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JP3558948B2 - Electron source array and method of manufacturing the same - Google Patents

Electron source array and method of manufacturing the same Download PDF

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JP3558948B2
JP3558948B2 JP2000048808A JP2000048808A JP3558948B2 JP 3558948 B2 JP3558948 B2 JP 3558948B2 JP 2000048808 A JP2000048808 A JP 2000048808A JP 2000048808 A JP2000048808 A JP 2000048808A JP 3558948 B2 JP3558948 B2 JP 3558948B2
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electron source
source array
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mold
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紀基 常定
博 大木
彰 富田
隆 京谷
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、低開始電圧、低駆動電圧を有する電子源アレイ及びその製造方法に関するものであり、超低消費電力、超高輝度なフィールドエミッションディスプレイに用いられる。
【0002】
【従来の技術】
陰極線管のように大きな熱エネルギーを与えて熱電子放出を起こすのではなく、強電界を印加することにより、電界放出する電子源に関する研究がデバイス面、材料面の両面で盛んに行われている。
【0003】
従来の電子源としては、C.A.Spindtら(米国特許第3665241号)が開示しているようなピラミッド状のメタル電子源が知られており、このようなメタル電子源には高融点金属材料、例えば、モリブデン等が用いられている。しかし、このような高融点金属材料を用いたスピント型メタル電子源は、動作真空度が10−9Torrと高く、イオン衝撃耐性が弱いため、信頼性が低いという問題があった。
【0004】
近年、カーボンナノチューブ(以下、CNTと略す)が、炭素アーク放電によるフラーレン合成の副生成物として、飯島ら(S.Iijima、Nature、354、56(1991))により発見された。CNTは円筒状に巻いたグラファイト層の入れ子状構造を有しており、CNTの電界放出実験がW.A.deHeerら(W.A.de Heer、Science、270、1179(1995))により行われ、10mA/cm(電圧:25V/μm)のエミッション電流が観測されている。
【0005】
M.Moskovitsら(PCT公報番号:WO99/25652)は、図13に示すような電子源構造を開示している。アルミニウム基板を陽極酸化し、コバルト、鉄、ニッケル等の金属触媒を陽極酸化膜の細孔に電着し、気相炭素化することでCNTを形成している。CNT電子源は、陽極酸化膜を一部エッチング除去し、後退したフラットな陽極酸化膜表面にCNTを露出することで形成している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のCNT電子源は、デバイス駆動電圧がスピント型メタル電子源より低減されたものの、数十V/μm程度であり、駆動ドライバの耐圧の点で十分な低減ができていないことが課題であった。また、W.A.de HeerらのCNT電子源は、アーク放電で形成されたCNTであり、パターニングと配向制御を共に行うことが難しかった。
【0007】
更に、PCT公報番号WO99/25652で開示されるCNT電子源は、気相炭素化法(CVD法)で形成されたCNTであり、触媒配設プロセス(電着)、電界放出特性向上のためのCNT先端開放プロセス(炉アニール)が必要であり、製造プロセスが複雑化するという課題があった。
【0008】
本発明は、上記従来の課題を解決するためになされたものであり、電子源アレイのエミッション開始電圧、及びデバイス駆動電圧を低減可能な構造を提供すると共に、電子源アレイの製造工程を簡略化することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本願発明による電子源アレイは、フィラメント形状を有する電子源と、前記電子源の間隙に設けられる微粒子とから構成し、電子源の間隙に微粒子を設けて固着する構造により、電子源を高配向制御したアレイを形成し、低駆動電圧で、大電流をエミッションする電子源アレイを実現する。
【0010】
また、好ましくは、電子源の間隙に設ける微粒子をアルミナで構成することにより、微小な口径を有する電子源を高集積化した電子源アレイを形成し、低駆動電圧で、大電流をエミッションする電子源アレイを実現する。
【0011】
さらには、電子源をカーボンナノチューブで構成することにより、イオン衝撃耐性が優れ、低真空度動作可能な電子源アレイを形成し、低駆動電圧で大電流をエミッションする電子源アレイの信頼性向上を実現する。
【0012】
本願発明による電子源アレイの製造方法では、フィラメント形状を有する電子源の鋳型を形成する工程と、前記鋳型に電子源材料を充填してフィラメント形状の電子源を形成する工程と、前記鋳型を加熱して鋳型中にバルクとエッチングレートの異なる、相転位した微粒子を形成し、前記鋳型を上記微粒子だけが残存するようにエッチング除去することで、前記微粒子を電子源の間隙に点在させて前記電子源を微粒子で固着する工程と、を含むことにより、低駆動電圧で大電流をエミッションする電子源アレイを簡便に製造可能とする。
