより、可動部材10により光コネクタフェルール2を支持部材9の受け面9Bに押し付けた状態では、光源12からの光が測定レンズ15側に漏れることは無く、ガイド穴3及びファイバ穴4を透過する光のみが捉えられる。
【0027】
また、光コネクタフェルール2にバリが存在すると、光コネクタフェルール2が傾いた状態で支持部材9に吸着支持されることがあり、この場合にはガイド穴3及びファイバ穴4の軸心方向と光源12からの光の入射方向とがずれるため、正確な測定ができなくなる虞がある。そこで、図4に示すように、支持部材9の支持面9A及び受け面9Bにはバリよけ用切欠部18A〜18Dが設けられ、可動部材10の先端部にはバリよけ用切欠部19A〜19Cが設けられ、遮光板17の可動部材10側の縁部には、バリよけ用切欠部20A,20Bが設けられている。バリよけ用切欠部18A,19Aは、1対の光コネクタフェルール成形用金型を突き合わせることで光コネクタフェルール2に形成されるバリをよける為のものである。それ以外のバリよけ用切欠部は、光コネクタフェルール2の角部に形成されるバリをよける為のものである。このようなバリよけ用切欠部を設けることにより、光コネクタフェルール2にバリがあっても、光コネクタフェルール2を支持部材9に吸着支持したときには、バリよけ用切欠部にバリが入り込むため、光コネクタフェルール2の姿勢が傾くことは無い。
【0028】
また、光コネクタ測定装置1は、制御ユニット21と、この制御ユニット21に各種データを入力する入力部22とを有している。制御ユニット21は、画像処理部、演算処理部、メモリ等からなっている。制御ユニット21は、光源12、各駆動モータ7,8,11,14やコネクタ搬送ロボット(図示せず)の制御を行うと共に、CCDカメラ16の出力信号(画像データ)を画像処理して、光コネクタフェルール2の各ファイバ穴4の偏心値の演算を行う。
【0029】
以下、図5に示すフローチャートに従って制御ユニット21による制御処理の詳細を明らかにしつつ、光コネクタ測定装置1により光コネクタフェルール2のファイバ穴4の偏心測定を行う方法を説明する。なお、本測定は、ロットでの連続自動測定である。また、ここでは、光コネクタフェルール2の一方のガイド穴3をG1、他方のガイド穴3をG2、各ファイバ穴4をFn(n=1〜4)と称することとする(図6参照)。
【0030】
まず、偏心測定を実施する前に、光コネクタフェルール2の各ガイド穴3及び各ファイバ穴4の穴径を予めピンゲージで実測しておく。このとき、径の異なる複数のピンゲージを用意し、ガイド穴3及びファイバ穴4にピンゲージが入るか否かによって穴径を決定する。そして、これらの実測値をそれぞれガイド穴径設定値およびファイバ穴径設定値として、入力部22により制御ユニット21に入力し、制御ユニット21のメモリに記憶しておく。
【0031】
実際の偏心測定を行うときは、オペレータは入力部22により測定開始を指示する。すると、制御ユニット21は、まずコネクタ搬送ロボット(図示せず)及び押付駆動モータ11を制御し、光コネクタフェルール2を支持部材9の支持位置にセットする(手順100)。具体的には、コネクタ搬送ロボットによって、測定すべき光コネクタフェルール2をトレイから支持部材9の支持位置まで搬送し、支持面9aに吸着支持させる。続いて、可動部材10を駆動して、光コネクタフェルール2を支持部材9の受け面9Bに押し付ける。
【0032】
次いで、駆動モータ7,8を制御して、光コネクタフェルール2のガイド穴G1がCCDカメラ16の真下に位置するようにXYステージ6を移動させる。そして、光源12よりガイド穴G1に光を入射して透過させる。この時の入射光量(透過光量)は、予め設定されたガイド穴用の初期光量である。これにより、CCDカメラ16によりガイド穴G1が撮像され、その画像データが制御ユニット21に送られる。
【0033】
すると、制御ユニット21は、ガイド穴G1の画像データに基づいてガイド穴G1の穴径を検出する(手順101)。続いて、ガイド穴G の画像データから得られるガイド穴G1の穴径の検出値(ガイド穴径検出値)が予めメモリに記憶されたガイド穴径設定値と一致するように、光源12によるガイド穴G1への入射光量を制御する(手順102)。具体的には、ガイド穴G1の穴径の検出値がガイド穴径設定値より小さいときは、照射光量を大きくし、ガイド穴G1の穴径の検出値がガイド穴径設定値より大きいときは、照射光量を小さくする。そして、ガイド穴G1の穴径の検出値がガイド穴径設定値に一致すると、その時のガイド穴G1の中心位置をガイド穴G 1 の画像データから求める(手順103)。
【0034】
