JP3638270B2 - Surface acoustic wave filter and communication device using the same - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、縦モード型の弾性表面波フィルタ、弾性表面波フィルタ製造方法、及び通信機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、弾性表面波フィルタは移動体通信機器に広く用いられている。RF段のフィルタとしては、縦モード型やラダー型の弾性表面波フィルタが用いられる。携帯電話端末などの通信機器の高性能化に伴い、弾性表面波フィルタの低ロス化、高減衰化の要求が強まっている。
【0003】
以下、従来の縦モード型の弾性表面波フィルタについて説明する。
【0004】
図12に従来の縦モード型の弾性表面波フィルタの構成を示す。図12において、弾性表面波フィルタは、圧電基板801上に、第1、第2、第3のIDT(インターディジタルトランスデューサ)電極802、803、804と第1、第2の反射器電極805、806とにより構成される。第2、第3のIDT電極803、804の上側の電極指は、それぞれ入力端子INに接続されており、第2、第3のIDT電極803、804の下側の電極指はそれぞれ接地されている。また、第1のIDT電極802の下側の電極指は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極802の上側の電極指は接地されている。また、第1、第2、第3のIDT電極802、803、804の電極指の図12のPで示す部分である中心間隔(以下、ピッチと呼ぶ)は、それぞれ同じ大きさである。以上の構成とすることにより縦モード型の弾性表面波フィルタが得られる。
【0005】
上述の弾性表面波フィルタにおいては、第1、第2、第3のIDT電極802、803、804内での弾性表面波の音速が等しくなるように同一ピッチで電極指が配置されている。しかしながら、帯域幅やインピーダンスの設計の観点から、第1のIDT電極802と第2及び第3のIDT電極803、804とは電極指の本数が異なる場合が多い。通常第1のIDT電極802の電極指の本数は第2、第3のIDT電極803、804の電極指の本数より多くなるように設計されている。
【0006】
また、低ロス化を実現するなどの目的で、図13に示すように一つのIDT電極の各電極指のピッチが異なるように設計された縦モード型の弾性表面波フィルタも用いられている。すなわち、図13は、従来の縦モード型の弾性表面波フィルタであって、一つのIDT電極に異なる電極指ピッチが含まれるように設計されたものである。
【0007】
図13において、弾性表面波フィルタは、圧電基板1201上に、第1、第2、第3のIDT電極1202、1203、1204と第1、第2の反射器電極1205、1206とにより構成される。第2、第3のIDT電極1203、1204の上側の電極指は、それぞれ入力端子INに接続されており、第2、第3のIDT電極1203、1204の下側の電極指はそれぞれ接地されている。また、第1のIDT電極1202の下側の電極指は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極1202の上側の電極指は接地されている。
【0008】
また、図13において、第1のIDT電極1202の1aで示す領域のピッチをPとすると、Pは1/2波長の長さである。また、1bで示す領域のピッチをP’とすると、P’は1/2波長より狭い。第2のIDT電極1203の2aで示す領域のピッチはPであり、Pは1/2波長の長さである。また、2bで示す領域のピッチはP’であり、P’は1/2波長より狭い。同様に第3のIDT電極1204の3aで示す領域のピッチはPであり、Pは1/2波長の長さである。また3bで示す領域のピッチはP’であり、P’は1/2波長より狭い長さである。
【0009】
このように第1のIDT電極1202、第2のIDT電極1203、第3のIDT電極1204のそれぞれは、同じIDT電極内において電極指のピッチが異なっている。
【0010】
図13においても、帯域幅やインピーダンスの設計の観点から、第1のIDT電極1202と第2及び第3のIDT電極1203、1204とは電極指の本数が異なる場合が多い。通常第1のIDT電極1202の電極指の本数は第2、第3のIDT電極1203、1204の電極指の本数より多くなるように設計されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような弾性表面波フィルタでは、広帯域な特性を持つような良好なフィルタ特性を実現するには限界があるという課題がある。
【0012】
本発明は、上記課題を考慮し、さらに広帯域でかつ帯域外では急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタ、弾性表面波フィルタ製造方法、及び通信機器を提供することを目的とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、第1の本発明は、圧電基板と、
前記圧電基板上に配置された、少なくとも一つの入力用IDT電極と、
前記圧電基板上に配置された、少なくとも一つの出力用IDT電極とを備え、
前記入力IDT用電極及び前記出力用IDT電極が弾性表面波の一つの伝搬経路に沿って配置された縦モード型弾性表面波フィルタであって、
前記入力用IDT電極は複数の電極指のピッチを有し、
前記出力用IDT電極は複数の電極指のピッチを有し、
前記入力用IDT電極の複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチと、前記出力用IDT電極の複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチが異なっており、
前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極のうち、IDT電極の電極指の本数がより多い方の電極指のピッチが、電極指の本数がより少ない方の電極指のピッチより大きい弾性表面波フィルタである。
【0014】
また、第2の本発明は、前記入力用IDT電極は、第1及び第2の電極指のピッチを有し、前記第1の電極指は前記入力用IDTの複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチであり、
前記出力用IDT電極は、第3及び第4の電極指のピッチを有し、
前記第3の電極指は前記出力用IDTの複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチである第1の本発明の弾性表面波フィルタである。
【0015】
また、第3の本発明は、前記第2の電極指のピッチと、前記第4の電極指のピッチが異なっている第2の本発明の弾性表面波フィルタである。
また、第4の本発明は、送信波を出力する送信回路と、
受信波を入力する受信回路とを備え、
前記送信回路および/または前記受信回路に第2の本発明の弾性表面波フィルタが用いられている通信機器である。
また、第5の本発明は、前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極のうち、IDT電極の電極指の本数がより多い方のメタライゼーションレシオが、より少ない方のメタライゼーションレシオより小さい第1の本願発明の弾性表面波フィルタである。
また、第6の本発明は、送信波を出力する送信回路と、
受信波を入力する受信回路とを備え、
前記送信回路および/または前記受信回路に第1の本発明の弾性表面波フィルタが用いられている通信機器である。
【0019】
また、第7の本発明は、前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極のいずれか一方は、第1のIDT電極であり、
前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極の他方は、前記第1のIDT電極の一方の側に配置された第2のIDT電極と、前記第1のIDT電極の他方の側に配置された第3のIDT電極とから構成され、
前記第1、第2、及び第3のIDT電極は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置された第1〜3のいずれかの本発明の弾性表面波フィルタである。
【0020】
また、第8の本発明は、前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極のいずれか一方は第1、第4、及び第5のIDT電極であり、
前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極の他方は、第2、及び第3のIDT電極であり、
前記第1のIDT電極の両側にそれぞれ前記第2及び第3のIDT電極が配置されており、
前記第2のIDT電極の前記第1のIDT電極とは反対側に前記第4のIDT電極が配置されており、
前記第3のIDT電極の前記第1のIDT電極とは反対側に前記第5のIDT電極が配置されており、
前記第1、第2、第3、第4、及び第5のIDT電極は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置された第1〜3のいずれかの本発明の弾性表面波フィルタである。
【0021】
また、第9の本発明は、前記圧電基板には、前記第1、第2、第3のIDT電極及び、前記第1、第2の反射器電極を有するフィルタトラックが複数個形成されており、複数の前記フィルタトラックは、協同して一つのフィルタとして機能する第7の本発明の弾性表面波フィルタである。
【0022】
また、第10の本発明は、前記圧電基板上の前記第2のIDT電極の前記第1のIDT電極が配置されている側とは反対側に配置された第1の反射器電極と、
前記圧電基板上の前記第3のIDT電極の前記第1のIDT電極が配置されている側とは反対側に配置された第2の反射器電極とを備え、
前記第1、第2、及び第3のIDT電極、及び前記第1及び第2の反射器電極は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置されている第7の本発明の弾性表面波フィルタである。
【0023】
また、第11の本発明は、前記複数のフィルタトラックのうち少なくとも1つ以上のフィルタトラックは、前記複数のフィルタトラックのうちの他のフィルタトラックと異なった構成を持つ第10の本発明の弾性表面波フィルタである。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【0033】
(第1の実施の形態)
まず、第1の実施の形態について説明する。図1に本実施の形態の弾性表面波フィルタの概略図を示す。
【0034】
図1において、弾性表面波フィルタは、圧電基板101上に、第1、第2、第3のIDT電極102、103、104と第1、第2の反射器電極105、106とにより構成される。
【0035】
すなわち、第1のIDT電極102の両側に第2のIDT電極103及び第3のIDT電極104が配置され、第2のIDT電極103の第1のIDT電極102が配置されている側とは反対側に反射器電極105が配置されており、また、第3のIDT電極104の第1のIDT電極102が配置されている側とは反対側に反射器電極106が配置されている。このように、第1、第2、第3のIDT電極102,103、104及び第1、第2の反射器電極105、106は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置されている。
【0036】
第2、第3のIDT電極103、104の上側の電極指はそれぞれ入力端子INに接続され、第2、第3のIDT電極103、104の下側の電極指はそれぞれ接地されている。また、第1のIDT電極102の下側の電極指は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極102の上側の電極指は接地されている。
【0037】
第1のIDT電極102の電極指本数は第2及び第3のIDT電極103、104の電極指本数よりも多く、第2のIDT電極103の電極指の本数と第3のIDT電極104の電極指の本数とは同じである。
【0038】
また、第1のIDT電極102のピッチをP1、第2、第3のIDT電極103、104のピッチをP2とすると、P1>P2の関係がある。
