JP3450063B2 - 被検体の異常箇所標定装置 - Google Patents
被検体の異常箇所標定装置Info
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- JP3450063B2 JP3450063B2 JP26862694A JP26862694A JP3450063B2 JP 3450063 B2 JP3450063 B2 JP 3450063B2 JP 26862694 A JP26862694 A JP 26862694A JP 26862694 A JP26862694 A JP 26862694A JP 3450063 B2 JP3450063 B2 JP 3450063B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被検体が発生するＡ
Ｅ(アコースティックエミッション)に基づいて、被検体
の異常箇所を標定する被検体の異常箇所標定装置に関す
る。
Ｅ(アコースティックエミッション)に基づいて、被検体
の異常箇所を標定する被検体の異常箇所標定装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の被検体の異常箇所標定装
置としては、被検体の異常箇所から発生するＡＥを、被
検体に取り付けられた２つのＡＥセンサで検出し、この
２つのＡＥセンサからのＡＥ信号を包絡線検波して、こ
の包絡線検波した２つのＡＥ信号のピークの発生時刻間
の時刻差に基づいて、上記被検体の異常箇所を標定する
ものがある。
置としては、被検体の異常箇所から発生するＡＥを、被
検体に取り付けられた２つのＡＥセンサで検出し、この
２つのＡＥセンサからのＡＥ信号を包絡線検波して、こ
の包絡線検波した２つのＡＥ信号のピークの発生時刻間
の時刻差に基づいて、上記被検体の異常箇所を標定する
ものがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来、上記
ＡＥ信号のピークの時刻差を測定する最小時間単位が固
定されていたので、(時刻差÷最小時間単位)が最大記憶
容量を越える場合には、上記時刻差の計測が不可能にな
り、位置標定ができなくなるという問題がある。
ＡＥ信号のピークの時刻差を測定する最小時間単位が固
定されていたので、(時刻差÷最小時間単位)が最大記憶
容量を越える場合には、上記時刻差の計測が不可能にな
り、位置標定ができなくなるという問題がある。
【０００４】そこで、この発明の目的は、ＡＥ信号の時
刻差の計測分解能のミスマッチをなくして、標定ミスを
防ぐことができる被検体の異常箇所標定装置を提供する
ことにある。
刻差の計測分解能のミスマッチをなくして、標定ミスを
防ぐことができる被検体の異常箇所標定装置を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明の被検体の異常箇所標定装置は、互
いに所定の間隔を隔てて設けられた２つのＡＥセンサ
と、一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻と、
他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻
差を計測する時刻差計測手段とを備え、上記時刻差に基
づいて被検体の異常箇所を標定する被検体の異常箇所標
定装置であって、上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号
をいつ受けたということを表すための最大記憶容量ｎの
記憶部を有し、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測
する最小時間単位ｔと上記最大記憶容量ｎとを掛け算し
た最大計測可能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が
上記一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻と、
上記他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻とを
識別できたか否かを判別する計測成否判別手段と、上記
計測成否判別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内
に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を識別できな
かったと判断したときに、上記時刻差計測手段が上記時
刻差を計測する最小時間単位ｔを減少させて、上記時刻
差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制御手段
とを備えたことを特徴としている。
め、請求項１の発明の被検体の異常箇所標定装置は、互
いに所定の間隔を隔てて設けられた２つのＡＥセンサ
と、一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻と、
他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻
差を計測する時刻差計測手段とを備え、上記時刻差に基
づいて被検体の異常箇所を標定する被検体の異常箇所標
定装置であって、上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号
をいつ受けたということを表すための最大記憶容量ｎの
記憶部を有し、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測
する最小時間単位ｔと上記最大記憶容量ｎとを掛け算し
た最大計測可能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が
上記一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻と、
上記他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時刻とを
識別できたか否かを判別する計測成否判別手段と、上記
計測成否判別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内
に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を識別できな
かったと判断したときに、上記時刻差計測手段が上記時
刻差を計測する最小時間単位ｔを減少させて、上記時刻
差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制御手段
とを備えたことを特徴としている。
