JP3657087B2 - ウエッジボンディング用金合金線 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はウエッジボンディング用金合金線に係り、高温接合強度に優れ、ICチップの高密度配線用として好適な金合金線に関する。
【0002】
【従来の技術】
ICチップの電極と外部配線を接続する場合、ワイヤーを介して配線するワイヤーボンディング方法が知られている。この中でもICチップのAl電極とワイヤーを接合する方式により、超音波併用熱圧着接合及び超音波接合が主流を占めている。
【0003】
ここで超音波併用熱圧着接合は通常ネールヘッドボンディング方法により行われている。ネールヘッドボンディング方法による接合法を図1を用いて説明する。
図1(a)に示す様にワイヤー2をキャピラリー1に挿通しその先端に電気トーチ3を対向させ、ワイヤー2との間で放電させることにより、ワイヤー2の先端を加熱、溶融してボール4を形成する。
【0004】
次いで図1(b)に示すようにキャピラリー1を下降させて該ボール4をICチップ6上のAl電極5の上に押圧接合する。この時図示しないが超音波振動がキャピラリー1を通して付加されると共に、ICチップ6はヒーターブロックで加熱されるため上記ボール4は熱圧着され圧着ボール4′となる。
次いで図1(c)に示すようにキャピラリー1は所定の軌跡を描いて、外部配線8の上に移動し、下降する。この時図示しないが超音波振動がキャピラリー1を通して付加され、外部配線8はヒーターブロックで加熱されるためワイヤー2側面が熱圧着される。
【0005】
次いで図1(d)に示すようにクランパー7はワイヤー2をクランプしたまま上昇することにより、ワイヤー2が切断され配線が完了する。
一方超音波接合は通常振動を接合部へ伝えるのに最適なウエッジボンディング方法により行われている。これはウエッジ状ツールを用いる方法である。
ウエッジボンディング方式による接合法を図2を用いて説明する。
【0006】
図2(a)に示す様にワイヤー12をウエッジ11下端部に挿通し、この下方にICチップ16上のAl電極15を移動する。
次いで図2(b)に示すようにウエッジ11を下降させて常温のまま超音波振動を付加してワイヤー12をAl電極15に接合する。
次いで図2(c)に示すようにクランパー17が開放され、ウエッジ11は所定の軌跡を描いて、外部配線18の上に移動し、下降する。この時図示しないが常温のまま超音波振動がウエッジ11を通して付加され、ワイヤー12を外部配線18に接合する。
【0007】
次いで図2(d)に示すようにクランパー17はワイヤー2をクランプしたままウエッジ11が上昇することにより、ワイヤー12が切断され配線が完了する。
前記ネールヘッドボンディング方法は生産性に優れている為好ましい方法であるが、熱を用いる為ワイヤー材料として金合金線を用いて使用され、酸化し易いアルミ合金線には不適である。
【0008】
また図3(a)に示す様に圧着ボール径L1 がワイヤー外径Dの3〜4倍になることが微細な配線を行う際のネックになるという限界を有している。
次のウエッジボンディング方法は生産性は低下するものの室温で処理出来る為ワイヤー材料としてアルミ合金線を用いて使用されている。また図3(b)に示す様につぶれ幅L2 がワイヤー外径Dの1.5〜2.5倍に抑制出来るという特徴を有している。
【0009】
ここで前述のワイヤー材料として金合金線は他の材料と対比して耐蝕性に優れている為、半導体装置の耐蝕性に対する信頼性を確保する面で配線材料として最も好ましい材料である。
一方最近の半導体装置に対して高密度配線が要求されている。これの対応として金合金線とICチップ電極との接合部の配線方向と直角方向での拡がりを小さくすることが必要である。
【0010】
この為ワイヤー材料として金合金線を用いてネールヘッドボンディングを行うに当たって、圧着ボールの外径を小さくする事が試みられたがその大きさにも限度がある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
前述の従来事情に鑑み従来からネールヘッドボンディング用として提案されている金合金線を用いてICチップ電極にウエッジボンディングを行ってみたところ、接合部の配線方向と直角方向での拡がりはネールヘッドボンディング方法と対比して小さくすることは出来るものの、ICチップの作動状態を考えて高温状態に晒した後の接合部での接合強度(以下高温接合強度という)が小さく半導体装置の信頼性が低下するという問題が生じてきた。
【0012】
