JP3771329B2 - 電子部品の取付方向検査方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はプリント基板に実装された取付方向を規定する基準マークが表示された電子部品、例えば、極性マークが表示されたコンデンサ等のチップ部品の極性が、予め設定した方向に半田付けされているか否かを、画像処理によって検査する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より極性を有するチップ部品の極性検査を行う方法として、基準となる正規な方向に半田付けされたチップ部品の画像を画像メモリに記憶しておき、被検査プリント基板に実装されているチップ部品の画像を他の画像メモリに記憶し、前記基準画像と被検査画像とを画像比較回路によって比較して、チップ部品に抽出されている帯等の極性マークが両者で一致するか否かを判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記したチップ部品に印刷されている極性マークは、チップ部品によって極性マークの色合いが薄いもの〔図５(a) に示すように全体が黒色Ｃ（図中の黒）に対して青色（図中の灰色）の極性マークＣ1 が印刷されたもの〕や、印刷自体の形状が不明瞭なもの〔図５(b) に示すように数値と幅広の横線Ｃに対して同じの濃度の極性マークＣ1 が印刷された〕ものがあるため、極性マークであるとの判別が困難で誤検出を生じ易いといった問題があった。
【０００４】
本発明は前記した問題点を解決せんとするもので、その目的とするところは、電子部品における基準マークの色合いが薄いものや、形状の不明瞭なものがあっても、電子部品の取付方向を確実に検査することができる電子部品の取付方向検査方法を提供せんとするにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の電子部品の取付方向検査方法は前記した目的を達成せんとするもので、請求項１の手段は、基準となる基準マークを有する電子部品における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較において判別が困難な場合に、基準画像メモリ内の逆方向画像との比較を行い、何れに近似しているかの判別を行うようにしたことを特徴とする。
【０００７】
また、請求項２の手段は、基準となる基準マークを有する電子部品の画像を基準画像メモリに記憶し、被検査電子部品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリに記憶された基準画像とを比較器で比較し、この比較結果において近似していないと判別した場合に、前記検査画像メモリに記憶されている画像を反転し、前記基準画像メモリの基準画像とを前記比較器で比較し、前記２つの比較において何れに近似しているかの判別を行うようにしたことを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電子部品の取付方向検査方法をチップ部品の極性方向検査を行う場合について説明する。
図１は本発明の方法を実施するためのブロック図であり、１は電子部品であるチップ部品Ｃを実装した被検査プリント基板ＰをＸ軸方向およびＹ軸方向に移動して、前記チップ部品Ｃをテレビカメラ２の真下に移動させるＸ−Ｙステージである。
【０００９】
３は前記テレビカメラ２でチップ部品Ｃの基準マークである極性マークＣ1 が、正規の方向にプリント基板Ｐに対して実装された状態の画像を記憶する基準画像メモリにして、該基準画像メモリ３には前記記憶された画像を演算して極性マークＣ1 を反転させた画像も記憶されている。すなわち、極性マークＣ1 が正逆転された２つの画像が記憶されている。
【００１０】
４は前記Ｘ−Ｙステージ１によって移動された被検査プリント基板Ｐに実装されたチップ部品Ｃ1 を前記テレビカメラ２によって取り込んだ画像を記憶する検査画像メモリ、５は前記検査画像メモリ４よりの画像と、前記基準画像メモリ３内の正画像とを最初に比較判定し、この判定の結果がＮＧである場合には、逆転画像とをパターンマッチング手法によって比較判定する画像比較器である。
【００１１】
６は前記画像比較器５からの検査結果信号が入力され、その結果によってチップ部品Ｃの極性マークＣ1 の方向が正しいか否かを記憶すると共に、図示しないディスプレイやプリンタ等に表示し、また、予め検査順位が決定されているチップ部品Ｃを前記テレビカメラ２の真下に移動させるための制御信号をＸ−Ｙステージ制御部７に出力するＣＰＵである。
【００１２】
以下、前記した構成に基づいて動作を図２のフローチャート図と図３のチップ部品Ｃの平面図と共に説明する。
先ず、基準画像メモリ３にテレビカメラ２で一般的なチップ部品Ｃの極性マークＣ1 が、正規の方向にプリント基板Ｐに対して実装されている画像を記憶すると共に、前記記憶された画像を演算して極性マークＣ1 を反転させた画像も記憶する。
【００１３】
前記したように、チップ部品Ｃにおける正逆２つの極性マークＣ1 の画像が基準画像メモリ３に記憶された状態において、ＣＰＵ６よりの指令によってＸ−Ｙステージ制御部７を介して被検査プリント基板Ｐが移動して、被検査用のチップ部品Ｃ′がテレビカメラ２の真下に移動させられる。従って、被検査用のチップ部品Ｃ′の画像が検査画像メモリ４に記憶される（ステップＳ１）。
【００１４】
