JP3576978B2 - Memory port, storage device, information processing system - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記憶装置の障害検出に関し、特にRAM(Ramdom Access Memory)不良解析のための情報をハードウエア上に採取し、それを元に擬似リクエストを発生させることにより記憶装置内のRAM不良の波及範囲を特定することが可能な記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、RAM(Ramdom Access Memory)等を使用した大型コンピュータの記憶装置は、大容量化、高速化が要求され、同時に高い信頼性も要求されている。そのため記憶装置にはデータ訂正、訂正不能エラー検出を行うECC回路を備えデータ化けを未然に防ぎ期待した読み出しデータを上位装置に送出し信頼性の向上を実現している。しかしながら、RAMの大容量化、高速化、制御の複雑化により、RAM不良はアクセスパタンに依存する傾向が強くなってきている。そのため障害発生時のアクセスパタンを見つけ出すまでの解析に時間が掛かり、さらに試験プログラム作成への反映にも時間が掛かっている。
【0003】
特開平4−297933号公報「障害解析支援装置」には、プログラム割り込み発生時に、ステージ・トレーサの更新を一時的に保留するハードウエア制御情報を設定して、試験プログラムを起動させ、被テスト命令列実行中にプログラム割り込みが発生すると、そのプログラム割り込みによる各種データおよびレジスタ等の妥当性テストを行い、不良と判定されたときトレース情報をログ採取しテスト続行する障害解析支援装置が開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来、RAMの不良はRAMの単体テストである程度は検出することが出来てきたが近年の大容量化、高速化、制御の複雑化によりRAM不良を検出するには単体テストの試験パタンに大きく依存しているが全てを網羅する試験パタンをなかなか作ることが出来ない。したがって、試験パタンで全てを網羅していない場合、単体テストでパスするが、製造後システムとして運用すると試験パタンでもれていたアクセスパタンが発生すると訂正不能エラーを検出しシステムダウンしてしまうケースが少なくない。その訂正不能エラーとなる原因をいかに迅速かつ効率よく解析するかが必要である。
【0005】
特開平4−297933号公報「障害解析支援装置」は、擬似リクエストを発生させてトレースすることはできない。
【0006】
本発明の目的はこのような従来の課題を解決し、訂正不能エラーが発生した瞬間の前後、複数のステージ分をステージトレーサにより採取し、採取したトレース情報を記憶装置自身でリクエスト生成し、障害ポート以外へのRAMアクセスを実施することによりRAM不良波及範囲の特定が行うことが可能な記憶装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明第一の記憶装置は、複数のメモリポートと擬似リクエスト生成部と障害ポート選択部を有する記憶装置であって、前記メモリポートは、上位装置からのリクエストと前記擬似リクエスト生成部からのリクエストを選択するリクエスト選択部と、前記リクエストを受け付け、動作指示コマンドに従い記憶制御部にライト動作条件、リード動作条件、または、リフレッシュ動作条件とアドレスを出力し、前記ライト動作条件の場合はライトデータ制御部にライトデータを出力するリクエスト受付部と、前記動作条件に従い記憶部に制御信号を出力する記憶制御部と、ライトデータからチェックビットを生成し、前記記憶部に前記ライトデータと前記チェックビットを出力するライトデータ制御部と、前記記憶部からリードデータを読み出し前記リードデータのエラーの検出を行うリードデータ制御部と、トレースレジスタの内容を前記メモリポートへのリクエストを格納することにより書き換えるトレーサ部と、特定の条件が発生したときに前記トレースレジスタの書き換えを停止するトリガ条件部を有し、前記擬似リクエスト生成部は前記メモリポート内でエラーが検出されたときに前記トレーサ部内の前記動作条件を読み出し擬似リクエストを生成し、前記障害ポート選択部は前記擬似リクエストを所定の前記メモリポートに対し発行する。
【0008】
本発明第二の記憶装置は、複数のメモリポートと擬似リクエスト生成部と障害ポート選択部を有する記憶装置であって、前記メモリポートは、上位装置からのリクエストと前記擬似リクエスト生成部からのリクエストを選択するリクエスト選択部と、前記リクエストを受け付け、動作指示コマンドに従い記憶制御部にライト動作条件、リード動作条件、または、リフレッシュ動作条件とアドレスを出力し、前記ライト動作条件の場合はライトデータ制御部にライトデータを出力するリクエスト受付部と、前記動作条件に従い記憶部に制御信号を出力する記憶制御部と、ライトデータからチェックビットを生成し、前記記憶部に前記ライトデータと前記チェックビットを出力するライトデータ制御部と、前記記憶部からリードデータを読み出し前記リードデータのエラーの検出を行うリードデータ制御部と、トレースレジスタの内容を前記メモリポートへのリクエストを格納することにより書き換えるトレーサ部と、特定の条件が発生したときに前記トレースレジスタの書き換えを停止するトリガ条件部を有し、前記記憶装置は診断装置に接続され、前記診断装置の指示により、前記擬似リクエスト生成部は前記メモリポート内でエラーが検出されたときに前記トレーサ部内の前記動作条件を読み出し擬似リクエストを生成し、前記診断装置の指示により、前記障害ポート選択部は前記擬似リクエストを所定の前記メモリポートに対し発行する。
【0009】
本発明第三の記憶装置は、本発明第一の記憶装置であって前記トレーサ部は、前記エラーが検出された前後の前記アドレスと前記ライト動作条件、前記リード動作条件、または前記リフレッシュ動作条件を前記トリガ条件部からのトリガ信号により前記トレーサ部へトレースする。
【0010】
本発明第四の記憶装置は、本発明第一または二の記憶装置であって前記トリガ条件部は、訂正不能エラー信号、訂正可能エラー信号、記憶装置内エラー信号の論理和をトリガ信号として生成する。
【0012】
本発明の情報処理システムは、演算処理装置と入出力処理装置と本発明第一、二、三または四の記憶装置がネットワークにより接続した。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態による記憶装置について詳細に説明する。図1は、本発明による記憶装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態による記憶装置1は、複数の各メモリポート11にリクエスト入力端101、リクエスト受付部114、記憶制御部116、ライトデータ制御部117、記憶部118、リードデータ制御部119、リプライデータ出力端102を有する記憶装置1において、全メモリポート11共通の擬似リクエスト生成部12、障害ポート選択部10と、各メモリポート11にリクエスト選択部112、トリガ条件部113、トレーサ部115を有する。
