JP3549739B2 - Plasma processing equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板、液晶基板等の製造プロセスに用いるエッチング装置、CVD装置等のプラズマ処理装置に関し、特に、マイクロ波励起方式のプラズマ処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、液晶基板等の製造プロセスに用いるプラズマCVD装置においては、基板の大型化、処理の高速化等の要求に応えるため、大口径で均一かつ高密度のプラズマが得られるラジアルラインスロットアンテナを備えたマイクロ波プラズマCVD装置が提案されている。このマイクロ波プラズマCVD装置においては、チャンバー内に成膜に必要な反応ガスが導入される一方、ラジアルラインスロットアンテナからマイクロ波が放射されてプラズマが発生し、プラズマ中で反応ガスの解離により生じたラジカルが基板表面で化学反応を起こすことによって膜が形成される。
【0003】
上記ラジアルラインスロットアンテナ(Radial Line Slot Antenna)とは、導体表面にマイクロ波放射用の多数のスロットが同心円状または渦巻状に形成されたものであり、裏面側から給電されたマイクロ波をスロット形成面から放射するものである。
図7は従来のラジアルラインスロットアンテナ50の構成を示す図であるが、この図に示すように、円板状の導体51の表面に誘電体からなるマイクロ波の遅波路形成体52が設置され、遅波路形成体52の表面に多数のスロット穴(図7においては図示を省略する)を有する導体からなるスロット板53が固定されている。また、導体51の裏面には、同軸導波管変換器54(符号57は同軸線)、導波管55が設置され、マイクロ波がこれら導波管55、同軸導波管変換器54を経て導体51の裏面側からスロット板53に給電される構成となっている。スロット板53は、例えば板厚0.3mm程度の薄い銅板からなり、導体51の周縁部にネジ56により固定されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ラジアルラインスロットアンテナの構造に関して重要なことは、スロット板が遅波路形成体の表面に隙間なく密着していることである。仮にスロット板と遅波路形成体との間に隙間が生じていると、その部分でマイクロ波の表皮効果による表面波が生じ、マイクロ波の放射効率が著しく低下するからである。しかしながら、上記従来のラジアルラインスロットアンテナの構造によれば、スロット板は周縁部でネジ止めされているだけであるから、スロット板が自重によって撓んだり、マイクロ波電力の給電によりスロット板が加熱された際に熱膨張によって撓み、スロット板と遅波路形成体との間に隙間が生じることがある。すると、マイクロ波の放射効率が大きく低下し、かつ、放射の均一性が著しく悪化するという問題を抱えていた。
【0005】
被処理基板の大型化に伴ってラジアルラインスロットアンテナが大口径になると、スロット板を内部の遅波路形成体に密着させておくことが構造的にますます難しくなるため、この問題点がますます顕著になる恐れがあった。したがって、被処理基板が大型化する程、スロット板と遅波路形成体との密着性が悪くなるので、成膜速度が低下したり、基板面内での膜厚バラツキが大きくなる等の問題が発生しやすくなっていた。
以上、プラズマCVD装置の場合を例に挙げて説明したが、マイクロ波プラズマエッチング装置等、他のプラズマ処理装置でも同様の問題を抱えていた。
【0006】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、ラジアルラインスロットアンテナを構成するスロット体と遅波路形成体との密着性を向上させることによりマイクロ波の放射効率向上、均一性向上が図れ、被処理基板の大口径化、処理の高速化に好適なプラズマ処理装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明のプラズマ処理装置は、プラズマを励起させるマイクロ波をチャンバー内に放射するスロットアンテナを具備し、このスロットアンテナが、マイクロ波放射用のスロットを多数有するスロット体と、プラズマ形成空間側と反対側の前記スロット体表面に設けられた誘電体からなるマイクロ波の遅波路形成体と、プラズマ形成空間側の前記スロット体表面に設けられ前記遅波路形成体と協働して前記スロット体を挟持してマイクロ波を透過させる誘電体からなる押さえ体とからなることを特徴とするものである。
【0008】
すなわち、本発明のプラズマ処理装置においては、スロット体を遅波路形成体と押さえ体との間に挟み込んだ構造のスロットアンテナを用いることによって、スロット体を遅波路形成体に隙間なく密着させることができる。その結果、マイクロ波の放射効率向上、均一性向上を図ることができ、被処理基板の大口径化、処理の高速化に好適なプラズマ処理装置を実現することが可能となる。ただし、スロット体に対して押さえ体はチャンバー内のプラズマ形成空間側に配置されるため、マイクロ波を透過させる性質を持つ誘電体で形成する必要がある。また、誘電率、誘電損失が小さく、かつ、強度の高い材料を用いることが望ましい。一例として、窒化アルミニウム(AlN)、酸化アルミニウム(Al2O3)等の材料が挙げられる。
