JP3585731B2 - 磁界印加式単結晶製造装置 - Google Patents
磁界印加式単結晶製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3585731B2 JP3585731B2 JP13062398A JP13062398A JP3585731B2 JP 3585731 B2 JP3585731 B2 JP 3585731B2 JP 13062398 A JP13062398 A JP 13062398A JP 13062398 A JP13062398 A JP 13062398A JP 3585731 B2 JP3585731 B2 JP 3585731B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- magnetic field
- single crystal
- sub
- main
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば半導体材料として用いるシリコン単結晶を製造する装置に関し、特に結晶原料融液に磁界を印加する磁界発生部を具備した磁界印加式単結晶製造装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図9は、例えば特公平3−61630号公報に記載されたCZ法(チョコラルスキー法)に記載された従来の単結晶製造装置の構成図である。
図に示すように、単結晶原料融液1(以下、融液1と称す)が充填してあるルツボ2は、ヒータ3により加熱され、単結晶材料は常に融液状態に保たれている。この融液1中に、種結晶4を挿入し、引き上げ駆動機構5により種結晶4をある一定速度にて引き上げていくと、固体−液界面境界層6にて結晶が成長し、単結晶7が生成される。
この際、ヒータ3の加熱によって誘起される融液1の液体的運動、すなわち熱対流8が発生する。
【0003】
この熱対流8の発生原因は次のように説明される。すなわち、熱対流8は、一般に流体の熱膨張による浮力と流体の粘性力との釣り合いが破れたときに生じる。この浮力と粘性力との釣り合い関係を表す無次元量がグラスホフ数NGrである。
【0004】
NGr=g・α・△T・R3/ν2
ここで、g;重力加速度
α;融液の熱膨張率
△T;ルツボ半径方向温度差
R;ルツボ半径
ν;融液の動粘性係数
【0005】
一般に、グラスホフ数NGrが融液1の幾何学的寸法、熱的境界条件等によって決定される臨界値を越えると、融液1内で熱対流8が発生する。通常、NGr>106にて融液1の熱対流8は乱流状態となり、NGr>109では攪乱状態となる。現在行われている直径7.62〜10.16センチ(3〜4インチ)の単結晶引き上げの融液条件においては、上記式によりNGr>109となり、融液1内は攪乱状態となり、融液の表面すなわち固体−液界面境界層6は波立った状態となる。
【0006】
この様な攪乱状態の熱対流8が存在すると、融液1内、特に固体−液界面境界層6での温度変動が激しくなり、個体−液界面境界層6の厚さの位置的および時間的変動が激しく、成長中結晶の微視的再溶解が顕著となり、成長した単結晶7中には転位ループ、積層欠陥等が発生する。しかもこの欠陥部分は、不規則な個体−液界面境界層6の変動により単結晶引き上げ方向に対して不均一に発生する。
さらに、高温の融液1(例えば1500℃程度)が接するルツボ2内面より融液1中に溶解している不純物9がこの熱対流8に搬送され、融液1の内部全体にわたって分散する。この不純物9が核となり単結晶7中に転位ループや欠陥、成長縞等が発生して単結晶7の品質を劣化させている。このため、この様な単結晶7からLSIのウエハを製造すると、欠陥部分を含んだウエハは電気的特性が劣化しているため、使用不可能であり、従って歩留まりが悪くなる。
【0007】
今後、単結晶7は益々大直径化してゆくが、上記のグラスホフ数の式からもわかるようにルツボ2の直径が増大すればする程、グラスホフ数も増大し、融液1の熱対流8は一層激しさを増し、単結晶7の品質も劣化の一途をたどることになる。そこで、熱対流8を抑制し熱的・化学的に平衡状態に近い成長条件にて単結晶引き上げを行うために、融液1に直流磁界を印加する手法が提案されている。
図10は、従来の磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。図に示すように、単結晶引き上げ方向と直交する方向である矢印11の方向で、融液1中に一様磁界が印加されるように、ルツボ2の外周に磁石10を配置する。単結晶7の融液1は一般に電気伝導度σを有する導電体である。電気伝導度を有する流体が熱対流8により運動する際、磁界印加方向11と平行でない方向に運動している流体は、レンツの法則により磁気的抵抗力を受ける。この為熱対流8の運動は阻止される。一般に、磁界が印加されたときの磁気抵抗力すなわち磁気粘性係数νcfiは、