【0014】
つまり、記憶装置1は、各メモリポート11にリクエスト入力端101、リクエスト受付部114、記憶制御部116、ライトデータ制御部117、記憶部118、リードデータ制御部119、リプライデータ出力端102を基本構成とし、訂正不能エラーが発生した各メモリポート11のトレーサ部115内のトレース情報を元にリクエストパタンを生成し試験するための全メモリポート11共通の擬似リクエスト生成部12、障害ポート選択部10と、各メモリポート11にリクエスト選択部112、トリガ条件部113、トレーサ部115を設けている点が特徴である。
【0015】
次に、上記構成における本発明の実施形態による記憶装置のシステム内の位置について説明する。図2は、本発明実施形態の記憶装置1を有する情報処理システムの構成を示すブロック図である。記憶装置1は、診断装置2に接続され障害発生時や診断時にシステムからの切り離し、擬似障害リクエストの発生と指示を受ける。また、記憶装置1は、通常動作時にネットワーク4を介して演算処理装置3、入出力装置5と接続され、命令とデータの交換を行い情報処理を実行する。
【0016】
診断装置2は、トレーサ部115内のトレース情報を元にリクエストパタンを生成し試験するための全メモリポート11共通の擬似リクエスト生成部12、障害ポート選択部10と、各メモリポート11にリクエスト選択部112、トリガ条件部113、トレーサ部115を制御する。
【0017】
次に、上記構成における本発明の実施形態による記憶装置1の動作について説明する。各メモリポート11のリクエスト選択部112は、システム運用上は上位装置である演算処理装置3または入出力装置5からネットワーク4を介して各メモリポート11に対応したリクエストを受け付ける。これら動作指示コマンド、アドレス、ライトデータ等のリクエストは、リクエスト入力端101側からリクエスト受付部114に入力される。
【0018】
リクエスト受付部114では、動作指示コマンドに従い記憶制御部116にライト動作条件、リード動作条件、または、リフレッシュ動作条件と各動作に必要なアドレスを出力し、ライト動作条件の場合はライトデータ制御部117にライトデータを出力する。動作条件とは、ブロックリード、パーシャルライト等の記憶装置1の動作を指示する。記憶制御部116では、受け取った動作条件に従い記憶部118に制御信号を出力し、また、ライトデータ制御部117では、受け付けたライトデータからECCコードに従いチェックビットを生成し、同じく記憶部118にライトデータとチェックビットを出力する。また、リード動作の場合は、記憶部118よりリードデータが出力され、リードデータ制御部119に入力後、RAM故障等により期待したデータが読み出されなかった場合には、リードデータ制御部119内のECC回路によりデータの訂正もしくは訂正不能エラーの検出を行いリプライデータ出力端102よりリプライデータを出力する。システム運用中はおもに以上の動作を行っている。
【0019】
次にリクエストのトレースについて説明する。情報処理システムを運用中に、たとえばメモリポート013のリードデータ制御部119でリードデータを受け付けた際にリードデータ制御部119内のECC回路で訂正不能エラーを検出した場合は、訂正不能エラー信号がメモリポート013のトリガ条件部113に出力され、トリガ条件部113からはトリガ信号1153がメモリポート013のトレーサ部115に出力される。
【0020】
図3は、本発明実施形態の記憶装置におけるトレーサ部115の各レジスタ1151上部に繋がるセレクタ1152とトレーサ部115のステージ構成を示すブロック図である。トレーサ部115では、リクエスト受付部114より受け付けた各種動作条件(アドレス、ライト条件、リード条件、リフレッシュ条件等)をステージ0のレジスタ1151で受け取り、記憶装置1内のクロック周期に合わせステージ1→ステージ2…とレジスタ1151の内容が移動していきステージnのレジスタ1151は後続の各種動作条件信号に書き潰され、記憶装置1内でみるとトレーサ115部にはステージ0が最新の各種動作条件となりステージnでは最新の各種動作条件信号からnステージ前の各種動作条件が常に格納されている。
【0021】
各レジスタ1151上部に繋がるセレクタ1152は、通常、前のステージのレジスタ1151を選択している。トリガ条件が成立した場合のみトリガ信号1153により自身のレジスタ1151を選択することによりエラー発生前後の各種動作条件(アドレス、ライト条件、リード条件、リフレッシュ条件等)を保持する。
【0022】
トレーサ部115でトリガ信号1153を受け付けると各レジスタ1151上部に繋がるセレクタ1152がトリガ信号1153により自身のレジスタ1151を選択することにより訂正不能エラー発生時の前後の各種動作条件をレジスタ1151に保持する。また、各ステージのレジスタ1151内の各種動作条件は擬似リクエスト生成部12と接続されている。
【0023】
以上の動作は、障害の発生したメモリポート013のみに行われその他のメモリポート11のトリガ条件部113、トレーサ部115の動作は行われない。システムとしては訂正不能エラーが検出されたことによりシステムダウンとなる。診断装置2は、診断装置入出力端109からどのメモリポート11でエラーが発生したかを認識し、各ステージのトレース情報である各種動作条件を読み出し試験パタンへのフィードバックを行う。
【0024】
次に擬似リクエストの発生について述べる。システムダウンとなった後、診断装置2は記憶装置1をシステムからの切り離しを行い、外部から障害ポート選択部10へメモリポート013を選択する信号を発行し、メモリポート013内のトレーサ部115内各ステージ情報が擬似リクエスト生成部12へ入力される。その後、診断装置2は擬似リクエスト生成部12に擬似リクエスト発行命令を指示し、トレーサ部115のnステージ番目の各種動作条件からクロック周期毎にn−1ステージ番目→n−2ステージ番目…と、記憶装置1内で受け付けたリクエスト履歴の古い順番に従い、システム運用時に記憶装置1内に入力されるリクエストと同フォーマットに変換した擬似リクエストを記憶装置1へ発行する。
【0025】
