JP3332065B2 - システム余裕測定装置 - Google Patents
システム余裕測定装置Info
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信システムの
システム余裕度を測定するシステム余裕測定装置に関す
る。
システム余裕度を測定するシステム余裕測定装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムのシステム余裕度とは、
受信器が規定の誤り率以下で光信号を受信するために必
要な受信光強度（受信感度）と、受信器の最小受信光強
度との差をいう。受信器は、長期間使用するに従って各
種の部品が劣化したり調整がずれたりして符号間干渉量
が増大し、受信感度が低下する。そのため、受信感度と
最小受信光強度には、システム余裕として予め所定の差
が与えられている。
受信器が規定の誤り率以下で光信号を受信するために必
要な受信光強度（受信感度）と、受信器の最小受信光強
度との差をいう。受信器は、長期間使用するに従って各
種の部品が劣化したり調整がずれたりして符号間干渉量
が増大し、受信感度が低下する。そのため、受信感度と
最小受信光強度には、システム余裕として予め所定の差
が与えられている。
【０００３】従来のシステム余裕測定装置では、受信器
へ最小受信光強度の光を入射した状態で、主信号光に符
号間干渉光を人為的に重畳し、受信器で符号誤り率特性
の劣化の程度と符号間干渉量との関係を測定することに
より、光通信システムのシステム余裕度を評価する。図
６は、従来のシステム余裕測定装置の構成例を示す。
へ最小受信光強度の光を入射した状態で、主信号光に符
号間干渉光を人為的に重畳し、受信器で符号誤り率特性
の劣化の程度と符号間干渉量との関係を測定することに
より、光通信システムのシステム余裕度を評価する。図
６は、従来のシステム余裕測定装置の構成例を示す。
【０００４】図において、送信器２１から送信された主
信号光は、光ファイバ２２−１、減衰器２３−１、光カ
プラ２４、光ファイバ２２−２を介して受信器２５に受
信される。一方、符号間干渉信号光源２６から出力され
た符号間干渉光は、減衰器２３−２を介して光カプラ２
４に入力され、主信号光に重畳される。光カプラ２４に
は、受信器２５の入力パワーをモニタする光パワーメー
タ（ＰＭ）２７が接続される。このような構成により、
減衰器２３−１を調整して主信号光の受信器入力光パワ
ーを設定し、その値に対して減衰器２３−２を調整して
符号間干渉光を変化させ、受信器２５で発生する符号誤
り率を検出することにより、システム余裕度を測定す
る。
信号光は、光ファイバ２２−１、減衰器２３−１、光カ
プラ２４、光ファイバ２２−２を介して受信器２５に受
信される。一方、符号間干渉信号光源２６から出力され
た符号間干渉光は、減衰器２３−２を介して光カプラ２
４に入力され、主信号光に重畳される。光カプラ２４に
は、受信器２５の入力パワーをモニタする光パワーメー
タ（ＰＭ）２７が接続される。このような構成により、
減衰器２３−１を調整して主信号光の受信器入力光パワ
ーを設定し、その値に対して減衰器２３−２を調整して
符号間干渉光を変化させ、受信器２５で発生する符号誤
り率を検出することにより、システム余裕度を測定す
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図６に示すシステム余
裕測定装置は、１方向の光通信システムに適用されるも
のであり、そのまま双方向光通信システムに適用するこ
とができない。双方向光通信システムは、１本の光ファ
イバ伝送路に上りと下りの送受信器が対向し、システム
余裕度の測定も上りと下りの各光通信システムについて
行う必要がある。しかし、図７に示すように、符号間干
渉光が上りの主信号光に重畳される構成では、上りの光
通信システムにおける受信器２５−２でシステム余裕度
を測定することができるが、下りの光通信システムのシ
ステム余裕度の測定はできない。したがって、その測定
を行うには符号間干渉信号光源２６、減衰器２３−２、
光カプラ２４をつなぎ変える必要がある。
裕測定装置は、１方向の光通信システムに適用されるも
のであり、そのまま双方向光通信システムに適用するこ
とができない。双方向光通信システムは、１本の光ファ
イバ伝送路に上りと下りの送受信器が対向し、システム
余裕度の測定も上りと下りの各光通信システムについて
行う必要がある。しかし、図７に示すように、符号間干
渉光が上りの主信号光に重畳される構成では、上りの光
通信システムにおける受信器２５−２でシステム余裕度
を測定することができるが、下りの光通信システムのシ
ステム余裕度の測定はできない。したがって、その測定
を行うには符号間干渉信号光源２６、減衰器２３−２、
光カプラ２４をつなぎ変える必要がある。
【０００６】また、双方向光通信システムでは、対向す
る送受信器が互いに通信しながら動作する構成になって
いる。したがって、図７に示す構成において、主信号光
の伝送路に挿入した減衰器２３−１の損失を大きくする
と、上り下り両方の受信器の入力パワーが同時に低くな
り、一方の光通信システムのシステム余裕度を測定する
前にシステム余裕の小さい方が動作停止状態となり、全
体のシステム動作が停止してしまう。このため、上りと
下りの各光通信システムのシステム余裕度を独立して測
定することができなかった。
る送受信器が互いに通信しながら動作する構成になって
いる。したがって、図７に示す構成において、主信号光
の伝送路に挿入した減衰器２３−１の損失を大きくする
と、上り下り両方の受信器の入力パワーが同時に低くな
り、一方の光通信システムのシステム余裕度を測定する
前にシステム余裕の小さい方が動作停止状態となり、全
体のシステム動作が停止してしまう。このため、上りと
下りの各光通信システムのシステム余裕度を独立して測
定することができなかった。
【０００７】また、双方向光通信システムのシステム余
裕度を測定する場合に、上り信号パワー、下り信号パワ
ー、符号間干渉信号パワーを同時にモニタする必要が生
じても、図７に示す構成では下り信号パワーを測定する
ことができなかった。本発明は、１本の光ファイバ伝送
路を用いる双方向光通信システムにおいて、簡単な構成
で双方向の送受信回路のシステム余裕度を測定すること
ができるシステム余裕測定装置を提供することを目的と
する。
裕度を測定する場合に、上り信号パワー、下り信号パワ
ー、符号間干渉信号パワーを同時にモニタする必要が生
じても、図７に示す構成では下り信号パワーを測定する
ことができなかった。本発明は、１本の光ファイバ伝送
路を用いる双方向光通信システムにおいて、簡単な構成
で双方向の送受信回路のシステム余裕度を測定すること
ができるシステム余裕測定装置を提供することを目的と
する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のシステム余裕測
定装置は、光ファイバ伝送路に挿入される２本の光路
と、光ファイバ伝送路を伝搬する主信号光を方向別に２
本の光路に切り替えて接続する接続手段と、２本の光路
を伝搬する双方向の主信号光にそれぞれ独立に損失を与
える減衰器とを備える。これにより、上りと下りで独立
に主信号パワーを設定することができる。さらに、符号
間干渉光に損失を与える減衰器と、所定の損失を与えた
符号間干渉光を双方向の主信号光に重畳する手段と、双
方向の主信号光のパワーと符号間干渉光のパワーを独立
にモニタ測定し、各減衰器の設定に応じてモニタ測定さ
れた各パワーの読み値を装置の出力ポートにおける実測
値に基づいて校正する手段とを備えることにより、上り
と下りで独立に符号間干渉光のパワーを設定し、双方向
の送受信回路におけるシステム余裕度を測定することが
できる。
定装置は、光ファイバ伝送路に挿入される２本の光路
と、光ファイバ伝送路を伝搬する主信号光を方向別に２
本の光路に切り替えて接続する接続手段と、２本の光路
を伝搬する双方向の主信号光にそれぞれ独立に損失を与
える減衰器とを備える。これにより、上りと下りで独立
に主信号パワーを設定することができる。さらに、符号
間干渉光に損失を与える減衰器と、所定の損失を与えた
符号間干渉光を双方向の主信号光に重畳する手段と、双
方向の主信号光のパワーと符号間干渉光のパワーを独立
にモニタ測定し、各減衰器の設定に応じてモニタ測定さ
れた各パワーの読み値を装置の出力ポートにおける実測
値に基づいて校正する手段とを備えることにより、上り
と下りで独立に符号間干渉光のパワーを設定し、双方向
の送受信回路におけるシステム余裕度を測定することが
できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下の実施形態では、接続手段と
して２つのサーキュレータを用いる構成（第１の実施形
