JP3750924B2 - Radiation monitor - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、原子力発電所等で使用する放射線モニタに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
原子力発電所等では、従来から半導体検出器を使用した放射線モニタが使用されている。図7は、従来の半導体検出器を使用した放射線モニタの構成を示すブロック図である。図7において、1は第1の半導体検出器、2は第2の半導体検出器、3は波高弁別計数回路、4は演算器、5はメモリ、6は表示器である。
【0003】
第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2は、入射した放射線のエネルギーを吸収し、吸収したエネルギーに比例した電圧波高のアナログ信号パルスに変換して出力する。第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2の出力は合流され、波高弁別計数回路3に入力される。波高弁別計数回路3は、アナログ信号パルスを入力して所定の弁別レベル以上の波高値のパルスを計数する。演算器4は、波高弁別計数回路3とメモリ5及び表示器6を制御し、定周期で波高弁別計数回路3の計数値を読み込んでメモリ5に格納し、メモリ5に格納されている演算プログラム及びデータにより計数率等の演算を実行し、演算結果をメモリ5に格納するとともに表示器6に表示する。ここで、第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2は、例えばCdTe半導体センサ、PIN(P層、空乏層、N層の構造)型Si半導体センサが用いられ、それぞれ半導体センサを1個または複数個備えている。
【0004】
図8は、図7に示すA、B、C、Dにおける信号波形を示すものである。図8において、a1、a7は第1の半導体検出器1が放射線を検出した結果としてのアナログ信号パルス、a3は第1の半導体検出器1の内部ノイズ、a5、a6は外来ノイズである。同様に、b4、b8は第2の半導体検出器2が放射線を検出した結果としてのアナログ信号パルス、b2は第2の半導体検出器2の内部ノイズ、b5、b6は外来ノイズである。第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2の出力は合流して波高弁別計数回路3に入力される。
【0005】
このため、同時タイミングの波形a5とb5、a6とb6は、それぞれ波高値が加算されてc5、c6となる。非同時タイミングの波形a1、a3、a7、b2、b4、b8は、そのままの波高値で、それぞれc1、c3、c7、c2、c4、c8となる。波高弁別計数回路3において、波高弁別レベルを超えたアナログ信号パルスc1、c4、c7、c8及び波高弁別レベルを超えた外来ノイズc5、c6はそれぞれデジタルパルスd1、d4、d7、d8、d5、d6に変換されて計数される。第1の半導体検出器1の内部ノイズd3、第2の半導体検出器2の内部ノイズd2は波高値が小さいため計数から除外される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の放射線モニタにおいて、第1及び第2の半導体検出器1及び2に用いられる半導体検出器は、シンチレーション検出器に比べて出力信号パルスの波高値が小さく、また、検出感度を高める目的等で複数の検出器を並列接続した場合に外来ノイズが増幅されるため、外来ノイズ対策としてノイズを排除した測定が課題であった。
【0007】
この発明は上述した従来例に係る問題点を解消するためになされたもので、外来ノイズが混入することを防止できる放射線モニタを得ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る放射線モニタは、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する1個または複数の半導体センサをそれぞれ有し、2つのグループに分けて備えられた第1及び第2の半導体検出器と、前記第1及び第2の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する非同時計数回路とを備えたものである。
【0009】
また、前記第1及び第2の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する同時計数回路と、前記非同時計数回路及び前記同時計数回路から出力される非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その比Kが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Kが所定値以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Pが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Pが所定値以上の時に、今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力する演算器とを備えたものである。
【0010】
さらに、前記演算器は、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信するものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
この発明の実施の形態1を図に基づいて説明する。
図1は、この発明の実施の形態1に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。図7に示す従来例と同一部分は同一符号を付してその説明は省略する。新たな符号として、7は非同時計数回路であり、この非同時計数回路7は、第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する。なお、第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2は、それぞれ半導体センサを1個または複数個備えたものである。また、非同時計数回路7の波高弁別の条件は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レベル以下としても、あるいはそれを多重に積み上げた波高分析条件としてもよいことは言うまでもない。
【0012】
図2は、図1に示すA、B、Eにおける信号波形を示すもので、非同時計数回路7において、アナログ信号パルスa1、a7、b4、b8は波高値が弁別レベル以上かつ非同時タイミングの条件を満たすので計数される。外来ノイズa5とb5は、破線で示す波高弁別レベルを超えているものの同時タイミングのため計数から除外される。外来ノイズa6とb6、内部ノイズa3、b2は破線で示す波高弁別レベル以下のため計数から除外される。
【0013】
非同時計数回路7による計数値は、演算器4に入力され、演算器4は、非同時計数回路7とメモリ5及び表示器6を制御し、定周期で非同時計数回路7の計数値を読み込んでメモリ5に格納し、メモリ5に格納されている演算プログラム及びデータにより計数率等の演算を実行し、演算結果をメモリ5に格納するとともに表示器6に表示する。
【0014】
従って、上記実施の形態1によれば、非同時計数回路7により、非同時タイミングのアナログ信号パルスを選択的に計数することにより、計数に外来ノイズが混入することを防止できる。
【0015】
実施の形態2.