この為本発明に於いては金合金線を用いてICチップ電極にウエッジボンディングを行うことにより、配線方向と直角方向での接合部の拡がりを小さくして高密度配線に対応するとともに高温接合強度を向上させて半導体装置の信頼性を向上させることの出来る金合金線を提供する事を目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明者等が鋭意研究を重ねた結果、高純度金に所定量のCaを添加し、所定の金純度を維持する組成を有し、通常のネールヘッドボンディング用金合金線より伸び率を小さくし且つ引張り強さを大きくした金合金線とすることにより、前記組成と材料特性の相乗効果によって前述の目的を達成し得ることを知見し、本発明を完成するに至った。
【0014】
具体的には、本発明によれば、高純度金にカルシウム(Ca)を1〜100重量ppm 添加した金合金線であって、
該金合金線の金純度が99.9重量%以上であり、引張強さが33.0kg/mm2 以上、伸び率が1〜3%であることを特徴とするウエッジボンディング用金合金線が提供される。
【0015】
好ましい態様において、Mg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Ptのうち少なくとも1種を1〜100重量部、及び/又はベリリウム(Be)を1〜20重量ppm 添加する。
【0016】
【発明の実施の形態】
本発明のウエッジボンディング用金合金線は、高純度金に所定量のCaを添加し、更に好ましい態様として所定量のMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Beのうち少なくとも1種を添加し、所定の金純度を維持する組成を有し、且つ、伸び率を小さくしかつ引張り強さを大きくすることを特徴とする。
(1)組成
▲1▼ 原料高純度金としては少なくとも99.99重量%以上、好ましくは99.995重量%以上、最も好ましくは99.999重量%以上に精製した高純度金が用いられる。
【0017】
▲2▼ 〔Ca〕
(a)この様な高純度金に上記所定量のCaを添加して所定量の金純度を有する組成にするとともに所定の伸び率及び引張り強さとすることにより、その相乗効果によって高温接合強度を向上させる事ができる。
(b)Ca含有量が1重量ppm 未満になると1重量ppm 以上と対比して高温接合強度は小さくなる。Ca含有量が100重量ppm を超えるとICチップに割れが生じる為、これを避けるため不十分な接合しか出来なくなり高温接合強度は小さくなる。
【0018】
この為Ca含有量は所定の金純度、伸び率及び引張り強さの条件のもとに1〜100重量ppm と定めた。好ましくは1〜50重量ppm である。
(c)この効果は、上記所定量のCaに加えて他の元素を添加しても99.9重量%以上の金純度を有する組成であり、所定の伸び率及び引張り強さを有する金合金線であればCaを添加した効果が維持される。所定量のCaを高純度金に添加し、残り実質的に不可避的不純物のみで構成してもよいことは勿論である。
【0019】
▲3▼ 〔Mg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Be〕
(a)前述の様に所定量のCaに加えて他の元素を添加しても本発明の効果は一般に維持されるが特にMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Ptのうち少なくとも1種の成分を1〜100重量ppm 又はそれに加えてBeを1〜20重量ppm の範囲内で添加すると高温接合強度は更に向上する。
【0020】
(b)この場合Mg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Beのうち少なくとも1種を所定量添加し、所定量のCaを添加しない場合、所定量の金純度を有する組成にするとともに所定の伸び率及び引張り強さを有しても高温接合強度は小さくなる。
▲4▼ 金純度
(a)所定量のCaを添加した組成とし、所定の伸び率及び引張り強さを有する金合金線としても1〜2重量%Cuが添加されると高温接合強度は小さくなる。そこで接合強度を上げようとするとICチップに割れが生じる。
【0021】
この為金合金線の金純度は99.9重量%以上と定めた。好ましくは99.97重量%以上、より好ましくは99.979重量%以上である。高純度金に高純度添加金属を合金化して得ることができる。
(2)伸び率
▲1▼ 高純度金に上記所定量のCaを添加して所定量の金純度を有する組成にするとともに所定の伸び率及び引張り強さとすることにより、その相乗効果によって高温接合強度を向上させる事ができる。
なお、本発明に於いて伸び率は、室温で、金合金線を標点距離を100mmとして引張速度10mm/分で引張試験機で引っ張り、破断した時の伸び量を測定して次式の値を伸び率とする。
【数1】