【０００６】また、請求項２の発明は、互いに所定の間
隔を隔てて設けられた２つのＡＥセンサと、一方のＡＥ
センサからのＡＥ信号を受けた時刻と、他方のＡＥセン
サからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻差を計測する時
刻差計測手段とを備え、上記時刻差に基づいて被検体の
異常箇所を標定する被検体の異常箇所標定装置であっ
て、上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けた
ということを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有
し、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時
間単位ｔと上記最大記憶容量数ｎとを掛け算した最大計
測可能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方
および他方の両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた
か否かを判別する計測成否判別手段と、上記計測成否判
別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に、上記両方
のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けなかったと判断した
ときに、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最
小時間単位ｔを増大させて、上記時刻差計測手段に計測
をやり直しさせる計測きざみ制御手段とを備えたことを
特徴としている。
隔を隔てて設けられた２つのＡＥセンサと、一方のＡＥ
センサからのＡＥ信号を受けた時刻と、他方のＡＥセン
サからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻差を計測する時
刻差計測手段とを備え、上記時刻差に基づいて被検体の
異常箇所を標定する被検体の異常箇所標定装置であっ
て、上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けた
ということを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有
し、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時
間単位ｔと上記最大記憶容量数ｎとを掛け算した最大計
測可能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方
および他方の両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた
か否かを判別する計測成否判別手段と、上記計測成否判
別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に、上記両方
のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けなかったと判断した
ときに、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最
小時間単位ｔを増大させて、上記時刻差計測手段に計測
をやり直しさせる計測きざみ制御手段とを備えたことを
特徴としている。
【０００７】また、請求項３の発明は、互いに所定の間
隔を隔てて設けられた２つのＡＥセンサと、一方のＡＥ
センサからのＡＥ信号を受けた時刻と、他方のＡＥセン
サからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻差を計測する時
刻差計測手段とを備え、上記時刻差に基づいて被検体の
異常箇所を標定する被検体の異常箇所標定装置であっ
て、上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けた
ということを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有
し、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時
間単位ｔと上記格納箇所数ｎとを掛け算した最大計測可
能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方およ
び他方の両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたか否
かを判別する計測成否判別手段と、上記計測成否判別手
段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に、上記両方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号を受けたと判断したときに、上
記最大計測可能時間ｔ・ｎを上記時刻差計測手段が計測
した時刻差に近づけるように、上記最小時間単位ｔを減
少させる計測きざみ制御手段とを備えることを特徴とし
ている。
隔を隔てて設けられた２つのＡＥセンサと、一方のＡＥ
センサからのＡＥ信号を受けた時刻と、他方のＡＥセン
サからのＡＥ信号を受けた時刻との時刻差を計測する時
刻差計測手段とを備え、上記時刻差に基づいて被検体の
異常箇所を標定する被検体の異常箇所標定装置であっ
て、上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けた
ということを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有
し、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時
間単位ｔと上記格納箇所数ｎとを掛け算した最大計測可
能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方およ
び他方の両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたか否
かを判別する計測成否判別手段と、上記計測成否判別手
段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に、上記両方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号を受けたと判断したときに、上
記最大計測可能時間ｔ・ｎを上記時刻差計測手段が計測
した時刻差に近づけるように、上記最小時間単位ｔを減
少させる計測きざみ制御手段とを備えることを特徴とし
