JP3773677B2 - 光学式記録媒体記録装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等の光学式記録媒体に、映像信号、音声信号等を記録する記録装置の技術分野に属するものであり、特に、ディスク等が所定の厚さを持った透明基板を透過して情報の記録再生を行い、その基板の周方向の傾きの記録信号への影響を低減する装置の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクにおいては、情報の記録密度を高めることが求められ、そのために対物レンズの開口数を拡大することが行われている。開口数を拡大することよってディスク上の記録スポット径を小さく絞り込むことができ、小さなマークを記録できるようになるので記録信号の周方向の空間周波数を上げ、更にトラックピッチを狭めて高密度に情報を記録することが可能になるのである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このように開口数を拡大すると、基板に傾きが発生した場合、スポットで発生する収差量が大きくなり、スポット径が広がると共に、その分布が対称でなくなる。基板の半径方向の傾きについてはピックアップあるいはディスクの角度を随時調整することよって傾きの無い状態に維持することが概ね可能である。これに対し、基板の周方向の傾きについてはその変動速度が速く、このような機械的調整を行うことが困難である。故に、周方向の傾きによって記録されるマークは本来記録すぺき信号位置からのずれを生じ、これが再生時にはジッタとなって再生信号の品質を劣化させるという問題がある。これは基板が傾いた時のみならず、基板が平行でなく、厚み変動が生じる場合にも発生する。
【０００４】
また、前記基板の傾きによる前記収差量は、透過基板の厚さに比例して増大するため、前記収差量を低減するためには、透過基板厚を薄くすることが考えられる。しかしながら、透過基板厚が薄くなると、ディスク表面の傷や汚れがある場合に著しく性能が不安定となるという問題がある。
【０００５】
また、前記収差量を減少させるためには、ディスク全体の厚さを薄くすることも考えられるが、ディスク全体の厚さを薄くした場合には、基板の反りの発生量が増加し、前記傾きによる問題が発生するので、基板の厚さに拘わらずディスク全体の厚さは低減できないという問題がある。
【０００６】
そこで、本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ディスクの周方向の傾きが生じても正しく信号記録を与える光学式記録媒体記録装置を提供することを課題としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置は、前記課題を解決するために、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出手段と、記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段と、前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調手段と、前記変調手段によって強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射手段と、前記傾き検出手段による前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する記録パルス信号制御手段と、を備え、前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御手段は、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする。
【０００８】
請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、記録パルス信号生成手段により、記録対象の情報信号の符号化が行われ、記録パルス信号の生成が行われる。この記録パルス信号が変調手段に供給されると、この記録パルス信号に基づいてレーザー光強度が変調され、レーザー光照射手段により、強度の変調されたレーザー光が前記記録媒体に対して照射され、情報の記録が行われる。この記録は、レーザー光の加熱により記録媒体の材質の光学的特性を変化させ、マークを形成することにより行われる。従って、記録媒体の被照射面が周方向に傾きを有していると、収差の発生によりレーザー光のスポットの光量中心が適正な位置から移動することになる。しかし、本発明においては、傾き検出手段により、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出した場合には、記録パルス信号制御手段により、前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する。つまり、前記光量中心が時間的に進む位置に移動した場合には、前記記録パルス信号の出力タイミングを適正時よりも遅らせ、前記光量中心が時間的に遅れる位置に移動した場合には、前記記録パルス信号の出力タイミングを適正時よりも早くする。その結果、記録媒体上での温度勾配は、前記傾きが無い場合と同様に変化するため、記録されるマークのエッジ位置は適正位置となり、再生時においてもジッタを発生させず、また、エラーレートを増加させることがない。
また、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録媒体の記録面が、基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、収差の影響により、レーザー光のスポットの光量中心は光軸中心よりもレーザー光の記録媒体に対する相対的進行方向後側に位置し、このスポットによって形成されるマークのエッジ位置は、適正位置よりも時間的に進むことになる。しかし、前記記録パルス信号制御手段は、この方向における傾き角が大きくなる程、前記記録パルス信号の出力タイミングを記録媒体の傾きが無い場合の所定の基準タイミングよりも遅延させるので、結果的に前記マークは適正位置に記録されることになる。一方、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が、基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、収差の影響により、レーザー光のスポットの光量中心は光軸中心よりもレーザー光の記録媒体に対する相対的進行方向前側に位置し、このスポットによって形成されるマークのエッジ位置は、適正位置よりも時間的に遅れることになる。しかし、前記記録パルス信号制御手段は、この方向における傾き角が大きくなる程、前記記録パルス信号の出力タイミングを記録媒体の傾きが無い場合の所定の基準タイミングよりも早めるので、結果的に前記マークは適正位置に記録されることになる。
【００１０】
請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置は、前記課題を解決するために、請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置において、前記記録パルス信号制御手段は、読み書き自在な記憶手段と、前記記録パルス生成手段によって生成される記録パルス信号を、所定のサンプリングレートでサンプリングして前記記憶手段に書き込むと共に、所定の読み出しレートで前記記憶手段から読み出すデータ読み書き制御手段とを備え、当該データ読み書き制御手段は、前記記憶手段における所定の記憶単位毎に前記書き込みと読み出しを繰り返すと共に、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設けており、当該時間間隔を伸縮させることにより前記出力タイミングを変化させることを特徴とする。
【００１１】
請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、前記記録パルス生成手段によって生成される記録パルス信号は、データ読み書き制御手段により、所定のサンプリングレートでサンプリングされ、前記記憶手段における所定の記憶単位毎に書き込まれる。また、この書き込まれた記録パルス信号のサンプリングされたデータは、同じくデータ読み書き制御手段により所定の読み出しレートで前記記憶手段における所定の記憶単位毎に読み出される。そして、前記データ読み書き制御手段は、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設けており、当該時間間隔を所定の基準間隔よりも短縮させて読み出すことより、前記記録パルスの出力タイミングを早める。また、当該時間間隔を所定の基準間隔よりも伸張させて読み出すことにより、前記記録パルスの出力タイミングを遅延させる。このように、記録パルス信号を一旦記憶手段に記憶させた後に読み出すタイミングを変化させることで出力タイミングを調整するので、出力タイミングの制御が容易に行われる。
【００１２】
請求項３に記載の光学式記録媒体記録装置は、前記課題を解決するために、請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置において、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き角の大きさと前記出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルと、前記傾き検出手段の前記検出出力の値を前記変換テーブルに基づいて前記時間間隔の伸縮量に換算する換算手段とを更に備えることを特徴とする。
【００１３】
請求項３に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き検出手段により傾き角の大きさを示す検出出力が得られた場合には、変換テーブルに基づいて、当該傾き角の大きさを前記時間間隔の伸縮量に換算する。このように、変換テーブルにより、前記傾き検出手段の前記検出出力の値と前記時間間隔の伸縮量との関係が予め定められているので、前記時間間隔の伸縮量を迅速に得ることができ、前記出力タイミングの制御が迅速に行われる。
また、請求項４に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出手段と、記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段と、前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調手段と、前記変調手段によって強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射手段と、前記傾き検出手段による前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する記録パルス信号制御手段とを備え、前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き角の大きさと前記出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルを備え、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする。
さらに、請求項７に記載の光学式記録方法によれば、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出工程と、記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成工程と、前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調工程と、前記変調工程において強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射工程と、前記傾き検出工程における前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調工程における出力タイミングを制御する記録パルス信号制御工程と、を備え前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御工程においては、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射工程におけるレーザ光から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射工程におけるレーザ光に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を添付図面に基づいて説明する。
【００１５】
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態を図１乃至図１１に基づいて説明する。
【００１６】
図１は本発明の一実施形態における光学式記録媒体記録装置としてのディスク記録装置の概略構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態のディスク記録装置は、レーザー光照射手段としての記録ピックアップ１１と、該記録ピックアップ１１の記録光源であるレーザー２と、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc又はDigital Video Disc）またはＣＤ（Compact Disc）等の光学式記録媒体としてのディスクにおける基板３の傾きを検出する傾き検出手段としての基板傾き検出装置４と、該基板傾き検出装置４からの出力信号に基づいて記録パルス信号の出力タイミング調整量を算出する調整量算出部５と、記録対象の信号を出力する記録信号源６と、該記録信号源６から出力される信号を符号化して記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段としての記録パルス信号生成部７と、該記録パルス信号生成部７によって生成される記録パルス信号を一旦蓄積し、所定のタイミングで出力する出力タイミング制御部８と、レーザ光強度を該出力タイミング制御部８から出力される記録パルス信号に基づいて変調する変調手段としての変調器９とを備えている。
