JP3586123B2 - チャネルチェックテストシステム - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ディジタル回線多重化装置（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｍｕｌｔｉｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ、以下、「ＤＣＭＥ」と称す。）において、チャネルの導通のチェックを行うチャネルチェックテストシステムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
高能率音声符号化技術やディジタル音声挿入技術を用い、電話による音声通話信号を高能率に圧縮して伝送する装置として、ＤＣＭＥが知られている。このＤＣＭＥにおいては、通話チャネルの導通の有無をチェックする、チャネルチェックテストが行なわれる。
【０００３】
従来のチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１２は、従来のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０００４】
図１２において、１は送信側ＤＣＭＥ、２は受信側ＤＣＭＥである。３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０００５】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２からのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、９はＡ則またはμ則非直線量子化された出力テストパターンを発生する出力パターン発生器、９ａはＡ則非直線量子化された出力テストパターンデータを蓄積するＡ則出力パターンデータメモリ、９ｂはμ則非直線量子化された出力テストパターンデータを蓄積するμ則出力パターンデータメモリ、９ｃはセレクタ、１０は復号信号８ａと出力テストパターンを比較する比較器、１１は復号信号８ａと出力テストパターンの一致ビット数をカウントするカウンタ、１２はカウンタ１１の出力に基づきチャネルの導通の有無を判定する判定回路、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｄは圧伸則設定信号である。
【０００６】
つぎに、前述した従来のチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０００７】
まず、試験対象でない運用中のチャネル、すなわち音声通話信号を伝送するチャネルに対する動作について説明する。
【０００８】
送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３は、テストパターン挿入回路５において、入力テストパターンの挿入を受けずに符号器６に与えられて高能率音声符号化され、符号器６の出力データが受信側ＤＣＭＥ２に対して出力される。
【０００９】
入力信号３は、ＩＴＵ勧告Ｇ．７１１において規定されたＡ則またはμ則で非直線量子化されたＰＣＭ信号である。入力信号３の非直線量子化の圧伸則がＡ則の場合は、符号器６の動作モードをＡ則とし、入力信号３の圧伸則がμ則の場合には、符号器６の動作モードをμ則とするよう、圧伸則設定信号１４ｂが与えられる。
【００１０】
受信側ＤＣＭＥ２においては、受信した符号器６の出力データを復号器７において復号し、受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂとして出力する。受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂもＡ則またはμ則で非直線量子化されたＰＣＭ信号である。受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂが所定の圧伸則（Ａ則またはμ則）となるように、圧伸則設定信号１４ｃを与え、復号器７の動作モードを設定する。
【００１１】
次に、試験対象のチャネルに対する動作を説明する。
【００１２】
入力パターン発生器４は、チャネルチェック用の入力テストパターンを発生し、テストパターン挿入回路５は、送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３ではなく、この入力テストパターンを符号器６に対して出力する。符号器６は、入力テストパターンを高能率音声符号化して、符号器６の出力データを受信側ＤＣＭＥ２に対して出力する。
【００１３】
入力パターン発生器４の出力する入力テストパターンの圧伸則は、符号器６の圧伸則と合わせる必要がある。そのため、Ａ則入力パターンデータメモリ４ａの出力データと、μ則入力パターンデータメモリ４ｂの出力データのいずれかを、セレクタ４ｃにおいて圧伸則設定信号１４ａに従って選択し、これを入力パターン発生器４の出力信号とする。
【００１４】
受信側ＤＣＭＥ２においては、受信した符号器６の出力データを復号器７において復号する。この復号器７の出力する復号信号８ａは、比較器１０において出力パターン発生器９の出力信号とビットごとに比較される。出力パターン発生器９の出力データは、入力パターン発生器４の出力信号を符号化した後、再度復号した際に得られる復号信号の期待されるパターンである。
【００１５】
出力パターン発生器９の出力する出力テストパターンの圧伸則は、復号器７の圧伸則と合わせる必要がある。そのため、Ａ則出力パターンデータメモリ９ａ、μ則出力パターンデータメモリ９ｂの出力データのいずれかを、セレクタ９ｃにおいて圧伸則設定信号１４ｄに従って選択し、これを出力パターン発生器９の出力信号とする。
【００１６】
カウンタ１１は、比較器１０の出力するビットごとの比較結果を入力し、所定時間内の不一致ビット数をカウントする。判定回路１２は、カウンタ１１の出力する不一致ビット数のカウント値を入力し、カウント値が所定の値を越える場合、試験対象のチャネルが導通していないと判定し、カウント値が所定の値を越えない場合、試験対象のチャネルが導通していると判定して、その判定結果１３を出力する。
【００１７】
上記のように構成されたチャネルチェックテストシステムにおいては、ＤＣＭＥにおいて複数の符号化方式（例えばＩＴＵ勧告Ｇ．７２６、Ｇ．７２８、Ｇ．７２９等に規定された符号化方式）をサポートしている場合、符号化方式に応じて入力テストパターン、出力テストパターンを別々に設けるという方法が考えられるが、このように符号化方式に応じてそれぞれ入力テストパターン、出力テストパターンを設けると、チャネルチェックテストシステムの回路規模が大きくなるという課題がある。
【００１８】
符号化方式にかかわらず共通に用いることができ、簡易な構成でチャネルチェックテストを行なう方法としては、入力テストパターンとしてトーン信号を用い、受信側ＤＣＭＥ２内の復号器７の出力の符号ビットに着目する方式が考えられる。
【００１９】
図１３は、例えば特開平７−１３１８３２号公報に示された従来の他のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００２０】
図１３において、１００は周波数情報検出部、１０１は符号ビット、１０２は符号ビット１０１を入力ディジタルトーン信号の約半周期のデータ分だけ遅延する遅延回路、１０３は符号ビット１０１と遅延回路１０２の出力とを入力して排他的論理和を算出する排他的論理和回路、１０４は排他的論理和回路１０３の出力の加算するデータ数を決定する不一致数積分周期計数器、１０５は不一致数積分周期計数器１０４で決定されるデータ数分の排他的論理和回路１０３の出力を加算積分する不一致数加算積分器、１０６は不一致数加算積分器１０５の出力に応じて入力ディジタルトーン信号の周波数についての合否を判定する不一致数比較器である。
【００２１】
次に、従来の他のチャネルチェックテストシステムの動作を説明する。
【００２２】
正常なディジタルトーン信号であれば、符号ビット１０１は半周期ごとに「０」連続と「１」連続とを繰り返す。周波数情報検出部１００は、この「０」連続と「１」連続との繰り返しを次のように検出する。すなわち、符号ビット１０１は遅延回路１０２で半周期遅延され、符号ビット１０１と遅延回路１０２の出力は排他的論理和回路１０３に入力され、排他的論理和回路１０３は符号ビット１０１と遅延回路１０２の出力との排他的論理和を求める。
【００２３】
すると、排他的論理和回路１０３の出力は、図１４の（ｅ）の符号１１４に示すように、正常なディジタルトーン信号の場合は全て「１」となる。この排他的論理和回路１０３の出力を不一致数積分周期計数器１０４で指定するデータ数分だけ不一致数加算積分器１０５により加算する。なお、不一致数加算積分器１０５の出力は、符号ビット１０１の半周期毎の「０」連続と「１」連続との繰り返しの度合いに対応している。それから、不一致数比較器１０６により不一致数加算積分器１０５の出力を検査することで周波数の検査を実施する。
【００２４】
従来の他のチャネルチェックシステムは上記のように構成されているので、符号ビットの周期的な繰り返しの検出により、簡易な構成でチャネルの導通をチェックすることができる。
【００２５】
【発明が解決しようとする課題】
上述した図１３の構成による従来の他のチャネルチェックシステムをＤＣＭＥに適用する場合、以下のような課題があった。
【００２６】
図１５は、図１３の構成による従来の他のチャネルチェックテストシステムのＤＣＭＥへの適用例を示す構成図である。
【００２７】
図１５において、送信側ＤＣＭＥ１内の動作は、図１２の構成において説明した送信側ＤＣＭＥ１内の動作と同一である。一方、受信側ＤＣＭＥ２では、復号器７からのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号は、符号抽出部１０８に与えられ、符号ビット１０１が抽出される。符号ビット１０１は周波数情報検出部１００に入力され、符号ビット１０１の周期的な繰り返しの検出により、チャネルの導通の有無が判定される。この周波数情報検出部１００の動作の詳細は、図１３の構成において説明したものと同一である。
【００２８】
図１５において、例えば、送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３の圧伸則、受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂの圧伸則が両方ともμ則である場合の動作を考察する。この場合、送信側ＤＣＭＥ１内の符号器６、受信側ＤＣＭＥ２内の復号器７はμ則で動作させる必要があるが、ここで、圧伸則設定信号１４ｃの誤りにより、復号器７がＡ則で誤って動作したと仮定する。
【００２９】
入力テストパターンとして、図１６のテーブルに示すような信号列を用いるとする。図１６のテーブルに示す信号列は、周波数５００Ｈｚ、信号レベル３ｄＢｍ０のトーン信号（標本化周波数８ｋＨｚの場合）である。
【００３０】
説明を簡単にするため、符号化、復号による信号波形の劣化の影響を無視すると、符号器６、復号器７とも正しくμ則で動作するように設定されていれば、復号器７の出力する復号信号８ａのパターンは、図１６のテーブルに示した入力テストパターンと同一となる筈である。しかし、圧伸則設定信号１４ｃの誤りにより、復号器７がＡ則で誤って動作した場合、復号器７の出力する復号信号８ａのパターンは、図１７のテーブルに示す値となってしまう。
【００３１】
図１６のテーブルに示す信号列と、図１７のテーブルに示す信号列は異なっているが、符号ビットだけに着目すると、図１６のテーブルの信号列の符号ビットと、図１７のテーブルに示す信号列の符号ビットの周期性は同一である。また、符号ビットの周期的な繰り返しの検出によりチャネルの導通の有無を判定する周波数情報検出部１００は、復号器７の圧伸則の設定の誤りがあった場合に、本来チャネルが導通していないと判定すべきであるにもかかわらず、チャネルが導通していると判定してしまうという問題点があった。
【００３２】
上記の説明においては、復号器７の圧伸則の設定が誤った場合の動作について説明したが、符号器６の圧伸則の設定が誤った場合の動作も同様の問題点があった。
【００３３】
この発明は、前述した問題点を解決するためになされたもので、ＤＣＭＥに適用し得る、圧伸則（Ａ則／μ則）の設定の誤りを含めて検出可能で、簡易な構成で実現できるチャネルチェックテストシステムを得ることを目的とする。
【００３４】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力信号から符号を抽出する符号抽出部と、前記抽出された符号を所定の時間遅延する遅延器と、前記抽出された符号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器と、前記排他的論理和演算器の出力値が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタと、前記カウンタのカウント値と所定の閾値とを比較して判定結果を出力する比較器とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたものである。
【００３５】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記符号抽出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値と第２の所定の閾値とを比較する第２の比較器を有し、前記遅延器が、前記第２の比較器の出力信号を所定の時間遅延し、前記排他的論理和演算器が、前記第２の比較器の出力信号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行うものである。
【００３６】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力する第１の比較器と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する第２の比較器と、前記第１及び第２の比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたものである。
【００３７】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部の代わりに、前記加算器の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、第２の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するものである。
【００３８】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するものである。
【００３９】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するものである。
【００４０】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部と、前記算出した零交差数及びレベル交差数の差分を算出する減算器と、前記減算器の出力値の絶対値を算出する絶対値回路と、前記絶対値回路の出力値と所定の閾値とを比較して比較結果を出力する比較器と、前記比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたものである。
【００４１】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部及び前記レベル交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記減算器が、前記算出した零交差間隔及びレベル交差間隔の差分を算出するものである。
【００４２】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部と、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とをさらに有するものである。
【００４３】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部をさらに有し、前記判定回路は、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定するものである。
【００４４】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記遅延器における所定の時間が、前記入力テストパターンの半周期分の時間の整数倍としたものである。
【００４５】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１は、この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
【００４６】
図１において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ａは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【００４７】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＡからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【００４８】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、２２は加算器２１の出力信号の符号を抽出する符号抽出部、２３は符号抽出部２２の出力する符号を遅延させる遅延器、２４は符号抽出部２２の出力する符号と遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器、２５は排他的論理和演算器２４の出力が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタ、２６は閾値、２７はカウンタ２５の出力信号と閾値２６とを比較する比較器である。
【００４９】
つぎに、前述した実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。まず、送信側ＤＣＭＥ１内の動作を説明する。
【００５０】
入力パターン発生器４は、チャネルチェック用の入力テストパターン、例えばトーン信号を発生する。このテストパターンの周期は、送信側ＤＣＭＥ１に入力される信号のサンプリング周期の整数倍であることが望ましい。
【００５１】
入力パターン発生器４の出力する入力テストパターンの圧伸則（Ａ則、またはμ則）は、試験対象のチャネルの符号器６の圧伸則と合わせる必要がある。また、Ａ則入力パターンデータメモリ４ａの出力データと、μ則入力パターンデータメモリ４ｂの出力データのいずれかを、セレクタ４ｃにおいて圧伸則設定信号１４ａに従って選択し、これを入力パターン発生器４の出力信号とする。
【００５２】
この入力パターン発生器４の出力する入力テストパターンは、テストパターン挿入回路５に入力される。テストパターン挿入回路５は、試験対象のチャネルに対しては入力パターン発生器４の出力するチャネルチェック用の入力テストパターンを挿入して出力し、一方、試験対象でない運用中のチャネルに対しては、送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３をそのまま出力する。