さらには、電子源をカーボンナノチューブで構成することにより、イオン衝撃耐性が優れ、低真空度動作可能な電子源アレイを形成し、低駆動電圧で大電流をエミッションする電子源アレイの信頼性向上を実現する。
【0013】
また、鋳型を形成する工程が陽極酸化工程を含むことにより、半導体装置を製造するような微細加工工程を不要にし、電子源アレイを低コストで製造する。さらに、鋳型に電子源を形成する工程が気相炭素化工程を含むことにより、金属触媒配設工程を不要にし、電子源アレイを簡略化工程で製造する。
また、好ましくは、陽極酸化工程にて、アルミニウムを陽極酸化することにより、微小な口径を有する電子源を高集積化した電子源アレイを形成し、低駆動電圧で、大電流をエミッションする電子源アレイを製造できる。
【0014】
また、好ましくは、電子源を微粒子で固着する工程が酸素プラズマエッチング工程と、アルカリウエットエッチング工程とを含むことにより、電子源の間隙に微粒子を容易に配設可能な製造方法を提供する。
【0015】
さらに、好ましくは、アルカリウエットエッチング工程が、電子源を形成する第1の材料の重量と、鋳型を形成する材料の重量との重量比が一定となる点を終点とする工程を含むことにより、エミッション特性が最適化された電子源アレイ構造を製造可能にする。
また、前記電子源を微粒子で固着する工程における加熱が気相炭素化工程により行われる事が好ましい。
【0016】
【発明の実施の形態】
<第1の実施形態>
以下に、図面を用いて、本願の好適な実施形態を説明する。図1は、本実施形態の電子源アレイを用いたデバイスの斜視図を示すものであり、ここでは、説明するデバイスは3極管構造であり、このような3極管構造デバイスは、フィールドエミッションディスプレイ(FED)に利用可能である。
【0017】
図1のように、ガラス、セラミック等で形成される支持基板1上にカソード電極2を形成する。カソード電極2は、従来から用いられているカソード電極材料を用いることができる。カソード電極2上には、接着層3が形成され、接着層3上には、電子源4と微粒子5とから形成される電子源アレイが設けられる。従来の電子源アレイに用いられている抵抗層をカソード電極2上に挿入しても構わない。また、本実施形態の電子源アレイの場合、接着層3に所望の抵抗値を持たせ、抵抗層としても構わない。
【0018】
電子源アレイ4の間隙に設けられる微粒子5は、個々の電子源4が電気的に絶縁でき、信頼性が向上可能である等の理由により、絶縁材料であることが好ましい。また、このような微粒子5は微細なものが、電子源アレイ4を高集積化可能な点で好ましく、サイズ的には数十nm程度の微粒子5を用いる。
【0019】
電子源4と微粒子5とから構成される電子源アレイは、個々の電子放出領域(FEDの場合は、画素)の周囲をゲート絶縁層6で囲い、更にゲート絶縁層6上にはゲート電極7を設ける。ゲート電極7は、カソード電極2と直交するように設けられる。これは、電子放出領域(画素)をXYアドレスするための構造であり、ゲート絶縁層6は、ゲート電極7とカソード電極2とを完全に絶縁する膜厚が必要であり、ゲート電極7で電界放出を制御可能な距離に対応する膜厚が必要である。
【0020】
本実施形態の電子源4は、エミッション特性(動作駆動電圧、動作真空度等)の点で、炭素材料により構成することが好ましい。炭素材料以外の電子源材料としては、モリブデン等を代表とする高融点金属材料を用いることが可能である。このような高融点金属材料は、後述の陽極酸化膜と金属材料の電気メッキを用いることで比較的簡便に製造でき、エミッション特性も優れる。本実施形態の電子源として、カーボンナノチューブだけではなく、ダイアモンド、ダイアモンドライクカーボン、グラファイト、アモルファスカーボンなどの炭素材料も用いることが可能である。電子源4の形状は、後述の鋳型の設計で自由自在に変更可能である。本実施形態の電子源4の形状は、直径が約30nm程度であり、長さが約75μm程度である。
【0021】
また、本実施形態の電子源4は、鋳型の設計で自由自在に形状変更可能である。このような鋳型は電子源4の形状を決めるだけでなく、微粒子5を構成する材料を含有することが好ましい。このような鋳型材料としては、アルミニウムを陽極酸化して得られるアルミナ陽極酸化膜が好ましい。アルミナ陽極酸化は、数nm〜数十nm程度の直線状の細孔が両面を貫通するように存在する。細孔の密度は1010個/cm程度である。
【0022】
また、500〜800℃程度の熱工程を通過することにより、相転移した微粒子5が形成する。このような相転移した微粒子5は、バルクを形成するアルミナとエッチング特性が異なる。即ち、微粒子5を形成するアルミナと、バルクのアルミナは、例えば、水酸化ナトリウムのようなアルカリエッチャントに対して、エッチング選択比を確保でき、エッチング後に微粒子5のみを残存させ、図1に記載の電子源アレイを形成することが可能である。
【0023】
図2は、本実施形態の電子源アレイのSEM(電子顕微鏡)写真である。直径:30nm程度のカーボンナノチューブからなる電子源4が高密度に、高配向制御されて集積化され、カーボンナノチューブの間隙には微粒子5が点在していることが確認できる。
【0024】
本実施形態のカーボンナノチューブ電子源のエミッション特性を実験的に確認した。図3は本実施形態のカーボンナノチューブ電子源のI−V特性を示す。図中の各プロットは、後述のアルカリ処理時間を変化させた場合のエミッション特性の変化を示すものである。このようなエミッション特性に変化が生じる原因については、後に詳細に説明する。図3のI−V特性に依れば、本実施形態のカーボンナノチューブ電子源は0.3〜0.5V/μm程度からエミッションし始めており、従来のメタル電子源の約1/200、また、従来のカーボンナノチューブ電子源の約1/20程度であり、エミッション開始電圧が著しく低減した。
【0025】
更に、本実施形態の電子源アレイを用い、対向するアノード電極に蛍光体を設け、蛍光体を発光させたところ、10000cd/m以上の発光輝度が得られた。また、5インチ対角、320×240(QVGA)のパネルを試作し、ビデオ信号を入力したところ、画像表示が可能であった。