【００１７】
基板傾き検出装置４は、図２に示すように、ＬＥＤ４０を囲むようにして、基板３の周方向に沿って光検出器４１，４２が備えられており、光検出器４１，４２は差動増幅器４３に接続されている。このような構成において、ＬＥＤ４０から照射されて基板３の表面で反射された光は、光検出器４１，４２にて受光され、光検出器４１，４２は光電変換により受光量に応じた検出信号Ｓ１，Ｓ２を出力する。これらの検出信号Ｓ１，Ｓ２は差動増幅器４３に入力され、差動増幅器４３は、検出信号Ｓ１，Ｓ２の差分を出力する。
【００１８】
例えば、図７(A)(i)に示すように基板３が傾いていなければ、光検出器４１，４２の出力が等しくなるように調整されており、差動増幅器４３の出力はゼロレベルとなる。しかし、図７(B)(i)に示すように、基板が傾くと、これらの光検出器４１，４２の出力バランスが崩れるので、差動増幅器４３から正または負の出力が得られる。図７(A)(i)，図７(B)(i)においては紙面を貫く方向がディスク３の半径方向であり、図７(B)(i)は基板３の周方向において基板３が傾いている状態を示している。
【００１９】
記録パルス信号生成部７は、図３に示すように、エンコーダ７０と、ストラテジ付加部７１とから構成されている。エンコーダ７０は、記録信号源６から供給される１ｂｉｔのデータを８ｂｉｔ単位に分け、これを所定の１６ｂｉｔパターンとして記録する８／１６変調を行う。記録フォーマットにより規定されるビット間隔に対応る単位長さ（１チャンネルビット幅）をＴとすると、８／１６変調によりディスク３に記録されるチャンネルビットパルス列の最短パルス幅は３Ｔ、最長パルス幅は１１Ｔとなる。この８／１６変調を行うことにより、”１”，”０”の反転の最小間隔を長くすることができるため、記録特性に余裕を持たせることができると共に、データを詰めて記録することができ、記録密度を向上させることができる。また、ストラテジ付加部７１は、基板３上に生成される前後のピット間での熱干渉やピット後端部での熱蓄積を緩和するために、エンコーダ７０から出力される図９（ａ）に示すようなチャンネルビットパルスを、図９（ｂ）に示すようにトップパルスとマルチパルス列とからなる記録パルスに波形変換を行う。
【００２０】
出力タイミング制御部８は、図３に示すように、記憶手段としての読み書き可能なメモリ８０と、メモリ８０における書き込みアドレスの値を示す書き込みアドレスポインタ８１と、メモリ８０における読み出しアドレスの値を示す読み出しアドレスポインタ８２と、前記書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値に加算または減算する値が設定される加減算部８３とを備えている。
【００２１】
メモリ８０は、ＦＩＦＯ（First In First Out）方式のメモリであり、アドレスが割り当てられた複数の記憶単位から構成されている。図３において罫線で区切られるそれぞれの領域が、個々の記憶単位を表しており、各記憶単位は所定ビット数の容量を有している。図３においては説明の簡単のために０〜１３のアドレスで指定される１４個の記憶単位を示しているが、実際には非常に多くの記憶単位から構成される。例えば、１つの記憶単位（ｗｏｒｄ）の容量を４ｂｉｔとして、１Ｍｗｏｒｄの容量のメモリが用いられる。
【００２２】
書き込みアドレスポインタ８１は、一定のサンプリング間隔で前記記憶単位の容量分のデータを書き込むのに要する時間毎にポインタ値がインクリメントされるポインタであり、メモリ８０はこのポインタ値が示すアドレスに、一定のサンプリング間隔でサンプリングした前記記録パルスのサンプリングデータを書き込む。
【００２３】
読み出しアドレスポインタ８２は、前記サンプリング間隔と等しい一定の読み出し間隔で前記記憶単位の容量分のデータを読み出すのに要する時間毎にポインタ値がインクリメントされるポインタであり、メモリ８０はこのポインタ値が示すアドレスから、一定の読み出し間隔でサンプリングデータを読み出す。読み出しを開始するポインタ値は、前記書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値に、加減算部８３で設定された値を加算または減算した値が設定され、書き込みアドレスと読み出しアドレスが一致しないように構成されている。
【００２４】
加減算部８３は、調整量算出部５から出力される調整量としてのオフセット値を前記書き込みアドレスポインタ８１から出力されるポインタ値に対して加算または減算し、その結果を読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値としてセットする。従って、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値がインクリメントされる度にインクリメントされることになり、前記オフセット値によって決定される互いのポインタ値の差分が、メモリ８０へのデータの書き込みタイミングに対する読み出しタイミングの遅れ、即ち、サンプリングクロックと読み出しクロックとの位相差となる。
【００２５】
例えば、前記オフセット値を４に設定し、書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値からオフセット値を減算するように設定すると、メモリ８０のアドレスが０〜１３である場合には、図４に示すようになる。まず、時刻ｔ０において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が図４（ａ）に示すように０の時、アドレスは図４（ｃ）に示すように０であり、このアドレス０に図４（ｄ）に示すようにサンプリングデータＤ（ｔ０）が書き込まれたとする。そして、このポインタ値０から加減算部８３により４を減算し、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は図４（ｅ）に示すように−４となる。メモリ８０はサーキュラバッファとして用いられており図４（ｃ）に示すようにアドレス１３の次がアドレス０となるように書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が進む。従って、ポインタ値−４に相当するアドレスは０よりも４つ前のアドレスである１０となる。従って、時刻ｔ０においてアドレス０にデータＤ（ｔ０）が書き込まれている時に、図４（ｇ）に示すようにアドレス１０からのデータＤ（ｔ−４）が読み出される。次に、時刻ｔ１において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が図４（ａ）に示すように１となり、図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス１にデータＤ（ｔ１）が書き込まれ、図４（ｅ）に示すように読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値−３に対するアドレス１１から、図４（ｇ）に示すようにデータＤ（ｔ−３）が読み出される。以下、同様にして、時刻ｔ２で図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス２へデータＤ（ｔ２）が書き込まれると共に、図４（ｇ）に示すようにアドレス１２からのデータＤ（ｔ−２）の読み出しが行われる。また、時刻ｔ３で図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス３へのデータＤ（ｔ３）が書き込まれると共に、図４（ｇ）に示すようにアドレス１３からのデータＤ（ｔ−１）が読み出される。そして、時刻ｔ４で図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス４にデータＤ（ｔ４）が書き込まれると共に、図４（ｇ）に示すようにアドレス０から、前記時刻ｔ０に書き込まれたデータＤ（ｔ０）が読み出される。つまり、データＤ（ｔ０）が読み出されるのは、書き込まれた時刻ｔ０から４クロック分後の時刻ｔ４となる。つまり、読み出しタイミングは、書き込みタイミングに対して、
（加減算部８３におけるオフセット値）×（書き込みアドレスポインタのインクリメント周期）
により算出される遅れを有することになる。ここでは説明を簡単にするために、
（書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期）＝（サンプリングクロックの周期）
とした場合について説明したが、書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期を、サンプリングクロックのｎ周期分とした場合、つまり、１ｗｏｒｄがｎビットである場合を考えると、
（書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期）＝（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）
となるから、読み出しタイミングは、書き込みタイミングに対して、
（加減算部８３におけるオフセット値）×（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）
で算出される遅れを有することになる。
【００２６】
従って、加減算部８３におけるオフセット値が変化しない限り、前記遅れは一定であり、読み出しデータは書き込みデータに対して一定の位相を有することになる。つまり、レーザー２によって記録されるデータは、記録信号源６から出力される記録信号に対して一定の位相を有することになる。
【００２７】
しかしながら、加減算部８３におけるオフセット値を変更した場合には、前記位相がずれ、レーザー２によるデータの記録タイミングもずれることになる。例えば、上述の例の場合で、加減算部８３のオフセット値を３とした場合には、図４（ａ）に示すように時刻ｔ２において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が２の時に、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は図４（ｈ）に示すように−１であり、図４（ｉ）に示すようにアドレス１３のデータＤ（ｔ−１）が読み出される。一方、加減算部８３のオフセット値を５とした場合には、図４（ａ）に示すように時刻ｔ４において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が４の時に、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は図４（ｊ）に示すように−１であり、図４（ｋ）に示すようにアドレス１３のデータＤ（ｔ−１）が読み出される。このように、前記オフセット値を書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値から減算する構成の場合には、前記オフセット値を１減少させれば、データＤ（ｔ−１）の読み出しタイミングは、１クロック分早くなり、前記オフセット値を１増加させれば、データＤ（ｔ−１）の読み出しタイミングは、１クロック分遅くなる。
【００２８】
従って、書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期を、サンプリングクロックのｎ周期分とした場合、つまり、１ｗｏｒｄがｎビットである場合を考えると、前記オフセット値を１減少させれば、データの読み出しタイミングは、
｛（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）｝
に相当する分早くなり、前記オフセット値を１増加させれば、
｛（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）｝
に相当する分遅くなる。
【００２９】
そして、本実施形態では、この加減算部８３におけるオフセット値を、ディスク３の周方向における傾きに応じて変化させている。
【００３０】
再び図３に戻り、調整量算出部５は、Ａ／Ｄ変換部５０と、換算手段としての調整量換算部５１と、変換テーブル５２と、定常遅延量設定部５３とを備えている。
【００３１】
変換テーブル５２には、予め実験またはシミュレーションにて基板３の傾き角に応じて、レーザー光の出力タイミングの調整量が記録されたテーブルである。変換テーブル５２の例を図５に示す。図５に示す例では、基板３が、図６（Ａ）に示すように、光軸中心よりも基板３の周方向におけるレーザー光の相対的な進行方向の前方側が、基準水平位置から下方に傾く場合を正の傾き角とし、図６（Ｂ）に示すように基準水平位置から上方に傾く場合を負の傾き角としている。
【００３２】
なお、図６（Ａ），（Ｂ）においては、それぞれの方向の傾きが生じた場合のスポット形状を併せて示している。
【００３３】
調整量は、レーザーの出力タイミングを、基板３の傾きの無い場合を基準としてどの程度早めるか、あるいは遅延させるかを、例えば時間のデータとして有しており、基準より早める場合を正の調整量、遅延させる場合を負の調整量とした。
【００３４】
