JP3385362B2 - レーザ溶接ヘッド制御システムおよびこれを具えるレーザ溶接ヘッド - Google Patents
レーザ溶接ヘッド制御システムおよびこれを具えるレーザ溶接ヘッドInfo
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- JP3385362B2 JP3385362B2 JP2000138283A JP2000138283A JP3385362B2 JP 3385362 B2 JP3385362 B2 JP 3385362B2 JP 2000138283 A JP2000138283 A JP 2000138283A JP 2000138283 A JP2000138283 A JP 2000138283A JP 3385362 B2 JP3385362 B2 JP 3385362B2
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ溶接ヘッド
を制御するシステムに関する。さらに本発明は、このよ
うなレーザ溶接ヘッドを制御するシステムを具えるレー
ザ溶接ヘッドにも関する。
を制御するシステムに関する。さらに本発明は、このよ
うなレーザ溶接ヘッドを制御するシステムを具えるレー
ザ溶接ヘッドにも関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ溶接は、ステンレスの高精度加工
部品を組立てて製造する超高真空機器等に適用するのに
適している。このようなレーザ溶接において、最近では
YAG(yttrium-aluminum-garnet:イットリウム・ア
ルミニウム・ガーネット)レーザ溶接が普及してきてい
る。このようなYAGレーザ溶接の利点としては、金属
材料に対する吸収率が一般的に高いので、加工効率がよ
い点と、レーザビームを光ファイバで伝送できるため、
三次元溶接装置や産業用ロボットに加工ヘッドを搭載で
きる点と、レンズやビーム透過窓に石英が利用できるの
で、破損時にも安全であり、低コストである点などが挙
げられる。
部品を組立てて製造する超高真空機器等に適用するのに
適している。このようなレーザ溶接において、最近では
YAG(yttrium-aluminum-garnet:イットリウム・ア
ルミニウム・ガーネット)レーザ溶接が普及してきてい
る。このようなYAGレーザ溶接の利点としては、金属
材料に対する吸収率が一般的に高いので、加工効率がよ
い点と、レーザビームを光ファイバで伝送できるため、
三次元溶接装置や産業用ロボットに加工ヘッドを搭載で
きる点と、レンズやビーム透過窓に石英が利用できるの
で、破損時にも安全であり、低コストである点などが挙
げられる。
【0003】一方で、高精度な加工を実現するレーザ溶
接においては、レーザの集光スポットの位置決め精度に
関しても高い精度が要求される。この位置決めに関する
裕度としては、溶接可能なギャップ量は板厚の10%ま
たは集光スポット径の50%、位置決め精度は集光スポ
ット径の1/3以下である。レーザ溶接に使用されるレ
ーザビームのスポット径は1mm以下である。例えば、
集光スポット径をφ0.5mmとすると、約0.2mm
以下の位置決め精度が要求されることになり、適切なレ
ーザ溶接を行うためには、溶接線(シームライン)に沿
って約0.2mm以下の位置精度で集光したレーザビー
ムを一定の距離を保持した状態でトレースする必要があ
る。また、溶接面に対して、所定の角度を維持する姿勢
制御が必要となる。
接においては、レーザの集光スポットの位置決め精度に
関しても高い精度が要求される。この位置決めに関する
裕度としては、溶接可能なギャップ量は板厚の10%ま
たは集光スポット径の50%、位置決め精度は集光スポ
ット径の1/3以下である。レーザ溶接に使用されるレ
ーザビームのスポット径は1mm以下である。例えば、
集光スポット径をφ0.5mmとすると、約0.2mm
以下の位置決め精度が要求されることになり、適切なレ
ーザ溶接を行うためには、溶接線(シームライン)に沿
って約0.2mm以下の位置精度で集光したレーザビー
ムを一定の距離を保持した状態でトレースする必要があ
る。また、溶接面に対して、所定の角度を維持する姿勢
制御が必要となる。
【0004】このために、部品寸法の精度向上、治具に
よる位置決め精度向上、センサによる位置決め精度向