次いで、画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されている正規な方向に実装された状態の画像と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が終了したか否かを判断し（ステップＳ２）、前記比較が終了したと判断すると、その比較結果を第１のメモリ内に保存する（ステップＳ３）。
【００１５】
その後、画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されている逆向きに実装された状態の画像と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が終了したか否かを判断し（ステップＳ４）、前記比較が終了したと判断すると、その比較結果を第２のメモリ内に保存する（ステップＳ５）。
【００１６】
次いで、ステップＳ３で保存した比較データがステップＳ５で保存した比較データより近似しているか否かを判断し、ステップＳ３の比較データの方がステップＳ５の比較データより近似していると判断するとＯＫの出力を送出し、また、逆の場合にはＮＧの出力を送出する（ステップＳ６）。
【００１７】
なお、前記した検査方法にあっては、正逆２つの基準画像と検査画像とを比較して、何れの比較結果がより近似しているかの判断を行うものについて説明したが、正方向の基準画像との比較を行い、その結果が近似していないと判断した場合に逆方向の基準画像との比較を行う方法もある。
【００１８】
以下、この方法について図４と共に説明する。なお、前記したフローチャート図におけるステップＳ１までは同じなので、それ以降の動作について説明する。画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されている正規な方向に実装された状態の画像と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像とを比較する（ステップＳ７）。そして、検査画像メモリ４に記憶された画像における極性マークＣ1 ′の印刷の濃度が濃くて明瞭に識別でき、かつ、極性マークＣ1 ′の向きが正規の方向に実装されている場合にはＯＫ信号をＣＰＵ６に出力する。
【００１９】
また、前記ステップＳ７において、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できず、あるいは、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できるが向きが逆向きに実装されていると判別した場合には、基準画像メモリ３内に記憶されている逆向きの画像が画像比較器５に送出され、前記検査画像メモリ４に記憶された画像と比較される（ステップＳ８）。
【００２０】
この比較において、極性マークＣ1 ′が明確に判別されている場合には、実装されたチップ部品は逆向きであるとしてＮＧ信号をＣＰＵに出力する。また、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できないとしてステップＳ８に移行した場合には、前記ステップＳ７における比較値と、今回のステップＳ８における比較値とが、何れに近似しているかを判別し、正規な方向の画像と近似していると判別した場合にはＯＫ信号をＣＰＵに出力し、また、逆方向の画像と近似していると判別した場合にはＮＧ信号をＣＰＵに出力する。
【００２１】
以上のように極性マークＣ1 ′が濃度が薄い等の場合には、先ず、検査画像メモリ４よりの画像と基準画像メモリ３における正規の方向に実装された画像とを比較する第１の比較を行い、この比較においてＮＯと判断された場合に、逆方向の画像とを比較する第２の比較を行い、前記第１の比較結果と第２の比較結果の何れに近似しているかの判断を行い、第１の比較に近似している場合にはＯＫ、第２の比較に近似している場合にはＮＧを出力するようにしたものである。
【００２２】
なお、前記した実施の形態にあっては、基準画像メモリ３にチップ部品Ｃにおける極性マークＣ1 の正逆方向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と検査画像メモリ４に記憶された検査画像とを比較したものについて説明したが、基準画像メモリ３には１つのチップ部品Ｃの画像のみを記憶し、この画像と検査画像メモリ４に記憶した画像との比較を行い、その結果が近似していないと判定した場合に、図１の仮想線で示す画像反転部８によって検査画像メモリ４よりの画像を反転し、この反転した画像と基準画像との比較を行い、前記２回の比較結果において何れに近似しているかによってチップ部品Ｃが正常に実装されているか否かを判別するようにしてもよい。
【００２３】
また、前記した実施の形態はチップ部品における極性マークの方向が正しいか否かを検査する方法について説明したが、チップ部品のみならずＩＣ等のように取付方向が予め規定されている電子部品の取付方向を検査するものにも応用できることは勿論である。
【００２４】
【発明の効果】
本発明は前記したように、被検査電子部品の基準マークの濃度が薄い等の如く基準マークの向きが判別しにくい場合に、基準画像メモリに正方向と逆方向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と被検査電子部品の画像とを比較し、あるいは、基準画像メモリには１つの画像を記憶し、検査画像メモリで記憶した画像と、この画像を反転した画像との比較を行い、何れの比較結果が近似しているかで基準マークの方向を判別するようにしたので、基準マークの濃淡および基準マーク以外の印刷があったとしても、確実に基準マークの方向を検出することができる。