この時、擬似リクエスト発行命令は同時にリクエスト選択部112を擬似リクエスト生成部12側に選択するため各メモリポート11のリクエスト受付部114に擬似リクエストが入力されるが、障害を起こしたメモリポート013に関しては外部から障害ポート選択部10へメモリポート013を選択する信号によりマスクが掛かりメモリポート013内のリクエスト選択部112はシステム運用時と同じリクエスト入力端101側を選択したままとなりメモリポート013には擬似リクエストが入力されない。メモリポート013以外の各メモリポート11に擬似リクエストが受け付けられ訂正不能エラーが発生するかどうかの試験が行われる。ここでは、例としてメモリポート013について説明したが、その他のメモリポート11で訂正不能エラーを検出した場合でも同様な動作を行う。
【0026】
以上、訂正不能エラーをトリガ信号1153とした場合について説明してきたが、トリガ条件部113はその他機能として、訂正不能エラー信号、訂正可能エラー信号、記憶装置1内エラー信号の論理和をトリガ信号1153としているため、訂正可能エラーが発生したアクセスパタンや、論理不正により記憶装置1内エラーが発生した場合のアクセスパタンのデータ採取、またはそのアクセスパタンにそった擬似リクエストの発行により障害波及範囲の特定が可能となる。
【0027】
【発明の効果】
以上により、訂正不能エラーが発生した時のアクセスパタンをそのまま試験パタンとして使用することが出来るため効率よく不良RAMの波及範囲の特定ができ、アクセスパタンから不良解析の効率化を実現することが出来る。複数ポート構成の記憶装置において、訂正不能エラーが発生した時のアクセスパタンをそのまま試験パタンとして使用することが出来るため効率よく不良RAMの波及範囲の特定ができ、アクセスパタンから不良解析の効率化を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施形態の記憶装置の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明実施形態の記憶装置を有する情報処理システムの構成を示すブロック図である。
【図3】本発明実施形態の記憶装置におけるトレーサ部115の各レジスタ1151上部に繋がるセレクタ1152とトレーサ部115のステージ構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 記憶装置
2 診断装置
3 演算処理装置
4 ネットワーク
5 入出力装置
10 障害ポート選択部
11 メモリポート
12 擬似リクエスト生成部
13 メモリポート0
101 リクエスト入力端
102 リプライデータ出力端
109 診断装置入出力端
112 リクエスト選択部
113 トリガ条件部
114 リクエスト受付部
115 トレーサ部
116 記憶制御部
117 ライトデータ制御部
118 記憶部
119 リードデータ制御部
1152 セレクタ
1151 レジスタ
1153 トリガ信号[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to failure detection of a storage device, and more particularly, to collecting information for RAM (Ramdom Access Memory) failure analysis on hardware and generating a pseudo request based on the information, thereby detecting a RAM failure in the storage device. The present invention relates to a storage device capable of specifying a transmission range.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In recent years, large-capacity storage devices using a RAM (Random Access Memory) or the like have been required to have large capacity and high speed, and at the same time, high reliability has been required. For this reason, the storage device is provided with an ECC circuit for performing data correction and uncorrectable error detection, thereby preventing data corruption and sending expected read data to a higher-level device to improve reliability. However, due to the large capacity, high speed, and complicated control of the RAM, the tendency of the RAM failure to depend on the access pattern is increasing. Therefore, it takes time to analyze an access pattern at the time of occurrence of a failure and to reflect it in creating a test program.
[0003]
Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 4-297933 discloses a "failure analysis support apparatus" in which, when a program interrupt occurs, hardware control information for temporarily suspending the update of the stage tracer is set, a test program is started, and an instruction to be tested is executed. A failure analysis support apparatus is disclosed in which, when a program interrupt occurs during execution of a column, a validity test of various data and registers is performed by the program interrupt, and when it is determined to be defective, trace information is logged and the test is continued. .