そして、調整量換算部５１は、Ａ／Ｄ変換部５０によってデジタル値に変換された傾き検出装置４からの出力値に対応する調整量を、前記変換テーブル５２から求め、求めた調整量を書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期の倍数に換算する。そして、この換算値を定常遅延量設定部５３により供給される定常遅延量、即ち前記オフセット値の初期値に対して加算まはた減算し、オフセット値として前記加減算部８３に出力する。なお、レーザーの出力タイミングを傾きの無い場合よりも早める場合には、即ち正の調整量に基づいて求められた前記換算値については、前記換算値を前記オフセット値の初期値から減算し、レーザーの出力タイミングを傾きの無い場合よりも遅延させる場合には、即ち前記換算値が負の調整量に基づいて求められた場合には、前記換算値を前記オフセット値の初期値に加算する。上述の例に沿って説明すれば、傾きの無い場合には、調整量は０であるから、初期値である４がそのままオフセット値として加減算部８３に設定される。また、傾き角が正であり、調整量が書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期に等しい場合には、換算値は１となるから、オフセット値の初期値４からこの１を減算して３をオフセット値として加減算部８３に設定する。更に、傾き角が負であり、調整量が書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期に等しい場合には、換算値は１となるから、オフセット値の初期値４にこの１を加算して５をオフセット値として加減算部８３に設定する。
【００３５】
以上のように、本実施形態においては、調整量算出部５と出力タイミング制御部８により、記録パルス信号制御手段が構成されている。また、書き込みアドレスポインタ８１と、読み出しアドレスポインタ８２と、加減算部８３と、調整量算出部５とにより、データ読み書き制御手段が構成されている。また、図３に示す本実施形態のディスク記録装置は、メモリ８０、傾き検出器４、変調器９、及びレーザー２を除き、全てＣＰＵにより構成されている。
【００３６】
そして、以上のような構成により、レーザーの出力タイミングは、基板３の傾きに応じて調整されることになる。ここで、基板３の傾きとレーザーの出力タイミングとの関係について詳しく説明する。
【００３７】
図７(A)(i)のように基板３に傾きが無い場合には、光強度分布が光軸中心位置に対して対称な形状のスポットビームが得られる。また、この場合には図７(A)(ii)，(iii)に示すように波面収差がない。
【００３８】
しかしながら、基板３が図７(B)(i)のように傾くと、図７(B)(ii)，(iii)に示すようにコマ収差に伴う波面収差が発生し、スポットビームの形状は図７(B)(i)のように、光軸中心位置に対して光強度分布が非対称な三角形のような形状となる。なお、図７(B)(i)，(ii)，(iii)に示した例は、波長６５０ｎｍ、対物レンズＮＡ０．６、基板厚み０．６ｍｍ、ディスク屈折率１．５８、及び基板３の傾き角を図６の場合に倣って負の方向に１．０度とした条件で計算したものである。
【００３９】
このようなコマ収差が発生した場合には、光量の中心は基板３が傾いた方向の三角形の頂点側に移動し、基板３上で熱分布が変化する。図９（Ｃ）〜（Ｅ）に基板３上の熱分布の変化の状態を示す。図９（Ａ）はエンコーダ７０から出力される８／１６変調後のパルスであり、収差が無い場合には、図９（Ｃ）に示すように、この８／１６変調後のパルスのエッジの位置で媒体温度がキュリー点を越える温度勾配を与えるように、図９（Ｂ）に示す記録パルスを出力する。その結果、図８（Ａ）に示すような形状のマーク１００が形成される。なお、この時スポットビーム１０１は光軸に対して対称形である。
【００４０】
一方、コマ収差が発生し、図８（Ｂ）に示したように三角形形状のスポットビーム１０３となった場合には、スポットビーム１０３の光量中心は無収差の場合と比べてスポットビーム１０３の進行方向後側に移動する。それ故、レーザーを同じく図９（Ｂ）に示す記録パルスによって駆動すると、この時の基板３上での温度勾配は図９（Ｄ）に示すように変化し、キュリー点を越える温度となる時点は時間的に進みを生じる。その結果、図８（Ｂ）に示すように、マーク１０２のエッジ位置は、無収差の場合よりも、時間的に進んだ位置になってしまう。
【００４１】
一方、基板３が、図７(B)(i)とは逆に、光軸中心よりもビームの進行方向前方側が基準水平位置に対して下がり、進行方向後方側が基準水平位置に対して上がるように傾く場合には、スポットビームの形状はスポットビームの進行方向前側に光量中心が移動した形状となり、レーザーを同じく図９（Ｂ）に示す記録パルスによって駆動すると、この時の基板３上での温度勾配は図９（Ｅ）に示すように変化し、キュリー点を越える温度となる時点は時間的に遅れを生じる。その結果、マークエッジ位置は、無収差の場合よりも、時間的に遅れた位置になってしまう。
【００４２】
これらのようなマークエッジ位置の時間的なずれは、再生時にはジッタとなり、再生信号のエラーレートを増加させることになる。
【００４３】
そこで、本実施形態では、実験またはシミュレーションにより、基板３の傾き方向及び傾き量に対するマークエッジ位置の時間的な進み量と遅れ量を求め、これらの進み量と遅れ量をゼロにするように調整量を定め、前記変換テープル５３を作成した。
【００４４】
その結果、マークエッジの位置を進めるような基板３の傾きが検出された場合には、前記変換テーブル５２から負の値の調整量が得られ、この負の値の調整量がオフセット値の初期値から減算されるので、オフセット値は増大し、上述したように読み出しタイミングと書き込みタイミングの位相差を大きくして、記録パルスの変調器９に対する出力タイミングを遅らせる。また、マークエッジの位置を遅らせるような基板３の傾きが検出された場合には、前記変換テーブル５２から正の値の調整量が得られ、この正の値の調整量がオフセット値の初期値から減算されるので、オフセット値は減少し、上述したように読み出しタイミングと書き込みタイミングの位相差を小さく、記録パルスの変調器９に対する出力タイミングを進める。
【００４５】
以下、図１０に基づいて本実施形態の装置の全体的な動作について説明する。なお、加減算部８３におけるオフセット値の初期値は４に設定されているものとする。図１０に示すように、時刻ｔ０からｔ４までの期間においては、図１０（Ｂ）に示すサンプリング間隔で、図１０（Ａ）に示すストラテジ付加されたデータがサンプリングされ、メモリ８０のアドレス０〜アドレス３に書き込まれる。また、時刻ｔ４からｔ８までの期間においては、図１０（Ａ）に示すストラテジ付加されたデータは無くなりゼロとなるが、このゼロのデータも同様にしてアドレス４〜アドレス７に書き込まれる。また、この時、読み出しアドレスポインタは０〜３の値となるので、図１０（Ｃ）に示すような読み出しクロックに基づいてアドレス０〜アドレス３のデータが読み出される。そして、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。
【００４６】
しかし、アドレス３のデータを記録している間に、傾き検出装置４により図６（Ａ）のような基板３の傾きが検出された場合には、調整量換算部５１は変換テーブル５２から傾き量に対応した調整量を読み出し、定常遅延量と当該調整量に基づいて新たなオフセット値を定める。この場合には、マークエッジ位置が１クロック分遅れる傾き量であったとすると、記録パルスの出力タイミングを１クロック分進めるために、オフセット値が３に変更される。
【００４７】
その結果、時刻ｔ８から時刻ｔ１０の期間では、アドレス８〜アドレス１０にデータが書き込まれるが、オフセット値が３に変更されたために、アドレス４〜アドレス６ではなく、アドレス５〜アドレス７のデータが読み出される。
【００４８】
そして、時刻ｔ１１から時刻ｔ１３の期間では、アドレス８〜アドレス１０のデータが読み出され、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。
【００４９】
ここで、記録パルスの出力タイミングを見ると、図１０（Ｄ）に示すように時刻ｔ４から時刻ｔ８の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１０（Ａ）に示すように時刻ｔ０からｔ４の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して４クロック分の遅れを有しているのに対し、図１０（Ｄ）に示すように時刻ｔ１１から時刻ｔ１３の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１０（Ａ）に示すように時刻ｔ８からｔ１０の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して３クロック分の遅れを有している。つまり、図１０（Ｅ）に示すように基板の傾きが無い場合に比べて、１クロック分進んだタイミングで出力されている。しかしながら、基板３の図６（Ａ）のような傾きにより、スポットビームの光量中心はビームの進行方向前方側となり、マークエッジ位置が１クロック分遅れて記録されることになる。従って、傾きの無い場合に比べて１クロック分進んで出力された記録パルスにより、１クロック分遅れた記録が行われるので、結果としてマークエッジ位置は傾きが無い場合と同じに正しい位置に記録されることになる。
【００５０】
次に、時刻ｔ１３においては、アドレス１３にデータの書き込みが行われる一方で、アドレス１０のデータが読み出され、データの記録を行わない出力でレーザー２からビームが照射される。そして、この時、基板３の傾きが無いことが検出されると、オフセット値は再び４に戻される。そして、時刻ｔ０’において、アドレス０にデータの書き込みが行われる時、アドレス１１ではなく、一つ前のアドレス１０からデータが読み出される。この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。この場合には記録パルスの出力タイミングに進みも遅れもなく、また、基板３の傾きが無いために光軸中心位置を中心に対称なスポットビーム形状となるため、マークエッジ位置も時間的に進みも遅れも無く正しい位置に記録されることになる。
【００５１】
次に、基板３の図６（Ｂ）のような傾きが検出された場合を図１１に基づいて説明する。時刻ｔ０からｔ８までの期間におけるデータの書き込みと読み出しは図１０の場合と同様である。しかし、時刻ｔ８におけるアドレス４のデータの読み出しと、レーザービームの出力時に、傾き検出装置４により図６（Ｂ）のような基板３の傾きが検出された場合には、調整量換算部５１は変換テーブル５２から傾き量に対応した調整量を読み出し、定常遅延量と当該調整量に基づいて新たなオフセット値を定める。この場合には、マークエッジ位置が１クロック分進む傾き量であったとすると、記録パルスの出力タイミングを１クロック分遅延させるために、オフセット値が５に変更される。
【００５２】
その結果、時刻ｔ９から時刻ｔ１’の期間では、アドレス９〜アドレス１にデータが書き込まれるが、オフセット値が５に変更されたために、アドレス５〜アドレス１１ではなく、アドレス４〜アドレス１０のデータが読み出される。
【００５３】
従って、時刻ｔ１３から時刻ｔ１’の期間においても、アドレス８〜アドレス１０のデータが読み出され、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９がレーザー駆動電流を変調し、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。
【００５４】
ここで、記録パルスの出力タイミングを見ると、図１１（Ｄ）に示すように時刻ｔ４から時刻ｔ８の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１１（Ａ）に示すように時刻ｔ０からｔ４の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して４クロック分の遅れを有しているのに対し、図１１（Ｄ）に示すように時刻ｔ１３から時刻ｔ１’の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１１（Ａ）に示すように時刻ｔ８からｔ１０の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して５クロック分の遅れを有している。つまり、図１１（Ｅ）に示すように基板の傾きが無い場合に比べて、１クロック分遅れたタイミングで出力されている。しかしながら、基板３の図６（Ｂ）のような傾きにより、スポットビームの光量中心はビームの進行方向後方側となり、マークエッジ位置が１クロック分進んで記録されることになる。従って、傾きの無い場合に比べて１クロック分遅れて出力された記録パルスにより、１クロック分進んだ記録が行われるので、結果としてマークエッジ位置は傾きが無い場合と同じに正しい位置に記録されることになる。
【００５５】
次に、時刻ｔ１’においては、アドレス１にデータの書き込みが行われる一方で、アドレス１０のデータが読み出され、データの記録を行わない出力でレーザー２からビームが照射される。そして、この時、基板３の傾きが無いことが検出されると、オフセット値は再び４に戻される。そして、時刻ｔ２において、アドレス２にデータの書き込みが行われる時、アドレス１１ではなく、一つ後のアドレス１２からデータが読み出される。以下、同様の間隔でデータが読み出され、時刻ｔ５’においてはアドレス５にデータが書き込まれると共に、アドレス１からデータが読み出され、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。この場合には記録パルスの出力タイミングに進みも遅れもなく、また、基板３の傾きが無いために光軸中心位置を中心に対称なスポットビーム形状となるため、マークエッジ位置も時間的に進みも遅れも無く正しい位置に記録されることになる。
