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JP3360179B2 - ボールグリッドアレーソケット - Google Patents

ボールグリッドアレーソケット

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JP3360179B2
JP3360179B2 JP50947196A JP50947196A JP3360179B2 JP 3360179 B2 JP3360179 B2 JP 3360179B2 JP 50947196 A JP50947196 A JP 50947196A JP 50947196 A JP50947196 A JP 50947196A JP 3360179 B2 JP3360179 B2 JP 3360179B2
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contact
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mating
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ジー グラベ、ディミトリー
ウェーン ミルブランド、ドナルド
ロバート リングラー、ダニエル
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ザ ウィタカー コーポレーション
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    • H01R12/51Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1076Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by sliding
    • H05K7/1084Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by sliding pin grid array package carriers
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    • H10W72/07231
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半田ボールコンタクト組立体に関し、特に
半田ボールと協働して多数回にわたって印刷回路基板等
からセラミック基板等を嵌合及び離脱させるソケットに
関する。
集積回路(IC)パッケージの複雑さが増し続けると、
ICパッケージの全体寸法を大きくすることなくICパッケ
ージの周囲のリードを適切に位置決めすることがますま
す困難になる。現在、0.3mm(0.012インチ)の細いピッ
チのリードを有するICパッケージが販売されているが、
パッケージの効率が増大する利点がある反面、組立の歩
留りの低下及び組立工程の複雑化により全体のコスト増
を招いている。それ故に、リード数を増加させると共に
ICパッケージの寸法を維持するために、パッケージの表
面に多数の接続点が矩形の格子状又はアレー状に配列さ
れたパッケージが必要になってきている。かかる解決法
の1つが1993年9月19日付の「IBM研究開発ジャーナ
ル」Vol.37、No.5に掲載された「半田ボール接続(SB
C)パッケージの回路基板への取付」と題された記事に
開示されている。
上掲の記事に開示された技術は密度及び寸法の問題に
対する解決を与えているが、カードからセラミック基板
を取り外すことができないという問題がある。第598ペ
ージの図2に示されるように、セラミック基板及びカー
ドは共晶半田接合部により、半田ボールに接合されてい
る。半田ボールが半田接合部により基板及びカードの両
方に接合されると、永久的な接続が構築され、それ故に
基板を補修及び交換が困難であるという問題がある。基
板及びボード(カード)間の電気的接続が半田を必要と
すると、ボードへの設置前の基板の試験が困難かつコス
ト高となる。従って、試験及び補修を容易にするために
多数回の嵌合及び離脱を可能にする、セラミック基板及
びボード間の相互接続構造があれば有利である。
本発明は、第1基板及び第2基板間にいわゆる「ピン
及びソケット」型の接続部を具備したデバイスに係る。
ソケットは、弧状表面を有する相手コンタクトと嵌合す
るためのものであり、底壁と、この底壁から実質的に直
交して延びる側壁とを有する。側壁は、相手コンタクト
が挿入される開口を形成する。コンタクトの保持点は、
側壁に設けられると共に開口内に延び、相手コンタクト
と協働して相手コンタクト及びソケット間に電気的接続
部を形成する。
また、本発明は、上述のソケットに弧状又は筒状の相
手コンタクトを組み合わせたソケット組立体に係る。こ
の組み合せにより、第1基板及び第2基板が互いに嵌合
すると、弧状又は筒状の相手コンタクトはソケットの開
口内に受容されると共にコンタクト保持点によりその中
に保持される。
さらに、本発明は、少なくとも1個のソケットが実装
された第1基板を有する基板嵌合組立体に係る。その少
なくとも1個のソケットは、このソケットに設けられる
と共にコンタクト受容開口内に延びるコンタクト保持点
を有する。第2基板は、この基板上に実装された少なく
とも1個の相手コンタクトを有する。この少なくとも1
個の相手コンタクトは、弧状表面を有すると共に、少な