【0039】
また、1波長内における電極指の幅の割合を示すメタライゼーションレシオηは、第1のIDT電極102と第2及び第3のIDT電極103、104とで同じ値を取る。
【0040】
ここで、メタライゼーションレシオηは、次の数1で表される。
【0041】
【数1】
η=L/(L+S)
ここで、Lは電極指の幅であり、Sはある電極指から次の電極指までの間隔である。
【0042】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【0043】
図2に、第1のIDT電極102の電極指の本数および第1のIDT電極102のメタライゼーションレシオηと、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数との関係を示す。ここで放射特性のピーク周波数とは、放射特性のレベルが最大となる周波数を意味するものとする。すなわち、図2は、ピッチが一定とした場合に第1のIDT電極102の電極指の本数及び第1のIDT電極102のメタライゼーションレシオηがある値を取る場合に、第1のIDT電極102の放射特性を計測し、その放射特性のピーク周波数を求めてプロットしたものである。
【0044】
上述したように、図2では、電極指ピッチは、第1のIDT電極の電極指の本数及び第1のIDT電極102のメタライゼーションレシオηが変わっても同じ値となるようにしている。
【0045】
図2から明らかなように、第1のIDT電極102の電極指の本数が多くなるほど、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数が高くなっている。また、第1のIDT電極102のメタライゼーションηが大きくなるほど、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数が低くなっている。このように第1のIDT電極102の電極膜厚が同じ場合には、電極指本数が多くなるにつれてまたメタライゼーションηが小さくなるにつれて、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数は高くなる。第2及び第3のIDT電極103、104についても第1のIDT電極102で見られた傾向と同様の傾向が見られる。
【0046】
図4の401に、第1のIDT電極102の放射特性を示す。図4の401から明らかなように、第1のIDT電極102では、反射特性の影響により、その放射特性はピーク周波数に対して非対称な特性となっている。
【0047】
また、図4の402に、第2のIDT電極103の放射特性を示す。第2のIDT電極103の放射特性も、反射特性の影響により、第1のIDT電極102と同様にその放射特性はピーク周波数に対して非対称な特性となっている。なお、第3のIDT電極104は第2のIDT電極103と電極指の本数が同じであるので、第3のIDT電極104の放射特性は第2のIDT電極103の放射特性と同一である。従って、第3のIDT電極104の放射特性も第2のIDT電極103の放射特性と同様に図4の402で示される。
【0048】
一方、発明者は、図4に示すように、第1のIDT電極102の放射特性401のピーク周波数と第2及び第3のIDT電極103、104の放射特性402のピーク周波数とが等しくなるように弾性表面波フィルタを設計した場合に、弾性表面波フィルタの特性がより良好なものになるという事実を発見した。すなわち、第1のIDT電極102の放射特性401のピーク周波数と第2及び第3のIDT電極103、104の放射特性402のピーク周波数とが等しくなるように弾性表面波フィルタを設計した場合に、弾性表面波フィルタの特性は、より広帯域な減衰特性を有するものになるという事実を発見した。
【0049】
上述したように、第1のIDT電極102の電極指本数は第2及び第3のIDT電極103、104の電極指本数よりも多い。従って、図2から明らかなように、第1のIDT電極102のピッチが第2及び第3のIDT電極103、104のピッチと同じ場合には、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数は、第2及び第3のIDT電極103、104の放射特性のピーク周波数より高くなる。
【0050】
ところが、図2から明らかなように、P1>P2の関係とすることによって、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数を第2、第3のIDT電極103、104の放射特性のピーク周波数とを一致させることができる。具体的にはP1=P2の関係とした場合には約0.9%程度放射特性のピーク周波数がずれるが、P1>P2の関係とすることにより0.5%程度から好ましくは0.1%程度放射特性のピーク周波数のずれを一致させることが可能である。すなわち、図1の弾性表面波フィルタを構成するIDT電極のうち、IDT電極の電極指の本数がより多い方の電極指のピッチが電極指の本数が、より少ない方の電極指のピッチより大きいようにして調整することにより、それらのIDT電極の放射特性を一致させることが出来る。
【0051】
以上の構成とすることにより、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現することができる。
【0052】
なお、本実施の形態では、入力端子INは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0053】
さらに、本実施の形態では、出力端子OUTは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0054】
さらに、本実施の形態では、第2、第3のIDT電極103、104は入力端子INに接続されており、第1のIDT電極102は出力端子OUTに接続されているとして説明したが、これに限らず第2、第3のIDT電極103、104は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極102は入力端子INに接続されていても構わない。
【0055】
さらに、本実施の形態においては、第2のIDT電極と第3のIDT電極との電極指の本数が同じであるとしているが、これらが異なる場合には、それぞれのIDT電極において放射特性が一致するように調整すればよい。
【0056】
(第2の実施の形態)
次に、第2の実施の形態について説明する。
【0057】
図3に、本実施の形態の弾性表面波フィルタの概略図を示す。
【0058】
図3において、圧電基板301上に、第1、第2、第3のIDT電極302、303、304と第1、第2の反射器電極305、306とにより第1のフィルタトラック307が構成される。すなわち、第1のIDT電極302の両側に第2のIDT電極303及び第3のIDT電極304が配置されており、第2のIDT電極303の第1のIDT電極302が配置されている側とは反対側に反射器電極305が配置されており、第3のIDT電極304の第1のIDT電極302が配置されている側とは反対側に反射器電極306が配置されている。
【0059】
また、第4、第5、第6のIDT電極308、309、310と第1、第2の反射器電極311、312とにより第2のフィルタトラック313が構成される。すなわち第4のIDT電極308の両側に第5のIDT電極309及び第6のIDT電極310が配置されており、第5のIDT電極309の第4のIDT電極308が配置されている側とは反対側に反射器電極311が配置されており、第6のIDT電極310の第4のIDT電極308が配置されている側とは反対側に反射器電極312が配置されている。
【0060】
第1のIDT電極302の上側の電極指は入力端子INに接続され、第2のIDT電極及び第3のIDT電極304の下側の電極指はそれぞれ第5のIDT電極309及び第6のIDT電極310の上側の電極指に接続される。また、第4のIDT電極308の上側の電極指は一方の出力端子OUT1に接続され、第4のIDT電極308の下側の電極指は他方の出力端子OUT2に接続される。
【0061】
第1のIDT電極302と第4のIDT電極308とは電極指の本数が同じであり、第2のIDT電極303、及び第3のIDT電極304、及び第5のIDT電極309、及び第6のIDT電極310は、電極指の本数が同じである。
【0062】
また、第1のIDT電極302及び第4のIDT電極308の電極指の本数は第2のIDT電極303、及び第3のIDT電極304、及び第5のIDT電極309、及び第6のIDT電極310の電極指本数よりも多い構成である。また、第1、第4のIDT電極302、308のピッチをP1、第2、第3、第5、第6のIDT電極303、304、309、310のピッチをP2とするとP1>P2の関係がある。また、各IDT電極のメタライゼーションレシオは同じ値である。以上により2段の縦モード型弾性表面波フィルタが構成される。
【0063】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【0064】
図8の(a)に、第1、第2のIDT電極302、303の放射特性を示す。1801は第1のIDT電極302の放射特性であり、1802は第2のIDT電極303の放射特性である。図8から明らかなように放射特性1801のピーク周波数と放射特性1802のピーク周波数とが一致している。このように第1の実施の形態と同様にP1>P2の関係とすることにより、放射特性のピーク周波数fpを第1のIDT電極302と第2のIDT電極303とで一致させることができる。同様にP1>P2の関係とすることにより、第1のIDT電極302の放射特性のピーク周波数fpを第3のIDT電極304の放射特性のピーク周波数fpに一致させることが出来る。さらに、P1>P2の関係とすることにより、第4のIDT電極308の放射特性のピーク周波数fpを第5、第6のIDT電極309、310の放射特性のピーク周波数fpに一致させることが出来る。
【0065】
図8の(b)に、本実施の形態の弾性表面波フィルタの通過特性を示す。1803a及び1803bはともに、本実施の形態の弾性表面波フィルタの通過特性である。1803aは、本実施の形態の弾性表面波フィルタを0dBから90dB程度までの広い利得範囲で図示したものであり、1803bは、本実施の形態の弾性表面波フィルタの通過特性のうち、中心部分に着目して、0dBから10dB程度の狭い利得範囲で図示したものである。fpはIDT電極の放射特性のピーク周波数であり、各IDT電極の放射特性のピーク周波数fpを通過帯域の左側すなわち、通過帯域の最低周波数で一致させた場合の弾性表面波フィルタの通過特性である。
【0066】
これに対して図9の(a)に従来の弾性表面波フィルタの各IDT電極の放射特性を示す。図9の(a)において、1901は、第1のIDT電極302及び第4のIDT電極308の放射特性である。また、1902は、第2のIDT電極303、第3のIDT電極304、第5のIDT電極309、及び第6のIDT電極310の放射特性である。すなわち、従来の弾性表面波フィルタの第1のIDT電極302及び第4のIDT電極308の放射特性のピーク周波数fp1と第2のIDT電極303、第3のIDT電極304、第5のIDT電極309、及び第6のIDT電極310の放射特性のピーク周波数fp2とは一致していない。
【0067】
図9の(b)にこのような弾性表面波フィルタの通過特性を示す。1903a及び1903bはともに、従来の弾性表面波フィルタの通過特性である。1903aは、従来の弾性表面波フィルタを0dBから90dB程度までの広い利得範囲で図示したものであり、1903bは、従来の弾性表面波フィルタの通過特性のうち、中心部分に着目して、0dBから10dB程度の狭い利得範囲で図示したものである。
【0068】
図8の(b)の通過特性1803bは、図9の(b)の通過特性1903bに比べて、通過帯域の左端の欠けが改善され、より広帯域になっている。すなわち、帯域の端でのロスの改善にもつながる。
【0069】
このように、各IDT電極の放射特性のピーク周波数を一致させることにより、より広帯域な特性を有する弾性表面波フィルタを実現することが出来る。
【0070】
このように本実施の形態によれば、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現することができる。
【0071】
なお、本実施形態においては、出力端子を平衡型としたが、第4のIDT電極の上下の電極指のどちらか一方を接地して不平衡型としても本発明の効果は同様に得られる。