【００２５】
また、前記検査において、基準画像メモリ内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較においてＮＧとなった場合に、逆方向画像との比較を行って前記何れに近似しているかの判別を行うようにしたので、一般的に正規の方向に実装されることが多い電子部品の検査時間を短縮することが可能である等の効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る電子部品の取付方向検査方法を実施するためのブロック図である。
【図２】第１の動作を示すフローチャート図である。
【図３】比較器における比較状態を説明するためのチップ部品の平面図である。
【図４】第２の動作を示すフローチャート図である。
【図５】 (a) は濃度差が小さい場合の、(b) は図柄上の相違が小さい場合のチップ部品表面の状態を示す平面図である。
【符号の説明】
Ｐ プリント基板
Ｃ チップ部品（電子部品）
Ｃ1 極性マーク（基準マーク）
１ Ｘ−Ｙステージ
２ テレビカメラ
３ 基準画像メモリ
４ 検査画像メモリ
５ 画像比較器
６ ＣＰＵ
７ Ｘ−Ｙステージ制御部
８ 画像反転部
【発明の属する技術分野】
本発明はプリント基板に実装された取付方向を規定する基準マークが表示された電子部品、例えば、極性マークが表示されたコンデンサ等のチップ部品の極性が、予め設定した方向に半田付けされているか否かを、画像処理によって検査する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より極性を有するチップ部品の極性検査を行う方法として、基準となる正規な方向に半田付けされたチップ部品の画像を画像メモリに記憶しておき、被検査プリント基板に実装されているチップ部品の画像を他の画像メモリに記憶し、前記基準画像と被検査画像とを画像比較回路によって比較して、チップ部品に抽出されている帯等の極性マークが両者で一致するか否かを判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記したチップ部品に印刷されている極性マークは、チップ部品によって極性マークの色合いが薄いもの〔図５(a) に示すように全体が黒色Ｃ（図中の黒）に対して青色（図中の灰色）の極性マークＣ1 が印刷されたもの〕や、印刷自体の形状が不明瞭なもの〔図５(b) に示すように数値と幅広の横線Ｃに対して同じの濃度の極性マークＣ1 が印刷された〕ものがあるため、極性マークであるとの判別が困難で誤検出を生じ易いといった問題があった。
【０００４】
本発明は前記した問題点を解決せんとするもので、その目的とするところは、電子部品における基準マークの色合いが薄いものや、形状の不明瞭なものがあっても、電子部品の取付方向を確実に検査することができる電子部品の取付方向検査方法を提供せんとするにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の電子部品の取付方向検査方法は前記した目的を達成せんとするもので、請求項１の手段は、基準となる基準マークを有する電子部品における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較において判別が困難な場合に、基準画像メモリ内の逆方向画像との比較を行い、何れに近似しているかの判別を行うようにしたことを特徴とする。
【０００７】
また、請求項２の手段は、基準となる基準マークを有する電子部品の画像を基準画像メモリに記憶し、被検査電子部品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリに記憶された基準画像とを比較器で比較し、この比較結果において近似していないと判別した場合に、前記検査画像メモリに記憶されている画像を反転し、前記基準画像メモリの基準画像とを前記比較器で比較し、前記２つの比較において何れに近似しているかの判別を行うようにしたことを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電子部品の取付方向検査方法をチップ部品の極性方向検査を行う場合について説明する。
図１は本発明の方法を実施するためのブロック図であり、１は電子部品であるチップ部品Ｃを実装した被検査プリント基板ＰをＸ軸方向およびＹ軸方向に移動して、前記チップ部品Ｃをテレビカメラ２の真下に移動させるＸ−Ｙステージである。
【０００９】
３は前記テレビカメラ２でチップ部品Ｃの基準マークである極性マークＣ1 が、正規の方向にプリント基板Ｐに対して実装された状態の画像を記憶する基準画像メモリにして、該基準画像メモリ３には前記記憶された画像を演算して極性マークＣ1 を反転させた画像も記憶されている。すなわち、極性マークＣ1 が正逆転された２つの画像が記憶されている。
【００１０】
４は前記Ｘ−Ｙステージ１によって移動された被検査プリント基板Ｐに実装されたチップ部品Ｃ1 を前記テレビカメラ２によって取り込んだ画像を記憶する検査画像メモリ、５は前記検査画像メモリ４よりの画像と、前記基準画像メモリ３内の正画像とを最初に比較判定し、この判定の結果がＮＧである場合には、逆転画像とをパターンマッチング手法によって比較判定する画像比較器である。
【００１１】