【００５３】
符号器６は、テストパターン挿入回路５の出力信号を、例えばＩＴＵ勧告Ｇ．７２６、Ｇ．７２８、Ｇ．７２９等に規定された符号化方式を用いて高能率符号化し、符号化された信号を受信側ＤＣＭＥ２Ａに対して出力する。この符号器６の動作モード（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｂに従って定められる。
【００５４】
つづいて、受信側ＤＣＭＥ２Ａ内の動作を説明する。
【００５５】
復号器７は、送信側ＤＣＭＥ１から送られて来た符号化された信号を復号する。この復号器７の出力する復号信号８ａを受信側ＤＣＭＥ２Ａからの出力信号８ｂとするとともに、受信側ＤＣＭＥ２Ａ内において、この復号信号８ａに基づいて試験対象のチャネルの導通のチェックが行われる。この復号器７の動作モード（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｃに従って定められる。
【００５６】
リニア変換部１９は、復号器７の出力するＡ則またはμ則で非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換する。復号信号８ａの圧伸則（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｅによりリニア変換部１９に対して通知され、リニア変換部１９は通知された圧伸則に従って直線量子化ＰＣＭ信号への変換を行なう。
【００５７】
加算器２１は、リニア変換部１９の出力する直線量子化ＰＣＭ信号に、所定のオフセット値２０を加算する。このオフセット値２０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、このオフセット値２０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【００５８】
符号抽出部２２は、加算器２１の出力信号に対し符号を抽出し、符号が正の場合は０を出力し、符号が負の場合は１を出力する。
【００５９】
この符号抽出部２２の出力する符号は、遅延器２３において所定の時間だけ遅延させられる。この遅延器２３における遅延時間は、テストパターンの半周期分の時間の整数倍とする必要があるが、遅延器２３のハードウェア規模を小さくするという観点から、通常は、この遅延器２３における遅延時間を、テストパターンの半周期分の時間に等しい値とする。
【００６０】
以下、遅延器２３における遅延時間を、テストパターンの半周期分の時間の奇数倍の値とした場合の動作について説明する。
【００６１】
排他的論理和演算器２４は、符号抽出部２２の出力する符号と、遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行い、その演算結果を出力する。すなわち、排他的論理和演算器２４は、符号抽出部２２の出力する符号と、遅延器２３の出力信号が同一の値である場合は０を出力し、符号抽出部２２の出力する符号と、遅延器２３の出力信号が異なる値である場合は１を出力する。
【００６２】
カウンタ２５は、チャネルチェックテストの開始後の一定時間中、排他的論理和演算器２４の出力が所定の値、たとえば１と一致する回数をカウントする。
【００６３】
図２は、この実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムにおいて、試験対象のチャネルが導通している場合の各部の動作の一例を示す図である。
【００６４】
図２において、（ｄ）に示す符号抽出部２２の出力する符号と、これをテストパターンの半周期分の時間だけ遅延させた遅延器２３の出力信号（（ｅ）に示す）は異なる値をとるため、排他的論理和演算器２４の出力値は１となる。したがって、カウンタ２５の出力値は大きい値となる。
【００６５】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、符号抽出部２２の出力する符号と、これをテストパターンの半周期分の時間だけ遅延させた遅延器２３の出力信号は常に異なる値となるとは限らないため、排他的論理和演算器２４の出力値は０になったり１になったりする。したがって、カウンタ２５の出力値は試験対象のチャネルが導通している場合と比較して小さい値となる。
【００６６】
また、図３は、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ａのいずれか一方において、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合の各部の動作の一例を示す図である。
【００６７】
図３において、加算器２１においてリニア変換部１９の出力値に対し所定のオフセット値２０を加算した後に、符号抽出部２２において符号を抽出しているため、（ｄ）に示す符号抽出部２２の出力する符号と、これをテストパターンの周期の半周期分の時間だけ遅延させた遅延器２３の出力信号（（ｅ）に示す）は常に異なる値となるとは限らない。そのため、排他的論理和演算器２４の出力値は、０になったり１になったりする。したがって、カウンタ２５の出力値は試験対象のチャネルが導通している場合と比較して小さい値となる。
【００６８】
比較器２７は、カウンタ２５の出力値と所定の閾値２６とを比較し、カウンタ２５の出力値が閾値２６よりも大きい場合、試験対象のチャネルが導通していると判定して、判定結果１３として１を出力する。一方、カウンタ２５の出力値が閾値２６よりも小さい場合、試験対象のチャネルが導通していないと判定し、判定結果１３として０を出力する。
【００６９】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ａのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。
【００７０】
なお、上記の実施の形態１においては、テストパターンとしてトーン信号を用いるものとして説明したが、トーン信号に限らず周期性のある信号を用いれば良い。
【００７１】
また、上記の実施の形態１においては、遅延器２３における遅延時間をテストパターンの半周期分の時間の奇数倍の値としていたため、カウンタ２５において排他的論理和演算器２４の出力が１と一致する回数をカウントし、比較器２７においてカウンタ２５の出力値が閾値２６よりも大きい場合、試験対象のチャネルが導通していると判定するようにしていた。しかしながら、この遅延時間をテストパターンの半周期分の時間の偶数倍の値（すなわち、テストパターンの周期の整数倍）とする場合は、カウンタ２５において排他的論理和演算器２４の出力が０と一致する回数をカウントし、比較器２７においてカウンタ２５の出力値が閾値２６よりも大きい場合、試験対象のチャネルが導通していると判定するようにすれば良い。
【００７２】
実施の形態２．
この発明の実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図４は、この発明の実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００７３】
図４において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｂは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【００７４】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＢからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【００７５】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２３は後述する比較器の出力信号を遅延させる遅延器、２４は後述する比較器の出力信号と遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器、２５は排他的論理和演算器２４の出力が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタ、２６は閾値、２７はカウンタ２５の出力信号と閾値２６とを比較する比較器、２８は閾値、２９はリニア変換部１９の出力信号と閾値２８とを比較する比較器である。
【００７６】
つぎに、前述した実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【００７７】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、リニア変換部１９、遅延器２３、排他的論理和演算器２４、カウンタ２５、及び比較器２７の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。
【００７８】
比較器２９は、リニア変換部１９の出力信号と所定の閾値２８とを比較し、その比較結果を出力する。例えば、リニア変換部１９の出力信号が閾値２８よりも大きい場合は０を出力し、リニア変換部１９の出力信号が閾値２８よりも小さい場合は１を出力する。この閾値２８としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値２８は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【００７９】
上記のように構成すれば、前記実施の形態１においてリニア変換部１９の出力信号に所定のオフセット値２０を加算した後に符号を抽出したのと同一の動作を、比較器２９においてリニア変換部１９の出力信号と閾値２８と比較することで実現することができる。その結果、加算器の不要なより簡易な構成により、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｂのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果がある。
【００８０】
実施の形態３．
この発明の実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図５は、この発明の実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００８１】
図５において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｃは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【００８２】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＣからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【００８３】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、３０は加算器２１の出力値に対して零交差数を算出する零交差数算出部、３１は閾値、３２は零交差数算出部３０の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は零交差数算出部３０の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路である。
【００８４】
つぎに、前述した実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【００８５】
送信側ＤＣＭＥ１の動作は、前記実施の形態１と同一であるため説明を省略する。次に、受信側ＤＣＭＥ２Ｃ内の動作を説明する。
【００８６】
復号器７は、送信側ＤＣＭＥ１から送られて来た符号化された信号を復号する。この復号器７の出力する復号信号８ａを受信側ＤＣＭＥ２Ｃからの出力信号８ｂとするとともに、受信側ＤＣＭＥ２Ｃ内において、この復号信号８ａに基づいて試験対象のチャネルの導通のチェックが行われる。この復号器７の動作モード（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｃに従って定められる。
【００８７】
リニア変換部１９は、復号器７の出力するＡ則またはμ則で非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換する。復号信号８ａの圧伸則（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｅによりリニア変換部１９に対して通知され、リニア変換部１９は通知された圧伸則に従って直線量子化ＰＣＭ信号への変換を行なう。
【００８８】
加算器２１は、リニア変換部１９の出力する直線量子化ＰＣＭ信号に、所定のオフセット値２０を加算する。このオフセット値２０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、このオフセット値２０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【００８９】
零交差数算出部３０は、加算器２１の出力信号に対して零交差数、すなわち、所定の時間内に加算器２１の出力信号が０レベルと交差する回数を算出する。
【００９０】
比較器３２は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３１よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３１よりも小さい場合には０を出力する。
【００９１】
また、比較器３４は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３３とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３３よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３３よりも小さい場合には０を出力する。ここで、閾値３３の値は、前記閾値３１の値よりも小さいものとする。
【００９２】
判定回路３５は、比較器３２、比較器３４の出力値に基づき、試験対象チャネルの導通の有無を判定する。判定回路３５は、比較器３２の出力値が０であり、かつ比較器３４の出力値が１である場合、試験対象チャネルが導通していると判定し、それ以外の場合、試験対象チャネルが導通していないと判定し、その判定結果１３を出力する。
【００９３】
テストパターン入力時の零交差数算出部３０の出力の期待値は、テストパターンの周期と、零交差数算出における時間窓の長さによって定まる。すなわち、零交差数の期待値Ｐは、テストパターンの周期Ｔ、零交差数算出における時間窓の長さＬより、Ｐ＝２Ｌ／Ｔと求まる。
【００９４】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めるとする。ここで、ΔＰは、試験対象のチャネルが正常に導通している場合の、零交差数算出部３０の出力値の期待値Ｐからの変動の大きさの上限値とする。試験対象のチャネルが導通している場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１よりも小さく閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値が０、比較器３４の出力値が１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していると判定する。
【００９５】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【００９６】
また、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｃのいずれか一方において、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合も、零交差数算出部３０の出力値は試験対象チャネルが導通している場合と異なる値をとるため、比較器３２の出力値が１となるか、あるいは比較器３４の出力値が０となり、その結果、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【００９７】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｃのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。
【００９８】
実施の形態４．
この発明の実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図６は、この発明の実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００９９】
図６において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｄは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１００】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＤからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１０１】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、３１は閾値、３２は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、３６は加算器２１の出力値に対して零交差間隔を算出する零交差間隔算出部である。
【０１０２】
つぎに、前述した実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１０３】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、加算器２１の動作は、前記実施の形態３と同一であるため、説明を省略する。
【０１０４】
零交差間隔算出部３６は、加算器２１の出力信号に対して零交差間隔、すなわち、所定の時間内に加算器２１の出力信号が０レベルと交差する時間間隔を算出する。
【０１０５】
比較器３２は、零交差間隔算出部３６の出力する零交差間隔の値と、所定の閾値３１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差間隔の値が閾値３１よりも大きい場合は１を出力し、零交差間隔の値が閾値３１よりも小さい場合には０を出力する。
【０１０６】
また、比較器３４は、零交差間隔算出部３６の出力する零交差間隔の値と、所定の閾値３３とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差間隔の値が閾値３３よりも大きい場合は１を出力し、零交差間隔の値が閾値３３よりも小さい場合には０を出力する。ここで、閾値３３の値は、前記閾値３１の値よりも小さいものとする。
【０１０７】
判定回路３５は、比較器３２、比較器３４の出力値に基づき、試験対象チャネルの導通の有無を判定する。判定回路３５は、比較器３２の出力値が０であり、かつ比較器３４の出力値が１である場合、試験対象チャネルが導通していると判定し、それ以外の場合、試験対象チャネルが導通していないと判定し、その判定結果１３を出力する。