上、センサによる溶接位置の補正等が試みられてきた。
従来は溶接の焦点位置、溶接のシームトレース、溶接面
に対するレーザ溶接ヘッドの姿勢を検出するために、各
々個別のセンサを使用していた。
よる位置決め精度向上、センサによる位置決め精度向
上、センサによる溶接位置の補正等が試みられてきた。
従来は溶接の焦点位置、溶接のシームトレース、溶接面
に対するレーザ溶接ヘッドの姿勢を検出するために、各
々個別のセンサを使用していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のレー
ザ溶接装置は、操作が複雑であり、高コストであり、大
型であるという欠点があった。
ザ溶接装置は、操作が複雑であり、高コストであり、大
型であるという欠点があった。
【0006】また、CCDカメラを使用し、溶接面の画
像に基づいたシームトレースについても、多方面で研究
され、報告されてきたが、検出可能な条件には制約があ
り、一般に普及するには至っていない。
像に基づいたシームトレースについても、多方面で研究
され、報告されてきたが、検出可能な条件には制約があ
り、一般に普及するには至っていない。
【0007】困難な原因としては、精度の高い突合せ部
はその隙間が限りなく0に近くなり、画像の濃淡におけ
る検出が難しく、画像処理から検出までの応答時間を短
くするためには、白黒の256階調程度での入力画像と
なり、検出部が金属表面であることから、光の反射や表
面の傷に影響を受ける等があげられる。
はその隙間が限りなく0に近くなり、画像の濃淡におけ
る検出が難しく、画像処理から検出までの応答時間を短
くするためには、白黒の256階調程度での入力画像と
なり、検出部が金属表面であることから、光の反射や表
面の傷に影響を受ける等があげられる。
【0008】これらの機能をインプロセスで実現するべ
く取り組みも多方面で検討されているが、レーザ溶接は
一般の溶接と比較して溶接速度が非常に速いため、画像
処理速度との兼ね合いで、実際の溶接部より前方のプロ
セスを処理する方法が一般的であり、本当の意味でのリ
アルタイムなインプロセスの実現は、現状の画像処理速
度の面から不可能といえる。
く取り組みも多方面で検討されているが、レーザ溶接は
一般の溶接と比較して溶接速度が非常に速いため、画像
処理速度との兼ね合いで、実際の溶接部より前方のプロ
セスを処理する方法が一般的であり、本当の意味でのリ
アルタイムなインプロセスの実現は、現状の画像処理速
度の面から不可能といえる。
【0009】また、この前方のプロセスを処理する装置
は、レーザ光軸とCCDカメラの観察エリアに距離が必
要なため、溶接ヘッドの小型化ができないという欠点を
併せ持つ。
は、レーザ光軸とCCDカメラの観察エリアに距離が必
要なため、溶接ヘッドの小型化ができないという欠点を
併せ持つ。
【0010】本発明の目的は、簡単な構造のレーザ溶接
ヘッド制御システムおよびこれを具えるレーザ溶接ヘッ
ドを提供することである。
ヘッド制御システムおよびこれを具えるレーザ溶接ヘッ
ドを提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的のため、請求項
1に記載の第1発明のレーザ溶接ヘッド制御システム
は、溶接部材表面にライン状に測定用レーザ光を所定の
角度で投射する少なくとも2個の半導体レーザと、前記
測定用レーザ光の波長のみを透過するバンドパスフィル
タと、前記バンドパスフィルタを通して前記測定用レー
ザ光を撮影するCCDカメラと、前記CCDカメラが撮
影した前記測定用レーザ光の画像を画像処理し、溶接面
の状態を決定する画像処理手段とを具え、決定された前
記溶接面の状態に基づいて前記レーザ溶接ヘッドの姿勢
を制御することを特徴とする。
1に記載の第1発明のレーザ溶接ヘッド制御システム
は、溶接部材表面にライン状に測定用レーザ光を所定の
角度で投射する少なくとも2個の半導体レーザと、前記
測定用レーザ光の波長のみを透過するバンドパスフィル
タと、前記バンドパスフィルタを通して前記測定用レー
ザ光を撮影するCCDカメラと、前記CCDカメラが撮
影した前記測定用レーザ光の画像を画像処理し、溶接面
の状態を決定する画像処理手段とを具え、決定された前
記溶接面の状態に基づいて前記レーザ溶接ヘッドの姿勢
を制御することを特徴とする。
【0012】請求項2に記載の第2発明によるレーザ溶