【0009】
ところで、前記スロット体に設けられたマイクロ波放射用のスロットとは、溝状の有底穴のことであり、一般のスロットアンテナでは穴の内部は空間である。しかしながら、本発明においては、空間であってもよいし、各スロット内部に、遅波路形成体の誘電率と押さえ体の誘電率との間の値の誘電率を有する誘電体を充填した構造としてもよい。スロット内部に上記のような誘電率を持つ誘電体を充填した場合には、スロットの部分における遅波路形成体とスロット体との界面、およびスロット体と押さえ体との界面での誘電率差が小さくなるため、誘電損失を小さく抑えることができ、スロット内が空間のものに比べてより放射効率の高いスロットアンテナが得られる。
【0010】
スロット内部に誘電体を充填する場合、その誘電体をスロット体をなす母材の陽極酸化により形成することができる。その場合、母材の両面のスロットとなる領域以外の領域にマスク材を付着させた状態で陽極酸化を行えばよい。すると、マスク材が付着していない部分、すなわちスロットとなる領域のみで上記母材表面から陽極酸化が進行し、スロット内部が母材の酸化物である誘電体で充填された状態となる。
さらに、上記母材表面と反対側の面、すなわちスロット体の遅波路形成体に接する側の表面に、スロット体をなす母材の陽極酸化により誘電体層を形成してもよい。その場合、母材の遅波路形成体側にあたる面にはマスク材を付着させずに全面陽極酸化を行えばよい。
【0011】
このように、陽極酸化という手法を用いることによって、スロット内部に誘電体を充填したり、スロット体の遅波路形成体側の面に誘電体層を形成する構造を容易に実現することができる。上述したように、スロットアンテナの特性向上のためにはスロット体の導体部分と遅波路形成体との密着性が重要であるが、スロット体の遅波路形成体側の面に陽極酸化による誘電体層を形成する場合には、スロット体の導体部分と誘電体層とはもともと一体の母材であるから、密着性が良いのは当然である。したがって、マイクロ波の放射効率が高く、放射均一性にも優れたスロットアンテナを得ることができる。
【0012】
なお、スロットアンテナの母材としては、銅やアルミニウム等の金属を使用することができるが、陽極酸化を行う場合には、銅を使用することはできず、アルミニウムを使用することが望ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】
[第1の実施の形態]
以下、本発明の第1の実施の形態を図1ないし図3を参照して説明する。
図1は本実施の形態のプラズマCVD装置1(プラズマ処理装置)の全体構成を示す図である。このプラズマCVD装置1は、マイクロ波を放射するラジアルラインスロットアンテナを備えたマイクロ波プラズマ励起方式の装置である。
【0016】
図1に示すように、チャンバー2の上部にラジアルラインスロットアンテナ3が設置されており、これと対向するようにチャンバー2の下部には被処理基板4を支持するためのサセプタ5が設置されている。したがって、被処理基板4の上方がプラズマ形成空間6となり、ラジアルラインスロットアンテナ3からこのプラズマ形成空間6に向けてマイクロ波が放射されるようになっている。ラジアルラインスロットアンテナ3の表面にはマイクロ波放射用の多数のスロット穴(図1においては図示を省略する)が設けられ、マイクロ波発生システム7で生成された2.45GHzのマイクロ波が導波管8、同軸導波管変換器9を経てアンテナ3の裏面側から給電される構成となっている。
【0017】
図2はラジアルラインスロットアンテナ3の部分の構成を示す断面図である。図2に示すように、円板状の導体10の下面に例えばAlN、Al2O3等の誘電体材料からなるマイクロ波の遅波路形成体11が固定され、遅波路形成体11の下面には、多数のスロット穴13を有するアルミニウム等の金属板からなるスロット体12が配置されている。さらに、スロット体12の下面に、マイクロ波を透過させる性質を持つ、例えばAlN、Al2O3等の誘電体からなる押さえ体14が固定されている。押さえ体14はその周縁部でネジ15により導体10に固定されており、したがって、スロット体12は遅波路形成体11と押さえ体14とをなす2枚の誘電体板の間に挟持された状態で固定されている。
【0018】
また、ラジアルラインスロットアンテナ3のスロット穴13の平面的な配置は図3に示す通りであり、一対のスロット穴13が同心円状に多数配置されており、マイクロ波はこれらスロット穴13から空間に放射される。なお、図3中の符号16はネジ孔である。さらに、ラジアルラインスロットアンテナ3の導体10には、マイクロ波給電による加熱を防止するための冷却水を流す冷却管(図示略)が挿通されている。
【0019】
図1に示すように、チャンバー2上部の周縁部にガス導入ポート17が設けられており、反応ガス供給源(図示略)から供給される反応ガスが配管18を通してチャンバー2内のプラズマ形成空間6に供給されるようになっている。一方、チャンバー2の下部には排気口19が設けられ、排気口19に接続された真空ポンプ等の真空排気源(図示略)によりチャンバー2内が減圧されるようになっている。また、チャンバー2の側方には、チャンバー2内を大気に開放することなく被処理基板4の搬出入を行うためのロードロック室20が設けられている。