【０１０８】
テストパターン入力時の零交差間隔算出部３６の出力の期待値Ｐは、テストパターンの周期Ｔの時間の半分、すなわち、Ｐ＝Ｔ／２である。
【０１０９】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めるとする。ここで、ΔＰは、試験対象のチャネルが正常に導通している場合の、零交差間隔算出部３６の出力値の期待値Ｐからの変動の大きさの上限値とする。試験対象のチャネルが導通している場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１よりも小さく閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値が０、比較器３４の出力値が１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していると判定する。
【０１１０】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１１１】
また、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｄのいずれか一方において、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合も、零交差間隔算出部３６の出力値は試験対象チャネルが導通している場合と異なる値をとるため、比較器３２の出力値が１となるか、あるいは比較器３４の出力値が０となり、その結果、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１１２】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｄのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。
【０１１３】
実施の形態５．
この発明の実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図７は、この発明の実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１１４】
図７において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｅは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１１５】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＥからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１１６】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３１は閾値、３２は後述するレベル交差数算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述するレベル交差数算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、３７はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差数を算出するレベル交差数算出部、４９は閾値である。
【０１１７】
つぎに、前述した実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１１８】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、比較器３２、比較器３４、及び判定回路３５の動作は、前記実施の形態３と同一であるため、説明を省略する。
【０１１９】
レベル交差数算出部３７は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差数、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値４９と交差する回数を算出する。この閾値４９としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値４９は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１２０】
上記のように構成すれば、前記実施の形態３においてリニア変換部１９の出力信号に所定のオフセット値２０を加算した後に零交差数を算出したのと同一の動作を、レベル交差数算出部３７においてリニア変換部１９の出力信号が閾値４９と交差する回数を算出することで実現することができる。その結果、加算器の不要なより簡易な構成により、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｅのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果がある。
【０１２１】
実施の形態６．
この発明の実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図８は、この発明の実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１２２】
図８において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｆは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１２３】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＦからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１２４】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３１は閾値、３２は後述するレベル交差間隔算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述するレベル交差間隔算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、３８はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部、５０は閾値である。
【０１２５】
つぎに、前述した実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１２６】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、比較器３２、比較器３４、及び判定回路３５の動作は、前記実施の形態４と同一であるため、説明を省略する。
【０１２７】
レベル交差間隔算出部３８は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差間隔、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値５０と交差する時間間隔を算出する。この閾値５０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値５０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１２８】
上記のように構成すれば、前記実施の形態４においてリニア変換部１９の出力信号に所定のオフセット値２０を加算した後に零交差間隔を算出したのと同一の動作を、レベル交差間隔算出部３８においてリニア変換部１９の出力信号が閾値５０と交差する間隔を算出することで実現することができる。その結果、加算器の不要なより簡易な構成により、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｆのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果がある。
【０１２９】
実施の形態７．
この発明の実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図９は、この発明の実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１３０】
図９において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｇは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１３１】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＧからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１３２】
また、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３０はリニア変換部１９の出力値に対して零交差数を算出する零交差数算出部、３１は閾値、３２は零交差数算出部３０の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は零交差数算出部３０の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４、４２の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路である。
【０１３３】
さらに、同図において、３７はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差数を算出するレベル交差数算出部、３９は零交差数とレベル交差数の差分を算出する減算器、４０は減算器３９の出力値の絶対値を算出する絶対値回路、４１は閾値、４２は絶対値回路４０の出力値と閾値４１とを比較する比較器、４９は閾値である。
【０１３４】
つぎに、前述した実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１３５】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。
【０１３６】
零交差数算出部３０は、リニア変換部１９の出力信号に対して零交差数、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が０レベルと交差する回数を算出する。
【０１３７】
比較器３２は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３１よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３１よりも小さい場合には０を出力する。
【０１３８】
また、比較器３４は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３３とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３３よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３３よりも小さい場合には０を出力する。ここで、閾値３３の値は、前記閾値３１の値よりも小さいものとする。
【０１３９】
一方、レベル交差数算出部３７は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差数、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値４９と交差する回数を算出する。この閾値４９としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値４９は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１４０】
減算器３９は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値から、レベル交差数算出部３７の出力するレベル交差数の値を減じる。絶対値回路４０は、減算器３９の出力値の絶対値を算出する。
【０１４１】
比較器４２は、絶対値回路４０の出力値と、所定の閾値４１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、絶対値回路４０の出力値が閾値４１よりも大きい場合は１を出力し、絶対値回路４０の出力値が閾値４１よりも小さい場合には０を出力する。
【０１４２】
判定回路３５は、比較器３２、比較器３４、及び比較器４２の出力値に基づき、試験対象チャネルの導通の有無を判定し、その判定結果１３を出力する。判定回路３５は、まず比較器３２の出力値が０であり、かつ比較器３４の出力値が１である場合、試験対象チャネルが導通している可能性が高いと判定する。それ以外の場合、試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４３】
判定回路３５は、次に、比較器３２の出力値が０、かつ比較器３４の出力値が１であり、試験対象チャネルが導通している可能性が高いと判定した場合には、比較器４２の出力値にもとづいて、試験対象チャネルが導通しているか否かの詳細な判定を行う。すなわち、比較器４２の出力値が０である場合は、試験対象チャネルが導通していると判定し、比較器４２の出力値が１である場合には、試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４４】
テストパターン入力時の零交差数算出部３０の出力の期待値Ｐは、前記実施の形態３で説明したように、テストパターンの周期Ｔ、零交差数算出における時間窓の長さＬより、Ｐ＝２Ｌ／Ｔと求まる。
【０１４５】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めると、試験対象のチャネルが正常に導通している場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１よりも小さく、閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値は０、比較器３４の出力値は１となる。また、零交差数算出部３０の出力値と、レベル交差数算出部３７の出力値は、ほぼ等しい値をとるため比較器４２の出力値は０となる。したがって、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していると判定する。
【０１４６】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４７】
また、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合、零交差数算出部３０の出力値は、ＰＣＭ圧伸則の設定が正しく試験対象チャネルが導通している場合と同一の値になるが、レベル交差数算出部３７の出力値はこの零交差数算出部３０の出力値と異なる値をとる。したがって、減算器３９の出力に対して絶対値回路４０において算出した絶対値は、閾値４１よりも大きくなるため、比較器４２の出力は１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４８】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｇのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。なお、図９に示した上記実施の形態７の構成において、比較器３２、３４は省略することも可能であり、判定回路３５において、単に比較器４２の出力が０である場合は試験対象チャネルが導通していると判定し、比較器４２の出力が１である場合には試験対象チャネルが導通していないと判定するようにしても良い。
【０１４９】
実施の形態８．
この発明の実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１０は、この発明の実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１５０】
図１０において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｈは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１５１】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＨからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１５２】
また、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３１は閾値、３２は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４、４２の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路である。
【０１５３】
さらに、同図において、３６はリニア変換部１９の出力値に対して零交差間隔を算出する零交差間隔算出部、３８はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部、３９は零交差間隔とレベル交差間隔の差分を算出する減算器、４０は減算器３９の出力値の絶対値を算出する絶対値回路、４１は閾値、４２は絶対値回路４０の出力値と閾値４１とを比較する比較器、５０は閾値である。
【０１５４】
つぎに、前述した実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１５５】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、比較器３２、３４、４２、判定回路３５、減算器３９、及び絶対値回路４０の動作は、前記実施の形態７と同一であるため、説明を省略する。
【０１５６】
零交差間隔算出部３６は、リニア変換部１９の出力信号に対して零交差間隔、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が０レベルと交差する時間間隔を算出する。
【０１５７】
また、レベル交差間隔算出部３８は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差間隔、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値５０と交差する時間間隔を算出する。この閾値５０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値５０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１５８】
テストパターン入力時の零交差間隔算出部３６の出力の期待値Ｐは、前記実施の形態４で説明したように、テストパターンの周期Ｔの時間の半分、すなわち、Ｐ＝Ｔ／２である。