【００５６】
以上説明したように、本実施形態によれば、基板の傾き方向と傾き量に応じて記録パルスの出力タイミングを調整することにより、記録時においてマークエッジ位置を正しい位置に補償するようにしたので、変形量が多いディスクを用いても安定した信号の記録再生が可能になり、性能の向上を図ることができる。また、一般に薄いディスクは反りの発生量が増加するが、この場合でも上述のようにマークエッジ位置が補償されるので、薄いディスクを使用することが可能になる。
【００５７】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態を図１２に基づいて説明する。なお、第１の実施形態との共通箇所には同一符号を付して説明を省略する。
【００５８】
本実施形態は、ストラテジ付加部７１に、基板３の傾き量の絶対値に応じて記録パルスのデューティあるいは波高値を変化させる機能を持たせ、ストラテジ付加部７１の記録パルス波形の制御により、上述したマークエッジ位置の補償を行うところが第１の実施形態と異なる。
【００５９】
例えば、図１２（Ａ）に示すように、レベルの異なる方形の記録パルスをストラテジ付加部７１から出力させる。このような場合には、基板３の傾きによる盤面照射領域の拡大に伴って発生する盤面パワー密度の減少を補償するようにパルスの遅延と共に、パルスの高さ（振幅）を変えることによって材料温度の制御を行う。勿論、材料の特性としてこのパワー密度変化が吸収できる場合には遅延のみによって構成することができる。
【００６０】
また、図１２（Ｂ）に示すように、徐々にレベルが減少する記録パルスをストラテジ付加部７１から出力させる。また、レベルの変化と共に遅延によってマークエッジ位置の制御を行うようにしても良い。記録パルスのレベルの減少のさせ方は、基板の傾きが発生した場合にも盤面上のスポット形状が傾きがない場合と同様に光軸中心に対して対称となるように減少させる。
【００６１】
また、図１２（Ｃ）に示すように、レベルが３段階に変化する３値制御の記録パルスをストラテジ付加部７１から出力するようにしても良い。このような場合には、記録パルスの遅延と共に、記録パルスのデューティーを変えることによって材料温度の制御を行う。
【００６２】
また、図１２（Ｄ）に示すように、レベルが徐々に増加し、その後に徐々にレベルが減少する記録パルスをストラテジ付加部７１から出力させるようにしても良い。この場合も、図１２（Ｂ）の場合と同様に、遅延によってマークエッジ位置の制御を行うようにしても良い。更に、基板の傾きが発生した場合にも盤面上のマーク形状が傾きがない場合と同様になるように記録パルスの減少の仕方を変えることも併せて行うことができる。
【００６３】
なお、上述した実施形態では、傾き量の検出方法として、外付けのチルトセンサを用いたが、本発明はこれに限定されるものではなく、傾き量によるサーボ信号の変化を捉えて検知したり、傾きが検出できる信号パターンを予めディスクに記録しておき、この再生信号から傾き量を検知するなど、基板傾きが検知できるものであれば種々の手段を用いることが可能である。
【００６４】
また、上述した実施形態では、光ディスクを用いて説明を行ったが、光学式の媒体であれば、前記の回路構成は限定されるものではなく、記録機、再生機等のシステムに応じて変形することが可能である。
【００６５】
また、上述した実施形態では、ＦＩＦＯによってパルスの遅延を行うものを挙げて説明を行ったが、これに限らず、複数のパルスパターンを予め用意し、傾き量に応じてパターンを選択したり、記録パルスのパワーを増減させて実質的にキュリー温度を越えるタイミングを制御する等検出素子の出力に対応して記録パルスの実際の記録開始もしくは終了タイミングで変わるものであれば、色々な形で実現することが可能である。
【００６６】
また、上述した実施形態では、光磁気記録媒体への記録を例にとって説明をしたが、記録媒体はこれに限定されず、相変化記録媒体、有機色素等、光記録可能な種々の媒体を用いて同様の構成が可能である。
【００６７】
また、本発明は、光学系の工夫、例えば基板の傾きに合わせて対物レンズを傾ける等の手段と併せて用いることが可能であり、その場合には、実質的なディスクの傾斜量、例えば対物レンズを時間軸方向に傾けた場合の残留誤差量、あるいはその光学系を用いたプリレコーディングシグナルの再生特性に対応してパルスの遅延を行うといった構成を採ることができる。
【００６８】
【発明の効果】
請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、傾き検出手段による記録媒体の傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、記録パルス信号制御手段により、記録パルス信号の変調手段に対する出力タイミングを制御するようにしたので、記録媒体上でのレーザー光による温度勾配を、傾きが無い場合と同様に変化させることができ、記録されるマークのエッジ位置を適正位置にすることができる。その結果、再生時においてもジッタを発生させず、また、エラーレートを増加させることのない光学式記録媒体記録装置を提供することができる。また、変形量が多いディスクを用いても安定した信号の記録再生が可能になり、性能の向上を図ることができる。更に基板の反りの多い薄いディスクにおいてもマークエッジ位置が補償されるので、薄いディスクを使用することが可能になる。
また、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の記録媒体の記録面が基準水平位置よりもレーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、記録パルス信号の出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めるので、収差によるレーザー光スポットの光量中心のずれを相殺して、結果的にマークを適正位置に記録することができる。
【００７０】
請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、記録パルス信号を所定のサンプリングレートでサンプリングして記憶手段に記憶手段における所定の記憶単位毎に書き込むと共に、所定の読み出しレートで前記記憶手段から前記所定の記憶単位毎に読み出し、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設け、当該時間間隔を伸縮させることにより前記出力タイミングを変化させるので、出力タイミングの制御を容易に行うことができる。
【００７１】
請求項３に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、傾き角の大きさと出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルに基づいて、傾き検出手段の検出出力の値を前記時間間隔の伸縮量に換算するので、前記時間間隔の伸縮量を迅速に得ることができ、前記出力タイミングの制御を迅速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態におけるディスク記録装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図１のディスク記録装置における傾き検出装置の概略構成を示す図である。
【図３】図１のディスク記録装置の構成を詳細に示すブロック図である。
【図４】図３における出力タイミング制御部８の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図５】図３における変換テーブル５２の一例を示す図である。
【図６】（Ａ）は基板が図５のテーブルにおける正の傾き角に相当する傾き角を有して傾いた状態を示す図、（Ｂ）は基板が図５のテーブルにおける負の傾き角に相当する傾き角を有して傾いた状態を示す図である。
【図７】（Ａ）の（ｉ）は、基板に傾きが無い場合の基板とビームの関係、及びスポット形状を示す図、（Ａ）の（ｉｉ）は、（ｉ）の場合の波面収差分布を示す図、（ｉｉｉ）は（ｉｉ）の波面収差分布を示すグラフ、（Ｂ）の（ｉ）は、基板に傾きが生じた場合の基板とビームの関係、及びスポット形状を示す図、（Ｂ）の（ｉｉ）は、（ｉ）の場合の波面収差分布を示す図、（ｉｉｉ）は（ｉｉ）の波面収差分布を示すグラフである。
【図８】（Ａ）は基板に傾きが無い場合のディスク上のスポット形状とマーク位置を示す図、（Ｂ）は基板に傾きが生じた場合のディスク上のスポット形状とマーク位置を示す図である。
【図９】（Ａ）は８／１６変調されたパルス信号、（Ｂ）はストラテジ付加部から出力される記録パルス、（Ｃ）は（Ｂ）の記録パルスによるディスク上の温度勾配、（Ｄ）は基板に図６（Ｂ）の傾きが生じた場合に（Ｂ）の記録パルスを出力した時のディスク上の温度勾配、（Ｅ）は基板に図６（Ａ）の傾きが生じた場合に（Ｂ）の記録パルスを出力した時のディスク上の温度勾配をそれぞれ示すタイミングチャートである。
【図１０】基板に図６（Ａ）の傾きが生じた場合の動作を示すタイミングチャートであり、（Ａ）はストラテジ付加された記録パルス信号、（Ｂ）はサンプリングパルス、（Ｃ）は基板に図６（Ａ）の傾きが生じた場合の読み出しパルス、（Ｄ）は（Ｃ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号、（Ｅ）はは基板に傾きが生じていない場合の読み出しパルス、（Ｆ）は（Ｅ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号をそれぞれ示すタイミングチャートである。
【図１１】基板に図６（Ｂ）の傾きが生じた場合の動作を示すタイミングチャートであり、（Ａ）はストラテジ付加された記録パルス信号、（Ｂ）はサンプリングパルス、（Ｃ）は基板に図６（Ｂ）の傾きが生じた場合の読み出しパルス、（Ｄ）は（Ｃ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号、（Ｅ）はは基板に傾きが生じていない場合の読み出しパルス、（Ｆ）は（Ｅ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号をそれぞれ示すタイミングチャートである。
【図１２】本発明の第２の実施形態におけるストラテジ付加部から出力される記録パルスの例を示す図であり、（Ａ）はレベルの異なる方形の記録パルス、（Ｂ）は徐々にレベルが減少する記録パルス、（Ｃ）はレベルが３段階に変化する３値制御の記録パルス、（Ｄ）はレベルが徐々に増加しその後に徐々にレベルが減少する記録パルスをそれぞれ示す図である。
【符号の説明】
１ ピックアップ
２ レーザー
３ 基板
４ 傾き検出装置
５ 調整量変換部
６ 記録信号源
７ 記録パルス信号生成部
８ 出力タイミング制御部
９ 変調器
５１ 調整量換算部
５２ 変換テーブル
５３ 定常遅延量
７０ エンコーダ
７１ ストラテジ付加部
８０ メモリ
８１ 書き込みアドレスポインタ
８２ 読み出しアドレスポインタ
８３ 加減算部
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等の光学式記録媒体に、映像信号、音声信号等を記録する記録装置の技術分野に属するものであり、特に、ディスク等が所定の厚さを持った透明基板を透過して情報の記録再生を行い、その基板の周方向の傾きの記録信号への影響を低減する装置の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクにおいては、情報の記録密度を高めることが求められ、そのために対物レンズの開口数を拡大することが行われている。開口数を拡大することよってディスク上の記録スポット径を小さく絞り込むことができ、小さなマークを記録できるようになるので記録信号の周方向の空間周波数を上げ、更にトラックピッチを狭めて高密度に情報を記録することが可能になるのである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このように開口数を拡大すると、基板に傾きが発生した場合、スポットで発生する収差量が大きくなり、スポット径が広がると共に、その分布が対称でなくなる。基板の半径方向の傾きについてはピックアップあるいはディスクの角度を随時調整することよって傾きの無い状態に維持することが概ね可能である。これに対し、基板の周方向の傾きについてはその変動速度が速く、このような機械的調整を行うことが困難である。故に、周方向の傾きによって記録されるマークは本来記録すぺき信号位置からのずれを生じ、これが再生時にはジッタとなって再生信号の品質を劣化させるという問題がある。これは基板が傾いた時のみならず、基板が平行でなく、厚み変動が生じる場合にも発生する。
【０００４】
また、前記基板の傾きによる前記収差量は、透過基板の厚さに比例して増大するため、前記収差量を低減するためには、透過基板厚を薄くすることが考えられる。しかしながら、透過基板厚が薄くなると、ディスク表面の傷や汚れがある場合に著しく性能が不安定となるという問題がある。
【０００５】
また、前記収差量を減少させるためには、ディスク全体の厚さを薄くすることも考えられるが、ディスク全体の厚さを薄くした場合には、基板の反りの発生量が増加し、前記傾きによる問題が発生するので、基板の厚さに拘わらずディスク全体の厚さは低減できないという問題がある。
【０００６】