【0020】
上記構成のプラズマCVD装置1においては、ガス導入ポート17から成膜に必要な反応ガス、例えばSiH4、PH3等のガスがチャンバー2内に供給される。そして、ラジアルラインスロットアンテナ3から放射された2.45GHzのマイクロ波によってプラズマ形成空間6においてプラズマが発生し、反応ガスが解離して生じたラジカルが基板表面で化学反応を起こすことによってSi膜等の所望の膜が形成される。
【0021】
本実施の形態のプラズマCVD装置1によれば、ラジアルラインスロットアンテナ3のスロット体12が遅波路形成体11と押さえ体14との間に挟み込まれた構造となっているため、構造的に、さらにはマイクロ波電力の供給によりスロット体12が加熱、膨張した状態においても、スロット体12を遅波路形成体11に隙間なく密着させることができる。したがって、このプラズマCVD装置1においては、マイクロ波の放射効率向上、均一性向上が図れることにより、大きな電力給電に対しても長時間安定して高密度で均一性の高いプラズマを形成することができる。その結果、被処理基板の大口径化、処理の高速化に適したプラズマCVD装置を実現することが可能となる。
【0022】
[第2の実施の形態]
以下、本発明の第2の実施の形態を図4を参照して説明する。
本実施の形態も第1の実施の形態と同様、押さえ体を備えたマイクロ波プラズマCVD装置の例であり、本実施の形態が第1の実施の形態と異なる点はラジアルラインスロットアンテナのスロット穴の部分の構成のみである。したがって、プラズマCVD装置の全体構成についての説明は省略し、図4を用いてスロット体の構成のみについて説明する。
【0023】
図4に示すように、本実施の形態のスロット体25は、スロット26の内部が誘電体29で埋め込まれている。この誘電体29は、遅波路形成体24の誘電率と押さえ体27の誘電率との間の値の誘電率を有するものであり、スロット26を形成した後で穴の内部に埋め込むことによって形成できる。また、スロット体25を構成する母材の陽極酸化によっても形成することができる。すなわち、母材として板厚が数百μm程度のアルミニウム板を使用し、アルミニウム板の両面のスロットとなる領域以外の領域にマスク材を付着させた状態で陽極酸化を行なう。すると、マスク材が付着していない部分、すなわちスロットとなる領域のみでアルミニウム板表面から陽極酸化が進行し、スロット内部が母材の酸化物であるアルミニウム酸化物で充填された状態となる。
【0024】
本実施の形態のラジアルラインスロットアンテナ22においては、スロット体25のスロット26の内部に遅波路形成体24の誘電率と押さえ体27の誘電率との間の値の誘電率を持つ誘電体29が充填されているため、スロット26の部分における遅波路形成体24とスロット体25との界面、およびスロット体25と押さえ体27との界面での誘電率の差が小さくなる。したがって、誘電損失を小さく抑えることができることから、スロット内が空間のものに比べてより放射効率の高いスロットアンテナが得られ、高効率のプラズマCVD装置を得ることができる。
【0025】
[第3の実施の形態]
以下、本発明の第3の実施の形態を図5を参照して説明する。
本実施の形態も第2の実施の形態と同様、押さえ体を備えたマイクロ波プラズマCVD装置の例であり、本実施の形態が第1、第2の実施の形態と異なる点はスロット体の部分の構成のみである。以下、図5を用いてスロット体の構成のみを説明する。
【0026】
図5に示すように、本実施の形態のスロット体34は、母材が板厚数百μm程度のアルミニウム板からなり、スロット35の内部が酸化アルミニウム38(誘電体)で埋め込まれるとともに、遅波路形成体33に接する側の面に酸化アルミニウム層39(誘電体層)が形成されている。この酸化アルミニウム層39とスロット35内に埋め込まれた酸化アルミニウム38とは一体のものである。この酸化アルミニウム層39を形成するためには、アルミニウム板の一方の面に、第2の実施の形態と同様、スロット35となる領域以外の領域にマスク材を付着させ、他方の面にはマスク材を付着させない状態で陽極酸化を行う。マスク材を付着させた面側からはスロット35となる領域のみで陽極酸化が進行する一方、マスク材を付着させていない面側からは全面で陽極酸化が進行する。このようにして、本実施の形態のスロット体34を作製することができる。
【0027】
上述したように、スロットアンテナの放射効率向上、放射均一性向上のためにはスロット体の導体部分と遅波路形成体との密着性が重要である。そこで、本実施の形態の構造においては、スロット体34の遅波路形成体33に接する側の面に酸化アルミニウムからなる誘電体層39が形成されているため、この誘電体層39が遅波路の一部をなすことになる。すると、本実施の形態の場合、スロット体34の導体部分と酸化アルミニウム誘電体層39とはもともと一体のアルミニウム材であるから、密着性が良いのは当然であり、マイクロ波の放射効率が高く、放射均一性にも優れたスロットアンテナを得ることができる。また、このように特性面に優れたアンテナの構造を陽極酸化という周知の技術を用いて容易に形成することができる。