ている。
【０００８】
【作用】請求項１に記載の発明によれば、上記時刻差計
測手段が上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に上記両方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号を識別できなかったと、上記計
測成否判別手段が判断したときに、上記計測きざみ制御
手段は上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小
時間単位ｔを減少させて、上記時刻差計測手段に計測を
やり直しさせる。
測手段が上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に上記両方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号を識別できなかったと、上記計
測成否判別手段が判断したときに、上記計測きざみ制御
手段は上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小
時間単位ｔを減少させて、上記時刻差計測手段に計測を
やり直しさせる。
【０００９】したがって、請求項１の発明によれば、最
小時間単位ｔが大き過ぎて、２つの異なるＡＥ信号の時
刻差を判別できなかったときに、上記最小時間単位ｔを
減少させて、ＡＥ信号の時刻差を計測する分解能力を高
めることができる。したがって、請求項１の発明によれ
ば、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測することがで
き、異常箇所を確実に標定することができる。
小時間単位ｔが大き過ぎて、２つの異なるＡＥ信号の時
刻差を判別できなかったときに、上記最小時間単位ｔを
減少させて、ＡＥ信号の時刻差を計測する分解能力を高
めることができる。したがって、請求項１の発明によれ
ば、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測することがで
き、異常箇所を確実に標定することができる。
【００１０】また、請求項２に記載の発明によれば、上
記時刻差計測手段が上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に上
記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けなかったと計
測成否判別手段が判断したときに、上記計測きざみ制御
手段は、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最
小時間単位ｔを増大させて上記時刻差計測手段に計測を
やり直しさせる。
記時刻差計測手段が上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に上
記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けなかったと計
測成否判別手段が判断したときに、上記計測きざみ制御
手段は、上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最
小時間単位ｔを増大させて上記時刻差計測手段に計測を
やり直しさせる。
【００１１】したがって、請求項２の発明によれば、最
小時間単位ｔが小さ過ぎて、最大計測可能時間ｔ・ｎが
上記２つのＡＥ信号の時刻差よりも小さかったときに、
上記最小時間単位ｔを増大させて、計測可能時間ｔ・ｎ
を増大させ、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測する
ことができる。従って、請求項２の発明によれば、異常
箇所を確実に標定することができる。
小時間単位ｔが小さ過ぎて、最大計測可能時間ｔ・ｎが
上記２つのＡＥ信号の時刻差よりも小さかったときに、
上記最小時間単位ｔを増大させて、計測可能時間ｔ・ｎ
を増大させ、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測する
ことができる。従って、請求項２の発明によれば、異常
箇所を確実に標定することができる。
【００１２】また、請求項３の発明によれば、上記時刻
差計測手段が上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に上記両方
のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたと、上記計測成否
判別手段が判断したときに、上記計測きざみ制御手段は
上記最小時間単位ｔを減少させて、上記最大計測可能時
間ｔ・ｎを上記時刻差に近づける。
差計測手段が上記最大計測可能時間ｔ・ｎ内に上記両方
のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたと、上記計測成否
判別手段が判断したときに、上記計測きざみ制御手段は
上記最小時間単位ｔを減少させて、上記最大計測可能時
間ｔ・ｎを上記時刻差に近づける。
【００１３】したがって、請求項３の発明によれば、２
つのＡＥ信号の時刻差の計測精度を向上させることがで
きる。
つのＡＥ信号の時刻差の計測精度を向上させることがで
きる。
【００１４】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【００１５】図１に、この発明の被検体の異常箇所標定
装置の第１実施例の構成を示す。この第１実施例は、互
いに所定の間隔を隔てて被検体に取り付けられて、被検
体から発生するＡＥを検出してＡＥ信号を発生する２つ
のＡＥセンサ１Ａ,１Ｂと、このＡＥセンサ１Ａ,１Ｂか
らのＡＥ信号を増幅するプリアンプ２と、このプリアン
プ２からのＡＥ信号の内の所定の帯域の成分を通過させ
るバンドパスフィルター３と、このバンドパスフィルタ
ー３からのＡＥ信号を増幅するメインアンプ４と、この
メインアンプ４からのＡＥ信号を包絡線検波する包絡線
検波回路５と、この包絡線検波回路５からのＡＥ信号に
基づいて上記被検体の異常箇所を標定するコンピュータ
６とを備えている。
装置の第１実施例の構成を示す。この第１実施例は、互
いに所定の間隔を隔てて被検体に取り付けられて、被検
体から発生するＡＥを検出してＡＥ信号を発生する２つ
のＡＥセンサ１Ａ,１Ｂと、このＡＥセンサ１Ａ,１Ｂか
らのＡＥ信号を増幅するプリアンプ２と、このプリアン
プ２からのＡＥ信号の内の所定の帯域の成分を通過させ
るバンドパスフィルター３と、このバンドパスフィルタ
ー３からのＡＥ信号を増幅するメインアンプ４と、この
メインアンプ４からのＡＥ信号を包絡線検波する包絡線
検波回路５と、この包絡線検波回路５からのＡＥ信号に