【0008】
νcfi=(μHD)2σ/ρ
ここで、μ;融液の透磁率
H;磁場強さ
D;ルツボ直径
σ;融液の電気伝導度
ρ;融液の密度
【0009】
となり、磁場強さが増大すると磁気粘性係数νcfiが増大し、先に示したグラスホフ数NGrの式中のνが増大することとなりグラスホフ数は急速に減少し、ある磁場強さによってグラスホフ数を臨界値より小さくすることができる。これにより、融液1の熱対流は完全に抑制される。この様にして磁界を印加することにより熱対流8が抑制されるので上記した単結晶7中の不純物含有、転位ループの発生、欠陥、成長縞の発生が無くなり、しかも単結晶引き上げ方向に均一な品質の単結晶7が得られ、単結晶7の品質および歩留まりが向上する。
【0010】
上記のような特性を有する磁界印加式単結晶製造装置として、近年、カスプ磁界を印加する方法が提案されている。このカスプ磁界は、ルツボ内融液に軸対象な水平磁界を発生させ、高品質な単結晶を引き上げるのに最適な磁界である。
図11は、例えば特開昭61−222984号公報に記載された、カスプ磁界印加による従来の磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。なお、図における1〜4、6および7は図9および図10で示したものと同様である。
図に示すように、ルツボ2の上方には上部コイル12が、下方には下部コイル13が、相互に同極同士が対向するように配置される。また、上部コイル12は、ルツボ2軸と平行に設置されたガイド体14に、上下方向に移動可能に取り付けられ、下部コイル13は固定端に固定される。この様な磁石配置により、ルツボ2内の融液1中に磁界印加方向15で示すカスプ磁界を発生する。
【0011】
この様なカスプ磁界を利用する際、単結晶7を引き上げて行くに伴い、融液1面の低下および融液1量の減少が生じ、これに伴い最適な磁界分布も変わるものである。この為、上部コイル12を上下方向に移動させることにより、ルツボ2内の原料融液1に印加するカスプ磁界を常に最適に保ち、高品質な単結晶を製造するものである。
【0012】
また、カスプ磁界印加による従来の磁界印加式単結晶製造装置の別例として、上部コイル12および下部コイル13の双方を固定し、少なくとも一方のコイル12、13の励磁電流を可変にすることによりコイル12、13の起磁力を調整して、ルツボ2内の原料融液1に印加するカスプ磁界を常に最適に保つ様にしたものも示されている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
従来のカスプ磁界印加による磁界印加式単結晶製造装置は、以上の様に構成されているため、単結晶引き上げに伴って変動する融液1の状態に合わせて、コイル12の移動、あるいはコイル12、13の励磁電流を可変にして、常に最適なカスプ磁界を印加するものであった。
しかしながら、コイル12を移動させるには、機械的な位置調整機構が必要であり、装置自体が複雑で高価になってしまう、また、単結晶引き上げに用いる上記の様なカスプ磁界は比較的強力な磁力が必要とされ、コイル12の移動は、そのような強力な磁力に逆らって正確な位置変動が要求されるものであり、カスプ磁界を最適に保つことは容易ではなかった。
また、コイル12、13の励磁電流を可変にすることによりコイル12、13の起磁力を調整するには、それぞれのコイル12、13に大きな通電用電源が必要で、電源コストが高く装置が高価になるものであった。
【0014】
この発明は、上記のような問題点を解消するために成されたものであって、単結晶引き上げ時にルツボ内の原料融液に印加するカスプ磁界を常に最適になるように容易に調整可能で、高品質な単結晶が製造でき、かつ安価で簡便な、磁界印加式単結晶製造装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
この発明に係わる請求項1記載の磁界印加式単結晶製造装置は、ルツボ内の原料融液に種結晶を挿入し、この種結晶を引き上げることにより単結晶を生成する単結晶引き上げ部と、上記ルツボ内の原料融液に、該ルツボ軸に対して等軸対称的かつ放射状のカスプ磁界を与える磁界発生部とを備え、上記磁界発生部が、上記ルツボ周囲の上下に相対向して配置され、直列に結線された一対の主コイルと、該主コイルと同軸で配置され、その励磁電流の方向および大きさが可変で該主コイルより小さい起磁力を有する1個の副コイルとで構成されたものである。
【0016】
この発明に係わる請求項2記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1において、主コイル間の距離を該主コイルの直径の半分程度とし、副コイルの起磁力が上記主コイルの起磁力の0.3倍を越えないものである。
【0017】