【0028】
[第4の実施の形態]
以下、本発明の第4の実施の形態を図6を参照して説明する。
本実施の形態は、マイクロ波プラズマCVD装置のラジアルラインスロットアンテナに板厚の厚いスロット体を用いた例である。装置の全体構成は第1ないし第3の実施の形態と共通であるため説明を省略し、以下、図6を用いてスロット体の構成のみを説明する。
【0029】
図6に示すように、本実施の形態のラジアルラインスロットアンテナ41は、第1ないし第3の実施の形態のように薄いスロット体を押さえ体で挟んで支持するのではなく、スロット体44自体の板厚を充分に厚くしたものである。すなわち、本実施の形態では、円板状の導体42の下面に誘電体からなる遅波路形成体43が固定され、遅波路形成体43の下面には多数のスロット穴45が設けられたスロット体44がネジ15により固定されている。スロット体44は、その周縁部でネジ止めされた時に自身が撓まないだけの板厚とされており、具体的にはアルミニウム材を用いた場合、板厚1mm程度である。0.5ないし0.6mm程度になると撓む恐れがある。
【0030】
図6に示すように、スロット体44に設けた各スロット穴45の断面形状は、スロット体44の遅波路形成体43に接する表面から他方側に向けて広がるテーパ状の穴となっている。これは、スロット体44にスロット穴45を形成する際に、アルミニウム材のエッチング処理等を用いてスロット穴45を形成する方法を採用すると、等方性エッチングにより自ずとテーパ状の穴が形成される。
【0031】
本実施の形態のラジアルラインスロットアンテナ41では、スロット体44の板厚が、従来のスロット体に比べて厚く、スロット体44自身が撓まないだけの板厚とされているため、スロット体44と遅波路形成体43との間に隙間が生じることはない。その結果、マイクロ波の放射効率向上、均一性向上が図れることで高密度で均一性の高いプラズマを得ることができ、高効率のプラズマCVD装置が得られる、といった第1ないし第3の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
【0032】
なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。例えば押さえ体を使用するものにおいては、押さえ体の固定手段には周縁部をネジ止めする他、周縁部を固定用リングを用いて押さえる等、種々の固定手段を採ることができる。また、上記実施の形態ではマイクロ波プラズマCVD装置を例に挙げて説明したが、その他、マイクロ波プラズマエッチング装置等の各種プラズマ処理装置に適用することが可能である。
【0033】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明のプラズマ処理装置によれば、押さえ体を用いてスロット体を遅波路形成体との間で挟持するか、またはスロット体自身を撓まないだけの板厚にすることによってスロット体を遅波路形成体に隙間なく密着させることができる。したがって、本プラズマ処理装置においては、マイクロ波の放射効率向上、均一性向上が図れることにより、大きな電力給電に対しても長時間安定して高密度で均一性の高いプラズマを形成することができる。その結果、被処理基板の大口径化、処理の高速化に適したプラズマ処理装置を実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態であるプラズマCVD装置の全体構成を示す断面図である。
【図2】同、装置のラジアルラインスロットアンテナの構成を示す断面図である。
【図3】同、ラジアルラインスロットアンテナの平面図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態であるプラズマCVD装置におけるラジアルラインスロットアンテナの構成を示す拡大断面図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態であるプラズマCVD装置におけるラジアルラインスロットアンテナの構成を示す拡大断面図である。
【図6】本発明の第4の実施の形態であるプラズマCVD装置におけるラジアルラインスロットアンテナの構成を示す拡大断面図である。
【図7】従来のプラズマ処理装置のラジアルラインスロットアンテナの構成を示す斜視断面図である。
【符号の説明】
1 プラズマCVD装置(プラズマ処理装置)
2 チャンバー
3,22,31,41 ラジアルラインスロットアンテナ
6 プラズマ形成空間
10,23,32,42 導体
11,24,33,43 遅波路形成体
12,25,34,44 スロット体
13,26,35,45 スロット(穴)
14,27,36 押さえ体
29,38 (スロット内部に充填した)誘電体