【０１５９】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めると、試験対象のチャネルが正常に導通している場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１よりも小さく閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値は０、比較器３４の出力値は１となる。また、零交差間隔算出部３６の出力値とレベル交差間隔算出部３８の出力値は、ほぼ等しい値をとるため比較器４２の出力値は０となる。したがって、判定回路３５は、試験対象チャネルが導通していると判定する。
【０１６０】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１６１】
また、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合、零交差間隔算出部３６の出力値は、ＰＣＭ圧伸則の設定が正しく試験対象チャネルが導通している場合と同一の値になるが、レベル交差間隔算出部３８の出力値はこの零交差間隔算出部３６の出力値と異なる値をとる。したがって、減算器３９の出力に対して絶対値回路４０において算出した絶対値は、閾値４１よりも大きくなるため、比較器４２の出力は１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１６２】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｈのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。なお、図１０に示した上記実施の形態８の構成において、比較器３２、３４は省略することも可能であり、判定回路３５において、単に比較器４２の出力が０である場合は試験対象チャネルが導通していると判定し、比較器４２の出力が１である場合には試験対象チャネルが導通していないと判定するようにしても良い。
【０１６３】
実施の形態９．
この発明の実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１１は、この発明の実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１６４】
図１１において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｊは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１６５】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＪからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１６６】
また、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、２２は加算器２１の出力信号の符号を抽出する符号抽出部、２３は符号抽出部２２の出力する符号を遅延させる遅延器、２４は符号抽出部２２の出力する符号と遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器、２５は排他的論理和演算器２４の出力が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタ、２６は閾値、２７はカウンタ２５の出力信号と閾値２６とを比較する比較器である。
【０１６７】
さらに、同図において、３５は比較器２７、４６、４８の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、４３はリニア変換部１９の出力信号の信号強度に基づき判定を行う信号強度判定部、４４はリニア変換部１９の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部、４５は閾値、４６は信号強度と閾値４５とを比較する比較器、４７は閾値、４８は信号強度と閾値４７とを比較する比較器である。
【０１６８】
つぎに、前述した実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１６９】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、リニア変換部１９、加算器２１、符号抽出部２２、遅延器２３、排他的論理和演算器２４、カウンタ２５、及び比較器２７の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。
【０１７０】
信号強度判定部４３は、リニア変換部１９の出力信号に対して信号強度を算出し、この信号強度に基づきチャネル導通の有無の判定のための前処理を行う。
【０１７１】
信号強度算出部４４は、リニア変換部１９の出力信号に対して信号強度を算出する。この信号強度の算出方法の具体的な手段としては、例えば、（１）所定時間内のリニア変換部１９の出力信号の振幅値の２乗平均値の算出、（２）所定時間内のリニア変換部１９の出力信号の振幅値の絶対値平均値の算出、（３）所定時間内のリニア変換部１９の出力信号の振幅値の最大値の算出、などの手段がある。
【０１７２】
比較器４６は、信号強度算出部４４の出力する信号強度と、所定の閾値４５とを比較し、その比較結果を出力する。例えば、信号強度が閾値４５よりも大きい場合は１を出力し、信号強度が閾値４５よりも小さい場合は０を出力する。
【０１７３】
また、比較器４８は、信号強度算出部４４の出力する信号強度と、所定の閾値４７とを比較し、その比較結果を出力する。例えば、信号強度が閾値４７よりも大きい場合は１を出力し、信号強度が閾値４７よりも小さい場合は０を出力する。
【０１７４】
ここで、信号強度算出部４４の出力する信号強度の期待値をＰとした場合、前記閾値４５をＰ＋ΔＰ、前記閾値４７をＰ−ΔＰと定めるとする。また、ΔＰは、試験対象のチャネルが正常に導通している場合の、信号強度算出部４４の出力する信号強度の期待値Ｐからの変動の大きさの上限値とする。
【０１７５】
判定回路３５は、比較器２７、比較器４６、比較器４８の各出力値に基づいて、チャネル導通の有無を判定する。この判定回路３５は、比較器２７の出力値が１であり、かつ比較器４６の出力値が０、かつ比較器４８の出力値が１である場合は、試験対象チャネルが導通していると判定する。それ以外の場合には、試験対象チャネルが導通していないと判定し、その判定結果１３を出力する。
【０１７６】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｊのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、精度良く判定することができるという効果がある。
【０１７７】
なお、上記の実施の形態９においては、図１に示した実施の形態１の構成に対して信号強度判定部４３を組み合わせるものとして説明したが、図４ないし図１０（実施の形態２ないし実施の形態８）に示した構成に対して信号強度判定部４３を組み合わせても同様の効果が得られる。
【０１７８】
【発明の効果】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力信号から符号を抽出する符号抽出部と、前記抽出された符号を所定の時間遅延する遅延器と、前記抽出された符号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器と、前記排他的論理和演算器の出力値が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタと、前記カウンタのカウント値と所定の閾値とを比較して判定結果を出力する比較器とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１７９】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記符号抽出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値と第２の所定の閾値とを比較する第２の比較器を有し、前記遅延器が、前記第２の比較器の出力信号を所定の時間遅延し、前記排他的論理和演算器が、前記第２の比較器の出力信号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行うので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８０】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力する第１の比較器と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する第２の比較器と、前記第１及び第２の比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８１】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部の代わりに、前記加算器の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、第２の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８２】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８３】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８４】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部と、前記算出した零交差数及びレベル交差数の差分を算出する減算器と、前記減算器の出力値の絶対値を算出する絶対値回路と、前記絶対値回路の出力値と所定の閾値とを比較して比較結果を出力する比較器と、前記比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８５】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部及び前記レベル交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記減算器が、前記算出した零交差間隔及びレベル交差間隔の差分を算出するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８６】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部と、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とをさらに有するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８７】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部をさらに有し、前記判定回路は、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８８】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記遅延器における所定の時間が、前記入力テストパターンの半周期分の時間の整数倍としたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの動作を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの動作を示す図である。
【図４】この発明の実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図５】この発明の実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図６】この発明の実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図７】この発明の実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図８】この発明の実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図９】この発明の実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１０】この発明の実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１２】従来のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１３】従来の他のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１４】従来の他のチャネルチェックテストシステムの動作を示す図である。
【図１５】従来の他のチャネルチェックテストシステムをＤＣＭＥへ適用した例の構成を示す図である。
【図１６】従来の他のチャネルチェックテストシステムをＤＣＭＥへ適用した例の動作を説明するためのテーブルを示す図である。
【図１７】従来の他のチャネルチェックテストシステムをＤＣＭＥへ適用した例の動作を説明するためのテーブルを示す図である。
【符号の説明】
１ 送信側ＤＣＭＥ、２Ａ、２Ｂ、２Ｃ、２Ｄ、２Ｅ、２Ｆ、２Ｇ、２Ｈ、２Ｊ 受信側ＤＣＭＥ、４ 入力パターン発生器、５ テストパターン挿入回路、６ 符号器、７ 復号器、１９ リニア変換部、２１ 加算器、２２ 符号抽出部、２３ 遅延器、２４ 排他的論理和演算器、２９ 比較器、３０ 零交差数算出部、３６ 零交差間隔算出部、３７ レベル交差数算出部、３８ レベル交差間隔算出部、４３ 信号強度判定部。
【発明の属する技術分野】
この発明は、ディジタル回線多重化装置（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｍｕｌｔｉｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ、以下、「ＤＣＭＥ」と称す。）において、チャネルの導通のチェックを行うチャネルチェックテストシステムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
高能率音声符号化技術やディジタル音声挿入技術を用い、電話による音声通話信号を高能率に圧縮して伝送する装置として、ＤＣＭＥが知られている。このＤＣＭＥにおいては、通話チャネルの導通の有無をチェックする、チャネルチェックテストが行なわれる。
【０００３】
従来のチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１２は、従来のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０００４】
図１２において、１は送信側ＤＣＭＥ、２は受信側ＤＣＭＥである。３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０００５】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２からのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、９はＡ則またはμ則非直線量子化された出力テストパターンを発生する出力パターン発生器、９ａはＡ則非直線量子化された出力テストパターンデータを蓄積するＡ則出力パターンデータメモリ、９ｂはμ則非直線量子化された出力テストパターンデータを蓄積するμ則出力パターンデータメモリ、９ｃはセレクタ、１０は復号信号８ａと出力テストパターンを比較する比較器、１１は復号信号８ａと出力テストパターンの一致ビット数をカウントするカウンタ、１２はカウンタ１１の出力に基づきチャネルの導通の有無を判定する判定回路、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｄは圧伸則設定信号である。
【０００６】
つぎに、前述した従来のチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０００７】
まず、試験対象でない運用中のチャネル、すなわち音声通話信号を伝送するチャネルに対する動作について説明する。
【０００８】
送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３は、テストパターン挿入回路５において、入力テストパターンの挿入を受けずに符号器６に与えられて高能率音声符号化され、符号器６の出力データが受信側ＤＣＭＥ２に対して出力される。
【０００９】
入力信号３は、ＩＴＵ勧告Ｇ．７１１において規定されたＡ則またはμ則で非直線量子化されたＰＣＭ信号である。入力信号３の非直線量子化の圧伸則がＡ則の場合は、符号器６の動作モードをＡ則とし、入力信号３の圧伸則がμ則の場合には、符号器６の動作モードをμ則とするよう、圧伸則設定信号１４ｂが与えられる。
【００１０】
受信側ＤＣＭＥ２においては、受信した符号器６の出力データを復号器７において復号し、受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂとして出力する。受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂもＡ則またはμ則で非直線量子化されたＰＣＭ信号である。受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂが所定の圧伸則（Ａ則またはμ則）となるように、圧伸則設定信号１４ｃを与え、復号器７の動作モードを設定する。
【００１１】
次に、試験対象のチャネルに対する動作を説明する。
【００１２】
入力パターン発生器４は、チャネルチェック用の入力テストパターンを発生し、テストパターン挿入回路５は、送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３ではなく、この入力テストパターンを符号器６に対して出力する。符号器６は、入力テストパターンを高能率音声符号化して、符号器６の出力データを受信側ＤＣＭＥ２に対して出力する。
【００１３】
入力パターン発生器４の出力する入力テストパターンの圧伸則は、符号器６の圧伸則と合わせる必要がある。そのため、Ａ則入力パターンデータメモリ４ａの出力データと、μ則入力パターンデータメモリ４ｂの出力データのいずれかを、セレクタ４ｃにおいて圧伸則設定信号１４ａに従って選択し、これを入力パターン発生器４の出力信号とする。
【００１４】
受信側ＤＣＭＥ２においては、受信した符号器６の出力データを復号器７において復号する。この復号器７の出力する復号信号８ａは、比較器１０において出力パターン発生器９の出力信号とビットごとに比較される。出力パターン発生器９の出力データは、入力パターン発生器４の出力信号を符号化した後、再度復号した際に得られる復号信号の期待されるパターンである。
【００１５】