この発明に係わる請求項3記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1または2において、一対の主コイルおよび副コイルが超電導コイルから成り、上記副コイルが上記一対の主コイル間の中央に配置されたものである。
【0018】
この発明に係わる請求項4記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1〜3のいずれかにおいて、一対の主コイルおよび副コイルが極低温状態に保持される超電導コイルから成り、上記副コイルの電流リードと、上記主コイルの電流リードとを一部共通化して発熱量を低減したものである。
【0019】
この発明に係わる請求項5記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1〜4のいずれかにおいて、副コイルが一対の主コイル間の中央に配置され、上記主コイルおよび上記副コイルの外周を磁気シールドで覆ったものである。
【0020】
この発明に係わる請求項6記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項5において、一対の主コイルおよび副コイルが超電導コイルから成り、磁気シールドを上記超電導コイルを収納する真空容器の一部としたものである。
【0021】
この発明に係わる請求項7記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項5または6において、磁気シールドに、外部との接続のための第1の切り欠き部と、電磁力の平衡を保つ第2の切り欠き部とを設け、上記第1および第2の切り欠き部が、上下対称性および軸の周りに複数回の回転対称性を有して配置されたものである。
【0022】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1を図について詳細に説明する。
図1は、この発明の実施の形態1による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。図において16はルツボ、17はルツボ16内に充填された単結晶の原料融液(以下、融液17と称す)、18はルツボ16を加熱するヒータ、19は融液17中に挿入される種結晶、20は融液17面である固体−液界面境界層、21は生成された単結晶であり、これら16〜21および図示しない単結晶引き上げ駆動機構により単結晶引き上げ部が構成される。また、22a、22bは相互に同極同士が対向するようにルツボ16周囲の上下に配置された一対の主コイル、23は主コイル22a、22b間で、一方の主コイル22aに隣接して配置された副コイルであり、これらのコイル22a、22b、23により磁界発生部を構成する。
また、24は上記主コイル22a、22bおよび副コイル23によりルツボ16内の融液17に印加されたカスプ磁界の印加方向を示すもので、25は磁界0の点である。26はヒータの加熱によって誘起される融液17の液体的運動である熱対流である。
【0023】
図2は、主コイル22a、22bおよび副コイル23と電源との結線を示した図である。図に示すように、一対の主コイル22a、22bは直列に結線されて1個の主コイル用電源27に結線される。一方副コイル23は極性切り換え器29を介して副コイル用電源28に結線され、両極性でかつ通電量も可変に構成される。この主コイル22a、22bは例えば約100kAの起磁力を発生させ、副コイル23は、±約10kAの起磁力を発生させるものとする。
一対の主コイル22a、22bは、逆方向に通電されて相互に同極同士が対向する様に励磁され、別途励磁される副コイル23において、励磁電流の方向および大きさを調整することにより、カスプ磁界の磁界0の点25の上下方向位置を調整する。
【0024】
次に動作について説明する。
ルツボ16はヒータ18により加熱され、ルツボ16内に充填された単結晶原料は常に融液17状態に保たれている。この融液17中に種結晶19を挿入し、引き上げ駆動機構により種結晶19をある一定速度にて引き上げていくと、固体−液界面境界層20にて結晶が成長し、単結晶21が生成される。また、主コイル22a、22bおよび副コイル23により、磁界印加方向24で示す様に、ルツボ16軸に対して等軸対称的かつ放射状のカスプ磁界を、ルツボ16内の融液17中に発生させる。図1では、磁界0の点25は融液17面である固体−液界面境界層20上に設定されている。
この単結晶21の引き上げ生成時に、単結晶21を引き上げて行くに伴い、融液17面の低下および融液17量の減少が生じ、これに伴い最適な磁界分布も変わるものである。この為、副コイル23の励磁電流を調整することにより、単結晶21引き上げに伴い磁界0の点25を降下させて、ルツボ16内の融液17に印加するカスプ磁界を常に最適に保つ。この場合、副コイル23の励磁電流を調整することにより、磁界0の点25を±約25mmの範囲で上下に位置変動させることができる。