【0072】
(第3の実施の形態)
次に、第3の実施の形態について説明する。
【0073】
図6に本実施の形態の弾性表面波フィルタ概略図を示す。図6において、弾性表面波フィルタは、圧電基板601上に、第1、第2、第3のIDT電極602、603、604と第1、第2の反射器電極605、606とにより構成される。
【0074】
すなわち、第1のIDT電極602の両側に第2のIDT電極603及び第3のIDT電極604が配置され、第2のIDT電極603の第1のIDT電極602が配置されている側とは反対側に反射器電極605が配置されており、また、第3のIDT電極604の第1のIDT電極602が配置されている側とは反対側に反射器電極606が配置されている。
【0075】
第2、第3のIDT電極603、604の上側の電極指はそれぞれ入力端子INに接続され、第2、第3のIDT電極603、604の下側の電極指はそれぞれ接地されている。また、第1のIDT電極602の下側の電極指は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極602の上側の電極指は接地されている。
【0076】
第1のIDT電極602の電極指本数は第2及び第3のIDT電極603、604の電極指本数よりも多く、第2のIDT電極603の電極指の本数と第3のIDT電極604の電極指の本数とは同じである。
【0077】
また、第1のIDT電極602のピッチをP1、第2、第3のIDT電極603、604のピッチをP2とすると、P1>P2の関係がある。
【0078】
また、本実施の形態の弾性表面フィルタでは、第1のIDT電極602のメタライゼーションレシオと、第2、及び第3のIDT電極603、604のメタライゼーションレシオとは異なった値をとる。
【0079】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【0080】
図2に、第1のIDT電極602の電極指の本数およびメタライゼーションレシオと、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数との関係を示す。すなわち、図2は、第1のIDT電極602の電極指の本数及び電極指ピッチがある値を取る場合に、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数を計測してプロットしたものである。
【0081】
図2から明らかなように、第1のIDT電極602の電極指の本数が多くなるほど、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数が高くなっている。また、第1のIDT電極602のメタライゼーションレシオが大きくなるほど、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数が低くなっている。このようにIDT電極602の電極膜厚がほぼ同じ場合には、電極指本数が多くなるにつれてまたメタライゼーションレシオが小さくなるにつれて、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数は高くなる。第2及び第3のIDT電極603、604についても第1のIDT電極602で見られた傾向と同様の傾向が見られる。
【0082】
上述したように、第1のIDT電極602の電極指本数は第2及び第3のIDT電極603、604の電極指本数よりも多い。従って、図2から明らかなように、第1のIDT電極602のメラライゼーションレシオが第2及び第3のIDT電極603、604のメタライゼーションレシオと同じ場合には、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数は、第2及び第3のIDT電極603、604の放射特性のピーク周波数より高くなる。
【0083】
ところが、上述したように、P1>P2の関係とするとともに、第1のIDT電極602のメタライゼーションレシオと第2及び第3のIDT電極603、604メタライゼーションレシオとが異なった値になるようにすることによって第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数を第2、第3のIDT電極603、604の放射特性のピーク周波数とを一致させることができる。
【0084】
このように本実施の形態では、第1のIDT電極602の放射特性のピーク周波数と第2、第3のIDT電極603、604の放射特性のピーク周波数とを、各IDT電極のピッチ及び各IDT電極のメタライゼーションレシオを調整することによって一致させることが出来る。各IDT電極のメタライゼーションレシオをも調整するすなわち各IDT電極の弾性表面波の励振強度及び反射量をも調整することにより、第1の実施の形態よりも設計の自由度が向上する。
【0085】
なお、本実施の形態では、ピッチをP1>P2の関係とすることによって調整したが、これに限らず、ピッチをP1=P2の関係とし、メタライゼーションレシオで調整しても構わない。
【0086】
以上の構成とすることにより、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現することができる。
【0087】
なお、本実施の形態では、入力端子INは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0088】
さらに、本実施の形態では、出力端子OUTは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0089】
さらに、本実施の形態では、第2、第3のIDT電極603、604は入力端子INに接続されており、第1のIDT電極602は出力端子OUTに接続されているとして説明したが、これに限らず第2、第3のIDT電極603、604は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極602は入力端子INに接続されていても構わない。
【0090】
(第4の実施の形態)
次に、第4の実施の形態について説明する。
【0091】
図7に、本実施の形態の弾性表面波フィルタの概略図を示す。
【0092】
図7において、圧電基板701上に、第1、第2、第3のIDT電極702、703、704と第1、第2の反射器電極705、706とにより第1のフィルタトラック707が構成される。すなわち、第1のIDT電極702の両側に第2のIDT電極703及び第3のIDT電極704が配置されており、第2のIDT電極703の第1のIDT電極702が配置されている側とは反対側に反射器電極705が配置されており、第3のIDT電極704の第1のIDT電極702が配置されている側とは反対側に反射器電極706が配置されている。
【0093】
また、第4、第5、第6のIDT電極708、709、710と第1、第2の反射器電極711、712とにより第2のフィルタトラック713が構成される。すなわち第4のIDT電極708の両側に第5のIDT電極709及び第6のIDT電極710が配置されており、第5のIDT電極709の第4のIDT電極708が配置されている側とは反対側に反射器電極711が配置されており、第6のIDT電極710の第4のIDT電極708が配置されている側とは反対側に反射器電極712が配置されている。
【0094】
第1のIDT電極702の上側の電極指は入力端子INに接続され、第2のIDT電極及び第3のIDT電極704の下側の電極指はそれぞれ第5のIDT電極709及び第6のIDT電極710の上側の電極指に接続される。また、第4のIDT電極708の上側の電極指は一方の出力端子OUT1に接続され、第4のIDT電極708の下側の電極指は他方の出力端子OUT2に接続される。
【0095】
第1のIDT電極702と第4のIDT電極708とは電極指の本数が同じであり、第2のIDT電極703、及び第3のIDT電極704、及び第5のIDT電極709、及び第6のIDT電極710は、電極指の本数が同じである。
【0096】
また、第1のIDT電極702及び第4のIDT電極708の電極指の本数は第2のIDT電極703、及び第3のIDT電極704、及び第5のIDT電極709、及び第6のIDT電極710の電極指本数よりも多い構成である。また、第1のIDT電極702のピッチをP11、第2、第3のIDT電極703、704のピッチをP12とするとP11>P12の関係を有する。また、第4のIDT電極708のピッチをP21、第5、第6のIDT電極709、710のピッチをP22とするとP21>P22の関係を有する。
【0097】
第1のフィルタトラック707において、第1のIDT電極702のメタライゼーションレシオη11は、次の数2で表される。
【0098】
【数2】
η11=L11/(L11+S11)
ここで、L11は、第1のIDT電極702の電極指の幅であり、S11は第1のIDT電極702のある電極指から次の電極指までの間隔である。
【0099】
また、第2、第3のIDT電極703、704のメタライゼーションレシオη12は次の数3で表される。
【0100】
【数3】
η12=L12/(L12+S12)
ここで、L12は、第2、第3のIDT電極703、704の電極指の幅であり、S12は第2、第3のIDT電極703、704のある電極指から次の電極指までの間隔である。
【0101】
一方第2のフィルタトラック708において、第4のIDT電極708のメタライゼーションレシオη21は次の数4で表される。
【0102】
【数4】
η21=L21/(L21+S21)
ここで、L21は、第4のIDT電極708の電極指の幅であり、S21は第4のIDT電極708のある電極指から次の電極指までの間隔である。
【0103】
また、第5、第6のIDT電極709、710のメタライゼーションレシオη22は次の数5で表される。
【0104】
【数5】
η22=L22/(L22+S22)
ここで、L22は、第5、第6のIDT電極の電極指の幅であり、S22は第5、第6の電極指709、710のメタライゼーションレシオη22のある電極指から次の電極指までの間隔である。
【0105】
本実施の形態では、上記のη11とη12とが異なっており、また上記のη21とη22とが異なっている。
【0106】
以上により2段の縦モード型弾性表面波フィルタが構成される。
【0107】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【0108】
本実施の形態の弾性表面波フィルタでは、上記実施の形態で詳細に説明したのと同様に、P11>P12の関係とするとともに、η11とη12とが異なった値になるように調整することにより、放射特性のピーク周波数fpを第1のIDT電極702と第2、及び第3のIDT電極703、704とで一致させている。
【0109】
また、P21>P22の関係とするとともに、η21とη22とが異なった値になるように調整することにより、放射特性のピーク周波数fpを第4のIDT電極708と第5、及び第6のIDT電極709、710とで一致させている。
【0110】
従って上記実施の形態と同様に、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現できる。
【0111】
以上の構成とすることにより、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現することができる。
【0112】
なお、本実施の形態ではP11>P12の関係とするとともに、η11とη12とが異なった値になるように調整し、またP21>P22の関係とするとともに、η21とη22とが異なった値になるように調整するとして説明したが、これに限らず、P11>P12及びP21>P22の関係だけで調整することも可能である。また、P11=P12及びP21=P22としてメタライゼーションだけで調整することも可能である。
【0113】
なお、本実施形態においては、出力端子を平衡型としたが、第4のIDT電極708の上下の電極指のどちらか一方を接地して不平衡型としても本発明の効果は同様に得られる。
【0114】
(第5の実施の形態)
次に、第5の実施の形態について説明する。
【0115】
図10に本実施の形態の弾性表面波フィルタの概略図を示す。
【0116】
図10において、弾性表面波フィルタは、圧電基板1001上に、第1、第2、第3のIDT電極1002、1003、1004と第1、第2の反射器電極1005、1006とにより構成される。