次いで、駆動モータ7,8を制御して、光コネクタフェルール2のガイド穴G2がCCDカメラ16の真下に位置するようにXYステージ6を移動させる。そして、光源12よりガイド穴G2に光を入射して透過させる。これにより、CCDカメラ16によりガイド穴G2が撮像され、その画像データが制御ユニット21に送られる。
【0035】
すると、制御ユニット21は、ガイド穴G2の画像データに基づいてガイド穴G2の穴径を検出する(手順104)。続いて、ガイド穴G 2 の画像データから得られるガイド穴G2の穴径の検出値(ガイド穴径検出値)がメモリに記憶されたガイド穴径設定値と一致するように、光源12によるガイド穴G2への入射光量を制御する(手順105)。そして、ガイド穴G2の穴径の検出値がガイド穴径設定値に一致すると、その時のガイド穴G2の中心位置をガイド穴G 2 の画像データから求める(手順106)。
【0036】
続いて、現在の偏心測定がロットの最初の測定であるかどうかを判断する(手順107)。そして、ロットの最初の測定であるときは、駆動モータ7,8を制御して、光コネクタフェルール2のファイバ穴FnがCCDカメラ16の真下に位置するようにXYステージ6を移動させる。そして、光源12よりファイバ穴Fnに光を入射して透過させる。この時の入射光量(透過光量)は、予め設定されたファイバ用の初期光量であり、ガイド穴用の初期光量よりも大きくしている。これにより、CCDカメラ16によりファイバ穴Fnが撮像され、その画像データが制御ユニット21に送られる。
【0037】
すると、制御ユニット21は、ファイバ穴Fnの画像データに基づいてファイバ穴Fnの穴径を検出する(手順108)。続いて、ファイバ穴F n の画像データから得られるファイバ穴Fnの穴径の検出値(ファイバ穴径検出値)が予めメモリに記憶されたファイバ穴径設定値と一致するように、光源12によるファイバ穴Fnへの入射光量(透過光量)を制御する(手順109)。そして、ファイバ穴Fnの穴径の検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴Fnの中心位置をファイバ穴F n の画像データから求める(手順110)。
【0038】
続いて、全てのファイバ穴Fnの中心位置を求めたかどうかを判断する(手順111)。そして、全てのファイバ穴Fnの中心位置を求めていないときは、上記の手順108〜110を繰り返し実行し、ファイバ穴F1〜F4の中心位置を順次求める。一方、手順111で全てのファイバ穴Fnの中心位置を求めたと判断されたときは、各ファイバ穴F1〜F4に対する入射光量の平均値を算出し(手順112)、この入射光量の平均値をメモリに記憶させる(手順113)。
【0039】
そして、ガイド穴G1,G2の中心位置とファイバ穴Fnの中心位置とから各ファイバ穴F1〜F4の偏心値を求める(手順114)。具体的には、ガイド穴G1,G2の中心位置が分かれば、各ファイバ穴Fnが存在すべき正規の位置が得られるため、その正規の位置に対するファイバ穴Fnの偏心値を求める。
【0040】
一方、手順107でロットの最初の測定でないと判断されたときは、ファイバ穴Fnへの入射光量が先にメモリに記憶した入射光量の平均値となるように光源12を制御し、その時のファイバ穴Fnの中心位置をファイバ穴F n の画像データから求める(手順115)。そして、全てのファイバ穴Fnの中心位置を求めたかどうかを判断し(手順116)、全てのファイバ穴Fnの中心位置を求めていないときは、上記の手順115を繰り返し実行し、ファイバ穴F1〜F4の中心位置をファイバ穴F 1 〜F 4 の画像データから順次求める。一方、全てのファイバ穴Fnの中心位置を求めたときは、ガイド穴G1,G2の中心位置とファイバ穴Fnの中心位置とから各ファイバ穴F1〜F4の偏心値を求める(手順114)。
【0041】
その後、押付駆動モータ11を制御して、可動部材10を支持部材9の受け面9Bに対して離反させる方向に移動させた後、コネクタ搬送ロボット(図示せず)を制御して、光コネクタフェルール2をトレイに戻す。以上により、一個の光コネクタフェルール2の偏芯測定が完了する。
【0042】
ここで、ガイド穴G1,G2の穴径の検出値が変化すると、ガイド穴G1,G2の中心位置がずれ、ファイバ穴Fnの偏心値が大きく変化するおそれがあるため、ガイド穴G1,G2については、上述したように入射光量を毎回調整して中心位置をガイド穴G ,G の画像データから求めるのが望ましい。一方、ファイバ穴Fnはガイド穴G1,G2よりも穴径が小さく、ガイド穴G1,G2に比べて偏心値測定に与える影響は少ない。このため、各ファイバ穴Fnについては、上述したようにロットの最初の測定時のみ入射光量を調整し、その後の測定時には、最初の測定時に得られた入射光量値を用いて中心位置を求めても特に問題はない。
【0043】