態）、１つのサーキュレータと１つの光カプラを用いる
構成（第２の実施形態，第３の実施形態）を示す。ま
た、符号間干渉光を双方向の主信号光の一方に重畳する
手段として、光スイッチと光カプラを用いる構成を示す
（各実施形態）。
して２つのサーキュレータを用いる構成（第１の実施形
態）、１つのサーキュレータと１つの光カプラを用いる
構成（第２の実施形態，第３の実施形態）を示す。ま
た、符号間干渉光を双方向の主信号光の一方に重畳する
手段として、光スイッチと光カプラを用いる構成を示す
（各実施形態）。
【００１０】（第１の実施形態）図１は、本発明のシス
テム余裕測定装置の第１の実施形態を示す。図におい
て、１本の光ファイバ伝送路を介して対向する送信器２
１−１から受信器２５−１に伝送される主信号光を下り
信号とし、送信器２１−２から受信器２５−２に伝送さ
れる主信号光を上り信号とする。(a) は下り信号試験時
の実施形態を示し、(b) は上り信号試験時の実施形態を
示す。
テム余裕測定装置の第１の実施形態を示す。図におい
て、１本の光ファイバ伝送路を介して対向する送信器２
１−１から受信器２５−１に伝送される主信号光を下り
信号とし、送信器２１−２から受信器２５−２に伝送さ
れる主信号光を上り信号とする。(a) は下り信号試験時
の実施形態を示し、(b) は上り信号試験時の実施形態を
示す。
【００１１】（下り信号試験時）図１(a) において、送
信器２１−１から送信された下り信号は、ポート１１−
１からサーキュレータ１２−１に入力されて上り信号パ
スと分離され、減衰器２３−１を介して光カプラ２４−
１に入力される。符号間干渉信号光源２６から出力され
た符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して光スイッチ
１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−１に入力さ
れる。光カプラ２４−１で重畳された上り信号と符号間
干渉光はサーキュレータ１２−２に入力され、再び上り
信号パスと結合してポート１１−２から試験信号として
出力され、受信器２５−１に入力される。また、下り信
号および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−１で分岐
され、光スイッチ１３−２を介して光パワーメータ（Ｐ
Ｍ）２７−１またはモニタポート１４に接続される。モ
ニタポート１４には、斜めコネクタまたはアイソレータ
が配置される。
信器２１−１から送信された下り信号は、ポート１１−
１からサーキュレータ１２−１に入力されて上り信号パ
スと分離され、減衰器２３−１を介して光カプラ２４−
１に入力される。符号間干渉信号光源２６から出力され
た符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して光スイッチ
１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−１に入力さ
れる。光カプラ２４−１で重畳された上り信号と符号間
干渉光はサーキュレータ１２−２に入力され、再び上り
信号パスと結合してポート１１−２から試験信号として
出力され、受信器２５−１に入力される。また、下り信
号および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−１で分岐
され、光スイッチ１３−２を介して光パワーメータ（Ｐ
Ｍ）２７−１またはモニタポート１４に接続される。モ
ニタポート１４には、斜めコネクタまたはアイソレータ
が配置される。
【００１２】下り信号のパワーは、光カプラ２４−１で
下り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−２を切り替
えて光パワーメータ２７−１に入力し測定する。このと
き、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無限大に
するか光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプラ２４
−１で合波されない状態にしておく。なお、光パワーメ
ータ２７−１の読み値は、予めポート１１−２における
下り信号パワーを別途用意した光パワーメータ（ＰＭ）
２７−２で直接測定し、校正しておく。
下り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−２を切り替
えて光パワーメータ２７−１に入力し測定する。このと
き、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無限大に
するか光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプラ２４
−１で合波されない状態にしておく。なお、光パワーメ
ータ２７−１の読み値は、予めポート１１−２における
下り信号パワーを別途用意した光パワーメータ（ＰＭ）
２７−２で直接測定し、校正しておく。
【００１３】下り信号に重畳する符号間干渉光のパワー
は、光カプラ２４−１で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
１に入力し測定する。このとき、下り信号は、減衰器２
３−１の損失を無限大にして光カプラ２４−１で合波さ
れない状態にしておく。なお、光パワーメータ２７−１
の読み値は、予めポート１１−２における符号間干渉光
パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で直接測
定し、校正しておく。
は、光カプラ２４−１で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
１に入力し測定する。このとき、下り信号は、減衰器２
３−１の損失を無限大にして光カプラ２４−１で合波さ
れない状態にしておく。なお、光パワーメータ２７−１
の読み値は、予めポート１１−２における符号間干渉光
パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で直接測
定し、校正しておく。
【００１４】このように、光パワーメータ２７−２の測
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−１における下り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−１，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−１は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−１から与えられる試験信号により強度変調し
た下り信号を出力する。この下り信号の光パワーＳは減
衰器２３−１を調整して設定される。一方、減衰器２３
−３を調整して符号間干渉光の光パワーＸを変化させ、
この符号間干渉光を光スイッチ１３−１および光カプラ
２４−１を介して下り信号に重畳し、受信器２５−１に
おける符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を設定する。受信器２５
−１に接続される誤り率測定器（ＥＤ）１６−１は、減
衰器２３−１，２３−３により設定される符号間干渉量
（Ｓ／Ｘ）に対応する符号誤り率を検出し、下り方向の
システム余裕度（所定の誤り率に対するＳ／Ｘ）を測定
する。
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−１における下り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−１，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−１は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−１から与えられる試験信号により強度変調し
た下り信号を出力する。この下り信号の光パワーＳは減
衰器２３−１を調整して設定される。一方、減衰器２３
−３を調整して符号間干渉光の光パワーＸを変化させ、
この符号間干渉光を光スイッチ１３−１および光カプラ
２４−１を介して下り信号に重畳し、受信器２５−１に
おける符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）を設定する。受信器２５
−１に接続される誤り率測定器（ＥＤ）１６−１は、減
衰器２３−１，２３−３により設定される符号間干渉量
（Ｓ／Ｘ）に対応する符号誤り率を検出し、下り方向の