この発明の実施の形態2を図に基づいて説明する。
図3は、この発明の実施の形態2に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。図1に示す実施の形態1と同一部分は同一符号を付してその説明は省略する。新たな符号として、8は同時計数回路であり、この同時計数回路8は、第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する。なお、第1の半導体検出器1及び第2の半導体検出器2は、それぞれ半導体センサを1個または複数個備えたものである。また、同時計数回路8の波高弁別の条件は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レベル以下としても、あるいはそれを多重に積み上げた波高分析条件としてもよいことは言うまでもない。
【0016】
図4は、図3に示すA、B、E、Fにおける信号波形を示すもので、同時計数回路8において、外来ノイズa5とb5は、波高弁別レベル以上かつ同時タイミングの条件を満たすため計数される。外来ノイズa6とb6は、波高弁別レベル以下のため計数から除外される。
【0017】
このように、同時計数回路8により同時タイミングのパルスを計数することにより、外来ノイズの侵入の程度を把握することできる。
【0018】
図5は、演算器4の演算処理フローを示すものである。ステップf1では、非同時計数回路7から出力される今回非同時計数値を入力しメモリ5に記憶する。ステップf2では、同時計数回路8から出力される今回同時計数値を入力しメモリ5に記憶する。ステップf3では、今回非同時計数値と前回非同時計数値とを比較する。前回非同時計数値の代わりに前回計測値に積算時間を掛けた平均非同時計数値を基準値としてもよい。
【0019】
その比較結果して、今回非同時計数値≧K・前回非同時計数値の場合は、ステップf4に進み、今回非同時計数値<K・前回非同時計数値の場合は、ステップf6に進む。ステップf4では、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比較結果、今回同時計数値≧P・今回非同時計数値の場合は、ステップf5に進み、今回同時計数値<P・今回非同時計数値の場合は、ステップf6に進む。なお、Kは計測時間に関係する値で、計測時間が長くなれば1に近づく値であり、また、Pはノイズ混入許容率である。
【0020】
ステップf5では、今回非同時計数値を廃却し、非同時計数値の最新値は前回値のままとする。ステップf6では、今回計測値の演算を行う。今回計測値は、例えば今回計数値を積算時間で割って計数率として求められる。また、最新の複数回の非同時計数値の平均値として求められる。その平均値の演算方法としては、積算時間が一定になるように移動平均してもよいし、または、積算計数値が一定になるように積算時間を制御してもよい。ステップf7では、ステップf6の演算結果の今回計測値を表示器6により表示させる。
【0021】
従って、上記実施の形態2によれば、外来ノイズの侵入の程度を把握し、非同時計数値が急激に上昇し、急激なノイズ侵入と同期している場合は、当該非同時計数を計測値演算のデータから排除することにより、非同時タイミングのアナログ信号パルスを選択的に計数しても排除しきれないような高周波ノイズに対して、指示上昇を防止できる。
【0022】
実施の形態3.
この発明の実施の形態3を図に基づいて説明する。
この実施の形態3では、実施の形態2と同様な図3に示す構成を備え、演算器4は、実施の形態2と同様に図5に示すフローに従って演算処理を実行するが、図5に示すステップf7の処理内容が異なる。
【0023】
図6は、この発明の実施の形態3に係る放射線モニタの演算器4の演算処理フローを示すものであり、図5に示すステップf7に相当し、ステップf71,f72,f73を有する。ステップf71では、今回非同時計数値の廃棄回数と基準値Rを比較し、今回非同時計数値の廃棄回数≧Rの場合は、ステップf72に進み、警報を発信し、今回非同時計数値の廃棄回数<Rの場合は、ステップf73に進み、今回計数値を表示すると共に、警報が発信された場合に警報を表示する。
【0024】
従って、上記実施の形態3によれば、継続するノイズ源の存在を報知することにより、トラブルを未然に防止できる。
【0025】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する複数の半導体検出器を2つのグループに分け、その非同時出力パルスを計数ようにしたので、計数に外来ノイズが混入することを防止できる。
【0026】
また、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する複数の半導体検出器を2つのグループに分け、その非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その比Kが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Kが所定値以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Pが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Pが所定値以上の時に、今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力するようにしたので、非同時計数で排除しきれない高周波ノイズに対しても指示上昇を防止できる。
【0027】
さらに、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信するようにしたので、継続するノイズ源の存在を報知してトラブルを未然に防止できる
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図2】 この発明の実施の形態1に係る放射線モニタの信号波形を示す図である。
【図3】 この発明の実施の形態2に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図4】 この発明の実施の形態1に係る放射線モニタの信号波形を示す図である。
【図5】 この発明の実施の形態3に係る放射線モニタの演算処理フローを示す図である。
【図6】 この発明の実施の形態3に係る放射線モニタの演算処理フローを示す図である。
【図7】 従来の半導体検出器を用いた放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図8】 従来の半導体検出器を用いた放射線モニタの信号波形を示す図である。
【符号の説明】
1 第1の半導体検出器、2 第2の半導体検出器、4 演算器、5 メモリ、6 表示器、7 非同時計数回路、8 同時計数回路。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a radiation monitor used in a nuclear power plant or the like.