【0026】
次に、図4〜図10を用い、本実施形態のカーボンナノチューブ(CNT)の製造方法を説明する。図4及び図5は本実施形態にかかる2極管構造のCNT電子源の製造方法を示す工程断面図、図6は本実施形態のアルカリウエットエッチングの終点時間、図7〜図10は本実施形態のアルカリエッチング後の電子源アレイのSEM写真である。尚、本実施形態においては、ポーラスアルミナをCNT形成の鋳型として用いているが、ポーラスタンタルオキサイド、ポーラスシリコン等を用いても構わない。本実施形態の電子源アレイは、典型的な構成の電子源アレイを説明するものであり、電子源4としてカーボンナノチューブ、鋳型としてアルミナ陽極酸化膜を用いる。
【0027】
図4(a)は、アルミニウム基板8を陽極酸化し、陽極酸化膜9、直線状の細孔10を形成した工程断面図を示すものである。アルミニウム基板8の陽極酸化は、0℃の硫酸溶液中で、20Vの電圧を印加し、2時間行った。図4(b)は、アルミニウム基板8から陽極酸化膜9を剥離し、気相炭素化し、細孔10にカーボンナノチューブを形成した工程断面図を示すものである。図4(a)で形成した陽極酸化膜9付きアルミニウム基板8を、硫酸溶液中で、10分間、逆電圧を印加すると、陽極酸化膜9が剥離する。このように形成された陽極酸化膜9は、細孔10径が約30nm程度の細孔10を有し、膜厚が約75μm程度であった。このような細孔10を有する陽極酸化膜9を気相炭化し、細孔10にカーボンナノチューブ4を充填する。カーボンナノチューブ4は、石英管に800℃でプロピレン(窒素中2.5%)を3時間流通させて得られる。この時、同時に、陽極酸化膜9表面にアモルファスカーボン11が堆積する。
【0028】
図4(c)は、陽極酸化膜9表面に堆積したアモルファスカーボン11を除去した工程断面図を示す。アモルファスカーボン11の除去は、RIE(反応性イオンエッチング)を用い、酸素プラズマエッチングで行った。カーボンナノチューブ4の選択比の点でウエットエッチングは好ましくない。また、アルゴン等の不活性ガスを用いたプラズマエッチングは、酸素プラズマエッチングに対して効果が小さかった。
【0029】
図5(a)は、陽極酸化膜9をエッチングし、微粒子12を形成した工程断面図である。陽極酸化膜9は、図4(b)でカーボンナノチューブを形成する際の熱工程(800℃)により、一部相転移する。このような相転移により、相転移した微粒子12は陽極酸化膜9のバルク中に多結晶状態で存在すると考えられる。相転移による形成した微粒子12は、陽極酸化膜9のバルクと物理的な性質が異なり、その結果、エッチングレートが異なる。例えば、本実施形態においては、150℃の水酸化ナトリウムでエッチングしたところ、バルクの陽極酸化膜9がエッチング除去され、微粒子12だけが残存した。もちろん、カーボンナノチューブ4は、全くエッチング除去されない。
【0030】
図6は、水酸化ナトリウムのエッチング時間に対する重量比を示す図である。ここで、重量比は、カーボンナノチューブ4の重量と、カーボンナノチューブ4と陽極酸化膜9の全重量との比を示すものである。アルカリ処理時間が2時間までは、重量比が減少し、鋳型であるバルクの陽極酸化膜9がエッチング除去されていることが分かる。また、アルカリ処理時間が2時間を超えると、重量は一定となる。このような重量比が一定になった状態は、バルクの陽極酸化膜の除去が完了し、エッチング除去されないカーボンナノチューブ4と微粒子12だけが存在している。
【0031】
図7〜10は、アルカリ処理時間を0.5時間、1時間、2時間、3時間とした時の陽極酸化膜9を上面から観察したSEM写真を示す。アルカリ処理時間が0.5時間の時は、陽極酸化膜9がほとんどエッチング除去されず、1時間処理すると、一部のカーボンナノチューブ4が露出し始め、2時間及び3時間では、完全にカーボンナノチューブが露出することが分かる。また、アルカリ処理が2時間と3時間を比較すると、2時間に対して3時間処理のカーボンナノチューブ4は配向が乱れていた。これは、図3のエミッション特性の結果を支持するものであった。以上のことから、アルカリ処理時間は2時間が最も好ましいことが分かったが、この結果は陽極酸化膜9の膜厚、気相炭素化の温度等によって変化するものであり、図6のようなエッチング特性を実験的に確認した上で、電子源アレイの製造条件とするべきである。このような状態は、図2のSEM写真から分かるように、本願の電子源アレイの特徴となる構造を示すものである。
【0032】
図5(b)は、カーボンナノチューブ電子源4と微粒子12からなる電子源アレイを接着層3を介し、支持基板1上のカソード電極2に固着した工程断面図を示す。接着層3としては、銀ペースト、カーボンペースト等の導電性ペーストで貼り合わせことが好ましい。また、低融点金属材料を接着層3として用いても構わない。
【0033】
<第2の実施形態>
本実施形態では、第1の実施形態とは異なる製造方法を示すものであり、具体的には、アルミニウム膜をカソード電極上に形成し、これを陽極酸化して鋳型を形成するものであり、図11及び図12を用いて説明する。また、本実施形態の電子源アレイは3極間構造を有するが、第1の実施形態で製造した電子源アレイも、本実施形態と同様に、3極管構造を形成可能しても構わない。
【0034】
図11(a)は、接着層3/カソード電極2/支持基板1構造の接着層3上のアルミニウム膜を陽極酸化した工程断面図である。接着層3上のアルミニウム膜は、アルミ箔を導電性ペースト、または、低融点金属で貼り合わせて形成する。また、接着層3を抵抗層とし、スパッタ法、蒸着法等でアルミニウム堆積を形成しても構わない。接着層3上に形成したアルミニウム膜を陽極酸化すると、第1の実施形態と同様に、陽極酸化膜9に細孔10が形成する。
【0035】
図11(b)は、陽極酸化膜9の細孔10にカーボンナノチューブ4を形成した工程断面図である。陽極酸化膜9表面には、カーボンナノチューブ4の形成と同時に、アモルファスカーボン11が堆積する。カーボンナノチューブ4の形成は、気相炭素化法を用いた。陽極酸化膜9の細孔10に対する気相炭素化の条件は、図4(b)と同様である。図11(c)は、陽極酸化膜9上のアモルファスカーボン11を除去した工程断面図を示す。第1の実施形態の図4(c)と同様に、RIEを用いた酸素プラズマエッチングで、アモルファスカーボン11を除去する。