システム余裕度（所定の誤り率に対するＳ／Ｘ）を測定
する。
【００１５】ここで、符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）は、下り
信号（Ｓ）と符号間干渉光（Ｘ）のピーク値の比で定義
される。一方、測定できるのは下り信号と符号間干渉光
の平均パワーである。したがって、実際の符号間干渉量
を知るには、下り信号または符号間干渉光の消光比（オ
ンオフ比）を波形測定から求める必要がある。また、下
り信号または符号間干渉光がバースト上の信号の場合に
は、各々の信号の波形をモニタして直接ピーク値を測定
する必要がある。そのために、光スイッチ１３−２を切
り替えてモニタポート１４に分岐光を取り出し、下り信
号波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形をモ
ニタする。
信号（Ｓ）と符号間干渉光（Ｘ）のピーク値の比で定義
される。一方、測定できるのは下り信号と符号間干渉光
の平均パワーである。したがって、実際の符号間干渉量
を知るには、下り信号または符号間干渉光の消光比（オ
ンオフ比）を波形測定から求める必要がある。また、下
り信号または符号間干渉光がバースト上の信号の場合に
は、各々の信号の波形をモニタして直接ピーク値を測定
する必要がある。そのために、光スイッチ１３−２を切
り替えてモニタポート１４に分岐光を取り出し、下り信
号波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形をモ
ニタする。
【００１６】（上り信号試験時）図１(b) において、送
信器２１−２から送信された上り信号は、ポート１１−
２からサーキュレータ１２−２に入力されて下り信号パ
スと分離され、減衰器２３−２を介して光カプラ２４−
２に入力される。符号間干渉信号光源２６から出力され
た符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して光スイッチ
１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−２に入力さ
れる。光カプラ２４−２で重畳された下り信号と符号間
干渉光はサーキュレータ１２−１に入力され、再び下り
信号パスと結合してポート１１−１から試験信号として
出力され、受信器２５−２に入力される。また、上り信
号および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−２で分岐
され、光スイッチ１３−２を介して光パワーメータ２７
−１またはモニタポート１４に接続される。
信器２１−２から送信された上り信号は、ポート１１−
２からサーキュレータ１２−２に入力されて下り信号パ
スと分離され、減衰器２３−２を介して光カプラ２４−
２に入力される。符号間干渉信号光源２６から出力され
た符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して光スイッチ
１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−２に入力さ
れる。光カプラ２４−２で重畳された下り信号と符号間
干渉光はサーキュレータ１２−１に入力され、再び下り
信号パスと結合してポート１１−１から試験信号として
出力され、受信器２５−２に入力される。また、上り信
号および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−２で分岐
され、光スイッチ１３−２を介して光パワーメータ２７
−１またはモニタポート１４に接続される。
【００１７】上り信号のパワーは、光カプラ２４−２で
上り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−２を切り替
えて光パワーメータ２７−１に入力し測定する。このと
き、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無限大に
するか光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプラ２４
−２で合波されない状態にしておく。なお、光パワーメ
ータ２７−１の読み値は、予めポート１１−１における
上り信号パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２
で直接測定し、校正しておく。
上り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−２を切り替
えて光パワーメータ２７−１に入力し測定する。このと
き、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無限大に
するか光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプラ２４
−２で合波されない状態にしておく。なお、光パワーメ
ータ２７−１の読み値は、予めポート１１−１における
上り信号パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２
で直接測定し、校正しておく。
【００１８】上り信号に重畳する符号間干渉光のパワー
は、光カプラ２４−２で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
１に入力し測定する。このとき、上り信号は、減衰器２
３−２の損失を無限大にして光カプラ２４−２で合波さ
れない状態にしておく。なお、光パワーメータ２７−１
の読み値は、予めポート１１−１における符号間干渉光
パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で直接測
定し、校正しておく。
は、光カプラ２４−２で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
１に入力し測定する。このとき、上り信号は、減衰器２
３−２の損失を無限大にして光カプラ２４−２で合波さ
れない状態にしておく。なお、光パワーメータ２７−１
の読み値は、予めポート１１−１における符号間干渉光
パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で直接測
定し、校正しておく。
【００１９】このように、光パワーメータ２７−２の測
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−１における上り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−２，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−２は、パルスパターン発生器１５−２
から与えられる試験信号により強度変調した上り信号を
出力する。以下同様に、減衰器２３−２，２３−３によ
り設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対応する符号誤
り率を検出し、上り方向のシステム余裕度を測定する。
なお、符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、光スイッチ
１３−２を切り替えてモニタポート１４に分岐光を取り
出し、上り信号波形、符号間干渉光波形、またはその合
波光波形をモニタする。
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−１における上り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−２，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−２は、パルスパターン発生器１５−２
から与えられる試験信号により強度変調した上り信号を
出力する。以下同様に、減衰器２３−２，２３−３によ
り設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対応する符号誤
り率を検出し、上り方向のシステム余裕度を測定する。
なお、符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、光スイッチ
１３−２を切り替えてモニタポート１４に分岐光を取り
出し、上り信号波形、符号間干渉光波形、またはその合
波光波形をモニタする。
【００２０】（第２の実施形態）図２は、本発明のシス
テム余裕測定装置の第２の実施形態を示す。図におい
て、１本の光ファイバ伝送路を介して対向する送信器２
１−１から受信器２５−１に伝送される主信号光を下り
信号とし、送信器２１−２から受信器２５−２に伝送さ