６は前記画像比較器５からの検査結果信号が入力され、その結果によってチップ部品Ｃの極性マークＣ1 の方向が正しいか否かを記憶すると共に、図示しないディスプレイやプリンタ等に表示し、また、予め検査順位が決定されているチップ部品Ｃを前記テレビカメラ２の真下に移動させるための制御信号をＸ−Ｙステージ制御部７に出力するＣＰＵである。
【００１２】
以下、前記した構成に基づいて動作を図２のフローチャート図と図３のチップ部品Ｃの平面図と共に説明する。
先ず、基準画像メモリ３にテレビカメラ２で一般的なチップ部品Ｃの極性マークＣ1 が、正規の方向にプリント基板Ｐに対して実装されている画像を記憶すると共に、前記記憶された画像を演算して極性マークＣ1 を反転させた画像も記憶する。
【００１３】
前記したように、チップ部品Ｃにおける正逆２つの極性マークＣ1 の画像が基準画像メモリ３に記憶された状態において、ＣＰＵ６よりの指令によってＸ−Ｙステージ制御部７を介して被検査プリント基板Ｐが移動して、被検査用のチップ部品Ｃ′がテレビカメラ２の真下に移動させられる。従って、被検査用のチップ部品Ｃ′の画像が検査画像メモリ４に記憶される（ステップＳ１）。
【００１４】
次いで、画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されている正規な方向に実装された状態の画像と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が終了したか否かを判断し（ステップＳ２）、前記比較が終了したと判断すると、その比較結果を第１のメモリ内に保存する（ステップＳ３）。
【００１５】
その後、画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されている逆向きに実装された状態の画像と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が終了したか否かを判断し（ステップＳ４）、前記比較が終了したと判断すると、その比較結果を第２のメモリ内に保存する（ステップＳ５）。
【００１６】
次いで、ステップＳ３で保存した比較データがステップＳ５で保存した比較データより近似しているか否かを判断し、ステップＳ３の比較データの方がステップＳ５の比較データより近似していると判断するとＯＫの出力を送出し、また、逆の場合にはＮＧの出力を送出する（ステップＳ６）。
【００１７】
なお、前記した検査方法にあっては、正逆２つの基準画像と検査画像とを比較して、何れの比較結果がより近似しているかの判断を行うものについて説明したが、正方向の基準画像との比較を行い、その結果が近似していないと判断した場合に逆方向の基準画像との比較を行う方法もある。
【００１８】
以下、この方法について図４と共に説明する。なお、前記したフローチャート図におけるステップＳ１までは同じなので、それ以降の動作について説明する。画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されている正規な方向に実装された状態の画像と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像とを比較する（ステップＳ７）。そして、検査画像メモリ４に記憶された画像における極性マークＣ1 ′の印刷の濃度が濃くて明瞭に識別でき、かつ、極性マークＣ1 ′の向きが正規の方向に実装されている場合にはＯＫ信号をＣＰＵ６に出力する。
【００１９】
また、前記ステップＳ７において、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できず、あるいは、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できるが向きが逆向きに実装されていると判別した場合には、基準画像メモリ３内に記憶されている逆向きの画像が画像比較器５に送出され、前記検査画像メモリ４に記憶された画像と比較される（ステップＳ８）。
【００２０】
この比較において、極性マークＣ1 ′が明確に判別されている場合には、実装されたチップ部品は逆向きであるとしてＮＧ信号をＣＰＵに出力する。また、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できないとしてステップＳ８に移行した場合には、前記ステップＳ７における比較値と、今回のステップＳ８における比較値とが、何れに近似しているかを判別し、正規な方向の画像と近似していると判別した場合にはＯＫ信号をＣＰＵに出力し、また、逆方向の画像と近似していると判別した場合にはＮＧ信号をＣＰＵに出力する。
【００２１】
以上のように極性マークＣ1 ′が濃度が薄い等の場合には、先ず、検査画像メモリ４よりの画像と基準画像メモリ３における正規の方向に実装された画像とを比較する第１の比較を行い、この比較においてＮＯと判断された場合に、逆方向の画像とを比較する第２の比較を行い、前記第１の比較結果と第２の比較結果の何れに近似しているかの判断を行い、第１の比較に近似している場合にはＯＫ、第２の比較に近似している場合にはＮＧを出力するようにしたものである。
【００２２】
なお、前記した実施の形態にあっては、基準画像メモリ３にチップ部品Ｃにおける極性マークＣ1 の正逆方向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と検査画像メモリ４に記憶された検査画像とを比較したものについて説明したが、基準画像メモリ３には１つのチップ部品Ｃの画像のみを記憶し、この画像と検査画像メモリ４に記憶した画像との比較を行い、その結果が近似していないと判定した場合に、図１の仮想線で示す画像反転部８によって検査画像メモリ４よりの画像を反転し、この反転した画像と基準画像との比較を行い、前記２回の比較結果において何れに近似しているかによってチップ部品Ｃが正常に実装されているか否かを判別するようにしてもよい。