【0036】
図12(a)は、陽極酸化膜9に点在する微粒子12を露出させる。この場合、第1の実施形態とは異なり、支持基板1としてガラス基板は好ましくない。但し、エッチャントをリン酸/塩酸の混酸に変更すれば、ガラス基板が使用可能となる。図12(b)は、ゲート絶縁層13、ゲート電極14を形成した工程断面図である。このような3極管構造の電子源アレイの製造方法は、第1の実施形態で形成した電子源アレイにも適用可能である。ゲート絶縁層13は、スクリーン印刷法で、フリットガラス系ペーストを多層印刷して形成する。膜厚は、100μm程度で、この膜厚はデバイス設計により決定すべきである。次に、ゲート電極14をゲート絶縁層13上に形成する。ゲート電極14は、ゲート絶縁層13の形成と同様に、スクリーン印刷法で一般的に用いられている金属配線材料を印刷して形成される。
【0037】
以上のようにして、本願の電子源アレイを製造すると、低電圧駆動可能な電子源アレイが提供できると共に、高輝度なフィールドエミッションディスプレイ(FED)が実現可能となる。
【0038】
【発明の効果】
本願発明による電子源アレイによれば、電子源を高配向制御したアレイを形成でき、従来の高融点金属を用いた電子源アレイのエミッション開始電圧の約1/200程度に低減した電子源アレイを提供することが可能となる。
【0039】
また、電子源の間隙に設ける微粒子をアルミナ、電子源をカーボンナノチューブで構成することにより、従来のカーボンナノチューブを用いた電子源アレイのエミッション開始電圧の約1/20程度に低減した電子源アレイを提供可能にし、超低消費電力で、超高輝度なフィールドエミッションディスプレイを実現可能にした。
【0040】
本願発明の電子源アレイの製造方法に、鋳型を用いた電子源アレイの製造方法を用いることにより、製造方法を簡略化でき、また、陽極酸化法で鋳型を形成することにより、半導体装置を製造するような微細加工工程を不要にし、気相炭素化法で鋳型に対して電子源を充填することにより、金属触媒配設工程を不要にし、製造方法を低コスト化した。更に、電子源を微粒子で固着する工程を酸素プラズマエッチング工程と、アルカリウエットエッチング工程とで行い、アルカリウエットエッチング工程を電子源を含有する鋳型の重量変化で終点検出することにより、エミッション特性が最適化された電子源アレイを製造可能にした。
このような製造方法による電子源アレイによれば、電子源を高配向制御したアレイを形成でき、従来の高融点金属を用いた電子源アレイのエミッション開始電圧の約1/200程度に低減した電子源アレイを提供することが可能となる。
また、前記鋳型を形成する工程がアルミニウムを陽極酸化する工程を含み、電子源をカーボンナノチューブで構成することにより、従来のカーボンナノチューブを用いた電子源アレイのエミッション開始電圧の約1/20程度に低減した電子源アレイを提供可能にし、超低消費電力で、超高輝度なフィールドエミッションディスプレイを実現可能にした。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子源アレイを用いた3極管デバイスの斜視図である。
【図2】本発明の電子源アレイのSEM写真である。
【図3】本発明の電子源アレイのI−V特性図である。
【図4】第1の実施形態の2極管構造の電子源アレイの製造工程断面図である。
【図5】第1の実施形態の2極管構造の電子源アレイの製造工程断面図である。
【図6】第1の実施形態の電子源アレイのアルカリ処理時間と重量比の関係図である。
【図7】第1の実施形態の電子源アレイを0.5時間アルカリ処理した後の上面SEM写真である。
【図8】第1の実施形態の電子源アレイを1時間アルカリ処理した後の上面SEM写真である。
【図9】第1の実施形態の電子源アレイを2時間アルカリ処理した後の上面SEM写真である。
【図10】第1の実施形態の電子源アレイを3時間アルカリ処理した後の上面SEM写真である。
【図11】第2の実施形態の3極管構造の電子源アレイの製造工程断面図である。
【図12】第2の実施形態の3極管構造の電子源アレイの製造工程断面図である。
【図13】従来のカーボンナノチューブを用いた電子源アレイの斜視図である。
【符号の説明】
1 支持基板
2 カソード電極(配線)
3 接着層(抵抗層)
4 フィラメント形状の電子源(カーボンナノチューブ)
5 微粒子(相転移したアルミナ)
6 ゲート絶縁層
7 ゲート電極(配線)
8 アルミニウム基板
9 鋳型(アルミナ陽極酸化膜)
10 細孔
11 アモルファスカーボン
12 微粒子(相転移したアルミナ)
13 ゲート絶縁層
14 ゲート電極(配線)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an electron source array having a low starting voltage and a low driving voltage and a method of manufacturing the same, and is used for an ultra-low power consumption and ultra-high brightness field emission display.
[0002]
[Prior art]
Research on electron sources that emit a field by applying a strong electric field instead of giving a large amount of thermal energy and emitting thermionic electrons like a cathode ray tube has been actively conducted on both the device side and the material side. .