【0117】
すなわち、第1のIDT電極1002の両側に第2のIDT電極1003及び第3のIDT電極1004が配置され、第2のIDT電極1003の第1のIDT電極1002が配置されている側とは反対側に反射器電極1005が配置されており、また、第3のIDT電極1004の第1のIDT電極1002が配置されている側とは反対側に反射器電極1006が配置されている。このように、第1、第2、第3のIDT電極1002,1003、1004及び第1、第2の反射器電極1005、1006は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置されている。
【0118】
第2、第3のIDT電極1003、1004の上側の電極指はそれぞれ入力端子INに接続され、第2、第3のIDT電極1003、1004の下側の電極指はそれぞれ接地されている。また、第1のIDT電極1002の下側の電極指は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極1002の上側の電極指は接地されている。
【0119】
第1のIDT電極1002の電極指本数は第2及び第3のIDT電極1003、1004の電極指本数よりも多く、第2のIDT電極1003の電極指の本数と第3のIDT電極1004の電極指の本数とは同じである。
【0120】
また、第1のIDT電極1002の1aで示す領域のピッチをP1とすると、Pは1/2波長の長さである。また、1bで示す領域のピッチをP1’とすると、P’は1/2波長より狭い。ピッチPを有する領域1aはピッチP’を有する領域1bより本数が多く、従って、第1のIDT電極1002では1aで示す領域が主励振領域である。
【0121】
第2のIDT電極1003の2aで示す領域のピッチをP2とすると、P2は1/2波長の長さである。また、2bで示す領域のピッチをP2’とすると、P2’は1/2波長より狭い。ピッチPを有する領域2aはピッチP’を有する領域2bより本数が多く、従って、第2のIDT電極1003では2aで示す領域が主励振領域である。
【0122】
また、第3のIDT電極1004の3aで示す領域のピッチはP2であり、Pは1/2波長の長さである。また3bで示す領域のピッチはP2’であり、P2’は1/2波長よりも狭い長さである。ピッチP2を有する領域3aはピッチP2’を有する領域3bよりも本数が多く従って、第3のIDT電極1004では3aで示す領域が主励振領域である。
【0123】
このように第1のIDT電極1002、第2のIDT電極1003、第3のIDT電極1004のそれぞれは、同じIDT電極で電極指のピッチが異なっている。
【0124】
また、ピッチP1とピッチP2との関係がP1>P2を満足することにより第1の実施の形態と同等の効果を得ることが出来る。
【0125】
また、ピッチP1とピッチP2との関係がP1>P2を満足する場合には、ピッチP1’及びピッチP2’の関係はP1’>P2’を満足しても構わないし、また、P1’=P2’を満足しても構わない。この場合P1’>P2’を満足する方がP1’=P2’を満足する場合よりも、隣り合う電極指の不連続性を小さく出来、挿入損失の劣化を抑えることが出来る。
【0126】
なお、本実施の形態ではP1>P2を満足するとして説明したが、図10で1aの領域と2aの領域及び3aの領域それぞれの放射特性のピーク周波数が一致するようにP1及びP2を調整しても構わない。また、第1のIDT電極1002、第2のIDT電極1003、及び第3のIDT電極1004のそれぞれのIDT電極で放射特性が一致するように、ピッチP1、P1’、P2、P2’を調整することが望ましい。また、これらの場合に第2、第3のIDT電極1003、1004のピッチP2、P2’は必ずしも同じである必要はない。
【0127】
このように一つのIDT電極の電極指のピッチが異なる場合、主励振領域にある主励振電極のピッチを基準にすれば上記各実施の形態を適用することが出来る。
【0128】
以上の構成とすることにより、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現することができる。
【0129】
なお、本実施の形態では、入力端子INは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0130】
さらに、本実施の形態では、出力端子OUTは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0131】
さらに、本実施の形態では、第2、第3のIDT電極1003、1004は入力端子INに接続されており、第1のIDT電極1002は出力端子OUTに接続されているとして説明したが、これに限らず第2、第3のIDT電極1003、1004は出力端子OUTに接続されており、第1のIDT電極1002は入力端子INに接続されていても構わない。
【0132】
(第6の実施の形態)
次に、第6の実施の形態について説明する。
【0133】
図11に本実施の形態の弾性表面波フィルタの概略図を示す。
【0134】
図11において、弾性表面波フィルタは、圧電基板101上に、第1、第2、第3、第4、第5のIDT電極1102、1103、1104、1105、1106と第1、第2の反射器電極1107、1108とにより構成される。
【0135】
すなわち、第1のIDT電極1102の両側に第2のIDT電極1103及び第3のIDT電極1104が配置され、第3のIDT電極1104の第1のIDT電極1102の側とは反対側に第5のIDT電極1106が配置され、第2のIDT電極1103の第1のIDT電極1102の側とは反対側に第4のIDT電極1105が配置されており、第4のIDT電極1105の外側に第1の反射器電極1107が配置されており、第5のIDT電極1106の外側に第2の反射器電極1108が配置されている。
【0136】
このように、第1、第2、第3、第4、及び第5のIDT電極1102,1103、1104、1105、1106、及び第1、第2の反射器電極1107、1108は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置されている。
【0137】
第2、第3のIDT電極1103、1104の下側の電極指はそれぞれ出力端子OUTに接続され、第2、第3のIDT電極103、104の上側の電極指はそれぞれ接地されている。また、第1、第4、第5のIDT電極1102、1105、1106の上側の電極指は入力端子INに接続されており、第1、第4、第5のIDT電極1102、1105、1106の下側の電極指は接地されている。
【0138】
第1のIDT電極1102の電極指本数は第2及び第3のIDT電極1103、1104の電極指本数よりも多く、第2のIDT電極1103の電極指の本数と第3のIDT電極1104の電極指の本数とは同じである。また、第4、第5のIDT電極1105、1106の電極指の本数は第2のIDT電極1103、第3のIDT電極1104の本数よりも少なく、第4のIDT電極1105と第5のIDT電極1106との電極指の本数は同じである。
【0139】
また、第1のIDT電極1102のピッチをP1、第2、第3のIDT電極1103、1104のピッチをP2、第4、第5のIDT電極1105、1106のピッチをP3とすると、P1>P2>P3の関係がある。すなわち、本実施の形態の弾性表面波フィルタを構成するIDT電極のうち、IDT電極の電極指の本数がより多い方の電極指のピッチが電極指の本数が、より少ない方の電極指のピッチより大きいという関係がある。
【0140】
また、1波長内における電極指の幅の割合を示すメタライゼーションレシオηは、第1、第2、第3、第4、及び第5のIDT電極1102、1103、1104、1105、1106で同じ値を取る。
【0141】
ここで、メタライゼーションレシオηは、第1の実施の形態で説明した数1で表される。
【0142】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【0143】
第1の実施の形態で説明したように第1のIDT電極1102の電極指の本数が多くなるほど、第1のIDT電極1102の放射特性のピーク周波数が高くなっている。また、第1のIDT電極1102のメタライゼーションηが大きくなるほど、第1のIDT電極102の放射特性のピーク周波数が低くなっている。このように第1のIDT電極1102の電極膜厚が同じ場合には、電極指本数が多くなるにつれてまたメタライゼーションηが小さくなるにつれて、第1のIDT電極1102の放射特性のピーク周波数は高くなる。第2、第3、第4、第5のIDT電極1103、1104、1105、1106についても第1のIDT電極1102で見られた傾向と同様の傾向が見られる。
【0144】
従って上述したように第1のIDT電極1102のピッチをP1、第2、第3のIDT電極1103、1104のピッチをP2、第4、第5のIDT電極1105、1106のピッチをP3とした場合に、P1>P2>P3の関係が成り立つので、第1、第2、第3、第4、第5のIDT電極1102、1103、1104、1105、1106の放射特性のピーク周波数を一致させることが出来る。
【0145】
すなわち、第1、第2、第3、第4、第5のIDT電極1102、1103、1104、1105、1106の放射特性のピーク周波数が一致するので、本実施の形態の弾性表面波フィルタの特性は、より広帯域な減衰特性を有するものになる。
【0146】
すなわち、以上の構成とすることにより、広帯域で急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタを実現することができる。
【0147】
なお、本実施の形態では、入力端子INは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0148】
さらに、本実施の形態では、出力端子OUTは不平衡型端子であるとして説明したが、これに限らず、平衡型端子であっても構わない。
【0149】
なお、第1〜第5のIDT電極の本数の関係もそれに限るものでなく、フィルタ特性に応じて最適化されるものである。
【0150】
さらに、本実施の形態では、第2、第3のIDT電極1103、1104は出力端子OUTに接続されており、第1、第4、第5のIDT電極1102、1105、1106は入力端子INに接続されているとして説明したが、これに限らず第2、第3のIDT電極1103、1104は入力端INに接続されており、第1、第4、第5のIDT電極102、1105、1106は出力端子OUTに接続されていても構わない。
【0151】
なお、本実施の形態では、各IDT電極の電極指のピッチを調整する場合や各IDT電極のピッチ及びメタライゼーションレシオを調整する場合について説明したが、これに限らず、以下のようにして各IDT電極の放射特性のピーク周波数を一致させることもできる。
【0152】
すなわち、IDT電極の膜厚を厚くするほど、IDT電極の放射特性のピーク周波数は低くなることが解っている。従って第1のIDT電極の膜厚と、第2及び第3のIDT電極の膜厚とを異ならせることによって各IDT電極の放射特性のピーク周波数を一致させるように調整することも出来る。
【0153】
また、IDT電極の材料を変えることによってIDT電極の放射特性のピーク周波数が変化することが解っている。従って、第1のIDT電極の材料と、第2及び第3のIDT電極の材料とを異ならせることによって各IDT電極の放射特性のピーク周波数を一致させるように調整することも出来る。
【0154】
また、IDT電極のメタライゼーションレシオが大きくなればなるほど、IDT電極の放射特性のピーク周波数は低くなることが解っている。従って、第1のIDT電極のメタライゼーションレシオと、第2及び第3のIDT電極のメタライゼーションレシオとを異ならせることによって各IDT電極の放射特性のピーク周波数を一致させるように調整することも出来る。
【0155】
また、以上説明した方法を任意に組合わせて各IDT電極の放射特性のピーク周波数を一致させるように調整することも出来る。
【0156】
また、第1〜4の各実施の形態では、第2、及び第3のIDT電極の電極指の本数が同数であるとして説明したが、これに限らず、第2、及び第3のIDT電極の電極指の本数が同数でない場合であっても、放射特性のピーク周波数が同じになるように電極指ピッチが調整されていれば、第1〜4の各実施の形態と同様の効果を得ることが出来る。
【0157】