【0025】
この様にしてルツボ16内の融液17に常に最適なカスプ磁界を印加することにより熱対流26が効果的に抑制され、単結晶21中の不純物含有、転位ループの発生、欠陥、成長縞の発生が無くなり、しかも単結晶引き上げ方向に均一な高品質の単結晶7が得られる。
【0026】
この実施の形態では、直列に結線された一対の主コイル22a、22bと、それより小さい起磁力を有する副コイル23とでカスプ磁界を発生させ、副コイル23の励磁電流の方向および大きさを調整して、単結晶21引き上げ生成時に常にカスプ磁界を最適に保つようにした。この為、従来のコイル12を磁力に逆らって移動させるもののように、機械的な位置調整機構は不要であり、装置が安価で簡便にでき、かつ最適なカスプ磁界を電気的に容易に調整して保つことができて、高品質な単結晶が製造できる。
また、一対の主コイル22a、22bは直列に結線されているため、主コイル22a、22b用の大きな通電用電源は1個で済み、別途設けられた副コイル23用の電源は、主コイル22a、22bよりも小さな電源容量でよいため、電源コストが低減でき、装置価格がさらに低減できる。
【0027】
なお、上記実施の形態では、副コイル23を主コイル22a、22b間で、一方の主コイル22aに隣接して配置したが、副コイル23の位置はこれに限るものではなく、主コイル22a、22b間のどの位置でも、また主コイル22a、22bの外側の近接した位置でも、同様な効果が得られる。
【0028】
実施の形態2.
上記実施の形態1において、一対の主コイル22a、22b間の距離は、通常該主コイル22a、22bの直径の半分程度であり、その場合、副コイル23の起磁力は主コイル22a、22bのものの0.3倍を越えないもので十分である。
例えば、一対の主コイル22a、22bが、直径約2.2m、間隔約1.1mの場合、副コイル23の起磁力と磁界0の点25の位置変動との関係を図3に示す。図に示すように、副コイル23の起磁力が主コイル22a、22bの±30%で、磁界0の点25を±0.2mの範囲で位置変動させることができる。
この様に、一対の主コイル22a、22b間の距離を該主コイル22a、22bの直径の半分程度とし、副コイル23の起磁力が主コイル22a、22bのものの0.3倍あれば、磁界0の点25を主コイル22a、22bの直径の±10%程度の範囲で位置調整することができ、この調整範囲はルツボ16に対して十分である。このため、副コイル23の起磁力を主コイル22a、22bのものの0.3倍を越えないものにすることにより、電源コストを効果的に低減して、磁界0の点25の位置調整によるカスプ磁界の最適化が図れる。
【0029】
実施の形態3.
図4は、この発明の実施の形態3による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。図に示すように、主コイル30a、30bおよび副コイル31を超電導コイルで構成し、超電導副コイル31を一対の超電導主コイル30a、30b間の中央に配設する。超電導主コイル30a、30bおよび超電導副コイル31と電源との結線は、実施の形態1で示した図2のものと同様である。
一般に、超電導コイルにおいては、短時間でコイルの励磁状態が消滅するクエンチという現象が発生する場合がある。この実施の形態では、超電導主コイル30a、30bは直列に結線され、同極同士が対抗するように配置されている。このため、超電導主コイル30a、30bのいずれかでクエンチが発生すると双方の超電導主コイル30a、30bで励磁状態が消滅するが、超電導主コイル30a、30b間の中央に配設された超電導副コイル31には、2つの超電導主コイル30a、30bからの相反する誘導起電力が働き相殺されるため、超電導副コイル31に誘導起電力が発生しない。また、逆に超電導副コイル31にクエンチが発生しても、超電導主コイル30a、30bに誘導起電力が発生しない。
通常、クエンチ時に発生する誘導起電力からコイルを保護するため、抵抗やダイオードなどの保護回路を挿入するものであるが、この実施の形態では、クエンチ時に誘導起電力が発生するのが防止できるため、保護回路が簡略化できる。
【0030】
実施の形態4.
図5は、この発明の実施の形態4による磁界印加式単結晶製造装置の結線図である。超電導コイル30a、30b、31は、真空容器内で、液体ヘリウム等で極低温状態に保持される保冷容器等に収納され、常温中に布設された電流リード32により、室温領域に配置された電源28、29に接続される。図に示すように、超電導副コイル31の電流リード32と、超電導主コイル30a、30bの電流リード32とを一部共通化して発熱量を低減することにより、電流リード32から極低温領域への熱侵入を低減でき、超電導コイル30a、30b、31を信頼性良く超電導状態に保持できる。
【0031】
実施の形態5.