【００２３】
また、前記した実施の形態はチップ部品における極性マークの方向が正しいか否かを検査する方法について説明したが、チップ部品のみならずＩＣ等のように取付方向が予め規定されている電子部品の取付方向を検査するものにも応用できることは勿論である。
【００２４】
【発明の効果】
本発明は前記したように、被検査電子部品の基準マークの濃度が薄い等の如く基準マークの向きが判別しにくい場合に、基準画像メモリに正方向と逆方向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と被検査電子部品の画像とを比較し、あるいは、基準画像メモリには１つの画像を記憶し、検査画像メモリで記憶した画像と、この画像を反転した画像との比較を行い、何れの比較結果が近似しているかで基準マークの方向を判別するようにしたので、基準マークの濃淡および基準マーク以外の印刷があったとしても、確実に基準マークの方向を検出することができる。
【００２５】
また、前記検査において、基準画像メモリ内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較においてＮＧとなった場合に、逆方向画像との比較を行って前記何れに近似しているかの判別を行うようにしたので、一般的に正規の方向に実装されることが多い電子部品の検査時間を短縮することが可能である等の効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る電子部品の取付方向検査方法を実施するためのブロック図である。
【図２】第１の動作を示すフローチャート図である。
【図３】比較器における比較状態を説明するためのチップ部品の平面図である。
【図４】第２の動作を示すフローチャート図である。
【図５】 (a) は濃度差が小さい場合の、(b) は図柄上の相違が小さい場合のチップ部品表面の状態を示す平面図である。
【符号の説明】
Ｐ プリント基板
Ｃ チップ部品（電子部品）
Ｃ1 極性マーク（基準マーク）
１ Ｘ−Ｙステージ
２ テレビカメラ
３ 基準画像メモリ
４ 検査画像メモリ
５ 画像比較器
６ ＣＰＵ
７ Ｘ−Ｙステージ制御部
８ 画像反転部
Claims (2)
- 基準となる基準マークを有する電子部品における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較において判別が困難な場合に、基準画像メモリ内の逆方向画像との比較を行い、何れに近似しているかの判別を行うようにしたことを特徴とする電子部品の取付方向検査方法。
- 基準となる基準マークを有する電子部品の画像を基準画像メモリに記憶し、被検査電子部品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリに記憶された基準画像とを比較器で比較し、この比較結果において近似していないと判別した場合に、前記検査画像メモリに記憶されている画像を反転し、前記基準画像メモリの基準画像とを前記比較器で比較し、前記２つの比較において何れに近似しているかの判別を行うようにしたことを特徴とする電子部品の取付方向検査方法。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP20185396A JP3771329B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 電子部品の取付方向検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP20185396A JP3771329B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 電子部品の取付方向検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1051199A JPH1051199A (ja) | 1998-02-20 |
| JP3771329B2 true JP3771329B2 (ja) | 2006-04-26 |
Family
ID=16447976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP20185396A Expired - Fee Related JP3771329B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 電子部品の取付方向検査方法 |
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1996
- 1996-07-31 JP JP20185396A patent/JP3771329B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH1051199A (ja) | 1998-02-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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