さらに、本発明の弾性表面波フィルタを送信回路や受信回路の一部に用いている通信機器も本発明に属する。このような通信機器としては、例えば携帯電話端末、携帯電話端末の基地局、自動車電話端末、PHS、レーダ装置などがある。
【0158】
さらに、圧電基板と、前記圧電基板上に配置された、入力用IDT電極と、前記圧電基板上に配置された出力用IDT電極とを備えた弾性表面波フィルタを製造する弾性表面波フィルタ製造方法であって、前記入力用IDT電極の放射特性のピーク周波数と、前記出力用IDT電極の放射特性のピーク周波数とを実質上等しくする弾性表面波フィルタ製造方法も本発明に属する。
【0159】
さらに、圧電基板と、前記圧電基板上に配置された、入力用IDT電極と、前記圧電基板上に配置された、出力用IDT電極とを備えた弾性表面波フィルタを製造する弾性表面波フィルタ製造方法であって、前記入力用IDT電極の電極指のピッチと前記出力用IDT電極の電極指のピッチとを異ならせる弾性表面波フィルタ製造方法も本発明に属する。
【0160】
さらに、本発明の出力用IDT電極は、本実施の形態における図1や図6で説明した弾性表面波フィルタの第1のIDT電極や、図3や図7で説明した弾性表面波フィルタの第4、第5、第6のIDTフィルタに限らない。また、本発明の入力用IDT電極は、本実施の形態における図1や図6で説明した弾性表面波フィルタの第2及び第3のIDT電極や、図3や図7で説明した弾性表面波フィルタの第1、第2、第3のIDT電極に限らない。
【0161】
さらに、本実施の形態では、入力IDT電極、及び出力IDT電極が3個のIDT電極から構成されている場合、及び5個のIDT電極から構成されている場合について説明したが、これに限らず、入力IDT電極、及び出力IDT電極は、2個のIDT電極、4個のIDT電極、7個のIDT電極、あるいはそれ以上のIDT電極から構成されていても構わない。
【0162】
なお、本実施の形態においては、第2のIDT電極と第3のIDT電極との電極指の本数が同じであり、また第4のIDT電極と第5のIDT電極との電極指の本数が同じであるとしているが、これらが異なる場合には、それぞれのIDT電極において放射特性が一致するように調整すればよい。
【0163】
【発明の効果】
以上説明したところから明らかなように、本発明は、さらに広帯域でかつ帯域外では急峻な減衰特性を有する弾性表面波フィルタ、弾性表面波フィルタ製造方法、及び通信機器を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態における弾性表面波フィルタの構成図
【図2】放射特性のピーク周波数と電極指本数の関係を示す図
【図3】本発明の第2の実施の形態における弾性表面波フィルタの構成図
【図4】本発明の第1、3の実施の形態におけるIDT電極の放射特性図
【図5】本発明の第1、3の実施の形態における弾性表面波フィルタの通過特性図
【図6】本発明の第3の実施の形態における弾性表面波フィルタの構成図
【図7】本発明の第4の実施の形態における弾性表面波フィルタの構成図
【図8】(a)本発明の第2の実施の形態におけるIDT電極の放射特性の図
(b)本発明の第2の実施の形態における弾性表面波フィルタの通過特性図
【図9】(a)IDT電極の放射特性ピーク周波数が一致していない従来の弾性表面波フィルタにおけるIDT電極の放射特性図
(b)(a)の弾性表面波フィルタの通過特性図
【図10】本発明の第5の実施の形態における弾性表面波フィルタの構成図
【図11】本発明の第6の実施の形態における弾性表面波フィルタの構成図
【図12】従来の弾性表面波フィルタの構成図
【図13】従来の弾性表面波フィルタの構成図
【符号の説明】
101 圧電基板
102 第1のIDT電極
103 第2のIDT電極
104 第3のIDT電極
105 反射器電極
106 反射器電極
301 圧電基板
302 第1のIDT電極
303 第2のIDT電極
304 第3のIDT電極
305 反射器電極
306 反射器電極
307 フィルタトラック
308 第4のIDT電極
309 第5のIDT電極
310 第6のIDT電極
311 反射器電極
312 反射器電極
313 フィルタトラック
601 圧電基板
602 第1のIDT電極
603 第2のIDT電極
604 第3のIDT電極
605 反射器電極
606 反射器電極
701 圧電基板
702 第1のIDT電極
703 第2のIDT電極
704 第3のIDT電極
705 反射器電極
706 反射器電極
707 フィルタトラック
708 第4のIDT電極
709 第5のIDT電極
710 第6のIDT電極
711 反射器電極
712 反射器電極
713 フィルタトラック[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a longitudinal mode type surface acoustic wave filter, a surface acoustic wave filter manufacturing method, and a communication device.
[0002]
[Prior art]
In recent years, surface acoustic wave filters have been widely used in mobile communication devices. As the RF stage filter, a longitudinal mode type or ladder type surface acoustic wave filter is used. The demand for lower loss and higher attenuation of the surface acoustic wave filter has been increased with higher performance of communication devices such as mobile phone terminals.
[0003]
A conventional longitudinal mode type surface acoustic wave filter will be described below.
[0004]
FIG. 12 shows a configuration of a conventional longitudinal mode type surface acoustic wave filter. In FIG. 12, the surface acoustic wave filter includes first, second, and third IDT (interdigital transducer)
[0005]
In the surface acoustic wave filter described above, the electrode fingers are arranged at the same pitch so that the sound speeds of the surface acoustic waves in the first, second, and
[0006]
For the purpose of realizing a low loss, a longitudinal mode type surface acoustic wave filter designed so that the pitch of each electrode finger of one IDT electrode is different as shown in FIG. 13 is also used. That is, FIG. 13 is a conventional longitudinal mode type surface acoustic wave filter, which is designed so that different electrode finger pitches are included in one IDT electrode.
[0007]
In FIG. 13, the surface acoustic wave filter includes first, second, and
[0008]
In FIG. 13, if the pitch of the region indicated by 1a of the
[0009]
As described above, the
[0010]
Also in FIG. 13, the number of electrode fingers is often different between the
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, such a surface acoustic wave filter has a problem in that there is a limit in realizing a good filter characteristic having a wide band characteristic.
[0012]
In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a surface acoustic wave filter, a surface acoustic wave filter manufacturing method, and a communication device that have a wide band and a steep attenuation characteristic outside the band.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problem, the first present invention includes a piezoelectric substrate,
At least one input IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate;
And at least one output IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate,
The input IDT electrode and the output IDT electrode are one of surface acoustic waves.propagationPlaced along the routeLongitudinal mode surface acoustic waveA filter,
The input IDT electrode has a pitch of a plurality of electrode fingers,
The output IDT electrode has a pitch of a plurality of electrode fingers,
The pitch of the electrode fingers having the largest number of electrode fingers among the pitches of the plurality of electrode fingers of the input IDT electrode and the largest number of electrode fingers among the pitches of the plurality of electrode fingers of the output IDT electrode The electrode finger pitch is different,
Of the input IDT electrode and the output IDT electrode, a surface acoustic wave in which the pitch of the electrode finger with the larger number of electrode fingers of the IDT electrode is larger than the pitch of the electrode finger with the smaller number of electrode fingers It is a filter.