接ヘッド制御システムは、前記レーザ溶接ヘッドの姿勢
を、溶接しようとする溶接部材のCADデータにも基づ
いて制御することを特徴とする。
接ヘッド制御システムは、前記レーザ溶接ヘッドの姿勢
を、溶接しようとする溶接部材のCADデータにも基づ
いて制御することを特徴とする。
【0013】請求項3に記載の第3発明によるレーザ溶
接ヘッド制御システムは、前記撮影された前記測定用レ
ーザ光の状態が、前記2本のラインレーザの間隔、相対
位置および絶対位置と、前記ラインレーザの太さおよび
形状とを含むことを特徴とする。
接ヘッド制御システムは、前記撮影された前記測定用レ
ーザ光の状態が、前記2本のラインレーザの間隔、相対
位置および絶対位置と、前記ラインレーザの太さおよび
形状とを含むことを特徴とする。
【0014】請求項4に記載の第4発明によるレーザ溶
接ヘッド制御システムは、前記決定された前記溶接面の
状態が、前記溶接面の形状、傾き、高さおよび位置と、
シームラインとを含むことを特徴とする。
接ヘッド制御システムは、前記決定された前記溶接面の
状態が、前記溶接面の形状、傾き、高さおよび位置と、
シームラインとを含むことを特徴とする。
【0015】請求項5に記載の第5発明によるレーザ溶
接ヘッド制御システムは、前記CCDカメラによって撮
影された測定用レーザ光の状態と前記CADデータとか
ら正確な溶接を可能とし、前記CCDカメラを異常状態
による溶接欠陥の発生の監視に併用することを特徴とす
る。
接ヘッド制御システムは、前記CCDカメラによって撮
影された測定用レーザ光の状態と前記CADデータとか
ら正確な溶接を可能とし、前記CCDカメラを異常状態
による溶接欠陥の発生の監視に併用することを特徴とす
る。
【0016】
【発明の効果】第1発明によれば、溶接面に投射した測
定用レーザをCCDカメラで撮影した画像に基づいて溶
接面の状態を判断することにより、光の反射や表面の傷
に影響を受けにくく、操作が簡単で、低コストで、小型
のレーザ溶接ヘッド制御システムが実現される。
定用レーザをCCDカメラで撮影した画像に基づいて溶
接面の状態を判断することにより、光の反射や表面の傷
に影響を受けにくく、操作が簡単で、低コストで、小型
のレーザ溶接ヘッド制御システムが実現される。
【0017】第2発明によれば、CADデータを用いる
ことにより、画像処理を高速にすることができる。
ことにより、画像処理を高速にすることができる。
【0018】第3発明によれば、少なくとも2本のライ
ンレーザの間隔、相対位置および絶対位置と、前記ライ
ンレーザの太さおよび形状とを測定することによって、
溶接面におけるシームライン、溶接面の形状、傾き、高
さおよび位置等を正確に決定することができる。
ンレーザの間隔、相対位置および絶対位置と、前記ライ
ンレーザの太さおよび形状とを測定することによって、
溶接面におけるシームライン、溶接面の形状、傾き、高
さおよび位置等を正確に決定することができる。
【0019】第4発明によれば、溶接面の形状、傾き、
高さおよび位置と、シームラインを決定することによっ
て、レーザ溶接ヘッドの姿勢を適切に制御することがで
きる。
高さおよび位置と、シームラインを決定することによっ
て、レーザ溶接ヘッドの姿勢を適切に制御することがで
きる。
【0020】第5発明によれば、追加の装置無しに、異
常状態による溶接欠陥の発生も監視することができる。
常状態による溶接欠陥の発生も監視することができる。
【0021】本発明は、これらのようなレーザ溶接ヘッ
ド制御システムを具えるレーザ溶接ヘッドにも関する。
ド制御システムを具えるレーザ溶接ヘッドにも関する。
【0022】
【発明の実施の形態】図1は、本発明によるレーザ溶接
ヘッド制御システムを具えるレーザ溶接ヘッドの構成を
示す図である。本レーザ溶接ヘッドは、YAGレーザ入
射口1と、YAGレーザ出射口2と、半導体レーザ装置
3および4と、CCDカメラ5とを具える。YAGレー
ザ入射口1から入射されたYAGレーザビームは、集光
され、YAGレーザ出射口2から溶接部材の溶接面に対
して放射される。半導体レーザ装置3および4は、例え
ば、前記溶接面におけるシームラインと直角に交わるよ
うなラインレーザ光を、例えば、45°の斜め方向から
放射する。CCDカメラ5は、前記溶接面の方向を向
き、前記溶接面を撮影する。CCDカメラ5には、前記