[0003]
Conventional electron sources include C.I. A. A pyramid-shaped metal electron source as disclosed by Spindt et al. (US Pat. No. 3,665,241) is known, and a metal material having a high melting point, such as molybdenum, is used for such a metal electron source. . However, the Spindt-type metal electron source using such a high melting point metal material has a problem that the operating vacuum degree is as high as 10 −9 Torr and the ion impact resistance is weak, so that the reliability is low.
[0004]
In recent years, carbon nanotubes (hereinafter abbreviated as CNT) have been discovered by Iijima et al. (S. Iijima, Nature, 354, 56 (1991)) as a by-product of fullerene synthesis by carbon arc discharge. The CNT has a nested structure of a graphite layer wound in a cylindrical shape. A. (WA de Heer, Science, 270, 1179 (1995)), and an emission current of 10 mA / cm 2 (voltage: 25 V / μm) has been observed.
[0005]
M. Moskovits et al. (PCT Publication No. WO 99/25652) discloses an electron source structure as shown in FIG. CNTs are formed by anodizing an aluminum substrate, electrodepositing a metal catalyst such as cobalt, iron, or nickel on the pores of the anodic oxide film and carbonizing the gas phase. The CNT electron source is formed by partially removing the anodic oxide film by etching and exposing the CNT to the receded flat anodic oxide film surface.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, although the device driving voltage of the conventional CNT electron source is lower than that of the Spindt-type metal electron source, it is about several tens of V / μm, and it is not sufficiently reduced in terms of the withstand voltage of the driving driver. Met. Also, W.S. A. The CNT electron source of De Heer et al. is a CNT formed by arc discharge, and it has been difficult to perform both patterning and orientation control.
[0007]
Further, the CNT electron source disclosed in PCT Publication No. WO99 / 25652 is a CNT formed by a gas phase carbonization method (CVD method), and is used for a catalyst disposition process (electrodeposition) and for improving field emission characteristics. There is a problem that the CNT tip opening process (furnace annealing) is required, and the manufacturing process becomes complicated.
[0008]
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and provides a structure capable of reducing the emission start voltage of the electron source array and the device driving voltage, and simplifies the manufacturing process of the electron source array. The purpose is to do.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an electron source array according to the present invention comprises a filament-shaped electron source and fine particles provided in a gap between the electron sources, and a structure in which fine particles are provided and fixed in a gap between the electron sources. Thereby, an array in which the electron sources are controlled to be highly oriented is formed, and an electron source array that emits a large current at a low driving voltage is realized.
[0010]
Preferably, the fine particles provided in the gap between the electron sources are made of alumina, so that an electron source array in which electron sources having a small diameter are highly integrated is formed. Implement a source array.
[0011]
Furthermore, by constructing the electron source with carbon nanotubes, an electron source array with excellent ion bombardment resistance and operable at a low vacuum degree is formed, and the reliability of the electron source array that emits a large current at a low driving voltage is improved. Realize.
[0012]
In the method for manufacturing an electron source array according to the present invention, a step of forming a mold of an electron source having a filament shape, a step of filling the mold with an electron source material to form a filament-shaped electron source, and heating the mold The bulk and the etching rate are different from each other in the mold to form phase-transferred fine particles, and the template is removed by etching so that only the fine particles remain, so that the fine particles are interspersed in the gap between the electron sources. The step of fixing the electron source with fine particles makes it possible to easily manufacture an electron source array that emits a large current at a low driving voltage.
Furthermore, by constructing the electron source with carbon nanotubes, an electron source array with excellent ion bombardment resistance and operable at a low vacuum degree is formed, and the reliability of the electron source array that emits a large current at a low driving voltage is improved. Realize.
[0013]
In addition, since the step of forming the mold includes the anodizing step, a fine processing step for manufacturing a semiconductor device is not required, and the electron source array is manufactured at low cost. Furthermore, since the step of forming the electron source in the mold includes a gas-phase carbonization step, the step of disposing a metal catalyst becomes unnecessary, and the electron source array is manufactured in a simplified step.
In addition, preferably, in an anodizing step, an electron source array in which an electron source having a small diameter is highly integrated by anodizing aluminum to form an electron source array that emits a large current at a low driving voltage. Arrays can be manufactured.
[0014]
Further, preferably, the step of fixing the electron source with the fine particles includes an oxygen plasma etching step and an alkaline wet etching step, thereby providing a manufacturing method in which the fine particles can be easily arranged in the gap between the electron sources.
[0015]
Furthermore, preferably, the alkali wet etching step includes a step of ending the point at which the weight ratio of the weight of the first material forming the electron source to the weight of the material forming the mold becomes constant, An electron source array structure having optimized emission characteristics can be manufactured.
Further, it is preferable that the heating in the step of fixing the electron source with the fine particles is performed by a gas phase carbonization step.
[0016]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
<First embodiment>
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a device using the electron source array according to the present embodiment. Here, the device to be described has a triode structure. Available for display (FED).
[0017]
As shown in FIG. 1, a cathode electrode 2 is formed on a support substrate 1 made of glass, ceramic, or the like. For the cathode electrode 2, a conventionally used cathode electrode material can be used. An adhesive layer 3 is formed on the cathode electrode 2, and an electron source array formed from an electron source 4 and fine particles 5 is provided on the adhesive layer 3. A resistance layer used in a conventional electron source array may be inserted on the cathode electrode 2. In the case of the electron source array of the present embodiment, the adhesive layer 3 may have a desired resistance value and may be used as a resistance layer.
[0018]
The fine particles 5 provided in the gap between the electron source arrays 4 are preferably an insulating material because the individual electron sources 4 can be electrically insulated and reliability can be improved. Further, such fine particles 5 are preferably fine in that the electron source array 4 can be highly integrated, and the fine particles 5 having a size of about several tens nm are used.