出力パターン発生器９の出力する出力テストパターンの圧伸則は、復号器７の圧伸則と合わせる必要がある。そのため、Ａ則出力パターンデータメモリ９ａ、μ則出力パターンデータメモリ９ｂの出力データのいずれかを、セレクタ９ｃにおいて圧伸則設定信号１４ｄに従って選択し、これを出力パターン発生器９の出力信号とする。
【００１６】
カウンタ１１は、比較器１０の出力するビットごとの比較結果を入力し、所定時間内の不一致ビット数をカウントする。判定回路１２は、カウンタ１１の出力する不一致ビット数のカウント値を入力し、カウント値が所定の値を越える場合、試験対象のチャネルが導通していないと判定し、カウント値が所定の値を越えない場合、試験対象のチャネルが導通していると判定して、その判定結果１３を出力する。
【００１７】
上記のように構成されたチャネルチェックテストシステムにおいては、ＤＣＭＥにおいて複数の符号化方式（例えばＩＴＵ勧告Ｇ．７２６、Ｇ．７２８、Ｇ．７２９等に規定された符号化方式）をサポートしている場合、符号化方式に応じて入力テストパターン、出力テストパターンを別々に設けるという方法が考えられるが、このように符号化方式に応じてそれぞれ入力テストパターン、出力テストパターンを設けると、チャネルチェックテストシステムの回路規模が大きくなるという課題がある。
【００１８】
符号化方式にかかわらず共通に用いることができ、簡易な構成でチャネルチェックテストを行なう方法としては、入力テストパターンとしてトーン信号を用い、受信側ＤＣＭＥ２内の復号器７の出力の符号ビットに着目する方式が考えられる。
【００１９】
図１３は、例えば特開平７−１３１８３２号公報に示された従来の他のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００２０】
図１３において、１００は周波数情報検出部、１０１は符号ビット、１０２は符号ビット１０１を入力ディジタルトーン信号の約半周期のデータ分だけ遅延する遅延回路、１０３は符号ビット１０１と遅延回路１０２の出力とを入力して排他的論理和を算出する排他的論理和回路、１０４は排他的論理和回路１０３の出力の加算するデータ数を決定する不一致数積分周期計数器、１０５は不一致数積分周期計数器１０４で決定されるデータ数分の排他的論理和回路１０３の出力を加算積分する不一致数加算積分器、１０６は不一致数加算積分器１０５の出力に応じて入力ディジタルトーン信号の周波数についての合否を判定する不一致数比較器である。
【００２１】
次に、従来の他のチャネルチェックテストシステムの動作を説明する。
【００２２】
正常なディジタルトーン信号であれば、符号ビット１０１は半周期ごとに「０」連続と「１」連続とを繰り返す。周波数情報検出部１００は、この「０」連続と「１」連続との繰り返しを次のように検出する。すなわち、符号ビット１０１は遅延回路１０２で半周期遅延され、符号ビット１０１と遅延回路１０２の出力は排他的論理和回路１０３に入力され、排他的論理和回路１０３は符号ビット１０１と遅延回路１０２の出力との排他的論理和を求める。
【００２３】
すると、排他的論理和回路１０３の出力は、図１４の（ｅ）の符号１１４に示すように、正常なディジタルトーン信号の場合は全て「１」となる。この排他的論理和回路１０３の出力を不一致数積分周期計数器１０４で指定するデータ数分だけ不一致数加算積分器１０５により加算する。なお、不一致数加算積分器１０５の出力は、符号ビット１０１の半周期毎の「０」連続と「１」連続との繰り返しの度合いに対応している。それから、不一致数比較器１０６により不一致数加算積分器１０５の出力を検査することで周波数の検査を実施する。
【００２４】
従来の他のチャネルチェックシステムは上記のように構成されているので、符号ビットの周期的な繰り返しの検出により、簡易な構成でチャネルの導通をチェックすることができる。
【００２５】
【発明が解決しようとする課題】
上述した図１３の構成による従来の他のチャネルチェックシステムをＤＣＭＥに適用する場合、以下のような課題があった。
【００２６】
図１５は、図１３の構成による従来の他のチャネルチェックテストシステムのＤＣＭＥへの適用例を示す構成図である。
【００２７】
図１５において、送信側ＤＣＭＥ１内の動作は、図１２の構成において説明した送信側ＤＣＭＥ１内の動作と同一である。一方、受信側ＤＣＭＥ２では、復号器７からのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号は、符号抽出部１０８に与えられ、符号ビット１０１が抽出される。符号ビット１０１は周波数情報検出部１００に入力され、符号ビット１０１の周期的な繰り返しの検出により、チャネルの導通の有無が判定される。この周波数情報検出部１００の動作の詳細は、図１３の構成において説明したものと同一である。
【００２８】
図１５において、例えば、送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３の圧伸則、受信側ＤＣＭＥ２からの出力信号８ｂの圧伸則が両方ともμ則である場合の動作を考察する。この場合、送信側ＤＣＭＥ１内の符号器６、受信側ＤＣＭＥ２内の復号器７はμ則で動作させる必要があるが、ここで、圧伸則設定信号１４ｃの誤りにより、復号器７がＡ則で誤って動作したと仮定する。
【００２９】
入力テストパターンとして、図１６のテーブルに示すような信号列を用いるとする。図１６のテーブルに示す信号列は、周波数５００Ｈｚ、信号レベル３ｄＢｍ０のトーン信号（標本化周波数８ｋＨｚの場合）である。
【００３０】
説明を簡単にするため、符号化、復号による信号波形の劣化の影響を無視すると、符号器６、復号器７とも正しくμ則で動作するように設定されていれば、復号器７の出力する復号信号８ａのパターンは、図１６のテーブルに示した入力テストパターンと同一となる筈である。しかし、圧伸則設定信号１４ｃの誤りにより、復号器７がＡ則で誤って動作した場合、復号器７の出力する復号信号８ａのパターンは、図１７のテーブルに示す値となってしまう。
【００３１】
図１６のテーブルに示す信号列と、図１７のテーブルに示す信号列は異なっているが、符号ビットだけに着目すると、図１６のテーブルの信号列の符号ビットと、図１７のテーブルに示す信号列の符号ビットの周期性は同一である。また、符号ビットの周期的な繰り返しの検出によりチャネルの導通の有無を判定する周波数情報検出部１００は、復号器７の圧伸則の設定の誤りがあった場合に、本来チャネルが導通していないと判定すべきであるにもかかわらず、チャネルが導通していると判定してしまうという問題点があった。
【００３２】
上記の説明においては、復号器７の圧伸則の設定が誤った場合の動作について説明したが、符号器６の圧伸則の設定が誤った場合の動作も同様の問題点があった。
【００３３】
この発明は、前述した問題点を解決するためになされたもので、ＤＣＭＥに適用し得る、圧伸則（Ａ則／μ則）の設定の誤りを含めて検出可能で、簡易な構成で実現できるチャネルチェックテストシステムを得ることを目的とする。
【００３４】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力信号から符号を抽出する符号抽出部と、前記抽出された符号を所定の時間遅延する遅延器と、前記抽出された符号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器と、前記排他的論理和演算器の出力値が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタと、前記カウンタのカウント値と所定の閾値とを比較して判定結果を出力する比較器とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたものである。
【００３５】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記符号抽出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値と第２の所定の閾値とを比較する第２の比較器を有し、前記遅延器が、前記第２の比較器の出力信号を所定の時間遅延し、前記排他的論理和演算器が、前記第２の比較器の出力信号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行うものである。
【００３６】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力する第１の比較器と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する第２の比較器と、前記第１及び第２の比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたものである。
【００３７】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部の代わりに、前記加算器の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、第２の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するものである。
【００３８】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するものである。
【００３９】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するものである。
【００４０】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部と、前記算出した零交差数及びレベル交差数の差分を算出する減算器と、前記減算器の出力値の絶対値を算出する絶対値回路と、前記絶対値回路の出力値と所定の閾値とを比較して比較結果を出力する比較器と、前記比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたものである。
【００４１】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部及び前記レベル交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記減算器が、前記算出した零交差間隔及びレベル交差間隔の差分を算出するものである。
【００４２】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部と、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とをさらに有するものである。
【００４３】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部をさらに有し、前記判定回路は、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定するものである。
【００４４】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、前記遅延器における所定の時間が、前記入力テストパターンの半周期分の時間の整数倍としたものである。
【００４５】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１は、この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
【００４６】
図１において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ａは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【００４７】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＡからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【００４８】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、２２は加算器２１の出力信号の符号を抽出する符号抽出部、２３は符号抽出部２２の出力する符号を遅延させる遅延器、２４は符号抽出部２２の出力する符号と遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器、２５は排他的論理和演算器２４の出力が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタ、２６は閾値、２７はカウンタ２５の出力信号と閾値２６とを比較する比較器である。
【００４９】
つぎに、前述した実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。まず、送信側ＤＣＭＥ１内の動作を説明する。
【００５０】
入力パターン発生器４は、チャネルチェック用の入力テストパターン、例えばトーン信号を発生する。このテストパターンの周期は、送信側ＤＣＭＥ１に入力される信号のサンプリング周期の整数倍であることが望ましい。
【００５１】
入力パターン発生器４の出力する入力テストパターンの圧伸則（Ａ則、またはμ則）は、試験対象のチャネルの符号器６の圧伸則と合わせる必要がある。また、Ａ則入力パターンデータメモリ４ａの出力データと、μ則入力パターンデータメモリ４ｂの出力データのいずれかを、セレクタ４ｃにおいて圧伸則設定信号１４ａに従って選択し、これを入力パターン発生器４の出力信号とする。
【００５２】
この入力パターン発生器４の出力する入力テストパターンは、テストパターン挿入回路５に入力される。テストパターン挿入回路５は、試験対象のチャネルに対しては入力パターン発生器４の出力するチャネルチェック用の入力テストパターンを挿入して出力し、一方、試験対象でない運用中のチャネルに対しては、送信側ＤＣＭＥ１への入力信号３をそのまま出力する。
【００５３】
符号器６は、テストパターン挿入回路５の出力信号を、例えばＩＴＵ勧告Ｇ．７２６、Ｇ．７２８、Ｇ．７２９等に規定された符号化方式を用いて高能率符号化し、符号化された信号を受信側ＤＣＭＥ２Ａに対して出力する。この符号器６の動作モード（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｂに従って定められる。
【００５４】
つづいて、受信側ＤＣＭＥ２Ａ内の動作を説明する。
【００５５】
復号器７は、送信側ＤＣＭＥ１から送られて来た符号化された信号を復号する。この復号器７の出力する復号信号８ａを受信側ＤＣＭＥ２Ａからの出力信号８ｂとするとともに、受信側ＤＣＭＥ２Ａ内において、この復号信号８ａに基づいて試験対象のチャネルの導通のチェックが行われる。この復号器７の動作モード（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｃに従って定められる。
【００５６】
リニア変換部１９は、復号器７の出力するＡ則またはμ則で非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換する。復号信号８ａの圧伸則（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｅによりリニア変換部１９に対して通知され、リニア変換部１９は通知された圧伸則に従って直線量子化ＰＣＭ信号への変換を行なう。
【００５７】
加算器２１は、リニア変換部１９の出力する直線量子化ＰＣＭ信号に、所定のオフセット値２０を加算する。このオフセット値２０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、このオフセット値２０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【００５８】
符号抽出部２２は、加算器２１の出力信号に対し符号を抽出し、符号が正の場合は０を出力し、符号が負の場合は１を出力する。
【００５９】
この符号抽出部２２の出力する符号は、遅延器２３において所定の時間だけ遅延させられる。この遅延器２３における遅延時間は、テストパターンの半周期分の時間の整数倍とする必要があるが、遅延器２３のハードウェア規模を小さくするという観点から、通常は、この遅延器２３における遅延時間を、テストパターンの半周期分の時間に等しい値とする。
【００６０】
以下、遅延器２３における遅延時間を、テストパターンの半周期分の時間の奇数倍の値とした場合の動作について説明する。
【００６１】
排他的論理和演算器２４は、符号抽出部２２の出力する符号と、遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行い、その演算結果を出力する。すなわち、排他的論理和演算器２４は、符号抽出部２２の出力する符号と、遅延器２３の出力信号が同一の値である場合は０を出力し、符号抽出部２２の出力する符号と、遅延器２３の出力信号が異なる値である場合は１を出力する。
【００６２】
カウンタ２５は、チャネルチェックテストの開始後の一定時間中、排他的論理和演算器２４の出力が所定の値、たとえば１と一致する回数をカウントする。
【００６３】
図２は、この実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムにおいて、試験対象のチャネルが導通している場合の各部の動作の一例を示す図である。
【００６４】
図２において、（ｄ）に示す符号抽出部２２の出力する符号と、これをテストパターンの半周期分の時間だけ遅延させた遅延器２３の出力信号（（ｅ）に示す）は異なる値をとるため、排他的論理和演算器２４の出力値は１となる。したがって、カウンタ２５の出力値は大きい値となる。
【００６５】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、符号抽出部２２の出力する符号と、これをテストパターンの半周期分の時間だけ遅延させた遅延器２３の出力信号は常に異なる値となるとは限らないため、排他的論理和演算器２４の出力値は０になったり１になったりする。したがって、カウンタ２５の出力値は試験対象のチャネルが導通している場合と比較して小さい値となる。
【００６６】
また、図３は、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ａのいずれか一方において、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合の各部の動作の一例を示す図である。
【００６７】
図３において、加算器２１においてリニア変換部１９の出力値に対し所定のオフセット値２０を加算した後に、符号抽出部２２において符号を抽出しているため、（ｄ）に示す符号抽出部２２の出力する符号と、これをテストパターンの周期の半周期分の時間だけ遅延させた遅延器２３の出力信号（（ｅ）に示す）は常に異なる値となるとは限らない。そのため、排他的論理和演算器２４の出力値は、０になったり１になったりする。したがって、カウンタ２５の出力値は試験対象のチャネルが導通している場合と比較して小さい値となる。
【００６８】
比較器２７は、カウンタ２５の出力値と所定の閾値２６とを比較し、カウンタ２５の出力値が閾値２６よりも大きい場合、試験対象のチャネルが導通していると判定して、判定結果１３として１を出力する。一方、カウンタ２５の出力値が閾値２６よりも小さい場合、試験対象のチャネルが導通していないと判定し、判定結果１３として０を出力する。