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the past, RAM failures could be detected to some extent by a RAM unit test. However, recent large capacity, high speed, and complicated control have made it difficult to detect RAM failures, depending on the unit test test pattern. However, it is not easy to make a test pattern that covers everything. Therefore, if the test pattern does not cover everything, the unit test passes.However, in the case of operating as a system after manufacturing, if an access pattern that was missing in the test pattern occurs, an uncorrectable error is detected and the system goes down in few cases. Absent. It is necessary to analyze the cause of the uncorrectable error quickly and efficiently.
[0005]
Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 4-297933 "failure analysis support apparatus" cannot generate and trace a pseudo request.
[0006]
An object of the present invention is to solve such a conventional problem. Before and after the moment when an uncorrectable error occurs, a plurality of stages are collected by a stage tracer, and the collected trace information is generated as a request by the storage device itself, and a failure is generated. An object of the present invention is to provide a storage device capable of specifying a RAM failure spread range by performing a RAM access to a port other than a port.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The present invention first storage device is a storage device having a plurality of memory ports and pseudo request generating unit and the fault port selecting unit, said memory port, a request from the request and the pseudo request generating unit from the host apparatus And a request selecting unit for selecting a write operation condition, a read operation condition, or a refresh operation condition and an address to the storage control unit according to an operation instruction command, and a write data control in the case of the write operation condition. A request receiving unit that outputs write data to a unit, a storage control unit that outputs a control signal to a storage unit according to the operation condition, a check bit generated from the write data, and the write data and the check bit are stored in the storage unit. A write data control unit for outputting, and read data from the storage unit A read data control unit for detecting an error of the serial read data, and the tracer unit for rewriting by storing requests the contents of the trace register to the memory port, the rewriting of the trace register when certain conditions occur A trigger condition section for stopping , wherein when the error is detected in the memory port, the pseudo request generation section reads out the operation condition in the tracer section to generate a pseudo request, and the failure port selecting section outputs the pseudo request. A request is issued to the predetermined memory port.