以上説明した図5のフローチャートにおいて、手順101〜106は、ガイド穴3の画像データに基づいてガイド穴3の穴径を検出し、ガイド穴3の画像データから得られるガイド穴3の穴径の検出値(ガイド穴径検出値)が予め決められたガイド穴径設定値と一致するように光源12によるガイド穴3への入射光量を制御し、ガイド穴3の穴径の検出値がガイド穴径設定値と一致すると、その時のガイド穴3の中心位置をガイド穴3の画像データから求める第1光量制御演算手段を構成する。手順108〜111は、ファイバ穴4の画像データに基づいてファイバ穴4の穴径を検出し、ファイバ穴4の画像データから得られるファイバ穴4の穴径の検出値(ファイバ穴径検出値)が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するように光源12によるファイバ穴4への入射光量を制御し、ファイバ穴4の穴径の検出値がファイバ穴径設定値と一致すると、その時のファイバ穴4の中心位置をファイバ穴4の画像データから求める第2光量制御演算手段を構成する。手順114は、1対のガイド穴3の中心位置とファイバ穴4の中心位置とからファイバ穴4の偏心値を求める偏心演算手段を構成する。
【0044】
以上のように本実施形態にあっては、光コネクタフェルール2のガイド穴3及びファイバ穴4の穴径を検出し、これらのガイド穴3の穴径の検出値およびファイバ穴4の穴径の検出値がそれぞれガイド穴径設定値およびファイバ穴径設定値と合致するように光源12の光量を調整し、その後ガイド穴3及びファイバ穴4の中心位置をガイド穴3の画像データおよびファイバ穴4の画像データから求めるので、ファイバ穴4の偏心値を正確に測定することができる。つまり、光コネクタフェルール2毎にファイバ穴4の穴長の違いや、ガイド穴3及びファイバ穴4の曲がり具合の違い等といった構造の違いがあっても、画像処理によって生成されるガイド穴3の穴径の検出値およびファイバ穴4の穴径の検出値は常にガイド穴径設定値およびファイバ穴径設定値に等しくなる。このため、光コネクタフェルール2の構造の違いによってガイド穴3及びファイバ穴4の中心位置がばらつくことは無く、常に正確な中心位置が得られる。従って、ファイバ穴4の偏心測定を高精度に行うことができる。
【0045】
また、各ファイバ穴4に対する入射光量の調整は、ロットの最初の測定時のみ行われるので、高い測定精度を確保しつつ、測定時間の短縮化を図ることができる。
【0046】
なお、本実施形態では、ロットの2回目以降の偏心測定時には、ファイバ穴4に対する入射光量を一定にして測定を行うものとしたが、特にその方法には限定されない。例えば、ロットの最初の数個の測定(ロットの初期測定)において、ファイバ穴4に対する入射光量を調整して、入射光量の平均値をとり、それ以降の偏心測定では、入射光量の調整を行わずに、入射光量の平均値を用いて測定を行ってもよい。また、ファイバ穴4に対する入射光量の調整は、毎回行っても勿論かまわない。特にファイバ穴が2段に配列された2次元光コネクタフェルール等の構造が複雑なものでは、入射光量の調整を毎回行う方が、測定精度が良くなる。
【0047】
本発明の第2の実施形態を図7〜図9により説明する。図中、第1の実施形態と同一または同等の部材には同じ符号を付し、その説明を省略する。
【0048】
図7は、本実施形態の光コネクタ測定装置の概略を示す構成図である。同図において、光コネクタ測定装置30は、図8に示すような1つのファイバ穴31を有する円筒状の光コネクタフェルール32の測定に使用されるものである。
【0049】
光コネクタ測定装置30は、XYステージ6上に設けられた支持部材33と可動部材34とを有している。支持部材33及び可動部材34は、光コネクタフェルール32に合わせた構造を有し、その機能は第1の実施形態における支持部材9及び可動部材10と同様である。
【0050】
支持部材33の上方には、光コネクタフェルール32の前端面(接続端面)に光を照射するための光源35が配置されている。また、支持部材33の下方には、光コネクタフェルール32のファイバ穴31に後部側から光を入射させて透過させるための光源36が配置されている。これら光源35,36としては、第1の実施形態における光源12と同じものを使用する。
【0051】
また、光コネクタ測定装置30は制御ユニット37を有している。この制御ユニット37は、光源35,36、各駆動モータ7,8,11,14やコネクタ搬送ロボット(図示せず)の制御を行うと共に、CCDカメラ16の出力信号を画像処理して、光コネクタフェルール32のファイバ穴31の偏心値の演算を行う。
【0052】
以下、図9に示すフローチャートに従って制御ユニット37による制御処理の詳細を明らかにしつつ、光コネクタ測定装置30により光コネクタフェルール32のファイバ穴31の偏心測定を行う方法を説明する。なお、本測定も、ロットでの連続自動測定である。