[0019]
The electron source array composed of the electron source 4 and the fine particles 5 surrounds each electron emission region (pixel in the case of FED) with a gate insulating layer 6, and further has a gate electrode 7 on the gate insulating layer 6. Is provided. Gate electrode 7 is provided to be orthogonal to cathode electrode 2. This is a structure for XY addressing the electron emission region (pixel). The gate insulating layer 6 needs to have a film thickness that completely insulates the gate electrode 7 from the cathode electrode 2. A film thickness corresponding to a distance at which emission can be controlled is required.
[0020]
The electron source 4 of the present embodiment is preferably made of a carbon material in terms of emission characteristics (operation drive voltage, operation vacuum degree, etc.). As the electron source material other than the carbon material, a high melting point metal material such as molybdenum can be used. Such a high melting point metal material can be manufactured relatively easily by using an anodic oxide film and electroplating of the metal material described later, and has excellent emission characteristics. As the electron source of the present embodiment, not only carbon nanotubes but also carbon materials such as diamond, diamond-like carbon, graphite, and amorphous carbon can be used. The shape of the electron source 4 can be freely changed by designing a mold described later. The shape of the electron source 4 of the present embodiment has a diameter of about 30 nm and a length of about 75 μm.
[0021]
The shape of the electron source 4 of the present embodiment can be freely changed by designing a mold. It is preferable that such a mold not only determines the shape of the electron source 4 but also contains a material constituting the fine particles 5. As such a mold material, an alumina anodic oxide film obtained by anodizing aluminum is preferable. Alumina anodic oxidation exists such that linear pores of about several nm to several tens nm penetrate both surfaces. The density of the pores is about 10 10 / cm 2 .
[0022]
Further, by passing through a heating step of about 500 to 800 ° C., the phase-transformed fine particles 5 are formed. Such phase-transformed fine particles 5 have different etching characteristics from alumina forming the bulk. That is, the alumina forming the fine particles 5 and the bulk alumina can secure an etching selectivity with respect to an alkali etchant such as sodium hydroxide, leaving only the fine particles 5 after the etching, as shown in FIG. It is possible to form an electron source array.
[0023]
FIG. 2 is an SEM (electron microscope) photograph of the electron source array of the present embodiment. It can be confirmed that the electron sources 4 made of carbon nanotubes having a diameter of about 30 nm are integrated at a high density and with high orientation control, and fine particles 5 are scattered in the gaps between the carbon nanotubes.
[0024]
The emission characteristics of the carbon nanotube electron source of the present embodiment were experimentally confirmed. FIG. 3 shows the IV characteristics of the carbon nanotube electron source of the present embodiment. Each plot in the figure shows a change in emission characteristics when the alkali treatment time described later is changed. The cause of such a change in the emission characteristics will be described later in detail. According to the IV characteristics of FIG. 3, the carbon nanotube electron source of the present embodiment starts to emit from about 0.3 to 0.5 V / μm, which is about 1/200 of the conventional metal electron source, and This is about 1/20 of that of the conventional carbon nanotube electron source, and the emission start voltage is significantly reduced.
[0025]
Furthermore, using the electron source array of the present embodiment, a phosphor was provided on the opposed anode electrode, and the phosphor was allowed to emit light. As a result, a light emission luminance of 10,000 cd / m 2 or more was obtained. A prototype of a 5-inch diagonal, 320 × 240 (QVGA) panel was prototyped, and when a video signal was input, an image could be displayed.
[0026]
Next, a method for manufacturing the carbon nanotube (CNT) of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5 are process cross-sectional views showing a method for manufacturing a CNT electron source having a diode structure according to the present embodiment. FIG. 6 is an end time of alkaline wet etching of the present embodiment. FIGS. 5 is a SEM photograph of an electron source array after alkaline etching of a form. In the present embodiment, porous alumina is used as a mold for forming CNTs, but porous tantalum oxide, porous silicon, or the like may be used. The electron source array of the present embodiment describes a typical configuration of an electron source array, and uses carbon nanotubes as an electron source 4 and an alumina anodic oxide film as a template.
[0027]
FIG. 4A is a sectional view showing a process in which an aluminum substrate 8 is anodized to form an anodic oxide film 9 and linear pores 10. The anodic oxidation of the aluminum substrate 8 was performed for 2 hours in a sulfuric acid solution at 0 ° C. by applying a voltage of 20V. FIG. 4B is a cross-sectional view showing a process in which the anodic oxide film 9 is separated from the aluminum substrate 8, gas phase carbonized, and carbon nanotubes are formed in the pores 10. When a reverse voltage is applied to the aluminum substrate 8 with the anodic oxide film 9 formed in FIG. 4A in a sulfuric acid solution for 10 minutes, the anodic oxide film 9 peels off. The anodic oxide film 9 thus formed had pores 10 with pore diameters of about 30 nm and a film thickness of about 75 μm. The anodic oxide film 9 having such pores 10 is carbonized in a gas phase, and the pores 10 are filled with the carbon nanotubes 4. The carbon nanotubes 4 are obtained by flowing propylene (2.5% in nitrogen) through a quartz tube at 800 ° C. for 3 hours. At this time, the amorphous carbon 11 is simultaneously deposited on the surface of the anodic oxide film 9.
[0028]
FIG. 4C is a sectional view showing a step in which the amorphous carbon 11 deposited on the surface of the anodic oxide film 9 is removed. The removal of the amorphous carbon 11 was performed by oxygen plasma etching using RIE (reactive ion etching). Wet etching is not preferable in terms of the selectivity of the carbon nanotubes 4. In addition, plasma etching using an inert gas such as argon has a small effect on oxygen plasma etching.