くとも1個のソケットのコンタクト受容開口に受容され
る寸法を設定される。第1基板及び第2基板が互いに電
気的に嵌合すると、少なくとも1個の相手コンタクト
は、コンタクト受容開口に受容されると共にコンタクト
保持点及び少なくとも1個の相手コンタクトの弧状表面
の協働により開口内の所定位置に保持される。コンタク
ト保持点は、少なくとも1個の相手コンタクトが少なく
とも1個のソケットと係合すると弾性歪を生ずる形状の
弾性腕上に設けられる。このため、少なくとも1個の相
手コンタクトが十分に挿入されると、弾性腕は応力が生
じない状態に向って戻り、少なくとも1個の相手コンタ
クトの表面と協働してそのコンタクトを所定位置に維持
する。
本発明は、以下の添付図面に示された例により詳細に
説明する。
図1は、ソケットリセプタクルが半田付けされる前の
セラミック基板及び印刷回路基板を示す分解斜視図であ
る。
図2は、図1の2−2線に沿った断面図である。
図3は、印刷回路基板と嵌合したセラミック基板を示
す図2と同様の断面図である。
図4は、図3に示される、半田ボールが配置されたソ
ケットリセプタクルの拡大断面図である。
図5は、半田ボールと係合したソケットリセプタクル
の弾性腕を示す、図4の5−5線に沿った断面図であ
る。
図6は、半田ボールがソケットリセプタクル内に配置
されていない状態の弾性腕を示す、図5と同様の断面図
である。
図7は、第1の別のソケットリセプタクル内に半田ボ
ールが配置された状態を示す、図4と同様の断面図であ
る。
図8は、第1の別のソケットリセプタクルの弾性腕が
半田ボールと係合した状態を示す、図7の8−8線に沿
った断面図である。
図9は、第2の別のソケットリセプタクル内に半田ボ
ールが配置された状態を示す、図4と同様の断面図であ
る。
図10は、第2の別のソケットリセプタクルの弾性腕が
半田ボールと係合した状態を示す、図9の10−10線に沿
った断面図である。
図11は、第3の別のソケットリセプタクル内に半田ボ
ールが配置された状態を示す、図4と同様の断面図であ
る。
図12は、第3の別のソケットリセプタクルの弾性腕が
半田ボールと係合した状態を示す、図11の12−12線に沿
った断面図である。
図1に示されるように、セラミック又は他の材料製の
基板2は、その表面に設けられた回路パッド4上に実装
された複数の半田ボール6を有する。半田ボール6は、
半田8によって回路パッド4の所定位置に維持される。
図示のボール6は半田ボールであるが、ボールは特定用
途に必要な特定の特性を有するいかなる導電性材料製で
もよいことは留意すべきである。ボールは、筒状であっ
てもよいし、弧状である他のタイプであってもよい。
以下でさらに説明するように、セラミック基板2は、
銅トレース即ちパッド12を表面上に有する印刷回路基板
10と電気的に係合して配置される。図2に示されるよう
に、ソケットリセプタクル14は、銅トレース12上に配置
され、半田16により銅トレース12上に維持される。プラ
スチック製キャリア即ちスペーサ18は、ソケットリセプ
タクル14近傍に配置される。用途によっては半田付け後
にプラスチック製キャリアを取り除いてもよい。
半田ボールが用いられる本実施形態では、、ソケット
リセプタクル14は、積層材料製であり、リセプタクルの
内側はステンレス鋼又は同様の材料であり、芯部は銅等
であり、回路基板に半田付けされる外表面は錫又は半田
である。他の材料製のボールが用いられる場合は、ソケ
ットはニッケル及び金若しくは金のみでめっきされた銅
合金のような材料で形成されてもよい。
図1ないし図6に示されるように、各ソケットリセプ
タクル14は、底壁22及び側壁20を有する。側壁20は、底
壁22に対して略直交する方向に延びて半田ボール受容開
口24を形成する。図4を参照すると、側壁20は弾性腕26
を有する。図示の形状では、3本の弾性腕26が各ソケッ
トリセプタクル14に設けられている。弾性腕26は、スロ
ット28により互いに離間されている。各弾性腕26は、そ
の一端に設けられた半田ボール保持点30と、他端に設け
られたプラスチックキャリア保持バーブ(逆刺)34とを
有する。接触領域32は、半田ボール保持点30の近傍に配
置されている。ソケットリセプタクルの種々の他の形状
(そのいくつかは図6ないし図11に示される)を本発明
の目的達成のために用いてもよい。
銅トレース12上にソケットリセプタクル14を適切に配
置するために、ソケットリセプタクル14を半田付け前に
適切な位置に維持する必要がある。プラスチック製キャ
リア18はその機能を果たす。個々のソケットリセプタク
ル14は、プラスチック製キャリア18のソケットリセプタ
クル受容開口40内に装填される。開口40は、その直径が
ソケットリセプタクル14の直径より若干大きい筒状をな
す。ソケットリセプタクル14のプラスチックキャリア保
持バーブ34は、開口40の側面に食い込んで干渉係合し、
ソケットリセプタクル14をプラスチック製キャリア18内
に維持する。プラスチック製キャリア18の開口40の側面
はソケットリセプタクル14の側壁20を囲み、その結果、
開口の側面が側壁に近接する。この寸法配置により、開
口の側面が弾性腕26の過応力を制限する作用をなすこと
ができる。開口の側面の配置により、弾性腕が受容開口
24から離れる方向である外側にはみ出すのを防止するの
で、弾性腕の塑性変形を防止する。
ソケットリセプタクルをプラスチック製キャリア18内
に適切に装填した状態で、キャリア18は回路基板10に対
して所定位置に移動される。ソケットリセプタクルは、