[0008]
The present invention second storage device is a storage device having a plurality of memory ports and pseudo request generating unit and the fault port selecting unit, said memory port, a request from the request and the pseudo request generating unit from the host apparatus And a request selecting unit for selecting a write operation condition, a read operation condition, or a refresh operation condition and an address to the storage control unit according to an operation instruction command, and a write data control in the case of the write operation condition. A request receiving unit that outputs write data to a unit, a storage control unit that outputs a control signal to a storage unit according to the operation condition, a check bit generated from the write data, and the write data and the check bit are stored in the storage unit. A write data control unit for outputting, and read data from the storage unit A read data control unit for detecting an error of the serial read data, and the tracer unit for rewriting by storing requests the contents of the trace register to the memory port, the rewriting of the trace register when certain conditions occur A trigger condition unit for stopping , wherein the storage device is connected to a diagnostic device, and in accordance with an instruction from the diagnostic device, the pseudo request generation unit performs the operation in the tracer unit when an error is detected in the memory port The condition is read, a pseudo request is generated, and the fault port selecting unit issues the pseudo request to the predetermined memory port in accordance with an instruction from the diagnostic device.
[0009]
The present invention third storage device, the tracer portion comprising a first storage device the present invention, the said address before and after the said error is detected write operating conditions, the read operation conditions or the refresh operation, A condition is traced to the tracer unit by a trigger signal from the trigger condition unit.
[0010]
The fourth storage device of the present invention is the first or second storage device of the present invention , wherein the trigger condition section generates a logical sum of an uncorrectable error signal, a correctable error signal, and an error signal in the storage device as a trigger signal. I do.
[0012]
In the information processing system of the present invention, an arithmetic processing unit, an input / output processing unit, and the first, second, third or fourth storage device of the present invention are connected by a network.
[0013]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a storage device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a storage device according to the present invention. In the
[0014]
That is, the
[0015]
Next, the position in the system of the storage device according to the embodiment of the present invention in the above configuration will be described. FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of an information processing system including the
[0016]
The diagnostic device 2 generates a request pattern based on the trace information in the
[0017]
Next, the operation of the
[0018]
The request receiving unit 114 outputs a write operation condition, a read operation condition, or a refresh operation condition and an address necessary for each operation to the
[0019]
Next, request tracing will be described. During operation of the information processing system, for example, when an uncorrectable error is detected by the ECC circuit in the read
[0020]
FIG. 3 is a block diagram illustrating a stage configuration of the
[0021]
The
[0022]
When the trigger signal 1153 is received by the
[0023]
The above operations are performed only on the memory port 013 where the failure has occurred, and the operations of the
[0024]
Next, generation of a pseudo request will be described. After the system goes down, the diagnostic device 2 disconnects the
[0025]
At this time, the pseudo request issuance command inputs the pseudo request to the request receiving unit 114 of each
[0026]
The case where the uncorrectable error is used as the trigger signal 1153 has been described above. However, as another function, the
[0027]
【The invention's effect】
As described above, since the access pattern when an uncorrectable error occurs can be used as a test pattern as it is, the range of the defective RAM can be efficiently specified, and the efficiency of the failure analysis can be realized from the access pattern. . In a storage device with multiple ports, the access pattern when an uncorrectable error occurs can be used as a test pattern as it is, so it is possible to efficiently specify the range of the defective RAM and to improve the efficiency of failure analysis from the access pattern. Can be realized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a storage device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of an information processing system having a storage device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram showing a