【００６９】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ａのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。
【００７０】
なお、上記の実施の形態１においては、テストパターンとしてトーン信号を用いるものとして説明したが、トーン信号に限らず周期性のある信号を用いれば良い。
【００７１】
また、上記の実施の形態１においては、遅延器２３における遅延時間をテストパターンの半周期分の時間の奇数倍の値としていたため、カウンタ２５において排他的論理和演算器２４の出力が１と一致する回数をカウントし、比較器２７においてカウンタ２５の出力値が閾値２６よりも大きい場合、試験対象のチャネルが導通していると判定するようにしていた。しかしながら、この遅延時間をテストパターンの半周期分の時間の偶数倍の値（すなわち、テストパターンの周期の整数倍）とする場合は、カウンタ２５において排他的論理和演算器２４の出力が０と一致する回数をカウントし、比較器２７においてカウンタ２５の出力値が閾値２６よりも大きい場合、試験対象のチャネルが導通していると判定するようにすれば良い。
【００７２】
実施の形態２．
この発明の実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図４は、この発明の実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００７３】
図４において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｂは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【００７４】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＢからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【００７５】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２３は後述する比較器の出力信号を遅延させる遅延器、２４は後述する比較器の出力信号と遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器、２５は排他的論理和演算器２４の出力が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタ、２６は閾値、２７はカウンタ２５の出力信号と閾値２６とを比較する比較器、２８は閾値、２９はリニア変換部１９の出力信号と閾値２８とを比較する比較器である。
【００７６】
つぎに、前述した実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【００７７】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、リニア変換部１９、遅延器２３、排他的論理和演算器２４、カウンタ２５、及び比較器２７の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。
【００７８】
比較器２９は、リニア変換部１９の出力信号と所定の閾値２８とを比較し、その比較結果を出力する。例えば、リニア変換部１９の出力信号が閾値２８よりも大きい場合は０を出力し、リニア変換部１９の出力信号が閾値２８よりも小さい場合は１を出力する。この閾値２８としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値２８は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【００７９】
上記のように構成すれば、前記実施の形態１においてリニア変換部１９の出力信号に所定のオフセット値２０を加算した後に符号を抽出したのと同一の動作を、比較器２９においてリニア変換部１９の出力信号と閾値２８と比較することで実現することができる。その結果、加算器の不要なより簡易な構成により、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｂのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果がある。
【００８０】
実施の形態３．
この発明の実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図５は、この発明の実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００８１】
図５において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｃは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【００８２】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＣからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【００８３】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、３０は加算器２１の出力値に対して零交差数を算出する零交差数算出部、３１は閾値、３２は零交差数算出部３０の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は零交差数算出部３０の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路である。
【００８４】
つぎに、前述した実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【００８５】
送信側ＤＣＭＥ１の動作は、前記実施の形態１と同一であるため説明を省略する。次に、受信側ＤＣＭＥ２Ｃ内の動作を説明する。
【００８６】
復号器７は、送信側ＤＣＭＥ１から送られて来た符号化された信号を復号する。この復号器７の出力する復号信号８ａを受信側ＤＣＭＥ２Ｃからの出力信号８ｂとするとともに、受信側ＤＣＭＥ２Ｃ内において、この復号信号８ａに基づいて試験対象のチャネルの導通のチェックが行われる。この復号器７の動作モード（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｃに従って定められる。
【００８７】
リニア変換部１９は、復号器７の出力するＡ則またはμ則で非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換する。復号信号８ａの圧伸則（Ａ則、またはμ則）は、圧伸則設定信号１４ｅによりリニア変換部１９に対して通知され、リニア変換部１９は通知された圧伸則に従って直線量子化ＰＣＭ信号への変換を行なう。
【００８８】
加算器２１は、リニア変換部１９の出力する直線量子化ＰＣＭ信号に、所定のオフセット値２０を加算する。このオフセット値２０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、このオフセット値２０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【００８９】
零交差数算出部３０は、加算器２１の出力信号に対して零交差数、すなわち、所定の時間内に加算器２１の出力信号が０レベルと交差する回数を算出する。
【００９０】
比較器３２は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３１よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３１よりも小さい場合には０を出力する。
【００９１】
また、比較器３４は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３３とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３３よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３３よりも小さい場合には０を出力する。ここで、閾値３３の値は、前記閾値３１の値よりも小さいものとする。
【００９２】
判定回路３５は、比較器３２、比較器３４の出力値に基づき、試験対象チャネルの導通の有無を判定する。判定回路３５は、比較器３２の出力値が０であり、かつ比較器３４の出力値が１である場合、試験対象チャネルが導通していると判定し、それ以外の場合、試験対象チャネルが導通していないと判定し、その判定結果１３を出力する。
【００９３】
テストパターン入力時の零交差数算出部３０の出力の期待値は、テストパターンの周期と、零交差数算出における時間窓の長さによって定まる。すなわち、零交差数の期待値Ｐは、テストパターンの周期Ｔ、零交差数算出における時間窓の長さＬより、Ｐ＝２Ｌ／Ｔと求まる。
【００９４】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めるとする。ここで、ΔＰは、試験対象のチャネルが正常に導通している場合の、零交差数算出部３０の出力値の期待値Ｐからの変動の大きさの上限値とする。試験対象のチャネルが導通している場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１よりも小さく閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値が０、比較器３４の出力値が１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していると判定する。
【００９５】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【００９６】
また、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｃのいずれか一方において、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合も、零交差数算出部３０の出力値は試験対象チャネルが導通している場合と異なる値をとるため、比較器３２の出力値が１となるか、あるいは比較器３４の出力値が０となり、その結果、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【００９７】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｃのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。
【００９８】
実施の形態４．
この発明の実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図６は、この発明の実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【００９９】
図６において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｄは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１００】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＤからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１０１】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、３１は閾値、３２は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、３６は加算器２１の出力値に対して零交差間隔を算出する零交差間隔算出部である。
【０１０２】
つぎに、前述した実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１０３】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、加算器２１の動作は、前記実施の形態３と同一であるため、説明を省略する。
【０１０４】
零交差間隔算出部３６は、加算器２１の出力信号に対して零交差間隔、すなわち、所定の時間内に加算器２１の出力信号が０レベルと交差する時間間隔を算出する。
【０１０５】
比較器３２は、零交差間隔算出部３６の出力する零交差間隔の値と、所定の閾値３１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差間隔の値が閾値３１よりも大きい場合は１を出力し、零交差間隔の値が閾値３１よりも小さい場合には０を出力する。
【０１０６】
また、比較器３４は、零交差間隔算出部３６の出力する零交差間隔の値と、所定の閾値３３とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差間隔の値が閾値３３よりも大きい場合は１を出力し、零交差間隔の値が閾値３３よりも小さい場合には０を出力する。ここで、閾値３３の値は、前記閾値３１の値よりも小さいものとする。
【０１０７】
判定回路３５は、比較器３２、比較器３４の出力値に基づき、試験対象チャネルの導通の有無を判定する。判定回路３５は、比較器３２の出力値が０であり、かつ比較器３４の出力値が１である場合、試験対象チャネルが導通していると判定し、それ以外の場合、試験対象チャネルが導通していないと判定し、その判定結果１３を出力する。
【０１０８】
テストパターン入力時の零交差間隔算出部３６の出力の期待値Ｐは、テストパターンの周期Ｔの時間の半分、すなわち、Ｐ＝Ｔ／２である。
【０１０９】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めるとする。ここで、ΔＰは、試験対象のチャネルが正常に導通している場合の、零交差間隔算出部３６の出力値の期待値Ｐからの変動の大きさの上限値とする。試験対象のチャネルが導通している場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１よりも小さく閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値が０、比較器３４の出力値が１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していると判定する。
【０１１０】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１１１】
また、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｄのいずれか一方において、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合も、零交差間隔算出部３６の出力値は試験対象チャネルが導通している場合と異なる値をとるため、比較器３２の出力値が１となるか、あるいは比較器３４の出力値が０となり、その結果、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１１２】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｄのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。
【０１１３】
実施の形態５．
この発明の実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図７は、この発明の実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１１４】
図７において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｅは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１１５】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＥからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１１６】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３１は閾値、３２は後述するレベル交差数算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述するレベル交差数算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、３７はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差数を算出するレベル交差数算出部、４９は閾値である。
【０１１７】
つぎに、前述した実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１１８】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、比較器３２、比較器３４、及び判定回路３５の動作は、前記実施の形態３と同一であるため、説明を省略する。
【０１１９】
レベル交差数算出部３７は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差数、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値４９と交差する回数を算出する。この閾値４９としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値４９は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１２０】
上記のように構成すれば、前記実施の形態３においてリニア変換部１９の出力信号に所定のオフセット値２０を加算した後に零交差数を算出したのと同一の動作を、レベル交差数算出部３７においてリニア変換部１９の出力信号が閾値４９と交差する回数を算出することで実現することができる。その結果、加算器の不要なより簡易な構成により、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｅのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果がある。
【０１２１】
実施の形態６．
この発明の実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図８は、この発明の実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１２２】
図８において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｆは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１２３】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＦからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１２４】