[0029]
FIG. 5A is a process sectional view in which the fine particles 12 are formed by etching the anodic oxide film 9. A part of the anodic oxide film 9 undergoes a phase transition by a heating step (800 ° C.) when forming the carbon nanotube in FIG. 4B. Due to such a phase transition, the phase-transformed fine particles 12 are considered to exist in the bulk of the anodic oxide film 9 in a polycrystalline state. The fine particles 12 formed by the phase transition have different physical properties from the bulk of the anodic oxide film 9, and as a result, the etching rate is different. For example, in the present embodiment, when etching was performed with sodium hydroxide at 150 ° C., the bulk anodic oxide film 9 was removed by etching, and only the fine particles 12 remained. Of course, the carbon nanotubes 4 are not removed at all by etching.
[0030]
FIG. 6 is a diagram showing the weight ratio of sodium hydroxide to the etching time. Here, the weight ratio indicates the ratio of the weight of the carbon nanotube 4 to the total weight of the carbon nanotube 4 and the anodic oxide film 9. It can be seen that the weight ratio decreases and the bulk anodic oxide film 9 serving as a mold is etched away until the alkali treatment time is 2 hours. When the alkali treatment time exceeds 2 hours, the weight becomes constant. In such a state where the weight ratio is constant, the removal of the bulk anodic oxide film is completed, and only the carbon nanotubes 4 and the fine particles 12 which are not removed by etching are present.
[0031]
7 to 10 show SEM photographs in which the anodic oxide film 9 was observed from the upper surface when the alkali treatment time was 0.5 hour, 1 hour, 2 hours, and 3 hours. When the alkali treatment time is 0.5 hour, the anodic oxide film 9 is hardly removed by etching, and when the treatment is performed for 1 hour, a part of the carbon nanotubes 4 starts to be exposed. It can be seen that is exposed. In addition, when the alkali treatment was compared with 2 hours and 3 hours, the orientation of the carbon nanotubes 4 treated for 3 hours was disordered with respect to 2 hours. This supported the results of the emission characteristics of FIG. From the above, it was found that the alkali treatment time was most preferably 2 hours. This result varies depending on the film thickness of the anodic oxide film 9, the temperature of the gas phase carbonization, and the like, as shown in FIG. After confirming the etching characteristics experimentally, the manufacturing conditions of the electron source array should be set. Such a state indicates a characteristic structure of the electron source array of the present invention, as can be seen from the SEM photograph of FIG.
[0032]
FIG. 5B is a process sectional view in which an electron source array including the carbon nanotube electron sources 4 and the fine particles 12 is fixed to the cathode electrode 2 on the support substrate 1 via the adhesive layer 3. It is preferable that the adhesive layer 3 is bonded with a conductive paste such as a silver paste or a carbon paste. Further, a low melting point metal material may be used as the adhesive layer 3.
[0033]
<Second embodiment>
In this embodiment, a manufacturing method different from that of the first embodiment is shown. Specifically, an aluminum film is formed on a cathode electrode, and this is anodized to form a mold. This will be described with reference to FIGS. Although the electron source array of the present embodiment has a three-electrode structure, the electron source array manufactured in the first embodiment may be capable of forming a triode structure as in the present embodiment. .
[0034]
FIG. 11A is a process sectional view in which an aluminum film on the adhesive layer 3 of the structure of the adhesive layer 3 / cathode electrode 2 / support substrate 1 is anodized. The aluminum film on the adhesive layer 3 is formed by bonding aluminum foil with a conductive paste or a low-melting metal. Alternatively, the adhesive layer 3 may be used as a resistance layer, and an aluminum deposit may be formed by a sputtering method, an evaporation method, or the like. When the aluminum film formed on the adhesive layer 3 is anodized, pores 10 are formed in the anodic oxide film 9 as in the first embodiment.
[0035]
FIG. 11B is a process sectional view in which the carbon nanotubes 4 are formed in the pores 10 of the anodic oxide film 9. Amorphous carbon 11 is deposited on the surface of the anodic oxide film 9 simultaneously with the formation of the carbon nanotubes 4. The carbon nanotubes 4 were formed using a gas phase carbonization method. The conditions for gas-phase carbonization of the pores 10 of the anodic oxide film 9 are the same as those in FIG. FIG. 11C is a process sectional view in which the amorphous carbon 11 on the anodic oxide film 9 has been removed. As in FIG. 4C of the first embodiment, the amorphous carbon 11 is removed by oxygen plasma etching using RIE.
[0036]
FIG. 12A exposes fine particles 12 scattered in the anodic oxide film 9. In this case, unlike the first embodiment, a glass substrate is not preferable as the support substrate 1. However, if the etchant is changed to a mixed acid of phosphoric acid / hydrochloric acid, a glass substrate can be used. FIG. 12B is a process sectional view in which the gate insulating layer 13 and the gate electrode 14 are formed. Such a method for manufacturing an electron source array having a triode structure can be applied to the electron source array formed in the first embodiment. The gate insulating layer 13 is formed by multi-layer printing of a frit glass-based paste by a screen printing method. The thickness is about 100 μm, and this thickness should be determined by device design. Next, a gate electrode 14 is formed on the gate insulating layer 13. The gate electrode 14 is formed by printing a metal wiring material generally used in a screen printing method, similarly to the formation of the gate insulating layer 13.
[0037]
When the electron source array of the present application is manufactured as described above, an electron source array that can be driven at a low voltage can be provided, and a high-intensity field emission display (FED) can be realized.
[0038]
【The invention's effect】
According to the electron source array of the present invention, it is possible to form an array in which the electron source is highly oriented and to control the electron source array in which the emission start voltage of the conventional electron source array using a high melting point metal is reduced to about 1/200. Can be provided.