れる主信号光を上り信号とする。(a) は下り信号試験時
の実施形態を示し、(b) は上り信号試験時の実施形態を
示す。
テム余裕測定装置の第２の実施形態を示す。図におい
て、１本の光ファイバ伝送路を介して対向する送信器２
１−１から受信器２５−１に伝送される主信号光を下り
信号とし、送信器２１−２から受信器２５−２に伝送さ
れる主信号光を上り信号とする。(a) は下り信号試験時
の実施形態を示し、(b) は上り信号試験時の実施形態を
示す。
【００２１】（下り信号試験時）図２(a) において、送
信器２１−１から送信された下り信号は、ポート１１−
１から光カプラ２４−１に入力して分岐される。その一
方の下り信号は、減衰器２３−１を介してサーキュレー
タ１２に入力され、上り信号パスと結合し光カプラ２４
−２に入力される。光カプラ２４−１で分岐された他方
の下り信号は、減衰器２３−２を介してサーキュレータ
１２に入力され終端される。符号間干渉信号光源２６か
ら出力された符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して
光スイッチ１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−
２に入力される。光カプラ２４−２で重畳された下り信
号と符号間干渉光は、光カプラ２４−３を介してポート
１１−２から試験信号として出力され、受信器２５−１
に入力される。
信器２１−１から送信された下り信号は、ポート１１−
１から光カプラ２４−１に入力して分岐される。その一
方の下り信号は、減衰器２３−１を介してサーキュレー
タ１２に入力され、上り信号パスと結合し光カプラ２４
−２に入力される。光カプラ２４−１で分岐された他方
の下り信号は、減衰器２３−２を介してサーキュレータ
１２に入力され終端される。符号間干渉信号光源２６か
ら出力された符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して
光スイッチ１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−
２に入力される。光カプラ２４−２で重畳された下り信
号と符号間干渉光は、光カプラ２４−３を介してポート
１１−２から試験信号として出力され、受信器２５−１
に入力される。
【００２２】下り信号および符号間干渉光の一部は、光
カプラ２４−３で分岐されて光パワーメータ（ＰＭ）２
７−１に入力される。また、下り信号および符号間干渉
光の一部は、光カプラ２４−２で分岐され光スイッチ１
３−１を介してモニタポート１４−１に接続される。下
り信号のパワーは、光カプラ２４−３で下り信号の一部
を分岐し、光パワーメータ２７−１に入力し測定する。
このとき、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無
限大にするか光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプ
ラ２４−２で下り信号に合波されない状態にしておく。
なお、光パワーメータ２７−１の読み値は、予めポート
１１−２における下り信号パワーを別途用意した光パワ
ーメータ（ＰＭ）２７−３で直接測定し、校正してお
く。
カプラ２４−３で分岐されて光パワーメータ（ＰＭ）２
７−１に入力される。また、下り信号および符号間干渉
光の一部は、光カプラ２４−２で分岐され光スイッチ１
３−１を介してモニタポート１４−１に接続される。下
り信号のパワーは、光カプラ２４−３で下り信号の一部
を分岐し、光パワーメータ２７−１に入力し測定する。
このとき、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無
限大にするか光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプ
ラ２４−２で下り信号に合波されない状態にしておく。
なお、光パワーメータ２７−１の読み値は、予めポート
１１−２における下り信号パワーを別途用意した光パワ
ーメータ（ＰＭ）２７−３で直接測定し、校正してお
く。
【００２３】下り信号に重畳する符号間干渉光のパワー
は、光カプラ２４−３で符号間干渉光の一部を分岐し、
光パワーメータ２７−１に入力し測定する。このとき、
下り信号は、減衰器２３−１の損失を無限大にして光カ
プラ２４−２で合波されない状態にしておく。なお、光
パワーメータ２７−１の読み値は、予めポート１１−２
における符号間干渉光パワーを別途用意した光パワーメ
ータ２７−３で直接測定し、校正しておく。
は、光カプラ２４−３で符号間干渉光の一部を分岐し、
光パワーメータ２７−１に入力し測定する。このとき、
下り信号は、減衰器２３−１の損失を無限大にして光カ
プラ２４−２で合波されない状態にしておく。なお、光
パワーメータ２７−１の読み値は、予めポート１１−２
における符号間干渉光パワーを別途用意した光パワーメ
ータ２７−３で直接測定し、校正しておく。
【００２４】このように、光パワーメータ２７−３の測
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−２における下り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−１，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−１は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−１から与えられる試験信号により強度変調し
た下り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−１，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−１で検
出し、下り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４−１に分岐光を取り出し、下り
信号波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形を
モニタする。
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−２における下り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−１，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−１は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−１から与えられる試験信号により強度変調し
た下り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−１，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−１で検
出し、下り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４−１に分岐光を取り出し、下り
信号波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形を
モニタする。
【００２５】（上り信号試験時）図２(b) において、送
信器２１−２から送信された上り信号は、ポート１１−
２から光カプラ２４−３，２４−２に入力される。符号
間干渉信号光源２６から出力された符号間干渉光は、減
衰器２３−３を介して光スイッチ１３−１に入力され、
さらに光カプラ２４−２に入力される。光カプラ２４−
２で重畳された上り信号と符号間干渉光は、サーキュレ
ータ１２に入力されて下り信号パスと分離される。サー
キュレータ１２から出力された上り信号および符号間干
渉光は、減衰器２３−２を介して光カプラ２４−１に入
力され、再び下り信号パスと結合してポート１１−１か
ら試験信号として出力され、受信器２５−２に入力され
る。
信器２１−２から送信された上り信号は、ポート１１−
２から光カプラ２４−３，２４−２に入力される。符号
間干渉信号光源２６から出力された符号間干渉光は、減
衰器２３−３を介して光スイッチ１３−１に入力され、
さらに光カプラ２４−２に入力される。光カプラ２４−
２で重畳された上り信号と符号間干渉光は、サーキュレ
ータ１２に入力されて下り信号パスと分離される。サー
キュレータ１２から出力された上り信号および符号間干
渉光は、減衰器２３−２を介して光カプラ２４−１に入
力され、再び下り信号パスと結合してポート１１−１か
ら試験信号として出力され、受信器２５−２に入力され
る。