39 酸化アルミニウム層(誘電体層)[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a plasma processing apparatus such as an etching apparatus and a CVD apparatus used for a manufacturing process of a semiconductor substrate, a liquid crystal substrate, and the like, and particularly to a plasma processing apparatus of a microwave excitation type.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In recent years, a plasma CVD apparatus used in a manufacturing process of a liquid crystal substrate or the like is provided with a radial line slot antenna capable of obtaining a large-diameter uniform and high-density plasma in order to respond to a demand for a larger substrate and a higher processing speed. A microwave plasma CVD apparatus has been proposed. In this microwave plasma CVD apparatus, while a reaction gas required for film formation is introduced into a chamber, a microwave is emitted from a radial line slot antenna to generate plasma, which is generated by dissociation of the reaction gas in the plasma. The radicals cause a chemical reaction on the substrate surface to form a film.
[0003]
The above-mentioned radial line slot antenna has a large number of slots for microwave radiation concentrically or spirally formed on the surface of a conductor, and forms a microwave fed from the back side. It radiates from the surface.
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a conventional radial
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, what is important about the structure of the radial line slot antenna is that the slot plate is in close contact with the surface of the slow wave path forming body without any gap. This is because if a gap is formed between the slot plate and the slow wave path forming body, a surface wave is generated at that portion due to the skin effect of the microwave, and the radiation efficiency of the microwave is significantly reduced. However, according to the structure of the conventional radial line slot antenna described above, since the slot plate is only screwed at the periphery, the slot plate is bent by its own weight, or the slot plate is heated by supplying microwave power. When the slot plate is bent, it may be bent due to thermal expansion, and a gap may be formed between the slot plate and the slow wave path forming body. Then, there has been a problem that the radiation efficiency of the microwave is greatly reduced and the uniformity of the radiation is remarkably deteriorated.