【0053】
まず、偏心測定を実施する前に、例えば非接触式の外径寸法測定器等により光コネクタフェルール32の前端面の外径を予め実測し、ファイバ穴31の穴径をピンゲージで予め実測しておく。そして、これらの実測値をそれぞれファイバ穴径設定値およびコネクタ外径設定値として、入力部22により制御ユニット37に入力し、制御ユニット37のメモリに記憶しておく。
【0054】
実際に測定を行うときは、オペレータは入力部22により測定開始を指示する。すると、制御ユニット37は、まずコネクタ搬送ロボット(図示せず)を制御すると共に、押付駆動モータ11を制御して可動部材34を駆動し、光コネクタフェルール32を支持部材33の支持位置にセットする(手順120)。
【0055】
次いで、光源35より光コネクタフェルール32の前端面に光を照射する。この時の照射光量(落射光量)は、予め設定された初期光量である。これにより、CCDカメラ16により光コネクタフェルール32の前端面が撮像され、その画像データが制御ユニット37に送られる。
【0056】
すると、制御ユニット37は、光コネクタフェルール32の前端面の画像データに基づいて光コネクタフェルール32の前端面の外径(以下、単にコネクタ外径という)を検出する(手順121)。続いて、光コネクタフェルール32の前端面の画像データから得られるコネクタ外径の検出値(コネクタ外径検出値)が予めメモリに記憶されたコネクタ外径設定値と一致するように、光源35による光コネクタフェルール32の前端面への照射光量を制御する(手順122)。具体的には、コネクタ外径の検出値がコネクタ外径設定値より小さいときは、照射光量を大きくし、コネクタ外径の検出値がコネクタ外径設定値より大きいときは、照射光量を小さくする。そして、コネクタ外径の検出値がコネクタ外径設定値に一致すると、その時の光コネクタフェルール32の前端面の中心位置を光コネクタフェルール32の前端面の画像データから求める(手順123)。
【0057】
続いて、現在の偏心測定がロットの最初の測定であるかどうかを判断する(手順124)。そして、ロットの最初の測定であるときは、光源36より光コネクタフェルール32のファイバ穴31に光を入射して透過させる。この時の照射光量(透過光量)は、予め設定された初期光量である。これにより、CCDカメラ16によりファイバ穴31が撮像され、その画像データが制御ユニット37に送られる。
【0058】
すると、制御ユニット37は、ファイバ穴31の画像データに基づいてファイバ穴31の穴径を検出する(手順125)。続いて、ファイバ穴31の画像データから得られるファイバ穴31の穴径の検出値(ファイバ穴径検出値)が予めメモリに記憶されたファイバ穴径設定値と一致するように、光源36によるファイバ穴31への入射光量を制御する(手順126)。そして、ファイバ穴31の穴径の検出値がファイバ穴径設定値に一致すると、その時のファイバ穴31の中心位置をファイバ穴31の画像データから求める(手順127)。また、その時のファイバ穴31に対する入射光量の値をメモリに記憶させる(手順128)。
【0059】
そして、光コネクタフェルール32の前端面の中心位置とファイバ穴31の中心位置とからファイバ穴31の偏心値を求める(手順129)。このとき、光コネクタフェルール32の前端面の中心位置とファイバ穴31の中心位置とのずれ量が、ファイバ穴31の偏心値となる。
【0060】
一方、手順124でロットの最初の測定でないと判断されたときは、ファイバ穴31への入射光量が先にメモリに記憶された入射光量の値となるように光源36を制御し、その時のファイバ穴31の中心位置を求める(手順130)。そして、光コネクタフェルール32の前端面の中心位置とファイバ穴31の中心位置とからファイバ穴31の偏心値を求める(手順129)。
【0061】
その後、可動部材34及びコネクタ搬送ロボット(図示せず)を作動させ、偏心測定が終了した光コネクタフェルール32をトレイに戻す。
【0062】
以上説明した図9のフローチャートにおいて、手順121〜123は、光コネクタフェルール32の一端面の画像データに基づいて光コネクタフェルール32の外径を検出し、光コネクタフェルール32の前端面の画像データから得られる光コネクタフェルール32の外径の検出値(コネクタ外径検出値)が予め決められたコネクタ外径設定値と一致するように第1光源35による光コネクタフェルール32の一端面への照射光量を制御し、光コネクタフェルール32の外径の検出値がコネクタ外径設定値と一致すると、その時の光コネクタフェルール32の一端面の中心位置を光コネクタフェルール32の前端面の画像データから求める第1光量制御演算手段を構成する。