そこで、本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ディスクの周方向の傾きが生じても正しく信号記録を与える光学式記録媒体記録装置を提供することを課題としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置は、前記課題を解決するために、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出手段と、記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段と、前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調手段と、前記変調手段によって強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射手段と、前記傾き検出手段による前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する記録パルス信号制御手段と、を備え、前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御手段は、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする。
【０００８】
請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、記録パルス信号生成手段により、記録対象の情報信号の符号化が行われ、記録パルス信号の生成が行われる。この記録パルス信号が変調手段に供給されると、この記録パルス信号に基づいてレーザー光強度が変調され、レーザー光照射手段により、強度の変調されたレーザー光が前記記録媒体に対して照射され、情報の記録が行われる。この記録は、レーザー光の加熱により記録媒体の材質の光学的特性を変化させ、マークを形成することにより行われる。従って、記録媒体の被照射面が周方向に傾きを有していると、収差の発生によりレーザー光のスポットの光量中心が適正な位置から移動することになる。しかし、本発明においては、傾き検出手段により、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出した場合には、記録パルス信号制御手段により、前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する。つまり、前記光量中心が時間的に進む位置に移動した場合には、前記記録パルス信号の出力タイミングを適正時よりも遅らせ、前記光量中心が時間的に遅れる位置に移動した場合には、前記記録パルス信号の出力タイミングを適正時よりも早くする。その結果、記録媒体上での温度勾配は、前記傾きが無い場合と同様に変化するため、記録されるマークのエッジ位置は適正位置となり、再生時においてもジッタを発生させず、また、エラーレートを増加させることがない。
また、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録媒体の記録面が、基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、収差の影響により、レーザー光のスポットの光量中心は光軸中心よりもレーザー光の記録媒体に対する相対的進行方向後側に位置し、このスポットによって形成されるマークのエッジ位置は、適正位置よりも時間的に進むことになる。しかし、前記記録パルス信号制御手段は、この方向における傾き角が大きくなる程、前記記録パルス信号の出力タイミングを記録媒体の傾きが無い場合の所定の基準タイミングよりも遅延させるので、結果的に前記マークは適正位置に記録されることになる。一方、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が、基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、収差の影響により、レーザー光のスポットの光量中心は光軸中心よりもレーザー光の記録媒体に対する相対的進行方向前側に位置し、このスポットによって形成されるマークのエッジ位置は、適正位置よりも時間的に遅れることになる。しかし、前記記録パルス信号制御手段は、この方向における傾き角が大きくなる程、前記記録パルス信号の出力タイミングを記録媒体の傾きが無い場合の所定の基準タイミングよりも早めるので、結果的に前記マークは適正位置に記録されることになる。
【００１０】
請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置は、前記課題を解決するために、請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置において、前記記録パルス信号制御手段は、読み書き自在な記憶手段と、前記記録パルス生成手段によって生成される記録パルス信号を、所定のサンプリングレートでサンプリングして前記記憶手段に書き込むと共に、所定の読み出しレートで前記記憶手段から読み出すデータ読み書き制御手段とを備え、当該データ読み書き制御手段は、前記記憶手段における所定の記憶単位毎に前記書き込みと読み出しを繰り返すと共に、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設けており、当該時間間隔を伸縮させることにより前記出力タイミングを変化させることを特徴とする。
【００１１】
請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、前記記録パルス生成手段によって生成される記録パルス信号は、データ読み書き制御手段により、所定のサンプリングレートでサンプリングされ、前記記憶手段における所定の記憶単位毎に書き込まれる。また、この書き込まれた記録パルス信号のサンプリングされたデータは、同じくデータ読み書き制御手段により所定の読み出しレートで前記記憶手段における所定の記憶単位毎に読み出される。そして、前記データ読み書き制御手段は、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設けており、当該時間間隔を所定の基準間隔よりも短縮させて読み出すことより、前記記録パルスの出力タイミングを早める。また、当該時間間隔を所定の基準間隔よりも伸張させて読み出すことにより、前記記録パルスの出力タイミングを遅延させる。このように、記録パルス信号を一旦記憶手段に記憶させた後に読み出すタイミングを変化させることで出力タイミングを調整するので、出力タイミングの制御が容易に行われる。
【００１２】
請求項３に記載の光学式記録媒体記録装置は、前記課題を解決するために、請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置において、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き角の大きさと前記出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルと、前記傾き検出手段の前記検出出力の値を前記変換テーブルに基づいて前記時間間隔の伸縮量に換算する換算手段とを更に備えることを特徴とする。
【００１３】
請求項３に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き検出手段により傾き角の大きさを示す検出出力が得られた場合には、変換テーブルに基づいて、当該傾き角の大きさを前記時間間隔の伸縮量に換算する。このように、変換テーブルにより、前記傾き検出手段の前記検出出力の値と前記時間間隔の伸縮量との関係が予め定められているので、前記時間間隔の伸縮量を迅速に得ることができ、前記出力タイミングの制御が迅速に行われる。
また、請求項４に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出手段と、記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段と、前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調手段と、前記変調手段によって強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射手段と、前記傾き検出手段による前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する記録パルス信号制御手段とを備え、前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き角の大きさと前記出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルを備え、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする。
さらに、請求項７に記載の光学式記録方法によれば、レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出工程と、記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成工程と、前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調工程と、前記変調工程において強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射工程と、前記傾き検出工程における前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調工程における出力タイミングを制御する記録パルス信号制御工程と、を備え前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御工程においては、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射工程におけるレーザ光から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射工程におけるレーザ光に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を添付図面に基づいて説明する。
【００１５】
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態を図１乃至図１１に基づいて説明する。
【００１６】
図１は本発明の一実施形態における光学式記録媒体記録装置としてのディスク記録装置の概略構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態のディスク記録装置は、レーザー光照射手段としての記録ピックアップ１１と、該記録ピックアップ１１の記録光源であるレーザー２と、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc又はDigital Video Disc）またはＣＤ（Compact Disc）等の光学式記録媒体としてのディスクにおける基板３の傾きを検出する傾き検出手段としての基板傾き検出装置４と、該基板傾き検出装置４からの出力信号に基づいて記録パルス信号の出力タイミング調整量を算出する調整量算出部５と、記録対象の信号を出力する記録信号源６と、該記録信号源６から出力される信号を符号化して記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段としての記録パルス信号生成部７と、該記録パルス信号生成部７によって生成される記録パルス信号を一旦蓄積し、所定のタイミングで出力する出力タイミング制御部８と、レーザ光強度を該出力タイミング制御部８から出力される記録パルス信号に基づいて変調する変調手段としての変調器９とを備えている。
【００１７】
基板傾き検出装置４は、図２に示すように、ＬＥＤ４０を囲むようにして、基板３の周方向に沿って光検出器４１，４２が備えられており、光検出器４１，４２は差動増幅器４３に接続されている。このような構成において、ＬＥＤ４０から照射されて基板３の表面で反射された光は、光検出器４１，４２にて受光され、光検出器４１，４２は光電変換により受光量に応じた検出信号Ｓ１，Ｓ２を出力する。これらの検出信号Ｓ１，Ｓ２は差動増幅器４３に入力され、差動増幅器４３は、検出信号Ｓ１，Ｓ２の差分を出力する。
【００１８】
例えば、図７(A)(i)に示すように基板３が傾いていなければ、光検出器４１，４２の出力が等しくなるように調整されており、差動増幅器４３の出力はゼロレベルとなる。しかし、図７(B)(i)に示すように、基板が傾くと、これらの光検出器４１，４２の出力バランスが崩れるので、差動増幅器４３から正または負の出力が得られる。図７(A)(i)，図７(B)(i)においては紙面を貫く方向がディスク３の半径方向であり、図７(B)(i)は基板３の周方向において基板３が傾いている状態を示している。
【００１９】
記録パルス信号生成部７は、図３に示すように、エンコーダ７０と、ストラテジ付加部７１とから構成されている。エンコーダ７０は、記録信号源６から供給される１ｂｉｔのデータを８ｂｉｔ単位に分け、これを所定の１６ｂｉｔパターンとして記録する８／１６変調を行う。記録フォーマットにより規定されるビット間隔に対応る単位長さ（１チャンネルビット幅）をＴとすると、８／１６変調によりディスク３に記録されるチャンネルビットパルス列の最短パルス幅は３Ｔ、最長パルス幅は１１Ｔとなる。この８／１６変調を行うことにより、”１”，”０”の反転の最小間隔を長くすることができるため、記録特性に余裕を持たせることができると共に、データを詰めて記録することができ、記録密度を向上させることができる。また、ストラテジ付加部７１は、基板３上に生成される前後のピット間での熱干渉やピット後端部での熱蓄積を緩和するために、エンコーダ７０から出力される図９（ａ）に示すようなチャンネルビットパルスを、図９（ｂ）に示すようにトップパルスとマルチパルス列とからなる記録パルスに波形変換を行う。