[0039]
Also, by using alumina as the fine particles provided in the gap between the electron sources and carbon nanotubes as the electron source, an electron source array reduced to about 1/20 of the emission start voltage of the conventional electron source array using carbon nanotubes can be obtained. We have made it possible to realize ultra-bright field emission displays with ultra-low power consumption.
[0040]
By using the method of manufacturing an electron source array using a template as the method of manufacturing an electron source array of the present invention, the manufacturing method can be simplified, and the semiconductor device can be manufactured by forming the template by an anodizing method. By eliminating the need for such a fine processing step and filling the mold with an electron source using a gas-phase carbonization method, the step of disposing a metal catalyst is not required, and the manufacturing method is reduced in cost. Furthermore, the emission characteristics are optimized by performing the process of fixing the electron source with fine particles in the oxygen plasma etching process and the alkali wet etching process, and detecting the end point by the change in the weight of the mold containing the electron source in the alkali wet etching process. It is now possible to manufacture a simplified electron source array.
According to the electron source array according to such a manufacturing method, an array in which the electron source is highly oriented can be formed, and the electron source array in which the emission start voltage of a conventional electron source array using a high melting point metal is reduced to about 1/200. It is possible to provide a source array.
Further, the step of forming the template includes a step of anodizing aluminum, and by constituting the electron source with carbon nanotubes, the emission start voltage is reduced to about 1/20 of the emission start voltage of the conventional electron source array using carbon nanotubes. We have made it possible to provide a reduced array of electron sources, and have realized a field emission display with ultra-low power consumption and ultra-high brightness.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view of a triode device using an electron source array of the present invention.
FIG. 2 is an SEM photograph of the electron source array of the present invention.
FIG. 3 is an IV characteristic diagram of the electron source array of the present invention.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the electron source array having a diode structure according to the first embodiment.
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process of the electron source array having a diode structure according to the first embodiment.
FIG. 6 is a diagram illustrating a relationship between alkali treatment time and a weight ratio of the electron source array according to the first embodiment.
FIG. 7 is a top SEM photograph of the electron source array of the first embodiment after being subjected to an alkali treatment for 0.5 hour.
FIG. 8 is a top SEM photograph of the electron source array according to the first embodiment after an alkali treatment for one hour.
FIG. 9 is a top SEM photograph of the electron source array of the first embodiment after being subjected to an alkali treatment for 2 hours.
FIG. 10 is a top SEM photograph of the electron source array according to the first embodiment after alkali treatment for 3 hours.
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process of an electron source array having a triode structure according to the second embodiment.
FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process of an electron source array having a triode structure according to the second embodiment.
FIG. 13 is a perspective view of a conventional electron source array using carbon nanotubes.
[Explanation of symbols]
1 support substrate 2 cathode electrode (wiring)
3 adhesive layer (resistance layer)
4 Filament-shaped electron source (carbon nanotube)
5 Fine particles (phase-transformed alumina)
6 gate insulating layer 7 gate electrode (wiring)
8 Aluminum substrate 9 Mold (Alumina anodic oxide film)
Reference Signs List 10 pores 11 amorphous carbon 12 fine particles (phase-transformed alumina)
13 gate insulating layer 14 gate electrode (wiring)

Claims (8)

フィラメント形状を有する電子源の鋳型を形成する工程と、前記鋳型に電子源材料を充填してフィラメント形状の電子源を形成する工程と、前記鋳型を加熱して鋳型中にバルクとエッチングレートの異なる、相転位した微粒子を形成し、前記鋳型を上記微粒子だけが残存するようにエッチング除去することで、前記微粒子を電子源の間隙に点在させて前記電子源を微粒子で固着する工程と、を含むことを特徴とする電子源アレイの製造方法。A step of forming a mold of an electron source having a filament shape, a step of filling the mold with an electron source material to form a filament-shaped electron source, and heating the mold to form a bulk and an etching rate different from each other in the mold. Forming phase-transferred fine particles, and removing the template by etching so that only the fine particles remain, so that the fine particles are scattered in the gap between the electron sources and the electron source is fixed with the fine particles. A method for manufacturing an electron source array, comprising: 前記電子源がカーボンナノチューブで構成されることを特徴とする請求項1に記載の電子源アレイの製造方法 The method according to claim 1, wherein the electron source is formed of carbon nanotubes . 前記鋳型を形成する工程が陽極酸化工程を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の電子源アレイの製造方法 3. The method according to claim 1, wherein the step of forming the template includes an anodic oxidation step . 陽極酸化工程にて、アルミニウムを陽極酸化することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子源アレイの製造方法 The method according to any one of claims 1 to 3, wherein aluminum is anodized in the anodizing step . 前記鋳型に電子源を形成する工程が気相炭素化工程を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電子源アレイの製造方法 The method of manufacturing an electron source array according to any one of claims 1 to 4, wherein the step of forming an electron source in the template includes a gas phase carbonization step . 前記電子源を微粒子で固着する工程が酸素プラズマエッチング工程と、アルカリウエットエッチング工程とを含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の電子源アレイの製造方法 6. The method according to claim 1, wherein the step of fixing the electron source with fine particles includes an oxygen plasma etching step and an alkaline wet etching step . 前記アルカリウエットエッチング工程が、前記電子源を形成する第1の材料の重量と、前記鋳型を形成する材料の重量との重量比が一定となる点を終点とする工程を含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の電子源アレイの製造方法 The alkali wet etching step includes a step of ending the point at which the weight ratio of the weight of the first material forming the electron source to the weight of the material forming the mold becomes constant. A method for manufacturing an electron source array according to claim 1 . 前記微粒子形成工程における加熱が上記気相炭素化工程により行われることを特徴とする請求項5に記載の電子源アレイの製造方法。6. The method according to claim 5, wherein the heating in the fine particle forming step is performed by the gas phase carbonization step.
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