[0002]
[Prior art]
In a nuclear power plant or the like, a radiation monitor using a semiconductor detector has been conventionally used. FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor using a conventional semiconductor detector. In FIG. 7, 1 is a first semiconductor detector, 2 is a second semiconductor detector, 3 is a pulse height discrimination counter circuit, 4 is a calculator, 5 is a memory, and 6 is a display.
[0003]
The
[0004]
FIG. 8 shows signal waveforms at A, B, C, and D shown in FIG. In FIG. 8, a1 and a7 are analog signal pulses as a result of detection of radiation by the
[0005]
For this reason, the waveform a5 and b5 and a6 and b6 of the simultaneous timing are respectively added to the crest values to become c5 and c6. Waveforms a1, a3, a7, b2, b4, and b8 of non-simultaneous timing are crest values as they are, and are c1, c3, c7, c2, c4, and c8, respectively. In the wave height discrimination counting circuit 3, analog signal pulses c1, c4, c7, c8 exceeding the wave height discrimination level and external noise c5, c6 exceeding the wave height discrimination level are digital pulses d1, d4, d7, d8, d5, d6, respectively. Is converted to and counted. The internal noise d3 of the
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional radiation monitor described above, the semiconductor detectors used for the first and
[0007]
The present invention has been made in order to solve the problems associated with the above-described conventional example, and an object thereof is to obtain a radiation monitor capable of preventing external noise from being mixed.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The radiation monitor according to the present invention includes first and second semiconductor detectors each having one or a plurality of semiconductor sensors that detect radiation and output analog signal pulses, and are provided in two groups. A non-simultaneous counting circuit that receives analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors, and counts pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a condition of non-simultaneous timing; It is provided.
[0009]
Also, a coincidence counting circuit for inputting analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors, counting pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a simultaneous timing condition, and The non-simultaneous counting circuit and the non-simultaneous output pulses and simultaneous output pulses output from the coincidence counting circuit are counted at regular intervals, respectively, and the average non-synchronized value calculated from the current non-simultaneous clock value and the previous non-simultaneous clock value or the previous measured value The clock value is compared as a reference value, and when the ratio K is less than a predetermined value, the current measurement value is calculated and output from the current non-same clock value or the latest non-same clock value including the current time, and the ratio When K is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is compared with the current non-clock value, and when the ratio P is less than the predetermined value, the current clock value or the latest multiple non-clock values including this time To this time When the ratio P is equal to or greater than a predetermined value, the current non-same clock value is discarded, and the previous non-same clock value or the latest multiple non-same clock values including the previous time are calculated. This time, it has an arithmetic unit that calculates and outputs the measured value.
[0010]
Further, the computing unit issues a failure alarm when the number of times of discarding the non-clock value this time continues for a predetermined number of times.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
1 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor according to
[0012]
FIG. 2 shows signal waveforms at A, B, and E shown in FIG. 1. In the non-coincidence counting
[0013]
The count value obtained by the
[0014]
Therefore, according to the first embodiment, the non-simultaneous
[0015]
Embodiment 2. FIG.
A second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the radiation monitor according to Embodiment 2 of the present invention. The same parts as those in the first embodiment shown in FIG. As a new code, reference numeral 8 denotes a coincidence counting circuit. The coincidence counting circuit 8 inputs analog signal pulses output from the
[0016]
FIG. 4 shows signal waveforms at A, B, E, and F shown in FIG. 3. In the coincidence counting circuit 8, the external noises a5 and b5 are counted because they satisfy the condition of simultaneous timing and higher than the wave height discrimination level. The External noises a6 and b6 are excluded from the count because they are below the wave height discrimination level.
[0017]
Thus, by counting the simultaneous timing pulses by the coincidence counting circuit 8, the degree of intrusion of external noise can be grasped.
[0018]
FIG. 5 shows a calculation processing flow of the
[0019]
As a result of the comparison, if the current non-same clock value ≧ K · previous non-same clock value, the process proceeds to step f4. If the current non-same clock value <K · previous non-same clock value, the process proceeds to step f6. In step f4, the current clock value is compared with the current non-clock value, and if the comparison result shows that the current clock value is greater than or equal to P. If it is a non-same clock value this time, the process proceeds to step f6. Note that K is a value related to the measurement time, and is a value that approaches 1 when the measurement time is long, and P is a noise mixture allowable rate.