[0014]
The second aspect of the present inventionThe input IDT electrode has a pitch of first and second electrode fingers, and the first electrode finger has the largest number of electrode fingers among a plurality of electrode finger pitches of the input IDT. Finger pitch,
The output IDT electrode has a pitch of third and fourth electrode fingers,
The third electrode finger is the pitch of the electrode finger having the largest number of electrode fingers among the pitches of the plurality of electrode fingers of the output IDT.1 is a surface acoustic wave filter according to a first aspect of the present invention;
[0015]
In the third aspect of the present invention, the pitch of the second electrode finger is different from the pitch of the fourth electrode finger.Main departureIt is a bright surface acoustic wave filter.
The fourth aspect of the present invention isA transmission circuit for outputting a transmission wave;
A receiving circuit for inputting a received wave,
A communication device in which the surface acoustic wave filter of the second aspect of the present invention is used in the transmission circuit and / or the reception circuit.It is.
In the fifth aspect of the present invention, the metallization ratio of the input IDT electrode and the output IDT electrode having the larger number of electrode fingers of the IDT electrode is smaller than the metallization ratio of the smaller one. 1 is a surface acoustic wave filter according to the present invention.
A sixth aspect of the present invention includes a transmission circuit that outputs a transmission wave;
A receiving circuit for inputting a received wave,
A communication device in which the surface acoustic wave filter according to the first aspect of the present invention is used in the transmission circuit and / or the reception circuit.
[0019]
In the seventh aspect of the present invention, either the input IDT electrode or the output IDT electrode is the first IDT electrode,
The other of the input IDT electrode and the output IDT electrode is disposed on the second IDT electrode disposed on one side of the first IDT electrode and on the other side of the first IDT electrode. A third IDT electrode,
The first, second, and third IDT electrodes are disposed along a direction in which the surface acoustic wave propagates.Any one of 1-3It is a surface acoustic wave filter of this invention.
[0020]
In the eighth invention, any one of the input IDT electrode and the output IDT electrode is the first, fourth, and fifth IDT electrodes,
The other of the input IDT electrode and the output IDT electrode is the second and third IDT electrodes,
The second and third IDT electrodes are respectively disposed on both sides of the first IDT electrode;
The fourth IDT electrode is disposed on the opposite side of the second IDT electrode from the first IDT electrode,
The fifth IDT electrode is disposed on the opposite side of the third IDT electrode from the first IDT electrode,
The first, second, third, fourth, and fifth IDT electrodes are disposed along a direction in which the surface acoustic wave propagates.Any one of 1-3It is a surface acoustic wave filter of this invention.
[0021]
The ninth aspect of the present invention providesSaidPiezoelectric substrateA plurality of filter tracks having the first, second, and third IDT electrodes and the first and second reflector electrodes are formed, and the plurality of filter tracks cooperate with each other. Of the seventh invention which functions as two filtersThis is a surface acoustic wave filter.
[0022]
The tenth aspect of the present invention isSaidPiezoelectric substrateThe second aboveIDT electrodeThe first ofIDT electrodeA first reflector electrode disposed on a side opposite to the side on which is disposed;
The third on the piezoelectric substrate;IDT electrodeThe first ofIDT electrodeA second reflector electrode disposed on the side opposite to the side on which is disposed,
The first, second, and third IDT electrodes and the first and second reflector electrodes are arranged along the direction in which the surface acoustic wave propagates.This is a surface acoustic wave filter.
[0023]
The eleventh aspect of the present invention isAt least one of the plurality of filter tracks has a different configuration from the other filter tracks of the plurality of filter tracks.First10It is a surface acoustic wave filter of this invention.
[0032]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0033]
(First embodiment)
First, the first embodiment will be described. FIG. 1 shows a schematic diagram of a surface acoustic wave filter according to the present embodiment.
[0034]
In FIG. 1, the surface acoustic wave filter is composed of first, second, and
[0035]
That is, the
[0036]
The upper electrode fingers of the second and
[0037]
The number of electrode fingers of the
[0038]
Further, when the pitch of the
[0039]
Further, the metallization ratio η indicating the ratio of the width of the electrode finger within one wavelength takes the same value for the
[0040]
Here, the metallization ratio η is expressed by the following
[0041]
[Expression 1]
η = L / (L + S)
Here, L is the width of the electrode finger, and S is the distance from one electrode finger to the next electrode finger.
[0042]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0043]
FIG. 2 shows the relationship between the number of electrode fingers of the
[0044]
As described above, in FIG. 2, the electrode finger pitch is set to the same value even if the number of electrode fingers of the first IDT electrode and the metallization ratio η of the
[0045]
As apparent from FIG. 2, the peak frequency of the radiation characteristic of the
[0046]
[0047]
Further,
[0048]
On the other hand, as shown in FIG. 4, the inventor makes the peak frequency of the
[0049]
As described above, the number of electrode fingers of the
[0050]
However, as is clear from FIG. 2, by setting the relationship of P1> P2, the peak frequency of the radiation characteristics of the
[0051]
With the above configuration, it is possible to realize a surface acoustic wave filter having a wide band and steep attenuation characteristics.
[0052]
In the present embodiment, the input terminal IN is described as being an unbalanced terminal, but the present invention is not limited to this, and a balanced terminal may be used.
[0053]
Furthermore, although the output terminal OUT has been described as an unbalanced type terminal in the present embodiment, the present invention is not limited to this and may be a balanced type terminal.
[0054]
Further, in the present embodiment, the second and
[0055]
Furthermore, in the present embodiment, the number of electrode fingers of the second IDT electrode and the third IDT electrode is the same, but if they are different, the radiation characteristics of the IDT electrodes are the same. You just have to adjust it.
[0056]
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment will be described.
[0057]
FIG. 3 shows a schematic diagram of the surface acoustic wave filter of the present embodiment.
[0058]
In FIG. 3, a
[0059]
The fourth, fifth, and
[0060]
The upper electrode finger of the
[0061]
The
[0062]
The number of electrode fingers of the
[0063]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0064]
FIG. 8A shows the radiation characteristics of the first and
[0065]
FIG. 8B shows pass characteristics of the surface acoustic wave filter according to the present embodiment. Both 1803a and 1803b are pass characteristics of the surface acoustic wave filter of the present embodiment. 1803a shows the surface acoustic wave filter of the present embodiment in a wide gain range from about 0 dB to 90 dB, and 1803b shows the center portion of the pass characteristics of the surface acoustic wave filter of the present embodiment. Attention is paid to a narrow gain range of about 0 dB to 10 dB. fp is a peak frequency of the radiation characteristic of the IDT electrode, and is a pass characteristic of the surface acoustic wave filter when the peak frequency fp of the radiation characteristic of each IDT electrode is matched with the left side of the pass band, that is, the lowest frequency of the pass band. .
[0066]
On the other hand, FIG. 9A shows radiation characteristics of each IDT electrode of the conventional surface acoustic wave filter. In FIG. 9A,
[0067]
FIG. 9B shows the pass characteristics of such a surface acoustic wave filter. Both 1903a and 1903b are pass characteristics of a conventional surface acoustic wave filter. 1903a illustrates a conventional surface acoustic wave filter in a wide gain range from about 0 dB to about 90 dB, and 1903b focuses on the central portion of the pass characteristics of the conventional surface acoustic wave filter from 0 dB. This is illustrated in a narrow gain range of about 10 dB.
[0068]
The pass characteristic 1803b shown in FIG. 8B has a wider band than the pass characteristic 1903b shown in FIG. That is, the loss at the end of the band is also improved.
[0069]
Thus, by making the peak frequency of the radiation characteristic of each IDT electrode coincide with each other, a surface acoustic wave filter having a wider band characteristic can be realized.
[0070]
As described above, according to the present embodiment, a surface acoustic wave filter having a wide band and a steep attenuation characteristic can be realized.
[0071]
In the present embodiment, the output terminal is a balanced type, but the effect of the present invention can be similarly obtained even if one of the upper and lower electrode fingers of the fourth IDT electrode is grounded to be an unbalanced type.
[0072]
(Third embodiment)
Next, a third embodiment will be described.
[0073]
FIG. 6 shows a schematic diagram of a surface acoustic wave filter according to the present embodiment. In FIG. 6, the surface acoustic wave filter is configured by first, second, and
[0074]
That is, the
[0075]
The upper electrode fingers of the second and
[0076]
The number of electrode fingers of the
[0077]
Further, when the pitch of the
[0078]
In the elastic surface filter of the present embodiment, the metallization ratio of the
[0079]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0080]
FIG. 2 shows the relationship between the number of electrode fingers of the
[0081]
As apparent from FIG. 2, the peak frequency of the radiation characteristic of the
[0082]
As described above, the number of electrode fingers of the
[0083]
However, as described above, the relationship of P1> P2 is satisfied, and the metallization ratio of the
[0084]
As described above, in this embodiment, the peak frequency of the radiation characteristics of the
[0085]
In the present embodiment, the pitch is adjusted by making the relationship of P1> P2. However, the present invention is not limited to this, and the pitch may be made by the relationship of P1 = P2, and may be adjusted by the metallization ratio.
[0086]
With the above configuration, it is possible to realize a surface acoustic wave filter having a wide band and steep attenuation characteristics.
[0087]
In the present embodiment, the input terminal IN is described as being an unbalanced terminal, but the present invention is not limited to this, and a balanced terminal may be used.