ここで破断した時の伸び量はチャート紙の図形から測定することが好ましい。
【0022】
▲2▼ 伸び率が3%を超えると、所定量のCaを添加して所定量の金純度を有する組成であって所定の引張り強さを有しても、高温接合強度は小さくなる。
この為伸び率は1〜3%と定めた。好ましくは2〜3%である。
(3)引張り強さ
▲1▼ 高純度金に上記所定量のCaを添加して所定量の金純度を有する組成にするとともに所定の伸び率及び引張り強さとすることにより、その相乗効果によって高温接合強度を向上させる事ができる。
【0023】
▲2▼ 引張り強さが33.0kg/mm2 未満になると33.0kg/mm2 以上と対比して、高温接合強度は小さくなる。
この為引張り強さは33.0kg/mm2 以上と定めた。好ましくは33.0〜70.0kg/mm2 であり、さらに好ましくは33.0〜63.0kg/mm2 である。最も好ましくは39.1〜63.0kg/mm2 である。
(4)金合金線の製造方法
本発明になる金合金線の好ましい製造方法を説明する。高純度金に所定量の元素を添加し真空溶解炉で溶解した後インゴットに鋳造する。該当インゴットに溝ロール、伸線機を用いた冷間加工と中間アニールを施し、最終冷間加工により直径10〜100μmの細線とした後最終アニールを施すものである。
【0024】
ここで本発明になる合金組成の場合、最終アニールの温度が上昇するにつれて伸び率は1〜3%を維持したまま、引張り強さが徐々に低下する温度領域がある。また同一組成であっても最終冷間加工率の大きさによって引張り強さは変わってくる。この為最終冷間加工率と最終アニール温度を制御して伸び率と引張り強さを調整する。このようにして伸び率は1〜3%を維持し、引張り強さが33.0kg/mm2 以上、好ましくは33.0〜70.0kg/mm2 となる温度領域でアニールする事が必要である。更にアニール温度が上昇すると伸び率が4%以上となり引張り強さは更に低下してくる。従来から使用されているネールヘッドボンディング用の金合金線は伸び率が4%以上のものが使用されているが本発明になる金合金線では所定の引張り強さと1〜3%伸び率を与えるために、合金組成に対応した最終冷間加工率を調整し更に低い温度領域でアニールする。
(5)用途
本発明になるウエッジボンディング用金合金線はICチップをリードに接続する方法及びICチップを直接基板に接続するリードレスで接続する方法の何れに用いても好適である。
なお、ここでいうウエッジボンディングとは、ICチップの電極、特にAl電極と外部リードや他の電極をワイヤーで配線する際、ワイヤーと電極部の接合がファーストボンド、セカンドボンド共に、ボールを形成することなく、ウエッジ状ツールを用いてワイヤー側面を圧着して接合するボンディングであり、必要に応じてウエッジ状ツールを介して超音波を印加したり電極部を加熱する。
【0025】
【作用】
本発明になる金合金線がウエッジボンディングを行った後高温接合強度に優れている理由は明らかではないが、有効元素としてのCaが添加されていること、有害元素がその含有量を規制されていること又伸び率が小さく、引張り強さが大きいことがウエッジボンディングによる超音波接合を行う際、材料の不必要な変形を阻止することと相まって生成されるAu−Al金属間化合物が熱的に安定なものが得られているためではないかと考えられる。
【0026】
【実施例】
表1〜4に示す実施例及び比較例について説明する。
(実施例1)
純度99.999重量%の高純度金に所定量のCaを添加し真空溶解炉で溶解した後鋳造して表1に示す組成の金合金、即ち1重量ppm Ca、金純度99.9988重量%以上の組成の金インゴットを得、これに溝ロール、伸線機を用いた冷間加工と中間アニールを施し、最終線径25μmとし、最終アニールにより引張り強さが40.8kg/mm2 、伸び率2〜3%になるように仕上げた。
【0027】
この金合金線をウエッジボンディング装置(新川株式会社製 SWB−FA−US30)を用いて前述の図2に示す方法でICチップのAl電極上及び外部配線上に超音波ボンディングを行った。この時ICチップ側のボンディングはボンディング荷重を45g、ボンディング時間を30ms、ボンディングパワーを0.64wの条件で行った。
【0028】
次に試料10個を200℃に設定した高温炉で100時間保持した。次いで試料を炉から取り出し、外部配線側でワイヤーを切断し次の方法でICチップ側の高温接合強度を測定した。即ちICチップ側を治具で固定し、ワイヤーを上方に引っ張り破断荷重を測定した。10個の平均値を測定値とし、測定結果を表1に示す。
(実施例2〜71、比較例1〜11)
金及び金合金の組成、伸び率及び引張り強さを表1に示すようにしたこと以外は実施例1と同様にして細線に仕上げ、超音波ボンディングを行った後高温接合強度を測定した。