ラインレーザ光の波長のみを透過させるバンドパスフィ
ルタが装着されている。すなわち、CCDカメラ5は、
外光および溶接レーザ光に妨げられることなく、前記溶
接面で反射された半導体ラインレーザ光のみを撮影する
ことができる。撮影された画像は画像処理部(図示せ
ず)に送られ、画像処理を施され、前記2本のラインレ
ーザ光の間隔、相対位置および絶対位置と、各々のライ
ンレーザの太さおよび形状とが決定される。
ヘッド制御システムを具えるレーザ溶接ヘッドの構成を
示す図である。本レーザ溶接ヘッドは、YAGレーザ入
射口1と、YAGレーザ出射口2と、半導体レーザ装置
3および4と、CCDカメラ5とを具える。YAGレー
ザ入射口1から入射されたYAGレーザビームは、集光
され、YAGレーザ出射口2から溶接部材の溶接面に対
して放射される。半導体レーザ装置3および4は、例え
ば、前記溶接面におけるシームラインと直角に交わるよ
うなラインレーザ光を、例えば、45°の斜め方向から
放射する。CCDカメラ5は、前記溶接面の方向を向
き、前記溶接面を撮影する。CCDカメラ5には、前記
ラインレーザ光の波長のみを透過させるバンドパスフィ
ルタが装着されている。すなわち、CCDカメラ5は、
外光および溶接レーザ光に妨げられることなく、前記溶
接面で反射された半導体ラインレーザ光のみを撮影する
ことができる。撮影された画像は画像処理部(図示せ
ず)に送られ、画像処理を施され、前記2本のラインレ
ーザ光の間隔、相対位置および絶対位置と、各々のライ
ンレーザの太さおよび形状とが決定される。
【0023】図2は、ラインレーザ光を照射した溶接表
面の様子を示す上面図である。本例において45°の斜
め方向から照射されたラインレーザ光22および23
は、シームライン21の場所で途切れる。したがって、
CCDカメラによって撮影した画像から、シームライン
21とラインレーザ光22および23との交点を決定す
ることができる。シームライン21が直線ならば、これ
ら2つの交点からシームライン21を決定することがで
きる。前記ラインレーザ光を斜めから照射していること
により、例えば、溶接表面の傾きは反射された前記ライ
ンレーザ光の太さによって決定することができ、高さは
前記ラインレーザ光の絶対位置によって決定することが
できる。このようにして、上記で決定された前記2本の
ラインレーザ光の間隔、相対位置および絶対位置と、各
々のラインレーザの太さおよび形状とから、溶接面の形
状、傾き、高さおよび位置と、シームラインとを決定す
ることができる。
面の様子を示す上面図である。本例において45°の斜
め方向から照射されたラインレーザ光22および23
は、シームライン21の場所で途切れる。したがって、
CCDカメラによって撮影した画像から、シームライン
21とラインレーザ光22および23との交点を決定す
ることができる。シームライン21が直線ならば、これ
ら2つの交点からシームライン21を決定することがで
きる。前記ラインレーザ光を斜めから照射していること
により、例えば、溶接表面の傾きは反射された前記ライ
ンレーザ光の太さによって決定することができ、高さは
前記ラインレーザ光の絶対位置によって決定することが
できる。このようにして、上記で決定された前記2本の
ラインレーザ光の間隔、相対位置および絶対位置と、各
々のラインレーザの太さおよび形状とから、溶接面の形
状、傾き、高さおよび位置と、シームラインとを決定す
ることができる。
【0024】各種溶接部品を溶接する場合、例えば、溶
接部品の平面と平面、円筒面と平面、球と平面、円筒面
と円筒面、円筒面と球面の交差線、交接面の形状と寸法
はCADデータを利用し、レーザ溶接ヘッドに関する絶
対座標におけるこれらの交差線や交接面の位置や角度は
上記のように決定したデータを使用する。これらのデー
タに基づいて、前記レーザ溶接ヘッドの姿勢を、前記Y
AGレーザビームが前記シームラインをトレースするよ
うに制御する。このようにCADデータを使用すること
により、画像処理が高速化され、溶接部品のセッティン
グ作業の時間が短縮でき、溶接の再現性や信頼性を向上
させることができる。また、これらのデータから、異常
状態による溶接欠陥の発生を監視するようにしてもよ
い。上述した実施形態においてはラインレーザを2本と
したが、3本以上としてもよい。
接部品の平面と平面、円筒面と平面、球と平面、円筒面