【００２６】上り信号および符号間干渉光の一部は光カ
プラ２４−１で分岐され、光スイッチ１３−２を介して
光パワーメータ（ＰＭ）２７−２に接続される。また、
上り信号を光カプラ２４−３で分岐し、光スイッチ１３
−２を介してモニタポート１４−２に接続することによ
り、上り信号の波形モニタが可能である。また、符号間
干渉光を光カプラ２４−２で分岐し、光スイッチ１３−
１を介してモニタポート１４−１に接続することによ
り、符号間干渉光の波形モニタが可能である。
プラ２４−１で分岐され、光スイッチ１３−２を介して
光パワーメータ（ＰＭ）２７−２に接続される。また、
上り信号を光カプラ２４−３で分岐し、光スイッチ１３
−２を介してモニタポート１４−２に接続することによ
り、上り信号の波形モニタが可能である。また、符号間
干渉光を光カプラ２４−２で分岐し、光スイッチ１３−
１を介してモニタポート１４−１に接続することによ
り、符号間干渉光の波形モニタが可能である。
【００２７】上り信号のパワーは、光カプラ２４−１で
上り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−２を介して
光パワーメータ２７−２に入力し測定する。このとき、
符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無限大にする
か光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプラ２４−２
で上り信号に合波されない状態にしておく。なお、光パ
ワーメータ２７−２の読み値は、予めポート１１−１に
おける上り信号パワーを別途用意した光パワーメータ
（ＰＭ）２７−３で直接測定し、校正しておく。
上り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−２を介して
光パワーメータ２７−２に入力し測定する。このとき、
符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無限大にする
か光スイッチ１３−１を切り替えて、光カプラ２４−２
で上り信号に合波されない状態にしておく。なお、光パ
ワーメータ２７−２の読み値は、予めポート１１−１に
おける上り信号パワーを別途用意した光パワーメータ
（ＰＭ）２７−３で直接測定し、校正しておく。
【００２８】上り信号に重畳する符号間干渉光のパワー
は、光カプラ２４−１で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
２に入力し測定する。このときの符号間干渉光のパワー
は、減衰器２３−３，２３−２の各損失の和で設定され
る。したがって、あらかじめ上り信号を入力する前に、
符号間干渉光パワーと各減衰器の損失の和との対応表を
作成しておく。また、光パワーメータ２７−２の読み値
は、予めポート１１−１における符号間干渉光パワーを
別途用意した光パワーメータ２７−３で測定し、校正し
ておく。
は、光カプラ２４−１で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
２に入力し測定する。このときの符号間干渉光のパワー
は、減衰器２３−３，２３−２の各損失の和で設定され
る。したがって、あらかじめ上り信号を入力する前に、
符号間干渉光パワーと各減衰器の損失の和との対応表を
作成しておく。また、光パワーメータ２７−２の読み値
は、予めポート１１−１における符号間干渉光パワーを
別途用意した光パワーメータ２７−３で測定し、校正し
ておく。
【００２９】このように、光パワーメータ２７−３の測
定値を基に光パワーメータ２７−２の値を校正すること
により、ポート１１−１における上り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−２，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−２は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−２から与えられる試験信号により強度変調し
た上り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−２，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−２で検
出し、上り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４−１，１４−２に分岐光を取り
出し、上り信号波形および符号間干渉光波形をモニタす
る。
定値を基に光パワーメータ２７−２の値を校正すること
により、ポート１１−１における上り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−２，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−２は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−２から与えられる試験信号により強度変調し
た上り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−２，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−２で検
出し、上り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４−１，１４−２に分岐光を取り
出し、上り信号波形および符号間干渉光波形をモニタす
る。
【００３０】（第３の実施形態）図３は、本発明のシス
テム余裕測定装置の第３の実施形態を示す。図におい
て、１本の光ファイバ伝送路を介して対向する送信器２
１−１から受信器２５−１に伝送される主信号光を下り
信号とし、送信器２１−２から受信器２５−２に伝送さ
れる主信号光を上り信号とする。(a) は下り信号試験時
の実施形態を示し、(b) は上り信号試験時の実施形態を
示す。
テム余裕測定装置の第３の実施形態を示す。図におい
て、１本の光ファイバ伝送路を介して対向する送信器２
１−１から受信器２５−１に伝送される主信号光を下り
信号とし、送信器２１−２から受信器２５−２に伝送さ
れる主信号光を上り信号とする。(a) は下り信号試験時
の実施形態を示し、(b) は上り信号試験時の実施形態を
示す。
【００３１】（下り信号試験時）図３(a) において、送
信器２１−１から送信された下り信号は、ポート１１−
１から光カプラ２４−１に入力して分岐される。その一
方の下り信号は、減衰器２３−１を介してサーキュレー
タ１２に入力され、上り信号パスと結合し光カプラ２４
−２に入力される。光カプラ２４−１で分岐された他方
の下り信号は、減衰器２３−２を介してサーキュレータ
１２に入力され終端される。符号間干渉信号光源２６か
ら出力された符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して
光スイッチ１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−
２に入力される。光カプラ２４−２で重畳された下り信
号と符号間干渉光は、ポート１１−２から試験信号とし
て出力され、受信器２５−１に入力される。また、下り
信号および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−２で分
岐され、光スイッチ１３−１，１３−２を介して光パワ
ーメータ（ＰＭ）２７−１またはモニタポート１４に接
続される。
信器２１−１から送信された下り信号は、ポート１１−
１から光カプラ２４−１に入力して分岐される。その一
方の下り信号は、減衰器２３−１を介してサーキュレー
タ１２に入力され、上り信号パスと結合し光カプラ２４
−２に入力される。光カプラ２４−１で分岐された他方
の下り信号は、減衰器２３−２を介してサーキュレータ
１２に入力され終端される。符号間干渉信号光源２６か
ら出力された符号間干渉光は、減衰器２３−３を介して
光スイッチ１３−１に入力され、さらに光カプラ２４−
２に入力される。光カプラ２４−２で重畳された下り信
号と符号間干渉光は、ポート１１−２から試験信号とし
て出力され、受信器２５−１に入力される。また、下り
信号および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−２で分
岐され、光スイッチ１３−１，１３−２を介して光パワ
ーメータ（ＰＭ）２７−１またはモニタポート１４に接
続される。
【００３２】下り信号のパワーは、光カプラ２４−２で
下り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−１，１３−
２を介して光パワーメータ２７−１に入力し測定する。
このとき、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無
限大にして光カプラ２４−２で下り信号に合波されない
状態にしておく。なお、光パワーメータ２７−１の読み
値は、予めポート１１−２における下り信号パワーを別
途用意した光パワーメータ（ＰＭ）２７−２で直接測定
し、校正しておく。
下り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−１，１３−
２を介して光パワーメータ２７−１に入力し測定する。
このとき、符号間干渉光は、減衰器２３−３の損失を無
限大にして光カプラ２４−２で下り信号に合波されない
状態にしておく。なお、光パワーメータ２７−１の読み
値は、予めポート１１−２における下り信号パワーを別
途用意した光パワーメータ（ＰＭ）２７−２で直接測定
し、校正しておく。
【００３３】下り信号に重畳する符号間干渉光のパワー
は、光カプラ２４−２で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−１，１３−２を介して光パワーメータ
２７−１に入力し測定する。このとき、下り信号は、減
衰器２３−１の損失を無限大にして光カプラ２４−２で
合波されない状態にしておく。なお、光パワーメータ２
７−１の読み値は、予めポート１１−２における符号間
干渉光パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で
直接測定し、校正しておく。
は、光カプラ２４−２で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−１，１３−２を介して光パワーメータ
２７−１に入力し測定する。このとき、下り信号は、減
衰器２３−１の損失を無限大にして光カプラ２４−２で
合波されない状態にしておく。なお、光パワーメータ２
７−１の読み値は、予めポート１１−２における符号間
干渉光パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で
直接測定し、校正しておく。
【００３４】このように、光パワーメータ２７−２の測
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−２における下り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−１，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−１は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−１から与えられる試験信号により強度変調し
た下り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−１，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−１で検
出し、下り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４に分岐光を取り出し、下り信号
波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形をモニ
タする。
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−２における下り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−１，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−１は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−１から与えられる試験信号により強度変調し
た下り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−１，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−１で検
出し、下り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４に分岐光を取り出し、下り信号
波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形をモニ
タする。
【００３５】（上り信号試験時）図３(b) において、送
信器２１−２から送信された上り信号は、ポート１１−
２から光カプラ２４−２に入力される。符号間干渉信号
光源２６から出力された符号間干渉光は、減衰器２３−
３を介して光スイッチ１３−１に入力され、さらに光カ
プラ２４−２に入力される。光カプラ２４−２で重畳さ
れた上り信号と符号間干渉光は、サーキュレータ１２に
入力されて下り信号パスと分離される。サーキュレータ
１２から出力された上り信号および符号間干渉光は、減
衰器２３−２を介して光カプラ２４−１に入力され、再
び下り信号パスと結合してポート１１−１から試験信号
として出力され、受信器２５−２に入力される。
信器２１−２から送信された上り信号は、ポート１１−
２から光カプラ２４−２に入力される。符号間干渉信号
光源２６から出力された符号間干渉光は、減衰器２３−
３を介して光スイッチ１３−１に入力され、さらに光カ
プラ２４−２に入力される。光カプラ２４−２で重畳さ
れた上り信号と符号間干渉光は、サーキュレータ１２に
入力されて下り信号パスと分離される。サーキュレータ
１２から出力された上り信号および符号間干渉光は、減
衰器２３−２を介して光カプラ２４−１に入力され、再
び下り信号パスと結合してポート１１−１から試験信号
として出力され、受信器２５−２に入力される。
【００３６】上り信号および符号間干渉光の一部は光カ
プラ２４−１で分岐され、光スイッチ１３−２を介して
光パワーメータ２７−１に接続される。また、上り信号
および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−２で分岐さ
れ、光スイッチ１３−１，１３−２を介してモニタポー
ト１４に接続される。上り信号のパワーは、光カプラ２
４−１で上り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−
１，１３−２を介して光パワーメータ２７−１に入力し
測定する。このとき、符号間干渉光は、減衰器２３−３
の損失を無限大にして、光カプラ２４−２で上り信号に
合波されない状態にしておく。なお、光パワーメータ２
７−１の読み値は、予めポート１１−１における上り信
号パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で直接
測定し、校正しておく。
プラ２４−１で分岐され、光スイッチ１３−２を介して
光パワーメータ２７−１に接続される。また、上り信号
および符号間干渉光の一部は光カプラ２４−２で分岐さ
れ、光スイッチ１３−１，１３−２を介してモニタポー
ト１４に接続される。上り信号のパワーは、光カプラ２
４−１で上り信号の一部を分岐し、光スイッチ１３−
１，１３−２を介して光パワーメータ２７−１に入力し
測定する。このとき、符号間干渉光は、減衰器２３−３
の損失を無限大にして、光カプラ２４−２で上り信号に
合波されない状態にしておく。なお、光パワーメータ２
７−１の読み値は、予めポート１１−１における上り信
号パワーを別途用意した光パワーメータ２７−２で直接
測定し、校正しておく。
【００３７】上り信号に重畳する符号間干渉光のパワー
は、光カプラ２４−１で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
１に入力し測定する。このときの符号間干渉光のパワー
は、減衰器２３−３，２３−２の各損失の和で設定され
る。したがって、あらかじめ上り信号を入力する前に、
符号間干渉光パワーと各減衰器の損失の和との対応表を
作成しておく。また、光パワーメータ２７−１の読み値
は、予めポート１１−１における符号間干渉光パワーを
別途用意した光パワーメータ２７−２で直接測定し、校
正しておく。
は、光カプラ２４−１で符号間干渉光の一部を分岐し、
光スイッチ１３−２を切り替えて光パワーメータ２７−
１に入力し測定する。このときの符号間干渉光のパワー
は、減衰器２３−３，２３−２の各損失の和で設定され
る。したがって、あらかじめ上り信号を入力する前に、
符号間干渉光パワーと各減衰器の損失の和との対応表を
作成しておく。また、光パワーメータ２７−１の読み値
は、予めポート１１−１における符号間干渉光パワーを
別途用意した光パワーメータ２７−２で直接測定し、校
正しておく。
【００３８】このように、光パワーメータ２７−２の測
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−１における上り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−２，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−２は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−２から与えられる試験信号により強度変調し
た上り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−２，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−２で検
出し、上り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４に分岐光を取り出し、上り信号
波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形をモニ
タする。
定値を基に光パワーメータ２７−１の値を校正すること
により、ポート１１−１における上り信号および符号間
干渉光の各光パワーを正確に設定でき、さらに減衰器２
３−２，２３−３の損失値を校正することができる。次
に、送信器２１−２は、パルスパターン発生器（ＰＰ
Ｇ）１５−２から与えられる試験信号により強度変調し
た上り信号を出力する。以下同様に、減衰器２３−２，
２３−３により設定される符号間干渉量（Ｓ／Ｘ）に対
応する符号誤り率を誤り率測定器（ＥＤ）１６−２で検
出し、上り方向のシステム余裕度を測定する。なお、符
号間干渉量（Ｓ／Ｘ）の設定には、第１の実施形態と同
様に、モニタポート１４に分岐光を取り出し、上り信号
波形、符号間干渉光波形、またはその合波光波形をモニ
タする。
【００３９】以上示した各実施形態において、光スイッ
チ１３−１を取り外し、符号間干渉光を下り信号または
上り信号の一方のみに重畳し、一方向のシステム余裕測
定装置として構成してもよい。また、以上示した各実施
形態の主信号路の損失を比較すると、光カプラが１つの
第１の実施形態が最も小さく、次に光カプラが２つの第
３の実施形態となり、光カプラが３つ用いられる第２の
実施形態が最も大きくなる。そのために、第２の実施形
態および第３の実施形態では、入力された上り信号をモ
ニタできるようになっている。
チ１３−１を取り外し、符号間干渉光を下り信号または
上り信号の一方のみに重畳し、一方向のシステム余裕測
定装置として構成してもよい。また、以上示した各実施
形態の主信号路の損失を比較すると、光カプラが１つの
第１の実施形態が最も小さく、次に光カプラが２つの第
３の実施形態となり、光カプラが３つ用いられる第２の
実施形態が最も大きくなる。そのために、第２の実施形
態および第３の実施形態では、入力された上り信号をモ
ニタできるようになっている。
【００４０】また、サーキュレータは高価であるので、
１つのサーキュレータで対応できる第２の実施形態およ
び第３の実施形態は低コストで実現できる。ただし、第
２の実施形態は光パワーメータが３台必要であるのでコ
スト面で不利である。なお、サーキュレータに代えて、
アイソレータと光カプラを組み合わせたものを用いるこ
とができる。
１つのサーキュレータで対応できる第２の実施形態およ
び第３の実施形態は低コストで実現できる。ただし、第
２の実施形態は光パワーメータが３台必要であるのでコ
スト面で不利である。なお、サーキュレータに代えて、
アイソレータと光カプラを組み合わせたものを用いるこ
とができる。
【００４１】
【実施例】図４は、本発明のシステム余裕測定装置に用
いられる符号間干渉信号光源２６の実施例構成を示す。
図４(a) に示す符号間干渉信号光源は、連続発振してい
る半導体レーザ３１の発振光を外部変調器３２で変調す
る。外部変調器３２は、電気信号矩形波発生器３３と駆
動回路３４により駆動され、外部変調方式で符号間干渉
光を出力する。
いられる符号間干渉信号光源２６の実施例構成を示す。
図４(a) に示す符号間干渉信号光源は、連続発振してい
る半導体レーザ３１の発振光を外部変調器３２で変調す
る。外部変調器３２は、電気信号矩形波発生器３３と駆
動回路３４により駆動され、外部変調方式で符号間干渉
光を出力する。
【００４２】図４(b) に示す符号間干渉信号光源は、連
続発振している半導体レーザ３１の注入電流を電気信号
矩形波発生器３３と駆動回路３４で変調し、直接変調方
式で符号間干渉光を出力する。なお、符号間干渉光の波
長またはスペクトルの安定度を必要とする場合には図４
(a) の外部変調方式の構成が適している。本実施例にお
ける半導体レーザ３１は、マルチ縦モード半導体レーザ
またはシングル縦モード半導体レーザのいずれでもよ
い。また、図４(b) に示す構成では半導体レーザに代え
てＬＥＤなどを用いてもよい。
続発振している半導体レーザ３１の注入電流を電気信号
矩形波発生器３３と駆動回路３４で変調し、直接変調方
式で符号間干渉光を出力する。なお、符号間干渉光の波
長またはスペクトルの安定度を必要とする場合には図４
(a) の外部変調方式の構成が適している。本実施例にお
ける半導体レーザ３１は、マルチ縦モード半導体レーザ
またはシングル縦モード半導体レーザのいずれでもよ
い。また、図４(b) に示す構成では半導体レーザに代え
てＬＥＤなどを用いてもよい。
【００４３】符号間干渉光波形としては、ピークパワー
の換算が容易な 100％変調矩形波が適している。ただ
し、主信号光とは無関係な光周波数を任意に設定し、そ
の変調周波数が測定対象の受信器の受信可能帯域内であ
ることが必要である。図５は、本発明のシステム余裕測
定装置に用いられる符号間干渉信号光源２６の波長可変
のための実施例構成を示す。
の換算が容易な 100％変調矩形波が適している。ただ
し、主信号光とは無関係な光周波数を任意に設定し、そ
の変調周波数が測定対象の受信器の受信可能帯域内であ
ることが必要である。図５は、本発明のシステム余裕測
定装置に用いられる符号間干渉信号光源２６の波長可変
のための実施例構成を示す。
【００４４】図５(a) に示す符号間干渉信号光源は、電
気信号矩形波発生器３３と駆動回路３４により駆動され
る半導体レーザ３１に対して、温度制御回路３５により
半導体レーザ３１の温度を制御することにより発振波長
を変化させる。図５(b) に示す符号間干渉信号光源は、
分布ブラッグ反射（ＤＢＲ）型半導体レーザなどの波長
可変半導体レーザ３６を用いる。波長制御回路３７によ
り波長可変半導体レーザ３６の発振波長を変化させる。
気信号矩形波発生器３３と駆動回路３４により駆動され
る半導体レーザ３１に対して、温度制御回路３５により
半導体レーザ３１の温度を制御することにより発振波長
を変化させる。図５(b) に示す符号間干渉信号光源は、
分布ブラッグ反射（ＤＢＲ）型半導体レーザなどの波長
可変半導体レーザ３６を用いる。波長制御回路３７によ
り波長可変半導体レーザ３６の発振波長を変化させる。
【００４５】図５(c) に示す符号間干渉信号光源は、発
振波長の異なる複数の半導体レーザ３１−１，３１−２
を用意し、ＲＦスイッチ３８により駆動回路３４の出力
信号を切り替え、光スイッチ３９により半導体レーザ３
１−１，３１−２の出力光を切り替える。
振波長の異なる複数の半導体レーザ３１−１，３１−２
を用意し、ＲＦスイッチ３８により駆動回路３４の出力
信号を切り替え、光スイッチ３９により半導体レーザ３
１−１，３１−２の出力光を切り替える。
【００４６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のシステム
余裕測定装置は、１本の光ファイバ伝送路を用いた双方
向光通信システムのシステム余裕度について、簡単な構
成で上り回線と下り回線でそれぞれ独立に測定すること
ができる。
余裕測定装置は、１本の光ファイバ伝送路を用いた双方
向光通信システムのシステム余裕度について、簡単な構
成で上り回線と下り回線でそれぞれ独立に測定すること
ができる。
【図１】本発明のシステム余裕測定装置の第１の実施形
態を示すブロック図。
態を示すブロック図。
【図２】本発明のシステム余裕測定装置の第２の実施形
態を示すブロック図。
態を示すブロック図。
【図３】本発明のシステム余裕測定装置の第３の実施形
態を示すブロック図。
態を示すブロック図。
【図４】本発明のシステム余裕測定装置に用いられる符
号間干渉信号光源２６の実施例構成を示すブロック図。
号間干渉信号光源２６の実施例構成を示すブロック図。
【図５】本発明のシステム余裕測定装置に用いられる符
号間干渉信号光源２６の波長可変のための実施例構成を
示すブロック図。
号間干渉信号光源２６の波長可変のための実施例構成を
示すブロック図。
【図６】従来のシステム余裕測定装置の構成例を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図７】従来のシステム余裕測定装置を双方向光通信シ
ステムに適用した場合の構成を示すブロック図。
ステムに適用した場合の構成を示すブロック図。
１１ ポート １２ サーキュレータ １３ 光スイッチ １４ モニタポート １５ パルスパターン発生器（ＰＰＧ） １６ 誤り率測定器（ＥＤ） ２１ 送信器 ２２ 光ファイバ ２３ 減衰器 ２４ 光カプラ ２５ 受信器 ２６ 符号間干渉信号光源 ２７ 光パワーメータ（ＰＭ） ３１ 半導体レーザ ３２ 外部変調器 ３３ 電気信号矩形波発生器 ３４ 駆動回路 ３５ 温度制御回路 ３６ 波長可変半導体レーザ ３７ 波長制御回路 ３８ ＲＦスイッチ ３９ 光スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮本 裕 東京都武蔵野市吉祥寺本町１丁目14番５ 号 エヌティティエレクトロニクステク ノロジー株式会社内 審査官 江口 能弘 (56)参考文献 特開 平５−248995（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−132161（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−218975（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−142247（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−229434（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04B 17/02 H04B 10/08
Claims (5)
- 【請求項１】 １本の光ファイバ伝送路を用いた双方向
光通信システムの伝送路中に挿入され、双方向の主信号
光に符号間干渉光を重畳し、その符号間干渉光のパワー
と受信器で測定される符号誤り率特性の劣化の程度から
システム余裕度を測定するシステム余裕測定装置におい
て、前記光ファイバ伝送路に挿入される２本の光路と、 前記光ファイバ伝送路を伝搬する主信号光を方向別に前
記２本の光路に切り替えて接続する接続手段と、 前記２本の光路を伝搬する双方向の主信号光にそれぞれ
独立に損失を与える減衰器と、 前記符号間干渉光に損失を与える減衰器と、 所定の損失を与えた符号間干渉光を前記双方向の主信号
光に重畳する手段と、双方向の主信号光のパワーと符号間干渉光のパワーを独
立にモニタ測定し、前記各減衰器の設定に応じてモニタ
測定された各パワーの読み値を装置の出力ポートにおけ
る実測値に基づいて校正する手段と を備えたことを特徴
とするシステム余裕測定装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のシステム余裕測定装置
において、 符号間干渉光を主信号光に重畳する手段として、符号間
干渉光を重畳する方向を双方向の主信号光の一方に切り
替える手段を含むことを特徴とするシステム余裕測定装
置。 - 【請求項３】 請求項１に記載のシステム余裕測定装置
において、 双方向の主信号光および重畳された符号間干渉光の一部
を分岐し、その信号波形をモニタする手段を備えたこと
を特徴とするシステム余裕測定装置。 - 【請求項４】 請求項１に記載のシステム余裕測定装置
において、 符号間干渉光の波長を可変または別波長に切り替える手
段を備えたことを特徴とするシステム余裕測定装置。 - 【請求項５】 請求項１に記載のシステム余裕測定装置
において、 符号間干渉光は、ピークパワーの換算が容易な矩形波を
用い、その光周波数が主信号光に無関係で、その変調周
波数が受信器の受信可能帯域内の任意の値に設定された
ことを特徴とするシステム余裕測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31871495A JP3332065B2 (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | システム余裕測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31871495A JP3332065B2 (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | システム余裕測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09162816A JPH09162816A (ja) | 1997-06-20 |
| JP3332065B2 true JP3332065B2 (ja) | 2002-10-07 |
Family
ID=18102162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31871495A Expired - Lifetime JP3332065B2 (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | システム余裕測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3332065B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20070245177A1 (en) * | 2006-03-24 | 2007-10-18 | General Instrument Corporation | Method and apparatus for determining the total power margin available for an hfc network |
| US9113181B2 (en) | 2011-12-13 | 2015-08-18 | Arris Technology, Inc. | Dynamic channel bonding partial service triggering |
| US8837302B2 (en) | 2012-04-27 | 2014-09-16 | Motorola Mobility Llc | Mapping a network fault |
| US9203639B2 (en) | 2012-12-27 | 2015-12-01 | Arris Technology, Inc. | Dynamic load balancing under partial service conditions |
| US9197886B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-11-24 | Arris Enterprises, Inc. | Detecting plant degradation using peer-comparison |
| US9042236B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Arris Technology, Inc. | Method using equalization data to determine defects in a cable plant |
| US9025469B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-05 | Arris Technology, Inc. | Method for estimating cable plant topology |
| US10477199B2 (en) | 2013-03-15 | 2019-11-12 | Arris Enterprises Llc | Method for identifying and prioritizing fault location in a cable plant |
-
1995
- 1995-12-07 JP JP31871495A patent/JP3332065B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09162816A (ja) | 1997-06-20 |
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