【００２０】
出力タイミング制御部８は、図３に示すように、記憶手段としての読み書き可能なメモリ８０と、メモリ８０における書き込みアドレスの値を示す書き込みアドレスポインタ８１と、メモリ８０における読み出しアドレスの値を示す読み出しアドレスポインタ８２と、前記書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値に加算または減算する値が設定される加減算部８３とを備えている。
【００２１】
メモリ８０は、ＦＩＦＯ（First In First Out）方式のメモリであり、アドレスが割り当てられた複数の記憶単位から構成されている。図３において罫線で区切られるそれぞれの領域が、個々の記憶単位を表しており、各記憶単位は所定ビット数の容量を有している。図３においては説明の簡単のために０〜１３のアドレスで指定される１４個の記憶単位を示しているが、実際には非常に多くの記憶単位から構成される。例えば、１つの記憶単位（ｗｏｒｄ）の容量を４ｂｉｔとして、１Ｍｗｏｒｄの容量のメモリが用いられる。
【００２２】
書き込みアドレスポインタ８１は、一定のサンプリング間隔で前記記憶単位の容量分のデータを書き込むのに要する時間毎にポインタ値がインクリメントされるポインタであり、メモリ８０はこのポインタ値が示すアドレスに、一定のサンプリング間隔でサンプリングした前記記録パルスのサンプリングデータを書き込む。
【００２３】
読み出しアドレスポインタ８２は、前記サンプリング間隔と等しい一定の読み出し間隔で前記記憶単位の容量分のデータを読み出すのに要する時間毎にポインタ値がインクリメントされるポインタであり、メモリ８０はこのポインタ値が示すアドレスから、一定の読み出し間隔でサンプリングデータを読み出す。読み出しを開始するポインタ値は、前記書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値に、加減算部８３で設定された値を加算または減算した値が設定され、書き込みアドレスと読み出しアドレスが一致しないように構成されている。
【００２４】
加減算部８３は、調整量算出部５から出力される調整量としてのオフセット値を前記書き込みアドレスポインタ８１から出力されるポインタ値に対して加算または減算し、その結果を読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値としてセットする。従って、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値がインクリメントされる度にインクリメントされることになり、前記オフセット値によって決定される互いのポインタ値の差分が、メモリ８０へのデータの書き込みタイミングに対する読み出しタイミングの遅れ、即ち、サンプリングクロックと読み出しクロックとの位相差となる。
【００２５】
例えば、前記オフセット値を４に設定し、書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値からオフセット値を減算するように設定すると、メモリ８０のアドレスが０〜１３である場合には、図４に示すようになる。まず、時刻ｔ０において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が図４（ａ）に示すように０の時、アドレスは図４（ｃ）に示すように０であり、このアドレス０に図４（ｄ）に示すようにサンプリングデータＤ（ｔ０）が書き込まれたとする。そして、このポインタ値０から加減算部８３により４を減算し、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は図４（ｅ）に示すように−４となる。メモリ８０はサーキュラバッファとして用いられており図４（ｃ）に示すようにアドレス１３の次がアドレス０となるように書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が進む。従って、ポインタ値−４に相当するアドレスは０よりも４つ前のアドレスである１０となる。従って、時刻ｔ０においてアドレス０にデータＤ（ｔ０）が書き込まれている時に、図４（ｇ）に示すようにアドレス１０からのデータＤ（ｔ−４）が読み出される。次に、時刻ｔ１において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が図４（ａ）に示すように１となり、図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス１にデータＤ（ｔ１）が書き込まれ、図４（ｅ）に示すように読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値−３に対するアドレス１１から、図４（ｇ）に示すようにデータＤ（ｔ−３）が読み出される。以下、同様にして、時刻ｔ２で図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス２へデータＤ（ｔ２）が書き込まれると共に、図４（ｇ）に示すようにアドレス１２からのデータＤ（ｔ−２）の読み出しが行われる。また、時刻ｔ３で図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス３へのデータＤ（ｔ３）が書き込まれると共に、図４（ｇ）に示すようにアドレス１３からのデータＤ（ｔ−１）が読み出される。そして、時刻ｔ４で図４（ｃ），（ｄ）に示すようにアドレス４にデータＤ（ｔ４）が書き込まれると共に、図４（ｇ）に示すようにアドレス０から、前記時刻ｔ０に書き込まれたデータＤ（ｔ０）が読み出される。つまり、データＤ（ｔ０）が読み出されるのは、書き込まれた時刻ｔ０から４クロック分後の時刻ｔ４となる。つまり、読み出しタイミングは、書き込みタイミングに対して、
（加減算部８３におけるオフセット値）×（書き込みアドレスポインタのインクリメント周期）
により算出される遅れを有することになる。ここでは説明を簡単にするために、
（書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期）＝（サンプリングクロックの周期）
とした場合について説明したが、書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期を、サンプリングクロックのｎ周期分とした場合、つまり、１ｗｏｒｄがｎビットである場合を考えると、
（書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期）＝（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）
となるから、読み出しタイミングは、書き込みタイミングに対して、
（加減算部８３におけるオフセット値）×（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）
で算出される遅れを有することになる。
【００２６】
従って、加減算部８３におけるオフセット値が変化しない限り、前記遅れは一定であり、読み出しデータは書き込みデータに対して一定の位相を有することになる。つまり、レーザー２によって記録されるデータは、記録信号源６から出力される記録信号に対して一定の位相を有することになる。
【００２７】
しかしながら、加減算部８３におけるオフセット値を変更した場合には、前記位相がずれ、レーザー２によるデータの記録タイミングもずれることになる。例えば、上述の例の場合で、加減算部８３のオフセット値を３とした場合には、図４（ａ）に示すように時刻ｔ２において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が２の時に、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は図４（ｈ）に示すように−１であり、図４（ｉ）に示すようにアドレス１３のデータＤ（ｔ−１）が読み出される。一方、加減算部８３のオフセット値を５とした場合には、図４（ａ）に示すように時刻ｔ４において書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値が４の時に、読み出しアドレスポインタ８２のポインタ値は図４（ｊ）に示すように−１であり、図４（ｋ）に示すようにアドレス１３のデータＤ（ｔ−１）が読み出される。このように、前記オフセット値を書き込みアドレスポインタ８１のポインタ値から減算する構成の場合には、前記オフセット値を１減少させれば、データＤ（ｔ−１）の読み出しタイミングは、１クロック分早くなり、前記オフセット値を１増加させれば、データＤ（ｔ−１）の読み出しタイミングは、１クロック分遅くなる。
【００２８】
従って、書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期を、サンプリングクロックのｎ周期分とした場合、つまり、１ｗｏｒｄがｎビットである場合を考えると、前記オフセット値を１減少させれば、データの読み出しタイミングは、
｛（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）｝
に相当する分早くなり、前記オフセット値を１増加させれば、
｛（サンプリングクロックの周期）×（１ｗｏｒｄのビット数ｎ）｝
に相当する分遅くなる。
【００２９】
そして、本実施形態では、この加減算部８３におけるオフセット値を、ディスク３の周方向における傾きに応じて変化させている。
【００３０】
再び図３に戻り、調整量算出部５は、Ａ／Ｄ変換部５０と、換算手段としての調整量換算部５１と、変換テーブル５２と、定常遅延量設定部５３とを備えている。
【００３１】
変換テーブル５２には、予め実験またはシミュレーションにて基板３の傾き角に応じて、レーザー光の出力タイミングの調整量が記録されたテーブルである。変換テーブル５２の例を図５に示す。図５に示す例では、基板３が、図６（Ａ）に示すように、光軸中心よりも基板３の周方向におけるレーザー光の相対的な進行方向の前方側が、基準水平位置から下方に傾く場合を正の傾き角とし、図６（Ｂ）に示すように基準水平位置から上方に傾く場合を負の傾き角としている。
【００３２】
なお、図６（Ａ），（Ｂ）においては、それぞれの方向の傾きが生じた場合のスポット形状を併せて示している。
【００３３】
調整量は、レーザーの出力タイミングを、基板３の傾きの無い場合を基準としてどの程度早めるか、あるいは遅延させるかを、例えば時間のデータとして有しており、基準より早める場合を正の調整量、遅延させる場合を負の調整量とした。
【００３４】
そして、調整量換算部５１は、Ａ／Ｄ変換部５０によってデジタル値に変換された傾き検出装置４からの出力値に対応する調整量を、前記変換テーブル５２から求め、求めた調整量を書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期の倍数に換算する。そして、この換算値を定常遅延量設定部５３により供給される定常遅延量、即ち前記オフセット値の初期値に対して加算まはた減算し、オフセット値として前記加減算部８３に出力する。なお、レーザーの出力タイミングを傾きの無い場合よりも早める場合には、即ち正の調整量に基づいて求められた前記換算値については、前記換算値を前記オフセット値の初期値から減算し、レーザーの出力タイミングを傾きの無い場合よりも遅延させる場合には、即ち前記換算値が負の調整量に基づいて求められた場合には、前記換算値を前記オフセット値の初期値に加算する。上述の例に沿って説明すれば、傾きの無い場合には、調整量は０であるから、初期値である４がそのままオフセット値として加減算部８３に設定される。また、傾き角が正であり、調整量が書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期に等しい場合には、換算値は１となるから、オフセット値の初期値４からこの１を減算して３をオフセット値として加減算部８３に設定する。更に、傾き角が負であり、調整量が書き込みアドレスポインタ８１のインクリメント周期に等しい場合には、換算値は１となるから、オフセット値の初期値４にこの１を加算して５をオフセット値として加減算部８３に設定する。
【００３５】
以上のように、本実施形態においては、調整量算出部５と出力タイミング制御部８により、記録パルス信号制御手段が構成されている。また、書き込みアドレスポインタ８１と、読み出しアドレスポインタ８２と、加減算部８３と、調整量算出部５とにより、データ読み書き制御手段が構成されている。また、図３に示す本実施形態のディスク記録装置は、メモリ８０、傾き検出器４、変調器９、及びレーザー２を除き、全てＣＰＵにより構成されている。
【００３６】
そして、以上のような構成により、レーザーの出力タイミングは、基板３の傾きに応じて調整されることになる。ここで、基板３の傾きとレーザーの出力タイミングとの関係について詳しく説明する。
【００３７】
図７(A)(i)のように基板３に傾きが無い場合には、光強度分布が光軸中心位置に対して対称な形状のスポットビームが得られる。また、この場合には図７(A)(ii)，(iii)に示すように波面収差がない。
【００３８】
しかしながら、基板３が図７(B)(i)のように傾くと、図７(B)(ii)，(iii)に示すようにコマ収差に伴う波面収差が発生し、スポットビームの形状は図７(B)(i)のように、光軸中心位置に対して光強度分布が非対称な三角形のような形状となる。なお、図７(B)(i)，(ii)，(iii)に示した例は、波長６５０ｎｍ、対物レンズＮＡ０．６、基板厚み０．６ｍｍ、ディスク屈折率１．５８、及び基板３の傾き角を図６の場合に倣って負の方向に１．０度とした条件で計算したものである。