トレースに位置決めされた状態でトレースに半田付けさ
れる。
半田ボール6が半田付けされた基板2は、ソケットリ
セプタクル14が半田付けされた印刷回路基板に位置決め
されるために移動される。プラスチック製キャリア18
は、上述の通り、バーブ34及びキャリア18の協働によ
り、組み立てられた印刷回路基板10上に固定される。
次に、基板2及び印刷回路基板10が互いに接近する方
向に移動されることにより、半田ボール6がソケットリ
セプタクル14の各半田ボール受容開口24内に移動され
る。半田ボール6は、開口24内に移動すると、ソケット
リセプタクル14の半田ボール保持点30と係合する。嵌合
が進行すると、半田ボール6は腕26を外側に弾性変形さ
せる。腕26は、弾性歪を許容する形状に設定されるが、
歪は弾性範囲内で生じるので元の応力が生じていない状
態に戻ろうとする。
弾性腕26は、外側に移動すると、半田ボール6に力を
及ぼす。この力は半田ボール保持点30がボール6の表面
をえぐるのに十分な量であるので、半田ボール保持点30
が半田ボール6の表面に生じた酸化物等を突き破り、半
田ボール6及び腕26の接触領域32面に積極的に電気的接
続を与える。
基板2及び回路基板10の嵌合は、プラスチック製キャ
リア18の頂面42が基板2の底面46に当接し、プラスチッ
ク製キャリア18の底面44が印刷回路基板10の頂面48に当
接するまで続行される。この位置では、基板2及び印刷
回路基板10は、互いに離間すると共に互いに接近する方
向へ移動することができない。組立体は、半田ボール6
及びソケットリセプタクル14の弾性腕26の協働により、
この位置に維持される。図4に良く示されるように、半
田ボールが十分に挿入されると、弾性腕26は、応力が生
じていない状態に向って戻り、親たな応力状態になる。
この状態では、弾性腕26は、半田ボール6の曲面と協働
して半田ボールを確実に所定位置に維持させるために半
田ボール6に下方向の力を及ぼす。この力は、印刷回路
基板10に対して基板2を嵌合完了位置に維持するのに十
分であるので、これら基板2、10間に適切な電気的接続
を確実に形成する。
プラスチック製キャリア即ちスペーサ18の使用によ
り、半田ボール16はソケットリセプタクル14の底壁22と
係合しない状態が保証される。よって、底壁22による半
田ボール6の損傷を防止する。ボールが他の材料製の場
合は、ボールがソケットの底壁と接触するのを防ぐ必要
がないので、スペーサとしてプラスチック製キャリアを
使用する必要はない。実際、ボールが半田以外の材料製
の場合は、ボールが底壁と接触して別の通電路を形成す
る利点がある。
半田ボール及びソケットリセプタクルを使用すること
により、セラミック基板を印刷回路基板に取り外し可能
に実装することができる。この「ピン及びソケット」型
の接続により、必要な場合、基板を印刷回路基板から取
り外すことができる。取り外し可能なことにより、バー
ンイン型試験、補修、交換及び他の同様な付加的事項を
可能にする。ソケットボールが取り外し可能であるの
で、半田ボールと接触するリセプタクルの表面を錫と親
和性を持たない材料にすることが重要である。少量の錫
がソケットリセプタクルの内表面に移り、ソケット及び
ボールが離脱即ち取り外される場合、錫の薄膜は高電気
抵抗を示すか又は時には絶縁物となる酸化錫に変化し、
将来における嵌合の際に適切な電気接続の可能性を減少
させてしまう。
また、ソケットを使用することにより、電源の投入、
遮断によるパッケージの熱膨張によって引き起こされる
ボールの横方向の変位に対して弾性的に撓むことがで
き、腕は膨張及び収縮の軌跡に追従する。
図7ないし図12は、ソケットリセプタクル14の別の実
施形態を示す。これらの実施形態は上述のと同様に作用
するが、保持点が若干異なる。説明及び理解を容易にす
るために、上述の実施形態の参照番号と同じ参照番号に
プライム記号を付した。
図7及び図8に示されるソケットリセプタクルは、平
坦な材料を打抜き加工及び曲げ加工して形成される。弾
性腕26'は、上述の通り、半田ボール6'と協働する。図
7に良く示されるように、ソケットリセプタクル14'
は、印刷回路基板10'のスルーホール62'内に延びる脚6
0'を有する。脚60'は、従来手法で所定位置に半田付け
される。この形態におけるソケット14'は、プラスチッ
ク製スペーサ18'との摩擦係合により、スペーサ18'上の
所定位置に保持される。
図9及び図10は、上部がソケット26'と同一形状であ
るリセプタクルソケット26''を示す。しかし、リセプタ
クルソケット26''は印刷回路基板10''に表面実装され
る。
図11及び図12は、底面が貫通された位置決め部材6
0'''が形成された、絞り加工されたソケット26'''に関
する。位置決め部材60'''は、ソケット26'''を印刷回路
基板10'''のスルーホール62'''の中心に配置するのを促
進する。
回路基板の複雑さが増すと電源及び接地の相互接続点
の数も増加するので、上述の実施形態で例示された本発
明は重要である。従って、単一のチップに対して1000点
以上の相互接続点を有するパッケージの必要性は、急速
に現実味を帯びてきつつある。ボールを使用することは
これらの要求事項に合致する。ボールは、開口を有する
板に容易かつ正確に配置でき、方向性をもった配置の必
要性がないので、本質的に低コストの工程が得られる。
ボールが半田でも他の材料であってもその利便性は変わ
らない。
上述の半田ボールは小さなパッケージに対して効果的
である。しかし、大きなパッケージであっても、ばね性