さらに、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３１は閾値、３２は後述するレベル交差間隔算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述するレベル交差間隔算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、３８はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部、５０は閾値である。
【０１２５】
つぎに、前述した実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１２６】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、比較器３２、比較器３４、及び判定回路３５の動作は、前記実施の形態４と同一であるため、説明を省略する。
【０１２７】
レベル交差間隔算出部３８は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差間隔、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値５０と交差する時間間隔を算出する。この閾値５０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値５０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１２８】
上記のように構成すれば、前記実施の形態４においてリニア変換部１９の出力信号に所定のオフセット値２０を加算した後に零交差間隔を算出したのと同一の動作を、レベル交差間隔算出部３８においてリニア変換部１９の出力信号が閾値５０と交差する間隔を算出することで実現することができる。その結果、加算器の不要なより簡易な構成により、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｆのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果がある。
【０１２９】
実施の形態７．
この発明の実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図９は、この発明の実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１３０】
図９において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｇは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１３１】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＧからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１３２】
また、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３０はリニア変換部１９の出力値に対して零交差数を算出する零交差数算出部、３１は閾値、３２は零交差数算出部３０の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は零交差数算出部３０の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４、４２の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路である。
【０１３３】
さらに、同図において、３７はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差数を算出するレベル交差数算出部、３９は零交差数とレベル交差数の差分を算出する減算器、４０は減算器３９の出力値の絶対値を算出する絶対値回路、４１は閾値、４２は絶対値回路４０の出力値と閾値４１とを比較する比較器、４９は閾値である。
【０１３４】
つぎに、前述した実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１３５】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。
【０１３６】
零交差数算出部３０は、リニア変換部１９の出力信号に対して零交差数、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が０レベルと交差する回数を算出する。
【０１３７】
比較器３２は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３１よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３１よりも小さい場合には０を出力する。
【０１３８】
また、比較器３４は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値と、所定の閾値３３とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、零交差数の値が閾値３３よりも大きい場合は１を出力し、零交差数の値が閾値３３よりも小さい場合には０を出力する。ここで、閾値３３の値は、前記閾値３１の値よりも小さいものとする。
【０１３９】
一方、レベル交差数算出部３７は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差数、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値４９と交差する回数を算出する。この閾値４９としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値４９は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１４０】
減算器３９は、零交差数算出部３０の出力する零交差数の値から、レベル交差数算出部３７の出力するレベル交差数の値を減じる。絶対値回路４０は、減算器３９の出力値の絶対値を算出する。
【０１４１】
比較器４２は、絶対値回路４０の出力値と、所定の閾値４１とを比較し、比較結果を出力する。すなわち、絶対値回路４０の出力値が閾値４１よりも大きい場合は１を出力し、絶対値回路４０の出力値が閾値４１よりも小さい場合には０を出力する。
【０１４２】
判定回路３５は、比較器３２、比較器３４、及び比較器４２の出力値に基づき、試験対象チャネルの導通の有無を判定し、その判定結果１３を出力する。判定回路３５は、まず比較器３２の出力値が０であり、かつ比較器３４の出力値が１である場合、試験対象チャネルが導通している可能性が高いと判定する。それ以外の場合、試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４３】
判定回路３５は、次に、比較器３２の出力値が０、かつ比較器３４の出力値が１であり、試験対象チャネルが導通している可能性が高いと判定した場合には、比較器４２の出力値にもとづいて、試験対象チャネルが導通しているか否かの詳細な判定を行う。すなわち、比較器４２の出力値が０である場合は、試験対象チャネルが導通していると判定し、比較器４２の出力値が１である場合には、試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４４】
テストパターン入力時の零交差数算出部３０の出力の期待値Ｐは、前記実施の形態３で説明したように、テストパターンの周期Ｔ、零交差数算出における時間窓の長さＬより、Ｐ＝２Ｌ／Ｔと求まる。
【０１４５】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めると、試験対象のチャネルが正常に導通している場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１よりも小さく、閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値は０、比較器３４の出力値は１となる。また、零交差数算出部３０の出力値と、レベル交差数算出部３７の出力値は、ほぼ等しい値をとるため比較器４２の出力値は０となる。したがって、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していると判定する。
【０１４６】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差数算出部３０の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４７】
また、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合、零交差数算出部３０の出力値は、ＰＣＭ圧伸則の設定が正しく試験対象チャネルが導通している場合と同一の値になるが、レベル交差数算出部３７の出力値はこの零交差数算出部３０の出力値と異なる値をとる。したがって、減算器３９の出力に対して絶対値回路４０において算出した絶対値は、閾値４１よりも大きくなるため、比較器４２の出力は１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１４８】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｇのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。なお、図９に示した上記実施の形態７の構成において、比較器３２、３４は省略することも可能であり、判定回路３５において、単に比較器４２の出力が０である場合は試験対象チャネルが導通していると判定し、比較器４２の出力が１である場合には試験対象チャネルが導通していないと判定するようにしても良い。
【０１４９】
実施の形態８．
この発明の実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１０は、この発明の実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１５０】
図１０において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｈは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１５１】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＨからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１５２】
また、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、３１は閾値、３２は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３１とを比較する比較器、３３は閾値、３４は後述する零交差間隔算出部の出力値と閾値３３とを比較する比較器、３５は比較器３２、３４、４２の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路である。
【０１５３】
さらに、同図において、３６はリニア変換部１９の出力値に対して零交差間隔を算出する零交差間隔算出部、３８はリニア変換部１９の出力値に対してレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部、３９は零交差間隔とレベル交差間隔の差分を算出する減算器、４０は減算器３９の出力値の絶対値を算出する絶対値回路、４１は閾値、４２は絶対値回路４０の出力値と閾値４１とを比較する比較器、５０は閾値である。
【０１５４】
つぎに、前述した実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１５５】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、及びリニア変換部１９の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。また、比較器３２、３４、４２、判定回路３５、減算器３９、及び絶対値回路４０の動作は、前記実施の形態７と同一であるため、説明を省略する。
【０１５６】
零交差間隔算出部３６は、リニア変換部１９の出力信号に対して零交差間隔、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が０レベルと交差する時間間隔を算出する。
【０１５７】
また、レベル交差間隔算出部３８は、リニア変換部１９の出力信号に対してレベル交差間隔、すなわち、所定の時間内にリニア変換部１９の出力信号が閾値５０と交差する時間間隔を算出する。この閾値５０としては、テストパターンの振幅の範囲内の０以外の値を選ぶ必要がある。また、この閾値５０は、正の値であっても負の値であっても構わない。
【０１５８】
テストパターン入力時の零交差間隔算出部３６の出力の期待値Ｐは、前記実施の形態４で説明したように、テストパターンの周期Ｔの時間の半分、すなわち、Ｐ＝Ｔ／２である。
【０１５９】
前記閾値３１をＰ＋ΔＰ、前記閾値３３をＰ−ΔＰと定めると、試験対象のチャネルが正常に導通している場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１よりも小さく閾値３３よりも大きい値となるため、比較器３２の出力値は０、比較器３４の出力値は１となる。また、零交差間隔算出部３６の出力値とレベル交差間隔算出部３８の出力値は、ほぼ等しい値をとるため比較器４２の出力値は０となる。したがって、判定回路３５は、試験対象チャネルが導通していると判定する。
【０１６０】
一方、試験対象のチャネルが導通していない場合、零交差間隔算出部３６の出力値は閾値３１から閾値３３までの間の値をとらないため、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１６１】
また、ＰＣＭ圧伸則の設定が間違っていた場合、零交差間隔算出部３６の出力値は、ＰＣＭ圧伸則の設定が正しく試験対象チャネルが導通している場合と同一の値になるが、レベル交差間隔算出部３８の出力値はこの零交差間隔算出部３６の出力値と異なる値をとる。したがって、減算器３９の出力に対して絶対値回路４０において算出した絶対値は、閾値４１よりも大きくなるため、比較器４２の出力は１となり、判定回路３５は試験対象チャネルが導通していないと判定する。
【０１６２】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｈのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、簡易にチェックすることができるという効果がある。なお、図１０に示した上記実施の形態８の構成において、比較器３２、３４は省略することも可能であり、判定回路３５において、単に比較器４２の出力が０である場合は試験対象チャネルが導通していると判定し、比較器４２の出力が１である場合には試験対象チャネルが導通していないと判定するようにしても良い。
【０１６３】
実施の形態９．
この発明の実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムについて図面を参照しながら説明する。図１１は、この発明の実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【０１６４】
図１１において、１は送信側ＤＣＭＥ、２Ｊは受信側ＤＣＭＥ、３は送信側ＤＣＭＥ１へのＡ則またはμ則非直線量子化された入力信号、４はＡ則またはμ則非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器、４ａはＡ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するＡ則入力パターンデータメモリ、４ｂはμ則非直線量子化された入力テストパターンデータを蓄積するμ則入力パターンデータメモリ、４ｃはセレクタ、５は入力パターン発生器４の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路、６はテストパターン挿入回路５の出力信号を高能率符号化する符号器である。
【０１６５】
また、同図において、７は符号化された信号を復号する復号器、８ａは復号器７の出力するＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号、８ｂは受信側ＤＣＭＥ２ＪからのＡ則またはμ則非直線量子化された出力信号、１３は判定結果、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、及び１４ｅは圧伸則設定信号である。
【０１６６】
また、同図において、１９はＡ則またはμ則非直線量子化された復号信号８ａを直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部、２０はオフセット値、２１はリニア変換部１９の出力値にオフセット値２０を加算する加算器、２２は加算器２１の出力信号の符号を抽出する符号抽出部、２３は符号抽出部２２の出力する符号を遅延させる遅延器、２４は符号抽出部２２の出力する符号と遅延器２３の出力信号の排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器、２５は排他的論理和演算器２４の出力が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタ、２６は閾値、２７はカウンタ２５の出力信号と閾値２６とを比較する比較器である。
【０１６７】
さらに、同図において、３５は比較器２７、４６、４８の出力値に基づきチャネル導通の有無を判定する判定回路、４３はリニア変換部１９の出力信号の信号強度に基づき判定を行う信号強度判定部、４４はリニア変換部１９の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部、４５は閾値、４６は信号強度と閾値４５とを比較する比較器、４７は閾値、４８は信号強度と閾値４７とを比較する比較器である。
【０１６８】
つぎに、前述した実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムの動作について図面を参照しながら説明する。
【０１６９】
入力パターン発生器４、テストパターン挿入回路５、符号器６、復号器７、リニア変換部１９、加算器２１、符号抽出部２２、遅延器２３、排他的論理和演算器２４、カウンタ２５、及び比較器２７の動作は、前記実施の形態１と同一であるため、説明を省略する。
【０１７０】
信号強度判定部４３は、リニア変換部１９の出力信号に対して信号強度を算出し、この信号強度に基づきチャネル導通の有無の判定のための前処理を行う。