【００３９】
このようなコマ収差が発生した場合には、光量の中心は基板３が傾いた方向の三角形の頂点側に移動し、基板３上で熱分布が変化する。図９（Ｃ）〜（Ｅ）に基板３上の熱分布の変化の状態を示す。図９（Ａ）はエンコーダ７０から出力される８／１６変調後のパルスであり、収差が無い場合には、図９（Ｃ）に示すように、この８／１６変調後のパルスのエッジの位置で媒体温度がキュリー点を越える温度勾配を与えるように、図９（Ｂ）に示す記録パルスを出力する。その結果、図８（Ａ）に示すような形状のマーク１００が形成される。なお、この時スポットビーム１０１は光軸に対して対称形である。
【００４０】
一方、コマ収差が発生し、図８（Ｂ）に示したように三角形形状のスポットビーム１０３となった場合には、スポットビーム１０３の光量中心は無収差の場合と比べてスポットビーム１０３の進行方向後側に移動する。それ故、レーザーを同じく図９（Ｂ）に示す記録パルスによって駆動すると、この時の基板３上での温度勾配は図９（Ｄ）に示すように変化し、キュリー点を越える温度となる時点は時間的に進みを生じる。その結果、図８（Ｂ）に示すように、マーク１０２のエッジ位置は、無収差の場合よりも、時間的に進んだ位置になってしまう。
【００４１】
一方、基板３が、図７(B)(i)とは逆に、光軸中心よりもビームの進行方向前方側が基準水平位置に対して下がり、進行方向後方側が基準水平位置に対して上がるように傾く場合には、スポットビームの形状はスポットビームの進行方向前側に光量中心が移動した形状となり、レーザーを同じく図９（Ｂ）に示す記録パルスによって駆動すると、この時の基板３上での温度勾配は図９（Ｅ）に示すように変化し、キュリー点を越える温度となる時点は時間的に遅れを生じる。その結果、マークエッジ位置は、無収差の場合よりも、時間的に遅れた位置になってしまう。
【００４２】
これらのようなマークエッジ位置の時間的なずれは、再生時にはジッタとなり、再生信号のエラーレートを増加させることになる。
【００４３】
そこで、本実施形態では、実験またはシミュレーションにより、基板３の傾き方向及び傾き量に対するマークエッジ位置の時間的な進み量と遅れ量を求め、これらの進み量と遅れ量をゼロにするように調整量を定め、前記変換テープル５３を作成した。
【００４４】
その結果、マークエッジの位置を進めるような基板３の傾きが検出された場合には、前記変換テーブル５２から負の値の調整量が得られ、この負の値の調整量がオフセット値の初期値から減算されるので、オフセット値は増大し、上述したように読み出しタイミングと書き込みタイミングの位相差を大きくして、記録パルスの変調器９に対する出力タイミングを遅らせる。また、マークエッジの位置を遅らせるような基板３の傾きが検出された場合には、前記変換テーブル５２から正の値の調整量が得られ、この正の値の調整量がオフセット値の初期値から減算されるので、オフセット値は減少し、上述したように読み出しタイミングと書き込みタイミングの位相差を小さく、記録パルスの変調器９に対する出力タイミングを進める。
【００４５】
以下、図１０に基づいて本実施形態の装置の全体的な動作について説明する。なお、加減算部８３におけるオフセット値の初期値は４に設定されているものとする。図１０に示すように、時刻ｔ０からｔ４までの期間においては、図１０（Ｂ）に示すサンプリング間隔で、図１０（Ａ）に示すストラテジ付加されたデータがサンプリングされ、メモリ８０のアドレス０〜アドレス３に書き込まれる。また、時刻ｔ４からｔ８までの期間においては、図１０（Ａ）に示すストラテジ付加されたデータは無くなりゼロとなるが、このゼロのデータも同様にしてアドレス４〜アドレス７に書き込まれる。また、この時、読み出しアドレスポインタは０〜３の値となるので、図１０（Ｃ）に示すような読み出しクロックに基づいてアドレス０〜アドレス３のデータが読み出される。そして、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。
【００４６】
しかし、アドレス３のデータを記録している間に、傾き検出装置４により図６（Ａ）のような基板３の傾きが検出された場合には、調整量換算部５１は変換テーブル５２から傾き量に対応した調整量を読み出し、定常遅延量と当該調整量に基づいて新たなオフセット値を定める。この場合には、マークエッジ位置が１クロック分遅れる傾き量であったとすると、記録パルスの出力タイミングを１クロック分進めるために、オフセット値が３に変更される。
【００４７】
その結果、時刻ｔ８から時刻ｔ１０の期間では、アドレス８〜アドレス１０にデータが書き込まれるが、オフセット値が３に変更されたために、アドレス４〜アドレス６ではなく、アドレス５〜アドレス７のデータが読み出される。
【００４８】
そして、時刻ｔ１１から時刻ｔ１３の期間では、アドレス８〜アドレス１０のデータが読み出され、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。
【００４９】
ここで、記録パルスの出力タイミングを見ると、図１０（Ｄ）に示すように時刻ｔ４から時刻ｔ８の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１０（Ａ）に示すように時刻ｔ０からｔ４の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して４クロック分の遅れを有しているのに対し、図１０（Ｄ）に示すように時刻ｔ１１から時刻ｔ１３の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１０（Ａ）に示すように時刻ｔ８からｔ１０の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して３クロック分の遅れを有している。つまり、図１０（Ｅ）に示すように基板の傾きが無い場合に比べて、１クロック分進んだタイミングで出力されている。しかしながら、基板３の図６（Ａ）のような傾きにより、スポットビームの光量中心はビームの進行方向前方側となり、マークエッジ位置が１クロック分遅れて記録されることになる。従って、傾きの無い場合に比べて１クロック分進んで出力された記録パルスにより、１クロック分遅れた記録が行われるので、結果としてマークエッジ位置は傾きが無い場合と同じに正しい位置に記録されることになる。
【００５０】
次に、時刻ｔ１３においては、アドレス１３にデータの書き込みが行われる一方で、アドレス１０のデータが読み出され、データの記録を行わない出力でレーザー２からビームが照射される。そして、この時、基板３の傾きが無いことが検出されると、オフセット値は再び４に戻される。そして、時刻ｔ０’において、アドレス０にデータの書き込みが行われる時、アドレス１１ではなく、一つ前のアドレス１０からデータが読み出される。この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。この場合には記録パルスの出力タイミングに進みも遅れもなく、また、基板３の傾きが無いために光軸中心位置を中心に対称なスポットビーム形状となるため、マークエッジ位置も時間的に進みも遅れも無く正しい位置に記録されることになる。
【００５１】
次に、基板３の図６（Ｂ）のような傾きが検出された場合を図１１に基づいて説明する。時刻ｔ０からｔ８までの期間におけるデータの書き込みと読み出しは図１０の場合と同様である。しかし、時刻ｔ８におけるアドレス４のデータの読み出しと、レーザービームの出力時に、傾き検出装置４により図６（Ｂ）のような基板３の傾きが検出された場合には、調整量換算部５１は変換テーブル５２から傾き量に対応した調整量を読み出し、定常遅延量と当該調整量に基づいて新たなオフセット値を定める。この場合には、マークエッジ位置が１クロック分進む傾き量であったとすると、記録パルスの出力タイミングを１クロック分遅延させるために、オフセット値が５に変更される。
【００５２】
その結果、時刻ｔ９から時刻ｔ１’の期間では、アドレス９〜アドレス１にデータが書き込まれるが、オフセット値が５に変更されたために、アドレス５〜アドレス１１ではなく、アドレス４〜アドレス１０のデータが読み出される。
【００５３】
従って、時刻ｔ１３から時刻ｔ１’の期間においても、アドレス８〜アドレス１０のデータが読み出され、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９がレーザー駆動電流を変調し、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。
【００５４】
ここで、記録パルスの出力タイミングを見ると、図１１（Ｄ）に示すように時刻ｔ４から時刻ｔ８の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１１（Ａ）に示すように時刻ｔ０からｔ４の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して４クロック分の遅れを有しているのに対し、図１１（Ｄ）に示すように時刻ｔ１３から時刻ｔ１’の期間にメモリ８０から読み出されて出力された記録パルスは、図１１（Ａ）に示すように時刻ｔ８からｔ１０の期間にストラテジ付加部７１から出力された記録パルスに対して５クロック分の遅れを有している。つまり、図１１（Ｅ）に示すように基板の傾きが無い場合に比べて、１クロック分遅れたタイミングで出力されている。しかしながら、基板３の図６（Ｂ）のような傾きにより、スポットビームの光量中心はビームの進行方向後方側となり、マークエッジ位置が１クロック分進んで記録されることになる。従って、傾きの無い場合に比べて１クロック分遅れて出力された記録パルスにより、１クロック分進んだ記録が行われるので、結果としてマークエッジ位置は傾きが無い場合と同じに正しい位置に記録されることになる。
【００５５】
次に、時刻ｔ１’においては、アドレス１にデータの書き込みが行われる一方で、アドレス１０のデータが読み出され、データの記録を行わない出力でレーザー２からビームが照射される。そして、この時、基板３の傾きが無いことが検出されると、オフセット値は再び４に戻される。そして、時刻ｔ２において、アドレス２にデータの書き込みが行われる時、アドレス１１ではなく、一つ後のアドレス１２からデータが読み出される。以下、同様の間隔でデータが読み出され、時刻ｔ５’においてはアドレス５にデータが書き込まれると共に、アドレス１からデータが読み出され、この読み出された記録パルスに基づいて変調器９が変調され、レーザー２からビームが照射されて基板３への記録が行われる。この場合には記録パルスの出力タイミングに進みも遅れもなく、また、基板３の傾きが無いために光軸中心位置を中心に対称なスポットビーム形状となるため、マークエッジ位置も時間的に進みも遅れも無く正しい位置に記録されることになる。
【００５６】
以上説明したように、本実施形態によれば、基板の傾き方向と傾き量に応じて記録パルスの出力タイミングを調整することにより、記録時においてマークエッジ位置を正しい位置に補償するようにしたので、変形量が多いディスクを用いても安定した信号の記録再生が可能になり、性能の向上を図ることができる。また、一般に薄いディスクは反りの発生量が増加するが、この場合でも上述のようにマークエッジ位置が補償されるので、薄いディスクを使用することが可能になる。
【００５７】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態を図１２に基づいて説明する。なお、第１の実施形態との共通箇所には同一符号を付して説明を省略する。
【００５８】
本実施形態は、ストラテジ付加部７１に、基板３の傾き量の絶対値に応じて記録パルスのデューティあるいは波高値を変化させる機能を持たせ、ストラテジ付加部７１の記録パルス波形の制御により、上述したマークエッジ位置の補償を行うところが第１の実施形態と異なる。
【００５９】
例えば、図１２（Ａ）に示すように、レベルの異なる方形の記録パルスをストラテジ付加部７１から出力させる。このような場合には、基板３の傾きによる盤面照射領域の拡大に伴って発生する盤面パワー密度の減少を補償するようにパルスの遅延と共に、パルスの高さ（振幅）を変えることによって材料温度の制御を行う。勿論、材料の特性としてこのパワー密度変化が吸収できる場合には遅延のみによって構成することができる。
【００６０】
また、図１２（Ｂ）に示すように、徐々にレベルが減少する記録パルスをストラテジ付加部７１から出力させる。また、レベルの変化と共に遅延によってマークエッジ位置の制御を行うようにしても良い。記録パルスのレベルの減少のさせ方は、基板の傾きが発生した場合にも盤面上のスポット形状が傾きがない場合と同様に光軸中心に対して対称となるように減少させる。
【００６１】
また、図１２（Ｃ）に示すように、レベルが３段階に変化する３値制御の記録パルスをストラテジ付加部７１から出力するようにしても良い。このような場合には、記録パルスの遅延と共に、記録パルスのデューティーを変えることによって材料温度の制御を行う。
【００６２】
また、図１２（Ｄ）に示すように、レベルが徐々に増加し、その後に徐々にレベルが減少する記録パルスをストラテジ付加部７１から出力させるようにしても良い。この場合も、図１２（Ｂ）の場合と同様に、遅延によってマークエッジ位置の制御を行うようにしても良い。更に、基板の傾きが発生した場合にも盤面上のマーク形状が傾きがない場合と同様になるように記録パルスの減少の仕方を変えることも併せて行うことができる。
【００６３】
なお、上述した実施形態では、傾き量の検出方法として、外付けのチルトセンサを用いたが、本発明はこれに限定されるものではなく、傾き量によるサーボ信号の変化を捉えて検知したり、傾きが検出できる信号パターンを予めディスクに記録しておき、この再生信号から傾き量を検知するなど、基板傾きが検知できるものであれば種々の手段を用いることが可能である。