手順125〜127は、ファイバ穴31の画像データに基づいてファイバ穴31の穴径を検出し、ファイバ穴31の画像データから得られるファイバ穴31の穴径の検出値(ファイバ穴径検出値)が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するように第2光源36によるファイバ穴31への入射光量を制御し、ファイバ穴31の穴径の検出値がファイバ穴径設定値と一致すると、その時のファイバ穴31の中心位置をファイバ穴31の画像データから求める第2光量制御演算手段を構成する。手順129は、光コネクタフェルール32の一端面の中心位置とファイバ穴31の中心位置とからファイバ穴31の偏心値を求める偏心演算手段を構成する。
【0063】
以上のように本実施形態にあっては、コネクタ外径およびファイバ穴31の穴径を検出し、これらの光コネクタフェルール32の外径の検出値およびファイバ穴31の穴径の検出値がそれぞれコネクタ外径設定値およびファイバ穴径設定値と合致するように光源35,36の光量を調整し、その後ファイバ穴31の偏心値を求めるので、ファイバ穴31の偏心測定を正確に行うことができる。
【0064】
なお、本実施形態では、ロットの2回目以降の偏心測定時には、ファイバ穴31に対する入射光量を一定にして測定を行うようにしたが、ロットの最初の数個の測定(ロットの初期測定)において、ファイバ穴31に対する入射光量を調整して、入射光量の平均値をとり、それ以降の偏心測定では、入射光量の調整を行わずに、入射光量の平均値を用いて測定を行ってもよい。また、入射光量の調整を毎回行っても勿論かまわない。
【0065】
また、本実施形態は、単心光コネクタフェルールのファイバ穴の偏心測定を行うものであるが、本発明は、2つ以上のファイバ穴を有する円筒状の光コネクタフェルールにも適用可能である。
【0066】
【発明の効果】
本発明によれば、光コネクタフェルールのガイド穴の画像データに基づいてガイド穴の穴径を検出し、このガイド穴の画像データから得られるガイド穴の穴径の検出値であるガイド穴径検出値が予め決められたガイド穴径設定値と一致するようにガイド穴への入射光量を制御すると共に、ファイバ穴の画像データに基づいてファイバ穴の穴径を検出し、このファイバ穴の画像データから得られるファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するようにファイバ穴への入射光量を制御するので、ファイバ穴の偏心値を正確に測定することができる。
【0067】
また、本発明によれば、光コネクタフェルールの一端面の画像データに基づいて光コネクタフェルールの外径を検出し、この光コネクタフェルールの一端面の画像データから得られる光コネクタフェルールの外径の検出値であるコネクタ外径検出値が予め決められたコネクタ外径設定値と一致するように光コネクタフェルールの一端面への照射光量を制御すると共に、ファイバ穴の画像データに基づいてファイバ穴の穴径を検出し、このファイバ穴の画像データから得られるファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するようにファイバ穴への入射光量を制御するので、ファイバ穴の偏心値を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光コネクタ測定装置の第1の実施形態を示す概略構成図である。
【図2】図1に示す光コネクタ測定装置により測定される光コネクタフェルールを示す斜視図である。
【図3】図1に示す光コネクタ測定装置における支持部材および可動部材を含む部分を示す斜視図である。
【図4】図3に示す支持部材および可動部材の水平方向断面図である。
【図5】図1に示す制御ユニットによる制御処理の詳細を示すフローチャートである。
【図6】図2に示す光コネクタフェルールの正面図である。
【図7】本発明に係る光コネクタ測定装置の第2の実施形態を示す概略構成図である。
【図8】図7に示す光コネクタ測定装置により測定される光コネクタフェルールを示す斜視図である。
【図9】図7に示す制御ユニットによる制御処理の詳細を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1…光コネクタ検査装置、2…光コネクタフェルール、3…ガイド穴、4…ファイバ穴、9…支持部材(支持手段)、12…光源、16…CCDカメラ(撮像手段)、21…制御ユニット(第1光量制御演算手段、第2光量制御演算手段、偏心演算手段)、30…光コネクタ検査装置、31…ファイバ穴、32…光コネクタフェルール、33…支持部材(支持手段)、35…光源(第1光源)、36…光源(第2光源)、37…制御ユニット(第1光量制御演算手段、第2光量制御演算手段、偏心演算手段)。