[0005]
If the diameter of the radial line slot antenna becomes large due to the increase in the size of the substrate to be processed, it becomes more and more structurally difficult to keep the slot plate in close contact with the internal slow wave path forming body, and this problem is further increased. There was a risk of becoming noticeable. Therefore, as the size of the substrate to be processed increases, the adhesion between the slot plate and the slow-wave path forming body deteriorates, so that problems such as a decrease in the film forming speed and a large variation in the film thickness in the substrate surface are caused. It was easy to occur.
As described above, the case of the plasma CVD apparatus has been described as an example, but other plasma processing apparatuses such as a microwave plasma etching apparatus have similar problems.
[0006]
The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and improves the radiation efficiency of microwaves by improving the adhesion between a slot body constituting a radial line slot antenna and a slow wave path forming body. It is an object of the present invention to provide a plasma processing apparatus which can improve the performance and is suitable for increasing the diameter of a substrate to be processed and increasing the processing speed.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a plasma processing apparatus of the present invention includes a slot antenna for radiating microwaves for exciting plasma into a chamber, and the slot antenna has a plurality of slots for radiating microwaves. Body, a microwave slow wave path forming body made of a dielectric material provided on the surface of the slot body opposite to the plasma forming space side, and the slow wave path forming body provided on the slot body surface of the plasma forming space side And a pressing body made of a dielectric material that cooperates with the slot body to transmit microwaves.
[0008]
That is, in the plasma processing apparatus of the present invention, by using the slot antenna having a structure in which the slot body is sandwiched between the slow wave path forming body and the pressing body, the slot body can be brought into close contact with the slow wave path forming body without any gap. it can. As a result, microwave radiation efficiency and uniformity can be improved, and a plasma processing apparatus suitable for increasing the diameter of a substrate to be processed and increasing the processing speed can be realized. However, since the pressing member is disposed on the side of the plasma forming space in the chamber with respect to the slot member, it must be formed of a dielectric material having a property of transmitting microwaves. It is desirable to use a material having a small dielectric constant and a small dielectric loss and a high strength. As an example, a material such as aluminum nitride (AlN) and aluminum oxide (Al 2 O 3 ) can be given.
[0009]
By the way, the slot for microwave radiation provided in the slot body is a grooved bottomed hole, and in a general slot antenna, the inside of the hole is a space. However, in the present invention, it may be a space, or a structure in which each slot is filled with a dielectric having a dielectric constant between the dielectric constant of the slow wave path forming member and the dielectric constant of the holding member. Is also good. When the inside of the slot is filled with a dielectric material having the above dielectric constant, the dielectric constant difference between the interface between the slow wave path forming body and the slot body and the interface between the slot body and the pressing body in the slot portion is reduced. Since the size is reduced, the dielectric loss can be suppressed to be small, and a slot antenna having higher radiation efficiency can be obtained as compared with a slot antenna having a space inside the slot.
[0010]
When a dielectric is filled in the slot, the dielectric can be formed by anodizing a base material forming the slot. In this case, the anodic oxidation may be performed in a state where the mask material is adhered to a region other than the region serving as the slot on both surfaces of the base material. Then, anodic oxidation proceeds from the surface of the base material only in a portion where the mask material is not attached, that is, only in a region serving as a slot, and the inside of the slot is filled with a dielectric material which is an oxide of the base material.
Further, a dielectric layer may be formed on the surface opposite to the base material surface, that is, on the surface of the slot body that is in contact with the slow wave path forming body by anodizing the base material forming the slot body. In this case, the entire surface of the base material on the side of the slow wave path forming body may be subjected to anodic oxidation without attaching a mask material.
[0011]
As described above, by using the technique of anodic oxidation, a structure in which a dielectric is filled in the slot or a dielectric layer is formed on the surface of the slot on the side of the slow wave path forming member can be easily realized. As described above, in order to improve the characteristics of the slot antenna, the adhesion between the conductor of the slot body and the slow wave path forming body is important, but the dielectric layer formed by anodic oxidation is formed on the surface of the slot body on the side of the slow wave path forming body. Is formed, since the conductor portion of the slot body and the dielectric layer are originally an integral base material, it is natural that the adhesion is good. Therefore, a slot antenna having high microwave radiation efficiency and excellent radiation uniformity can be obtained.