基づいて上記被検体の異常箇所を標定するコンピュータ
６とを備えている。
【００１６】このコンピュータ６は、ＡＥセンサ１Ａか
らのＡＥ信号を受けた時刻とＡＥセンサ１ＢからのＡＥ
信号を受けた時刻との時刻差を計測し、この時刻差に基
づいて上記被検体の異常箇所を標定するようになってい
る。
らのＡＥ信号を受けた時刻とＡＥセンサ１ＢからのＡＥ
信号を受けた時刻との時刻差を計測し、この時刻差に基
づいて上記被検体の異常箇所を標定するようになってい
る。
【００１７】上記コンピュータ６は、上記ＡＥ信号をい
つ受けたかということを表すための最大記憶容量ｎの記
憶部を備えている。
つ受けたかということを表すための最大記憶容量ｎの記
憶部を備えている。
【００１８】このコンピュータ６の動作を、図２に示す
フローチャートに沿って説明する。
フローチャートに沿って説明する。
【００１９】まず、ステップＳ１で、上記時刻差を計測
できる最小単位である最小時間単位ｔを設定可能な値の
うちの最大値に設定する。すなわち、上記時刻差計測に
おける分解能を最低に設定する。
できる最小単位である最小時間単位ｔを設定可能な値の
うちの最大値に設定する。すなわち、上記時刻差計測に
おける分解能を最低に設定する。
【００２０】次に、ステップＳ２で、ＡＥ信号の取り込
みを開始し、計時を開始して、被検体の異常箇所の位置
標定を開始する。すなわち、上記最小時間単位ｔ毎に、
上記ＡＥ信号を受けたか否かの情報を上記記憶部に格納
する。
みを開始し、計時を開始して、被検体の異常箇所の位置
標定を開始する。すなわち、上記最小時間単位ｔ毎に、
上記ＡＥ信号を受けたか否かの情報を上記記憶部に格納
する。
【００２１】次に、ステップＳ３に進み、標定開始後、
最大計測可能時間(ｔ・ｎ）つまり（最小時間単位ｔ×
最大記憶容量ｎ)だけ時間が経過したか否かを判断し、
上記ｔ・ｎだけ時間が経過したと判断したときにステッ
プＳ４に進み、上記ｔ・ｎだけ時間が経過していないと
判断したときにステップＳ２に戻る。
最大計測可能時間(ｔ・ｎ）つまり（最小時間単位ｔ×
最大記憶容量ｎ)だけ時間が経過したか否かを判断し、
上記ｔ・ｎだけ時間が経過したと判断したときにステッ
プＳ４に進み、上記ｔ・ｎだけ時間が経過していないと
判断したときにステップＳ２に戻る。
【００２２】ステップＳ４では、最大計測可能時間ｔ・
ｎ内に、上記ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号を受けた時
刻Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１ＢからのＡＥ信号を受けた時
刻Ｔ1Bとを、識別できたか否かを判断する。このステッ
プＳ４が計測成否判別手段を構成している。そして、上
記２つの時刻Ｔ1AとＴ1Bとを識別できたと判断したとき
にステップＳ５に進み、上記２つの時刻Ｔ1AとＴ1Bを識
別できなかったと判断したときにステップＳ６に進む。
ｎ内に、上記ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号を受けた時
刻Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１ＢからのＡＥ信号を受けた時
刻Ｔ1Bとを、識別できたか否かを判断する。このステッ
プＳ４が計測成否判別手段を構成している。そして、上
記２つの時刻Ｔ1AとＴ1Bとを識別できたと判断したとき
にステップＳ５に進み、上記２つの時刻Ｔ1AとＴ1Bを識
別できなかったと判断したときにステップＳ６に進む。
【００２３】ステップＳ５では、上記ＡＥセンサ１Ａか
らのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１Ｂか
らのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Bとの時刻差ΔＴを算出す
る。そして、この時刻差ΔＴから上記被検体の異常箇所
を標定する。そして、この標定結果を表示する。
らのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１Ｂか
らのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Bとの時刻差ΔＴを算出す
る。そして、この時刻差ΔＴから上記被検体の異常箇所
を標定する。そして、この標定結果を表示する。
【００２４】一方、ステップＳ６では、上記最小時間単
位ｔが設定可能な値のうちの最小値ｔminであるか否か
を判断し、上記最小時間単位ｔが最小値ｔminであると
判断したときにはステップＳ７に進み、上記最小時間単
位ｔが最小値ｔminでないと判断したときにはステップ
Ｓ８に進む。
位ｔが設定可能な値のうちの最小値ｔminであるか否か
を判断し、上記最小時間単位ｔが最小値ｔminであると
判断したときにはステップＳ７に進み、上記最小時間単
位ｔが最小値ｔminでないと判断したときにはステップ
Ｓ８に進む。
【００２５】上記ステップＳ７では、コンピュータ７
は、異常箇所の位置標定ができなかったことを表すエラ
ー表示を行う。
は、異常箇所の位置標定ができなかったことを表すエラ
ー表示を行う。
【００２６】一方、ステップＳ８では、コンピュータ７
は、上記最小時間単位ｔを減少させて、時刻差計測にお
ける分解能を上げる。次に、ステップＳ９に進み、計時
時間を零にリセットしてから、ステップＳ２に戻る。
は、上記最小時間単位ｔを減少させて、時刻差計測にお
ける分解能を上げる。次に、ステップＳ９に進み、計時
時間を零にリセットしてから、ステップＳ２に戻る。
【００２７】上記ステップＳ６とＳ８が計測きざみ制御
手段を構成している。
手段を構成している。
【００２８】このように、この第１実施例によれば、最
小時間単位ｔが大き過ぎて、２つの異なるＡＥ信号を受
けた時刻を識別できなかったときに、最小時間単位ｔを
減少させて、２つのＡＥ信号の時刻差を計測する分解能
力を高めることができる。したがって、この第１実施例
によれば、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測するこ
とができ、被検体の異常箇所を確実に標定することがで
きる。
小時間単位ｔが大き過ぎて、２つの異なるＡＥ信号を受
けた時刻を識別できなかったときに、最小時間単位ｔを
減少させて、２つのＡＥ信号の時刻差を計測する分解能
力を高めることができる。したがって、この第１実施例
によれば、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測するこ
とができ、被検体の異常箇所を確実に標定することがで
きる。
【００２９】次に、この発明の第２実施例を説明する。
この第２実施例が上記第１実施例と異なる点は、図１に