Claims (10)

  1. 1対のガイド穴と複数のファイバ穴とを有する光コネクタフェルールにおける前記ファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定方法において、
    前記ガイド穴に光を入射させて、前記ガイド穴を撮像し、前記ガイド穴の画像データに基づいて前記ガイド穴の穴径を検出し、前記ガイド穴の画像データから得られる前記ガイド穴の穴径の検出値であるガイド穴径検出値が予め決められたガイド穴径設定値と一致するように前記ガイド穴への入射光量を制御し、前記ガイド穴径検出値が前記ガイド穴径設定値に一致すると、その時の前記ガイド穴の中心位置を前記ガイド穴の画像データから求める第1手順と、
    前記ファイバ穴に光を入射させて、前記ファイバ穴を撮像し、前記ファイバ穴の画像データに基づいて前記ファイバ穴の穴径を検出し、前記ファイバ穴の画像データから得られる前記ファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するように前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求める第2手順と、
    前記1対のガイド穴の中心位置と前記ファイバ穴の中心位置とから前記ファイバ穴の偏心値を求める第3手順とを含むことを特徴とする光コネクタ測定方法。
  2. 前記第2手順においては、まず初期測定かどうかを判断し、前記初期測定のときには、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値と一致するように前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の前記入射光量の値をメモリに記憶し、前記初期測定でないときには、前記メモリに記憶された前記入射光量の値を用いて前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めることを特徴とする請求項1記載の光コネクタ測定方法。
  3. 前記ガイド穴径設定値および前記ファイバ穴径設定値として、ピンゲージで実測した値を用いることを特徴とする請求項1または2記載の光コネクタ測定方法。
  4. 少なくとも1つのファイバ穴を有する円筒状の光コネクタフェルールにおける前記ファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定方法において、
    前記光コネクタフェルールの一端面に光を照射して、前記光コネクタフェルールの一端面を撮像し、前記光コネクタフェルールの一端面の画像データに基づいて前記光コネクタフェルールの外径を検出し、前記光コネクタフェルールの一端面の画像データから得られる前記光コネクタフェルールの外径の検出値であるコネクタ外径検出値が予め決められたコネクタ外径設定値と一致するように前記光コネクタフェルールの一端面への照射光量を制御し、前記コネクタ外径検出値が前記コネクタ外径設定値に一致すると、その時の前記光コネクタフェルールの一端面の中心位置を前記光コネクタフェルールの一端面の画像データから求める第1手順と、
    前記ファイバ穴に光を入射させて、前記ファイバ穴を撮像し、前記ファイバ穴の画像データに基づいて前記ファイバ穴の穴径を検出し、前記ファイバ穴の画像データから得られる前記ファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するように前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求める第2手順と、
    前記光コネクタフェルールの一端面の中心位置と前記ファイバ穴の中心位置とから前記ファイバ穴の偏心値を求める第3手順とを含むことを特徴とする光コネクタ測定方法。
  5. 前記第2手順においては、まず初期測定かどうかを判断し、前記初期測定のときには、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値と一致するように前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の前記入射光量の値をメモリに記憶し、前記初期測定でないときには、前記メモリに記憶された前記入射光量の値を用いて前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めることを特徴とする請求項4記載の光コネクタ測定方法。
  6. 前記ファイバ穴径設定値として、ピンゲージで実測した値を用いることを特徴とする請求項4または5記載の光コネクタ測定方法。
  7. 1対のガイド穴と複数のファイバ穴とを有する光コネクタフェルールにおける前記ファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定装置において、
    前記光コネクタフェルールを支持する支持手段と、
    前記ガイド穴および前記ファイバ穴に光を入射させるための光源と、
    前記ガイド穴および前記ファイバ穴を撮像する撮像手段と、