[0088]
Furthermore, although the output terminal OUT has been described as an unbalanced type terminal in the present embodiment, the present invention is not limited to this and may be a balanced type terminal.
[0089]
Further, in the present embodiment, the second and
[0090]
(Fourth embodiment)
Next, a fourth embodiment will be described.
[0091]
FIG. 7 shows a schematic diagram of the surface acoustic wave filter of the present embodiment.
[0092]
In FIG. 7, a
[0093]
The fourth, fifth, and
[0094]
The upper electrode fingers of the
[0095]
The
[0096]
The number of electrode fingers of the
[0097]
In the
[0098]
[Expression 2]
η11 = L11 / (L11 + S11)
Here, L11 is the width of the electrode finger of the
[0099]
The metallization ratio η12 of the second and
[0100]
[Equation 3]
η12 = L12 / (L12 + S12)
Here, L12 is the width of the electrode fingers of the second and
[0101]
On the other hand, in the
[0102]
[Expression 4]
η21 = L21 / (L21 + S21)
Here, L21 is the width of the electrode finger of the
[0103]
Further, the metallization ratio η22 of the fifth and
[0104]
[Equation 5]
η22 = L22 / (L22 + S22)
Here, L22 is the width of the electrode fingers of the fifth and sixth IDT electrodes, and S22 is from the electrode finger having the metallization ratio η22 of the fifth and
[0105]
In the present embodiment, η11 and η12 are different from each other, and η21 and η22 are different from each other.
[0106]
Thus, a two-stage longitudinal mode type surface acoustic wave filter is formed.
[0107]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0108]
In the surface acoustic wave filter of the present embodiment, as described in detail in the above embodiment, the relationship of P11> P12 is established, and η11 and η12 are adjusted to have different values. The peak frequency fp of the radiation characteristic is matched between the
[0109]
Further, by adjusting P21> P22 and adjusting η21 and η22 to have different values, the peak frequency fp of the radiation characteristic is set to the
[0110]
Accordingly, as in the above embodiment, a surface acoustic wave filter having a wide band and steep attenuation characteristics can be realized.
[0111]
With the above configuration, it is possible to realize a surface acoustic wave filter having a wide band and steep attenuation characteristics.
[0112]
In this embodiment, the relationship of P11> P12 is set, and η11 and η12 are adjusted to be different values, and the relationship of P21> P22 is set, and η21 and η22 are set to different values. However, the present invention is not limited to this, and it is also possible to adjust only by the relationship of P11> P12 and P21> P22. It is also possible to adjust only by metallization as P11 = P12 and P21 = P22.
[0113]
In the present embodiment, the output terminal is a balanced type, but the effect of the present invention can be obtained in the same way even if either one of the upper and lower electrode fingers of the
[0114]
(Fifth embodiment)
Next, a fifth embodiment will be described.
[0115]
FIG. 10 shows a schematic diagram of a surface acoustic wave filter according to the present embodiment.
[0116]
In FIG. 10, the surface acoustic wave filter is configured by first, second, and
[0117]
In other words, the
[0118]
The upper electrode fingers of the second and
[0119]
The number of electrode fingers of the
[0120]
Further, when the pitch of the region indicated by 1a of the
[0121]
When the pitch of the region indicated by 2a of the
[0122]
Further, the pitch of the region indicated by 3a of the
[0123]
As described above, each of the
[0124]
Further, when the relationship between the pitch P1 and the pitch P2 satisfies P1> P2, an effect equivalent to that of the first embodiment can be obtained.
[0125]
When the relationship between the pitch P1 and the pitch P2 satisfies P1> P2, the relationship between the pitch P1 ′ and the pitch P2 ′ may satisfy P1 ′> P2 ′, and P1 ′ = P2 You don't mind being satisfied. In this case, discontinuity between adjacent electrode fingers can be reduced and deterioration of insertion loss can be suppressed when P1 '> P2' is satisfied, compared to when P1 '= P2' is satisfied.
[0126]
In the present embodiment, P1> P2 is described as being satisfied. In FIG. 10, P1 and P2 are adjusted so that the peak frequencies of the radiation characteristics of the 1a region, the 2a region, and the 3a region match. It doesn't matter. Further, the pitches P1, P1 ′, P2, and P2 ′ are adjusted so that the radiation characteristics of the
[0127]
As described above, when the pitch of the electrode fingers of one IDT electrode is different, the above embodiments can be applied based on the pitch of the main excitation electrode in the main excitation region.
[0128]
With the above configuration, it is possible to realize a surface acoustic wave filter having a wide band and steep attenuation characteristics.
[0129]
In the present embodiment, the input terminal IN is described as being an unbalanced terminal, but the present invention is not limited to this, and a balanced terminal may be used.
[0130]
Furthermore, although the output terminal OUT has been described as an unbalanced type terminal in the present embodiment, the present invention is not limited to this and may be a balanced type terminal.
[0131]
Further, in the present embodiment, the second and
[0132]
(Sixth embodiment)
Next, a sixth embodiment will be described.
[0133]
FIG. 11 shows a schematic diagram of a surface acoustic wave filter according to the present embodiment.
[0134]
In FIG. 11, the surface acoustic wave filter includes first, second, third, fourth, and
[0135]
That is, the
[0136]
Thus, the first, second, third, fourth, and
[0137]
The lower electrode fingers of the second and
[0138]
The number of electrode fingers of the
[0139]
Further, when the pitch of the
[0140]
Further, the metallization ratio η indicating the ratio of the electrode finger width within one wavelength is the same value for the first, second, third, fourth, and
[0141]
Here, the metallization ratio η is expressed by
[0142]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0143]
As described in the first embodiment, the peak frequency of the radiation characteristics of the
[0144]
Accordingly, as described above, the pitch of the
[0145]
That is, since the peak frequencies of the radiation characteristics of the first, second, third, fourth, and
[0146]
That is, with the above configuration, a surface acoustic wave filter having a wide band and steep attenuation characteristics can be realized.
[0147]
In the present embodiment, the input terminal IN is described as being an unbalanced terminal, but the present invention is not limited to this, and a balanced terminal may be used.
[0148]
Furthermore, although the output terminal OUT has been described as an unbalanced type terminal in the present embodiment, the present invention is not limited to this and may be a balanced type terminal.
[0149]
The relationship between the numbers of the first to fifth IDT electrodes is not limited to this, and is optimized according to the filter characteristics.
[0150]
Furthermore, in this embodiment, the second and
[0151]
In the present embodiment, the case of adjusting the pitch of the electrode fingers of each IDT electrode and the case of adjusting the pitch and metallization ratio of each IDT electrode have been described. The peak frequency of the radiation characteristic of the IDT electrode can be matched.
[0152]
That is, it has been found that the peak frequency of the radiation characteristics of the IDT electrode decreases as the film thickness of the IDT electrode increases. Therefore, by adjusting the film thickness of the first IDT electrode and the film thickness of the second and third IDT electrodes, the peak frequency of the radiation characteristic of each IDT electrode can be adjusted to be the same.
[0153]
It has also been found that the peak frequency of the radiation characteristics of the IDT electrode changes by changing the material of the IDT electrode. Therefore, the peak frequency of the radiation characteristic of each IDT electrode can be adjusted to be the same by making the material of the first IDT electrode different from the material of the second and third IDT electrodes.
[0154]
It has also been found that the peak frequency of the radiation characteristics of the IDT electrode decreases as the metallization ratio of the IDT electrode increases. Therefore, the peak frequency of the radiation characteristic of each IDT electrode can be adjusted to be the same by making the metallization ratio of the first IDT electrode different from the metallization ratio of the second and third IDT electrodes. .
[0155]
Moreover, it can also adjust so that the peak frequency of the radiation | emission characteristic of each IDT electrode may correspond by combining the method demonstrated above arbitrarily.
[0156]
In the first to fourth embodiments, the number of electrode fingers of the second and third IDT electrodes is the same. However, the present invention is not limited to this, and the second and third IDT electrodes are not limited thereto. Even if the number of electrode fingers is not the same, if the electrode finger pitch is adjusted so that the peak frequency of the radiation characteristic is the same, the same effects as those of the first to fourth embodiments can be obtained. I can do it.
[0157]
Furthermore, a communication device using the surface acoustic wave filter of the present invention as a part of a transmission circuit or a reception circuit also belongs to the present invention. Examples of such a communication device include a mobile phone terminal, a base station of a mobile phone terminal, a car phone terminal, a PHS, and a radar device.
[0158]
Further, a surface acoustic wave filter manufacturing method for manufacturing a surface acoustic wave filter including a piezoelectric substrate, an input IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate, and an output IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate. In addition, a surface acoustic wave filter manufacturing method in which the peak frequency of the radiation characteristic of the input IDT electrode is substantially equal to the peak frequency of the radiation characteristic of the output IDT electrode also belongs to the present invention.
[0159]
Further, a surface acoustic wave filter for manufacturing a surface acoustic wave filter including a piezoelectric substrate, an input IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate, and an output IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate. A method of manufacturing a surface acoustic wave filter, wherein the pitch of electrode fingers of the input IDT electrode is different from the pitch of electrode fingers of the output IDT electrode, also belongs to the present invention.