示したコンピュータ６の構成だけである。したがって、
この第２実施例が備えるコンピュータの動作を、図３に
示したフローチャートに沿って説明する。
この第２実施例が上記第１実施例と異なる点は、図１に
示したコンピュータ６の構成だけである。したがって、
この第２実施例が備えるコンピュータの動作を、図３に
示したフローチャートに沿って説明する。
【００３０】まず、ステップＳ１１で、２つのＡＥセン
サ１Ａ,１Ｂからの２つのＡＥ信号の時刻差を計測でき
る最小単位である最小時間単位ｔを設定可能な値のうち
の最小値に設定する。即ち、上記時刻差計測における分
解能を最高に設定する。
サ１Ａ,１Ｂからの２つのＡＥ信号の時刻差を計測でき
る最小単位である最小時間単位ｔを設定可能な値のうち
の最小値に設定する。即ち、上記時刻差計測における分
解能を最高に設定する。
【００３１】次に、ステップＳ１２で、ＡＥ信号の取り
込みを開始し、計時を開始して、被検体の異常箇所の位
置標定を開始する。すなわち、上記最小時間単位ｔ毎
に、上記ＡＥ信号を受けたか否かの情報を上記記憶部に
格納する。
込みを開始し、計時を開始して、被検体の異常箇所の位
置標定を開始する。すなわち、上記最小時間単位ｔ毎
に、上記ＡＥ信号を受けたか否かの情報を上記記憶部に
格納する。
【００３２】次に、ステップＳ１３に進み、標定開始
後、最大計測可能時間（ｔ・ｎ）つまり（最小時間単位
ｔ×最大記憶容量ｎ）だけ時間が経過したか否かを判断
し、上記ｔ・ｎだけ時間が経過したと判断したときにス
テップＳ１４に進み、上記ｔ・ｎだけ時間が経過してい
ないと判断したときにステップＳ１２に戻る。
後、最大計測可能時間（ｔ・ｎ）つまり（最小時間単位
ｔ×最大記憶容量ｎ）だけ時間が経過したか否かを判断
し、上記ｔ・ｎだけ時間が経過したと判断したときにス
テップＳ１４に進み、上記ｔ・ｎだけ時間が経過してい
ないと判断したときにステップＳ１２に戻る。
【００３３】ステップＳ１４では、最大計測可能時間ｔ
・ｎ内に、ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号とＡＥセンサ
１ＢからのＡＥ信号とを、受けたか否かを判断する。こ
のステップＳ１４が計測成否判別手段を構成している。
そして、上記２つのＡＥ信号を受けたと判断したときに
ステップＳ１５に進み、上記２つのＡＥ信号を受けなか
ったと判断したときにステップＳ１６に進む。
・ｎ内に、ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号とＡＥセンサ
１ＢからのＡＥ信号とを、受けたか否かを判断する。こ
のステップＳ１４が計測成否判別手段を構成している。
そして、上記２つのＡＥ信号を受けたと判断したときに
ステップＳ１５に進み、上記２つのＡＥ信号を受けなか
ったと判断したときにステップＳ１６に進む。
【００３４】ステップＳ１５では、上記ＡＥセンサ１Ａ
からのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１Ｂ
からのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Bとの時刻差ΔＴを算出
する。そして、この時刻差ΔＴから上記被検体の異常箇
所を標定する。そして、この標定結果を表示する。
からのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１Ｂ
からのＡＥ信号を受けた時刻Ｔ1Bとの時刻差ΔＴを算出
する。そして、この時刻差ΔＴから上記被検体の異常箇
所を標定する。そして、この標定結果を表示する。
【００３５】一方、ステップＳ１６では、上記最小時間
単位ｔが設定可能な値のうちの最大値ｔmaxであるか否
かを判断し、上記最小時間単位ｔが最大値ｔmaxである
と判断したときにはステップＳ１７に進み、上記最小時
間単位ｔが最大値ｔmaxでないと判断したときにはステ
ップＳ１８に進む。
単位ｔが設定可能な値のうちの最大値ｔmaxであるか否
かを判断し、上記最小時間単位ｔが最大値ｔmaxである
と判断したときにはステップＳ１７に進み、上記最小時
間単位ｔが最大値ｔmaxでないと判断したときにはステ
ップＳ１８に進む。
【００３６】上記ステップＳ１７では、コンピュータ７
は、異常箇所の位置標定ができなかったことを表すエラ
ー表示を行う。
は、異常箇所の位置標定ができなかったことを表すエラ
ー表示を行う。
【００３７】一方、ステップＳ１８では、コンピュータ
７は、上記最小時間単位ｔを増大させて、時刻差計測に
おける分解能を下げる。次に、ステップＳ１９に進み、
計時時間を零にリセットしてから、ステップＳ１２に戻
る。
７は、上記最小時間単位ｔを増大させて、時刻差計測に
おける分解能を下げる。次に、ステップＳ１９に進み、
計時時間を零にリセットしてから、ステップＳ１２に戻
る。
【００３８】上記ステップＳ１６とＳ１８が計測きざみ
制御手段を構成している。
制御手段を構成している。
【００３９】このように、この第２実施例によれば、最
小時間単位ｔが小さ過ぎて、最大計測可能時間ｔ・ｎが
上記２つのＡＥ信号の時刻差よりも小さかったときに、
上記最小時間単位ｔを増大させて、計測可能時間ｔ・ｎ
を増大させ、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測する
ことができる。したがって、第２実施例によれば、異常
箇所を確実に標定することができる。
小時間単位ｔが小さ過ぎて、最大計測可能時間ｔ・ｎが
上記２つのＡＥ信号の時刻差よりも小さかったときに、
上記最小時間単位ｔを増大させて、計測可能時間ｔ・ｎ
を増大させ、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測する
ことができる。したがって、第２実施例によれば、異常
箇所を確実に標定することができる。
【００４０】次に、この発明の第３実施例を説明する。
この第３実施例が上記第１実施例と異なる点は、図１に
示したコンピュータ６の構成だけである。したがって、
この第３実施例が備えるコンピュータの動作を、図４に
示したフローチャートに沿って説明する。
この第３実施例が上記第１実施例と異なる点は、図１に
示したコンピュータ６の構成だけである。したがって、
この第３実施例が備えるコンピュータの動作を、図４に
示したフローチャートに沿って説明する。
【００４１】まず、ステップＳ３１で、２つのＡＥセン
サ１Ａ,１Ｂからの２つのＡＥ信号の時刻差を計測でき
る最小単位である最小時間単位ｔを設定可能な値のうち
の最大値に設定する。すなわち、上記時刻差計測におけ
る分解能を最低に設定する。そして、ＡＥ信号の取り込
みを開始し、計時を開始して、被検体の異常箇所の位置
標定を開始する。
サ１Ａ,１Ｂからの２つのＡＥ信号の時刻差を計測でき