    前記ガイド穴の画像データに基づいて前記ガイド穴の穴径を検出し、前記ガイド穴の画像データから得られる前記ガイド穴の穴径の検出値であるガイド穴径検出値が予め決められたガイド穴径設定値と一致するように前記光源による前記ガイド穴への入射光量を制御し、前記ガイド穴径検出値が前記ガイド穴径設定値に一致すると、その時の前記ガイド穴の中心位置を前記ガイド穴の画像データから求める第1光量制御演算手段と、
    前記ファイバ穴の画像データに基づいて前記ファイバ穴の穴径を検出し、前記ファイバ穴の画像データから得られる前記ファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値と一致するように前記光源による前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求める第2光量制御演算手段と、
    前記1対のガイド穴の中心位置と前記ファイバ穴の中心位置とから前記ファイバ穴の偏心値を求める偏心演算手段とを備えることを特徴とする光コネクタ測定装置。
  8. 前記第2光量制御演算手段は、まず初期測定かどうかを判断し、前記初期測定のときには、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値と一致するように前記光源による前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の前記入射光量の値をメモリに記憶し、前記初期測定でないときには、前記メモリに記憶された前記入射光量の値を用いて前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めることを特徴とする請求項7記載の光コネクタ測定装置。
  9. 少なくとも1つのファイバ穴を有する円筒状の光コネクタフェルールにおける前記ファイバ穴の偏心を測定する光コネクタ測定装置において、
    前記光コネクタフェルールを支持する支持手段と、
    前記光コネクタフェルールの一端面に光を照射するための第1光源と、
    前記支持手段に対して前記第1光源の反対側に配置され、前記ファイバ穴に光を入射させるための第2光源と、
    前記光コネクタフェルールの一端面および前記ファイバ穴を撮像する撮像手段と、
    前記光コネクタフェルールの一端面の画像データに基づいて前記光コネクタフェルールの外径を検出し、前記光コネクタフェルールの一端面の画像データから得られる前記光コネクタフェルールの外径の検出値であるコネクタ外径検出値が予め決められたコネクタ外径設定値と一致するように前記第1光源による前記光コネクタフェルールの一端面への照射光量を制御し、前記コネクタ外径検出値が前記コネクタ外径設定値に一致すると、その時の前記光コネクタフェルールの一端面の中心位置を前記光コネクタフェルールの一端面の画像データから求める第1光量制御演算手段と、
    前記ファイバ穴の画像データに基づいて前記ファイバ穴の穴径を検出し、前記ファイバ穴の画像データから得られる前記ファイバ穴の穴径の検出値であるファイバ穴径検出値が予め決められたファイバ穴径設定値となるように前記第2光源による前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求める第2光量制御演算手段と、
    前記光コネクタフェルールの一端面の中心位置と前記ファイバ穴の中心位置とから前記ファイバ穴の偏心値を求める偏心演算手段とを備えることを特徴とする光コネクタ測定装置。
  10. 前記第2光量制御演算手段は、まず初期測定かどうかを判断し、前記初期測定のときには、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値と一致するように前記第2光源による前記ファイバ穴への入射光量を制御し、前記ファイバ穴径検出値が前記ファイバ穴径設定値に一致すると、その時の前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めると共に、その時の前記入射光量の値をメモリに記憶し、前記初期測定でないときには、前記メモリに記憶された前記入射光量の値を用いて前記ファイバ穴の中心位置を前記ファイバ穴の画像データから求めることを特徴とする請求項9記載の光コネクタ測定装置。
JP2002017423A 2002-01-25 2002-01-25 光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置 Expired - Fee Related JP3778090B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002017423A JP3778090B2 (ja) 2002-01-25 2002-01-25 光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002017423A JP3778090B2 (ja) 2002-01-25 2002-01-25 光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003215385A JP2003215385A (ja) 2003-07-30
JP3778090B2 true JP3778090B2 (ja) 2006-05-24