【００６４】
また、上述した実施形態では、光ディスクを用いて説明を行ったが、光学式の媒体であれば、前記の回路構成は限定されるものではなく、記録機、再生機等のシステムに応じて変形することが可能である。
【００６５】
また、上述した実施形態では、ＦＩＦＯによってパルスの遅延を行うものを挙げて説明を行ったが、これに限らず、複数のパルスパターンを予め用意し、傾き量に応じてパターンを選択したり、記録パルスのパワーを増減させて実質的にキュリー温度を越えるタイミングを制御する等検出素子の出力に対応して記録パルスの実際の記録開始もしくは終了タイミングで変わるものであれば、色々な形で実現することが可能である。
【００６６】
また、上述した実施形態では、光磁気記録媒体への記録を例にとって説明をしたが、記録媒体はこれに限定されず、相変化記録媒体、有機色素等、光記録可能な種々の媒体を用いて同様の構成が可能である。
【００６７】
また、本発明は、光学系の工夫、例えば基板の傾きに合わせて対物レンズを傾ける等の手段と併せて用いることが可能であり、その場合には、実質的なディスクの傾斜量、例えば対物レンズを時間軸方向に傾けた場合の残留誤差量、あるいはその光学系を用いたプリレコーディングシグナルの再生特性に対応してパルスの遅延を行うといった構成を採ることができる。
【００６８】
【発明の効果】
請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、傾き検出手段による記録媒体の傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、記録パルス信号制御手段により、記録パルス信号の変調手段に対する出力タイミングを制御するようにしたので、記録媒体上でのレーザー光による温度勾配を、傾きが無い場合と同様に変化させることができ、記録されるマークのエッジ位置を適正位置にすることができる。その結果、再生時においてもジッタを発生させず、また、エラーレートを増加させることのない光学式記録媒体記録装置を提供することができる。また、変形量が多いディスクを用いても安定した信号の記録再生が可能になり、性能の向上を図ることができる。更に基板の反りの多い薄いディスクにおいてもマークエッジ位置が補償されるので、薄いディスクを使用することが可能になる。
また、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の記録媒体の記録面が基準水平位置よりもレーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、記録パルス信号の出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めるので、収差によるレーザー光スポットの光量中心のずれを相殺して、結果的にマークを適正位置に記録することができる。
【００７０】
請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、記録パルス信号を所定のサンプリングレートでサンプリングして記憶手段に記憶手段における所定の記憶単位毎に書き込むと共に、所定の読み出しレートで前記記憶手段から前記所定の記憶単位毎に読み出し、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設け、当該時間間隔を伸縮させることにより前記出力タイミングを変化させるので、出力タイミングの制御を容易に行うことができる。
【００７１】
請求項３に記載の光学式記録媒体記録装置によれば、傾き角の大きさと出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルに基づいて、傾き検出手段の検出出力の値を前記時間間隔の伸縮量に換算するので、前記時間間隔の伸縮量を迅速に得ることができ、前記出力タイミングの制御を迅速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態におけるディスク記録装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図１のディスク記録装置における傾き検出装置の概略構成を示す図である。
【図３】図１のディスク記録装置の構成を詳細に示すブロック図である。
【図４】図３における出力タイミング制御部８の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図５】図３における変換テーブル５２の一例を示す図である。
【図６】（Ａ）は基板が図５のテーブルにおける正の傾き角に相当する傾き角を有して傾いた状態を示す図、（Ｂ）は基板が図５のテーブルにおける負の傾き角に相当する傾き角を有して傾いた状態を示す図である。
【図７】（Ａ）の（ｉ）は、基板に傾きが無い場合の基板とビームの関係、及びスポット形状を示す図、（Ａ）の（ｉｉ）は、（ｉ）の場合の波面収差分布を示す図、（ｉｉｉ）は（ｉｉ）の波面収差分布を示すグラフ、（Ｂ）の（ｉ）は、基板に傾きが生じた場合の基板とビームの関係、及びスポット形状を示す図、（Ｂ）の（ｉｉ）は、（ｉ）の場合の波面収差分布を示す図、（ｉｉｉ）は（ｉｉ）の波面収差分布を示すグラフである。
【図８】（Ａ）は基板に傾きが無い場合のディスク上のスポット形状とマーク位置を示す図、（Ｂ）は基板に傾きが生じた場合のディスク上のスポット形状とマーク位置を示す図である。
【図９】（Ａ）は８／１６変調されたパルス信号、（Ｂ）はストラテジ付加部から出力される記録パルス、（Ｃ）は（Ｂ）の記録パルスによるディスク上の温度勾配、（Ｄ）は基板に図６（Ｂ）の傾きが生じた場合に（Ｂ）の記録パルスを出力した時のディスク上の温度勾配、（Ｅ）は基板に図６（Ａ）の傾きが生じた場合に（Ｂ）の記録パルスを出力した時のディスク上の温度勾配をそれぞれ示すタイミングチャートである。
【図１０】基板に図６（Ａ）の傾きが生じた場合の動作を示すタイミングチャートであり、（Ａ）はストラテジ付加された記録パルス信号、（Ｂ）はサンプリングパルス、（Ｃ）は基板に図６（Ａ）の傾きが生じた場合の読み出しパルス、（Ｄ）は（Ｃ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号、（Ｅ）はは基板に傾きが生じていない場合の読み出しパルス、（Ｆ）は（Ｅ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号をそれぞれ示すタイミングチャートである。
【図１１】基板に図６（Ｂ）の傾きが生じた場合の動作を示すタイミングチャートであり、（Ａ）はストラテジ付加された記録パルス信号、（Ｂ）はサンプリングパルス、（Ｃ）は基板に図６（Ｂ）の傾きが生じた場合の読み出しパルス、（Ｄ）は（Ｃ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号、（Ｅ）はは基板に傾きが生じていない場合の読み出しパルス、（Ｆ）は（Ｅ）の読み出しパルスにより読み出された記録パルス信号をそれぞれ示すタイミングチャートである。
【図１２】本発明の第２の実施形態におけるストラテジ付加部から出力される記録パルスの例を示す図であり、（Ａ）はレベルの異なる方形の記録パルス、（Ｂ）は徐々にレベルが減少する記録パルス、（Ｃ）はレベルが３段階に変化する３値制御の記録パルス、（Ｄ）はレベルが徐々に増加しその後に徐々にレベルが減少する記録パルスをそれぞれ示す図である。
【符号の説明】
１ ピックアップ
２ レーザー
３ 基板
４ 傾き検出装置
５ 調整量変換部
６ 記録信号源
７ 記録パルス信号生成部
８ 出力タイミング制御部
９ 変調器
５１ 調整量換算部
５２ 変換テーブル
５３ 定常遅延量
７０ エンコーダ
７１ ストラテジ付加部
８０ メモリ
８１ 書き込みアドレスポインタ
８２ 読み出しアドレスポインタ
８３ 加減算部
Claims (7)
- レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出手段と、
記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段と、
前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調手段と、
前記変調手段によって強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射手段と、
前記傾き検出手段による前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する記録パルス信号制御手段と、
を備え
前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御手段は、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早める
ことを特徴とする光学式記録媒体記録装置。 - 前記記録パルス信号制御手段は、
読み書き自在な記憶手段と、
前記記録パルス信号生成手段によって生成される記録パルス信号を、所定のサンプリングレートでサンプリングして前記記憶手段に書き込むと共に、所定の読み出しレートで前記記憶手段から読み出すデータ読み書き制御手段と
を備え、
当該データ読み書き制御手段は、前記記憶手段における所定の記憶単位毎に前記書き込みと読み出しを繰り返すと共に、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設けており、当該時間間隔を伸縮させることにより前記出力タイミングを変化させることを特徴とする請求項１に記載の光学式記録媒体記録装置。 - 前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き角の大きさと前記出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルと、前記傾き検出手段の前記検出出力の値を前記変換テーブルに基づいて前記時間間隔の伸縮量に換算する換算手段とを更に備えることを特徴とする請求項２に記載の光学式記録媒体記録装置。
- レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出手段と、
記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成手段と、
前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調手段と、
前記変調手段によって強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射手段と、
前記傾き検出手段による前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調手段に対する出力タイミングを制御する記録パルス信号制御手段とを備え、
前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き角の大きさと前記出力タイミングを変化させる量との関係を示す変換テーブルを備え、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射手段に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早めることを特徴とする光学式記録媒体記録装置。 - 前記記録パルス信号制御手段は、読み書き自在な記憶手段と、前記記録パルス信号生成手段によって生成される記録パルス信号を、所定のサンプリングレートでサンプリングして前記記憶手段に書き込むと共に、所定の読み出しレートで前記記憶手段から読み出すデータ読み書き制御手段とを備え、当該データ読み書き制御手段は、前記記憶手段における所定の記憶単位毎に前記書き込みと読み出しを繰り返すと共に、各記憶単位における書き込みの終了から読み出しの開始までの間に所定の時間間隔を設けており、当該時間間隔を伸縮させることにより前記出力タイミングを変化させることを特徴とする請求項４に記載の光学式記録媒体記録装置。
- 前記記録パルス信号制御手段は、前記傾き検出手段の前記検出出力の値を前記変換テーブルに基づいて前記時間間隔の伸縮量に換算する換算手段とを更に備えることを特徴とする請求項５に記載の光学式記録媒体記録装置。
- レーザー光軸に対する記録媒体の傾きの周方向成分を検出する傾き検出工程と、
記録対象の情報信号を符号化することにより記録パルス信号を生成する記録パルス信号生成工程と、
前記記録パルス信号に基づいてレーザー光強度を変調する変調工程と、
前記変調工程において強度が変調されたレーザー光を前記記録媒体に対して照射するレーザー光照射工程と、
前記傾き検出工程における前記傾きの周方向成分の検出出力に基づいて、前記記録パルス信号の前記変調工程における出力タイミングを制御する記録パルス信号制御工程と、
を備え
前記傾きの周方向成分の検出出力は、記録媒体の記録面の傾き角の大きさを示す出力であり、前記記録パルス信号制御工程においては、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射工程におけるレーザー光から遠ざかる方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも遅延させ、光軸を中心としてレーザー光の相対的進行方向前側の前記記録面が基準水平位置よりも前記レーザー光照射工程におけるレーザー光に近づく方向に傾く時には、その傾き角が大きくなる程、前記出力タイミングを所定の基準タイミングよりも早める
ことを特徴とする光学式記録方法。
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