る最小単位である最小時間単位ｔを設定可能な値のうち
の最大値に設定する。すなわち、上記時刻差計測におけ
る分解能を最低に設定する。そして、ＡＥ信号の取り込
みを開始し、計時を開始して、被検体の異常箇所の位置
標定を開始する。
【００４２】次に、ステップＳ３２で、上記最小時間単
位ｔ毎に、上記ＡＥ信号を受けたか否かの情報を上記記
憶部に格納する。
位ｔ毎に、上記ＡＥ信号を受けたか否かの情報を上記記
憶部に格納する。
【００４３】次に、ステップＳ３３に進み、標定開始
後、最大計測可能時間（ｔ・ｎ）つまり（最小時間単位
ｔ×最大記憶容量ｎ）だけ時間が経過したか否かを判断
し、上記ｔ・ｎだけ時間が経過したと判断したときにス
テップＳ３４に進み、上記ｔ・ｎだけ時間が経過してい
ないと判断したときにステップＳ３２に戻る。
後、最大計測可能時間（ｔ・ｎ）つまり（最小時間単位
ｔ×最大記憶容量ｎ）だけ時間が経過したか否かを判断
し、上記ｔ・ｎだけ時間が経過したと判断したときにス
テップＳ３４に進み、上記ｔ・ｎだけ時間が経過してい
ないと判断したときにステップＳ３２に戻る。
【００４４】ステップＳ３４では、最大計測可能時間ｔ
・ｎ内に、ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号とＡＥセンサ
１ＢからのＡＥ信号との両方を受けたか否かを判断す
る。このステップＳ３４が計測成否判別手段を構成して
いる。そして、上記２つのＡＥ信号を受けたと判断した
ときにステップＳ３６に進み、上記２つのＡＥ信号を受
けなかったと判断したときにステップＳ３５に進む。
・ｎ内に、ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号とＡＥセンサ
１ＢからのＡＥ信号との両方を受けたか否かを判断す
る。このステップＳ３４が計測成否判別手段を構成して
いる。そして、上記２つのＡＥ信号を受けたと判断した
ときにステップＳ３６に進み、上記２つのＡＥ信号を受
けなかったと判断したときにステップＳ３５に進む。
【００４５】ステップＳ３５では、コンピュータ６は、
異常箇所の位置標定ができなかったことを表すエラー表
示を行う。
異常箇所の位置標定ができなかったことを表すエラー表
示を行う。
【００４６】一方、ステップＳ３６では、コンピュータ
６は、上記ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号を受けた時刻
Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１ＢからのＡＥ信号を受けた時刻
Ｔ1Bとの時刻差ΔＴを算出する。そして、上記最大計測
可能時間ｔ・ｎから上記時刻差ΔＴを減算した値（ｔ・
ｎ−ΔＴ）が正である制限下での最小の最小時間単位ｔ
opを計算する。この最小の最小時間単位ｔopによる位置
標定は、最適分解能を実現できる。
６は、上記ＡＥセンサ１ＡからのＡＥ信号を受けた時刻
Ｔ1Aと上記ＡＥセンサ１ＢからのＡＥ信号を受けた時刻
Ｔ1Bとの時刻差ΔＴを算出する。そして、上記最大計測
可能時間ｔ・ｎから上記時刻差ΔＴを減算した値（ｔ・
ｎ−ΔＴ）が正である制限下での最小の最小時間単位ｔ
opを計算する。この最小の最小時間単位ｔopによる位置
標定は、最適分解能を実現できる。
【００４７】つぎに、ステップＳ３７に進み、上記２つ
のＡＥセンサ１Ａと１Ｂからの２つのＡＥ信号を受けた
ときの上記最小時間単位ｔが上記最小の最小時間単位ｔ
opに等しかったか否かを判断し、等しかったと判断した
ときに、ステップＳ３８に進み、等しくなかったと判断
したときに、ステップＳ３９に進む。
のＡＥセンサ１Ａと１Ｂからの２つのＡＥ信号を受けた
ときの上記最小時間単位ｔが上記最小の最小時間単位ｔ
opに等しかったか否かを判断し、等しかったと判断した
ときに、ステップＳ３８に進み、等しくなかったと判断
したときに、ステップＳ３９に進む。
【００４８】ステップＳ３８では、上記時刻差ΔＴか
ら、上記被検体に発生した異常箇所を標定し、この標定
結果を表示する。
ら、上記被検体に発生した異常箇所を標定し、この標定
結果を表示する。
【００４９】一方、ステップＳ３９では、最小時間単位
ｔを減少させて、上記最小の最小時間単位ｔopに設定し
て、ステップＳ４０に進み、計時時間を零に戻してか
ら、ステップＳ３２に戻る。
ｔを減少させて、上記最小の最小時間単位ｔopに設定し
て、ステップＳ４０に進み、計時時間を零に戻してか
ら、ステップＳ３２に戻る。
【００５０】上記ステップＳ３６とＳ３７とＳ３９が計
測きざみ制御手段を構成している。このように、この第
３実施例によれば、上記両方のＡＥセンサ１Ａと１Ｂか
らの両方のＡＥ信号を受けることができる条件の元での
最小の最小時間単位ｔopで上記２つのＡＥ信号の時刻差
を計測することができる。したがって、この第３実施例
によれば、常に最高の分解能で被検体の異常箇所の位置
を標定することができる。
測きざみ制御手段を構成している。このように、この第
３実施例によれば、上記両方のＡＥセンサ１Ａと１Ｂか
らの両方のＡＥ信号を受けることができる条件の元での
最小の最小時間単位ｔopで上記２つのＡＥ信号の時刻差
を計測することができる。したがって、この第３実施例
によれば、常に最高の分解能で被検体の異常箇所の位置
を標定することができる。
【００５１】尚、上記第１実施例ではコンピュータ６は
位置標定の分解能の初期設定を最低値にして、この最低
値から分解能を上げて行くようにし、第２実施例ではコ
ンピュータ６は位置標定の分解能の初期設定を最高値に
して、この最高値から分解能を下げて行くようにした
が、コンピュータ６が分解能の初期設定を上記最低と最
高の間の任意の中間値に設定し、位置標定可能になるま
で、分解能を上記中間値から増減を交互に繰り返しなが
ら、順次上記中間値から遠い値に変えて行くような動作
を実行するものであってもよい。
位置標定の分解能の初期設定を最低値にして、この最低
値から分解能を上げて行くようにし、第２実施例ではコ
ンピュータ６は位置標定の分解能の初期設定を最高値に
して、この最高値から分解能を下げて行くようにした
が、コンピュータ６が分解能の初期設定を上記最低と最
高の間の任意の中間値に設定し、位置標定可能になるま
で、分解能を上記中間値から増減を交互に繰り返しなが
ら、順次上記中間値から遠い値に変えて行くような動作
を実行するものであってもよい。
【００５２】また、上記第１〜第３実施例では、ＡＥセ
ンサを被検体に直接に取り付けたが、ＡＥセンサを被検
体に直接に取り付けずに、他の部材を介して間接的に取
り付けてもよい。
ンサを被検体に直接に取り付けたが、ＡＥセンサを被検
体に直接に取り付けずに、他の部材を介して間接的に取
り付けてもよい。
【００５３】