図6は、この発明の実施の形態5による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。図に示すように、超電導副コイル31は一対の超電導主コイル30a、30b間の中央に配置される。また、これらの超電導コイル30a、30b、31は真空容器33に収納され、その収納容器33の外周に、例えば鉄等の強磁性体から成る磁気シールド34を設ける。これにより、漏れ磁場が低減できる。
また、超電導主コイル30a、30bにクエンチが発生しても、一対の超電導主コイル30a、30bは直列に結線されているため、励磁電流の変動は同一であり、磁気シールド34と超電導主コイル30a、30bとの間の電磁力の平衡状態が保たれる。さらに超電導副コイル31は磁気シールド34の上下方向の中央に設置されているため、超電導副コイル31の励磁電流の変化やクエンチが発生した場合も、不平衡電磁力が働かず、磁気シールド34と超電導副コイル31との間の電磁力の平衡状態が保たれる。この為、超電導コイル30a、30b、31の支持が容易になり、電磁力支持構造が簡便になる。
【0032】
なお、上記実施の形態では、超電導コイル30a、30b、31を用いたが、常電導コイルを用いて、常電導副コイルを一対の常電導主コイル間の中央に配置し、これらの常電導コイルの外周に、磁気シールド34を設けても良く、電磁力の平衡状態が保持できて、漏れ磁場が低減できる。
【0033】
実施の形態6.
図7は、この発明の実施の形態6による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。上記実施の形態5において、超電導コイル30a、30b、31を用い、図に示すように、磁気シールド34を真空容器33の外周部に一部共用して利用したものである。
これにより、磁気シールド34と真空容器33とを一部共用でき、装置を小型化でき、コスト低減も図れる。
【0034】
実施の形態7.
図8は、この発明の実施の形態7による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。磁気シールド34には、真空排気口、計測線の引き出し、電流リードの引き出し等のため、切り欠き部を設けることがある。図に示すように、上記実施の形態5または6における磁気シールド34に、計測線35の引き出し、および真空弁36を設けるために、第1の切り欠き部として、計測線用切り欠き部37aおよび真空弁用切り欠き部37bを設け、これらの切り欠き部37a、37bに対して、上下対称性を有する位置と、軸の周りに例えば4回回転対称性を有する位置とに、第2の切り欠き部として、対称配置切り欠き部38a、38bを設ける。また、切り欠き部37、38には、それぞれ真空封止用蓋39を設ける。
これにより、不平衡電磁力が低減でき、超電導コイル30a、30b、31と磁気シールド34との間に発生する電磁力の平衡状態が保たれて、超電導コイル30a、30b、31の支持が容易になり、電磁力支持構造が簡便になる。
【0035】
なお、対称配置切り欠き部38a、38bは、上下対称性を有する位置と、軸の周りに例えば4回回転対称性を有する位置とに設けたが、回転対称性については4回に限るものではなく、磁気シールド34の周方向に等間隔に配置されるものであればよい。
【0036】
【発明の効果】
以上のように、この発明に係わる請求項1記載の磁界印加式単結晶製造装置は、ルツボ内の原料融液に種結晶を挿入し、この種結晶を引き上げることにより単結晶を生成する単結晶引き上げ部と、上記ルツボ内の原料融液に、該ルツボ軸に対して等軸対称的かつ放射状のカスプ磁界を与える磁界発生部とを備え、上記磁界発生部が、上記ルツボ周囲の上下に相対向して配置され、直列に結線された一対の主コイルと、該主コイルと同軸で配置され、その励磁電流の方向および大きさが可変で該主コイルより小さい起磁力を有する1個の副コイルとで構成されたため、最適なカスプ磁界を電気的に容易に調整して保つことができて、高品質な単結晶が製造でき、また、電源コストが低減でき安価で簡便な装置構成が提供できる。
【0037】
またこの発明に係わる請求項2記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1において、主コイル間の距離を該主コイルの直径の半分程度とし、副コイルの起磁力が上記主コイルの起磁力の0.3倍を越えないものとしたため、高品質な単結晶が製造でき、かつ電源コストを効果的に低減できる。
【0038】
またこの発明に係わる請求項3記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1または2において、一対の主コイルおよび副コイルが超電導コイルから成り、上記副コイルが上記一対の主コイル間の中央に配置されたため、クエンチ時に誘導起電力が発生するのが防止できるため、保護回路が簡略化できる。
【0039】
またこの発明に係わる請求項4記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1〜3のいずれかにおいて、一対の主コイルおよび副コイルが極低温状態に保持される超電導コイルから成り、上記副コイルの電流リードと、上記主コイルの電流リードとを一部共通化して発熱量を低減したため、電流リードから極低温領域への熱侵入を低減でき、超電導コイルを信頼性良く超電導状態に保持できる。
【0040】
またこの発明に係わる請求項5記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項1〜4のいずれかにおいて、副コイルが一対の主コイル間の中央に配置され、上記主コイルおよび上記副コイルの外周を磁気シールドで覆ったため、磁気シールドとコイルとの間の電磁力の平衡状態が保時できて、コイルの電磁力支持構造が簡便にできてコスト低減が図れ、漏れ磁場を低減することができる。
【0041】