[Explanation of symbols]
REFERENCE SIGNS
101
Claims (5)
前記メモリポートは、上位装置からのリクエストと前記擬似リクエスト生成部からのリクエストを選択するリクエスト選択部と、前記リクエストを受け付け、動作指示コマンドに従い記憶制御部にライト動作条件、リード動作条件、または、リフレッシュ動作条件とアドレスを出力し、前記ライト動作条件の場合はライトデータ制御部にライトデータを出力するリクエスト受付部と、前記動作条件に従い記憶部に制御信号を出力する記憶制御部と、ライトデータからチェックビットを生成し、前記記憶部に前記ライトデータと前記チェックビットを出力するライトデータ制御部と、前記記憶部からリードデータを読み出し前記リードデータのエラーの検出を行うリードデータ制御部と、トレースレジスタの内容を前記メモリポートへのリクエストを格納することにより書き換えるトレーサ部と、特定の条件が発生したときに前記トレースレジスタの書き換えを停止するトリガ条件部を有し、
前記擬似リクエスト生成部は前記メモリポート内でエラーが検出されたときに前記トレーサ部内の前記動作条件を読み出し擬似リクエストを生成し、前記障害ポート選択部は前記擬似リクエストを所定の前記メモリポートに対し発行することを特徴とする記憶装置。A storage device having a plurality of memory ports, a pseudo request generation unit, and a failure port selection unit,
The memory port, a request selecting unit that selects a request from the request and the pseudo request generating unit from the host device receives the request, the operation instruction command in accordance with a write operating conditions in the storage control unit, the read operating conditions, or A request receiving unit that outputs a refresh operation condition and an address and outputs write data to a write data control unit in the case of the write operation condition; a storage control unit that outputs a control signal to a storage unit according to the operation condition; A write data control unit that generates a check bit from the storage unit and outputs the write data and the check bit to the storage unit, a read data control unit that reads read data from the storage unit and detects an error in the read data, Requests the contents of the trace register to the memory port Has a tracer unit for rewriting by storing the door, the trigger condition section for stopping the rewrite of the trace register when certain conditions occur,
When an error is detected in the memory port, the pseudo request generation unit reads the operating condition in the tracer unit to generate a pseudo request, and the failure port selection unit sends the pseudo request to a predetermined memory port. A storage device to be issued.
前記メモリポートは、上位装置からのリクエストと前記擬似リクエスト生成部からのリクエストを選択するリクエスト選択部と、前記リクエストを受け付け、動作指示コマンドに従い記憶制御部にライト動作条件、リード動作条件、または、リフレッシュ動作条件とアドレスを出力し、前記ライト動作条件の場合はライトデータ制御部にライトデータを出力するリクエスト受付部と、前記動作条件に従い記憶部に制御信号を出力する記憶制御部と、ライトデータからチェックビットを生成し、前記記憶部に前記ライトデータと前記チェックビットを出力するライトデータ制御部と、前記記憶部からリードデータを読み出し前記リードデータのエラーの検出を行うリードデータ制御部と、トレースレジスタの内容を前記メモリポートへのリクエストを格納することにより書き換えるトレーサ部と、特定の条件が発生したときに前記トレースレジスタの書き換えを停止するトリガ条件部を有し、
前記記憶装置は診断装置に接続され、前記診断装置の指示により、前記擬似リクエスト生成部は前記メモリポート内でエラーが検出されたときに前記トレーサ部内の前記動作条件を読み出し擬似リクエストを生成し、前記診断装置の指示により、前記障害ポート選択部は前記擬似リクエストを所定の前記メモリポートに対し発行することを特徴とする記憶装置。A storage device having a plurality of memory ports, a pseudo request generation unit, and a failure port selection unit,
The memory port, a request selecting unit that selects a request from the request and the pseudo request generating unit from the host device receives the request, the operation instruction command in accordance with a write operating conditions in the storage control unit, the read operating conditions, or A request receiving unit that outputs a refresh operation condition and an address and outputs write data to a write data control unit in the case of the write operation condition; a storage control unit that outputs a control signal to a storage unit according to the operation condition; A write data control unit that generates a check bit from the storage unit and outputs the write data and the check bit to the storage unit, a read data control unit that reads read data from the storage unit and detects an error in the read data, Requests the contents of the trace register to the memory port Has a tracer unit for rewriting by storing the door, the trigger condition section for stopping the rewrite of the trace register when certain conditions occur,
The storage device is connected to a diagnostic device, and according to an instruction of the diagnostic device, the pseudo request generation unit reads the operating conditions in the tracer unit when an error is detected in the memory port, and generates a pseudo request. The storage device according to claim 1, wherein the failure port selector issues the pseudo request to a predetermined memory port in response to an instruction from the diagnostic device.
ことを特徴とする請求項1記載の記憶装置。The tracer unit, the write operation condition and the address of before and after the error is detected, the read operation condition or to trace to the tracer unit by a trigger signal of the refresh operation condition from the trigger condition section, The storage device according to claim 1, wherein:
する請求項1または2記載の記憶装置。3. The storage device according to claim 1, wherein the trigger condition unit generates a logical sum of an uncorrectable error signal, a correctable error signal, and an error signal in the storage device as a trigger signal.
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