を与えられた金属を用いた硬質ボールを用いることがで
きる。この金属は、金又はニッケル下地の金等の種々の
物質でめっきされてもよい。
ソケットにボールを受容させることは、半田接続部に
過応力を生じさせることなく、変位を誘発する電源の投
入及び遮断に適合するように十分に追従できるので、有
利である。ソケット及びボールに使用される材料は、ソ
ケットの電磁的特性をボール単体と区別がつかなくする
ことができる。
当業者には、本発明の範囲から逸脱することなく、種
々の変形、変更は可能であろう。上述の詳細な説明中の
事項及び添付図面は、例示のためのみに示されたもので
ある。そのため、上述の詳細な説明は、限定よりも例示
としてみなされることを意図している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リングラー、ダニエル ロバート アメリカ合衆国 ペンシルバニア州 17023 エリザベスビル ロンガバック ブールバード 11 (56)参考文献 特開 平8−50975(JP,A) 特開 平8−64320(JP,A) 特表 平10−501367(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 12/16 H01R 33/76 505 H05K 3/34 507

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第2基板上に設けられた弧状の相手コンタ
    クトを有するソケット組立体であって、 側壁から延びるコンタクト保持点を有するソケットを具
    え、 前記コンタクト保持点は、前記側壁により画定される開
    口内に延びており、 前記ソケットは第1基板上に設けられ、 前記開口は、前記弧状の相手コンタクトを受容する寸法
    に設定され、 前記第1基板及び第2基板を互いに嵌合させる際に、前
    記弧状の相手コンタクトが前記ソケットの前記開口内に
    受容されると共に前記コンタクト保持点により前記開口
    内に保持されることを特徴とするソケット組立体。
  2. 【請求項2】前記弧状の相手コンタクトが導電性ボール
    であることを特徴とする請求の範囲第1項記載のソケッ
    ト組立体。
  3. 【請求項3】前記相手コンタクトが前記第2基板に表面
    実装され、前記ソケットが前記第1基板に表面実装され
    ていることを特徴とする請求の範囲第1項記載のソケッ
    ト組立体。
  4. 【請求項4】前記ソケットが積層材料製であり、該積層
    材料の内側層が錫と親和性を持たない材料であることを
    特徴とする請求の範囲第2項記載のソケット組立体。
  5. 【請求項5】前記積層材料がステンレス鋼製の内表面を
    有することを特徴とする請求の範囲第4項記載のソケッ
    ト組立体。
  6. 【請求項6】前記ソケットがばね弾性を与えられた金属
    製であることを特徴とする請求の範囲第2項記載のソケ
    ット組立体。
  7. 【請求項7】前記コンタクト保持点が弾性腕上に設けら
    れ、前記相手コンタクトが前記ソケットと嵌合する際
    に、前記弾性腕が弾性歪を生ずる形状に形成され、 これにより、前記相手コンタクトが十分に挿入される際
    に、前記弾性腕が応力を生じていない状態に向って戻
    り、前記相手コンタクトの弧状表面と協働して前記相手
    コンタクトを所定位置に維持することを特徴とする請求
    の範囲第2項記載のソケット組立体。
JP50947196A 1994-09-06 1995-07-19 ボールグリッドアレーソケット Expired - Fee Related JP3360179B2 (ja)

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US30136894A 1994-09-06 1994-09-06
US08/301,368 1994-09-06
PCT/US1995/009031 WO1996008056A1 (en) 1994-09-06 1995-07-19 Ball grid array socket

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EP (1) EP0780028B1 (ja)
JP (1) JP3360179B2 (ja)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6525555B1 (en) 1993-11-16 2003-02-25 Formfactor, Inc. Wafer-level burn-in and test
US6064213A (en) * 1993-11-16 2000-05-16 Formfactor, Inc. Wafer-level burn-in and test
US5772451A (en) 1993-11-16 1998-06-30 Form Factor, Inc. Sockets for electronic components and methods of connecting to electronic components
US5730606A (en) * 1996-04-02 1998-03-24 Aries Electronics, Inc. Universal production ball grid array socket
US6007348A (en) 1996-05-07 1999-12-28 Advanced Intercommunications Corporation Solder ball terminal
EP0839321B1 (en) * 1996-05-17 2006-01-11 FormFactor, Inc. Contact tip structures for microelectronic interconnection elements and methods of making same
US5783461A (en) * 1996-10-03 1998-07-21 Micron Technology, Inc. Temporary semiconductor package having hard-metal, dense-array ball contacts and method of fabrication
SG71046A1 (en) 1996-10-10 2000-03-21 Connector Systems Tech Nv High density connector and method of manufacture
AU8280398A (en) * 1997-06-30 1999-01-19 Formfactor, Inc. Sockets for semiconductor devices with spring contact elements
KR100300666B1 (ko) 1997-08-04 2001-10-27 기타지마 요시토시 수지밀봉형반도체장치와거기에사용되는회로부재및회로부재의제조방법
US6048744A (en) 1997-09-15 2000-04-11 Micron Technology, Inc. Integrated circuit package alignment feature
WO1999049536A1 (en) * 1998-03-24 1999-09-30 Raytheon Company Stacked electrical circuit having an improved interconnect and alignment system
US5947751A (en) * 1998-04-03 1999-09-07 Vlsi Technology, Inc. Production and test socket for ball grid array semiconductor package
WO1999066599A1 (en) * 1998-06-15 1999-12-23 Advanced Interconnections Corporation Solder ball terminal
US6272741B1 (en) * 1998-07-24 2001-08-14 Autosplice, Inc. Hybrid solder ball and pin grid array circuit board interconnect system and method
TW383955U (en) * 1998-08-31 2000-03-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Module apparatus for slot connector
US6208156B1 (en) * 1998-09-03 2001-03-27 Micron Technology, Inc. Test carrier for packaging semiconductor components having contact balls and calibration carrier for calibrating semiconductor test systems
TW465060B (en) * 1998-12-23 2001-11-21 Mirae Corp Wafer formed with CSP device and test socket of BGA device
TW385092U (en) * 1998-12-28 2000-03-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connectors
US6168976B1 (en) 1999-01-06 2001-01-02 Intel Corporation Socketable BGA package
US6725536B1 (en) 1999-03-10 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Methods for the fabrication of electrical connectors
JP4367730B2 (ja) * 1999-06-25 2009-11-18 株式会社エンプラス Icソケット及び該icソケットのバネ手段
DE19939580C2 (de) 1999-08-20 2003-11-27 Tyco Electronics Logistics Ag Elektrischer Steckverbinder
US6464513B1 (en) 2000-01-05 2002-10-15 Micron Technology, Inc. Adapter for non-permanently connecting integrated circuit devices to multi-chip modules and method of using same
US6407566B1 (en) 2000-04-06 2002-06-18 Micron Technology, Inc. Test module for multi-chip module simulation testing of integrated circuit packages
US6413852B1 (en) 2000-08-31 2002-07-02 International Business Machines Corporation Method of forming multilevel interconnect structure containing air gaps including utilizing both sacrificial and placeholder material
US6866521B1 (en) * 2000-09-14 2005-03-15 Fci Americas Technology, Inc. High density connector
US7045889B2 (en) * 2001-08-21 2006-05-16 Micron Technology, Inc. Device for establishing non-permanent electrical connection between an integrated circuit device lead element and a substrate
US7049693B2 (en) * 2001-08-29 2006-05-23 Micron Technology, Inc. Electrical contact array for substrate assemblies
US6991960B2 (en) 2001-08-30 2006-01-31 Micron Technology, Inc. Method of semiconductor device package alignment and method of testing
US20030168738A1 (en) * 2002-03-08 2003-09-11 Intel Corporation Socketable IC package and associated methods
TWI222192B (en) * 2003-09-04 2004-10-11 Advanced Semiconductor Eng Substrate with net structure
TWI258255B (en) * 2005-05-20 2006-07-11 Ramtek Technology Inc Method of testing ball grid array packed device in real system and test socket assembly therefor
US20070054514A1 (en) * 2005-08-31 2007-03-08 International Business Machines Corporation Socket measurement apparatus and method
US20070126445A1 (en) * 2005-11-30 2007-06-07 Micron Technology, Inc. Integrated circuit package testing devices and methods of making and using same
US7393214B2 (en) * 2006-02-17 2008-07-01 Centipede Systems, Inc. High performance electrical connector
US7695287B2 (en) * 2006-07-06 2010-04-13 Harris Corporation Ball grid array (BGA) connection system and related method and ball socket
US7442045B1 (en) 2007-08-17 2008-10-28 Centipede Systems, Inc. Miniature electrical ball and tube socket with self-capturing multiple-contact-point coupling
US7888955B2 (en) * 2007-09-25 2011-02-15 Formfactor, Inc. Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources
US7977959B2 (en) 2007-09-27 2011-07-12 Formfactor, Inc. Method and apparatus for testing devices using serially controlled intelligent switches
US20090164931A1 (en) * 2007-12-19 2009-06-25 Formfactor, Inc. Method and Apparatus for Managing Test Result Data Generated by a Semiconductor Test System
FR2928033B1 (fr) * 2008-02-22 2010-07-30 Commissariat Energie Atomique Composant de connexion muni d'inserts creux.
US20090224793A1 (en) * 2008-03-07 2009-09-10 Formfactor, Inc. Method And Apparatus For Designing A Custom Test System
US8122309B2 (en) 2008-03-11 2012-02-21 Formfactor, Inc. Method and apparatus for processing failures during semiconductor device testing
US8033877B2 (en) * 2008-07-22 2011-10-11 Centipede Systems, Inc. Connector for microelectronic devices
US8095841B2 (en) * 2008-08-19 2012-01-10 Formfactor, Inc. Method and apparatus for testing semiconductor devices with autonomous expected value generation
US7944225B2 (en) * 2008-09-26 2011-05-17 Formfactor, Inc. Method and apparatus for providing a tester integrated circuit for testing a semiconductor device under test
KR101070022B1 (ko) * 2009-09-16 2011-10-04 삼성전기주식회사 다층 세라믹 회로 기판, 다층 세라믹 회로 기판 제조방법 및 이를 이용한 전자 디바이스 모듈
FR2967296B1 (fr) * 2010-11-05 2018-05-25 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Elements de connexion pour l'hybridation de circuits electroniques
TWI697160B (zh) * 2018-03-30 2020-06-21 唐虞企業股份有限公司 一種導電端子置件設備及其端子置件方法
FR3100391B1 (fr) * 2019-09-02 2022-03-04 Zodiac Aero Electric Ensemble électrique comprenant un composant électrique dissimulé assurant la connexion électrique entre un élément conducteur et une carte de communication
JP7779913B2 (ja) * 2020-12-11 2025-12-03 ペン エンジニアリング アンド マニュファクチュアリング コーポレイション 回路基板用ファスナー組立体

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3303393A (en) * 1963-12-27 1967-02-07 Ibm Terminals for microminiaturized devices and methods of connecting same to circuit panels
US3676838A (en) * 1970-05-22 1972-07-11 Essex International Inc Electrical connectors
US4036549A (en) * 1973-08-27 1977-07-19 Victor Company Of Japan, Limited Wire connector
US4068917A (en) * 1976-10-21 1978-01-17 Akzona Incorporated Electrical contact socket
US5076794A (en) * 1991-04-29 1991-12-31 Compaq Computer Corporation Space-saving mounting interconnection between electrical components and a printed circuit board
US5137456A (en) * 1991-11-04 1992-08-11 International Business Machines Corporation High density, separable connector and contact for use therein
WO1993016509A1 (en) * 1992-02-12 1993-08-19 Connector Systems Technology N.V. Power port terminal
US5329423A (en) * 1993-04-13 1994-07-12 Scholz Kenneth D Compressive bump-and-socket interconnection scheme for integrated circuits
US5453016A (en) * 1993-11-15 1995-09-26 Berg Technology, Inc. Right angle electrical connector and insertion tool therefor
US5449301A (en) * 1993-11-17 1995-09-12 Berg Technology, Inc. Shunt connector
US5418471A (en) * 1994-01-26 1995-05-23 Emulation Technology, Inc. Adapter which emulates ball grid array packages
US5376010A (en) * 1994-02-08 1994-12-27 Minnesota Mining And Manufacturing Company Burn-in socket
US5615824A (en) * 1994-06-07 1997-04-01 Tessera, Inc. Soldering with resilient contacts
US5419710A (en) * 1994-06-10 1995-05-30 Pfaff; Wayne K. Mounting apparatus for ball grid array device
GB2290176B (en) * 1994-06-10 1997-07-02 Wayne Kay Pfaff Mounting apparatus for ball grid array device
JP3256796B2 (ja) * 1994-08-23 2002-02-12 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 ソケット及びソケットを用いた電気部品の試験方法
US5498970A (en) * 1995-02-06 1996-03-12 Minnesota Mining And Manufacturing Top load socket for ball grid array devices

Also Published As

Publication number Publication date
JPH10508417A (ja) 1998-08-18
US5669774A (en) 1997-09-23
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TW302562B (ja) 1997-04-11
DE69502108D1 (de) 1998-05-20

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