【発明の効果】以上より明らかなように、請求項１の発
明の被検体の異常箇所標定装置は、最大計測可能時間ｔ
・ｎ内に、２つのＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時
刻を識別できなかったと判断したときに、時刻差計測手
段が時刻差を計測する最小時間単位ｔを減少させて、時
刻差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制御手
段を備えている。
明の被検体の異常箇所標定装置は、最大計測可能時間ｔ
・ｎ内に、２つのＡＥセンサからのＡＥ信号を受けた時
刻を識別できなかったと判断したときに、時刻差計測手
段が時刻差を計測する最小時間単位ｔを減少させて、時
刻差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制御手
段を備えている。
【００５４】したがって、請求項１の発明によれば、最
小時間単位ｔが大き過ぎて、２つの異なるＡＥ信号の時
刻差を識別できなかったときに、最小時間単位ｔを減少
させて、ＡＥ信号の時刻差を計測する分解能力を高める
ことができる。従って、請求項１の発明によれば、２つ
のＡＥ信号の時刻差を確実に計測することができ、異常
箇所を確実に標定することができる。
小時間単位ｔが大き過ぎて、２つの異なるＡＥ信号の時
刻差を識別できなかったときに、最小時間単位ｔを減少
させて、ＡＥ信号の時刻差を計測する分解能力を高める
ことができる。従って、請求項１の発明によれば、２つ
のＡＥ信号の時刻差を確実に計測することができ、異常
箇所を確実に標定することができる。
【００５５】また、請求項２の発明は、最大計測可能時
間ｔ・ｎ内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けなかったと判断したときに、上記時刻差計測手段が
上記時刻差を計測する最小時間単位ｔを増大させて、上
記時刻差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制
御手段を備えている。
間ｔ・ｎ内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けなかったと判断したときに、上記時刻差計測手段が
上記時刻差を計測する最小時間単位ｔを増大させて、上
記時刻差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制
御手段を備えている。
【００５６】したがって、請求項２の発明によれば、最
小時間単位ｔが小さ過ぎて、最大計測可能時間ｔ・ｎが
２つのＡＥ信号の時刻差よりも小さかったときに、最小
時間単位ｔを増大させて、計測可能時間ｔ・ｎを増大さ
せ、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測することがで
きる。したがって、請求項２の発明によれば、異常箇所
を確実に標定することができる。
小時間単位ｔが小さ過ぎて、最大計測可能時間ｔ・ｎが
２つのＡＥ信号の時刻差よりも小さかったときに、最小
時間単位ｔを増大させて、計測可能時間ｔ・ｎを増大さ
せ、２つのＡＥ信号の時刻差を確実に計測することがで
きる。したがって、請求項２の発明によれば、異常箇所
を確実に標定することができる。
【００５７】また、請求項３の発明は、最大計測可能時
間ｔ・ｎ内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けたと判断したときに、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ
を上記時刻差計測手段が計測した時刻差に近づけるよう
に、上記最小時間単位ｔを減少させる計測きざみ制御手
段を備えている。
間ｔ・ｎ内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けたと判断したときに、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ
を上記時刻差計測手段が計測した時刻差に近づけるよう
に、上記最小時間単位ｔを減少させる計測きざみ制御手
段を備えている。
【００５８】したがって、請求項３の発明によれば、２
つのＡＥ信号の時刻差の計測精度を向上させることがで
き、異常箇所の標定精度を向上させることができる。
つのＡＥ信号の時刻差の計測精度を向上させることがで
き、異常箇所の標定精度を向上させることができる。
【図１】 この発明の被検体の異常箇所標定装置の第１
実施例のブロック図である。
実施例のブロック図である。
【図２】 上記第１実施例のコンピュータのフローチャ
ートである。
ートである。
【図３】 この発明の異常箇所標定装置の第２実施例の
コンピュータのフローチャートである。
コンピュータのフローチャートである。
【図４】 この発明の異常箇所標定装置の第３実施例の
コンピュータのフローチャートである。
コンピュータのフローチャートである。
１Ａ,１Ｂ…ＡＥセンサ、２…プリアンプ、３…バンド
パスフィルター、４…メインアンプ、５…包絡線検波回
路、６…コンピュータ。
パスフィルター、４…メインアンプ、５…包絡線検波回
路、６…コンピュータ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 29/00 - 29/28
G01H 1/00 - 17/00
G01M 19/00
Claims (3)
- 【請求項１】 互いに所定の間隔を隔てて設けられた２
つのＡＥセンサと、一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けた時刻と、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受け
た時刻との時刻差を計測する時刻差計測手段とを備え、
上記時刻差に基づいて被検体の異常箇所を標定する被検
体の異常箇所標定装置であって、 上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けたとい
うことを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有し、 上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時間単
位ｔと上記最大記憶容量ｎとを掛け算した最大計測可能
時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方のＡＥ
センサからのＡＥ信号を受けた時刻と、上記他方のＡＥ
センサからのＡＥ信号を受けた時刻とを識別できたか否