【0029】
測定結果を表1〜4に示す。
(試験結果)
(1)高純度金に1〜100重量ppm のCaのみを添加して、金純度が99.9重量%以上、伸び率2〜3%、引張強さ39.3〜41.4kg/mm2 である実施例1〜4は高温接合強度が3.0〜3.3gと優れた効果を示した。
【0030】
この中でもCa添加量が1〜50重量ppm のとき高温接合強度が3.2〜3.3gである為好ましく用いられる。
(2)高純度金に所定量のCaに加えてMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Beのうち少なくとも1種を所定量添加して、金純度が99.9重量%以上、伸び率1〜3%、引張強さ39.0〜41.6kg/mm2 である実施例5〜55は高温接合強度が4.2〜5.1gであり、Caのみを添加した組成よりさらに優れた効果を示した。
【0031】
(3)実施例2,11,22,26,36,42,43,45に示す組成及び伸び率を有し、引張強さが33.0〜60.3kg/mm2 である実施例56〜71は高温接合強度が3.2〜5.1gであり優れた効果を示した。
(4)実施例の中でCaに加えてMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Beのうち少なくとも1種を含有し、1〜3%伸び率を有し、引張強さが39.1〜63.0kg/mm2 のものが高温接合強度が4.2〜5.1gと最も優れた効果を示した。
【0032】
(5)本発明に係わるCa及びMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Beのいずれも含有しない比較例1は高温接合強度が0.6gと悪い事が判る。
(6)本発明の必須成分であるCaを含有せず、Mg又はYを50重量ppm 含有する比較例2〜3は高温接合強度が2.5〜2.7gと悪い事が判る。
(7)10重量ppm のCaを含有し、所定の伸び率及び引張強さを有するものの、2.0重量%Cuを含有する事により金純度が99.9重量%未満である比較例4は高温接合強度が0.5gと悪い事が判る。
【0033】
(8)200重量ppm のCaを含有する比較例5は高温接合強度が1.2gと悪い事が判る。
(9)所定量のCaまたはそれに加えて所定量のMg,Ge,Agを含有し、所定の金純度及び伸び率を有するものの引張強さが33.4kg/mm2 未満である比較例6〜8は高温接合強度が2.5〜2.8と悪い事が判る。
【0034】
(10)所定量のCaまたはそれに加えて所定量のMg,Ge,Agを含有し、所定の金純度を有するものの伸び率が3%を超える比較例9〜11は高温接合強度が2.2〜2.4gと悪い事が判る。
【0035】
【表1】
【0036】
【表2】
【0037】
【表3】
【0038】
【表4】
【0039】
【発明の効果】
本発明により所定量のCaを含有し、所定量の金純度を有し且つ所定の伸び率と引張強さを有するウエッジボンディング用金合金線によれば高温接合強度を向上させることが出来半導体装置の信頼性向上に効果的である。所定量のCaに加えてさらに所定量のMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Pt,Beのうち少なくとも1種を含むことにより、更に高温接合強度を向上させることが出来半導体装置の信頼性向上に更に効果的である。
【図面の簡単な説明】
【図1】ネールボンディング方法による接合法の説明。
【図2】ウエッジボンディング方法による接合法の説明。
【図3】ネールボンディング方法とウエッジボンディング方法による接合部の形状、寸法を示す。
【符号の説明】
11…ウエッジ
12…ワイヤー
12′…ボンディングワイヤー
14′…ワイヤー接合部
15…Al配線
16…ICチップ
17…クランパー
18…外部配線
D…ワイヤ径
L1 …圧着ボール径
L2 …つぶれ幅
Claims (3)
- 高純度金にカルシウム(Ca)を1〜100重量ppm 添加した金合金線であって、
該金合金線の金純度が99.9重量%以上であり、引張強さが33.0kg/mm2 以上、伸び率が1〜3%であることを特徴とするウエッジボンディング用金合金線。 - さらにMg,Y,La,Eu,Ge,Ag,Ptのうち少なくとも1種を1〜100重量ppm 添加したことを特徴とする請求項1記載のウエッジボンディング用金合金線。
- さらにベリリウム(Be)を1〜20重量ppm 添加したことを特徴とする請求項1または請求項2記載のウエッジボンディング用金合金線。
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