Family

ID=27653124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002017423A Expired - Fee Related JP3778090B2 (ja) 2002-01-25 2002-01-25 光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3778090B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8767064B2 (en) * 2009-05-25 2014-07-01 Japan Aviation Electronics Industry, Limited Combination of optical connector inspection apparatus and optical connector capable of inspecting a held posture of an optical fiber

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007278707A (ja) * 2006-04-03 2007-10-25 Moritex Corp 自動液体注入装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8767064B2 (en) * 2009-05-25 2014-07-01 Japan Aviation Electronics Industry, Limited Combination of optical connector inspection apparatus and optical connector capable of inspecting a held posture of an optical fiber

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003215385A (ja) 2003-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20100328435A1 (en) Method and apparatus for 3-dimensional vision and inspection of ball and like protrusions of electronic components
EP0893669B1 (en) Device and method for measuring deformation of a mechanical test specimen
JP3822785B2 (ja) 散乱式粒子径分布測定装置
JP2013015423A (ja) 硬さ試験機、及び硬さ試験方法
CN110836641B (zh) 一种零件异形表面微结构三维尺寸的检测方法及检测设备
CN110914636A (zh) 确定车辆的刹车盘外形和轮胎外形的系统、方法和多功能装置
JP4099367B2 (ja) プレーナー型導波路デバイス及びシステムに対して光学的に整列させるために、複数の多軸動作ステージを較正し及び整列させるための方法
KR20080111653A (ko) 카메라를 이용하여 측정 프로브의 원점을 보정하는 3차원측정장치
JP2002321080A (ja) レーザ微細加工用オートフォーカス装置
JP3778090B2 (ja) 光コネクタ測定方法および光コネクタ測定装置
US20030172680A1 (en) Arc recentering
JPH0921623A (ja) 2表面間の不連続を無接触で測定する方法
KR100443985B1 (ko) 콜리메이터 검사장치
JPH06148448A (ja) 光導波路の整列状態検査方法および光導波路
JP3162364B2 (ja) 光センサ装置
CN107709923B (zh) 形状测定装置及搭载有形状测定装置的涂布装置
JP5019507B2 (ja) レーザ加工装置および加工対象物の位置検出方法
JPH06130251A (ja) 光コネクタのコア偏心測定方法および光コネクタ
JP3670627B2 (ja) 微小形状部の寸法測定方法及び装置
JP3613210B2 (ja) 光コネクタ測定方法
JPH10307227A (ja) 光ファイバの僅かな軸非対称の角度位置決定およびファイバのスプライシングとアラインメント
JPH11337320A (ja) 眼内レンズ用自動投影機検査装置およびそれを用いた眼内レンズ検査方法
JP2006119086A (ja) 被検体保持方法および装置ならびに該被検体保持装置を備えた測定装置
JPH0915088A (ja) 多心光コネクタ組立不良検出方法及び装置
JPH08335613A (ja) ウェーハ検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050111

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050913

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060220

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090310

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100310

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100310

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110310

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110310

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120310

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120310

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130310

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140310

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees