JP3358575B2 - Signal processing device for detecting defects in continuous objects - Google Patents
Signal processing device for detecting defects in continuous objectsInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、1次元の視野を
有する撮像装置を用いて検出された映像信号を信号処理
することにより、欠陥を検出するための信号を出力する
欠陥検出用信号処理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect detection signal processing device for outputting a signal for detecting a defect by performing signal processing on a video signal detected using an image pickup device having a one-dimensional visual field. About.
【0002】[0002]
【従来の技術】鋼板、鋼管等の連続的に生産される連続
物体の表面欠陥の検出には、一般に画像処理の手法を用
いることが多い。画像処理用の画像の採取は、2次元的
に行うこともあるが、物品が移動する場合は、製造物の
ラインに対して幅方向の画像を1次元的に採取すること
が多い。これは、画像メモリの節約や画像処理速度の向
上を図るためである。2. Description of the Related Art In general, image processing is often used to detect surface defects of a continuously produced continuous object such as a steel plate or a steel pipe. The image for image processing may be collected two-dimensionally, but when an article moves, an image in the width direction of the product line is often collected one-dimensionally. This is for saving the image memory and improving the image processing speed.
【0003】このような鋼板の表面欠陥検出装置の1例
を図5に示す。ここでは、鋼板の表面欠陥をラインCC
Dカメラで撮像し、表面欠陥検出器で疵を検出する。一
般には、視野内の全ての映像信号から、均一なしきい値
により疵を検出しており、搬送方向と板幅方向に関して
連続したものを1つの疵として認識する。さらに、これ
らの疵について、長さ、幅、面積、輝度(積算値)等を
求め、その疵に対して表面欠陥としての程度を評価して
いる。FIG. 5 shows an example of such an apparatus for detecting a surface defect of a steel sheet. Here, the surface defects of the steel sheet are
Images are taken with a D camera, and flaws are detected with a surface defect detector. Generally, flaws are detected from all the video signals in the field of view by a uniform threshold value, and a continuous one in the transport direction and the board width direction is recognized as one flaw. Further, the length, width, area, luminance (integrated value) and the like of these flaws are obtained, and the degree of the flaw as a surface defect is evaluated.
【0004】例えば、特開平7−35703号公報に
は、表面欠陥検査装置等に用いる画像処理方法が提案さ
れている。この技術は、例えば熱延鋼板など、高速移動
する板状の被検査材の表面欠陥を、受光装置によって検
出し、画像処理により有用な信号成分を残した被検査材
の検出信号を得るというものである。[0004] For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-35703 proposes an image processing method used for a surface defect inspection device or the like. This technology detects surface defects of a high-speed moving plate-like inspection material, such as a hot-rolled steel plate, with a light receiving device, and obtains a detection signal of the inspection material that leaves useful signal components through image processing. It is.
【0005】この技術では、受光装置の視野内に順次搬
送される被検査材と、段差をもって所定の参照材を配置
しておき、1つの被検査材が受光装置の視野から外れた
後次の被検査材が視野に現れる前に、参照材表面で反射
した反射光から参照信号を得る。この参照信号に基づ
き、検出信号にシェーディング補正を施すことにより、
光源からの光の照射ムラや撮像素子の感度ムラ、および
それらの経時変化の影響を取り除くというものである。[0005] In this technique, a material to be inspected which is sequentially conveyed in the field of view of the light receiving device and a predetermined reference material are arranged with a step, and after one material to be inspected is out of the field of view of the light receiving device, the next material is placed. Before the material to be inspected appears in the field of view, a reference signal is obtained from light reflected on the surface of the reference material. By applying shading correction to the detection signal based on this reference signal,
This is to eliminate the uneven irradiation of light from the light source, the unevenness in sensitivity of the image sensor, and the effects of these changes over time.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】一般に鋼板等のエッジ
部では、板幅中央部に比べて反射光が弱くなる。前述の
従来技術では、参照材を用いて参照信号を得ているが、
参照材についてもエッジ部では反射光が弱くなり、参照
信号の値もエッジ部では低下する。そのため、シェーデ
ィング補正を行うと、エッジ部の検出信号は板幅中央部
より強調される。その結果、エッジ部の疵や汚れが、板
幅中央部より強調される。Generally, reflected light is weaker at an edge portion of a steel plate or the like than at a central portion of the plate width. In the above-described conventional technology, a reference signal is obtained using a reference material.
Also for the reference material, the reflected light becomes weaker at the edge, and the value of the reference signal also decreases at the edge. Therefore, when the shading correction is performed, the detection signal of the edge portion is emphasized from the center of the plate width. As a result, the flaws and dirt on the edge are emphasized from the center of the plate width.
【0007】一般に、鋼板等の連続物体のエッジ部は、
製造工程におけるハンドリング等により、汚れているこ
とが多い。このエッジ部は、最終出荷時にトリミングに
より切断され、製品からは除去される。従来技術では、
エッジ部の汚れが強調されるため、疵検出で検出され易
くなる。その結果、精密検査のためのライン停止が頻発
し、生産性を低下させるという問題があった。Generally, the edge of a continuous object such as a steel plate is
They are often dirty due to handling in the manufacturing process. This edge portion is cut by trimming at the time of final shipment, and is removed from the product. In the prior art,
Since the stain on the edge portion is emphasized, it is easily detected by the flaw detection. As a result, there has been a problem that the line is frequently stopped for the precision inspection, and the productivity is reduced.
【0008】また、前述の特開平7−35703号公報
記載の技術では、参照材を用いて参照信号を得ている
が、この参照材は必ずしも被検査材の疵が無い部分の信
号と同一である保証はない。さらに、被検査材の種類が
変ると参照材も取替える必要があり、そのための作業お
よび設備を必要とする。特に、品種が多い場合は、多数
の参照材を準備しておかねばならず、それらの保管の際
も発錆等の表面性状の変化を防止するための設備やメン
テナンスが必要であった。In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-35703, a reference signal is obtained by using a reference material. However, this reference material is not necessarily the same as a signal of a portion having no flaw of a material to be inspected. There is no guarantee. Furthermore, when the type of the material to be inspected changes, the reference material also needs to be replaced, which requires work and equipment. In particular, when there are many varieties, it is necessary to prepare a large number of reference materials, and even when storing them, equipment and maintenance for preventing a change in surface properties such as rusting are required.
【0009】この発明は、以上のような従来技術の問題
点を解決し、エッジ部の汚れ等の検出によるライン停止
を防止することにより、生産性を向上させることが可能
な欠陥検出用信号処理装置を提供することを目的とす
る。The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and prevents signal stoppage due to detection of dirt on an edge portion, thereby improving the signal processing for defect detection which can improve productivity. It is intended to provide a device.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】この発明は、1次元の視
野を有する撮像装置を用いて検出された映像信号に対
し、少なくともシェーディング処理を含む信号処理を施
すことにより、連続物体の欠陥を検出するための信号を
出力する連続物体の欠陥検出用信号処理装置において、
連続物体の幅方向の画像を検出し映像信号に変換する1
次元撮像装置と、この映像信号から前記連続物体のエッ
ジを検出するエッジ検出手段と、前記エッジの位置から
所定の位置までのゲインを、板幅の中央の部分のゲイン
より小さな異なる値に設定するゲイン設定手段と、を備
えていることを特徴とする連続物体の欠陥検出用信号処
理装置である。According to the present invention, an image signal detected by using an imaging device having a one-dimensional visual field is used .
And, facilities signal processing including at least shading process
By be, in the defect detection signal processing device of a continuous object for outputting a signal for detecting a defect of a continuous object,
Detecting the widthwise image of a continuous object and converting it to a video signal 1
Three-dimensional imaging device, edge detection means for detecting an edge of the continuous object from the video signal, and a gain from a position of the edge to a predetermined position, a gain of a central portion of the plate width
A signal processing device for detecting a defect of a continuous object, comprising: a gain setting unit that sets smaller and different values.
【0011】この発明で連続物体というのは、鋼板や鋼
管等の長手方向に連続な物体である。1次元撮像装置に
は、通常のCCDカメラ等を用いることができる。エッ
ジ検出手段は、この1次元撮像装置からの映像信号につ
いて、連続物体のエッジを検出する。ここで好ましく
は、シェーディング処理手段を設けて、映像信号につい
て、シェーディング処理し、バックグラウンドを一定値
とし、あるいは除去する。In the present invention, a continuous object is an object that is continuous in the longitudinal direction, such as a steel plate or a steel pipe. An ordinary CCD camera or the like can be used for the one-dimensional imaging device. The edge detecting means detects an edge of a continuous object from the video signal from the one-dimensional imaging device. Here, preferably, a shading processing means is provided to perform shading processing on the video signal to set the background to a constant value or to remove the background.
【0012】ゲイン設定手段は、エッジ部のゲイン(利
得)を、板幅の中央の部分のゲインと異なった値に設定
する。このゲインを、掛算手段等によりシェーディング
処理後の映像信号に掛けて、欠陥検出用の信号として出
力する。The gain setting means sets the gain at the edge to a value different from the gain at the center of the plate width. This gain is multiplied by the video signal after the shading processing by a multiplying means or the like, and is output as a signal for detecting a defect.
【0013】このようにして、エッジ位置に追従して、
エッジ部の信号に所望のゲインを設定できるので、エッ
ジ疵やエッジ汚れ等を過大に検出することが防止でき
る。従って、汎用の画像処理装置と組合せて使用する際
も、欠陥検査における過剰な不良判定による歩留りの低
下を防止できる。Thus, following the edge position,
Since a desired gain can be set to the signal of the edge portion, it is possible to prevent edge flaws, edge dirt, and the like from being excessively detected. Therefore, even when used in combination with a general-purpose image processing apparatus, it is possible to prevent a decrease in yield due to excessive defect determination in defect inspection.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】図1は、発明の実施の形態の1例
を示すブロック図である。ここでは、1次元撮像装置1
1としてCCDカメラを使用している。素子の画素数
は、例えば2048画素とする。タイミング発生器13は、
CCDカメラ11の走査およびその他の回路の動作用
に、クロックパルス13c、および走査等の動作を開始
するための開始信号13sを発生する。FIG. 1 is a block diagram showing an example of an embodiment of the present invention. Here, the one-dimensional imaging device 1
1 uses a CCD camera. The number of pixels of the element is, for example, 2048 pixels. The timing generator 13
A clock pulse 13c and a start signal 13s for starting operations such as scanning are generated for the scanning of the CCD camera 11 and the operation of other circuits.
【0015】この開始信号13sにより、CCDカメラ
11は走査を開始し、クロックパルス13c毎に1画素
毎に対応した映像信号を出力する。この映像信号は、適
宜増幅の後、A/Dコンバータ14により、輝度に応じた
画素毎のデジタル信号に変換される。この映像信号は、
ダイナミックシェーディング回路31と映像信号用メモ
リ15に入力される。In response to the start signal 13s, the CCD camera 11 starts scanning and outputs a video signal corresponding to each pixel every clock pulse 13c. This video signal is appropriately amplified and then converted by the A / D converter 14 into a digital signal for each pixel corresponding to the luminance. This video signal is
It is input to the dynamic shading circuit 31 and the video signal memory 15.
【0016】ダイナミックシェーディング回路31は、
移動平均方式のシェーディング処理を行う回路である。
ここでは、入力される映像信号について、移動平均回路
により移動平均値を算出する。次いで、画素毎にこの移
動平均値を差引いて、あるいは移動平均値で割算を行っ
てシェーディング処理し、シェーディング処理された画
素の値を出力する。The dynamic shading circuit 31
This is a circuit that performs shading processing of the moving average method.
Here, a moving average value is calculated by a moving average circuit for the input video signal. Next, the moving average value is subtracted or divided by the moving average value for each pixel to perform shading processing, and the value of the shaded pixel is output.
【0017】映像信号用メモリ15は、このA/Dコンバ
ータ14からのデジタル映像信号を、画素のアドレス
(開始信号13sからのクロックパルス13cの数)に
対応させて記録する。この値は、CCDカメラ11の走
査毎(開始信号13sの受信毎)に更新される。The video signal memory 15 records the digital video signal from the A / D converter 14 in correspondence with the pixel address (the number of clock pulses 13c from the start signal 13s). This value is updated each time the CCD camera 11 scans (each time the start signal 13s is received).
【0018】ここでは、映像信号用メモリ15には、デ
ュアルポートメモリを用いており、一方のポートAで
は、カメラからの映像信号をそれぞれ対応するアドレス
に記憶させ、他方のポートBからは、別のタイミングに
従って、内部データ(映像信号)を読み出すことができ
る。容量は、CCDカメラ11の画素数に合わせて、例
えば2048B(Byte)とする。Here, a dual port memory is used as the video signal memory 15, and one port A stores the video signal from the camera at a corresponding address, and another port B stores another video signal. , The internal data (video signal) can be read. The capacity is set to, for example, 2048B (Byte) in accordance with the number of pixels of the CCD camera 11.
【0019】演算装置(CPU)16は、映像信号用メ
モリ15のポートBから、CCDカメラ11の1走査分
の映像信号を任意のタイミングに読み出す。映像信号の
値が予め設定されたしきい値を超えると、その画素をエ
ッジとして認識し、そのアドレスが開始アドレスとして
CPU内部レジスタに記録される。なお、レジスタ16
j、16kはこの検出された開始アドレスに対し、ゲイ
ン補正を行う相対位置を予め設定するレジスタである。
この開始アドレスに所定の画素数を加えた値が、エッジ
部の終了アドレスとしてレジスタ16kに記録される。An arithmetic unit (CPU) 16 reads a video signal for one scan of the CCD camera 11 from the port B of the video signal memory 15 at an arbitrary timing. When the value of the video signal exceeds a preset threshold value, the pixel is recognized as an edge, and the address is recorded as a start address in a CPU internal register. Note that the register 16
Reference numerals j and 16k denote registers for setting a relative position for performing gain correction with respect to the detected start address in advance.
A value obtained by adding a predetermined number of pixels to the start address is recorded in the register 16k as the end address of the edge portion.
【0020】連続物体のエッジの位置は刻々変化する可
能性があるので、演算装置(CPU)16は、このよう
にして適宜開始および終了アドレスを決定し、その値
(CPU内部レジスタ)を更新する。Since the position of the edge of the continuous object may change every moment, the arithmetic unit (CPU) 16 appropriately determines the start and end addresses in this way and updates the values (CPU internal registers). .
【0021】ゲインテーブル32は、一種の関数表であ
り、Xアドレスに対応するゲインY(ゲインの値)を設
定する。Xアドレス毎のゲインとしては、個々別々に設
定してもよいが、ここではエッジ部と、それを除いた残
り全部(板幅中央部)との2つに分けて、それぞれに適
用するゲインを設定する。これらのゲインの値(設定
値)は、レジスタ16h,16iに、予め入力してお
く。The gain table 32 is a kind of function table, and sets a gain Y (gain value) corresponding to an X address. The gain for each X address may be individually set. However, in this case, the gain applied to each of the edge portion and the remaining portion except for the edge portion (the center portion of the plate width) is divided into two. Set. These gain values (set values) are input to the registers 16h and 16i in advance.
【0022】一連のシェーディングされた画素の値と、
ゲインテーブルのゲインの値は、掛け算器33に入力さ
れる。ここで、掛け算器33には、それぞれ同一アドレ
スに対する値が入力され、画素とゲイン両者の値の積が
出力される。この出力値は、そのままデジタル出力とし
て、後続の表面欠陥計等に入力して利用される。後続機
器の仕様によっては、D/Aコンバータでアナログ出力に
変換してもよい。A series of shaded pixel values;
The value of the gain in the gain table is input to the multiplier 33. Here, the values for the same address are input to the multipliers 33, and the product of the values of the pixel and the gain is output. This output value is directly input as a digital output to a subsequent surface defect meter or the like for use. Depending on the specifications of the subsequent device, the signal may be converted to an analog output by a D / A converter.
【0023】ゲインテーブル32の読出しは、ゲイン値
読出し回路40を用いて次のように行われる。まず、演
算装置(CPU)16がレジスタ16jからゲイン補正
を行うエッジ位置からの相対アドレスを読出し、その値
をダミーカウンタ43にセットする。今、図2(b)に
示すように、仮に画素アドレス300にエッジ位置が存在
するならば、演算装置(CPU)16はダミーカウンタ
43に300をセットする。Reading of the gain table 32 is performed as follows using the gain value reading circuit 40. First, the arithmetic unit (CPU) 16 reads a relative address from an edge position at which gain correction is performed from the register 16j, and sets the value in the dummy counter 43. Now, as shown in FIG. 2B, if an edge position exists at the pixel address 300, the arithmetic unit (CPU) 16 sets 300 to the dummy counter 43.
【0024】ダミーカウンタ43は、開始信号13sと
同時にカウントが開始され、300までカウントすると切
換器41がメインカウンタ42側に切換えられ、カウン
ト結果がメインカウンタ42からゲインテーブル32へ
伝えられる。ゲインテーブル32は画素アドレスに対応
したゲインを出力する。演算装置(CPU)16は、適
宜エッジ検出を行い、以上の動作を繰返すにより、エッ
ジ位置が変動してもエッジ位置に追従して、予め設定さ
れたゲイン設定値に応じた信号を得ることが可能とな
る。なお、ゲインテーブル32には、図2(a)の例に
示す内容を、レジスタ16h,i,j,kに対応して、
始動時に演算装置(CPU)16から各アドレスに対応
した値を書込んでおく。The dummy counter 43 starts counting at the same time as the start signal 13s. When the count reaches 300, the switch 41 is switched to the main counter 42, and the count result is transmitted from the main counter 42 to the gain table 32. The gain table 32 outputs a gain corresponding to the pixel address. The arithmetic unit (CPU) 16 performs edge detection as appropriate and repeats the above operation, so that even if the edge position fluctuates, it can follow the edge position and obtain a signal corresponding to a preset gain setting value. It becomes possible. The gain table 32 stores the contents shown in the example of FIG. 2A in correspondence with the registers 16h, i, j, and k.
At the time of starting, a value corresponding to each address is written from the arithmetic unit (CPU) 16.
【0025】図3は、上記の装置による信号処理過程に
ついて、波形のチャートを示す図である。以下、この図
に基づき説明する。まず、チャートは元波形であり、
A/Dコンバータ14出口の波形に一致する。チャート
に見られるように、エッジから立ち上がるバックグラウ
ンドに、明暗の輝度情報を持つ疵信号が重畳している。FIG. 3 is a diagram showing a waveform chart in the signal processing process by the above-mentioned device. Hereinafter, description will be made with reference to FIG. First, the chart is the original waveform,
It matches the waveform at the exit of the A / D converter 14. As seen in the chart, a flaw signal having brightness information of light and dark is superimposed on a background rising from the edge.
【0026】次いでチャートでは、演算装置16によ
り、あるしきい値以上の輝度情報を有する画素を、エッ
ジ位置として検出している。チャートは、このエッジ
位置から所定の位置までのゲインgを0.3、それ以外の
板幅中央部のゲインgを1.0として、ゲインテーブル3
2に設定している。Next, in the chart, the arithmetic unit 16 detects pixels having luminance information equal to or higher than a certain threshold value as edge positions. In the chart, the gain g from the edge position to the predetermined position is 0.3, and the gain g at the center of the other plate width is 1.0, and the gain table 3
2 is set.
【0027】これを前述の図2を用いて説明すると、例
えば、エッジ位置から所定の位置までの画素数(エッジ
部の範囲)を300画素とすると、図2(c)のようにエ
ッジ部開始アドレスが500であればエッジ部終了アドレ
スは800となり、その間のアドレスに対応するゲインg
が0.3に設定される。その後、図2(d)のようにエッ
ジ位置が画素のアドレス700に移動すれば、エッジ部終
了アドレスは1000となる。This will be described with reference to FIG. 2 described above. For example, if the number of pixels (range of an edge portion) from an edge position to a predetermined position is 300 pixels, the start of the edge portion as shown in FIG. If the address is 500, the edge end address is 800, and the gain g corresponding to the address in the middle is 800.
Is set to 0.3. Thereafter, if the edge position moves to the pixel address 700 as shown in FIG. 2D, the edge portion end address becomes 1000.
【0028】チャートは、後述のようにダイナミック
シェーディング処理を行った後の波形を示す。この処理
により、波形は、0を中心に疵や汚れに対応する信号を
主とするものになる。これに、チャートに示すゲイン
を掛ける。その結果、チャートに示すように、エッジ
近傍の疵や汚れに対応する信号が抑制されており、過大
な疵検出が抑制される。The chart shows the waveform after performing the dynamic shading processing as described later. By this processing, the waveform becomes mainly a signal corresponding to a flaw or dirt around 0. This is multiplied by the gain shown in the chart. As a result, as shown in the chart, signals corresponding to flaws and stains near the edge are suppressed, and excessive flaw detection is suppressed.
【0029】図4は、ダイナミックシェーディング処理
の処理過程を示す図である。チャートは元波形であ
り、図3のチャートに同じである。これをある画素数
(ここでは64画素)で移動平均する。その結果は、チャ
ートに示すように、疵等に対応する信号が平滑化さ
れ、ほぼバックグラウンドのみの波形が得られる。チャ
ートは、このチャートで元波形のチャートを割算
したもので、図3のチャートはこのようにして得られ
た波形である。FIG. 4 is a diagram showing a process of the dynamic shading process. The chart is an original waveform, which is the same as the chart of FIG. This is averaged with a certain number of pixels (64 pixels in this case). As a result, as shown in the chart, a signal corresponding to a flaw or the like is smoothed, and a waveform substantially including only the background is obtained. The chart is obtained by dividing the chart of the original waveform by this chart, and the chart of FIG. 3 is a waveform obtained in this manner.
【0030】以上に述べたように、この発明ではエッジ
部の信号処理を行うが、反対側のエッジ部についても同
様の思想に基づき信号処理することで実施可能である。As described above, in the present invention, the signal processing of the edge portion is performed, but the other edge portion can be implemented by performing signal processing based on the same concept.
【0031】[0031]
【発明の効果】この発明では、連続物体の欠陥を判定す
る場合に、エッジ位置に追従して、信号の振幅を任意の
幅にわたって、任意の利得に設定できるように構成した
ので、エッジ疵やエッジ汚れ等を過大に検出することが
防止できる。従って、汎用の画像処理装置と組合せて使
用する際も、欠陥検査における過剰な不良判定による歩
留りの低下を防止できる。According to the present invention, when determining a defect in a continuous object, the amplitude of the signal can be set to an arbitrary gain over an arbitrary width by following the edge position. Excessive detection of edge stains and the like can be prevented. Therefore, even when used in combination with a general-purpose image processing apparatus, it is possible to prevent a decrease in yield due to excessive defect determination in defect inspection.
【図1】実施の形態の1例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of an embodiment.
【図2】画素アドレスとゲインの関係を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a relationship between a pixel address and a gain.
【図3】発明の装置における信号処理過程を示す図であ
る。FIG. 3 is a diagram showing a signal processing process in the apparatus of the present invention.
【図4】シェーディング処理の処理過程を示す図であ
る。FIG. 4 is a diagram illustrating a process of a shading process.
【図5】従来の表面欠陥検出装置の構成を示す図であ
る。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional surface defect detection device.
11 1次元撮像装置 13 タイミング発生器 13c クロックパルス 13s 開始信号 14 A/Dコンバータ 15 映像信号用メモリ 16 演算装置(CPU) 16h、i、j、k レジスタ 17 演算用メモリ 18 出力手段 31 ダイナミックシェーディング回路 32 ゲインテーブル 33 掛け算器 40 ゲイン値読出し回路 41 切換器 42 メインカウンタ 43 ダミーカウンタ REFERENCE SIGNS LIST 11 one-dimensional imaging device 13 timing generator 13 c clock pulse 13 s start signal 14 A / D converter 15 video signal memory 16 arithmetic device (CPU) 16 h, i, j, k register 17 arithmetic memory 18 output means 31 dynamic shading circuit 32 Gain table 33 Multiplier 40 Gain value read circuit 41 Switch 42 Main counter 43 Dummy counter
フロントページの続き (72)発明者 河村 努 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日本鋼管株式会社内 (72)発明者 大重 貴彦 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日本鋼管株式会社内 (72)発明者 杉浦 寛幸 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日本鋼管株式会社内 (56)参考文献 特開 昭53−119047(JP,A) 特開 平3−134548(JP,A) 特開 平7−35703(JP,A) 特開 昭63−215953(JP,A) 特開 平8−292160(JP,A) 特開 平8−145907(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06T 1/00 300 G01N 21/88 G01N 21/89 Continuing from the front page (72) Inventor Tsutomu Kawamura 1-1-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Kokan Co., Ltd. (72) Inventor Takahiko Oshi 1-2-1 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Kokan Co., Ltd. (72) Inventor Hiroyuki Sugiura 1-2-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Kokan Co., Ltd. (56) References JP-A-53-119047 (JP, A) JP-A-3-134548 (JP, A JP-A 7-35703 (JP, A) JP-A 63-215953 (JP, A) JP-A 8-292160 (JP, A) JP-A 8-145907 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G06T 1/00 300 G01N 21/88 G01N 21/89
Claims (1)
検出された映像信号に、少なくともシェーディング処理
を含む信号処理を施すことにより、連続物体の欠陥を検
出するための信号を出力する連続物体の欠陥検出用信号
処理装置において、連続物体の幅方向の画像を検出し映
像信号に変換する1次元撮像装置と、この映像信号から
前記連続物体のエッジを検出するエッジ検出手段と、前
記エッジの位置から所定の位置までのゲインを、板幅の
中央の部分のゲインより小さな異なる値に設定するゲイ
ン設定手段と、を備えていることを特徴とする連続物体
の欠陥検出用信号処理装置。At least a shading process is applied to a video signal detected using an imaging device having a one-dimensional visual field.
In a signal processing device for detecting a defect of a continuous object, which outputs a signal for detecting a defect of a continuous object by performing signal processing including An imaging device, an edge detecting means for detecting an edge of the continuous object from the video signal, and a gain for setting a gain from a position of the edge to a predetermined position to a different value smaller than a gain of a central portion of a plate width. A signal processing device for detecting a defect of a continuous object, comprising: a setting unit.
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