と円筒面、円筒面と球面の交差線、交接面の形状と寸法
はCADデータを利用し、レーザ溶接ヘッドに関する絶
対座標におけるこれらの交差線や交接面の位置や角度は
上記のように決定したデータを使用する。これらのデー
タに基づいて、前記レーザ溶接ヘッドの姿勢を、前記Y
AGレーザビームが前記シームラインをトレースするよ
うに制御する。このようにCADデータを使用すること
により、画像処理が高速化され、溶接部品のセッティン
グ作業の時間が短縮でき、溶接の再現性や信頼性を向上
させることができる。また、これらのデータから、異常
状態による溶接欠陥の発生を監視するようにしてもよ
い。上述した実施形態においてはラインレーザを2本と
したが、3本以上としてもよい。
【図1】 本発明によるレーザ溶接ヘッド制御システム
を具えるレーザ溶接ヘッドの構成を示す図である。
を具えるレーザ溶接ヘッドの構成を示す図である。
【図2】 半導体ラインレーザ光を照射した溶接表面の
様子を示す上面図である。
様子を示す上面図である。
1 YAGレーザ入射口
2 YAGレーザ出射口
3、4 半導体レーザ装置
5 CCDカメラ
21 シームライン
22、23 ラインレーザ光
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI
G01B 11/02 G01B 11/02 H
11/24 11/24 K
(72)発明者 上田 映介
北海道上磯郡上磯町字追分3丁目2−2
株式会社 菅製作所内
(72)発明者 上遠野 久夫
北海道札幌市手稲区曙2条4−2−29
株式会社 産鋼スチール内
(72)発明者 武藤 征一
北海道札幌市白石区本郷通13丁目南4−
1 ムトウ建設工業株式会社内
(56)参考文献 特開 平4−55078(JP,A)
特開 平7−51869(JP,A)
特開2000−42769(JP,A)
特開 平8−285524(JP,A)
特開 平5−337662(JP,A)
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
B23K 26/00 - 26/42
Claims (6)
- 【請求項1】 レーザ溶接ヘッドの姿勢を制御するシス
テムにおいて、溶接の進行方向において前記レーザ溶接ヘッドの前後に
前記レーザ溶接ヘッドと一体に固定され、 溶接部材表面
にライン状に測定用レーザ光を所定の角度で投射する少
なくとも2個の半導体レーザと、 前記測定用レーザ光の波長のみを透過するバンドパスフ
ィルタと、 前記バンドパスフィルタを通して前記測定用レーザ光を
撮影するCCDカメラと、 前記CCDカメラが撮影した前記測定用レーザ光の画像
を画像処理し、前記溶接部材表面の状態を決定する画像
処理手段とを具え、溶接前に決定された前記溶接部材表面 の状態に基づいて
前記レーザ溶接ヘッドの溶接時の姿勢を制御することを
特徴とするレーザ溶接ヘッド制御システム。 - 【請求項2】 請求項1に記載のレーザ溶接ヘッド制御
システムにおいて、前記レーザ溶接ヘッドの姿勢を、溶
接しようとする溶接部材のCADデータにも基づいて制
御することを特徴とするレーザ溶接ヘッド制御システ
ム。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載のレーザ溶接ヘ
ッド制御システムにおいて、前記撮影された前記測定用
レーザ光の状態が、前記2本のラインレーザの間隔、相
対位置および絶対位置と、前記ラインレーザの太さおよ
び形状とを含むことを特徴とするレーザ溶接ヘッド制御
システム。 - 【請求項4】 請求項1、2または3に記載のレーザ溶
接ヘッド制御システムにおいて、前記決定された前記溶
接面の状態が、前記溶接面の形状、傾き、高さおよび位
置と、シームラインとを含むことを特徴とするレーザ溶
接ヘッド制御システム。 - 【請求項5】 請求項2、3または4に記載のレーザ溶
接ヘッド制御システムにおいて、前記CCDカメラによ
って撮影された測定用レーザ光の状態と前記CADデー
タとから正確な溶接を可能としたことを特徴とするレー
ザ溶接ヘッド制御システム。 - 【請求項6】請求項1ないし5のいずれか1項に記載の
レーザ溶接ヘッド制御システムを具えるレーザ溶接ヘッ
ド。
Priority Applications (7)
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