かを判別する計測成否判別手段と、 上記計測成否判別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ
内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を識別でき
なかったと判断したときに、上記時刻差計測手段が上記
時刻差を計測する最小時間単位ｔを減少させて、上記時
刻差計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制御手
段とを備えたことを特徴とする被検体の異常箇所標定装
置。 - 【請求項２】 互いに所定の間隔を隔てて設けられた２
つのＡＥセンサと、一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けた時刻と、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受け
た時刻との時刻差を計測する時刻差計測手段とを備え、
上記時刻差に基づいて被検体の異常箇所を標定する被検
体の異常箇所標定装置であって、 上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けたとい
うことを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有し、 上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時間単
位ｔと上記最大記憶容量数ｎとを掛け算した最大計測可
能時間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方およ
び他方の両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたか否
かを判別する計測成否判別手段と、 上記計測成否判別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ
内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けなか
ったと判断したときに、上記時刻差計測手段が上記時刻
差を計測する最小時間単位ｔを増大させて、上記時刻差
計測手段に計測をやり直しさせる計測きざみ制御手段と
を備えたことを特徴とする被検体の異常箇所標定装置。 - 【請求項３】 互いに所定の間隔を隔てて設けられた２
つのＡＥセンサと、一方のＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けた時刻と、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受け
た時刻との時刻差を計測する時刻差計測手段とを備え、
上記時刻差に基づいて被検体の異常箇所を標定する被検
体の異常箇所標定装置であって、 上記時刻差計測手段は、上記ＡＥ信号をいつ受けたとい
うことを表すための最大記憶容量ｎの記憶部を有し、 上記時刻差計測手段が上記時刻差を計測する最小時間単
位ｔと上記格納箇所数ｎとを掛け算した最大計測可能時
間ｔ・ｎ内に、上記時刻差計測手段が上記一方および他
方の両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたか否かを
判別する計測成否判別手段と、 上記計測成否判別手段が、上記最大計測可能時間ｔ・ｎ
内に、上記両方のＡＥセンサからのＡＥ信号を受けたと
判断したときに、上記最大計測可能時間ｔ・ｎを上記時
刻差計測手段が計測した時刻差に近づけるように、上記
最小時間単位ｔを減少させる計測きざみ制御手段とを備
えることを特徴とする被検体の異常箇所標定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26862694A JP3450063B2 (ja) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | 被検体の異常箇所標定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26862694A JP3450063B2 (ja) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | 被検体の異常箇所標定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08128998A JPH08128998A (ja) | 1996-05-21 |
| JP3450063B2 true JP3450063B2 (ja) | 2003-09-22 |
Family
ID=17461166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26862694A Expired - Fee Related JP3450063B2 (ja) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | 被検体の異常箇所標定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3450063B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11493335B2 (en) | 2020-09-16 | 2022-11-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Measurement device and measurement method |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6567268B2 (ja) * | 2014-11-18 | 2019-08-28 | 株式会社東芝 | 信号処理装置、サーバ装置、検知システム及び信号処理方法 |
-
1994
- 1994-11-01 JP JP26862694A patent/JP3450063B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11493335B2 (en) | 2020-09-16 | 2022-11-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Measurement device and measurement method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08128998A (ja) | 1996-05-21 |
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