[0160]
Further, the output IDT electrode of the present invention is the first IDT electrode of the surface acoustic wave filter described in FIGS. 1 and 6 and the surface acoustic wave filter described in FIGS. The present invention is not limited to the fourth, fifth, and sixth IDT filters. Further, the input IDT electrode of the present invention includes the second and third IDT electrodes of the surface acoustic wave filter described in FIGS. 1 and 6 and the surface acoustic wave described in FIGS. The filter is not limited to the first, second and third IDT electrodes.
[0161]
Further, in the present embodiment, the case where the input IDT electrode and the output IDT electrode are composed of three IDT electrodes and the case where the input IDT electrode is composed of five IDT electrodes has been described. The input IDT electrode and the output IDT electrode may be composed of two IDT electrodes, four IDT electrodes, seven IDT electrodes, or more IDT electrodes.
[0162]
In the present embodiment, the number of electrode fingers of the second IDT electrode and the third IDT electrode is the same, and the number of electrode fingers of the fourth IDT electrode and the fifth IDT electrode is the same. Although they are the same, if they are different, adjustment may be made so that the radiation characteristics of the respective IDT electrodes match.
[0163]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, the present invention can provide a surface acoustic wave filter, a surface acoustic wave filter manufacturing method, and a communication device that have a further wide band and a steep attenuation characteristic outside the band.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of a surface acoustic wave filter according to a first embodiment of the invention.
FIG. 2 is a graph showing the relationship between the peak frequency of radiation characteristics and the number of electrode fingers
FIG. 3 is a configuration diagram of a surface acoustic wave filter according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a radiation characteristic diagram of an IDT electrode in the first and third embodiments of the present invention.
FIG. 5 is a pass characteristic diagram of a surface acoustic wave filter according to the first and third embodiments of the present invention.
FIG. 6 is a configuration diagram of a surface acoustic wave filter according to a third embodiment of the invention.
FIG. 7 is a configuration diagram of a surface acoustic wave filter according to a fourth embodiment of the invention.
FIG. 8A is a diagram of radiation characteristics of an IDT electrode according to a second embodiment of the present invention.
(B) Passing characteristic diagram of surface acoustic wave filter in second embodiment of the present invention
9A is a radiation characteristic diagram of an IDT electrode in a conventional surface acoustic wave filter in which the radiation characteristic peak frequencies of the IDT electrode do not match. FIG.
(B) Passing characteristic diagram of surface acoustic wave filter of (a)
FIG. 10 is a configuration diagram of a surface acoustic wave filter according to a fifth embodiment of the invention.
FIG. 11 is a configuration diagram of a surface acoustic wave filter according to a sixth embodiment of the invention.
FIG. 12 is a configuration diagram of a conventional surface acoustic wave filter.
FIG. 13 is a configuration diagram of a conventional surface acoustic wave filter.
[Explanation of symbols]
101 Piezoelectric substrate
102 1st IDT electrode
103 Second IDT electrode
104 Third IDT electrode
105 Reflector electrode
106 Reflector electrode
301 Piezoelectric substrate
302 First IDT electrode
303 Second IDT electrode
304 Third IDT electrode
305 Reflector electrode
306 Reflector electrode
307 filter truck
308 Fourth IDT electrode
309 Fifth IDT electrode
310 Sixth IDT electrode
311 Reflector electrode
312 Reflector electrode
313 filter truck
601 Piezoelectric substrate
602 first IDT electrode
603 Second IDT electrode
604 Third IDT electrode
605 Reflector electrode
606 Reflector electrode
701 Piezoelectric substrate
702 First IDT electrode
703 Second IDT electrode
704 Third IDT electrode
705 Reflector electrode
706 Reflector electrode
707 filter truck
708 Fourth IDT electrode
709 Fifth IDT electrode
710 Sixth IDT electrode
711 Reflector electrode
712 Reflector electrode
713 Filter truck
Claims (11)
前記圧電基板上に配置された、少なくとも一つの入力用IDT電極と、
前記圧電基板上に配置された、少なくとも一つの出力用IDT電極とを備え、
前記入力IDT用電極及び前記出力用IDT電極が弾性表面波の一つの伝搬経路に沿って配置された縦モード型弾性表面波フィルタであって、
前記入力用IDT電極は複数の電極指のピッチを有し、
前記出力用IDT電極は複数の電極指のピッチを有し、
前記入力用IDT電極の複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチと、前記出力用IDT電極の複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチが異なっており、
前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極のうち、IDT電極の電極指の本数がより多い方の電極指のピッチが、電極指の本数がより少ない方の電極指のピッチより大きい弾性表面波フィルタ。A piezoelectric substrate;
At least one input IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate;
And at least one output IDT electrode disposed on the piezoelectric substrate,
A longitudinal mode surface acoustic wave filter in which the input IDT electrode and the output IDT electrode are disposed along one propagation path of the surface acoustic wave;
The input IDT electrode has a pitch of a plurality of electrode fingers,
The output IDT electrode has a pitch of a plurality of electrode fingers,
The pitch of the electrode fingers having the largest number of electrode fingers among the pitches of the plurality of electrode fingers of the input IDT electrode and the largest number of electrode fingers among the pitches of the plurality of electrode fingers of the output IDT electrode The electrode finger pitch is different,
Of the input IDT electrode and the output IDT electrode, a surface acoustic wave in which the pitch of the electrode finger with the larger number of electrode fingers of the IDT electrode is larger than the pitch of the electrode finger with the smaller number of electrode fingers filter.
前記第1の電極指は前記入力用IDTの複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチであり、
前記出力用IDT電極は、第3及び第4の電極指のピッチを有し、
前記第3の電極指は前記出力用IDTの複数の電極指のピッチのうちで電極指の本数が最も多い電極指のピッチである請求項1記載の弾性表面波フィルタ。The input IDT electrode has a pitch of first and second electrode fingers,
The first electrode finger is the pitch of the electrode finger having the largest number of electrode fingers among the plurality of electrode fingers of the input IDT,
The output IDT electrode has a pitch of third and fourth electrode fingers,
2. The surface acoustic wave filter according to claim 1, wherein the third electrode finger has a pitch of an electrode finger having the largest number of electrode fingers among a plurality of electrode fingers of the output IDT.
受信波を入力する受信回路とを備え、
前記送信回路および/または前記受信回路に請求項2記載の弾性表面波フィルタが用いられている通信機器。A transmission circuit for outputting a transmission wave;
A receiving circuit for inputting a received wave,
A communication device in which the surface acoustic wave filter according to claim 2 is used in the transmission circuit and / or the reception circuit.
受信波を入力する受信回路とを備え、
前記送信回路および/または前記受信回路に請求項1記載の弾性表面波フィルタが用いられている通信機器。A transmission circuit for outputting a transmission wave;
A receiving circuit for inputting a received wave,
A communication device in which the surface acoustic wave filter according to claim 1 is used in the transmission circuit and / or the reception circuit.
前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極の他方は、前記第1のIDT電極の一方の側に配置された第2のIDT電極と、前記第1のIDT電極の他方の側に配置された第3のIDT電極とから構成され、
前記第1、第2、及び第3のIDT電極は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置された請求項1〜3のいずれかに記載の弾性表面波フィルタ。One of the input IDT electrode and the output IDT electrode is a first IDT electrode,
The other of the input IDT electrode and the output IDT electrode is disposed on the second IDT electrode disposed on one side of the first IDT electrode and on the other side of the first IDT electrode. A third IDT electrode,
It said first, second, and third IDT electrodes, a surface acoustic wave filter according to any one of 請 Motomeko 1-3 which the surface acoustic waves are arranged along the direction of propagation.
前記入力用IDT電極及び前記出力用IDT電極の他方は、第2、及び第3のIDT電極であり、
前記第1のIDT電極の両側にそれぞれ前記第2及び第3のIDT電極が配置されており、
前記第2のIDT電極の前記第1のIDT電極とは反対側に前記第4のIDT電極が配置されており、
前記第3のIDT電極の前記第1のIDT電極とは反対側に前記第5のIDT電極が配置されており、
前記第1、第2、第3、第4、及び第5のIDT電極は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置された請求項1〜3のいずれかに記載の弾性表面波フィルタ。One of the input IDT electrode and the output IDT electrode is the first, fourth, and fifth IDT electrodes,
The other of the input IDT electrode and the output IDT electrode is the second and third IDT electrodes,
The second and third IDT electrodes are respectively disposed on both sides of the first IDT electrode;
The fourth IDT electrode is disposed on the opposite side of the second IDT electrode from the first IDT electrode,
The fifth IDT electrode is disposed on the opposite side of the third IDT electrode from the first IDT electrode,
Said first, second, third, fourth and 5 IDT electrode of the surface acoustic wave filter according to any one of 請 Motomeko 1-3 which the surface acoustic waves are arranged along the direction of propagation .
前記圧電基板上の前記第3のIDT電極の前記第1のIDT電極が配置されている側とは反対側に配置された第2の反射器電極とを備え、
前記第1、第2、及び第3のIDT電極、及び前記第1及び第2の反射器電極は、弾性表面波が伝搬する方向に沿って配置されている請求項7記載の弾性表面波フィルタ。A first reflector electrode disposed on the opposite side of the second IDT electrode on the piezoelectric substrate from the side on which the first IDT electrode is disposed;
A second reflector electrode disposed on the opposite side of the third IDT electrode on the piezoelectric substrate from the side on which the first IDT electrode is disposed;
The surface acoustic wave filter according to claim 7, wherein the first, second, and third IDT electrodes and the first and second reflector electrodes are disposed along a direction in which the surface acoustic wave propagates. .
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