【０１７１】
信号強度算出部４４は、リニア変換部１９の出力信号に対して信号強度を算出する。この信号強度の算出方法の具体的な手段としては、例えば、（１）所定時間内のリニア変換部１９の出力信号の振幅値の２乗平均値の算出、（２）所定時間内のリニア変換部１９の出力信号の振幅値の絶対値平均値の算出、（３）所定時間内のリニア変換部１９の出力信号の振幅値の最大値の算出、などの手段がある。
【０１７２】
比較器４６は、信号強度算出部４４の出力する信号強度と、所定の閾値４５とを比較し、その比較結果を出力する。例えば、信号強度が閾値４５よりも大きい場合は１を出力し、信号強度が閾値４５よりも小さい場合は０を出力する。
【０１７３】
また、比較器４８は、信号強度算出部４４の出力する信号強度と、所定の閾値４７とを比較し、その比較結果を出力する。例えば、信号強度が閾値４７よりも大きい場合は１を出力し、信号強度が閾値４７よりも小さい場合は０を出力する。
【０１７４】
ここで、信号強度算出部４４の出力する信号強度の期待値をＰとした場合、前記閾値４５をＰ＋ΔＰ、前記閾値４７をＰ−ΔＰと定めるとする。また、ΔＰは、試験対象のチャネルが正常に導通している場合の、信号強度算出部４４の出力する信号強度の期待値Ｐからの変動の大きさの上限値とする。
【０１７５】
判定回路３５は、比較器２７、比較器４６、比較器４８の各出力値に基づいて、チャネル導通の有無を判定する。この判定回路３５は、比較器２７の出力値が１であり、かつ比較器４６の出力値が０、かつ比較器４８の出力値が１である場合は、試験対象チャネルが導通していると判定する。それ以外の場合には、試験対象チャネルが導通していないと判定し、その判定結果１３を出力する。
【０１７６】
上記のように構成すれば、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ１、受信側ＤＣＭＥ２Ｊのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、精度良く判定することができるという効果がある。
【０１７７】
なお、上記の実施の形態９においては、図１に示した実施の形態１の構成に対して信号強度判定部４３を組み合わせるものとして説明したが、図４ないし図１０（実施の形態２ないし実施の形態８）に示した構成に対して信号強度判定部４３を組み合わせても同様の効果が得られる。
【０１７８】
【発明の効果】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力信号から符号を抽出する符号抽出部と、前記抽出された符号を所定の時間遅延する遅延器と、前記抽出された符号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器と、前記排他的論理和演算器の出力値が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタと、前記カウンタのカウント値と所定の閾値とを比較して判定結果を出力する比較器とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１７９】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記符号抽出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値と第２の所定の閾値とを比較する第２の比較器を有し、前記遅延器が、前記第２の比較器の出力信号を所定の時間遅延し、前記排他的論理和演算器が、前記第２の比較器の出力信号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行うので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８０】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、前記加算器の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力する第１の比較器と、前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する第２の比較器と、前記第１及び第２の比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８１】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部の代わりに、前記加算器の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、第２の比較器が、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８２】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８３】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記第１の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、前記第２の比較器が、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８４】
この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器とを有する送信側ＤＣＭＥと、前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、前記リニア変換部の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部と、前記算出した零交差数及びレベル交差数の差分を算出する減算器と、前記減算器の出力値の絶対値を算出する絶対値回路と、前記絶対値回路の出力値と所定の閾値とを比較して比較結果を出力する比較器と、前記比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とを有する受信側ＤＣＭＥとを備えたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８５】
また、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記零交差数算出部及び前記レベル交差数算出部の代わりに、前記リニア変換部の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部と、前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、前記減算器が、前記算出した零交差間隔及びレベル交差間隔の差分を算出するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８６】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部と、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とをさらに有するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８７】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記受信側ＤＣＭＥが、前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部をさらに有し、前記判定回路は、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定するので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【０１８８】
さらに、この発明に係るチャネルチェックテストシステムは、以上説明したとおり、前記遅延器における所定の時間が、前記入力テストパターンの半周期分の時間の整数倍としたので、試験対象のチャネルの導通の有無を、送信側ＤＣＭＥ、受信側ＤＣＭＥのいずれか一方におけるＰＣＭ圧伸則の設定の間違いも含め、チェックすることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの動作を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係るチャネルチェックテストシステムの動作を示す図である。
【図４】この発明の実施の形態２に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図５】この発明の実施の形態３に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図６】この発明の実施の形態４に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図７】この発明の実施の形態５に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図８】この発明の実施の形態６に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図９】この発明の実施の形態７に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１０】この発明の実施の形態８に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態９に係るチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１２】従来のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１３】従来の他のチャネルチェックテストシステムの構成を示す図である。
【図１４】従来の他のチャネルチェックテストシステムの動作を示す図である。
【図１５】従来の他のチャネルチェックテストシステムをＤＣＭＥへ適用した例の構成を示す図である。
【図１６】従来の他のチャネルチェックテストシステムをＤＣＭＥへ適用した例の動作を説明するためのテーブルを示す図である。
【図１７】従来の他のチャネルチェックテストシステムをＤＣＭＥへ適用した例の動作を説明するためのテーブルを示す図である。
【符号の説明】
１ 送信側ＤＣＭＥ、２Ａ、２Ｂ、２Ｃ、２Ｄ、２Ｅ、２Ｆ、２Ｇ、２Ｈ、２Ｊ 受信側ＤＣＭＥ、４ 入力パターン発生器、５ テストパターン挿入回路、６ 符号器、７ 復号器、１９ リニア変換部、２１ 加算器、２２ 符号抽出部、２３ 遅延器、２４ 排他的論理和演算器、２９ 比較器、３０ 零交差数算出部、３６ 零交差間隔算出部、３７ レベル交差数算出部、３８ レベル交差間隔算出部、４３ 信号強度判定部。
Claims (11)
- 非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、
前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、
前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器と
を有する送信側ＤＣＭＥと、
前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、
前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、
前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、
前記加算器の出力信号から符号を抽出する符号抽出部と、
前記抽出された符号を所定の時間遅延する遅延器と、
前記抽出された符号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行う排他的論理和演算器と、
前記排他的論理和演算器の出力値が所定の値と一致する回数をカウントするカウンタと、
前記カウンタのカウント値と所定の閾値とを比較して判定結果を出力する比較器と
を有する受信側ＤＣＭＥと
を備えたことを特徴とするチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、前記加算器及び前記符号抽出部の代わりに、
前記リニア変換部の出力値と第２の所定の閾値とを比較する第２の比較器を有し、
前記遅延器は、前記第２の比較器の出力信号を所定の時間遅延し、
前記排他的論理和演算器は、前記第２の比較器の出力信号と前記遅延器の出力信号との排他的論理和演算を行う
ことを特徴とする請求項１記載のチャネルチェックテストシステム。 - 非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、
前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、
前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器と
を有する送信側ＤＣＭＥと、
前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、
前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、
前記リニア変換部の出力値に所定のオフセット値を加算する加算器と、
前記加算器の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、
前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力する第１の比較器と、
前記零交差数算出部が出力する零交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する第２の比較器と、
前記第１及び第２の比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路と
を有する受信側ＤＣＭＥと
を備えたことを特徴とするチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、前記零交差数算出部の代わりに、
前記加算器の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部を有し、
前記第１の比較器は、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、
第２の比較器は、前記零交差間隔算出部が出力する零交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する
ことを特徴とする請求項３記載のチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、
前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部を有し、
前記第１の比較器は、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、
前記第２の比較器は、前記レベル交差数算出部が出力するレベル交差数の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する
ことを特徴とする請求項３記載のチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、前記加算器及び前記零交差数算出部の代わりに、
前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、
前記第１の比較器は、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第１の所定の閾値とを比較して第１の比較結果を出力し、
前記第２の比較器は、前記レベル交差間隔算出部が出力するレベル交差間隔の値と第２の所定の閾値とを比較して第２の比較結果を出力する
ことを特徴とする請求項３記載のチャネルチェックテストシステム。 - 非直線量子化された入力テストパターンを発生する入力パターン発生器と、
前記入力パターン発生器の出力信号を試験対象のチャネルに挿入するテストパターン挿入回路と、
前記テストパターン挿入回路の出力信号を高能率符号化する符号器と
を有する送信側ＤＣＭＥと、
前記試験対象のチャネルからの受信信号を復号する復号器と、
前記復号信号を直線量子化ＰＣＭ信号に変換するリニア変換部と、
前記リニア変換部の出力値の零交差数を算出する零交差数算出部と、
前記リニア変換部の出力値のレベル交差数を算出するレベル交差数算出部と、
前記算出した零交差数及びレベル交差数の差分を算出する減算器と、
前記減算器の出力値の絶対値を算出する絶対値回路と、
前記絶対値回路の出力値と第３の所定の閾値とを比較して比較結果を出力する比較器と、
前記比較結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路と
を有する受信側ＤＣＭＥと
を備えたことを特徴とするチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、前記零交差数算出部及び前記レベル交差数算出部の代わりに、
前記リニア変換部の出力値の零交差間隔を算出する零交差間隔算出部と、
前記リニア変換部の出力値のレベル交差間隔を算出するレベル交差間隔算出部を有し、
前記減算器は、前記算出した零交差間隔及びレベル交差間隔の差分を算出する
ことを特徴とする請求項７記載のチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、
前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、
前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、
前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器とを含む信号強度判定部と、
前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する判定回路とをさらに有する
ことを特徴とする請求項１又は２記載のチャネルチェックテストシステム。 - 前記受信側ＤＣＭＥは、
前記リニア変換部の出力信号の信号強度を算出する信号強度算出部と、
前記算出した信号強度と第４の所定の閾値とを比較して第４の比較結果を出力する第４の比較器と、
前記算出した信号強度と第５の所定の閾値とを比較して第５の比較結果を出力する第５の比較器と
を含む信号強度判定部をさらに有し、
前記判定回路は、前記全ての比較判定結果に基づき前記試験対象チャネルの導通の有無を判定する
ことを特徴とする請求項３から請求項８までのいずれかに記載のチャネルチェックテストシステム。 - 前記遅延器における所定の時間は、前記入力テストパターンの半周期分の時間の整数倍とした
ことを特徴とする請求項１又は２記載のチャネルチェックテストシステム。
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