またこの発明に係わる請求項6記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項5において、一対の主コイルおよび副コイルが超電導コイルから成り、磁気シールドを上記超電導コイルを収納する真空容器の一部としたため、装置を小型化でき、コスト低減が図れて、漏れ磁場を低減することができる。
【0042】
またこの発明に係わる請求項7記載の磁界印加式単結晶製造装置は、請求項5または6において、磁気シールドに、外部との接続のための第1の切り欠き部と、電磁力の平衡を保つ第2の切り欠き部とを設け、上記第1および第2の切り欠き部が、上下対称性および軸の周りに複数回の回転対称性を有して配置されたため、コイルと磁気シールドとの間に発生する電磁力の平衡状態が保時できて、コイルの電磁力支持構造が簡便な安価な装置構成が提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態1による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【図2】この発明の実施の形態1による磁界印加式単結晶製造装置の結線図である。
【図3】この発明の実施の形態2による磁界印加式単結晶製造装置の降下を説明する図である。
【図4】この発明の実施の形態3による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【図5】この発明の実施の形態4による磁界印加式単結晶製造装置の結線図である。
【図6】この発明の実施の形態5による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【図7】この発明の実施の形態6による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【図8】この発明の実施の形態7による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【図9】従来の単結晶製造装置の構成図である。
【図10】従来の磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【図11】従来の別例による磁界印加式単結晶製造装置の構成図である。
【符号の説明】
16 ルツボ、17 原料融液、19 種結晶、21 単結晶、
22a,22b 主コイル、23 副コイル、24 カスプ磁界印加方向、
29 極性切り替え器、30a,30b 超電導主コイル、
31 超電導副コイル、32 電流リード、33 真空容器、
34 磁気シールド、37a 第1の切り欠き部としての計測線用切り欠き部、37b 第1の切り欠き部としての真空弁用切り欠き部、
38a,38b 第2の切り欠き部としての対称配置切り欠き部。
Claims (7)
- ルツボ内の原料融液に種結晶を挿入し、この種結晶を引き上げることにより単結晶を生成する単結晶引き上げ部と、上記ルツボ内の原料融液に、該ルツボ軸に対して等軸対称的かつ放射状のカスプ磁界を与える磁界発生部とを備え、上記磁界発生部が、上記ルツボ周囲の上下に相対向して配置され、直列に結線された一対の主コイルと、該主コイルと同軸で配置され、その励磁電流の方向および大きさが可変で該主コイルより小さい起磁力を有する1個の副コイルとで構成されたことを特徴とする磁界印加式単結晶製造装置。
- 主コイル間の距離を該主コイルの直径の半分程度とし、副コイルの起磁力が上記主コイルの起磁力の0.3倍を越えないものであることを特徴とする請求項1記載の磁界印加式単結晶製造装置。
- 一対の主コイルおよび副コイルが超電導コイルから成り、上記副コイルが上記一対の主コイル間の中央に配置されたことを特徴とする請求項1または2記載の磁界印加式単結晶製造装置。
- 一対の主コイルおよび副コイルが極低温状態に保持される超電導コイルから成り、上記副コイルの電流リードと、上記主コイルの電流リードとを一部共通化して発熱量を低減したことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の磁界印加式単結晶製造装置。
- 副コイルが一対の主コイル間の中央に配置され、上記主コイルおよび上記副コイルの外周を磁気シールドで覆ったことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の磁界印加式単結晶製造装置。
- 一対の主コイルおよび副コイルが超電導コイルから成り、磁気シールドを上記超電導コイルを収納する真空容器の一部としたことを特徴とする請求項5記載の磁界印加式単結晶製造装置。
- 磁気シールドに、外部との接続のための第1の切り欠き部と、電磁力の平衡を保つ第2の切り欠き部とを設け、上記第1および第2の切り欠き部が、上下対称性および軸の周りに複数回の回転対称性を有して配置されたことを特徴とする請求項5または6記載の磁界印加式単結晶製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13062398A JP3585731B2 (ja) | 1998-05-13 | 1998-05-13 | 磁界印加式単結晶製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13062398A JP3585731B2 (ja) | 1998-05-13 | 1998-05-13 | 磁界印加式単結晶製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11322486A JPH11322486A (ja) | 1999-11-24 |
JP3585731B2 true JP3585731B2 (ja) | 2004-11-04 |
Family