[0020]
In step f5, the current non-clock value is discarded, and the latest value of the non-clock value remains the previous value. In step f6, the current measurement value is calculated. The current measurement value is obtained as a count rate by dividing the current count value by the accumulated time, for example. Moreover, it is calculated | required as an average value of the newest non-same clock numerical value. As a calculation method of the average value, a moving average may be performed so that the integration time becomes constant, or the integration time may be controlled so that the integration count value becomes constant. In step f7, the present measurement value of the calculation result of step f6 is displayed on the
[0021]
Therefore, according to the second embodiment, the degree of intrusion of external noise is grasped, and when the non-clockwise value increases rapidly and is synchronized with the rapid noise intrusion, the non-coincidence count is measured. By eliminating the calculation data, it is possible to prevent an increase in instruction for high-frequency noise that cannot be excluded even by selectively counting analog signal pulses at non-simultaneous timing.
[0022]
Embodiment 3 FIG.
Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to the drawings.
In the third embodiment, the configuration shown in FIG. 3 similar to that of the second embodiment is provided, and the
[0023]
FIG. 6 shows a calculation process flow of the
[0024]
Therefore, according to the third embodiment, it is possible to prevent trouble by notifying the existence of a continuous noise source.
[0025]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a plurality of semiconductor detectors that detect radiation and output analog signal pulses are divided into two groups, and the non-simultaneous output pulses are counted. Can be prevented.
[0026]
In addition, a plurality of semiconductor detectors that detect radiation and output analog signal pulses are divided into two groups, and the non-simultaneous output pulses and simultaneous output pulses are counted at regular intervals, respectively. When the same clock value or the average non-clock value obtained from the previous measurement value is compared as a reference value, and the ratio K is less than the predetermined value, the current non-clock value or the latest multiple times When the ratio K is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is compared with the current non-clock value, and when the ratio P is less than the predetermined value, the current clock value is calculated. Alternatively, the current measurement value is calculated and output from the latest multiple times of the same clock value including the current time, and when the ratio P is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is discarded and the previous clock value or the previous clock value is discarded. Previous multiple including Since so calculates and outputs a current measurement value from the non-coincidence count of an instruction rise against high-frequency noise that can not be eliminated by the non-coincidence can be prevented.
[0027]
In addition, since a failure alarm is issued when the number of discarded non-same clock values continues for a predetermined number of times this time, it is possible to prevent the trouble by notifying the existence of a continuing noise source. ]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor according to
FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of the radiation monitor according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor according to Embodiment 2 of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing signal waveforms of the radiation monitor according to
FIG. 5 is a diagram showing a calculation processing flow of a radiation monitor according to Embodiment 3 of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing a calculation processing flow of the radiation monitor according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor using a conventional semiconductor detector.
FIG. 8 is a diagram showing signal waveforms of a radiation monitor using a conventional semiconductor detector.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記第1及び第2の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する非同時計数回路と、
前記第1及び第2の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する同時計数回路と、
前記非同時計数回路及び前記同時計数回路から出力される非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その比Kが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Kが所定値以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Pが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Pが所定値以上の時に、今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力する演算器と
を備えた放射線モニタ。First and second semiconductor detectors each having one or a plurality of semiconductor sensors that detect radiation and output analog signal pulses and are provided in two groups;
A non-simultaneous counting circuit that receives analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors and counts pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a condition of non-simultaneous timing ;
A coincidence counting circuit for inputting analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors, counting pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a simultaneous timing condition;
The non-simultaneous counting circuit and the non-simultaneous output pulse and the simultaneous output pulse output from the coincidence counting circuit are respectively counted at a fixed period, and the average non-simultaneous value obtained from the current non-simultaneous clock value and the previous non-simultaneous clock value or the previous measured value are calculated. The same clock value is compared as a reference value, and when the ratio K is less than a predetermined value, the current measurement value is calculated and output from the current non-same clock value or the latest non-same clock value including the current time, When the ratio K is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is compared with the current non-clock value, and when the ratio P is less than the predetermined value, the current non-clock value or the latest plurality of non-clock clocks including the current time. The current measurement value is calculated and output from the numerical value, and when the ratio P is equal to or greater than the predetermined value, the current non-same clock value is discarded, and the previous non-same clock value or the latest multiple non-same times including the previous time. Calculate and output the current measurement value from the clock value Radiation monitor comprising a calculator that.
前記演算器は、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信する
ことを特徴とする放射線モニタ。The radiation monitor according to claim 1 .
The arithmetic unit issues a failure warning when the number of times the non-clockwise clock value is discarded continues for a predetermined number of times.
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