[0012]
Note that a metal such as copper or aluminum can be used as a base material of the slot antenna. However, when anodic oxidation is performed, copper cannot be used, and aluminum is preferably used.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
[First Embodiment]
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a plasma CVD apparatus 1 (plasma processing apparatus) of the present embodiment. This
[0016]
As shown in FIG. 1, a radial
[0017]
FIG. 2 is a sectional view showing a configuration of a portion of the radial
[0018]
The planar arrangement of the slot holes 13 of the radial
[0019]
As shown in FIG. 1, a
[0020]
In the
[0021]
According to the
[0022]
[Second embodiment]
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This embodiment is also an example of a microwave plasma CVD apparatus provided with a holding member, as in the first embodiment. The present embodiment is different from the first embodiment in that the slot of the radial line slot antenna is different from that of the first embodiment. Only the configuration of the hole portion is provided. Therefore, description of the overall configuration of the plasma CVD apparatus is omitted, and only the configuration of the slot body will be described with reference to FIG.
[0023]
As shown in FIG. 4, in the
[0024]
In the radial line slot antenna 22 of the present embodiment, a dielectric 29 having a dielectric constant between the dielectric constant of the slow wave
[0025]
[Third Embodiment]
Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This embodiment is also an example of a microwave plasma CVD apparatus provided with a holding member, as in the second embodiment, and the present embodiment is different from the first and second embodiments in that the slot It is only the configuration of the part. Hereinafter, only the configuration of the slot body will be described with reference to FIG.
[0026]
As shown in FIG. 5, the
[0027]
As described above, in order to improve the radiation efficiency and the radiation uniformity of the slot antenna, the adhesion between the conductor portion of the slot body and the slow wave path forming body is important. Therefore, in the structure of the present embodiment, the
[0028]
[Fourth Embodiment]
Hereinafter, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This embodiment is an example in which a thick slot body is used for a radial line slot antenna of a microwave plasma CVD apparatus. Since the entire configuration of the apparatus is common to the first to third embodiments, the description is omitted, and only the configuration of the slot body will be described below with reference to FIG.
[0029]
As shown in FIG. 6, the radial line slot antenna 41 of the present embodiment is different from the first to third embodiments in that a thin slot body is not supported by being sandwiched by a pressing body, but the
[0030]
As shown in FIG. 6, the cross-sectional shape of each
[0031]
In the radial line slot antenna 41 of the present embodiment, the thickness of the
[0032]
The technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various changes can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the case of using a pressing body, various fixing means can be employed as the fixing means of the pressing body, such as screwing the peripheral portion with a fixing ring and pressing the peripheral portion with a fixing ring. In the above embodiment, the microwave plasma CVD apparatus has been described as an example. However, the present invention can be applied to various plasma processing apparatuses such as a microwave plasma etching apparatus.
[0033]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the plasma processing apparatus of the present invention, the slot body is sandwiched between the slow wave path forming body using the pressing body, or the plate that does not bend the slot body itself. By increasing the thickness, the slot body can be brought into close contact with the slow wave path forming body without any gap. Therefore, in the present plasma processing apparatus, the microwave radiation efficiency and the uniformity can be improved, so that high-density and highly uniform plasma can be formed stably for a long time even with a large power supply. . As a result, it is possible to realize a plasma processing apparatus suitable for increasing the diameter of a substrate to be processed and increasing the processing speed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an overall configuration of a plasma CVD apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a sectional view showing a configuration of a radial line slot antenna of the device.
FIG. 3 is a plan view of the radial line slot antenna.
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view illustrating a configuration of a radial line slot antenna in a plasma CVD apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an enlarged sectional view showing a configuration of a radial line slot antenna in a plasma CVD apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an enlarged sectional view showing a configuration of a radial line slot antenna in a plasma CVD apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a perspective sectional view showing a configuration of a radial line slot antenna of a conventional plasma processing apparatus.
[Explanation of symbols]
1 Plasma CVD equipment (plasma processing equipment)
14, 27, 36
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