ID=15038671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13062398A Expired - Fee Related JP3585731B2 (ja) | 1998-05-13 | 1998-05-13 | 磁界印加式単結晶製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3585731B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004165538A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-10 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 超電導磁石装置 |
JP4990194B2 (ja) * | 2008-03-07 | 2012-08-01 | 株式会社神戸製鋼所 | 磁石位置測定方法 |
CN110129890B (zh) * | 2018-03-30 | 2021-02-02 | 杭州慧翔电液技术开发有限公司 | 一种用于磁控直拉单晶的线圈结构及磁控直拉单晶的方法 |
CN117995505B (zh) * | 2024-04-02 | 2024-06-07 | 西安聚能超导磁体科技有限公司 | 一种可切换场形磁控拉晶超导磁体 |
-
1998
- 1998-05-13 JP JP13062398A patent/JP3585731B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11322486A (ja) | 1999-11-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6144797A (ja) | 単結晶育成装置およびその制御方法 | |
JP4095975B2 (ja) | シリコン単結晶を製造するための方法及び装置、シリコン単結晶及びこれから切り出された半導体ウェーハ | |
US11578423B2 (en) | Magnet coil for magnetic czochralski single crystal growth and magnetic czochralski single crystal growth method | |
JP6436031B2 (ja) | 単結晶引き上げ装置、及び単結晶引き上げ方法 | |
US4565671A (en) | Single crystal manufacturing apparatus | |
US5769944A (en) | Vertical gradient freeze and vertical Bridgman compound semiconductor crystal growth apparatus capable of applying axial magnetic field | |
JP3585731B2 (ja) | 磁界印加式単結晶製造装置 | |
WO2020225985A1 (ja) | 単結晶引き上げ装置及び単結晶引き上げ方法 | |
US5797990A (en) | Apparatus for damping a crystal ingot suspension in a Czochralski crystal puller | |
JPS6036392A (ja) | 単結晶引上装置 | |
US6482261B2 (en) | Magnetic field furnace | |
JPH107486A (ja) | 磁界印加式単結晶製造装置 | |
JP7230781B2 (ja) | 単結晶引き上げ装置及び単結晶引き上げ方法 | |
JP7160006B2 (ja) | 単結晶引上げ装置および単結晶引上げ方法 | |
JPH10316488A (ja) | 磁界印加方式の単結晶製造装置 | |
AU2002246865A1 (en) | Magnetic field furnace and a method of using the same to manufacture semiconductor substrates | |
TWI282379B (en) | Silicon single-crystal wafer manufacturing method, silicon single-crystal wafer, and epitaxial wafer | |
JPS6278184A (ja) | 単結晶育成装置 | |
JPH0234915B2 (ja) | ||
JPS6278185A (ja) | 単結晶育成装置および単結晶育成方法 | |
US20240328029A1 (en) | Method for producing silicon single crystal | |
JPS6278183A (ja) | 単結晶育成装置および単結晶育成方法 | |
JPH10167875A (ja) | 単結晶製造装置 | |
JPS6270286A (ja) | 単結晶製造装置 | |
KR100468117B1 (ko) | 고품질 실리콘 단결정의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040617 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040727 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040804 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070813 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100813 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |